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JP3321357B2 - 半導体装置とその組み立て方法 - Google Patents

半導体装置とその組み立て方法

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Publication number
JP3321357B2
JP3321357B2 JP13628796A JP13628796A JP3321357B2 JP 3321357 B2 JP3321357 B2 JP 3321357B2 JP 13628796 A JP13628796 A JP 13628796A JP 13628796 A JP13628796 A JP 13628796A JP 3321357 B2 JP3321357 B2 JP 3321357B2
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JP
Japan
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flattening
heat
bonding
cover plate
semiconductor device
Prior art date
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JP13628796A
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宣昭 大家
貴之 奥友
英男 田口
守彦 池水
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH09321085A publication Critical patent/JPH09321085A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/79Apparatus for Tape Automated Bonding [TAB]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、ボールグリッド
アレイ(BGA)パッケージ型の半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図11は、従来のBGAパッケージを示
す図で、(a)図は平面図、(b)図は(a)図中のb
−b線に沿う断面図、(c)図は(a)図中のc−c線
に沿う断面図である。
【0003】図11(a)〜(c)に示すように、TA
Bテープ1の平坦性を保つためのスティフナ2が、TA
Bテープ1の表面に接着剤を用いて接着されている。図
中、参照符号3に示す層は接着剤の層である。スティフ
ナ2には四角形状の開孔部4が設けられている。半導体
集積回路チップ5は、開孔部4の中に配置される。チッ
プ5は、開孔部4の中で、TABテープ1に設けられて
いるリード6に電気的に接続される。その接続状態は、
いわゆるフェースダウン型である。スティフナ2には四
角形状のカバープレート7が接着剤を用いて接着されて
いる。図中、参照符号8に示す層は接着剤の層である。
カバープレート7は、スティフナ2の全面に接着され
る。さらにカバープレート7は、チップ5に接着剤を用
いて接着されている。チップ5を、カバープレート7に
接着することにより、チップ5はカバープレート7に熱
的に結合される。そして、カバープレート7は、チップ
5が動作しているときに、チップ5が発する熱を外部へ
と逃がすための放熱板として機能される。TABテープ
1の裏面には、はんだボール9が複数形成されている。
はんだボール9は、TABテープ1の中でリード6に電
気的に接続されていて、チップ5の外部端子として機能
される。また、参照符号10に示される部材は、チップ
5とTABテープ1との電気的な接続部分を外界から遮
蔽するためのポッティング樹脂である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のBGAパッケー
ジでは、実装基板に実装して温度サイクル試験を行った
場合、実装基板とカバープレート7との線膨脹係数が互
いに異なるために、はんだボール9に応力がかかり、は
んだボール9にクラックが入る可能性がある。
【0005】この発明は、上記の事情に鑑みて為された
もので、その目的は、放熱部材を有するBGAパッケー
ジ型の半導体装置において、はんだボールに、熱に起因
したクラックの発生を抑制できる半導体装置と、その組
み立て方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に係る発明では、ボール状電極群を有する
チップキャリアと、前記チップキャリアに電気的に接続
され、前記ボール電極群を外部端子とする半導体集積
回路チップと、前記チップキャリアに接続され、前記チ
ップキャリアの平坦性を保たせるための平坦化部材と、
前記平坦化部材に接着されるとともに、前記半導体集積
回路チップに熱的に結合され、前記半導体集積回路チッ
プから発せられる熱を逃がすための放熱部材とを具備す
る。そして、前記放熱部材と前記平坦化部材との接着面
を有する接着用突起部を、前記放熱部材および前記平坦
化部材のいずれか一方に設け、前記放熱部材を、前記平
坦化部材に、部分的に接着したことを特徴とする。この
ように放熱部材を、平坦化部材に、部分的に接着したこ
とで、放熱部材が膨張および収縮したときに発生する力
が平坦化部材に伝わり難くできる。これにより、放熱部
材によって引張されるような平坦化部材の変形を抑制で
き、ボール状電極の内部に生ずる応力が小さくなり、ボ
ール状電極に熱に起因したクラックの発生を抑制するこ
とができる。さらに接着用突起部を、放熱部材および平
坦化部材のいずれか一方に設けたことで、接着剤を、放
熱部材の接着側全面に塗布しての組み立てが可能にな
る。これにより組み立ての容易化、および製造コストの
低減化を図ることが可能になる。
【0007】さらに請求項4に係る発明では、前記平坦
化部材は、前記半導体集積回路チップを収容するための
開孔部を有し、前記放熱部材を、前記平坦化部材の前記
開孔部周囲のみに接着し、前記放熱部材の縁を開放した
ことを特徴とする。このように放熱部材を、平坦化部材
の開孔部周囲のみに接着し、放熱部材の縁を開放したこ
とで、放熱部材によって引張されるような平坦化部材の
変形を、さらに抑制できる。これにより、ボール状電極
に、熱に起因したクラックの発生を抑制する効果は、さ
らに高まる。
【0008】さらに請求項5に係る発明では、前記放熱
部材と平坦化部材との接着部分を、発熱中心から等距離
な位置に設けたことを特徴とする。このように接着部分
を、発熱中心から等距離な位置に設けたことで、放熱部
材が膨張したときの力を、接着部分に均等にかけること
ができる。接着部分に、力が均等にかかれば、接着部分
を介して平坦化部材に加わる力のバランスが良くなる。
もし、平坦化部材に加わる力がアンバランスであると、
予測できないような力が平坦化部材に働く可能性があ
る。予測できないような力が平坦化部材に働くと、ボー
ル状電極にクラックが入る可能性がある。このような可
能性は、接着部分を、発熱中心から等距離な位置に設け
たことで、解消される。
【0009】さらに請求項6に係る発明では、前記放熱
部材と平坦化部材との接着部分を、前記開孔部の周囲に
分散させたことを特徴とする。このように接着部分を、
開孔部の周囲に分散させたことで、放熱部材が膨脹しよ
うとする力を、ある程度、分散された接着部分それぞれ
の周囲に開放できる。これにより、放熱部材によって引
張されるような平坦化部材の変形は、さらに抑制され、
ボール状電極に、熱に起因したクラックの発生を抑制す
る効果は、さらに高まる。
【0010】さらに請求項7に係る発明では、前記分散
された接着部分をそれぞれ、発熱中心から、点対象、か
つ線対称な条件を満足する位置に設けたことを特徴とす
る。このように分散された接着部分をそれぞれ、発熱中
心から、点対象、かつ線対称な条件を満足する位置に設
けたことで、放熱部材が膨張したときの力を、分散され
た接着部分それぞれに、均等にかけることができ、分散
された接着部分それぞれを介して平坦化部材に加わる力
のバランスが良くなる。これにより、平坦化部材に加わ
る力のアンバランスに起因して、ボール状電極にクラッ
クが発生する可能性が、解消される。
【0011】
【0012】さらに請求項8に係る発明では、前記放熱
部材の、前記平坦化部材に対して水平な方向への変形が
自在な状態で、前記平坦化部材に対して垂直な方向への
変形を抑制する変形抑制用突起部を、前記放熱部材およ
び前記平坦化部材のいずれか一方に、さらに設けたこと
を特徴とする。このように変形抑制用突起部を、放熱部
材および平坦化部材のいずれか一方に、さらに設けたこ
とで、放熱部材の、平坦化部材に対して垂直な方向へ
変形を抑制することができる。しかも、平坦化部材に対
して水平な方向への変形が自在なので、放熱部材が膨張
および収縮したときの力を、すべりによって吸収でき
る。これにより、変形抑制用突起部は、穂熱部材の、平
坦化部材に対して垂直な方向へ変形を抑制しつつ、放熱
部材が秒長および収縮したときの力を、平坦化部材に伝
えることがない。なお、放熱部材が過剰に変形したと
き、ユーザが視覚的に不安感を抱くことがあるが、その
ような不安感も同時に解消される。
【0013】さらに請求項9に係る発明では、前記変形
抑制用突起部は、前記接着用突起部の接着面よりも小さ
い、前記放熱部材と前記平坦化部材との接着面を有し、
前記変形抑制用突起部の接着面における接着は、前記放
熱部材が前記平坦化部材に対して水平な方向へ変形した
ときに解除され、接着が解除された後、前記放熱部材
の、前記平坦化部材に対して水平な方向への変形が自在
な状態となることを特徴とする。このように変形抑制用
突起部の接着面における接着を、放熱部材が平坦化部材
に対して水平な方向へ変形したときに解除し、接着を解
除した後、放熱部材の、平坦化部材に対して水平な方向
への変形を自在とすることで、変形抑制用突起部を有し
ていても、接着剤を、放熱部材の接着側全面に塗布して
の組み立てが可能になる。また、放熱部材が、平坦化部
材に対して水平な方向へ変形する以前では、変形抑制用
突起部が、平坦化部材に接着されているので、放熱部材
と平坦化部材との接着強度が高い。接着強度が高まって
いる状態のときには、放熱部材をピックアップしても、
チップキャリアと半導体集積回路チップとの、繊細な電
気的接続点が破壊される可能性が小さい。
【0014】また、上記目的を達成するために、請求項
2に係る発明では、ボール状電極群を有するチップキャ
リアと、前記チップキャリアに電気的に接続され、前記
ボール電極群を外部端子とする半導体集積回路チップ
と、前記チップキャリアに接続され、前記チップキャリ
アの平坦性を保たせるための平坦化部材と、前記平坦化
部材に接着されるとともに、前記半導体集積回路チップ
に熱的に結合され、前記半導体集積回路チップから発せ
られる熱を逃がすための放熱部材とを具備する半導体装
置の組み立て方法であって、前記放熱部材と前記平坦化
部材との接着面を有した接着用突起部を、前記放熱部材
および前記平坦化部材のいずれか一方に設け、前記放熱
部材の接着側全面に接着剤を塗布し、前記接着用突起部
の接着面により、前記放熱部材を、前記平坦化部材に、
部分的に接着することを特徴とする。このように放熱部
材の接着側全面に接着剤を塗布し、接着用突起部の接着
面により、放熱部材を、平坦化部材に、部分的に接着す
ることで、例えばマスキングテープなどを使用せずに、
放熱部材を、平坦化部材に、部分的に接着することがで
きる。これにより、組み立て工程の繁雑化を防ぐことが
でき、また、製造コストを低減できる。
【0015】また、上記目的を達成するために、請求項
3に係る発明では、ボール状電極群を有するチップキャ
リアと、前記チップキャリアに電気的に接続され、前記
ボール電極群を外部端子とする半導体集積回路チップ
と、前記チップキャリアに接続され、前記チップキャリ
アの平坦性を保たせるための平坦化部材と、前記半導体
集積回路チップに熱的に結合され、前記半導体集積回路
チップから発せられる熱を逃がすための放熱部材とを具
備する。そして、前記放熱部材を、前記平坦化部材に対
して水平な方向への変形が自在な状態で、前記平坦化部
材により支持させたことを特徴とする。このように放熱
部材を、平坦化部材に対して水平な方向への変形が自在
な状態で、平坦化部材により支持させたことで、放熱部
材が膨脹および収縮したときに発生する力が平坦化部材
に伝わり難くできる。これにより、放熱部材によって引
張されるような平坦化部材の変形を抑制でき、ボール状
電極の内部に生ずる応力が小さくなり、ボール状電極
に、熱に起因したクラックの発生を抑制することができ
る。
【0016】さらに請求項10に係る発明では、前記放
熱部材は、前記平坦化部材に対して水平な方向への変形
が自在な状態で、前記平坦化部材に対して垂直な方向へ
の変形を抑制する変形抑制用突起部を有し、前記放熱部
材を、前記変形抑制用突起部によって、前記平坦化部材
に対して水平な方向への変形が自在な状態で、前記平坦
化部材により支持させたことを特徴とする。このように
放熱部材を、変形抑制用突起部によって、平坦化部材に
対して水平な方向への変形が自在な状態で、前記平坦化
部材により支持させたことでも、放熱部材によって引張
されるような平坦化部材の変形を抑制でき、ボール状電
極の内部に生ずる応力が小さくなり、ボール状電極に、
熱に起因したクラックの発生を抑制することができる。
【0017】さらに請求項11に係る発明では、前記変
形抑制用突起部は、前記放熱部材と前記平坦化部材との
接着面を有し、前記変形抑制用突起部の接着面における
接着は、前記放熱部材が前記平坦化部材に対して水平な
方向へ変形したときに解除され、接着が解除された後、
前記放熱部材の、前記平坦化部材に対して水平な方向へ
の変形が自在な状態となることを特徴とする。このよう
に変形抑制用突起部の接着面における接着を、放熱部材
が平坦化部材に対して水平な方向へ変形したときに解除
し、接着を解除した後、放熱部材の、平坦化部材に対し
て水平な方向への変形を自在とすることで、変形抑制用
突起部を有していても、接着剤を、放熱部材の接着側全
面に塗布しての組み立てが可能になる。また、放熱部材
が、平坦化部材に対して水平な方向へ変形する以前で
は、変形抑制用突起部が、平坦化部材に接着されている
ので、放熱部材と平坦化部材との接着強度が高い。接着
強度が高まっている状態のときには、放熱部材をピック
アップしても、チップキャリアと半導体集積回路チップ
との、繊細な電気的接続点が破壊される可能性が小さ
い。
【0018】
【発明の実施の形態】図1は、この発明の第1の実施の
形態に係るBGAパッケージを示す図で、(a)図は平
面図、(b)図は(a)図中のb−b線に沿う断面図、
(c)図は(a)図中のc−c線に沿う断面図、(d)
図は(a)図中のd−d線に沿う断面図である。
【0019】図1(a)〜(d)に示すように、第1の
実施の形態に係るBGAパッケージは、TABテープ1
の平坦性を保つためのステンレス製スティフナ2を有し
ている。スティフナ2は、TABテープ1の表面に接着
剤により接着されている。図中、参照符号3に示す層
は、接着剤の層である。さらにスティフナ2は、四角形
状の開孔部4を有している。半導体集積回路チップ5
は、開孔部4の中に配置され、開孔部4の中で、TAB
テープ1に設けられているリード6に電気的に接続され
る。その接続状態は、いわゆるフェースダウン型であ
る。スティフナ2には、四角形状の銅製カバープレート
7が接着剤により接着されている。図中、参照符号8に
示す層は、接着剤の層である。カバープレート7を平面
からみたときの大きさは、スティフナ2を平面からみた
ときの大きさと、ほぼ同じである。カバープレート7
は、スティフナ2の全面ではなく、部分的に接着されて
いる。カバープレート7は、接着用突起部12を有して
いる。カバープレート7が接着用突起部12を有してい
ることにより、カバープレート7とスティフナ2との部
分的な接着は容易になる。カバープレート7の4つのコ
ーナーのそれぞれには、変形抑制用突起部13が設けら
れている。図1(d)に示されるように、変形抑制用突
起部13は、スティフナ2に接着剤により接着されてい
る。しかし、変形抑制用突起部13とスティフナ2との
接着は、熱によってカバープレート7が膨脹および収縮
したとき、解除されるようになっている。これについて
の詳細は後述する。突起部12、13は、例えばプレス
加工によって、カバープレート7に成型される。さらに
カバープレート7は、チップ5に接着剤により接着され
ている。チップ5を、カバープレート7に接着すること
により、チップ5はカバープレート7に熱的に結合され
る。チップ5が発熱したとき、カバープレート7は、そ
の熱を外部へと逃がす、いわゆる放熱板として機能され
る。TABテープ1の裏面には、はんだボール9が複数
形成されている。はんだボール9は、TABテープ1の
中でリード6に電気的に接続され、チップ5の外部端子
として機能される。BGAパッケージ型の半導体装置
は、はんだボール9を溶融した後、固化させることで、
図示せぬ実装基板の電気的接点に固着され、実装基板の
電気的接点に接続される。実装基板の一つの例は、回路
基板である。また、参照符号10に示される部材は、チ
ップ5とTABテープ1との電気的な接続部分を外界か
ら遮蔽するためのポッティング樹脂である。
【0020】上記構成を有するBGAパッケージである
と、カバープレート7がスティフナ2に部分的に接着さ
れているので、カバープレート7とスティフナ2との接
着面積が小さくなる。接着面積が小さくなると、カバー
プレート7が熱せられて膨脹したとき、およびカバープ
レート7が冷えて収縮したときの力が、スティフナ2に
伝わることが抑制される。したがって、はんだボール9
を、図示せぬ実装基板の電気的接点に接続したとき、カ
バープレート7の線膨脹係数と、実装基板の線膨脹係数
との差に起因して、はんだボール9に発生する、クラッ
クを抑制することができる。
【0021】図2は、図1に示すBGAパッケージか
ら、カバープレート7を取り外した状態を示す平面図で
ある。図2に示すように、第1の実施の形態に係るBG
Aパッケージが具備するスティフナ2は、チップ5を収
容するための開孔部4を有している。カバープレート7
は、スティフナ2の開孔部4の周囲に沿った区域20の
みに接着されている。図中、参照符号21に示される部
分は、カバープレート7とスティフナ2との接着面を示
しており、参照符号22に示される部分は、カバープレ
ート7とチップ5との接着面を示している。このように
カバープレート7をスティフナ2の開孔部4の周囲に沿
った区域20のみに接着することにより、カバープレー
ト7の縁がスティフナ2に固定されなくなる。つまり、
カバープレート7の縁が、伸縮自在となる。カバープレ
ート7の縁が伸縮自在となることで、カバープレート7
の縁から、カバープレート7が膨張および収縮したとき
の力を逃がすことができ、接着面21に加わる力が、よ
り軽減されるようになる。したがって、はんだボール9
に発生するクラックを抑制する効果が、さらに高まる。
【0022】また、スティフナ2の開孔部4の周囲に沿
った区域20のみで接着すると、接着面21が接着面2
2に極力近づけられ、反対にカバープレート7の縁から
は極力離されるようになる。このため、接着面21は、
カバープレート7の縁から逃げようとしている力を妨げ
難くなる。したがって、接着面21に加わる力は、さら
に軽減される。また、接着面21が、カバープレート7
の縁にあると、カバープレート7の縁の伸縮により、接
着面21に加わる力が無用に増大することが懸念され
る。このような懸念は、接着面21を、カバープレート
7の縁から極力離されることで、解消される。
【0023】図3は、この発明の第2の実施の形態に係
るBGAパッケージの接着面を示す図である。第2の実
施の形態は、上記カバープレート7を、スティフナ2の
開孔部4の周囲に沿った区域20のみに接着する、とい
う事項に基いたものである。
【0024】図3に示すように、カバープレート7は、
スティフナ2の開孔部4の周囲に沿った区域20の全面
で接着されても良い。参照符号23は、区域20の全面
で接着されたときの接着面を示している。
【0025】また、図2に示すように、第1の実施の形
態に係るBGAパッケージは、カバープレート7とステ
ィフナ2との接着面21を4つ有し、接着面21が、区
域20の中に分散されている。接着面21が分散されて
いると、接着面21のトータル面積が、さらに小さくな
るので、カバープレート7とスティフナ2との接着面積
を、さらに小さくできる。また、接着面21が分散され
ると、接着面21の周囲に、カバープレート7が自由に
変形できる部分ができ、カバープレート7が膨脹および
収縮したときの力を、ある程度、接着面21の周囲に開
放されることが期待される。このように接着面21を、
区域20の中に分散させることで、カバープレート7が
膨脹および収縮したときの力を、ある程度、接着面21
の周囲に開放できるので、接着面21に加わる力が、さ
らに弱められる効果が期待される。
【0026】また、図2に示すように、第1の実施の形
態に係るBGAパッケージは、分散された接着面21が
各々円形である。接着面21が円形であると、カバープ
レート7が膨脹および収縮したときの力を、接着面21
の周囲に均一に開放することができる。もし、接着面2
1の周囲に開放される力が不均一であると、予測できな
いような力が接着面21に生じ、カバープレート7がス
ティフナ2から離脱する可能性がある。このような可能
性は、接着面21を円形とすることで解消される。ま
た、円形の接着面21は、予測できないような力が接着
面21に生じる可能性が小さいので、最小の接着面積
で、最大の接着強度を得ることができる。
【0027】図4は、図1に示すBGAパッケージか
ら、カバープレート7を取り外した状態を示す平面図で
ある。図4に示すように、第1の実施の形態に係るBG
Aパッケージは、カバープレート7とスティフナ2との
接着面21の中心C21が、カバープレート7とチップ5
との接着面22の中心C22から、半径rの円周の上に設
定されている。このように接着面21の中心C21を、接
着面22の中心C22、つまり発熱中心から等距離な位置
に設定することにより、カバープレート7が膨張および
収縮したときの力を、接着面21に均等にかけることが
できる。接着面21に、力が均等にかかれば、スティフ
ナ2に加わる力のバランスが良くなる。もし、スティフ
ナ2に加わる力がアンバランスであると、予測できない
ような力がスティフナ2に働く可能性がある。予測でき
ないような力がスティフナ2に働くと、はんだボール9
にクラックが入る可能性がある。このような可能性は、
接着面21の中心C21を、発熱中心から等距離な位置に
配置し、力のバランスを良くすることで、解消される。
【0028】図5は、この発明の第3の実施の形態に係
るBGAパッケージの接着面を示す図である。第3の実
施の形態は、上記カバープレート7とスティフナ2との
接着面21の中心C21を、カバープレート7とチップ5
との接着面22の中心C22から、等距離な位置に設定す
る、という事項に基いたものである。
【0029】図5に示すように、カバープレート7は、
半径rの円周に沿って全面で接着されても良い。参照符
号24は、半径rの円周に沿って全面で接着されたとき
の接着面を示している。
【0030】なお、第1の実施の形態に係るBGAパッ
ケージのように、開孔部4が正方形である場合には、接
着面22の中心C22を、開孔部4の中心C0 と置き換え
ても良い。
【0031】図6は、図1に示すBGAパッケージか
ら、カバープレート7を取り外した状態を示す平面図で
ある。また、図6に示すように、第1の実施の形態に係
るBGAパッケージは、接着面22の中心C22を座標
(x,y)=(0,0)とし、4つの接着面21のうち
の1つを基準接着面と仮定したとき、他の3つの接着面
21が、基準接着面に対し、点対称、かつ線対称となる
条件を満足する位置に設定されている。このように接着
面21を、半径rの円周の上に分散させたとき、接着面
21をそれぞれ、上記の条件を満足する位置に設定する
ことで、スティフナ2に加わる力のバランスが、さらに
良くなる。したがって、はんだボール9に発生するクラ
ックを、抑制する効果は、さらに良好になる。
【0032】上記の条件を満足する一つの例を、図6を
参照して説明する。図6に示すように、4つの接着面2
1の中心C22をそれぞれ、中心C22A、中心C22B、中
心C22C、中心C22Dと表す。そして、中心C22Aを含
む接着面を、基準接着面とする。この基準接着面の中心
22Aの座標は、(x,y)=(0,r)である。中心
22Aを、時計回りに90度回転させたとき、つまり座
標(0,r)に対して点対称な位置は、座標(x,y)
=(r,0)である。さらに時計回りに90度回転させ
たとき、つまり座標(0,r)に対して線対称な位置
は、座標(x,y)=(0,−r)である。さらに時計
回りに90度回転させたときに、つまり座標(0,r)
に対して点対称な位置は、(x,y)=(−r,0)で
ある。このように一つの基準接着面の中心C22Aの座標
を(0,r)としたとき、他の三つの接着面の中心C22
B、中心C22C、中心C22Dをそれぞれ、座標(r,
0)、座標(0,−r)、座標(−r,0)の位置に設
定する。
【0033】なお、第1の実施の形態に係るBGAパッ
ケージのように、開孔部4が正方形である場合には、接
着面22の中心C22を、開孔部4の中心と置き換えても
良い。
【0034】図7は、図1に示すBGAパッケージのカ
バープレート7を、接着面側からみた平面図である。図
7に示すように、第1の実施の形態に係るBGAパッケ
ージが具備するカバープレート7は、接着用突起部12
を有している。カバープレート7とスティフナ2との部
分的な接着を達成するためには、接着用突起部12を、
カバープレート7に成型しなくても、接着剤を、カバー
プレート7に部分的に塗布することで達成することがで
きる。このようにされても、もちろん良い。しかし、接
着用突起部12を、カバープレート7に設けておくと、
接着用突起部12のみが、スティフナ2に接触される、
という利点がある。この利点により、接着剤を、カバー
プレート7の全面に塗布しても、カバープレート7とス
ティフナ2との部分的な接着を達成できる、という効果
を得られる。接着剤を、カバープレート7の全面に塗布
することは、接着剤を、カバープレート7に、部分的に
塗布するよりも簡単に行える。接着剤を、カバープレー
ト7に、部分的に塗布するときには、接着剤が塗布され
ない部分を形成するために、例えばマスキングテープな
どを使用する必要がある。しかし、接着用突起部12を
有していると、そのような必要もない。また、マスキン
グテープなどを使用すると、マスクずれを起こす可能性
があり、設計どおりに接着剤を塗布できないこともある
が、そのような心配もない。したがって、接着用突起部
12を有したカバープレート7は、組み立て工程の繁雑
化を防ぐことができ、また、製造コストを低減すること
ができる。
【0035】また、図7に示すように、第1の実施の形
態に係るBGAパッケージが具備するカバープレート7
では、接着用突起部12を4つ有していて、接着用突起
部12がカバープレート7に分散されて設けられてい
る。接着用突起部12を分散させる理由は、例えば図2
を参照して説明された効果を得ることが目的である。ま
た、分散された接着用突起部12はそれぞれ円形であ
る。分散された接着用突起部12をそれぞれ円形にする
理由は、例えば図2を参照して説明された効果を得るこ
とが目的であるが、分散された接着用突起部12を、カ
バープレート7に、プレス加工によって成型しやすい、
という利点がある。つまり、カバープレート7をプレス
したとき、分散された接着用突起部12に角があると、
角の部分にクラックが入ることがあり成型が難しいが、
分散された接着用突起部12を各々円形とすることで、
角がなくなり、成型しやすくなる。
【0036】また、図7に示すように、分散された接着
用突起部12各々の中心C12が、カバープレート7の中
心C7 から、半径rの円周の上に設定されている。この
ように分散された接着用突起部12の中心C12を各々、
カバープレート7の中心C7から等距離に設定すること
により、分散された接着用突起部12を、カバープレー
ト7にプレス加工により成型しやすくなる。プレス加工
のときに、カバープレート7に加えられるせん断力が、
均等になるからである。
【0037】また、図7に示すように、分散された接着
用突起部12各々の中心C12は、カバープレート7の中
心C7 を座標(x,y)=(0,0)とし、分散された
接着用突起部12のうちの1つを基準突起部と仮定した
とき、他の分散された接着用突起部12が、基準突起部
に対し、点対称、かつ線対称となる条件を満足する位置
に設定されている。これにより、プレス加工のときに、
カバープレート7に加えられるせん断力の均等性が、さ
らに向上する。
【0038】また、図7に示すように、第1の実施の形
態に係るBGAパッケージが具備するカバープレート7
では、接着用突起部12の他、変形抑制用突起部13が
設けられている。変形抑制用突起部13は、四角形状の
カバープレート7のコーナーにそれぞれ設けられてい
る。変形抑制用突起部13は、カバープレート7がステ
ィフナ2に接着されたとき、その先端がスティフナ2に
接触されるように成型されている。変形抑制用突起部1
3は、カバープレート7に、カバープレート7をスティ
フナ2に向かって押しつけるような力が加わったとき、
コーナーがつぶれることを抑制する。また、変形抑制用
突起部13は、基本的にスティフナ2に接着されるもの
ではなく、スティフナ2に対して水平な方向へは、変形
可能な状態にされる。変形抑制用突起部13を、スティ
フナ2に対して水平な方向へ変形可能な状態とすること
で、熱によってカバープレート7が膨脹しようとしたと
き、この膨脹を妨げない。したがって、スティフナ2
に、スティフナ2を引張するような力を加えずに済む。
【0039】また、変形抑制用突起部13は、接着用突
起部12と同時に、プレス加工によりカバープレート7
に成型できる。また、変形抑制用突起部13をコーナー
に設けておくと、変形抑制用突起部13がコーナーに無
い場合に比べ、カバープレート7のコーナーが反り難く
なる、という効果もある。このコーナーの反りを抑制す
る効果は、熱によってカバープレート7が膨脹および収
縮したときだけでなく、プレス加工のときにも得ること
ができる。このように変形抑制用突起部13を各コーナ
ー毎に設けておくことで、カバープレート7のコーナー
の、スティフナ2に対して垂直な方向への変形を抑制す
ることができる。
【0040】なお、カバープレート7のコーナーの変形
は、半導体装置の信頼性に影響するものではないが、コ
ーナーが過剰に変形すると、ユーザが、装置に対して不
安感を抱くことがある。変形抑制用突起部13を各コー
ナー毎に設け、カバープレート7のコーナーの、過剰な
変形を抑制することは、ユーザの不安感をも解消でき
る、という効果がある。
【0041】また、変形抑制用突起部13を、接着用突
起部12と同様に円形としておくと、プレス加工によっ
て成型しやすくなる。また、特に図1(d)に示すよう
に、第1の実施の形態に係るBGAパッケージが具備す
るカバープレート7では、変形抑制用突起部13がステ
ィフナ2との接着されている。このように変形抑制用突
起部13は、スティフナ2と接着されるときには、その
接着面を、接着用突起部12とスティフナ2との接着面
よりも小さくするのが良い。そして、変形抑制用突起部
13とスティフナ2との接着面の面積は、これらの接着
が、カバープレート7がスティフナ2に対して水平な方
向へ変形したときに解除されるような大きさが良い。こ
のように、変形抑制用突起部13がスティフナ2に接着
されていたとしても、その接着が後に解除できれば、つ
まり変形抑制用突起部13がスティフナ2から離脱すれ
ば、離脱後においては、図7を参照して説明したような
効果が得られるようになる。このように構成すると、変
形抑制用突起部13を有していても、接着剤を、カバー
プレート7の全面に塗布することができる。したがっ
て、上記した、組み立て工程の繁雑化を防ぐことがで
き、また、製造コストを低減することができる、という
効果を維持することができる。
【0042】また、変形抑制用突起部13がスティフナ
2に接着されている間は、カバープレート7とスティフ
ナ2との接着強度が高まっている。ところで、半導体装
置を、完成後に行うテストのとき、あるいは実装基板に
実装するときには、半導体装置を、ワークポイントまで
搬送させる。この搬送のとき、カバープレート7をピッ
クアップすることが多い。カバープレート7をピックア
ップすると、半導体装置の重みが、例えば図2に示すカ
バープレート7とスティフナ2との接着面21、および
カバープレート7とチップ5との接着面22にかかるこ
とになる。カバープレート7とスティフナ2との接着面
21のトータル面積が小さく、接着強度が低いと、カバ
ープレート7とチップ5との接着面22にかかる負担が
大きくなる。このため、カバープレート7をピックアッ
プしたとき、チップ5が引張られ、繊細なチップ5とリ
ード6との電気的接続点が壊れる可能性がある。変形抑
制用突起部13をわずかでもスティフナ2に接着してお
けば、そのような可能性を、小さくすることができる。
したがって、例えば搬送時などに、半導体装置が壊れて
しまう、というアクシデントの発生を抑制できる。
【0043】また、変形抑制用突起部13とスティフナ
2との接着の解除を、カバープレート7が、スティフナ
2に対して水平な方向へ変形したときに行われるように
すると、チップ5が発熱しただけで、自動的に接着を解
除できる。このように接着を自動的に解除できると、接
着を解除するための工程を必要とせず、手間がかからな
い。このような接着の自動的な解除を行うためには、変
形抑制用突起部13を、熱によってカバープレート7が
膨脹しようとしたときに、最も力が集中する箇所に設け
るのが良い。図7に示すように、第1の実施の形態に係
るBGAパッケージのカバープレート7では、変形抑制
用突起部13を、対角線の上に設定している。四角形で
あるカバープレート7が膨脹しようとしたとき、その力
はコーナーに向かって集中しやすい。したがって、変形
抑制用突起部13を対角線の上に設定することで、変形
抑制用突起部13とスティフナ2との接着を解除しやす
くできる。
【0044】図8は、この発明の第4の実施の形態に係
るBGAパッケージを示す図で、(a)図は平面図、
(b)図は(a)図中のb−b線に沿う断面図、(c)
図は(a)図中のc−c線に沿う断面図、(d)図は
(a)図中のd−d線に沿う断面図である。
【0045】図8(a)〜(d)に示すように、第4の
実施の形態に係るBGAパッケージは、接着用突起部3
2をスティフナ2に設けたものである。このように接着
用突起部32をスティフナ2に設けても、第1の実施の
形態に係るBGAパッケージと同様、はんだボール9へ
のクラック発生を抑制できる。さらに接着剤を、カバー
プレート7の全面に塗布しても、接着用突起部32の先
端のみをカバープレート7に接触できるので、組み立て
工程の繁雑化が防がれ、また、製造コストが低減され
る。さらに接着用突起部32をスティフナ2に設けるの
で、スティフナ2の接着面がずれることがない。このた
め、スティフナ2に加わる力のバランスが、常に良くな
る。
【0046】なお、接着用突起部32は、図2〜図6を
参照して説明した接着面のいずれかに合わせて形成され
れば良い。また、図8(a)〜(d)に示すように、第
4の実施の形態に係るBGAパッケージでは、変形抑制
用突起部33をスティフナ2に設けているが、変形抑制
用突起部33は、カバープレート7に設けられるように
しても良い。
【0047】図9は、この発明の第5の実施の形態に係
るBGAパッケージを示す図で、(a)図は平面図、
(b)図は(a)図中のb−b線に沿う断面図、(c)
図は(a)図中のc−c線に沿う断面図である。
【0048】図9(a)〜(c)に示すように、第5の
実施の形態に係るBGAパッケージは、カバープレート
7をチップ5のみに接着して、スティフナ2には接触さ
れるだけとしたものである。このように構成であって
も、カバープレート7は、スティフナ2の表面に沿って
自在に動けるので、スティフナ2に加わる力を低減する
ことができる。したがって、はんだボール9に、クラッ
クが発生することを抑制できる。また、カバープレート
7がスティフナ2の全面に接触されているので、カバー
プレート7に、スティフナ2に向かって押す力が加わっ
ても、変形はしない。
【0049】図10は、この発明の第6の実施の形態に
係るBGAパッケージを示す図で、(a)図は平面図、
(b)図は(a)図中のb−b線に沿う断面図、(c)
図は(a)図中のc−c線に沿う断面図、(d)図は
(a)図中のd−d線に沿う断面図である。
【0050】図10(a)〜(d)に示すように、第6
の実施の形態に係るBGAパッケージは、カバープレー
ト7をチップ5のみに接着し、スティフナ2には接触さ
れるだけとした構成において、変形抑制用突起部13を
カバープレート7にさらに設けたものである。また、図
10(d)に示すように、変形抑制用突起部13は、ス
ティフナ2に接着されているが、図7を参照して説明し
たように、その接着は、熱によってカバープレート7が
膨脹および収縮したとき、解除されるようになってい
る。これにより、図7を参照して説明したような効果を
得ることができる。さらに、変形抑制用突起部13の先
端のみをスティフナ2に接触することができるので、接
着剤をカバープレート7の全面に塗布して組み立てるこ
とが可能である。
【0051】
【発明の効果】以上、説明したように、この発明によれ
ば、放熱部材を有するBGAパッケージ型の半導体装置
において、はんだボールに、熱に起因したクラック発生
を抑制できる半導体装置と、その組み立て方法とを提供
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はこの発明の第1の実施の形態に係るBG
Aパッケージを示す図で、(a)図は平面図、(b)図
は(a)図中のb−b線に沿う断面図、(c)図は
(a)図中のc−c線に沿う断面図、(d)図は(a)
図中のd−d線に沿う断面図。
【図2】図2はカバープレートを取り外した状態を示す
平面図。
【図3】図3はこの発明の第2の実施の形態に係るBG
Aパッケージの接着面を示す図。
【図4】図4はカバープレートを取り外した状態を示す
平面図。
【図5】図5はこの発明の第3の実施の形態に係るBG
Aパッケージの接着面を示す図。
【図6】図6はカバープレートを取り外した状態を示す
平面図。
【図7】図7はカバープレートを接着面側からみた平面
図。
【図8】図8はこの発明の第4の実施の形態に係るBG
Aパッケージを示す図で、(a)図は平面図、(b)図
は(a)図中のb−b線に沿う断面図、(c)図は
(a)図中のc−c線に沿う断面図、(d)図は(a)
図中のd−d線に沿う断面図。
【図9】図9はこの発明の第5の実施の形態に係るBG
Aパッケージを示す図で、(a)図は平面図、(b)図
は(a)図中のb−b線に沿う断面図、(c)図は
(a)図中のc−c線に沿う断面図。
【図10】図10はこの発明の第6の実施の形態に係る
BGAパッケージを示す図で、(a)図は平面図、
(b)図は(a)図中のb−b線に沿う断面図、(c)
図は(a)図中のc−c線に沿う断面図、(d)図は
(a)図中のd−d線に沿う断面図。
【図11】図11は従来のBGAパッケージを示す図
で、(a)図は平面図、(b)図は(a)図中のb−b
線に沿う断面図、(c)図は(a)図中のc−c線に沿
う断面図。
【符号の説明】
1…TABテープ、 2…スティフナ、 3、8…接着剤の層、 4…開孔部、 5…半導体集積回路チップ、 6…リード、 7…カバープレート、 9…はんだボール、 10…ポッティング樹脂、 12、32…接着用突起部、 13、33…変形抑制用突起部、 21、22、23、24…接着面。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 池水 守彦 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株式会社東芝多摩川工場内 (56)参考文献 特開 平8−78572(JP,A) 特開 平9−213837(JP,A) 特開 平8−31995(JP,A) 特開 平9−246315(JP,A) 特開 平9−293808(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 23/34 H01L 23/12 H01L 21/60

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ボール状電極群を有するチップキャリア
    と、 前記チップキャリアに電気的に接続され、前記ボール
    電極群を外部端子とする半導体集積回路チップと、 前記チップキャリアに接続され、前記チップキャリアの
    平坦性を保たせるための平坦化部材と、 前記平坦化部材に接着されるとともに、前記半導体集積
    回路チップに熱的に結合され、前記半導体集積回路チッ
    プから発せられる熱を逃がすための放熱部材とを具備
    し、前記放熱部材と前記平坦化部材との接着面を有する接着
    用突起部を、前記放熱部材および前記平坦化部材のいず
    れか一方に設け、前記放熱部材を、前記平坦化部材に、
    部分的に接着した ことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 ボール状電極群を有するチップキャリア
    と、 前記チップキャリアに電気的に接続され、前記ボール
    電極群を外部端子とする半導体集積回路チップと、 前記チップキャリアに接続され、前記チップキャリアの
    平坦性を保たせるための平坦化部材と、 前記平坦化部材に接着されるとともに、前記半導体集積
    回路チップに熱的に結合され、前記半導体集積回路チッ
    プから発せられる熱を逃がすための放熱部材とを具備す
    る半導体装置の組み立て方法であって、 前記放熱部材と前記平坦化部材との接着面を有した接着
    用突起部を、前記放熱部材および前記平坦化部材のいず
    れか一方に設け、前記放熱部材の接着側全面に接着剤を
    塗布し、前記接着用突起部の接着面により、前記放熱部
    材を、前記平坦化部材に、部分的に接着することを特徴
    とする半導体装置の組み立て方法。
  3. 【請求項3】 ボール状電極群を有するチップキャリア
    と、 前記チップキャリアに電気的に接続され、前記ボール
    電極群を外部端子とする半導体集積回路チップと、 前記チップキャリアに接続され、前記チップキャリアの
    平坦性を保たせるための平坦化部材と、 前記半導体集積回路チップに熱的に結合され、前記半導
    体集積回路チップから発せられる熱を逃がすための放熱
    部材とを具備し、 前記放熱部材を、前記平坦化部材に対して水平な方向へ
    の変形が自在な状態で、前記平坦化部材により支持させ
    たことを特徴とする半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記平坦化部材は、前記半導体集積回路
    チップを収容するための開孔部を有し、 前記放熱部材を、前記平坦化部材の前記開孔部周囲のみ
    に接着し、前記放熱部材の縁を開放したことを特徴とす
    る請求項1に記載の半導体装置。
  5. 【請求項5】 前記放熱部材と平坦化部材との接着部分
    を、発熱中心から等距離な位置に設けたことを特徴とす
    る請求項4に記載の半導体装置。
  6. 【請求項6】 前記放熱部材と平坦化部材との接着部分
    を、前記開孔部の周囲に分散させたことを特徴とする請
    求項4に記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 前記分散された接着部分をそれぞれ、発
    熱中心から、点対、かつ線対称な条件を満足する位置
    に設けたことを特徴とする請求項6に記載の半導体装
    置。
  8. 【請求項8】 前記放熱部材の、前記平坦化部材に対し
    て水平な方向への変形が自在な状態で、前記平坦化部材
    に対して垂直な方向への変形を抑制する変形抑制用突起
    部を、前記放熱部材および前記平坦化部材のいずれか一
    方に、さらに設けたことを特徴とする請求項1に記載の
    半導体装置。
  9. 【請求項9】 前記変形抑制用突起部は、前記接着用突
    起部の接着面よりも小さい、前記放熱部材と前記平坦化
    部材との接着面を有し、 前記変形抑制用突起部の接着面における接着は、前記放
    熱部材が前記平坦化部材に対して水平な方向へ変形した
    ときに解除され、接着が解除された後、前記放熱部材
    の、前記平坦化部材に対して水平な方向への変形が自在
    な状態となることを特徴とする請求項8 に記載の半導体
    装置。
  10. 【請求項10】 前記放熱部材は、前記平坦化部材に対
    して水平な方向への変形が自在な状態で、前記平坦化部
    材に対して垂直な方向への変形を抑制する変形抑制用突
    起部を有し、 前記放熱部材を、前記変形抑制用突起部によって、前記
    平坦化部材に対して水 平な方向への変形が自在な状態
    で、前記平坦化部材により支持させたことを特徴とする
    請求項3 に記載の半導体装置。
  11. 【請求項11】 前記変形抑制用突起部は、前記放熱部
    材と前記平坦化部材との接着面を有し、 前記変形抑制用突起部の接着面における接着は、前記放
    熱部材が前記平坦化部材に対して水平な方向へ変形した
    ときに解除され、接着が解除された後、前記放熱部材
    の、前記平坦化部材に対して水平な方向への変形が自在
    な状態となることを特徴とする請求項10 に記載の半導
    体装置。
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