JP3314719B2 - フラッシュｅｅｐｒｏｍとその試験方法 - Google Patents
フラッシュｅｅｐｒｏｍとその試験方法Info
- Publication number
- JP3314719B2 JP3314719B2 JP12269398A JP12269398A JP3314719B2 JP 3314719 B2 JP3314719 B2 JP 3314719B2 JP 12269398 A JP12269398 A JP 12269398A JP 12269398 A JP12269398 A JP 12269398A JP 3314719 B2 JP3314719 B2 JP 3314719B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- block
- flash eeprom
- flag
- written
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、フラッシュＥＥＰ
ＲＯＭ（Electrically Erasable andProgrammable Read
Only Memory ）とその試験方法に関するものである。
ＲＯＭ（Electrically Erasable andProgrammable Read
Only Memory ）とその試験方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＥＥＰＲＯＭは不揮発性メモリであっ
て、電源切断状態でもメモリが蒸発することがなく、書
き換えが比較的容易であるために広く利用されている
が、書き換え回数に限度があるという問題がある。この
問題のために、ＥＥＰＲＯＭを使用するときはしばしば
これを試験し、正常な状態にあることを確認した上で使
用するのが一般である。
て、電源切断状態でもメモリが蒸発することがなく、書
き換えが比較的容易であるために広く利用されている
が、書き換え回数に限度があるという問題がある。この
問題のために、ＥＥＰＲＯＭを使用するときはしばしば
これを試験し、正常な状態にあることを確認した上で使
用するのが一般である。
【０００３】ＥＥＰＲＯＭに記憶されているデータに対
しその符号誤り訂正用（又は符号誤り検出用）巡回符号
を生成して、この巡回符号を当該ＥＥＰＲＯＭに格納し
ておけば、ＥＥＰＲＯＭの試験を簡単に行うことができ
る。また、ＥＥＰＲＯＭの一部が破壊されても、残りの
部分が健全であれば健全な部分だけを使用できるように
することが望ましい。このためＥＥＰＲＯＭの全体のメ
モリエリアを複数のブロックに分割し、どのブロックの
ＥＥＰＲＯＭに不良があるかが、試験結果により容易に
判定できるようにしておけばよいのであるが従来のＥＥ
ＰＲＯＭの試験方法はそのようになっていなかった。
しその符号誤り訂正用（又は符号誤り検出用）巡回符号
を生成して、この巡回符号を当該ＥＥＰＲＯＭに格納し
ておけば、ＥＥＰＲＯＭの試験を簡単に行うことができ
る。また、ＥＥＰＲＯＭの一部が破壊されても、残りの
部分が健全であれば健全な部分だけを使用できるように
することが望ましい。このためＥＥＰＲＯＭの全体のメ
モリエリアを複数のブロックに分割し、どのブロックの
ＥＥＰＲＯＭに不良があるかが、試験結果により容易に
判定できるようにしておけばよいのであるが従来のＥＥ
ＰＲＯＭの試験方法はそのようになっていなかった。
【０００４】従来、フラッシュＥＥＰＲＯＭにデータを
書き込む時においては、ブロック単位に巡回符号を生成
せず、全ブロックに１つの巡回符号を生成していた。ま
たフラッシュＥＥＰＲＯＭにデータが書かれているか書
かれていないかの判断部を持っていなかった。
書き込む時においては、ブロック単位に巡回符号を生成
せず、全ブロックに１つの巡回符号を生成していた。ま
たフラッシュＥＥＰＲＯＭにデータが書かれているか書
かれていないかの判断部を持っていなかった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従って、従来のフラッ
シュＥＥＰＲＯＭには次のような問題点があった。第１
の問題点は、データが書き込まれたフラッシュＥＥＰＲ
ＯＭの全ブロックを誤って試験し、書き込まれているデ
ータを壊す危険性がある。その理由は、フラッシュＥＥ
ＰＲＯＭの試験を実施し、正常性を確認した後にデータ
を書き込み、データが書き込まれた後は、データが壊れ
ていないかの保証を実施する必要があるが、フラッシュ
ＥＥＰＲＯＭにデータが書き込まれているか否かを試験
プログラムが自動的に判断できないからである。
シュＥＥＰＲＯＭには次のような問題点があった。第１
の問題点は、データが書き込まれたフラッシュＥＥＰＲ
ＯＭの全ブロックを誤って試験し、書き込まれているデ
ータを壊す危険性がある。その理由は、フラッシュＥＥ
ＰＲＯＭの試験を実施し、正常性を確認した後にデータ
を書き込み、データが書き込まれた後は、データが壊れ
ていないかの保証を実施する必要があるが、フラッシュ
ＥＥＰＲＯＭにデータが書き込まれているか否かを試験
プログラムが自動的に判断できないからである。
【０００６】第２の問題点は、フラッシュＥＥＰＲＯＭ
が大容量になればなる程、データ書き込み時やデータ書
き換え時に巡回符号生成に要する時間が長くなるという
ことである。その理由は、従来の方法では、ブロック単
位に巡回符号を生成せず、全ブロックに１つの巡回符号
を生成していたからである。そのため、データ書き込み
時やデータ書き換え時において、全ブロックのデータか
ら巡回符号を生成する必要があるからである。
が大容量になればなる程、データ書き込み時やデータ書
き換え時に巡回符号生成に要する時間が長くなるという
ことである。その理由は、従来の方法では、ブロック単
位に巡回符号を生成せず、全ブロックに１つの巡回符号
を生成していたからである。そのため、データ書き込み
時やデータ書き換え時において、全ブロックのデータか
ら巡回符号を生成する必要があるからである。
【０００７】本発明の目的は、従来の方法における上述
の問題点を解決し、書き込み済みのＥＥＰＲＯＭのデー
タを誤って破壊することがなく、ＥＥＰＲＯＭに局部的
な欠陥が発生したときも、その欠陥のある部分だけを除
外し、他の正常な部分を使用することができるフラッシ
ュＥＥＰＲＯＭとその試験方法を提供することにある。
の問題点を解決し、書き込み済みのＥＥＰＲＯＭのデー
タを誤って破壊することがなく、ＥＥＰＲＯＭに局部的
な欠陥が発生したときも、その欠陥のある部分だけを除
外し、他の正常な部分を使用することができるフラッシ
ュＥＥＰＲＯＭとその試験方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】このため本発明のフラッ
シュＥＥＰＲＯＭでは格納するデータを複数のデータブ
ロックに分解し、各データブロックごとに巡回符号を生
成し、各データブロックと各巡回符号とを各メモリブロ
ックに格納し、且つ各メモリブロックにデータが書き込
まれているか否かを表すフラグを設けた。
シュＥＥＰＲＯＭでは格納するデータを複数のデータブ
ロックに分解し、各データブロックごとに巡回符号を生
成し、各データブロックと各巡回符号とを各メモリブロ
ックに格納し、且つ各メモリブロックにデータが書き込
まれているか否かを表すフラグを設けた。
【０００９】すなわち、本発明のフラッシュＥＥＰＲＯ
Ｍのメモリエリアはブロック単位に分割されてデータが
書き込まれるデータ格納部と、このデータ格納部内のブ
ロック単位に対応するブロック単位に分割され、各ブロ
ックはデータ格納部内の対応するブロック内にデータが
書き込まれているか否かを示す情報が書き込まれるブロ
ック書き込み完了フラグと、当該ブロックの書き込みが
完了している場合、前記データ格納部の対応するブロッ
クに格納されているデータの符号誤りを訂正する訂正用
（又は符号誤りを検出する検出用）の巡回符号が書き込
まれるブロック巡回符号部とから構成されるデータ管理
部と、データ格納部内の総てのブロックにデータが書き
込まれていることを示すフラグ（以下、全ブロックデー
タ書き込み済みフラグという）及びデータ格納部内のど
のブロックにもデータが格納されてないことを示すフラ
グ（以下、全ブロックデータ無しフラグという）が格納
される書き込み判断部とを備えている。
Ｍのメモリエリアはブロック単位に分割されてデータが
書き込まれるデータ格納部と、このデータ格納部内のブ
ロック単位に対応するブロック単位に分割され、各ブロ
ックはデータ格納部内の対応するブロック内にデータが
書き込まれているか否かを示す情報が書き込まれるブロ
ック書き込み完了フラグと、当該ブロックの書き込みが
完了している場合、前記データ格納部の対応するブロッ
クに格納されているデータの符号誤りを訂正する訂正用
（又は符号誤りを検出する検出用）の巡回符号が書き込
まれるブロック巡回符号部とから構成されるデータ管理
部と、データ格納部内の総てのブロックにデータが書き
込まれていることを示すフラグ（以下、全ブロックデー
タ書き込み済みフラグという）及びデータ格納部内のど
のブロックにもデータが格納されてないことを示すフラ
グ（以下、全ブロックデータ無しフラグという）が格納
される書き込み判断部とを備えている。
【００１０】また、このフラッシュＥＥＰＲＯＭにデー
タを書き込むステップは、当該フラッシュＥＥＰＲＯＭ
のどのブロックにもデータが書き込まれていない初期化
の状態のとき、どのブロックにもデータが格納されてい
ないことを示す全ブロックデータ無しフラグと総てのブ
ロックにデータが書き込まれていることを示す全ブロッ
クデータ書き込み済みフラグとをリセットするステップ
と、当該フラッシュＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込みに
際し前記全ブロックデータ書き込み済みフラグがセット
されている場合は書き込み不可と判定するステップと、
当該フラッシュＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込みに際し
前記全ブロックデータ無しフラグがリセットされている
場合はこれをセットするステップと、書き込むべきデー
タをブロック単位に分割し、このブロック単位のデータ
に対する巡回符号を生成する巡回符号生成ステップと、
ブロック内にデータが書き込まれているか否かを示す情
報が書き込まれるブロック書き込み完了フラグのセット
されていないブロックに前記ブロック単位のデータを書
き込み、当該ブロックに対応するブロック巡回符号部に
前記巡回符号生成ステップで生成した巡回符号を書き込
む書き込みステップと、この書き込みステップで巡回符
号の書き込みの終わった前記ブロックの前記ブロック書
き込み完了フラグをセットするステップと、全てのブロ
ックに前記ブロック書き込み完了フラグがセットされた
とき、前記全ブロックデータ書き込み済みフラグをセッ
トするステップとを備えている。
タを書き込むステップは、当該フラッシュＥＥＰＲＯＭ
のどのブロックにもデータが書き込まれていない初期化
の状態のとき、どのブロックにもデータが格納されてい
ないことを示す全ブロックデータ無しフラグと総てのブ
ロックにデータが書き込まれていることを示す全ブロッ
クデータ書き込み済みフラグとをリセットするステップ
と、当該フラッシュＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込みに
際し前記全ブロックデータ書き込み済みフラグがセット
されている場合は書き込み不可と判定するステップと、
当該フラッシュＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込みに際し
前記全ブロックデータ無しフラグがリセットされている
場合はこれをセットするステップと、書き込むべきデー
タをブロック単位に分割し、このブロック単位のデータ
に対する巡回符号を生成する巡回符号生成ステップと、
ブロック内にデータが書き込まれているか否かを示す情
報が書き込まれるブロック書き込み完了フラグのセット
されていないブロックに前記ブロック単位のデータを書
き込み、当該ブロックに対応するブロック巡回符号部に
前記巡回符号生成ステップで生成した巡回符号を書き込
む書き込みステップと、この書き込みステップで巡回符
号の書き込みの終わった前記ブロックの前記ブロック書
き込み完了フラグをセットするステップと、全てのブロ
ックに前記ブロック書き込み完了フラグがセットされた
とき、前記全ブロックデータ書き込み済みフラグをセッ
トするステップとを備えている。
【００１１】このフラッシュＥＥＰＲＯＭを試験するス
テップは、前記全ブロックデータ無しフラグを検査する
フラグ検査ステップと、全ブロックデータ無しフラグが
リセットされているときは、当該フラッシュＥＥＰＲＯ
Ｍのメモリエリア全体にわたり書き込みが存在しないこ
とを確認する試験を行い、試験終了後、全ブロックデー
タ無しフラグをリセットした状態のまま、試験結果（Ｏ
ＫかＮＧか）を報告するステップと、全ブロックデータ
無しフラグがセットされているときは、前記ブロック書
き込み完了フラグを検査し、このフラグがセットされて
いるブロックに対してだけ試験を行い、当該ブロックの
データを読み出し、この読み出したデータから巡回符号
を生成し、この生成した巡回符号と、前記ブロック巡回
符号部から読み出した巡回符号とを比較し、この比較の
結果不一致の場合は当該ブロックの試験結果をＮＧとし
て報告するステップとを備えている。
テップは、前記全ブロックデータ無しフラグを検査する
フラグ検査ステップと、全ブロックデータ無しフラグが
リセットされているときは、当該フラッシュＥＥＰＲＯ
Ｍのメモリエリア全体にわたり書き込みが存在しないこ
とを確認する試験を行い、試験終了後、全ブロックデー
タ無しフラグをリセットした状態のまま、試験結果（Ｏ
ＫかＮＧか）を報告するステップと、全ブロックデータ
無しフラグがセットされているときは、前記ブロック書
き込み完了フラグを検査し、このフラグがセットされて
いるブロックに対してだけ試験を行い、当該ブロックの
データを読み出し、この読み出したデータから巡回符号
を生成し、この生成した巡回符号と、前記ブロック巡回
符号部から読み出した巡回符号とを比較し、この比較の
結果不一致の場合は当該ブロックの試験結果をＮＧとし
て報告するステップとを備えている。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図１は本発明のフラッシュＥＥＰ
ＲＯＭとその周辺部分を示すブロック図であって、符号
１は書き込み装置、符号２はフラッシュＥＥＰＲＯＭ搭
載装置で、この搭載装置２は、フラッシュＥＥＰＲＯＭ
３、データ受信手段４、書き込み制御手段５、読み出し
制御手段６、試験手段７を含む。なお周辺部分として
は、上位装置８、入出力装置９がある。
を参照して説明する。図１は本発明のフラッシュＥＥＰ
ＲＯＭとその周辺部分を示すブロック図であって、符号
１は書き込み装置、符号２はフラッシュＥＥＰＲＯＭ搭
載装置で、この搭載装置２は、フラッシュＥＥＰＲＯＭ
３、データ受信手段４、書き込み制御手段５、読み出し
制御手段６、試験手段７を含む。なお周辺部分として
は、上位装置８、入出力装置９がある。
【００１３】試験手段７はプログラムで制御されるプロ
セッサで構成され、試験制御部７１、試験プログラム７
２として表示される。試験プログラム７２を起動するに
は、操作者が入出力装置９から命令を与えるか、上位装
置８から命令が与えられるか、読み出し制御手段６から
読み出しに関連する試験が命令されるかによる。試験結
果は上位装置８に報告され、又は入出力装置９の表示部
（図示せず）に表示される。
セッサで構成され、試験制御部７１、試験プログラム７
２として表示される。試験プログラム７２を起動するに
は、操作者が入出力装置９から命令を与えるか、上位装
置８から命令が与えられるか、読み出し制御手段６から
読み出しに関連する試験が命令されるかによる。試験結
果は上位装置８に報告され、又は入出力装置９の表示部
（図示せず）に表示される。
【００１４】フラッシュＥＥＰＲＯＭ３のメモリエリア
はデータ格納部（ブロック単位のデータ格納部）３１、
データ管理部（ブロック単位のデータ管理部）３２、書
き込み判断部３３とに分割される。データ格納部３１は
３１１〜３１ＮのＮ個（Ｎは任意の自然数）の単位ブロ
ックに分割され、データ管理部３２は３２１〜３２Ｎの
Ｎ個の単位ブロックに分割される。３１１と３２１、３
１２と３２２、 ・・・ 、３１Ｎと３２Ｎはそれぞれ
互いに対応するブロックである。
はデータ格納部（ブロック単位のデータ格納部）３１、
データ管理部（ブロック単位のデータ管理部）３２、書
き込み判断部３３とに分割される。データ格納部３１は
３１１〜３１ＮのＮ個（Ｎは任意の自然数）の単位ブロ
ックに分割され、データ管理部３２は３２１〜３２Ｎの
Ｎ個の単位ブロックに分割される。３１１と３２１、３
１２と３２２、 ・・・ 、３１Ｎと３２Ｎはそれぞれ
互いに対応するブロックである。
【００１５】ブロック３２１、３２２、 ・・・ 、３
２Ｎはそれぞれ２つの部分、３２１０、３２１１；３２
２０、３２２１； ・・・ ；３２Ｎ０、３２Ｎ１に分
かれ、３２１０、３２２０、 ・・・ 、３２Ｎ０はそ
れぞれブロック書き込み完了フラグであり、３２１１、
３２２１、 ・・・ 、３２Ｎ１はそれぞれブロック巡
回符号部である。
２Ｎはそれぞれ２つの部分、３２１０、３２１１；３２
２０、３２２１； ・・・ ；３２Ｎ０、３２Ｎ１に分
かれ、３２１０、３２２０、 ・・・ 、３２Ｎ０はそ
れぞれブロック書き込み完了フラグであり、３２１１、
３２２１、 ・・・ 、３２Ｎ１はそれぞれブロック巡
回符号部である。
【００１６】書き込み装置１はフラッシュＥＥＰＲＯＭ
３への書き込み全般を制御し、書き込むべきデータをブ
ロック単位に分割してデータ受信手段４に送り、ここに
一時格納する。書き込み制御手段５は、データ受信手段
４内のブロック単位のデータから巡回符号を算出し、デ
ータ受信手段４内のブロック単位のデータをデータ格納
部３１内の選択されたブロック番号のブロック（この選
択については後述する。例えばブロック３１２が選択さ
れたとする）へ書き込み、算出した巡回符号を、データ
格納部３１のデータを格納したブロック（例えばブロッ
ク３１２）に対応するデータ管理部３２のブロック（す
なわち、ブロック３１２に対応するブロック３２２）の
ブロック巡回符号部３２２１に書き込む。そして、その
ブロック３２２のブロック書き込み完了フラグ３２２０
をセットする（すなわち、フラグの論理を「１」とす
る）。ブロック３１２、３２２内の書き込みアドレスは
書き込み制御手段５が発生する。
３への書き込み全般を制御し、書き込むべきデータをブ
ロック単位に分割してデータ受信手段４に送り、ここに
一時格納する。書き込み制御手段５は、データ受信手段
４内のブロック単位のデータから巡回符号を算出し、デ
ータ受信手段４内のブロック単位のデータをデータ格納
部３１内の選択されたブロック番号のブロック（この選
択については後述する。例えばブロック３１２が選択さ
れたとする）へ書き込み、算出した巡回符号を、データ
格納部３１のデータを格納したブロック（例えばブロッ
ク３１２）に対応するデータ管理部３２のブロック（す
なわち、ブロック３１２に対応するブロック３２２）の
ブロック巡回符号部３２２１に書き込む。そして、その
ブロック３２２のブロック書き込み完了フラグ３２２０
をセットする（すなわち、フラグの論理を「１」とす
る）。ブロック３１２、３２２内の書き込みアドレスは
書き込み制御手段５が発生する。
【００１７】読み出し制御手段６はデータ格納部３１内
の選択されたブロック（この選択については後述する。
例えばブロック３１１が選択されたとする）を読み出
す。ブロック３１１内の読み出しアドレスは読み出し制
御手段６が発生する。但し、書き込みは必ず１ブロック
全体が同時に書き込まれる。読み出しはブロック内の選
択したデータが読み出されるのであるが、この発明で問
題とするのは、試験のための読み出しだけであるから、
その場合は必ず選択された１ブロック全体のデータが読
み出される。試験のための読み出しの場合は、試験プロ
グラム７２が起動される。試験プログラム７２の起動に
よって試験手段が実行する処理については後述する。
の選択されたブロック（この選択については後述する。
例えばブロック３１１が選択されたとする）を読み出
す。ブロック３１１内の読み出しアドレスは読み出し制
御手段６が発生する。但し、書き込みは必ず１ブロック
全体が同時に書き込まれる。読み出しはブロック内の選
択したデータが読み出されるのであるが、この発明で問
題とするのは、試験のための読み出しだけであるから、
その場合は必ず選択された１ブロック全体のデータが読
み出される。試験のための読み出しの場合は、試験プロ
グラム７２が起動される。試験プログラム７２の起動に
よって試験手段が実行する処理については後述する。
【００１８】書き込み判断部は２つのフラグを備えてい
る。第１のフラグは全ブロックデータ無しフラグであ
り、このフラグがリセット状態（論理「０」）のとき
は、データ格納部３１中のどのブロックにもデータが書
かれてないことを表し、このフラグがセット状態（論理
「１」）のときは、データ格納部３１中の何れかのブロ
ックにデータが書かれていることを表す。第２のフラグ
は全ブロックデータ書き込み済みフラグであり、このフ
ラグがリセット状態（論理「０」）のときは、データ格
納部３１中の何れかのブロックにデータが書かれてない
ことを表し、このフラグがセット状態（論理「１」）の
ときは、データ格納部３１中の全部のブロックにデータ
が書かれていることを表す。従って、初期状態でフラッ
シュＥＥＰＲＯＭに何らのデータも書かれていないとき
は全ブロックデータ無しフラグ、全ブロックデータ書き
込み済みフラグ、及び全てのブロック書き込み完了フラ
グはリセットされている。
る。第１のフラグは全ブロックデータ無しフラグであ
り、このフラグがリセット状態（論理「０」）のとき
は、データ格納部３１中のどのブロックにもデータが書
かれてないことを表し、このフラグがセット状態（論理
「１」）のときは、データ格納部３１中の何れかのブロ
ックにデータが書かれていることを表す。第２のフラグ
は全ブロックデータ書き込み済みフラグであり、このフ
ラグがリセット状態（論理「０」）のときは、データ格
納部３１中の何れかのブロックにデータが書かれてない
ことを表し、このフラグがセット状態（論理「１」）の
ときは、データ格納部３１中の全部のブロックにデータ
が書かれていることを表す。従って、初期状態でフラッ
シュＥＥＰＲＯＭに何らのデータも書かれていないとき
は全ブロックデータ無しフラグ、全ブロックデータ書き
込み済みフラグ、及び全てのブロック書き込み完了フラ
グはリセットされている。
【００１９】以下、本発明のフラッシュＥＥＰＲＯＭの
試験について説明する。図２は図１に示す装置における
フラッシュＥＥＰＲＯＭ３へのデータ書き込みの処理を
表すフローチャートである。本発明のフラッシュＥＥＰ
ＲＯＭへの書き込みに際しては試験のためのデータを予
め準備しておく。以下、図１と図２を参照して書き込み
動作を説明する。
試験について説明する。図２は図１に示す装置における
フラッシュＥＥＰＲＯＭ３へのデータ書き込みの処理を
表すフローチャートである。本発明のフラッシュＥＥＰ
ＲＯＭへの書き込みに際しては試験のためのデータを予
め準備しておく。以下、図１と図２を参照して書き込み
動作を説明する。
【００２０】図２のステップＡ１の前に、ＲＯＭ３への
書き込みが可能であるか否かを判定しておかなければな
らない。この判定処理は図２には示してないが、書き込
み判断部３３の全ブロック書き込み完了フラグを調べ
て、そのフラグがセットされておれば（フラグの論理が
「１」であれば）、このＲＯＭ３のどのブロックにもデ
ータが書き込まれていて、新しく書き込みをする余地が
ないことを示しているので、何れかのブロックのデータ
を消去した上で、新しい書き込みを行う必要がある。従
って使用されなくなったデータが格納されているブロッ
クのデータを消去して、そこへ新しいデータを書き込む
ことになるが、この処理は試験には直接関係がないので
ここでは省略してある。
書き込みが可能であるか否かを判定しておかなければな
らない。この判定処理は図２には示してないが、書き込
み判断部３３の全ブロック書き込み完了フラグを調べ
て、そのフラグがセットされておれば（フラグの論理が
「１」であれば）、このＲＯＭ３のどのブロックにもデ
ータが書き込まれていて、新しく書き込みをする余地が
ないことを示しているので、何れかのブロックのデータ
を消去した上で、新しい書き込みを行う必要がある。従
って使用されなくなったデータが格納されているブロッ
クのデータを消去して、そこへ新しいデータを書き込む
ことになるが、この処理は試験には直接関係がないので
ここでは省略してある。
【００２１】ステップＡ１では、書き込むべきデータの
１ブロック分をデータ受信手段４に受信する。書き込み
制御手段５はデータ受信手段４で受信した１ブロック分
のデータに対する巡回符号を作成する（ステップＡ
２）。次にデータ管理部３２のブロック書き込み完了フ
ラグ３２１０、３２２０、・・・ 、３２Ｎ０を番号順
に調べ、このフラグがリセットされている最初の番号
（例えば３２２０とする）を検出し、その番号に対応す
る番号のデータ格納部３１の番号（３２２０に対応する
番号は３１２である）にデータ受信手段４のデータを書
き込み（ステップＡ３）、生成した巡回符号をデータ格
納部３１の番号（この例では３１２）に対応する番号
（３２２１）の巡回符号部へ書き込む（ステップＡ
４）。
１ブロック分をデータ受信手段４に受信する。書き込み
制御手段５はデータ受信手段４で受信した１ブロック分
のデータに対する巡回符号を作成する（ステップＡ
２）。次にデータ管理部３２のブロック書き込み完了フ
ラグ３２１０、３２２０、・・・ 、３２Ｎ０を番号順
に調べ、このフラグがリセットされている最初の番号
（例えば３２２０とする）を検出し、その番号に対応す
る番号のデータ格納部３１の番号（３２２０に対応する
番号は３１２である）にデータ受信手段４のデータを書
き込み（ステップＡ３）、生成した巡回符号をデータ格
納部３１の番号（この例では３１２）に対応する番号
（３２２１）の巡回符号部へ書き込む（ステップＡ
４）。
【００２２】ステップＡ４が終わると当該番号（この例
では３２２０）の書き込み完了フラグをセットし、もし
この時点で書き込み判断部３３の全ブロックデータ無し
フラグがリセット状態にあればこれをセットし（ステッ
プＡ４）、ステップＡ６に移る。ステップＡ６では、ス
テップＡ３で、データ管理部３２のブロック書き込み完
了フラグ３２１０、３２２０、 ・・・ 、３２Ｎ０を
調べているとどのフタグもセットされていることを検出
する場合に出会う。これは、ステップＡ６において全ブ
ロック書き込み完了かの判定が、ＹＥＳとなったことを
意味するので、ステップＡ７に移り、書き込み判断部３
３に全ブロックデータ書き込み済みフラグをセットす
る。
では３２２０）の書き込み完了フラグをセットし、もし
この時点で書き込み判断部３３の全ブロックデータ無し
フラグがリセット状態にあればこれをセットし（ステッ
プＡ４）、ステップＡ６に移る。ステップＡ６では、ス
テップＡ３で、データ管理部３２のブロック書き込み完
了フラグ３２１０、３２２０、 ・・・ 、３２Ｎ０を
調べているとどのフタグもセットされていることを検出
する場合に出会う。これは、ステップＡ６において全ブ
ロック書き込み完了かの判定が、ＹＥＳとなったことを
意味するので、ステップＡ７に移り、書き込み判断部３
３に全ブロックデータ書き込み済みフラグをセットす
る。
【００２３】ステップＡ６の判定がＮＯのときはステッ
プＡ８に移り、ステップＡ８の判定がＹＥＳの場合は書
き込みを終了し、ＮＯの場合はステップＡ１に戻り、次
のブロック単位のデータをデータ受信手段４へ受信す
る。初期状態での書き込みでは、フラッシュＥＥＰＲＯ
Ｍの全ブロックに書き込む量のデータが書き込みデータ
として用意されているので、最後のブロックへ書き込ん
でステップＡ５を実行した後ステップＡ６の判定がＹＥ
Ｓとなり、ステップＡ７を経て終了されるが、このとき
はステップＡ８の判定もＹＥＳになっている。
プＡ８に移り、ステップＡ８の判定がＹＥＳの場合は書
き込みを終了し、ＮＯの場合はステップＡ１に戻り、次
のブロック単位のデータをデータ受信手段４へ受信す
る。初期状態での書き込みでは、フラッシュＥＥＰＲＯ
Ｍの全ブロックに書き込む量のデータが書き込みデータ
として用意されているので、最後のブロックへ書き込ん
でステップＡ５を実行した後ステップＡ６の判定がＹＥ
Ｓとなり、ステップＡ７を経て終了されるが、このとき
はステップＡ８の判定もＹＥＳになっている。
【００２４】図３は本発明の試験方法における処理の流
れを示すフローチャートである。図１と図３とを参照し
て本発明の試験方法について説明する。試験手段７の試
験制御部７１は、上位装置８、または入出力装置９から
の試験起動命令を受信すると、試験プログラム７２を起
動する。試験プログラム７２は読み出し制御手段６を通
して書き込み判断部３３の全ブロックデータ無しフラグ
を調べ（ステップＢ１、Ｂ２）、このフラグがリセット
状態であれば、このフラッシュＥＥＰＲＯＭ３には何処
にもデータが書き込まれていないことを示すので、ステ
ップＢ３に移り、このＲＯＭの全エリアについて試験
し、何処にも書き込まれていないかどうかを試験し、全
ブロックデータ無しフラグをリセット状態にしたまま
（ステップＢ４）、試験結果を上位装置８、または入出
力装置９に報告する（ステップＢ５、Ｂ１２、Ｂ１
３）。試験結果はＯＫ又はＮＧで表され、入出力装置９
に報告された場合は表示部に表示される。
れを示すフローチャートである。図１と図３とを参照し
て本発明の試験方法について説明する。試験手段７の試
験制御部７１は、上位装置８、または入出力装置９から
の試験起動命令を受信すると、試験プログラム７２を起
動する。試験プログラム７２は読み出し制御手段６を通
して書き込み判断部３３の全ブロックデータ無しフラグ
を調べ（ステップＢ１、Ｂ２）、このフラグがリセット
状態であれば、このフラッシュＥＥＰＲＯＭ３には何処
にもデータが書き込まれていないことを示すので、ステ
ップＢ３に移り、このＲＯＭの全エリアについて試験
し、何処にも書き込まれていないかどうかを試験し、全
ブロックデータ無しフラグをリセット状態にしたまま
（ステップＢ４）、試験結果を上位装置８、または入出
力装置９に報告する（ステップＢ５、Ｂ１２、Ｂ１
３）。試験結果はＯＫ又はＮＧで表され、入出力装置９
に報告された場合は表示部に表示される。
【００２５】全ブロックデータ無しフラグがセットされ
ている場合は、何れかのブロックにデータが書き込まれ
ていることを示しているので、書き込まれているブロッ
クのデータが正しく保存されているかどうかを試験す
る。データが書き込まれていないブロックの試験は省略
する。すなわち、ステップＢ４に移り、ブロック書き込
み完了フラグ３２１０、３２２０、 ・・・ 、 ３２
Ｎ０を番号順に読み出す。読み出したブロック書き込み
完了フラグがリセット状態にあるブロックに対しては
（ステップＢ７の判定がＮＯ）試験を省略してステップ
Ｂ１１に移る。
ている場合は、何れかのブロックにデータが書き込まれ
ていることを示しているので、書き込まれているブロッ
クのデータが正しく保存されているかどうかを試験す
る。データが書き込まれていないブロックの試験は省略
する。すなわち、ステップＢ４に移り、ブロック書き込
み完了フラグ３２１０、３２２０、 ・・・ 、 ３２
Ｎ０を番号順に読み出す。読み出したブロック書き込み
完了フラグがリセット状態にあるブロックに対しては
（ステップＢ７の判定がＮＯ）試験を省略してステップ
Ｂ１１に移る。
【００２６】ブロック書き込み完了フラグがセットされ
ているブロックに対しては、データ格納部３１内の対応
するブロック（例えばブロック３１１）のデータを読み
出し、このデータに対する巡回符号を生成する（ステッ
プＢ８）。この生成した巡回符号と、対応するブロック
巡回符号部（この例ではブロック巡回符号部３２１１）
の巡回符号とを比較する（ステップＢ９）。比較の結果
が不一致であれば（ステップＢ１０の判定がＮＯ）、ス
テップ１３で試験結果ＮＧを報告、その後このブロック
のデータの使用を禁止する。場合によっては、このフラ
ッシュＥＥＰＲＯＭ全体の使用を禁止してもよい。
ているブロックに対しては、データ格納部３１内の対応
するブロック（例えばブロック３１１）のデータを読み
出し、このデータに対する巡回符号を生成する（ステッ
プＢ８）。この生成した巡回符号と、対応するブロック
巡回符号部（この例ではブロック巡回符号部３２１１）
の巡回符号とを比較する（ステップＢ９）。比較の結果
が不一致であれば（ステップＢ１０の判定がＮＯ）、ス
テップ１３で試験結果ＮＧを報告、その後このブロック
のデータの使用を禁止する。場合によっては、このフラ
ッシュＥＥＰＲＯＭ全体の使用を禁止してもよい。
【００２７】ステップＢ１０の判定がＹＥＳの場合はス
テップＢ１１に移り、全ブロック実施したかを判定す
る。図１に示す例では、最後のブロック書き込み完了フ
ラグの番号は３２Ｎ０であるので、ステップＢ６でブロ
ック書き込み完了フラグ３２Ｎ０を読み出し、そのブロ
ックに対し、ステップＢ１１の処理が開始された場合、
その判定はＹＥＳとなり、ステップＢ１２に移り試験結
果ＯＫを報告して試験を終了する。
テップＢ１１に移り、全ブロック実施したかを判定す
る。図１に示す例では、最後のブロック書き込み完了フ
ラグの番号は３２Ｎ０であるので、ステップＢ６でブロ
ック書き込み完了フラグ３２Ｎ０を読み出し、そのブロ
ックに対し、ステップＢ１１の処理が開始された場合、
その判定はＹＥＳとなり、ステップＢ１２に移り試験結
果ＯＫを報告して試験を終了する。
【００２８】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、フラ
ッシュＥＥＰＲＯＭ３内に書き込み判断部３３を設け、
かつデータ格納部３１の各ブロックに対応してブロック
書き込み完了フラグを設けたので、このフラッシュＥＥ
ＰＲＯＭ全体を通じてのデータ書き込みの状態と共に、
各ブロックのデータ書き込みの状態が、試験プログラム
７２に明瞭に認識されて、書き込み済みの有用なデータ
を誤って破壊する危険もなくなり、かつ不必要な試験を
することもなくなる。
ッシュＥＥＰＲＯＭ３内に書き込み判断部３３を設け、
かつデータ格納部３１の各ブロックに対応してブロック
書き込み完了フラグを設けたので、このフラッシュＥＥ
ＰＲＯＭ全体を通じてのデータ書き込みの状態と共に、
各ブロックのデータ書き込みの状態が、試験プログラム
７２に明瞭に認識されて、書き込み済みの有用なデータ
を誤って破壊する危険もなくなり、かつ不必要な試験を
することもなくなる。
【００２９】また、データ格納部３１の各ブロックのデ
ータに対応してそのデータに対する巡回符号が、データ
管理部３２の対応するブロックのブロック巡回符号部３
２１１、３２２１、 ・・・ 、３２Ｎ１に格納されて
いるので、格納されているデータの正常性を判定する試
験が簡単にかつフラッシュＥＥＰＲＯＭの寿命に影響を
与えることなく実行することができる。また、従来のよ
うにフラッシュＥＥＰＲＯＭに格納されるデータ全部に
対する巡回符号を生成するのでないから、巡回符号の生
成に要する時間を短縮することができ、かつフラッシュ
ＥＥＰＲＯＭの破壊された部分を試験結果により限定す
ることができる等の効果がある。
ータに対応してそのデータに対する巡回符号が、データ
管理部３２の対応するブロックのブロック巡回符号部３
２１１、３２２１、 ・・・ 、３２Ｎ１に格納されて
いるので、格納されているデータの正常性を判定する試
験が簡単にかつフラッシュＥＥＰＲＯＭの寿命に影響を
与えることなく実行することができる。また、従来のよ
うにフラッシュＥＥＰＲＯＭに格納されるデータ全部に
対する巡回符号を生成するのでないから、巡回符号の生
成に要する時間を短縮することができ、かつフラッシュ
ＥＥＰＲＯＭの破壊された部分を試験結果により限定す
ることができる等の効果がある。
【図１】本発明のフラッシュＥＥＰＲＯＭとその周辺部
分を示すブロック図である。
分を示すブロック図である。
【図２】図１のフラッシュＥＥＰＲＯＭの書き込み処理
を示すフロチャートである。
を示すフロチャートである。
【図３】図１のフラッシュＥＥＰＲＯＭの試験処理を示
すフロチャートである。
すフロチャートである。
１ 書き込み装置 ２ フラッシュＥＥＰＲＯＭ搭載装置 ３ フラッシュＥＥＰＲＯＭ ４ データ受信手段 ５ 書き込み制御手段 ６ 読み出し制御手段 ７ 試験手段 ８ 上位装置 ９ 入出力装置 ３１ データ格納部 ３２ データ管理部 ３３ 書き込み判断部 ７１ 試験制御部 ７２ 試験プログラム ３１１、３１２、 ・・・ 、３１Ｎ データ格納部の
各ブロック ３２１、３２２、 ・・・ 、３２Ｎ データ管理部の
各ブロック ３２１０、３２２０、 ・・・ 、３２Ｎ０ ブロック
書き込み完了フラグ ３２１１、３２２１、 ・・・ 、３２Ｎ１ ブロック
巡回符号部
各ブロック ３２１、３２２、 ・・・ 、３２Ｎ データ管理部の
各ブロック ３２１０、３２２０、 ・・・ 、３２Ｎ０ ブロック
書き込み完了フラグ ３２１１、３２２１、 ・・・ 、３２Ｎ１ ブロック
巡回符号部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11C 29/00 G11C 16/02 G01R 31/28 G06F 12/00 G06F 12/16
Claims (5)
- 【請求項１】 フラッシュＥＥＰＲＯＭ（Electrically
Erasable andProgrammable Read Only Memory ）のメ
モリエリア（memory area ）内に設けられ、ブロック単
位に分割されてデータが書き込まれるデータ格納部、 該フラッシュＥＥＰＲＯＭのメモリエリア内に設けら
れ、前記データ格納部内のブロック単位にそれぞれ対応
するブロック単位に分割され、各ブロックはデータ格納
部内の対応するブロック内にデータが書き込まれている
か否かを示す情報が書き込まれるブロック書き込み完了
フラグと、当該ブロックの書き込みが完了している場
合、前記データ格納部の対応するブロックに格納されて
いるデータの符号誤りを訂正する訂正用（又は符号誤り
を検出する検出用）の巡回符号が書き込まれるブロック
巡回符号部とから構成されるデータ管理部、 該フラッシュＥＥＰＲＯＭのメモリエリア内に設けら
れ、前記データ格納部内の総てのブロックにデータが書
き込まれていることを示すフラグ（以下、全ブロックデ
ータ書き込み済みフラグという）及び前記データ格納部
内のどのブロックにもデータが格納されていないことを
示すフラグ（以下、全ブロックデータ無しフラグとい
う）が格納される書き込み判断部、 該フラッシュＥＥＰＲＯＭにブロック単位でアクセスす
る手段、 を備えたフラッシュＥＥＰＲＯＭ。 - 【請求項２】 請求項１記載のフラッシュＥＥＰＲＯＭ
において、該フラッシュＥＥＰＲＯＭのメモリエリアの
外に、 書き込むべきデータを受信して一時記憶するデータ受信
手段、 該フラッシュＥＥＰＲＯＭのメモリエリアにデータを書
き込む書き込み制御手段、 該フラッシュＥＥＰＲＯＭのメモリエリアからデータを
読み出す読み出し制御手段、 該フラッシュＥＥＰＲＯＭのメモリエリアを試験する試
験手段、 を備えたフラッシュＥＥＰＲＯＭ。 - 【請求項３】 請求項２記載のフラッシュＥＥＰＲＯＭ
において、前記試験手段は、試験プログラムとこの試験
プログラムを実行する試験制御部とを備えたフラッシュ
ＥＥＰＲＯＭ。 - 【請求項４】 フラッシュＥＥＰＲＯＭの試験方法にお
いて、 当該フラッシュＥＥＰＲＯＭのどのブロックにもデータ
が書き込まれていない初期化の状態のとき、どのブロッ
クにもデータが格納されていないことを示す全ブロック
データ無しフラグと総てのブロックにデータが書き込ま
れていることを示す全ブロックデータ書き込み済みフラ
グとをリセットするステップと、 当該フラッシュＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込みに際し
前記全ブロックデータ書き込み済みフラグがセットされ
ている場合は書き込み不可と判定するステップと、 当該フラッシュＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込みに際し
前記全ブロックデータ無しフラグがリセットされている
場合はこれをセットするステップと、 書き込むべきデータをブロック単位に分割し、このブロ
ック単位のデータに対する巡回符号を生成する巡回符号
生成ステップと、 ブロック内にデータが書き込まれているか否かを示す情
報が書き込まれるブロック書き込み完了フラグのセット
されていないブロックに前記ブロック単位のデータを書
き込み、当該ブロックに対応するブロック巡回符号部に
前記巡回符号生成ステップで生成した巡回符号を書き込
む書き込みステップと、 この書き込みステップで巡回符号の書き込みの終わった
前記ブロックの前記ブロック書き込み完了フラグをセッ
トするステップと、 全てのブロックに前記ブロック書き込み完了フラグがセ
ットされたとき、前記全ブロックデータ書き込み済みフ
ラグをセットするステップと、 当該フラッシュＥＥＰＲＯＭの性能を試験する試験ステ
ップと、 を備えたフラッシュＥＥＰＲＯＭの試験方法。 - 【請求項５】 請求項４記載のフラッシュＥＥＰＲＯＭ
の試験方法において、前記試験ステップは、前記全ブロックデータ無しフラグを検査する フラグ検査
ステップと、 全ブロックデータ無しフラグがリセットされているとき
は、当該フラッシュＥＥＰＲＯＭのメモリエリア全体に
わたり書き込みが存在しないことを確認する試験を行
い、試験終了後、全ブロックデータ無しフラグをリセッ
トした状態のまま、試験結果（ＯＫかＮＧか）を報告す
るステップと、 全ブロックデータ無しフラグがセットされているとき
は、前記ブロック書き込み完了フラグを検査し、このフ
ラグがセットされているブロックに対してだけ試験を行
い、当該ブロックのデータを読み出し、この読み出した
データから巡回符号を生成し、この生成した巡回符号
と、前記ブロック巡回符号部から読み出した巡回符号と
を比較し、この比較の結果不一致の場合は当該ブロック
の試験結果をＮＧとして報告するステップと、 を備えたことを特徴とするフラッシュＥＥＰＲＯＭの試
験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12269398A JP3314719B2 (ja) | 1998-04-17 | 1998-04-17 | フラッシュｅｅｐｒｏｍとその試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12269398A JP3314719B2 (ja) | 1998-04-17 | 1998-04-17 | フラッシュｅｅｐｒｏｍとその試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11306800A JPH11306800A (ja) | 1999-11-05 |
| JP3314719B2 true JP3314719B2 (ja) | 2002-08-12 |
Family
ID=14842287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12269398A Expired - Fee Related JP3314719B2 (ja) | 1998-04-17 | 1998-04-17 | フラッシュｅｅｐｒｏｍとその試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3314719B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002163155A (ja) * | 2000-11-29 | 2002-06-07 | Rb Controls Co | ガス器具のマイコン制御装置 |
| JP4843222B2 (ja) | 2005-01-11 | 2011-12-21 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置の制御方法、メモリカード、及びホスト機器 |
-
1998
- 1998-04-17 JP JP12269398A patent/JP3314719B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11306800A (ja) | 1999-11-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6601132B2 (en) | Nonvolatile memory and method of writing data thereto | |
| JP4668416B2 (ja) | ブート・ブロックへの書き込みアクセスを可能にする時のブート・ブロック・コードの保護 | |
| JP2990181B1 (ja) | フラッシュメモリ、フラッシュメモリを備えたマイクロコンピュータおよびフラッシュメモリへのプログラム格納方法 | |
| US20050036390A1 (en) | Non-volatile memory and non-volatile memory data rewriting method | |
| US20080016415A1 (en) | Evaluation system and method | |
| CN116880782B (zh) | 一种内嵌式存储器及其测试方法 | |
| JP2000010870A (ja) | 半導体ディスク装置 | |
| JP2004220068A (ja) | メモリカード及びメモリへのデータ書き込み方法 | |
| JPH1091289A (ja) | メモリの初期化装置及び方法 | |
| US20040230879A1 (en) | Apparatus and method for responding to data retention loss in a non-volatile memory unit using error checking and correction techniques | |
| JP3314719B2 (ja) | フラッシュｅｅｐｒｏｍとその試験方法 | |
| JP4863472B2 (ja) | メモリ管理方法 | |
| JPH03147086A (ja) | Ｉｃカード | |
| US20050068842A1 (en) | Electronic device, nonvolatile memory and method of overwriting data in nonvolatile memory | |
| JP2008071490A (ja) | 半導体集積回路装置、ｉｃカードおよび検査装置 | |
| JPH0784894A (ja) | 不揮発性メモリの書き込み方法 | |
| US7895577B2 (en) | Device for testing the structural coverage of a software program and a method implementing the device | |
| JP4691355B2 (ja) | 不揮発性メモリ | |
| JP2005056144A (ja) | フラッシュメモリ搭載電子装置、そのメモリデータ管理方法およびプログラム | |
| JPH07122087A (ja) | Ｅｅｐｒｏｍエラーチェック方式 | |
| US8108740B2 (en) | Method for operating a memory device | |
| JP2011150383A (ja) | ファームウェア書き込み方法 | |
| JP2003099333A (ja) | フラッシュメモリ管理システム | |
| JP2000194605A (ja) | フラッシュメモリのリフレッシュ装置、そのリフレッシュ方法及びフラッシュメモリ | |
| JP2007328824A (ja) | メモリカード、不揮発性メモリ、不揮発性メモリのデータ書込み方法及びデータ書込み装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080607 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090607 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100607 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100607 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110607 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |