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JP3265948B2 - Electronic component manufacturing method and barrel plating apparatus - Google Patents

Electronic component manufacturing method and barrel plating apparatus

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JP3265948B2
JP3265948B2 JP27932395A JP27932395A JP3265948B2 JP 3265948 B2 JP3265948 B2 JP 3265948B2 JP 27932395 A JP27932395 A JP 27932395A JP 27932395 A JP27932395 A JP 27932395A JP 3265948 B2 JP3265948 B2 JP 3265948B2
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JP
Japan
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barrel
electronic component
plating
plating apparatus
tip
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重之 堀江
義男 山下
正士 森本
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の外表面
に電極を形成する工程が改良された電子部品の製造方法
並びにそのような製造方法に用いられるバレルめっき装
置の改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing an electronic component having an improved step of forming electrodes on the outer surface of the electronic component, and to an improvement in a barrel plating apparatus used in such a manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の電子部品の製造方法の一例を、チ
ップ型積層コンデンサを例にとり説明する。
2. Description of the Related Art An example of a conventional method for manufacturing an electronic component will be described with reference to a chip-type multilayer capacitor as an example.

【0003】積層コンデンサ1は、チタン酸バリウムな
どの誘電体セラミックスよりなる焼結体2を有する。焼
結体2内には、セラミック層を介して重なり合うよう
に、内部電極3a〜3eが配置されている。また、セラ
ミック焼結体2の端面2a上には、外部電極4が、端面
2b上には外部電極5が形成されている。外部電極4,
5は、それぞれ、端面2a,2b上にAgなどの金属粉
末含有導電ペーストを塗布し、焼き付けることにより形
成された焼付け層4a,5aと、焼付け層4a,5a上
に電気めっきにより形成されたNi層4b,5bと、N
i層4b,5b上に同じく電気めっきにより形成された
Sn層4c,5cとを有する。
A multilayer capacitor 1 has a sintered body 2 made of a dielectric ceramic such as barium titanate. Internal electrodes 3a to 3e are arranged in the sintered body 2 so as to overlap with each other via a ceramic layer. An external electrode 4 is formed on the end face 2a of the ceramic sintered body 2, and an external electrode 5 is formed on the end face 2b. External electrode 4,
Reference numeral 5 denotes baking layers 4a and 5a formed by applying and baking a conductive paste containing a metal powder such as Ag on the end surfaces 2a and 2b, and Ni formed by electroplating on the baking layers 4a and 5a, respectively. Layers 4b and 5b and N
Sn layers 4c and 5c are also formed on the i-layers 4b and 5b by electroplating.

【0004】積層コンデンサ1の製造に際しては、上記
内部電極3a〜3eが形成されたセラミック焼結体2を
用意した後、焼結体2の両端面2a,2bに導電ペース
トを塗布し、焼き付けることにより、焼付け層4a,5
aを形成する。次に、上記Ni層4b,5b及びSn層
4c,5cを、バレルめっき装置を用いて形成する。
In manufacturing the multilayer capacitor 1, after preparing a ceramic sintered body 2 on which the internal electrodes 3a to 3e are formed, a conductive paste is applied to both end surfaces 2a and 2b of the sintered body 2 and baked. The baking layers 4a, 5
a is formed. Next, the Ni layers 4b and 5b and the Sn layers 4c and 5c are formed using a barrel plating apparatus.

【0005】バレルめっき装置の構造を、図2及び図3
を参照して説明する。バレルめっき装置6は、筒状のバ
レル本体7の両端開口を閉じるように、バレル本体7の
両端に端面材8,9を固定した構造を有する。図3から
明らかなように、端面材8,9には、陰極線10,11
が挿通されている。バレル本体7は、図示しない駆動源
により回転駆動されるように構成されている。もっと
も、陰極線10,11は、図3に示す位置のまま、その
位置が固定されている。
FIGS. 2 and 3 show the structure of a barrel plating apparatus.
This will be described with reference to FIG. The barrel plating apparatus 6 has a structure in which end faces 8 and 9 are fixed to both ends of the barrel main body 7 so as to close both ends of the cylindrical barrel main body 7. As is clear from FIG. 3, the end faces 8, 9 are provided with the cathode wires 10, 11 respectively.
Is inserted. The barrel main body 7 is configured to be rotationally driven by a driving source (not shown). However, the positions of the cathode rays 10 and 11 are fixed while keeping the positions shown in FIG.

【0006】陰極線10,11は、それぞれ、端面材
8,9の中心を貫いて内側に延ばされた導入部10a,
11aを有する。導入部10a,11aの先端において
折り曲げられて、バレル本体7の側面に向かって延びる
ように折曲部10b,11bが形成されている。また、
折曲部10b,11bの先端側においては、他方の端面
材側に向かって延びるように先端部10c,11cが設
けられている。なお、陰極線10,11においては、上
記先端部10c,11cのみが露出されており、導入部
10a,11a及び折曲部10b,11bでは、陰極線
の回りに絶縁被覆(図示せず)が施されている。
[0006] The cathode wires 10 and 11 are respectively provided with introduction portions 10a and 10a extending inward through the centers of the end face members 8 and 9, respectively.
11a. The bent portions 10b and 11b are formed so as to be bent at the tips of the introduction portions 10a and 11a and extend toward the side surface of the barrel main body 7. Also,
At the distal ends of the bent portions 10b and 11b, distal ends 10c and 11c are provided so as to extend toward the other end face material. In the cathode wires 10 and 11, only the tip portions 10c and 11c are exposed, and in the introduction portions 10a and 11a and the bent portions 10b and 11b, insulating coating (not shown) is applied around the cathode wires. ing.

【0007】バレルめっきに際しては、上記バレル本体
7内に、メディア13及び電子部品14を投入し、バレ
ル本体7をめっき液12に浸漬して、回転させつつ陰極
線10,11を用いて通電することにより、電子部品1
4の焼付け層(図示されず)上にめっき膜が形成され
る。上記メディア13は、鋼球などの導電性材料からな
り、陰極線10,11と電子部品14との間の電気的導
通を補助するために設けられている。図3では、メディ
ア13及び電子部品14は、それぞれが、分離した状態
で散在しているように図示されているが、実際には、メ
ディア13及び電子部品14は図示の状態よりも密に分
散されている。
At the time of barrel plating, the media 13 and the electronic components 14 are charged into the barrel body 7, and the barrel body 7 is immersed in the plating solution 12 and energized using the cathode wires 10, 11 while rotating. The electronic component 1
A plating film is formed on the baking layer 4 (not shown). The medium 13 is made of a conductive material such as a steel ball, and is provided to assist the electrical conduction between the cathode wires 10 and 11 and the electronic component 14. In FIG. 3, the media 13 and the electronic components 14 are illustrated as being scattered in a separated state, but in reality, the media 13 and the electronic components 14 are more densely dispersed than illustrated. Have been.

【0008】バレル本体7を回転させつつ陰極線10,
11を用いて通電することにより、電子部品14は、め
っき液12内で攪拌され、かつメディア13により通電
を補助されることにより、焼付け層上に所望の膜厚のめ
っき膜が形成されることになる。
While rotating the barrel body 7, the cathode wires 10,
The electronic component 14 is agitated in the plating solution 12 by energizing with the use of 11, and the energization is assisted by the medium 13, so that a plating film of a desired film thickness is formed on the baking layer. become.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図3の
矢印Aで示す位置に存在する電子部品14、すなわち端
面材8,9と、陰極線10,11の折曲部10b,11
bとの間に位置した電子部品14は、十分に攪拌され難
い。従って、矢印Aで示す位置に存在する電子部品14
は、中央に位置していた電子部品14に比べてめっきさ
れ難く、めっき膜の膜厚のばらつきが生じがちであると
いう問題があった。すなわち、矢印Aで示す位置に存在
した電子部品14では、めっき膜の厚みが目的とする厚
みになり難いという問題があった。
However, the electronic component 14 located at the position shown by the arrow A in FIG. 3, ie, the end face members 8 and 9, and the bent portions 10b and 11 of the cathode wires 10 and 11 are present.
The electronic component 14 positioned between the electronic component 14 and the electronic component 14 is hard to be sufficiently stirred. Therefore, the electronic component 14 existing at the position indicated by the arrow A
Has a problem that plating is more difficult than the electronic component 14 located at the center, and the thickness of the plating film tends to vary. That is, in the electronic component 14 located at the position indicated by the arrow A, there is a problem that the thickness of the plating film is unlikely to be the target thickness.

【0010】もっとも、めっき時間を長くし、バレル本
体7を回転しつつめっきすれば、矢印Aで示す位置にあ
る電子部品素体14についても、所望の厚みのめっき膜
を形成することが可能である。しかしながら、めっき時
間を長くした場合には、めっき液12が、外部電極の焼
付け層に存在する細孔を通って焼結体内に浸入しやす
く、特に焼結体における内部電極とセラミック層との間
の界面から内部に進入し、得られた積層コンデンサの耐
熱衝撃性を劣化させるという問題が生じる。
However, if the plating time is increased and plating is performed while rotating the barrel body 7, a plating film having a desired thickness can be formed even on the electronic component element 14 at the position indicated by the arrow A. is there. However, when the plating time is prolonged, the plating solution 12 easily penetrates into the sintered body through the pores present in the baked layer of the external electrode, and particularly the gap between the internal electrode and the ceramic layer in the sintered body. From the interface of the multilayer capacitor, and the thermal shock resistance of the obtained multilayer capacitor is degraded.

【0011】よって、本発明の目的は、ばらつきの少な
い厚みのめっき膜を有する電極を比較的短時間で形成す
ることができ、かつ耐熱衝撃性などの特性に優れた電子
部品を製造し得る方法、並びにそのような電子部品を得
ることを可能とするバレルめっき装置を提供することに
ある。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a method capable of forming an electrode having a plating film having a thickness with little variation in a relatively short time and producing an electronic component having excellent properties such as thermal shock resistance. Another object of the present invention is to provide a barrel plating apparatus capable of obtaining such an electronic component.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は、バレルめっき
装置のバレル内に、電子部品及びバレルと電子部品との
間の電気的導通を補助するためのメディアを入れ、前記
バレルをめっき液に浸漬させ、回転させつつ通電し、電
子部品の表面にめっきにより電極膜を形成する工程を有
する電子部品の製造方法において、前記バレルめっき装
置として、一対の端面材により両端が閉じられた筒状の
バレル本体と、前記端面材の中心から内側に延ばされた
導入部、該導入部の先端においてバレル本体の側面側に
延びるように折り曲げられた折曲部と、折曲部の先端か
ら他方端面材側に延ばされた先端部とを有し、バレル本
体と共には回転しないように配置された陰極線と、前記
端面材の内側において、端面材の中心近傍から陰極線の
折曲部先端側に延びるように設けられており、かつ錐状
の形状を有する整流体とを備えるものを用いることを特
徴とする、電子部品の製造方法である。
According to the present invention, an electronic component and a medium for assisting electrical conduction between the barrel and the electronic component are placed in a barrel of a barrel plating apparatus, and the barrel is placed in a plating solution. Immersion, energizing while rotating, in a method of manufacturing an electronic component having a step of forming an electrode film on the surface of the electronic component by plating, as the barrel plating device, a cylindrical closed both ends by a pair of end face material A barrel body, an introduction portion extending inward from the center of the end face material, a bent portion bent at the tip of the introduction portion so as to extend to the side of the barrel body, and the other end face from the tip of the bent portion A cathode wire having a tip portion extended toward the material side and arranged so as not to rotate with the barrel main body; and inside the end face material, extending from near the center of the end face material to the bent wire tip side of the cathode wire. Provided on so that, and Kirijo
A method for manufacturing an electronic component, comprising: using a rectifier having a shape as described above.

【0013】本発明の電子部品の製造方法では、端面材
の中心もしくはその近傍から陰極線の折曲部先端側に延
びるように整流体が設けられており、該整流体により、
端面材と陰極線の折曲部との間の空間に電子部品が進入
したとしても、折曲部よりもバレルの中央側に電子部品
が円滑に移動される。従って、バレルに投入された多数
の電子部品のめっき膜厚のばらつきを効果的に低減する
ことができる。
In the method for manufacturing an electronic component according to the present invention, the rectifier is provided so as to extend from the center of the end face material or its vicinity to the tip of the bent portion of the cathode ray.
Even if the electronic component enters the space between the end face material and the bent portion of the cathode ray, the electronic component is smoothly moved to the center of the barrel from the bent portion. Therefore, it is possible to effectively reduce the variation in the plating film thickness of a large number of electronic components put into the barrel.

【0014】また、本発明のバレルめっき装置は、内部
において、めっき液に浸漬された電子部品をめっきする
ためのバレルめっき装置であって、一対の端面材により
両端が閉塞された筒状のバレル本体と、前記端面材の中
心から内側に延ばされた導入部、該導入部の先端におい
てバレル本体の側面側に延びるように折り曲げられた折
曲部及び折曲部の先端から他方端面材側に延ばされた先
端部を有し、バレル本体と共には回転しないように配置
された陰極線と、前記バレルの端面材の内側において、
端面材中心から前記陰極線の折曲部先端側に向かって延
びるように設けられており、かつ錐状の形状を有する
流体とを備えることを特徴とする、バレルめっき装置で
ある。
Further, the barrel plating apparatus of the present invention is a barrel plating apparatus for plating an electronic component immersed in a plating solution inside the barrel plating apparatus, wherein a cylindrical barrel closed at both ends by a pair of end face members. A main body, an introduction portion extending inward from the center of the end face material, a bent portion bent at the tip of the introduction portion so as to extend to the side of the barrel body, and the other end face material side from the tip of the bent portion A cathode ray having a tip portion extended to the inside, and a cathode ray arranged so as not to rotate with the barrel body, and inside the end face material of the barrel,
A barrel plating apparatus, comprising: a rectifier having a conical shape and provided so as to extend from the center of the end face material toward the tip of the bent portion of the cathode wire.

【0015】本発明のバレルめっき装置では、整流体が
端面材の中心近傍から陰極線の折曲部先端側に向かって
延びるようにバレルに取り付けられているため、該整流
体の作用より、端面際と陰極線の折曲部との間に有した
電子部品がバレルの中央領域に円滑に移動される。よっ
て、バレル内に投入された多数の電子部品をめっきする
に際し、めっき膜の厚みのばらつきを低減することがで
きる。
In the barrel plating apparatus of the present invention, the rectifier is attached to the barrel so as to extend from the vicinity of the center of the end face material toward the tip of the bent portion of the cathode wire. The electronic component between the and the bent portion of the cathode ray is smoothly moved to the central region of the barrel. Therefore, when plating a large number of electronic components put in the barrel, it is possible to reduce variations in the thickness of the plating film.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】図4は、本発明の一実施形態にか
かるバレルめっき装置の外観を示す斜視図であり、図5
はその内部構造を示す縦断面図である。
FIG. 4 is a perspective view showing the appearance of a barrel plating apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing the internal structure.

【0017】本実施形態のバレルめっき装置21は、筒
状のバレル本体22を有する。通常バレル本体22の側
面壁には、多数の貫通孔(図示せず)が設けられ、後述
のめっき液が通過できるようになっている。バレル本体
22は、本実施形態では断面が6角形の形状を有する6
角筒として構成されているが、断面形状が4角形や5角
形等の他の多角形形状となるように構成されていてもよ
い。また、バレル本体22は円筒状の形状を有するもの
であってもよい。もっとも、内部における電子部品の攪
拌効果を高めて、めっき膜の厚みのばらつきを低減する
には、円筒よりも、角筒状の形状を有するようにバレル
本体22を構成することが望ましい。
The barrel plating apparatus 21 of the present embodiment has a cylindrical barrel main body 22. Usually, a large number of through holes (not shown) are provided in the side wall of the barrel main body 22 so that a plating solution described later can pass therethrough. In the present embodiment, the barrel main body 22 has a hexagonal cross section.
Although it is configured as a rectangular tube, it may be configured so that the cross-sectional shape is another polygonal shape such as a quadrangle or a pentagon. Further, the barrel main body 22 may have a cylindrical shape. However, in order to enhance the stirring effect of the electronic components inside and reduce the variation in the thickness of the plating film, it is desirable to configure the barrel main body 22 so as to have a prismatic shape rather than a cylindrical shape.

【0018】バレル本体22の両端面には、端面材2
3,24が固定されて、バレル本体22内が閉じられて
バレル25が構成されている。端面材23,24は、バ
レル本体22と一体に形成されていてもよい。
At both end surfaces of the barrel body 22, an end face material 2 is provided.
3 and 24 are fixed, and the inside of the barrel main body 22 is closed to form a barrel 25. The end face members 23 and 24 may be formed integrally with the barrel body 22.

【0019】バレル本体22及び端面材23,24を構
成する材料としては、特に限定されもるのではないが、
金属や合成樹脂などの適宜の剛性材料で構成することが
できる。また、上記バレル25は、図示しないモータな
どの回転駆動源により、その軸方向の周りに回転可能に
構成されている。
The material constituting the barrel body 22 and the end face members 23 and 24 is not particularly limited, but
It can be made of a suitable rigid material such as metal or synthetic resin. The barrel 25 is configured to be rotatable around its axial direction by a rotation drive source such as a motor (not shown).

【0020】他方、図5から明らかなように、端面材2
3,24の中心には貫通孔23a,24aが形成されて
いる。貫通孔23a,24aには、それ自身は回転しな
いようにその位置が固定されている陰極線26,27が
挿入されている。陰極線26,27は、貫通孔23a,
24aに挿通している導入部26a,27aを有する。
導入部26a,27aは、外側端において、図示しない
負の電位に接続されている。導入部26a,27aは、
貫通孔23a,24aを挿通し、バレル本体22内に直
線的に延ばされている。導入部26a,27aの先端は
折り曲げられており、それによって折曲部26b,27
bが構成されている。折曲部26b,27bは、先端側
がバレル本体22の側面に向かうように延ばされてい
る。
On the other hand, as is apparent from FIG.
Through holes 23a and 24a are formed at the centers of the holes 3 and 24, respectively. Cathode wires 26, 27 whose positions are fixed so as not to rotate themselves are inserted into the through holes 23a, 24a. The cathode wires 26, 27 are connected to the through holes 23a,
It has introduction parts 26a and 27a inserted through 24a.
The introduction portions 26a and 27a are connected to a negative potential (not shown) at the outer ends. The introduction sections 26a and 27a
It penetrates through holes 23 a and 24 a and extends linearly into barrel body 22. The leading ends of the introduction portions 26a, 27a are bent, whereby the bent portions 26b, 27
b. The bent portions 26b and 27b are extended so that the distal ends face the side surfaces of the barrel main body 22.

【0021】他方、折曲部26b,27bの先端で陰極
線26,27は再度折り曲げられ、先端部26c,27
cが構成されている。先端部26c,27cは、導入部
26a,27aとほぼ平行に、すなわち他方の端面材2
4,23側に延ばされている。
On the other hand, the cathode wires 26 and 27 are bent again at the tips of the bent parts 26b and 27b, and the tips 26c and 27 are bent.
c is configured. The tip portions 26c and 27c are substantially parallel to the introduction portions 26a and 27a, that is, the other end face material 2
4, 23 side.

【0022】また、図5から明らかなように、陰極線2
6,27の周囲には絶縁被覆28,29が形成されてお
り、該絶縁被覆28,29は先端部26c,27cを露
出させるように、導入部26a,27a及び折曲部26
b,27bを被っている。絶縁被覆28,29は、適宜
の絶縁性樹脂などを陰極線26,27の周囲に付着させ
ることにより形成されている。
As is apparent from FIG.
Insulation coatings 28 and 29 are formed around the periphery of each of the introduction portions 26a and 27a and the bent portions 26 so that the tips 26c and 27c are exposed.
b, 27b. The insulating coatings 28 and 29 are formed by attaching an appropriate insulating resin or the like around the cathode wires 26 and 27.

【0023】また、バレル25では、上記端面材23,
24の内面に整流体30,31が取り付けられている。
整流体30は、合成樹脂やセラミックスなどの適宜の保
形性を有する材料で形成されている。この整流体30
は、図6(a)及び(b)に示すように、3つの頂点が
端面材23の内面に存在し、他の1つの頂点がバレル本
体22の内側壁に位置する三角錐の形状とされている。
従って、整流体30のバレル本体22内に露出している
面30a,30b(図6参照)は、端面材23からバレ
ル本体22の中央領域に向かうに連れて、折曲部26b
(図5参照)側に延ばされていることになる。
In the barrel 25, the end face members 23,
Rectifiers 30 and 31 are attached to the inner surface of 24.
The rectifier 30 is formed of a material having an appropriate shape retaining property such as a synthetic resin or ceramics. This rectifier 30
As shown in FIGS. 6A and 6B, the triangular pyramid has three vertices on the inner surface of the end face member 23 and the other one is on the inner wall of the barrel body 22. ing.
Accordingly, the surfaces 30a and 30b (see FIG. 6) of the straightening body 30 exposed in the barrel main body 22 are bent toward the central region of the barrel main body 22 from the end face member 23.
(See FIG. 5).

【0024】バレル25内には、電子部品33及びメデ
ィア34が投入され、これをめっき液32に浸漬させて
めっきが行われる。電子部品33としては、特に限定さ
れるものではないが、例えば積層コンデンサなどのチッ
プ型セラミック電子部品を例示することができる。ま
た、メディア34は、電子部品33の外表面にめっき膜
を形成するに際し、電子部品33の外表面への通電を補
助するために導入されている。従って、実際には、図5
に示されているよりも多くの電子部品33及びメディア
34が投入されており、陰極線26,27と電子部品3
3とを電気的に接続するように、メディア34が機能し
ている。
In the barrel 25, an electronic component 33 and a medium 34 are charged and immersed in a plating solution 32 to perform plating. The electronic component 33 is not particularly limited, but may be a chip-type ceramic electronic component such as a multilayer capacitor. The media 34 is introduced to assist in energizing the outer surface of the electronic component 33 when forming a plating film on the outer surface of the electronic component 33. Therefore, in practice, FIG.
, More electronic components 33 and media 34 than those shown in FIG.
The medium 34 functions so as to electrically connect the medium 3 with the medium 3.

【0025】上記メディア34は、通電を補助するため
に設けられているものであるため、鋼球などの導電性材
料よりなり、あるいは少なくとも表面が導電性とされて
いる材料よりなる。また、メディア34の形状について
は、特に限定されるものではないが、バレル25の回転
に伴って、上記通電補助作用を十分に発揮させるには、
球状のものが望ましい。
Since the medium 34 is provided to assist the energization, it is made of a conductive material such as a steel ball, or at least a material whose surface is made conductive. Further, the shape of the medium 34 is not particularly limited, but in order to sufficiently exhibit the above-described energization assisting action with the rotation of the barrel 25,
A spherical shape is desirable.

【0026】本実施形態のめっき装置21を用いてめっ
きする場合、図5に示す状態から、バレル25を回転し
つつ、通電する。この場合、陰極線26,27の先端部
26c,27c間の領域では、電子部品33とメディア
34とが十分に攪拌・混合されるため、比較的ばらつき
が少ない状態でめっき膜を形成することができる。これ
に対して、従来技術の項で説明したように、陰極線2
6,27の折曲部26b,27bと端面材23,24間
の領域では、電子部品33の攪拌が妨げられる。ところ
が、本実施形態では、上記整流体30,31が設けられ
ているため、図5の矢印Cで示した空間に電子部品33
やメディア34が進入した場合、バレル25の回転に伴
って、整流体30の外壁に沿って電子部品33やメディ
ア34が円滑に移動する。すなわち、陰極線26,27
の先端部26c,27c側に移動され、さらにバレル本
体22の中央方向に移動されていくことになる。従っ
て、投入されている全ての電子部品33に均一にめっき
することができ、めっき膜の厚みのばらつきを抑制する
ことができる。
When plating using the plating apparatus 21 of the present embodiment, power is supplied while rotating the barrel 25 from the state shown in FIG. In this case, since the electronic component 33 and the medium 34 are sufficiently stirred and mixed in a region between the tips 26c and 27c of the cathode rays 26 and 27, the plating film can be formed with relatively little variation. . On the other hand, as described in the related art section, the cathode ray 2
In the region between the bent portions 26b and 27b of the end portions 6 and 27 and the end face members 23 and 24, stirring of the electronic component 33 is prevented. However, in the present embodiment, since the rectifiers 30 and 31 are provided, the electronic components 33 are placed in the space indicated by the arrow C in FIG.
When the medium or the medium 34 enters, the electronic component 33 and the medium 34 move smoothly along the outer wall of the rectifier 30 as the barrel 25 rotates. That is, the cathode rays 26, 27
Of the barrel body 22, and further toward the center of the barrel body 22. Accordingly, it is possible to uniformly plate all the supplied electronic components 33, and it is possible to suppress a variation in the thickness of the plating film.

【0027】なお、整流体30は、好ましくは、図5の
寸法Pが、図5の寸法Qよりも大きくなるように構成さ
れる。ここで、寸法Pとは、整流体30の最内側端と、
端面材23との間の距離を示し、寸法Qは、端面材23
の内面から陰極線26の折曲部26bの最内側部分との
間の距離を示す。上記寸法Pが、寸法Qよりも小さい場
合は、折曲部26bと整流体30との間の空間におい
て、電子部品素体やメディア34の滞留が生じることが
あり、整流体30の作用を十分に発揮させないことがあ
る。従って、上記寸法Pは、寸法Q以上とすることが好
ましい。
The rectifier 30 is preferably configured such that the dimension P in FIG. 5 is larger than the dimension Q in FIG. Here, the dimension P refers to the innermost end of the rectifier 30,
The distance between the end face material 23 and the end face material 23 is shown.
3 shows the distance from the inner surface to the innermost part of the bent portion 26b of the cathode ray 26. When the dimension P is smaller than the dimension Q, in the space between the bent portion 26b and the rectifier 30, stagnation of the electronic component body and the medium 34 may occur, and the operation of the rectifier 30 may be sufficiently performed. May not be exhibited. Therefore, it is preferable that the dimension P be equal to or larger than the dimension Q.

【0028】[0028]

【0029】もっとも、整流体30は、本実施形態のよ
うに三角錐の形状を有することが好ましい。これは、バ
レル25の回転に伴って、電子部品33やメディア34
が、バレルの内側から見た略図的断面図である図7に示
すように、バレル内において偏ることになる。この場
合、整流体30が三角錐の場合には、綾線30cが存在
するため、バレル22の回転に伴って、電子部品33や
メディア34がより円滑にバレル22の中央領域側に移
動されることになる。すなわち、整流体30が設けられ
ている部分における電子部品33やメディア34の滞留
をより効果的に抑制することができる。
However, it is preferable that the rectifier 30 has a triangular pyramid shape as in this embodiment. This is because the electronic component 33 and the medium 34
However, as shown in FIG. 7, which is a schematic cross-sectional view as viewed from the inside of the barrel, there is a bias in the barrel. In this case, when the rectifying body 30 is a triangular pyramid, since the twill wire 30c exists, the electronic component 33 and the medium 34 are more smoothly moved to the center region side of the barrel 22 as the barrel 22 rotates. Will be. That is, stagnation of the electronic component 33 and the medium 34 in the portion where the rectifier 30 is provided can be more effectively suppressed.

【0030】[0030]

【実施例】次に、上記実施形態で説明したバレルめっき
装置を用いて、積層コンデンサの焼付け電極上にNi層
及びSn層をめっきした。
EXAMPLE Next, the Ni layer and the Sn layer were plated on the baked electrodes of the multilayer capacitor using the barrel plating apparatus described in the above embodiment.

【0031】用意した積層コンデンサは、1.6×0.
8×0.8の寸法を有し、100×103 個をバレル内
に投入した。使用したメディアは、1.5mm径の鉄球
であり、150×103 個をバレル内に投入した。めっ
きに際しては、Ni層のめっき及びSn層のめっきの何
れにおいても、20Aの電流を流し、各30分間バレル
を回転させてめっきした。
The prepared multilayer capacitor is 1.6 × 0.
100 × 10 3 pieces having a size of 8 × 0.8 were placed in the barrel. The media used was an iron ball having a diameter of 1.5 mm, and 150 × 10 3 balls were put into the barrel. In plating, a current of 20 A was applied to each of the Ni layer plating and the Sn layer plating, and the plating was performed by rotating the barrel for 30 minutes each.

【0032】比較のために、使用したバレルめっき装置
として、図3に示した従来のバレルめっき装置を用い、
めっき時間をNi層及びSn層のめっきのそれぞれにつ
いて60分としたことを除いては、上記と同様にしてN
i層及びSn層のめっきを行った(比較例)。
For comparison, a conventional barrel plating apparatus shown in FIG. 3 was used as a used barrel plating apparatus.
Except that the plating time was 60 minutes for each of the plating of the Ni layer and the Sn layer,
The i-layer and the Sn layer were plated (Comparative Example).

【0033】上記のようにして、Ni層及びSn層をめ
っきし、得られた積層コンデンサにおけるめっき膜の厚
みを測定した。結果を下記の表1に示す。
As described above, the Ni layer and the Sn layer were plated, and the thickness of the plated film in the obtained multilayer capacitor was measured. The results are shown in Table 1 below.

【0034】[0034]

【表1】 [Table 1]

【0035】なお、表1中CV値とは、標準偏差をσ、
めっき膜の厚みの平均値をxとしたときに、σ/x×1
00(%)で表される値である。また、表1に示すめっ
き膜の厚みの測定結果は、各条件において50個の積層
コンデンサについての測定結果である。
The CV value in Table 1 means that the standard deviation is σ,
When the average value of the thickness of the plating film is x, σ / x × 1
It is a value represented by 00 (%). The measurement results of the thickness of the plating film shown in Table 1 are the measurement results for 50 multilayer capacitors under each condition.

【0036】表1から明らかなように、めっき膜の膜厚
ばらつきの度合いを示すCV値が、比較例に比べて、実
施例のバレルめっき装置では大幅に低減されることがわ
かる。
As is apparent from Table 1, the CV value indicating the degree of variation in the thickness of the plating film is significantly reduced in the barrel plating apparatus of the example as compared with the comparative example.

【0037】また、統計的に計算される一製造ロット内
における最小膜厚値(x−3σ)も、実施例の場合に
は、平均膜厚が薄いにもかかわらず、厚くなっているこ
とがわかる。このことから、実施例のバレルめっき装置
を用いることにより、バレルめっきの時間を半分に短縮
したとしても、めっき皮膜の機能、すなわちNiめっき
層による半田耐熱性並びにSnめっき層による半田付け
性は、比較例の場合と同様に確保し得ることがわかる。
Also, the minimum film thickness value (x−3σ) statistically calculated in one manufacturing lot may be large in the case of the embodiment, even though the average film thickness is small. Understand. From this, even if the time of barrel plating is reduced to half by using the barrel plating apparatus of the example, the function of the plating film, that is, the solder heat resistance by the Ni plating layer and the solderability by the Sn plating layer, It can be seen that it can be secured as in the case of the comparative example.

【0038】また、上記バレルめっきを行った後の実施
例及び比較例の積層コンデンサの耐熱衝撃試験を行っ
た。耐熱衝撃試験は、250〜450℃の溶融半田中に
めっきされた積層コンデンサを2秒間浸漬し、引上げ、
しかる後研磨し、クラックの有無を観察することにより
行った。結果を、図8に示す。
Further, a thermal shock test was performed on the multilayer capacitors of the example and the comparative example after the barrel plating was performed. The thermal shock test is performed by immersing the laminated capacitor in molten solder at 250 to 450 ° C for 2 seconds, pulling it up,
Thereafter, polishing was performed and observation was made for the presence or absence of cracks. The results are shown in FIG.

【0039】図8において、実線Xは、実施例の結果
を、破線Yは比較例の結果を示す。図8から明らかなよ
うに、実施例で得られた積層コンデンサでは、半田の温
度が400℃まで高められたとしても、クラックの発生
が皆無であったのに対し、比較例で得られた積層コンデ
ンサでは、300℃以上の温度でクラックがかなりの割
合で発生していることがわかる。
In FIG. 8, the solid line X shows the result of the embodiment, and the broken line Y shows the result of the comparative example. As is clear from FIG. 8, in the multilayer capacitor obtained in the example, no crack was generated even when the temperature of the solder was increased to 400 ° C., whereas the multilayer capacitor obtained in the comparative example was obtained. It can be seen that cracks occur at a considerable rate at a temperature of 300 ° C. or higher in the capacitor.

【0040】従って、比較例のバレルめっき装置を用い
た場合には、めっき液の浸入による品質劣化のロット内
ばらつきが大きく、比較的低温でサーマルクラックが発
生してしまう場合があるのに対し、実施例のバレルめっ
き装置を用いた場合には、上記品質劣化のロット内ばら
つきが殆どないため、全ての積層コンデンサの耐熱性が
ほぼ同じレベルに維持されていると考えられる。
Therefore, when the barrel plating apparatus of the comparative example is used, the quality degradation due to the infiltration of the plating solution greatly varies within a lot, and thermal cracks may occur at a relatively low temperature. In the case of using the barrel plating apparatus of the embodiment, since there is almost no variation in the above-mentioned deterioration in quality among lots, it is considered that the heat resistance of all the multilayer capacitors is maintained at substantially the same level.

【0041】[0041]

【発明の効果】本発明の電子部品の製造方法及びバレル
めっき装置では、上記整流体がバレルの端面材の中心近
傍から陰極線の折曲部先端側に延びるようにバレルに取
り付けられているため、バレルを回転しつつめっきを行
った場合、投入されている電子部品やメディアが端面材
と陰極線の折曲部との間の空間から、バレルの中央領域
に円滑に移動する。従って、バレルめっきに際し、形成
されるめっき膜の厚みのばらつきを大幅に低減すること
ができる。しかも、めっきされ難い領域に電子部品が滞
留し難いため、バレルめっきに際しての時間を大幅に短
縮することが可能となり、電子部品の生産性を効果的に
高めることができるとともに、エネルギーを節約するこ
とができる。
According to the method for manufacturing an electronic component and the barrel plating apparatus of the present invention, the above-mentioned rectifier is attached to the barrel so as to extend from near the center of the end face material of the barrel to the tip of the bent portion of the cathode wire. When plating is performed while rotating the barrel, the supplied electronic components and media move smoothly from the space between the end face material and the bent portion of the cathode wire to the central region of the barrel. Therefore, in barrel plating, variations in the thickness of the formed plating film can be significantly reduced. In addition, since electronic components are unlikely to stay in areas where plating is difficult, it is possible to significantly reduce the time required for barrel plating, thereby effectively increasing the productivity of electronic components and saving energy. Can be.

【0042】加えて、めっき時間を短縮し得るため、め
っき液の電子部品内部への浸入を抑制することができ、
従って、耐熱衝撃性に優れた電子部品を提供することも
可能となる。特に、セラミック積層電子部品では、めっ
きに際し、内部電極とセラミック層との界面部分からめ
っき液が焼結体内に浸入し、耐熱衝撃性が低下すること
があるが、このようなセラミック積層電子部品の製造に
際し、めっき時間を短縮し得るため、より効果的に本発
明を適用することができる。
In addition, since the plating time can be shortened, the infiltration of the plating solution into the electronic component can be suppressed.
Therefore, it is also possible to provide an electronic component having excellent thermal shock resistance. In particular, in the case of a ceramic laminated electronic component, when plating, a plating solution may enter the sintered body from the interface between the internal electrode and the ceramic layer, and the thermal shock resistance may be reduced. In the production, the plating time can be shortened, so that the present invention can be applied more effectively.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】積層コンデンサを示す断面図。FIG. 1 is a sectional view showing a multilayer capacitor.

【図2】従来のバレルめっき装置を説明するための斜視
図。
FIG. 2 is a perspective view for explaining a conventional barrel plating apparatus.

【図3】従来のバレルめっき装置の部分切欠断面図。FIG. 3 is a partially cutaway sectional view of a conventional barrel plating apparatus.

【図4】本発明の一実施形態にかかるバレルめっき装置
の外観を示す斜視図。
FIG. 4 is a perspective view showing an appearance of a barrel plating apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図5】図4に示したバレルめっき装置の部分切欠断面
図。
5 is a partially cutaway sectional view of the barrel plating apparatus shown in FIG.

【図6】(a)及び(b)は、それぞれ、整流体を説明
するための略図的斜視図及び整流体の平面図。
FIGS. 6A and 6B are a schematic perspective view and a plan view of the rectifier for explaining the rectifier, respectively.

【図7】整流体の作用を説明するためのバレル内側から
見た略図的断面図。
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view seen from the inside of the barrel for explaining the operation of the rectifier.

【図8】耐熱衝撃試験結果を示し、半田溶融温度とサー
マルクラック発生率の関係を示す図。
FIG. 8 is a diagram showing the results of a thermal shock test, showing the relationship between the solder melting temperature and the rate of occurrence of thermal cracks.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21…バレルめっき装置 22…バレル本体 23,24…端面材 25…バレル 26,27…陰極線 26a,27a…導入部 26b,27b…折曲部 26c,27c…先端部 30,31…整流体 32…めっき液 33…電子部品 34…メディア DESCRIPTION OF SYMBOLS 21 ... Barrel plating apparatus 22 ... Barrel main body 23, 24 ... End face material 25 ... Barrel 26, 27 ... Cathode wire 26a, 27a ... Introducing part 26b, 27b ... Bending part 26c, 27c ... Tip part 30, 31 ... Rectifier 32 ... Plating solution 33 ... Electronic components 34 ... Media

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 実開 平2−102469(JP,U) 実開 平6−20459(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C25D 17/20 H01G 4/12 364 H01G 13/00 391 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A 2-102469 (JP, U) JP-A 6-20459 (JP, U) (58) Fields surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) C25D 17/20 H01G 4/12 364 H01G 13/00 391

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 バレルめっき装置のバレル内に、電子部
品及びバレルと電子部品の間の電気的導通を補助するた
めのメディアを入れ、前記バレルをめっき液に浸漬さ
せ、回転させつつ通電し、電子部品の表面にめっきによ
り電極膜を形成する工程を有する電子部品の製造方法に
おいて、 前記バレルめっき装置として、 一対の端面材により両端が閉じられた筒状のバレル本体
と、 前記端面材の中心から内側に延ばされた導入部、該導入
部の先端においてバレル側面側に延びるように折り曲げ
られた折曲部、及び折曲部の先端から他方端面材側に延
ばされた先端部を有し、バレル本体と共には回転しない
ように配置された陰極線と、 前記端面材の内側において、端面材の中心近傍から陰極
線の折曲部先端側に延びるようにバレル本体及び/また
は端面材に固定されており、かつ錐状の形状を有する
流体とを備えるものを用いることを特徴とする、電子部
品の製造方法。
An electronic component and a medium for assisting electrical conduction between the barrel and the electronic component are placed in a barrel of a barrel plating apparatus, the barrel is immersed in a plating solution, and energized while rotating. In a method of manufacturing an electronic component having a step of forming an electrode film on a surface of the electronic component by plating, as the barrel plating apparatus, a cylindrical barrel main body having both ends closed by a pair of end face materials; A leading end extending from the leading end of the leading end toward the other end face material side, and a leading end extending from the leading end of the leading end toward the side surface of the barrel. And a cathode wire disposed so as not to rotate with the barrel body; and a barrel body and / or so as to extend from the vicinity of the center of the end face material to the tip of the bent portion of the cathode wire inside the end face material. It is fixed to an end face member, and is characterized by using those having a rectifying body having the shape of Kirijo method of manufacturing an electronic component.
【請求項2】 内部でめっき液に電子部品を浸漬させて
めっきするためのバレルめっき装置であって、 一対の端面材により両端が閉塞された筒状のバレル本体
と、 前記端面材の中心から内側に延ばされた導入部、該導入
部の先端においてバレルの側面側に延びるように折り曲
げられた折曲部及び折曲部の先端から他方端面材側に延
ばされた先端部を有し、バレル本体と共には回転しない
ように配置された陰極線と、 前記バレルの端面材の内側において、端面材の中心近傍
から前記陰極線の折曲部先端側に向かって延びるように
設けられており、かつ錐状の形状を有する整流体とを備
えることを特徴とする、バレルめっき装置。
2. A barrel plating apparatus for immersing and plating an electronic component in a plating solution therein, comprising: a cylindrical barrel main body having both ends closed by a pair of end face members; An introduction portion extended inward, a bent portion bent at the tip of the introduction portion so as to extend to the side surface of the barrel, and a tip portion extended from the tip of the bent portion to the other end material side. A cathode wire disposed so as not to rotate together with the barrel body, and provided inside the end face material of the barrel so as to extend from near the center of the end face material toward the bent wire tip side of the cathode wire , and A barrel plating apparatus, comprising: a rectifier having a conical shape .
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