JP3246708B2 - トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構 - Google Patents
トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構Info
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 94
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 73
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 38
- 238000005485 electric heating Methods 0.000 claims description 28
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 claims description 23
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 18
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 13
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 23
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 22
- 239000010408 film Substances 0.000 description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 12
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 10
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 9
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 6
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 6
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- -1 dimethyl hydride Chemical class 0.000 description 2
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N dimethylalumane Chemical compound C[AlH]C TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005339 levitation Methods 0.000 description 1
- 239000010687 lubricating oil Substances 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/4412—Details relating to the exhausts, e.g. pumps, filters, scrubbers, particle traps
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- H01L21/205—
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01D—SEPARATION
- B01D53/00—Separation of gases or vapours; Recovering vapours of volatile solvents from gases; Chemical or biological purification of waste gases, e.g. engine exhaust gases, smoke, fumes, flue gases, aerosols
- B01D53/34—Chemical or biological purification of waste gases
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01D—SEPARATION
- B01D53/00—Separation of gases or vapours; Recovering vapours of volatile solvents from gases; Chemical or biological purification of waste gases, e.g. engine exhaust gases, smoke, fumes, flue gases, aerosols
- B01D53/34—Chemical or biological purification of waste gases
- B01D53/46—Removing components of defined structure
- B01D53/72—Organic compounds not provided for in groups B01D53/48 - B01D53/70, e.g. hydrocarbons
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02C—CAPTURE, STORAGE, SEQUESTRATION OR DISPOSAL OF GREENHOUSE GASES [GHG]
- Y02C20/00—Capture or disposal of greenhouse gases
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、メタルCVD処理装置
等から排出される未反応ガスを分解除去するトラップ装
置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構に関する。
等から排出される未反応ガスを分解除去するトラップ装
置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体集積回路等を形成するた
めには、基板に対して成膜とパターンエッチングとを繰
り返し施すことにより所望の回路素子を配列形成する
が、成膜処理やエッチング処理の時に使用される各種の
処理ガスは比較的有害なものが多いことから処理容器か
らの排気ガスは、除外装置を通して排気ガス中に含まれ
る未反応処理ガスをトラップした後に大気へ放出するよ
うになっている。
めには、基板に対して成膜とパターンエッチングとを繰
り返し施すことにより所望の回路素子を配列形成する
が、成膜処理やエッチング処理の時に使用される各種の
処理ガスは比較的有害なものが多いことから処理容器か
らの排気ガスは、除外装置を通して排気ガス中に含まれ
る未反応処理ガスをトラップした後に大気へ放出するよ
うになっている。
【0003】例えば処理装置として基板上にアルミニウ
ム膜やタングステン膜等の金属膜を形成するメタルCV
D(Chemical Vapor Depositi
on)装置を例にとって説明すると、処理ガスとしては
成膜すべき金属材料を含んだ有機材料を用い、排気系に
は、未反応処理ガスを除去する除外装置を介設し、この
下流側に真空ポンプを設けて処理容器内を所定の圧力に
真空引きしている。ところで、真空ポンプとしては、大
気圧からある程度の真空度例えば数Torr程度まで排
気する時に用いる粗引き用ポンプとある程度の真空度に
達した時に駆動して更に高い真空度まで真空引きする精
密引き用ポンプがあり、一般的にはこれら2種類のポン
プを選択的に使用することにより、高い真空度を得、且
つ所望の圧力状態を維持するようになっている。
ム膜やタングステン膜等の金属膜を形成するメタルCV
D(Chemical Vapor Depositi
on)装置を例にとって説明すると、処理ガスとしては
成膜すべき金属材料を含んだ有機材料を用い、排気系に
は、未反応処理ガスを除去する除外装置を介設し、この
下流側に真空ポンプを設けて処理容器内を所定の圧力に
真空引きしている。ところで、真空ポンプとしては、大
気圧からある程度の真空度例えば数Torr程度まで排
気する時に用いる粗引き用ポンプとある程度の真空度に
達した時に駆動して更に高い真空度まで真空引きする精
密引き用ポンプがあり、一般的にはこれら2種類のポン
プを選択的に使用することにより、高い真空度を得、且
つ所望の圧力状態を維持するようになっている。
【0004】従来、粗引き用ポンプとしては、潤滑油等
の油分を用いたロータリーポンプを用いたメカニカルポ
ンプが主として用いられてきたが、ここで発生した油分
子が僅かではあるが排気系を逆流して処理容器内へ入り
込み、半導体素子の歩留まりを低下させる等の悪影響を
与える場合が生ずることが判明した。そこで、最近にあ
っては、この油分による悪影響をなくすために油を用い
ていない、いわゆるドライポンプを用いる傾向にある。
の油分を用いたロータリーポンプを用いたメカニカルポ
ンプが主として用いられてきたが、ここで発生した油分
子が僅かではあるが排気系を逆流して処理容器内へ入り
込み、半導体素子の歩留まりを低下させる等の悪影響を
与える場合が生ずることが判明した。そこで、最近にあ
っては、この油分による悪影響をなくすために油を用い
ていない、いわゆるドライポンプを用いる傾向にある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、排気ガス中
に含まれる未反応処理ガスを除去する除外装置として
は、一般的には未反応物を冷却固化させて除去すること
が行なわれるが、処理ガスの種類によっては、ガスの冷
却では除去できず、逆に加熱による熱分解により除去す
ることができる物質もある。例えばアルミニウムの成膜
時に処理ガスとして使用されるジメチルアルミハイドラ
イド(DMAH:(CH3)2AlH)等は、冷却しても
除去できず、逆に150〜500℃程度に加熱すると完
全に分解してアルミニウムと水素、メタン、或いはエタ
ンになる。
に含まれる未反応処理ガスを除去する除外装置として
は、一般的には未反応物を冷却固化させて除去すること
が行なわれるが、処理ガスの種類によっては、ガスの冷
却では除去できず、逆に加熱による熱分解により除去す
ることができる物質もある。例えばアルミニウムの成膜
時に処理ガスとして使用されるジメチルアルミハイドラ
イド(DMAH:(CH3)2AlH)等は、冷却しても
除去できず、逆に150〜500℃程度に加熱すると完
全に分解してアルミニウムと水素、メタン、或いはエタ
ンになる。
【0006】この場合、機械的接触部のある、例えばメ
カニカルポンプは、例えば冷却等がなされているといえ
ども局部的にはかなりの温度に達してしまい、この部分
に接触した未反応処理ガスが熱分解してアルミニウムを
析出して付着し、最悪の場合には、ポンプの破損に至っ
てしまう恐れがあった。特に、ポンプの機械的接触部分
が150度程度にまで達しなくても、上記したDMAH
は80℃程度で微妙に分解が始まることから、未反応D
MAHを確実に除去できて、且つポンプにも悪影響を与
えないような十分な対策が望まれている。
カニカルポンプは、例えば冷却等がなされているといえ
ども局部的にはかなりの温度に達してしまい、この部分
に接触した未反応処理ガスが熱分解してアルミニウムを
析出して付着し、最悪の場合には、ポンプの破損に至っ
てしまう恐れがあった。特に、ポンプの機械的接触部分
が150度程度にまで達しなくても、上記したDMAH
は80℃程度で微妙に分解が始まることから、未反応D
MAHを確実に除去できて、且つポンプにも悪影響を与
えないような十分な対策が望まれている。
【0007】本発明は、以上のような問題点に着目し、
これを有効に解決すべく創案されたものである。本発明
の目的は、熱により分解される未反応処理ガスを確実に
除去でき、且つ真空ポンプにも悪影響を与えないトラッ
プ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構を提供
することにある。
これを有効に解決すべく創案されたものである。本発明
の目的は、熱により分解される未反応処理ガスを確実に
除去でき、且つ真空ポンプにも悪影響を与えないトラッ
プ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構を提供
することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために、排気通路に介設されて熱により分解さ
れる処理ガスをトラップするトラップ装置において、前
記排気通路の途中に介設されるべきトラップ用通路容器
と、このトラップ用通路容器内に収容されてこれに流れ
る前記処理ガスと接触して熱分解させる加熱トラップ手
段とを有し、前記加熱トラップ手段は、電熱コイルを、
前記トラップ用通路容器内を流れる前記処理ガスの流れ
と直交する横断面の略全体に亘って形成することにより
構成したものである。また、本発明は、上記問題点を解
決するために、処理ガスにより被処理体に対して所定の
処理を施すための処理装置に接続された排気通路と、こ
の排気通路に接続された真空引きポンプ手段と、前記真
空引きポンプ手段の上流側に介設された、請求項1乃至
7に規定されたトラップ装置とを備えるように構成した
ものである。
解決するために、排気通路に介設されて熱により分解さ
れる処理ガスをトラップするトラップ装置において、前
記排気通路の途中に介設されるべきトラップ用通路容器
と、このトラップ用通路容器内に収容されてこれに流れ
る前記処理ガスと接触して熱分解させる加熱トラップ手
段とを有し、前記加熱トラップ手段は、電熱コイルを、
前記トラップ用通路容器内を流れる前記処理ガスの流れ
と直交する横断面の略全体に亘って形成することにより
構成したものである。また、本発明は、上記問題点を解
決するために、処理ガスにより被処理体に対して所定の
処理を施すための処理装置に接続された排気通路と、こ
の排気通路に接続された真空引きポンプ手段と、前記真
空引きポンプ手段の上流側に介設された、請求項1乃至
7に規定されたトラップ装置とを備えるように構成した
ものである。
【0009】
【作用】本発明は、以上のように構成したので、排気通
路を流れてくる未反応の処理ガスは、トラップ用通路容
器内に収容される加熱とラップ手段と接触して熱分解さ
れ、析出した金属が加熱トラップ手段に付着してトラッ
プされることになる。この場合、トラップ手段は、例え
ば電熱コイルよりなり、これを流路断面積に略全体に亘
って配置形成しておくことにより、ガスとの接触面積が
大きくなって、トラップ効率を向上させることが可能と
なる。また、この加熱トラップ手段としては、電熱コイ
ルに替えて、加熱トラップ邪魔板を用いることもでき、
これをガスの流れ方向に沿って所定のピッチで配列させ
る。
路を流れてくる未反応の処理ガスは、トラップ用通路容
器内に収容される加熱とラップ手段と接触して熱分解さ
れ、析出した金属が加熱トラップ手段に付着してトラッ
プされることになる。この場合、トラップ手段は、例え
ば電熱コイルよりなり、これを流路断面積に略全体に亘
って配置形成しておくことにより、ガスとの接触面積が
大きくなって、トラップ効率を向上させることが可能と
なる。また、この加熱トラップ手段としては、電熱コイ
ルに替えて、加熱トラップ邪魔板を用いることもでき、
これをガスの流れ方向に沿って所定のピッチで配列させ
る。
【0010】更に、トラップ用通路容器の内壁が加熱す
ることを防止するために、不活性ガス等を用いた冷却手
段を設けることにより、火傷等を防止でき、安全性を確
保することができる。また、このようなトラップ装置
を、処理装置の排気通路に設けた真空引きポンプ手段の
上流側に配置することにより、ここで未反応処理ガスを
確実に除去することが可能となり、従って、下流側に位
置する真空引きポンプ手段に、分解により生じた金属が
付着堆積するなどの問題が発生することを未然に防止す
ることが可能となる。更に、この排気通路を複数に分岐
させた分岐排気通路を形成して、それぞれに上記したト
ラップ装置を設け、これらを選択的に使用することによ
り、処理装置の稼働を停止することなく、トラップ装置
のメンテナンスを行なうことが可能となる。
ることを防止するために、不活性ガス等を用いた冷却手
段を設けることにより、火傷等を防止でき、安全性を確
保することができる。また、このようなトラップ装置
を、処理装置の排気通路に設けた真空引きポンプ手段の
上流側に配置することにより、ここで未反応処理ガスを
確実に除去することが可能となり、従って、下流側に位
置する真空引きポンプ手段に、分解により生じた金属が
付着堆積するなどの問題が発生することを未然に防止す
ることが可能となる。更に、この排気通路を複数に分岐
させた分岐排気通路を形成して、それぞれに上記したト
ラップ装置を設け、これらを選択的に使用することによ
り、処理装置の稼働を停止することなく、トラップ装置
のメンテナンスを行なうことが可能となる。
【0011】
【実施例】以下に、本発明に係るトラップ装置及びそれ
を用いた未反応処理ガス排気機構の一実施例を添付図面
に基づいて詳述する。
を用いた未反応処理ガス排気機構の一実施例を添付図面
に基づいて詳述する。
【0012】図1は処理装置に接続される本発明の未反
応処理ガス排気機構を示す図、図2は図1に示す排気機
構に用いられる本発明のトラップ装置を示す部分断面
図、図3は図2に示すトラップ装置の側面図、図4は図
2に示すトラップ装置の分解組立図、図5は加熱トラッ
プ手段を示す平面図、図6は図5に示す加熱トラップ手
段の側面図、図7は図5に示す加熱トラップ手段の電熱
コイルの拡大縦断面図である。本実施例においては、未
反応処理ガス排気機構を接続する処理装置として例えば
金属薄膜を半導体ウエハ上に形成するメタルCVD装置
を用いた場合を例にとって説明する。
応処理ガス排気機構を示す図、図2は図1に示す排気機
構に用いられる本発明のトラップ装置を示す部分断面
図、図3は図2に示すトラップ装置の側面図、図4は図
2に示すトラップ装置の分解組立図、図5は加熱トラッ
プ手段を示す平面図、図6は図5に示す加熱トラップ手
段の側面図、図7は図5に示す加熱トラップ手段の電熱
コイルの拡大縦断面図である。本実施例においては、未
反応処理ガス排気機構を接続する処理装置として例えば
金属薄膜を半導体ウエハ上に形成するメタルCVD装置
を用いた場合を例にとって説明する。
【0013】図示するようにこのメタルCVD装置2
は、処理容器4内に被処理体として半導体ウエハWを載
置する例えばグラファイト製の載置台6を有し、この下
方に容器内を気密に密閉する石英ガラス製の透過窓8を
介して、複数の加熱ランプ10を回転可能に配置してい
る。処理容器4内には載置台6と対向させて処理ガスを
供給するシャワーヘッド12を配置しており、これより
処理ガスを供給し得るようになっている。処理ガスとし
ては、例えばウエハ表面にアルミニウム金属膜を形成す
る場合には、150〜200℃程度の熱によって分解す
るDMAHを用いる。
は、処理容器4内に被処理体として半導体ウエハWを載
置する例えばグラファイト製の載置台6を有し、この下
方に容器内を気密に密閉する石英ガラス製の透過窓8を
介して、複数の加熱ランプ10を回転可能に配置してい
る。処理容器4内には載置台6と対向させて処理ガスを
供給するシャワーヘッド12を配置しており、これより
処理ガスを供給し得るようになっている。処理ガスとし
ては、例えばウエハ表面にアルミニウム金属膜を形成す
る場合には、150〜200℃程度の熱によって分解す
るDMAHを用いる。
【0014】この処理容器4には、容器内雰囲気を排出
する排気口14が設けられ、この排気口14に第1の発
明である未反応処理ガス排気機構16が接続されてい
る。具体的には、排気機構16は、例えばアルミニウム
やステンレススチールよりなる直径40〜100mm程
度の排気通路18と、この排気通路18の途中に介設さ
れた真空引きポンプ手段としての2台の真空引きポンプ
20A、20Bと、排気通路18を2つに並列に分岐さ
せることにより形成した分岐排気路22、22のそれぞ
れに介設した第2の発明のトラップ装置24とにより主
に構成されている。
する排気口14が設けられ、この排気口14に第1の発
明である未反応処理ガス排気機構16が接続されてい
る。具体的には、排気機構16は、例えばアルミニウム
やステンレススチールよりなる直径40〜100mm程
度の排気通路18と、この排気通路18の途中に介設さ
れた真空引きポンプ手段としての2台の真空引きポンプ
20A、20Bと、排気通路18を2つに並列に分岐さ
せることにより形成した分岐排気路22、22のそれぞ
れに介設した第2の発明のトラップ装置24とにより主
に構成されている。
【0015】具体的には、排気通路18の上流側より下
流側に向けて、開閉のみを行なうゲートバルブ25、開
口率の調整を行なうことができるコンダクタンスバルブ
26、精密引き用のポンプであって例えば磁気浮上方式
等を採用して機械的接触部分のないターボ分子ポンプ等
よりなる第1の真空引きポンプ20A、トラップ装置2
4、ゲートバルブ27及び粗引き用の油分を用いていな
いドライポンプ等よりなる第2の真空引きポンプ20B
を順次介設している。また、両トラップ装置24の上流
側及び下流側の分岐排気路22には、排気系に対してこ
の装置24の個別的な接合・離脱を可能とするためにそ
れぞれ上流側開閉弁28、28及び下流側開閉弁30、
30が介設されている。尚、第1の真空引きポンプ20
Aとして、ボールベアリング等の機械的接触部分のある
ターボ分子ポンプを用いた場合には、アルミニウムの析
出により機械的破損を生ずる恐れがあるので、このポン
プ装置をトラップ装置の下流側に設ける。
流側に向けて、開閉のみを行なうゲートバルブ25、開
口率の調整を行なうことができるコンダクタンスバルブ
26、精密引き用のポンプであって例えば磁気浮上方式
等を採用して機械的接触部分のないターボ分子ポンプ等
よりなる第1の真空引きポンプ20A、トラップ装置2
4、ゲートバルブ27及び粗引き用の油分を用いていな
いドライポンプ等よりなる第2の真空引きポンプ20B
を順次介設している。また、両トラップ装置24の上流
側及び下流側の分岐排気路22には、排気系に対してこ
の装置24の個別的な接合・離脱を可能とするためにそ
れぞれ上流側開閉弁28、28及び下流側開閉弁30、
30が介設されている。尚、第1の真空引きポンプ20
Aとして、ボールベアリング等の機械的接触部分のある
ターボ分子ポンプを用いた場合には、アルミニウムの析
出により機械的破損を生ずる恐れがあるので、このポン
プ装置をトラップ装置の下流側に設ける。
【0016】次に、分岐排気路22に介設されるトラッ
プ装置24について説明する。2つのトラップ装置24
は、全く同様に形成されており、これを取り付ける分岐
排気路22は、例えば内径が40〜100mm程度のス
テンレススチール或いはアルミニウム製パイプよりな
り、トラップ装置24は、このパイプと略同じ径のステ
ンレススチール或いはアルミニウム製の筒体状のトラッ
プ用通路容器32を有している。図1においては、トラ
ップ装置24の取り付け位置を明確にするために箱状に
記載している。図2乃至図4に示すようにトラップ用通
路容器32内には、例えばセラミック等の断熱材よりな
る断熱筒34が収容されて二重管構造になされている。
この断熱筒34の外径は、トラップ用通路容器32の内
径よりも僅かに例えば4mm程度小さく成形されてお
り、この断熱管34の外壁面と通路容器32の内壁面と
の間に幅約2mm程度のリング状間隙を設け、ここに後
述するように冷媒を流すための冷媒通路36を形成して
いる。
プ装置24について説明する。2つのトラップ装置24
は、全く同様に形成されており、これを取り付ける分岐
排気路22は、例えば内径が40〜100mm程度のス
テンレススチール或いはアルミニウム製パイプよりな
り、トラップ装置24は、このパイプと略同じ径のステ
ンレススチール或いはアルミニウム製の筒体状のトラッ
プ用通路容器32を有している。図1においては、トラ
ップ装置24の取り付け位置を明確にするために箱状に
記載している。図2乃至図4に示すようにトラップ用通
路容器32内には、例えばセラミック等の断熱材よりな
る断熱筒34が収容されて二重管構造になされている。
この断熱筒34の外径は、トラップ用通路容器32の内
径よりも僅かに例えば4mm程度小さく成形されてお
り、この断熱管34の外壁面と通路容器32の内壁面と
の間に幅約2mm程度のリング状間隙を設け、ここに後
述するように冷媒を流すための冷媒通路36を形成して
いる。
【0017】このトラップ用通路容器32の上流側端部
には、例えばステンレススチール等よりなるリング状の
上流側取付リング38がその端部を突出させて嵌め込ま
れており、この端部外周にOリング等のシール部材40
を介在させて容器の上流側端部と分岐排気路22の上流
側取付部22Aとの間を図示しないボルト等により気密
に着脱可能に取り付けている。そして、上流側取付リン
グ38には、通路容器32の端部に略内接するリング状
の断熱筒支持部42が設けられ、この支持部42に上記
断熱筒34の端部に形成した上流側保持段部44を嵌装
させてこれを保持している。従って、冷媒通路36の上
流端側は、上流取付リング38やシール部材40等によ
り確実にシールされており、この中に排気ガスが流入し
ないようになっている。
には、例えばステンレススチール等よりなるリング状の
上流側取付リング38がその端部を突出させて嵌め込ま
れており、この端部外周にOリング等のシール部材40
を介在させて容器の上流側端部と分岐排気路22の上流
側取付部22Aとの間を図示しないボルト等により気密
に着脱可能に取り付けている。そして、上流側取付リン
グ38には、通路容器32の端部に略内接するリング状
の断熱筒支持部42が設けられ、この支持部42に上記
断熱筒34の端部に形成した上流側保持段部44を嵌装
させてこれを保持している。従って、冷媒通路36の上
流端側は、上流取付リング38やシール部材40等によ
り確実にシールされており、この中に排気ガスが流入し
ないようになっている。
【0018】一方、トラップ用通路容器32の下流側端
部には、同じくステンレススチール等よりなるリング状
の下流側取付リング46がその端部を突出させて嵌め込
まれており、この端部外周にOリング等のシール部材4
8を介在させて、容器の下流端側端部と分岐排気通路2
2の下流側取付部22Bとの間を図示しないボルト等に
より気密に着脱可能に取り付けている。図8に下流側取
付リング46の斜視図が示されている。この下流側取付
リング46は、断熱筒34と略同じ外径になされて容器
内に挿入されるリング本体50を有し、この先端部に段
部状の断熱筒支持部52を形成している。そして、この
支持部52に上記断熱筒34の他端側に形成した下流側
保持段部54を嵌装させて、断熱筒34の他端側を支持
している。尚、この場合、これらの嵌装部に、図4に示
すようにOリング等のシール部材55を介在させること
により、断熱筒34の内外のシール性を確保できると同
時に両者の寸法誤差も吸収することができる。
部には、同じくステンレススチール等よりなるリング状
の下流側取付リング46がその端部を突出させて嵌め込
まれており、この端部外周にOリング等のシール部材4
8を介在させて、容器の下流端側端部と分岐排気通路2
2の下流側取付部22Bとの間を図示しないボルト等に
より気密に着脱可能に取り付けている。図8に下流側取
付リング46の斜視図が示されている。この下流側取付
リング46は、断熱筒34と略同じ外径になされて容器
内に挿入されるリング本体50を有し、この先端部に段
部状の断熱筒支持部52を形成している。そして、この
支持部52に上記断熱筒34の他端側に形成した下流側
保持段部54を嵌装させて、断熱筒34の他端側を支持
している。尚、この場合、これらの嵌装部に、図4に示
すようにOリング等のシール部材55を介在させること
により、断熱筒34の内外のシール性を確保できると同
時に両者の寸法誤差も吸収することができる。
【0019】この下流側取付リング46のリング本体5
0には、実質的に未反応ガスが流れる断熱筒34の内側
とこの外側に形成される間隙である冷媒通路36とを連
通するための複数、図示例では2個の連通孔56が形成
されている。そして、トラップ用通路容器32のガス上
流側側壁には、上記冷媒通路36内に、例えば冷却され
た窒素ガス等の不活性ガスよりなる冷媒58を導入する
ための冷媒導入口60が形成されており、この冷媒58
によりトラップ用通路容器32の壁面及び断熱筒34の
壁面を冷却するようになっており、導入された冷媒ガス
は最終的にリング本体50に設けた連通孔56を介して
排気ガス中へ導入させるようになっている。このように
冷媒通路32と冷媒導入口60とで冷却手段62を構成
している。
0には、実質的に未反応ガスが流れる断熱筒34の内側
とこの外側に形成される間隙である冷媒通路36とを連
通するための複数、図示例では2個の連通孔56が形成
されている。そして、トラップ用通路容器32のガス上
流側側壁には、上記冷媒通路36内に、例えば冷却され
た窒素ガス等の不活性ガスよりなる冷媒58を導入する
ための冷媒導入口60が形成されており、この冷媒58
によりトラップ用通路容器32の壁面及び断熱筒34の
壁面を冷却するようになっており、導入された冷媒ガス
は最終的にリング本体50に設けた連通孔56を介して
排気ガス中へ導入させるようになっている。このように
冷媒通路32と冷媒導入口60とで冷却手段62を構成
している。
【0020】一方、断熱筒34内には、排気ガス中の未
反応処理ガスを実際的にトラップするための加熱トラッ
プ手段64が設けられる。この加熱トラップ手段64
は、通電により発熱する電熱コイル72よりなり、例え
ば図7に示すように中心に電熱線66を有し、その周囲
を例えば酸化マグネシウム等の絶縁材68で覆い、更に
その外周を例えば薄いステンレススチール膜よりなる被
覆膜70で覆って形成した電熱コイル、例えばシースヒ
ータ(商品名)を用いることができる。この電熱コイル
72をリング状に巻回した後に扁平状態となるように押
しつぶし、更に、この状態で各扁平リングを適宜角度ず
つ順次その周方向へねじることによって全体として螺旋
状に形成し、図5及び図6に示すような加熱トラップ手
段64を形成することができる。
反応処理ガスを実際的にトラップするための加熱トラッ
プ手段64が設けられる。この加熱トラップ手段64
は、通電により発熱する電熱コイル72よりなり、例え
ば図7に示すように中心に電熱線66を有し、その周囲
を例えば酸化マグネシウム等の絶縁材68で覆い、更に
その外周を例えば薄いステンレススチール膜よりなる被
覆膜70で覆って形成した電熱コイル、例えばシースヒ
ータ(商品名)を用いることができる。この電熱コイル
72をリング状に巻回した後に扁平状態となるように押
しつぶし、更に、この状態で各扁平リングを適宜角度ず
つ順次その周方向へねじることによって全体として螺旋
状に形成し、図5及び図6に示すような加熱トラップ手
段64を形成することができる。
【0021】図5においては、全体として6個の螺旋が
形成された状態を示す。この場合、加熱トラップ手段6
4の直径L1は、断熱筒34の内径と略同じになるよう
に設定し、図3に示すようにトラップ手段64が流路面
積の略全体に亘って形成されるようにし、未反応処理ガ
スとの接触面積を高めてトラップ効率を高めるように形
成する。この場合、電熱コイル72をねじることにより
形成された加熱トラップ64の中心には直線状の通路が
形成されてしまうので、この部分にガスの流れ方向に沿
って閉塞棒74を挿通しておき、ガスの流れ方向に対し
ては光学的ブラインド状態を確保する。
形成された状態を示す。この場合、加熱トラップ手段6
4の直径L1は、断熱筒34の内径と略同じになるよう
に設定し、図3に示すようにトラップ手段64が流路面
積の略全体に亘って形成されるようにし、未反応処理ガ
スとの接触面積を高めてトラップ効率を高めるように形
成する。この場合、電熱コイル72をねじることにより
形成された加熱トラップ64の中心には直線状の通路が
形成されてしまうので、この部分にガスの流れ方向に沿
って閉塞棒74を挿通しておき、ガスの流れ方向に対し
ては光学的ブラインド状態を確保する。
【0022】そして、このトラップ手段64からの引き
出し線76は、リング本体50に設けた連通孔56及び
トラップ用通路容器32のガス下流側に設けた電力供給
ポート78から外側に引き出し、これを電源に接続して
いる。尚、この電力供給ポート78は気密状態で引き出
し線76を容器外へ延ばしているのは勿論である。
出し線76は、リング本体50に設けた連通孔56及び
トラップ用通路容器32のガス下流側に設けた電力供給
ポート78から外側に引き出し、これを電源に接続して
いる。尚、この電力供給ポート78は気密状態で引き出
し線76を容器外へ延ばしているのは勿論である。
【0023】次に、以上のように構成された本実施例の
動作につて説明する。まず、メタルCVD処理装置2に
て例えばアルミニウムの金属成膜を行なう場合には、載
置台6上に載置したウエハWを加熱ランプ10からの熱
により所定のプロセス温度に加熱し、処理容器4内に処
理ガスとしてDMAHガスを導入すると同時に、排気機
構16の真空引きポンプ20A,20Bを駆動して容器
内を真空引きしてプロセス圧力を維持する。成膜処理を
行なっている間、容器4は真空引きされて所定のプロセ
ス圧力に維持されるが、この真空引きに際して、排気通
路18には、未反応処理ガスも流れてゆくことになる。
動作につて説明する。まず、メタルCVD処理装置2に
て例えばアルミニウムの金属成膜を行なう場合には、載
置台6上に載置したウエハWを加熱ランプ10からの熱
により所定のプロセス温度に加熱し、処理容器4内に処
理ガスとしてDMAHガスを導入すると同時に、排気機
構16の真空引きポンプ20A,20Bを駆動して容器
内を真空引きしてプロセス圧力を維持する。成膜処理を
行なっている間、容器4は真空引きされて所定のプロセ
ス圧力に維持されるが、この真空引きに際して、排気通
路18には、未反応処理ガスも流れてゆくことになる。
【0024】この未反応処理ガスは、コンダクタンスバ
ルブ26や機械的接触部のない真空引きポンプ20Aを
通過した後に、いづれか一方或いは両方のトラップ装置
24に流れ込み、ここで未反応処理ガスは熱分解されて
除去されることになる。すなわち、排気ガスが実質的に
流れる断熱筒34内には電熱コイルよりなる加熱トラッ
プ手段64が流路断面に略全体に亘るように設けられて
おり、しかも略処理ガスが熱分解し得る温度例えば20
0℃程度に加熱されているので、ここを通過する未反応
処理ガスはトラップ手段64に接触し、熱分解してアル
ミニウムと水素やメタン等に分解されてしまうことにな
る。
ルブ26や機械的接触部のない真空引きポンプ20Aを
通過した後に、いづれか一方或いは両方のトラップ装置
24に流れ込み、ここで未反応処理ガスは熱分解されて
除去されることになる。すなわち、排気ガスが実質的に
流れる断熱筒34内には電熱コイルよりなる加熱トラッ
プ手段64が流路断面に略全体に亘るように設けられて
おり、しかも略処理ガスが熱分解し得る温度例えば20
0℃程度に加熱されているので、ここを通過する未反応
処理ガスはトラップ手段64に接触し、熱分解してアル
ミニウムと水素やメタン等に分解されてしまうことにな
る。
【0025】ここで、熱分解により発生した水素やメタ
ン等のガスはそのまま後流側に流れて排出されてしま
い、析出したアルミニウムは主に電熱コイル72の表面
に付着して除去されていまい、これが後流側に流れて、
後流側に設けてある真空引きポンプ20B内に付着する
ことはない。この時のトラップ手段64の加熱温度は、
上述のように未反応処理ガスの熱分解温度に依存して設
定し、また、トラップ手段64の長さは、ガス流出コン
ダクタンスが大幅に低下しない範囲でトラップ効率を考
慮して設定すればよい。この場合、上述のようにトラッ
プ手段64は、ガス流に直交する横断面、すなわち流路
面積の略全体に亘って設けてあり、しかもその中心部に
は閉塞棒74を挿通させてガス流れ方向に対して光学的
ブラインド状態を確保していることから、未反応処理ガ
スと電熱コイル72との接触効率は非常に高くなり、従
って、トラップ効率とを高く維持することが可能とな
る。
ン等のガスはそのまま後流側に流れて排出されてしま
い、析出したアルミニウムは主に電熱コイル72の表面
に付着して除去されていまい、これが後流側に流れて、
後流側に設けてある真空引きポンプ20B内に付着する
ことはない。この時のトラップ手段64の加熱温度は、
上述のように未反応処理ガスの熱分解温度に依存して設
定し、また、トラップ手段64の長さは、ガス流出コン
ダクタンスが大幅に低下しない範囲でトラップ効率を考
慮して設定すればよい。この場合、上述のようにトラッ
プ手段64は、ガス流に直交する横断面、すなわち流路
面積の略全体に亘って設けてあり、しかもその中心部に
は閉塞棒74を挿通させてガス流れ方向に対して光学的
ブラインド状態を確保していることから、未反応処理ガ
スと電熱コイル72との接触効率は非常に高くなり、従
って、トラップ効率とを高く維持することが可能とな
る。
【0026】また、電熱コイル72の外周は、断熱筒3
4の内壁面と略接して保持され、且つコイル自体は非常
に軽いものであることからこれが内部で移動することは
ほとんどないが、アルミニウムの析出が進行すると、図
9に示すように断熱筒34の内壁と電熱コイル72の接
触部に析出アルミニウム78が付着して両者の接合を強
固なものとし、コイル自体が移動することを防止するこ
とができる。この場合、排気ガスの熱により電熱コイル
72自体が膨張して断熱筒34の内壁面に対して突張る
ことからこの点よりもコイル72の移動を阻止すること
ができる。
4の内壁面と略接して保持され、且つコイル自体は非常
に軽いものであることからこれが内部で移動することは
ほとんどないが、アルミニウムの析出が進行すると、図
9に示すように断熱筒34の内壁と電熱コイル72の接
触部に析出アルミニウム78が付着して両者の接合を強
固なものとし、コイル自体が移動することを防止するこ
とができる。この場合、排気ガスの熱により電熱コイル
72自体が膨張して断熱筒34の内壁面に対して突張る
ことからこの点よりもコイル72の移動を阻止すること
ができる。
【0027】また、断熱筒34により電熱コイル72の
熱がトラップ用通路容器32に伝わることを阻止するよ
うになっているが、処理の進行に従って、この通路容器
32の壁面が次第に加熱される傾向となる。しかしなが
ら、本実施例においては、この部分に冷却手段62を設
けてあることから、通路容器32の壁面が過度に加熱さ
れることはない。すなわち、冷媒導入口60から冷却さ
れた、或いは常温の冷媒ガス58として窒素ガスが冷媒
導入口60を介して、断熱筒34とトラップ用通路容器
32との間に形成される冷媒通路36内に導入されてお
り、断熱筒34及び通路容器32の壁面を例えば50℃
以下になるように冷却している。この場合、冷媒通路3
6には窒素ガスが導入されるといえどもかなりの真空度
に保たれていることから通路が真空断熱層としての機能
も有すことになる。従って、オペレータがトラップ用通
路容器32に接触しても火傷等を負う恐れもない。尚、
図示例においては冷媒導入口60は、1ヵ所しか設けて
いないが、これを容器周方向に沿った適当箇所に複数個
設けるようにすれば、断熱筒34を効率的に冷却するこ
とが可能となる。
熱がトラップ用通路容器32に伝わることを阻止するよ
うになっているが、処理の進行に従って、この通路容器
32の壁面が次第に加熱される傾向となる。しかしなが
ら、本実施例においては、この部分に冷却手段62を設
けてあることから、通路容器32の壁面が過度に加熱さ
れることはない。すなわち、冷媒導入口60から冷却さ
れた、或いは常温の冷媒ガス58として窒素ガスが冷媒
導入口60を介して、断熱筒34とトラップ用通路容器
32との間に形成される冷媒通路36内に導入されてお
り、断熱筒34及び通路容器32の壁面を例えば50℃
以下になるように冷却している。この場合、冷媒通路3
6には窒素ガスが導入されるといえどもかなりの真空度
に保たれていることから通路が真空断熱層としての機能
も有すことになる。従って、オペレータがトラップ用通
路容器32に接触しても火傷等を負う恐れもない。尚、
図示例においては冷媒導入口60は、1ヵ所しか設けて
いないが、これを容器周方向に沿った適当箇所に複数個
設けるようにすれば、断熱筒34を効率的に冷却するこ
とが可能となる。
【0028】また、冷媒通路36内へ導入された窒素ガ
スは、この通路36の上流端側は上流側取付リング38
等によりシールされているのでここから未反応処理ガス
流中に窒素ガスが流出することはなく、従って、未反応
処理ガスがここで希釈化されて加熱トラップ手段64と
の接触効率が劣化することはないのに対し、冷媒通路3
6を流れた窒素ガスはリング本体50に設けた連通孔5
6から、トラップ完了後の排気ガス中に流れ込むことに
なる。このため、DMAHの熱分解により発生した可燃
性の水素やメタン等を含む排気ガスが窒素ガスにより希
釈され、爆発等が発生することを未然に防止することが
可能となる。
スは、この通路36の上流端側は上流側取付リング38
等によりシールされているのでここから未反応処理ガス
流中に窒素ガスが流出することはなく、従って、未反応
処理ガスがここで希釈化されて加熱トラップ手段64と
の接触効率が劣化することはないのに対し、冷媒通路3
6を流れた窒素ガスはリング本体50に設けた連通孔5
6から、トラップ完了後の排気ガス中に流れ込むことに
なる。このため、DMAHの熱分解により発生した可燃
性の水素やメタン等を含む排気ガスが窒素ガスにより希
釈され、爆発等が発生することを未然に防止することが
可能となる。
【0029】このように、DMAHはトラップ装置によ
り熱分解されてこの時、析出するアルミニウムを付着除
去することができるので、この後流側に位置する機械的
接触部を有するドライポンプ等よりなる真空引きポンプ
20Bにアルミニウムが付着堆積することがない。ま
た、アルミニウムの付着体積が進行したならば、トラッ
プ装置を分岐排気路22から取り外し、アルミニウムの
付着した電熱コイル72を断熱筒34から抜き出し、或
いはコイル72と断熱筒34が析出アルミニウムに強固
に結合している時には、断熱筒34を抜き出して、アル
ミニウム溶解液、例えばリン酸溶液中に浸漬することに
よって析出付着していたアルミニウムを溶解させればよ
い。
り熱分解されてこの時、析出するアルミニウムを付着除
去することができるので、この後流側に位置する機械的
接触部を有するドライポンプ等よりなる真空引きポンプ
20Bにアルミニウムが付着堆積することがない。ま
た、アルミニウムの付着体積が進行したならば、トラッ
プ装置を分岐排気路22から取り外し、アルミニウムの
付着した電熱コイル72を断熱筒34から抜き出し、或
いはコイル72と断熱筒34が析出アルミニウムに強固
に結合している時には、断熱筒34を抜き出して、アル
ミニウム溶解液、例えばリン酸溶液中に浸漬することに
よって析出付着していたアルミニウムを溶解させればよ
い。
【0030】この場合、図1に示すようにトラップ装置
24は、排気通路18に対して並列的に2個設けられて
いることから分岐排気路22の上流側と下流側に介設し
た開閉弁28、30を切り替えることにより選択的に上
述したようなメンテナンス作業を行なえばよく、メンテ
ナンス時にCVD装置を停止する必要もない。上記実施
例では、冷却手段62として、冷媒通路36に窒素ガス
を流し、その後、これを排気ガス中に混入させるように
したが、これに限定されず、例えば図10に示すように
この冷媒通路36の両端にシール部材80を設けて、排
気ガス流路に対して密閉状態とし、この下流側に冷媒排
出口82を設けて、冷媒として冷却ガスや冷却水を流す
ようにしてもよいし、また、この冷媒通路36を完全に
密閉して真空状態とし、真空断熱層として機能させるよ
うにしてもよい。
24は、排気通路18に対して並列的に2個設けられて
いることから分岐排気路22の上流側と下流側に介設し
た開閉弁28、30を切り替えることにより選択的に上
述したようなメンテナンス作業を行なえばよく、メンテ
ナンス時にCVD装置を停止する必要もない。上記実施
例では、冷却手段62として、冷媒通路36に窒素ガス
を流し、その後、これを排気ガス中に混入させるように
したが、これに限定されず、例えば図10に示すように
この冷媒通路36の両端にシール部材80を設けて、排
気ガス流路に対して密閉状態とし、この下流側に冷媒排
出口82を設けて、冷媒として冷却ガスや冷却水を流す
ようにしてもよいし、また、この冷媒通路36を完全に
密閉して真空状態とし、真空断熱層として機能させるよ
うにしてもよい。
【0031】更には、上記実施例では、加熱トラップ手
段64として電熱コイル72を巻回して屈曲変形させた
ものを用いたが、熱を発して未反応処理ガスと接触して
これを分解できるような構成ならばどのようなものでも
良く、例えば、図11乃至図13に示すように加熱トラ
ップ邪魔板84をガス流れ方向に沿って所定のピッチで
複数枚設けるようにしてもよい。
段64として電熱コイル72を巻回して屈曲変形させた
ものを用いたが、熱を発して未反応処理ガスと接触して
これを分解できるような構成ならばどのようなものでも
良く、例えば、図11乃至図13に示すように加熱トラ
ップ邪魔板84をガス流れ方向に沿って所定のピッチで
複数枚設けるようにしてもよい。
【0032】すなわち、このトラップ邪魔板84は、例
えば半円状或いはそれよりも僅かに大きく成形されたS
iCやグラファイト等の非導電性プレート86の表面
に、発熱性の導電性部材、例えばカーボンやタングステ
ン金属等をスパッタにより付着させたり、或いは電熱線
または電熱コイル88(図13参照)を配設することに
より形成されている。また、未反応処理ガスとの接触面
積を大きく設定するために、図13に示すようにフィン
90をプレート表面に起立させて設けるようにしてもよ
い。
えば半円状或いはそれよりも僅かに大きく成形されたS
iCやグラファイト等の非導電性プレート86の表面
に、発熱性の導電性部材、例えばカーボンやタングステ
ン金属等をスパッタにより付着させたり、或いは電熱線
または電熱コイル88(図13参照)を配設することに
より形成されている。また、未反応処理ガスとの接触面
積を大きく設定するために、図13に示すようにフィン
90をプレート表面に起立させて設けるようにしてもよ
い。
【0033】このようなトラップ邪魔板84は、排気ガ
スが例えば蛇行状に流れるようにその切り欠き端部が交
互に例えば180度異なる方向に位置するように取り付
けるのが望ましい。また、上記実施例ではジメチルハイ
ドライドDMAHを用いてアルミニウムを成膜する場合
について説明したが、ジエチルハイドライドを用いた場
合、或いは成膜材料としてアルミニウムに限定されず、
タングステン、チタン、銅等の金属材料を成膜する場合
において熱により分解される処理ガスを使用するときは
全て適用することが可能である。
スが例えば蛇行状に流れるようにその切り欠き端部が交
互に例えば180度異なる方向に位置するように取り付
けるのが望ましい。また、上記実施例ではジメチルハイ
ドライドDMAHを用いてアルミニウムを成膜する場合
について説明したが、ジエチルハイドライドを用いた場
合、或いは成膜材料としてアルミニウムに限定されず、
タングステン、チタン、銅等の金属材料を成膜する場合
において熱により分解される処理ガスを使用するときは
全て適用することが可能である。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のトラップ
装置及びこれを用いた未反応処理ガスの排気機構によれ
ば、次のように優れた作用効果を発揮することができ
る。成膜時に熱により分解する処理ガスを使用する場合
には、排気ガス中の未反応処理ガスを熱分解してこれを
略完全にトラップすることができる。特に、加熱トラッ
プ手段として電熱コイルを用いてこれを流路断面積の略
全体に亘って形成しているので、未反応処理ガスとの接
触効率を向上させてトラップ効率を高めることができ
る。また、冷却手段を用いることによりトラップ用通路
容器の壁面の温度を低下させることができ、安全性を高
めることができる。
装置及びこれを用いた未反応処理ガスの排気機構によれ
ば、次のように優れた作用効果を発揮することができ
る。成膜時に熱により分解する処理ガスを使用する場合
には、排気ガス中の未反応処理ガスを熱分解してこれを
略完全にトラップすることができる。特に、加熱トラッ
プ手段として電熱コイルを用いてこれを流路断面積の略
全体に亘って形成しているので、未反応処理ガスとの接
触効率を向上させてトラップ効率を高めることができ
る。また、冷却手段を用いることによりトラップ用通路
容器の壁面の温度を低下させることができ、安全性を高
めることができる。
【0035】また、冷却手段として窒素ガス等の不活性
ガスを用いて冷却後にこれを排気ガス中に混入させるこ
とにより、未反応処理ガスの熱分解によって発生した可
燃性ガスを希釈することができ、爆発等を防止して安全
性を向上させることができる。更には、機械的接触部分
を含む真空引きポンプの上流側に本発明のトラップ装置
を設けることにより、未反応処理ガスを略確実に除去す
ることができるので、真空引きポンプが析出金属により
悪影響を受けるといった問題を解決することができる。
また、このようなトラップ装置を排気通路に並列的に設
けて選択使用可能とすることにより、処理装置を停止さ
せることなくトラップ装置のメンテナンスを行なうこと
ができる。
ガスを用いて冷却後にこれを排気ガス中に混入させるこ
とにより、未反応処理ガスの熱分解によって発生した可
燃性ガスを希釈することができ、爆発等を防止して安全
性を向上させることができる。更には、機械的接触部分
を含む真空引きポンプの上流側に本発明のトラップ装置
を設けることにより、未反応処理ガスを略確実に除去す
ることができるので、真空引きポンプが析出金属により
悪影響を受けるといった問題を解決することができる。
また、このようなトラップ装置を排気通路に並列的に設
けて選択使用可能とすることにより、処理装置を停止さ
せることなくトラップ装置のメンテナンスを行なうこと
ができる。
【図1】処理装置に接続される本発明の未反応処理ガス
排気機構を示す図である。
排気機構を示す図である。
【図2】図1に示す排気機構に用いられる本発明のトラ
ップ装置を示す部分断面図である。
ップ装置を示す部分断面図である。
【図3】図2に示すトラップ装置の側面図である。
【図4】図2に示すトラップ装置の分解組み立て図であ
る。
る。
【図5】加熱トラップ手段を示す平面図である。
【図6】図5に示す加熱トラップ手段の側面図である。
【図7】図5に示す加熱トラップ手段の電熱コイルの拡
大断面図である。
大断面図である。
【図8】下流側取り付けリングを示す斜視図である。
【図9】断熱筒と電熱コイルとの接触部に付着した析出
金属を示す図である。
金属を示す図である。
【図10】冷却手段の変形例を説明するための説明図で
ある。
ある。
【図11】加熱トラップ手段の変形例を示す概略断面図
である。
である。
【図12】図11に示す変形例の斜視図である。
【図13】加熱トラップ邪魔板にフィンを設けたときの
状態を示す斜視図である。
状態を示す斜視図である。
2 メタルCVD装置(処理装置) 4 処理容器 16 未反応処理ガス排気機構 18 排気通路 20A,20B 真空引きポンプ 24 トラップ装置 32 トラップ用通路容器 34 断熱筒 36 冷媒通路 56 連通孔 58 冷媒 60 冷媒導入口 62 冷却手段 64 加熱トラップ手段 66 電熱線 72 電熱コイル 84 加熱トラップ邪魔板 W 半導体ウエハ(被処理体)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B01J 19/00 - 19/32 B01D 51/00 C23C 16/00 - 16/56
Claims (9)
- 【請求項1】 排気通路に介設されて熱により分解され
る処理ガスをトラップするトラップ装置において、前記
排気通路の途中に介設されるべきトラップ用通路容器
と、このトラップ用通路容器内に収容されてこれに流れ
る前記処理ガスと接触して熱分解させる加熱トラップ手
段とを有し、 前記加熱トラップ手段は、電熱コイルを、前記トラップ
用通路容器内を流れる前記処理ガスの流れと直交する横
断面の略全体に亘って形成することにより構成されてい
ることを特徴とするトラップ装置 - 【請求項2】 前記電熱コイルは、扁平リング状に巻回
されると共に、前記扁平リングを適宜角度ずつ順次その
周方向へねじることによって全体として螺旋状に形成さ
れていることを特徴とする請求項1記載のトラップ装置 - 【請求項3】 前記電熱コイルの中心部に形成される直
線状の通路には、前記ガスの流れ方向に沿って閉塞棒を
挿通させることにより、前記電熱コイルは、ガス流れ方
向に対しては全体的に光学的ブラインド状態になされて
いることを特徴とする請求項2記載のトラップ装置 - 【請求項4】 排気通路に介設されて熱により分解され
る処理ガスをトラップするトラップ装置において、前記
排気通路の途中に介設されるべきトラップ用通路容器
と、このトラップ用通路容器内に収容されてこれに流れ
る前記処理ガスと接触して熱分解させる加熱トラップ手
段とを備え、 前記加熱トラップ手段は、前記トラップ用通路容器内を
流れる処理ガスの流れ方向に沿って所定のピッチで配列
された複数の加熱トラップ邪魔板よりなることを特徴と
するトラップ装置 - 【請求項5】 前記トラップ用通路容器には、前記加熱
トラップ手段からの熱により前記トラップ用通路容器の
壁面が加熱することを防止するための冷却手段が設けら
れていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに
記載のトラップ装置 - 【請求項6】 前記冷却手段は、前記トラップ用通路容
器の壁面との間に形成される冷媒通路を有し、この冷媒
通路に沿って冷媒を流すように構成したことを特徴とす
る請求項5記載のトラップ装置 - 【請求項7】 前記冷媒は、不活性ガスよりなり、前記
冷媒通路を流れた後に、前記処理ガス側へ混入されるこ
とを特徴とする請求項6記載のトラップ装置 - 【請求項8】 処理ガスにより被処理体に対して所定の
処理を施すための処理装置に接続された排気通路と、こ
の排気通路に接続された真空引きポンプ手段と、前記真
空引きポンプ手段の上流側に介設された、請求項1乃至
7のいずれかに規定されたトラップ装置とを備えるよう
に構成したことを特徴とする未反応処理ガス排気機構 - 【請求項9】 前記排気通路は、複数に並列に分岐され
た複数の分岐排気路を有し、この各分岐排気路に、請求
項1乃至7のいずれかに規定されたトラップ装置を介設
し、選択的に使用できるように構成したことを特徴とす
る請求項8記載の未反応処理ガス排気機構
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13283395A JP3246708B2 (ja) | 1995-05-02 | 1995-05-02 | トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構 |
US08/639,926 US5819683A (en) | 1995-05-02 | 1996-04-26 | Trap apparatus |
TW085105169A TW353766B (en) | 1995-05-02 | 1996-04-30 | Trap apparatus |
KR1019960014202A KR100284236B1 (ko) | 1995-05-02 | 1996-05-02 | 트랩장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13283395A JP3246708B2 (ja) | 1995-05-02 | 1995-05-02 | トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08299784A JPH08299784A (ja) | 1996-11-19 |
JP3246708B2 true JP3246708B2 (ja) | 2002-01-15 |
Family
ID=15090602
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13283395A Expired - Fee Related JP3246708B2 (ja) | 1995-05-02 | 1995-05-02 | トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5819683A (ja) |
JP (1) | JP3246708B2 (ja) |
KR (1) | KR100284236B1 (ja) |
TW (1) | TW353766B (ja) |
Families Citing this family (78)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 1995-05-02 JP JP13283395A patent/JP3246708B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-04-26 US US08/639,926 patent/US5819683A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-04-30 TW TW085105169A patent/TW353766B/zh active
- 1996-05-02 KR KR1019960014202A patent/KR100284236B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5819683A (en) | 1998-10-13 |
TW353766B (en) | 1999-03-01 |
KR100284236B1 (ko) | 2001-04-02 |
JPH08299784A (ja) | 1996-11-19 |
KR960042937A (ko) | 1996-12-21 |
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