[go: up one dir, main page]

JP3246708B2 - トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構 - Google Patents

トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構

Info

Publication number
JP3246708B2
JP3246708B2 JP13283395A JP13283395A JP3246708B2 JP 3246708 B2 JP3246708 B2 JP 3246708B2 JP 13283395 A JP13283395 A JP 13283395A JP 13283395 A JP13283395 A JP 13283395A JP 3246708 B2 JP3246708 B2 JP 3246708B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trap
passage
gas
processing gas
exhaust
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP13283395A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH08299784A (ja
Inventor
亨 池田
孝 堀内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP13283395A priority Critical patent/JP3246708B2/ja
Priority to US08/639,926 priority patent/US5819683A/en
Priority to TW085105169A priority patent/TW353766B/zh
Priority to KR1019960014202A priority patent/KR100284236B1/ko
Publication of JPH08299784A publication Critical patent/JPH08299784A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3246708B2 publication Critical patent/JP3246708B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4412Details relating to the exhausts, e.g. pumps, filters, scrubbers, particle traps
    • H01L21/205
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D53/00Separation of gases or vapours; Recovering vapours of volatile solvents from gases; Chemical or biological purification of waste gases, e.g. engine exhaust gases, smoke, fumes, flue gases, aerosols
    • B01D53/34Chemical or biological purification of waste gases
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D53/00Separation of gases or vapours; Recovering vapours of volatile solvents from gases; Chemical or biological purification of waste gases, e.g. engine exhaust gases, smoke, fumes, flue gases, aerosols
    • B01D53/34Chemical or biological purification of waste gases
    • B01D53/46Removing components of defined structure
    • B01D53/72Organic compounds not provided for in groups B01D53/48 - B01D53/70, e.g. hydrocarbons
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02CCAPTURE, STORAGE, SEQUESTRATION OR DISPOSAL OF GREENHOUSE GASES [GHG]
    • Y02C20/00Capture or disposal of greenhouse gases
    • Y02C20/30Capture or disposal of greenhouse gases of perfluorocarbons [PFC], hydrofluorocarbons [HFC] or sulfur hexafluoride [SF6]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Vaporization, Distillation, Condensation, Sublimation, And Cold Traps (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、メタルCVD処理装置
等から排出される未反応ガスを分解除去するトラップ装
置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体集積回路等を形成するた
めには、基板に対して成膜とパターンエッチングとを繰
り返し施すことにより所望の回路素子を配列形成する
が、成膜処理やエッチング処理の時に使用される各種の
処理ガスは比較的有害なものが多いことから処理容器か
らの排気ガスは、除外装置を通して排気ガス中に含まれ
る未反応処理ガスをトラップした後に大気へ放出するよ
うになっている。
【0003】例えば処理装置として基板上にアルミニウ
ム膜やタングステン膜等の金属膜を形成するメタルCV
D(Chemical Vapor Depositi
on)装置を例にとって説明すると、処理ガスとしては
成膜すべき金属材料を含んだ有機材料を用い、排気系に
は、未反応処理ガスを除去する除外装置を介設し、この
下流側に真空ポンプを設けて処理容器内を所定の圧力に
真空引きしている。ところで、真空ポンプとしては、大
気圧からある程度の真空度例えば数Torr程度まで排
気する時に用いる粗引き用ポンプとある程度の真空度に
達した時に駆動して更に高い真空度まで真空引きする精
密引き用ポンプがあり、一般的にはこれら2種類のポン
プを選択的に使用することにより、高い真空度を得、且
つ所望の圧力状態を維持するようになっている。
【0004】従来、粗引き用ポンプとしては、潤滑油等
の油分を用いたロータリーポンプを用いたメカニカルポ
ンプが主として用いられてきたが、ここで発生した油分
子が僅かではあるが排気系を逆流して処理容器内へ入り
込み、半導体素子の歩留まりを低下させる等の悪影響を
与える場合が生ずることが判明した。そこで、最近にあ
っては、この油分による悪影響をなくすために油を用い
ていない、いわゆるドライポンプを用いる傾向にある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、排気ガス中
に含まれる未反応処理ガスを除去する除外装置として
は、一般的には未反応物を冷却固化させて除去すること
が行なわれるが、処理ガスの種類によっては、ガスの冷
却では除去できず、逆に加熱による熱分解により除去す
ることができる物質もある。例えばアルミニウムの成膜
時に処理ガスとして使用されるジメチルアルミハイドラ
イド(DMAH:(CH32AlH)等は、冷却しても
除去できず、逆に150〜500℃程度に加熱すると完
全に分解してアルミニウムと水素、メタン、或いはエタ
ンになる。
【0006】この場合、機械的接触部のある、例えばメ
カニカルポンプは、例えば冷却等がなされているといえ
ども局部的にはかなりの温度に達してしまい、この部分
に接触した未反応処理ガスが熱分解してアルミニウムを
析出して付着し、最悪の場合には、ポンプの破損に至っ
てしまう恐れがあった。特に、ポンプの機械的接触部分
が150度程度にまで達しなくても、上記したDMAH
は80℃程度で微妙に分解が始まることから、未反応D
MAHを確実に除去できて、且つポンプにも悪影響を与
えないような十分な対策が望まれている。
【0007】本発明は、以上のような問題点に着目し、
これを有効に解決すべく創案されたものである。本発明
の目的は、熱により分解される未反応処理ガスを確実に
除去でき、且つ真空ポンプにも悪影響を与えないトラッ
プ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構を提供
することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために、排気通路に介設されて熱により分解さ
れる処理ガスをトラップするトラップ装置において、前
記排気通路の途中に介設されるべきトラップ用通路容器
と、このトラップ用通路容器内に収容されてこれに流れ
る前記処理ガスと接触して熱分解させる加熱トラップ手
段とを有し、前記加熱トラップ手段は、電熱コイルを、
前記トラップ用通路容器内を流れる前記処理ガスの流れ
と直交する横断面の略全体に亘って形成することにより
構成したものである。また、本発明は、上記問題点を解
決するために、処理ガスにより被処理体に対して所定の
処理を施すための処理装置に接続された排気通路と、こ
の排気通路に接続された真空引きポンプ手段と、前記真
空引きポンプ手段の上流側に介設された、請求項1乃至
7に規定されたトラップ装置とを備えるように構成した
ものである。
【0009】
【作用】本発明は、以上のように構成したので、排気通
路を流れてくる未反応の処理ガスは、トラップ用通路容
器内に収容される加熱とラップ手段と接触して熱分解さ
れ、析出した金属が加熱トラップ手段に付着してトラッ
プされることになる。この場合、トラップ手段は、例え
ば電熱コイルよりなり、これを流路断面積に略全体に亘
って配置形成しておくことにより、ガスとの接触面積が
大きくなって、トラップ効率を向上させることが可能と
なる。また、この加熱トラップ手段としては、電熱コイ
ルに替えて、加熱トラップ邪魔板を用いることもでき、
これをガスの流れ方向に沿って所定のピッチで配列させ
る。
【0010】更に、トラップ用通路容器の内壁が加熱す
ることを防止するために、不活性ガス等を用いた冷却手
段を設けることにより、火傷等を防止でき、安全性を確
保することができる。また、このようなトラップ装置
を、処理装置の排気通路に設けた真空引きポンプ手段の
上流側に配置することにより、ここで未反応処理ガスを
確実に除去することが可能となり、従って、下流側に位
置する真空引きポンプ手段に、分解により生じた金属が
付着堆積するなどの問題が発生することを未然に防止す
ることが可能となる。更に、この排気通路を複数に分岐
させた分岐排気通路を形成して、それぞれに上記したト
ラップ装置を設け、これらを選択的に使用することによ
り、処理装置の稼働を停止することなく、トラップ装置
のメンテナンスを行なうことが可能となる。
【0011】
【実施例】以下に、本発明に係るトラップ装置及びそれ
を用いた未反応処理ガス排気機構の一実施例を添付図面
に基づいて詳述する。
【0012】図1は処理装置に接続される本発明の未反
応処理ガス排気機構を示す図、図2は図1に示す排気機
構に用いられる本発明のトラップ装置を示す部分断面
図、図3は図2に示すトラップ装置の側面図、図4は図
2に示すトラップ装置の分解組立図、図5は加熱トラッ
プ手段を示す平面図、図6は図5に示す加熱トラップ手
段の側面図、図7は図5に示す加熱トラップ手段の電熱
コイルの拡大縦断面図である。本実施例においては、未
反応処理ガス排気機構を接続する処理装置として例えば
金属薄膜を半導体ウエハ上に形成するメタルCVD装置
を用いた場合を例にとって説明する。
【0013】図示するようにこのメタルCVD装置2
は、処理容器4内に被処理体として半導体ウエハWを載
置する例えばグラファイト製の載置台6を有し、この下
方に容器内を気密に密閉する石英ガラス製の透過窓8を
介して、複数の加熱ランプ10を回転可能に配置してい
る。処理容器4内には載置台6と対向させて処理ガスを
供給するシャワーヘッド12を配置しており、これより
処理ガスを供給し得るようになっている。処理ガスとし
ては、例えばウエハ表面にアルミニウム金属膜を形成す
る場合には、150〜200℃程度の熱によって分解す
るDMAHを用いる。
【0014】この処理容器4には、容器内雰囲気を排出
する排気口14が設けられ、この排気口14に第1の発
明である未反応処理ガス排気機構16が接続されてい
る。具体的には、排気機構16は、例えばアルミニウム
やステンレススチールよりなる直径40〜100mm程
度の排気通路18と、この排気通路18の途中に介設さ
れた真空引きポンプ手段としての2台の真空引きポンプ
20A、20Bと、排気通路18を2つに並列に分岐さ
せることにより形成した分岐排気路22、22のそれぞ
れに介設した第2の発明のトラップ装置24とにより主
に構成されている。
【0015】具体的には、排気通路18の上流側より下
流側に向けて、開閉のみを行なうゲートバルブ25、開
口率の調整を行なうことができるコンダクタンスバルブ
26、精密引き用のポンプであって例えば磁気浮上方式
等を採用して機械的接触部分のないターボ分子ポンプ等
よりなる第1の真空引きポンプ20A、トラップ装置2
4、ゲートバルブ27及び粗引き用の油分を用いていな
いドライポンプ等よりなる第2の真空引きポンプ20B
を順次介設している。また、両トラップ装置24の上流
側及び下流側の分岐排気路22には、排気系に対してこ
の装置24の個別的な接合・離脱を可能とするためにそ
れぞれ上流側開閉弁28、28及び下流側開閉弁30、
30が介設されている。尚、第1の真空引きポンプ20
Aとして、ボールベアリング等の機械的接触部分のある
ターボ分子ポンプを用いた場合には、アルミニウムの析
出により機械的破損を生ずる恐れがあるので、このポン
プ装置をトラップ装置の下流側に設ける。
【0016】次に、分岐排気路22に介設されるトラッ
プ装置24について説明する。2つのトラップ装置24
は、全く同様に形成されており、これを取り付ける分岐
排気路22は、例えば内径が40〜100mm程度のス
テンレススチール或いはアルミニウム製パイプよりな
り、トラップ装置24は、このパイプと略同じ径のステ
ンレススチール或いはアルミニウム製の筒体状のトラッ
プ用通路容器32を有している。図1においては、トラ
ップ装置24の取り付け位置を明確にするために箱状に
記載している。図2乃至図4に示すようにトラップ用通
路容器32内には、例えばセラミック等の断熱材よりな
る断熱筒34が収容されて二重管構造になされている。
この断熱筒34の外径は、トラップ用通路容器32の内
径よりも僅かに例えば4mm程度小さく成形されてお
り、この断熱管34の外壁面と通路容器32の内壁面と
の間に幅約2mm程度のリング状間隙を設け、ここに後
述するように冷媒を流すための冷媒通路36を形成して
いる。
【0017】このトラップ用通路容器32の上流側端部
には、例えばステンレススチール等よりなるリング状の
上流側取付リング38がその端部を突出させて嵌め込ま
れており、この端部外周にOリング等のシール部材40
を介在させて容器の上流側端部と分岐排気路22の上流
側取付部22Aとの間を図示しないボルト等により気密
に着脱可能に取り付けている。そして、上流側取付リン
グ38には、通路容器32の端部に略内接するリング状
の断熱筒支持部42が設けられ、この支持部42に上記
断熱筒34の端部に形成した上流側保持段部44を嵌装
させてこれを保持している。従って、冷媒通路36の上
流端側は、上流取付リング38やシール部材40等によ
り確実にシールされており、この中に排気ガスが流入し
ないようになっている。
【0018】一方、トラップ用通路容器32の下流側端
部には、同じくステンレススチール等よりなるリング状
の下流側取付リング46がその端部を突出させて嵌め込
まれており、この端部外周にOリング等のシール部材4
8を介在させて、容器の下流端側端部と分岐排気通路2
2の下流側取付部22Bとの間を図示しないボルト等に
より気密に着脱可能に取り付けている。図8に下流側取
付リング46の斜視図が示されている。この下流側取付
リング46は、断熱筒34と略同じ外径になされて容器
内に挿入されるリング本体50を有し、この先端部に段
部状の断熱筒支持部52を形成している。そして、この
支持部52に上記断熱筒34の他端側に形成した下流側
保持段部54を嵌装させて、断熱筒34の他端側を支持
している。尚、この場合、これらの嵌装部に、図4に示
すようにOリング等のシール部材55を介在させること
により、断熱筒34の内外のシール性を確保できると同
時に両者の寸法誤差も吸収することができる。
【0019】この下流側取付リング46のリング本体5
0には、実質的に未反応ガスが流れる断熱筒34の内側
とこの外側に形成される間隙である冷媒通路36とを連
通するための複数、図示例では2個の連通孔56が形成
されている。そして、トラップ用通路容器32のガス上
流側側壁には、上記冷媒通路36内に、例えば冷却され
た窒素ガス等の不活性ガスよりなる冷媒58を導入する
ための冷媒導入口60が形成されており、この冷媒58
によりトラップ用通路容器32の壁面及び断熱筒34の
壁面を冷却するようになっており、導入された冷媒ガス
は最終的にリング本体50に設けた連通孔56を介して
排気ガス中へ導入させるようになっている。このように
冷媒通路32と冷媒導入口60とで冷却手段62を構成
している。
【0020】一方、断熱筒34内には、排気ガス中の未
反応処理ガスを実際的にトラップするための加熱トラッ
プ手段64が設けられる。この加熱トラップ手段64
は、通電により発熱する電熱コイル72よりなり、例え
ば図7に示すように中心に電熱線66を有し、その周囲
を例えば酸化マグネシウム等の絶縁材68で覆い、更に
その外周を例えば薄いステンレススチール膜よりなる被
覆膜70で覆って形成した電熱コイル、例えばシースヒ
ータ(商品名)を用いることができる。この電熱コイル
72をリング状に巻回した後に扁平状態となるように押
しつぶし、更に、この状態で各扁平リングを適宜角度ず
つ順次その周方向へねじることによって全体として螺旋
状に形成し、図5及び図6に示すような加熱トラップ手
段64を形成することができる。
【0021】図5においては、全体として6個の螺旋が
形成された状態を示す。この場合、加熱トラップ手段6
4の直径L1は、断熱筒34の内径と略同じになるよう
に設定し、図3に示すようにトラップ手段64が流路面
積の略全体に亘って形成されるようにし、未反応処理ガ
スとの接触面積を高めてトラップ効率を高めるように形
成する。この場合、電熱コイル72をねじることにより
形成された加熱トラップ64の中心には直線状の通路が
形成されてしまうので、この部分にガスの流れ方向に沿
って閉塞棒74を挿通しておき、ガスの流れ方向に対し
ては光学的ブラインド状態を確保する。
【0022】そして、このトラップ手段64からの引き
出し線76は、リング本体50に設けた連通孔56及び
トラップ用通路容器32のガス下流側に設けた電力供給
ポート78から外側に引き出し、これを電源に接続して
いる。尚、この電力供給ポート78は気密状態で引き出
し線76を容器外へ延ばしているのは勿論である。
【0023】次に、以上のように構成された本実施例の
動作につて説明する。まず、メタルCVD処理装置2に
て例えばアルミニウムの金属成膜を行なう場合には、載
置台6上に載置したウエハWを加熱ランプ10からの熱
により所定のプロセス温度に加熱し、処理容器4内に処
理ガスとしてDMAHガスを導入すると同時に、排気機
構16の真空引きポンプ20A,20Bを駆動して容器
内を真空引きしてプロセス圧力を維持する。成膜処理を
行なっている間、容器4は真空引きされて所定のプロセ
ス圧力に維持されるが、この真空引きに際して、排気通
路18には、未反応処理ガスも流れてゆくことになる。
【0024】この未反応処理ガスは、コンダクタンスバ
ルブ26や機械的接触部のない真空引きポンプ20Aを
通過した後に、いづれか一方或いは両方のトラップ装置
24に流れ込み、ここで未反応処理ガスは熱分解されて
除去されることになる。すなわち、排気ガスが実質的に
流れる断熱筒34内には電熱コイルよりなる加熱トラッ
プ手段64が流路断面に略全体に亘るように設けられて
おり、しかも略処理ガスが熱分解し得る温度例えば20
0℃程度に加熱されているので、ここを通過する未反応
処理ガスはトラップ手段64に接触し、熱分解してアル
ミニウムと水素やメタン等に分解されてしまうことにな
る。
【0025】ここで、熱分解により発生した水素やメタ
ン等のガスはそのまま後流側に流れて排出されてしま
い、析出したアルミニウムは主に電熱コイル72の表面
に付着して除去されていまい、これが後流側に流れて、
後流側に設けてある真空引きポンプ20B内に付着する
ことはない。この時のトラップ手段64の加熱温度は、
上述のように未反応処理ガスの熱分解温度に依存して設
定し、また、トラップ手段64の長さは、ガス流出コン
ダクタンスが大幅に低下しない範囲でトラップ効率を考
慮して設定すればよい。この場合、上述のようにトラッ
プ手段64は、ガス流に直交する横断面、すなわち流路
面積の略全体に亘って設けてあり、しかもその中心部に
は閉塞棒74を挿通させてガス流れ方向に対して光学的
ブラインド状態を確保していることから、未反応処理ガ
スと電熱コイル72との接触効率は非常に高くなり、従
って、トラップ効率とを高く維持することが可能とな
る。
【0026】また、電熱コイル72の外周は、断熱筒3
4の内壁面と略接して保持され、且つコイル自体は非常
に軽いものであることからこれが内部で移動することは
ほとんどないが、アルミニウムの析出が進行すると、図
9に示すように断熱筒34の内壁と電熱コイル72の接
触部に析出アルミニウム78が付着して両者の接合を強
固なものとし、コイル自体が移動することを防止するこ
とができる。この場合、排気ガスの熱により電熱コイル
72自体が膨張して断熱筒34の内壁面に対して突張る
ことからこの点よりもコイル72の移動を阻止すること
ができる。
【0027】また、断熱筒34により電熱コイル72の
熱がトラップ用通路容器32に伝わることを阻止するよ
うになっているが、処理の進行に従って、この通路容器
32の壁面が次第に加熱される傾向となる。しかしなが
ら、本実施例においては、この部分に冷却手段62を設
けてあることから、通路容器32の壁面が過度に加熱さ
れることはない。すなわち、冷媒導入口60から冷却さ
れた、或いは常温の冷媒ガス58として窒素ガスが冷媒
導入口60を介して、断熱筒34とトラップ用通路容器
32との間に形成される冷媒通路36内に導入されてお
り、断熱筒34及び通路容器32の壁面を例えば50℃
以下になるように冷却している。この場合、冷媒通路3
6には窒素ガスが導入されるといえどもかなりの真空度
に保たれていることから通路が真空断熱層としての機能
も有すことになる。従って、オペレータがトラップ用通
路容器32に接触しても火傷等を負う恐れもない。尚、
図示例においては冷媒導入口60は、1ヵ所しか設けて
いないが、これを容器周方向に沿った適当箇所に複数個
設けるようにすれば、断熱筒34を効率的に冷却するこ
とが可能となる。
【0028】また、冷媒通路36内へ導入された窒素ガ
スは、この通路36の上流端側は上流側取付リング38
等によりシールされているのでここから未反応処理ガス
流中に窒素ガスが流出することはなく、従って、未反応
処理ガスがここで希釈化されて加熱トラップ手段64と
の接触効率が劣化することはないのに対し、冷媒通路3
6を流れた窒素ガスはリング本体50に設けた連通孔5
6から、トラップ完了後の排気ガス中に流れ込むことに
なる。このため、DMAHの熱分解により発生した可燃
性の水素やメタン等を含む排気ガスが窒素ガスにより希
釈され、爆発等が発生することを未然に防止することが
可能となる。
【0029】このように、DMAHはトラップ装置によ
り熱分解されてこの時、析出するアルミニウムを付着除
去することができるので、この後流側に位置する機械的
接触部を有するドライポンプ等よりなる真空引きポンプ
20Bにアルミニウムが付着堆積することがない。ま
た、アルミニウムの付着体積が進行したならば、トラッ
プ装置を分岐排気路22から取り外し、アルミニウムの
付着した電熱コイル72を断熱筒34から抜き出し、或
いはコイル72と断熱筒34が析出アルミニウムに強固
に結合している時には、断熱筒34を抜き出して、アル
ミニウム溶解液、例えばリン酸溶液中に浸漬することに
よって析出付着していたアルミニウムを溶解させればよ
い。
【0030】この場合、図1に示すようにトラップ装置
24は、排気通路18に対して並列的に2個設けられて
いることから分岐排気路22の上流側と下流側に介設し
た開閉弁28、30を切り替えることにより選択的に上
述したようなメンテナンス作業を行なえばよく、メンテ
ナンス時にCVD装置を停止する必要もない。上記実施
例では、冷却手段62として、冷媒通路36に窒素ガス
を流し、その後、これを排気ガス中に混入させるように
したが、これに限定されず、例えば図10に示すように
この冷媒通路36の両端にシール部材80を設けて、排
気ガス流路に対して密閉状態とし、この下流側に冷媒排
出口82を設けて、冷媒として冷却ガスや冷却水を流す
ようにしてもよいし、また、この冷媒通路36を完全に
密閉して真空状態とし、真空断熱層として機能させるよ
うにしてもよい。
【0031】更には、上記実施例では、加熱トラップ手
段64として電熱コイル72を巻回して屈曲変形させた
ものを用いたが、熱を発して未反応処理ガスと接触して
これを分解できるような構成ならばどのようなものでも
良く、例えば、図11乃至図13に示すように加熱トラ
ップ邪魔板84をガス流れ方向に沿って所定のピッチで
複数枚設けるようにしてもよい。
【0032】すなわち、このトラップ邪魔板84は、例
えば半円状或いはそれよりも僅かに大きく成形されたS
iCやグラファイト等の非導電性プレート86の表面
に、発熱性の導電性部材、例えばカーボンやタングステ
ン金属等をスパッタにより付着させたり、或いは電熱線
または電熱コイル88(図13参照)を配設することに
より形成されている。また、未反応処理ガスとの接触面
積を大きく設定するために、図13に示すようにフィン
90をプレート表面に起立させて設けるようにしてもよ
い。
【0033】このようなトラップ邪魔板84は、排気ガ
スが例えば蛇行状に流れるようにその切り欠き端部が交
互に例えば180度異なる方向に位置するように取り付
けるのが望ましい。また、上記実施例ではジメチルハイ
ドライドDMAHを用いてアルミニウムを成膜する場合
について説明したが、ジエチルハイドライドを用いた場
合、或いは成膜材料としてアルミニウムに限定されず、
タングステン、チタン、銅等の金属材料を成膜する場合
において熱により分解される処理ガスを使用するときは
全て適用することが可能である。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のトラップ
装置及びこれを用いた未反応処理ガスの排気機構によれ
ば、次のように優れた作用効果を発揮することができ
る。成膜時に熱により分解する処理ガスを使用する場合
には、排気ガス中の未反応処理ガスを熱分解してこれを
略完全にトラップすることができる。特に、加熱トラッ
プ手段として電熱コイルを用いてこれを流路断面積の略
全体に亘って形成しているので、未反応処理ガスとの接
触効率を向上させてトラップ効率を高めることができ
る。また、冷却手段を用いることによりトラップ用通路
容器の壁面の温度を低下させることができ、安全性を高
めることができる。
【0035】また、冷却手段として窒素ガス等の不活性
ガスを用いて冷却後にこれを排気ガス中に混入させるこ
とにより、未反応処理ガスの熱分解によって発生した可
燃性ガスを希釈することができ、爆発等を防止して安全
性を向上させることができる。更には、機械的接触部分
を含む真空引きポンプの上流側に本発明のトラップ装置
を設けることにより、未反応処理ガスを略確実に除去す
ることができるので、真空引きポンプが析出金属により
悪影響を受けるといった問題を解決することができる。
また、このようなトラップ装置を排気通路に並列的に設
けて選択使用可能とすることにより、処理装置を停止さ
せることなくトラップ装置のメンテナンスを行なうこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】処理装置に接続される本発明の未反応処理ガス
排気機構を示す図である。
【図2】図1に示す排気機構に用いられる本発明のトラ
ップ装置を示す部分断面図である。
【図3】図2に示すトラップ装置の側面図である。
【図4】図2に示すトラップ装置の分解組み立て図であ
る。
【図5】加熱トラップ手段を示す平面図である。
【図6】図5に示す加熱トラップ手段の側面図である。
【図7】図5に示す加熱トラップ手段の電熱コイルの拡
大断面図である。
【図8】下流側取り付けリングを示す斜視図である。
【図9】断熱筒と電熱コイルとの接触部に付着した析出
金属を示す図である。
【図10】冷却手段の変形例を説明するための説明図で
ある。
【図11】加熱トラップ手段の変形例を示す概略断面図
である。
【図12】図11に示す変形例の斜視図である。
【図13】加熱トラップ邪魔板にフィンを設けたときの
状態を示す斜視図である。
【符号の説明】
2 メタルCVD装置(処理装置) 4 処理容器 16 未反応処理ガス排気機構 18 排気通路 20A,20B 真空引きポンプ 24 トラップ装置 32 トラップ用通路容器 34 断熱筒 36 冷媒通路 56 連通孔 58 冷媒 60 冷媒導入口 62 冷却手段 64 加熱トラップ手段 66 電熱線 72 電熱コイル 84 加熱トラップ邪魔板 W 半導体ウエハ(被処理体)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B01J 19/00 - 19/32 B01D 51/00 C23C 16/00 - 16/56

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 排気通路に介設されて熱により分解され
    る処理ガスをトラップするトラップ装置において、前記
    排気通路の途中に介設されるべきトラップ用通路容器
    と、このトラップ用通路容器内に収容されてこれに流れ
    る前記処理ガスと接触して熱分解させる加熱トラップ手
    段とを有し、 前記加熱トラップ手段は、電熱コイルを、前記トラップ
    用通路容器内を流れる前記処理ガスの流れと直交する横
    断面の略全体に亘って形成することにより構成されてい
    ることを特徴とするトラップ装置
  2. 【請求項2】 前記電熱コイルは、扁平リング状に巻回
    されると共に、前記扁平リングを適宜角度ずつ順次その
    周方向へねじることによって全体として螺旋状に形成さ
    れていることを特徴とする請求項1記載のトラップ装置
  3. 【請求項3】 前記電熱コイルの中心部に形成される直
    線状の通路には、前記ガスの流れ方向に沿って閉塞棒を
    挿通させることにより、前記電熱コイルは、ガス流れ方
    向に対しては全体的に光学的ブラインド状態になされて
    いることを特徴とする請求項2記載のトラップ装置
  4. 【請求項4】 排気通路に介設されて熱により分解され
    る処理ガスをトラップするトラップ装置において、前記
    排気通路の途中に介設されるべきトラップ用通路容器
    と、このトラップ用通路容器内に収容されてこれに流れ
    る前記処理ガスと接触して熱分解させる加熱トラップ手
    段とを備え、 前記加熱トラップ手段は、前記トラップ用通路容器内を
    流れる処理ガスの流れ方向に沿って所定のピッチで配列
    された複数の加熱トラップ邪魔板よりなることを特徴と
    するトラップ装置
  5. 【請求項5】 前記トラップ用通路容器には、前記加熱
    トラップ手段からの熱により前記トラップ用通路容器の
    壁面が加熱することを防止するための冷却手段が設けら
    れていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに
    記載のトラップ装置
  6. 【請求項6】 前記冷却手段は、前記トラップ用通路容
    器の壁面との間に形成される冷媒通路を有し、この冷媒
    通路に沿って冷媒を流すように構成したことを特徴とす
    る請求項5記載のトラップ装置
  7. 【請求項7】 前記冷媒は、不活性ガスよりなり、前記
    冷媒通路を流れた後に、前記処理ガス側へ混入されるこ
    とを特徴とする請求項6記載のトラップ装置
  8. 【請求項8】 処理ガスにより被処理体に対して所定の
    処理を施すための処理装置に接続された排気通路と、こ
    の排気通路に接続された真空引きポンプ手段と、前記真
    空引きポンプ手段の上流側に介設された、請求項1乃至
    7のいずれかに規定されたトラップ装置とを備えるよう
    に構成したことを特徴とする未反応処理ガス排気機構
  9. 【請求項9】 前記排気通路は、複数に並列に分岐され
    た複数の分岐排気路を有し、この各分岐排気路に、請求
    項1乃至7のいずれかに規定されたトラップ装置を介設
    し、選択的に使用できるように構成したことを特徴とす
    る請求項8記載の未反応処理ガス排気機構
JP13283395A 1995-05-02 1995-05-02 トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構 Expired - Fee Related JP3246708B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13283395A JP3246708B2 (ja) 1995-05-02 1995-05-02 トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構
US08/639,926 US5819683A (en) 1995-05-02 1996-04-26 Trap apparatus
TW085105169A TW353766B (en) 1995-05-02 1996-04-30 Trap apparatus
KR1019960014202A KR100284236B1 (ko) 1995-05-02 1996-05-02 트랩장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13283395A JP3246708B2 (ja) 1995-05-02 1995-05-02 トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08299784A JPH08299784A (ja) 1996-11-19
JP3246708B2 true JP3246708B2 (ja) 2002-01-15

Family

ID=15090602

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13283395A Expired - Fee Related JP3246708B2 (ja) 1995-05-02 1995-05-02 トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5819683A (ja)
JP (1) JP3246708B2 (ja)
KR (1) KR100284236B1 (ja)
TW (1) TW353766B (ja)

Families Citing this family (78)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1180964A (ja) 1997-07-07 1999-03-26 Canon Inc プラズマcvd法による堆積膜形成装置
US6099649A (en) 1997-12-23 2000-08-08 Applied Materials, Inc. Chemical vapor deposition hot-trap for unreacted precursor conversion and effluent removal
US6794308B2 (en) * 1998-01-07 2004-09-21 Texas Instruments Incorporated Method for reducing by-product deposition in wafer processing equipment
US20030164225A1 (en) * 1998-04-20 2003-09-04 Tadashi Sawayama Processing apparatus, exhaust processing process and plasma processing
US6185370B1 (en) * 1998-09-09 2001-02-06 Tokyo Electron Limited Heating apparatus for heating an object to be processed
JP2000249058A (ja) * 1999-02-26 2000-09-12 Ebara Corp トラップ装置
JP2000256856A (ja) * 1999-03-11 2000-09-19 Tokyo Electron Ltd 処理装置及び処理装置用真空排気システム及び減圧cvd装置及び減圧cvd装置用真空排気システム及びトラップ装置
US6206971B1 (en) * 1999-03-29 2001-03-27 Applied Materials, Inc. Integrated temperature controlled exhaust and cold trap assembly
US6117213A (en) * 1999-05-07 2000-09-12 Cbl Technologies, Inc. Particle trap apparatus and methods
US6174376B1 (en) * 1999-06-01 2001-01-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd Apparatus for evacuating a process chamber
FI110311B (fi) * 1999-07-20 2002-12-31 Asm Microchemistry Oy Menetelmä ja laitteisto aineiden poistamiseksi kaasuista
US6554879B1 (en) * 1999-08-03 2003-04-29 Ebara Corporation Trap apparatus
KR100688900B1 (ko) * 1999-12-15 2007-03-08 캐논 아네르바 가부시키가이샤 배출가스 여과장치, 보조여과장치 및 트랩장치
JP4252702B2 (ja) * 2000-02-14 2009-04-08 株式会社荏原製作所 反応副生成物の配管内付着防止装置及び付着防止方法
JP2001284267A (ja) * 2000-04-03 2001-10-12 Canon Inc 排気処理方法、プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
FI117978B (fi) * 2000-04-14 2007-05-15 Asm Int Menetelmä ja laitteisto ohutkalvon kasvattamiseksi alustalle
US7060132B2 (en) * 2000-04-14 2006-06-13 Asm International N.V. Method and apparatus of growing a thin film
US6998097B1 (en) * 2000-06-07 2006-02-14 Tegal Corporation High pressure chemical vapor trapping system
US6428609B1 (en) * 2000-09-08 2002-08-06 Moore Epitaxial, Inc. Exhaust particulate controller and method
US6770145B2 (en) * 2000-12-11 2004-08-03 Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. Low-pressure CVD apparatus and method of manufacturing a thin film
US6866093B2 (en) * 2001-02-13 2005-03-15 Honeywell International Inc. Isolation and flow direction/control plates for a heat exchanger
DE10136022B4 (de) 2001-07-24 2006-01-12 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Vermeidung oder Beseitigung von Ausscheidungen im Abgasbereich einer Vakuumanlage
KR100434493B1 (ko) * 2001-10-05 2004-06-05 삼성전자주식회사 원자층 증착 장치 및 그 구동 방법
US6838114B2 (en) 2002-05-24 2005-01-04 Micron Technology, Inc. Methods for controlling gas pulsing in processes for depositing materials onto micro-device workpieces
US6821347B2 (en) 2002-07-08 2004-11-23 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for depositing materials onto microelectronic workpieces
US6955725B2 (en) 2002-08-15 2005-10-18 Micron Technology, Inc. Reactors with isolated gas connectors and methods for depositing materials onto micro-device workpieces
US6926775B2 (en) 2003-02-11 2005-08-09 Micron Technology, Inc. Reactors with isolated gas connectors and methods for depositing materials onto micro-device workpieces
US7335396B2 (en) 2003-04-24 2008-02-26 Micron Technology, Inc. Methods for controlling mass flow rates and pressures in passageways coupled to reaction chambers and systems for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers
JP4472275B2 (ja) * 2003-06-06 2010-06-02 東京エレクトロン株式会社 反応処理装置
US7344755B2 (en) 2003-08-21 2008-03-18 Micron Technology, Inc. Methods and apparatus for processing microfeature workpieces; methods for conditioning ALD reaction chambers
US7235138B2 (en) * 2003-08-21 2007-06-26 Micron Technology, Inc. Microfeature workpiece processing apparatus and methods for batch deposition of materials on microfeature workpieces
US7422635B2 (en) 2003-08-28 2008-09-09 Micron Technology, Inc. Methods and apparatus for processing microfeature workpieces, e.g., for depositing materials on microfeature workpieces
US7056806B2 (en) 2003-09-17 2006-06-06 Micron Technology, Inc. Microfeature workpiece processing apparatus and methods for controlling deposition of materials on microfeature workpieces
US7282239B2 (en) 2003-09-18 2007-10-16 Micron Technology, Inc. Systems and methods for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers
US7323231B2 (en) 2003-10-09 2008-01-29 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods for plasma vapor deposition processes
US7581511B2 (en) 2003-10-10 2009-09-01 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods for manufacturing microfeatures on workpieces using plasma vapor processes
US7647886B2 (en) * 2003-10-15 2010-01-19 Micron Technology, Inc. Systems for depositing material onto workpieces in reaction chambers and methods for removing byproducts from reaction chambers
US7258892B2 (en) 2003-12-10 2007-08-21 Micron Technology, Inc. Methods and systems for controlling temperature during microfeature workpiece processing, e.g., CVD deposition
US7201003B2 (en) * 2004-03-11 2007-04-10 General Electric Company Magnet vent assembly apparatus
US7584942B2 (en) 2004-03-31 2009-09-08 Micron Technology, Inc. Ampoules for producing a reaction gas and systems for depositing materials onto microfeature workpieces in reaction chambers
US8133554B2 (en) 2004-05-06 2012-03-13 Micron Technology, Inc. Methods for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers and systems for depositing materials onto microfeature workpieces
JP4642379B2 (ja) 2004-05-12 2011-03-02 東京エレクトロン株式会社 排気捕集装置
US7699932B2 (en) 2004-06-02 2010-04-20 Micron Technology, Inc. Reactors, systems and methods for depositing thin films onto microfeature workpieces
US20060021571A1 (en) * 2004-07-28 2006-02-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Vacuum pump line with nickel-chromium heater layer
KR100614656B1 (ko) * 2005-01-25 2006-08-22 삼성전자주식회사 밸브 어셈블리 및 이를 가지는 반도체 제조 장치, 그리고트랩을 세정하는 방법
US7455720B2 (en) * 2005-02-16 2008-11-25 Mks Instruments, Inc. Method and apparatus for preventing products of TiCL4 and NH3 or other feed gas reactions from damaging vacuum pumps in TiN or other deposition systems
US8679287B2 (en) * 2005-05-23 2014-03-25 Mks Instruments, Inc. Method and apparatus for preventing ALD reactants from damaging vacuum pumps
GB0605048D0 (en) * 2006-03-14 2006-04-26 Boc Group Plc Apparatus for treating a gas stream
JP5128168B2 (ja) * 2006-04-24 2013-01-23 三菱電線工業株式会社 排気装置
US20080072929A1 (en) * 2006-09-22 2008-03-27 White John M Dilution gas recirculation
US20080072822A1 (en) * 2006-09-22 2008-03-27 White John M System and method including a particle trap/filter for recirculating a dilution gas
US20080124670A1 (en) * 2006-11-29 2008-05-29 Frank Jansen Inductively heated trap
CN101542019B (zh) * 2007-04-19 2011-01-12 三菱电线工业株式会社 排气系统
US7937987B2 (en) * 2007-09-28 2011-05-10 Circor Instrumentation Technologies, Inc. Filter monitor-flow meter combination sensor
US7866345B2 (en) * 2007-09-28 2011-01-11 Circor Instrumentation Technologies, Inc. Non-clogging flow restriction for pressure based flow control devices
JP5231441B2 (ja) * 2007-10-31 2013-07-10 国立大学法人東北大学 プラズマ処理システム及びプラズマ処理方法
US20100108263A1 (en) * 2008-10-30 2010-05-06 Applied Materials, Inc. Extended chamber liner for improved mean time between cleanings of process chambers
JP5133923B2 (ja) * 2009-03-12 2013-01-30 東京エレクトロン株式会社 トラップ装置
JP5501807B2 (ja) * 2009-03-31 2014-05-28 東京エレクトロン株式会社 処理装置
US8408013B2 (en) * 2010-06-30 2013-04-02 Instrotek, Inc. Lightweight portable moisture traps for use with vacuum pumps
US20130221024A1 (en) * 2010-10-08 2013-08-29 Central Glass Company, Limited Halogen-containing gas supply apparatus and halogen-containing gas supply method
JP2012184482A (ja) * 2011-03-07 2012-09-27 Ulvac Japan Ltd 真空成膜装置及び成膜方法
DE102011103788A1 (de) * 2011-06-01 2012-12-06 Leybold Optics Gmbh Vorrichtung zur Oberflächenbehandlung mit einem Prozessdampf
US20130008185A1 (en) * 2011-07-07 2013-01-10 Newman Michael D Cryogen cylinder
KR101239148B1 (ko) * 2011-07-19 2013-03-06 (주)티티에스 배기 시스템
US20130237063A1 (en) * 2012-03-09 2013-09-12 Seshasayee Varadarajan Split pumping method, apparatus, and system
US9057388B2 (en) * 2012-03-21 2015-06-16 International Business Machines Corporation Vacuum trap
JP6007715B2 (ja) * 2012-03-29 2016-10-12 東京エレクトロン株式会社 トラップ機構、排気系及び成膜装置
US20140116336A1 (en) * 2012-10-26 2014-05-01 Applied Materials, Inc. Substrate process chamber exhaust
JP6368458B2 (ja) * 2013-05-24 2018-08-01 株式会社荏原製作所 除害機能付真空ポンプ
JP6468884B2 (ja) * 2014-04-21 2019-02-13 東京エレクトロン株式会社 排気システム
WO2016182648A1 (en) * 2015-05-08 2016-11-17 Applied Materials, Inc. Method for controlling a processing system
SG11201807177VA (en) * 2016-04-13 2018-10-30 Applied Materials Inc Apparatus for exhaust cooling
WO2018212940A1 (en) 2017-05-19 2018-11-22 Applied Materials, Inc. Apparatus for collection and subsequent reaction of liquid and solid effluent into gaseous effluent
JP6826064B2 (ja) * 2018-03-16 2021-02-03 株式会社東芝 成膜装置
KR102228180B1 (ko) * 2021-01-21 2021-03-16 주식회사 미래보 유기막 증착 공정 시 발생하는 반응 부산물 포집 장치
CN113237729A (zh) * 2021-05-12 2021-08-10 北京大学 一种利用气压变化调控热量传递方式的VOCs捕集装置和方法
KR102735947B1 (ko) * 2022-04-01 2024-11-29 우성이엔디주식회사 고착 파우더 제거가 용이한 트랜스퍼 모듈

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS601827A (ja) * 1983-06-20 1985-01-08 Nec Corp Cvd装置
DD216637A1 (de) * 1983-06-20 1984-12-19 Mikroelektronik Zt Forsch Tech Vorrichtung zum reinigen von cl-haltigen abgasen aus plasmaanlagen
JPS60234313A (ja) * 1984-05-07 1985-11-21 Hitachi Ltd プラズマ処理装置
JPS627120A (ja) * 1985-07-03 1987-01-14 Canon Inc 堆積膜形成装置
JPS6328869A (ja) * 1986-07-22 1988-02-06 Nec Corp Cvd装置
US4753192A (en) * 1987-01-08 1988-06-28 Btu Engineering Corporation Movable core fast cool-down furnace
JPS63291893A (ja) * 1987-05-22 1988-11-29 Toshiba Corp 化合物半導体気相成長装置
JPS6453075A (en) * 1987-08-24 1989-03-01 Hitachi Ltd Vacuum exhaust device
US4940213A (en) * 1987-08-24 1990-07-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Exhaust processing apparatus
FR2623728B1 (ja) * 1987-11-30 1990-04-06 Air Liquide
JPH0387372A (ja) * 1988-07-22 1991-04-12 Canon Inc 堆積膜形成方法
EP0382984A1 (en) * 1989-02-13 1990-08-22 L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude Thermal decomposition trap
JPH04136175A (ja) * 1990-09-26 1992-05-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜形成装置
JPH05154334A (ja) * 1991-12-11 1993-06-22 Fujitsu Ltd 半導体製造装置の排気ポンプシステム
JP3547799B2 (ja) * 1994-07-19 2004-07-28 富士通株式会社 コールドトラップ及び半導体装置の製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5819683A (en) 1998-10-13
TW353766B (en) 1999-03-01
KR100284236B1 (ko) 2001-04-02
JPH08299784A (ja) 1996-11-19
KR960042937A (ko) 1996-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3246708B2 (ja) トラップ装置及びこれを用いた未反応処理ガス排気機構
US6706334B1 (en) Processing method and apparatus for removing oxide film
US4138306A (en) Apparatus for the treatment of semiconductors
KR100445018B1 (ko) 고종횡비 실리콘 반도체 디바이스 콘텍트들을 금속화하는 방법 및 장치
US5704214A (en) Apparatus for removing tramp materials and method therefor
US4817558A (en) Thin-film depositing apparatus
US5972114A (en) Film deposition apparatus with anti-adhesion film and chamber cooling means
KR880000472B1 (ko) 화학 증착 장치 및 방법
KR100407417B1 (ko) 액체 선구물질을 사용하여 금속층을 화학 증착하는 처리 시스템 및 방법
US20100264117A1 (en) Plasma processing system and plasma processing method
JPH11195648A (ja) 熱処理装置
WO2007099957A1 (ja) プラズマ処理装置およびそれに用いる基板加熱機構
JP2009544853A (ja) 構成部品の表面を処理するためのシステムおよび方法
JPH09202973A (ja) 成膜処理装置の排気システム構造
JP2007266595A (ja) プラズマ処理装置及びそれに用いる基板加熱機構
US5478400A (en) Apparatus for fabricating semiconductor devices
JP3297857B2 (ja) クラスタツール装置
JP3256037B2 (ja) 熱処理装置
JP3098093B2 (ja) 化学気相成長装置
JPH07106262A (ja) 熱処理装置
JP3173698B2 (ja) 熱処理方法及びその装置
JPH111773A (ja) 排気装置および排気方法
JPH10223620A (ja) 半導体製造装置
TWI848223B (zh) 基材處理裝置及方法
JP4522195B2 (ja) 半導体製造装置用の切換え弁

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131102

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees