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JP3207323B2 - Optical fiber test method - Google Patents

Optical fiber test method

Info

Publication number
JP3207323B2
JP3207323B2 JP21687694A JP21687694A JP3207323B2 JP 3207323 B2 JP3207323 B2 JP 3207323B2 JP 21687694 A JP21687694 A JP 21687694A JP 21687694 A JP21687694 A JP 21687694A JP 3207323 B2 JP3207323 B2 JP 3207323B2
Authority
JP
Japan
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optical fiber
waveform
light
intensity
incident
Prior art date
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Application number
JP21687694A
Other languages
Japanese (ja)
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JPH0882573A (en
Inventor
浩 小山田
秀夫 平沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=16695304&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP3207323(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Shin Etsu Chemical Co Ltd filed Critical Shin Etsu Chemical Co Ltd
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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、オプティカル・タイム
ドメイン・リフレクトメータ(以下、OTDR)による
光ファイバの試験方法、特に、通信手段として利用され
る光ファイバの伝送損失やレーリー散乱係数、後方散乱
捕集率の変動といった特性を試験する方法に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for testing an optical fiber using an optical time domain reflectometer (hereinafter referred to as OTDR), and more particularly, to a transmission loss, a Rayleigh scattering coefficient, and a backscatter of an optical fiber used as a communication means. The present invention relates to a method for testing characteristics such as a change in the collection rate.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ファイバの特定の波長での伝送損失を
測定する手段のひとつに、OTDRで光ファイバに入射
した光パルスの光強度波形を表示する方法がある。図6
に示されるように、光ファイバ20の一端から光パルス
21aを入射させ、光パルス21aはファイバ20内を
伝達する途中でレーリー散乱する。この散乱光の一部が
戻ってきて、光パルス21aの入射端から後方散乱光2
1bとして出射する。OTDRは、光パルス21aが光
ファイバ20に入射してから後方散乱光21bが出射す
るまでの時間と、後方散乱光21bの強度とを測定する
ものである。測定した時間を光速で割ると光パルス21
aの散乱位置30が算出できる。後方散乱光21bの強
度から光ファイバ20の特性、特に伝送損失が評価でき
る。
2. Description of the Related Art One of means for measuring transmission loss at a specific wavelength of an optical fiber is a method of displaying an optical intensity waveform of an optical pulse incident on the optical fiber by OTDR. FIG.
As shown in (1), an optical pulse 21a is incident from one end of the optical fiber 20, and the optical pulse 21a undergoes Rayleigh scattering during transmission through the fiber 20. A part of the scattered light returns and the backward scattered light 2 from the incident end of the light pulse 21a.
Emitted as 1b. The OTDR measures the time from when the light pulse 21a enters the optical fiber 20 to when the backscattered light 21b is emitted, and the intensity of the backscattered light 21b. Dividing the measured time by the speed of light gives the light pulse 21
The scattering position 30 of a can be calculated. Characteristics, in particular the transmission loss of the optical fiber 20 from the intensity of the backscattered light 21b can be evaluated.

【0003】P.Di Vita and U.Rossi:"Backscattering
Measurements in Optical Fibers:Separation of Power
Decay from Imperfection Contribution",Electron.Le
tt.,1979,15,pp.467〜469 によると、後方散乱光の強度
は下記式(1)のように表される。
[0003] P.Di Vita and U.Rossi: "Backscattering
Measurements in Optical Fibers: Separation of Power
Decay from Imperfection Contribution ", Electron.Le
According to tt., 1979, 15, pp. 467-469, the intensity of the backscattered light is represented by the following equation (1).

【0004】[0004]

【数1】 (Equation 1)

【0005】式中、zはファイバの長手方向の位置、P
0 は入射光の強度、αs (z) はレーリー散乱係数、B
(z) はバックスキャッターキャプチャーフラクション
(後方散乱捕集率)、γ(x) はファイバ位置xにおける
損失を示す。
[0005] where z is the longitudinal position of the fiber, P
0 is the intensity of the incident light, α s (z) is the Rayleigh scattering coefficient, B
(z) indicates the backscatter capture fraction (backscatter collection rate), and γ (x) indicates the loss at the fiber position x.

【0006】OTDRによって示される光強度波形は、
光の強度をdBスケールで表示したものである。この波
形をS(z) とすると、S(z) は下記式(2)で表され
る。
The light intensity waveform indicated by OTDR is
The light intensity is represented on a dB scale. Assuming that this waveform is S (z), S (z) is represented by the following equation (2).

【0007】[0007]

【数2】 (Equation 2)

【0008】後方散乱捕集率B(z) 、損失項γ(x) が長
手方向に安定している場合、S(z)は図7に示されるよ
うに、長手方向に単調減少する直線(実線部分)とな
り、この直線の傾きから単位長当たりの伝送損失を求め
ることができる。
When the backscattering collection rate B (z) and the loss term γ (x) are stable in the longitudinal direction, S (z) is linearly decreased in the longitudinal direction as shown in FIG. The transmission loss per unit length can be obtained from the slope of this straight line.

【0009】B(z) 、γ(x) が長手方向に変動している
場合、S(z) の長手方向に単調減少している直線(実線
部分)がうねりのある曲線(点線)となる。しかしなが
ら式(2)には、αs (z) やB(z) と、γ(x) とが共に
存在するため、波形のうねりがαs (z) やB(z) の変動
に起因するうねりであるのか、γ(x) の変動に起因する
うねりであるのか不明確であった。
When B (z) and γ (x) vary in the longitudinal direction, a straight line (solid line) monotonically decreasing in the longitudinal direction of S (z) becomes a wavy curve (dotted line). . However, in equation (2), since both α s (z) and B (z) and γ (x) exist, the undulation of the waveform is caused by the fluctuation of α s (z) and B (z). It was unclear whether it was swelling or swelling caused by a change in γ (x).

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】本発明は前記の課題を
解決するためなされたもので、OTDR(オプティカル
・タイムドメイン・リフレクトメータ)によって表示さ
れる波形のうねりがレーリー散乱係数αs (z) や後方散
乱捕集率B(z) の変動に起因しているのか、伝送損失γ
(x) の変動に起因しているのかを簡易に判別することが
できる光ファイバの試験方法を提供することが目的であ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and the wave of a waveform displayed by an OTDR (optical time domain reflectometer) has a Rayleigh scattering coefficient α s (z). Or the variation in the backscattering collection rate B (z), the transmission loss γ
It is an object of the present invention to provide an optical fiber test method that can easily determine whether the change is caused by the variation of (x).

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めになされた本発明の光ファイバの試験方法を図1より
説明する。光ファイバ20の一端から光パルス21aを
入射させ光ファイバ20内で散乱し、入射方向とは逆の
方向に伝搬する後方散乱光21bの波形を、光パルス2
1aが入射した一端から観測して、該後方散乱光の時間
差を光速で割って算出される散乱位置30における強度
を算出する。前記一端とは反対側の一端から光パルス2
2aを入射させ、散乱して戻ってきた別の後方散乱光2
2bの波形を前記反対側の一端から観測して、該別の後
方散乱光の時間差を光速で割って算出される散乱位置3
における強度を算出する。前記によって算出された2
つの散乱位置30が一致した波形の強度を計算処理する
ことによって光ファイバ20の光学特性を求める。
FIG. 1 shows a method for testing an optical fiber according to the present invention which has been made to achieve the above object. An optical pulse 21a is incident from one end of the optical fiber 20, is scattered in the optical fiber 20, and the waveform of the backscattered light 21b propagating in a direction opposite to the incident direction is represented by an optical pulse 2
Observed from one end where 1a is incident , the time of the backscattered light
The intensity at the scattering position 30 calculated by dividing the difference by the speed of light is calculated. Light pulse 2 from one end opposite to the one end
2a is incident, and another backscattered light 2 scattered back
Observing the waveform of 2b from the opposite end ,
Position 3 calculated by dividing the time difference between the scattered lights by the speed of light
To calculate the intensity at 0. 2 calculated by the above
The optical characteristics of the optical fiber 20 are obtained by calculating the intensity of the waveform at which the two scattering positions 30 coincide.

【0012】さらに、この計算処理によって光ファイバ
20の所位置における局所的な伝送損失を求める。
Furthermore, obtaining the local transmission loss in Nozomu Tokoro position of the optical fiber 20 by the calculation processing.

【0013】[0013]

【作用】光ファイバ20の一端から光パルス21aを入
射させると、光パルス21aは光ファイバ20内で散乱
する。散乱光の一部は入射方向とは逆の方向に伝搬し
て、光パルス21aが入射した一端から後方散乱光21
bとして出射する。この後方散乱光21bの波形を観測
して散乱位置30および強度を算出する。
When the optical pulse 21a is incident from one end of the optical fiber 20, the optical pulse 21a is scattered in the optical fiber 20. A part of the scattered light propagates in the direction opposite to the incident direction, and the back scattered light 21
It emits as b. The scattering position 30 and intensity are calculated by observing the waveform of the backscattered light 21b.

【0014】前記一端とは反対側の一端から光パルス2
2aを入射させる。同様に散乱して光パルス22aが入
射した一端から、後方散乱光22bが出射する。後方散
乱光22bの波形を観測して散乱位置30および強度を
算出する。算出された2つの散乱位置30を比較して、
散乱位置30が一致した波形の強度を加減して、レーリ
ー散乱係数または後方散乱捕集率の変動に起因するうね
り成分と、伝送損失の変動に起因するうねり成分とを分
離した式を作り、光ファイバ20の伝送損失を求める。
An optical pulse 2 is applied from one end opposite to the one end.
2a is incident. Similarly, backscattered light 22b is emitted from one end where the light pulse 22a is scattered and incident. The scattering position 30 and the intensity are calculated by observing the waveform of the backscattered light 22b. By comparing the calculated two scattering positions 30,
By adjusting the intensity of the waveform at which the scattering position 30 coincides, an equation is obtained in which the swell component caused by the fluctuation of the Rayleigh scattering coefficient or the backscatter collection rate and the swell component caused by the fluctuation of the transmission loss are separated. The transmission loss of the fiber 20 is determined.

【0015】光ファイバの一端からパルスを入射させ、
OTDRによって表示された波形の強度をS1(z)とす
る。S1(z)は下記式(3)
A pulse is applied from one end of the optical fiber,
The intensity of the waveform displayed by the OTDR is defined as S 1 (z). S 1 (z) is given by the following equation (3)

【0016】[0016]

【数3】 (Equation 3)

【0017】で求められる。式中、zはファイバの長手
方向の位置、P0 は入射光の強度、αs (z) はレーリー
散乱係数、B(z) はバックスキャッター・キャプチャー
・フラクション(後方散乱捕集率)、γ(x) はファイバ
位置xにおける損失を示す。
[0017] Where z is the longitudinal position of the fiber, P 0 is the intensity of the incident light, α s (z) is the Rayleigh scattering coefficient, B (z) is the backscatter capture fraction (backscatter collection rate), γ (x) indicates the loss at the fiber position x.

【0018】さらに、前記一端とは反対側の一端からパ
ルスを入射させ、OTDRによって測定された波形の強
度をS2(L-Z)とする。S2(L-Z)は下記式(4)
Further, a pulse is applied from one end opposite to the one end, and the intensity of the waveform measured by OTDR is defined as S 2 (LZ). S 2 (LZ) is given by the following equation (4)

【0019】[0019]

【数4】 (Equation 4)

【0020】で求められる。Lは光ファイバの長さを示
す。
[0020] L indicates the length of the optical fiber.

【0021】S1(z)とS2(L-Z)との和を2I(z) 、S
1(z)とS2(L-Z)との差を2D(z) とすると、I(z) は式
(3)と式(4)から式(5)で示され、D(z) は式
(3)と式(4)から式(6)で示される。
The sum of S 1 (z) and S 2 (LZ) is 2I (z), S
Assuming that the difference between 1 (z) and S 2 (LZ) is 2D (z), I (z) is expressed by Expression (5) from Expressions (3) and (4), and D (z) is expressed by Expression (5). Expression (6) is obtained from expression (3) and expression (4).

【0022】[0022]

【数5】 (Equation 5)

【0023】[0023]

【数6】 (Equation 6)

【0024】式(5)はγ(x) が分離した式であり、式
(6)はαs (z) やB(z) が分離した式である。t1
よびt2 は定数である。αs (z) やB(z) と、γ(x) と
を分離した式を作ることによって、波形がうねったもの
となった場合、うねりが散乱によるものか、伝送損失に
よるものかを明確にすることができる。
Equation (5) is an equation in which γ (x) is separated, and Equation (6) is an equation in which α s (z) and B (z) are separated. t 1 and t 2 are constants. By formulating α s (z) or B (z) and γ (x) separately, if the waveform becomes undulating, it is clear whether the undulation is due to scattering or transmission loss. Can be

【0025】[0025]

【実施例】以下、本発明の実施例を詳細に説明する。図
1は本発明を適用する光ファイバの試験方法の原理を示
す概略図である。同図に示されるように、光ファイバ2
0の一端から光パルス21aを入射させる。光パルス2
1aは光ファイバ20内で散乱する。散乱光の一部は入
射方向とは逆の方向に伝搬して、光パルス21aが入射
した一端から後方散乱光21bとして出射する。この後
方散乱光21bの波形を観測して散乱位置30および強
度を算出する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail. FIG. 1 is a schematic diagram showing the principle of an optical fiber testing method to which the present invention is applied. As shown in FIG.
The light pulse 21a is incident from one end of the zero. Light pulse 2
1a is scattered in the optical fiber 20. Part of the scattered light propagates in the direction opposite to the incident direction, and is emitted as backscattered light 21b from one end where the light pulse 21a is incident. The scattering position 30 and intensity are calculated by observing the waveform of the backscattered light 21b.

【0026】前記一端とは反対側の一端から光パルス2
2aを入射させる。光パルス22aは、光ファイバ20
内で散乱する。散乱光の一部は、光パルス22aが入射
した一端から後方散乱光22bとして出射する。後方散
乱光22bの波形を観測して散乱位置30および強度を
算出する。算出された2つの散乱位置30を比較して、
相対的に散乱位置30が一致した波形の強度を加減して
光ファイバ20の伝送損失を求める。
Light pulse 2 is applied from one end opposite to the one end.
2a is incident. The optical pulse 22a is
Scattered within. Part of the scattered light is emitted as back scattered light 22b from one end where the light pulse 22a is incident. The scattering position 30 and the intensity are calculated by observing the waveform of the backscattered light 22b. By comparing the calculated two scattering positions 30,
The transmission loss of the optical fiber 20 is obtained by adjusting the intensity of the waveform whose scattering position 30 is relatively coincident.

【0027】図2は、光ファイバの試験装置の概略図で
ある。同図に示されるように、制御器3にパネル2、表
示器8、ランダムアクセスメモリ7(以下、RAM)お
よび波形測定器10が接続されている。測定に必要なパ
ラメータは制御器3に入力されており、制御器3はこれ
らの情報をRAM7に記憶している。波形測定器10
は、接合器1、光源4、検出器5、演算器6から構成さ
れている。接合器1には光ファイバ20の一端が接続さ
れている。
FIG. 2 is a schematic view of an optical fiber test apparatus. As shown in FIG. 1, a panel 2, a display 8, a random access memory 7 (hereinafter, RAM), and a waveform measuring device 10 are connected to the controller 3. The parameters necessary for the measurement are input to the controller 3, and the controller 3 stores these information in the RAM 7. Waveform measuring device 10
Is composed of a splicer 1, a light source 4, a detector 5, and a calculator 6. One end of an optical fiber 20 is connected to the splicer 1.

【0028】試験方法を動作的に説明すると、先ず、波
形測定器10の接合器1に光ファイバ20の一端を接続
し、パネル2から制御器3に波形測定開始の命令を送
る。この命令に応答して制御器3は作動し、波形測定器
10に同じ命令を送る。波形測定器10内の光源4は制
御器3からの命令によって、接合器1に接続されている
光ファイバ20の一端に光パルス信号を入射させる。光
パルス信号は、光ファイバ20内で散乱し、後方散乱光
となり接合器1を介して検出器5に送られる。後方散乱
光の時間差および強度は演算器6により計算処理され、
制御器3に送られる。散乱位置は散乱光の時間差を光速
で割って算出される。制御器3は散乱位置および強度の
データをRAM7に保存し、波形を表示器8に表示す
る。
First, one end of an optical fiber 20 is connected to the splicer 1 of the waveform measuring device 10, and a command to start waveform measurement is sent from the panel 2 to the controller 3. In response to this command, the controller 3 operates and sends the same command to the waveform measuring device 10. The light source 4 in the waveform measuring device 10 causes an optical pulse signal to be incident on one end of the optical fiber 20 connected to the joining device 1 according to a command from the controller 3. The optical pulse signal is scattered in the optical fiber 20 and becomes backscattered light, which is sent to the detector 5 via the splicer 1. The time difference and the intensity of the backscattered light are calculated and processed by the calculator 6,
It is sent to the controller 3. The scattering position is calculated by dividing the time difference of the scattered light by the speed of light. The controller 3 stores the scattering position and intensity data in the RAM 7 and displays the waveform on the display 8.

【0029】それぞれ別の端部から光パルスを入射させ
て測定した波形では、ファイバ20の両端の位置関係が
互いに逆となる。制御器3はファイバ20で生じるフレ
ネル反射によって、2つの波形の端部の位置を各々求め
る。ファイバ20内の散乱位置30(図1参照)が一致
した波形の強度を加減し、すでに述べてある式(5)、
式(6)を作る。式(5)、式(6)よりレーリー散乱
係数αs (z) および後方散乱捕集率B(z) と、伝送損失
γ(x) とが算出される。制御器3はγ(x) 成分を分離し
た波形であるI(z) と、αs (z) およびB(z) 成分を分
離した波形であるD(z) とを表示器8に表示する。
In the waveforms measured by applying light pulses from different ends, the positional relationship between the two ends of the fiber 20 is opposite to each other. The controller 3 determines the positions of the ends of the two waveforms by the Fresnel reflection occurring in the fiber 20. By adjusting the intensity of the waveform where the scattering positions 30 (see FIG. 1) in the fiber 20 coincide, the equation (5) described above is used.
Formula (6) is created. From the equations (5) and (6), the Rayleigh scattering coefficient α s (z), the backscatter collection rate B (z), and the transmission loss γ (x) are calculated. The controller 3 displays, on the display 8, the waveform I (z) obtained by separating the γ (x) component and the waveform D (z) obtained by separating the αs (z) and B (z) components. .

【0030】長さが20.4Kmの分散シフトシングル
モード光ファイバ20を波形測定器10の接合器1に接
続し、波長1550nm、パルス幅1μsの光パルスを
ファイバ20に入射させ、前記の方法で波形の測定を行
った。後方散乱光のサンプリング間隔は80nsであっ
た。
A dispersion-shifted single-mode optical fiber 20 having a length of 20.4 km is connected to the splicer 1 of the waveform measuring instrument 10 and an optical pulse having a wavelength of 1550 nm and a pulse width of 1 μs is incident on the fiber 20. The waveform was measured. The sampling interval of the backscattered light was 80 ns.

【0031】測定された光強度波形を図3に示す。S
1(z)およびS2(L-Z)は、光ファイバのそれぞれ別の一端
から光パルスを入射させたときの波形の強度である。同
図に示されるように、S1 (z) とS2(L-Z)とではOTD
Rによって表示された波形のファイバの位置を示すzの
方向が互いに逆になっている。このため、S1 (z) とS
2(L-Z)との一端を設定してから、それぞれの一端が一致
するように強度を互い違いの方向に計算する。それぞれ
の波形についてフレネル反射の位置に基づき、ファイバ
端を検出した。ファイバの散乱位置が同じであるS1
(z) とS2(L-Z)との和およびS1 (z) とS2(L-Z)との差
を計算した。
FIG. 3 shows the measured light intensity waveform. S
1 (z) and S 2 (LZ) are waveform intensities when an optical pulse is applied from another end of the optical fiber. As shown in the figure, OTD is used for S 1 (z) and S 2 (LZ).
The directions of z indicating the positions of the fibers of the waveform indicated by R are opposite to each other. Therefore, S 1 (z) and S
After setting one end with 2 (LZ), calculate the intensity in alternate directions so that each end matches. The fiber end was detected for each waveform based on the position of Fresnel reflection. S 1 where the scattering positions of the fibers are the same
(z) that calculates the difference of the sum and S 1 and (z) S 2 and (LZ) and S 2 (LZ).

【0032】強度が( S (z) +S(L-Z) )/2の波
形および( S (z) −S(L-Z) )/2の波形を図4に
示す。同図に示されているI(z) は( S (z) +S(L-
Z))/2であり、D(z) は( S (z) −S(L-Z) )/
2である。I(z) は伝送損失項を示す項が分離されてお
り、D(z) はレーリー散乱係数及び後方散乱捕集率が分
離されている。
FIG. 4 shows a waveform having an intensity of (S (z) + S (LZ)) / 2 and a waveform having an intensity of (S (z) -S (LZ)) / 2. I (z) shown in the figure is (S (z) + S (L-
Z)) / 2, and D (z) is (S (z) −S (LZ)) /
2. For I (z), the term indicating the transmission loss term is separated, and for D (z), the Rayleigh scattering coefficient and the backscatter collection rate are separated.

【0033】さらに、波形の伝送損失項の微係数を計
算し、長手方向の局所的な伝送損失の変化を図5に示し
た。
Furthermore, to calculate the fine frequency coefficients of transmission loss term in the waveform, showing changes in the longitudinal direction of the local transmission loss in FIG.

【0034】[0034]

【発明の効果】散乱位置が同一である波形の強度を加減
することによって、OTDR(オプティカル・タイムド
メイン・リフレクトメーター)によって表示される光強
度波形のうねりがレーリー散乱係数αs (z) および後方
散乱捕集率B(z) によるものか、伝送損失γ(x) による
ものかを判別することができる。このため光ファイバの
伝送損失を簡易に評価できるようになった。
By adjusting the intensity of the waveform having the same scattering position, the undulation of the light intensity waveform displayed by the OTDR (Optical Time Domain Reflectometer) is reduced by the Rayleigh scattering coefficient α s (z) and the backward. It is possible to determine whether it is based on the scattering collection rate B (z) or the transmission loss γ (x). For this reason, the transmission loss of the optical fiber can be easily evaluated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明を適用する光ファイバの試験方法の原理
を示す概略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the principle of an optical fiber test method to which the present invention is applied.

【図2】光ファイバの試験装置の概略図である。FIG. 2 is a schematic diagram of an optical fiber test apparatus.

【図3】本発明を適用する試験方法によって測定された
光強度波形を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a light intensity waveform measured by a test method to which the present invention is applied.

【図4】本発明を適用する試験方法によって測定され、
相対的に散乱位置が一致した光強度波形を加減した図で
ある。
FIG. 4 is measured by a test method applying the present invention;
It is the figure which adjusted the light intensity waveform which the scattering position matched relatively.

【図5】光ファイバの長手方向の局所的な伝送損失の変
化を示した図である。
FIG. 5 is a diagram showing a change in local transmission loss in a longitudinal direction of an optical fiber.

【図6】従来の光ファイバの試験方法の原理を示す概略
図である。
FIG. 6 is a schematic view showing the principle of a conventional optical fiber testing method.

【図7】従来の方法によって測定された光強度波形を示
す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a light intensity waveform measured by a conventional method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1は接合器、2はパネル、3は制御器、4は光源、5は
検出器、6は演算器、7はランダムアクセスメモリ、8
は表示器、10は波形測定器、20は光ファイバ、21
a・22aは光パルス、21b・22bは後方散乱光、
30は散乱位置である。
1 is a junction device, 2 is a panel, 3 is a controller, 4 is a light source, 5 is a detector, 6 is a calculator, 7 is a random access memory, 8
Is a display, 10 is a waveform measuring instrument, 20 is an optical fiber, 21
a · 22a is a light pulse, 21b · 22b is backscattered light,
30 is a scattering position.

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光ファイバの一端から光パルスを入射さ
せ該光ファイバ内で散乱し、入射方向とは逆の方向に伝
搬する後方散乱光の波形を、光パルスが入射した一端か
ら観測して、該後方散乱光の時間差を光速で割って算出
される散乱位置における強度を算出し、該一端とは反対
側の一端から光パルスを入射させ、散乱して戻ってきた
別の後方散乱光の波形を前記反対側の一端から観測し
、該別の後方散乱光の時間差を光速で割って算出され
散乱位置における強度を算出し、前記により算出され
た2つの散乱位置が一致した波形の強度を計算処理する
ことによって該光ファイバの光学特性を求めることを特
徴とする光ファイバの試験方法。
An optical pulse is made incident from one end of an optical fiber, scattered in the optical fiber, and the waveform of backscattered light propagating in a direction opposite to the incident direction is observed from one end where the optical pulse is made incident. Calculated by dividing the time difference of the backscattered light by the speed of light
The intensity at scattering position calculated to be, and the end applying light pulses from the opposite end, scattering the different waveform of the backscattered light that has returned to be observed from one end of the opposite side, the Calculated by dividing the time difference of another backscattered light by the speed of light
That the intensity in the scattered position is calculated, the method of testing an optical fiber, characterized in that to determine the optical characteristics of the optical fiber by the two scattered positions calculated to computing the intensity of the matched waveform by the.
【請求項2】 光ファイバの一端から光パルスを入射さ
せ該光ファイバ内で散乱し、入射方向とは逆の方向に伝
搬する後方散乱光の波形を、光パルスが入射した一端か
ら観測して散乱位置および強度を算出し、該一端とは反
対側の一端から光パルスを入射させ、散乱して戻ってき
た別の後方散乱光の波形を前記反対側の一端から観測し
て散乱位置および強度を算出し、前記により算出された
2つの散乱位置が一致した波形の伝送損失項の微分係数
を計算処理することによって該光ファイバの所位置に
おける局所的な伝送損失を求めることを特徴とする光フ
ァイバの試験方法。
2. An optical pulse is incident from one end of an optical fiber, scattered in the optical fiber, and the waveform of backscattered light propagating in a direction opposite to the incident direction is observed from one end where the optical pulse is incident. Calculate the scattering position and intensity, apply a light pulse from one end opposite to the one end, observe the waveform of another backscattered light that has been scattered and returned from one end on the opposite side, and observe the scattering position and intensity. calculates, to obtain the local transmission loss in Nozomu Tokoro position of the optical fiber by the two scattering position calculated by said to computing the differential coefficient <br/> transmission loss term in the identical waveforms A method for testing an optical fiber, comprising:
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