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JP3199311B2 - 表示装置用基板、この基板を用いた液晶装置、表示装置、投射型液晶表示装置、及び表示装置用基板の製造方法 - Google Patents

表示装置用基板、この基板を用いた液晶装置、表示装置、投射型液晶表示装置、及び表示装置用基板の製造方法

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JP3199311B2
JP3199311B2 JP29246897A JP29246897A JP3199311B2 JP 3199311 B2 JP3199311 B2 JP 3199311B2 JP 29246897 A JP29246897 A JP 29246897A JP 29246897 A JP29246897 A JP 29246897A JP 3199311 B2 JP3199311 B2 JP 3199311B2
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substrate
pixel electrode
display device
pixel
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弘一 山岸
榑松  克巳
理 小山
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Canon Inc
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、表示装置用基板、
この基板を用いた液晶装置、表示装置、投射型液晶表示
装置、及び表示装置用基板の製造方法に係わり、特に液
晶素子に用いる半導体基板に好適に用いられる表示装置
用基板の構造及び製造方法、この基板を用いた液晶装
置、表示装置、投射型液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】今日、世の中はマルチメディア時代に入
り、画像情報でコミュニケーションを図る機器の重要性
がますます高まりつつある。なかでも、液晶表示装置
は、薄型で消費電力が小さいため注目されており、半導
体にならぶ基幹産業にまで成長している。液晶表示装置
は、現在、10インチサイズのノートサイズのパソコン
に主に使用されている。そして将来は、パソコンのみで
なく、ワークステーションや家庭用のテレビとして、さ
らに画面サイズの大きい液晶表示装置が使用されると考
えられる。しかし、画面サイズの大型化に伴い、製造装
置が高価になるばかりでなく、大画面を駆動するために
は、電気的に厳しい特性が要求される。このため、画面
サイズの大型化とともに、製造コストがサイズの2〜3
乗に比例するなど急激に増加する。
【0003】そこで、最近、小型の液晶表示パネルを作
製し、光学的に液晶画像を拡大して表示するプロジェク
ション(投影)方式が注目されている。これは、半導体
の微細化にともない、性能やコストが良くなるスケーリ
ング則と同様に、サイズを小さくして、特性を向上さ
せ、同時に、低コスト化も図ることができるからであ
る。これらの点から、液晶表示パネルをTFT型とした
とき、小型で十分な駆動力を有するTFTが要求され、
TFTもアモルファスSiを用いたものから多結晶Si
を用いたものに移行しつつある。通常のテレビに使われ
るNTSC規格などの解像度レベルの映像信号は、あま
り高速の処理を必要としない。
【0004】このため、TFTのみでなく、シフトレジ
スタもしくはデコーダといった周辺駆動回路まで多結晶
Siで製造して、表示領域と周辺駆動回路が一体構造に
なった液晶表示装置ができる。しかし、多結晶Siで
も、単結晶Siにはおよばず、NTSC規格より解像度
レベルの大きい高品位テレビや、コンピュータの解像度
規格でいうXGA(eXtended Graphic
s Array)、SXGA(Super eXten
ded Graphics Array)クラスの表示
を実現しようとすると、シフトレジスタなどは複数に分
割配置せざるを得ない。この場合、分割のつなぎ目に相
当する表示領域にゴーストと呼ばれるノイズが発生し、
その問題を解決する対策がこの分野では望まれている。
【0005】また一方、多結晶Siの一体構造の表示装
置より、駆動力が極めて高い単結晶Si基板を用いる表
示装置も注目を集めている。この場合、周辺駆動回路の
トランジスタの駆動力は申し分ないので、上述したよう
な分割駆動をする必要はない。このため、ノイズなどの
問題は解決できる。
【0006】これらの多結晶Siでも、単結晶Siで
も、TFTのドレインと反射電極とを接続して、反射電
極と透明な共通電極との間に液晶を挟持して反射型液晶
素子を形成し、さらに同一半導体基板上にその液晶素子
を走査のための水平・垂直シフトレジスタを形成した反
射型液晶装置が提供できる。
【0007】ところで、反射型液晶装置において、液晶
画素の画素電極に光が入射すると、表面の凹凸によって
入射光が四方八方に散乱され、光の反射効率が非常に小
さくなり、また、この表面凹凸は、液晶実装工程の配向
膜ラビング工程において、配向不良の原因となり、その
結果、液晶の配向不良を引き起こし、コントラストの低
下により表示画像の画質は悪化し、また、各画素電極間
の溝の部分はラビングされないため、液晶配向不良の原
因になると同時に、表面凹凸と相俟って画素電極間の横
方向電界を発生し、輝線の原因となる。この輝線の発生
は表示画像のコントラストを著しく悪化させ、画質が低
下することになる。
【0008】このような問題を解決し画素電極平面の凹
凸をなくし、該凹凸に由来する配向不良や乱反射を防止
し、高画質な表示を行う液晶表示装置とその製造方法と
して以下に説明する液晶表示装置とその製造方法があ
る。
【0009】ここで説明する液晶表示装置は、各画素毎
にスイッチングトランジスタを配したアクティブマトリ
ックス基板と、対向電極基板間に液晶を挟持してなるア
クティブマトリックス型の液晶表示装置であって、全画
素電極表面が同一平面でアクティブマトリックス基板に
対して平行に位置し、各画素電極の側壁の少なくとも一
部が絶縁物に接しているものである。この液晶表示装置
で、ケミカルメカニカルポリシング(Chemical
Mechanical Polishing、以下
「CMP」と記す)を利用することにより、画素電極表
面を研磨によって形成するため、該画素電極表面が鏡面
状に平滑に形成されると同時に、全画素電極表面を同一
平面に形成することができる。さらに、絶縁層を形成し
た上に画素電極層を形成、或いは、ホールを形成した画
素電極層上に絶縁層を成膜し、上記研磨工程を行なうこ
とにより、画素電極間が絶縁層により良好に埋められ、
完全に凹凸がなくなる。よって、該凹凸によって生じた
乱反射や配向不良が防止され、高画質な画像表示が可能
となる。
【0010】以下、図29及び図30を参照しつつ、反
射型の液晶表示装置の場合について説明する。そのアク
ティブマトリックス基板の製造工程及び液晶素子の断面
図を図29、図30に示す。尚、図29、図30には画
素部を示しているが、画素部形成工程と同時に、画素部
のスイッチングトランジスタを駆動するためのシフトレ
ジスタ等周辺駆動回路も同一基板上に形成することがで
きる。
【0011】不純物濃度が1015cm-3以下であるn型
シリコン半導体基板201を部分熱酸化し、LOCOS
202を形成し、該LOCOS202をマスクとしてボ
ロンをドーズ量1012cm-2程度イオン注入し、不純物
濃度1016cm-3程度のp型不純物領域であるPWL2
03を形成する。この基板201を再度熱酸化し、酸化
膜厚1000オングストローム以下のゲート酸化膜20
4を形成する(図29(a))。
【0012】リンを1020cm-3程度ドープしたn型ポ
リシリコンからなるゲート電極205を形成した後、基
板201全面にリンをドーズ量1012cm-2程度イオン
注入し、不純物濃度1016cm-3程度のn型不純物領域
であるNLD206を形成し、引き続き、パターニング
されたフォトレジストをマスクとして、リンをドーズ量
1015cm-2程度イオン注入し、不純物濃度1019cm
-3程度のソース、ドレイン領域207,207′を形成
する(図29(b))。
【0013】基板201全面に層間膜であるPSG20
8を形成した。このPSG208はNSG(Nondo
pe Silicate Glass)/BPSG(B
oro−Phospho−Silicate Glas
s)や、TEOS(Tetraetoxy−Silan
e)で代替することも可能である。ソース、ドレイン領
域207,207′の直上のPSG208にコンタクト
ホールをパターニングし、スパッタリングによりAlを
蒸着した後パターニングし、Al電極209を形成する
(図29(c))。このAl電極209と、ソース、ド
レイン領域207,207′とのオーミックコンタクト
特性を向上させるために、Ti/TiN等のバリアメタ
ルを、Al電極209とソース、ドレイン領域207,
207′との間に形成するのが望ましい。
【0014】基板201全面にプラズマSiN210を
3000オングストローム程度、続いてPSG211を
10000オングストローム程度成膜する(図29
(d))。
【0015】プラズマSiN210をドライエッチング
ストッパー層として、PSG211を画素間の分離領域
のみを残すようにパターニングし、その後ドレイン領域
207′にコンタクトしているAl電極209直上にス
ルーホール212をドライエッチングによりパターニン
グする(図29(e))。
【0016】基板201上にスパッタリング、或いはE
B(Electron Beam、電子線)蒸着によ
り、画素電極213を10000オングストローム以上
成膜する(図30(f))。この画素電極213として
は、Al、Ti、Ta、W等の金属膜、或いはこれら金
属の化合物膜を用いる。
【0017】画素電極213の表面をCMPにより研磨
する(図30(g))。研磨量はPSG211厚を10
000オングストローム、画素電極厚をxオングストロ
ームとした場合、xオングストローム以上、x+100
00オングストローム未満である。
【0018】上記の工程により形成されたアクティブマ
トリックス基板はその表面にさらに配向膜215を形成
し、その表面にラビング処理等配向処理を施し、スペー
サ(不図示)を介して対向基板と貼り合わせ、その間隙
に液晶214を注入して液晶素子とする(図30
(h))。本液晶表示装置において、対向基板は透明基
板220上にカラーフィルター221、ブラックマトリ
クス222、ITO等からなる共通電極223、及び配
向膜215′から構成されている。
【0019】以下、本例の反射型液晶素子の駆動方法を
説明する。基板201にオンチップで形成されたシフト
レジスタ等の周辺回路により、ソース領域207に信号
電位を与え、それと同時にゲート電極205にゲート電
位を印加し、画素のスイッチングトランジスタをオン状
態にし、ドレイン電極207′に信号電荷を供給する。
信号電荷はドレイン領域207′と、PWL203との
間に形成されるpn接合の空乏層容量に蓄積され、Al
電極209を介して画素電極213に電位を与える。画
素電極213の電位が所望の電位に達した時点で、ゲー
ト電極205の印加電位を切り、画素スイッチングトラ
ンジスタをオフ状態にする。信号電荷は前述のpn接合
容量部に蓄積されているため、画素電極213の電位
は、次に画素スイッチングトランジスタが駆動されるま
で固定される。この固定された画素電極213の電位
が、図30(h)に示された基板201と対向基板22
0との間に封入された液晶214を駆動する。
【0020】以上説明した反射型液晶表示装置では、画
素電極213表面が平滑であり、且つ、隣接する画素電
極間間隙に絶縁層が埋め込まれているため、その上に形
成される配向膜215表面も平滑で凹凸がない。よっ
て、従来上記凹凸によって生じていた、入射光の散乱に
より光利用効率の低下、ラビング不良によるコントラス
トの低下、画素電極間の段差による横方向電界による輝
線の発生が防止され、表示画像の品質が向上する。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、画素電
極213の形成手段として、高温で成膜を行い、さらに
熱処理を行うと、残留物あるいは気体等が発生し、熱に
より反応が起こる可能性がある。特に、画素電極の底部
の角(画素電極間にある分離領域のふもと)では熱など
により画素電極と下地との反応が起こりやすい。
【0022】また、画素電極の分離領域部はCMP等を
行う場合のストッパーとしての役割も担う等の理由によ
り、ある程度の機械的強度が求められ、高精細化等を考
慮すると画素電極の分離領域部の更なる機械的強度の向
上が求められる場合もある。
【0023】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明の表示装
置用基板は、基板上に、複数の画素電極と、隣接する該
画素電極を分離する分離領域とを有し、該画素電極間に
ある分離領域のふもとに高融点の金属領域を設けたこと
を特徴とする。
【0024】また、本発明の表示装置用基板は、基板上
に、複数の画素電極と、隣接する該画素電極を分離する
分離領域とを有し、該画素電極間にある分離領域の頂上
部の角部が除去されていることを特徴とする。
【0025】また、本発明の表示装置用基板は、基板上
に、複数の画素電極と、隣接する該画素電極を分離する
分離領域とを有し、該画素電極間にある分離領域のふも
とに高融点の金属領域を設けるとともに、該画素電極間
にある分離領域の頂上部の角部が除去されていることを
特徴とする。
【0026】また、本発明の表示装置用基板は、基板上
に、画素電極形成部に対応する部分が開口された絶縁層
と、開口部に設けられた画素電極と、該絶縁層と該画素
電極との間に設けられた高融点金属層と、を有すること
を特徴とする。
【0027】本発明の液晶装置は、上記本発明の表示装
置用基板に、前記画素電極に接続されるスイッチングト
ランジスタを配し、該表示装置用基板と対向電極基板と
の間に液晶を挟持してなるものである。
【0028】本発明の投写型液晶表示装置は、上記本発
明の液晶装置を用いたことを特徴とする。
【0029】本発明の表示装置用基板の製造方法は、基
板上の絶縁層の画素電極形成部に対応する部分を開口す
る工程と、高融点金属層を堆積した後に、エッチングに
より開口部の底部の角部を残して該高融点金属層を除去
する工程と、該画素電極を構成する導電材料を堆積する
工程と、前記画素電極形成部間の絶縁層の表面が露出す
るように該導電材料を平坦化して、該絶縁層で分離され
た画素電極を形成する工程と、を有するものである。
【0030】本発明の表示装置用基板の製造方法は、基
板上の絶縁層の画素電極形成部に対応する部分を開口す
る工程と、エッチングにより画素電極形成部間の絶縁層
の頂上部の角部を除去する工程と、該画素電極を構成す
る導電材料を堆積する工程と、前記画素電極形成部間の
絶縁層の表面が露出するように該導電材料を平坦化し
て、該絶縁層で分離された画素電極を形成する工程と、
を有するものである。
【0031】本発明の表示装置用基板の製造方法は、基
板上の絶縁層の画素電極形成部に対応する部分を開口す
る工程と、高融点金属層を堆積した後に、エッチングに
より開口部の底部の角部を残して該高融点金属層を除去
するとともに、画素電極形成部間の絶縁層の頂上部の角
部を除去する工程と、該画素電極を構成する導電材料を
堆積する工程と、前記画素電極形成部間の絶縁層の表面
が露出するように該導電材料を平坦化して、該絶縁層で
分離された画素電極を形成する工程と、を有するもので
ある。
【0032】以下、本発明の作用について、好適な実施
形態に基づいて説明する。
【0033】半導体基板上に形成された液晶素子を搭載
した液晶装置であって、前記半導体基板に画素電極を形
成する前の工程で、画素電極を形成するアルミニウム
層、またはアルミニウム合金層よりも高融点をもつ層を
形成し、この半導体基板のエッチング行って、前記画素
電極の分離領域のふもとに、前記画素電極を形成するア
ルミニウム層またはアルミニウム合金層よりも高融点な
層を残す。その後、画素電極を形成するアルミニウム
層、またはアルミニウム合金層を形成すると、前記画素
電極を形成するアルミニウム層または、アルミニウム合
金層よりも高融点な層が前記画素電極の分離領域のふも
とに存在する構成とすることができる。
【0034】このような構成にすると、前記画素電極の
分離領域の機械的強度が増し、さらに熱処理を行ったと
きなどの下地との反応が抑制され、耐熱性が上がる。
【0035】また、前記画素電極を形成するアルミニウ
ム層またはアルミニウム合金層よりも高融点な層を成膜
する前の工程にTiリッチにした組成のTiNを成膜
し、エッチングの関係を選択すると、上記のように前記
画素電極の分離領域のふもとに前記高融点な層を残すと
ともに、前記画素電極の分離領域の頂上部のかどが取れ
た形状となり、後の工程のCMP等の研磨工程の負荷が
減り、さらに画素電極の反射領域が増加し、反射率が上
がる。
【0036】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。 (第1の実施例)本発明の第一の例として、アクティブ
マトリックス基板について説明する。
【0037】以下図1を参照しながらこの液晶表示装置
の製造工程について説明する。まず、p型シリコン半導
体基板301を酸化し、表面にSiNを部分形成し、こ
れをマスクとしてリンをドーズ量1012cm-2程度イオ
ン注入し、n型不純物領域であるNWL302′を形成
し、SiNを剥離し、熱酸化を施しLOCOS(Loc
al Oxidation of Silicon)酸
化膜306を形成し、該LOCOS酸化膜306をマス
クとしてボロンをドーズ量1012cm-2程度イオン注入
し、p型不純物領域であるPWL302を形成する。こ
の基板301を再度熱酸化し酸化膜厚1000Å以下の
ゲート酸化膜を形成する。基板301全面にデバイスの
しきい値を調整するための、ボロンをドーズ量1011
-2程度イオン注入する。ポリシリコンからなるゲート
電極304を形成した後、基板301全面にリンをドー
ズ量1013cm-2程度イオン注入し、n型不純物領域で
ある303′、305′を形成し、引き続き、パターニ
ングされたフォトレジストをマスクとして、リンをドー
ズ量1015cm-2程度イオン注入し、ソース、ドレイン
領域303、305を形成する。基板301全面にボロ
ンをドーズ量1012cm-2程度イオン注入し、p型不純
物領域である303′,305′を形成し、引き続き、
パターニングされたフォトレジストをマスクとして、ボ
ロンをドーズ量1015cm-2程度イオン注入し、ソー
ス、ドレイン領域303,305を形成する。基板30
1全面に層間膜であるBPSGを形成する。ソース、ド
レイン領域303,305の直上にコンタクトホールを
パターニングし、スパッタリングによりALを蒸着した
後パターニングし、AL電極を形成する。基板301全
面にプラズマSiO1膜を5000Å程度、続いてSO
G膜を4000Å程度、さらに、基板301全面にプラ
ズマSiO1膜を4000Å程度成膜する。基板301
全面にTi膜を成膜し、パターニングされたフォトレジ
スト部以外をドライエッチングし、基板301全面にプ
ラズマSiO3膜を成膜する。画素間の分離領域のみを
残すようにパターニングし、その後、基板301全面に
プラズマSiN膜を成膜する。ドレイン領域にコンタク
トしているAL電極直上にスルーホールをドライエッチ
ングによりパターニングする(図1(a))。基板30
1全面にTiN105を成膜する。次に基板301全面
にタングステン106をWF6を原料としたプラズマC
VDを用いて成膜する(図1(b))。そして、基板3
01全面をSF6 /Ar混合ガス系平行平板型プラズマ
エッチングを用いてエッチングする(図1(c))。そ
して基板301全面に画素電極312を成膜する(図1
(d))。次に画素電極312の表面をケミカルメカニ
カルポリッシング(CMP)により画素間の分離領域の
頂上と同一平面になるまで研磨する(図1(e))。こ
のようにすることによって、タングステンとTiNの選
択比は高いので、画素間の分離領域のふもとは、エッチ
ングイオンが届きにくいので、タングステンが残る。従
って、画素間の分離領域のふもとの機械的強度が増し、
また、画素電極を形成するアルミニウム層、またはアル
ミニウム合金層よりも、タングステンは高融点なので、
熱処理をおこなった時などの、下地との反応が抑制さ
れ、耐熱性が上がる。特に、プラズマSiN膜は画素間
の分離領域のふもとの部分は膜が形成しにくく、ふもと
の部分で膜が薄くなる場合があり、その結果画素電極が
下地と反応する場合があるが、この場合に、画素間の分
離領域のふもとにタングステンを形成することはさらに
有効である。
【0038】また、画素電極312の表面の凹凸がなく
なり、この凹凸によって生じていた、入射光の散乱によ
る光利用効率の低下が防止され、表示画像の品質が向上
することはいうまでもない。 (第2の実施例)ここでは、実施例1とは異なる反射型
の液晶表示装置のアクティブマトリックス基板の製造工
程を図2に沿って説明する。実施例1と同様にして基板
301上にゲート電極304、BPSG、AL電極を形
成し、層間膜をそれぞれ成膜する。その後、Ti膜を成
膜し、ドレイン領域にコンタクトしているAL電極直上
にスルーホールをドライエッチングによりパターニング
する(図2(a))。基板301全面にTiN105を
成膜し、基板301全面にタングステン106をWF6
を原料としたプラズマCVDを用いて成膜する(図2
(b))。この時、TiN105は、組成をTiリッチ
にすることにより、TiNとタングステンとの選択比を
下げたものを成膜する。N2の流量比とエッチングレー
トの関係を図3に示す。そして、基板301全面をSF
6 /Ar混合ガス系平行平板型プラズマエッチングを用
いてエッチングする(図2(c))。そして基板301
全面に画素電極312を成膜する(図2(d))。次に
画素電極312の表面をケミカルメカニカルポリッシン
グ(CMP)により画素間の分離領域の頂上と同一平面
になるまで研磨する(図2(e))。このようにするこ
とによって、タングステンとTiNの選択比は高いの
で、画素間の分離領域のふもとは、エッチングイオンが
届きにくいので、タングステンが残る。更に、選択比を
下げたTiN膜を成膜しているので、画素間の分離領域
の頂上部のかどは、Arイオンのスパッタリングが多く
起こるので、この部分のかどがとれた形状となる。この
ような形状にすると、CMPの負荷が減ることになる。
例えば図6(a)に示すように分離領域の頂上部が平坦
でない場合には、図6(b)のように分離領域の頂上部
のほぼ全体が露出するまでCMPを続行して画素電極を
分離することが求められるが、本実施例のように分離領
域の頂上部のかどがとれた形状とすると、図6(c)の
ように分離領域の頂部が露出した時点で画素電極の分離
がほぼ可能となる。
【0039】更に、画素電極の反射領域が増加し、反射
率が向上する。また、画素間の分離領域のふもとの機械
的強度が増し、更に、熱処理をおこなった時などの、下
地との反応が抑制され、耐熱性が上がることはいうまで
もない。また、画素電極312の表面の凹凸がなくな
り、この凹凸によって生じていた、入射光の散乱による
光利用効率の低下が防止され、表示画像の品質が向上す
ることはいうまでもない。 (第3の実施例)ここでは、実施例1、2とは異なる反
射型の液晶表示装置のアクティブマトリックス基板の製
造工程を図4に沿って説明する。実施例1、2と同様に
して基板301上にゲート電極304、BPSG、AL
電極を形成し、層間膜をそれぞれ成膜する。その後、T
i膜を成膜し、ドレイン領域にコンタクトしているAL
電極直上にスルーホールをドライエッチングによりパタ
ーニングする(図4(a))。基板301全面にTiN
105を成膜し、基板301全面にタングステン106
をWF6 を原料としたプラズマCVDを用いて成膜する
(図4(b))。そして、基板301全面をSF6 /A
r混合ガス系平行平板型プラズマエッチングを用いてエ
ッチングする(図4(c))。この時、エッチングは、
時間等のパラメータで制御を行い、表面にタングステン
106が残るようにする(図4(c))。そして基板3
01全面に画素電極312を成膜する(図4(d))。
次に画素電極312の表面をケミカルメカニカルポリッ
シング(CMP)により画素間の分離領域の頂上と同一
平面になるまで研磨する(図4(e))。このようにす
ることによって、画素電極312の成膜時間の短縮が図
れ、更に、画素間の分離領域のふもとの機械的強度、及
び耐熱性が上がる。また、画素間の分離領域のふもとの
機械的強度が増し、更に、熱処理をおこなった時など
の、下地との反応が抑制され、耐熱性が上がることはい
うまでもない。また、画素電極312の表面の凹凸がな
くなり、この凹凸によって生じていた、入射光の散乱に
よる光利用効率の低下が防止され、表示画像の品質が向
上することはいうまでもない。 (第4の実施例)本発明の表示パネルの例として、反射
型アクティブマトリックス液晶表示パネルについて説明
する。図5がこの液晶表示パネルの模式図である。実施
例1、2および3のアクティブマトリックス基板と、透
明電極315を設けた対向基板316との間に、液晶3
14を挟持して液晶パネルを形成する。液晶材料として
はポリマーネットワーク液晶PNLCを用いた。ただ
し、ポリマーネットワーク液晶としてポリマー分散型液
晶PDLC等を用いてもよい。本例のようにすることに
よって、画素部のスルーホールの金属膜の埋め込み性が
向上し、画素電極の表面が平坦で凹凸がなくなる。更
に、反射領域を広くすることが可能となったので、反射
率が向上する。よって、従来この凹凸によって生じてい
た、入射光の散乱による光利用効率の低下が防止され、
更に、光量が上がり表示画像が明るくなり、またコント
ラストの向上が図れ、表示画像の品質が向上する。 (第5の実施例)以下に、本発明の実施形態を複数の液
晶パネルを挙げて記述するが、それぞれの形態に限定さ
れるものではない。相互の形態の技術を組み合わせるこ
とによって効果が増大することはいうまでもない。ま
た、液晶パネルの構造は、半導体基板を用いたもので記
述しているが、必ずしも半導体基板に限定されるものは
なく、通常の透明基板上に以下に記述する構造体を形成
してもいい。また、以下に記述する液晶パネルは、すべ
てMOSFETやTFT型であるが、ダイオード型など
の2端子型であってもいい。さらに、以下に記述する液
晶パネルは、家庭用テレビはもちろん、プロジェクタ、
ヘッドマウントディスプレイ、3次元映像ゲーム機器、
ラップトップコンピュータ、電子手帳、テレビ会議シス
テム、カーナビゲーション、飛行機のパネルなどの表示
装置として有効である。
【0040】本実施形態の液晶パネル部の断面を図7に
示す。図において、301は半導体基板、302,30
2′はそれぞれp型及びn型ウェル、303,30
3′,303″はトランジスタのソース領域、304は
ゲート領域、305,305′,305″はドレイン領
域である。
【0041】図7に示すように、表示領域のトランジス
タは、20〜35Vという高耐圧が印加されるため、ゲ
ート304に対して、自己整合的にソース、ドレイン層
が形成されず、オフセットをもたせ、その間にソース領
域303′,ドレイン領域305′に示す如く、pウェ
ル中の低濃度のn- 層,nウェル中の低濃度のp- 層が
設けられる。ちなみにオフセット量は0.5〜2.0μm
が好適である。一方、周辺回路の一部の回路部が図8に
示されているが、周辺部の一部の回路は、ゲートに自己
整合的にソース、ドレイン層が形成されている。
【0042】ここでは、ソース、ドレインのオフセット
について述べたが、それらの有無だけでなく、オフセッ
ト量をそれぞれの耐圧に応じて変化させたり、ゲート長
の最適化が有効である。これは、周辺回路の一部は、ロ
ジック系回路であり、この部分は、一般に1.5〜5V
系駆動でよいため、トランジスタサイズの縮小及び、ト
ランジスタの駆動力向上のため、上記自己整合構造が設
けられている。本基板1は、p型半導体からなり、基板
は、最低電位(通常は、接地電位)であり、n型ウェル
は、表示領域の場合、画素に印加する電圧すなわち20
〜35Vがかかり、一方、周辺回路のロジック部は、ロ
ジック駆動電圧1.5〜5Vが印加される。この構造に
より、それぞれ電圧に応じた最適なデバイスを構成で
き、チップサイズの縮小のみならず、駆動スピードの向
上による高画素表示が実現可能になる。
【0043】また、図7において、306はフィールド
酸化膜、310はデータ配線につながるソース電極、3
11は画素電極につながるドレイン電極、312は反射
鏡を兼ねる画素電極、307は表示領域、周辺領域を覆
う遮光層で、Ti,TiN,W,Mo等が適している。
図7に示すように、上記遮光層307は、表示領域で
は、画素電極312とドレイン電極311との接続部を
除いて覆われているが、周辺画素領域では、一部ビデオ
線、クロック線等、配線容量が重くなる領域は、上記遮
光層307をのぞき、高速信号が上記遮光層307がの
ぞかれた部分は照明光の光が混入し、回路の誤動作を起
こす場合は画素電極312の層をおおう設計になってい
る転送可能な工夫がなされている。308は遮光層30
7の下部の絶縁層で、P−SiO層318上にSOGに
より平坦化処理を施し、そのP−SiO層318をさら
に、P−SiO層308でカバーし、絶縁層308の安
定性を確保した。SOGによる平坦化以外に、P−TE
OS(Phospho-Tetraetoxy-Silane)膜を形成し、さら
にP−SiO層318をカバーした後、絶縁層308を
CMP処理し、平坦化する方法を用いても良い事は言う
までもない。
【0044】また、309は反射電極312と遮光層3
07との間に設けられた絶縁層で、この絶縁層309を
介して反射電極312の電荷保持容量となっている。大
容量形成のために、SiO2 以外に、高誘電率のP−S
iN、Ta25 、やSiO 2 との積層膜等が有効であ
る。遮光層307にTi,TiN,Mo,W等の平坦な
メタル上に設ける事により、500〜5000オングス
トローム程度の膜厚が好適である。
【0045】さらに、314は液晶材料、315は共通
透明電極、316は対向基板、317,317′は高濃
度不純物領域、319は表示領域、320は反射防止膜
である。
【0046】図7に示すように、トランジスタ下部に形
成されたウェル302,302’と同一極性の高濃度不
純物層317,317′は、ウェル302,302’の
周辺部及び内容に形成されており、高振幅な信号がソー
スに印加されても、ウェル電位は、低抵抗層で所望の電
位に固定されているため、安定しており、高品質な画像
表示が実現できた。さらにn型ウェル302’とp型ウ
ェル302との間には、フィールド酸化膜を介して上記
高濃度不純物層317,317′が設けられており、通
常MOSトランジスタの時に使用されるフィールド酸化
膜直下のチャネルストップ層を不要にしている。
【0047】これらの高濃度不純物層317,317′
は、ソース、ドレイン層形成プロセスで同時にできるの
で作製プロセスにおけるマスク枚数、工数が削減され、
低コスト化が図れた。
【0048】次に、313は共通透明電極315と対向
基板316との間に設けられた反射防止用膜で、界面の
液晶の屈折率を考慮して、界面反射率が軽減されるよう
に構成される。その場合、対向基板316と、透過電極
315の屈折率よりも小さい絶縁膜が好適である。
【0049】次に、本実施形態の平面図を図8に示す。
図において、321は水平シフトレジスタ、322は垂
直シフトレジスタ、323はnチャンネルMOSFE
T、324はpチャンネルMOSFET、325は保持
容量、326は液晶層、327は信号転送スイッチ、3
28はリセットスイッチ、329はリセットパルス入力
端子、330はリセット電源端子、331は映像信号の
入力端子である。半導体基板301は図7ではp型にな
っているが、n型でもよい。
【0050】ウェル領域302’は、半導体基板301
と反対の導電型にする。このため、図7では、ウェル領
域302はp型になっている。p型のウェル領域302
及びn型のウェル領域302′は、半導体基板301よ
りも高濃度に不純物が注入されていることが望ましく、
半導体基板301の不純物濃度が1014〜1015(cm
-3)のとき、ウェル領域302の不純物濃度は1015
1017(cm-3)が望ましい。
【0051】ソース電極310は、表示用信号が送られ
てくるデータ配線に、ドレイン電極311は画素電極3
12に接続する。これらの電極310,311には、通
常Al,AlSi,AlSiCu,AlGeCu,Al
Cu配線を用いる。これらの電極310,311の下部
と半導体との接触面に、TiとTiNからなるバイアメ
タル層を用いると、コンタクトが安定に実現できる。ま
たコンタクト抵抗も低減できる。画素電極312は、表
面が平坦で、高反射材が望ましく、通常の配線用金属で
あるAl,AlSi,AlSiCu,AlGeCu,A
lC以外にCr,Au,Agなどの材料を使用すること
が可能である。また、平坦性の向上のため、下地絶縁層
309や画素電極312の表面をケミカルメカニカルポ
リッシング(CMP)法によって処理している。
【0052】保持容量325は、画素電極312と共通
透明電極315の間の信号を保持するための容量であ
る。ウェル領域302には、基板電位を印加する。本実
施形態では、各行のトランスミッションゲート構成を、
上から1行目は上がnチャンネルMOSFET323
で、下がpチャンネルMOSFET324、2行目は上
がpチャンネルMOSFET324で、下がnチャンネ
ルMOSFET323とするように、隣り合う行で順序
を入れ換える構成にしている。以上のように、ストライ
プ型ウェルで表示領域の周辺で電源線とコンタクトして
いるだけでなく、表示領域にも、細い電源ラインを設け
コンタクトをとっている。
【0053】この時、ウェルの抵抗の安定化がカギにな
る。したがって、p型基板であれば、nウェルの表示領
域内部でのコンタクト面積又はコンタクト数をpウェル
のコンタクトより増強する構成を採用した。pウェル
は、p型基板で一定電位がとられているため、基板が低
抵抗体としての役割を演ずる。したがって、島状になる
nウェルのソース、ドレインへの信号の入出力による振
られの影響が大きくなりやすいが、それを上部の配線層
からのコンタクトを増強することで防止できた。これに
より、安定した高品位な表示が実現できた。
【0054】映像信号(ビデオ信号、パルス変調された
デジタル信号など)は、映像信号入力端子331から入
力され、水平シフトレジスタ321からのパルスに応じ
て信号転送スイッチ327を開閉し、各データ配線に出
力する。垂直シフトレジスタ322からは、選択した行
のnチャンネルMOSFET323のゲートへはハイパ
ルス、pチャンネルMOSFETのゲートへはローパル
スを印加する。
【0055】以上のように、画素部のスイッチは、単結
晶のCMOSトランスミッションゲートで構成されてお
り、画素電極へ書き込む信号が、MOSFETのしきい
値に依存せず、ソースの信号フル書き込める利点を有す
る。
【0056】又、スイッチが、単結晶トランジスタから
成り立っており、polysilicon-TFTの結晶粒界での不
安定な振まい等がなく、バラツキのない高信頼性な高速
駆動が実現できる。
【0057】次にパネル周辺回路の構成について、図9
を用いて説明する。図9において、337は液晶素子の
表示領域、332はレベルシフター回路、333はビデ
オ信号サンプリングスイッチ、334は水平シフトレジ
スタ、335はビデオ信号入力端子、336は垂直シフ
トレジスタである。
【0058】以上に示す構成により、H,Vともにシフ
トレジスタ等のロジック回路は、ビデオ信号入力端子3
35から25V,30V程度の振幅が供給されるので、
1.5〜5V程度と極めて低い値で駆動でき、高速、低
消費電圧化が達成できた。ここでの水平、垂直SRは、
走査方向は選択スイッチにより双方向可能なものとなっ
ており、光学系の配置等の変更に対して、パネルの変更
なしに対応でき、製品の異なるシリーズにも同一パネル
が使用でき低コスト化が図れるメリットがある。又、図
9においては、ビデオ信号サンプリングスイッチは、片
側極性の1トランジスタ構成のものを記述したが、これ
に限らず、CMOSトランスミッションゲート構成にす
ることにより入力ビデオ線をすべてを信号線に書き込む
ことができることは、言うまでもない。
【0059】又CMOSトランスミッションゲート構成
にした時、NMOSゲートとPMOSゲート面積や、ゲ
ートとソードレインとの重なり容量の違いにより、ビデ
オ信号に振られが生じる課題がある。これにはそれぞれ
の極性のサンプリングスイッチのMOSFETのゲート
量の約1/2のゲート量のMOSFETのソースとドレ
インとを信号線にそれぞれ接続し、逆相パルスで印加す
ることにより振られが防止でき、きわめて良好なビデオ
信号が信号線に書き込れた。これにより、さらに高品位
の表示が可能になった。
【0060】次に、ビデオ信号と、サンプリングパルス
の同期を正確にとる方向について図10を用いて説明す
る。このためには、サンプリングパルスのdelay量
を変化させる必要がある。342はパルスdelay用
インバータ、343はどのdelay用インバータを選
択するかを決めるスイッチ、344はdelay量が制
御された出力、345は容量(outBは逆相出力、o
utは同相出力)である。346は保護回路である。
【0061】SEL1(SEL1B)からSEL3(S
EL3B)の組み合わせにより、delay用インバー
タ342を何コ通過するかが選択できる。
【0062】この同期回路がパネルに内蔵していること
により、パネル外部からのパルスのdelay量が、
R.G.B3板パネルのとき、治具等の関係で対称性が
くずれても、上記選択スイッチで調整でき、R.G.B
のパルス位相高域による位置ずれがない良好な表示画像
が得られた。又、パネル内部に温度測定ダイオードを内
蔵させ、その出力によりdelay量をテーブルから参
照し温度補正することも有効である事は言うまでもな
い。
【0063】次に、液晶材との関係について説明する。
図7では、平坦な対向基板構造のものを示したが、共通
電極基板316は、共通透明電極315の界面反射を防
ぐため、凹凸を形成し、その表面に共通透明電極315
を設けている。また、共通電極基板316の反対側に
は、反射防止膜320を設けている。これらの凹凸形状
の形成のために、微少な粒径の砥粒により砂ずり研磨を
おこなう方式も高コントラスト化に有効である。
【0064】液晶材料としては、ポリマー・ネットワー
ク液晶PNLCを用いた。ただし、ポリマー・ネットワ
ーク液晶として、PDLCなどを用いてもいい。ポリマ
ー・ネットワーク液晶PNLCは、重合相分離法によっ
て作製される。液晶と重合性モノマーやオリゴマーで溶
液をつくり、通常の方法でセル中に注入した後、UV重
合によって液晶と高分子を相分離させ、液晶中に網目状
に高分子を形成する。PNLCは多くの液晶(70〜9
0wt%)を含有している。
【0065】PNLCにおいては、屈折率の異方性(Δ
n)の高いネマチック液晶を用いると光散乱が強くな
い、誘電異方性(Δε)の大きいネマチック液晶を用い
ると低電圧で駆動が可能となる。ポリマー・ネットワー
クのおおきさ、すなわち網目の中心間距離が1〜1.5
(μm)の場合、光散乱は高コントラストを得るのに十
分強くなる。
【0066】次に、シール構造と、パネル構造との関係
について、図11を用いて説明する。図11において、
351はシール部、352は電極パッド、353はクロ
ックバッファー回路である。不図示のアンプ部は、パネ
ル電気検査時の出力アンプとして使用するものである。
また、対向基板の電位をとる不図示のAgペースト部が
あり、また356は液晶素子による表示部、357は水
平・垂直シフトレジスタ(SR)等の周辺回路部であ
る。シール部351は表示部356の四方周辺に半導体
基板301上に画素電極312を設けたものと共通電極
315を備えたガラス基板との張り合わせのための圧着
材や接着剤の接触領域を示し、シール部351で張り合
わせた後に、表示部356とシフトレジスタ部357に
液晶を封入する。
【0067】図11に示すように、本実施形態では、シ
ールの内部にも、外部にも、totalchip sizeが小さくな
るように、回路が設けられている。本実施形態では、パ
ッドの引き出しをパネルの片辺側の1つに集中させてい
るが、長辺側の両辺でも又、一辺でなく多辺からのとり
出しも可能で、高速クロックをとり扱うときに有効であ
る。
【0068】さらに、本発明のパネルは、Si基板等の
半導体基板を用いているため、プロジェクタのように強
力な光が照射され、基板の側壁にも光があたると、基板
電位が変動し、パネルの誤動作を引き起こす可能性があ
る。したがって、パネルの側壁及び、パネル上面の表示
領域の周辺回路部は、遮光できる基板ホルダーとなって
おり、又、Si基板の裏面は、熱伝導率の高い接着剤を
介して熱伝導率の高いCu等のメタルが接続されたホル
ダー構造となっている。
【0069】そして、実施例1、2、及び3で説明した
ように構成された半導体基板を用いており、実施例4の
ような構造をしている。
【0070】次に本実施形態のポイントである反射電極
構造及びその作製方法について述べる。本実施形態の完
全平坦化反射電極構造は、メタルをパターニングしてか
ら、研磨する通常の方法とは異なり、電極パターンのと
ころにあらかじめ、溝のエッチングをしておき、そこに
メタルを成膜し、電極パターンが成形されない領域上の
メタルを研磨でとり除くとともに、電極パターン上のメ
タルも平坦化する新規な方法である。しかも、配線の幅
が配線以外の領域よりも極めて広く、従来のエッチング
装置の常識では、下記問題が発生し、本実施形態の構造
体は作製できない。
【0071】エッチングすると、エッチング中にポリマ
ーが堆積し、パターニングができなくなる。そこで、酸
化膜系エッチング(CF4 /CHF3 系)において、条
件を変えてみた。(図12)total圧力(従来)
1.7torr時(a)、(今回)1.0torr時
(b)を示す。
【0072】図12(a)の条件で、デポジション性の
ガスCHF3 をへらすと、たしかにポリマーの堆積は、
減少するが、レジストに近いパターンと遠いパターンで
の寸法の違い(ローディング効果)がきわめて大きくな
り、使用できない事がわかる。
【0073】図12(b)では、ローディング効果おさ
えるため、徐々に圧力を下げていき、1torr以下に
なるとローディング効果がかなり抑制され、かつCHF
3 をゼロにし、CF4 のみによるエッチングが有効であ
ることを見出した。
【0074】さらに、画素電極領域は、ほとんどレジス
トが存在せず、周辺部にはレジストでしめられている。
構造体を形成するのは難しく、構造として、画素電極と
同等の空き電極とその形状を表示領域の周辺部まで設け
る事が有効であることがわかった。
【0075】本構造にすることにより、従来あった表示
部と周辺部もしくはシール部との段差もなくなり、ギャ
ップ精度が高くなり、面内均一圧が高くなるだけでな
く、注入時のムラもへり、高品位の画質が歩留りよくで
きる効果が得られた。
【0076】次に本発明の反射型液晶パネルを組み込む
光学システムについて図13を用いて説明する。図13
において、371はハロゲンランプ等の光源、372は
光源像をしぼり込む集光レンズ、373,375は平面
状の凸型フレネルレンズ、374はR,G,Bに分解す
る色分解光学素子で、ダイクロイックミラー、回折格子
等が有効である。
【0077】また、376はR,G,B光に分離された
それぞれの光をR,G,B3パネルに導くそれぞれのミ
ラー、377は集光ビームを反射型液晶パネルに平行光
で照明するための視野レンズ、378は上述の反射型液
晶素子、379の位置にしぼりがある。また、380は
複数のレンズを組み合わせて拡大する投射レンズ、38
1はスクリーンで、通常、投射光を平行光へ変換するフ
レネルレンズと上下、左右に広視野角として表示するレ
ンチキュラレンズの2板より構成されると明瞭な高コン
トラストで明るい画像を得ることができる。図13の構
成では、1色のパネルのみ記載されているが、色分解光
学素子374からしぼり部379の間は3色それぞれに
分離されており、3板パネルが配置されている。又、反
射型液晶装置パネル表面にマイクロレンズアレーを設
け、異なる入射光を異なる画素領域に照射させる配置を
とることにより、3板のみならず、単板構成でも可能で
あることは言うまでもない。液晶素子の液晶層に電圧が
印加され、各画素で正反射した光は、379に示すしぼ
り部を透過しスクリーン上に投射される。
【0078】一方、電圧が印加されずに、液晶層が散乱
体となっている時、反射型液晶素子へ入射した光は、等
方的に散乱し、379に示す絞り部の開口を見込む角度
の中の散乱光以外は、投射レンズにはいらない。これに
より黒を表示する。以上の光学系からわかるように、偏
光板が不要で、しかも画素電極の全面が信号光が高反射
率で投射レンズにはいるため、従来よりも2−3倍明る
い表示が実現できた。上述の実施形態でも述べたよう
に、対向基板表面、界面には、反射防止対策が施されて
おり、ノイズ光成分も極めて少なく、高コントラスト表
示が実現できた。又、パネルサイズが小さくできるた
め、すべての光学素子(レンズ、ミラーetc.)が小
型化され、低コスト、軽量化が達成された。
【0079】又、光源の色ムラ、輝度ムラ、変動は、光
源と光学系との間にインテグレタ(はえの目レンズ型ロ
ッド型)を挿入することにより、スクリーン上での色ム
ラ、輝度ムラは、解決できた。
【0080】上記液晶パネル以外の周辺電気回路につい
て、図14を用いて説明する。図において、385は電
源で、主にランプ用電源とパネルや信号処理回路駆動用
システム電源に分離される。386はプラグ、387は
ランプ温度検出器で、ランプの温度の異常があれば、制
御ボード388によりランプを停止させる等の制御を行
う。これは、ランプに限らず、389のフィルタ安全ス
イッチでも同様に制御される。たとえば、高温ランプハ
ウスボックスを開けようとした場合、ボックスがあかな
くなるような安全上の対策が施されている。390はス
ピーカー、391は音声ボードで、要求に応じて3Dサ
ウンド、サラウンドサウンド等のプロセッサも内蔵でき
る。392は拡張ボード1で、ビデオ信号用S端子、ビ
デオ信号用コンポジット映像、音声等の外部装置396
からの入力端子及びどの信号を選択するかの選択スイッ
チ395、チューナ394からなり、デコーダ393を
介して拡張ボード2へ信号が送られる。一方、拡張ボー
ド2は、おもに、別系列からのビデオやコンピュータの
Dsub15ピン端子を有し、デコーダ393からのビ
デオ信号と切り換えるスイッチ450を介して、A/D
コンバータ451でディジタル信号に変換される。
【0081】また、453は主にビデオRAM等のメモ
リとCPUとからなるメインボードである。A/Dコン
バータ451でA/D変換したNTSC信号は、一端メ
モリに蓄積され、高画素数へうまく割りあてるために、
液晶素子数にマッチしていない空き素子の不足の信号を
補間して作成したり、液晶表示素子に適したγ変換エッ
ジ階調、ブライト調整バイアス調整等の信号処理を行
う。NTSC信号でなく、コンピュータ信号も、たとえ
ばVGAの信号がくれば、高解像度のXGAパネルの場
合、その解像度変換処理も行う。一画像データだけでな
く、複数の画像データのNTSC信号にコンピュータ信
号を合成させる等の処理もこのメインボード453で行
う。メインボード453の出力はシリアル・パラレル変
換され、ノイズの影響を受けにくい形態でヘッドボード
454に充られる。このヘッドボード454で、再度パ
ラレル/シリアル変換後、D/A変換し、パネルのビデ
オ線数に応じて分割され、ドライブアンプを介して、
B,G,R色の液晶パネル455,456,457へ信
号を書き込む。452はリモコン操作パネルで、コンピ
ュータ画面も、TVと同様の感覚で、簡単操作可能とな
っている。また、液晶パネル455,456,457の
夫々は、各色の色フィルタを備えた同一の液晶装置構成
であり、その水平・垂直走査回路は、既に説明したもの
を適用する。各液晶装置は以上の説明のように、本発明
の表示結果は、きわめてきれいな画像表示が可能であ
る。 (第6の実施例)図15に本発明の液晶表示装置を用い
た前面及び背面投写型液晶表示装置光学系の構成図を示
す。本図はその上面図を表す図15(a)、正面図を表
す図15(b)、側面図を表す図15(c)から成って
いる。同図において、1301はスクリーンに投射する
投影レンズ、1302はマイクロレンズ付液晶パネル、
1303は偏光ビームスプリッター(PBS)、134
0はR(赤色光)反射ダイクロイックミラー、1341
はB/G(青色&緑色光)反射ダイクロイックミラー、
1342はB(青色光)反射ダイクロイックミラー、1
343は全色光を反射する高反射ミラー、1350はフ
レネルレンズ、1351は凸レンズ、1306はロッド
型インテグレーター、1307は楕円リフレクター、1
308はメタルハライド、UHP等のアークランプであ
る。ここで、R(赤色光)反射ダイクロイックミラー1
340、B/G(青色&緑色光)反射ダイクロイックミ
ラー1341、B(青色光)反射ダイクロイックミラー
1342はそれぞれ図16に示したような分光反射特性
を有している。そしてこれらのダイクロイックミラーは
高反射ミラー1343とともに、図17の斜視図に示し
たように3次元的に配置されており、後述するように白
色照明光をRGBに色分解するとともに、液晶パネル1
302に対して各原色光が、3次元的に異なる方向から
該液晶パネル1302を照明するようにしている。
【0082】ここで、光束の進行過程に従って説明する
と、まず光源のランプ1308からの出射光束は白色光
であり、楕円リフレクター1307によりその前方のイ
ンテグレータ1306の入り口に集光され、このインテ
グレーター1306内を反射を繰り返しながら進行する
につれて光束の空間的強度分布が均一化される。そして
インテグレーター1306を出射した光束は凸レンズ1
351とフレネルレンズ1350とにより、x軸−方向
(図15(b)の正面図基準)に平行光束化され、まず
B反射ダイクロ19イックミラー1342に至る。この
B反射ダイクロイックミラー1342ではB光(青色
光)のみが反射され、z軸−方向つまり下側(図15
(b)の正面図基準)にz軸に対して所定の角度でR反
射ダイクロイックミラー1340に向かう。一方B光以
外の色光(R/G光)はこのB反射ダイクロイックミラ
ー1342を通過し、高反射ミラー1343により直角
にz軸−方向(下側)に反射され、やはりR反射ダイク
ロイックミラー1340に向かう。ここで、B反射ダイ
クロイックミラー1342と高反射ミラー1343は共
に図15(a)の正面図を基にして言えば、インテグレ
ーター1306からの光束(x軸−方向)をz軸−方向
(下側)に反射するように配置しており、高反射ミラー
1343はy軸方向を回転軸にx−y平面に対して丁度
45°の傾きとなっている。それに対してB反射ダイク
ロイックミラー1342はやはりy軸方向を回転軸にx
−y平面に対して、この45°よりも浅い角度に設定さ
れている。従って、高反射ミラー1343で反射された
R/G光はz軸−方向に直角に反射されるのに対して、
B反射ダイクロイックミラー1342で反射されたB光
はz軸に対して所定の角度(x−z面内チルト)で下方
向に向かう。ここで、B光とR/G光の液晶パネル13
02上の照明範囲を一致させるため、各色光の主光線は
液晶パネル1302上で交差するように、高反射ミラー
1343とB反射ダイクロイックミラー1342のシフ
ト量およびチルト量が選択されている。
【0083】次に、前述のように下方向(z軸−方向)
に向かったR/G/B光はR反射ダイクロイックミラー
1340とB/G反射ダイクロイックミラー1341に
向かうが、これらはB反射ダイクロイックミラー134
2と高反射ミラー1343の下側に位置し、まず、B/
G反射ダイクロイックミラー1341はx軸を回転軸に
x−z面に対して45°傾いて配置されており、R反射
ダイクロイックミラー1340はやはりx軸方向を回転
軸にx−z平面に対してこの45°よりも浅い角度に設
定されている。従ってこれらに入射するR/G/B光の
うち、まずB/G光はR反射ダイクロイックミラー13
40を通過して、B/G反射ダイクロイックミラー13
41により直角にy軸+方向に反射され、PBS130
3を通じて偏光化された後、x−z面に水平に配置され
た液晶パネル1302を照明する。このうちB光は前述
したように(図15(a)、図15(b)参照)、x軸
に対して所定の角度(x−z面内チルト)で進行してい
るため、B/G反射ダイクロイックミラー1341によ
る反射後は、y軸に対して所定の角度(x−y面内チル
ト)を維持し、その角度を入射角(x−y面方向)とし
て該液晶パネル1302を照明する。
【0084】G光についてはB/G反射ダイクロイック
ミラー1341により直角に反射し、y軸+方向に進
み、PBS1303を通じて偏光化された後、入射角0
°つまり垂直に該液晶パネル1302を照明する。また
R光については、前述のようにB/G反射ダイクロイッ
クミラー1341の手前に配置されたR反射ダイクロイ
ックミラー1340によりR反射ダイクロイックミラー
1340にてy軸+方向に反射されるが、図15(c)
(側面図)に示したようにy軸に対して所定の角度(y
−z面内チルト)でy軸+方向に進み、PBS1303
を通じて偏光化された後、該液晶パネル1302をこの
y軸に対する角度を入射角(y−z面方向)として照明
する。また、前述と同様にRGB各色光の液晶パネル1
302上の照明範囲を一致させるため、各色光の主光線
は液晶パネル1302上で交差するように、B/G反射
ダイクロイックミラー1341とR反射ダイクロイック
ミラー1340のシフト量およびチルト量が選択されて
いる。さらに、図16(a)に示したようにB反射ダイ
クロイックミラー1341のカット波長は480nm、
図16(b)に示したようにB/G反射ダイクロイック
ミラー1341のカット波長は570nm、図16
(c)に示したようにR反射ダイクロイックミラー13
40のカット波長は600nmであるから、不要な橙色
光はB/G反射ダイクロイックミラー1341を透過し
て捨てられる。これにより最適な色バランスを得ること
ができる。
【0085】そして後述するように液晶パネル1302
にて各RGB光は反射&偏光変調され、PBS1303
に戻り、PBS1303のPBS面1303aにてx軸
+方向に反射する光束が画像光となり、投影レンズ13
01を通じて、スクリーン(不図示)に拡大投影され
る。ところで、該液晶パネル1302を照明する各RG
B光は入射角が異なるため、そこから反射されてくる各
RGB光もその出射角を異にしているが、投影レンズ1
301としてはこれらを全て取り込むに十分な大きさの
レンズ径及び開口のものを用いている。ただし、投影レ
ンズ1301に入射する光束の傾きは、各色光がマイク
ロレンズを2回通過することにより平行化され、液晶パ
ネル1302への入射光の傾きを維持している。ところ
が図27に示したように従来例の透過型では、液晶パネ
ルを出射した光束はマイクロレンズの集光作用分も加わ
ってより大きく広がってしまうので、この光束を取り込
むための投影レンズはさらに大きな開口数が求められ、
高価なレンズとなっていた。しかし、本例では液晶パネ
ル2からの光束の広がりはこのように比較的小さくなる
ので、より小さな開口数の投影レンズでもスクリーン上
で十分に明るい投影画像を得ることができ、より安価な
投影レンズを用いることが可能になる。
【0086】次に、ここで用いる本発明液晶パネル13
02について説明する。図18に該液晶パネル1302
の拡大断面模式図(図17のy−z面に対応)を示す。
図において、1321はマイクロレンズ基板、1322
はマイクロレンズ、1323はシートガラス、1324
は透明対向電極、1325は液晶層、1326は画素電
極、1327はアクティブマトリックス駆動回路部、1
328はシリコン半導体基板である。これは実施例1、
2、3及び3に記述した構造を持つ半導体基板である。
また、1252は周辺シール部である。マイクロレンズ
1322は、いわゆるイオン交換法によりガラス基板
(アルカリ系ガラス)1321の表面上に形成されてお
り、画素電極1326のピッチの倍のピッチで2次元的
アレイ構造を成している。
【0087】液晶層1325は反射型に適応したいわゆ
るDAP,HAN等のECBモードのネマチック液晶を
採用しており、不図示の配向層により所定の配向が維持
されている。第6の実施形態と比べると電圧値が低く、
画素電極1326の電位の精度はさらに重要になってく
るため、本発明の回路、構成は有効であり、単板で画素
数も多く、従ってビデオ線の本数も多いため、第1乃至
第5の実施形態のカップリング容量の削減は非常に有効
となる。画素電極1326はAlから成り、反射鏡を兼
ねており、表面性を良くして反射率を向上させるため、
パターニング後の最終工程でいわゆるCMP処理を施し
ている(詳しくは後述する)。
【0088】アクティブマトリックス駆動回路部132
7はいわゆるシリコン半導体基板1328上に設けられ
た半導体回路であり、上記画素電極1326をアクティ
ブマトリックス駆動するものであり、該回路マトリック
スの周辺部には、不図示のゲート線ドライバー(垂直レ
ジスター等)や信号線ドライバー(水平レジスター等)
が設けられている(詳しくは後述する)。これらの周辺
ドライバーおよびアクティブマトリックス駆動回路はR
GBの各原色映像信号を所定の各RGB画素に書き込む
ように構成されており、該各画素電極1326はカラー
フィルターは有さないものの、前記アクティブマトリッ
クス駆動回路にて書き込まれる原色映像信号により各R
GB画素として区別され、後述する所定のRGB画素配
列を形成している。
【0089】ここで、液晶パネル1302に対して照明
するG光について見てみると、前述したようにG光はP
BS1303により偏光化されたのち該液晶パネル13
02に対して垂直に入射する。この光線のうち1つのマ
イクロレンズ1322aに入射する光線例を図中の矢印
G(in/out)に示す。ここに図示されたように該
G光線はマイクロレンズ1322により集光され、G画
素電極1326g上を照明する。そしてAlより成る該
画素電極1326gにより反射され、再び同じマイクロ
レンズ1322aを通じてパネル外に出射していく。こ
のように液晶層1325を往復通過する際、該G光線
(偏光)は画素電極1326gに印加される信号電圧に
より対向電極1324との間に形成される電界による液
晶の動作により変調を受けて、該液晶パネルを出射し、
PBS1303に戻る。
【0090】ここで、その変調度合いによりPBS面1
303aにて反射され、投影レンズ1301に向かう光
量が変化し、各画素のいわゆる濃淡階調表示がなされる
ことになる。一方、上述したように図18中断面(y−
z面)内の斜め方向から入射してくるR光については、
やはりPBS1303により偏光されたのち、例えばマ
イクロレンズ1322bに入射するR光線に注目する
と、図中の矢印R(in)で示したように、該マイクロ
レンズ1322bにより集光され、その真下よりも左側
にシフトした位置にあるR画素電極1326r上を照明
する。そして該画素電極1326rにより反射され、図
示したように今度は隣(−z方向)のマイクロレンズ1
322aを通じて、パネル外に出射していく(R(ou
t))。
【0091】この際、該R光線(偏光)はやはり画素電
極1326rに印加される信号電圧により対向電極13
24との間に形成される画像信号に応じた電界による液
晶の動作により変調を受けて、該液晶パネルを出射し、
PBS1303に戻る。そして、その後のプロセスは前
述のG光の場合と全く同じように、画像光を投影レンズ
1301から投影される。ところで、図18の描写では
画素電極1326g上と画素電極1326r上の各G光
とR光の色光が1部重なり干渉しているようになってい
るが、これは模式的に液晶層の厚さを拡大誇張して描い
ているためであり、実際には該液晶層の厚さは1〜5μ
であり、シートガラス1323の50〜100μに比べ
て非常に薄く、画素サイズに関係なくこのような干渉は
起こらない。
【0092】次に、図19に本例での色分解・色合成の
原理説明図を示す。ここで、図19(a)は液晶パネル
1302の上面模式図、図19(b)、図19(c)は
それぞれ該液晶パネル上面模式図に対するA−A′(x
方向)断面模式図、B−B′(z方向)断面模式図であ
る。ここで、マイクロレンズ1322は、図19(a)
の一点鎖線に示すように、G光を中心として両隣接する
2色画素の半分ずつに対して1個が対応している。この
うち図19(c)はy−z断面を表す上記図18に対応
するものであり、各マイクロレンズ1322に入射する
G光とR光の入出射の様子を表している。これから判る
ように各G画素電極は各マイクロレンズの中心の真下に
配置され、各R画素電極は各マイクロレンズ間境界の真
下に配置されている。従ってR光の入射角はそのtan
θが画素ピッチ(B&R画素)とマイクロレンズ・画素
電極間距離の比に等しくなるように設定するのが好まし
い。一方、図19(b)は該液晶パネル1302のx−
y断面に対応するものである。このx−y断面について
は、B画素電極とG画素電極とが図19(c)と同様に
交互に配置されており、やはり各G画素電極は各マイク
ロレンズ中心の真下に配置され、各B画素電極は各マイ
クロレンズ間境界の真下に配置されている。
【0093】ところで該液晶パネルを照明するB光につ
いては、前述したようにPBS1303による偏光化
後、図15中断面(x−y面)の斜め方向から入射して
くるため、R光の場合と全く同様に、各マイクロレンズ
1322から入射したB光線は、図示したようにB画素
電極1326bにより反射され、入射したマイクロレン
ズ1322に対して、x方向に隣り合うマイクロレンズ
1322から出射する。B画素電極1326b上の液晶
による変調や液晶パネルからのB出射光の投影について
は、前述のG光およびR光と同様である。
【0094】また、各B画素電極1326bは各マイク
ロレンズ間境界の真下に配置されており、B光の液晶パ
ネルに対する入射角についても、R光と同様にそのta
nθが画素ピッチ(G&B画素)とマイクロレンズ・画
素電極間距離の比に等しくなるように設定するのが好ま
しい。ところで、本例液晶パネルでは以上述べたように
各RGB画素の並びがz方向に対してはRGRGRG…
の並びに、x方向に対してはBGBGBG…の並びとな
っているが、図19(a)はその平面的な並びを示して
いる。このように各画素サイズは縦横共にマイクロレン
ズの約半分になっており、画素ピッチはx−z両方向と
もにマイクロレンズのそれの半分になっている。また、
G画素は平面的にもマイクロレンズ中心の真下に位置
し、R画素はz方向のG画素間かつマイクロレンズ境界
に位置し、B画素はx方向のG画素間かつマイクロレン
ズ境界に位置している。また、1つのマイクロレンズ単
位の形状は矩形(画素の2倍サイズ)となっている。
【0095】図20に本液晶パネルの部分拡大上面図を
示す。ここで図中の破線格子1329は1つの絵素を構
成するRGB画素のまとまりを示している。つまり、図
18のアクティブマトリックス駆動回路部1327によ
り各RGB画素が駆動される際、破線格子1329で示
されるRGB画素ユニットは同一画素位置に対応したR
GB映像信号にて駆動される。ここでR画素電極132
6r、G画素電極1326g、B画素電極1326bか
ら成る1つの絵素に注目してみると、まずR画素電極1
326rは矢印r1で示されるようにマイクロレンズ1
322bから前述したように斜めに入射するR光で照明
され、そのR反射光は矢印r−2で示すようにマイクロ
レンズ1322aを通じて出射する。B画素電極132
6bは矢印b1で示されるようにマイクロレンズ132
2cから前述したように斜めに入射するB光で照明さ
れ、そのB反射光は矢印b2で示すようにやはりマイク
ロレンズ1322aを通じて出射する。またG画素電極
1326gは正面後面矢印g12で示されるように、マ
イクロレンズ1322aから前述したように垂直(紙面
奥へ向かう方向)に入射するG光で照明され、そのG反
射光は同じマイクロレンズ1322aを通じて垂直に
(紙面手前に出てくる方向)出射する。
【0096】このように、本液晶パネルにおいては、1
つの絵素を構成するRGB画素ユニットについて、各原
色照明光の入射照明位置は異なるものの、それらの出射
については、同じマイクロレンズ(この場合は1322
a)から行われる。そしてこのことはその他の全ての絵
素(RGB画素ユニット)についても成り立っている。
【0097】従って、図21に示すように本液晶パネル
からの全出射光をPBS1303および投影レンズ13
01を通じて、スクリーン1309に投写するに際し
て、液晶パネル1302内のマイクロレンズ1322の
位置がスクリーン1309上に結像投影されるように光
学調整すると、その投影画像は図23に示すようなマイ
クロレンズの格子内に各絵素を構成する該RGB画素ユ
ニットからの出射光が混色した状態つまり同画素混色し
た状態の絵素を構成単位としたものとなる。そして、前
述した従来例のようないわゆるRGBモザイクが無い、
質感の高い良好なカラー画像表示が可能となる。
【0098】つぎに、図18に示すように、アクティブ
マトリックス駆動回路部1327は各画素電極1326
の下に存在するため、図18の回路断面図上では絵素を
構成する各RGB画素は単純に横並びに描かれている
が、各画素FETのドレインは、図20に示したような
2次元的配列の各RGB画素電極1326に接続してい
る。
【0099】ところで、本投写型液晶表示装置の駆動回
路系についてその全体ブロック図を図22に示す。ここ
で、1310はパネルドライバーであり、RGB映像信
号を極性反転し、かつ所定の電圧増幅をした液晶駆動信
号を形成するとともに、対向電極1324の駆動信号、
各種タイミング信号等を形成している。1312はイン
ターフェースであり、各種映像及び制御伝送信号を標準
映像信号等にデコードしている。また、1311はデコ
ーダーであり、インターフェース1312からの標準映
像信号をRGB原色映像信号及び同期信号に、即ち液晶
パネル1302に対応した画像信号にデコード・変換し
ている。1314はバラストであり、楕円リフレクター
1307内のアークランプ1308を駆動点灯する。1
315は電源回路であり、各回路ブロックに対して電源
を供給している。1313は不図示の操作部を内在した
コントローラーであり、上記各回路ブロックを総合的に
コントロールするものである。このように本投写型液晶
表示装置は、その駆動回路系は単板式プロジェクターと
しては、ごく一般的なものであり、特に駆動回路系に負
担を掛けることなく、前述したようなRGBモザイクの
無い良好な質感のカラー画像を表示することができるも
のである。
【0100】ところで図24に本発明における液晶パネ
ルの別形態の部分拡大上面図を示す。ここではマイクロ
レンズ1322の中心真下位置にB画素電極1326b
を配列し、それに対し左右方向にG画素1326gが交
互に並ぶように、上下方向にR画素1326rが交互に
並ぶように配列している。このように配列しても、絵素
を構成するRGB画素ユニットからの反射光が1つの共
通マイクロレンズから出射するように、B光を垂直入
射、R/G光を斜め入射(同角度異方向)とすることに
より、前例と全く同様な効果を得ることができる。ま
た、さらにマイクロレンズ1322の中心真下位置にR
画素を配列しその他の色画素を左右または上下方向にR
画素に対してG,B画素を交互に並ぶようにしても良
い。 (第7の実施例)図25に本発明に係わる液晶パネルの
他の実施例を示す。同図は本液晶パネル1320の部分
拡大断面図である。この液晶パネルは実施例1、2、及
び3の構造を持つ半導体基板をもつ。前例との相違点を
述べると、まず対向ガラス基板としてシートガラス13
23を用いており、マイクロレンズ1220について
は、シートガラス1323上に熱可塑性樹脂を用いたい
わゆるリフロー法により形成している。さらに、非画素
部にスペーサー柱1251を感光性樹脂のフォトリソグ
ラフィーにて形成している。該液晶パネル1320の部
分上面図を図26(a)に示す。この図から判るように
スペーサー柱1251は所定の画素のピッチでマイクロ
レンズ1220の角隅部の非画素領域に形成されてい
る。このスペーサー柱1251を通るA−A′断面図を
図26(b)に示す。このスペーサー柱1251の形成
密度については10〜100画素ピッチでマトリックス
状に設けるのが好ましく、シートガラス1323の平面
性と液晶の注入性というスペーサー柱数に対して相反す
るパラメーターを共に満足するように設定する必要があ
る。また本例では金属膜パターンによる遮光層1221
を設けており、各マイクロレンズ境界部分からの漏れ光
の進入を防止している。これにより、このような漏れ光
による投影画像の彩度低下(各原色画像光の混色によ
る)やコントラスト低下が防止される。従って本液晶パ
ネル1320を用いて、本例の如き液晶パネルを備えた
投写型表示装置を構成することにより、さらにメリハリ
のある良好な画質が得られるようになる。
【0101】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
液晶表示素子の画素間の分離領域のふもとの機械的強度
を向上させ、かつ、耐熱性を向上させ、また、反射率が
向上するので、これを用いて液晶表示装置を作ると、光
量が上がり表示画像が明るくなり、またコントラストも
向上する。また、実装工程の配向膜ラビング工程におい
て、配向不良の原因となりその結果コントラストの低下
による表示画像の画質の悪化を防止でき、信頼性の向上
を図ることができる。更に、液晶の面内均一性が高くな
り、階調性もあがる。よって、高輝度、コントラスト、
高精細で均一な液晶表示装置を歩留まり良く安価に、高
い信頼性で生産することができる。
【0102】さらに、本発明に係わる投写型液晶表示装
置においては、マイクロレンズ付反射型液晶パネルとそ
れぞれ異なる方向から各原色光を照明する光学系等を用
いて、1つの絵素を構成する1組のRGB画素からの液
晶による変調後の反射光が同一のマイクロレンズを通じ
て出射するようにしたことにより、RGBモザイクの無
い質感の高い良好なカラー画像投写表示が可能となる。
【0103】また、各画素からの光束はマイクロレンズ
を2回通過してほぼ並行化されるので、開口数の小さい
安価な投影レンズを用いてもスクリーン上で明るい投影
画像を得ることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係る液晶装置に用いる
アクティブマトリックスの基板の製造工程の1例を説明
する図である。
【図2】本発明の第2の実施例に係る液晶装置に用いる
アクティブマトリックスの基板の製造工程の1例を説明
する図である。
【図3】本発明の第2の実施例に係るN2 流量とエッチ
ングレートの関係を説明する図である。
【図4】本発明の第3の実施例に係る、液晶装置に用い
るアクティブマトリックス基板の製造工程の1例を説明
する図である。
【図5】本発明の第4の実施例に係る液晶装置に用いる
液晶表示パネルの1例を説明する図である。
【図6】本発明による表示装置用基板の作用を説明する
ための図である。
【図7】本発明によるCMPにより製造される液晶素子
の断面図である。
【図8】本発明による液晶装置の概略的回路図である。
【図9】本発明による液晶装置のブロック図である。
【図10】本発明による液晶装置の入力部のディレイ回
路を含む回路図である。
【図11】本発明による液晶装置の液晶パネルの概念図
である。
【図12】本発明による液晶装置の製造上のエッチング
処理の良否を判断するグラフである。
【図13】本発明による液晶装置を用いた液晶プロジェ
クターの概念図である。
【図14】本発明による液晶プロジェクターの内部を示
す回路ブロック図である。
【図15】本発明による投写型液晶表示装置の光学系の
実施形態を示す全体構成図である。
【図16】本発明による投写型液晶表示装置の光学系に
用いたダイクロイックミラーの分光反射特性図である。
【図17】本発明による投写型液晶表示装置の光学系の
色分解照明部の斜視図である。
【図18】本発明による液晶パネルの一実施形態の断面
図である。
【図19】本発明による液晶パネルの色分解・色合成の
原理説明図である。
【図20】本発明による一実施形態の液晶パネルの部分
拡大上面図である。
【図21】本発明による投写型液晶表示装置の投影光学
系を示す部分構成図である。
【図22】本発明による投写型液晶表示装置の駆動回路
系を示すブロック図である。
【図23】本発明による投写型液晶表示装置のスクリー
ン上投影像の部分拡大図である。
【図24】本発明による一実施形態の液晶パネルの部分
断面図である。
【図25】本発明による一実施形態の液晶パネルの部分
拡大上面図である。
【図26】本発明による一実施形態の液晶パネルの部分
拡大上面図と断面図である。
【図27】液晶装置の液晶パネルの光束進行方向を示す
概念図である。
【図28】液晶装置の液晶パネルのカラー画素構成図で
ある。
【図29】アクティブマトリックス基板の製造工程及び
液晶素子の断面図である。
【図30】アクティブマトリックス基板の製造工程及び
液晶素子の断面図である。
【符号の説明】
105 TiN 106 W 201 n型シリコン基板 202 LOSOS 203 PWL 204 ゲート酸化膜 205 ゲート電極 206 NLD 207、207’ ソース、ドレイン領域 208 PSG 209 AL電極 210 プラズマSiN 211 PSG 212 スルーホール 213 画素電極 214 液晶 215、215’ 配向膜 221 カラーフィルター 222 ブラックマトリクス 223 共通電極 301 半導体基板 302,302’ p型及びn型ウェル 303,303’ ソース領域 304 ゲート領域 305,305’ ドレイン領域 306 LOCOS絶縁層 307 遮光層 308 PSG 309 プラズマSiN 310 ソース電極 311 連結電極 312 反射電極&画素電極 313 反射防止膜 314 液晶層 315 共通透明電極 316 対向電極 317,317’ 高濃度不純物領域 319 表示領域 320 反射防止膜 321,322 シフトレジスタ 323 nMOS 324 pMOS 325 保持容量 327 信号転送スイッチ 328 リセットスイッチ 329 リセットパルス入力端子 330 リセット電源端子 331 映像信号入力端子 332 昇圧レベルシフター 342 パルスdelay用インバータ 343 スイッチ 344 出力 345 容量 346 保護回路 351 シール部 352 電極パッド 353 クロックバッファー 371 光源 372 集光レンズ 373,375 フレネルレンズ 374 色分解光学素子 376 ミラー 377 視野レンズ 378 液晶装置 379 絞り部 380 投影レンズ 381 スクリーン 385 電源 386 プラグ 387 ランプ温度検出 388 制御ボード 389 フィルタ安全スイッチ 453 メインボード 454 液晶パネルドライブヘッドボード 455,456,457 液晶装置 1220 マイクロレンズ(リフロー熱ダレ式) 1251 スペーサー柱 1252 周辺シール部 1301 投影レンズ 1302 マイクロレンズ付液晶パネル 1303 偏光ビームスプリッター(PBS) 1306 ロッド型インテグレータ 1307 楕円リフレクター 1308 アークランプ 1309 スクリーン 1310 パネルドライバー 1311 デコーダー 1312 インターフェース回路 1314 バラスト(アークランプ点灯回路) 1320 マイクロレンズ付液晶パネル 1321 マイクロレンズガラス基板 1322 マイクロレンズ(インデックス分布式) 1323 シートガラス 1324 対向透明電極 1325 液晶 1326 画素電極 1327 アクティブマトリックス駆動回路部 1328 シリコン半導体基板 1329 基本絵素単位 1340 R反射ダイクロイックミラー 1341 B/G反射ダイクロイックミラー 1342 B反射ダイクロイックミラー 1343 高反射ミラー 1350 フレネルレンズ(第2コンデンサーレンズ) 1351 第1コンデンサーレンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−61132(JP,A) 特開 平3−123034(JP,A) 特開 平5−29558(JP,A) 特開 平8−31824(JP,A) 特開 平9−73103(JP,A) 特開 平9−50018(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G09F 9/30 - 9/46 G02F 1/1335 G02F 1/1368

Claims (15)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に、複数の画素電極と、隣接する
    該画素電極を分離する分離領域とを有し、該画素電極間
    にある分離領域のふもとに高融点の金属領域を設けたこ
    とを特徴とする表示装置用基板。
  2. 【請求項2】 基板上に、複数の画素電極と、隣接する
    該画素電極を分離する分離領域とを有し、該画素電極間
    にある分離領域の頂上部の角部が除去されていることを
    特徴とする表示装置用基板。
  3. 【請求項3】 基板上に、複数の画素電極と、隣接する
    該画素電極を分離する分離領域とを有し、該画素電極間
    にある分離領域のふもとに高融点の金属領域を設けると
    ともに、該画素電極間にある分離領域の頂上部の角部が
    除去されていることを特徴とする表示装置用基板。
  4. 【請求項4】 基板上に、画素電極形成部に対応する部
    分が開口された絶縁層と、開口部に設けられた画素電極
    と、該絶縁層と該画素電極との間に設けられた高融点金
    属層と、を有することを特徴とする表示装置用基板。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかの請求項に記載
    の表示装置用基板に、前記画素電極に接続されるスイッ
    チングトランジスタを配し、該表示装置用基板と対向電
    極基板との間に液晶を挟持してなる液晶装置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の液晶装置を用いたこと
    を特徴とする表示装置。
  7. 【請求項7】 請求項5の液晶装置はマイクロレンズを
    備えていることを特徴とする液晶装置。
  8. 【請求項8】 請求項5に記載の液晶装置において、 前記液晶装置は、半導体基板とアクティブマトリックス
    駆動回路部と前記画素電極とを有する表示装置用基板、
    液晶層、対向透明電極、シートガラス、を順次積層した
    構造を有することを特徴とする液晶装置。
  9. 【請求項9】 請求項8に記載の液晶装置において、更
    に前記シートガラス上に形成したマイクロレンズを有
    し、前記マイクロレンズの1素子は、前記画素電極の2
    つに対して一つ有することを特徴とする液晶装置。
  10. 【請求項10】 請求項9に記載の液晶装置において、
    前記マイクロレンズは前記シートガラス上のマイクロレ
    ンズガラス基板に形成したことを特徴とする液晶装置。
  11. 【請求項11】 請求項5、7〜10のいずれか1項に
    記載の液晶装置を用いたことを特徴とする投写型液晶表
    示装置。
  12. 【請求項12】 請求項11に記載の投写型液晶表示装
    置において、前記液晶装置を3色カラー用に少なくとも
    3個有し、高反射ミラーと、青色反射ダイクロイックミ
    ラーとで青色光を分離し、更に赤色反射ダイクロイック
    ミラーと、緑色/青色反射ダイクロイックミラーで赤色
    と緑色とを分離して、各液晶装置を投射することを特徴
    とする投写型液晶表示装置。
  13. 【請求項13】 基板上の絶縁層の画素電極形成部に対
    応する部分を開口する工程と、高融点金属層を堆積した
    後に、エッチングにより開口部の底部の角部を残して該
    高融点金属層を除去する工程と、該画素電極を構成する
    導電材料を堆積する工程と、前記画素電極形成部間の絶
    縁層の表面が露出するように該導電材料を平坦化して、
    該絶縁層で分離された画素電極を形成する工程と、を有
    する表示装置用基板の製造方法。
  14. 【請求項14】 基板上の絶縁層の画素電極形成部に対
    応する部分を開口する工程と、エッチングにより画素電
    極形成部間の絶縁層の頂上部の角部を除去する工程と、
    該画素電極を構成する導電材料を堆積する工程と、前記
    画素電極形成部間の絶縁層の表面が露出するように該導
    電材料を平坦化して、該絶縁層で分離された画素電極を
    形成する工程と、を有する表示装置用基板の製造方法。
  15. 【請求項15】 基板上の絶縁層の画素電極形成部に対
    応する部分を開口する工程と、高融点金属層を堆積した
    後に、エッチングにより開口部の底部の角部を残して該
    高融点金属層を除去するとともに、画素電極形成部間の
    絶縁層の頂上部の角部を除去する工程と、該画素電極を
    構成する導電材料を堆積する工程と、前記画素電極形成
    部間の絶縁層の表面が露出するように該導電材料を平坦
    化して、該絶縁層で分離された画素電極を形成する工程
    と、を有する表示装置用基板の製造方法。
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