JP3197469B2 - データ伝送率自動検出回路 - Google Patents
データ伝送率自動検出回路Info
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Description
信体系におけるデータ伝送を自動に検出する技術に係る
もので、詳しくは、所定のデータ伝送率が検出された時
点でエラー率の有無を検索し、所定のエラー率が検出さ
れない時点の伝送率をデータ伝送率に決定し、データ伝
送率の検出を迅速に行なって入出力装置の活用性を向上
し得るデータ伝送率自動検出回路に関するものである。
データ伝送率検出回路においては、図5に示したよう
に、システム制御回路SCCの出力信号により回路の各
部に制御信号を出力する制御部60と、外部から印加す
るシステムクロック信号CKにより多元的なデータ伝送
率パルスを出力するデータ伝送パルス発生部40と、該
データ伝送パルス発生部40の出力信号を前記制御部6
0の制御信号によりスイッチングして出力するスイッチ
ング部50と、前記制御部60の制御信号により既貯蔵
されたデータを遅延部10に印加するレジスタ20と、
前記スイッチング部50から入力したデータ伝送率パル
スの遅延率に入力シリアルデータを遅延させて出力する
遅延部10と、それら遅延部10およびスイッチング部
50の出力信号によりシステム制御回路SCCと送受信
を行なう送受信部30と、入力するシリアルデータの入
力端子レベル値と前記遅延部10から印加する24番目
ビットのレベル値とを排他的論理和し前記制御部60に
出力する検出部70と、を備えていた。
タ伝送率検出回路の作用を説明すると、次のようであっ
た。まず、図6はATPROMPT規約上のビットチャ
ートおよび波形を示した図面で、図中符号80は図面上
の右側に移動する入力ビット列を示し、遊休ビット(id
le bit)の1はデータが伝送されていないことを表わ
し、該遊休ビット時間の間入力するデータレベルの波形
は符号90の91部位である。かつ、AT文字列は受信
される情報文字列の伝送率を決定するためのPROMP
Tを表わし、各文字は0レベルのスタートビットが先行
され1レベルのストップビットが終わりになる16進数
に表示される。
データ伝送率パルス発生部40に印加し、シリアルデー
タが遅延部10の入力端子T1に印加すると、制御部6
0はシステム制御回路SCCから印加する信号によりイ
ネーブルされ、端子T16を通ってディスエーブル信号
をスイッチング部50に出力する。次いで、該制御部6
0は、図7に示したように遊休時間(idle tim
e)の1ビットの間、前記遅延部10の入力端子に印加
するシリアルデータを感知するため、該遅延部10の2
4個のビットにすべて1が印加するように端子T9を通
ってレジスタ20に制御信号を出力する初期化過程10
0を行なう。次いで、該制御部60は1レベルの遊休ビ
ットが0レベルのスタートビットにレベル遷移されるこ
とを判断するため入力するシリアルデータのビット列を
検査する過程101を行なう。次いで、該検査の結果、
レベル遷移が行なわれたと判断されると、該制御部60
の制御信号によりスイッチング部50がイネーブルさ
れ、19.2Kビットの最上のデータ伝送率がビット当
り16パルス発生され、データ伝送率パルス発生部40
から端子T3を通って307.2KHz(遅延率3.2
6μs)のデータ伝送率パルスが出力され、端子T7お
よび端子T8をそれぞれ通って遅延部10に印加される
(過程102)。
0の入力端子T1に印加したパルス幅52μSの19.
2Kbitのシリアルデータのスタートビットのパルス
は、データ伝送率パルスの遅延率により該遅延部10に
シフトされ、制御部60により次のように図7に示した
過程103が行なわれる。すなわち、前記スタートビッ
トがデータ伝送パルスの遅延率により24ビット遅延さ
れると、図9に示したように、スタートビットの上昇エ
ッジが遅延部10の24番目ビット11に現われ、
“A”PROMPTの初期1ビットに連続する下降エッ
ジが遅延部10に印加し、入力端子T1における値が1
になって該遅延部10の24番目ビット11の値は0に
なる。したがって、それら1および0の値は検出部70
により排他的論理和され、制御部60に印加して過程1
04が行なわれる。この場合、該制御部60は、前記ス
タートパルスがデータ伝送率パルスの遅延率により24
ビット遅延される以前までの検出部70からの出力信号
は無視するようにプログラミングされているので、前記
過程104において、検出部70からの出力信号が1で
あると、該制御部60はスタートビットに連結されるハ
イレベルの“A”PROMPTの初期1ビットの入力端
子T2を通って認識する過程108を行なう。次いで、
“A”PROMPTの初期1ビットが認識されると、デ
ータ伝送率が決定されたものであるとみなして、図7に
示したすべての過程を終了し、“A”PROMPTの初
期1ビットが認識されないと、既に行なったデータ伝送
率の決定過程を放棄し、入力するスタートビットを待機
するための初期化段階を再び行なう。
から端子T3を通って出力された307.2KHz(遅
延率3.26μs)のデータ伝送率パルスが端子T7お
よび端子T8を順次通って遅延部10に印加した状態に
おいて、図10に示したように、パルス幅104μSの
9.6Kbitのスタートビットパルスが該遅延部10
に端子T1を通って入力すると、図7の過程102で前
記スタートビットはデータ伝送率パルスの遅延率により
該遅延部10でシフトされ、制御部60は過程103を
行なう。すなわち、スタートビットが24ビット遅延さ
れると、図11に示したように、104μsのスタート
ビット中26μsが遅延部10に印加されず、スタート
ビットの上昇エッジは該遅延部10の24番目ビット1
1に現われ、下降エッジは未だ遅延部10に印加されな
いので入力端子T1における値は0になり、遅延部10
の24番目ビット11の値も0になる。したがって、検
出部70はそれら0、0の値を排他的論理和して制御部
60に出力し、該制御部60は図7の過程104を行な
う。次いで、該制御部60は、検出部70から0が出力
されると、データ伝送率が検出されないものであると認
識して次の下位の1/2データ伝送率パルスが遅延部1
0に印加するように端子T16を通ってスイッチング部
50をイネーブルさせ、同時に遅延部10の終わりの8
ビットに“1”が印加するように端子T10を通ってレ
ジスタ20を制御し、検出部70の出力値を無視する図
7の過程106を行なう。次いで、図12に示したよう
に307.2KHzの下位(すなわち1/2)に相当す
る、6.52μSの遅延率を有する153.6KHzの
データ伝送率パルスが端子T3,T7,T8を順次通っ
て遅延部10に印加されると、104μsのパルス幅の
シリアルデータのスタートビット中、下降エッジから2
6μsのパルス幅は遅延部10には印加されず、残りの
78μsのパルス幅のみが遅延部10に印加されて第1
6番目のビット位置まで配置される。その後、過程10
7を経て8ビットシフトされると、図13に示したよう
に、スタートビットの上昇エッジは24番目ビット11
に位置され、下降エッジも遅延部10に印加して入力端
子T1からの値は1になり、遅延部10の24番目ビッ
ト11の値は0になる。したがって、検出部70はそれ
ら1および0の値を排他的論理和して制御部60に出力
し、該制御部60は図7の過程104を行なう。次い
で、制御部60は、検出部70から1が出力されるので
適切なデータ伝送率が検出されたものであると認識し、
入力端子T2を通ってスタートビットに連結されたハイ
レベルの“A”PROMPTの初期1ビットを認識する
過程108を行なうが、“A”PROMPTの初期1ビ
ットが認識されると、制御部60は適切なデータ伝送率
が検出されているため、図7のすべての過程を終了し、
データ伝送率検出信号をシステム制御回路SCCに出力
する。一方、“A”PROMPTの初期1ビットが認識
されないと、既に行なったデータ伝送率の検出過程を放
棄して次に入力するスタートビットを待機するための初
期化段階を再び行なう。
構成された従来のデータ伝送率自動検出回路において
は、各貯蔵部に貯蔵されたデータを伝送する場合、それ
ら貯蔵媒体のすべての貯蔵データのデータ伝送パルスを
利用しトラック全体を検索するようになっているため、
データの検索時間が長くかかり、データ入出力装置に過
度の負荷を加えるようになるという不都合な点があっ
た。
め、本発明者たちは研究を重ねた結果次のようなデータ
伝送率自動検出回路を提供しようとするものである。
定のデータ伝送率が検出された時点でエラーの有無を検
索し、エラーの検出されない時点の伝送率をデータ伝送
率に決定し、データ伝送率を迅速かつ正確に検出してデ
ータ入出力装置の活用性を向上し得るデータ伝送率自動
検出回路を提供しようとするものである。
送率自動検出回路は、外部から入力する基本クロックパ
ルスから入力データを検出して出力するデータ検出部
(100)と、前記基本クロックパルスからクロック数
をカウントして増加させ前記データ検出部(100)か
ら出力信号が入力すると該カウント値をクリアさせるカ
ウンタ(200)と、該カウンタのカウント値がクリア
される以前にロードされたデータを貯蔵するデータ貯蔵
部(300)と、該データ貯蔵部(300)の出力信号
により個別データの伝送率とエラー率とをそれぞれ検出
し出力する複数個別データ検出部からなる検出機構(4
00)と、該検出機構(400)の各個別データ検出部
の検出個別データ伝送率から総データ伝送率を検出する
密度検出部(600)と、該密度検出部(600)から
出力する総データ伝送率にエラーが発生しているかを検
出するエラー検出部(500)とを備えたものである。
は、請求項1のデータ伝送率自動検出回路において、検
出機構(400)の各個別データ検出部は、データ貯蔵
部(300)と並列に連結された第1検出手段(40)
および第2検出手段(50)を有し、必要に応じそれ以
上の検出手段を有してなるものである。
は、請求項2のデータ伝送率自動検出回路において、第
1検出手段(40)に、データ貯蔵部(300)から印
加するデータ値を既設定された比較値と比較する比較部
(41)と、比較部(41)から出力する比較データ出
力信号によりカウント値を増加させるカウンティング部
(42)と、カウンティング部(42)から出力する相
異なる2つの出力信号から個別データの伝送率を検出す
る個別データ伝送率検出部(43)と、個別データ伝送
率検出部(43)から出力するデータ伝送率検出値にエ
ラーが発生しているかを検出する個別データエラー率検
出部(44)とを備えたものである。
は、請求項3のデータ伝送率自動検出回路において、比
較部(41)は、データ貯蔵部(300)とカウンティ
ング部(42)間に並列に連結され、n倍周期比較器
(11)、1.5n倍周期比較器(12)、および2n
倍周期比較器(13)を備えたものである。
は、請求項4のデータ伝送率自動検出回路において、n
倍周期比較器(11)、1.5n倍周期比較器(1
2)、および2n倍周期比較器(13)は、それぞれ許
容誤差範囲が同様に設定構成されている。
は、請求項4または5のデータ伝送率自動検出回路にお
いて、n倍周期比較器(11)、1.5n倍周期比較器
(12)、および2n倍周期比較器(13)は、それぞ
れ許容誤差範囲が±10%に設定されている。
は、請求項3のデータ伝送率自動検出回路において、カ
ウンティング部(42)は、比較部(41)と個別デー
タ伝送率検出部(43)と個別データエラー率検出部
(44)とに並列に連結され、第1カウンタ(14)
と、第2カウンタ(15)と、第3カウンタ(16)と
を備えたものである。
は、請求項3または7のデータ伝送率自動検出回路にお
いて、カウンティング部(42)は、第1〜第3カウン
タ(14),(15),(16)の出力中2つ以上の出
力カウント値が、比較される他のカウンタの設定値より
も大きくなるように設定構成されている。
は、請求項3のデータ伝送率自動検出回路において、個
別データ伝送率検出部(43)は、カウンティング部
(42)から出力する各カウント値が既設定された自己
の比較値よりも大きいとき、それぞれアクティブにされ
る各比較器(17),(18),(19)と、それら比
較器(17),(18),(19)の相異なる2つの出
力値を論理積する各ANDゲート(AD1),(AD
2),(AD3)と、それらANDゲート(AD1),
(AD2),(AD3)の出力データ値を論理和し個別
データ伝送率の検出の有無を知らせるORゲート(OR
1)とを備えたものである。
路は、請求項3のデータ伝送率自動検出回路において、
個別データエラー率検出部(44)に、前記カウンティ
ング部(42)から出力するカウント値が既設定された
自己の比較値よりも大きいとき、それぞれアクティブに
される各比較器(20),(21),(22)と、それ
ら比較器(20),(21),(22)の出力値を論理
和し個別データにエラーが検出されたことを知らせるO
Rゲート(OR2)と、該ORゲート(OR2)の出力
信号と前記個別データ伝送率検出部43のORゲート
(OR1)の出力信号と論理和しエラー率を検出するA
NDゲート(AD4)とを備えたものである。
路は、請求項1のデータ伝送率自動検出回路において、
密度検出部(600)に、検出機構(400)から出力
する個別データ伝送率検出値を論理和し、総データ伝送
率を検出するORゲート(OR3)を備えたものであ
る。
路は、請求項1のデータ伝送率自動検出回路において、
エラー検出部(500)に、検出機構(400)から出
力する個別データエラー率検出値を論理和し、総データ
エラー率を検出するORゲート(OR4)を備えたもの
である。
数がカウントされてクリアされ、該クリアされる以前の
ロードデータが貯蔵され、該貯蔵データの個別データ伝
送率およびエラー率がそれぞれ検出され、それら検出さ
れた個別データ伝送率から総データ伝送率が検出され
る。一方、該総データ伝送率にエラーが発生しているか
が検出され、エラーの発生がないとき前記総データ伝送
率が正常なデータ伝送率として決定される。
図面を用いて説明する。
伝送率自動検出回路においては、外部から入力する基本
クロックパルスCLKの上昇エッジまたは下降エッジで
のシリアルデータを検出するデータ検出部100と、該
入力する基本クロックパルスCLKをカウントし、該カ
ウント値を前記データ検出部100の出力信号によりク
リアさせるカウンタ200と、該カウンタ200により
クリアされる以前にロードされたデータを受けて貯蔵す
るデータ貯蔵部300と、該データ貯蔵部300の出力
信号から個別データの伝送率およびエラー率をそれぞれ
検出して出力する第1検出手段40および第2検出手段
50を有した検出機構400と、該検出手段400から
出力される各個別データの伝送率から総データの伝送率
を検出して出力する密度検出部600と、該密度検出部
600から出力される総データの伝送率にエラーが発生
しているかを検出して出力するエラー検出部500と、
を備えている。
段40においては、前記データ貯蔵部300から入力す
るデータを比較する比較部41と、該比較部41から出
力する比較データによりカウント値を増加させるカウン
ティング部42と、該カウンティング部42の出力信号
により個別データの伝送率を検出しシステム制御回路S
CCおよび密度検出部600にそれぞれ出力する個別デ
ータ伝送率検出部43と、該個別データ伝送率検出部4
3から出力した検出個別データ伝送率中エラーの発生の
有無を検出しエラー検出部500に出力する個別データ
エラー率検出部44と、を備えている。かつ、前記比較
部41においては、前記データ貯蔵部300からの出力
データが既設定された自己の比較値の±10%範囲内に
あるときそれぞれアクティブにされるn倍周期比較器1
1、1.5n倍周期比較器12、および2n倍周期比較
器13を備えている。
は、前記比較部41から出力するデータ信号のカウント
値をそれぞれ増加させる第1カウンタ14、第2カウン
タ15、および第3カウンタ16を備えている。さら
に、前記個別データ伝送率検出部43においては、前記
カウンティング部42の各カウンタ14〜16から出力
される各カウント値が既設定された自己の比較値よりも
大きいときそれぞれアクティブにされる各比較器17〜
19と、それら比較器17〜19の出力中相異なる2つ
の出力をそれぞれ論理積する各ANDゲートAD1〜A
D3と、それらANDゲートAD1〜AD3からの出力
信号を論理和し個別データの伝送率検出の有無を知らせ
るORゲートOR1と、を備えている。そして、前記個
別データエラー率検出部44においては、前記カウンテ
ィング部42の各カウント14〜16から出力するカウ
ント値がそれぞれ既設定された自己の比較値よりも大き
いときアクティブにされる各比較器20〜21と、それ
ら比較器20〜21からの出力データ値を論理和し個別
データのエラーが検出されたことを知らせるORゲート
OR2と、該ORゲートOR2および前記ORゲートO
R1の検出信号を論理積し個別データの伝送率検出値に
エラーが発生したことを検出するANDゲートAD4
と、を備えている。
50においては、前記データ貯蔵部300から入力する
データを比較する比較部51と、該比較部51からの出
力信号によりカウント値を増加させるカウンティング部
52と、該カウンティング部52からの出力信号により
個別データの伝送率を検出しシステム制御回路SCCお
よび密度検出部600にそれぞれ出力する個別データ伝
送率検出部53と、該個別データ伝送率検出部53から
出力する伝送率検出値にエラーが発生したかを検出しエ
ラー検出部500に出力する個別データエラー率検出部
54と、を備えている。さらに、前記比較部51におい
ては、前記データ貯蔵部300からの出力データ値が既
設定された比較値の±10%範囲内にあるときそれぞれ
アクティブにされるm倍周期比較器24、1.5m倍周
期比較器25、および2m倍周期比較器26を備えてい
る。
ては、前記比較部51からの出力データカウント値をそ
れぞれ増加させる第1カウンタ27、第2カウンタ2
8、および第3カウンタ29を備えている。かつ、前記
個別データ伝送率検出部53においては、前記カウンテ
ィング部52の各カウンタ27〜29の各出力カウント
値が既設定された各比較値よりも大きいときそれぞれア
クティブにされる各比較器31〜33と、それら比較器
31〜33の出力中相異なる2つの出力をそれぞれ論理
積する各ANDゲートAD1〜AD3と、それらAND
ゲートAD1〜AD3からの出力信号を論理和し個別デ
ータ伝送率を検出するORゲートOR1と、を備えてい
る。また、前記個別データエラー率検出部54において
は、前記カウンティング部52の各カウンタ27〜29
から出力するカウント値が既設定された比較値よりも大
きいときそれぞれアクティブにされる各比較器34〜3
6と、それら比較器34〜36からの出力データ値を論
理和し個別データのエラー検出の有無を知らせるORゲ
ートOR2と、該ORゲートOR2および前記ORゲー
トOR1の検出信号を論理積し個別データの伝送率検出
値にエラーが発生したことを検出するANDゲートAD
4と、を備えている。さらに、前記密度検出部600に
はORゲートOR3が備えられ、前記エラー検出部50
0にはORゲートOR4が備えられてそれぞれ総データ
伝送率と総データエラー率とを検出するようになってい
る。
前記第1検出手段40および第2検出手段50にて構成
されることに限定されず、必要に応じ第3検出手段…の
ように、たとえば、n個まで増設して使用することがで
きる。
伝送率自動検出回路の作用を説明すると次のようであ
る。
クロックパルスCLKがデータ検出部100、カウンタ
200、およびデータ貯蔵部300に印加され、図2
(B)に示したパルス形のシリアルデータが該データ検
出部100に印加すると、該データ検出部100は前記
基本クロックパルスCLKの上昇エッジまたは下降エッ
ジから図2(C)に示した波形のデータを検出し、前記
カウンタ200に出力する。次いで、該カウンタ200
は図2(D)に示したように、基本クロックパルスCL
Kのクロックパルスをカウントして増加させるが、前記
データ検出部100からの出力信号が印加するとそのカ
ウント値をクリアさせ、図2(E)に示したようにクリ
アされる以前にロードされたデータカウント値をデータ
貯蔵部300に出力し、該データカウント値はデータ貯
蔵部300に貯蔵され検出機構400に出力される。こ
の場合、通常、1つの特定データをコーディングする方
式にはFM方式(Frequency Modulation)と、MFM方
式(Modified Frequency Modulation )との2つの方式
があって、FM方式は図3(A)に示したように、各ク
ロック毎にデータを一緒に貯蔵する方式であり、MFM
方式は図3(B)に示したように、各クロック毎にデー
タを貯蔵せず、特定データが連続して0レベルのデータ
を有するとき、すなわち0から0に変化するときクロッ
クを貯蔵し、データの貯蔵密度を増加させる方式であ
る。かつ、クロックの比率においては、FM方式の場
合、クロックの間隔がそれぞれnおよび2nになり、M
FM方式の場合は、クロックの間隔がそれぞれn、1.
5n、および2nになる。したがって、データのコーデ
ィング方式により前記比較部41の各比較器はそれぞれ
n倍周期比較器11、1.5n倍周期比較器12、およ
び2n倍周期比較器13から構成され、ここで、nはデ
ータ伝送率を表わし、1、1.5、2はそれぞれ前記デ
ータ検出部100に入力されるデータの貯蔵密度を表わ
す。
タカウント信号が出力され、図2(E)に示したような
データカウント値が前記検出機構400の第1検出手段
40の比較部41に印加すると、該比較部41のn倍周
期比較器11、1.5n倍周期比較器12、および2n
倍周期比較器13にそれぞれ印加し、該データカウント
値がそれら周期比較器11,12,13にそれぞれ設定
された比較値の±10%範囲内にあるかが比較され、±
10%の範囲内にデータカウント値があると該当の比較
器はアクティブにされ、該当の比較器に連結されたカウ
ンティング部42の該当カウンタのカウント値が増加さ
れる。すなわち、伝送率nがたとえば12として前記n
倍周期比較器11に設定されている場合、前記データ貯
蔵部300から周期比較器11,12,13に任意のデ
ータカウント値が出力しそれぞれn倍周期比較器11、
1.5n倍周期比較器12、および2n倍周期比較器1
3に印加すると、該n倍周期比較器11の設定値は±1
0%範囲内であるため該n倍周期比較器11はアクティ
ブにされ、該n倍周期比較器11に連結されたカウンテ
ィング部42の第1カウンタ14のカウント値が1増加
され、他の第2および第3カウンタ15、16はそれぞ
れカウント値が増加されない。次いで、それら第1〜第
3カウンタ14、15、16に連結された個別データ伝
送率検出部43の各比較器17〜19および個別データ
エラー率検出部44の各比較器20〜22は、それぞれ
前記第1〜第3カウンタ14〜16から出力するカウン
ト値が自己の設定値よりも大きい場合のみアクティブに
される。
ら出力したカウント値が個別データ伝送率検出部43に
印加すると、各比較器17〜19でそれぞれ自己の設定
比較値と比較された後ANDゲートAD1〜AD3に出
力され、該ANDゲートAD1〜AD3ではそれら比較
器17〜19の相異なる2つの出力が論理積された後O
RゲートOR1に印加され、該ORゲートOR1でそれ
らANDゲートAD1〜AD3からの各出力データが論
理和された後、個別データ伝送率検出信号として密度検
出部600およびシステム制御回路SCCにそれぞれ出
力されるとともに個別データエラー率検出部44のAN
DゲートAD4の一方側端子に出力される。この場合、
個別データの伝送率検出信号が1であるとデータの伝送
率が検出された場合を示し、0であると回路内でプロセ
ス中である場合を示す。一方、前記カウンティング部4
2からのカウント値が前記個別データエラー率検出部4
4に印加すると、各比較器20〜22でそれぞれ設定さ
れた比較値により比較された後ORゲートOR2に印加
され、該ORゲートOR2で論理和された後前記AND
ゲートAD4の他方側入力端子に出力される。次いで、
該ANDゲートAD4では、前記ORゲートOR1から
一方側入力端子に印加した個別データ伝送率検出信号と
前記ORゲートOR2から他方側入力端子に印加した個
別データエラー率検出信号とが論理積され、該個別デー
タの伝送率が所定値に至ったとき入力信号中エラーが生
じて安定な伝送率として決定し得ないことを知らせるた
めの個別データエラー率が検出部500に出力される。
した第1検出手段と同様の作用が行なわれ、ANDゲー
トAD4で論理積された個別データのエラー率がエラー
検出部500に出力される一方、各ANDゲートAD1
〜AD4からの各出力データは論理和された後個別デー
タ伝送率検出信号として密度検出部600およびシステ
ム制御回路SCCにそれぞれ出力される。
出力されたそれら第1検出手段40および第2検出手段
50からの個別データエラー率はORゲートOR4で論
理和された後、総データエラー率検出信号T4として出
力され、前記密度検出部600にそれぞれ出力されたそ
れら第1検出手段40および第2検出手段50のデータ
伝送率検出信号はORゲートOR3で論理和された後、
総データ伝送率検出信号T3として出力される。この場
合、図4に示したように、前記密度検出部600から出
力する総データ伝送率検出信号T3と前記エラー検出部
500から出力する総データエラー率検出信号とがそれ
ぞれ0、0であると、回路内でプロセス中であることを
示し、それら信号が1、0であると、伝送率が検出され
て処理が完了されたことを示し、それら信号が1、1で
あるとエラー率が検出されて非正常な場合を示し貯蔵媒
体に異常があるかもしくはフォーマットされない状態を
示す。次いで、前記検出機構400の各個別データ伝送
率検出部の伝送率検出信号T1およびT2、前記密度検
出部600の総データ伝送率検出信号T3および前記エ
ラー検出部500の総データエラー率検出信号T4はそ
れぞれ前記システム制御回路SCCにそれぞれ印加され
る。
伝送率自動検出回路においては、従来のようにすべての
データの伝送率を利用し媒体のトラック全体を検索する
ことなく、所定のデータ伝送率が検出された時点でエラ
ー率の検索を行ない、エラー率の検出されない時点の伝
送率をデータの伝送率に決定するようになっているた
め、データの伝送率検出時間を短縮し、データ入出力装
置の負荷を減らして活用性を向上し得るという効果があ
る。
たブロック図である。
波形図で、(A)は基本クロック信号波形図、(B)は
入力データ波形図、(C)はデータ検出部の出力波形
図、(D),(E)はカウンタの出力波形図である。
ルス波形図で、(A)はFM方式によるパルス波形図、
(B)はMFM方式によるパルス波形図である。
出力テーブル表示図である。
図である。
波形表示図である。
る。
用状態説明図である。
用状態説明図である。
作用状態説明図である。
作用状態説明図である。
作用状態説明図である。
作用状態説明図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 データの伝送率を自動的に検出して出力
するデータ伝送率自動検出回路であって、 外部から入力する基本クロックパルスから入力データを
検出して出力するデータ検出部(100)と、 前記基本クロックパルスからクロック数をカウントして
増加させ、前記データ検出部(100)から出力信号が
印加すると該カウント値をクリアさせるカウンタ(20
0)と、 該カウンタ(200)のカウント値がクリアされる以前
に、ロードされたデータを受けて貯蔵するデータ貯蔵部
(300)と、 該データ貯蔵部(300)の出力信号により個別データ
の伝送率とエラー率とをそれぞれ検出して出力する複数
個の個別データ検出部を有した検出機構(400)と、 該検出機構(400)の各個別データ検出部の検出個別
データ伝送率から総データ伝送率を検出する密度検出部
(600)と、 該密度検出部(600)から出力する総データ伝送率に
エラーが発生しているかを検出するエラー検出部(50
0)と、を備えたデータ伝送率自動検出回路。 - 【請求項2】 前記検出機構(400)の各個別データ
検出部は、前記データ貯蔵部(300)と並列に連結さ
れた第1検出手段(40)および第2検出手段(50)
を有し、必要に応じそれ以上の検出手段を有してなる請
求項1に記載のデータ伝送率自動検出回路。 - 【請求項3】 前記第1検出手段(40)は、 前記データ貯蔵部(300)から印加するデータ値を既
設定された比較値と比較する比較部(41)と、 該比較部(41)から出力する比較データ出力信号によ
りカウント値を増加させるカウンティング部(42)
と、 該カウンティング部(42)から出力する相異なる2つ
の出力信号から個別データの伝送率を検出する個別デー
タ伝送率検出部(43)と、 該個別データ伝送率検出部(43)から出力するデータ
伝送率検出値にエラーが発生しているかを検出する個別
データエラー率検出部(44)と、を備えた請求項2に
記載のデータ伝送率自動検出回路。 - 【請求項4】 前記比較部(41)は、前記データ貯蔵
部(300)と前記カウンティング部(42)間に並列
に連結され、 n倍周期比較器(11)と、 1.5n倍周期比較器(12)と、 2n倍周期比較器(13)と、を備えてなる請求項3に
記載のデータ伝送率自動検出回路。 - 【請求項5】 前記n倍周期比較器(11)、1.5n
倍周期比較器12、および2n倍周期比較器(13)
は、それぞれ許容誤差範囲が同様に設定構成された請求
項4に記載のデータ伝送率自動検出回路。 - 【請求項6】 前記n倍周期比較器(11)、1.5n
倍周期比較器12、および2n倍周期比較器(13)
は、それぞれ許容誤差範囲が±10%に設定された請求
項4または5に記載のデータ伝送率自動検出回路。 - 【請求項7】 前記カウンティング部(42)は、前記
比較部(41)と前記個別データ伝送率検出部(43)
と前記個別データエラー率検出部(44)とに並列に連
結され、 第1カウンタ(14)と、 第2カウンタ(15)と、 第3カウンタ(16)と、を備えてなる請求項3に記載
のデータ伝送率自動検出回路。 - 【請求項8】 前記カウンティング部(42)は、第1
〜第3カウンタ(14),(15),(16)の出力中
2つ以上の出力カウント値が、比較される他のカウンタ
の設定値よりも大きくなるように設定構成された請求項
3または7に記載のデータ伝送率自動検出回路。 - 【請求項9】 前記個別データ伝送率検出部(43)
は、 前記カウンティング部(42)から出力する各カウント
値が既設定された自己の比較値よりも大きいとき、それ
ぞれアクティブにされる各比較器(17),(18),
(19)と、 それら比較器(17),(18),(19)の相異なる
2つの出力値を論理積する各ANDゲート(AD1),
(AD2),(AD3)と、 それらANDゲート(AD1),(AD2),(AD
3)の出力データ値を論理和し個別データ伝送率の検出
の有無を知らせるORゲート(OR1)と、を備えた請
求項3に記載のデータ伝送率自動検出回路。 - 【請求項10】 前記個別データエラー率検出部(4
4)は、 前記カウンティング部(42)から出力するカウント値
が既設定された自己の比較値よりも大きいとき、それぞ
れアクティブにされる各比較器(20),(21),
(22)と、 それら比較器(20),(21),(22)の出力値を
論理和し個別データにエラーが検出されたことを知らせ
るORゲート(OR2)と、 該ORゲート(OR2)の出力信号と前記個別データ伝
送率検出部(43)のORゲート(OR1の出力信号と
論理和しエラー率を検出するANDゲート(AD4)
と、を備えた請求項3に記載のデータ伝送率自動検出回
路。 - 【請求項11】 前記密度検出部(600)は、 前記検出機構(400)から出力する個別データ伝送率
検出値を論理和し総データ伝送率を検出するORゲート
(OR3)を備えた請求項1に記載のデータ伝送率自動
検出回路。 - 【請求項12】 前記エラー検出部(500)は、 前記検出機構(400)から出力する個別データエラー
率検出値を論理和し、総データエラー率を検出するOR
ゲート(OR4)を備えた請求項1に記載のデータ伝送
率自動検出回路。
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