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JP3151150B2 - 測量機の精度検査方法とその検査装置 - Google Patents

測量機の精度検査方法とその検査装置

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JP3151150B2
JP3151150B2 JP17209796A JP17209796A JP3151150B2 JP 3151150 B2 JP3151150 B2 JP 3151150B2 JP 17209796 A JP17209796 A JP 17209796A JP 17209796 A JP17209796 A JP 17209796A JP 3151150 B2 JP3151150 B2 JP 3151150B2
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Japan
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light
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mirror
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計重 武井
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Toda Corp
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、土地の境界等を決
定するための測量機の精度を検査するための検査方法と
その検査治具である検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、測量機の精度検査は測量誤差を少
なくするために重要であり、始業前点検若しくは定期点
検を行って、その信頼性を高く維持する必要がある。
【0003】そこで、例えば、従来の始業前点検では、
図8に示すように、約70m〜100m離れた位置に標
尺F,Rを向かい合わせて地面に立設する。
【0004】そして、前記両標尺F,Rの中間に三脚を
立て、その三脚の上に測量機をセットする。
【0005】次に、円型気泡管と整準ネジを用いて整準
する。望遠鏡を標尺に向け視準し、視野内の気泡像を合
致させ、各々前後の視準する点の読みF1及びR1をと
る。
【0006】次に、図9に示すように、R標尺の出来る
だけ近傍に前記三脚を据えつけ、その上に前記測量機を
セットする。そして、再び視準と気泡像との合致を繰り
返して、F2とR2を読みとる。
【0007】この結果、(F1ーR1)=(F2ーR2)で
あれば、測量機の調整の必要がないものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
検査方法は、標尺F,Rを立てるための広い場所を必要
とするので、そのような場所を確保することが困難であ
る。また、少なくとも2度測定する必要があるので手間
が掛かる、と言う問題点がある。
【0009】このように、従来の測量機の精度検査方法
は、検査場所の確保や手間が掛かる点において解決すべ
き課題を有していた。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係る測量機の精
度検査方法の上記課題を解決するための要旨は、水平な
定盤と、該定盤上に対向配置にして光軸を合わせた光発
生装置及び反射鏡とからなる検査装置を形成し、該検査
装置の前記光発生装置と反射鏡との間に測量機をセット
し、該測量機の十字線の実像と虚像とにより精度検査す
ることである。
【0011】本発明に係る測量機の検査装置は、水平な
定盤と、該定盤上に対向配置にして光軸を合わせた光発
生装置及び反射鏡とからなり、前記光発生装置には、ハ
ーフミラーが設けられていると共に、該ハーフミラーの
背後に光乱反射防止用の光吸収材を設けたことである。
【0012】本発明に係る測量機の精度検査方法及びそ
の検査装置によれば、光学装置を応用して定盤の上で容
易、かつ、高精度に測量機の精度を検査することができ
る。
【0013】
【発明の実施の形態】次に、本発明に係る実施形態につ
いて図面を参照して詳細に説明する。本発明の第1実施
例は、図1に示すように、水平な載置面を有する定盤1
と、該定盤1上にセットした反射鏡2と、該反射鏡2と
対向配置した光発生装置3とからなる測量機用の検査装
置4を形成する。前記定盤1の下部面には、水平調整ネ
ジ1aが付いており、この定盤1の傾きが大きい場合に
は前記水平調整ネジ1aの出入りを調節して当該定盤1
を水平にすることができる。
【0014】前記反射鏡2は、図3に示すように、門型
の枠体5に懸吊軸6が、例えば、ネジ対偶で上下移動自
在にら着され、該懸吊軸6の下端部にベアリング7が備
えられている。
【0015】そして、前記ベアリング7に挿通して吊下
げ部材8が揺動自在に垂下され、該吊下げ部材8の下端
部に、ミラー9を固着している保持部材10が固定され
ている。
【0016】更に、前記保持部材10の下端面から、金
属製の棒材11が所要の長さで垂設されている。
【0017】そして、前記棒材11の近傍にその両側か
ら挟むようにして対向配置に、磁性体であるマグネット
12,12が支持部材13,13で支持されて配設され
ている。
【0018】前記金属製の棒材11とマグネット12,
12とで、前記ミラー9の揺動を抑制する揺動抑制手段
としてのマグネットダンパーを形成している。前記マグ
ネット12,12で前記棒材11を両側から引きつけ
て、保持部材10とミラー9との揺動を抑えて懸吊軸6
で垂設状態になるように作用するものである。
【0019】よって、この関係は保持部材10の揺動を
抑制するもので有れば良く、逆に配設しても良いのであ
る。例えば、前記保持部材10にマグネットを設け、支
持部材13に金属製棒材11を設けるようにしても良
い。
【0020】このほか、保持部材10と支持部材13の
両方にマグネットを設けて、互いに引きつけ合うように
セットすることでも良い。更に、前記マグネット12,
12の水平方向の位置を調整することができるようにし
て、ミラー9の垂設状態を調整できるようにすることが
好ましいものである。
【0021】また、反射鏡2は、鉛直軸を中心にして水
平方向回りに回転でき、表・裏のミラー9を使用するこ
とにより、垂直精度の確認もできるようになっている。
【0022】更に、前記ミラー9は、保持部材10とと
もに、吊下げ部材8によって、図1に示すように、光発
生装置3側とその反対側の方向に配設され、ベアリング
7部を中心にして揺動するものである。
【0023】そして、前記揺動抑制手段でミラー9の揺
動を抑えて垂設状態に素早く設定される。前記ベアリン
グ7に保持部材10の揺動を抑制するダンパー、例え
ば、オイルダンパーやエアーダンパー、を設けるように
しても良い。また、反射鏡2には、光路途中で外部の光
が検査光路の中に入らないように、測量機16(レベル
とも言う)の先端部を覆うための覆い部15bが設けら
れている。
【0024】次に、前記光発生装置3は、定盤1の載置
面に垂設された支持部材14に位置固定部材15を介し
て保持されると共に、例えば、調節ネジ等の作用によ
り、支持部材15の垂設方向(図では上下方向)と、対
向する反射鏡2側への2方向に移動自在にされている。
【0025】そして、光発生装置3の構造は、例えば、
図5に示すように、光発生装置3の互いに直交配置にさ
れた筒体において、一方の筒体の中に図示しない電源装
置に電気的に接続された光源としての電球3aと、その
光軸上に45゜傾斜させて筒体同士の交差部に配置した
ハーフミラー3bと、他方の筒体に配設された接眼レン
ズ3cと対物レンズ3dと、が各々備えられている。
【0026】この測量機の検査装置4による精度検査方
法の概念は、図2に示すように、前記光発生装置3の電
球3aからの光線が前記ハーフミラー3bで反射され、
反射鏡2のミラー9に向かって直進する。
【0027】そして、光軸を合わせた光発生装置3と反
射鏡2との間に、測量機16があると、その内部にある
十字線ヘアー16aを透過してミラー9で反射して光発
生装置3に戻った十字線ヘアーの虚像と、光線が前記十
字線ヘアー16aで反射して直接に光発生装置3に戻っ
た実像とを、測定者の眼17で観測する。また、光発生
装置3にも、検査光路の途中に外部の光が入らないよう
に、覆い部15cが設けられている。測量機16におけ
る符号16eは接眼レンズを、16bは対物レンズを各
々示している。
【0028】すると、図4(a)に示すように、十字線
ヘアー16aの実像18と虚像19とが一致すれば、測
量機16の視準線が水平であり、一致しなければ同視準
線が水平でないことになる。
【0029】また、その誤差の程度も、ミラー9によっ
て誤差が実際の2倍に観測され、ヘアー線1本の誤差が
3秒であるので、例えば、誤差がヘアー線2本分となれ
ば、6秒の誤差であるが実際にはその半分の3秒とな
る。よって、測量機16の許容誤差が10秒以内なの
で、検査合格となる。
【0030】また、図4(b)に示すように、許容範囲
内であることが明確となるように、図5に示すように、
検査光路の途中に仕切り板20を設けることにより、反
射像19が許容範囲にあるかどうかを簡単に確認するこ
とができるものである。
【0031】このようにして、検査装置4に検査対象の
測量機16をセットし、十字線ヘアーの実像と虚像とを
比較することで、容易に机上の検査とすることが出来る
ものである。
【0032】また、図1に示すように、測量機16を基
台16cに支持させて、高さ調節ネジ16d,16dで
調節し、十字線ヘアーの虚像をその実像に合わせるよう
にすることで、測量機16の気ほう管調整ネジを調整
し、許容誤差内に収めることもできる。
【0033】次に、本発明の第2実施例は、図1に示す
ように、光発生装置3に関するもので、ハーフミラー3
bの背後であって、筒体の内面にシート等の光吸収材3
eを所望の範囲に貼着しておくことが、前記第1実施例
と相違するところである。
【0034】前記光吸収材3eの存在によって、筒体内
部での光の乱反射が防止されて、十字線ヘアーの実像と
虚像とが明瞭に見えるようになるものである。
【0035】本発明の第3実施例は、図6に示すよう
に、ハーフミラーに代わってプリズム21を使用するこ
とで、のぞき口を上面にすることができる。なお、前記
プリズム21は、図7に示すように、検査光路に対して
理論上の設定角度よりもθ=1゜乃至2゜程度にして傾
斜させて、光を逃がして見やすくしてある。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る測量
機の精度検査方法は、水平な定盤と、該定盤上に対向配
置にして光軸を合わせた光発生装置及び反射鏡とからな
る検査装置を形成し、該検査装置の前記光発生装置と反
射鏡との間に測量機をセットし、該測量機の十字線の実
像と虚像とにより精度検査することなので、従来のよう
な広い場所を確保する必要もなく机上での簡易な検査方
法となり、短時間でしかも高精度に検査することが出来
るようになると言う優れた効果を奏する。
【0037】本発明に係る測量機の検査装置は、水平な
定盤と、該定盤上に対向配置にして光軸を合わせた光発
生装置及び反射鏡とからなり、前記光発生装置には、ハ
ーフミラーが設けられていると共に、該ハーフミラーの
背後に光乱反射防止用の光吸収材を設けてなるので、始
業前にして測量機を容易かつ手間を掛けずに精度検査が
出来るようになると言う優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る測量機の検査装置を使用する使用
状態説明図である。
【図2】同本発明に係る検査方法の概念を示す説明図で
ある。
【図3】同本発明に係る検査装置における、反射鏡の構
造を示す正面図である。
【図4】同本発明に係る測量機の検査装置で十字線ヘア
ーの実像と虚像とを示す説明図(a)と、仕切板を設け
た場合の説明図(b)である。
【図5】同本発明の第1実施例に係る測量機の検査装置
の光発生装置の構造を示す断面図である。
【図6】本発明の第3実施例に係る光発生装置の断面図
である。
【図7】同本発明の第3実施例に係る光発生装置のプリ
ズムの設定状態の説明図である。
【図8】従来例に係る測量機の検査方法を示す説明図で
ある。
【図9】同従来例に係る測量機の検査方法を示す説明図
である。
【符号の説明】
1 定盤、 2 反射鏡、 3 光発生装置、 3a 電球、 3b ハーフミラー、 3e 光吸収材、 4 測量機の検査装置、 6 懸吊軸、 7 ベアリング、 8 吊下げ部材、 9 ミラー、 10 保持部材、 11 棒材、 12 マグネット、 13 支持部材、 16 測量機、 16a 十字線ヘアー、 17 眼、 18 十字線ヘアーの実像、 19 十字線ヘアーの虚像。

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 水平な定盤と、該定盤上に対向配置にし
    て光軸を合わせた光発生装置及び反射鏡とからなる検査
    装置を形成し、該検査装置の前記光発生装置と反射鏡と
    の間に測量機をセットし、該測量機の十字線の実像と虚
    像とにより精度検査すること、 を特徴とする測量機の精度検査方法。
  2. 【請求項2】 光発生装置におけるハーフミラーの背後
    に光乱反射防止用の光吸収材を設けたこと、 を特徴とする請求項1に記載の測量機の精度検査方法。
  3. 【請求項3】 光発生装置に、ハーフミラーとしてプリ
    ズムを用いたこと、 を特徴とする請求項1に記載の測量機の精度検査方法。
  4. 【請求項4】 水平な定盤と、該定盤上に対向配置にし
    て光軸を合わせた光発生装置及び反射鏡とからなり、前
    記光発生装置には、ハーフミラーが設けられていると共
    に、該ハーフミラーの背後に光乱反射防止用の光吸収材
    を設けたこと、 を特徴とする 測量機の検査装置。
  5. 【請求項5】 水平な定盤と、該定盤上に対向配置にし
    て光軸を合わせた光発生装置及び反射鏡とからなり、前
    記光発生装置は、水平な定盤に垂設された支持部材に対
    して、その垂設方向に移動自在であると共に、反射鏡方
    向にも移動自在であること、 を特徴とする 測量機の検査装置。
  6. 【請求項6】 水平な定盤と、該定盤上に対向配置にし
    て光軸を合わせた光発生装置及び反射鏡とからなり、前
    記反射鏡は、懸吊部材で揺動自在に懸吊されると共に、
    揺動を抑制する揺動抑制手段で垂設されること、 を特徴とする 測量機の検査装置。
  7. 【請求項7】 揺動抑制手段は、反射鏡側と懸吊部材側
    とのいづれかに設けられた金属製部材と磁性体とからな
    ること、 を特徴とする請求項6に 記載の測量機の検査装置。
JP17209796A 1996-07-02 1996-07-02 測量機の精度検査方法とその検査装置 Expired - Fee Related JP3151150B2 (ja)

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JP3329313B2 (ja) 1999-06-02 2002-09-30 日本電気株式会社 薄膜トランジスタアレイおよび薄膜トランジスタアレイ製造方法
CN105444784B (zh) * 2015-12-24 2018-05-18 中冶建筑研究总院有限公司 一种铅垂线变位系统的现场校准装置

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