JP3139097B2 - 伸び計 - Google Patents
伸び計Info
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- JP3139097B2 JP3139097B2 JP04000280A JP28092A JP3139097B2 JP 3139097 B2 JP3139097 B2 JP 3139097B2 JP 04000280 A JP04000280 A JP 04000280A JP 28092 A JP28092 A JP 28092A JP 3139097 B2 JP3139097 B2 JP 3139097B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】 本発明は、2つの標線グリップ
間の距離の変化を、差動トランスをはじめとする変位検
出器によって直接的に検出する方式の伸び計に関する。
間の距離の変化を、差動トランスをはじめとする変位検
出器によって直接的に検出する方式の伸び計に関する。
【0002】
【従来の技術】 差動トランス等の変位検出器を変換器
として用いた伸び計においては、両端に設けられた標線
グリップにおいて試験片に装着され、この2つの標線グ
リップ間の距離の変化を、レバー等を介さずに直接的に
変位検出器に伝達することにより、試験片の標線間の伸
びを測定する。
として用いた伸び計においては、両端に設けられた標線
グリップにおいて試験片に装着され、この2つの標線グ
リップ間の距離の変化を、レバー等を介さずに直接的に
変位検出器に伝達することにより、試験片の標線間の伸
びを測定する。
【0003】このような伸び計においては、従来、その
標線グリップとしては図4に例示するような構造のもの
が多用されている。すなわち、直線状のエッジを有し、
伸び計本体40内の伝達機構を介して変換器に係合され
る標線エッジ41と、この標線エッジ41に対して調整
ねじ42aの回動により接近・離反し、先端部にV溝状
のエッジを有する加圧子42によって構成され、標線エ
ッジ41と加圧子42との間で試験片Wを挟み込んだ状
態で試験片Wに装着されるようになっている。
標線グリップとしては図4に例示するような構造のもの
が多用されている。すなわち、直線状のエッジを有し、
伸び計本体40内の伝達機構を介して変換器に係合され
る標線エッジ41と、この標線エッジ41に対して調整
ねじ42aの回動により接近・離反し、先端部にV溝状
のエッジを有する加圧子42によって構成され、標線エ
ッジ41と加圧子42との間で試験片Wを挟み込んだ状
態で試験片Wに装着されるようになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】 ところで、以上のよ
うな従来の伸び計を用いて、例えば7本撚りのワイヤロ
ープの引張試験を行うような場合、試験片Wへの装着時
における試験片Wへのエッジの保持状況が、図5(A)
に示すように安定して密着した良好な状況となる場合も
あるが、同図(B)に示すように不安定な状況となる場
合もある。これは、例えば一方のグリップにおいて
(A)のように安定して保持するように装着しても、2
つのグリップは互いに同方向に向いているため、ワイヤ
ロープの撚りピッチと標線間距離との関連で他方のグリ
ップでは(B)の状況とならざるを得ない等の原因によ
る。
うな従来の伸び計を用いて、例えば7本撚りのワイヤロ
ープの引張試験を行うような場合、試験片Wへの装着時
における試験片Wへのエッジの保持状況が、図5(A)
に示すように安定して密着した良好な状況となる場合も
あるが、同図(B)に示すように不安定な状況となる場
合もある。これは、例えば一方のグリップにおいて
(A)のように安定して保持するように装着しても、2
つのグリップは互いに同方向に向いているため、ワイヤ
ロープの撚りピッチと標線間距離との関連で他方のグリ
ップでは(B)の状況とならざるを得ない等の原因によ
る。
【0005】試験片Wとグリップの各エッジが(B)に
示すように不安定に当接した状態で試験を行うと、標線
がずれてしまう可能性がある。また、ワイヤロープ等の
撚りが掛けられた試験片Wに引張試験を行うと、図6
(A)に外観図を、(B)にそのA−A断面図を示すよ
うに引張荷重Pによって試験片Wの撚りが戻ろうとする
ため、標線エッジには余分な横荷重が作用し、標線エッ
ジのずれを生じるきっかけとなるとともに、測定誤差を
大きくする原因となる。
示すように不安定に当接した状態で試験を行うと、標線
がずれてしまう可能性がある。また、ワイヤロープ等の
撚りが掛けられた試験片Wに引張試験を行うと、図6
(A)に外観図を、(B)にそのA−A断面図を示すよ
うに引張荷重Pによって試験片Wの撚りが戻ろうとする
ため、標線エッジには余分な横荷重が作用し、標線エッ
ジのずれを生じるきっかけとなるとともに、測定誤差を
大きくする原因となる。
【0006】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、ワイヤロープ等の撚りが掛かった試験片の試験
時にも、試験片に対して標線エッジ等を常に安定して密
着させることができるとともに、試験時において試験片
の撚りが戻っても標線エッジのずれも生じにくく、測定
誤差が生じにくい伸び計の提供をその目的としている。
もので、ワイヤロープ等の撚りが掛かった試験片の試験
時にも、試験片に対して標線エッジ等を常に安定して密
着させることができるとともに、試験時において試験片
の撚りが戻っても標線エッジのずれも生じにくく、測定
誤差が生じにくい伸び計の提供をその目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】 上記の目的を達成する
ため、本発明の伸び計では、各標線グリップが、支持部
材およびエッジ先端部材からなる標線エッジと、該標線
エッジに対向して試験片を押圧可能であり、支持部材お
よびエッジ先端部材からなる加圧子と、から構成され、
標線エッジのエッジ先端部材および加圧子のエッジ先端
部材は、それぞれの支持部材に対して試験片の引張方向
に平行な軸の回りに回動自在に支承されていることによ
って特徴付けられる。
ため、本発明の伸び計では、各標線グリップが、支持部
材およびエッジ先端部材からなる標線エッジと、該標線
エッジに対向して試験片を押圧可能であり、支持部材お
よびエッジ先端部材からなる加圧子と、から構成され、
標線エッジのエッジ先端部材および加圧子のエッジ先端
部材は、それぞれの支持部材に対して試験片の引張方向
に平行な軸の回りに回動自在に支承されていることによ
って特徴付けられる。
【0008】
【作用】 標線エッジおよび加圧子を、それぞれ一体構
造とせず、試験片に当接されるエッジ先端部分と支持部
材とに分離して、それぞれのエッジ先端部分を支持部材
に対して試験片の引張方向に平行な軸の回りで回動可能
に支承することにより、各エッジ先端部分は試験片の外
形に応じて上記軸の回りに自由にその姿勢を変化させた
状態で試験片を挟み込むことが可能となり、また、引張
荷重により試験片の撚りが戻ってもそれに追随してエッ
ジ先端部分のみが回動するから、支持部材には撚りの戻
りに起因する横荷重が伝達されず、所期の目的を達成で
きる。
造とせず、試験片に当接されるエッジ先端部分と支持部
材とに分離して、それぞれのエッジ先端部分を支持部材
に対して試験片の引張方向に平行な軸の回りで回動可能
に支承することにより、各エッジ先端部分は試験片の外
形に応じて上記軸の回りに自由にその姿勢を変化させた
状態で試験片を挟み込むことが可能となり、また、引張
荷重により試験片の撚りが戻ってもそれに追随してエッ
ジ先端部分のみが回動するから、支持部材には撚りの戻
りに起因する横荷重が伝達されず、所期の目的を達成で
きる。
【0009】
【実施例】 図1は本発明実施例の伸び計の標線グリッ
プの部分を抽出して示す正面図で、図2はその平面図で
ある。標線エッジ1はエッジ先端部材11とその支持部
材12によって構成され、エッジ先端部材11は支持部
材12に対して引張軸心CLにほぼ沿った軸の回りに回
動自在に支承されている。
プの部分を抽出して示す正面図で、図2はその平面図で
ある。標線エッジ1はエッジ先端部材11とその支持部
材12によって構成され、エッジ先端部材11は支持部
材12に対して引張軸心CLにほぼ沿った軸の回りに回
動自在に支承されている。
【0010】すなわち、支持部材12の前端面には円弧
状の底面を持つ凹溝12aが形成されており、エッジ先
端部材11の後端面には、この凹溝12aに嵌まり込む
厚さを持ち、かつその円弧と同等の曲率を持つ円弧状の
端面を持つ突起11aが形成されており、エッジ先端部
材11はその突起11aの端面が凹溝12aの底面に面
接触した状態で、その面に沿って回動自在に支持部材1
2に対して支承されている。ここで、上記した面接触を
確実なものとするため、エッジ先端部材11と支持部材
12との間には引張コイルばね13が配設されている。
状の底面を持つ凹溝12aが形成されており、エッジ先
端部材11の後端面には、この凹溝12aに嵌まり込む
厚さを持ち、かつその円弧と同等の曲率を持つ円弧状の
端面を持つ突起11aが形成されており、エッジ先端部
材11はその突起11aの端面が凹溝12aの底面に面
接触した状態で、その面に沿って回動自在に支持部材1
2に対して支承されている。ここで、上記した面接触を
確実なものとするため、エッジ先端部材11と支持部材
12との間には引張コイルばね13が配設されている。
【0011】加圧子2もエッジ先端部材21とその支持
部材22よって構成され、上記した標線エッジ1と全く
同様の構造により、エッジ先端部材21は、その後端面
に形成された円弧状の端面を持つ突起21aが、支持部
材22の前端面に形成された円弧状の底面を持つ凹溝2
2aに嵌まり込み、かつ、各円弧状の面同士が面接触し
た状態で支持部材22に対して引張軸心CLにほぼ沿っ
た軸の回りに回動自在に支承されているとともに、この
面接触を確実なものとするための引張コイルばね23が
配設されている。
部材22よって構成され、上記した標線エッジ1と全く
同様の構造により、エッジ先端部材21は、その後端面
に形成された円弧状の端面を持つ突起21aが、支持部
材22の前端面に形成された円弧状の底面を持つ凹溝2
2aに嵌まり込み、かつ、各円弧状の面同士が面接触し
た状態で支持部材22に対して引張軸心CLにほぼ沿っ
た軸の回りに回動自在に支承されているとともに、この
面接触を確実なものとするための引張コイルばね23が
配設されている。
【0012】また、各エッジ先端部材11,21の突起
11a,21aには、それぞれの上面にピン11b,2
1bが固着されているとともに、このピン11b,21
bは各支持部材12,22に形成された円弧状の長孔1
2b,22b内に嵌まり込んでおり、この構造によって
各エッジ先端部材11,21が各支持部材12,22か
ら抜けることを防止している。
11a,21aには、それぞれの上面にピン11b,2
1bが固着されているとともに、このピン11b,21
bは各支持部材12,22に形成された円弧状の長孔1
2b,22b内に嵌まり込んでおり、この構造によって
各エッジ先端部材11,21が各支持部材12,22か
ら抜けることを防止している。
【0013】標線エッジ1の支持部材12は、従来と同
様に伸び計本体内に設けられた部材を介して差動トラン
ス等の変換器に接続されるが、その構造は従来の通常の
この種の伸び計と全く同様であり、また、加圧子2の支
持部材22についても、従来と同様に加圧子調整ねじに
接続される。
様に伸び計本体内に設けられた部材を介して差動トラン
ス等の変換器に接続されるが、その構造は従来の通常の
この種の伸び計と全く同様であり、また、加圧子2の支
持部材22についても、従来と同様に加圧子調整ねじに
接続される。
【0014】なお、標線エッジ1および加圧子2の支持
部材12および22は、それぞれの後端側から圧縮コイ
ルばね14および24により弾性的に押圧されており、
引張荷重Pによる試験片Wの縮径分だけ前進するように
構成されているが、この点も従来と同様である。
部材12および22は、それぞれの後端側から圧縮コイ
ルばね14および24により弾性的に押圧されており、
引張荷重Pによる試験片Wの縮径分だけ前進するように
構成されているが、この点も従来と同様である。
【0015】以上のような標線グリップの構造は2つの
グリップについて共通であり、本発明実施例の伸び計は
このような上下2つの標線グリップが試験片Wの上下の
標線を把持した状態で試験片Wに装着される。
グリップについて共通であり、本発明実施例の伸び計は
このような上下2つの標線グリップが試験片Wの上下の
標線を把持した状態で試験片Wに装着される。
【0016】図3は本発明実施例の作用説明図で、以
下、この図を参照しつつその作用を述べる。例えばワイ
ヤロープ等の撚りが掛かった試験片Wに本発明実施例を
装着するとき、試験片Wの各標線部分の断面形状に応じ
て、図3(A)または(B)に例示するように各エッジ
先端部材11,12を支持部材12,22に対して自由
に回動させて試験片Wを挟み込むことにより、常に安定
した密着状態で試験片Wを把持することができる。
下、この図を参照しつつその作用を述べる。例えばワイ
ヤロープ等の撚りが掛かった試験片Wに本発明実施例を
装着するとき、試験片Wの各標線部分の断面形状に応じ
て、図3(A)または(B)に例示するように各エッジ
先端部材11,12を支持部材12,22に対して自由
に回動させて試験片Wを挟み込むことにより、常に安定
した密着状態で試験片Wを把持することができる。
【0017】また、このような試験片Wが引張荷重によ
り撚り戻されたときにも、各エッジ先端部材11,21
がそのひねりに追随して回動することになり、各支持部
材12,22には殆ど横荷重が伝達されず、伸びの測定
値には殆ど誤差が生じることがない。
り撚り戻されたときにも、各エッジ先端部材11,21
がそのひねりに追随して回動することになり、各支持部
材12,22には殆ど横荷重が伝達されず、伸びの測定
値には殆ど誤差が生じることがない。
【0018】ここで、標線エッジ1のエッジ先端部材1
1が、当接している部分の試験片Wの形状変化により回
動したとき、変位検出器からの距離が変化することも考
えられるが、この種の伸び計ではレバー等を介さずに直
接的に標線グリップ間の距離を変位検出器で測定するた
め、伸びの測定値に影響を及ぼすことはない。
1が、当接している部分の試験片Wの形状変化により回
動したとき、変位検出器からの距離が変化することも考
えられるが、この種の伸び計ではレバー等を介さずに直
接的に標線グリップ間の距離を変位検出器で測定するた
め、伸びの測定値に影響を及ぼすことはない。
【0019】なお、以上の実施例では、各エッジ先端部
材の支持部材に対する回動の案内方式を、両者の端面部
に形成した円弧状の面同士の接触によって行ったが、本
発明はこれに限定されることなく、例えば球面接触によ
る案内(ただし、この場合引張軸に平行な軸の回り以外
への回動を規制する必要がある)、あるいはピン接合に
よる案内等、他の公知の案内方式を採用し得ることは勿
論である。
材の支持部材に対する回動の案内方式を、両者の端面部
に形成した円弧状の面同士の接触によって行ったが、本
発明はこれに限定されることなく、例えば球面接触によ
る案内(ただし、この場合引張軸に平行な軸の回り以外
への回動を規制する必要がある)、あるいはピン接合に
よる案内等、他の公知の案内方式を採用し得ることは勿
論である。
【0020】また、各エッジ先端部材の回動中心軸は、
特に引張軸心に一致させる必要はなく、引張軸心と平行
でありさえすれば足りるが、標線エッジおよび加圧子の
各エッジ先端部材の回動範囲を有効に用いるためには、
その回動中心軸は引張軸心に近いほど好ましい。
特に引張軸心に一致させる必要はなく、引張軸心と平行
でありさえすれば足りるが、標線エッジおよび加圧子の
各エッジ先端部材の回動範囲を有効に用いるためには、
その回動中心軸は引張軸心に近いほど好ましい。
【0021】
【発明の効果】 以上のように本発明によれば、標線グ
リップの標線エッジと加圧子を、それぞれ支持部材とエ
ッジ先端部材とに分割し、各エッジ先端部材を支持部材
に対して引張軸と平行な軸の回りに回動自在に支承した
ことにより、例えば、ワイヤロープ等の撚りが掛かった
試験片に装着する場合でも、各エッジ先端部材を試験片
の断面形状に応じて自由に回動させることによって、常
に安定した装着が可能となるとともに、試験時に試験片
の撚りが戻っても各エッジ先端部材がそれに応じて回動
することから、標線がずれてしまう可能性が極めて少な
くなり、また、各支持部材には撚り戻しに起因する横荷
重が作用せず、測定誤差が生じることなく常に正確な伸
びの測定が可能となる。
リップの標線エッジと加圧子を、それぞれ支持部材とエ
ッジ先端部材とに分割し、各エッジ先端部材を支持部材
に対して引張軸と平行な軸の回りに回動自在に支承した
ことにより、例えば、ワイヤロープ等の撚りが掛かった
試験片に装着する場合でも、各エッジ先端部材を試験片
の断面形状に応じて自由に回動させることによって、常
に安定した装着が可能となるとともに、試験時に試験片
の撚りが戻っても各エッジ先端部材がそれに応じて回動
することから、標線がずれてしまう可能性が極めて少な
くなり、また、各支持部材には撚り戻しに起因する横荷
重が作用せず、測定誤差が生じることなく常に正確な伸
びの測定が可能となる。
【図1】 本発明実施例の標線グリップの部分を抽出し
て示す正面図
て示す正面図
【図2】 図1の平面図
【図3】 本発明実施例の作用説明図
【図4】 従来の伸び計の標線グリップの構造を示す外
観図
観図
【図5】 従来の伸び計の標線グリップをワイヤロープ
に装着した場合のエッジの当接状況の説明図
に装着した場合のエッジの当接状況の説明図
【図6】 撚りが掛かった試験片に引張荷重を加えた場
合の挙動の説明図
合の挙動の説明図
1・・・・標線エッジ 11・・・・エッジ先端部材 11a・・・・突起 11b・・・・ピン 12・・・・支持部材 12a・・・・凹溝 12b・・・・円弧状長孔 13・・・・引張コイルばね 14・・・・圧縮コイルばね 2・・・・加圧子 21・・・・エッジ先端部材 21a・・・・突起 21b・・・・ピン 22・・・・支持部材 22a・・・・凹溝 22b・・・・円弧状長孔 23・・・・引張コイルばね 24・・・・圧縮コイルばね
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 3/00 - 3/62 G01B 21/00 JICSTファイル(JOIS)
Claims (1)
- 【請求項1】 試験片に装着された2つの標線グリップ
間の距離の変化を変位検出器を用いて検出することによ
り、試験片の伸びを測定する伸び計において、上記各標
線グリップが、支持部材およびエッジ先端部材からなる
標線エッジと、該標線エッジに対向して試験片を押圧可
能であり、支持部材およびエッジ先端部材からなる加圧
子と、から構成され、前記標線エッジのエッジ先端部材
および加圧子のエッジ先端部材は、それぞれの支持部材
に対して試験片の引張方向に平行な軸の回りに回動自在
に支承されていることを特徴とする伸び計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04000280A JP3139097B2 (ja) | 1992-01-06 | 1992-01-06 | 伸び計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04000280A JP3139097B2 (ja) | 1992-01-06 | 1992-01-06 | 伸び計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05180742A JPH05180742A (ja) | 1993-07-23 |
JP3139097B2 true JP3139097B2 (ja) | 2001-02-26 |
Family
ID=11469497
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04000280A Expired - Fee Related JP3139097B2 (ja) | 1992-01-06 | 1992-01-06 | 伸び計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3139097B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008014324A2 (en) | 2006-07-25 | 2008-01-31 | Analog Devices, Inc. | Multiple microphone system |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100716211B1 (ko) * | 2005-10-26 | 2007-05-10 | 한국전력공사 | 초기 측정부의 길이를 변화시킬 수 있는 고온용 변형율측정장치 |
JP5971388B2 (ja) * | 2015-07-09 | 2016-08-17 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機用標点治具および材料試験機 |
-
1992
- 1992-01-06 JP JP04000280A patent/JP3139097B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008014324A2 (en) | 2006-07-25 | 2008-01-31 | Analog Devices, Inc. | Multiple microphone system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05180742A (ja) | 1993-07-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |