[go: up one dir, main page]

JP3132583B2 - Phase detection circuit - Google Patents

Phase detection circuit

Info

Publication number
JP3132583B2
JP3132583B2 JP03235268A JP23526891A JP3132583B2 JP 3132583 B2 JP3132583 B2 JP 3132583B2 JP 03235268 A JP03235268 A JP 03235268A JP 23526891 A JP23526891 A JP 23526891A JP 3132583 B2 JP3132583 B2 JP 3132583B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase
frequency
signal
circuit
waveform
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP03235268A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0575405A (en
Inventor
貴志 安東
Original Assignee
日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 filed Critical 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
Priority to JP03235268A priority Critical patent/JP3132583B2/en
Publication of JPH0575405A publication Critical patent/JPH0575405A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3132583B2 publication Critical patent/JP3132583B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は位相検出回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a phase detection circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の位相検出回路においては、位相同
期方式等の手段により位相検出を行う方法が一般的に用
いられている。この位相同期方式においては、電圧制御
発振回路から出力される発振信号または当該発振信号の
分周信号と、被位相検出信号を位相比較回路において位
相比較し、両者の位相の遅れ、進みを判定して電圧出力
として位相差信号を出力し、この位相差信号により前記
電圧制御発振回路の周波数を制御することにより形成さ
れる位相同期ループを介して、前記被位相検出信号に対
する位相検波が行われる。この位相同期方式において
は、これを半導体集積化するものとしても、前記位相比
較回路における電圧変換部分および電圧制御発振回路等
の回路は、ディスクリートの回路素子を用いて構成せざ
るを得ないのが現状である。従って、上記の位相同期ル
ープにおける位相検出の精度は、これらのディスクリー
トの回路素子の如何に依存している。
2. Description of the Related Art In a conventional phase detection circuit, a method of performing phase detection by means such as a phase synchronization method is generally used. In this phase synchronization system, an oscillation signal output from a voltage controlled oscillation circuit or a frequency-divided signal of the oscillation signal and a phase detection signal are compared in phase in a phase comparison circuit, and the delay and advance of both phases are determined. As a result, a phase difference signal is output as a voltage output, and the phase detection of the phase-detected signal is performed through a phase-locked loop formed by controlling the frequency of the voltage-controlled oscillation circuit with the phase difference signal. In this phase synchronization system, even if it is integrated into a semiconductor, circuits such as a voltage conversion portion and a voltage controlled oscillation circuit in the phase comparison circuit have to be configured using discrete circuit elements. It is the current situation. Therefore, the accuracy of the phase detection in the above-mentioned phase locked loop depends on the state of these discrete circuit elements.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の位相検
出回路においては、位相検出精度が使用されるディスク
リートの回路素子に依存せざるを得ないという欠点があ
る。
The above-described conventional phase detection circuit has a disadvantage that the phase detection accuracy depends on the discrete circuit element used.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明の位相検出回路
は、所定の搬送波を位相変調して形成される被位相検出
信号を波形整形し、波形整形された被位相検出信号を出
力する手段と、前記波形整形された被位相検出信号を入
力して、前記搬送波の周波数の整数倍の周波数のサンプ
リングクロックを介して、前記波形整形された被位相検
出信号の立上りエッジに対応する時刻Tにおいて変化す
るエッジを検出することによりエッジパルスを生成して
出力する手段と、前記サンプリングクロックの周波数を
分周して、それぞれ立上りの位相を異にし、且つ前記搬
送波の周波数と同一周波数の複数のパルス信号列を生成
する手段と、前記複数のパルス信号列の内より、前記時
刻Tの前後において最も時刻Tに近接した時刻に立上る
パルス信号を位相検出信号として選出する手段と、を備
えて構成される。
A phase detection circuit according to the present invention comprises a means for shaping the waveform of a phase-detected signal formed by phase-modulating a predetermined carrier and outputting the waveform-shaped phase-detected signal. The waveform-shaped phase-detected signal is input, and changes at a time T corresponding to a rising edge of the waveform-shaped phase-detected signal via a sampling clock having a frequency that is an integral multiple of the frequency of the carrier. Means for generating and outputting an edge pulse by detecting an edge to be generated, and a plurality of pulse signals having the same rising frequency and the same frequency as the carrier wave by dividing the frequency of the sampling clock. Means for generating a train, and a phase signal detecting a pulse signal which rises at a time closest to the time T before and after the time T from the plurality of pulse signal trains. Configured with a means for selecting a signal.

【0005】[0005]

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0006】図1は本発明の一実施例を示すブロック図
である。図1に示されるように、本実施例は、波形整形
回路1と、分周カウンタ2と、変化エッジ検出回路3
と、位相選択回路4と、位相比較回路5とを備えて構成
される。また、図2(a)、(b)、(c)、(d)、
(e)、(f)、(g)、(h)、(i)、(j)、
(k)および(l)は、位相検出信号および内部信号の
タイミング図を示す。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, in the present embodiment, a waveform shaping circuit 1, a frequency dividing counter 2, and a changing edge detecting circuit 3
And a phase selection circuit 4 and a phase comparison circuit 5. 2 (a), (b), (c), (d),
(E), (f), (g), (h), (i), (j),
(K) and (l) show timing diagrams of the phase detection signal and the internal signal.

【0007】図1において、所定の搬送波信号を位相変
調して形成される被位相検出信号101(図2(a)参
照)は波形整形回路1により波形整形され、整形後の被
位相検出信号103(図2(c)参照)は変化エッジ検
出回路3に入力される。また他方、前記搬送波信号の周
波数の整数倍の周波数であり、且つ十分に高い周波数の
サンプリングクロック102(図2(b)参照)は分周
カウンタ2と変化エッジ検出回路3に入力される。変化
エッジ検出回路3においては、サンプリングクロック1
02を介して、整形後の被検出信号103の立上り位相
に対応するアップエッジパルス104(図2(d)参
照)が生成され、位相比較回路5に入力される。また、
分周カウンタ2においては、サンプリングクロック10
2は分周されて前記搬送波信号と同一周波数に低減さ
れ、順次サンプリングクロック102の1周期分の時間
遅れの関係にあるパルス信号群105〜110(図2
(e)〜(j)参照)として出力されて、位相選択回路
4および位相比較回路5に入力される。位相比較回路5
においては、変化エッジ検出回路3より入力される前述
のアップエッジパルス104と、これらのパルス信号群
105〜110との位相比較が行われる。
In FIG. 1, a phase detection signal 101 (see FIG. 2A) formed by phase-modulating a predetermined carrier signal is subjected to waveform shaping by a waveform shaping circuit 1, and a shaped phase detection signal 103 after shaping. (See FIG. 2C) is input to the changing edge detection circuit 3. On the other hand, a sampling clock 102 (see FIG. 2B) having a frequency which is an integral multiple of the frequency of the carrier signal and which is sufficiently high is input to the frequency dividing counter 2 and the changing edge detecting circuit 3. In the changing edge detection circuit 3, the sampling clock 1
2, an up-edge pulse 104 (see FIG. 2D) corresponding to the rising phase of the detected signal 103 after shaping is generated and input to the phase comparison circuit 5. Also,
In the frequency dividing counter 2, the sampling clock 10
2 are frequency-divided and reduced to the same frequency as the carrier signal, and sequentially pulse signal groups 105 to 110 having a time delay of one cycle of the sampling clock 102 (FIG. 2).
(See (e) to (j)) and input to the phase selection circuit 4 and the phase comparison circuit 5. Phase comparison circuit 5
In, the phase comparison between the above-described up-edge pulse 104 input from the changing edge detection circuit 3 and these pulse signal groups 105 to 110 is performed.

【0008】位相比較回路5においては、上記のアップ
エッジパルス104の立上りに対して、パルス信号10
5〜110の内の立上りが同位相か、または最も同位相
の状態に近接しているパルス信号に対応する位相比較結
果データが、位相比較結果データ111として出力され
る。今、パルス信号105、106、107、108、
109および110の立上りが同位相となる場合の位相
比較結果データを、それぞれA、B、C、D、Eおよび
Fとした場合、図2(d)〜(k)より明らかなよう
に、パルス信号106に対応するBが位相比較結果デー
タ111(図2(k)参照)として出力されることが分
る。この位相比較結果データ111は位相選択回路4に
入力され、この位相比較結果データ111を介して、分
周カウンタ2より入力されるパルス信号群105〜11
0の内から、上記のパルス信号106が選択されて位相
検出信号112(図2(l)参照)として出力される。
In the phase comparison circuit 5, the pulse signal 10
Phase comparison result data corresponding to a pulse signal whose rising edge among the signals 5 to 110 has the same phase or is closest to the state of the same phase is output as the phase comparison result data 111. Now, the pulse signals 105, 106, 107, 108,
Assuming that the phase comparison result data when the rising edges of 109 and 110 have the same phase are A, B, C, D, E, and F, respectively, as apparent from FIGS. It can be seen that B corresponding to the signal 106 is output as the phase comparison result data 111 (see FIG. 2 (k)). The phase comparison result data 111 is input to the phase selection circuit 4, and the pulse signal groups 105 to 11 input from the frequency division counter 2 via the phase comparison result data 111
The pulse signal 106 is selected from 0 and output as the phase detection signal 112 (see FIG. 2 (l)).

【0009】[0009]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、サンプ
リングクロックの周波数を高くすることにより、位相検
出精度を高めることが可能であり、回路要素としてディ
スクリートな回路要素を一切排除し、全てを論理素子に
より構成することができるために半導体集積化が可能と
なり、位相検出回路の低消費電力化ならびに省スペース
化を実現することができるという効果がある。
As described above, according to the present invention, it is possible to increase the phase detection accuracy by increasing the frequency of the sampling clock, eliminate any discrete circuit elements as circuit elements, and completely eliminate all circuit elements. Since it can be constituted by logic elements, semiconductor integration becomes possible, and there is an effect that low power consumption and space saving of the phase detection circuit can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

【図2】本実施例における各信号のタイミング図であ
る。
FIG. 2 is a timing chart of each signal in the present embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 波形整形回路 2 分周カウンタ 3 変化エッジ検出回路 4 位相選択出力回路 5 位相比較回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Waveform shaping circuit 2 Dividing counter 3 Change edge detection circuit 4 Phase selection output circuit 5 Phase comparison circuit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 所定の搬送波を位相変調して形成される
被位相検出信号を波形整形し、波形整形された被位相検
出信号を出力する手段と、 前記波形整形された被位相検出信号を入力して、前記搬
送波の周波数の整数倍の周波数のサンプリングクロック
を介して、前記波形整形された被位相検出信号の立上り
エッジに対応する時刻Tにおいて変化するエッジを検出
することによりエッジパルスを生成して出力する手段
と、 前記サンプリングクロックの周波数を分周して、それぞ
れ立上りの位相を異にし、且つ前記搬送波の周波数と同
一周波数の複数のパルス信号列を生成する手段と、 前記複数のパルス信号列の内より、前記時刻Tの前後に
おいて最も時刻Tに近接した時刻に立上るパルス信号を
位相検出信号として選出する手段と、を備えることを特
徴とする位相検出回路。
1. A means for waveform-shaping a phase-detected signal formed by phase-modulating a predetermined carrier and outputting a waveform-shaped phase-detected signal; and inputting the waveform-shaped phase-detected signal. Then, an edge pulse is generated by detecting an edge that changes at time T corresponding to a rising edge of the waveform-shaped phase-detected signal via a sampling clock having a frequency that is an integral multiple of the frequency of the carrier. Means for dividing the frequency of the sampling clock to generate a plurality of pulse signal trains having different rising phases and the same frequency as the frequency of the carrier wave; and the plurality of pulse signals. Means for selecting a pulse signal which rises at a time closest to the time T before and after the time T from the sequence as a phase detection signal. And a phase detection circuit.
JP03235268A 1991-09-17 1991-09-17 Phase detection circuit Expired - Fee Related JP3132583B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP03235268A JP3132583B2 (en) 1991-09-17 1991-09-17 Phase detection circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP03235268A JP3132583B2 (en) 1991-09-17 1991-09-17 Phase detection circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0575405A JPH0575405A (en) 1993-03-26
JP3132583B2 true JP3132583B2 (en) 2001-02-05

Family

ID=16983580

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP03235268A Expired - Fee Related JP3132583B2 (en) 1991-09-17 1991-09-17 Phase detection circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3132583B2 (en)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02250429A (en) * 1989-03-23 1990-10-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Phase synchronizing oscillator

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0575405A (en) 1993-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5268656A (en) Programmable clock skew adjustment circuit
CN1716774B (en) Pulse width modulation circuit
US5619170A (en) PLL timing generator with voltage controlled oscillator
US7295139B2 (en) Triggered data generator
EP0810736B1 (en) PLL frequency synthesizer
JP2846428B2 (en) Logical comparison circuit
JPH10106175A (en) Data isolating circuit
JP3132583B2 (en) Phase detection circuit
JPH09139731A (en) Transmission equipment
JP2737607B2 (en) Clock switching circuit
JPH1013395A (en) Phase synchronization circuit
JP2533371Y2 (en) Multi-phase clock generation circuit
JPH0879029A (en) Four-phase clock pulse generating circuit
JP2754005B2 (en) Polyphase pulse generation circuit
JP3147129B2 (en) Timing generator
JPS62110320A (en) Digital pll circuit
JPS6324665Y2 (en)
JP2669689B2 (en) High-speed frame synchronization circuit
KR970005112Y1 (en) Phase synchronizer
JPH0591096A (en) Clock recovery circuit
JPH0820462B2 (en) Direction detector
JPH03255743A (en) Bit synchronizing circuit
JPH01174977A (en) Operation detector
JPH088892A (en) Phase control circuit
JPH0641967B2 (en) Logical waveform generator

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees