JP3123389B2

JP3123389B2 - 光ディスク装置

Info

Publication number: JP3123389B2
Application number: JP07086853A
Authority: JP
Inventors: 博範森
Original assignee: Panasonic Corp; Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Corp; Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1995-04-12
Filing date: 1995-04-12
Publication date: 2001-01-09
Anticipated expiration: 2016-01-09
Also published as: JPH08287496A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は半導体レーザ光を対物レ
ンズにより絞ったビームスポットを用いて、光ディスク
上に予め記録されている情報を再生したり、もしくは信
号を記録したり、あるいは記録した光ディスク上の信号
を消去、再生、重ね書きする光ディスク装置に関するも
のであり、特に同一面上で溝構造が異なる記録再生領域
及び再生専用領域を有する光ディスク装置に関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】以下に、従来の光ディスク装置について
説明する。

【０００３】図３はこの従来の光ディスク装置の構成図
を示すものである。図３において、１は光ディスク、２
は対物レンズ、３は光ビームを電流に変換する光検出
器、８は対物レンズ２をトラッキング方向に駆動するト
ラッキングアクチュエータ、１４は対物レンズ２をフォ
ーカス方向に駆動するフォーカスアクチュエータ、１５
はピックアップ本体である対物レンズ２とフォーカスア
クチュエータ１４とトラッキングアクチュエータ８をト
ラッキング方向に移動するトラバース、１７は光ディス
ク１を所定の回転数に回転させるスピンドルモータであ
る。

【０００４】４は光検出器３から出力される電流を検出
しトラッキング誤差ＴＥを出力するトラッキングエラー
アンプ、２０はトラッキング誤差ＴＥの極性を反転する
反転回路、２１は反転回路２０の出力信号とトラッキン
グ誤差ＴＥを選択してトラッキング誤差ＴＥ２を出力す
るセレクタ、１８は光ビームがトラック溝を横断する時
に発生するトラッククロス信号ＴＲＣＲＳをトラッキン
グ誤差ＴＥ２から検出するトラッククロス検出回路、５
はトラッキングサーボループの周波数位相特性を補償す
る位相補償フィルター、６はトラッキングサーボループ
を開閉するトラッキングサーボループスイッチ、７は位
相補償フィルター５の出力信号でトラッキングアクチュ
エータ８を駆動するトラッキングアクチュエータ駆動回
路である。

【０００５】９は光検出器３から出力される電流を検出
しフォーカス誤差ＦＥを出力するフォーカスエラーアン
プ、１０はフォーカスサーボループの周波数位相特性を
補償する位相補償フィルター、１１はフォーカスアクチ
ュエータ１４を駆動し、光ディスク１の記録及び再生媒
体面を検出し、フォーカスサーボループを閉じるポイン
トを引き込むための信号を発生するフォーカス引込回
路、１２はフォーカスサーボループを閉じるか、または
フォーカス引込回路１１のいずれかを選択するフォーカ
スサーボループスイッチ、１３はフォーカスアクチュエ
ータ１４を駆動するフォーカスアクチュエータ駆動回路
である。１６はトラッキング方向へトラバース１５を移
動するための駆動信号を出力するトラバース駆動回路、
１９はトラッキングサーボループスイッチ６やフォーカ
スサーボループスイッチ１２の開閉を制御したり、トラ
バース駆動信号を発生したりするコントローラである。

【０００６】以上のように構成された光ディスク装置に
ついて、以下にその動作を図３、図４及び図５を用いて
説明する。

【０００７】図４は図３の構成により、光ディスク１上
を光ビームが位置から位置へ移動する際の光ビーム
の軌跡を示す図である。光ディスク１の斜線部分は予め
所定のデータが記録されており、溝の構造がコンパクト
ディスク（ＣＤと呼ぶ）と同様の構造で再生専用領域で
ある溝構造Ａである。この領域の溝構造は図４の溝構造
Ａに示す。斜線以外の外周側の部分は記録または再生が
出来る記録再生領域であり、溝の構造は連続した蛇行溝
である溝構造Ｂである。この領域の溝構造は図４の溝構
造Ｂに示す。尚、溝構造Ａと溝構造Ｂではトラッキング
誤差ＴＥの極性が異なる構造となっている。

【０００８】図５は図３の構成で光ビームの焦点が光デ
ィスク１上をトラッキングサーボループを開いた状態の
トラッキングサーボオフ状態で図４の位置から目標ア
ドレスである位置へ移動した際の各箇所信号波形であ
り、（Ａ）はトラッキング誤差ＴＥ２、（Ｂ）はトラッ
ククロス信号ＴＲＣＲＳである。

【０００９】コントローラ１９は予め再生専用領域の溝
構造Ａと記録再生領域の溝構造Ｂの境界位置である図４
の位置のアドレスを把握している。コントローラ１９
はこの境界のアドレスを（数１）より絶対トラッククロ
ス数に換算する。

【００１０】

【数１】

【００１１】（数１）のセクタ周期の意味は光ディスク
１のデータ処理をするための基本単位データ長の周期で
ある。また、線速度の意味は再生時にスピンドルモータ
１７の回転数により光ビームが光ディスク１のトラック
上を移動する速度である。

【００１２】図５の時刻ｔ１において、光ビームは図４
の移動開始アドレスである位置に位置しており、溝構
造Ａ上にいる。コントローラ１９は光ビームを移動開始
アドレスである位置から目標アドレスである位置に
移動する為に予め移動開始アドレスと目標アドレスの差
分を（数２）より相対トラッククロス数に換算する。

【００１３】

【数２】

【００１４】次にコントローラ１９は目標アドレスに光
ビームを移動させるためにトラッキングサーボループス
イッチ６を開き、トラッキングサーボをオン状態からオ
フ状態にする。

【００１５】時刻ｔ１から時刻ｔ２までは図４の位置
から目標アドレスである位置へ光ビームを移動させて
いる期間である。コントローラ１９は目標アドレスであ
る位置へ光ビームを移動するためにトラバース駆動回
路１６に所定の電圧値を印加する。すると、トラバース
駆動回路１６は所定の電圧値をトラバース１５に出力
し、トラバース１５は現在位置である位置から目標ア
ドレスである位置へ移動を開始する。また、トラッキ
ング誤差ＴＥ２は溝を横断するごとに図５の（Ａ）に示
す様なトラッキング誤差を出力する。トラッククロス検
出回路１８はこのトラッキング誤差ＴＥ２からトラック
クロス信号ＴＲＣＲＳを検出し出力する。コントローラ
１９はこのトラッククロス信号ＴＲＣＲＳをカウントす
る。

【００１６】時刻ｔ２において、コントローラ１９は計
数したトラッククロス信号ＴＲＣＲＳのカウント値と目
標アドレスに移動するための相対トラッククロス数が一
致したと判断する。また、コントローラ１９はトラッキ
ングサーボループスイッチ６を閉じる前に溝構造毎にト
ラッキング誤差の極性を予め設定する必要がある。コン
トローラ１９は溝構造毎にトラッキング誤差の極性を設
定する目安として、溝構造Ａと溝構造Ｂの境界アドレス
を絶対トラッククロス数に換算している。ゆえにコント
ローラ１９は目標アドレスに光ビームを移動した際には
境界アドレスの絶対トラッククロス数と目標アドレスの
絶対トラッククロス数を比較して、トラッキング誤差の
極性をセレクタ２１で適正な極性に設定してから、トラ
ッキングサーボループスイッチ６を閉じ、トラッキング
サーボをオンする。

【００１７】このように溝構造判別は溝構造Ａと溝構造
Ｂの境界アドレスを絶対トラックカウント数に換算し、
アクセス時の目標アドレスの絶対トラッククロス数と比
較し、例えば境界アドレスの絶対トラックカウント数よ
り小さければ溝構造Ａ、大きければ溝構造Ｂと判別する
様な溝構造の判定を行い、トラッキング誤差ＴＥ２の極
性を所定の極性に設定する。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、アクセス時に目標アドレス値を絶対トラ
ッククロス数に換算し、溝構造の境界アドレスの絶対ト
ラッククロス数と比較して、目標アドレスの溝構造を判
別するため、線速度のばらつきにより目標アドレスの換
算結果に誤差が生じたり、アクセス時にトラッキング誤
差ＴＥ２のノイズの影響や光ディスクの偏芯により、誤
ったトラッククロス数をカウントしてしまい、目標アド
レスの前後のアドレスに光ビームが移動してしまうとい
う問題点を有していた。

【００１９】また、光ビームを光ディスクの再生専用領
域と記録再生領域の境界アドレス近傍にアクセスする場
合やアクセス中などに異常が発生した場合はトラッキン
グサーボがはずれてしまう場合があり、この場合は溝構
造が明確に判るディスクの最内周まで光ビームを移動さ
せて、再アクセスをする必要がある。よって、アクセス
時間は遅くなり、また異常発生時の処理時間が遅くなる
という問題点を有していた。

【００２０】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、それぞれ異なる溝構造の記録再生領域及び再生専用
領域の溝幅を測定し、溝幅値が所定の記録再生領域の溝
幅であるか、所定の再生専用領域の溝幅であるかで溝構
造を判別する。従って、任意アドレス位置の溝構造を正
確に且つ、高速に判別でき、トラッキング誤差の極性を
適正に設定できる。異常時に対してもトラッキングサー
ボを所定の位置で正確にオンする事が出来るため、処理
時間を短縮できる。また、光ディスクの再生専用領域と
記録再生領域の境界近傍でのアクセスに対しても、トラ
ッキングサーボを正確にオンする事が出来る光ディスク
装置を提供することを目的とする。

【００２１】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の光ディスク装置は、光ディスクに対して光ビ
ームを照射し光ディスクからの反射光を検出する光検出
手段と、光検出手段の出力からトラッキング誤差を検出
するトラッキング誤差検出手段と、トラッキング誤差か
ら偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、偏芯量から偏芯
速度を検出する偏芯速度検出手段と、トラッキング誤差
から光ビームの焦点がオントラック間隔を横断する時間
を測定するオントラック間隔測定手段と、トラッキング
誤差から光ビームの焦点が記録及び再生溝上を横断する
期間を測定する溝横断期間測定手段と、偏芯速度とオン
トラック間隔測定手段の出力よりトラック横断幅を演算
するオントラック横断幅演算手段と、偏芯速度と溝横断
期間測定手段の出力より溝横断幅を演算する溝横断幅演
算手段と、オントラック横断幅と所定のトラックピッチ
間隔より光ビームの焦点移動方向とトラック中心線に対
する傾き角度を算出する角度演算手段と、溝横断幅演算
手段の出力と角度演算手段の出力を演算し溝幅を演算す
る溝幅演算手段と、溝幅演算手段による溝幅値に応じて
上記記録再生領域及び再生専用領域の溝構造を判別する
溝構造判別手段と、溝構造判別手段の出力によりトラッ
キング誤差の極性を切換える切換え手段とを有してい
る。

【００２２】

【作用】本発明は上記した構成により、スピンドルモー
ターを所定の回転数に回転させた状態でフォーカスサー
ボをオン、トラッキングサーボをオフの状態とする。す
ると、トラッキング誤差検出手段は光ディスクの中心と
スピンドルモーターの回転中心の差である偏芯の影響で
光ビームの焦点が記録再生領域及び再生専用領域の溝を
横断するトラッキング誤差信号を出力する。このトラッ
キング誤差信号より偏芯量検出手段は光ディスクの中心
とスピンドルモーターの回転中心の差である偏芯量を検
出する。偏芯速度検出手段は偏芯量検出手段によって検
出された偏芯量から、偏芯速度を検出する。オントラッ
ク間隔測定手段は光ディスクの記録再生領域及び再生専
用領域のトラック溝及びピットの中心間隔を光ビームの
焦点が横断する時間を測定する。溝横断期間測定手段は
光ディスクの記録再生領域及び再生専用領域のトラック
溝上及びピット上を光ビームの焦点が横断する時間を測
定する。溝横断幅演算手段は偏芯速度検出手段と溝横断
期間測定手段の出力から溝横断幅を算出する。オントラ
ック横断幅演算手段は偏芯速度検出手段とオントラック
間隔測定手段の出力からオントラック横断幅を算出す
る。そして、角度演算手段は光ビームの焦点が記録再生
領域及び再生専用領域の溝を横断する方向に対する溝中
心線の傾き角を、所定値のトラック間隔とオントラック
横断幅より演算し算出する。そして、溝幅演算手段は溝
横断幅演算手段と角度演算手段の出力から溝幅を演算し
算出する。この溝幅値より、溝構造判別手段は、記録再
生領域と再生専用領域の溝幅の判別を行う。切換え手段
は、溝構造判別手段の判別結果に応じて、トラッキング
誤差の極性を所定の極性に設定する。

【００２３】異なる溝構造であり、トラッキング誤差の
極性も異なる記録再生領域と再生専用領域の境界にアク
セスする際や異常発生時は、トラッキングサーボをオフ
の状態として、偏芯量検出手段はトラッキング誤差より
光ディスクの中心とスピンドルモーターの回転中心の差
である偏芯量を検出する。偏芯速度検出手段は偏芯量検
出手段によって検出された偏芯量から、偏芯速度を検出
する。オントラック間隔測定手段は光ビームの焦点が光
ディスクの記録再生領域及び再生専用領域のトラック溝
及びピットの中心間隔を横断する時間を測定する。

【００２４】溝横断期間測定手段は光ディスクの記録再
生領域及び再生専用領域のトラック溝上及びピット上を
光ビームの焦点が横断する時間を測定する。溝横断幅演
算手段は偏芯速度検出手段と溝横断期間測定手段の出力
から溝横断幅を算出する。オントラック横断幅演算手段
は偏芯速度検出手段とオントラック間隔測定手段の出力
からオントラック横断幅を算出する。そして、角度演算
手段は光ビームの焦点が記録再生領域及び再生専用領域
の溝を横断する方向に対する溝中心線の傾き角を、所定
値のトラック間隔とオントラック横断幅より演算し算出
する。そして、溝幅演算手段は溝横断幅演算手段と角度
演算手段の出力から溝幅を演算し算出する。この溝幅値
より、溝構造判別手段は、記録再生領域と再生専用領域
の溝構造の判別を行う。

【００２５】切換え手段は、溝構造判別手段の判別結果
に応じて、トラッキング誤差の極性を所定の極性に設定
する。よって、現在の光ビーム位置での溝幅を演算し算
出して、溝構造を判別することにより、トラッキングサ
ーボが外れないようにトラッキング誤差の極性を設定す
ることが出来る。結果として、異なる溝構造である記録
再生領域と再生専用領域の境界でのアクセスが確実にで
き、また異常発生時に異常処理を終了した位置で溝構造
が判別でき、トラッキングサーボが外れないようにトラ
ッキング誤差の極性を設定し、トラッキングサーボをか
けられる。よって、異常発生時に溝構造が明らかである
再生専用領域の最内周に一旦移動する必要がなく、アク
セス時間が短縮され、且つ異常処理の時間が短縮する。

【００２６】このように、トラッキング誤差から溝幅を
演算し算出して溝構造を判別する溝構造判別を行う光デ
ィスク装置により、光ディスク上の任意位置での溝構造
を高速に判別でき、トラッキング誤差の極性を正確に設
定できるため異常が発生した場合の処理時間が短縮す
る。

【００２７】

【実施例】以下本発明の第１の実施例について、図面を
参照しながら説明する。

【００２８】図１は本発明の実施例における光ディスク
装置の回路構成を示すブロック図である。ここでは、先
に説明した従来例の構成図である図３に追加した部分を
説明する。

【００２９】図１において３０はトラッキング誤差ＴＥ
２より光ディスクの中心とスピンドルモーターの回転中
心の差である偏芯量を検出する偏芯量検出手段、３１は
偏芯量検出手段３０によって検出された偏芯量から偏芯
速度を検出する偏芯速度検出手段である。３２はトラッ
キング誤差ＴＥ２から光ディスクの記録再生領域及び再
生専用領域のトラック溝及びピットの中心間隔を光ビー
ムの焦点が横断する時間を測定するオントラック間隔測
定手段、３５はトラッキング誤差ＴＥ２から光ディスク
の記録再生領域及び再生専用領域のトラック溝上及びピ
ット上を光ビームの焦点が横断する時間を測定する溝横
断期間測定手段、３６は偏芯速度検出手段３１と溝横断
期間測定手段３５の出力から溝横断幅を算出する溝横断
幅演算手段、３３は偏芯速度検出手段３１とオントラッ
ク間隔測定手段３２の出力からオントラック横断幅を算
出するオントラック横断幅演算手段である。

【００３０】３４は光ビームの焦点が記録再生領域及び
再生専用領域の溝を横断する方向と溝中心線の傾き角
を、所定値のトラック間隔とオントラック横断幅演算手
段３３の出力であるオントラック横断幅より演算し、角
度を算出する角度演算手段、３７は溝横断幅演算手段３
６と角度演算手段３４の出力から溝幅を演算する溝幅演
算手段である。１９は追加機能として、溝幅演算手段３
７の出力である溝幅値より、記録再生領域の溝幅値であ
るか、再生専用領域の溝幅値であるかの溝構造の判別を
行う溝構造判別手段を含み、この判別結果に応じて、セ
レクタ２１の制御信号Ｓ５を制御し、トラッキング誤差
の極性を所定の極性に切り換える機能を追加で備えたコ
ントローラである。

【００３１】以上のように構成された本実施例の光ディ
スク装置について、以下にその動作について図２を用い
て説明する。図２は図１の構成の各箇所における信号波
形とその時の光ディスクの溝の状態を示したものであ
る。図２において、（Ａ）はトラッキング誤差ＴＥ２、
（Ｂ）は偏芯量検出手段３０の出力である偏芯量ＨＥ、
（Ｃ）は偏芯速度検出手段３１の出力である偏芯速度Ｈ
ＥＶ、（Ｄ）は光ビームの焦点が偏芯によってトラック
溝を横断する様子を図示している。

【００３２】溝幅を測定し溝構造を判別する動作につい
て、図２を用いて説明する。図４の溝構造Ｂ（記録再生
領域）に光ビームが位置している場合について説明す
る。

【００３３】時刻ｔ０ではトラッキング誤差ＴＥ２はゼ
ロであり、偏芯量ＨＥが最大値である。よって、偏芯速
度ＨＥＶは最大値となる。

【００３４】時刻ｔ１ではトラッキング誤差ＴＥ２は最
小値を示し、光ビームの焦点が溝を横断し始める。尚、
溝横断期間測定手段３５は、この時刻ｔ１から時間測定
を開始する。

【００３５】時刻ｔ２ではトラッキング誤差ＴＥ２はゼ
ロとなり、トラック中心に光ビームの焦点が位置してい
る。尚、オントラック間隔測定手段３２は、この時刻ｔ
２から時間測定を開始する。

【００３６】時刻ｔ３ではトラッキング誤差ＴＥ２は最
大値を示し、光ビームの焦点が溝の横断を終える。尚、
溝横断期間測定手段３５は、この時刻ｔ３で時間測定を
終了する。つまり、溝横断期間測定手段３５は時刻ｔ１
からこの時刻ｔ３までの時間測定をする。この時間測定
の結果である溝横断時間ｔgrを溝横断幅演算手段３６に
入力し、時刻ｔ１時の偏芯速度ＨＥＶと時刻ｔ３時の偏
芯速度ＨＥＶの速度差ΔＨＥＶgで演算し、溝横断幅Ｗg
rを（数３）より算出する。

【００３７】

【数３】

【００３８】時刻ｔ３から時刻ｔ４までは一般的に情報
を記録しないランドと呼ばれる領域を光ビームの焦点が
横断する期間である。

【００３９】時刻ｔ４ではトラッキング誤差ＴＥ２は最
小値を示し、光ビームの焦点が溝を横断し始める。尚、
溝横断期間測定手段３５は、再度、この時刻ｔ４から時
間測定を開始する。

【００４０】時刻ｔ５ではトラッキング誤差ＴＥ２はゼ
ロとなり、トラック中心に光ビームの焦点が位置してい
る。尚、オントラック間隔測定手段３２は、この時刻ｔ
５で時間測定を終了する。つまり、オントラック間隔測
定手段３２は時刻ｔ２からこの時刻ｔ５までの時間測定
をする。

【００４１】この時間測定の結果であるオントラック横
断時間ｔtrをオントラック横断幅演算手段３３に入力
し、時刻ｔ２時の偏芯速度ＨＥＶと時刻ｔ５時の偏芯速
度ＨＥＶの速度差ΔＨＥＶtで演算し、オントラック横
断幅Ｗtrを（数４）より算出する。

【００４２】

【数４】

【００４３】更に、角度演算手段３４は、オントラック
横断幅演算手段３３の出力であるオントラック横断幅Ｗ
trを（数５）で演算し、光ビームの焦点が溝を横断する
方向に対する溝中心線の傾き角θtを算出する。

【００４４】

【数５】

【００４５】（数５）のトラックピッチはトラック間隔
であり規格で設定される所定の値である。ここで得られ
た傾き角θtは溝幅演算手段３７に入力される。

【００４６】時刻ｔ６ではトラッキング誤差ＴＥ２は最
大値を示し、光ビームの焦点が溝の横断を終える。尚、
溝横断期間測定手段３５は、この時刻ｔ６で時間測定を
終了する。つまり、溝横断期間測定手段３５は時刻ｔ４
からこの時刻ｔ６までの時間測定をする。この時間測定
の結果である溝横断時間ｔgr2と時刻ｔ４時の偏芯速度
ＨＥＶと時刻ｔ６時の偏芯速度ＨＥＶの速度差ΔＨＥＶ
g2を溝横断幅演算手段３６に入力し、溝横断幅Ｗgr2を
（数３）の溝横断幅Ｗgrに溝横断幅Ｗgr2を、偏芯速度
ＨＥＶの速度差ΔＨＥＶgに偏芯速度差ΔＨＥＶg2を、
溝横断時間ｔgrに溝横断時間ｔgr2をそれぞれ代入し算
出する。

【００４７】次に、溝幅演算手段３７は、時刻ｔ５で角
度演算手段３４にて算出した傾き角θtと溝横断幅演算
手段３６で算出した溝横断幅Ｗgr2を入力し、（数６）
で演算し、溝幅Ｗgを算出する。

【００４８】

【数６】

【００４９】この溝幅Ｗgはコントローラ１９に入力さ
れる。コントローラ１９には再生専用領域の溝幅範囲と
記録再生領域の溝幅範囲を予め記憶してあり、コントロ
ーラ１９は測定して得られた溝幅Ｗgが予め記憶されて
ある再生専用領域の溝幅範囲であるか、記録再生領域の
溝幅範囲であるかで溝構造を判別する。従って、再生専
用領域と記録再生領域の境界に於いても、溝幅を測定し
て溝構造を正確に判別し、所定のトラッキング誤差ＴＥ
の極性に切り換えるためにトラッキングサーボが外れな
い。

【００５０】以上のように本実施例によれば、光ディス
クに対して光ビームを照射し光ディスクからの反射光を
検出する光検出手段と、光検出手段の出力からトラッキ
ング誤差を検出するトラッキング誤差検出手段と、トラ
ッキング誤差から偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、
偏芯量から偏芯速度を検出する偏芯速度検出手段と、ト
ラッキング誤差から光ビームの焦点がオントラック間隔
を横断する時間を測定するオントラック間隔測定手段
と、トラッキング誤差から光ビームの焦点が記録及び再
生溝上を横断する期間を測定する溝横断期間測定手段
と、偏芯速度とオントラック間隔測定手段の出力よりオ
ントラック横断幅を演算するオントラック横断幅演算手
段と、偏芯速度と溝横断期間測定手段の出力より溝横断
幅を演算する溝横断幅演算手段と、トラック横断幅と所
定のトラックピッチ間隔より光ビームの焦点移動方向と
トラック中心線に対する傾き角度を算出する角度演算手
段と、溝横断幅演算手段の出力と角度演算手段の出力を
演算し溝幅を演算する溝幅演算手段と、溝幅演算手段に
よる溝幅値に応じて上記記録再生領域及び再生専用領域
の溝構造を判別する溝構造判別手段とを設けることによ
り、異なる溝構造の境界にアクセスする際や異常発生時
に、トラッキングサーボをオフの状態にして、トラッキ
ング誤差より、溝幅を測定した結果が、予め記憶してあ
る再生専用領域の溝幅範囲と記録再生領域の溝幅範囲の
いずれかにあるかを判別して、溝構造を判別する。従っ
て、再生専用領域と記録再生領域の境界に於いても、現
在の光ビーム位置での溝構造を正確に判別する。判別し
た結果により、トラッキング誤差の極性を設定し、トラ
ッキングサーボをかければ、トラッキングサーボが外れ
ない。

【００５１】結果として、異なる溝構造の境界でのアク
セスが確実にでき、また異常発生時に異常処理を終了し
た位置で溝構造が判別でき、トラッキングサーボが外れ
ないようにトラッキング誤差の極性を設定し、トラッキ
ングサーボをかけられるため溝構造が明確な最内周に移
動する必要がなく、アクセス時間が短縮されて、異常処
理の時間が短縮する。

【００５２】

【発明の効果】以上のように本実施例によれば、同一面
上に異なる記録再生領域及び再生専用領域で構成された
光ディスクの溝構造をトラッキング誤差から、溝幅を測
定して、予め記憶してある再生専用領域の溝幅範囲と記
録再生領域の溝幅範囲のいずれかにあるかを判別し、光
ディスク上での光ビームの焦点の任意位置での溝構造を
高速に判別し、トラッキング誤差の極性を正確に設定で
きる。従って、異なる溝構造近傍や異常が発生した場合
にトラッキング誤差の極性を正確に設定でき、トラッキ
ングサーボの引き込みを失敗することがなく、処理時間
を短縮させることが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例における光ディスク装置
のブロック図

【図２】本発明の第１の実施例における光ディスク装置
の動作を説明するための動作波形図及び溝構造図

【図３】従来の光ディスク装置のブロック図

【図４】従来または本発明の第１の実施例における光デ
ィスク装置の動作を説明するための図

【図５】従来例における光ディスク装置の動作を説明す
るための動作波形図

【符号の説明】

１光ディスク２対物レンズ３光検出器４トラッキングエラーアンプ５，１０位相補償フィルター６トラッキングサーボループスイッチ７トラッキングアクチュエータ駆動回路８トラッキングアクチュエータ９フォーカスエラーアンプ１１フォーカス引込回路１２フォーカスサーボループスイッチ１３フォーカスアクチュエータ駆動回路１４フォーカスアクチュエータ１５トラバース１６トラバース駆動回路１７スピンドルモータ１８トラッククロス検出回路１９コントローラ２０反転回路２１セレクタ３０偏芯量検出手段３１偏芯速度検出手段３２オントラック間隔測定手段３３オントラック横断幅演算手段３４角度演算手段３５溝横断期間測定手段３６溝横断幅演算手段３７溝幅演算手段

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】同一面上に溝構造が異なる記録再生領域
及び再生専用領域を有する光ディスクと、前記光ディスクに対して光ビームを照射し光ディスクか
らの反射光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の出力からトラッキング誤差を検出する
トラッキング誤差検出手段と、前記トラッキング誤差から偏芯量を検出する偏芯量検出
手段と、前記偏芯量から偏芯速度を検出する偏芯速度検出手段
と、前記トラッキング誤差から光ビームの焦点がオントラッ
ク間隔を横断する時間を測定するオントラック間隔測定
手段と、前記トラッキング誤差から光ビームの焦点が記録及び再
生溝上を横断する期間を測定する溝横断期間測定手段
と、前記偏芯速度と前記オントラック間隔測定手段の出力よ
りオントラック横断幅を演算するオントラック横断幅演
算手段と、前記偏芯速度と前記溝横断期間測定手段の出力より溝横
断幅を演算する溝横断幅演算手段と、前記オントラック横断幅と所定のトラックピッチ間隔よ
り光ビームの焦点移動方向とトラック中心線に対する傾
き角度を算出する角度演算手段と、前記溝横断幅と前記傾き角度から溝幅を演算する溝幅演
算手段と、前記溝幅演算手段による溝幅値に応じて上記記録再生領
域及び再生専用領域の溝構造を判別する溝構造判別手段
と、前記溝構造判別手段の出力により前記トラッキング誤差
の極性を切換える切換え手段と、を備えた光ディスク装
置。