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JP3095732B2 - 画像分配処理装置 - Google Patents

画像分配処理装置

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JP3095732B2
JP3095732B2 JP10373347A JP37334798A JP3095732B2 JP 3095732 B2 JP3095732 B2 JP 3095732B2 JP 10373347 A JP10373347 A JP 10373347A JP 37334798 A JP37334798 A JP 37334798A JP 3095732 B2 JP3095732 B2 JP 3095732B2
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JP
Japan
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image
storage device
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processing
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一郎 河村
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T1/00General purpose image data processing

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ、フ
ォトマスク、液晶表示装置等といった半導体集積装置の
表面の画像処理で使用されるパラメータに応じて異なる
画像処理装置により画像処理をするようにした画像分配
処理装置に関する。一般に、半導体集積装置の表面の明
るさや、パターンの密度や、材料は、同一半導体集積装
置であっても表面の場所によって異なる場合がある。こ
のように、異なる表面の画像を処理する場合は、処理表
面の状態に応じたパラメータを設定して行うことが望ま
れる。
【0002】
【従来の技術】従来の画像処理装置においては、1つの
半導体集積装置の画像を画像処理装置が取り込むと、表
面のコントラストや、パターン密度や、材料等といった
属性がどのようなものであっても各属性について一定の
パラメータを使用して画像処理をしていた。このため、
例えば、画像について明るさの補正をしようとした時で
も、明るさという属性についてのパラメータはその画像
の全表面について一定であったので、表面の各部の明暗
に応じた補正はできなかった。パターン密度や、材料等
についての画像処理を行おうとする場合も同様であっ
た。
【0003】このため、半導体集積装置の表面の1部分
では1つのパラメータにより画像処理された画像が必要
であり、他の部分で異なるパラメータにより画像処理さ
れた画像が必要である場合は、従来は、半導体集積装置
の表面の画像を撮像して1つのパラメータを使用して画
像処理を行い、次いで再び半導体集積装置の表面の画像
を撮像して別のパラメータを使用して画像処理を行う、
といった処理を行う必要があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】したがって、従来は半
導体集積装置の表面の各部を異なるパラメータを用いて
画像処理するためには、パラメータの数に等しい数の画
像を取得し、それぞれの画像毎にパラメータを適用し
て、各パラメータに対応する画像を最終的に合成して補
正された画像を得るという工程を踏まざるを得なかった
ので、画像処理の作業が極めて煩雑且つ長時間を要する
という課題があった。
【0005】本発明の目的は、上記課題に鑑み、半導体
集積装置の表面の属性に応じて異なるパラメータを用い
る場合の画像処理の効率を高めることが可能な画像分配
処理装置を提供することにある。本発明の他の目的は、
上記目的に加えて、画像処理の結果から所望の画像のみ
を取り出すことが可能な画像分配処理装置を提供するこ
とにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明により提供されるものは、入力データ記憶
装置から出力される画像データを、入力データ記憶装置
のアドレスと複数の画像処理・記憶装置から出力される
出力データのアドレスとの対応関係を半導体集積装置の
表面のコントラスト処理、パターン密度処理、材料に応
じた処理、及び明るさの補正処理の少なくとも1つを含
む3つ以上の画像処理で使用されるパラメータに応じて
予め格納する分配テーブルの内容に応じて複数の画像処
理・記憶装置に分配する分配器を備え、複数の画像処理
・記憶装置により処理されて記憶された出力画像データ
を、分配テーブルを参照して元の順序に再構成して出力
データ記憶装置に格納するようにした半導体集積装置の
表面の画像分配処理装置である。
【0007】分配テーブルを用意したことにより、異な
るパラメータに対応して入力データは異なる画像処理・
記憶装置に分配されて処理されるので、パラメータを変
更する毎に画像を取得して処理をするという煩雑さが解
消されて短時間で画像処理ができ、その結果画像処理の
効率が向上する。出力データ記憶装置には、分配テーブ
ルに代えて、パラメータの各々に対応して複数の画像処
理・記憶装置から出力される出力データ領域の一部の領
域のアドレスと出力データ記憶装置のアドレスとの対応
関係を予め格納している再構成テーブルを参照して画像
データを再構成して格納するようにしてもよい。
【0008】画像処理・記憶装置から出力される出力デ
ータ領域の一部の領域のみが出力データ記憶装置に格納
されるので、有効なデータのみが出力データ記憶装置に
格納され、したがって出力画像の評価が簡単になる。
【0009】
【発明の実施の形態】実施の形態1 図1は本発明の実施の形態1による画像分配処理装置の
構成を示すブロック図である。図において、画像分配処
理装置は、入力画像データを所定の順序で格納する入力
データ記憶装置2と、複数の画像処理・記憶装置8−
1,8−2,…8−nと、入力データ記憶装置のアドレ
スと複数の画像処理・記憶装置8−1〜8−nから出力
される出力データのアドレスとの対応関係を画像処理で
使用されるパラメータに応じて予め格納する分配テーブ
ル4と、分配テーブルの内容に応じて入力データ記憶装
置から出力される画像データを複数の画像処理・記憶装
置に分配する分配器6と、複数の画像処理・記憶装置8
−1〜8−nにより処理されて記憶された出力画像デー
タを分配テーブルを参照して所定の順序に再構成する再
構成器10と、再構成器からの出力画像データを格納す
る出力データ記憶装置12とを備えている。
【0010】動作において、被検査物の表面を光学式顕
微鏡とTDI(Time Delay Integration)等の撮像素子を
組み合わせた撮像装置(図示せず)により撮像して得ら
れた入力画像データをシリアルに又はパラレルに順次入
力データ記憶装置2に格納する。分配器6は、入力デー
タ記憶装置2から出力される画像データを、分配テーブ
ル4を参照して、入力データ記憶装置2のアドレスに対
応する画像処理・記憶装置8−1〜8−nに分配する。
各画像処理・記憶装置は、入力された画像データの画像
処理をして、その結果を分配テーブル4で指定される記
憶エリアに格納する。再構成器10は、分配テーブル4
を参照しながら、画像処理・記憶装置8−1〜8−nか
らの出力画像データを入力データ記憶装置2に格納され
ていたのと同じ順序に再構成して、出力データ記憶装置
12に格納させる。
【0011】図2は図1に示した分配テーブルの内容の
一例を示す図である。図において、X0〜X11は入力
データ記憶装置2のアドレスであり、a0〜a5は画像
処理・記憶装置8−1のアドレスを示しており、b0〜
b3は画像処理・記憶装置8−2のアドレスを示してお
り、c0〜c2は画像処理・記憶装置8−nのアドレス
を示している。この分配テーブル4によれば、入力デー
タ記憶装置のアドレス(X0,X1)は画像処理・記憶
装置8−1のアドレス(a0,a1)に対応しており、
入力データ記憶装置のアドレス(X2,X3)は画像処
理・記憶装置8−2のアドレス(b0,b1)に対応し
ており、等々である。
【0012】これらの対応関係は、被検査物の画像を撮
像した段階でその画像に基づいて、その画像のどの部分
はどのパラメータを使用すべきか、という判断を行って
予め作成されている。図3は、図1に示した入力データ
記憶装置2のアドレスと画像処理・記憶装置8−1〜8
−nのアドレスとの対応関係の一例を示す図である。図
示例では、入力データ記憶装置2内のデータとしては、
アドレスX0からX1までのデータ20と、アドレスX
2からX3までのデータ22と、アドレスX4からX5
までのデータ24と、アドレスX6からX7までのデー
タ26と、アドレスX8からX9までのデータ28と、
アドレスX10からX11までのデータ30とがある。
【0013】データ20、22、24、26、28、3
0はそれぞれ、例えば異なるコントラスト等といった異
なるパラメータを用いて画像処理されるべきデータであ
る。各アドレスは、図示例においては、各データ領域の
端部のアドレスを示している。したがって、データ領域
20内の最終アドレスX1の次のアドレスはデータ領域
22の先頭アドレスX2となっている。他のアドレスに
ついても同様である。図においてはデータ領域は連続し
ているが、データ領域の間はブランクになっていてもよ
い。
【0014】図示のように、図2に示した分配テーブル
の内容にしたがって、入力データ記憶装置2のアドレス
(X0,X1)は画像処理・記憶装置8−1のアドレス
(a0,a1)に対応しており、入力データ記憶装置の
アドレス(X2,X3)は画像処理・記憶装置8−2の
アドレス(b0,b1)に対応しており、入力データ記
憶装置のアドレス(X4,X5)は画像処理・記憶装置
8−1のアドレス(a2,a3)に対応しており、入力
データ記憶装置のアドレス(X6,X7)は画像処理・
記憶装置8−nのアドレス(c0,c1)に対応してお
り、入力データ記憶装置のアドレス(X8,X9)は画
像処理・記憶装置8−2のアドレス(b2,b3)に対
応しており、入力データ記憶装置のアドレス(X10,
X11)は画像処理・記憶装置8−1のアドレス(a
4,a5)に対応している。
【0015】このような対応関係にしたがって、例え
ば、入力データ20は対応する画像処理・記憶装置8−
1に分配されてその装置に特有のパラメータを用いて画
像処理され、処理結果はこの装置のアドレスa0〜a1
に格納される。再構成器10は、画像処理・記憶装置8
−1〜8−nに格納された処理済の画像データを分配テ
ーブル4を参照して元の順序に配列し直して出力データ
記憶装置12に格納する。
【0016】このように、1回の撮像で得られた入力画
像データを用いて、入力画像データの領域毎に異なるパ
ラメータにより並列に画像処理をすることができるの
で、画像処理の効率を高めることができる。 実施の形態2 図4は本発明の実施の形態2による画像分配処理装置の
構成を示すブロック図である。図において、図1と同一
部分には同一番号を付して説明を省略する。図1との相
違点は、再構成器10は、分配テーブル4を参照するこ
とに代えて再構成テーブルを参照するようにしたことで
ある。
【0017】一般に、画像処理をした結果の画像データ
の全てを出力データで使用するとは限らない。例えば、
ある画素を中心とする3×3画素のグレイレベルの平均
値やグレイレベルの最大値と最小値との差であるレンジ
値をその中心画素のグレイレベルとするような場合は、
画像の端部の画素の平均値やレンジ値は得られないの
で、画像の端部の画素は出力データから除去する必要が
ある。これ以外にも、画像処理をした画像データの中か
ら必要なデータのみを出力したい場合もあり得る。
【0018】そこで、本実施の形態においては、再構成
テーブル14において、パラメータの各々に対応して複
数の画像処理・記憶装置8−1〜8−nから出力される
出力データ領域の各々の両端の耳部分を除く領域と出力
データ記憶装置12の記憶領域のアドレスとの対応関係
を予め格納した。図5は、本実施の形態における入力デ
ータ記憶装置2の記憶領域と、画像処理・記憶装置8−
1の記憶領域と、出力データ記憶装置12の記憶領域と
の対応関係を示す図、図6は、本実施の形態における分
配テーブル4の内容の一部を示す図、図7は本実施の形
態における再構成テーブル14の内容の一部を示す図で
ある。図5に示す例では、入力データ記憶装置2のアド
レスX0からX3の間のデータの両端部には耳部51お
よび52がある。耳部51のアドレス領域はX0からX
1である。耳部52のアドレス領域はX2からX3であ
る。図5〜図7からわかるように、入力データ記憶装置
2のアドレスX0からX3のデータは画像処理・記憶装
置8−1で実施の形態1におけるのと同様に画像処理さ
れて、分配テーブル4にしたがってアドレスa0〜a3
に格納される。格納された画像データのうち耳部51a
のアドレスはa0〜a1であり、耳部52aのアドレス
はa2〜a3である。再構成器10は、再構成テーブル
14の内容にしたがって、画像処理・記憶装置8−1内
のアドレスa1〜a2のデータのみを出力データ記憶装
置12に格納し、耳部51aおよび52aのデータは出
力データ記憶装置12には転送しない。
【0019】残りの画像処理・記憶装置は図5には図示
を省略したが、再構成テーブルにはそれらの画像処理・
記憶装置のアドレスと出力データ記憶装置12のアドレ
スとの対応関係も規定されており、それぞれの画像処理
・記憶装置からのデータが図5に示したのと同様にして
所定の順序で出力データ記憶装置12に記憶される。こ
うして、出力データ記憶装置12には、必要なデータの
みが格納される。
【0020】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば1回の撮像で得られた入力画像データを用い
て、入力画像データの領域毎に異なるパラメータにより
並列に画像処理をすることができるので、画像処理の効
率を高めることができる。また、画像処理されたデータ
のうち不要な部分を削除して必要な部分のみを出力する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1による画像分配処理装置
の構成を示すブロック図である。
【図2】図1に示した分配テーブルの内容の一例を示す
図である。
【図3】図1に示した入力データ記憶装置2のアドレス
と画像処理・記憶装置8−1〜8−nのアドレスとの対
応関係の一例を示す図である。
【図4】本発明の実施の形態2による画像分配処理装置
の構成を示すブロック図である。
【図5】図4における入力データ記憶装置2の記憶領域
と、画像処理・記憶装置8−1の記憶領域と、出力デー
タ記憶装置12の記憶領域との対応関係の一例を示す図
である。
【図6】図4における分配テーブル4の内容の一部を示
す図である。
【図7】図4における再構成テーブル14の内容の一部
を示す図である。
【符号の説明】
2…入力データ記憶装置 4…分配テーブル 6…分配器 8−1〜8−n…画像処理・記憶装置 10…再構成器 12…出力データ記憶装置 14…再構成テーブル

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力画像データを所定の順序で格納する
    入力データ記憶装置と、 複数の画像処理・記憶装置と、 前記入力データ記憶装置のアドレスと前記複数の画像処
    理・記憶装置から出力される出力データのアドレスとの
    対応関係を半導体集積装置の表面のコントラスト処理、
    パターン密度処理、材料に応じた処理、及び明るさの補
    正処理の少なくとも1つを含む3つ以上の画像処理で使
    用されるパラメータに応じて予め格納する分配テーブル
    と、 前記分配テーブルの内容に応じて前記入力データ記憶装
    置から出力される画像データを前記複数の画像処理・記
    憶装置に分配する分配器と、 前記複数の画像処理・記憶装置により処理されて記憶さ
    れた出力画像データを前記分配テーブルを参照して前記
    所定の順序に再構成する再構成器と、 前記再構成器からの出力画像データを格納する出力デー
    タ記憶装置と、 を備えたことを特徴とする半導体集積装置の表面の画像
    分配処理装置。
  2. 【請求項2】 入力画像データを所定の順序で格納する
    入力データ記憶装置と、 複数の画像処理・記憶装置と、 前記入力データ記憶装置のアドレスと前記複数の画像処
    理・記憶装置から出力される出力データのアドレスとの
    対応関係を画像処理で使用されるパラメータに応じて予
    め格納する分配テーブルと、 前記分配テーブルの内容に応じて前記入力データ記憶装
    置から出力される画像データを前記複数の画像処理・記
    憶装置に分配する分配器と、 前記複数の画像処理・記憶装置により処理された画像デ
    ータを再構成する再構成器と、 前記再構成器からの出力画像データを格納する出力デー
    タ記憶装置と、 前記パラメータの各々に対応して前記複数の画像処理・
    記憶装置から出力される出力データ領域の一部の領域の
    アドレスと前記出力データ記憶装置のアドレスとの対応
    関係を予め格納している再構成テーブルと、 を備え、 前記再構成器は、前記再構成テーブルを参照して前記複
    数の画像処理・記憶装置により処理された画像データを
    再構成するようにしたことを特徴とする画像分配処理装
    置。
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