JP3088232B2 - 半導体記憶回路 - Google Patents
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Description
ムアクセスメモリ(以下、DRAMと称する)等の高集
積な半導体メモリ装置に関し、特に、相補的なデータ線
対を高速に一定電位に設定するイコライズ回路に関す
る。
ー214294号公報に開示された技術がある。このイ
コライズ回路は、所定の電位を供給するプリチャージ回
路に接続されたビット線対間に設けられた2つのトラン
ジスタで構成されている。この2つのトランジスタはそ
れぞれのソースがそれぞれのデータ線に接続され、ドレ
インが互いに接続されて、ゲートには相補等化信号が供
給されるものである。また、ドレインにはブリーダ電流
装置が接続されている。このような構成とすることで、
相補等化信号に応じて2つのトランジスタを同時に活性
化させて、ビット線間を導電位に設定するものである。
この際、ブリーダ電流装置はビット線の電位を設定する
電位からずれないようにするため、電流を吸収あるいは
供給するものである。
コライズ回路では、プリチャージ回路が必要となり、こ
のプリチャージ回路とイコライズ回路を制御するために
2つの制御信号が必要となり、動作制御が複雑となり、
装置全体としての動作の高速化を図ることが困難であっ
た。従って、簡単な動作制御で、装置全体としての動作
の高速化が望まれていた。
路は、前述の課題を解決するために、相補的な信号を転
送可能な信号線対に接続され、活性化することで、信号
線対にイコライズ端子から所定のイコライズ電圧を与え
るイコライズ回路を有するとともに、イコライズ電圧を
発生する第1の電圧発生手段と、イコライズ回路を構成
するMOSトランジスタの導電型に基づいて、イコライ
ズ電圧より低く接地電圧より高い電圧、あるいはイコラ
イズ電圧より高く電源電圧より低い電圧を発生する第2
の電圧発生手段と、駆動されることにより、第1の電圧
発生手段と対応する1つあるいは複数のイコライズ端子
と電気的に接続する1つあるいは複数の第1のスイッチ
手段と、駆動されることにより、第2の電圧発生手段と
対応する1つあるいは複数のイコライズ端子と電気的に
接続する1つあるいは複数の第2のスイッチ手段と、を
有し、イコライズ回路が非活性化時に、1つあるいは複
数の第2のスイッチ手段を駆動し、イコライズ回路が活
性化した後に、1つあるいは複数の第1のスイッチ手段
を駆動するようにしたものである。
チャネル型MOSトランジスタあるいはNチャネル型M
OSトランジスタにて構成されてなるものである。
複数の第2のスイッチ手段を駆動することにより、イコ
ライズ端子を予め、イコライズ回路がNチャネル型MO
Sトランジスタで構成されている場合には、イコライズ
電圧より低く接地電圧より高い電圧にプリチャージし、
イコライズ回路がPチャネル型MOSトランジスタで構
成されている場合には、イコライズ電圧より高く電源電
圧より低い電圧にプリチャージする。この後、イコライ
ズ回路を活性化する際には、イコライズ端子が予めイコ
ライズ電圧とは異なる電圧にプリチャージされているこ
とにより、イコライズ回路を構成する2つのトランジス
タをともに、イコライズ信号の比較的少ない電圧変化で
導通させることができ、イコライズ回路を高速に活性化
することができる。この後、1つあるいは複数の第1の
スイッチ手段を駆動することで、信号線対を所定のイコ
ライズ電圧にイコライズする。
する。)のイコライズ回路の回路図である。
4を介してセンスアンプ等の増幅器3に接続されたデー
タ線対1、2間に配置され、データ線対1、2夫々とイ
コライズ回路10は、ゲートが共通の制御線6に接続さ
れたNチャネルMOSトランジスタ11及び12とゲー
トが制御信号SEに接続されたNチャネルMOSトラン
ジスタ13から成り、トランジスタ11のドレインはデ
ータ線1に接続され、トランジスタ12のドレインはデ
ータ線2に接続されている。トランジスタ11及び12
のソースは、それぞれトランジスタ13のドレインに接
続され、トランジスタ13のソースはイコライズ電位H
VCC(1/2Vcc)を供給する電源5に接続されて
いる。なお、データ線1、2はスイッチ4を介して増幅
器3に駆動されることによりそれぞれ互いに相補的な情
報(VccレベルあるいはGNDレベル)を転送する。
用いて説明する。例えば、読み出し動作を行うため、ま
ず、スイッチ4がオンして増幅器3により情報の転送の
ためデータ線対1、2が駆動され、それぞれVCCレベ
ルとGNDレベルにされている。さらに前記制御線6
は”L”(GND)レベルなのでトランジスタ11及び
12はオフであり、制御信号SEは”H”レベルなので
トランジスタ13はオンであり、特定電圧供給端子であ
る端子14の電位はHVCCである。そして情報の転送
が完了した後は、次の転送動作に備えて、スイッチ4が
オフして増幅器3とデータ線1、2を切り離し、制御信
号SEを”L”レベルにしてトランジスタ13をオフさ
せた後、制御線6を”H”レベルに立ち上げイコライズ
動作に入る。そして、制御線6がトランジスタ12のス
レッショルド電位Vthを越えるとトランジスタ12が
オンになり、端子14の電位レベルは下げられる。これ
は端子14が電源5と切り離されており、端子14の寄
生容量はGNDレベルにあるデータ線2に比べて小さい
ことにより、端子14の電荷が引かれるためである。こ
の端子14の電位レベルの低下により、トランジスタ1
1のゲート電圧が確保され、制御線6の電位がHVCC
+Vthを越える前にトランジスタ11がオンしてデー
タ線1の電位レベルを下げる。その後、所定のタイミン
グで制御信号SEの電位を”H”レベルにして端子14
はV11と接続することによりデータ線1、2の電位を
HVCCにイコライズする。
回路構成で、高速にイコライズすることができる。ま
た、制御線6に接続されるトランジスタは1つのデータ
線対に対して2つであり、ゲート容量の寄生によるデー
タ線の立ち上がりが遅れることもない。さらに、イコラ
イズ回路における消費電力の増加も少ない。
2とする。)のイコライズ回路の回路図である。
が共通の制御線6に接続されたNチャネルMOSトラン
ジスタ21及び22と抵抗手段23から成り、トランジ
スタ21のドレインはデータ線1に接続され、トランジ
スタ22のドレインはデータ線2に接続されている。ト
ランジスタ21及び22のソースは抵抗手段23の1方
の端子に接続され、他方の端子は電位HVCCを供給す
る電源5に接続されている。データ線対1、2は実施例
1と同様に、スイッチ4を介して増幅器3に駆動される
ことにより情報を転送する。
1の動作と同様の動作が得られる。例えば、読み出し動
作を行うため、スイッチ4がオンしており増幅器3によ
り情報の転送のためデータ線対1、2が駆動され、それ
ぞれVCCレベルとGNDレベルにされている。さらに
制御線6は”L”(GND)レベルなのでトランジスタ
21及びトランジスタ22はオフであり、端子24の電
位は抵抗手段23を介して電源5にされている。そして
情報の転送が完了した後は、次の転送動作に備えて、ス
イッチ4がオフして増幅器3とデータ線1、2を切り離
した後、制御線6の電位を”H”レベルに立ち上げイコ
ライズ動作に入る。即ち、制御線6の電位はトランジス
タ22のスレッショルド電位Vthを越えるとトランジ
スタ22がオンになり、端子24の電位は抵抗手段23
を介して電源5に接続され、端子24の寄生容量はGN
Dレベルであるデータ線2に比べて小さいことにより、
端子24の電荷が引かれるためである。この端子24の
電位レベルの低下により、トランジスタ21のゲートの
電位が確保され制御線6の電位レベルがHVCC+Vt
hを越える前にトランジスタ21がオンしてデータ線1
の電位レベルを下げる。その後、端子24の電位は抵抗
手段23によって遅れてHVCCになりデータ線1、2
を電位HVCCにイコライズする。実施例2は実施例1
の効果に加え、制御信号SEの制御が不要である点で有
利である。
3とする。)のイコライズ回路の回路図である。
が共通の制御線6に接続されたNチャネルMOSトラン
ジスタ31及び32とゲートが所定の電位Vpが印加さ
れているNチャネルMOSトランジスタ33から成り、
トランジスタ31のドレインはデータ線1に接続され、
トランジスタ32のドレインはデータ線2に接続されて
いる。トランジスタ31及びトランジスタ32のソース
はトランジスタ33のドレインに接続され、トランジス
タ33のソースは電位HVCCを供給する電源5に接続
されている。データ線1、2は、実施例1、2と同様
に、スイッチ4を介して増幅器3に駆動されることによ
り情報を転送する。実施例3はトランジスタ32のゲー
トに一定電位Vpを印加して、トランジスタ33を常時
オンしているので、端子34と電源5の間に抵抗が入っ
ていることと等価であり実施例2と同じ動作を実現でき
る。また実施例3はトランジスタ33のゲートに供給さ
れるVpの電位を調節することにより端子34レベルを
制御できるのでイコライズ動作の最適化が可能である。
4とする。)のイコライズ回路の回路図である。
0、130・・・は複数のデータ線対101と102、
103と104、105と106・・・と各イコライズ
回路110、120、130・・・に電位HVCCを供
給する第1の電位供給手段107とVPPの電位を供給
する第2の電位供給手段108とを備えている。第1の
イコライズ回路110は、第1、第2、第3、第4のス
イッチ手段から成り、第3のスイッチ手段113は第4
のスイッチ手段114及び第2のスイッチ手段112の
一方の端子115と第1の電位供給手段107を接続
し、第4のスイッチ手段114は端子115と第2の電
位供給手段108を接続し、第4のスイッチ手段114
の端子はデータ線101に接続され、第4のスイッチ手
段114の他端の端子はデータ線102に接続されてい
る。
115を所定のプリチャージ電位Vppにプリチャージ
しておく第2の電位供給手段108と、イコライズ電位
を供給する第1の電位供給手段107とを用意し、第2
の電位供給手段108を第1の電位供給手段107に対
し駆動能力が大きい電位供給手段とすることができ、さ
らに、イコライズ動作開始時に端子115をプリチャー
ジ電位Vppで待機させることができる。このようにす
ることで、消費電力の増加はなく、さらに、実施例1か
ら3のようにデータ線がGNDレベルである側に接続し
たトランジスタがオンして端子14、24、34の電位
を一度下げて再びイコライズ電位に戻す場合よりも高速
なイコライズが可能になる。
1と第2のスイッチ手段にそれぞれ相当するスイッチ手
段211、212をデータ線対間に、第3と第4のスイ
ッチ手段にそれぞれ相当するスイッチ手段201、20
2をデータ線対とは離して、他のイコライズ回路22
0、230と共通にしてもよい。このようにすること
で、イコライズ回路のスイッチ手段の数及び配線の数を
削減することができ、装置全体としての占有面積を小さ
くすることが可能となる。
ルMOSトランジスタを用いた例を、第5の実施例とし
て説明する。図8は図7のイコライズ回路の動作を説明
する動作波形図である。
ータ線対101と102、103と104、105と1
06・・・と各イコライズ回路110、120、130
・・・に電位HVCCを供給する第1の電位供給手段1
07とVPLの電位を供給する第2の電位供給手段30
2とを備えている。イコライズ回路310は、ゲートが
共通の制御線301に接続されたNチャネルMOSトラ
ンジスタ311及び312と、第1及び第2のスイッチ
手段313、314から成り、トランジスタ311のド
レインはデータ線101に接続され、トランジスタ31
2のドレインはデータ線102に接続されている。第1
のスイッチ手段313はトランジスタ311及び312
のソースと第1の電位供給手段107を接続し、第2の
スイッチ手段314はトランジスタ311及び312の
ソースと第2の電位供給手段302を接続している。
用いて説明する。先ず図示しないがセンスアンプなどの
増幅器により情報の転送のためデータ線対101、10
2が駆動され、それぞれVCCレベルGNDレベルにさ
れている。さらに、制御301は”L”(GND)レベ
ルなのでトランジスタ311、312はオフであり、ス
イッチ手段314はオン、スイッチ手段313はオフな
ので端子315の電位はVPLである。そして情報の転
送が完了した後は、次の転送動作に備えて、図示しない
がセンスアンプなどの増幅器とデータ線対101、10
2を切り離し、制御線301の電位レベルを”H”レベ
ルに立ち上げイコライズ動作に入る。即ち、制御線30
1がトランジスタ310のスレッショルド電位Vthを
越えるとトランジスタ312がオンしデータ線102の
電位レベルを上げる。同時に端子315は電位HVCC
より低いVPLで待機しているので制御線301の電位
レベルがVPL+Vthを越えるとトランジスタ311
がオンしてデータ線101のレベルを下げる。その後、
所定のタイミングでスイッチ手段314はオフ、スイッ
チ手段313はオンにしてデータ線対を電位HVCCに
イコライズする。この実施例ではイコライズ動作に入る
前は端子315をイコライズ電位よりも低い電位VPL
におき、イコライズ開始時点でのトランジスタ311、
312のオン抵抗を等しくしているため、実施例1から
3のようにGND電位を有するデータ線側に接続したM
OSトランジスタがオンして端子14、24、34の電
位を1度下げる場合よりも高速に動作する。
コライズ回路がNチャネルトランジスタからなるので、
装置全体としての占有面積が削減できる。
02であるVPL電位発生手段は図9に示す様な回路で
実現できる。例えば、図の様な手段によりイコライズ電
位HVCCよりも低い電位VPLを発生させることが可
能である。このVPL電位供給手段は2つの比較器35
1と360と抵抗手段352と353から構成されてい
る。比較器351の正端子には電位VCCを供給する信
号線381に接続され、負端子には抵抗手段352の一
端及び比較器351の出力が接続されている。抵抗手段
352の他端は抵抗手段353の一端と比較器360の
正端子に接続され、抵抗手段353の他端はGNDに接
続されている。比較器360の負端子は比較器360の
出力信号線383と接続されており、この比較器360
の出力信号線383の出力により電位VPLが得られ
る。なお、比較器370は他のVPLは電位発生手段の
ためのものであり、信号線382は抵抗手段352、3
53、比較器360と同様な比較器に接続されている。
路410としてデータ線対101、102間に、ゲート
が共通の制御線403に接続されたNチャネルMOSト
ランジスタ411及び412で構成し、トランジスタ4
11のドレインはデータ線101に接続され、トランジ
スタ412のドレインはデータ線102に接続し、第1
及び第2のスイッチ手段401、402はイコライズ回
路410の外に設け、第1のスイッチ手段401はトラ
ンジスタ411及び412のソースと第1の電位供給手
段107を接続し、第2のスイッチ手段402はトラン
ジスタ411及び412のソースと第2の電位供給手段
302を接続してもよい。このようにすることで、この
ようにすることで、イコライズ回路のスイッチ手段の数
及び配線の数を削減することができ、装置全体としての
占有面積を小さくすることが可能となる。
OSトランジスタを用いた例を説明する。図12は図1
1のイコライズ回路の動作を示す動作波形図である。
対101と102、103と104、105と106・
・・と前記各データ線対に接続された複数のイコライズ
回路510、520、530・・・と前記各イコライズ
回路にイコライズ電位HVCCを供給する第1の電位供
給手段108とVPHの電位を供給する第2の電位供給
手502とを備え、第1のイコライズ回路510は、ゲ
ートが共通の制御線501に接続されたPチャネルMO
Sトランジスタ511及び512と、第1及び第2のス
イッチ手段513及び514から成り、トランジスタ5
11のドレインはデータ線101に接続され、トランジ
スタ512のドレインは、データ線102に接続されて
いる。スイッチ手段513はトランジスタ511及び5
12のソー第1の電源供給手段502を接続し、スイッ
チ手段514はトランジスタ511及び512のソース
と第2の電位供給手段108を接続している。
読み出し動作のため、図示しないがセンスアンプなどの
増幅器により情報の転送のためデータ線対101、10
2が駆動され、それれVCCレベルとGNDレベルにさ
れている。さらに制御線501は”H”(VCC)レベ
ルなのでトランジスタ511及び512はオフであり、
前記スイッチ手段513はオン、スイッチ手段514は
オフなので端子515の電位はVPHである。そして情
報の転送が完了した後は、次の転送動作に備えて、図示
しないがセンスアンプなどの増幅器とデータ線対10
1、102を切り離した後、制御線501を”L”レベ
ルに立ち上げイコライズ動作に入る。即ち、制御線50
1¥がVCCーVtp以下に下がるとトランジスタ51
1がオンしてデータ線101の電位レベルを下げる。同
時に端子はイコライズ電位HVCCよりも高いプリチャ
ージ電位VPHで待機しているので、制御線501が電
位VPHーVtp以下まで下がるとトランジスタ512
がオンしてデータ線102のレベルを上げる。その後、
所定のタイミングでスイッチ手段513はオフ、スイッ
チ手段514はオンにしてデータ線対101、102を
電位HVCCにイコライズする。
路に含まれるMOSトランジスタを、Pチャネルトラン
ジスタに置き換えて図7のイコライズ回路の動作と同様
の動作を実現したものである。この実施例では図7と同
様に(図7のイコライズ回路は低いVPLであるが)、
イコライズ動作に入る前は端子515を高い電位VPH
で待機することによりイコライズ開始時点でのトランジ
スタ511及び512のオン抵抗を等して高速なイコラ
イズを実現する。また、イコライズ回路がPチャネルト
ランジスタからなるので、イコライズ電位がGNDレベ
ルのノイズの影響を除くために、VCCレベル付近に設
定すれば高速なイコライズが可能である。
路510としてデータ線対101、102間に、ゲート
が共通の制御線603に接続されたPチャネルMOSト
ランジスタ611及び612で構成し、トランジスタ6
11のドレインはデータ線101に接続され、トランジ
スタ612のドレインはデータ線102に接続し、第1
及び第2のスイッチ手段601、602はイコライズ回
路610の外に設け、第1のスイッチ手段601はトラ
ンジスタ611及び612のソースと第1の電位供給手
段502を接続し、第2のスイッチ手段602はトラン
ジスタ611及び612のソースと第2の電位供給手段
108を接続してもよい。このようにすることで、この
ようにすることで、イコライズ回路のスイッチ手段の数
及び配線の数を削減することができ、装置全体としての
占有面積を小さくすることが可能となる。
実施例に限定されるものではなく、スイッチ手段を全て
トランジスタで構成してもよく、また、全て同じチャネ
ル型にすれば製造工程も容易になる。
置は、相補的な信号を転送するデータ線対と、このデー
タ線対の1方と特定電位供給端子の間に接続された第1
のスイッチ手段とデータ線対の他方と特定電位供給端子
の間に接続された第2のスイッチ手段を有し、制御信号
に応じて第1と第2のスイッチ手段を動作させてデータ
線対間を電気的に接続するイコライズ回路と、特定電位
供給端子に接続され、イコライズ回路がデータ線対間を
電気的に接続する前に特定電位供給端子にプリチャージ
電位を供給し、制御信号によりイコライズ回路が動作し
たのに応じて特定電位供給端子にイコライズ電位を供給
する供給回路を有した構成としたことにより、簡単な構
成で高速なイコライズ動作を実現することができる。
す回路図である。
波形図である。
す回路図である。
す回路図である。
す回路図である。
す回路図である。
す回路図である。
波形図である。
ある。
示す回路図である。
示す回路図である。
作波形図である。
示す回路図である。
ズ回路 210、220、230、310、320 イコライ
ズ回路 330、410、420、430510 イコライ
ズ回路 520、530、610、620、630 イコライ
ズ回路 11、12、21、22、31、32 Nチャネ
ルMOSトランジスタ 311、312、411、412 Nチャネ
ルMOSトランジスタ 511、512、611、612 Pチャネ
ルMOSトランジスタ 111、112、113、114 スイッチ
手段 201、202、211、212 スイッチ
手段 313、314、401、402 スイッチ
手段 513、514、601、602 スイッチ
手段 1、2、101〜106 データ線
Claims (5)
- 【請求項1】 各々が第1の信号線と第2の信号線とか
ら構成された複数の信号線対と、各々が前記複数の信号
線対のうちの対応する信号線対と接続され、イコライズ
信号に応じて活性化することにより、電源電圧より低い
イコライズ電圧が与えられる複数のイコライズ端子の対
応するものと前記対応する信号線対の前記第1及び前記
第2の信号線とを電気的に接続する複数のイコライズ回
路とを有する半導体記憶回路において、 前記複数のイコライズ回路の各々は、前記第1の信号線
と前記イコライズ端子との間に接続された第1のNチャ
ネル型MOSトランジスタと、前記第2の信号線と前記
イコライズ端子との間に接続された弟2のNチャネル型
MOSトランジスタとで構成し、該2つのNチャネル型
MOSトランジスタのゲート電極には前記イコライズ信
号が入力されるものであり、 前記半導体記憶回路は、さらに、 前記イコライズ電圧を発生する第1の電圧発生手段と、 前記イコライズ電圧より低く接地電圧より高い電圧を発
生する第2の電圧発生手段と、 各々が、駆動されることにより、前記第1の電圧発生手
段と前記複数のイコライズ端子のうちの対応するものと
を電気的に接続する複数の第1のスイッチ手段と、 各々が、駆動されることにより、前記第2の電圧発生手
段と前記複数のイコライズ端子のうちの対応するものと
を電気的に接続する複数の第2のスイッチ手段と、 を有し、前記イコライズ回路が非活性化時に、前記複数
の第2のスイッチ手段を駆動し、前記イコライズ回路が
活性化した後に、前記複数の第1のスイッチ手段を駆動
するようにしたことを特徴とする半導体記憶回路。 - 【請求項2】 各々が第1の信号線と第2の信号線とか
ら構成された複数の信号線対と、各々が前記複数の信号
線対のうちの対応する信号線対と接続され、イコライズ
信号に応じて活性化することにより、電源電圧より低い
イコライズ電圧が与えられる複数のイコライズ端子の対
応するものと前記対応する信号線対の前記第1及び前記
第2の信号線とを電気的に接続する複数のイコライズ回
路とを有する半導体記憶回路において、 前記複数のイコライズ回路の各々は、前記第1の信号線
と前記イコライズ端子との間に接続された第1のNチャ
ネル型MOSトランジスタと、前記第2の信号線と前記
イコライズ端子との間に接続された弟2のNチャネル型
MOSトランジスタとで構成し、該2つのNチャネル型
MOSトランジスタのゲート電極には前記イコライズ信
号が入力されるものであり、 前記半導体記憶回路は、さらに、 前記イコライズ電圧を発生する第1の電圧発生手段と、 前記イコライズ電圧より低く接地電圧より高い電圧を発
生する第2の電圧発生手段と、 駆動されることにより、前記第1の電圧発生手段と前記
複数のイコライズ端子とを電気的に接続する第1のスイ
ッチ手段と、 駆動されることにより、前記第2の電圧発生手段と前記
複数のイコライズ端子とを電気的に接続する第2のスイ
ッチ手段と、 を有し、前記イコライズ回路が非活性化時に、前記第2
のスイッチ手段を駆動し、前記イコライズ回路が活性化
した後に、前記第1のスイッチ手段を駆動するようにし
たことを特徴とする半導体記憶回路。 - 【請求項3】 各々が第1の信号線と第2の信号線とか
ら構成された複数の信号線対と、各々が前記複数の信号
線対のうちの対応する信号線対と接続され、イコライズ
信号に応じて活性化することにより、電源電圧より低い
イコライズ電圧が与えられる複数のイコライズ端子の対
応するものと前記対応する信号線対の前記第1及び前記
第2の信号線とを電気的に接続する複数のイコライズ回
路とを有する半導体記憶回路において、 前記複数のイコライズ回路の各々は、前記第1の信号線
と前記イコライズ端子との間に接続された第1のPチャ
ネル型MOSトランジスタと、前記第2の信号線と前記
イコライズ端子との間に接続された弟2のNチャネル型
MOSトランジスタとで構成し、該2つのPチャネル型
MOSトランジスタのゲート電極には前記イコライズ信
号が入力されるものであり、 前記半導体記憶回路は、さらに、 前記イコライズ電圧を発生する第1の電圧発生手段と、 前記イコライズ電圧より高く前記電源電圧より低い電圧
を発生する第2の電圧発生手段と、 各々が、駆動されることにより、前記第1の電圧発生手
段と前記複数のイコライズ端子のうちの対応するものと
を電気的に接続する複数の第1のスイッチ手段と、 各々が、駆動されることにより、前記第2の電圧発生手
段と前記複数のイコライズ端子のうちの対応するものと
を電気的に接続する複数の第2のスイッチ手段と、 を有し、前記イコライズ回路が非活性化時に、前記複数
の第2のスイッチ手段を駆動し、前記イコライズ回路が
活性化した後に、前記複数の第1のスイッチ手段を駆動
するようにしたことを特徴とする半導体記憶回路。 - 【請求項4】 各々が第1の信号線と第2の信号線とか
ら構成された複数の信号線対と、各々が、前記複数の信
号線対のうちの対応する信号線対と接続され、イコライ
ズ信号に応じて活性化することにより、電源電圧より低
いイコライズ電圧が与えられる複数のイコライズ端子の
対応するものと前記対応する信号線対の前記第1及び前
記第2の信号線とを電気的に接続する複数のイコライズ
回路とを有する半導体記憶回路において、 前記複数のイコライズ回路の各々は、前記第1の信号線
と前記イコライズ端子との間に接続された第1のPチャ
ネル型MOSトランジスタと、前記第2の信号線と前記
イコライズ端子との間に接続された弟2のNチャネル型
MOSトランジスタとで構成し、該2つのPチャネル型
MOSトランジスタのゲート電極には前記イコライズ信
号が入力されるものであり、 前記半導体記憶回路は、さらに、 前記イコライズ電圧を発生する第1の電圧発生手段と、 前記イコライズ電圧より高く前記電源電圧より低い電圧
を発生する第2の電圧発生手段と、 駆動されることにより、前記第1の電圧発生手段と前記
複数のイコライズ端子とを電気的に接続する第1のスイ
ッチ手段と、 駆動されることにより、前記第2の電圧発生手段と前記
複数のイコライズ端子とを電気的に接続する第2のスイ
ッチ手段と、 を有し、前記イコライズ回路が非活性化時に、前記第2
のスイッチ手段を駆動し、前記イコライズ回路が活性化
した後に、前記第1のスイッチ手段を駆動するようにし
たことを特徴とする半導体記憶回路。 - 【請求項5】 前記第1及び前記第2のスイッチ手段
は、前記複数の信号線対の各々から離れて配置されてい
ることを特徴とする請求項2または請求項4記載の半導
体記憶回路。
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06001299A JP3088232B2 (ja) | 1994-01-11 | 1994-01-11 | 半導体記憶回路 |
KR1019940039274A KR100313777B1 (ko) | 1994-01-11 | 1994-12-30 | 반도체기억회로 |
EP95300038A EP0662689B1 (en) | 1994-01-11 | 1995-01-04 | Semiconductor memory device |
DE69528001T DE69528001T2 (de) | 1994-01-11 | 1995-01-04 | Halbleiterspeicheranordnung |
EP00106207A EP1043728B1 (en) | 1994-01-11 | 1995-01-04 | Semiconductor memory device |
DE69521066T DE69521066T2 (de) | 1994-01-11 | 1995-01-04 | Halbleiterspeicheranordnung |
US08/371,536 US5477496A (en) | 1994-01-11 | 1995-01-11 | Semiconductor memory device having circuits for precharging and equalizing |
US08/534,589 US5566115A (en) | 1994-01-11 | 1995-09-27 | Semiconductor memory device |
US08/681,389 US5652727A (en) | 1994-01-11 | 1996-07-23 | Semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06001299A JP3088232B2 (ja) | 1994-01-11 | 1994-01-11 | 半導体記憶回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07211071A JPH07211071A (ja) | 1995-08-11 |
JP3088232B2 true JP3088232B2 (ja) | 2000-09-18 |
Family
ID=11497601
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP06001299A Expired - Fee Related JP3088232B2 (ja) | 1994-01-11 | 1994-01-11 | 半導体記憶回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US5477496A (ja) |
EP (2) | EP1043728B1 (ja) |
JP (1) | JP3088232B2 (ja) |
KR (1) | KR100313777B1 (ja) |
DE (2) | DE69521066T2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3088232B2 (ja) * | 1994-01-11 | 2000-09-18 | 沖電気工業株式会社 | 半導体記憶回路 |
JP2836495B2 (ja) * | 1994-08-24 | 1998-12-14 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5729495A (en) * | 1995-09-29 | 1998-03-17 | Altera Corporation | Dynamic nonvolatile memory cell |
US5896334A (en) * | 1997-08-14 | 1999-04-20 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for memory device with defect current isolation |
KR100388318B1 (ko) | 1998-12-24 | 2003-10-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 비트라인디커플링방법 |
US6108257A (en) * | 1999-09-30 | 2000-08-22 | Philips Electronics North America Corporation | Zero power SRAM precharge |
KR100430369B1 (ko) * | 2002-05-03 | 2004-05-04 | (주) 텔트론 | 초고주파 디프랜셜 스위치회로 |
US7218564B2 (en) * | 2004-07-16 | 2007-05-15 | Promos Technologies Inc. | Dual equalization devices for long data line pairs |
FR2910168B1 (fr) * | 2006-12-14 | 2009-03-20 | St Microelectronics Sa | Dispositif de memoire de type sram |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5835795A (ja) * | 1981-08-24 | 1983-03-02 | Hitachi Ltd | メモリのデ−タ線プリチヤ−ジ回路 |
US4494221A (en) * | 1982-03-03 | 1985-01-15 | Inmos Corporation | Bit line precharging and equilibrating circuit |
JP2615011B2 (ja) * | 1986-06-13 | 1997-05-28 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶回路 |
JPS63304491A (ja) * | 1987-06-04 | 1988-12-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ |
JPH07118196B2 (ja) * | 1988-12-28 | 1995-12-18 | 株式会社東芝 | スタティック型半導体メモリ |
US5036492A (en) * | 1990-02-15 | 1991-07-30 | Advanced Micro Devices, Inc. | CMOS precharge and equalization circuit |
US5155702A (en) * | 1990-11-30 | 1992-10-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor memory device |
KR940007000B1 (ko) * | 1991-05-24 | 1994-08-03 | 삼성전자 주식회사 | 개선된 라이트 동작을 가지는 반도체 메모리 장치 |
US5325335A (en) * | 1991-05-30 | 1994-06-28 | Integrated Device Technology, Inc. | Memories and amplifiers suitable for low voltage power supplies |
KR950009234B1 (ko) * | 1992-02-19 | 1995-08-18 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리장치의 비트라인 분리클럭 발생장치 |
JPH05342873A (ja) * | 1992-06-10 | 1993-12-24 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
JP3088232B2 (ja) * | 1994-01-11 | 2000-09-18 | 沖電気工業株式会社 | 半導体記憶回路 |
-
1994
- 1994-01-11 JP JP06001299A patent/JP3088232B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1994-12-30 KR KR1019940039274A patent/KR100313777B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-01-04 EP EP00106207A patent/EP1043728B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-01-04 DE DE69521066T patent/DE69521066T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-01-04 EP EP95300038A patent/EP0662689B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-01-04 DE DE69528001T patent/DE69528001T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-01-11 US US08/371,536 patent/US5477496A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-09-27 US US08/534,589 patent/US5566115A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-07-23 US US08/681,389 patent/US5652727A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5477496A (en) | 1995-12-19 |
DE69521066D1 (de) | 2001-07-05 |
EP0662689A3 (en) | 1995-11-22 |
EP0662689A2 (en) | 1995-07-12 |
DE69521066T2 (de) | 2002-03-21 |
US5652727A (en) | 1997-07-29 |
DE69528001T2 (de) | 2003-05-08 |
KR100313777B1 (ko) | 2001-12-28 |
JPH07211071A (ja) | 1995-08-11 |
DE69528001D1 (de) | 2002-10-02 |
EP1043728A1 (en) | 2000-10-11 |
KR950024213A (ko) | 1995-08-21 |
EP1043728B1 (en) | 2002-08-28 |
US5566115A (en) | 1996-10-15 |
EP0662689B1 (en) | 2001-05-30 |
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JPH04286794A (ja) | ダイナミックram |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000627 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080714 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080714 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090714 Year of fee payment: 9 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090714 Year of fee payment: 9 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |