JP3071456B2 - ベクタ補正型サンプルホールド回路 - Google Patents
ベクタ補正型サンプルホールド回路Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ベクタ補正型サンプルホールド回路に係
り、特に、交流波形を一定間隔でサンプリングしてベク
タ情報を得ようとする測定回路に最適なベクタ補正型サ
ンプルホールド回路に関する。
り、特に、交流波形を一定間隔でサンプリングしてベク
タ情報を得ようとする測定回路に最適なベクタ補正型サ
ンプルホールド回路に関する。
まず、従来技術の背景となる問題について説明する。
第８図（ａ）は、スペクトラム・アナライザ等で使用さ
れているピークディテクタの回路である。この回路の出
力では、fIF（AC波形）の絶対値のみを測定している。
この測定値にアベレージング処理を行なうと、第８図
（ｂ）に矢印Ａで示すように、信号に直接影響している
ノイズを平滑化して取り除くことができる。さらに矢印
Ｂで示すようにノイズ自体も平滑化され、見掛け上ダイ
ナミックレンジが広くなって、ノイズフロアに対して観
察すべき信号が見易くなる。
第８図（ａ）は、スペクトラム・アナライザ等で使用さ
れているピークディテクタの回路である。この回路の出
力では、fIF（AC波形）の絶対値のみを測定している。
この測定値にアベレージング処理を行なうと、第８図
（ｂ）に矢印Ａで示すように、信号に直接影響している
ノイズを平滑化して取り除くことができる。さらに矢印
Ｂで示すようにノイズ自体も平滑化され、見掛け上ダイ
ナミックレンジが広くなって、ノイズフロアに対して観
察すべき信号が見易くなる。
一方、ネットワークアナライザでは、観察する信号を
第９図に示すように、（R,X）の実部、虚部のベクタ情
報として得る必要がある。このための従来方法の一つ
を、第10図（ａ）に示す。ここでは、fIFに対して４倍
の周波数で信号のサンプル＆ホールドを行なう。したが
って、1/（4fIF）ごとに得られる情報は、第９図の実数
軸、虚数軸を90゜づつ回した時に得られる観測波形の値
となる。したがって、第10図（ｂ）に示す各測定時刻で
の信号の大きさを、a,b,c,dとするとき、観測する信号
のベクタ情報は、それぞれ下式で与えられる。
第９図に示すように、（R,X）の実部、虚部のベクタ情
報として得る必要がある。このための従来方法の一つ
を、第10図（ａ）に示す。ここでは、fIFに対して４倍
の周波数で信号のサンプル＆ホールドを行なう。したが
って、1/（4fIF）ごとに得られる情報は、第９図の実数
軸、虚数軸を90゜づつ回した時に得られる観測波形の値
となる。したがって、第10図（ｂ）に示す各測定時刻で
の信号の大きさを、a,b,c,dとするとき、観測する信号
のベクタ情報は、それぞれ下式で与えられる。
また、信号の絶対値の大きさは、下式で表される。
実際には、第９図に示すように正確に直交し、原点が
固定した実数軸及び虚数軸を用意することは、第10図に
示す４×fIF及びfIFの精度、４×fIFの信号を受け取っ
てからサンプル＆ホールドまでの時間のジッタ等で難し
い。このため、第11図に示すように、軸の原点かずれて
しまったり、直交性がくずれる。より高精度の測定を行
なうためには、アベレージングを行なう必要がある。こ
のとき、次式のように（R,X）に分けてアベレージング
を行なうと、原点の位置の移動、直交性がくずれた時の
データ誤差を相殺することができ、第12図に示すように
測定のダイナミックレンジを広げることが可能なる。ま
た、信号に直接影響しているノイズを取り除くために、
従来では実数部、虚数部毎に平均をとった後、絶対値表
示を示している。すなわち、 |m|ave:アベレージングされた絶対値の測定 Ri,Xi :i回目に測定された信号の実部・虚部 Ｎ :測定した回数 これにより入力雑音が平均化され信号成分のみが表示
できる。（スペクトラムアナライザの場合とは異なり、
雑音レベルを測定する必要がない。） さて次に、本発明の直接の従来例について以下に説明
する。第13図（ａ）に示す回路により実部R,虚部Ｘそれ
ぞれでアベレージングを行なおうとすると、CPUは４回
データを取り込む。さらにCPUは、４回目の取り込みの
後、Ｒ−Ｘベクタの作成、アベレージングのデータ処理
を行なう必要がある。いま、第13図（ｂ）に示すよう
に、１乃至４回目のデータ取込をそれぞれで表
す。CPUは、データの取り込み処理と、Ｒ−Ｘ作成・ア
ベレージングデータ処理とを順を追って一つしか行うこ
とができないものであるため、連続して同じfinputを測
定してアベレージングを行なおうとすると、と′と
の間の時、すなわち（1/4×fIF）の間にＲ−Ｘのベクタ
作成及びアベレージング処理を行わなければならず、例
えばIF段のゲインを変えるレンジングのような作用が入
って、それを行うことができない場合には、第14図に示
すように、CPUがサンプルホールドのデータを読み出す
ことができない場合が発生してしまう。このような、デ
ータ取り込みの抜けを考慮しないままCPUがデータ処理
を行うと、実際には′′′″のデータを取り込
んでいるにもかかわらず、′′′′のデータを
取り込んだものとして、Ｒ−Ｘベクタ作成を行ってしま
うため、あたかも第15図に示すように、軸が回転してし
まう結果となる。このため、Ｒ−Ｘによるアベレージン
グも正確に行うことが不可能となる。
固定した実数軸及び虚数軸を用意することは、第10図に
示す４×fIF及びfIFの精度、４×fIFの信号を受け取っ
てからサンプル＆ホールドまでの時間のジッタ等で難し
い。このため、第11図に示すように、軸の原点かずれて
しまったり、直交性がくずれる。より高精度の測定を行
なうためには、アベレージングを行なう必要がある。こ
のとき、次式のように（R,X）に分けてアベレージング
を行なうと、原点の位置の移動、直交性がくずれた時の
データ誤差を相殺することができ、第12図に示すように
測定のダイナミックレンジを広げることが可能なる。ま
た、信号に直接影響しているノイズを取り除くために、
従来では実数部、虚数部毎に平均をとった後、絶対値表
示を示している。すなわち、 |m|ave:アベレージングされた絶対値の測定 Ri,Xi :i回目に測定された信号の実部・虚部 Ｎ :測定した回数 これにより入力雑音が平均化され信号成分のみが表示
できる。（スペクトラムアナライザの場合とは異なり、
雑音レベルを測定する必要がない。） さて次に、本発明の直接の従来例について以下に説明
する。第13図（ａ）に示す回路により実部R,虚部Ｘそれ
ぞれでアベレージングを行なおうとすると、CPUは４回
データを取り込む。さらにCPUは、４回目の取り込みの
後、Ｒ−Ｘベクタの作成、アベレージングのデータ処理
を行なう必要がある。いま、第13図（ｂ）に示すよう
に、１乃至４回目のデータ取込をそれぞれで表
す。CPUは、データの取り込み処理と、Ｒ−Ｘ作成・ア
ベレージングデータ処理とを順を追って一つしか行うこ
とができないものであるため、連続して同じfinputを測
定してアベレージングを行なおうとすると、と′と
の間の時、すなわち（1/4×fIF）の間にＲ−Ｘのベクタ
作成及びアベレージング処理を行わなければならず、例
えばIF段のゲインを変えるレンジングのような作用が入
って、それを行うことができない場合には、第14図に示
すように、CPUがサンプルホールドのデータを読み出す
ことができない場合が発生してしまう。このような、デ
ータ取り込みの抜けを考慮しないままCPUがデータ処理
を行うと、実際には′′′″のデータを取り込
んでいるにもかかわらず、′′′′のデータを
取り込んだものとして、Ｒ−Ｘベクタ作成を行ってしま
うため、あたかも第15図に示すように、軸が回転してし
まう結果となる。このため、Ｒ−Ｘによるアベレージン
グも正確に行うことが不可能となる。
これと同様の問題が、連続スイープのトレース毎にア
ベレージングを行う場合にも問題となる、つまりトレー
スの終わりからトレースの初めに戻る時に、Ｒ−Ｘ軸が
どの位置にあったかを認識することができなくなるため
である。
ベレージングを行う場合にも問題となる、つまりトレー
スの終わりからトレースの初めに戻る時に、Ｒ−Ｘ軸が
どの位置にあったかを認識することができなくなるため
である。
上記のような問題を解決するためには、次の二手段が
考えられる。
考えられる。
（１） IFの周波数を低くし、4IFによるサンプリング
の時間を長くする。
の時間を長くする。
（２） データ処理系を高速にして、常にデータ収集を
行い、軸の位置を忘れないようにする。
行い、軸の位置を忘れないようにする。
しかし、（１）の方法では、測定速度そのものが遅く
なる欠点があり、（２）の方法では、例えば専用CPUな
どが必要となりコストが高くなるという欠点がある。こ
のため、従来の信号入力の絶対値測定においては、アベ
レージングはあきらめる場合も多かった。
なる欠点があり、（２）の方法では、例えば専用CPUな
どが必要となりコストが高くなるという欠点がある。こ
のため、従来の信号入力の絶対値測定においては、アベ
レージングはあきらめる場合も多かった。
本発明は、上記した従来技術の欠点を除くためになさ
れたものであって、その目的とするところは、サンプリ
ングがとぎれても、A/D変換器からCPUが読み出すデータ
に、カウンタを利用して位相情報を追加することによ
り、Ｒ−Ｘ絶対値測定でもアベレージ処理を可能とする
ことである。また他の目的は、特に高速でない一般のCP
Uを使用して、Ｒ−Ｘ絶対値のアベレージを可能とする
ことにより、測定精度の向上とダイナミックレンジの拡
大を図ることである。さらに他の目的は、カウンタを利
用した位相情報に基づく位相（軸回転）の補正に関する
処理シーケンスを類型的に複数用意することにより、位
相補正されたＲ−Ｘデータの作成を高速に行うことであ
る 〔問題点を解決するための手段〕 要するに、本発明は、アナログ信号をサンプルホール
ドするサンプルホールド回路と、該サンプルホールドさ
れたアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器
と、前記サンプルホールド回路のサンプルスイッチの開
閉制御のための、前記アナログ信号の複数倍の周波数の
制御信号に同期して、周期的にカウントを行うカウンタ
と、前記アナログ信号の一定周期に対応する複数のA/D
変換器出力データを任意の時点から収集すると共に、前
記カウンタ出力が示す当該データの位相参照して前記デ
ータの処理を行うデータ処理系とを具備することを特徴
とするものである。
れたものであって、その目的とするところは、サンプリ
ングがとぎれても、A/D変換器からCPUが読み出すデータ
に、カウンタを利用して位相情報を追加することによ
り、Ｒ−Ｘ絶対値測定でもアベレージ処理を可能とする
ことである。また他の目的は、特に高速でない一般のCP
Uを使用して、Ｒ−Ｘ絶対値のアベレージを可能とする
ことにより、測定精度の向上とダイナミックレンジの拡
大を図ることである。さらに他の目的は、カウンタを利
用した位相情報に基づく位相（軸回転）の補正に関する
処理シーケンスを類型的に複数用意することにより、位
相補正されたＲ−Ｘデータの作成を高速に行うことであ
る 〔問題点を解決するための手段〕 要するに、本発明は、アナログ信号をサンプルホール
ドするサンプルホールド回路と、該サンプルホールドさ
れたアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器
と、前記サンプルホールド回路のサンプルスイッチの開
閉制御のための、前記アナログ信号の複数倍の周波数の
制御信号に同期して、周期的にカウントを行うカウンタ
と、前記アナログ信号の一定周期に対応する複数のA/D
変換器出力データを任意の時点から収集すると共に、前
記カウンタ出力が示す当該データの位相参照して前記デ
ータの処理を行うデータ処理系とを具備することを特徴
とするものである。
以下、本発明を、図面に示す実施例に基づいて説明す
る。第１図のように、本発明に係るベクタ補正型サンプ
ルホールド回路１は、サンプルホールド回路２と、アナ
ログ・デジタル変換器（A/D変換器）３と、カウンタ４
と、CPUを備えたデータ処理系５とを具備している。
る。第１図のように、本発明に係るベクタ補正型サンプ
ルホールド回路１は、サンプルホールド回路２と、アナ
ログ・デジタル変換器（A/D変換器）３と、カウンタ４
と、CPUを備えたデータ処理系５とを具備している。
サンプルホールド回路２は、アナログ中間周波信号f
IFのサンプル・ホールドを行うものである。中間周波信
号fIFは、入力信号finputと局部発振信号fLocalとから
ミキサ６で発生される。サンプルスイッチ2aは、制御信
号４×fIFによって開閉制御される。
IFのサンプル・ホールドを行うものである。中間周波信
号fIFは、入力信号finputと局部発振信号fLocalとから
ミキサ６で発生される。サンプルスイッチ2aは、制御信
号４×fIFによって開閉制御される。
A/D変換器３は、サンプルホールド回路２でサンプル
・ホールドされたアナログ信号をデジタル信号に変換す
るものである。
・ホールドされたアナログ信号をデジタル信号に変換す
るものである。
カウンタ４は、制御信号４×fIFに同期して、サイク
リック（周期的）カウントを行う２ビットカウンタであ
り、第１図に示すようにカウントアップする。このカウ
ンタの出力は、データ処理系５によって読み出せるよう
になっている。
リック（周期的）カウントを行う２ビットカウンタであ
り、第１図に示すようにカウントアップする。このカウ
ンタの出力は、データ処理系５によって読み出せるよう
になっている。
データ処理系５は、中間周波信号fIFをサンプルホー
ルドしA/D変換したその複数の出力データを任意の時点
から収集すると共に、前記カウンタ４の出力が示す当該
データの位相を参照してデータ処理を行うようになって
いる。すなわち、データ処理系５は、カウンタ出力を読
み出すことにより、「いま何番目のサンプルホールド
（S/H）をしているか？」を知ることができる。当該デ
ータ処理は、A/D変換器３の出力データに基づいて中間
周波信号fIFのベクトル値を求める工程と、そのベクト
ル値をカウンタ４の出力に基づいて軸補正する工程とか
らなる。
ルドしA/D変換したその複数の出力データを任意の時点
から収集すると共に、前記カウンタ４の出力が示す当該
データの位相を参照してデータ処理を行うようになって
いる。すなわち、データ処理系５は、カウンタ出力を読
み出すことにより、「いま何番目のサンプルホールド
（S/H）をしているか？」を知ることができる。当該デ
ータ処理は、A/D変換器３の出力データに基づいて中間
周波信号fIFのベクトル値を求める工程と、そのベクト
ル値をカウンタ４の出力に基づいて軸補正する工程とか
らなる。
本発明実施例は、上記のように構成されており、以下
その作用について第２図及び第３図を参照しながら説明
する。
その作用について第２図及び第３図を参照しながら説明
する。
データ処理系５は、例えば、下記のような処理を行
う。
う。
カウンターの値（０）を読み出す。（参照番号21） ４つのS/Hデータを読み出す。（参照番号22、23、2
4、25） Ｒ−Ｘを作成し、軸位置（位相）情報（ここでは、
「０」）から、軸位置の補正を行う。（参照番号26） アベレージングのデータ処理を行う。（参照番号2
7） カウンターの値（２）を読み出す。（参照番号28） ４つのS/Hデータを読み出す。（参照番号29、30、3
1、・・・） Ｒ−Ｘを作成し、軸位置（位相）情報（ここでは、
「２」）から、軸位置の補正を行う。（図示せず） アベレージングのデータ処理を行う。（図示せず） ここでは、第２図の区間Ｉでは、軸位置が「０」、す
なわち、最初にデータの取り込みを始めた時のカウンタ
の値が「０」であり、区間IIでは、軸位置が「２」なの
で、第３図に示すような軸補正を行うことになる。
4、25） Ｒ−Ｘを作成し、軸位置（位相）情報（ここでは、
「０」）から、軸位置の補正を行う。（参照番号26） アベレージングのデータ処理を行う。（参照番号2
7） カウンターの値（２）を読み出す。（参照番号28） ４つのS/Hデータを読み出す。（参照番号29、30、3
1、・・・） Ｒ−Ｘを作成し、軸位置（位相）情報（ここでは、
「２」）から、軸位置の補正を行う。（図示せず） アベレージングのデータ処理を行う。（図示せず） ここでは、第２図の区間Ｉでは、軸位置が「０」、す
なわち、最初にデータの取り込みを始めた時のカウンタ
の値が「０」であり、区間IIでは、軸位置が「２」なの
で、第３図に示すような軸補正を行うことになる。
以上のように、Ｒ−Ｘを求めるため軸の位置が一定に
なる。
なる。
なお、上記実施例においては、fIFに対して４倍の４
×fIFによってサンプルを行っているが、これに限定さ
れるものではない。すなわち、fIFに同期しており、且
つ、一周期間中２回以上データ処理系がデータを得るこ
とができ、且つ、そのデータを得た時刻がＲ−Ｘ軸に対
してどれほどの角度であるかが既知であれば、その信号
のベクトルのＲ−Ｘ軸上に投影された大きさを知ること
ができ、Ｒ−Ｘに関するアベレージングを行うことがで
きる。その場合はサンプル周期をカウントするカウンタ
を、fIFの１周期中でサンプルする回数で周期的にカウ
ントアップするように構成すればよい。
×fIFによってサンプルを行っているが、これに限定さ
れるものではない。すなわち、fIFに同期しており、且
つ、一周期間中２回以上データ処理系がデータを得るこ
とができ、且つ、そのデータを得た時刻がＲ−Ｘ軸に対
してどれほどの角度であるかが既知であれば、その信号
のベクトルのＲ−Ｘ軸上に投影された大きさを知ること
ができ、Ｒ−Ｘに関するアベレージングを行うことがで
きる。その場合はサンプル周期をカウントするカウンタ
を、fIFの１周期中でサンプルする回数で周期的にカウ
ントアップするように構成すればよい。
上記実施例においては、データ処理系５は、まず、任
意の時点から収集されたA/D変換器３の出力データに基
づいてfIFのベクトル値を求め、ベクトル値をカウンタ
４の出力に基づいて軸補正するという工程で処理するも
のとして説明したがこれに限定されるものではない。
意の時点から収集されたA/D変換器３の出力データに基
づいてfIFのベクトル値を求め、ベクトル値をカウンタ
４の出力に基づいて軸補正するという工程で処理するも
のとして説明したがこれに限定されるものではない。
データ処理系５が、A/D変換器３からの出力データの
位相の相違に応じて複数の処理シーケンスを備え、カウ
ンタ４の出力に対応して前記複数の処理ルーチンを選択
してデータ処理を行うようにすることにより、処理時間
の短縮を図ることができる。
位相の相違に応じて複数の処理シーケンスを備え、カウ
ンタ４の出力に対応して前記複数の処理ルーチンを選択
してデータ処理を行うようにすることにより、処理時間
の短縮を図ることができる。
以下、第４図乃至第６図を用いて、この別実施例につ
いて詳細に説明する。
いて詳細に説明する。
上記第１実施例においては、第６図に示すように、デ
ータ処理系５がD0〜D3のデータを取り込んで初めて、カ
ウンタの値を使用した軸回転の補正を行っており、最後
のD3のデータの取り込み後、次のデータD0の取り込みを
開始するまで時間がかかる。
ータ処理系５がD0〜D3のデータを取り込んで初めて、カ
ウンタの値を使用した軸回転の補正を行っており、最後
のD3のデータの取り込み後、次のデータD0の取り込みを
開始するまで時間がかかる。
軸回転の補正について、ここで再度説明すると、い
ま、４回の読み出しデータから、fIFの１周期のベクタ
情報を取り出そうとすると、第４図の区間Ｉ（D0A〜D
3A）の読み出しデータを、 Ｒ＝D0＋（−D2） Ｘ＝D1＋（−D3） と処理して（R,X）のベクタ情報を得ている。このとき
のデータが、仮に、第５図（ａ）のように見えたとする
と、カウンタ４の出力が（１）で始まる区間で同一の処
理をするとデータは第５図（ｂ）のように見え、カウン
タ４の出力が（２）で始まる区間（例えば、第４図の区
間II）で同一の処理をするとデータは第５図（ｃ）のよ
うに見え、カウンタ４の出力が（３）で始まる区間で同
一の処理をするとデータは第５図（ｄ）のように見え
る。以上のように、カウンタ４の出力が１〜３の時に取
り込んだデータは、本来、同一位相のアナログ信号を求
めるためのものであるから、これらのデータを、カウン
タ４の出力が（０）の時の（R,X）のベクタになるよう
に処理することを、軸回転の補正と言う。
ま、４回の読み出しデータから、fIFの１周期のベクタ
情報を取り出そうとすると、第４図の区間Ｉ（D0A〜D
3A）の読み出しデータを、 Ｒ＝D0＋（−D2） Ｘ＝D1＋（−D3） と処理して（R,X）のベクタ情報を得ている。このとき
のデータが、仮に、第５図（ａ）のように見えたとする
と、カウンタ４の出力が（１）で始まる区間で同一の処
理をするとデータは第５図（ｂ）のように見え、カウン
タ４の出力が（２）で始まる区間（例えば、第４図の区
間II）で同一の処理をするとデータは第５図（ｃ）のよ
うに見え、カウンタ４の出力が（３）で始まる区間で同
一の処理をするとデータは第５図（ｄ）のように見え
る。以上のように、カウンタ４の出力が１〜３の時に取
り込んだデータは、本来、同一位相のアナログ信号を求
めるためのものであるから、これらのデータを、カウン
タ４の出力が（０）の時の（R,X）のベクタになるよう
に処理することを、軸回転の補正と言う。
しかしながら、fIFの１周期あたりのデータサンプル
数は決まっており、ここでは、４つのデータの組を取り
込んで処理するものである。このため、カウンタ４の値
を、データ処理系５が読んだ段階で、「４つのデータそ
れぞれに関してどのような軸補正を行えばよいか」は明
らかになる。
数は決まっており、ここでは、４つのデータの組を取り
込んで処理するものである。このため、カウンタ４の値
を、データ処理系５が読んだ段階で、「４つのデータそ
れぞれに関してどのような軸補正を行えばよいか」は明
らかになる。
第７図には、最初に読み出したカウンタ出力と、「読
み込んだ各データをいずれの軸上のデータとして処理す
るか」との対応関係の例が示されている。例えば、最初
の読出時のカウンタ４の出力が（２）である場合には、
D0C、D1C、D2C、D3Cの各データが、それぞれ、−Ｒ軸、
−Ｘ軸、Ｒ時、Ｘ軸に投影されるものとして処理する。
このため、上記第１実施例では、第４図の区間IIにおけ
るD0C、D1C、D2C、D3Cの各データは、第６図に示すよう
に区間Ｉと同様に処理されて軸回転補正の処理がなされ
るものであるが、本実施例のデータ処理系５では、カウ
ンタ４の出力に応じて、つまり、A/D変換器３から読み
出したデータの位相パターンに応じてＲ−Ｘデータを直
接計算するシーケンスを４つ備えているため、Ｒ−Ｘデ
ータが作成された後あらためて軸回転の補正の処理は必
要ない。
み込んだ各データをいずれの軸上のデータとして処理す
るか」との対応関係の例が示されている。例えば、最初
の読出時のカウンタ４の出力が（２）である場合には、
D0C、D1C、D2C、D3Cの各データが、それぞれ、−Ｒ軸、
−Ｘ軸、Ｒ時、Ｘ軸に投影されるものとして処理する。
このため、上記第１実施例では、第４図の区間IIにおけ
るD0C、D1C、D2C、D3Cの各データは、第６図に示すよう
に区間Ｉと同様に処理されて軸回転補正の処理がなされ
るものであるが、本実施例のデータ処理系５では、カウ
ンタ４の出力に応じて、つまり、A/D変換器３から読み
出したデータの位相パターンに応じてＲ−Ｘデータを直
接計算するシーケンスを４つ備えているため、Ｒ−Ｘデ
ータが作成された後あらためて軸回転の補正の処理は必
要ない。
これにより、全体の処理時間の高速化を図ることが可
能となる。
能となる。
本発明は、以上のように構成され、作用するものであ
るから、上記した課題を解決することができるベクタ補
正型サンプルホールド回路を提供することができるとい
う効果が得られる。
るから、上記した課題を解決することができるベクタ補
正型サンプルホールド回路を提供することができるとい
う効果が得られる。
第１図は、本発明実施例に係るベクタ補正型サンプルホ
ールド回路の回路図である。 第２図は、第１図に示す回路の動作を説明するため、信
号及びデータを示すタイミングチャート図である。 第３図は、軸補正の概念を説明するための図である。 第４図は、第１実施例に係るベクタ補正型サンプルホー
ルド回路の動作を、第２実施例と対比して説明するため
のタイミングチャート図である。 第５図は、第２実施例におけるデータ処理の概念を説明
するための図である。 第６図は、第１実施例に係るベクタ補正型サンプルホー
ルド回路の動作を、第２実施例と対比して説明するため
のタイミングチャート図である。 第７図は、第２実施例のデータ処理系が具備する複数の
処理シーケンスを説明するための図である。 第８図は、従来例に係るピークディテクタを説明する図
である。 第９図は、従来例に係るネットワークアナライザにおけ
る観測信号の情報を説明するための図である。 第10図は、従来例に係るネットワークアナライザにおい
て第９図の観測信号情報を得る方法について説明するた
めの図である。 第11図は、第９図に示す観測信号情報の誤差について説
明するための図である。 第12図は、アベレージングについて説明するための図で
ある。 第13図、第14図、第15図は、本考案が解決しようとする
課題について説明するための従来例を示す図である。 fIF:アナログ信号の一例たる中間周波信号、 1:ベクタ補正型サンプルホールド回路、 2:サンプルホールド回路、 3:A/D変換器、 4:カウンタ、 5:データ処理系。
ールド回路の回路図である。 第２図は、第１図に示す回路の動作を説明するため、信
号及びデータを示すタイミングチャート図である。 第３図は、軸補正の概念を説明するための図である。 第４図は、第１実施例に係るベクタ補正型サンプルホー
ルド回路の動作を、第２実施例と対比して説明するため
のタイミングチャート図である。 第５図は、第２実施例におけるデータ処理の概念を説明
するための図である。 第６図は、第１実施例に係るベクタ補正型サンプルホー
ルド回路の動作を、第２実施例と対比して説明するため
のタイミングチャート図である。 第７図は、第２実施例のデータ処理系が具備する複数の
処理シーケンスを説明するための図である。 第８図は、従来例に係るピークディテクタを説明する図
である。 第９図は、従来例に係るネットワークアナライザにおけ
る観測信号の情報を説明するための図である。 第10図は、従来例に係るネットワークアナライザにおい
て第９図の観測信号情報を得る方法について説明するた
めの図である。 第11図は、第９図に示す観測信号情報の誤差について説
明するための図である。 第12図は、アベレージングについて説明するための図で
ある。 第13図、第14図、第15図は、本考案が解決しようとする
課題について説明するための従来例を示す図である。 fIF:アナログ信号の一例たる中間周波信号、 1:ベクタ補正型サンプルホールド回路、 2:サンプルホールド回路、 3:A/D変換器、 4:カウンタ、 5:データ処理系。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 25/00 G01R 13/20 G01R 23/16 G01R 27/28
Claims (2)
- 【請求項１】アナログ信号をサンプルホールドするサン
プルホールド回路と、 前記サンプルホールド回路によってサンプルホールドさ
れたアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器
と、 前記サンプルホールド回路のサンプルスイッチの開閉制
御のための、前記アナログ信号の複数倍の周波数の制御
信号に同期して、周期的にカウントを行うカウンタと、 前記A/D変換器からの複数の出力データを任意の時点か
ら収集すると共に、前記カウンタの出力が示す前記複数
の出力データ夫々の位相情報を参照して前記出力データ
の処理を行うデータ処理系と を具備して成り、前記データ処理系は、 任意の時点から収集された前記A/D変換器の出力データ
に基づいて前記アナログ信号のベクトル値を求める工程
と、 前記ベクトル値を前記カウンタの出力に基づいて軸補正
する工程と を含むデータ処理を行う ことを特徴とする、ベクタ補正型サンプルホールド回
路。 - 【請求項２】前記データ処理系は、前記アナログ信号の
ベクトル値を求める処理シーケンスをそれぞれ前記A/D
変換器の出力データの位相パターン毎に備えており、前
記データ処理系が読み出した前記カウンタの出力に応じ
て前記ベクトル値を求める処理シーケンスを選択するも
のであることを特徴とする、請求項１に記載のベクタ補
正型サンプルホールド回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2296451A JP3071456B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | ベクタ補正型サンプルホールド回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2296451A JP3071456B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | ベクタ補正型サンプルホールド回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04168368A JPH04168368A (ja) | 1992-06-16 |
| JP3071456B2 true JP3071456B2 (ja) | 2000-07-31 |
Family
ID=17833720
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2296451A Expired - Fee Related JP3071456B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | ベクタ補正型サンプルホールド回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3071456B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102520545B1 (ko) * | 2018-10-15 | 2023-04-10 | 광둥 미디어 화이트 홈 어플라이언스 테크놀로지 이노베이션 센터 컴퍼니 리미티드 | 이중 반전 팬 |
-
1990
- 1990-10-31 JP JP2296451A patent/JP3071456B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102520545B1 (ko) * | 2018-10-15 | 2023-04-10 | 광둥 미디어 화이트 홈 어플라이언스 테크놀로지 이노베이션 센터 컴퍼니 리미티드 | 이중 반전 팬 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04168368A (ja) | 1992-06-16 |
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