JP3064538B2 - 蛍光ガラス線量計 - Google Patents
蛍光ガラス線量計Info
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- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、原子力発電所等の放射
線被曝線量を測定するのに最適な蛍光ガラス線量計に関
する。
線被曝線量を測定するのに最適な蛍光ガラス線量計に関
する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、蛍光ガラス線量計は、銀イオン
を含有したリン酸塩ガラスからなる蛍光線量計用ガラス
素子が用いられている。このガラス素子は、放射線の被
曝によって活性化された後、波長３００〜４００ｎｍの
紫外線で励起すると、蛍光を発する。このときの、蛍光
強度は、被曝放射線量に比例することから、この蛍光強
度を検出することにより、被曝放射線量を測定できる。
を含有したリン酸塩ガラスからなる蛍光線量計用ガラス
素子が用いられている。このガラス素子は、放射線の被
曝によって活性化された後、波長３００〜４００ｎｍの
紫外線で励起すると、蛍光を発する。このときの、蛍光
強度は、被曝放射線量に比例することから、この蛍光強
度を検出することにより、被曝放射線量を測定できる。
【０００３】このような放射線量の測定に当たっては、
紫外線励起光源から投射された光を、光学フィルタを通
すことにより、所定波長の紫外線を選択的に取り出した
後、直方体状の蛍光線量計用の蛍光ガラス素子の一面に
入射する。ここで、所定波長の紫外線を受けた蛍光ガラ
ス素子は、蛍光を発するが、このとき発する蛍光を、光
学フィルタを介して所定波長範囲の光を通過させた後、
光電子増倍管により光電変換して蛍光強度にほぼ比例す
るレベルの電気信号を得、この電気信号のレベルから蛍
光強度、ひいては、放射線被曝線量を測定するものであ
る。
紫外線励起光源から投射された光を、光学フィルタを通
すことにより、所定波長の紫外線を選択的に取り出した
後、直方体状の蛍光線量計用の蛍光ガラス素子の一面に
入射する。ここで、所定波長の紫外線を受けた蛍光ガラ
ス素子は、蛍光を発するが、このとき発する蛍光を、光
学フィルタを介して所定波長範囲の光を通過させた後、
光電子増倍管により光電変換して蛍光強度にほぼ比例す
るレベルの電気信号を得、この電気信号のレベルから蛍
光強度、ひいては、放射線被曝線量を測定するものであ
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来γ線お
よびｘ線の各エネルギーを蛍光ガラス素子に照射した場
合、あるエネルギー領域では、過剰応答性を示し、いわ
ゆる、エネルギー依存性を生じる。
よびｘ線の各エネルギーを蛍光ガラス素子に照射した場
合、あるエネルギー領域では、過剰応答性を示し、いわ
ゆる、エネルギー依存性を生じる。
【０００５】そこで、一般の蛍光ガラス線量計では、図
２に示すようにγ線およびｘ線の各エネルギーを補償す
るため、例えば金属フィルタからなるエネルギー補償用
フィルタ１を介して蛍光ガラス素子２に照射する構成と
している。なお、これらは底体３と蓋体４からなる容器
内に収納されている。
２に示すようにγ線およびｘ線の各エネルギーを補償す
るため、例えば金属フィルタからなるエネルギー補償用
フィルタ１を介して蛍光ガラス素子２に照射する構成と
している。なお、これらは底体３と蓋体４からなる容器
内に収納されている。
【０００６】しかしながら、フィルタ１を有する蛍光ガ
ラス線量計では、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線が
照射された場合、該フィルタ１と該高エネルギーのγ線
との相互作用により２次電子が発生し、これにより蛍光
ガラス素子２が過剰応答性を示し、エネルギーの依存性
が生ずる。つまり、従来の蛍光ガラス線量計にあって
は、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線に対しては、蛍
光ガラス素子２の過剰応答性のため、蛍光検出量が増大
し、放射線量を精度良く測定するのは困難である。この
ため、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線を被曝する可
能性のある原子力発電所等では、過剰応答性がなく、精
度良く放射線量を測定できる蛍光ガラス線量計の開発が
望まれている。そこで、本発明は、３ＭｅＶ以上の高エ
ネルギーのγ線を精度良く測定できる蛍光ガラス線量計
を提供することを目的とする。
ラス線量計では、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線が
照射された場合、該フィルタ１と該高エネルギーのγ線
との相互作用により２次電子が発生し、これにより蛍光
ガラス素子２が過剰応答性を示し、エネルギーの依存性
が生ずる。つまり、従来の蛍光ガラス線量計にあって
は、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線に対しては、蛍
光ガラス素子２の過剰応答性のため、蛍光検出量が増大
し、放射線量を精度良く測定するのは困難である。この
ため、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線を被曝する可
能性のある原子力発電所等では、過剰応答性がなく、精
度良く放射線量を測定できる蛍光ガラス線量計の開発が
望まれている。そこで、本発明は、３ＭｅＶ以上の高エ
ネルギーのγ線を精度良く測定できる蛍光ガラス線量計
を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するため、放射線被曝によって活性化され、紫外線で
励起されて蛍光を発する蛍光ガラス素子と、この蛍光ガ
ラス素子に対面する位置に配置され、所望のγ線および
ｘ線のエネルギー補償する少なくとも１個のエネルギー
補償用フィルタを備えた蛍光ガラス線量計において、前
記蛍光ガラス素子と前記エネルギー補償用フィルタとの
間に配設され、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線が前
記エネルギー補償用フィルタに照射されたとき発生する
２次電子を吸収し、かつ、それ自体は、３ＭｅＶ以上の
高エネルギーのγ線が照射されても２次電子を放出しな
い物質を具備している。
成するため、放射線被曝によって活性化され、紫外線で
励起されて蛍光を発する蛍光ガラス素子と、この蛍光ガ
ラス素子に対面する位置に配置され、所望のγ線および
ｘ線のエネルギー補償する少なくとも１個のエネルギー
補償用フィルタを備えた蛍光ガラス線量計において、前
記蛍光ガラス素子と前記エネルギー補償用フィルタとの
間に配設され、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線が前
記エネルギー補償用フィルタに照射されたとき発生する
２次電子を吸収し、かつ、それ自体は、３ＭｅＶ以上の
高エネルギーのγ線が照射されても２次電子を放出しな
い物質を具備している。
【０００８】
【作用】本発明によれば、蛍光ガラス素子とエネルギー
補償用フィルタとの間に、３ＭｅＶ以上の高エネルギー
のγ線によって該フィルタから発生する２次電子を吸収
し、かつ、それ自体は２次電子を放出しさない物質を配
設したので、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線を精度
良く測定できる。
補償用フィルタとの間に、３ＭｅＶ以上の高エネルギー
のγ線によって該フィルタから発生する２次電子を吸収
し、かつ、それ自体は２次電子を放出しさない物質を配
設したので、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線を精度
良く測定できる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図１を参照
して説明する。本実施例は、図２の従来例において、蛍
光ガラス素子２とエネルギー補償用フィルタ１との間
に、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線によって該フィ
ルタから発生する２次電子を吸収し、かつ、それ自体は
２次電子を出さない物質（２次電子吸収材料）５、例え
ばプラスチックＰｌ、アルミニウムＡｌのいずれかを配
設してある。
して説明する。本実施例は、図２の従来例において、蛍
光ガラス素子２とエネルギー補償用フィルタ１との間
に、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線によって該フィ
ルタから発生する２次電子を吸収し、かつ、それ自体は
２次電子を出さない物質（２次電子吸収材料）５、例え
ばプラスチックＰｌ、アルミニウムＡｌのいずれかを配
設してある。
【００１０】このように構成することにより、３ＭｅＶ
以上の高エネルギーのγ線を精度良く測定できる。この
ことは、次のようにして実験した結果を示す表１から明
らかである。
以上の高エネルギーのγ線を精度良く測定できる。この
ことは、次のようにして実験した結果を示す表１から明
らかである。
【００１１】表１は、図１のように構成したサンプルを
数十種類製作し、これを３ＭｅＶ以上の高エネルギーγ
線、例えば、16Ｎーγ線（６．１ＭｅＶ）と、基準とす
るγ線、例えば、137 Ｃｓーγ線（０．６６ＭｅＶ）を
照射し、両者での蛍光ガラス素子の蛍光検出量を比較し
たものである。表１は、実際の測定状態を模擬してファ
ントム上に、蛍光ガラス線量計を設置した後、16Ｎーγ
線および137 Ｃｓーγ線を同じ線量当量だけ照射し、蛍
光検出量を比較した蛍光検出量比である。
数十種類製作し、これを３ＭｅＶ以上の高エネルギーγ
線、例えば、16Ｎーγ線（６．１ＭｅＶ）と、基準とす
るγ線、例えば、137 Ｃｓーγ線（０．６６ＭｅＶ）を
照射し、両者での蛍光ガラス素子の蛍光検出量を比較し
たものである。表１は、実際の測定状態を模擬してファ
ントム上に、蛍光ガラス線量計を設置した後、16Ｎーγ
線および137 Ｃｓーγ線を同じ線量当量だけ照射し、蛍
光検出量を比較した蛍光検出量比である。
【００１２】
【表１】
【００１３】この表１から明らかなように、サンプルＮ
Ｏ．１〜３のように、金属フィルタのみの場合（従来例
に相当）では、金属フィルタと高エネルギーγ線との相
互作用による２次電子のため、蛍光ガラス素子の蛍光検
出量が増大し、測定精度が低下してしまう。この傾向
は、原子番号の大きい金属ほど大きい。ところが、サン
プルＮＯ．６，９の場合には、特に優れており、蛍光検
出量比が１．００±５％以内に収まることがことがわか
る。
Ｏ．１〜３のように、金属フィルタのみの場合（従来例
に相当）では、金属フィルタと高エネルギーγ線との相
互作用による２次電子のため、蛍光ガラス素子の蛍光検
出量が増大し、測定精度が低下してしまう。この傾向
は、原子番号の大きい金属ほど大きい。ところが、サン
プルＮＯ．６，９の場合には、特に優れており、蛍光検
出量比が１．００±５％以内に収まることがことがわか
る。
【００１４】すなわち、サンプルＮＯ．６は、金属フィ
ルタとして厚さ２．０ｍｍの銅（Ｃｕ）フィルタを使用
し、２次電子吸収材料として厚さ１．０ｍｍのプラスチ
ックＰｌを使用した場合であり、この場合には、蛍光検
出量比は１．０３である。サンプルＮＯ．９は、金属フ
ィルタとして厚さ１．０ｍｍの銅（Ｃｕ）フィルタを使
用し、２次電子吸収材料として厚さ２．０ｍｍのプラス
チックＰｌを使用した場合であり、この場合には、蛍光
検出量比は１．０５である。このことから、３ＭｅＶ以
上の高エネルギーγ線（16Ｎ）に対しても、基準とする
γ線（137 Ｃｓ）に対しても、蛍光検出量の差がなく、
精度良く測定できる。
ルタとして厚さ２．０ｍｍの銅（Ｃｕ）フィルタを使用
し、２次電子吸収材料として厚さ１．０ｍｍのプラスチ
ックＰｌを使用した場合であり、この場合には、蛍光検
出量比は１．０３である。サンプルＮＯ．９は、金属フ
ィルタとして厚さ１．０ｍｍの銅（Ｃｕ）フィルタを使
用し、２次電子吸収材料として厚さ２．０ｍｍのプラス
チックＰｌを使用した場合であり、この場合には、蛍光
検出量比は１．０５である。このことから、３ＭｅＶ以
上の高エネルギーγ線（16Ｎ）に対しても、基準とする
γ線（137 Ｃｓ）に対しても、蛍光検出量の差がなく、
精度良く測定できる。
【００１５】以上述べた実施例では、金属フィルタとし
て、鉛（Ｐｂ）、錫（Ｓｎ）、銅（Ｃｕ）のいずれか、
あるいはこれらの組み合わせを使用し、また２次電子吸
収材料としてプラスチックＰｌ、アルミニウム（Ａｌ）
のいずれか、あるいはこれらの組み合わせのものをあげ
たが、これに限らず、材質、厚さおよび配置方法を任意
に変更してもよい。要するに、３ＭｅＶ以上の高エネル
ギーのγ線と、137 Ｃｓーγ線の蛍光検出量の差がない
ものであればなんでもよい。
て、鉛（Ｐｂ）、錫（Ｓｎ）、銅（Ｃｕ）のいずれか、
あるいはこれらの組み合わせを使用し、また２次電子吸
収材料としてプラスチックＰｌ、アルミニウム（Ａｌ）
のいずれか、あるいはこれらの組み合わせのものをあげ
たが、これに限らず、材質、厚さおよび配置方法を任意
に変更してもよい。要するに、３ＭｅＶ以上の高エネル
ギーのγ線と、137 Ｃｓーγ線の蛍光検出量の差がない
ものであればなんでもよい。
【００１６】
【発明の効果】本発明の蛍光ガラス線量計によれば、蛍
光ガラス素子とエネルギー補償用フィルタとの間に、３
ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線によって該フィルタか
ら発生する２次電子を吸収し、かつ、それ自体は２次電
子を出さない物質を配設したので、放射線被曝の測定に
際し、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線を精度良く測
定できる。
光ガラス素子とエネルギー補償用フィルタとの間に、３
ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線によって該フィルタか
ら発生する２次電子を吸収し、かつ、それ自体は２次電
子を出さない物質を配設したので、放射線被曝の測定に
際し、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線を精度良く測
定できる。
【図１】本発明による蛍光ガラス線量計の一実施例の概
略を示す断面図。
略を示す断面図。
【図２】従来の蛍光ガラス線量計の一例の概略を示す断
面図。
面図。
１…金属フィルタ、２…蛍光ガラス素子、３…底体、４
…蓋体、５…２次電子吸収材。
…蓋体、５…２次電子吸収材。
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線被曝によって活性化され、紫外線
で励起されて蛍光を発する蛍光ガラス素子と、 この蛍光ガラス素子に対面する位置に配置され、所望の
γ線およびｘ線のエネルギー補償する少なくとも１個の
エネルギー補償用フィルタを備えた蛍光ガラス線量計に
おいて、 前記蛍光ガラス素子と前記エネルギー補償用フィルタと
の間に配設され、３ＭｅＶ以上の高エネルギーのγ線が
前記エネルギー補償用フィルタに照射されたとき発生す
る２次電子を吸収し、かつ、それ自体は、３ＭｅＶ以上
の高エネルギーのγ線が照射されても２次電子を放出し
ない物質、 を具備してなる蛍光ガラス線量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21063491A JP3064538B2 (ja) | 1991-08-22 | 1991-08-22 | 蛍光ガラス線量計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21063491A JP3064538B2 (ja) | 1991-08-22 | 1991-08-22 | 蛍光ガラス線量計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0552959A JPH0552959A (ja) | 1993-03-02 |
| JP3064538B2 true JP3064538B2 (ja) | 2000-07-12 |
Family
ID=16592566
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21063491A Expired - Fee Related JP3064538B2 (ja) | 1991-08-22 | 1991-08-22 | 蛍光ガラス線量計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3064538B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5095254B2 (ja) * | 2007-04-06 | 2012-12-12 | 株式会社千代田テクノル | 積層型放射線測定器 |
-
1991
- 1991-08-22 JP JP21063491A patent/JP3064538B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0552959A (ja) | 1993-03-02 |
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