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JP3055237B2 - Liquid crystal display panel and method of manufacturing the same - Google Patents

Liquid crystal display panel and method of manufacturing the same

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Publication number
JP3055237B2
JP3055237B2 JP21858391A JP21858391A JP3055237B2 JP 3055237 B2 JP3055237 B2 JP 3055237B2 JP 21858391 A JP21858391 A JP 21858391A JP 21858391 A JP21858391 A JP 21858391A JP 3055237 B2 JP3055237 B2 JP 3055237B2
Authority
JP
Japan
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layer
metal wiring
liquid crystal
wiring layer
display panel
Prior art date
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JP21858391A
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Japanese (ja)
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JPH0553142A (en
Inventor
一夫 湯田坂
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP21858391A priority Critical patent/JP3055237B2/en
Publication of JPH0553142A publication Critical patent/JPH0553142A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3055237B2 publication Critical patent/JP3055237B2/en
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136227Through-hole connection of the pixel electrode to the active element through an insulation layer

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は液晶表示パネルおよびそ
の製造方法に関し、特に、その信号線の構造技術に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display panel and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a structure technology for a signal line.

【0002】[0002]

【従来の技術】代表的なフラットパネル型ディスプレイ
である液晶表示パネルは、共通電極が形成された一方側
の透明基板と、多数の画素電極が形成された他方側の透
明基板(マトリックスアレイ)との間に液晶が封入され
ており、共通電極と各画素電極との間に印加される電位
を制御して、画素領域毎の液晶の配向状態を変えるよう
になっている。その代表的なものがTFT(薄膜トラン
ジスタ)などを利用して、所定の信号電位を各画素電極
に印加するアクティブマトリックス方式であり、これに
用いるマトリックスアレイの構造の一例を、図9に示
す。この図において、ガラス基板51の表面側には、多
結晶シリコン層52が形成されており、この多結晶シリ
コン層52には、ゲート酸化膜54の上のゲート電極5
5をマスクとして用いることにより、チャネル領域53
を除く領域にソース領域56およびドレイン領域57が
セルフアラインになるように形成されている。この構成
のTFT58の表面側には層間絶縁膜59が堆積されて
おり、その接続孔59aを介して、信号線を構成するア
ルミニウム層60がソース領域56に導電接続してい
る。一方の接続孔59bを介しては、ITOからなる画
素電極61がドレイン領域57に導電接続している。こ
の構成の画素領域において、アルミニウム層60を介し
て所定の信号電位がソース領域56に印加された状態
で、ゲート層55にゲート線からの駆動電位が印加され
ると、ドレイン領域57を介して、画素電極61に所定
の信号電位が印加される。これにより、この画素電極6
1と、これに対向する共通電極との間に封入されている
液晶に電位がかかり、この液晶の配向状態が変化する。
2. Description of the Related Art A liquid crystal display panel, which is a typical flat panel display, includes a transparent substrate on one side on which a common electrode is formed and a transparent substrate (matrix array) on the other side on which a large number of pixel electrodes are formed. Liquid crystal is sealed between the pixel electrodes, and the potential applied between the common electrode and each pixel electrode is controlled to change the alignment state of the liquid crystal in each pixel region. A typical one is an active matrix system in which a predetermined signal potential is applied to each pixel electrode using a TFT (thin film transistor) or the like. An example of the structure of a matrix array used for this is shown in FIG. In this figure, a polycrystalline silicon layer 52 is formed on the front side of a glass substrate 51, and the polycrystalline silicon layer 52 has a gate electrode 5 on a gate oxide film 54.
5 as a mask, the channel region 53
The source region 56 and the drain region 57 are formed so as to be self-aligned in a region except for. An interlayer insulating film 59 is deposited on the surface side of the TFT 58 having this structure, and an aluminum layer 60 forming a signal line is conductively connected to the source region 56 through the connection hole 59a. The pixel electrode 61 made of ITO is conductively connected to the drain region 57 through one connection hole 59b. In the pixel region having this configuration, when a drive potential from a gate line is applied to the gate layer 55 in a state where a predetermined signal potential is applied to the source region 56 via the aluminum layer 60, , A predetermined signal potential is applied to the pixel electrode 61. Thereby, the pixel electrode 6
An electric potential is applied to the liquid crystal sealed between the liquid crystal 1 and the common electrode opposed thereto, and the alignment state of the liquid crystal changes.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】かかる構成の液晶表示
パネルにおいて、信号線を構成するアルミニウム電極6
0に断線状態が発生し、そこから信号電位が印加される
べき画素領域全てに表示動作が不可能な状態が発生する
と、液晶表示パネルに表示のライン欠陥が発生してしま
う。かかる断線は、段差部分で発生する段差切れやアル
ミニウム層60のスパッタ形成時のフレークの発生など
が原因である。特に、液晶表示パネルが大型化されて画
素数が多くなると、そこに断線部分が存在する確率が高
くなって、歩留りが低下し、生産コストの上昇を招くと
いう問題が発生する。
In the liquid crystal display panel having such a structure, the aluminum electrode 6 constituting the signal line is provided.
If a disconnection state occurs at 0 and a display operation cannot be performed in all the pixel areas to which a signal potential is to be applied, a line defect of display occurs on the liquid crystal display panel. Such a disconnection is caused by, for example, a break in a step portion generated at a step portion or generation of flakes at the time of forming the aluminum layer 60 by sputtering. In particular, when the size of the liquid crystal display panel is increased and the number of pixels is increased, there is a problem that the probability of the presence of a broken portion is increased, the yield is reduced, and the production cost is increased.

【0004】そこで、表示のライン欠陥の発生を防止す
るために、例えば、複数の配線を設けた冗長配線構造
(複数バスライン)などを採用することが検討されてい
る。しかしながら、複数の配線層を利用した冗長配線構
造を採用すると、その配置位置によっては画素として機
能する領域(開口率)が狭くなり、液晶表示パネルの表
示品位の低下を招くと共に、配線間隔が狭くなって、配
線間がショートしやすくなるなどの新たな問題が発生す
る。もとより、冗長配線構造とは、表示品位の向上を期
待するものではなく、異常を顕在化させないための消極
的な手段であるが、逆に表示品位や信頼性が低下する構
造などは、採用できるものではない。
In order to prevent the occurrence of display line defects, for example, adoption of a redundant wiring structure (a plurality of bus lines) provided with a plurality of wirings has been studied. However, when a redundant wiring structure using a plurality of wiring layers is adopted, a region (aperture ratio) functioning as a pixel becomes narrow depending on the arrangement position, which causes a decrease in display quality of a liquid crystal display panel and a narrow wiring interval. As a result, new problems such as a short circuit between the wirings easily occur. Originally, the redundant wiring structure does not expect an improvement in display quality, but is a passive means for preventing abnormalities from becoming apparent.On the contrary, a structure in which display quality or reliability is reduced can be adopted. Not something.

【0005】ここに、本願発明者は、信号線の複層構造
によって、開口率および表示品位を犠牲にすることなく
冗長配線構造を実現することを提案するものである。こ
の複層構造として、まず、考えられる構造としては、ス
パッタ形成したアルミニウム層をパターニングして下層
側のアルミニウム層を形成した後に、再び、アルミニウ
ムをスパッタ形成、パターニングし、下層側のアルミニ
ウム層に上層側のアルミニウム層を重合わせた信号線が
ある。この構造を採用すれば、それぞれのアルミニウム
層は、別の工程においてパターニングされるので、それ
に使用された各レジストマスクに欠陥があっても、それ
ぞれの欠陥が重なり合わない限り断線が発生しないこと
になる。しかしながら、同じ材質の材料を使用している
限りにおいて、上層側のアルミニウム層をパターニング
するためのレジストマスクに欠陥があると、エッチング
処理においては、その欠陥から、下層側のアルミニウム
層までもエッチングしてしまい、結果的には断線事故を
完全に防止するには到らないものである。これに対し、
各アルミニウム層との間に、シリコン酸化膜などを介在
させる方法も考えられるが、シリコン酸化膜を形成する
ための工程、接続孔を形成するための工程などを必要と
し、実用上での問題がある。
Here, the inventor of the present application proposes to realize a redundant wiring structure without sacrificing an aperture ratio and display quality by using a multilayer structure of signal lines. As this multilayer structure, first, as a possible structure, after forming a lower aluminum layer by patterning an aluminum layer formed by sputtering, aluminum is again formed by sputtering and patterning, and an upper layer is formed on the lower aluminum layer. There is a signal line that overlaps the aluminum layer on the side. If this structure is adopted, each aluminum layer is patterned in a separate process, so even if there is a defect in each resist mask used for it, disconnection does not occur unless the respective defects overlap. Become. However, as long as the same material is used, if there is a defect in the resist mask for patterning the upper aluminum layer, in the etching process, the lower aluminum layer is also etched from the defect. As a result, it is impossible to completely prevent a disconnection accident. In contrast,
A method of interposing a silicon oxide film or the like between each aluminum layer is also conceivable, but a process for forming a silicon oxide film and a process for forming a connection hole are required, which poses a practical problem. is there.

【0006】以上の問題点に鑑みて、本発明の第1の課
題は、先に提案した複層配線構造を実現するものであ
り、工程数を大幅に増加させることなく、信号線の断線
を確実に防止可能な液晶表示パネルおよびその製造方法
を実現することにある。
[0006] In view of the above problems, a first object of the present invention is to realize the multilayer wiring structure proposed above, and to prevent disconnection of a signal line without greatly increasing the number of steps. An object of the present invention is to realize a liquid crystal display panel and a method of manufacturing the same that can be reliably prevented.

【0007】さらに、本発明の第2の課題は、複層配線
構造を援用して、表示品質の向上を可能とする液晶表示
パネルおよびその製造方法を実現することにある。
A second object of the present invention is to realize a liquid crystal display panel and a method of manufacturing the same, which can improve display quality by using a multi-layer wiring structure.

【0008】[0008]

【課題を解決するため手段】本発明に係る液晶表示パネ
ルは、画素領域の薄膜トランジスタの表面側に形成され
た層間絶縁膜の表面側には、第1の接続孔を介して前記
薄膜トランジスタのソース領域に導電接続する信号線
と、第2の接続孔を介して上記薄膜トランジスタのドレ
イン領域に導電接続する画素電極と、を有し、上記信号
線は、上記第1の接続孔を介して上記ソース領域に導電
接続する第1の金属配線層と、この金属配線層の表面上
に形成された第2の金属配線層とを備え、上記第1の金
属配線層はクロムからなり、上記第2の金属配線層はア
ルミニウムからなり、上記画素電極はITOからなり、
上記第2の接続孔は、その内部に上記第1の金属配線層
と同時に形成された埋め込み電極層を備え、上記画素電
極は当該埋め込み電極層と接触することにより、上記ド
レイン領域に導電接続していることを特徴とする
A liquid crystal display panel according to the present invention.
Is formed on the front side of the thin film transistor in the pixel area.
On the surface side of the interlayer insulating film through a first connection hole.
Signal line conductively connected to the source region of the thin film transistor
And the drain of the thin film transistor through the second connection hole.
And a pixel electrode conductively connected to the input region.
A line is connected to the source region through the first connection hole.
A first metal wiring layer to be connected, and on a surface of the metal wiring layer
And a second metal wiring layer formed on the first metal layer.
The metal wiring layer is made of chromium, and the second metal wiring layer is made of metal.
The pixel electrode is made of ITO,
The second connection hole has therein the first metal wiring layer.
And a buried electrode layer formed at the same time.
The electrode comes into contact with the embedded electrode layer, thereby
It is characterized by being conductively connected to the rain region .

【0009】また、本発明に係る液晶表示パネルの製造
方法は、基板上に薄膜トランジスタを形成する第1の工
程と、上記薄膜トランジスタ上に層間絶縁膜を堆積する
第2の工程と、上記薄膜トランジスタのソース領域及び
ドレイン領域上にそれぞれ第1の接続孔及び第2の接続
孔を形成する第3の工程と、クロムを被着しパターンニ
ングして、信号配線の第1の金属配線層を形成すると共
に第2の接続孔内部に埋め込み電極層を残す第4の工程
と、ITOを被着しパターンニングして、画素電極を形
成する第5の工程と、アルミニウムを被着しエッチング
によりパターンニングして、上記信号線の第2の金属配
線層を形成する第6の工程と、を有することを特徴とす
る。なお、第5の工程と第6の工程とを逆にしても構わ
ない
Further , the manufacture of the liquid crystal display panel according to the present invention.
The method includes a first step of forming a thin film transistor on a substrate.
And depositing an interlayer insulating film on the thin film transistor.
A second step, a source region of the thin film transistor, and
A first connection hole and a second connection respectively on the drain region;
A third step of forming holes;
To form the first metal wiring layer of the signal wiring.
Fourth step of leaving an embedded electrode layer inside the second connection hole
And apply ITO and pattern to form pixel electrodes
Fifth process to form and apply aluminum and etch
And a second metal wiring of the signal line.
And a sixth step of forming a line layer.
You. Note that the fifth step and the sixth step may be reversed.
No.

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【0012】[0012]

【0013】[0013]

【0014】[0014]

【0015】[0015]

【作用】本発明において、信号線は、層間絶縁膜の第1
の接続孔を介してソース領域に導電接続する第1の金属
配線層と、その表面上に形成された第2の金属配線層と
を備える複層構造になっている。しかも、第1の金属配
線層と第2の金属配線層とは材質が異なり、例えば、ウ
ェットエッチングにおいて、第2の金属配線層を構成す
る金属材料に対するエッチング液は、第1の金属配線層
を構成する金属材料をエッチングしない。このため、パ
ターニングにより第2の金属配線層を形成するときに、
そのマスク層に欠陥があって、第2の金属配線層がエッ
チングされて断線状態になっても、第1の金属配線層は
侵されず、そこには断線部分が発生しない。従って、第
1および第2の金属配線層の断線部分が互いに重なり合
うことがないため、一方の金属配線層に断線があって
も、その断線部分の導電接続は他方側の金属配線層が担
うため、信号線自身が断線状態となることがない。
According to the present invention, the signal line is formed of the first interlayer insulating film.
And a second metal wiring layer formed on the surface of the first metal wiring layer conductively connected to the source region through the connection hole. In addition, the first metal wiring layer and the second metal wiring layer are made of different materials. For example, in wet etching, an etchant for a metal material forming the second metal wiring layer is used to etch the first metal wiring layer. Do not etch constituent metal materials. For this reason, when forming the second metal wiring layer by patterning,
Even if there is a defect in the mask layer and the second metal wiring layer is etched to be disconnected, the first metal wiring layer is not affected and no broken portion occurs. Therefore, since the disconnected portions of the first and second metal wiring layers do not overlap each other, even if there is a disconnection in one of the metal wiring layers, the conductive connection of the disconnected portion is performed by the metal wiring layer on the other side. In addition, the signal line itself is not disconnected.

【0016】第1及び第2の接続孔の開口直後の工程に
おいて、第2の接続孔が第1の金属配線層の形成と同時
に埋め込み電極層で埋め込み封止されるため、ドレイン
領域が第2の接続孔を介して露出したままとならず、プ
ロセス中のドレイン領域の損傷等を防止でき、表示品質
の向上を図ることができる
In the step immediately after the opening of the first and second connection holes,
In this case, the second connection hole is formed simultaneously with the formation of the first metal wiring layer.
Embedded in the buried electrode layer
The region does not remain exposed through the second connection hole,
The display quality can be prevented by preventing damage to the drain region during processing.
Can be improved .

【0017】第1の金属配線層がクロムであり、第2の
金属層がアルミニウムであるため、クロムの埋め込み電
極層は第2の金属配線層のアルミニウムを介在させずに
画素電極に直接接触しているものであるから、第2の金
属配線層の層厚の分だけ薄くなり、コンタクト抵抗の低
抵抗化を図ることができる。更に、その接触部において
画素電極のITOに含まれる酸素に起因する酸化劣化が
アルミニウムの場合に比し抑制できるので、コンタクト
抵抗の高抵抗化も回避でき、表示品質の長寿命化を実現
できる
The first metal wiring layer is made of chromium and the second metal wiring layer is made of chromium.
Since the metal layer is aluminum, the chromium
The pole layer is formed without interposing aluminum of the second metal wiring layer.
Since it is in direct contact with the pixel electrode, the second gold
Thinner by the thickness of the metal wiring layer, resulting in lower contact resistance.
Resistance can be achieved. Furthermore, at the contact
Oxidation degradation caused by oxygen contained in ITO of pixel electrode
Contact can be suppressed compared to aluminum.
High resistance can be avoided and display quality is extended.
I can .

【0018】[0018]

【実施例】次に、本発明の実施例について、添付図面を
参照して説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

【0019】〔実施例1〕 図1は本発明の実施例1に係る液晶表示パネルのマトリ
ックスアレイの一部を示す平面図、図2はそのI−I線
における断面図である。
Embodiment 1 FIG. 1 is a plan view showing a part of a matrix array of a liquid crystal display panel according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II.

【0020】この実施例は、図1に示すように、垂直方
向の信号線2a,2b・・・と、水平方向のゲート線3
a,3b・・・とが格子状に配線され、それらの間に各
画素領域1a,1b・・が形成されている。
In this embodiment, as shown in FIG. 1, vertical signal lines 2a, 2b.
are wired in a grid pattern, and pixel regions 1a, 1b,... are formed between them.

【0021】以下に画素領域1aを例にとって、その構
造を説明する。この画素領域1aにおいて、信号線2a
が導電接続するソース領域4、ゲート線3aが導電接続
するゲート電極5、および画素電極6が導電接続するド
レイン領域7によって、TFT8が形成されている。こ
こで、画素電極6は、ITOからなる透明電極であっ
て、画素領域1aのほぼ全面にわたって形成されてい
る。
The structure of the pixel region 1a will be described below by taking the pixel region 1a as an example. In this pixel region 1a, the signal line 2a
The TFT 8 is formed by a source region 4 to which a conductive connection is made, a gate electrode 5 to which a gate line 3a is conductively connected, and a drain region 7 to which a pixel electrode 6 is conductively connected. Here, the pixel electrode 6 is a transparent electrode made of ITO, and is formed over substantially the entire surface of the pixel region 1a.

【0022】このTFT8の断面構造は、図2に示すよ
うに、液晶表示パネル全体を支持する透明なガラス基板
9の表面側に多結晶シリコン層10が形成されており、
この多結晶シリコン層10には、真性の多結晶シリコン
領域であるチャネル領域11を除いて、n型の不純物と
してのリンが導入されて、ソース領域4およびドレイン
領域7が形成されている。ここで、リンの導入は、多結
晶シリコン層10の表面側に形成されたゲート酸化膜1
2の上のゲート電極5をマスクとするイオン注入を利用
することにより、ソース領域4およびドレイン領域7が
セルフアラインとなるように行われる。このTFT8の
表面側には、シリコン酸化膜からなる層間絶縁膜13が
堆積されており、それには第1の接続孔13aと第2の
接続孔13bとが開口されている。そのうちの第1の接
続孔13aを介して、信号線2aがソース領域4に導電
接続している。この信号線2aは、第1の接続孔13a
を介してソース領域4に導電接続する下層たるクロム層
14と、その表面上に形成されたアルミニウム層15と
からなる2層構造を有している。一方の第2の接続孔1
3bを介しては、画素電極6がドレイン領域7に導電接
続している。
As shown in FIG. 2, the sectional structure of the TFT 8 is such that a polycrystalline silicon layer 10 is formed on the front side of a transparent glass substrate 9 which supports the entire liquid crystal display panel.
Except for the channel region 11 which is an intrinsic polycrystalline silicon region, phosphorus as an n-type impurity is introduced into the polycrystalline silicon layer 10 to form the source region 4 and the drain region 7. Here, the introduction of phosphorus is performed by the gate oxide film 1 formed on the surface side of the polycrystalline silicon layer 10.
The source region 4 and the drain region 7 are self-aligned by utilizing ion implantation using the gate electrode 5 on the mask 2 as a mask. On the front side of the TFT 8, an interlayer insulating film 13 made of a silicon oxide film is deposited, and a first connection hole 13a and a second connection hole 13b are opened in the interlayer insulation film 13. The signal line 2a is conductively connected to the source region 4 via the first connection hole 13a. This signal line 2a is connected to the first connection hole 13a.
Has a two-layer structure including a lower chromium layer 14 which is conductively connected to the source region 4 through an aluminum layer 15 formed on the surface thereof. One second connection hole 1
The pixel electrode 6 is conductively connected to the drain region 7 via 3b.

【0023】この液晶表示パネルにおいては、後述のと
おり、信号線2aは、クロム層14と、このクロム層1
4とは別工程で形成されたアルミニウム層15とで構成
されているため、図3に図1のII−II線における断面を
示すように、それぞれに断線部分16があったと仮定し
ても、その断線部分16の位置が重ならない限り、信号
線2aとしては断線状態にはならない。すなわち、一方
側の断線状態を他方側が補完する関係にある冗長配線構
造になっているため、信号線2aが接続する全ての画素
領域に対し、確実に信号電位が各ソース領域に印加され
るので、この液晶パネルにはライン欠陥が極めて発生し
にくい。
In the liquid crystal display panel, as described later, the signal line 2a is formed by the chrome layer 14 and the chrome layer 1
4 and an aluminum layer 15 formed in a separate step, so as shown in FIG. 3 showing a cross section taken along line II-II in FIG. As long as the positions of the disconnection portions 16 do not overlap, the signal line 2a does not become disconnected. In other words, since the redundant wiring structure has a relationship in which the disconnection state of one side is complemented by the other side, a signal potential is reliably applied to each source region to all pixel regions connected to the signal line 2a. Line defects are extremely unlikely to occur in this liquid crystal panel.

【0024】かかる構造の液晶表示パネルのマトリック
スアレイの製造方法を、図4を参照して説明する。
A method for manufacturing a matrix array of a liquid crystal display panel having such a structure will be described with reference to FIG.

【0025】図4は、液晶パネル表示の製造方法の一部
を示す工程断面図である。
FIG. 4 is a process sectional view showing a part of a method of manufacturing a liquid crystal panel display.

【0026】まず、図4(a)に示すように、ガラス基
板9の表面上にCVD法により、真性の多結晶シリコン
層10aを堆積させた後に、熱酸化を施して、ゲート酸
化膜12を形成する。
First, as shown in FIG. 4A, an intrinsic polycrystalline silicon layer 10a is deposited on the surface of a glass substrate 9 by a CVD method, and then thermal oxidation is performed to form a gate oxide film 12. Form.

【0027】次に、これらの表面側にリンドープの多結
晶シリコン層をCVD法により形成した後、パターニン
グしてゲート電極5を残す。この後に、図4(b)に示
すように、ゲート電極5をマスクとしてリンをイオン注
入して、ソース領域4およびドレイン領域7を導電化す
る。ここで、ゲート電極5の直下には真性の多結晶シリ
コン部分が残され、これがチャネル領域11となる。
Next, a phosphorus-doped polycrystalline silicon layer is formed on these surface sides by a CVD method, and then patterned to leave the gate electrode 5. Thereafter, as shown in FIG. 4B, phosphorus is ion-implanted using the gate electrode 5 as a mask to make the source region 4 and the drain region 7 conductive. Here, an intrinsic polycrystalline silicon portion is left directly below the gate electrode 5, and this becomes the channel region 11.

【0028】このようにして、TFT8を形成した後
に、これらの表面側に、CVD法により層間絶縁膜13
を堆積させる。その後に、図4(c)に示すように、ソ
ース領域4およびドレイン領域7の上方位置に第1の接
続孔13aおよび第2の接続孔13bを形成する。
After the TFTs 8 are formed in this manner, an interlayer insulating film 13 is formed on these surfaces by CVD.
Is deposited. Thereafter, as shown in FIG. 4C, a first connection hole 13a and a second connection hole 13b are formed above the source region 4 and the drain region 7.

【0029】次に、図4(d)に示すように、これらの
表面側にクロムをスパッタ法により被着して、全面クロ
ム層14aを形成した後、所定の領域が窓開けされたレ
ジストマスク層17aを形成する。この状態で、第2硝
酸セリウムアンモニウムなどを配合したクロム用エッチ
ング液で、全面クロム層14aに化学エッチングを施し
て、クロム層14を残す。
Next, as shown in FIG. 4 (d), chromium is deposited on these surface sides by sputtering to form a chromium layer 14a over the entire surface, and then a resist mask having a predetermined region opened in a window. The layer 17a is formed. In this state, the entire chromium layer 14a is chemically etched with an etching solution for chromium containing cerium ammonium nitrate and the like, and the chromium layer 14 is left.

【0030】次に、これらの表面上に、スパッタ法によ
りITO層を被着した後、その表面上に所定領域を窓開
けしたレジストマスク層を形成する。この状態で、塩
酸、硝酸などを配合したITO用エッチング液により、
ITO層に化学エッチングを施して、図4(e)に示す
ように、画素電極層6を残す。
Next, after an ITO layer is deposited on these surfaces by a sputtering method, a resist mask layer having a predetermined region opened in a window is formed on the surface. In this state, with an etching solution for ITO containing hydrochloric acid, nitric acid, etc.,
The ITO layer is chemically etched to leave the pixel electrode layer 6 as shown in FIG.

【0031】さらに、図4(f)に示すように、これら
の表面側にアルミニウムをスパッタ法により被着して、
全面アルミニウム層15aを形成した後に、所定の領域
が窓開けされたレジストマスク層17bを形成する。こ
の状態で、燐酸、硝酸などを配合したアルミニウム用エ
ッチング液で、全面アルミニウム層14aに化学エッチ
ングを施して、図2に示すように、アルミニウム層17
を残して信号線2aを形成する。
Further, as shown in FIG. 4 (f), aluminum is deposited on these surface sides by a sputtering method.
After forming the entire surface aluminum layer 15a, a resist mask layer 17b having a predetermined region opened in a window is formed. In this state, the entire aluminum layer 14a is chemically etched with an etching solution for aluminum containing phosphoric acid, nitric acid, etc., as shown in FIG.
Are formed to form the signal line 2a.

【0032】このように、本例においては、信号線2a
を複層構造とするにあたり、下層側にはクロム層14
を、上層側にはクロム層に対してエッチング能力がない
燐酸、硝酸系のエッチング液でエッチング可能なアルミ
ニウム層15を採用している。
As described above, in this example, the signal line 2a
To form a multilayer structure, a chromium layer 14
The upper layer employs an aluminum layer 15 which can be etched with a phosphoric acid or nitric acid-based etchant having no etching ability with respect to the chromium layer.

【0033】従って、アルミニウム層15を形成するた
めのレジストマスク層17bに欠陥があって、アルミニ
ウム層15に断線部分が発生しても、下層側のクロム層
14には、断線部分が発生しない。このため、クロム層
14およびアルミニウム層15の同位置に断線部分が発
生して、信号線2a自身が断線状態になることがないよ
うになっている。従って、本例の液晶表示パネルにおい
ては、信号線2aの断線に起因する表示のライン欠陥が
発生しにくい。また、塩酸−硝酸系に代表されるITO
用エッチング液は、通常、アルミニウム層に対し、エッ
チング能力を有する一方、燐酸−硝酸系に代表されるア
ルミニウム用エッチング液は、ITOに対しエッチング
能力がない。本例は、これらの関係を最大限利用するも
のであり、画素電極6を形成した後にアルミニウム層1
5を形成し、不要なマスク層の形成工程を省略してい
る。従って、液晶表示パネルに冗長配線構造を採用して
も、製造工程が増えるのを最小限に止めているので、コ
スト対応力をも備える。しかも、信号線2aの形成領域
は拡張されていないため、開口率が維持されているの
で、表示品質が低下しない。
Therefore, even if there is a defect in the resist mask layer 17b for forming the aluminum layer 15 and a disconnection occurs in the aluminum layer 15, no disconnection occurs in the lower chromium layer 14. Therefore, a disconnection portion does not occur at the same position of the chromium layer 14 and the aluminum layer 15 so that the signal line 2a itself does not become disconnected. Therefore, in the liquid crystal display panel of this example, a display line defect due to the disconnection of the signal line 2a hardly occurs. In addition, ITO represented by hydrochloric acid-nitric acid system
The etching solution for aluminum generally has an etching ability for an aluminum layer, whereas the etching solution for aluminum represented by phosphoric acid-nitric acid has no etching ability for ITO. In this example, these relationships are used to the utmost, and the aluminum layer 1 is formed after the pixel electrode 6 is formed.
5, and the step of forming an unnecessary mask layer is omitted. Therefore, even if a redundant wiring structure is adopted for the liquid crystal display panel, an increase in the number of manufacturing steps is kept to a minimum, so that the liquid crystal display panel has cost responsiveness. In addition, since the formation area of the signal line 2a is not expanded, the aperture ratio is maintained, so that the display quality does not deteriorate.

【0034】〔実施例2〕 次に、本発明の実施例2に係る液晶表示パネルについ
て、図5を参照して説明する。
Second Embodiment Next, a liquid crystal display panel according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0035】図5は実施例2に係る液晶表示パネルのマ
トリックスアレイの断面図であり、実施例1に係る液晶
表示パネルと異なり、層間絶縁膜13の第2の接続孔1
3bの内部には、クロムからなる埋め込み電極層21を
備え、この埋め込み電極層21を介して、画素電極22
がドレイン領域7に導電接続している。その他の構造
は、図1に示す実施例1に係る液晶表示パネルと同様で
あるため、対応する部分には同符号を付して、それらの
説明を省略する。ここで、埋め込み電極層21はクロム
層14と同時に形成されたものである。従って、画素電
極やアルミニウム層を形成する前に、埋め込み電極層2
1は形成されているため、これが形成された以降は、ド
レイン層7が露出しない状態にある。それ故、後の工程
において、ドレイン層7すなわちシリコンに対して腐食
性を有するエッチング液などを使用しても、ドレイン層
7が侵されることがないので、製造条件に対する制限を
緩和することができる。
FIG. 5 is a cross-sectional view of the matrix array of the liquid crystal display panel according to the second embodiment. Unlike the liquid crystal display panel according to the first embodiment, the second connection hole 1 of the interlayer insulating film 13 is different.
3b, a buried electrode layer 21 made of chromium is provided, and through this buried electrode layer 21, a pixel electrode 22 is formed.
Are conductively connected to the drain region 7. Other structures are the same as those of the liquid crystal display panel according to the first embodiment shown in FIG. 1, and corresponding parts are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted. Here, the buried electrode layer 21 is formed simultaneously with the chromium layer 14. Therefore, before forming the pixel electrode and the aluminum layer, the buried electrode layer 2
Since 1 is formed, after this is formed, the drain layer 7 is not exposed. Therefore, even if a drain layer 7, that is, an etchant having a corrosive property to silicon is used in a later step, the drain layer 7 is not eroded, so that the restrictions on the manufacturing conditions can be relaxed. .

【0036】この構造の液晶表示パネルの製造方法を、
図6を参照して、説明する。
A method of manufacturing a liquid crystal display panel having this structure is described below.
This will be described with reference to FIG.

【0037】図6は、本例の液晶表示パネルの製造方法
の一部を示す工程断面図である。
FIG. 6 is a process sectional view showing a part of the method of manufacturing the liquid crystal display panel of this embodiment.

【0038】ここで、クロム層14および埋め込み電極
層21を形成するために、クロムをスパッタ法により被
着するまでの工程は、先に説明した図4(d)までと同
様であり、そこまでの説明は省略するが、本例において
は、クロム層14の形成領域のみを覆うレジストマスク
層17aに代えて、図6(a)に示すように、第2の接
続孔13bの上方位置も覆うレジストマスク層24aを
形成する。従って、この状態で第2硝酸セリウムアンモ
ニウムなどを配合したクロム用エッチング液で、全面ク
ロム層14aに化学エッチングを施すと、図6(b)に
示すように、埋め込み電極層21を残すことができる。
従って、この状態では、ドレイン層7は、埋め込み電極
層21によって覆われて露出していないので、以降の工
程に対する制限がない。
Here, the steps up to depositing chromium by sputtering to form the chromium layer 14 and the buried electrode layer 21 are the same as those up to FIG. 4D described above. In this example, instead of the resist mask layer 17a covering only the region where the chromium layer 14 is formed, as shown in FIG. 6A, the position above the second connection hole 13b is also covered. A resist mask layer 24a is formed. Therefore, when the entire chromium layer 14a is chemically etched with an etching solution for chromium containing cerium ammonium nitrate and the like in this state, the buried electrode layer 21 can be left as shown in FIG. 6B. .
Accordingly, in this state, since the drain layer 7 is not covered and exposed by the buried electrode layer 21, there is no limitation on the subsequent steps.

【0039】そこで、アルミニウム層15に銅を含むア
ルミニウムを用いた例を示す。ここで、銅を含むアルミ
ニウムを用いる理由は、セルの微細化と共に、信号線2
aも微細化されたとき、ストレスやエレクトロマイグレ
ーションなどによる断線事故の発生などを防止するため
である。場合によっては、シリコンなどを含むアルミニ
ウムが用いられることもある。
Therefore, an example in which aluminum containing copper is used for the aluminum layer 15 will be described. Here, the reason why aluminum containing copper is used is that the miniaturization of the cell and the signal line 2
This is to prevent the occurrence of a disconnection accident due to stress, electromigration, or the like when a is also miniaturized. In some cases, aluminum containing silicon or the like may be used.

【0040】まず、図6(c)に示すように、銅を含む
アルミニウムをスパッタ法により被着して、全面アルミ
ニウム層23aを形成する。次に、所定領域を窓開けし
たマスク層24bで覆った状態で化学エッチングを行
い、図6(d)に示すように、クロム層14の上にアル
ミニウム層23を残して、信号線2aを形成する。
First, as shown in FIG. 6C, aluminum containing copper is deposited by sputtering to form an aluminum layer 23a over the entire surface. Next, chemical etching is performed in a state where a predetermined region is covered with a mask layer 24b having an opened window, and the signal line 2a is formed while leaving the aluminum layer 23 on the chromium layer 14, as shown in FIG. I do.

【0041】この化学エッチングにおいては、アルミニ
ウムを溶解して除去するが、銅の溶解速度が遅く、銅の
残滓が残る場合がある。この残滓は、光透過性を良好に
保つために除去する必要があり、この除去にはウェット
エッチングやプラズマエッチングなどが用いられる。こ
こで、ドレイン領域7が露出していると、同時に損傷を
受けることになるが、本例においては、ドレイン領域7
は、埋め込み電極層21で覆われているため、損傷を受
けることがないので、その損傷に起因する点欠陥などの
発生を防止できる。それ故、銅やシリコンなどを含むア
ルミニウムの採用、プラズマエッチングの採用など、各
種条件に対する制限がなくなるため、液晶表示パネルの
構成、製造に自由度が高まる。
In this chemical etching, aluminum is dissolved and removed, but the dissolution rate of copper is low, and copper residues may remain. This residue needs to be removed in order to maintain good light transmittance. For this removal, wet etching, plasma etching, or the like is used. Here, if the drain region 7 is exposed, the drain region 7 will be damaged at the same time.
Is not damaged because it is covered with the buried electrode layer 21, thereby preventing the occurrence of point defects and the like due to the damage. Therefore, there is no restriction on various conditions such as employment of aluminum containing copper or silicon and employment of plasma etching, so that the degree of freedom in the configuration and manufacturing of the liquid crystal display panel is increased.

【0042】なお、本例の場合には、画素電極22を形
成する前に、アルミニウム層23を形成してあるため、
実施例1のように、そのまま、塩酸−硝酸系のITO用
エッチング液を使用すると、アルミニウム層23をもエ
ッチングしてしまう。従って、ITOのパターニング工
程においては、アルミニウム層23に対するマスキン
グ、アルミニウムに腐食性を有しないITO用エッチン
グ液、またはドライエッチング法などを採用する。
In this embodiment, since the aluminum layer 23 is formed before the pixel electrode 22 is formed,
If a hydrochloric acid-nitric acid based ITO etchant is used as it is as in the first embodiment, the aluminum layer 23 is also etched. Therefore, in the ITO patterning step, masking of the aluminum layer 23, an etching solution for ITO having no corrosiveness to aluminum, a dry etching method, or the like is employed.

【0043】〔実施例3〕 次に、本発明の第3実施例に係る液晶表示パネルについ
て、図7を参照して説明する。
Third Embodiment Next, a liquid crystal display panel according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0044】図7は実施例3に係る液晶表示パネルのマ
トリックスアレイの断面図であり、図5に示した実施例
2に係る液晶表示パネルと同様な構造を有するため、対
応する部位には同符号を付してある。本例に係る液晶表
示パネルにおいては、実施例2に係る液晶表示パネルと
異なり、クロム層14とアルミニウム層23とからなる
信号線2aの表面側には表面保護膜としての厚いポリイ
ミド層31が形成されており、その接続孔31aを介し
て、画素電極32が埋め込み電極層21に導電接続して
いる。すなわち、画素電極32は埋め込み電極層21を
介してドレイン領域7に導電接続する構造になってい
る。また、画素電極32の端部32aは、隣接する画素
領域1bの信号線2bの近傍にまで延びている。その他
の構造は同様であるため、それらの説明を省略する。な
お、本例においても、アルミニウム層23に銅を含むア
ルミニウムが使用されている。
FIG. 7 is a sectional view of the matrix array of the liquid crystal display panel according to the third embodiment, which has the same structure as the liquid crystal display panel according to the second embodiment shown in FIG. The code is attached. In the liquid crystal display panel according to the present embodiment, unlike the liquid crystal display panel according to the second embodiment, a thick polyimide layer 31 as a surface protection film is formed on the surface side of the signal line 2a including the chromium layer 14 and the aluminum layer 23. The pixel electrode 32 is conductively connected to the buried electrode layer 21 through the connection hole 31a. That is, the pixel electrode 32 is configured to be conductively connected to the drain region 7 via the buried electrode layer 21. The end 32a of the pixel electrode 32 extends to the vicinity of the signal line 2b in the adjacent pixel region 1b. Since other structures are the same, the description thereof is omitted. Note that, also in this example, aluminum containing copper is used for the aluminum layer 23.

【0045】かかる構造の液晶表示パネルにおいては、
実施例2に係る液晶表示パネルと同様に、信号線2aの
冗長配線構造により、表示欠陥が発生しないのに加え
て、ドレイン領域7がクロム層14と同時に形成された
埋め込み電極層21によって覆われた状態で、アルミニ
ウム層23、画素電極32が形成されるため、これらを
形成する工程において、ドレイン領域7を損傷すること
がない。例えば、アルミニウム層23に、銅を含むアル
ミニウムを使用し、化学エッチングまたはドライエッチ
ングによりパターニングした後、残存した銅などの残滓
を除去するために、清浄化工程を行っても支障がない。
また、ポリイミド層31は、画素電極32を形成すると
きに、アルミニウム層23を保護する機能も発揮する。
In the liquid crystal display panel having such a structure,
As in the liquid crystal display panel according to the second embodiment, the redundant wiring structure of the signal line 2 a prevents display defects from occurring, and in addition, the drain region 7 is covered by the buried electrode layer 21 formed simultaneously with the chromium layer 14. In this state, the aluminum layer 23 and the pixel electrode 32 are formed, so that the drain region 7 is not damaged in the step of forming them. For example, after using aluminum containing copper for the aluminum layer 23 and performing patterning by chemical etching or dry etching, there is no problem even if a cleaning step is performed in order to remove the remaining residue such as copper.
The polyimide layer 31 also has a function of protecting the aluminum layer 23 when forming the pixel electrode 32.

【0046】さらに、本例の液晶表示パネルにおいて
は、画素電極32の端部32aは、隣接する画素領域1
bの信号線2bの近傍にまで延びて、重なり合う状態に
なっている。従来の構造において、画素電極の端部を、
隣接する画素領域の信号線の近傍にまで配置すると、こ
れら画素電極と信号線とがショート状態になりやすく、
またショート状態になくとも、これらの間に発生する電
界によって、液晶の配向に乱れが発生し、表示むらなど
の原因となる。それ故、開口率は犠牲になるものの、画
素電極の形成領域を縮小していた。これに対し、本例に
おいては、端部32aと信号線2bとの間には、厚いポ
リイミド層31が介在し、ショート状態となることを防
止することは勿論のこと、これらの間に強い電界が発生
しないようになっている。このため、電界に起因する表
示劣化が発生しないので、隣接する画素領域1a,1b
同士でクロストークがない。従って、端部32aを信号
線2bの近傍にまで配置して、画素電極32の面積を拡
大し、開口率を高めることによって、表示品質の向上を
実現している。また、信号線2a,2bは、ポリイミド
層31を介して液晶に接し、対向する共通電極との間に
強い電界が発生することも防止されている。このため、
この電界によって発生する液晶の配向状態の乱れも抑制
されるので、表示の品位がさらに向上している。
Further, in the liquid crystal display panel of this embodiment, the end 32a of the pixel electrode 32 is
b extends to the vicinity of the signal line 2b and is in an overlapping state. In the conventional structure, the end of the pixel electrode is
When the pixel electrode and the signal line are arranged close to the signal line in the adjacent pixel region, the pixel electrode and the signal line are likely to be short-circuited,
In addition, even if it is not in the short-circuit state, the electric field generated between them causes disturbance in the alignment of the liquid crystal, which causes display unevenness. Therefore, although the aperture ratio is sacrificed, the formation region of the pixel electrode has been reduced. On the other hand, in this example, the thick polyimide layer 31 is interposed between the end portion 32a and the signal line 2b to prevent a short-circuit state and a strong electric field between them. Does not occur. For this reason, display deterioration due to the electric field does not occur, so that the adjacent pixel regions 1a, 1b
There is no cross talk between each other. Therefore, the display quality is improved by arranging the end portion 32a close to the signal line 2b to increase the area of the pixel electrode 32 and increase the aperture ratio. In addition, the signal lines 2a and 2b are in contact with the liquid crystal via the polyimide layer 31, and a strong electric field is prevented from being generated between the common lines and the opposing common electrodes. For this reason,
Since the disturbance of the alignment state of the liquid crystal generated by the electric field is suppressed, the display quality is further improved.

【0047】かかる構造の液晶表示パネルの製造方法
を、図8を参照して説明する。
A method for manufacturing a liquid crystal display panel having such a structure will be described with reference to FIG.

【0048】図8は、この液晶表示パネルの製造方法の
一部を示す工程断面図である。
FIG. 8 is a process sectional view showing a part of the method of manufacturing this liquid crystal display panel.

【0049】まず、クロム層14、埋め込み電極層2
1、およびアルミニウム層23を形成までの工程は、実
施例2として説明した図6(d)までと同様であり、そ
れまでの工程の説明は省略する。
First, the chromium layer 14, the buried electrode layer 2
1 and the steps up to the formation of the aluminum layer 23 are the same as those up to FIG. 6D described as the second embodiment, and the description of the steps up to that point is omitted.

【0050】本例においては、この状態から、図8
(a)に示すように、埋め込み電極層21の上方位置に
接続孔31aを有する厚いポリイミド層31を形成す
る。
In this example, from this state, FIG.
As shown in (a), a thick polyimide layer 31 having a connection hole 31a is formed above the embedded electrode layer 21.

【0051】次に、図8(b)に示すように、これらの
表面側にITO層32bを全面にスパッタ形成した後、
塩酸−硝酸系のITO用エッチング液を使用して、IT
O層に化学エッチングを施す。ここで、図7に示すよう
に、隣接する画素領域1bの信号線2bの上方位置にま
で、画素電極32の端部32aが位置するように、IT
O層を残し、開口率を最大限確保する。ここで、ポリイ
ミド層31は、アルミニウム電極23がITO用エッチ
ング液によりエッチングされるのを防止する機能も発揮
する。
Next, as shown in FIG. 8B, an ITO layer 32b is formed on the entire surface by sputtering.
Using a hydrochloric acid-nitric acid based etchant for ITO,
The O layer is chemically etched. Here, as shown in FIG. 7, the IT is adjusted so that the end 32a of the pixel electrode 32 is located above the signal line 2b of the adjacent pixel region 1b.
Leave the O layer to ensure the maximum aperture ratio. Here, the polyimide layer 31 also has a function of preventing the aluminum electrode 23 from being etched by the etching solution for ITO.

【0052】なお、本例の液晶表示パネルにおいては、
必要に応じて、各層の形成にドライエッチングを採用し
てもよいものである。例えば、アルミニウム層のエッチ
ングにプラズマエッチングなどを使用する場合でも、そ
れに使用されるエッチング種に対しては、クロムの方が
耐エッチング性が高いため、アルミニウム層と同位置に
断線部分が発生しないので、冗長配線構造の効果を発揮
する。
In the liquid crystal display panel of this embodiment,
If necessary, each layer may be formed by dry etching. For example, even when plasma etching or the like is used for etching the aluminum layer, chromium has a higher etching resistance with respect to the etching species used therefor, so that no disconnection occurs at the same position as the aluminum layer. The effect of the redundant wiring structure is exhibited.

【0053】また、各領域、各層の配置、形状、構造な
どは、製造すべき液晶表示パネルのサイズ、用途などに
よって、所定の条件に設定されるべき性質のものであ
り、限定のないものである。
The arrangement, shape, structure, etc. of each region and each layer are properties that should be set to predetermined conditions according to the size, application, etc. of the liquid crystal display panel to be manufactured, and are not limited. is there.

【0054】さらに、クロム層を形成した後の工程順序
については、製造すべき液晶表示パネルの構造、エッチ
ング条件などによって、最適な順序に設定されるべき性
質のものである。
Further, the order of the steps after the formation of the chromium layer is a property to be set in an optimum order according to the structure of the liquid crystal display panel to be manufactured, etching conditions and the like.

【0055】[0055]

【発明の効果】以上のとおり、本発明に係る液晶表示パ
ネルは、画素領域の薄膜トランジスタの表面側に形成さ
れた層間絶縁膜の表面側には、第1の接続孔を介して前
記薄膜トランジスタのソース領域に導電接続する信号線
と、第2の接続孔を介して上記薄膜トランジスタのドレ
イン領域に導電接続する画素電極と、を有し、上記信号
線は、上記第1の接続孔を介して上記ソース領域に導電
接続する第1の金属配線層と、この金属配線層の表面上
に形成された第2の金属配線層とを備え、上記第1の金
属配線層はクロムからなり、上記第2の金属配線層はア
ルミニウムからなり、上記画素電極はITOからなり、
上記第2の接続孔は、その内部に上記第1の金属配線層
と同時に形成された埋め込み電極層を備え、上記画素電
極は当該埋め込み電極層と接触することにより、上記ド
レイン領域に導電接続していることを特徴とするもので
ある。従って、本発明によれば、以下の効果を奏する。
As described above, the liquid crystal display panel according to the present invention is formed on the surface of the thin film transistor in the pixel region.
Through the first connection hole on the surface side of the formed interlayer insulating film.
A signal line conductively connected to the source region of the thin film transistor
And the drain of the thin film transistor through the second connection hole.
And a pixel electrode conductively connected to the input region.
A line is connected to the source region through the first connection hole.
A first metal wiring layer to be connected, and on a surface of the metal wiring layer
And a second metal wiring layer formed on the first metal layer.
The metal wiring layer is made of chromium, and the second metal wiring layer is made of metal.
The pixel electrode is made of ITO,
The second connection hole has therein the first metal wiring layer.
And a buried electrode layer formed at the same time.
The electrode comes into contact with the embedded electrode layer, thereby
Characterized by being conductively connected to the rain area
There is . Therefore, according to the present invention, the following effects can be obtained.

【0056】 第1の金属配線層の上に第2の金属配
線層を形成するときに、そのパターニングに用いるマス
クに欠陥があって、第2の金属配線層に断線が発生して
も、第1の金属配線層にまで断線が及ばない。それ故、
第1の金属配線層および第2の金属配線層の同位置に断
線部分が発生する確率が極めて低いので、信号線に断線
が発生しにくい。そのため、断線に起因する表示のライ
ン欠陥の発生を抑制できる。
When forming the second metal wiring layer on the first metal wiring layer, even if the mask used for patterning has a defect and the second metal wiring layer is disconnected, Disconnection does not reach even one metal wiring layer. Therefore,
Since the probability of occurrence of a disconnection at the same position of the first metal wiring layer and the second metal wiring layer is extremely low, disconnection of the signal line is unlikely to occur. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of display line defects due to the disconnection.

【0057】 第1及び第2の接続孔の開口直後の工
程において、第2の接続孔が第1の金属配線層の形成と
同時に埋め込み電極層で埋め込み封止されるため、ドレ
イン領域が第2の接続孔を介して露出したままとなら
ず、プロセス中のドレイン領域の損傷等を防止でき、表
示品質の向上を図ることができる
Work immediately after the opening of the first and second connection holes
In the step, the second connection hole is formed with the formation of the first metal wiring layer.
At the same time, since it is embedded and sealed by the embedded electrode layer,
If the in area remains exposed through the second connection hole
And prevent the drain region from being damaged during the process.
The display quality can be improved .

【0058】 クロムの埋め込み電極層は第2の金属
配線層のアルミニウムを介在させずに画素電極に直接接
触しているものであるから、第2の金属配線層の層厚の
分だけ薄くなり、コンタクト抵抗の低抵抗化を図ること
ができる
The chromium embedded electrode layer is made of a second metal.
Direct contact with the pixel electrode without aluminum in the wiring layer
Because it is touching, the thickness of the second metal wiring layer
To reduce the contact resistance.
Can be .

【0059】 更に、その接触部において画素電極の
ITOに含まれる酸素に起因する酸化劣化がアルミニウ
ムの場合に比し抑制できるので、コンタクト抵抗の高抵
抗化も回避でき、表示品質の長寿命化を実現できる
Further, the contact portion of the pixel electrode
Oxidation degradation caused by oxygen contained in ITO
The contact resistance can be reduced compared to the case of
Resistance can also be avoided, and the display quality can be extended .

【0060】[0060]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1に係る液晶表示パネルのマト
リックスアレイの一部を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a part of a matrix array of a liquid crystal display panel according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】図1のI−I線における断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II of FIG.

【図3】図1のII−II線における断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line II-II of FIG.

【図4】(a)乃至(f)のいずれも、本発明の実施例
1に係る液晶表示パネルのマトリックスアレイの製造工
程の一部を示す工程断面図である。
FIGS. 4A to 4F are process cross-sectional views each showing a part of a process of manufacturing a matrix array of the liquid crystal display panel according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施例2に係る液晶表示パネルのマト
リックスアレイの一部を示す断面図である。
FIG. 5 is a sectional view showing a part of a matrix array of a liquid crystal display panel according to Embodiment 2 of the present invention.

【図6】(a)乃至(d)のいずれも、本発明の実施例
2に係る液晶表示パネルのマトリックスアレイの製造工
程の一部を示す工程断面図である。
FIGS. 6A to 6D are process cross-sectional views illustrating a part of a process of manufacturing a matrix array of a liquid crystal display panel according to a second embodiment of the present invention.

【図7】本発明の実施例3に係る液晶表示パネルのマト
リックスアレイの一部を示す断面図である。
FIG. 7 is a sectional view showing a part of a matrix array of a liquid crystal display panel according to Embodiment 3 of the present invention.

【図8】(a),(b)のいずれも、本発明の実施例3
に係る液晶表示パネルのマトリックスアレイの製造工程
の一部を示す工程断面図である。
8 (a) and (b) show Embodiment 3 of the present invention.
FIG. 6 is a process cross-sectional view showing a part of the process of manufacturing the matrix array of the liquid crystal display panel according to the embodiment.

【図9】従来の液晶表示パネルのマトリックスアレイの
一部を示す断面図である。
FIG. 9 is a sectional view showing a part of a matrix array of a conventional liquid crystal display panel.

【符号の説明】 1a,1b・・・画素領域 2a,2b・・・信号線 3a,3b・・・ゲート線 4・・・ソース領域 5・・・ゲート電極 6,,22,32・・・画素電極 7・・・ドレイン領域 8・・・TFT 14・・・クロム層(第1の金属配線層) 15,23・・・アルミニウム層(第2の金属配線層) 21・・・埋め込み電極層[Description of Signs] 1a, 1b: Pixel region 2a, 2b: Signal line 3a, 3b: Gate line 4: Source region 5: Gate electrode 6, 22, 22, 32 ... Pixel electrode 7 ... Drain region 8 ... TFT 14 ... Chromium layer (first metal wiring layer) 15, 23 ... Aluminum layer (second metal wiring layer) 21 ... Embedded electrode layer

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/1368 G02F 1/1343 G09F 9/30 Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G02F 1/1368 G02F 1/1343 G09F 9/30

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 画素領域の薄膜トランジスタの表面側に
形成された層間絶縁膜の表面側には、第1の接続孔を介
して前記薄膜トランジスタのソース領域に導電接続する
信号線と、第2の接続孔を介して前記薄膜トランジスタ
のドレイン領域に導電接続する画素電極と、を有し、前
記信号線は、前記第1の接続孔を介して前記ソース領域
に導電接続する第1の金属配線層と、この金属配線層の
表面上に形成された第2の金属配線層とを備え、 前記第1の金属配線層はクロムからなり、前記第2の金
属配線層はアルミニウムからなり、前記画素電極はIT
Oからなり、前記第2の接続孔は、その内部に前記第1
の金属配線層と同時に形成された埋め込み電極層を備
え、前記画素電極は該埋め込み電極層と接触することに
より、前記ドレイン領域に導電接続していることを特徴
とする液晶表示パネル。
1. A signal line conductively connected to a source region of the thin film transistor via a first connection hole on a surface side of an interlayer insulating film formed on a surface side of the thin film transistor in a pixel region; A pixel electrode conductively connected to a drain region of the thin film transistor through a hole, the signal line being a first metal wiring layer conductively connected to the source region through the first connection hole; A second metal wiring layer formed on a surface of the metal wiring layer, wherein the first metal wiring layer is made of chromium, and the second metal wiring layer is made of chromium.
The metal wiring layer is made of aluminum, and the pixel electrode is made of IT.
O, and the second connection hole has the first connection hole therein.
Buried electrode layer formed simultaneously with the metal wiring layer
The pixel electrode contacts the buried electrode layer.
A liquid crystal display panel, wherein the liquid crystal display panel is conductively connected to the drain region .
【請求項2】 基板上に薄膜トランジスタを形成する第
1の工程と、前記薄膜トランジスタ上に層間絶縁膜を堆
積する第2の工程と、前記薄膜トランジスタのソース領
域及びドレイン領域上にそれぞれ第1の接続孔及び第2
の接続孔を形成する第3の工程と、クロムを被着しパタ
ーンニングして、信号配線の第1の金属配線層を形成す
ると共に第2の接続孔内部に埋め込み電極層を残す第4
の工程と、ITOを被着しパターンニングして、画素電
極を形成する第5の工程と、アルミニウムを被着しエッ
チングによりパターンニングして、前記信号線の第2の
金属配線層を形成する第6の工程と、を有することを特
徴とする液晶表示パネルの製造方法。
2. A method for forming a thin film transistor on a substrate.
Step 1 and depositing an interlayer insulating film on the thin film transistor
A second step of stacking, and a source region of the thin film transistor.
A first contact hole and a second contact hole on the region and the drain region, respectively.
A third step of forming a connection hole of
To form a first metal wiring layer for signal wiring.
And leaving a buried electrode layer inside the second connection hole.
And ITO patterning and patterning
A fifth step of forming the poles, and
Patterning by means of the
And a sixth step of forming a metal wiring layer.
A method for manufacturing a liquid crystal display panel.
【請求項3】 基板上に薄膜トランジスタを形成する第
1の工程と、前記薄膜トランジスタ上に層間絶縁膜を堆
積する第2の工程と、前記薄膜トランジスタのソース領
域及びドレイン領域上にそれぞれ第1の接続孔及び第2
の接続孔を形成する第3の工程と、クロムを被着しパタ
ーンニングして、信号配線の第1の金属配線層を形成す
ると共に第2の接続孔内部に埋め込み電極層を残す第4
の工程と、アルミニウムを被着しエッチングによりパタ
ーンニングして、前記信号線の第2の金属配線層を形成
する第5の工程と、ITOを被着しパターンニングし
て、画素電極を形成する第6の工程と、を有することを
特徴とする液晶表示パネルの 製造方法
3. A method of forming a thin film transistor on a substrate.
Step 1 and depositing an interlayer insulating film on the thin film transistor
A second step of stacking, and a source region of the thin film transistor.
A first contact hole and a second contact hole on the region and the drain region, respectively.
A third step of forming a connection hole of
To form a first metal wiring layer for signal wiring.
And leaving a buried electrode layer inside the second connection hole.
Process and patterning by etching aluminum
To form a second metal wiring layer of the signal line
A fifth step of depositing and patterning the ITO
And a sixth step of forming a pixel electrode.
Characteristic liquid crystal display panel manufacturing method .
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