JP3045759B2 - セトリング特性測定方法 - Google Patents
セトリング特性測定方法Info
- Publication number
- JP3045759B2 JP3045759B2 JP2295095A JP29509590A JP3045759B2 JP 3045759 B2 JP3045759 B2 JP 3045759B2 JP 2295095 A JP2295095 A JP 2295095A JP 29509590 A JP29509590 A JP 29509590A JP 3045759 B2 JP3045759 B2 JP 3045759B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fourier transform
- signal
- measurement data
- measured
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、セトリング特性を高精度で測定するための
方法に関する。
方法に関する。
増幅器等の動特性を評価する場合、セトリング時間
等、出力のセトリング特性を評価することは、重要な要
件の一つとされている。
等、出力のセトリング特性を評価することは、重要な要
件の一つとされている。
従来、被測定デバイス（DUT）の出力のセトリング特
性を高精度で測定するのに、サンプラを含む測定系の測
定精度への悪影響を除去するための多くの努力がなされ
た。本願出願人によって出願された特願昭62−140614で
は、少なくとも一方の波高レベルが平坦な基準ステップ
パルスを測定系に印加し、得られた基準測定データを用
いて測定系の伝達関数を求め、次に、被測定デバイスを
測定系に接続し、得られた測定データと前記伝達関数と
を用いて被測定デバイスのセトリング特性を求めてい
る。
性を高精度で測定するのに、サンプラを含む測定系の測
定精度への悪影響を除去するための多くの努力がなされ
た。本願出願人によって出願された特願昭62−140614で
は、少なくとも一方の波高レベルが平坦な基準ステップ
パルスを測定系に印加し、得られた基準測定データを用
いて測定系の伝達関数を求め、次に、被測定デバイスを
測定系に接続し、得られた測定データと前記伝達関数と
を用いて被測定デバイスのセトリング特性を求めてい
る。
即ち、基準ステップパルスの出力信号ａ（ｔ）をサン
プリングして得られたデータｘ（ｔ）のフーリエ変換を
Ｘ（ｓ）とし、測定系の伝達関数をＧ（ｓ）とすると、 Ｇ（ｓ）＝Ｘ（ｓ）/A（ｓ） となる。ここで、Ａ（ｓ）は理想ステップパルス信号の
フーリエ変換を表す。
プリングして得られたデータｘ（ｔ）のフーリエ変換を
Ｘ（ｓ）とし、測定系の伝達関数をＧ（ｓ）とすると、 Ｇ（ｓ）＝Ｘ（ｓ）/A（ｓ） となる。ここで、Ａ（ｓ）は理想ステップパルス信号の
フーリエ変換を表す。
次に、被測定デバイスの出力信号ｂ（ｔ）をサンプリ
ングして得られたデータｙ（ｔ）のフーリエ変換をＹ
（ｓ）とし、ｂ（ｔ）のフーリエ変換をＢ（ｓ）とする
と、 Ｂ（ｓ）＝Ｙ（ｓ）/G（ｓ） となる。したがって、 Ｂ（ｓ）＝Ａ（ｓ）・Ｙ（ｓ）/X（ｓ） よりＢ（ｓ）が求められ、これを逆フーリエ変換して時
間軸上でのｂ（ｔ）を求めれば、被測定デバイスのセト
リング特性が正確に測定できる。
ングして得られたデータｙ（ｔ）のフーリエ変換をＹ
（ｓ）とし、ｂ（ｔ）のフーリエ変換をＢ（ｓ）とする
と、 Ｂ（ｓ）＝Ｙ（ｓ）/G（ｓ） となる。したがって、 Ｂ（ｓ）＝Ａ（ｓ）・Ｙ（ｓ）/X（ｓ） よりＢ（ｓ）が求められ、これを逆フーリエ変換して時
間軸上でのｂ（ｔ）を求めれば、被測定デバイスのセト
リング特性が正確に測定できる。
しかしながら、このセトリング特性測定方法は測定系
が線形である場合に有効であって、測定系が非線系の場
合には、被測定信号の振幅及びオフセットの大きさ、極
性等によって測定誤差が生じる。
が線形である場合に有効であって、測定系が非線系の場
合には、被測定信号の振幅及びオフセットの大きさ、極
性等によって測定誤差が生じる。
本発明は、セトリング特性を高精度で測定するための
方法を提供することを目的とする。
方法を提供することを目的とする。
本発明の一実施例によれば、まず、被測定デバイスの
出力を測定系に接続して測定データを得、振幅と直流オ
フセットを求めると共に、該測定データに対してフーリ
エ変換を行う。次に、少なくとも一方の波高レベルが平
坦な基準ステップパルスの振幅及びオフセットの少なく
とも一方を前記被測定デバイスの出力信号と同じにして
測定系に印加し、得られた基準測定データに対するフー
リエ変換と理想ステップパルス信号のフーリエ変換とか
ら測定系の伝達関数を求める。最後に、該伝達関数と前
記測定データに対するフーリエ変換とから前記被測定デ
バイスの出力信号のフーリエ変換を求め、これを逆フー
リエ変換して被測定デバイスのセトリング特性を求め
る。
出力を測定系に接続して測定データを得、振幅と直流オ
フセットを求めると共に、該測定データに対してフーリ
エ変換を行う。次に、少なくとも一方の波高レベルが平
坦な基準ステップパルスの振幅及びオフセットの少なく
とも一方を前記被測定デバイスの出力信号と同じにして
測定系に印加し、得られた基準測定データに対するフー
リエ変換と理想ステップパルス信号のフーリエ変換とか
ら測定系の伝達関数を求める。最後に、該伝達関数と前
記測定データに対するフーリエ変換とから前記被測定デ
バイスの出力信号のフーリエ変換を求め、これを逆フー
リエ変換して被測定デバイスのセトリング特性を求め
る。
これにより、非線形測定系における、被測定信号の振
幅またはオフセットの大きさによる測定誤差を無くすこ
とができ、高精度のセトリング特性測定が行える。
幅またはオフセットの大きさによる測定誤差を無くすこ
とができ、高精度のセトリング特性測定が行える。
極性の違いによる測定誤差は、測定データに対するフ
ーリエ変換と基準測定データに対するフーリエ変換と
を、被測定デバイスの出力信号と基準ステップパルス信
号の極性と同じ部分に関して行うことによって無くすこ
とができる。
ーリエ変換と基準測定データに対するフーリエ変換と
を、被測定デバイスの出力信号と基準ステップパルス信
号の極性と同じ部分に関して行うことによって無くすこ
とができる。
第１図に本発明が適用されるセトリング特性測定装置
の一実施例を示し、第２図に該実施例における動作説明
を示す。図において、まず、リレー103を閉成状態（オ
ン）にして被測定デバイス（DUT）101を、伝送線路10
5、サンプラ106、及びデジタイザ107から成る測定系110
に接続し、測定して、得られた測定データからDUT101出
力の振幅Ad及び直流オフセットOdを求め、演算装置108
により該測定データに対するフーリエ変換を求める。次
に、リレー104をオン（この時、リレー103はオフ）にし
てFPG（フラット・パルス・ジェネレータ）の出力であ
る少なくとも一方の波高レベルが平坦な基準ステップパ
ルスを測定系110に接続し、測定し、得られた基準測定
データに基づいてフーリエ変換を演算装置108にて行
い、これと理想ステップパルス信号のフーリエ変換とか
ら測定系110の伝達関数を求める。このとき、基準ステ
ップパルスの振幅Ar、オフセットOrは、それぞれ被測定
信号のAd、Odに等しく設定されている必要がある。最後
に、得られた伝達関数と測定データに対するフーリエ変
換とから被測定信号のフーリエ変換を求め、これを逆フ
ーリエ変換して被測定デバイス出力のセトリング特性を
求める。
の一実施例を示し、第２図に該実施例における動作説明
を示す。図において、まず、リレー103を閉成状態（オ
ン）にして被測定デバイス（DUT）101を、伝送線路10
5、サンプラ106、及びデジタイザ107から成る測定系110
に接続し、測定して、得られた測定データからDUT101出
力の振幅Ad及び直流オフセットOdを求め、演算装置108
により該測定データに対するフーリエ変換を求める。次
に、リレー104をオン（この時、リレー103はオフ）にし
てFPG（フラット・パルス・ジェネレータ）の出力であ
る少なくとも一方の波高レベルが平坦な基準ステップパ
ルスを測定系110に接続し、測定し、得られた基準測定
データに基づいてフーリエ変換を演算装置108にて行
い、これと理想ステップパルス信号のフーリエ変換とか
ら測定系110の伝達関数を求める。このとき、基準ステ
ップパルスの振幅Ar、オフセットOrは、それぞれ被測定
信号のAd、Odに等しく設定されている必要がある。最後
に、得られた伝達関数と測定データに対するフーリエ変
換とから被測定信号のフーリエ変換を求め、これを逆フ
ーリエ変換して被測定デバイス出力のセトリング特性を
求める。
この場合、DUTの立ち上がりのセトリング特性を求め
る場合は、FPGのT1の部分に関するフーリエ変換を用
い、立ち上がりのセトリング特性を求める場合は、FPG
のTfの部分に関するフーリエ変換を用いて行えば、極性
の違いによる測定誤差を無くすことができる。なお、該
フーリエ変換を用いる部分のFPGの波高レベルは平坦で
なければならない。
る場合は、FPGのT1の部分に関するフーリエ変換を用
い、立ち上がりのセトリング特性を求める場合は、FPG
のTfの部分に関するフーリエ変換を用いて行えば、極性
の違いによる測定誤差を無くすことができる。なお、該
フーリエ変換を用いる部分のFPGの波高レベルは平坦で
なければならない。
DUT出力信号とFPG出力信号の周期が相違する場合、周
波数領域における測定系の伝達関数と測定データに対す
るフーリエ変換とで周波数成分が異なることになる。こ
の場合は、FPG出力信号の周期をDUT出力信号に合わせれ
ば良い。別の方法として、いずれか一方の周波数領域に
おける周波数成分から比例計算による補間によって、他
方の領域における各周波数成分に対応する周波数での関
数の大きさを求めれば良い。
波数領域における測定系の伝達関数と測定データに対す
るフーリエ変換とで周波数成分が異なることになる。こ
の場合は、FPG出力信号の周期をDUT出力信号に合わせれ
ば良い。別の方法として、いずれか一方の周波数領域に
おける周波数成分から比例計算による補間によって、他
方の領域における各周波数成分に対応する周波数での関
数の大きさを求めれば良い。
第３図にこの方法を示す。伝達関数Ｇ（ｆ）の各周波
数成分F1、F2、F3・・・は測定データに対するフーリエ
変換での周波数成分f1、f2、f3・・・と異なるため、隣
合う周波数成分間での比例計算による補間によって、
f1、f2、f3・・・に対応する周波数におけるＧ（ｆ）の
値g1、g2、g3・・・を求め、これによって、Ｂ（ｆ）＝
Ｙ（ｆ）/G（ｆ）の計算を行うことができる。
数成分F1、F2、F3・・・は測定データに対するフーリエ
変換での周波数成分f1、f2、f3・・・と異なるため、隣
合う周波数成分間での比例計算による補間によって、
f1、f2、f3・・・に対応する周波数におけるＧ（ｆ）の
値g1、g2、g3・・・を求め、これによって、Ｂ（ｆ）＝
Ｙ（ｆ）/G（ｆ）の計算を行うことができる。
以上説明したように、本発明を用いることにより、被
測定デバイスのセトリング特性を高精度で測定すること
ができる。
測定デバイスのセトリング特性を高精度で測定すること
ができる。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明が用いられるセトリング特性測定装置の
一実施例を示すブロック図である。 第２図は第１図の装置における測定動作を説明するため
の図である。 第３図は周波数補間を説明するための図である。 101:被測定デバイス 102:フラット・パルス・ジェネレータ 103、104:リレー、110:測定系
一実施例を示すブロック図である。 第２図は第１図の装置における測定動作を説明するため
の図である。 第３図は周波数補間を説明するための図である。 101:被測定デバイス 102:フラット・パルス・ジェネレータ 103、104:リレー、110:測定系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 29/02 G01R 27/28 G01R 31/00
Claims (2)
- 【請求項１】被測定信号をサンプリングしデジタル化し
て測定する測定系を用いたセトリング特性測定方法にお
いて、 前記被測定信号を前記測定系により測定して測定データ
を得、該測定データより振幅及び直流オフセットの内の
少なくとも一方を求める段階と、 前記測定データをフーリエ変換する段階と、 前記被測定信号と振幅または直流オフセットが等しい少
なくとも一方の波高レベルが平坦である基準ステップパ
ルス信号を前記測定系により測定して基準測定データを
得、前記基準測定データをフーリエ変換する段階と、 理想ステップパルス信号に対するフーリエ変換と前記基
準測定データに対するフーリエ変換とから前記測定系の
伝達関数を求める段階と、 前記測定データに対するフーリエ変換と前記測定系の伝
達関数とにより前記被測定信号のフーリエ変換を求める
段階と、 前記導出された被測定信号のフーリエ変換を逆フーリエ
変換して前記被測定信号のセトリング特性を求める段階
と、 を備えて成るセトリング特性測定方法。 - 【請求項２】前記測定データに対するフーリエ変換と前
記基準測定データに対するフーリエ変換は、前記被測定
信号と前記基準ステップパルス信号の極性が同じ部分に
関して行われることを特徴とする請求項（１）記載のセ
トリング特性測定方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2295095A JP3045759B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | セトリング特性測定方法 |
| DE19914133619 DE4133619C2 (de) | 1990-10-31 | 1991-10-10 | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Einschwingverhaltens |
| GB9121846A GB2249842B (en) | 1990-10-31 | 1991-10-15 | Method and apparatus for measuring a settling characteristic |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2295095A JP3045759B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | セトリング特性測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04168371A JPH04168371A (ja) | 1992-06-16 |
| JP3045759B2 true JP3045759B2 (ja) | 2000-05-29 |
Family
ID=17816240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2295095A Expired - Fee Related JP3045759B2 (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | セトリング特性測定方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3045759B2 (ja) |
| DE (1) | DE4133619C2 (ja) |
| GB (1) | GB2249842B (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4229770A1 (de) * | 1992-09-05 | 1994-03-10 | Asea Brown Boveri | Verfahren zur Messung der transienten wiederkehrenden Spannung eines Stromkreises und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| EP0977050B1 (en) * | 1994-01-12 | 2002-10-02 | Advantest Corporation | Display apparatus |
| JP4088499B2 (ja) * | 2002-08-28 | 2008-05-21 | 株式会社ダイヘン | インピーダンス整合器の出力端特性解析方法、およびインピーダンス整合器、ならびにインピーダンス整合器の出力端特性解析システム |
| JP4071044B2 (ja) * | 2002-02-08 | 2008-04-02 | 株式会社ダイヘン | インピーダンス整合器の出力端特性解析方法、およびインピーダンス整合器、ならびにインピーダンス整合器の出力端特性解析システム |
| US7215266B2 (en) * | 2004-05-21 | 2007-05-08 | Wionics Research | Hybrid DC offset cancellation scheme for wireless receiver |
| JP7261024B2 (ja) * | 2019-02-01 | 2023-04-19 | 一般財団法人電力中央研究所 | 変圧器巻線の比較関数の評価方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3338193C2 (de) * | 1983-10-20 | 1987-05-14 | Institut für Rundfunktechnik GmbH, 8000 München | Schaltungsanordnung zum Messen des Quantisierungsrauschens oder des Leerkanalrauschens oder der Gesamtverzerrung eines digital arbeitenden Audiogerätes |
| JPS62140614A (ja) * | 1985-12-16 | 1987-06-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 空気清浄用脱臭集塵フイルタ− |
| JP2537052B2 (ja) * | 1987-06-04 | 1996-09-25 | 日本ヒューレット・パッカード株式会社 | セトリング特性測定方法 |
| DE3931934C2 (de) * | 1988-10-03 | 1994-11-10 | Olympus Optical Co | Bild-Ein/Ausgabevorrichtung |
-
1990
- 1990-10-31 JP JP2295095A patent/JP3045759B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-10-10 DE DE19914133619 patent/DE4133619C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-10-15 GB GB9121846A patent/GB2249842B/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2249842A (en) | 1992-05-20 |
| DE4133619A1 (de) | 1992-05-07 |
| GB2249842B (en) | 1994-12-14 |
| JPH04168371A (ja) | 1992-06-16 |
| GB9121846D0 (en) | 1991-11-27 |
| DE4133619C2 (de) | 1997-03-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6230106B1 (en) | Method of characterizing a device under test | |
| US8519719B2 (en) | System for complex impedance measurement | |
| US20060070424A1 (en) | Transducer acceleration compensation with frequency domain amplitude and/or phase compensation | |
| Giaquinto et al. | Fast and accurate ADC testing via an enhanced sine wave fitting algorithm | |
| US4686457A (en) | Method for measuring a signal's frequency components | |
| JP3234339B2 (ja) | 電力測定装置および方法 | |
| JP3045759B2 (ja) | セトリング特性測定方法 | |
| US20020075951A1 (en) | Method and apparatus to measure jitter | |
| Schoukens et al. | A sinewave fitting procedure for characterizing data acquisition channels in the presence of time base distortion and time jitter | |
| EP0308599A2 (en) | Digitizer effective resolution measurement system using estimated sinewave parameters | |
| US20020136337A1 (en) | Method and apparatus for high-resolution jitter measurement | |
| Ramos et al. | Improving sine-fitting algorithms for amplitude and phase measurements | |
| JPH01216272A (ja) | ジッタ測定装置 | |
| Souders et al. | Characterization of a sampling voltage tracker for measuring fast, repetitive signals | |
| Bertocco et al. | Sine-fit versus discrete Fourier transform-based algorithms in SNR testing of waveform digitizers | |
| Kyriazis | Extension of Swerlein's algorithm for AC voltage measurement in the frequency domain | |
| JPS6394170A (ja) | セトリング特性測定方法 | |
| JP3139803B2 (ja) | インパルス応答測定装置 | |
| CN116299110A (zh) | 一种用于双指数波形式电磁脉冲测量的时域标定方法 | |
| Deyst et al. | Uncertainties of frequency response estimates derived from responses to uncertain step-like inputs | |
| Link | Calibration of accelerometers by shock excitation and laser interferometry | |
| JP3147915B2 (ja) | 波形測定方法 | |
| Lihua et al. | A discrete transfer function model for the timedomain calibration data of EMP sensors | |
| Gori et al. | Application of a phase measurement algorithm to digitizing oscilloscope characterization | |
| Narduzzi et al. | A time-domain method for the accurate characterization of linear systems |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D02 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080317 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090317 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |