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JP2980853B2 - Apparatus and method for estimating performance of integrated circuit - Google Patents

Apparatus and method for estimating performance of integrated circuit

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Publication number
JP2980853B2
JP2980853B2 JP8285221A JP28522196A JP2980853B2 JP 2980853 B2 JP2980853 B2 JP 2980853B2 JP 8285221 A JP8285221 A JP 8285221A JP 28522196 A JP28522196 A JP 28522196A JP 2980853 B2 JP2980853 B2 JP 2980853B2
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performance
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integrated circuit
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知恵 岩崎
道明 村岡
謙一 川口
善之 川上
薫 岡崎
大 服部
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レジスタ転送レベ
ルの設計段階における集積回路の面積と動作速度と消費
電力とを推定する集積回路の性能推定装置及びその推定
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated circuit performance estimating apparatus and method for estimating an area, an operating speed, and power consumption of an integrated circuit at a register transfer level designing stage.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、携帯電話機や携帯端末機などの携
帯型情報機器の急速な普及に伴いLSIの低消費電力化
が重要な課題になっている。低消費電力化を図る技術に
LSI設計時の消費電力を見積もる見積もり技術があ
る。
2. Description of the Related Art In recent years, with the rapid spread of portable information devices such as portable telephones and portable terminals, low power consumption of LSIs has become an important issue. As a technique for reducing power consumption, there is an estimation technique for estimating power consumption when designing an LSI.

【0003】従来、LSIの消費電力の見積もりには、
人手若しくは論理合成による論理設計後の論理回路、又
はレイアウト設計後のフィジカル情報をバックアノテー
トした論理回路を対象とする消費電力解析ツールを用い
てきた。
Conventionally, power consumption of an LSI has been estimated by:
Power consumption analysis tools have been used for logic circuits after logic design by manual or logic synthesis, or logic circuits back-annotated with physical information after layout design.

【0004】また、特開平7−160748号公報に
は、論理設計前のハードウエア記述言語(以下、HDL
と略称する。)に基づく方法が開示されている。これ
は、HDLの記述単位を識別し、各記述単位に遅延時間
及び回路規模を算出した後、回路規模にクロック周波数
を乗じて消費電力を算出する方法である。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-160748 discloses a hardware description language (hereinafter referred to as HDL) before logic design.
Abbreviated. ) Is disclosed. This is a method of identifying a description unit of the HDL, calculating a delay time and a circuit scale for each description unit, and then multiplying the circuit scale by a clock frequency to calculate power consumption.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のLSIの消費電力推定方法は、論理設計又はレイア
ウト設計時における論理回路を対象とする性能推定に基
づいた設計フローでは、性能要求を満たせない場合に、
HDL記述の修正と、該修正に伴う再機能検証及び再論
理合成、さらに再レイアウトが必要となるため、設計期
間を長期化させるという問題点を有していた。
However, the conventional method for estimating the power consumption of an LSI does not satisfy the performance requirements in a design flow based on performance estimation for a logic circuit at the time of logic design or layout design. To
Since the modification of the HDL description and the re-function verification and re-synthesis and the re-layout required for the modification are required, there is a problem that the design period is lengthened.

【0006】また、特開平7−160748号公報に開
示されたLSIの消費電力推定方法では、入力されたH
DL記述に含まれる演算子の遅延時間及び回路規模を求
める際に、それを実現する回路の構成を考慮していない
ため、回路の面積が小さい構成では遅延時間が大きくな
り、遅延時間が小さい構成では面積が大きくなるという
面積と遅延時間とのトレードオフで表わされる設計空間
の探索ができず、論理合成の結果に対する正確な推定が
できないという問題点を有していた。さらに、回路規模
にのみ基づいて消費電力を算出しているため、平均的な
消費電力しか得ることができず、活性化確率に基づいた
低消費電力化設計ができないという問題点を有してい
た。
In the method for estimating power consumption of an LSI disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-160748,
When calculating the delay time and the circuit size of the operators included in the DL description, the configuration of the circuit for realizing the delay time is not taken into account. Therefore, the configuration in which the circuit area is small increases the delay time and the configuration in which the delay time is small. In this case, there is a problem that a design space expressed by a trade-off between the area and the delay time that the area becomes large cannot be searched, and an accurate estimation of a result of logic synthesis cannot be performed. Furthermore, since power consumption is calculated based only on the circuit scale, only average power consumption can be obtained, and there is a problem that low power consumption design cannot be performed based on the activation probability. .

【0007】LSIの大規模化が進むに連れて詳細設計
後の修正は膨大な工数を要し、設計の早い段階におい
て、後工程の詳細設計を見通した面積や動作速度や消費
電力を高精度に推定することが必要となってきている。
[0007] As the scale of LSIs increases, the modification after detailed design requires enormous man-hours, and in the early stages of design, the area, operating speed, and power consumption in view of the detailed design of the post-process are highly accurate. It is necessary to make an estimate.

【0008】本発明は上記問題点に鑑み、設計段階の早
期にLSIの面積、動作速度及び消費電力を推定できる
ようにすることを目的とする。
In view of the above problems, an object of the present invention is to make it possible to estimate the area, operation speed, and power consumption of an LSI at an early stage of a design stage.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明は、レジスタ転送レベルの集積回路における
機能部品の活性化確率を計算すると共に、回路の面積と
動作速度と消費電力との各所定の性能を満たすように、
論理マクロライブラリから論理マクロを選択して各機能
部品にそれぞれ割り付けるものである。
In order to achieve the above object, the present invention calculates an activation probability of a functional component in an integrated circuit at a register transfer level, and calculates a circuit area, an operation speed, and power consumption. To satisfy each prescribed performance,
A logic macro is selected from a logic macro library and assigned to each functional component.

【0010】本発明に係る第1の集積回路の性能推定装
置は、複数の機能部品からなる集積回路におけるレジス
タ転送レベルの設計情報が入力され、該設計情報を前記
複数の機能部品同士が接続される接続情報に変換する接
続情報変換手段と、前記各機能部品の活性化確率を
め、求めた活性化確率を前記各機能部品ごとに設定する
活性化確率設定手段と、同一機能を有し且つ回路構成が
異なり、前記各機能部品を実現する複数の論理マクロを
格納する論理マクロライブラリと、前記集積回路の前記
機能部品ごとに面積と動作速度と消費電力とを算出し、
算出結果に基づいて前記集積回路の所定の性能を満たす
ように前記論理マクロライブラリから論理マクロをそれ
ぞれ選択し、選択された前記論理マクロを前記各機能部
品に割り付けるマクロ割付手段と、前記マクロ割付手段
により割り付けられた論理マクロを割付情報として出力
する割付情報出力手段とを備えている。
[0010] A first integrated circuit performance estimating apparatus according to the present invention.
Location is design information of a register transfer level in an integrated circuit comprising a plurality of functional components is input, a connection information converting means for converting the design information in the connection information of the plurality of functional components are connected to each other, each of said function the activation probability of parts required
Activation probability setting means for setting the obtained activation probability for each of the functional components; and a logic macro for storing a plurality of logic macros having the same function but different circuit configurations and realizing the respective functional components. Library, calculate the area, operation speed, and power consumption for each of the functional components of the integrated circuit,
Macro allocating means for respectively selecting a logic macro from the logic macro library so as to satisfy a predetermined performance of the integrated circuit based on a calculation result, and allocating the selected logic macro to each functional component; and the macro allocating means And an assignment information output means for outputting the logic macros assigned by (1) as assignment information .

【0011】第1の集積回路の性能推定装置によると、
論理マクロライブラリは同一機能を有し且つ回路構成が
異なり、機能部品を実現する複数の論理マクロを格納し
ており、マクロ割付手段は所定の性能を満たすように各
機能部品に対して論理マクロを割り付ける。一方、所定
の性能を満たさない場合には論理合成を行なう前にRT
LのHDL記述を変更することができる。また、活性化
確率設定手段は各機能部品に入力される入力信号のビッ
トの活性化確率又は機能部品から出力される出力信号の
ビットの活性化確率の入力を受け、該活性化確率を各機
能部品に設定するため、実際の回路に即した低消費電力
化を図ることができる。
According to the first integrated circuit performance estimation device,
The logic macro library has the same function and a different circuit configuration, and stores a plurality of logic macros for realizing the functional components. The macro allocating means assigns the logical macro to each functional component so as to satisfy a predetermined performance. Assign. On the other hand, if the predetermined performance is not satisfied, RT
The HDL description of L can be changed. The activation probability setting means receives an activation probability of a bit of an input signal input to each functional component or an activation probability of a bit of an output signal output from the functional component, and determines the activation probability for each device.
Since it is set as a functional component , power consumption can be reduced in accordance with an actual circuit.

【0012】第1の集積回路の性能推定装置において、
前記マクロ割付手段は、前記各機能部品に対し、前記論
理マクロライブラリに格納されている複数の論理マクロ
のうちの割付可能な論理マクロのリストである割付候補
リストをそれぞれ作成する割付候補リスト作成部と、前
記割付候補リストから、性能評価関数の値を最小にする
論理マクロを選択するマクロ選択部と、選択された前記
論理マクロに基づいて前記集積回路の前記機能部品ごと
に面積と動作速度と消費電力とよりなる性能推定要素を
算出する性能推定要素算出部と、前記性能推定要素算出
部が算出した性能推定要素に基づき前記性能評価関数を
算出して前記マクロ選択部に出力する性能推定部とを有
していることが好ましい。
In the first device for estimating the performance of an integrated circuit,
The macro allocating unit is configured to generate, for each of the functional components, an allocation candidate list that is a list of assignable logical macros among a plurality of logical macros stored in the logical macro library. And a macro selection unit that selects a logic macro that minimizes the value of the performance evaluation function from the allocation candidate list, and an area and an operation speed for each of the functional components of the integrated circuit based on the selected logic macro. A performance estimating element calculating unit for calculating a performance estimating element composed of power consumption; and a performance estimating unit for calculating the performance evaluation function based on the performance estimating element calculated by the performance estimating element calculating unit and outputting the function to the macro selecting unit. It is preferable to have

【0013】第1の集積回路の性能推定装置において、
前記論理マクロは、該論理マクロのビット幅からゲート
数を算出するゲート数算出式と、前記ビット幅から前記
論理マクロの遅延時間を算出する遅延算出式と、1ビッ
ト当たりの移動電荷量とを有していることが好ましい。
In a first integrated circuit performance estimation device,
The logic macro includes a gate number calculation formula for calculating the number of gates from the bit width of the logic macro, a delay calculation formula for calculating the delay time of the logic macro from the bit width, and a moving charge amount per bit. It is preferable to have.

【0014】本発明に係る第2の集積回路の性能推定装
置は、ゲートを有する複数の論理マクロを格納する論理
マクロライブラリと、前記論理マクロを用いて構成され
た集積回路の接続情報が入力される接続情報入力手段
と、前記各論理マクロに対するそれぞれの活性化確率を
表わした活性化確率情報が入力される活性化確率情報入
力手段と、前記各論理マクロの前記ゲート数の総和から
前記集積回路の面積を算出する回路面積算出手段と、算
出された前記集積回路の面積に基づいて前記論理マクロ
同士を互いに接続する仮想配線を算出し、該仮想配線に
おける配線長と配線抵抗と配線容量とから前記仮想配線
の遅延時間を算出する仮想配線遅延算出手段と、前記各
論理マクロの遅延時間と前記仮想配線の遅延時間とから
前記集積回路の動作速度を算出する動作速度算出手段
と、前記各論理マクロの前記活性化確率と前記論理マク
ロの1ビット当たりの移動電荷量と前記配線容量とから
消費電力を求める消費電力算出手段とを備えている。
A second integrated circuit performance estimating apparatus according to the present invention.
Location includes a logical macro library that stores a plurality of logical macro having a gate, a connection information input means for connection information is input of the integrated circuit using the logical macro, each activity for each logical macro Activation probability information input means for inputting activation probability information representing activation probability; circuit area calculating means for calculating an area of the integrated circuit from a sum of the gate numbers of the respective logic macros; Virtual wiring delay calculating means for calculating a virtual wiring connecting the logic macros to each other based on an area of the integrated circuit, and calculating a delay time of the virtual wiring from a wiring length, a wiring resistance, and a wiring capacitance in the virtual wiring; Operating speed calculating means for calculating an operating speed of the integrated circuit from a delay time of each of the logic macros and a delay time of the virtual wiring; And a power consumption calculation means for calculating power consumption from the wiring capacitance and mobile charge amount per bit of the logic macro and the activation probability.

【0015】第2の集積回路の性能推定装置によると、
回路面積算出手段はゲート数の総和から集積回路の面積
を算出し、仮想配線遅延算出手段は算出された回路の面
積に基づいて論理マクロ同士を互いに接続する仮想配線
を算出し、該仮想配線における配線長と配線抵抗と配線
容量とから仮想配線の遅延時間を計算するため、回路の
論理部だけでなく配線の遅延及び重み付き容量を求める
ことができる。
According to the second integrated circuit performance estimation device,
The circuit area calculation means calculates the area of the integrated circuit from the total number of gates, and the virtual wiring delay calculation means calculates virtual wiring connecting the logic macros to each other based on the calculated circuit area. Since the delay time of the virtual wiring is calculated from the wiring length, the wiring resistance, and the wiring capacitance, not only the logic part of the circuit but also the wiring delay and the weighted capacitance can be obtained.

【0016】本発明に係る第1の集積回路の性能推定方
法は、複数の機能部品からなり、レジスタ転送レベルの
集積回路の性能推定方法を対象とし、同一機能を有し且
つ回路構成が異なり、前記各機能部品を実現する複数の
論理マクロを格納する論理マクロライブラリを準備する
論理マクロライブラリ準備工程と、前記集積回路のレジ
スタ転送レベルの設計情報が入力され、該設計情報を前
記複数の機能部品同士が接続される接続情報に変換する
接続情報変換工程と、前記各機能部品の活性化確率を
め、求めた活性化確率を前記各機能部品ごとに設定する
活性化確率設定工程と、前記集積回路の前記機能部品ご
とに面積と動作速度と消費電力とを算出した後、前記集
積回路の所定の性能を満たすように前記論理マクロライ
ブラリから論理マクロを選択し、選択された前記論理マ
クロを前記各機能部品にそれぞれ割り付けるマクロ割付
工程と、前記各機能部品に割り付けられた論理マクロを
割付情報として出力する割付情報出力工程とを備えてい
る。
A method for estimating the performance of a first integrated circuit according to the present invention
The method is intended for a method for estimating the performance of an integrated circuit at a register transfer level, comprising a plurality of functional components, and having a same function but a different circuit configuration, and storing a plurality of logic macros for realizing the functional components. A logic macro library preparation step of preparing a macro library; and a connection information conversion step of receiving design information at a register transfer level of the integrated circuit and converting the design information into connection information for connecting the plurality of functional components. , determined the activation probability for each functional component
An activation probability setting step of setting the obtained activation probability for each of the functional components ; and calculating an area, an operation speed, and power consumption for each of the functional components of the integrated circuit. A macro assignment step of selecting a logic macro from the logic macro library to satisfy the performance of the above, and assigning the selected logic macro to each of the functional components, and a logic macro assigned to each of the functional components as assignment information. have an allocation information output step of outputting
You.

【0017】第1の集積回路の性能推定方法によると、
あらかじめ、同一機能を有し且つ回路構成が異なり、機
能部品を実現する複数の論理マクロを格納する論理マク
ロライブラリを準備しておき、マクロ割付工程において
所定の性能を満足するように各機能部品に対して論理マ
クロを割り付ける。一方、所定の性能を満たさない場合
には論理合成を行なう前にRTLのHDL記述を変更す
ることができる。また、活性化確率設定工程において各
機能部品に入力される入力信号のビットの活性化確率又
は機能部品から出力される出力信号のビットの活性化確
率を各機能部品に設定するため、実際の回路に即した低
消費電力化を図ることができる。
According to the first method for estimating the performance of an integrated circuit,
A logic macro library having a plurality of logic macros having the same functions and different circuit configurations and realizing the functional components is prepared in advance, and each functional component is designed to satisfy a predetermined performance in the macro allocating process. Assign a logic macro to it. On the other hand, if the predetermined performance is not satisfied, the HDL description of the RTL can be changed before performing the logic synthesis. Further, in the activation probability setting step, the activation probability of the bit of the input signal input to each functional component or the activation probability of the bit of the output signal output from the functional component is set for each functional component. And low power consumption can be achieved.

【0018】第1の集積回路の性能推定方法において、
前記マクロ割付工程は、前記各機能部品に対し、前記論
理マクロライブラリに格納されている複数の論理マクロ
のうちの割付可能な論理マクロのリストである割付候補
リストをそれぞれ作成する割付候補リスト作成工程と、
前記機能部品ごとの性能評価関数を作成する性能評価関
数作成工程と、前記各機能部品に対し、前記割付候補リ
ストから前記性能評価関数の値を最小にする論理マクロ
を選択する論理マクロ選択工程と、前記集積回路の面積
と動作速度と消費電力とを算出することにより、前記集
積回路の性能を推定する性能推定工程と、推定された性
能が所定の性能を満たすか否かを判定する性能判定工程
と、前記推定された性能が前記所定の性能を満たさない
場合は前記性能評価関数を調整する性能評価関数調整工
程と、前記推定された性能が前記所定の性能を満たすま
で、前記論理マクロ選択工程と前記性能推定工程と前記
性能判定工程と前記性能評価関数調整工程とを繰り返す
反復工程とを含むことが好ましい。
In a first integrated circuit performance estimation method,
The macro allocating step is an allocation candidate list creating step of creating, for each of the functional components, an allocation candidate list that is a list of assignable logical macros among a plurality of logical macros stored in the logical macro library. When,
A performance evaluation function creating step of creating a performance evaluation function for each functional component; and a logic macro selecting step of selecting a logic macro that minimizes the value of the performance evaluation function from the allocation candidate list for each of the functional components. A performance estimation step of estimating the performance of the integrated circuit by calculating an area, an operation speed, and power consumption of the integrated circuit; and a performance determination of determining whether the estimated performance satisfies a predetermined performance. And a performance evaluation function adjusting step of adjusting the performance evaluation function when the estimated performance does not satisfy the predetermined performance, and selecting the logic macro until the estimated performance satisfies the predetermined performance. It is preferable to include an iterative process of repeating a process, the performance estimation process, the performance determination process, and the performance evaluation function adjustment process .

【0019】第1の集積回路の性能推定方法において、
前記性能評価関数作成工程の前記性能評価関数は、重み
付けパラメータをそれぞれ付加され、ゲート数と遅延時
間と活性化確率及び容量の積よりなる重み付き容量とを
有しており、前記性能評価関数調整工程は、選択された
前記論理マクロにより実現された機能部品からなる前記
集積回路の面積と動作速度と消費電力とのいずれかに対
して前記所定の性能を満たさない場合に、クリティカル
パス上に存在する機能部品における前記性能評価関数の
遅延時間の重み付けパラメータを変更することにより前
記性能評価関数を調整する遅延時間調整工程と、クリテ
ィカルパス以外のパス上に存在し且つ活性化確率の高い
機能部品における前記性能評価関数の重み付き容量の重
み付けパラメータを変更することにより前記性能評価関
数を調整する容量調整工程と、残りの機能部品における
前記性能評価関数のゲート数の重み付けパラメータを変
更することにより前記性能評価関数を調整するゲート数
調整工程とを含むことが好ましい。
In a first method for estimating the performance of an integrated circuit,
The performance evaluation function of the performance evaluation function creating step has a weighted parameter added thereto, and has a weighted capacity which is a product of the number of gates, a delay time, an activation probability and a capacity, and the performance evaluation function adjustment The step exists on the critical path when the predetermined performance is not satisfied with respect to any of the area, operation speed, and power consumption of the integrated circuit including the functional components realized by the selected logic macro A delay time adjusting step of adjusting the performance evaluation function by changing a delay time weighting parameter of the performance evaluation function in the functional component to be executed, and a functional component having a high activation probability on a path other than the critical path. A capacity for adjusting the performance evaluation function by changing a weighting parameter of a weighted capacity of the performance evaluation function And settling step, preferably includes a gate speed adjusting step of adjusting said performance evaluation function by changing the weighting parameter of the number of gates in the performance evaluation function in the remaining functional components.

【0020】本発明に係る第2の集積回路の性能推定方
法は、ゲートを有する複数の論理マクロを用いて構成さ
れた集積回路の接続情報を入力する接続情報入力工程
と、前記各論理マクロに対するそれぞれの活性化確率を
表わした活性化確率情報を入力する活性化確率情報入力
工程と、前記各論理マクロの前記ゲート数の総和から前
記集積回路の面積を算出する回路面積算出工程と、前記
回路面積に基づいて前記論理マクロ同士を互いに接続す
る仮想配線を推定し、該仮想配線における配線長と配線
抵抗と配線容量とから前記仮想配線の遅延時間を算出す
る仮想配線遅延算出工程と、前記各論理マクロの遅延時
間と前記仮想配線の遅延時間とから前記集積回路の動作
速度を算出する動作速度算出工程と、前記各論理マクロ
の前記活性化確率と前記論理マクロの1ビット当たりの
移動電荷量と前記配線容量とから消費電力を算出する消
費電力算出工程とを備えている。
A method for estimating the performance of a second integrated circuit according to the present invention
The method comprises the steps of: inputting connection information of an integrated circuit constituted by using a plurality of logic macros having gates; and inputting activation probability information representing activation probabilities for the respective logic macros. An activation probability information inputting step, a circuit area calculating step of calculating an area of the integrated circuit from a sum of the gate numbers of the respective logic macros, and a virtual wiring connecting the logic macros to each other based on the circuit area. A virtual wiring delay calculating step of estimating and calculating a delay time of the virtual wiring from a wiring length, a wiring resistance, and a wiring capacitance in the virtual wiring; and calculating the delay time of each logical macro and the delay time of the virtual wiring. An operation speed calculation step of calculating an operation speed of the integrated circuit; an activation probability of each of the logic macros; a moving charge amount per bit of the logic macro; And a power calculating step of calculating a power consumption and a capacity.

【0021】第2の集積回路の性能推定方法によると、
回路面積算出工程においてゲート数の総和から集積回路
の面積を算出し、仮想配線遅延算出工程において回路面
積に基づいて論理マクロ同士を互いに接続する仮想配線
を推定し、該仮想配線における配線長と配線抵抗と配線
容量とから仮想配線の遅延時間を計算するため、回路の
論理部だけでなく配線の遅延及び重み付き容量を求める
ことができる。
According to the second integrated circuit performance estimation method,
In the circuit area calculation step, the area of the integrated circuit is calculated from the sum of the number of gates, and in the virtual wiring delay calculation step, the virtual wiring connecting the logic macros to each other is estimated based on the circuit area, and the wiring length and the wiring in the virtual wiring Since the delay time of the virtual wiring is calculated from the resistance and the wiring capacitance, not only the logic part of the circuit but also the wiring delay and weighted capacitance can be obtained.

【0022】第2の集積回路の性能推定方法において、
前記回路面積算出工程と前記仮想配線遅延算出工程との
間に、前記回路面積算出工程において算出された回路面
積を有する方形領域を設定し、該方形領域内に前記論理
マクロを配置する論理マクロ配置工程を備えていること
が好ましい。
In a second integrated circuit performance estimation method,
A logic macro arrangement for setting a square region having the circuit area calculated in the circuit area calculation step between the circuit area calculation step and the virtual wiring delay calculation step, and arranging the logic macro in the square area that it comprises a process
Is preferred.

【0023】第2の集積回路の性能推定方法において、
前記消費電力算出工程は、前記論理マクロの1ビット当
たりの移動電荷量と、前記集積回路における前記論理マ
クロの入力信号又は出力信号の各ビットが活性化する活
性化確率とから単位時間当たりの前記論理マクロの平均
移動電荷量を算出する工程と、前記平均移動電荷量と前
記集積回路の動作時の電源電圧と回路の動作速度とから
前記論理マクロの消費電力を算出する工程とを含むこと
が好ましい。
In a second method for estimating the performance of an integrated circuit,
The power consumption calculating step includes calculating the amount of mobile charge per bit of the logic macro and an activation probability that each bit of an input signal or an output signal of the logic macro in the integrated circuit is activated. comprise a step of calculating an average movement amount of charge logic macro, and a step of calculating the power consumption of the logic macro and a operating speed of the power supply voltage and circuit during operation of said average moving amount of charge the integrated circuit
Is preferred.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

(第1の実施形態)本発明の第1の実施形態を図面を参
照しながら説明する。
(First Embodiment) A first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0025】図1は本発明の第1の実施形態に係るレジ
スタ転送レベルの集積回路の性能推定装置の機能ブロッ
ク図である。図1において、1はレジスタ転送レベル
(以下、RTLと略称する)の集積回路の構成要素であ
るレジスタや加算器、乗算器等の演算子からなる機能部
品を実現する論理マクロを格納する論理マクロライブラ
リである。論理マクロライブラリ1は、各機能部品に対
して同一機能を有し且つ回路構成が異なる複数の論理マ
クロを格納している。2は回路の面積、動作速度及び消
費電力の所定の目標値を設定した性能要求ファイルであ
る。3はRTL設計情報10をHDLを用いて記述した
ファイルが入力され、該RTL設計情報をレジスタや演
算子等の機能部品の接続情報に変換する接続情報変換手
段である。4は各機能部品の該活性化確率を接続情報に
設定する活性化確率設定手段である。5は性能要求ファ
イル2から与えられた所定の性能を満足するように各機
能部品に対して該機能部品に対応する論理マクロを選択
するマクロ割付手段である。マクロ割付手段5は、論理
マクロライブラリ1から各機能部品に対して割付候補と
なる論理マクロのリストをそれぞれ作成する割付候補リ
スト作成部51と、作成された各割付候補リストから適
当な論理マクロを選択するマクロ選択部52と、選択さ
れた論理マクロを用いて回路の面積と動作速度と消費電
力とを算出してそれぞれ推定する性能推定部53とから
構成されている。6はマクロ割付手段5の割り付け結果
を割付情報として出力する割付情報出力手段である。
FIG. 1 is a functional block diagram of an apparatus for estimating the performance of an integrated circuit at a register transfer level according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a logic macro for storing a logic macro for realizing a functional component including an operator such as a register, an adder, or a multiplier, which is a component of an integrated circuit of a register transfer level (hereinafter abbreviated as RTL). Library. The logic macro library 1 stores a plurality of logic macros having the same function for each functional component and different circuit configurations. Reference numeral 2 denotes a performance request file in which predetermined target values of the circuit area, operation speed, and power consumption are set. Reference numeral 3 denotes a connection information conversion unit which receives a file in which the RTL design information 10 is described using HDL and converts the RTL design information into connection information of functional components such as registers and operators. Reference numeral 4 denotes activation probability setting means for setting the activation probability of each functional component in connection information. Numeral 5 is a macro allocating means for selecting a logical macro corresponding to each functional component so as to satisfy a predetermined performance given from the performance request file 2. The macro allocating means 5 includes an allocation candidate list creator 51 that creates a list of logical macros to be assigned to each functional component from the logical macro library 1, and an appropriate logical macro from the created assignment candidate list. It comprises a macro selection unit 52 to be selected, and a performance estimating unit 53 that calculates and estimates the circuit area, operation speed, and power consumption using the selected logic macro. Reference numeral 6 denotes assignment information output means for outputting the assignment result of the macro assignment means 5 as assignment information.

【0026】以下、前記のように構成された集積回路の
性能推定装置の動作を図面を参照しながら説明する。
Hereinafter, the operation of the integrated circuit performance estimating apparatus configured as described above will be described with reference to the drawings.

【0027】図2は第1の実施形態に係る集積回路の性
能推定装置における性能推定方法を示す流れ図である。
あらかじめ、RTLの回路の構成要素であるレジスタや
加算器、乗算器等の演算子からなる機能部品を実現する
論理マクロが格納された論理マクロライブラリ1は準備
されているものとする。
FIG. 2 is a flow chart showing a performance estimation method in the integrated circuit performance estimation device according to the first embodiment.
It is assumed that a logic macro library 1 storing logic macros for realizing functional components including operators such as registers, adders, and multipliers, which are components of the RTL circuit, is prepared in advance.

【0028】図2に示すように、まず、接続情報変換工
程ST1において、接続情報変換手段3に入力されたR
TL設計情報10はレジスタや演算子等の機能部品の接
続情報に変換され、活性化確率設定手段4に出力され
る。
As shown in FIG. 2, first, in the connection information conversion step ST1, the R input to the connection information conversion means 3 is input.
The TL design information 10 is converted into connection information of functional components such as registers and operators, and is output to the activation probability setting means 4.

【0029】次に、活性化確率設定工程ST2におい
て、活性化確率設定手段4は、設計者から与えられた該
論理回路の入力ピンの活性化確率から確率的に各機能部
品の各ビットの活性化確率を求め、該活性化確率をビッ
トのベクトル表現で各機能部品に設定する。例えば、2
入力ANDの場合は、出力信号が1になる確率をP1とす
ると、P1は(一方の入力の活性化確率÷2)×(他方の入
力の活性化確率÷2)であり、活性化確率は(1−P1)
×P1×2 で求めることができる。4ビットの入力ピン
の活性化確率がそれぞれ(1,1,1,1) と(1,1,
1,0.5) との場合は、2入力ANDの活性化確率は
(0.375,0.375,0.375,0.22)となる。その後、活性化確
率が設定された機能部品の接続情報をマクロ割付手段5
に出力する。
Next, in the activation probability setting step ST2, the activation probability setting means 4 stochastically activates each bit of each functional component from the activation probability of the input pin of the logic circuit given by the designer. The activation probability is obtained, and the activation probability is set for each functional component in a vector representation of bits. For example, 2
In the case of an input AND, assuming that the probability that the output signal becomes 1 is P1, P1 is (activation probability of one input ÷ 2) × (activation probability of the other input ÷ 2), and the activation probability is (1-P1)
× P1 × 2. The activation probabilities of the 4-bit input pins are (1,1,1,1) and (1,1,1,2), respectively.
In the case of (1, 0.5), the activation probability of the two-input AND is (0.375, 0.375, 0.375, 0.22). After that, the connection information of the functional component for which the activation probability has been set is transferred to the macro allocating unit 5.
Output to

【0030】次に、マクロ割付工程としての性能推定及
び割付工程ST3において、マクロ割付手段5における
割付候補リスト作成部51は論理マクロライブラリ1か
ら各機能部品に割り付けることが可能な、すなわち各機
能部品を実現することが可能な論理マクロをそれぞれ選
択して割付候補リストを作成する。その後、マクロ選択
部52は、割付候補リストの論理マクロが性能要求ファ
イル2に記述された性能要求を満足するか否かを性能推
定部53において順次評価し、該評価結果から最適な論
理マクロを選択する。
Next, in a performance estimation and allocation step ST3 as a macro allocation step, the allocation candidate list creating section 51 in the macro allocation means 5 can allocate each functional component from the logical macro library 1, ie, each functional component. Are selected, and an assignment candidate list is created. Thereafter, the macro selecting unit 52 sequentially evaluates whether or not the logical macros in the allocation candidate list satisfy the performance requirements described in the performance requirement file 2 in the performance estimating unit 53, and determines an optimal logical macro from the evaluation result. select.

【0031】次に、割付情報出力工程ST4において割
付情報出力手段6は、選択された論理マクロを割付結果
として結果格納ファイルに出力する。
Next, in the assignment information output step ST4, the assignment information output means 6 outputs the selected logic macro to the result storage file as an assignment result.

【0032】図3は論理マクロライブラリ1に格納され
た各論理マクロが有する情報を表わしている。論理マク
ロは該論理マクロの名称11と、該論理マクロの機能1
2と、該論理マクロのゲート数算出式としてのゲート数
算出関数13と、該論理マクロの遅延算出式としての遅
延算出関数14と、該論理マクロの1ビット当たりの移
動電荷量15とを有し、該論理マクロがレジスタの場合
はさらにセットアップ時間16と、クロックによる移動
電荷量17とを有している。
FIG. 3 shows information possessed by each logic macro stored in the logic macro library 1. The logic macro is a name 11 of the logic macro and a function 1 of the logic macro.
2, a gate number calculation function 13 as a logic macro gate number calculation formula, a delay calculation function 14 as a logic macro delay calculation formula, and a moving charge amount 15 per bit of the logic macro. When the logic macro is a register, the logic macro further has a setup time 16 and a moving charge amount 17 due to a clock.

【0033】図4(a)は論理マクロのビット幅とゲー
ト数との関係を示し、図4(b)は論理マクロのビット
幅と遅延時間との関係を示すグラフである。ゲート数算
出関数13は図4(a)に示す直線18a,18bのよ
うに、ビット幅の1次関数として表現できる。一方、遅
延算出関数14は図5(b)に示す直線19aのように
ビット幅の1次関数として表現できる場合と、図5
(b)に直線19bのようにビット幅に無関係に定数と
なる場合とがある。算術演算子は前者の1次関数型であ
り、2項論理演算子やレジスタは後者の定数型である。
FIG. 4A is a graph showing the relationship between the bit width of the logic macro and the number of gates, and FIG. 4B is a graph showing the relationship between the bit width of the logic macro and the delay time. The gate number calculation function 13 can be expressed as a linear function of the bit width as shown by straight lines 18a and 18b shown in FIG. On the other hand, the case where the delay calculation function 14 can be expressed as a linear function of the bit width like a straight line 19a shown in FIG.
(B) may be a constant irrespective of the bit width like the straight line 19b. Arithmetic operators are the former linear function type, and binary logical operators and registers are the latter constant type.

【0034】一般に、1つのハードウエア資源による消
費電力は、 消費電力=活性化確率×容量×電源電圧の2乗×クロック周波数 …(1) により求めることができる。
In general, the power consumption by one hardware resource can be obtained by the following formula: power consumption = activation probability × capacity × square of power supply voltage × clock frequency (1).

【0035】本実施形態における論理マクロの消費電力
は、論理マクロのすべての入力及び出力信号の活性化確
率、並びに論理マクロライブラリ1から得られる1ビッ
ト当たりの移動電荷量を用い、式(1)の活性化確率×
容量の項が表わす単位時間当たりの平均移動電荷量を重
み付き容量として式(2)に置き換えて計算する。
The power consumption of the logic macro in this embodiment is calculated by using the activation probabilities of all the input and output signals of the logic macro and the amount of mobile charge per bit obtained from the logic macro library 1 using the following equation (1). Activation probability of ×
The calculation is performed by replacing the average moving charge amount per unit time represented by the term of the capacity with the equation (2) as a weighted capacity.

【0036】 活性化確率×容量 =重み付き容量 =Σ(ビットiの活性化確率)×1ビット当たりの移動電荷量 …(2) ただし、iは正の整数を表わす。Activation probability × capacity = weighted capacity = Σ (activation probability of bit i) × moving charge amount per bit (2) where i represents a positive integer.

【0037】ここで、式(2)におけるビットiの活性
化確率は論理マクロの種類に依存する。例えば、レジス
タ、論理演算又は算術演算のように出力信号がビット幅
を有する場合は出力信号の活性化確率を用いる。一方、
比較演算のように出力信号が1ビットの場合は2つの入
力信号の活性化確率の大きい方を用いる。
Here, the activation probability of the bit i in the equation (2) depends on the type of the logic macro. For example, when the output signal has a bit width as in a register, a logical operation, or an arithmetic operation, the activation probability of the output signal is used. on the other hand,
When the output signal is one bit as in the comparison operation, the one having the larger activation probability of the two input signals is used.

【0038】論理マクロライブラリ1に設定する1ビッ
ト当たりの移動電荷量は、あらかじめ、例えば8ビット
の論理回路を用いて論理マクロを実現し、入力信号の活
性化確率を1としてシミュレーションを行なうことによ
り求めておく。
The amount of mobile charges per bit set in the logic macro library 1 is obtained by, for example, realizing a logic macro using, for example, an 8-bit logic circuit and performing a simulation with the activation probability of an input signal being 1. Ask for it.

【0039】レジスタの消費電力は、入力信号が変化す
るときの消費電力とクロックによる消費電力との和とし
て求められる。すなわち、入力信号が変化するときの消
費電力は出力信号の活性化確率を用いて求められ、ま
た、クロックによる消費電力は論理マクロライブラリ1
から得られるクロックによる移動電荷量17を用いて、
(移動電荷量×電源電圧の2乗×クロック周波数)によ
り求められる。
The power consumption of the register is obtained as the sum of the power consumption when the input signal changes and the power consumption by the clock. That is, the power consumption when the input signal changes is obtained by using the activation probability of the output signal.
Using the moving charge amount 17 by the clock obtained from
(The amount of mobile charge × the square of the power supply voltage × the clock frequency).

【0040】以下、図1に示すマクロ割付手段5の動作
を図面を用いて説明する。
The operation of the macro allocating means 5 shown in FIG. 1 will be described below with reference to the drawings.

【0041】図5は図2に示した性能推定及び割付工程
ST3の詳細を示す流れ図である。図5に示すように、
割付候補リスト作成工程ST31において、割付候補リ
スト作成部51は論理マクロライブラリ1からレジスタ
転送レベルの集積回路の各機能部品に対して該当する論
理マクロをそれぞれ選択して割付候補リストを作成し、
割付候補テーブルに登録する。
FIG. 5 is a flowchart showing details of the performance estimation and allocation step ST3 shown in FIG. As shown in FIG.
In the assignment candidate list creation step ST31, the assignment candidate list creation unit 51 creates an assignment candidate list by selecting a corresponding logic macro for each functional component of the integrated circuit at the register transfer level from the logic macro library 1,
Register in the allocation candidate table.

【0042】図6は本装置が対象とする論理マクロと割
付候補リスト作成部51により作成される割付候補テー
ブルとを示し、図6(a)に示す論理マクロ20は入力
Aと入力Bとを加算して結果Sを出力する8ビット加算
の論理マクロであり、図6(b)に示すテーブルは論理
マクロ20の割付候補テーブルである。
FIG. 6 shows a logical macro targeted by the present apparatus and an assignment candidate table created by the assignment candidate list creating section 51. The logic macro 20 shown in FIG. This is an 8-bit addition logic macro for adding the result S and outputting the result S. The table shown in FIG. 6B is an assignment candidate table for the logic macro 20.

【0043】ここで、図6(a)の論理マクロ20の加
算に対して、論理マクロライブラリ1から、論理マクロ
の機能が加算である論理マクロ20としてrpl(リッ
プルキャリーアダー)とcla(キャリールックアヘッ
ドアダー)とが得られたとする。その結果、図6(b)
に示す割付候補テーブルに、rplとclaとのそれぞ
れの名称21、ゲート数22、遅延23及び重み付き容
量24が格納される。ゲート数22及び遅延23は、図
3に示した各論理マクロのゲート数算出関数13及び遅
延算出関数14にゲート数を代入することにより得られ
る。重み付き容量24は式(2)を用いて得られる。こ
のとき、ゲート数算出関数13により得られる遅延23
が性能要求ファイル2から与えられる動作速度を超える
場合は割付候補テーブルには登録しないことにする。
Here, with respect to the addition of the logic macros 20 shown in FIG. 6A, the logic macro library 1 defines rpl (ripple carry adder) and cla (carry look Ahead adder) is obtained. As a result, FIG.
The names 21, the number of gates 22, the delay 23 and the weighted capacity 24 of rpl and cla are stored in the allocation candidate table shown in FIG. The gate number 22 and the delay 23 are obtained by substituting the gate number into the gate number calculation function 13 and the delay calculation function 14 of each logic macro shown in FIG. The weighted capacity 24 is obtained using equation (2). At this time, the delay 23 obtained by the gate number calculation function 13
Is not registered in the allocation candidate table when the operation speed exceeds the operation speed given from the performance request file 2.

【0044】次に、性能評価関数作成工程ST32にお
いて、性能決定要素算出部を含む割付候補リスト作成部
51は論理マクロごとに該論理マクロの性能評価関数を
作成する。性能評価関数Fは以下に示す式(3)で表わ
される。
Next, in the performance evaluation function creation step ST32, the allocation candidate list creation unit 51 including the performance determinant calculation unit creates a performance evaluation function of each logic macro for each logic macro. The performance evaluation function F is represented by the following equation (3).

【0045】 F=K1・ゲート数・a+K2・遅延・b+K3・重み付き容量・c …(3) ここで、K1,K2及びK3はゲート数、遅延及び重み
付き容量の各項に対して設計者が指定する重み付けパラ
メータであり、性能要求に対する面積、動作速度又は消
費電力にそれぞれ優先順位を与えることができる。な
お、a,b及びcは各項の桁合わせのためのスケーリン
グファクタである。
F = K 1 · number of gates · a + K 2 · delay · b + K 3 · weighted capacity · c (3) where K 1, K 2, and K 3 are designers for terms of the number of gates, delay, and weighted capacity. Is a weighting parameter specified, and priority can be given to the area, the operation speed, or the power consumption for the performance request. Here, a, b and c are scaling factors for digit alignment of each term.

【0046】なお、割付候補リスト作成部51は、必ず
しも性能決定要素算出部を備える必要はなく、マクロ割
付手段5に設けられていればよい。
The allocation candidate list creating section 51 does not necessarily need to include a performance determining element calculating section, but may be provided in the macro allocating means 5.

【0047】次に、論理マクロ選択工程ST33におい
て、図1に示すマクロ選択部52は、各機能部品に対し
て作成された割付候補リストの中から性能評価関数Fの
値を最小にする論理マクロをそれぞれ選択する。
Next, in the logic macro selection step ST33, the macro selection unit 52 shown in FIG. 1 makes the logic macro which minimizes the value of the performance evaluation function F from the assignment candidate list created for each functional component. Select each.

【0048】次に、性能推定工程ST34において、こ
こで割付候補リストの中から選択された論理マクロを仮
割付マクロと呼ぶことにすると、性能推定部53は、仮
割付マクロに対して、回路のゲート数、動作速度及び消
費電力を算出した後、判定工程ST35において、性能
要求ファイル2に指定された性能要求を満たしているか
否かを判定する。回路のゲート数は仮割付マクロのゲー
ト数の総和として求められる。また、レジスタ間におけ
るパス上の仮割付マクロの遅延の和を用いてパス遅延を
求め、該パス遅延の最大値を回路の動作速度とする。ま
た、仮割付マクロの重み付き容量と電源電圧と動作速度
とを以下に示す式(4)に代入して消費電力を求める。
なお、電源電圧は設計者が与える。
Next, in the performance estimation step ST34, if the logic macro selected from the allocation candidate list here is referred to as a temporary allocation macro, the performance estimation unit 53 After calculating the number of gates, the operation speed, and the power consumption, in a determination step ST35, it is determined whether or not the performance requirement specified in the performance requirement file 2 is satisfied. The number of gates of the circuit is obtained as the sum of the number of gates of the provisionally allocated macro. The path delay is obtained by using the sum of the delays of the temporary allocation macros on the path between the registers, and the maximum value of the path delay is used as the operation speed of the circuit. Further, the power consumption is obtained by substituting the weighted capacity, the power supply voltage, and the operation speed of the temporarily allocated macro into the following equation (4).
The power supply voltage is given by a designer.

【0049】 消費電力=Σ論理マクロの重み付き容量×電源電圧の2乗÷動作速度 …(4 )Power consumption = {weighted capacity of logic macro × square of power supply voltage} operating speed (4)

【0050】所定の性能要求を満たしておれば、仮割付
マクロを最適な論理マクロとして割り付け、処理を終了
し、満たしていなければ性能評価関数調整工程ST36
において性能評価関数Fの重みつけパラメータK1〜K
3を変更した後、論理マクロ選択工程ST33から順次
性能要求を満たすまで繰り返す。
If the predetermined performance requirement is satisfied, the provisionally allocated macro is allocated as an optimal logic macro, and the processing is terminated. If not, the performance evaluation function adjusting step ST36
, The weighting parameters K1 to K of the performance evaluation function F
After changing the number 3, the process is repeated from the logic macro selection step ST33 until the performance requirement is satisfied.

【0051】性能評価関数調整工程ST36において、
機能部品ごとに式(3)に示す性能評価関数Fの各重み
付けパラメータK1〜K3を変更していく。すなわち、
各項ごとに、性能要求として与えられた動作速度を越え
るクリティカルパス上に存在している機能部品に対して
遅延の重みK2を(推定動作速度÷要求動作速度)倍に
増やす遅延時間調整工程と、クリティカルパスでないパ
ス上に存在し且つ活性化確率が高い機能部品に対して重
み付き容量の重みK3を(推定消費電力÷要求消費電
力)倍に増やす容量調整工程と、残りの機能部品に対し
てゲート数の重みK1を(推定面積÷要求面積)倍に増
やすゲート数調整工程とのいずれかを実行する。ただ
し、あらかじめK1,K2,K3のそれぞれの上限を設
定し、すべての機能部品の評価関数の重みがその範囲を
越え、性能評価関数Fが設定できなくなった場合は、エ
ラー判定工程ST37においてエラーと判定して終了す
る。
In the performance evaluation function adjusting step ST36,
The weighting parameters K1 to K3 of the performance evaluation function F shown in Expression (3) are changed for each functional component. That is,
A delay time adjusting step of increasing the delay weight K2 by a factor of (estimated operating speed / required operating speed) for a functional component existing on a critical path exceeding an operating speed given as a performance requirement for each term; A capacity adjusting step of increasing the weight K3 of the weighted capacity to (estimated power consumption / required power consumption) times for a functional component existing on a path that is not a critical path and having a high activation probability; To increase the weight K1 of the number of gates by a factor of (estimated area / required area). However, if the upper limits of K1, K2, and K3 are set in advance, and the weights of the evaluation functions of all the functional components exceed the range and the performance evaluation function F cannot be set, an error is determined in the error determination step ST37. Judge and end.

【0052】このように、本実施形態によると、論理マ
クロライブラリと、レジスタ転送レベルの集積回路にお
ける面積、動作速度及び消費電力の性能要求を満足する
ように、回路を構成する各機能部品に対して性能評価関
数の値を最小にする論理マクロを選択するマクロ選択部
及び性能推定部とを設けることにより、面積と動作速度
と消費電力とのトレードオフを考慮した高精度の性能推
定を行なうことできる。
As described above, according to the present embodiment, the logic macro library and each functional component constituting the circuit are designed to satisfy the performance requirements of the area, operation speed, and power consumption of the integrated circuit at the register transfer level. Providing a macro selector and a performance estimator for selecting a logic macro that minimizes the value of the performance evaluation function to perform high-precision performance estimation in consideration of a trade-off between area, operation speed, and power consumption it can.

【0053】また、論理マクロライブラリに、機能が同
一で回路構成が異なる複数の論理マクロを格納し、各論
理マクロがビット幅の関数としてゲート数算出関数と遅
延算出関数とを有しており、さらに1ビット当たりの移
動電荷量を有することにより、ビット幅と各ビットの活
性化確率とから適当な機能部品の割付候補となる論理マ
クロのゲート数と遅延と重み付き容量とを求めることが
でき、割り付け時の性能評価関数の計算を容易且つ確実
に行なうことができる。
A plurality of logic macros having the same function but different circuit configurations are stored in the logic macro library, and each logic macro has a gate number calculation function and a delay calculation function as functions of the bit width. Further, by having the amount of mobile charge per bit, the number of gates, delay, and weighted capacity of a logic macro that is a candidate for allocating appropriate functional components can be obtained from the bit width and the activation probability of each bit. In addition, the calculation of the performance evaluation function at the time of allocation can be performed easily and reliably.

【0054】また、集積回路の性能推定方法に、割付候
補リスト作成工程と、性能評価関数設定工程と、割付候
補リストの中から性能評価関数の値を最小にする論理マ
クロを選択する論理マクロ選択工程及び性能推定工程と
を設け、所定の性能要求を満たすまで性能評価関数の調
整を繰り返すことにより、面積と動作速度と消費電力と
に優先順位を付け、機能部品ごとに回路の面積と遅延と
消費電力とのトレードオフを考慮した論理マクロ割付が
可能となる。
The method for estimating the performance of an integrated circuit includes an allocation candidate list creation step, a performance evaluation function setting step, and a logic macro selection for selecting a logic macro that minimizes the value of the performance evaluation function from the allocation candidate list. Process and performance estimation process, and prioritize the area, operation speed, and power consumption by repeating the adjustment of the performance evaluation function until a predetermined performance requirement is satisfied, and the circuit area, delay, and A logic macro can be assigned in consideration of a trade-off with power consumption.

【0055】また、1ビット当たりの移動電荷量と各ビ
ットの活性化確率とから論理マクロの重み付き容量を求
めることにより、入力信号に変化の多いビットとほとん
ど変化しないビットが存在する場合でも論理マクロ内部
の移動電荷量を正確に推定することができ、RTLでの
消費電力の推定を可能とする。
Further, by obtaining the weighted capacity of the logic macro from the amount of mobile charge per bit and the activation probability of each bit, the logic can be obtained even if the input signal includes a bit that changes frequently and a bit that hardly changes. The amount of mobile charges inside the macro can be accurately estimated, and the power consumption in RTL can be estimated.

【0056】また、機能部品をクリティカルパス上の機
能部品とクリティカルパス上になく且つ活性化確率の高
い機能部品と残りの機能部品とに分け、論理マクロ選択
時の性能評価関数の重み付けパラメータを変更すること
により、機能部品ごとに回路の面積と遅延と消費電力と
のトレードオフを考慮した論理マクロ割付が可能とな
る。
Further, the functional components are divided into the functional components on the critical path, the functional components not on the critical path and having a high activation probability, and the remaining functional components, and the weighting parameters of the performance evaluation function when the logic macro is selected are changed. By doing so, it becomes possible to assign a logic macro in consideration of a trade-off between circuit area, delay, and power consumption for each functional component.

【0057】なお、第1の実施形態において、活性化確
率設定手段又は活性化確率設定工程において確率的に活
性化確率を求めることとしたが、あらかじめテストデー
タを用いたシミュレーションを行ない、RTL記述にお
ける変数の遷移回数から活性化確率を求めてもよい。
In the first embodiment, the activation probability is determined stochastically in the activation probability setting means or the activation probability setting step. However, a simulation using test data is performed in advance, and the RTL description is used. The activation probability may be obtained from the number of transitions of the variable.

【0058】(第2の実施形態)以下、本発明の第2の
実施形態を図面を参照しながら説明する。
(Second Embodiment) Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0059】図7は本発明の第2の実施形態に係るレジ
スタ転送レベルの集積回路の性能推定装置の機能ブロッ
ク図である。図7において、1はRTLの集積回路の構
成要素であるレジスタや加算器、乗算器等の演算子から
なる機能部品を実現する論理マクロを格納する論理マク
ロライブラリである。30はRTL設計情報がレジスタ
や演算子等の機能部品の接続情報として変換された論理
マクロ接続情報であり、31は各機能部品の活性化確率
を接続情報に設定する論理マクロ活性化確率情報であ
る。32はRTLの集積回路の性能推定手段であり、回
路の面積を算出する回路面積算出部321と回路の配線
を推定する配線推定部322と回路の動作速度を算出す
る動作速度算出部323と回路の消費電力を算出する消
費電力算出部324とから構成されている。なお、論理
マクロ接続情報30及び論理マクロ活性化確率情報31
は図1に示したマクロ選択部52から性能推定部53に
渡される情報と同様の情報である。
FIG. 7 is a functional block diagram of an apparatus for estimating the performance of an integrated circuit at the register transfer level according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 7, reference numeral 1 denotes a logic macro library for storing logic macros for realizing functional components including operators such as registers, adders, and multipliers, which are components of an RTL integrated circuit. Reference numeral 30 denotes logic macro connection information obtained by converting RTL design information as connection information of functional components such as registers and operators, and reference numeral 31 denotes logic macro activation probability information for setting the activation probability of each functional component in the connection information. is there. Reference numeral 32 denotes an RTL integrated circuit performance estimating unit, which includes a circuit area calculator 321 for calculating a circuit area, a wiring estimator 322 for estimating circuit wiring, an operation speed calculator 323 for calculating an operation speed of the circuit, and a circuit. And a power consumption calculation unit 324 for calculating the power consumption of the power supply. The logic macro connection information 30 and the logic macro activation probability information 31
Is the same information as the information passed from the macro selection unit 52 to the performance estimation unit 53 shown in FIG.

【0060】論理マクロ接続情報30は性能推定手段3
2に渡され、論理マクロライブラリ1に格納された論理
マクロとの参照関係が作成される。
The logic macro connection information 30 is stored in the performance estimation means 3
2 and a reference relationship with the logic macro stored in the logic macro library 1 is created.

【0061】以下、前記のように構成された集積回路の
性能推定装置の動作を図面を参照しながら説明する。
Hereinafter, the operation of the integrated circuit performance estimating apparatus configured as described above will be described with reference to the drawings.

【0062】図8は第2の実施形態に係る集積回路の性
能推定装置における性能推定方法を示す流れ図である。
FIG. 8 is a flowchart showing a performance estimating method in the integrated circuit performance estimating apparatus according to the second embodiment.

【0063】図8に示すように、あらかじめ、接続情報
入力工程において論理マクロの接続情報を入力しておく
と共に、活性化確率情報入力工程において論理マクロ活
性化確率情報を入力しておく。
As shown in FIG. 8, the connection information of the logic macro is input in advance in the connection information input step, and the logic macro activation probability information is input in the activation probability information input step.

【0064】まず、回路面積算出工程ST11におい
て、回路面積算出部321は、論理マクロライブラリ1
に格納されているゲート数算出関数から各論理マクロの
ゲート数をそれぞれ算出し、ゲート数の総和に第1の定
数を乗ずることにより回路の面積を算出し回路の推定面
積を求める。第1の定数はレイアウト結果の蓄積データ
からゲート数と面積との関係を求めることにより得られ
る。
First, in the circuit area calculation step ST11, the circuit area calculation section 321 sets the logic macro library 1
, The number of gates of each logic macro is calculated from the gate number calculation function stored in, and the area of the circuit is calculated by multiplying the sum of the number of gates by the first constant to obtain the estimated area of the circuit. The first constant is obtained by obtaining the relationship between the number of gates and the area from the accumulated data of the layout result.

【0065】次に、仮想配線遅延算出工程としての仮想
配線長算出工程ST12において、配線推定部322
は、推定面積に基づいて、論理マクロ間の接続のファン
アウト数に第2の定数を乗ずることにより仮想配線長を
推定して算出する。第2の定数はレイアウト結果の蓄積
データからファンアウト数と面積と配線長との関係を求
めることにより得られる。その後、仮想配線遅延算出工
程としての抵抗及び容量算出工程ST13において、算
出した仮想配線長から各論理マクロ間の接続部の抵抗及
び配線容量を求める。
Next, in a virtual wiring length calculating step ST12 as a virtual wiring delay calculating step, the wiring estimating section 322
Is calculated by estimating the virtual wiring length by multiplying the number of fan-outs of connections between logic macros by a second constant based on the estimated area. The second constant is obtained by obtaining the relationship between the number of fanouts, the area, and the wiring length from the accumulated data of the layout result. Thereafter, in a resistance and capacitance calculation step ST13 as a virtual wiring delay calculation step, a resistance and a wiring capacitance of a connection portion between the logic macros are obtained from the calculated virtual wiring length.

【0066】次に、動作速度算出工程ST14におい
て、動作速度算出部323は、論理マクロ接続情報30
から、レジスタとレジスタとの間のパス、入力ピンとレ
ジスタとの間のパス、レジスタと出力ピンとの間のパ
ス、及び入力ピンと出力ピンとの間のパスの全てのパス
を探索してパスを通過する信号の遅延時間であるパス遅
延を求める。パス遅延はパス上に存在する論理マクロの
遅延とレジスタのセットアップ時間と配線遅延の和とす
る。ここで、論理マクロの遅延は論理マクロライブラリ
1に格納されている遅延算出関数にビット幅を代入する
ことにより得られ、セットアップ時間は論理マクロライ
ブラリ1から得られ、配線遅延は抵抗及び容量算出工程
ST13において求めた配線の抵抗と配線容量とを乗じ
て得られる。
Next, in the operation speed calculation step ST14, the operation speed calculation section 323 sets the logical macro connection information 30
Search all paths of the path between the register, the path between the input pin and the register, the path between the register and the output pin, and the path between the input pin and the output pin, and pass through the path. A path delay which is a signal delay time is obtained. The path delay is the sum of the delay of the logic macro existing on the path, the setup time of the register, and the wiring delay. Here, the delay of the logic macro is obtained by substituting the bit width into the delay calculation function stored in the logic macro library 1, the setup time is obtained from the logic macro library 1, and the wiring delay is calculated in the resistance and capacitance calculation step. It is obtained by multiplying the wiring resistance and the wiring capacitance obtained in ST13.

【0067】次に、消費電力算出工程ST15におい
て、消費電力算出部324は、論理マクロ活性化確率情
報31及び論理マクロライブラリ1に格納されている1
ビット当たりの移動電荷量から論理マクロ内部の重み付
き容量を求める。また、論理マクロの活性化確率を論理
マクロから出力される接続情報の活性化確率として用
い、抵抗及び容量算出工程ST13において求めた配線
容量から配線の重み付き容量を求める。以下に示す式
(5)を用いて、すべての論理マクロ及び配線の重み付
き容量の総和から回路の消費電力を求める。
Next, in the power consumption calculating step ST15, the power consumption calculating section 324 stores the logic macro activation probability information 31 and the one stored in the logic macro library 1.
The weighted capacity inside the logic macro is determined from the amount of mobile charge per bit. The activation probability of the logic macro is used as the activation probability of the connection information output from the logic macro, and the weighted capacitance of the wiring is obtained from the wiring capacitance obtained in the resistance and capacitance calculation step ST13. Using the following equation (5), the power consumption of the circuit is determined from the sum of the weighted capacitances of all the logic macros and wirings.

【0068】 消費電力=(Σ論理マクロの重み付き容量+Σ配線の重み付き容量) ×電源電圧の2乗÷動作速度 …(5) このように、本実施形態によると、回路の面積を算出す
る回路面積算出部と、算出された面積に基づき論理マク
ロ間の接続の仮想配線長を算出して推定する配線推定部
を設けることにより、論理部だけでなく配線の遅延及び
重み付き容量を求めることができ、動作速度や消費電力
をより高精度に推定することができる。
Power consumption = (Σweighted capacitance of logic macro + Σweighted capacitance of wiring) × square of power supply voltage ÷ operating speed (5) As described above, according to the present embodiment, the circuit area is calculated. By providing a circuit area calculation unit and a wiring estimation unit that calculates and estimates a virtual wiring length of a connection between logic macros based on the calculated area, it is possible to obtain not only the logic unit but also the wiring delay and weighted capacitance. Thus, the operation speed and the power consumption can be estimated with higher accuracy.

【0069】(第3の実施形態)以下、本発明の第3の
実施形態を図面を参照しながら説明する。
(Third Embodiment) Hereinafter, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0070】図9は第3の実施形態に係る集積回路の性
能推定装置における性能推定方法を示す流れ図である。
図9において、第2の実施形態で説明した構成要素と同
一の構成要素には同一の符号を付すことにより説明を省
略する。また、本実施形態に係る集積回路の性能推定装
置の構成は図7に示した第2の実施形態に係る集積回路
の性能推定装置と同様の構成とする。
FIG. 9 is a flowchart showing a performance estimation method in the integrated circuit performance estimation device according to the third embodiment.
In FIG. 9, the same components as those described in the second embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. The configuration of the integrated circuit performance estimating apparatus according to the present embodiment is the same as that of the integrated circuit performance estimating apparatus according to the second embodiment shown in FIG.

【0071】回路面積算出工程ST11の後の論理マク
ロ配置工程ST21において、回路面積算出工程ST1
1において求められた推定面積を有する方形領域を設定
し、該方形領域内で論理マクロ間の接続の配線長及び論
理マクロの重なりが最小になるような配置を決定する。
In the logic macro arranging step ST21 after the circuit area calculating step ST11, the circuit area calculating step ST1
A rectangular region having the estimated area obtained in step 1 is set, and the layout is determined so that the wiring length of the connection between the logic macros and the overlap of the logic macros are minimized in the rectangular region.

【0072】次に、仮想配線長算出工程ST12におい
て、配置された論理マクロの中心に接続する端子が存在
すると仮定し、スパンニング木を用いて仮想配線長を求
める。このように、本実施形態によると、推定面積内に
論理マクロを配置する論理マクロ配置工程をさらに備え
ることにより、論理マクロ間の接続の仮想配線長をより
正確に求めることができ、より高精度に動作速度や消費
電力を推定することができる。
Next, in the virtual wire length calculating step ST12, it is assumed that there is a terminal connected to the center of the arranged logic macro, and the virtual wire length is obtained using a spanning tree. As described above, according to the present embodiment, by further including the logic macro arranging step of arranging the logic macro within the estimated area, the virtual wiring length of the connection between the logic macros can be more accurately obtained, and the higher accuracy can be obtained. It is possible to estimate the operating speed and power consumption.

【0073】[0073]

【発明の効果】本発明に係る第1の集積回路の性能推定
装置によると、マクロ割付手段が所定の性能を満足する
ように各機能部品に対して論理マクロを割り付けるた
め、RTLの集積回路の性能推定を高精度に行なうこと
ができる。また、所定の性能を満たさない場合には論理
合成を行なう前にRTLのHDL記述を変更することが
できるため、LSI設計の効率化を図ることができる。
The performance estimation of the first integrated circuit according to the present invention
According to the apparatus, since the macro allocating means allocates the logic macro to each functional component so as to satisfy the predetermined performance, the performance of the RTL integrated circuit can be accurately estimated. Further, when the predetermined performance is not satisfied, the HDL description of the RTL can be changed before performing the logic synthesis, so that the efficiency of LSI design can be improved.

【0074】さらに、機能部品の活性化確率に基づいて
回路の接続情報に活性化確率が設定されるため、実際の
回路に即した低消費電力化を図ることができる。
Further, since the activation probability is set in the connection information of the circuit based on the activation probability of the functional component, the power consumption can be reduced in accordance with the actual circuit.

【0075】第1の集積回路の性能推定装置において、
マクロ割付手段が、複数の論理マクロのうちの割付可能
な論理マクロのリストの割付候補リスト作成部と、割付
候補リストの中から性能評価関数の値を最小にする論理
マクロを選択するマクロ選択部と、選択された論理マク
ロに基づいて集積回路の面積と動作速度と消費電力とよ
りなる性能推定要素を算出する性能推定要素算出部と、
該性能推定要素に基づき性能評価関数を算出してマクロ
選択部に出力する性能推定部とを有していると、面積と
動作速度と消費電力とに優先順位をつけ、機能部品ごと
に面積と遅延と消費電力のトレードオフを考慮した論理
マクロ割付が確実に行なえる。
In the first integrated circuit performance estimation device,
Macro allocating means for allocating a list of logical macros that can be allocated among a plurality of logical macros, and a macro selecting unit for selecting a logical macro that minimizes the value of the performance evaluation function from the allocation candidate list And a performance estimation element calculation unit that calculates a performance estimation element consisting of the area, operation speed, and power consumption of the integrated circuit based on the selected logic macro,
Having a performance estimating unit that calculates a performance evaluation function based on the performance estimating element and outputs it to the macro selection unit, prioritizes the area, the operating speed, and the power consumption; A logic macro can be reliably assigned in consideration of a trade-off between delay and power consumption.

【0076】第1の集積回路の性能推定装置において、
各論理マクロは、ビット幅の関数としてゲート数算出式
と遅延算出式とを有し、さらに1ビット当たりの移動電
荷量を有していると、ビット幅と各ビットの活性化確率
とから適当な機能部品の割付候補となる論理マクロのゲ
ート数と遅延と重み付き容量とを求めることができるた
め、割付時の性能評価関数の計算を容易且つ確実に行な
うことができる。
In the first integrated circuit performance estimating apparatus,
Each logic macro has an equation for calculating the number of gates and an equation for calculating delay as a function of the bit width, and if it has the amount of mobile charge per bit, it can be appropriately determined from the bit width and the activation probability of each bit. Since the number of gates, delay, and weighted capacity of a logic macro that is a candidate for allocation of a functional component can be obtained, a performance evaluation function at the time of allocation can be easily and reliably calculated.

【0077】本発明に係る第2の集積回路の性能推定装
置によると、仮想配線における配線長と配線抵抗と配線
容量とから仮想配線の遅延時間を計算するため、回路の
論理部だけでなく配線の遅延及び重み付き容量を求める
ことができるので、動作速度又は消費電力をより高精度
に推定することができる。
A second integrated circuit performance estimating apparatus according to the present invention
According to the arrangement, since the delay time of the virtual wiring is calculated from the wiring length, the wiring resistance, and the wiring capacitance in the virtual wiring, not only the logic part of the circuit but also the wiring delay and the weighted capacitance can be obtained. Alternatively, power consumption can be estimated with higher accuracy.

【0078】本発明に係る第1の集積回路の性能推定方
法によると、マクロ割付工程において所定の性能を満足
するように各機能部品に対して論理マクロを割り付ける
ため、RTLの集積回路の性能推定を高精度に行なうこ
とができる。また、所定の性能を満たさない場合には論
理合成を行なう前にRTLのHDL記述を変更すること
ができるため、LSI設計の効率化を図ることができ
る。
Method for Estimating Performance of First Integrated Circuit According to the Present Invention
According to the method, a logic macro is assigned to each functional component so as to satisfy a predetermined performance in the macro assignment step, so that the performance estimation of the RTL integrated circuit can be performed with high accuracy. Further, when the predetermined performance is not satisfied, the HDL description of the RTL can be changed before performing the logic synthesis, so that the efficiency of LSI design can be improved.

【0079】さらに、機能部品の活性化確率に基づいて
回路の接続情報に活性化確率を設定するため、実際の回
路に即した低消費電力化を図ることができる。
Further, since the activation probability is set in the connection information of the circuit based on the activation probability of the functional component, the power consumption can be reduced according to the actual circuit.

【0080】第1の集積回路の性能推定方法において、
マクロ割付工程が、複数の論理マクロのうちの割付可能
な論理マクロのリストである割付候補リストを作成する
割付候補リスト作成工程と、機能部品ごとの性能評価関
数を作成する性能評価関数作成工程と、各機能部品に対
し、割付候補リストから性能評価関数の値を最小にする
論理マクロを選択する論理マクロ選択工程と、集積回路
の面積と動作速度と消費電力とを計算し、集積回路の性
能を推定する性能推定工程と、推定された性能が所定の
性能を満たすか否かを判定する性能判定工程と、所定の
性能を満たさない場合は性能評価関数を調整する性能評
価関数調整工程とを備えていると、面積と動作速度と消
費電力に優先順位をつけ、機能部品ごとに面積と遅延と
消費電力のトレードオフを考慮した論理マクロ割付が可
能となる。
In the first method for estimating the performance of an integrated circuit,
A macro assignment step, an assignment candidate list creation step of creating an assignment candidate list that is a list of assignable logic macros among a plurality of logic macros; and a performance evaluation function creation step of creating a performance evaluation function for each functional component. A logic macro selection step of selecting a logic macro that minimizes the value of the performance evaluation function from the assignment candidate list for each functional component, calculating the area, operation speed, and power consumption of the integrated circuit, and A performance estimating step of estimating the estimated performance, a performance determining step of determining whether the estimated performance satisfies a predetermined performance, and a performance evaluation function adjusting step of adjusting a performance evaluation function when the predetermined performance is not satisfied. If it is provided, it is possible to assign priorities to the area, the operation speed, and the power consumption, and to allocate a logic macro in consideration of a trade-off between the area, the delay, and the power consumption for each functional component.

【0081】第1の集積回路の性能推定方法において、
性能評価関数調整工程が、性能評価関数を調整する、遅
延時間調整工程、容量調整工程及びゲート数調整工程と
を含むと、選択された論理マクロにより実現された機能
部品からなる集積回路の面積と動作速度と消費電力との
いずれかに対して所定の性能を満たさない場合に、クリ
ティカルパス上の機能部品と、クリティカルパス以外の
パス上で活性化確率の高い機能部品と残りの機能部品と
に分けて、論理マクロ選択時の評価関数の重み付けパラ
メータを変更することにより、機能部品ごとに面積と遅
延と消費電力とのトレードオフを考慮した論理マクロの
割り付けを確実に行なうことができる。
In the first method for estimating the performance of an integrated circuit,
The performance evaluation function adjustment step adjusts the performance evaluation function,
Delay time adjustment step, capacity adjustment step and gate number adjustment step
If the specified performance is not satisfied for any of the area, operation speed, and power consumption of the integrated circuit composed of the functional components realized by the selected logic macro, By dividing the functional components with high activation probability and the remaining functional components on the paths other than the critical path and changing the weighting parameters of the evaluation function when selecting the logic macro, the area, delay and consumption for each functional component A logic macro can be reliably assigned in consideration of a trade-off with power.

【0082】本発明に係る第2の集積回路の性能推定方
法によると、仮想配線における配線長と配線抵抗と配線
容量とから仮想配線の遅延時間を計算するため、回路の
論理部だけでなく配線の遅延及び重み付き容量を求める
ことができるので、動作速度又は消費電力をより高精度
に推定することができる。
Method for Estimating Performance of Second Integrated Circuit According to the Present Invention
According to the method, the delay time of the virtual wiring is calculated from the wiring length, the wiring resistance, and the wiring capacitance in the virtual wiring, so that not only the logic part of the circuit but also the wiring delay and the weighted capacitance can be obtained. Alternatively, power consumption can be estimated with higher accuracy.

【0083】第2の集積回路の性能推定方法において、
回路面積算出工程と仮想配線遅延算出工程との間に、回
路面積算出工程において算出された回路面積を有する方
形領域を設定し、該方形領域内に論理マクロを配置する
論理マクロ配置工程を備えていると、論理マクロ間の接
続の仮想配線長をより正確に求めることができるので、
動作速度又は消費電力をさらに高精度に推定することが
できる。
In the second method for estimating the performance of an integrated circuit,
Between the circuit area calculating step and the virtual wiring delay calculation step includes a logic macro placement step of setting the rectangular region having a circuit area which is calculated in circuit area calculating step, placing a logic macro said shaped region With this, the virtual wiring length of the connection between the logic macros can be determined more accurately.
The operation speed or power consumption can be estimated with higher accuracy.

【0084】第2の集積回路の性能推定方法において、
消費電力算出工程が、単位時間当たりの論理マクロの平
均移動電荷量を算出する工程と、論理マクロの消費電力
を算出する工程とを含むと、1ビット当たりの移動電荷
量と各ビットの活性化確率から論理マクロの重み付き容
量とを求めるため、入力信号にオン、オフの変化が多い
ビットと、ほとんど変化しないビットとが混在する場合
であっても、論理マクロ内部の移動電荷量を正確に算出
することができるので、RTLにおける集積回路の消費
電力の推定を確実に行なうことができる。
In the second method for estimating the performance of an integrated circuit,
The power consumption calculation process determines the average level of logic macros per unit time.
Calculating the average moving charge amount and the power consumption of the logic macro
Calculating the weighted capacity of the logic macro from the amount of mobile charge per bit and the activation probability of each bit. Even when bits that do not exist are mixed, the amount of mobile charges inside the logic macro can be accurately calculated, so that the power consumption of the integrated circuit in the RTL can be reliably estimated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態に係るレジスタ転送レ
ベルの集積回路の性能推定装置の機能ブロック図であ
る。
FIG. 1 is a functional block diagram of a device for estimating the performance of an integrated circuit at a register transfer level according to a first embodiment of the present invention;

【図2】本発明の第1の実施形態に係る集積回路の性能
推定装置における性能推定方法を示す流れ図である。
FIG. 2 is a flowchart showing a performance estimation method in the integrated circuit performance estimation device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1の実施形態に係る集積回路の性能
推定装置論理におけるマクロライブラリに格納されてい
る論理マクロが有する情報の一覧を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a list of information held by a logic macro stored in a macro library in the performance estimation device logic of the integrated circuit according to the first embodiment of the present invention;

【図4】(a)は論理マクロのビット幅とゲート数との
関係を表わすグラフである。(b)は論理マクロのビッ
ト幅と遅延時間との関係を表わすグラフである。
FIG. 4A is a graph showing the relationship between the bit width of a logic macro and the number of gates. (B) is a graph showing the relationship between the bit width of the logic macro and the delay time.

【図5】本発明の第1の実施形態に係る集積回路の性能
推定方法における性能推定及び割付工程の詳細を示す流
れ図である。
FIG. 5 is a flowchart showing details of performance estimation and allocation steps in the integrated circuit performance estimation method according to the first embodiment of the present invention.

【図6】(a)は本発明の第1の実施形態に係る集積回
路の性能推定装置における論理マクロの一例を示す図で
ある。(b)は本発明の第1の実施形態に係る集積回路
の性能推定装置における割付候補テーブルの一例を示す
図である。
FIG. 6A is a diagram illustrating an example of a logic macro in the integrated circuit performance estimating apparatus according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2B is a diagram illustrating an example of an assignment candidate table in the integrated circuit performance estimation device according to the first embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第2の実施形態に係るレジスタ転送レ
ベルの集積回路の性能推定装置の機能ブロック図であ
る。
FIG. 7 is a functional block diagram of an apparatus for estimating the performance of an integrated circuit at a register transfer level according to a second embodiment of the present invention;

【図8】本発明の第2の実施形態に係る集積回路の性能
推定装置における性能推定方法を示す流れ図である。
FIG. 8 is a flowchart illustrating a performance estimation method in an integrated circuit performance estimation device according to a second embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第3の実施形態に係る集積回路の性能
推定装置における性能推定方法を示す流れ図である。
FIG. 9 is a flowchart illustrating a performance estimation method in an integrated circuit performance estimation device according to a third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 論理マクロライブラリ 2 性能要求ファイル 3 接続情報変換手段 4 活性化確率設定手段 5 マクロ割付手段 51 割付候補リスト作成部(性能推定要素算出
部) 52 マクロ選択部 53 性能推定部 6 割付情報出力手段 10 RTL設計情報 11 名称 12 機能 13 ゲート数算出関数(ゲート数算出式) 14 遅延算出関数(遅延算出式) 15 1ビット当たりの移動電荷量 16 セットアップ時間 17 クロックによる移動電荷量 ST1 設計情報変換工程 ST2 活性化確率設定工程 ST3 性能推定及び割付工程(マクロ割付工程) ST4 割付情報出力工程 ST31 割付候補リスト作成工程 ST32 性能評価関数作成工程 ST33 論理マクロ選択工程 ST34 性能推定工程 ST35 判定工程 ST36 性能評価関数調整工程 ST37 エラー判定工程 30 論理マクロ接続情報 31 論理マクロ活性化確率情報 32 性能推定手段 321 回路面積算出部 322 配線推定部(仮想配線遅延算出手段) 323 動作速度算出部 324 消費電力算出部 ST11 回路面積算出工程 ST12 仮想配線長算出工程(仮想配線遅延算出工
程) ST13 抵抗及び容量算出工程(仮想配線遅延算出工
程) ST14 動作速度算出工程 ST15 消費電力算出工程 ST21 論理マクロ配置工程
REFERENCE SIGNS LIST 1 logic macro library 2 performance request file 3 connection information conversion means 4 activation probability setting means 5 macro allocation means 51 allocation candidate list creation section (performance estimation element calculation section) 52 macro selection section 53 performance estimation section 6 allocation information output means 10 RTL design information 11 Name 12 Function 13 Gate number calculation function (Gate number calculation formula) 14 Delay calculation function (Delay calculation formula) 15 Mobile charge amount per bit 16 Setup time 17 Clock mobile charge amount ST1 Design information conversion step ST2 Activation probability setting step ST3 Performance estimation and assignment step (macro assignment step) ST4 Assignment information output step ST31 Assignment candidate list creation step ST32 Performance evaluation function creation step ST33 Logical macro selection step ST34 Performance estimation step ST35 Judgment step ST36 Performance evaluation function adjustment Process S 37 error determination step 30 logic macro connection information 31 logic macro activation probability information 32 performance estimating means 321 circuit area calculating section 322 wiring estimating section (virtual wiring delay calculating means) 323 operating speed calculating section 324 power consumption calculating section ST11 circuit area calculating Step ST12 Virtual wiring length calculation step (virtual wiring delay calculation step) ST13 Resistance and capacitance calculation step (virtual wiring delay calculation step) ST14 Operation speed calculation step ST15 Power consumption calculation step ST21 Logical macro arrangement step

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川上 善之 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 岡崎 薫 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 服部 大 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平7−28877(JP,A) 特開 平8−235228(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G06F 17/50 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Yoshiyuki Kawakami 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Kaoru Okazaki 1006 Kazama Kadoma Kadoma, Osaka Matsushita Electric Industrial Co. (72) Inventor Hattori Dai 1006 Kadoma, Kadoma, Osaka Pref. Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (56) References JP-A-7-28877 (JP, A) JP-A 8-235228 (JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) G06F 17/50

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数の機能部品からなる集積回路におけ
るレジスタ転送レベルの設計情報が入力され、該設計情
報を前記複数の機能部品同士が接続される接続情報に変
換する接続情報変換手段と、 前記各機能部品の活性化確率を求め、求めた活性化確率
を前記各機能部品ごとに設定する活性化確率設定手段
と、 同一機能を有し且つ回路構成が異なり、前記各機能部品
を実現する複数の論理マクロを格納する論理マクロライ
ブラリと、 前記集積回路の前記機能部品ごとに面積と動作速度と消
費電力とを算出し、算出結果に基づいて前記集積回路の
所定の性能を満たすように前記論理マクロライブラリか
ら論理マクロをそれぞれ選択し、選択された前記論理マ
クロを前記各機能部品に割り付けるマクロ割付手段と、 前記マクロ割付手段により割り付けられた論理マクロを
割付情報として出力する割付情報出力手段とを備えて
り、 前記マクロ割付手段は、 前記各機能部品に対し、前記論理マクロライブラリに格
納されている複数の論理マクロのうちの割付可能な論理
マクロのリストである割付候補リストをそれぞれ作成す
る割付候補リスト作成部と、 前記割付候補リストから、性能評価関数の値を最小にす
る論理マクロを選択するマクロ選択部と、 選択された前記論理マクロに基づいて前記集積回路の前
記機能部品ごとに面積と動作速度と消費電力とよりなる
性能推定要素を算出する性能推定要素算出部と、 前記性能推定要素算出部が算出した性能推定要素に基づ
き前記性能評価関数を算出して前記マクロ選択部に出力
する性能推定部とを有していることを特徴とする集積回
路の性能推定装置。
A connection information conversion unit configured to receive design information at a register transfer level in an integrated circuit including a plurality of functional components and convert the design information into connection information for connecting the plurality of functional components; Activation probability setting means for determining the activation probability of each functional component and setting the determined activation probability for each of the functional components; and a plurality of functional components having the same function and different circuit configurations to realize the functional components. A logic macro library storing logic macros of the following: calculating an area, an operation speed, and power consumption for each of the functional components of the integrated circuit; and calculating the logic so as to satisfy a predetermined performance of the integrated circuit based on the calculation result. A macro allocating means for selecting a logical macro from a macro library and allocating the selected logical macro to each of the functional components; Contact and an allocation information output means for outputting the Tagged logic macro as allocation information
The macro allocating means is configured to generate, for each of the functional components, an allocation candidate list which is a list of allocatable logical macros among a plurality of logical macros stored in the logical macro library. A creating unit; a macro selecting unit that selects a logic macro that minimizes the value of the performance evaluation function from the allocation candidate list; and an area and an operation for each of the functional components of the integrated circuit based on the selected logic macro. A performance estimating element calculating unit for calculating a performance estimating element consisting of speed and power consumption; and a performance for calculating the performance evaluation function based on the performance estimating element calculated by the performance estimating element calculating unit and outputting the function to the macro selecting unit. integrated times, characterized in that it has a estimator
Road performance estimation device.
【請求項2】 前記論理マクロは、該論理マクロのビッ
ト幅からゲート数を算出するゲート数算出式と、前記ビ
ット幅から前記論理マクロの遅延時間を算出する遅延算
出式と、1ビット当たりの移動電荷量とを有しているこ
とを特徴とする請求項1に記載の集積回路の性能推定装
置。
2. The logic macro includes: a gate number calculation formula for calculating the number of gates from a bit width of the logic macro; a delay calculation formula for calculating a delay time of the logic macro from the bit width; The device for estimating the performance of an integrated circuit according to claim 1, further comprising a moving charge amount.
【請求項3】 ゲートを有する複数の論理マクロを格納
する論理マクロライブラリと、 前記論理マクロを用いて構成された集積回路の接続情報
が入力される接続情報入力手段と、 前記各論理マクロに対するそれぞれの活性化確率を表わ
した活性化確率情報が入力される活性化確率情報入力手
段と、 前記各論理マクロの前記ゲート数の総和から前記集積回
路の面積を算出する回路面積算出手段と、 算出された前記集積回路の面積に基づいて前記論理マク
ロ同士を互いに接続する仮想配線を算出し、該仮想配線
における配線長と配線抵抗と配線容量とから前記仮想配
線の遅延時間を算出する仮想配線遅延算出手段と、 前記各論理マクロの遅延時間と前記仮想配線の遅延時間
とから前記集積回路の動作速度を算出する動作速度算出
手段と、 前記各論理マクロの前記活性化確率と前記論理マクロの
1ビット当たりの移動電荷量と前記配線容量とから消費
電力を求める消費電力算出手段とを備えていることを特
徴とする集積回路の性能推定装置。
3. A logic macro library for storing a plurality of logic macros having gates, connection information input means for inputting connection information of an integrated circuit configured using the logic macros, and a logic macro library for each of the logic macros Activation probability information inputting means for inputting activation probability information representing the activation probability of the logic macro, and circuit area calculating means for calculating the area of the integrated circuit from the sum of the gate numbers of the logic macros. A virtual wiring that connects the logic macros to each other based on the area of the integrated circuit, and calculates a delay time of the virtual wiring from a wiring length, a wiring resistance, and a wiring capacitance of the virtual wiring. Means for calculating an operation speed of the integrated circuit from a delay time of each of the logic macros and a delay time of the virtual wiring; A performance estimating device for an integrated circuit, comprising: power consumption calculating means for calculating power consumption from the activation probability of a logic macro, the amount of mobile charge per bit of the logic macro, and the wiring capacitance.
【請求項4】 複数の機能部品からなり、レジスタ転送
レベルの集積回路の性能推定方法であって、 同一機能を有し且つ回路構成が異なり、前記各機能部品
を実現する複数の論理マクロを格納する論理マクロライ
ブラリを準備する論理マクロライブラリ準備工程と、 前記集積回路のレジスタ転送レベルの設計情報が入力さ
れ、該設計情報を前記複数の機能部品同士が接続される
接続情報に変換する接続情報変換工程と、 前記各機能部品の活性化確率を求め、求めた活性化確率
を前記各機能部品ごとに設定する活性化確率設定工程
と、 前記集積回路の前記機能部品ごとに面積と動作速度と消
費電力とを算出した後、前記集積回路の所定の性能を満
たすように前記論理マクロライブラリから論理マクロを
選択し、選択された前記論理マクロを前記各機能部品に
それぞれ割り付けるマクロ割付工程と、 前記各機能部品に割り付けられた論理マクロを割付情報
として出力する割付情報出力工程とを備えており、 前記マクロ割付工程は、 前記各機能部品に対し、前記論理マクロライブラリに格
納されている複数の論理マクロのうちの割付可能な論理
マクロのリストである割付候補リストをそれぞれ作成す
る割付候補リスト作成工程と、 前記機能部品ごとの性能評価関数を作成する性能評価関
数作成工程と、 前記各機能部品に対し、前記割付候補リストから前記性
能評価関数の値を最小にする論理マクロを選択する論理
マクロ選択工程と、 前記集積回路の面積と動作速度と消費電力とを算出する
ことにより、前記集積回路の性能を推定する性能推定工
程と、 推定された性能が所定の性能を満たすか否かを判定する
性能判定工程と、 前記推定された性能が前記所定の性能を満たさない場合
は前記性能評価関数を調整する性能評価関数調整工程
と、 前記推定された性能が前記所定の性能を満たすまで、前
記論理マクロ選択工程と前記性能推定工程と前記性能判
定工程と前記性能評価関数調整工程とを繰り返す反復工
程とを含むことを特徴とする集積回路の性能推定方法。
4. A method for estimating the performance of an integrated circuit comprising a plurality of functional components and having a register transfer level, wherein the plurality of logic macros having the same function but different circuit configurations and realizing the respective functional components are stored. A logic macro library preparing step of preparing a logic macro library to be connected, and connection information conversion for inputting register transfer level design information of the integrated circuit and converting the design information into connection information for connecting the plurality of functional components. An activation probability setting step of determining an activation probability of each of the functional components, and setting the determined activation probability for each of the functional components; and an area, an operating speed, and a consumption of each of the functional components of the integrated circuit. After calculating the power, a logic macro is selected from the logic macro library so as to satisfy a predetermined performance of the integrated circuit, and the selected logic macro is And macro allocation step of allocating to each functional component, wherein includes an allocation information output step of outputting the logic macro assigned to each functional component as allocation information, the macro allocation step, they said to each functional component, An assignment candidate list creating step of creating an assignment candidate list, which is a list of assignable logic macros among a plurality of logic macros stored in the logic macro library, and creating a performance evaluation function for each functional component A performance evaluation function creating step; a logic macro selection step of selecting a logic macro that minimizes the value of the performance evaluation function from the assignment candidate list for each of the functional components; an area, an operation speed, and consumption of the integrated circuit Calculating the power to estimate the performance of the integrated circuit; and the estimated performance satisfies a predetermined performance. A performance determining step of determining whether or not to perform; a performance evaluation function adjusting step of adjusting the performance evaluation function if the estimated performance does not satisfy the predetermined performance; and A method for estimating the performance of an integrated circuit, comprising: an iterative step of repeating the logic macro selecting step, the performance estimating step, the performance determining step, and the performance evaluation function adjusting step until the performance is satisfied .
【請求項5】 前記性能評価関数作成工程の前記性能評
価関数は、重み付けパラメータをそれぞれ付加され、ゲ
ート数と遅延時間と活性化確率及び容量の積よりなる重
み付き容量とを有しており、 前記性能評価関数調整工程は、 選択された前記論理マクロにより実現された機能部品か
らなる前記集積回路の面積と動作速度と消費電力とのい
ずれかに対して前記所定の性能を満たさない場合に、ク
リティカルパス上に存在する機能部品における前記性能
評価関数の遅延時間の重み付けパラメータを変更するこ
とにより前記性能評価関数を調整する遅延時間調整工程
と、 クリティカルパス以外のパス上に存在し且つ活性化確率
の高い機能部品における前記性能評価関数の重み付き容
量の重み付けパラメータを変更することにより前記性能
評価関数を調整する容量調整工程と、 残りの機能部品における前記性能評価関数のゲート数の
重み付けパラメータを変更することにより前記性能評価
関数を調整するゲート数調整工程とを含むことを特徴と
する請求項4に記載の集積回路の性能推定方法。
5. The performance evaluation function in the performance evaluation function creation step, wherein a weighting parameter is added to each of the performance evaluation functions, and the performance evaluation function has a weighted capacitance that is a product of the number of gates, delay time, activation probability, and capacitance, The performance evaluation function adjusting step, when the predetermined performance is not satisfied with respect to any of the area, operation speed, and power consumption of the integrated circuit including the functional components realized by the selected logic macro, A delay time adjusting step of adjusting the performance evaluation function by changing a weighting parameter of a delay time of the performance evaluation function in a functional component existing on the critical path; and an activation probability existing on a path other than the critical path and having an activation probability The performance evaluation function by changing the weighting parameter of the weighted capacity of the performance evaluation function in the functional component having high performance A capacity adjustment step of adjusting a claim, characterized in that it comprises a number of gates adjustment step of adjusting the performance evaluation function by changing the weighting parameter of the number of gates in the performance evaluation function in the remaining functional components 4 performance estimation method for an integrated circuit according to.
【請求項6】 ゲートを有する複数の論理マクロを用い
て構成された集積回路の接続情報を入力する接続情報入
力工程と、 前記各論理マクロに対するそれぞれの活性化確率を表わ
した活性化確率情報を入力する活性化確率情報入力工程
と、 前記各論理マクロの前記ゲート数の総和から前記集積回
路の面積を算出する回路面積算出工程と、 前記回路面積に基づいて前記論理マクロ同士を互いに接
続する仮想配線を算出し、該仮想配線における配線長と
配線抵抗と配線容量とから前記仮想配線の遅延時間を算
出する仮想配線遅延算出工程と、 前記各論理マクロの遅延時間と前記仮想配線の遅延時間
とから前記集積回路の動作速度を算出する動作速度算出
工程と、 前記各論理マクロの前記活性化確率と前記論理マクロの
1ビット当たりの移動電荷量と前記配線容量とから消費
電力を算出する消費電力算出工程とを備えていることを
特徴とする集積回路の性能推定方法。
6. A connection information inputting step of inputting connection information of an integrated circuit constituted by using a plurality of logic macros having gates, and activation probability information indicating respective activation probabilities for the respective logic macros. An activation probability information inputting step; a circuit area calculating step of calculating an area of the integrated circuit from a sum of the gate numbers of the respective logic macros; and a virtual connection between the logic macros based on the circuit area. Calculating a wiring and calculating a delay time of the virtual wiring from a wiring length, a wiring resistance, and a wiring capacitance in the virtual wiring; and a delay time of each of the logic macros and a delay time of the virtual wiring. An operation speed calculation step of calculating an operation speed of the integrated circuit from: an activation probability of each logic macro and a moving charge per bit of the logic macro The performance estimation method for an integrated circuit, characterized in that it comprises a power calculating step of calculating power consumption from the wiring capacitance.
【請求項7】 前記回路面積算出工程と前記仮想配線遅
延算出工程との間に、 前記回路面積算出工程において算出された回路面積を有
する方形領域を設定し、該方形領域内に前記論理マクロ
を配置する論理マクロ配置工程を備えていることを特徴
とする請求項6に記載の集積回路の性能推定方法。
7. A square area having a circuit area calculated in the circuit area calculation step is set between the circuit area calculation step and the virtual wiring delay calculation step, and the logic macro is set in the square area. 7. The method for estimating the performance of an integrated circuit according to claim 6, further comprising a logic macro placement step of placing.
【請求項8】 前記消費電力算出工程は、 前記論理マクロの1ビット当たりの移動電荷量と、前記
集積回路における前記論理マクロの入力信号又は出力信
号の各ビットが活性化する活性化確率とから単位時間当
たりの前記論理マクロの平均移動電荷量を算出する工程
と、 前記平均移動電荷量と前記集積回路の動作時の電源電圧
と回路の動作速度とから前記論理マクロの消費電力を算
出する工程とを含むことを特徴とする請求項6 又は7に
記載の集積回路の性能推定方法。
8. The power consumption calculating step includes calculating a moving charge amount per bit of the logic macro and an activation probability of activating each bit of an input signal or an output signal of the logic macro in the integrated circuit. Calculating the average amount of mobile charge of the logic macro per unit time; calculating the power consumption of the logic macro from the average amount of mobile charge, the power supply voltage during operation of the integrated circuit, and the operation speed of the circuit performance estimation method for an integrated circuit <br/> according to claim 6 or 7, characterized in that it comprises and.
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