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JP2974303B2 - 被処理体の離脱方法および静電チャック装置 - Google Patents

被処理体の離脱方法および静電チャック装置

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JP2974303B2
JP2974303B2 JP9188998A JP9188998A JP2974303B2 JP 2974303 B2 JP2974303 B2 JP 2974303B2 JP 9188998 A JP9188998 A JP 9188998A JP 9188998 A JP9188998 A JP 9188998A JP 2974303 B2 JP2974303 B2 JP 2974303B2
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JP
Japan
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electrostatic chuck
water
wafer
alcohol
processed
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JP9188998A
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隆 鈴木
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YAMAGUCHI NIPPON DENKI KK
Original Assignee
YAMAGUCHI NIPPON DENKI KK
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Publication date
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First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=14039134&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP2974303(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、静電チャックに保
持された半導体基板等の被処理体を離脱する方法及び静
電チャック装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ジョンソンラ−ベック力を利用した静電
チャックでは、ウェハを加工した後の処理において、静
電チャックからウェハを離脱するために残留電荷を除去
することが重要な要素の一つとなっている。この目的の
ために、通常、ウェハを加工した後、例えばドライエッ
チング装置では、ウェハの加工に関与しないプラズマ放
電を行い残留電荷を低減させる手法、或いはウェハ裏面
に機械的に電極を接触させ残留電荷を低減させる手法が
採用されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、まず第
一の手法であるウェハの加工に関与しないプラズマ放電
は一般的には約20sec程度必要とし、ウェハの加工
以外の余分な時間をかけることとなり生産性の観点より
十分とは言えず、また第二の手法であるウェハ裏面への
電極の機械的な接触では残留電荷の除去が十分でなく、
残留電荷による保持力の減衰は期待効果の薄いものとな
り、残留保持力のため静電チャックからのウェハの離脱
時にウェハが飛び跳ねるなど、離脱の信頼性に欠けるも
のとなっている。
【0004】また、特開平04−282851号公報に
おいては、オゾン発生器より発生したオゾンを用い残留
電荷を除去する事が開示されている。この技術はオゾン
発生器より発生したオゾンをウェハ裏面と静電チャック
表面の隙間に回り込ませているので、解離したオゾンに
より残留電荷を除去し一応の効果を奏している。しかし
ながら、この技術においてはオゾン発生器を具備する必
要があるので生産コストの点において高価な装置となっ
てしまうという問題をもたらしている。
【0005】本発明の主な目的は、生産性が高く信頼性
も備わった低コストの被処理体の離脱方法および静電チ
ャック装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の被処理体の離脱
方法は、静電チャックに被処理体を保持して被処理体に
加工を施した後に、前記静電チャックと被処理体との間
に形成された隙間に対して、水若しくはアルコ−ル、又
は水若しくはアルコ−ルを含む混合ガスの少なくともい
ずれかを導入して被処理体を静電チャックから離脱する
方法である。また、本発明の静電チャック装置は、被処
理体を静電チャックに保持して被処理体に加工を施すた
めの静電チャック装置であって、前記静電チャックと保
持された被処理体との間に形成された隙間に対して、水
若しくはアルコ−ル、又は水若しくはアルコ−ルを含む
混合ガスの少なくともいずれかが導入されるようにされ
ている装置である。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明の特徴は、静電チャックを
用い、被処理体、例えば半導体製造用基板であるウェハ
等の半導体基板の保持機構において、半導体基板の裏面
と静電チャックとの間の微小隙間に水(H2O)または
アルコ−ル(R−OH)の少なくともいずれかを導入し
たことにある。水は極性が特に大きいので好ましく、ア
ルコ−ルとしては1気圧で沸点が200゜C以下で沸点
が低いほどガス化し易いので取り扱いに有利であり、前
記のRが炭素数1〜6のアルキル基であるアルコ−ルが
極性が大きいので好ましい。即ち、隙間には、水の蒸
気、アルコ−ルガス、水とアルコ−ルとの混合ガス、水
又はアルコ−ルを含む混合ガス等のいずれかが導入され
ることが好ましい。混合ガス中、水又はアルコ−ルは5
体積%以上、特に20体積%以上であることが好まし
い。
【0008】図1は、本発明の静電チャック装置の原理
を示す説明図である。例えばウェハは、静電チャック表
面に帯電した電荷により反対の電位に帯電し、電気的に
静電チャック表面への保持力を得ているが、図1に示す
ように、ウェハ1の裏面と静電チャック表面2との間の
隙間11に、例えば水または水の混合ガス3を導入して
いる。この導入した水または水の混合ガス3は、隙間1
1に導入された後、水酸化イオン4および水素イオン5
に分極し、ウェハ1、静電チャック表面2に帯電した電
荷を打ち消し、ウェハ1および静電チャック表面2を同
電位にし、保持力を失わせる役目を果たす。従って、ウ
ェハ1を静電チャック表面2より離脱する際、静電チャ
ック表面2の残留電荷の影響をなくし、ウェハ1をスム
ーズに離脱できるという効果が得られる。以上の説明で
は導入ガスを水蒸気または水を含む混合ガスとして説明
したが、水または水を含む混合ガスの代わりに、極性の
大きいアルコ−ル(例えば、エタノール)またはアルコ
−ルを含む混合ガスを用いても同様の効果が得られる。
【0009】図2は、本発明の一実施形態例の静電チャ
ック装置の要部を示す構成図である。該装置は、ウェハ
1を静電チャック6に保持してウェハ1に加工を施すた
めの装置であって、静電チャック6と保持されたウェハ
1との間に形成された隙間11に対して、水若しくはア
ルコ−ル、又は水若しくはアルコ−ルを含む混合ガスの
少なくともいずれかが導入されるようにされている装置
である。図2に示すように、ウェハ1を保持するための
静電チャック6には、例えば水または水の混合ガス3
を、ウェハ1裏面と静電チャック6の表面2との間の隙
間11に導入するための配管7が設けられている。本例
の静電チャックは、水または水の混合ガス3を用いて除
電するので、確実に除電されて生産性が高いし、しかも
除電の信頼性も高く、低コストである。
【0010】次に、本形態例の静電チャック装置の動作
を図2を参照して説明する。静電チャック6に保持され
たウェハ1の所定の加工、例えば、ドライエッチングが
終了した時点で、配管7を介し水または水の混合ガス3
をウェハ1の裏面と静電チャック6の表面2との隙間1
1に導入する。かかる構成においては、ジョンションラ
−ベック力を利用した静電チャックの場合、静電チャッ
ク6の表面に残留電荷が残り、この残留電荷のためウェ
ハの保持力が存在してしまうところを、本例では水また
は水の混合ガス3を隙間11に導入したため、静電チャ
ック6の表面電荷とウェハ1の裏面電荷がガス導入とと
もにうち消され、残留電荷のための保持力は存在しな
い。従って、ウェハ1をを静電チャック6から容易に離
脱できるので、本例では、保持力解消のためのウェハ加
工以外の余分な処理は必要としない、という効果がもた
らされる。
【0011】図3は、本発明の静電チャック装置の他の
形態例を示す図である。図3に示すように、前述の形態
例で説明した構成に加え、水又は極性の大きいアルコー
ルの少なくともいずれかを含むガス3を隙間11に対し
て導入する配管7内の圧力を測定する圧力測定子8およ
び、該配管7内を流れるガス3の流量を制御する流量制
御器9を備えている。本形態例では、配管7内の圧力を
一定値に保つため、配管7内の圧力を圧力測定子8によ
り測定し、その規定した所望の圧力になるよう圧力信号
を流量制御器9へ帰還することでガス3の流量を流量制
御器9により制御可能としている。また、制御する規定
の圧力は10〜22Torr(トル)の範囲が好まし
い。本形態例は、配管7内に導入したガス3の圧力によ
り、ウェハ1が持ち上げられ、また移動してしまう事を
防止できるという新たな効果を奏する。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の被処理体
の離脱方法及び静電チャック装置によれば、静電チャッ
クに保持された被処理体の加工が終了した時点で、被処
理体を静電チャック表面より容易に離脱できる。また、
本発明の静電チャック装置は、生産性が高く信頼性も備
わり低コストである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の静電チャック装置の原理を説明する
ための図である。
【図2】 本発明の静電チャック装置の例を示す要部の
断面図である。
【図3】 本発明の静電チャック装置の他の例を示す図
である。
【符号の説明】
1・・被処理体(ウェハ)、2・・静電チャック表面、
3・・水または水の混合ガス、4・・水酸化イオン、
5・・水素イオン、6・・静電チャック、7・・配管、
8・・圧力測定子、9・・流量制御器、11・・隙間
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/68 B23Q 3/15 H01L 21/3065

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 静電チャックに被処理体を保持して被処
    理体に加工を施した後に、前記静電チャックと被処理体
    との間に形成された隙間に対して、水若しくはアルコ−
    ル、又は水若しくはアルコ−ルを含む混合ガスの少なく
    ともいずれかを導入して被処理体を静電チャックから離
    脱することを特徴とする被処理体の離脱方法。
  2. 【請求項2】 被処理体を静電チャックに保持して被処
    理体に加工を施すための静電チャック装置であって、前
    記静電チャックと保持された被処理体との間に形成され
    た隙間に対して、水若しくはアルコ−ル、又は水若しく
    はアルコ−ルを含む混合ガスの少なくともいずれかが導
    入される静電チャック装置。
JP9188998A 1998-04-03 1998-04-03 被処理体の離脱方法および静電チャック装置 Expired - Fee Related JP2974303B2 (ja)

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JPWO2020017314A1 (ja) * 2018-07-19 2020-12-17 ボンドテック株式会社 基板接合装置

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