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JP2936628B2 - Inspection equipment for integrated circuit components - Google Patents

Inspection equipment for integrated circuit components

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Publication number
JP2936628B2
JP2936628B2 JP2067256A JP6725690A JP2936628B2 JP 2936628 B2 JP2936628 B2 JP 2936628B2 JP 2067256 A JP2067256 A JP 2067256A JP 6725690 A JP6725690 A JP 6725690A JP 2936628 B2 JP2936628 B2 JP 2936628B2
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JP
Japan
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tape
inspection
integrated circuit
holding surface
mounting
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潔 木村
寿 小黒
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JSR Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、集積回路部品の検査装置に関し、詳しく
は、長尺帯状の可撓性テープに多数の集積回路部品が列
状に配設されてなる実装テープの当該集積回路部品の電
気的な検査を行うための検査装置に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated circuit component inspection apparatus, and more particularly, to a device in which a large number of integrated circuit components are arranged in a row on a long strip-shaped flexible tape. The present invention relates to an inspection device for performing an electrical inspection of the integrated circuit component of the mounting tape.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、電子産業の技術的進歩は著しく、とりわけ、I
C、LSI等の集積回路部品においては、益々高密度化や多
ピン化が進められると共に、一枚の基板に搭載される半
導体素子の個数も増大し、また薄型化の指向が強く、集
積回路部品の信頼性に対する要求は益々厳しさを増す状
態となってきた。従って、例えばバーン・イン・テスト
(温度試験)等のように集積回路部品の電気的な検査の
重要性および必要性も一層高められている。
In recent years, the technological progress in the electronics industry has been remarkable,
In integrated circuit components such as C and LSI, the density and the number of pins are increasing, and the number of semiconductor elements mounted on one substrate is increasing. The requirements for component reliability have become increasingly severe. Accordingly, the importance and necessity of electrical testing of integrated circuit components such as a burn-in test (temperature test) has been further increased.

しかして、最近においては、長尺帯状の可撓性テープ
に多数の集積回路部品を列状に配設して実装テープを構
成し、この実装テープを連続的に組立工程に供給するシ
ステムが採用され、そのためこのような長尺帯状の実装
テープの集積回路部品の電気的な検査に好適な検査装置
の開発が望まれている。
Recently, a system in which a large number of integrated circuit components are arranged in a row on a long strip-shaped flexible tape to form a mounting tape, and a system for continuously supplying the mounting tape to an assembly process is employed. Therefore, development of an inspection apparatus suitable for electrical inspection of integrated circuit components of such a long strip-shaped mounting tape is desired.

しかるに、従来の集積回路部品の検査装置としては、
次に掲げるものが知られている。
However, as a conventional integrated circuit component inspection apparatus,
The following are known:

(1) 配線パターンを設けられた検査用基板上に集積
回路部品を搭載するための検査用ソケットを配置して構
成した検査装置。
(1) An inspection apparatus in which an inspection socket for mounting an integrated circuit component is arranged on an inspection substrate provided with a wiring pattern.

(2) バネ性を有するコンタクトピンと加圧蓋とを備
えた匡体内に、集積回路部品を加圧固定して検査する検
査用ソケットを配置して構成したフラットパッケージIC
用の検査装置。
(2) A flat package IC in which an inspection socket for pressure-fixing and inspecting integrated circuit components is arranged in a housing provided with a contact pin having a spring property and a pressure lid.
Inspection equipment.

(3) 上記(2)におけるコンタクトピンの代わり
に、検査電極を備えた検査用回路板と導電性弾性板とを
用いて構成した検査装置。
(3) An inspection device comprising an inspection circuit board provided with an inspection electrode and a conductive elastic plate instead of the contact pin in the above (2).

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかし、上記(1)〜(3)の検査装置では、例えば
幅が35mmで長さが20m程度の連続した一本の長尺帯状の
可撓性テープに多数の集積回路部品が列状に配設されて
なる実装テープにおける当該集積回路部品のバーン・イ
ン・テストを行う場合には、当該実装テープを適宜の間
隔で切断して短くしなければ、スペースが限られたオー
ブン内に収納することが困難であるため、実際にバーン
・イン・テストを行うことができず、従って、長尺帯状
の実装テープを切断せずに連続的に組立工程に供給する
システムに対しては適用できない問題がある。
However, in the inspection apparatus of (1) to (3), a large number of integrated circuit components are arranged in a row on a continuous long strip-shaped flexible tape having a width of about 35 mm and a length of about 20 m. When performing a burn-in test of the integrated circuit component on the mounting tape that is installed, it is necessary to cut the mounting tape at appropriate intervals to shorten it and store it in an oven with limited space. Is difficult to perform a burn-in test, and therefore cannot be applied to a system in which a long strip of mounting tape is continuously supplied to an assembling process without being cut. is there.

本発明は以上の如き事情に基づいてなされたものであ
って、その目的は、長尺帯状の可撓性テープに多数の集
積回路部品が列状に配設されてなる実装テープを切断せ
ずに長尺帯状の状態のままで各集積回路部品の電気的な
検査を効率的に行うことができる集積回路部品の検査装
置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to cut a mounting tape in which a large number of integrated circuit components are arranged in a row on a long strip-shaped flexible tape. Another object of the present invention is to provide an integrated circuit component inspection apparatus capable of efficiently performing an electrical inspection of each integrated circuit component in a long strip state.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

以上の目的を達成するため、本発明の検査装置におい
ては、長尺帯状の可撓性テープに多数の集積回路部品が
列状に配設されてなる実装テープの当該集積回路部品の
電気的な検査を行うための検査装置であって、複数の平
坦な側面からなる多角柱面状の保持面を有するホルダー
と、このホルダーの保持面上に、不連続的にもしくは連
続的に螺旋状に配置された、多数の検査回路が列状に配
置されてなる検査手段と、この検査手段上に重ね合わせ
られて不連続的にもしくは連続的に螺旋状に配置された
コンタクトテープと、このコンタクトテープ上に重ね合
わせられて前記ホルダーの保持面に連続的な螺旋状に巻
回された状態に配置された前記実装テープを、当該保持
面に対して加圧する加圧手段とを備えてなる構成を採用
する。
In order to achieve the above object, in the inspection apparatus of the present invention, an electrical connection of the integrated circuit component of a mounting tape in which a large number of integrated circuit components are arranged in a row on a long strip-shaped flexible tape is provided. An inspection device for performing an inspection, comprising: a holder having a polygonal cylindrical holding surface having a plurality of flat side surfaces; and a discontinuously or continuously helically disposed on the holding surface of the holder. Inspection means in which a large number of inspection circuits are arranged in a row, a contact tape superimposed on the inspection means and discontinuously or continuously spirally arranged, and And a pressing means for pressing the mounting tape, which is arranged in a state of being continuously spirally wound on the holding surface of the holder and superposed on the holding surface, against the holding surface. I do.

すなわち、本発明においては、複数の平坦な側面から
なる多角柱面状の保持面を有する従来にない特殊の形状
のホルダーを用いて、検査手段と、コンタクトテープ
と、実装テープとを連続的な螺旋状に配置する構成を採
用することにより、実装テープを切断せずに長尺帯状の
状態のままで各集積回路部品の検査を可能にするととも
に、装置の小型化をも達成したものである。
That is, in the present invention, the inspection means, the contact tape, and the mounting tape are continuously connected to each other by using a holder having a non-conventional special shape having a polygonal columnar holding surface having a plurality of flat side surfaces. By adopting a configuration of helically disposing, it is possible to inspect each integrated circuit component in a long strip state without cutting the mounting tape, and also achieve downsizing of the device. .

ホルダーの保持面は、複数の平坦な側面からなる多角
柱面状であって、その角数と、各側面の辺の長さは、実
装テープの幅、長さ、集積回路部品の配列ピッチ等を考
慮して適宜選定される。すなわち、保持面のコーナー部
においては、実装テープに折れ目がつかないようにその
角度が緩やかなことが好ましく、この点からは保持面の
角数は多いほどよく、具体的には4角以上がよい。ま
た、実装テープの集積回路部品がコーナー部に位置され
ないように、特に集積回路部品の導電部を構成する銅箔
等が折れ目によって切損しないように各側面の辺の長さ
を選定することが肝要である。
The holding surface of the holder is a polygonal columnar surface composed of a plurality of flat side surfaces, and the number of corners and the length of the side of each side surface is determined by the width and length of the mounting tape, the arrangement pitch of the integrated circuit components, and the like. Is appropriately selected in consideration of That is, at the corners of the holding surface, it is preferable that the angle is gentle so that the mounting tape is not creased. From this point, the number of corners of the holding surface is preferably as large as possible. Is good. In addition, the length of each side should be selected so that the integrated circuit components of the mounting tape are not located at the corners, and in particular, so that the copper foil and the like forming the conductive portion of the integrated circuit components are not cut by the fold. Is essential.

ホルダーの保持面は、筒体からなることが好ましく、
この場合には、筒内部において必要な配線部を設けるこ
とが可能となり、さらに小スペース化を図ることがで
き、また、検査手段を密に配置して相当に長尺な実装テ
ープの検査をも可能にすることができる。なお、配線部
を保持面の外面側に配置することも可能である。
The holding surface of the holder is preferably made of a cylindrical body,
In this case, it is possible to provide a necessary wiring portion inside the cylinder, it is possible to further reduce the space, and it is also possible to closely arrange the inspection means to inspect a considerably long mounting tape. Can be made possible. In addition, it is also possible to arrange the wiring portion on the outer surface side of the holding surface.

検査手段は、多数の検査回路が実装テープの集積回路
部品に対応するように列状に配置されてなるものであ
り、この検査回路は、実装テープの各集積回路部品の電
気的な検査を行うための回路である。この検査手段とし
ては、好適に検査テープを使用することができる。
The inspection means includes a number of inspection circuits arranged in a row so as to correspond to the integrated circuit components of the mounting tape, and the inspection circuit performs an electrical inspection of each integrated circuit component of the mounting tape. Circuit for As this inspection means, an inspection tape can be suitably used.

この検査手段は、ホルダーの保持面上に、不連続的に
もしくは連続的に螺旋状に配置される。すなわち、検査
手段自体は、帯状の状態である必要はないので、検査手
段を各側面ごとに並べて配置してコーナー部には位置さ
れないようにして、多数の検査手段の集合体によって、
保持面全体に不連続的な螺旋状に配置された状態にする
こともできる。また、帯状の検査手段を用いることも可
能である。
The inspection means is discontinuously or continuously spirally arranged on the holding surface of the holder. That is, since the inspection means itself does not need to be in a belt-like state, the inspection means are arranged side by side so as not to be located at the corners, and a collection of a large number of inspection means,
It is also possible to provide a discontinuous spiral arrangement over the entire holding surface. It is also possible to use a belt-like inspection means.

検査手段を螺旋状に配置する際の傾斜角(リード角)
を適宜設定することにより、螺旋状に配置する数を制御
することができ、その結果、実装テープの長さに適合す
る長さの検査手段を配置することができる。
Inclination angle (lead angle) when spirally arranging inspection means
Can be controlled as appropriate, and as a result, it is possible to arrange the inspection means having a length suitable for the length of the mounting tape.

コンタクトテープは、検査手段と、実装テープとの間
に介挿されて、両者の電気的な接続を達成するためのも
のであり、検査手段上に重ね合わせられて不連続的にも
しくは連続的に螺旋状に配置される。すなわち、このコ
ンタクトテープ自体も、帯状の状態である必要はないの
で、多数のコンタクトテープ片を検査手段上に重ね合わ
せて保持面全体に不連続的な螺旋状に配置することもで
きる。また、帯状の1本のコンタクトテープを用いるこ
とも可能である。
The contact tape is interposed between the inspection means and the mounting tape to achieve an electrical connection therebetween, and is superimposed on the inspection means discontinuously or continuously. It is arranged in a spiral. That is, since the contact tape itself does not need to be in a strip shape, a large number of contact tape pieces can be superimposed on the inspection means and arranged in a discontinuous spiral shape over the entire holding surface. It is also possible to use one strip-shaped contact tape.

実装テープの検査手段に対する位置決め手段として
は、保持面と、検査手段と、コンタクトテープと、実装
テープとの対応する位置に、それぞれパーフォレーショ
ンを設けて、このパーフォレーションに位置決めピンを
挿入する手段を採用することができる。パーフォレーシ
ョンおよび位置決めピンにより位置決めする個所は、保
持面の各側面において螺旋状に巻回された実装テープの
各片について、4〜6個所が好ましい。
As means for positioning the mounting tape with respect to the inspection means, a means for providing perforations at positions corresponding to the holding surface, the inspection means, the contact tape, and the mounting tape, and inserting a positioning pin into the perforation is employed. be able to. It is preferable that the perforations and the positions to be positioned by the positioning pins are 4 to 6 for each piece of the mounting tape spirally wound on each side surface of the holding surface.

加圧手段は、コンタクトテープ上に重ね合わせられて
ホルダーの保持面に連続的な螺旋状に巻回された状態に
配置された実装テープを、当該保持面に対して加圧する
ものである。
The pressing means presses the mounting tape, which is superimposed on the contact tape and arranged in a state of being continuously spirally wound around the holding surface of the holder, against the holding surface.

この加圧手段による加圧によって、検査手段と、コン
タクトテープと、実装テープの集積回路部品とが密着し
てこれらの電気的な接続が達成される。
By the pressurization by the pressurizing unit, the inspection unit, the contact tape, and the integrated circuit component of the mounting tape are brought into close contact with each other, and their electrical connection is achieved.

具体的には、保持面の各側面ごとに加圧部材を配置し
て当該側面に配置された実装テープの全体を一挙に加圧
する構成、各側面において螺旋状に巻回された実装テー
プの各片ごとに加圧する構成、等の種々の構成を採用す
ることができる。
Specifically, a configuration in which a pressing member is disposed for each side surface of the holding surface and the entire mounting tape disposed on the side surface is pressed at once, and each of the mounting tapes spirally wound on each side surface. Various configurations, such as a configuration in which pressure is applied to each piece, can be adopted.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を説明するが、本発明の実施の
態様はこれらの実施例に限定されるものではない。
Hereinafter, examples of the present invention will be described, but embodiments of the present invention are not limited to these examples.

第1図に示す実施例では、バーン・イン・テストに好
適な検査装置を示し、ホルダー10は、8つの同形の平坦
な側面12からなる正八角柱面状の保持面11と、上部壁13
および下部壁14とからなる。
In the embodiment shown in FIG. 1, an inspection apparatus suitable for a burn-in test is shown, in which a holder 10 has a regular octagonal prism-shaped holding surface 11 composed of eight identical flat side surfaces 12 and an upper wall 13.
And a lower wall 14.

この保持面11のコーナー部の角度は135゜と緩やかで
あって、巻回された実装テープ50に折れ目がつくおそれ
がない。
The angle of the corner of the holding surface 11 is 135 °, which is gentle, and there is no fear that the wound mounting tape 50 will be creased.

各側面12の片の長さは、例えば長片が50〜100cm、短
辺が20〜50cm程度である。
The length of the piece of each side surface 12 is, for example, about 50 to 100 cm for the long piece and about 20 to 50 cm for the short side.

このホルダー10の保持面11は中空筒体からなり、その
筒内には、検査のための配線部(図示省略)が設けられ
ている。
The holding surface 11 of the holder 10 is formed of a hollow cylinder, and a wiring portion (not shown) for inspection is provided in the cylinder.

ホルダー10の材質としては、軽くて、熱変形が少な
く、150℃以上の耐熱性があるものが好ましく、具体的
には、耐熱性樹脂、金属等から選択することができる。
The material of the holder 10 is preferably a material that is light, has little thermal deformation, and has a heat resistance of 150 ° C. or higher, and can be specifically selected from a heat-resistant resin, a metal, and the like.

検査テープ20は、第2図に示すように、保持面11の各
側面12の幅に対応した長さの短冊状の多数の検査テープ
片21の集合体からなり、この短冊状の多数の検査テープ
片21が、各側面12ごとに一定の傾斜角α、通常1〜10度
好ましくは1〜5度の角度で平行に並ぶように配置され
ていて、これらの検査テープ片21の集合体が、保持面11
の全体に不連続的な螺旋状に巻回された状態となってい
る。
As shown in FIG. 2, the inspection tape 20 is composed of an aggregate of a large number of strip-shaped inspection tape pieces 21 having a length corresponding to the width of each side surface 12 of the holding surface 11, and the strip-shaped inspection The tape pieces 21 are arranged so as to be arranged in parallel at a constant inclination angle α, usually 1 to 10 degrees, preferably 1 to 5 degrees for each side surface 12. , Holding surface 11
Are wound in a discontinuous spiral shape.

各検査テープ片21の長さは、例えば長片が10〜50m、
短辺が2〜10cm程度である。
The length of each inspection tape piece 21 is, for example, 10 to 50 m for the long piece,
The short side is about 2 to 10 cm.

また、隣接する検査テープ片21間のピッチPは、4〜
5cm程度である。
The pitch P between adjacent test tape pieces 21 is 4 to
It is about 5cm.

各検査テープ片21には、第3図に示すように、実装テ
ープ50の集積回路部品51に対応する位置関係で、各集積
回路部品51の電気的な検査を行うための複数の検査回路
22が列状に配置されている。
As shown in FIG. 3, each inspection tape piece 21 has a plurality of inspection circuits for performing an electrical inspection of each integrated circuit component 51 in a positional relationship corresponding to the integrated circuit component 51 of the mounting tape 50.
22 are arranged in rows.

コンタクトテープ30は、第4図に示すように、検査テ
ープ片21と同様の大きさの短冊状のコンタクトテープ片
31の多数がそれぞれ検査テープ片21上に重ね合わせて配
置されていて、これらのコンタクトテープ片31の集合体
が、保持面11の全体に不連続的な螺旋状に巻回された状
態となっている。
As shown in FIG. 4, the contact tape 30 is a strip-shaped contact tape piece having the same size as the inspection tape piece 21.
Many of the contact tapes 31 are arranged on the test tape pieces 21 in a superimposed state, and the aggregate of the contact tape pieces 31 is wound in a discontinuous spiral shape over the entire holding surface 11. ing.

このコンタクトテープ30は、第3図にも示されている
ように、検査テープ20の検査回路22の導電部23と、実装
テープ50の集積回路部品51の導電部52との電気的な接続
を達成するものであり、コンタクトテープ30の導電部32
は、実装テープ50の導電部52に対応する位置に設けられ
ている。
As shown in FIG. 3, the contact tape 30 electrically connects the conductive portion 23 of the test circuit 22 of the test tape 20 to the conductive portion 52 of the integrated circuit component 51 of the mounting tape 50. The conductive part 32 of the contact tape 30
Are provided at positions corresponding to the conductive portions 52 of the mounting tape 50.

加圧手段40は、保持面11の各側面12ごとに配置された
加圧部材41を有してなり、各加圧部材41によって実装テ
ープ50が各側面12ごとに一括して加圧される。この加圧
部材41による加圧によって、検査テープ20と、コンタク
トテープ30と、実装テープ50の集積回路部品51とが密着
されてこれらの電気的な接続が達成される。
The pressing means 40 has a pressing member 41 arranged for each side surface 12 of the holding surface 11, and the mounting tape 50 is collectively pressed for each side surface 12 by each pressing member 41. . Due to the pressurization by the pressurizing member 41, the test tape 20, the contact tape 30, and the integrated circuit component 51 of the mounting tape 50 are brought into close contact with each other, and an electrical connection therebetween is achieved.

実装テープ50の検査テープ20に対する位置決めは、第
5図に示すように、側面12と、検査テープ片21と、コン
タクトテープ片31と、実装テープ50との対応する位置
に、それぞれパーフォレーションを設けて、これらのパ
ーフォレーションに位置決めピン60を挿入することによ
って達成されている。位置決め個所は、短冊状の検査テ
ープ片21のそれぞれについて、例えば隅部の4ヵ所であ
る。
As shown in FIG. 5, the mounting tape 50 is positioned relative to the test tape 20 by providing perforations at positions corresponding to the side surface 12, the test tape piece 21, the contact tape piece 31, and the mounting tape 50, respectively. This is achieved by inserting positioning pins 60 into these perforations. The positioning locations are, for example, four corner locations for each of the strip-shaped inspection tape pieces 21.

検査の対象となる実装テープ50の具体例を第6図〜第
8図に示す。これらの図において、51は集積回路部品、
52は導電部、53は可撓性テープ、55はパーフォレーショ
ンである。
6 to 8 show specific examples of the mounting tape 50 to be inspected. In these figures, 51 is an integrated circuit component,
52 is a conductive part, 53 is a flexible tape, and 55 is a perforation.

この実施例の検査装置によれば、長尺帯状の実装テー
プ50を切断することなく長尺帯状のままでその集積回路
部品の電気的な検査を行うことができるので、長尺帯状
の実装テープ50を切断せずに連続的に組立工程に供給す
るシステムに好適な検査装置となる。
According to the inspection apparatus of this embodiment, since the integrated circuit components can be electrically inspected without cutting the long strip-shaped mounting tape 50, the long strip-shaped mounting tape can be used. An inspection device suitable for a system that continuously supplies the assembly process without cutting 50 is provided.

そして、長尺帯状の実装テープ50をホルダー10の保持
面11に螺旋状に巻回した状態で検査を行うので、実装テ
ープ50を直線状の姿勢で検査する場合に比して、装置全
体の大きさを十分に小型化しながら、格段に大きな検査
能力が発揮される。
Then, since the inspection is performed in a state where the long strip-shaped mounting tape 50 is spirally wound around the holding surface 11 of the holder 10, the entire device is compared with the case where the mounting tape 50 is inspected in a linear posture. With a sufficiently small size, a significantly greater inspection capability is exhibited.

従って、バーン・イン・テストにおいては、小型のオ
ーブンによって試験を行うことが可能となり、また、オ
ーブン内における取扱いも容易となり、そして、1000〜
5000個もの多数の集積回路部品51を一挙に検査すること
が可能となり、検査効率が格段に向上する。
Therefore, in the burn-in test, the test can be performed with a small oven, the handling in the oven becomes easy, and 1000 to
As many as 5000 integrated circuit components 51 can be inspected at once, and the inspection efficiency is greatly improved.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、本発明によれば、複数の平坦な
側面からなる多角柱面状の保持面を有する特殊の形状の
ホルダーを用いて、長尺帯状の可撓性テープに多数の集
積回路部品が列状に配設されてなる実装テープを連続的
な螺旋状に巻回された状態に配置して検査を行うので、
実装テープを切断せずに長尺帯状の状態のままで各集積
回路部品の検査が可能になり、しかも小型化を図りなが
ら格段に大きな検査能力が発揮される装置を得ることが
できる。
As described above, according to the present invention, a large number of integrated circuits can be formed on a long strip-shaped flexible tape by using a specially shaped holder having a polygonal columnar holding surface composed of a plurality of flat side surfaces. Since the inspection is performed by arranging the mounting tape in which the components are arranged in a row and winding it in a continuous spiral shape,
Inspection of each integrated circuit component can be performed without cutting the mounting tape in a long strip state, and an apparatus that can exhibit a remarkably large inspection capability while achieving downsizing can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明に係る検査装置の一実施例を示す概略
図、第2図は検査テープの配置状態を示す説明図、第3
図は検査テープ上にコンタクトテープおよび実装テープ
が重ね合わせられた状態を示す説明図、第4図はコンタ
クトテープの配置状態を示す説明図、第5図は位置決め
手段の具体例を示す説明図、第6図〜第8図はそれぞれ
実装テープの具体例を示す説明図である。 10……ホルダー、11……保持面 12……側面、13……上部壁 14……下部壁、20……検査テープ 21……検査テープ片、22……検査回路 23……導電部、30……コンタクトテープ 31……コンタクトテープ片 32……導電部、40……加圧手段 41……加圧部材、50……実装テープ 51……集積回路部品、52……導電部 53……可撓性テープ、60……位置決めピン
FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment of an inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is an explanatory view showing an arrangement state of an inspection tape, and FIG.
FIG. 4 is an explanatory view showing a state in which a contact tape and a mounting tape are superimposed on an inspection tape, FIG. 4 is an explanatory view showing an arrangement state of a contact tape, FIG. 5 is an explanatory view showing a specific example of positioning means, 6 to 8 are explanatory diagrams each showing a specific example of the mounting tape. 10 Holder, 11 Holding surface 12 Side, 13 Upper wall 14 Lower wall, 20 Inspection tape 21 Inspection tape piece 22, 22 Inspection circuit 23 Conductor, 30 … Contact tape 31… Contact tape piece 32… Conductive part, 40… Pressing means 41… Pressing member, 50… Mounting tape 51… Integrated circuit components, 52… Conductive part 53… Possible Flexible tape, 60 ... Positioning pin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 31/26,31/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) G01R 31/26, 31/00

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】長尺帯状の可撓性テープに多数の集積回路
部品が列状に配設されてなる実装テープの当該集積回路
部品の電気的な検査を行うための検査装置であって、 複数の平坦な側面からなる多角柱面状の保持面を有する
ホルダーと、 このホルダーの保持面上に、不連続的にもしくは連続的
に螺旋状に配置された、多数の検査回路が列状に配置さ
れてなる検査手段と、 この検査手段上に重ね合わせられて不連続的にもしくは
連続的に螺旋状に配置されたコンタクトテープと、 このコンタクトテープ上に重ね合わせられて前記ホルダ
ーの保持面に連続的な螺旋状に巻回された状態に配置さ
れた前記実装テープを、当該保持面に対して加圧する加
圧手段とを備えてなることを特徴とする集積回路部品の
検査装置。
1. An inspection device for electrically inspecting an integrated circuit component of a mounting tape in which a large number of integrated circuit components are arranged in a row on a long strip-shaped flexible tape, A holder having a polygonal columnar holding surface composed of a plurality of flat side surfaces, and a large number of inspection circuits arranged discontinuously or continuously in a spiral shape on the holding surface of the holder in a row. Inspection means arranged, a contact tape superimposed on the inspection means and discontinuously or continuously spirally arranged, and a superimposed on the contact tape and on a holding surface of the holder An inspection device for an integrated circuit component, comprising: a pressurizing unit configured to press the mounting tape, which is arranged in a continuous spirally wound state, against the holding surface.
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