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JP2932760B2 - Observation device for semiconductor chips - Google Patents

Observation device for semiconductor chips

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Publication number
JP2932760B2
JP2932760B2 JP3145835A JP14583591A JP2932760B2 JP 2932760 B2 JP2932760 B2 JP 2932760B2 JP 3145835 A JP3145835 A JP 3145835A JP 14583591 A JP14583591 A JP 14583591A JP 2932760 B2 JP2932760 B2 JP 2932760B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
outer lead
landing
semiconductor chip
camera
observation
Prior art date
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JP3145835A
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Japanese (ja)
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JPH04369239A (en
Inventor
晋太郎 川口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP3145835A priority Critical patent/JP2932760B2/en
Publication of JPH04369239A publication Critical patent/JPH04369239A/en
Priority to US08/185,165 priority patent/US5420691A/en
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体チップの観察装置
に係り、半導体チップから延出するアウターリードを透
明な着地体に着地させて、カメラにより観察するように
したものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for observing a semiconductor chip, in which an outer lead extending from a semiconductor chip is landed on a transparent landing body and observed by a camera.

【0002】[0002]

【従来の技術】ポリイミドのような合成樹脂により作ら
れたフィルムキャリヤに、半導体を搭載した後、このフ
ィルムキャリヤを打抜装置により打ち抜いて半導体チッ
プを形成することが、所謂TAB法として知られてい
る。
2. Description of the Related Art It is known as a so-called TAB method that a semiconductor chip is formed by mounting a semiconductor on a film carrier made of a synthetic resin such as polyimide and then punching the film carrier with a punching device. I have.

【0003】このような半導体チップを基板にボンディ
ングすることは、一般にアウターリードボンディングと
呼称されるが、このアウターリードボンディングは、半
導体から極小ピッチで多数本延出する極細のアウターリ
ードを、基板に形成された極細の電極部にマッチングさ
せねばならないため、予めこのアウターリードをカメラ
により観察して、その位置を精密に検出することが行わ
れる。
[0003] Bonding such a semiconductor chip to a substrate is generally referred to as outer lead bonding. In this outer lead bonding, a very small number of outer leads extending from a semiconductor at a very small pitch are attached to the substrate. Since the outer lead must be matched with the formed very fine electrode portion, the outer lead is observed in advance by a camera, and the position of the outer lead is precisely detected.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで上記フィルム
キャリヤは、リールに巻回して管理されており、したが
ってフィルムキャリヤを打ち抜いて形成されたアウター
リードは、巻きぐせがつくなどして屈曲していることが
多い。
The above-mentioned film carrier is managed by being wound around a reel. Therefore, the outer lead formed by punching the film carrier is bent, for example, by being curled. There are many.

【0005】また半導体をフィルムキャリヤにボンディ
ングすることは、一般にインナーリードボンディングと
呼称されるが、このインナーリードボンディングは、フ
ィルムキャリヤのインナーリードを、半導体の回路面に
形成された電極部に熱圧着することにより行われるた
め、その際、熱応力が生じてリードは変形しやすい。こ
のようにフィルムキャリヤから作られるリードは、種々
の理由により屈曲変形しやすいものである。
[0005] Bonding of a semiconductor to a film carrier is generally called inner lead bonding. In this inner lead bonding, the inner leads of the film carrier are thermo-compressed to an electrode portion formed on the circuit surface of the semiconductor. In this case, thermal stress is generated and the lead is easily deformed. Reeds made from a film carrier in this manner are easily bent and deformed for various reasons.

【0006】図5はこのように屈曲変形した半導体チッ
プPのアウターリードLをカメラ100により観察して
いる様子を示すものであるが、アウターリードLは屈曲
変形しているため、その正しい位置を観察できず、した
がってこの観察結果に基いてこの半導体チップPを基板
101に搭載しても、アウターリードLを基板101の
電極部102に正確にマッチングさせることはできない
こととなる。103は半導体チップPを吸着する移載ヘ
ッドのノズルである。
FIG. 5 shows a state in which the outer lead L of the semiconductor chip P bent and deformed in this way is observed by the camera 100. Since the outer lead L is bent and deformed, its correct position is determined. The observation cannot be performed, and therefore, even if the semiconductor chip P is mounted on the substrate 101 based on the observation result, the outer leads L cannot be accurately matched with the electrode portions 102 of the substrate 101. Reference numeral 103 denotes a nozzle of the transfer head that sucks the semiconductor chip P.

【0007】そこで本発明は、屈曲変形したアウターリ
ードを正しく観察するできる手段を提供することを目的
とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide means for correctly observing a bent outer lead.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】このために本発明は、半
導体チップのアウターリードを着地させる透明な着地体
と、この着地体に着地したアウターリードの上方に開閉
自在に配設された照明体と、このアウターリードを上記
着地体に押圧する押圧部と、この着地体に押圧されたア
ウターリードを観察するカメラとから半導体チップの観
察装置を構成している。
SUMMARY OF THE INVENTION For this purpose, the present invention provides a transparent landing body for landing an outer lead of a semiconductor chip, and an illuminating body disposed openably and closably above the outer lead landing on the landing body. And a pressing portion that presses the outer lead against the landing body, and a camera that observes the outer lead pressed by the landing body, constitute a semiconductor chip observation device.

【0009】[0009]

【作用】上記構成において、半導体チップのアウターリ
ードを、透明な着地板に着地させるとともに、照明体を
発光させることにより、その屈曲変形を矯正し、カメラ
により観察する。
In the above construction, the outer lead of the semiconductor chip is landed on the transparent landing plate and the illuminator is illuminated to correct its bending deformation and observed by the camera.

【0010】この場合、押圧部によりアウターリードを
着地体に押圧することにより、アウターリードの屈曲変
形をより積極的に矯正し、アウターリードを正しく観察
できる。
In this case, by pressing the outer lead against the landing body by the pressing portion, the bending deformation of the outer lead can be more positively corrected, and the outer lead can be correctly observed.

【0011】[0011]

【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0012】図1は半導体チップの観察装置の斜視図で
あって、1はXテーブル2とYテーブル3から成るXY
テーブルであり、Yテーブル3から延出する支持板4に
は、マイクロメータ5を介してカメラ6が装着されてい
る。このマイクロメータ5は、カメラ6を昇降させて焦
点距離を調整する。MX,MYはXモータとYモータで
ある。
FIG. 1 is a perspective view of an apparatus for observing a semiconductor chip, wherein 1 is an XY comprising an X table 2 and a Y table 3.
A camera 6 is mounted via a micrometer 5 on a support plate 4 which is a table and extends from the Y table 3. The micrometer 5 moves the camera 6 up and down to adjust the focal length. MX and MY are an X motor and a Y motor.

【0013】10はXYテーブル1の上部側方に設けら
れたテーブル板であり、その上面にはXレール11、ス
ライダ12を介して、ブラケット13がX方向に摺動自
在に装着されている。14はシリンダ、15はそのロッ
ドである。ロッド15の先端部はブラケット13に結合
されており、ロッド15が前進後退することにより、ブ
ラケット13はX方向に摺動する。
Reference numeral 10 denotes a table plate provided on the upper side of the XY table 1. A bracket 13 is slidably mounted in the X direction on an upper surface of the XY table 1 via an X rail 11 and a slider 12. 14 is a cylinder and 15 is its rod. The tip of the rod 15 is connected to the bracket 13, and the bracket 13 slides in the X direction when the rod 15 moves forward and backward.

【0014】20はブラケット13の上部に装着された
着地ステージであって、ガラス板のような透明なプレー
ト状の着地体21が装着されている。この着地体21
は、上述のように、シリンダ14が作動することにより
X方向に摺動して、カメラ6の上方に前進し、また側方
に後退する。
Reference numeral 20 denotes a landing stage mounted on the upper part of the bracket 13, on which a transparent plate-like landing body 21 such as a glass plate is mounted. This landing object 21
As described above, the cylinder 14 slides in the X direction due to the operation of the cylinder 14, moves forward above the camera 6, and retreats to the side.

【0015】図1において、22は、着地ステージ20
の上方に間隔tをおいて左右一対設けられたプレート状
の開閉自在な照明体であって、ピン24に回転自在に軸
支されている。31はシリンダであって、そのロッド3
2は照明体22に結合されている(図2も参照)。照明
体22はガラスのような透光体により形成されており、
その背面には光ファイバ34が接続されている。35は
光源である。
In FIG. 1, reference numeral 22 denotes a landing stage 20.
A plate-like openable and closable illuminating body provided with a pair of left and right at an interval t above and is rotatably supported by a pin 24. 31 is a cylinder whose rod 3
2 is coupled to the illumination body 22 (see also FIG. 2). The lighting body 22 is formed of a translucent body such as glass,
An optical fiber 34 is connected to the back surface. 35 is a light source.

【0016】図3に示すように、シリンダ31のロッド
32が突出すると、照明体22は下方に回転し、その先
端部に一体的に突設された押圧部22aにより、アウタ
ーリードLを着地体21に押圧する。22bは漏光防止
コーティング部であって、漏光面である押圧部22aの
下面を除く照明体22の表面にコーティングされてい
る。
As shown in FIG. 3, when the rod 32 of the cylinder 31 projects, the illuminating body 22 rotates downward, and the outer lead L is brought into contact with the landing body by a pressing portion 22a integrally protruding from the distal end thereof. Press 21. Reference numeral 22b denotes a light leakage prevention coating portion, which is coated on the surface of the lighting body 22 except for the lower surface of the pressing portion 22a which is a light leakage surface.

【0017】28は可動ステージであって、X方向に移
動し、これに載置された半導体チップPを照明体22の
下方に搬入する。26は移載ヘッド、27はノズル、P
は半導体チップ、Lはフィルムキャリヤを打ち抜いて形
成されたアウターリード、CはアウターリードL上にイ
ンナーリードボンディングされた半導体である。
Reference numeral 28 denotes a movable stage which moves in the X direction and carries the semiconductor chip P mounted thereon under the illuminator 22. 26 is a transfer head, 27 is a nozzle, P
Denotes a semiconductor chip, L denotes an outer lead formed by punching a film carrier, and C denotes a semiconductor which is formed on the outer lead L by inner lead bonding.

【0018】この観察装置は上記のような構成より成
り、次に図4(a)〜(e)を併せて参照しながら、観
察方法を説明する。
This observation apparatus has the above-described configuration. Next, an observation method will be described with reference to FIGS. 4 (a) to 4 (e).

【0019】着地ステージ20が側方に退去し、また照
明体22が図2に示すように上方に開いた状態で、可動
ステージ28が前進し、これに載置された半導体チップ
Pを、カメラ6の上方に搬入する(図4(a))。
With the landing stage 20 retreated to the side and the illuminating body 22 opened upward as shown in FIG. 2, the movable stage 28 moves forward, and the semiconductor chip P mounted thereon is moved to the camera. 6 (FIG. 4A).

【0020】次いで、移載ヘッド26は可動ステージ2
8上に到来し、可動ステージ28上の半導体チップPを
吸着してピックアップするとともに、可動ステージ28
は側方に退去する(同図(b))。
Next, the transfer head 26 is moved to the movable stage 2.
8 and picks up the semiconductor chip P on the movable stage 28 by suction.
Departs to the side (FIG. 9B).

【0021】次いでシリンダ14のロッド15が突出す
ることにより、着地体21はカメラ6と半導体チップP
の間に進入し(同図(c))、次いでノズル27は下降
して、アウターリードLを着地体21に着地させる(同
図(c)鎖線)。次いで、図3を参照しながら説明した
ようにシリンダ31のロッド32が突出することによ
り、照明体22は閉じて、押圧部22aによりアウター
リードLを着地体21に押圧する(同図(d))。ここ
で、アウターリードLは、着地体21に着地すれば、そ
の屈曲変形はかなり矯正されるのであるが、更に押圧部
22aを押し付けることにより、より積極的に屈曲変形
を矯正し、正しい姿勢に保持させることができる。
Next, when the rod 15 of the cylinder 14 projects, the landing body 21 is connected to the camera 6 and the semiconductor chip P.
(FIG. 3C), and then the nozzle 27 descends to land the outer lead L on the landing body 21 (the dashed line in FIG. 3C). Next, as described with reference to FIG. 3, the rod 32 of the cylinder 31 protrudes, thereby closing the illumination body 22 and pressing the outer lead L against the landing body 21 by the pressing portion 22a (FIG. 3D). ). Here, when the outer lead L lands on the landing body 21, its bending deformation is considerably corrected. However, by further pressing the pressing portion 22a, the bending deformation is more positively corrected, and the outer lead L is brought into a correct posture. Can be retained.

【0022】次いで光源35は点灯し、光は光ファイバ
34を透過し、更に照明体22を透過して、押圧部22
aから漏光する。そこでXYテーブル1を作動させてカ
メラ6をXY方向に移動させながら、この着地体21を
通して、半導体Cの4辺から延出するアウターリードL
を下方から観察する(同図(d))。この場合、着地体
21のレベルを、この半導体チップPが搭載される基板
(図外)のレベルと同一にしておけば、半導体チップP
を基板に搭載する場合と同一状態でカメラ6により観察
できる。
Next, the light source 35 is turned on, the light passes through the optical fiber 34, further passes through the illuminating body 22, and the pressing portion 22
Light leaks from a. Therefore, the outer leads L extending from the four sides of the semiconductor C through the landing body 21 while operating the XY table 1 to move the camera 6 in the XY directions.
Is observed from below (FIG. 4D). In this case, if the level of the landing body 21 is the same as the level of the substrate (not shown) on which the semiconductor chip P is mounted, the semiconductor chip P
Can be observed by the camera 6 in the same state as when mounted on the substrate.

【0023】次いで照明体22が開いた後、ノズル27
は上昇して、半導体チップPを次工程へ移送し、またシ
リンダ14のロッド15が引き込むことにより、着地体
21は側方に退去する(同図(e))。
Next, after the lighting body 22 is opened, the nozzle 27
Rises, the semiconductor chip P is transferred to the next process, and the rod 15 of the cylinder 14 is retracted, so that the landing body 21 retreats to the side (FIG. 9E).

【0024】本発明は上記実施例に限定されないのであ
って、例えば可動ステージ28を介さずに、移載ヘッド
26のノズル27に半導体チップPを吸着して、直接着
地体21上に着地させ、カメラ6により観察するように
してもよく、また照明体を面光源体として、光源35や
光ファイバ34を不要にしてもよく、あるいは照明体は
スライド動作や上下動作をさせて開閉させてもよい。
The present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the semiconductor chip P is sucked to the nozzle 27 of the transfer head 26 without the intervention of the movable stage 28 and is directly landed on the landing body 21. The observation may be performed by the camera 6, the illumination body may be a surface light source body, and the light source 35 and the optical fiber 34 may not be necessary, or the illumination body may be opened and closed by performing a sliding operation or a vertical operation. .

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、半導体チ
ップのアウターリードを着地させる透明な着地体と、こ
の着地体に着地したアウターリードの上方に開閉自在に
配設された照明体と、このアウターリードを上記着地体
に押圧する押圧部と、この着地体に押圧されたアウター
リードを観察するカメラとから半導体チップの観察装置
を構成しているので、半導体から延出するアウターリー
ドの屈曲変形を矯正して、カメラにより精度よく観察で
きる。
As described above, the present invention relates to a transparent landing body for landing an outer lead of a semiconductor chip, and an illuminating body arranged to be openable and closable above the outer lead landing on the landing body. Since a semiconductor chip observation device is constituted by a pressing portion that presses the outer lead against the landing body and a camera that observes the outer lead pressed by the landing body, bending of the outer lead extending from the semiconductor is bent. The deformation can be corrected and observed with a camera.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る半導体チップの観察装置の斜視図FIG. 1 is a perspective view of a semiconductor chip observation device according to the present invention.

【図2】本発明に係る搭載中の側面図FIG. 2 is a side view during mounting according to the present invention.

【図3】本発明に係る半導体チップの観察中の側面図FIG. 3 is a side view of the semiconductor chip according to the present invention during observation.

【図4】本発明に係る観察のプロセスを説明する側面図FIG. 4 is a side view for explaining an observation process according to the present invention.

【図5】従来手段による観察中の斜視図FIG. 5 is a perspective view during observation by conventional means.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 カメラ 21 着地体 22 照明体 22a 押圧部 L アウターリード P 半導体チップ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Camera 21 Landing body 22 Illumination body 22a Pressing part L Outer lead P Semiconductor chip

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】半導体チップのアウターリードを着地させ
る透明な着地体と、この着地体に着地したアウターリー
ドの上方に開閉自在に配設された照明体と、このアウタ
ーリードを上記着地体に押圧する押圧部と、この着地体
に押圧されたアウターリードを観察するカメラとから成
ることを特徴とする半導体チップの観察装置。
1. A transparent landing body for landing an outer lead of a semiconductor chip, an illuminating body disposed openably and closably above the outer lead landing on the landing body, and pressing the outer lead against the landing body. And a camera for observing an outer lead pressed by the landing body.
【請求項2】上記押圧部が上記照明体に一体的に設けら
れていることを特徴とする請求項1記載の半導体チップ
の観察装置。
2. An apparatus according to claim 1, wherein said pressing portion is provided integrally with said illuminating body.
JP3145835A 1991-03-15 1991-06-18 Observation device for semiconductor chips Expired - Fee Related JP2932760B2 (en)

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US08/348,208 US5519495A (en) 1991-03-15 1994-11-28 Electronic component observation system

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