[go: up one dir, main page]

JP2916735B2 - プラズマ表面改質方法および装置 - Google Patents

プラズマ表面改質方法および装置

Info

Publication number
JP2916735B2
JP2916735B2 JP5065252A JP6525293A JP2916735B2 JP 2916735 B2 JP2916735 B2 JP 2916735B2 JP 5065252 A JP5065252 A JP 5065252A JP 6525293 A JP6525293 A JP 6525293A JP 2916735 B2 JP2916735 B2 JP 2916735B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
plasma
vacuum chamber
gas
ecr
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP5065252A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06280000A (ja
Inventor
尚 柴田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON SEIKOSHO KK
Original Assignee
NIPPON SEIKOSHO KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON SEIKOSHO KK filed Critical NIPPON SEIKOSHO KK
Priority to JP5065252A priority Critical patent/JP2916735B2/ja
Publication of JPH06280000A publication Critical patent/JPH06280000A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2916735B2 publication Critical patent/JP2916735B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】この発明は、プラズマ表面改質
法および装置に関し、さらに詳しくは、耐磨耗性,耐食
性,磁気特性,電気特性などを向上させるために、基体
の表面あるいは表面の一部をその基体を構成する元素を
含む化合物に変化させる表面改質処理を、ECRプラズ
マを利用して行うプラズマ表面改質方法およびプラズマ
表面改質装置に関する。 【0002】 【従来の技術】耐磨耗性,耐食性,磁気特性,電気特性
などを向上させるために、基体の表面あるいは表面の一
部をその基体を構成する元素を含む化合物に変化させる
表面改質方法としては、例えばイオン注入法,イオン窒
化法が知られている。しかし、この種の表面改質処理
を、ECRプラズマを利用して行う従来技術は知られて
いない。 【0003】一方、表面改質処理ではないが、イオンプ
レーティングやスパッタリングのように基体の表面を基
体と異なる物質で覆う薄膜形成処理を、ECRプラズマ
を利用して行う技術は、例えば特開昭62−16787
8号公報や特開昭63−213664号公報に開示され
ている。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】上記のように、耐磨耗
性,耐食性,磁気特性,電気特性などを向上させるため
の表面改質処理を、ECRプラズマを利用して行う従来
技術は知られていない。また、上記特開昭62−167
878号公報や特開昭63−213664号公報に開示
薄膜形成処理は表面改質処理とは全く異なる技術であ
り、その技術をそのまま表面改質処理に適用することは
実質的に不可能である。そこで、この発明の目的は、耐
磨耗性,耐食性,磁気特性,電気特性などを向上させる
ために、基体の表面あるいは表面の一部をその基体を構
成する元素を含む化合物に変化させる表面改質処理を、
ECRプラズマを利用して行うECRプラズマ表面理方
法および装置を提供することにある。 【0005】 【課題を解決するための手段】第1の観点では、この発
明は、真空チャンバ内に被処理材としての基体を配置
し、その基体を表面改質用気体雰囲気下に置くと共に前
記真空チャンバ内でプラズマを発生することにより前記
基体の表面を改質する方法において、前記プラズマとし
てECR(=電子サイクロトロン共鳴)放電を用い、か
つ、前記基体に1kV以上、1000kV以下の負電圧
を印加し、前記基体の表面あるいは表面の一部をその基
体を構成する元素を含む化合物に変化させることを特徴
とするプラズマ表面改質方法を提供する。 【0006】第2の観点では、この発明は、被処理材
しての基体を内部に配置できる真空チャンバと、その真
空チャンバ内を減圧する真空排気手段と、前記基体の近
傍に表面改質用気体を供給する表面改質用気体供給手段
と、真空チャンバ内でECRプラズマを発生させるEC
Rプラズマ発生手段と、前記基体に1kV以上,100
0kV以下の負電位を印加する直流バイアス印加手段と
を具備してなることを特徴とするプラズマ表面改質装置
を提供する。第3の観点では、この発明は、被処理材と
しての基体を内部に配置できる真空チャンバと、その真
空チャンバ内を減圧する真空排気手段と、前記基体の近
傍に窒素ガスを供給する窒素ガス供給手段と、真空チャ
ンバ内でECRプラズマを発生させるECRプラズマ発
生手段と、前記基体に1kV以上,1000kV以下の
負電位を印加する直流バイアス印加手段とを具備し、前
記基体の表面あるいは表面の一部をその基体を構成する
元素を含む窒素化合物に変化させることを特徴とするプ
ラズマ表面改質装置を提供する。 【0007】 【作用】この発明のプラズマ表面改質方法および装置で
は、真空チャンバ内に被処理材としての基体を配置し,
真空チャンバ内を減圧し、且つ、基体を表面改質用気体
雰囲気下に置く。そして、1kV以上,1000kV以
下の負電位を基体に印加すると共に、真空チャンバ内に
ECRプラズマを発生させる。ECRプラズマは、電子
のスピン運動と磁場との共鳴作用による非常に高密度の
プラズマであるため、表面改質用気体の励起は高効率に
行われ、励起種の量は飛躍的に増加する。そして、その
励起種は、前記直流バイアスにより加速されて、基体
表面に作用し、改質する。かくして、耐磨耗性,耐食
性,磁気特性,電気特性などを向上させることが出来
る。特に、表面改質用気体として窒素ガスを用いれば、
前記基体の表面あるいは表面の一部をその基体を構成す
る元素を含む窒素化合物に変化させることが出来る。 【0008】 【実施例】以下、図に示す実施例によりこの発明をさら
に詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。図1は、この発明の一実施例のプラ
ズマ表面改質装置の構成図である。このプラズマ表面
装置1は、真空チャンバ2を備えている。その真空チ
ャンバ2の壁は、金属などの導電性材料によって形成さ
れており、アース電位に保持されている。また、真空チ
ャンバ2は、プラズマ生成室2Aとプラズマ処理室2B
とを備えている。 【0009】真空チャンバ2の底部には、真空排気口
3,3が設けられている。それら真空排気口3,3は、
可変バルブ4を介して、真空ポンプ5に接続されてい
る。 【0010】プラズマ処理室2Bの中央には、被処理物
Wの支持台を兼ねたDC電極6が設けられている。その
DC電極6と真空チャンバ2の間は、絶縁物7で絶縁さ
れ、且つ、1kV以上,1000kV以下の負電圧直流
バイアスをDC電極6に印加する直流電源8が接続され
ている。 【0011】プラズマ処理室2Bの側壁から中央に向け
て、表面改質用気体導入管9が延設されており、その先
端には、図2に示すように、被処理材Wを取り囲むリン
グ形状の表面改質用気体放出部9aが取り付けられてい
る。その表面改質用気体放出部9aには、多数の表面
用気体放出穴9bが穿設されている。表面改質用気体
導入管9の末端は、可変バルブ10およびマスフローコ
ントローラ11を介して、表面改質用気体ボンベ12に
接続されている。なお、駆動装置(図示せず)により前
記表面改質用気体導入管9が被処理材Wに沿って移動す
るようにしてもよい。また、前記表面改質用気体放出部
9aは、リング形状に限らず,被処理材Wの形状に合せ
た形状としてよい。さらに、表面改質用気体導入管を複
数本設置してもよい。 【0012】プラズマ生成室2Aの上部壁の中央部に
は、マイクロ波導波管13が設けられている。プラズマ
生成室2Aとマイクロ波導波管13との連結部には、プ
ラズマ生成室2Aの気密を保つために石英ガラス板14
が嵌められている。マイクロ波は、石英ガラス板14を
透過して、マイクロ波導波管13からプラズマ生成室2
Aに導入される。マイクロ波導波管13の横には、プラ
ズマ原料ガス導入管15が設けられている。このプラズ
マ原料ガス導入管15は、バルブ16およびマスフロー
コントローラ17を介して、プラズマ原料ガスボンベ1
8に接続されている。 【0013】プラズマ生成室2Aの周囲には、ECRの
ための磁界発生用コイル19が配設されている。プラズ
マ生成室2A,プラズマ処理室2Bおよび磁界発生用コ
イル19の中心軸は一致している。 【0014】次に、動作を説明する。被処理材WをDC
電極6の上に載置する。次に、真空ポンプ5にて真空チ
ャンバ2内を減圧する。真空チャンバ2内が所定の真空
度に到達したら、表面改質用気体導入管9より表面改質
用気体を導入し、可変バルブ10により所定の圧力とす
る。次に、プラズマ生成室2Aに、マイクロ波導波管1
3よりマイクロ波を導波すると共に、プラズマ原料ガス
導入管15からプラズマ原料ガスを導入する。さらに、
磁界発生用コイル19によりプラズマ生成室2B内を励
磁する。すると、前記プラズマ生成室2A内にECRプ
ラズマが生成される。このECRプラズマは、磁界発生
用コイル19が形成する発散磁界によって、プラズマ処
理室2Bへと流出する。 【0015】一方、DC電極6を介して、被処理材Wに
1kV以上,1000kV以下の負電圧直流バイアスを
印加する。すると、プラズマ生成室2Aからプラズマ処
理室2Bへと流出してきたECRプラズマ中の励起種
は、直流電界により加速され、被処理材Wの表面に作用
する。かくして、被処理材Wの表面が改質され、耐磨耗
性,耐食性,磁気特性,電気特性などを向上させること
が出来る。 【0016】以上のプラズマ表面改質装置1によれば、
直流電界でプラズマを加速して被処理材Wの表面に作用
させるため、イオン注入効果があり、窒素,酸素,炭素
などの任意の元素を効率良く被処理材Wの表面に含侵さ
せることが出来る。また、どのような形状の被処理材で
も均一に表面改質処理することが出来る。なお、上記プ
ラズマ表面改質装置1では、被処理材Wの加熱は行なっ
ていないが、ヒーターを別途設置し、加熱するようにし
てもよい。 【0017】−製造例− DC電極6上に、外径100mmのアルミニウム製の円
柱状被処理材Wを載置した。そして、真空ポンプ5によ
り、真空チャンバ2内を1×10-7Torrにまで減圧
した。次に、表面改質用気体導入管9から窒素を導入す
ると共に、可変バルブ10により真空チャンバ2内の圧
力を1×10-3Torrとした。この状態で、直流電源
8からDC電極6に10kVの負電圧を印加した。次い
で、マイクロ波導波管13から周波数2.45GHzの
マイクロ波を導入すると共に、プラズマ原料ガス導入管
15から窒素を導入し、さらに、所定の電流を磁界発生
用コイル19に供給して励磁し、この状態で、被処理材
Wの窒化処理を1時間行った。その結果、被処理材Wの
表面が窒化された。このようにして表面が窒化された被
処理材Wを真空チャンバ2内から取り出し、その表面
層の評価試験を行った。表面窒化層の厚さは、EPM
A(Electron Probe Micro Analysis)によると1μ
m程度であった。また、表面硬度は、マイクロビッカー
ス硬度計によるとHV500程度であった。また、被処
理材Wの表面には、一切の剥離は認められなかった。な
お、直流バイアスが1kVより小さいと、表面窒化層の
厚さ,硬度が不十分であった。また、直流バイアスが1
000kVより大きいと、放電が不安定となった。 【0018】このようにして表面が窒化された被処理材
Wを真空チャンバ2内から取り出し、その表面処理層の
評価試験を行った。表面処理層の厚さは、EPMA(El
ectron Probe Micro Analysis)によると1μm程度
であった。また、表面硬度は、マイクロビッカース硬度
計によるとHV500程度であった。また、被処理材W
の表面には、一切の剥離は認められなかった。なお、直
流バイアスが1kVより小さいと、表面処理層の厚さ,
硬度が不十分であった。また、直流バイアスが1000
kVより大きいと、放電が不安定となった。 【0019】 【発明の効果】この発明のプラズマ表面改質方法および
装置によれば、耐磨耗性,耐食性,磁気特性,電気特性
などを向上させるために、基体の表面あるいは表面の一
部をその基体を構成する元素を含む化合物に変化させる
表面改質処理を、ECRプラズマを利用して行うことが
出来る。また、任意の元素を効率良く被処理材の表面に
含侵させることが出来る。さらに、どのような形状の被
処理材でも均一に表面改質処理することが出来る。
【図面の簡単な説明】 【図1】この発明の一実施例のプラズマ表面改質装置の
説明図である。 【図2】図1のプラズマ表面改質装置における表面改質
用気体放出部の説明図である。 【符号の説明】 1 プラズマ表面改質装置 2 真空チャンバ 2A プラズマ生成室 2B プラズマ処理室 3 排気口 8 直流電源 9 表面改質用気体導入管 9a 表面改質用気体放出部 12 表面処理用気体ボンベ 13 マイクロ波導波管 14 石英ガラス板 15 プラズマ原料ガス導入管 19 磁界発生用コイル W 被処理材

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項l】 真空チャンバ内に被処理材としての基体
    を配置し、その基体を表面改質用気体雰囲気下に置くと
    共に前記真空チャンバ内でプラズマを発生することによ
    り前記基体の表面を改質する方法において、前記プラズ
    マとしてECR(=電子サイクロトロン共鳴)放電を用
    い、かつ、前記基体に1kV以上、1000kV以下の
    負電圧を印加し、前記基体の表面あるいは表面の一部を
    その基体を構成する元素を含む化合物に変化させること
    を特徴とするプラズマ表面改質方法。 【請求項2】 被処理材としての基体を内部に配置でき
    る真空チャンバと、その真空チャンバ内を減圧する真空
    排気手段と、前記基体の近傍に表面改質用気体を供給す
    る表面改質用気体供給手段と、真空チャンバ内でECR
    プラズマを発生させるECRプラズマ発生手段と、前記
    基体に1kV以上,1000kV以下の負電位を印加す
    る直流バイアス印加手段とを具備してなることを特徴と
    するプラズマ表面改質装置。 【請求項3】 被処理材としての基体を内部に配置でき
    る真空チャンバと、その真空チャンバ内を減圧する真空
    排気手段と、前記基体の近傍に窒素ガスを供給する窒素
    ガス供給手段と、真空チャンバ内でECRプラズマを発
    生させるECRプラズマ発生手段と、前記基体に1kV
    以上,1000kV以下の負電位を印加する直流バイア
    ス印加手段とを具備し、前記基体の表面あるいは表面の
    一部をその基体を構成する元素を含む窒素化合物に変化
    させることを特徴とするプラズマ表面改質装置。
JP5065252A 1993-03-24 1993-03-24 プラズマ表面改質方法および装置 Expired - Fee Related JP2916735B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5065252A JP2916735B2 (ja) 1993-03-24 1993-03-24 プラズマ表面改質方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5065252A JP2916735B2 (ja) 1993-03-24 1993-03-24 プラズマ表面改質方法および装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06280000A JPH06280000A (ja) 1994-10-04
JP2916735B2 true JP2916735B2 (ja) 1999-07-05

Family

ID=13281532

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5065252A Expired - Fee Related JP2916735B2 (ja) 1993-03-24 1993-03-24 プラズマ表面改質方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2916735B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW283250B (en) 1995-07-10 1996-08-11 Watkins Johnson Co Plasma enhanced chemical processing reactor and method
WO2007111075A1 (ja) 2006-03-24 2007-10-04 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. 透明バリア性シート及び透明バリア性シートの製造方法
WO2007111074A1 (ja) 2006-03-24 2007-10-04 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. 透明バリア性シート及び透明バリア性シートの製造方法
WO2007111076A1 (ja) 2006-03-24 2007-10-04 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. 透明バリア性シートおよび透明バリア性シートの製造方法
JPWO2007111098A1 (ja) 2006-03-24 2009-08-06 コニカミノルタエムジー株式会社 透明バリア性シート及びその製造方法
EP2000299A4 (en) 2006-03-24 2009-08-05 Konica Minolta Med & Graphic TRANSPARENT BARRIER SHEET AND METHOD OF PRODUCING SAME

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62167878A (ja) * 1985-12-09 1987-07-24 Shimadzu Corp Ecrスパツタ装置
JPS63213664A (ja) * 1987-03-03 1988-09-06 Mitsubishi Heavy Ind Ltd イオンプレ−テイング装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06280000A (ja) 1994-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6188564B1 (en) Method and apparatus for compensating non-uniform wafer processing in plasma processing chamber
US5712000A (en) Large-scale, low pressure plasma-ion deposition of diamondlike carbon films
US5851600A (en) Plasma process method and apparatus
CN1189595C (zh) 阻抗减小的室
US20130323916A1 (en) Plasma doping method and apparatus
US9139902B2 (en) Method and apparatus for plasma ion implantation of solid element
JP3254069B2 (ja) プラズマ装置
US20070170155A1 (en) Method and apparatus for modifying an etch profile
JPH09289193A (ja) プラズマ発生装置及びその方法、並びにプラズマ処理装置及びその方法
JPH10270430A (ja) プラズマ処理装置
JP2916735B2 (ja) プラズマ表面改質方法および装置
US5543688A (en) Plasma generation apparatus with interleaved electrodes and corresponding method
KR20100083545A (ko) 고체 원소 플라즈마 이온주입 방법 및 장치
JP2002194527A (ja) 電子ビーム励起プラズマを用いた窒化処理装置
JPH06232079A (ja) プラズマ処理装置
WO2010005070A1 (ja) プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
JPH06120169A (ja) プラズマ生成装置
JPH08260126A (ja) アルミニウム基材の表面溶融硬化方法
US6030510A (en) Hot reflow sputtering method and apparatus
KR100317731B1 (ko) 고밀도 플라즈마 이온질화 방법 및 그 장치
JP2000328269A (ja) ドライエッチング装置
JP3685461B2 (ja) プラズマ処理装置
KR100391180B1 (ko) 기재표면의 플라즈마 화학처리 방법 및 장치
JP2650326B2 (ja) プラズマ処理装置
US6060131A (en) Method of forming a thin film by plasma chemical vapor deposition

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees