[go: up one dir, main page]

JP2901067B2 - Resin sealing device - Google Patents

Resin sealing device

Info

Publication number
JP2901067B2
JP2901067B2 JP63228053A JP22805388A JP2901067B2 JP 2901067 B2 JP2901067 B2 JP 2901067B2 JP 63228053 A JP63228053 A JP 63228053A JP 22805388 A JP22805388 A JP 22805388A JP 2901067 B2 JP2901067 B2 JP 2901067B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
resin
wiring board
substrate
wire
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP63228053A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0276238A (en
Inventor
政義 山口
正幸 加藤
和彦 笹原
満 村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP63228053A priority Critical patent/JP2901067B2/en
Publication of JPH0276238A publication Critical patent/JPH0276238A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2901067B2 publication Critical patent/JP2901067B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は半導体組立て工程の中の樹脂封止工程に使用
する樹脂封止装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial application field) The present invention relates to a resin sealing device used in a resin sealing step in a semiconductor assembling step.

(従来の技術) 半導体素子は一般に半導体チップに対するワイヤボン
デングを行った後、これらを保護するために、樹脂封止
する。
(Prior Art) In general, after a semiconductor chip is subjected to wire bonding to a semiconductor chip, it is sealed with a resin to protect the semiconductor chip.

プリント配線基板上に抵抗やコイル、コンデンサ等と
ともに半導体チップ(LSIチップ)を取付け、ワイヤボ
ンデングして配線したハイブリッド型のものも近年広く
利用されているが、この場合、プリント配線基板上に裸
の半導体チップを取付け、その後に基板の回路パターン
におけるリード部と半導体チップとの間をワイヤボンデ
ングする。そして、半導体チップとワイヤボンデングに
よるワイヤを保護するために、これらの上に樹脂をモー
ルドする。
In recent years, a hybrid type in which a semiconductor chip (LSI chip) is mounted on a printed wiring board together with a resistor, a coil, a capacitor, and the like, and wired and wired, is widely used in recent years. After that, the semiconductor chip is attached, and then wire bonding is performed between the semiconductor chip and the lead portion in the circuit pattern of the substrate. Then, in order to protect the semiconductor chip and the wire by wire bonding, a resin is molded on these.

ところで従来、この種のモールド処理するための樹脂
封止装置は第5図のように構成されている。すなわち、
上記モールド処理する基板10を保持するワークステージ
11があり、このワークステージ11上には基板10を保持す
るためのメカクランプ12あるいはバキュームクランプを
行うバキュームコントーローラ13が備え付けられてい
る。そしてこのメカクランプ12あるいはバキュームクラ
ンプ13によりワークステージ11上に基板10を保持する。
また、ワークステージ11上の基板10に樹脂をモールドす
るためのディスペンサヘッド2を保持するとともにその
位置決めや移動走査をするためのX−Yテーブル1があ
り、このX−Yテーブル1上にディスペンサヘッド2が
搭載されている。ディスペンサヘッド2にはワークステ
ージ11方向に伸びる腕部があり、該腕部先端側に温度調
節可能なシリンジ3が取付けられ、このシリンジ3に樹
脂が格納され、温度を調整されながら樹脂が吐出される
ことになる。このシリンジ3の上下駆動はシリンダ4に
より上記腕部を上下に移動させることで行っている。温
度調整可能なシリンジ3からの樹脂吐出量の制御はディ
スペンサコントローラ5により行われ、X−Yテーブル
1の駆動はX−Yテーブル用コントローラドライバ7に
より制御されるX軸方向及びY軸方向用のパルスモータ
6,6′により行われ、前記シリンダ4の駆動制御はシリ
ンダ駆動用ドライバ8により行うとともに、これらのコ
ントローラ5,13やコントローラ/ドライバ7,ドライバ8
はCPU(プロセッサ)9により制御されている。
Conventionally, a resin sealing device for performing this type of mold processing is configured as shown in FIG. That is,
Work stage that holds the substrate 10 to be molded
The work stage 11 is provided with a mechanical clamp 12 for holding the substrate 10 or a vacuum controller 13 for performing a vacuum clamp. Then, the substrate 10 is held on the work stage 11 by the mechanical clamp 12 or the vacuum clamp 13.
Further, there is an XY table 1 for holding a dispenser head 2 for molding a resin on the substrate 10 on the work stage 11 and for positioning and moving the dispenser head 2. The dispenser head 2 is provided on the XY table 1. 2 is mounted. The dispenser head 2 has an arm extending in the direction of the work stage 11, and a temperature-adjustable syringe 3 is attached to the tip of the arm. The resin is stored in the syringe 3, and the resin is discharged while the temperature is adjusted. Will be. The vertical movement of the syringe 3 is performed by moving the arm part up and down by the cylinder 4. The dispenser controller 5 controls the amount of resin discharged from the syringe 3 whose temperature can be adjusted. The XY table 1 is driven by the XY table controller driver 7 for the X-axis direction and the Y-axis direction. Pulse motor
The driving of the cylinder 4 is controlled by a driver 8 for driving the cylinder, and the controllers 5, 13 and the controller / driver 7, the driver 8
Are controlled by a CPU (processor) 9.

そして、このような構成において、ワークステージ11
上に備え付けられているメカクランプ12あるいはバキュ
ームクランプ(バキュームコントローラ)13により基板
10を固定し、X−Yテーブル1を駆動してシリンジ3の
位置が基板10の半導体チップ14における中心位置に来る
ように位置設定で手動で行った後、ここを中心に螺旋状
にシリンジ3を移動させながらシリンジ3のノズル3aよ
り樹脂を吐出させ、所定の範囲内を自動的にモールドす
る。そして、このような吐出制御や螺旋走査制御はCPU9
により、ソフトウエアにより自動制御される。
In such a configuration, the work stage 11
The mechanical clamp 12 or vacuum clamp (vacuum controller) 13 provided on the substrate
10 is fixed, the XY table 1 is driven, and the position of the syringe 3 is manually set so that the position of the syringe 3 is located at the center position of the semiconductor chip 14 of the substrate 10. The resin is discharged from the nozzle 3a of the syringe 3 while moving the resin, and a predetermined area is automatically molded. Such discharge control and spiral scan control are performed by the CPU 9.
Is automatically controlled by software.

ところで基板上の半導体チップ14はその取付け時にほ
ぼ所定の位置に接着剤等により取付け固定される。しか
し、基板に対して向きが規定の状態で正確に取付けられ
るけではなく、大雑把にその位置に取付けられる。そし
て、従来装置によると、位置認識機能がないため、人手
により予め正確に位置決めしない限り半導体チップ14の
中央部から周辺部に向って正確に樹脂を塗布することは
できない。そのため、半導体チップ14の近くにあるモー
ルド対象ではない別のチップやあるいは後から素子を接
続したり、接続配線等のために設けたスルーホール等に
樹脂が入り込んだり、モールド位置の中心がずれてワイ
ヤボンデングのワイヤが充分に樹脂封止保護されないま
ま露出する等の不具合が生じることがある。そこで、そ
の不具合を解消すべく基板一枚毎に作業員の手によって
半導体チップの座標データの設定をマニュアル操作で行
い、半導体チップの中心位置を求めてから樹脂封止を行
うようにするが、この場合、座標設定に時間がとられる
ので、生産能率低下を招く結果となっている。
Incidentally, the semiconductor chip 14 on the substrate is attached and fixed to a substantially predetermined position by an adhesive or the like at the time of attachment. However, it is not only accurately mounted in a prescribed state with respect to the substrate, but also roughly mounted at that position. In addition, according to the conventional apparatus, since there is no position recognition function, it is impossible to apply the resin accurately from the central part to the peripheral part of the semiconductor chip 14 unless the positioning is manually performed in advance. Therefore, another chip near the semiconductor chip 14 which is not the object to be molded, or an element is connected later, resin enters into a through hole provided for connection wiring, or the like, or the center of the molding position is shifted. Problems such as exposure of the wire bonding wire without being sufficiently protected by resin sealing may occur. Therefore, to solve the problem, the operator manually sets the coordinate data of the semiconductor chip for each substrate by manual operation, obtains the center position of the semiconductor chip, and then performs resin sealing. In this case, it takes time to set the coordinates, resulting in a decrease in production efficiency.

(発明が解決しようとする課題) このような従来のハイブリッド素子における基板上の
半導体チップの樹脂モールドを行う場合、樹脂封止装置
を使用するが、この装置は定位置より所定の螺旋軌跡を
描いて所定の範囲を移動走査し、樹脂をシリンジより吐
出して基板上の半導体チップの樹脂モールドを行うよう
に動作する。そのため、樹脂封止装置におけるワークス
テージ上の基板の保持位置や基板上の半導体チップの取
付け状況により、本来の樹脂モールド位置を外れてモー
ルドすることがあり、これでは不要な領域や、後の工程
で使用するためにモールドしてはならない領域等もモー
ルドしてしまうことが避けられず、モールド工程で不良
品を作ってしまう。これを避けるために人手により正確
に位置決めしてからモールド作業に入るようにしている
が、これでは位置決め作業に費やす時間がかかり過ぎ、
作業能率が悪く、生産性が悪い。
(Problems to be Solved by the Invention) When performing resin molding of a semiconductor chip on a substrate in such a conventional hybrid device, a resin sealing device is used, but this device draws a predetermined spiral locus from a fixed position. To scan a predetermined range, and discharge resin from a syringe to perform resin molding of a semiconductor chip on a substrate. Therefore, depending on the holding position of the substrate on the work stage in the resin sealing device and the mounting state of the semiconductor chip on the substrate, molding may be performed out of the original resin molding position, which may cause unnecessary areas and subsequent processes. Inevitably, an area which should not be molded for use in the molding process is inevitably molded, and a defective product is produced in the molding process. In order to avoid this, it is necessary to manually position the mold before starting the mold work, but this takes too much time for the positioning work,
Poor work efficiency and poor productivity.

そこで、この発明の目的とするところは、ハイブリッ
ド素子基板上の半導体チップの樹脂モールドを行う場合
において、半導体チップの取付け状況が様々であって
も、自動的に必要な領域にのみ樹脂をモールドでき、し
かも、ワイヤや半導体チップを樹脂により理想的な状態
で被覆して保護することができるようにした生産性の高
い樹脂封止装置を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to perform resin molding of a semiconductor chip on a hybrid element substrate, and to automatically mold a resin only in a necessary area even if the mounting state of the semiconductor chip is various. Moreover, it is an object of the present invention to provide a highly productive resin sealing device capable of covering and protecting a wire or a semiconductor chip with a resin in an ideal state.

〔発明の構成〕[Configuration of the invention]

(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するため、本発明は次のように構成す
る。すなわち、配線基板上の半導体チップ取付け位置に
半導体チップを取付け、この半導体チップの電極から前
記配線基板のリード端子にワイヤで結線後の該配線基板
に対し、前記半導体チップ及びワイヤを樹脂塗布により
樹脂封止するための装置として、前記配線基板を保持す
る手段と、この保持された配線基板の像をとらえてこれ
より前記配線基板上の半導体チップの中心位置情報を得
る位置認識手段と、樹脂吐出量が制御可能な樹脂塗布の
ための樹脂塗布手段と、この樹脂塗布手段と前記配線基
板との位置関係を相対的に移動する移動制御手段と、前
記位置認識手段により得た前記中心位置情報に基づきこ
の中心位置より前記半導体チップ及び前記ワイヤの位置
する所定の領域に亙り、前記樹脂塗布手段が走査するよ
うに前記移動制御手段を制御するとともに、前記受信塗
布手段による樹脂の塗布量を、前記半導体チップ上の領
域では樹脂自体の厚さを厚くしかつ半導体チップ周辺の
配線基板上の領域では樹脂自体の厚さを上記半導体チッ
プ上の領域より薄くするように制御する制御手段とを具
備して構成する。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows. That is, a semiconductor chip is mounted at a semiconductor chip mounting position on a wiring board, and the semiconductor chip and the wire are coated with a resin by applying a resin to the wiring board after wires are connected from electrodes of the semiconductor chip to lead terminals of the wiring board. Means for holding the wiring board as a device for sealing, position recognition means for capturing an image of the held wiring board and obtaining center position information of a semiconductor chip on the wiring board therefrom, A resin application unit for applying a controllable amount of resin, a movement control unit that relatively moves a positional relationship between the resin application unit and the wiring board, and the center position information obtained by the position recognition unit. The movement control means so that the resin coating means scans from the center position to a predetermined area where the semiconductor chip and the wire are located. In addition to controlling the amount of resin applied by the receiving and applying means, the thickness of the resin itself is increased in the region on the semiconductor chip and the thickness of the resin itself is increased in the region on the wiring board around the semiconductor chip. And control means for controlling the area to be thinner than the upper area.

(作 用) このような構成において、配線基板上に半導体チップ
を取付け、この半導体チップの電極から配線基板のリー
ド端子にワイヤを結線した配線基盤を保持手段に保持さ
せると、位置認識手段はこの保持された配線基板の像を
とらえてこれより前記配線基板上の半導体チップの中心
位置情報を得る。そして、制御手段は前記位置認識手段
より得た中心位置情報に基づきこの中心位置より半導体
チップ及びワイヤの位置する所定の領域に亙り、前記樹
脂塗布手段が走査するよう前記移動制御手段を制御する
とともに、前記樹脂塗布手段の樹脂の塗布量を前記半導
体チップの領域では厚く、周辺では薄くなるように制御
する。そのため、樹脂塗布手段は半導体チップ中心位置
よりワイヤの位置する所定の領域に亙り、相対的に移動
走査するかたちとなり、しかも、樹脂脂吐出量が前記半
導体チップの領域では厚く、周辺では薄くなるように制
御されて配線基板上に樹脂が塗布される。このように本
発明は配線基板上の半導体チップの位置を半導体チップ
の画像情報よりとらえて認識し、この認識した位置に基
づいて半導体チップの中心より樹脂を塗布するように自
動位置決めして後、半導体チップの中央部から周辺部に
向って所定の領域に亙り、樹脂を吐出塗布し、且つ、樹
脂を半導体チップの中央部では厚く、周辺に向うにつれ
て薄くなるように塗布することから、基板上の半導体チ
ップがその取付け時に傾いて基板に取付けられていて
も、半導体チップを中心にワイヤボンデングしたワイヤ
を含めてモールドすべき部分は確実にモールドでき、し
かも半導体チップの近くにあるモールド対象ではない別
のチップやあるいは後から素子を接続したり、配線等の
ために設けたスルーホール等に樹脂が入り込んだり、モ
ールド位置の中心がずれてワイヤボンデングのワイヤが
十分に樹脂封止保護されないまま露出する等の不具合を
防止できる。
(Operation) In such a configuration, when a semiconductor chip is mounted on a wiring board and a wiring board having wires connected from the electrodes of the semiconductor chip to the lead terminals of the wiring board is held by the holding means, the position recognition means An image of the held wiring board is captured to obtain center position information of the semiconductor chip on the wiring board. The control means controls the movement control means based on the center position information obtained from the position recognition means so that the resin coating means scans from the center position over a predetermined area where the semiconductor chip and the wire are located. The amount of the resin applied by the resin applying means is controlled so as to be thicker in the region of the semiconductor chip and thinner in the periphery. For this reason, the resin coating means is relatively moved and scanned over a predetermined region where the wire is located from the center position of the semiconductor chip, and the resin discharge amount is thick in the region of the semiconductor chip and thin in the periphery. And the resin is applied onto the wiring board. As described above, the present invention recognizes the position of the semiconductor chip on the wiring board from the image information of the semiconductor chip, and automatically positions the resin based on the recognized position to apply the resin from the center of the semiconductor chip. The resin is sprayed and applied over a predetermined region from the center of the semiconductor chip toward the periphery, and the resin is applied so as to be thicker at the center of the semiconductor chip and thinner toward the periphery. Even if the semiconductor chip is attached to the board at the time of its mounting, the part to be molded including the wire bonded around the semiconductor chip can be reliably molded, and in the case of a molding object near the semiconductor chip, The resin may not enter another chip or through holes provided for wiring, etc. Center deviation wire Bonn dengue wires location can prevent problems such as exposing without being sufficiently resin sealing protection.

従って、この発明によれば、ハイブリッド素子基板上
の半導体チップの樹脂モールドを行う場合において、半
導体チップの取付け状況が様々であっても、自動的に必
要な領域にのみ樹脂をモールドでき、しかも、ワイヤや
半導体チップを樹脂により理想的な状態で被覆して保護
することができるようになる生産性の高い樹脂封止装置
を提供することができる。
Therefore, according to the present invention, when performing resin molding of a semiconductor chip on a hybrid element substrate, even if the mounting state of the semiconductor chip is various, resin can be automatically molded only in a necessary region, and It is possible to provide a highly productive resin sealing device in which wires and semiconductor chips can be covered and protected in an ideal state with resin.

(実施例) 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明による樹脂封止装置の構成を示すブロ
ック図である。すなわち、モールド処理する配線基板10
(以下、単に基板と呼ぶ)を保持するワークステージ11
があり、このワークステージ11上には基板10を機械的に
保持するためのメカクランプ12と、当該基板10を吸着保
持するためのバキュームクランプを行うバキュームコン
トローラ13が備え付けられている。そしてこのメカクラ
ンプ12及びバキュームクランプ13によりワークステージ
11上に基板10を保持する。また、ワークステージ11上の
基板10に樹脂をモールドするためのディスペンサヘッド
2を保持するとともにその位置決めや移動走査をするた
めのX−Yテーブル1があり、このX−Yテーブル1上
にディスペンサヘッド2が搭載されている。ディスペン
サヘッド2にはワークステージ11方向に伸びる腕部があ
り、該腕部先端側に温度調整可能なシリンジ3が取付け
られ、このシリンジ3に樹脂が格納され、温度を調整さ
れながらシリンジ3の先端のノズル3aより樹脂が吐出さ
れることになる。このシリンジ3の上下移動はシリンダ
4により上記腕部を上下に駆動移動操作させることで行
っている。また、温度調整可能なシリンジ3からの樹脂
吐出量の制御はディスペンサコントローラ5により行わ
れ、X−Yテーブル1の駆動はX−Yテーブル用コント
ローラ/ドライバ7により制御されるX軸方向及びY軸
方向用のパルスモータ6,6′により行われ、前記シリン
ダ4の駆動制御はシリンダ駆動用ドライバ8により行う
とともに、これらのコントローラ5,13やコントローラ/
ドライバ7,ドライバ8はプログラムに従って動作するCP
U(プロセッサ)9aにより制御されている。ここまでの
基本構成は従来の装置と変わりはない。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a resin sealing device according to the present invention. That is, the wiring substrate 10 to be molded
(Hereinafter simply referred to as substrate) work stage 11
The work stage 11 is provided with a mechanical clamp 12 for mechanically holding the substrate 10 and a vacuum controller 13 for performing a vacuum clamp for holding the substrate 10 by suction. The work stage is controlled by the mechanical clamp 12 and the vacuum clamp 13.
The substrate 10 is held on 11. Further, there is an XY table 1 for holding a dispenser head 2 for molding a resin on the substrate 10 on the work stage 11 and for positioning and moving the dispenser head 2. The dispenser head 2 is provided on the XY table 1. 2 is mounted. The dispenser head 2 has an arm extending in the direction of the work stage 11, and a syringe 3 whose temperature can be adjusted is attached to the tip of the arm. The resin is stored in the syringe 3, and the tip of the syringe 3 is adjusted while the temperature is adjusted. The resin is discharged from the nozzle 3a. The vertical movement of the syringe 3 is performed by operating the arm part up and down by a cylinder 4. The control of the resin discharge amount from the temperature-adjustable syringe 3 is performed by the dispenser controller 5, and the driving of the XY table 1 is controlled by the XY table controller / driver 7 in the X-axis direction and the Y-axis. The driving control of the cylinder 4 is performed by a cylinder driving driver 8, and the controller 5, 13 and the controller /
Driver 7 and driver 8 operate according to the program
It is controlled by a U (processor) 9a. The basic configuration up to this point is no different from the conventional device.

本装置ではこの構成に更にITVカメラ(工業用テレビ
カメラ)或いはCCDカメラ(固体撮像素子テレビカメ
ラ)等による画像検出装置15を、例えばX−Yテーブル
1に取付けるなどしてX−Yテーブル1と一体的に移動
可能にした図示しない腕に支持させる等して、ワークス
テージ11上方より基板を撮像できるように設け、ワーク
ステージ11上に保持された基板10をこの画像検出装置15
により撮像すると共に、この画像検出装置15の検出画像
情報をもとに半導体チップ14の中心位置座標を検出し、
CPU9aに与える位置認識制御部16を設ける。そして、CPU
9aにはこの位置位置認識制御部16よりの半導体チップ中
心位置座標を基にして、その中心位置座標からワイヤボ
ンデングによるワイヤの配線領域に亙る所定領域につい
て、螺旋状或いは円状或いは矩形状等の予め定めた所定
の軌跡を描いて温度調整可能なシリンジ3を移動走査さ
せるようにX−Yテーブル1を制御し、このとき温度調
整可能なシリンジ3では半導体チップ14の中心領域につ
いては樹脂の吐出量が多く、周囲に向うにつれて少なく
なるようにディスペンサコントローラ5を制御するよう
プログラムを設定した点が従来と異なる。
In this apparatus, an image detection device 15 such as an ITV camera (industrial television camera) or a CCD camera (solid-state image pickup device television camera) is attached to the XY table 1 by attaching it to the XY table 1, for example. The substrate 10 is held on the work stage 11 by, for example, being supported by an arm (not shown) that is integrally movable so that the substrate can be imaged from above the work stage 11.
And the center position coordinates of the semiconductor chip 14 are detected based on the detected image information of the image detecting device 15,
A position recognition control unit 16 provided to the CPU 9a is provided. And CPU
9a, based on the coordinates of the center position of the semiconductor chip from the position recognition controller 16, a predetermined region extending from the coordinates of the center position to the wiring region of the wire by wire bonding is formed in a spiral, circular or rectangular shape. The XY table 1 is controlled so as to move and scan the temperature-adjustable syringe 3 by drawing a predetermined trajectory. At this time, in the temperature-adjustable syringe 3, the central region of the semiconductor chip 14 is made of resin. The difference from the related art is that a program is set to control the dispenser controller 5 so that the discharge amount is large and decreases toward the periphery.

このような構成の本装置の作用を第2図のフローチャ
ート並びに第3図,第4図の状態図を参照して説明す
る。まずワイヤボンデングが成された半導体チップ14が
搭載された基板10をワークステージ11上にセットし、続
いてワークステージ11に備え付けられているバキューム
クランプ(バキュームコントローラ)13により基板10を
吸着して基板10の反りを無くすとともにメカクランプ12
で基板10をしっかりとワークステージ11上に固定する。
この工程が終了すると、次にCPU9aの制御のもとに、X
−Yテーブル1を駆動して予め対象基板に応じてCPU9a
に記憶させてある所定の半導体チップ14の存在領域に画
像検出装置15を移動させる。その後、画像検出装置15に
より半導体チップ14の像を撮像する(s30)。この画像
情報は位置認識制御部16に送られ、位置認識制御部16で
はこれよりワークステージ11上における半導体チップ14
の中心部の座標位置を解析してその座標データをCPU9a
に与える。
The operation of the present apparatus having such a configuration will be described with reference to the flowchart of FIG. 2 and the state diagrams of FIGS. 3 and 4. First, the substrate 10 on which the wire-bonded semiconductor chip 14 is mounted is set on the work stage 11, and then the substrate 10 is sucked by a vacuum clamp (vacuum controller) 13 provided on the work stage 11. Eliminates warpage of substrate 10 and mechanical clamp 12
The substrate 10 is firmly fixed on the work stage 11 with.
When this process is completed, X is then controlled under the control of the CPU 9a.
-Drive the Y table 1 and determine in advance the CPU 9a
The image detection device 15 is moved to the predetermined area of the semiconductor chip 14 stored in the memory device. After that, the image of the semiconductor chip 14 is captured by the image detection device 15 (s30). This image information is sent to the position recognition control unit 16, which then reads the semiconductor chip 14 on the work stage 11.
CPU 9a analyzes the coordinate position of the center of the
Give to.

次にCPU9aでは前もって作成された半導体チップの基
準座標データと位置認識制御部16から実際に取込んだ座
標データとを比較する(s31,s32)。次にCPU9aはずれ量
を算出し、半導体チップ14の位置補正計算を行い、半導
体チップ14の実際の中心位置を決定する(s33)。ここ
でCPU9aよりX−Yテーブル1に指令を送り、ディスペ
ンサヘッド2のシリンジ3におけるノズル3aの位置が半
導体チップ14の中心位置に来るようにX−Yテーブル1
を駆動移動させる(s34)。この動作が終了すると、CPU
9aの中の記憶回路より予め設定されている樹脂吐出量、
X−Yテーブル1のスピード、シリンジノズル3a軌跡等
と云った塗布条件を呼び出し(s35)、ディスペンサコ
ントローラ5、X−Yテーブル用コントローラ/ドライ
バ7、シリンジ用駆動ドライバ8に指令信号を送り、ノ
ズル3aが半導体チップ14に対して上記所定の軌跡を描い
て相対的に移動するようX−Yテーブル1を駆動移動さ
せつつ、シリンジ3より上記軌跡上の位置に応じた量の
樹脂を吐出させ、樹脂の塗布を実施する(s36)。
Next, the CPU 9a compares the reference coordinate data of the semiconductor chip created in advance with the coordinate data actually taken in from the position recognition control unit 16 (s31, s32). Next, the CPU 9a calculates a shift amount, performs a position correction calculation of the semiconductor chip 14, and determines an actual center position of the semiconductor chip 14 (s33). Here, a command is sent from the CPU 9a to the XY table 1 so that the position of the nozzle 3a in the syringe 3 of the dispenser head 2 is located at the center of the semiconductor chip 14.
Is driven to move (s34). When this operation is completed, the CPU
The resin discharge amount preset from the storage circuit in 9a,
The application conditions such as the speed of the XY table 1, the trajectory of the syringe nozzle 3a, etc. are called (s35), and command signals are sent to the dispenser controller 5, the XY table controller / driver 7, and the syringe drive driver 8, While driving the XY table 1 so that 3a moves relative to the semiconductor chip 14 while drawing the predetermined locus, the syringe 3 discharges an amount of resin according to the position on the locus, The resin is applied (s36).

以上の動作を一基板中にあるN個の半導体チップそれ
ぞれについて行う(s37,s39)。一基板全て終了すると
吸着を解除し、メカアクランプ12を取外して基板10をワ
ークステージ11から取外す(s38)。
The above operation is performed for each of the N semiconductor chips on one substrate (s37, s39). When all the substrates are completed, the suction is released, the mechanical clamp 12 is removed, and the substrate 10 is removed from the work stage 11 (s38).

先に説明したように、基板上の裸の半導体チップ14は
その取付け時にほぼ所定の位置に接着剤等により取付け
固定される。しかし、基板に対して半導体チップ14は第
3図に示すように向きが規定の方向に正確に取付けられ
ることは少なく、第4図に示すように傾いてその位置に
取付けられることが多い。しかし、上述した本装置によ
ると、半導体チップ14の位置認識を行っており、これに
より認識した位置に基づいて半導体チップの中心cにシ
リンジ3のノズル3aが来るようにX−Yテーブル1を制
御して自動位置決めして後、半導体チップ14の中央部か
ら周辺部に向って所定軌跡Rを辿りつつ、走査させなが
ら正確に半導体チップの中央部程樹脂が厚く、周辺に向
うにつれて薄くなるように塗布する。このようにする
と、半導体チップ14を中心にワイヤボンデングしたワイ
ヤWを含め、モールドすべき領域(樹脂封止領域)Mは
確実にモールドされ、また、半導体チップの領域は樹脂
が厚く、周辺では薄いため、中央の樹脂が多少流れて
も、必要領域を食出して流れることはない。しかも半導
体チップの近くにあるモールド対象ではない別のチップ
やあるいは後から素子を接続したり、接続配線等のため
に儲けたスルーホール等に樹脂が入り込んだり、モール
ド位置の中心がずれてワイヤボンデングのワイヤが十分
に樹脂封止保護されないまま露出する等の不具合を完全
に抑止できる。尚、樹脂の厚みは使用する樹脂の粘性に
より定めるようにする。
As described above, the bare semiconductor chip 14 on the substrate is attached and fixed at a substantially predetermined position by an adhesive or the like at the time of attachment. However, as shown in FIG. 3, the semiconductor chip 14 is rarely accurately mounted in a prescribed direction with respect to the substrate, and is often mounted at an inclined position as shown in FIG. However, according to the above-described apparatus, the position of the semiconductor chip 14 is recognized, and the XY table 1 is controlled so that the nozzle 3a of the syringe 3 comes to the center c of the semiconductor chip based on the position thus recognized. After automatic positioning, while following a predetermined trajectory R from the center of the semiconductor chip 14 to the periphery, the resin is accurately made thicker toward the center of the semiconductor chip and thinner toward the periphery while scanning while scanning. Apply. In this way, the region (resin sealing region) M to be molded, including the wire W bonded to the semiconductor chip 14 at the center, is reliably molded. Because it is thin, even if the central resin flows to some extent, it does not erode the necessary area and flow. In addition, another chip that is not the object to be molded near the semiconductor chip, or an element is connected later, resin enters into the through-holes, etc. made for connection wiring, etc. Problems such as exposure of dengue wires without being sufficiently protected by resin sealing can be completely suppressed. The thickness of the resin is determined according to the viscosity of the resin used.

このように本装置によると、基板上の半導体チップの
位置を半導体チップの画像情報よりとらえて認識する位
置検知手段により認識を行っており、これにより認識し
た位置に基づいて半導体チップの中心にシリンダが来る
ように自動位置決めして後、半導体チップの中央部から
周辺部に向って所定の領域に亙り、樹脂を吐出塗布し、
且つ、半導体チップの中央部程樹脂を厚く、周辺に向う
につれて薄くなるように塗布することから、基板上の半
導体チップがその取付け時に傾いて基板に取付けられて
いても、半導体チップを中心にワイヤボンデングしたワ
イヤを含めてモールドすべき部分は確実にモールドで
き、しかも半導体チップの近くにあるモールド対象では
ない別のチップやあるいは後から素子を接続したり、接
続配線等のために設けたスルーホール等に樹脂が入り込
んだり、モールド位置の中心がずれてワイヤボンデング
のワイヤが十分に樹脂封止保護されないまま露出する等
の不具合を防止できる。
As described above, according to the present apparatus, the position of the semiconductor chip on the substrate is recognized by the position detecting means which recognizes the position of the semiconductor chip from the image information of the semiconductor chip, and the cylinder is positioned at the center of the semiconductor chip based on the recognized position. After automatic positioning so that comes, over a predetermined region from the central part of the semiconductor chip to the peripheral part, resin is applied by spraying,
In addition, since the resin is applied thicker toward the center of the semiconductor chip and becomes thinner toward the periphery, even if the semiconductor chip on the substrate is inclined and attached to the substrate at the time of the attachment, the wire around the semiconductor chip is centered. The part to be molded, including the bonded wire, can be molded reliably, and another chip that is not the object of molding near the semiconductor chip or a through hole provided for connecting elements later or connecting wiring etc. It is possible to prevent problems such as resin entering a hole or the like, or exposing the wire of wire bonding without being sufficiently protected by resin sealing due to the center of the mold position being shifted.

従って、本装置によれば、作業員の手によって半導体
チップの座標データの設定をマニュアル操作で行う必要
がなく、半導体チップの中心位置にシリンジが来るよう
に全て自動的に正確に位置決めして理想的な樹脂封止を
行うことができるので、生産能率を飛躍的に向上させる
ことができ、しかも、歩留りも良くなって生産性を飛躍
的に向上させることができる。
Therefore, according to the present apparatus, it is not necessary to manually set the coordinate data of the semiconductor chip by a worker's hand, and all of the syringes are automatically and accurately positioned so that the syringe comes to the center position of the semiconductor chip. As a result, the production efficiency can be dramatically improved, and the yield can be improved and the productivity can be dramatically improved.

尚、本発明は上記し、且つ図面に示す実施例に限定す
ることなくその要旨を変更しない範囲内で適宜変形して
実施得るものであり、例えば、上記実施例では樹脂塗布
に当り、円或いは螺旋或いは矩形の軌跡を描いて樹脂を
吐出し、塗布する際にシリンジ側を移動し、配線基板を
固定するようにしたが、逆に配線基板を動かしてシリン
ジ側は固定するようにしても良い。
The present invention is not limited to the embodiment described above and shown in the drawings, and can be carried out by appropriately modifying it without departing from the scope of the invention. The resin is ejected in a spiral or rectangular locus, and is moved on the syringe side to apply the resin to fix the wiring board. Alternatively, the syringe board may be fixed by moving the wiring board. .

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上、詳述したように本発明によれば、作業員の手に
よって半導体チップの座標データの設定をマニュアル操
作で行う必要がなく、半導体チップの中心位置にシリン
ジが来るように全て自動的に正確に位置決めしてしか
も、理想的な状態に樹脂封止できるので、生産能率を飛
躍的に向上させることができ、しかも、歩留りの良い樹
脂封止装置を提供できる。
As described in detail above, according to the present invention, it is not necessary to manually set the coordinate data of the semiconductor chip by a worker's hand, and all the coordinates are automatically and accurately adjusted so that the syringe comes to the center position of the semiconductor chip. In addition, since the resin can be sealed in an ideal state, the production efficiency can be dramatically improved, and a resin sealing device with a high yield can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
本装置の作用を示すフローチャート、第3図および第4
図は本発明の一実施例を説明するための図、第5図は従
来例を示すブロック図である。 1……X−Yテーブル、3……温度調整可能なシリン
ジ、5……ディスペンサコントローラ、9a……CPU、10
……基板、11……ワークステージ、13……バキュームコ
ントローラ、14……半導体チップ、15……画像検出装
置、16……位置認識制御部。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the present apparatus, and FIGS.
FIG. 5 is a diagram for explaining an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a block diagram showing a conventional example. 1. XY table, 3. Temperature adjustable syringe, 5. Dispenser controller, 9a CPU, 10
... board, 11 ... work stage, 13 ... vacuum controller, 14 ... semiconductor chip, 15 ... image detection device, 16 ... position recognition control unit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 笹原 和彦 東京都日野市旭が丘3丁目1番地の1 株式会社東芝日野工場内 (72)発明者 村 満 東京都日野市旭が丘3丁目1番地の1 株式会社東芝日野工場内 (56)参考文献 特開 昭58−110051(JP,A) 特開 昭59−2327(JP,A) 特開 昭62−110775(JP,A) 特開 昭53−68872(JP,A) 特開 昭61−194840(JP,A) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Kazuhiko Sasahara 3-1-1 Asahigaoka, Hino-shi, Tokyo Inside the Toshiba Hino Plant (72) Inventor Mitsuru Mur Mitsuru 3-1-1 Asahigaoka, Hino-shi, Tokyo 1 share (56) References JP-A-58-110051 (JP, A) JP-A-59-2327 (JP, A) JP-A-62-110775 (JP, A) JP-A-53-68872 (JP JP, A) JP-A-61-194840 (JP, A)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】配線基板上の半導体チップ取付け位置に半
導体チップを取付け、この半導体チップの電極から前記
配線基板のリード端子にワイヤで結線後の該配線基板に
対し、前記半導体チップ及びワイヤを樹脂塗布により樹
脂封止するための装置であって、 前記配線基板を保持する手段と、 この保持された配線基板の像をとらえてこれより前記配
線基板上の半導体チップの中心位置情報を得る位置認識
手段と、 樹脂吐出量が制御可能な樹脂塗布のための樹脂塗布手段
と、 この樹脂塗布手段と前記配線基板との位置関係を相対的
に移動させる移動制御手段と、 前記位置認識手段により得た前記中心位置情報に基づき
この中心位置より前記半導体チップおよび前記ワイヤの
位置する所定の領域に亙り、前記樹脂塗布手段が走査す
るよう前記移動制御手段を制御するとともに、前記樹脂
塗布手段による樹脂の塗布量を、前記半導体チップ上の
領域では樹脂自体の厚さを厚くしかつ半導体チップ周辺
の配線基板上の領域では樹脂自体の厚さを上記半導体チ
ップ上の領域より薄くするように制御する制御手段とを
具備して構成したことを特徴とする樹脂封止装置。
A semiconductor chip is mounted at a semiconductor chip mounting position on a wiring board, and the semiconductor chip and the wire are connected to a lead terminal of the wiring board by a wire from an electrode of the semiconductor chip. What is claimed is: 1. An apparatus for resin sealing by coating, comprising: means for holding said wiring board; and position recognition for capturing an image of said held wiring board and obtaining center position information of a semiconductor chip on said wiring board therefrom. Means, a resin application means for applying a resin in which a resin discharge amount is controllable, a movement control means for relatively moving a positional relationship between the resin application means and the wiring board, and the position recognition means. Based on the center position information, the resin coating means scans from the center position over a predetermined area where the semiconductor chip and the wire are located. While controlling the control means, the amount of the resin applied by the resin application means is increased in the region on the semiconductor chip and the thickness of the resin in the region on the wiring board around the semiconductor chip. And a control means for controlling the thickness of the resin sealing device so as to be thinner than the region on the semiconductor chip.
JP63228053A 1988-09-12 1988-09-12 Resin sealing device Expired - Lifetime JP2901067B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63228053A JP2901067B2 (en) 1988-09-12 1988-09-12 Resin sealing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63228053A JP2901067B2 (en) 1988-09-12 1988-09-12 Resin sealing device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0276238A JPH0276238A (en) 1990-03-15
JP2901067B2 true JP2901067B2 (en) 1999-06-02

Family

ID=16870460

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63228053A Expired - Lifetime JP2901067B2 (en) 1988-09-12 1988-09-12 Resin sealing device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2901067B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6046076A (en) * 1994-12-29 2000-04-04 Tessera, Inc. Vacuum dispense method for dispensing an encapsulant and machine therefor
JP5385767B2 (en) * 2009-12-07 2014-01-08 東レエンジニアリング株式会社 Dispensing device and dispensing method
WO2025005210A1 (en) * 2023-06-30 2025-01-02 武蔵エンジニアリング株式会社 Liquid coating method and liquid coating device

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58110051A (en) * 1981-12-23 1983-06-30 Fujitsu Ltd Recognition of position of semiconductor element
JPS592327A (en) * 1982-06-28 1984-01-07 Fujitsu Ltd Resin coating method for hybrid integrated circuit
JPS62110775A (en) * 1985-11-11 1987-05-21 Hitachi Ltd Coating device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0276238A (en) 1990-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3101854B2 (en) Wire bonding equipment
JP2021150313A (en) Manufacturing method of semiconductor device and die bonding device
JP2901067B2 (en) Resin sealing device
JP2001246299A (en) Paste coating method and mounting device
JP3399334B2 (en) Thermocompression bonding apparatus and thermocompression bonding method for electronic components with bumps
JP3272312B2 (en) Moving device of position recognition means
JP3469991B2 (en) Paste coating machine
JP3617483B2 (en) Electronic component mounting method
JPH10313013A (en) Bonding apparatus, bonding method, and semiconductor device manufacturing method
JP2001267335A (en) Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
JPH05211193A (en) Wire bonding method
JP2001332586A (en) Semiconductor device manufacturing method and device
JP3343131B2 (en) Coating mechanism
JPH09153511A (en) Wire bonder
KR0135466B1 (en) Component Recognition Method of Electronic Component Mounter
KR100339494B1 (en) Bonding method of wafer and circuit tape for semiconductor package manufacturing
JP3028958B1 (en) Component recognition method
KR19980025053A (en) Bump bonder
JPH0521506A (en) Position detecting device for electronic parts using picture recognizing means
JP2569641B2 (en) Semiconductor pellet mounting method
JP2977953B2 (en) Wire bonding method
JPS63236340A (en) Wire bonding device
JP2535648B2 (en) Wire bonding equipment
JPS61269319A (en) Method and equipment for manufacturing semiconductor device
JPS61119054A (en) Automatic wire-bonding device