[go: up one dir, main page]

JP2877075B2 - Instrument control device and method - Google Patents

Instrument control device and method

Info

Publication number
JP2877075B2
JP2877075B2 JP8135287A JP13528796A JP2877075B2 JP 2877075 B2 JP2877075 B2 JP 2877075B2 JP 8135287 A JP8135287 A JP 8135287A JP 13528796 A JP13528796 A JP 13528796A JP 2877075 B2 JP2877075 B2 JP 2877075B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
flag
function
parameter
result
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP8135287A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH09318686A (en
Inventor
敏夫 小松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP8135287A priority Critical patent/JP2877075B2/en
Publication of JPH09318686A publication Critical patent/JPH09318686A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2877075B2 publication Critical patent/JP2877075B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複数のパラメータ
に値を設定して計測を実行し、複数項目の計測結果を得
ることができる計測器を制御する装置および方法に関
し、特に、携帯電話の特性を計測するための計測器制御
装置および方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus and a method for controlling a measuring instrument capable of setting values for a plurality of parameters, executing a measurement, and obtaining measurement results of a plurality of items, and more particularly to a portable telephone. The present invention relates to an instrument control device and a method for measuring characteristics.

【0002】[0002]

【従来の技術】携帯電話の検査システムでは、種々の計
測器(周波数カウンタ,パワーメータ,FFT等)およ
び信号発生器が組み込まれた専用の信号発生器を兼ねた
計測器を用い、複数のパラメータ(周波数範囲,ソファ
レンス・レベル等)の値を設定し、複数の計測項目(パ
ワーレベルの測定,ビートエラーレートの測定,時間軸
変化のパワーレベル測定,位相/周波数測定等)につい
て携帯電話を計測する。
2. Description of the Related Art In a mobile phone inspection system, a variety of measuring instruments (frequency counter, power meter, FFT, etc.) and a measuring instrument which also serves as a dedicated signal generator incorporating a signal generator are used. (Frequency range, sofarence level, etc.) and set the mobile phone for multiple measurement items (power level measurement, beat error rate measurement, time axis change power level measurement, phase / frequency measurement, etc.). measure.

【0003】携帯電話の計測は、次の動作からなる。[0003] The measurement of a portable telephone comprises the following operations.

【0004】・計測項目に対応してパラメータに設定値
を与える。
[0004] A set value is given to a parameter corresponding to a measurement item.

【0005】・設定値に応じて計測器を制御する。[0005] Control the measuring instrument according to the set value.

【0006】・計測結果を得る。[0006] Obtain measurement results.

【0007】従来の計測器制御装置では、例えば特開平
04−119436号公報に記載された「自動試験シス
テムにおける制御プログラムの汎用化方法」に見られる
様に、制御プログラムは、与えられたパラメータの設定
値をもとに、計測器を制御し、測定結果を得る動作を順
次繰り返し実行している。入力したパラメータの設定値
の個数に応じて、順々に計測項目を実行する従来の計測
器制御装置の動作を、図6を用いて説明する。従来の計
測器制御装置の動作は図6に示す処理200〜203か
らなる。
[0007] In a conventional measuring instrument control apparatus, for example, as described in "Method of generalizing a control program in an automatic test system" described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 04-119436, a control program is provided with a given parameter. The operation of controlling the measuring device based on the set value and obtaining the measurement result is sequentially and repeatedly executed. With reference to FIG. 6, an operation of a conventional measuring instrument control apparatus for sequentially executing measurement items in accordance with the number of input parameter setting values will be described. The operation of the conventional measuring instrument control device includes processes 200 to 203 shown in FIG.

【0008】処理200:パラメータの設定、すなわち
1種類のパラメータの設定値を計測器5に設定する。
Process 200: Parameter setting, that is, a set value of one type of parameter is set in the measuring device 5.

【0009】処理201:計測器制御、すなわち計測器
5を制御し計測を実施する。
Process 201: Measurement device control, that is, the measurement device 5 is controlled to perform measurement.

【0010】処理202:結果入力、すなわち計測器5
から計測結果を取り込む。
Process 202: result input, ie, measuring device 5
Import measurement results from

【0011】処理203:全計測項目終了、すなわち終
了判定を行う、パラメータの設定値の必要な個数分計測
していなければ「No」で、処理200以下を繰り返
す。必要な個数分計測していれば「Yes」で動作を終
了する。
Process 203: End of all measurement items, that is, end determination is performed. If the required number of parameter setting values has not been measured, "No" and the process 200 and the subsequent steps are repeated. If the required number has been measured, the operation ends with “Yes”.

【0012】処理202の結果入力では、複数の計測結
果が同時に得られる計測器を用いる場合でも、取り込ん
だ計測結果のなかで、目的とする計測項目の計測結果だ
けをプログラムの内部変数に取り込み、その他の計測結
果は捨ててしまっている。
In the result input of the process 202, even when a measuring instrument capable of simultaneously obtaining a plurality of measurement results is used, only the measurement result of the target measurement item is fetched into the internal variables of the program out of the fetched measurement results. Other measurement results have been discarded.

【0013】したがって、パラメータの設定値が同一で
あっても、別の計測項目の計測結果を目的とする場合
は、必ず処理200〜201を繰り返して実行する。
Therefore, even if the set values of the parameters are the same, when the measurement result of another measurement item is intended, the processes 200 to 201 are always executed repeatedly.

【0014】以下の説明では、1種類のパラメータの設
定値を設定すると複数の計測結果が同時に得られる計測
器を用いる事を前提とする。
In the following description, it is assumed that a measuring instrument capable of simultaneously obtaining a plurality of measurement results by setting a set value of one type of parameter is used.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】パラメータの設定値が
同じであっても、異る計測項目の計測結果を得るために
は、パラメータの再設定し計測結果を取り込んでいるた
め、パラメータ設定の時間および計測器の計測時間が長
くなってしまう。
In order to obtain measurement results of different measurement items even if the set values of the parameters are the same, the parameters are reset and the measurement results are taken in. And the measurement time of the measuring instrument becomes long.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明の計測器制御装置
は、計測項目および計測器のパタメータの設定値の組合
わせからなる計測機能を指定する計測番号ごとに前記計
測機能の実行または非実行を指示するフラグを書き込む
フラグ・テーブルと、前記計測番号ごとに指定の前記計
測機能の実行により得られる1または複数の計測項目の
計測結果を計測項目に応じて予め定められた記憶位置に
書き込む計測結果テーブルと、計測が必要な前記計測機
能の前記計測番号および当該計測機能の実行により得ら
れる計測結果の一つを指示するデータ番号を対にして格
納するパラメータ・テーブルと、前記フラグのうち前記
パラメータ・テーブルに書き込まれた計測番号に対応す
るもののみを実行を示す状態にセットするフラグ書き込
み手段と、前記フラグ・テーブルでフラグが実行を示す
前記計測番号の前記計測機能を実行する計測手段と、こ
の計測手段により得られた計測結果を前記計測結果テー
ブルに書き込む計測結果書き込み手段と、前記計測結果
テーブルから前記パラメータ・テーブルに書き込まれた
対をなす前記計測番号および前記データ番号が指示する
計測結果を読み出す計測結果の読み出し保存手段とを備
えている。
According to the present invention, there is provided a measuring instrument control apparatus which executes or non-executes the measuring function for each measurement number which designates a measuring function consisting of a combination of a measurement item and a parameter set value of the measuring instrument. A flag table for writing a flag instructing the measurement, and a measurement for writing a measurement result of one or more measurement items obtained by executing the measurement function specified for each of the measurement numbers to a predetermined storage position according to the measurement item A result table, a parameter table storing a pair of the measurement number of the measurement function requiring measurement and a data number indicating one of the measurement results obtained by executing the measurement function, A flag writing means for setting only the one corresponding to the measurement number written in the parameter table to a state indicating execution; Measuring means for executing the measurement function of the measurement number whose flag indicates execution in the logging table; measurement result writing means for writing a measurement result obtained by the measurement means to the measurement result table; and Reading means for reading and storing a measurement result indicated by the pair of the measurement number and the data number written in the parameter table.

【0017】本発明の計測器制御方法は、計測項目およ
び計測器のパラメータの設定値の組合わせからなる計測
機能を指定する計測番号のうち実行が必要な前記計測機
能の前記計測番号および当該必要な前記計測機能の実行
により得られる計測機能の計測結果を指示するデータ番
号を対にしてパラメータ・テーブルに格納し、フラグ・
テーブルに前記計測番号ごとに設けられ前記計測機能の
実行または非実行を指示するフラグのうち前記パラメー
タ・テーブルに格納された前記計測番号に対応するもの
のみを実行を指示する状態にし、前記フラグ・テーブル
の実行を指示するフラグの前記計測番号の前記計測機能
を実行して得られた計測項目の計測結果を計測結果テー
ブルの当該計測番号に対応し計測項目に応じて予め定め
られた記憶位置に書き込み、前記計測結果テーブルから
前記パラメータ・テーブルに書き込まれた対をなす前記
計測番号および前記データ番号が指示する計測結果を読
み出すことを特徴とする。
According to the measuring instrument control method of the present invention, the measuring number of the measuring function which needs to be executed and the measuring number of the measuring function which need to be executed among the measuring numbers which specify the measuring function which is a combination of the measurement item and the parameter setting value of the measuring instrument The data number indicating the measurement result of the measurement function obtained by executing the measurement function is stored as a pair in the parameter table, and the flag
Of the flags provided for each measurement number in the table and instructing execution or non-execution of the measurement function, only those corresponding to the measurement number stored in the parameter table are instructed to execute, and the flag The measurement result of the measurement item obtained by executing the measurement function of the measurement number of the flag instructing the execution of the table is stored in a predetermined storage position corresponding to the measurement number in the measurement result table in accordance with the measurement item. Writing, reading the measurement result indicated by the pair of the measurement number and the data number written in the parameter table from the measurement result table.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態の携帯
電話検査用の計測器制御装置について、図面を参照して
詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0019】図1は本発明の実施の形態の計測器制御装
置のブロック図である。図2は図1中の記憶装置に格納
されるテーブルを示す図で、これらテーブルはパラメー
タと計測結果の関連を示す。図3は図1に示す計測器制
御装置の動作を示すフローチャートである。
FIG. 1 is a block diagram of a measuring instrument control apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing tables stored in the storage device in FIG. 1, and these tables show the relationship between parameters and measurement results. FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the measuring instrument control device shown in FIG.

【0020】図1において、入力装置1は、設定したパ
ラメータの指示およびパラメータ自体の設定値を入力す
る際に用いる。表示装置2は、指示されたパラメータの
設定値を表示し、内容を確認しながらパラメータの設定
値を入力するために用いる。計測項目を実行している際
には、パラメータの設定値および測定結果を表示する。
記憶装置3は、入力されたパラメータの設定値を記憶
し、計測を実行する際にパラメータの設定値をコンピュ
ータ4に提供する。計測器5から読みだした計測結果の
一時的な記憶も行う。コンピュータ4は、入力されたパ
ラメータの設定値を記憶装置3から読みだす。計測器5
を制御するために、そのパラメータの設定値を計測器5
に与える。計測器5に対して計測開始の指示や計測結果
の読み込みを行う。
In FIG. 1, an input device 1 is used for inputting an instruction of a set parameter and a set value of the parameter itself. The display device 2 displays the set value of the designated parameter, and is used to input the set value of the parameter while checking the contents. When the measurement item is being executed, the set value of the parameter and the measurement result are displayed.
The storage device 3 stores the input set values of the parameters, and provides the set values of the parameters to the computer 4 when performing the measurement. The measurement result read from the measuring device 5 is also temporarily stored. The computer 4 reads out the input set values of the parameters from the storage device 3. Measuring instrument 5
In order to control
Give to. It instructs the measuring device 5 to start measurement and reads the measurement result.

【0021】次に、図2と付3を用いて、パラメータの
設定値と計測結果の関連付けと、その処理手順を説明す
る。
Next, with reference to FIGS. 2 and 3, the association between the parameter set value and the measurement result and the processing procedure will be described.

【0022】携帯電話の検査では、予めパラメータごと
に与えられた設定値(非設定も含め)の組合わせが設け
られる。図2のパラメータテーブル10には、計測番号
とデータ番号とが対をなして複数対登録される。計測番
号は、計測器5の1又は複数の計測項目およびパラメー
タの設定値の組合わせからなる計測機能を指定するため
の番号である。コンピュータ4が、計測番号を計測器5
に送ると、計測器5は、該当する計測機能を実行する。
計測機能の実行で通常は、複数の計測結果が得られる。
データ番号は、計測番号を計測器5に送ることで計測機
能が実行されて得られる複数の計測項目の計測結果のう
ち、必要な計測結果を1つ指定するための番号である。
In the inspection of the mobile phone, a combination of set values (including non-set values) given in advance for each parameter is provided. In the parameter table 10 of FIG. 2, a plurality of pairs of measurement numbers and data numbers are registered. The measurement number is a number for designating a measurement function composed of a combination of one or a plurality of measurement items of the measuring device 5 and set values of parameters. The computer 4 sends the measurement number to the measuring device 5
, The measuring instrument 5 executes the corresponding measuring function.
Usually, a plurality of measurement results are obtained by executing the measurement function.
The data number is a number for designating one required measurement result among the measurement results of a plurality of measurement items obtained by executing the measurement function by sending the measurement number to the measuring device 5.

【0023】図2に示すテーブルにおいて、計測番号を
1からNの値を取り、データ番号は1からMの値を取る
とする。計測番号およびデータ番号は、人が理解しやす
い文字列で入力されるとしてもなんら不都合はないが、
何れにしても本計測器制御装置の内部では数値に置き換
えて処理することになるので、ここでは、数値として説
明する。
In the table shown in FIG. 2, it is assumed that the measurement numbers take values from 1 to N and the data numbers take values from 1 to M. There is no inconvenience even if the measurement number and data number are entered in a character string that is easy for humans to understand,
In any case, since the processing is replaced with a numerical value inside the measuring instrument control apparatus, the numerical value is described here.

【0024】記憶装置3のある領域内において1〜N番
地がフラグ・テーブルに割り当てられ、N+1〜(M+
1)N番地が計測結果テーブルに割り当てられている。
フラグ・テーブルのn番地(1≦n≦N)には計測番号
がnの計測機能の実行,非実行を示すフラグが書き込ま
れる。計測結果テーブル12のN+n,2N+n,…M
N+n番地には計測番号がnの計測機能の実行による各
計測項目の計測結果が予め定められた順番で書き込まれ
る。図3に示す処理を行う前にパラメータテーブル10
にデータ番号および計測番号を入力しておく。
In a certain area of the storage device 3, addresses 1 to N are allocated to the flag table, and N + 1 to (M +
1) Address N is assigned to the measurement result table.
At address n (1 ≦ n ≦ N) of the flag table, a flag indicating execution or non-execution of the measurement function with the measurement number n is written. N + n, 2N + n,... M in the measurement result table 12
At the address N + n, the measurement result of each measurement item by executing the measurement function with the measurement number n is written in a predetermined order. Before performing the processing shown in FIG.
Enter the data number and measurement number in the field.

【0025】図3において、処理100は、フラグ・テ
ーブル11に、初期化作業として1からN番地にフラグ
(0)を書き込む。
In FIG. 3, the process 100 writes a flag (0) in the flag table 11 at addresses 1 to N as initialization work.

【0026】処理101は、フラグ・テーブル11にお
けるパラメータ・テーブル10から順次読み出した計測
番号が示すn(1〜Nの値)番地にフラグ(1)を立て
る。
In the process 101, a flag (1) is set at the address n (value of 1 to N) indicated by the measurement number sequentially read from the parameter table 10 in the flag table 11.

【0027】L個の計測番号に対してこの処理を行う
と、フラグ・テーブル11の番地1からNにはフラグ
(1)またはフラグ(0)が書き込まれた状態になる。
When this process is performed on the L measurement numbers, the flag (1) or the flag (0) is written in addresses 1 to N of the flag table 11.

【0028】ここで、図4を示す例を用いて説明する。
処理101は、図4のパラメータ・テーブル10の計測
番号が、1,2,4,4,2であるため、フラグ・テー
ブル11の番地1,2,4にフラグ(1)を書き込むこ
とになる。
Here, a description will be given using an example shown in FIG.
In the process 101, since the measurement numbers in the parameter table 10 of FIG. 4 are 1, 2, 4, 4, and 2, the flag (1) is written into the addresses 1, 2, and 4 of the flag table 11. .

【0029】処理102は、フラグ,テーブル11の1
番地から内容を順に読み出す。図5の例では、(1)
(1)(0)(1)の順にフラグが読み出される。
In the process 102, the flag, 1 of the table 11,
The contents are read out sequentially from the address. In the example of FIG. 5, (1)
The flags are read in the order of (1), (0), and (1).

【0030】処理103は、処理で読みだしたフラグを
判断する。フラグが(0)ならば、処理104へ、フラ
グが(1)ならば処理200に制御を移す。
The process 103 determines the flag read in the process. If the flag is (0), control is transferred to step 104, and if the flag is (1), control is transferred to step 200.

【0031】処理104は、フラグ・テーブル11の内
容を全て読みだしたか否かを判断する。読み出してなけ
れば、処理102に、読み出していれば処理110に制
御を移す。
The process 104 determines whether all the contents of the flag table 11 have been read. If it has not been read, control is transferred to step 102, and if it has been read, control is transferred to step 110.

【0032】処理200は、フラグが(1)である計測
番号を計測機能を計測器5に実行させるように計測器5
のパラメータの値を設定する。
The processing 200 is performed so that the measuring function is executed by the measuring device 5 with the measurement number whose flag is (1).
Set the value of the parameter of.

【0033】処理201は、計測器5を制御し計測を実
施する。
The process 201 controls the measuring device 5 to perform measurement.

【0034】処理202は、計測器5からm個(1≦m
≦M)の計測結果を取り込み、処理105に制御を移
す。
The processing 202 is executed by m (1 ≦ m)
≤ M), and the control is transferred to the process 105.

【0035】処理105は、得られたm個の計測項目の
計測結果を、計測結果テーブル12のN+n,2N+
n,…MN+nの計測項目によって予め定められた番地
に書き込む(計測番号がnの計測機能を実行した結果と
する)。
In a process 105, the measurement results of the obtained m measurement items are stored in N + n, 2N +
n,... MN + n is written to an address predetermined by the measurement item (the result is the result of executing the measurement function with the measurement number n).

【0036】ここで、図5に示す例を用いて説明する。
処理105は、フラグが(1)の時に必ず実行させる処
理であるから、図5の場合、3回の処理を行うことにな
る。最初の処理105で番地1の行、すなわち、番地
5,9,13,17,21に計測結果が入力される。2
回目の処理105で番地2の行、すなわち、番地6,1
0,14,18,22に計測結果が入力される。最後の
処理105で番地4の行、すなわち、番地8,12,1
6,20,24に計測結果が入力される。
Here, a description will be given using an example shown in FIG.
Since the process 105 is always executed when the flag is (1), three processes are performed in the case of FIG. In the first process 105, the measurement result is input to the row at address 1, that is, addresses 5, 9, 13, 17, and 21. 2
In the second process 105, the row of address 2, that is, addresses 6-1
Measurement results are input to 0, 14, 18, and 22. In the last process 105, the row of address 4, that is, addresses 8, 12, 1
The measurement results are input to 6, 20, and 24.

【0037】処理110は、パラメータ・テーブル10
を順に読み込み、その計測番号nとデータ番号mに相当
する計測結果を、計測結果テーブル12のm×N+n番
地から読みだし、計測項目の結果として保存する。
The processing 110 is performed in the parameter table 10
Are sequentially read, and a measurement result corresponding to the measurement number n and the data number m is read from the address m × N + n of the measurement result table 12 and stored as a result of the measurement item.

【0038】図5の例を用いて説明する。処理110
は、パラメータ・テーブル10をもとに、1番目の結果
に番地9の結果を、2番目の結果に番地6の結果を、3
番目の結果に番地12の結果を、4番目の結果に番地1
6の結果を、5番目の結果に番地14の結果を、それぞ
れ計測結果として読みだし、各計測項目の結果として保
存する。
This will be described with reference to the example shown in FIG. Process 110
Is the result of address 9 in the first result, the result of address 6 in the second result, and 3 based on the parameter table 10.
The result of address 12 is the fourth result, and the result of address 1 is the fourth result.
The result of No. 6 is read out as the measurement result, and the result of the address 14 is read out as the fifth result, and is stored as the result of each measurement item.

【0039】パラメータ・テーブル10に入力された計
測番号をL個とすると、従来の計測器制御装置でこれと
同じ計測を行うにはL回のパラメータの設定が必要であ
った。
Assuming that the number of measurement numbers input to the parameter table 10 is L, it is necessary to set the parameter L times in order to perform the same measurement with the conventional measuring instrument control device.

【0040】本実施の形態の計測器制御装置では、計測
番号の最大値NがL以下の時、最大N回のパラメータ設
定で済み従来の計測器制御装置と比べると(L−N)回
のパラメータ設定、計測および計測結果入力の時間が短
縮される。
In the measuring instrument control device of the present embodiment, when the maximum value N of the measurement number is L or less, the parameter setting needs to be performed at most N times, and (L−N) times compared with the conventional measuring instrument control device. The time for parameter setting, measurement, and measurement result input is reduced.

【0041】また、計測番号の最大値NがL以上の時、
最大L回のパラメータ設定が済む。パラメータ・テーブ
ルに入力されている計測番号の重複の分パラメータの設
定、計測および計測結果入力の回数が減る。
When the maximum value N of the measurement number is L or more,
Parameter setting up to L times is completed. The number of times of parameter setting, measurement, and measurement result input is reduced by the duplication of the measurement numbers input to the parameter table.

【0042】一般的に、計測器の制御時間、例えば、パ
ラメータの設定時間、計測時間、計測結果の取り込み
は、プログラムの実行時間より遥かに大きい。
Generally, the control time of the measuring instrument, for example, the parameter setting time, the measuring time, and the acquisition of the measurement result are much longer than the execution time of the program.

【0043】したがった、全体の処理速度は、従来の計
測器制御装置に比べて、本発明の計測器制御装置のほう
が複数なプラグラム処理を行っているにもかかわらず、
早い事がわかる。
Accordingly, although the overall processing speed is higher than that of the conventional measuring instrument control device, the measuring instrument control device of the present invention performs a plurality of program processes.
I understand that it is early.

【0044】また、プログラムの処理内容は、比較して
複雑になっているが、処理自体は単純な番地計算で実現
できるため、プログラム実行時間は、ほとんど変わらな
い。
Although the processing contents of the program are relatively complicated, the processing itself can be realized by simple address calculation, so that the program execution time hardly changes.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明の計測器制御装置および方法は、
あるパラメータの設定値を与えて計測した計測結果のう
ち計測の目的としたものは勿論、得られた全ての計測項
目の計測結果を記憶装置に保存しておき、パラメータの
設定値が同じでありながら別の計測項目の計測結果が必
要となったときに、検索およびソート等のデータ操作無
しに該当記憶装置から直接必要な計測結果を読み出す。
The measuring instrument control apparatus and method according to the present invention include:
Of the measurement results measured by giving a set value of a certain parameter, the measurement results of all the obtained measurement items are stored in a storage device as well as the measurement result of the obtained measurement item, and the set values of the parameters are the same. On the other hand, when the measurement result of another measurement item is required, the necessary measurement result is read directly from the corresponding storage device without performing data operations such as searching and sorting.

【0046】したがって、ある計測項目の計測結果を得
るためにパラメータの設定値を与えて計測した後に、パ
ラメータの設定値が同じでも別の計測項目の計測結果が
必要になった時は、再びパラメータの設定値を与えて計
測して計測結果を取り込む必要はなく、パラメータ設定
の時間および計測器の計測時間が節約でき、計測項目の
実行時間が短縮でき、生産のスループットを向上でき
る。
Therefore, when a parameter set value is given to obtain a measurement result of a certain measurement item and measurement is performed, when a measurement result of another measurement item becomes necessary even if the parameter setting value is the same, the parameter is again set. It is not necessary to take the measurement result by giving the set value of, and save the time for parameter setting and the measurement time of the measuring instrument, shorten the execution time of the measurement item, and improve the production throughput.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例の形態の計測器制御装置のブロ
ック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a measuring instrument control device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1中の記憶装置に格納されるパラメータ・テ
ーブル10,フラグ・テーブル11および計測結果テー
ブル12を示す図である。
FIG. 2 is a view showing a parameter table 10, a flag table 11, and a measurement result table 12 stored in a storage device in FIG.

【図3】図1に示す計測器制御装置の動作を示すフロー
チャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing an operation of the measuring instrument control device shown in FIG. 1;

【図4】図2のパラメータ・テーブル10の計測番号と
フラグ・テーブルのフラグとの関係を具体例によって示
す図である。
FIG. 4 is a diagram showing, by way of a specific example, a relationship between a measurement number in the parameter table 10 of FIG. 2 and a flag in the flag table.

【図5】図3のパラメータ・テーブル10のデータ番号
と計測結果テーブル12に書き込まれる計測結果との関
係を具体例によって示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing, by a specific example, a relationship between a data number of the parameter table 10 of FIG. 3 and a measurement result written in the measurement result table 12.

【図6】従来の計測器制御装置の動作を示すフローチャ
ートである。
FIG. 6 is a flowchart showing the operation of a conventional measuring instrument control device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 入力装置 2 表示装置 3 記憶装置 4 コンピュータ 5 計測器 10 パラメータ・テーブル 11 フラグ・テーブル 12 計測結果テーブル Reference Signs List 1 input device 2 display device 3 storage device 4 computer 5 measuring instrument 10 parameter table 11 flag table 12 measurement result table

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 計測項目および計測器のパタメータの設
定値の組合わせからなる計測機能を指定する計測番号ご
とに前記計測機能の実行または非実行を指示するフラグ
を書き込むフラグ・テーブルと、前記計測番号ごとに指
定の前記計測機能の実行により得られる1または複数の
計測項目の計測結果を計測項目に応じて予め定められた
記憶位置に書き込む計測結果テーブルと、計測が必要な
前記計測機能の前記計測番号および当該計測機能の実行
により得られる計測結果の一つを指示するデータ番号を
対にして格納するパラメータ・テーブルと、前記フラグ
のうち前記パラメータ・テーブルに書き込まれた計測番
号に対応するもののみを実行を示す状態にセットするフ
ラグ書き込み手段と、前記フラグ・テーブルでフラグが
実行を示す前記計測番号の前記計測機能を実行する計測
手段と、この計測手段により得られた計測結果を前記計
測結果テーブルに書き込む計測結果書き込み手段と、前
記計測結果テーブルから前記パラメータ・テーブルに書
き込まれた対をなす前記計測番号および前記データ番号
が指示する計測結果を読み出す計測結果の読み出し保存
手段とを含むことを特徴とする計測器制御装置。
A flag table for writing a flag for instructing execution or non-execution of the measurement function for each measurement number designating a measurement function comprising a combination of a measurement item and a parameter set value of a measurement device; A measurement result table that writes a measurement result of one or more measurement items obtained by executing the measurement function specified for each number to a predetermined storage location according to the measurement item; and a measurement result table of the measurement function that requires measurement. A parameter table for storing a pair of a measurement number and a data number indicating one of the measurement results obtained by executing the measurement function, and a flag corresponding to the measurement number written in the parameter table among the flags Flag writing means for setting only the execution to a state indicating execution, and the measurement in which the flag indicates execution in the flag table A measuring unit for executing the measurement function of the number, a measurement result writing unit for writing a measurement result obtained by the measurement unit to the measurement result table, and a pair written from the measurement result table to the parameter table. A measuring device control device, comprising: a reading unit for reading and storing a measurement result indicated by the measurement number and the data number indicated by the data number.
【請求項2】 計測項目および計測器のパラメータの設
定値の組合わせからなる計測機能を指定する計測番号の
うち実行が必要な前記計測機能の前記計測番号および当
該必要な前記計測機能の実行により得られる計測機能の
計測結果を指示するデータ番号を対にしてパラメータ・
テーブルに格納し、フラグ・テーブルに前記計測番号ご
とに設けられ前記計測機能の実行または非実行を指示す
るフラグのうち前記パラメータ・テーブルに格納された
前記計測番号に対応するもののみを実行を指示する状態
にし、前記フラグ・テーブルの実行を指示するフラグの
前記計測番号の前記計測機能を実行して得られた計測項
目の計測結果を計測結果テーブルの当該計測番号に対応
し計測項目に応じて予め定められた記憶位置に書き込
み、前記計測結果テーブルから前記パラメータ・テーブ
ルに書き込まれた対をなす前記計測番号および前記デー
タ番号が指示する計測結果を読み出すことを特徴とする
計測器制御方法。
2. The method according to claim 2, wherein the measurement number of the measurement function which needs to be executed and the execution of the required measurement function among the measurement numbers designating the measurement function comprising a combination of a measurement item and a set value of a parameter of the measurement device. The data number indicating the measurement result of the obtained measurement function
Stored in the table, and instructed to execute only the flag corresponding to the measurement number stored in the parameter table among the flags provided for each of the measurement numbers in the flag table and indicating execution or non-execution of the measurement function To a state where the measurement result of the measurement item obtained by executing the measurement function of the measurement number of the flag instructing execution of the flag table corresponds to the measurement number in the measurement result table according to the measurement item. A method of controlling a measuring instrument, comprising writing to a predetermined storage location, and reading out a measurement result indicated by the pair of the measurement number and the data number written in the parameter table from the measurement result table.
JP8135287A 1996-05-29 1996-05-29 Instrument control device and method Expired - Lifetime JP2877075B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8135287A JP2877075B2 (en) 1996-05-29 1996-05-29 Instrument control device and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8135287A JP2877075B2 (en) 1996-05-29 1996-05-29 Instrument control device and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09318686A JPH09318686A (en) 1997-12-12
JP2877075B2 true JP2877075B2 (en) 1999-03-31

Family

ID=15148179

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8135287A Expired - Lifetime JP2877075B2 (en) 1996-05-29 1996-05-29 Instrument control device and method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2877075B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080281560A1 (en) * 2005-11-04 2008-11-13 Tektronix, Inc. Methods and Systems for Automatic Accommodation of Multiple Measurement Types by Shared Acquisition Hardware
CN103605031A (en) * 2013-11-29 2014-02-26 国家电网公司 Field calibration method of excitation regulator

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09318686A (en) 1997-12-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06175813A (en) Arrangement changing device for icon
US4611281A (en) Apparatus for analyzing microprocessor operation
JPH0752202B2 (en) Spectrum analyzer
JP2877075B2 (en) Instrument control device and method
JPH1185446A (en) Method for displaying trend graph
JP3256582B2 (en) How to set the measurement mode in the measurement device
JP2923788B2 (en) Screen input method
JP2709092B2 (en) Spectrum 3D display method
JPH11184822A (en) Graph display device, graph display method, and recording medium recording graph display processing program
JPH02220145A (en) Program tracing system
JP3436597B2 (en) Waveform display method of waveform observation device
JP2941257B1 (en) measuring device
JPH04275643A (en) System for testing program
JPH11203031A (en) Data input device, control method therefor, and storage medium
JP3675542B2 (en) Waveform recorder
JPH10206196A (en) Display device
JPH04106422A (en) Measurement control managing apparatus
JPH09303195A (en) Data update device for electronic control unit
JPS5910858A (en) Logical analyzer
JPH05113352A (en) Panel information setting device of measuring equipment
JPH0628133A (en) Information processing apparatus and operation support method thereof
JPH05189263A (en) Manufacturing test device
JPH10106295A (en) Method and apparatus for comparing shmoo data
JPH03185531A (en) Method for displaying scale conversion for task time
JPH03129442A (en) Cpu performance measuring instrument

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19981222