JP2801657B2 - ピン付きパッケージ検査装置 - Google Patents
ピン付きパッケージ検査装置Info
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- JP2801657B2 JP2801657B2 JP1173027A JP17302789A JP2801657B2 JP 2801657 B2 JP2801657 B2 JP 2801657B2 JP 1173027 A JP1173027 A JP 1173027A JP 17302789 A JP17302789 A JP 17302789A JP 2801657 B2 JP2801657 B2 JP 2801657B2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 31
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 13
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 7
- 239000005337 ground glass Substances 0.000 description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000005338 frosted glass Substances 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は，プリント配線板等のピン付きパッケージ
のピンの不良等を検査するピン付きパッケージ検査装置
に関するものである。
のピンの不良等を検査するピン付きパッケージ検査装置
に関するものである。
［従来の技術］ 従来は，ピン付きパッケージのピンの不良を検査する
ためには，パッケージのｘ方向およびｙ方向から目視に
よる検査を行い，ピンが一列に並んでいないものを不良
と判定するか，またピンの付く位置にピン挿入用の穴を
あけた治具を作成し，この治具上に静かにパッケージを
置き治具に納まるかどうかを見ることにより正常か不良
かを判定していた。
ためには，パッケージのｘ方向およびｙ方向から目視に
よる検査を行い，ピンが一列に並んでいないものを不良
と判定するか，またピンの付く位置にピン挿入用の穴を
あけた治具を作成し，この治具上に静かにパッケージを
置き治具に納まるかどうかを見ることにより正常か不良
かを判定していた。
［発明が解決しようとする課題］ 上記のような従来のピン付きパッケージ検査装置で
は，不具合を見落とす可能性が大きく，時間もかかり，
ピンの曲がり等は判別できるがピン抜けの判定が不可能
であること，また治具等を用いた検査においてはピンに
キズをつけてしまうなどの問題点があった。
は，不具合を見落とす可能性が大きく，時間もかかり，
ピンの曲がり等は判別できるがピン抜けの判定が不可能
であること，また治具等を用いた検査においてはピンに
キズをつけてしまうなどの問題点があった。
この発明は，かかる問題点を解決するためになされた
もので，正確で効率的なピン付きパッケージ検査装置を
得ることを目的とする。
もので，正確で効率的なピン付きパッケージ検査装置を
得ることを目的とする。
［課題を解決するための手段］ この発明に係るピン付きパッケージ検査装置は，検査
対象のピン付きパッケージを載置する半透明の光学用基
板と、この光学用基板上のピン付きパッケージ載置位置
を中心として囲むように設けられた複数の散乱光白色光
源と、前記光学用基板の下部に設置され，前記光学用基
板に映るピンの影像を検出する光学検出器と，この光学
検出器からの画像信号を処理する画像処理装置とを備え
たものである。
対象のピン付きパッケージを載置する半透明の光学用基
板と、この光学用基板上のピン付きパッケージ載置位置
を中心として囲むように設けられた複数の散乱光白色光
源と、前記光学用基板の下部に設置され，前記光学用基
板に映るピンの影像を検出する光学検出器と，この光学
検出器からの画像信号を処理する画像処理装置とを備え
たものである。
［作用］ この発明においては，光学用すりガラスに映るピンの
影像を光学検出器により取り込み，取り込んだ画像を画
像処理装置にて処理してピンの良品，不良品を判定す
る。
影像を光学検出器により取り込み，取り込んだ画像を画
像処理装置にて処理してピンの良品，不良品を判定す
る。
［実施例］ 第１図はこの発明の一実施例によるピン付きパッケー
ジ検査装置の外観を示す図である。図において，（１）
は光学用すりガラス，（２）は散乱光白色光源で，光学
用すりガラス（１）上に４方向に等間隔で設けられてい
る。（３）は検査対象であるピン付きパッケージで，各
散乱光白色光源（２）の中心位置に置かれている。
（４）はビデオカメラで，ピン付きパッケージ（３）の
ピンの影像を影像する。（５）は不透明板（金属製）
で，光学用すりガラス（１）の下部に設置するビデオカ
メラ（４）の精度を向上するために光学用すりガラス
（１）より上側を覆っている。
ジ検査装置の外観を示す図である。図において，（１）
は光学用すりガラス，（２）は散乱光白色光源で，光学
用すりガラス（１）上に４方向に等間隔で設けられてい
る。（３）は検査対象であるピン付きパッケージで，各
散乱光白色光源（２）の中心位置に置かれている。
（４）はビデオカメラで，ピン付きパッケージ（３）の
ピンの影像を影像する。（５）は不透明板（金属製）
で，光学用すりガラス（１）の下部に設置するビデオカ
メラ（４）の精度を向上するために光学用すりガラス
（１）より上側を覆っている。
第２図はビデオカメラより取り込んだ画像を示す図で
ある。
ある。
次に，動作を説明する。光学用すりガラス（１）上の
中央に置かれたピン付きパッケージ（３）に４つの散乱
光白色光源（２）より矢印の方向に白色光が当てると，
第２図に示すようなピンの影像が光学用すりガラス
（１）を通してビデオカメラ（４）に取り込まれ，画像
処理装置（６）で画像処理されてピンの良品，不良が判
定される。第２図において，各ピンの影像のうち最も輝
度（グレイレベル）の低い値を持つ位置がピン先に相当
する。ピンの影像，，，はピンの曲がりにより
ピン先がずれている画像で，ピンは不良品であると判定
される。ピンの影像はピンの抜けの画像で，ピン先が
検出できないのでやはり不良品と判定される。
中央に置かれたピン付きパッケージ（３）に４つの散乱
光白色光源（２）より矢印の方向に白色光が当てると，
第２図に示すようなピンの影像が光学用すりガラス
（１）を通してビデオカメラ（４）に取り込まれ，画像
処理装置（６）で画像処理されてピンの良品，不良が判
定される。第２図において，各ピンの影像のうち最も輝
度（グレイレベル）の低い値を持つ位置がピン先に相当
する。ピンの影像，，，はピンの曲がりにより
ピン先がずれている画像で，ピンは不良品であると判定
される。ピンの影像はピンの抜けの画像で，ピン先が
検出できないのでやはり不良品と判定される。
また，ピン種の違い（ピンの長さが違うもの）につい
てもある特定のピン先の輝度がそのピンの周りの他のピ
ンとは完全に異なるためこれを検出することで判定する
ことができる。
てもある特定のピン先の輝度がそのピンの周りの他のピ
ンとは完全に異なるためこれを検出することで判定する
ことができる。
なお，上記実施例の散乱光白色光源（２）を第３図に
示すように白色蛍光灯（２′）に変えると，検査対象で
あるピン付きパッケージに対する光度が一定となり，半
透明板に映るピンの影像がより均一化され，ピン先の検
出力が向上する。
示すように白色蛍光灯（２′）に変えると，検査対象で
あるピン付きパッケージに対する光度が一定となり，半
透明板に映るピンの影像がより均一化され，ピン先の検
出力が向上する。
なお，第３図に示す他の実施例におけるビデオカメラ
（４）をマスクパターン（７）と光学センサ（４′）に
変えると，マスクパターン（７）は不透明板であり，ピ
ン先の部分のみが切り取られた構造を取っているので，
ピンの不具合があった場合，光学センサ（４′）により
光のもれを検出し，不良ピンを発見でき，これにより良
品，不良品の区別が簡単に判別できる。
（４）をマスクパターン（７）と光学センサ（４′）に
変えると，マスクパターン（７）は不透明板であり，ピ
ン先の部分のみが切り取られた構造を取っているので，
ピンの不具合があった場合，光学センサ（４′）により
光のもれを検出し，不良ピンを発見でき，これにより良
品，不良品の区別が簡単に判別できる。
［発明の効果］ この発明は以上説明したとおり，検査対象のピン付き
パッケージを載置する半透明の光学用基板と、この光学
用基板上のピン付きパッケージ載置位置を中心として囲
むように設けられた複数の散乱光白色光源と、前記光学
用基板の下部に設置され，前記光学用基板に映るピンの
影像を検出する光学検出器と，この光学検出器からの画
像信号を処理する画像処理装置とを備え，複数の散乱光
白色光源を用いることにより，ピンの影像が均一に半透
明板に映り，これによりビデオカメラで取り込む画像が
白と黒の２色となり画像処理アルゴリズムが簡素化され
る効果がある。また，ビデオカメラで取り込まれた画像
だけでピン抜け，ピン曲がり，ピン種の違い等が発見で
きるため検査時間が短縮できる効果がある。また，特殊
な治具を作成する必要がないため非常に汎用性が高い効
果がある。
パッケージを載置する半透明の光学用基板と、この光学
用基板上のピン付きパッケージ載置位置を中心として囲
むように設けられた複数の散乱光白色光源と、前記光学
用基板の下部に設置され，前記光学用基板に映るピンの
影像を検出する光学検出器と，この光学検出器からの画
像信号を処理する画像処理装置とを備え，複数の散乱光
白色光源を用いることにより，ピンの影像が均一に半透
明板に映り，これによりビデオカメラで取り込む画像が
白と黒の２色となり画像処理アルゴリズムが簡素化され
る効果がある。また，ビデオカメラで取り込まれた画像
だけでピン抜け，ピン曲がり，ピン種の違い等が発見で
きるため検査時間が短縮できる効果がある。また，特殊
な治具を作成する必要がないため非常に汎用性が高い効
果がある。
第１図はこの発明の一実施例によるピン付きパッケージ
検査装置の外観図，第２図はビデオカメラより取り込ん
だ画像図，第３図および第４図はこの発明の他の実施例
によるピン付きパターン検査装置の外観図である。 図において，（１）……光学用すりガラス，（２）……
散乱光白色光源，（２′）……蛍光灯，（３）……ピン
付きパッケージ，（４）……ビデオカメラ，（４′）…
…光学センサ，（６）……画像処理装置である。 なお，各図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
検査装置の外観図，第２図はビデオカメラより取り込ん
だ画像図，第３図および第４図はこの発明の他の実施例
によるピン付きパターン検査装置の外観図である。 図において，（１）……光学用すりガラス，（２）……
散乱光白色光源，（２′）……蛍光灯，（３）……ピン
付きパッケージ，（４）……ビデオカメラ，（４′）…
…光学センサ，（６）……画像処理装置である。 なお，各図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/91 G01B 11/00 - 11/30 102 H05K 13/08
Claims (1)
- 【請求項１】検査対象のピン付きパッケージを載置する
半透明の光学用基板と、この光学用基板上のピン付きパ
ッケージ載置位置を中心として囲むように設けられた複
数の散乱光白色光源と、前記光学用基板の下部に設置さ
れ、前記光学用基板に映るピンの影像を検出する光学検
出器と、この光学検出器からの画像信号を処理する画像
処理装置とを備えたことを特徴とするピン付きパッケー
ジ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1173027A JP2801657B2 (ja) | 1989-07-06 | 1989-07-06 | ピン付きパッケージ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1173027A JP2801657B2 (ja) | 1989-07-06 | 1989-07-06 | ピン付きパッケージ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0339641A JPH0339641A (ja) | 1991-02-20 |
| JP2801657B2 true JP2801657B2 (ja) | 1998-09-21 |
Family
ID=15952854
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1173027A Expired - Lifetime JP2801657B2 (ja) | 1989-07-06 | 1989-07-06 | ピン付きパッケージ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2801657B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5654882B2 (ja) * | 2011-01-25 | 2015-01-14 | スタンレー電気株式会社 | リード端子の異物検査装置 |
| CN105424714B (zh) * | 2015-12-21 | 2018-04-27 | 南京河豚自动化科技有限公司 | 基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法 |
-
1989
- 1989-07-06 JP JP1173027A patent/JP2801657B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0339641A (ja) | 1991-02-20 |
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