JP2762455B2 - 熱記録用ヘッドおよびその抵抗値トリミング方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 A.発明の目的 （１） 産業上の利用分野 本発明は、ワードプロセッサ、パソコン等の出力装置
としてのサーマルプリンタやファクシミリ等に使用され
る熱記録装置用の熱記録用ヘッドの抵抗値トリミング方
法に関する。

（２） 従来の技術 従来、前記熱記録装置は、印刷時の騒音が小さく、ま
た、現像・定着工程が不要なため取り扱いが容易である
等の利点を有しており、広く使用されている。

このような熱記録装置に使用される熱記録用ヘッド
は、抵抗基板上に対向して列設された複数の個別電極お
よび共通電極間に発熱抵抗体が配設されている。そし
て、選択された個別電極および共通電極間に電力を供給
して、その部分の発熱抵抗体を発熱させ、熱記録を行う
ようにしている。

ところで、前記各個別電極および共通電極間に配設さ
れた各発熱抵抗体（すなわち、各ドットに対応する発熱
抵抗体）の抵抗値が均一でないと、発熱した際の発熱抵
抗体の温度に差が生じる。そうすると、熱転写紙等に熱
記録を行った際、記録した「字」または「図」等に濃度
ムラが発生する。

前記濃度ムラの発生を防止するために、従来、前記各
ドットに対応する発熱抵抗体の抵抗値を均一にすること
が行われている。これは、発熱抵抗体に抵抗破壊を生じ
ない範囲で所定の電圧を印加すると、その電圧の大きさ
に応じて発熱抵抗体の抵抗値が減少するという性質を利
用している。

このような発熱抵抗体の抵抗値を均一化する従来の技
術として、たとえば、特開昭61−83053号公報が知られ
ている。

この公報に記載されたものは、発熱抵抗体に幅が一定
で電圧値の異なるトリミングパルス、または、幅および
電圧値一定で数の異なるトリミングパルスを印加するよ
うにしている。そして、その公報には実施例として、発
熱抵抗体に幅が一定で電圧値の異なるトリミングパルス
を印加するようにしたものが記載されている。

その実施例に記載されたものは、抵抗基板上の各ドッ
トに対応する発熱抵抗体の初期抵抗値を測定し、それら
の初期抵抗値が目標抵抗値R₀よりも大きい場合には、発
熱抵抗体に所定の電圧V₀のトリミングパルスを印加して
発熱抵抗体の抵抗値を減少させる。この減少した抵抗値
が、目標抵抗値よりもまだ大きい場合には、前記所定の
電圧V₀にΔＶだけプラスした電圧V₀＋ΔＶのトリミング
パルスを印加して発熱抵抗体の抵抗値をさらに減少させ
る。この、さらに減少した抵抗値が目標抵抗値R₀よりも
まだ大きい場合には、前記所定の電圧V₀に２ΔＶだけプ
ラスした電圧V₀＋２ΔＶのトリミングパルスを印加して
発熱抵抗体の抵抗値をさらに減少させる。このようにし
て発熱抵抗体の抵抗値が目標抵抗値R₀以下に収まるま
で、ΔＶづつプラスした電圧V₀＋ｎΔＶのトリミングパ
ルスを印加するようにしている。

この従来の方法は、初期抵抗値の異なる各発熱抵抗体
に対して、印加する電圧の初期値V₀および１ステップの
電圧の増加分ΔＶを小さな値に設定している。その理由
は次の通りである。前記印加電圧の初期値V₀を大きな値
に設定すると、発熱抵抗体の抵抗値が最初のトリミング
パルスで目標抵抗値R₀よりもずっと下の値になる場合が
生じるので都合が悪く、また、前記ΔＶを大きくする
と、あるステップにおいて発熱抵抗体の抵抗値が目標抵
抗値R₀よりもずっと下の値になる場合が生じるので都合
が悪い。このため、前記印加電圧の初期値V₀および電圧
の増加分ΔＶを小さな値に設定せざるを得なかったので
ある。したがって、従来のトリミング方法では、発熱抵
抗体の抵抗値を目標抵抗値の所定範囲以内に収めるまで
に多くの作業数を必要とするという問題点がある。

前記事情に鑑み、検討した結果、下記の事実を利用す
るトリミング方法を考えた。

すなわち、同一抵抗基板上の各発熱抵抗体、または同
一ロットで製造された抵抗基板上の各発熱抵抗体の印加
電圧に対する抵抗値変化特性は類似しており、初期抵抗
値R_sが異なる各発熱抵抗体は、初期抵抗値R_sを含む所定
の関数Ｇ（R,R_s）のＲに目標抵抗値R₀を代入して定まる
値G_o＝Ｇ（R_o，R_s）に応じた所定の電圧値V_s（以下、
「目標達成電圧値Vs」という）のパルスP_sが印加された
とき目標抵抗値R₀に接近する。

この事実を利用すれば、前記関数Ｇ（R,R_s）を定める
ことにより、同一ロットで製造された抵抗基板の初期抵
抗値R_sが異なる各発熱抵抗体の抵抗値を、目標抵抗値R₀
に一度に接近させるパルスP_sの電圧値すなわち目標達成
電圧値Vsの大きさを求めることが可能である。そして、
求まった目標達成電圧値Vsを利用することにより、各発
熱抵抗体の抵抗値を少ない作業数で目標抵抗値R_oに接近
させることが可能となる。

ただし、各発熱抵抗体は、たとえ同一ロットで製造さ
れた抵抗基板上または同一基板上のものであって前記抵
抗値変化特性が類似しているといっても、その抵抗値変
化特性にはバラツキがあるため、実際に前記発熱抵抗体
の抵抗値のトリミングを行う際、前記関数値G_oに応じて
定まる目標達成電圧値VsのトリミングパルスPsをいきな
り発熱抵抗体に印加すると、その抵抗値が目標抵抗値R_o
よりもかなり下の値に補正されたり、また、発熱抵抗体
に印加した高電圧に起因する抵抗破壊が生じる場合もあ
る。

したがって、たとえ前記目標達成電圧値Vsが求まって
も、実際のトリミング作業では、目標達成電圧値Vsより
も低い電圧値V₁の第１トリミングパルスP₁を発熱抵抗体
に印加し、その抵抗値の変化を見ながら、その抵抗値が
目標抵抗値R_oに達するまで、電圧値V_i（ｉ＝1,2,…,n:V
_i≦V_i+1）を順次増加させながら第ｉトリミングパルスP
_i（ｉ＝1,2,…,n）を印加する。このようなトリミング
方法すなわち目標達成電圧値Vsに応じて第１トリミング
パルスP₁の電圧値V₁を定めるトリミング方法は、前記電
圧値V₁を発熱抵抗体の初期抵抗値R_sに応じて適切に設定
することができるため、トリミング作業数を従来よりも
減少させることができる。

ところで、前記目標達成電圧値Vsを求めるには前記関
数Ｇ（R,R_s）を定める必要があるが、関数Ｇ（R,Rs）
は、たとえば次のようにして定めることができる。すな
わち、 （a₁） まず、目標抵抗値R_oを定めるとともに、変数Ｒ
および定数R_sを含む適当な関数Ｑ（R,R_s）を作成する。
前記関数Ｑ（R,Rs）としては、たとえば次式（３）のよ
うなものが考えられる。

（a₂） 次に、同一ロットで製造された抵抗基板の中か
ら任意の抵抗基板をサンプルとして抽出し、その抵抗基
板上の個別電極および共通電極間の発熱抵抗体の初期抵
抗値R_sを測定する。

（a₃） 前記発熱抵抗体の初期抵抗値R_sが目標抵抗値R_o
よりも大きい場合、第６図に示すように、適当な電圧値
V_t1の第１テストパルスP_t1を発熱抵抗体に印加する。

（a₄） 前記第１テストパルスP_t1を印加した後の発熱
抵抗体の抵抗値R_t1を測定する。

（a₅） 関数Ｑ（R,Rs）のＲにR_t1を代入した値Q_t1＝Ｑ
（R_t1,Rs）を算出する。

（a₆） 前記抵抗値R_t1が目標抵抗値R_oよりも大きい場
合には、前記電圧値V_tlよりも所定値だけ大きい電圧値V
_t2の第２テストパルスP_t2（第６図参照）を前記発熱抵
抗体に印加する。

（a₇） 前記第２テストパルスP_t2を印加した後の発熱
抵抗体の抵抗値R_t2を測定する。

（a₈） 関数Ｑ（R,Rs）のＲにR_t2を代入した値Q_t2＝Ｑ
（R_t2,Rs）を算出する。

（a₉） このような作業をR_ti≦R_o（ｉ＝1,2,…）とな
るまで繰り返し、得られたデータV_tiおよびQ_tiによって
定まる座標点P_ti′（第６図参照）を、直交するＶ軸お
よびＱ軸からなる直交座標軸上にプロットする。

（a₁₀） 前記（a₉）までの作業を他の発熱抵抗体に対
しても行う。そうすると、前記Ｑ（R,R_s）を前記式
（３）のように定めた場合、第７図に示すような多数の
点の分布が得られる。

（a₁₁） 前記直交座標軸上にプロットされた前記座標
データ（V_ti，Q_ti）の分布を近似する式Ｖ＝Ｆ（Ｑ）を
求める。

この座標データ（V_ti，Q_ti）の分布を近似する式Ｖ＝
Ｆ（Ｑ）は、前記関数Ｑ（R,R_s）を前式（３）のように
定めた場合には、次式（４）のような直線を表す式とな
り、その直線のグラフは第７図の実線のようになる。

以下、前記座標データ（V_ti，Q_ti）の分布を近似する
式Ｖ＝Ｆ（Ｑ）＝Ｆ（R,R_s）で表されるグラフを「校正
カーブ」ということにする。また、前記Ｆ（Ｑ）または
Ｆ（R,R_s）を「校正カーブ関数」ということにする。

なお、前記式Ｑ（R,R_s）としては、前記式（３）の代
わりにＱ（R,R_s）＝Ｒ−R_sまたはＱ（R,R_s）＝R/R_s等、
種々考えられるがそれらの場合、前記座標データ
（V_ti，Q_ti）の分布を近似する式Ｖ＝Ｆ（Ｑ）＝Ｆ（R,
R_s）さえ求まれば前記式（４）のような直線を表す式で
なく、曲線を表す式であっても利用できる。

（a₁₂） 前述のようにして式Ｖ＝Ｆ（R,R_s）を定め、
その式Ｖ＝Ｆ（R,R_s）のＲにR_oを代入することにより目
標達成電圧値Vsが算出される。たとえば、関数Ｑ（R,R
s）および関数Ｆ（R,Rs）が前記式（３）および（４）
のようであれば、目標達成電圧値Vsは次式（５）のよう
になる。

ところで、前述のように電圧値が順次増加するテスト
パルスP_tiによって目標達成電圧値Vsを求めるに際し、
テストパルスP_tiの電圧値V_tiのテストパルスP_ti-1の電
圧値P_ti-1に対する増加分V_ti−V_ti-1が大きすぎると、
ある段階のトリミングパルスP_tiの印加時に、発熱抵抗
体の抵抗値Ｒが目標抵抗値R_oよりもかなり下の値に補正
されたり、発熱抵抗体に抵抗破壊が生じてその抵抗値Ｒ
が上昇したりする場合がある。したがって、テストパル
スを印加する発熱抵抗体を後で熱記録に使用したいなら
ば、その発熱抵抗体に抵抗破壊が生じないようにする必
要がある。その場合には、テストパルスの電圧値を少し
づつ増加しながら発熱抵抗体の抵抗値を測定しなければ
ならないので、前記目標達成電圧値Vsを求めるのに時間
がかかる。

（３） 発明が解決しようとする課題 本発明は前述の事情に鑑みてなされたもので、抵抗基
板上の発熱抵抗体が抵抗破壊されるようなテストパルス
を印加して目標達成電圧値Vsを速やかに求めることがで
き、しかも、そのテストパルスを印加した発熱抵抗体を
有する抵抗基板を熱記録に使用できるようにすることを
課題とする。

B.発明の構成 （１） 課題を解決するための手段 （第１発明） 前記課題を解決するために、本出願の第１発明の熱記
録用ヘッドの抵抗値トリミング方法は、抵抗基板（４）
上面に、熱記録に使用される複数の個別電極（4a）およ
び共通電極（4b）が列設され、それらの電極（4a,4b）
間に発熱抵抗体（4c）を配設した熱記録用ヘッドにおけ
る前記発熱抵抗体（4c）の初期抵抗値（RS）が目標抵抗
値（R0）よりも大きい場合に前記発熱抵抗体（4c）に第
１トリミングパルス（P1）を印加し、この第１トリミン
グパルス（P1）印加後の発熱抵抗体（4c）の抵抗値（R
1）が目標抵抗値（R0）よりも大きい場合に前記発熱抵
抗体（4c）に第２トリミングパルス（P2）を印加し、こ
の第２トリミングパルス（P2）印加後の発熱抵抗体（4
c）の抵抗値（R2）が目標抵抗値（R0）よりも大きい場
合に前記発熱抵抗体（4c）に第３トリミングパルス（P
3）を印加するという順序で発熱抵抗体（4c）の抵抗値
が前記目標抵抗値（Ro）に達するまでトリミングパルス
（Pi:i＝1,2,…）の電圧値（Vi:i＝1,2,…）を増加させ
ながら順次印加するようにした発熱抵抗体（4c）の抵抗
値トリミング方法において、 抵抗基板（４）上面に、前記熱記録に使用される電極
（4a,4b）と同様に構成されているが熱記録に使用され
ない個別ダミー電極（4a′）および共通ダミー電極4
b′）を列設するとともに、それらの電極（4a′,4b′）
間に前記発熱抵抗体（4c）を配設し、前記個別ダミー電
極（4a′）および共通ダミー電極（4b′）間の発熱抵抗
体（4c）に電圧値が順次増加するテストパルス（Pti:i
＝1,2,…）を順次印加して発熱抵抗体（4c）の抵抗値
（Ｒ）の変化を調べる試験により、初期抵抗値（RS）の
発熱抵抗体（4c）の抵抗値を一度に目標抵抗値（R0）に
接近させるトリミングパルス（Ps）の目標達成電圧値
（Vs）を求め、この求めた目標達成電圧値（Vs）よりも
所定量小さな値に前記第１トリミングパルス（P1）の電
圧値（V1）を設定するとともに、発熱抵抗体（4c）の抵
抗値（Ｒ）と目標抵抗値（Ro）との差が所定範囲にある
間は、発熱抵抗体（4c）の抵抗値（Ｒ）が目標抵抗値
（Ro）に近づくにつれてその直前のトリミングパルス
（Pi−１）の電圧値（Vi−１）に対するトリミングパル
ス（Pi）の電圧値（Vi）の増加量（Vi−Vi−１）を、漸
減するように設定したことを特徴とする。

（第２発明） また、本出願の第２発明の熱記録用ヘッドの抵抗値ト
リミング方法は、前記第１発明の抵抗値のトリミング方
法において、前記トリミングパルス（Pi）の電圧値（V
i）の増加量（Vi−Vi−１）が所定の電圧値よりも小さ
くなったときに、前記電圧値を前記所定の電圧値ずつ増
加させるようにしたことを特徴とする。

（第３発明） また、本出願の第３発明の熱記録用ヘッドの抵抗値ト
リミング方法は、抵抗基板（４）上面に、熱記録に使用
される複数の個別電極（4a）および共通電極（4b）が列
設され、それらの電極（4a,4b）間に発熱抵抗体（4c）
を配設した熱記録用ヘッドにおける前記発熱抵抗体（4
c）の初期抵抗値（RS）が目標抵抗値（R0）よりも大き
い場合に前記発熱抵抗体（4c）に第１トリミングパルス
（P1）を印加し、この第１トリミングパルス（P1）印加
後の発熱抵抗体（4c）の抵抗値（R1）が目標抵抗値（R
0）よりも大きい場合に前記発熱抵抗体（4c）に第２ト
リミングパルス（P2）を印加し、この第２トリミングパ
ルス（P2）印加後の発熱抵抗体（4c）の抵抗値（R2）が
目標抵抗値（R0）よりも大きい場合に前記発熱抵抗体
（4c）に第３トリミングパルス（P3）を印加するという
順序で発熱抵抗体（4c）の抵抗値が前記目標抵抗値（R
o）に達するまで達するまでトリミングパルス（Pi:i＝
1,2,…）の電圧値（Vi:i＝1,2,…）を増加させながら順
次印加するようにした発熱抵抗体（4c）の抵抗値トリミ
ング方法において、 抵抗基板（４）上面に、前記熱記録に使用される電極
（4a,4b）と同様に構成されているが熱記録に使用され
ない個別ダミー電極（4a′）および共通ダミー電極（4
b′）を列設するとともに、それらの電極（4a′,4b′）
間に前記発熱抵抗体（4c）を配設し、前記個別ダミー電
極（4a′）および共通ダミー電極（4b′）間の発熱抵抗
体（4c）に電圧値が順次増加するテストパルス（Pti:i
＝1,2,…）を順次印加して発熱抵抗体（4c）の抵抗値
（Ｒ）の変化を前記発熱抵抗体（4c）が抵抗破壊を起こ
すまで繰り返して調べる試験により、初期抵抗値（RS）
の発熱抵抗体（4c）の抵抗値を一度に目標抵抗値（R0）
に接近させるトリミングパルス（Ps）の目標達成電圧値
（Vs）を求め、この目標達成電圧値（Vs）に基づいて前
記発熱抵抗体（4c）のトリミングを行うことを特徴とす
る抵抗値トリミング方法。

（２） 作用 （第１発明の作用） 前述の構成を備えた第１発明の熱記録用ヘッドの抵抗
値トリミング方法は、前記ダミー電極間の発熱抵抗体の
抵抗値Ｒの変化をみながらダミー電極にテストパルスを
印加することにより、初期抵抗値Rsの発熱抵抗体の抵抗
値を一度に目標抵抗値R0に接近させ得る目標達成電圧値
Vsが求まる。この求めた目標達成電圧値Vsよりも所定量
小さな値に前記第１トリミングパルスP1の電圧値V1を設
定するとともに、発熱抵抗体の抵抗値Ｒと目標抵抗値Ro
との差が所定範囲にある間は、発熱抵抗体の抵抗値Ｒが
目標抵抗値Roに近づくにつれてその直前のトリミングパ
ルス（Pi−１）の電圧値（Vi−１）に対するトリミング
パルス（Pi）の電圧値（Vi）の増加量（Vi−Vi−１）
を、漸減させる。

すなわち、前記求まった目標達成電圧値Vsを利用し
て、熱記録に使用する発熱抵抗体に効率のよいトリミン
グ作業を実施することができる。しかも、発熱抵抗体の
抵抗値Ｒを目標抵抗値Roに精度良く近づけることができ
る。

（第２発明の作用） 前記第２発明の熱記録用ヘッドの抵抗値トリミング方
法では、前記トリミングパルス（Pi）の電圧値（Vi）の
増加量（Vi−Vi−１）が所定の電圧値よりも小さくなっ
たときに、前記電圧値を前記所定の電圧値ずつ増加させ
て抵抗値トリミングを行う。この方法でも、発熱抵抗体
の抵抗値Ｒを目標抵抗値Roに精度良くかつ迅速に近づけ
ることができる。

（第３発明の作用） 前記構成を備えた第３発明では、前記個別ダミー電極
（4a′）および共通ダミー電極（4b′）間の発熱抵抗体
（4c）に電圧値が順次増加するテストパルス（Pti:i＝
1,2,…）を順次印加して発熱抵抗体（4c）の抵抗値
（Ｒ）の変化を前記発熱抵抗体（4c）が抵抗破壊を起こ
すまで繰り返して調べる試験により、初期抵抗値（RS）
の発熱抵抗体（4c）の抵抗値を一度に目標抵抗値（R0）
に接近させるトリミングパルス（Ps）の目標達成電圧値
（Vs）を求め、この目標達成電圧値（Vs）に基づいて前
記発熱抵抗体（4c）のトリミングを行う。この第３発明
では、その熱記録ヘッドにおける発熱抵抗体の抵抗破壊
電圧を把握できるので、初期抵抗値（RS）の発熱抵抗体
（4c）の抵抗値を一度に目標抵抗値（R0）に接近させる
トリミングパルス（Ps）の目標達成電圧値（Vs）を効率
良く、また、抵抗破壊を起こさないように求めることが
できる。

また、前記求まった目標達成電圧値Vsを利用して、熱
記録に使用する発熱抵抗体に効率のよいトリミング作業
を実施することができる。しかも、発熱抵抗体の抵抗値
Ｒを目標抵抗値Roに精度良く近づけることができる。

（３） 実施例 次に、図面により本発明の一実施例について説明す
る。

第２図において、プラテンローラＡの外周に沿って搬
送される感熱記録紙Ｂに熱記録を行う熱記録用ヘッドＣ
は、アルミまたは鋳鉄等の熱伝導率の高い金属材料から
構成された支持板１を備えており、この支持板１の上面
には、第２図中、左側部分および右側部分に、それぞれ
接着剤２および３を介してセラミック製の抵抗基板４お
よびプラスチック製のプリント配線板５が張付けられて
いる。

第２図中、プリント配線板５上面には、前記抵抗基板
４に近い部分にICが配設されており、第２図中、ICの右
側部分に配線5aが印刷により設けられている。配線5aの
入力端側（第２図中、右側）はプリント配線板５を貫通
するリード線６を介して駆動信号入力端子としてのソケ
ット７に接続されている。プリント配線板５上に配設さ
れた前記ICはワイヤ8,9によってプリント配線板５の配
線5aおよび抵抗基板４の個別電極4aと接続されている。

第1,3図において、前記抵抗基板４には、その上面に
個別電極4a、共通電極4bおよびそれらの各電極4a,4b間
に配置された発熱抵抗体4cが、抵抗基板４の幅方向に沿
って列設されている。そして、前記幅方向の両端部に配
設されたそれぞれ５本の個別電極4aおよびこれらの個別
電極4aに対向する共通電極4bはいずれも、熱記録に使用
されない個別ダミー電極4a′および共通ダミー電極4b′
として形成されている（第１図参照）。したがって、こ
の熱記録に使用されない幅方向両端部の各ダミー電極4
a′,4b′（幅方向一端部のみ図示されている）は熱記録
時には同電位に保たれるようになっており、各ダミー電
極4a′,4b′を除く前記個別電極4aおよび共通電極4bの
配設された幅が、熱記録に使用される幅である。

第２図によく示されているように、前記ICおよびワイ
ヤ8,9は樹脂10によって封止されるとともに、カバー11
によって保護されている。

前記熱記録用ヘッドＣは、前記符号１〜11で示された
部材から構成されており、前記発熱抵抗体4cは前記ロー
ラプラテンＡ上の感熱記録紙Ｂに押付けられて熱記録が
行われる。

前述の抵抗基板４の熱記録に使用する個別電極4aおよ
び共通電極4b間の各発熱抵抗体4cの抵抗値Ｒを目標抵抗
値R_oにトリミングするには、適切な電圧値V₁の第１トリ
ミングパルスP₁を発熱抵抗体4cに印加し、次に少しづつ
電圧値を増加したトリミングパルスP_i（ｉ＝1,2,…）を
順次印加する必要がある。そして、前記第１トリミング
パルスP₁の電圧値V₁は、前記熱記録に使用されない個別
ダミー電極4a′および共通ダミー電極4b′を利用し、次
のようにして求める。

（a₁） まず、同一ロットで製造された抵抗基板の中か
ら任意の抵抗基板をサンプルとして抽出し、その抵抗基
板上の個別ダミー電極4a′および共通ダミー電極4b′間
の発熱抵抗体4cの初期抵抗値R_sを測定する。

（a₂） 前記発熱抵抗体4cの初期抵抗値R_sが目標抵抗値
R_oよりも大きい場合、初期設定値をa₁，b₁として、次式
（６）で表される関数Ｆ（R,R_s）のＲにR_oを代入したと
きの値F_toを算出する。なお、関数Ｆ（R,Rs）は、初期
抵抗値R_sの発熱抵抗体4cにテストパルスP_ti（ｉ＝1,2,
…）を順次印加したときの（Ｒ−R_s）／R_sの変化を予想
した関数であり、その関数によって表されるカーブを第
４図に示す。この第４図において、Ｒは発熱抵抗体4cの
抵抗値である、電圧ＶのテストパルスP_tiが印加される
と変化する値である。また、a₁，b₁は定数であるが、そ
の値はロット毎または抵抗基板毎にバラツキがありテス
トパルスの印加後の抵抗値変化をみて補正される値であ
る。

F_to＝Ｆ（R_o，R_s） ……（７） なお、前記式（６）で表される関数Ｆ（R,R_s）は、仮
に定めた校正カーブ関数であり、その式（６）中の定数
a₁，b₁をロット毎に補正して得られる後述の関数Ｇ（R,
R_s）が実際のトリミングに利用される校正カーブ関数で
ある。そして、熱記録に使用する前記個別電極4aおよび
共通電極4b間の発熱抵抗体4cのトリミングは前記校正カ
ーブ関数Ｇ（R,R_s）を利用して行うのであるが、それら
については後で詳述する。

（a₃） 第１テストパルスP_t1の電圧値V_t1を次式（８）
により求める。

V_tl＝b₁＋（1/n）（F_to−b₁） ……（８） この式（８）中、（1/n）（F_to−b₁）は第４図に示す
ように、電圧値F_toとb₁との差をｎ等分した値である。

（a₄） 前記電圧値V_t1の第１テストパルスP_t1を前記両
ダミー電極4a′,4b′間に印加する。

（a₅） 前記第１テストパルスP_t1を印加した後の前記
両ダミー電極4a′,4b′間の発熱抵抗体4cの抵抗値R_t1を
測定する。

（a₆） （R_t1−R_s）／R_s＝Q_t1の値、すなわち発熱抵抗
体4cに前記電圧V_t1を印加したときの、発熱抵抗体4cの
抵抗値の初期抵抗値R_sに対する変化率を求める。

（a₇） 前記抵抗値R_t1が目標抵抗値R_oよりも大きい場
合には、第２テストパルスP_t2の電圧値V_t2を次式（９）
により求める。

V_t2＝b₁＋（2/n）（F_to−b₁） ……（９） （a₈） 前記電圧値V_t2の第２テストパルスP_t2を前記両
ダミー電極4a′,4b′間に印加する。

（a₉） 前記第２テストパルスP_t2を印加した後の前記
両ダミー電極4a′,4b′間の発熱抵抗体4cの抵抗値R_t2を
測定する。

（a₁₀） （R_t2−R_s）／R_s＝Q_t2の値、すなわち発熱抵
抗体4cに前記電圧V_t2を印加したときの、発熱抵抗体4c
の抵抗値の初期抵抗値R_sに対する変化率を求める。

（a₁₁） このような作業をR_ti≦R_ti+1（ｉ＝1,2,…）
となるまで、すなわち、発熱抵抗体4cが抵抗破壊を起こ
すまで繰り返し、得られたデータV_tiおよび（R_ti−R_s／
R_sによって定まる座標点P_ti′（第４図参照）を、直交
するＶ軸および（Ｒ−R_s）／R_s軸からなる直交座標軸上
にプロットする。

（a₁₂） 前記（a₁₁）までの作業を他のダミー電極に対
しても行う。そうすると、第４図に示すような多数の点
の分布が得られる。

（a₁₃） 前記直交座標軸上にプロットされた前記座標
データV_tn，（R_tn−R_s）／R_sの分布（第４図の多数の点
の分布）を下記の式（10）で近似し、この式（10）が前
記分布になるべくよく近似するように式（10）のａおよ
びｂを定める。

（a₁₄） 校正カーブ関数Ｇ（R,R_s）を次式（11）で定
義する。

この関数校正関数Ｇ（R,R_s）は前記仮に定めた校正カ
ーブ関数Ｆ（R,R_s）におけるa₁およびb₁の値をa,bに置
換した関数であり、その置換により、ロット毎または抵
抗基板毎のバラツキが補正される。また、Ｖ＝Ｇ（R,
R_s）によって表される校正カーブは第５図に示す直線と
なる。

（a₁₅） 前述のようにダミー電極4a′,4b′を使用し
て、a,bの値を定めた後（すなわち、前記関数Ｆ（R,R
s）におけるa₁およびb₁の値を補正した校正カーブ関数
Ｇ（R,Rs）を求めた後、熱記録に使用する個別電極4aお
よび共通電極4b間の発熱抵抗体4cの抵抗値をトリミング
するのであるが、その際、発熱抵抗体4cの初期抵抗値
R_s、目標抵抗値R_oとすれば、前記式（11）のＲにR_oを代
入した次式（12）により目標達成電圧値Vsが算出され
る。

すなわち、前記式（12）で算出される目標達成電圧値
Vsを有するトリミングパルスを初期抵抗値Rsの発熱抵抗
体4cに印加すれば目標抵抗値R_oに一度に接近するはずで
ある。しかしながら、発熱抵抗体4cの特性にはバラツキ
があるので、実際に前記発熱抵抗体の抵抗値のトリミン
グを行う際、前記校正カーブ関数Ｇ（R_o，R_s）に応じて
定まる目標達成電圧値Vsのトリミングパルスをいきなり
発熱抵抗体4cに印加すると、その抵抗値が目標抵抗値R_o
よりもかなり下の値に補正されることもあり得る。した
がって、実際のトリミングに際しては、第１トリミング
パルスの電圧値V₁は目標達成電圧値Vsよりも低い値たと
えば、次式（13）で定まる値に設定する。

V₁＝ｂ＋（1/2）（V_s−ｂ） ……（13） このようにして、ダミー電極（4a′,4b′）を用いた
前記（a₁）〜（a₁₅）の作業により、熱記録に使用する
発熱抵抗体4cに印加する第１トリミングパルスP₁の電圧
値V₁が定まる。

次に、第５図を参照しながら熱記録に使用する発熱抵
抗体4cに対する抵抗値トリミング作業について説明す
る。

（b₁） 熱記録に使用する各個別電極4aおよび共通電極
4b間の発熱抵抗体4cの初期抵抗値R_sを測定し、その初期
抵抗値R_sが目標抵抗値R_oよりも大きい場合には、前記式
（12）および（13）により算出される電圧値V₁を有する
第１トリミングパルスP₁を前記発熱抵抗体4cに印加す
る。この電圧値V₁は前記式（13）および第５図から分か
るようにｂとV_sの丁度中間の値である。

（b₂） 前記第１トリミングパルスP₁印加後の発熱抵抗
体4cの抵抗値R₁を測定し、この抵抗値R₁が目標抵抗値R_o
よりも大きい場合には、下記式（14）により算出される
電圧値V₂を有する第２トリミングパルスP₂を前記発熱抵
抗体4cに印加する。この電圧値V₂は式（14）および第５
図から分かるように前記V₁とV_sの丁度中間の値である。

（b₃） 前記第２トリミングパルスP₂印加後の発熱抵抗
体4cの抵抗値R₂を測定し、この抵抗値R₂が目標抵抗値R_o
よりも大きい場合には、下記式（15）により算出される
電圧値V₃を有する第３トリミングパルスP₃を前記発熱抵
抗体4cに印加する。この電圧値V₃は式（15）および第５
図から分かるように前記V₂とV_sの丁度中間の値である。

（b₄） 以下、同様にして、発熱抵抗体4cの抵抗値が目
標抵抗値R_o以上のとき下記式（16）で定まる電圧値V_iを
有するトリミングパルスP_i（ｉ＝1,2,…）を順次印加す
る。

そして、ｉ＝ｋのとき（1/2^k）（V_s−ｂ）≦ΔＶ（Δ
Ｖは所定の電圧値）となった場合には、ｉ≧ｋとなるｉ
の値に対して（1/2ⁱ）（V_s−ｂ）づつ電圧を増加する
と、その増加量はΔＶ以下となり小さすぎるので、その
場合にはΔＶづつ増加する。すなわち、電圧V_iのトリミ
ングパルスP_iを印加した後の発熱抵抗体4cの抵抗値R_iが
目標抵抗値R_o以下になるまで、下記式（17）で定まる電
圧値V_iのトリミングパルスP_iを順次印加する。

但し、（1/2^k）（V_s−ｂ）≦ΔＶ、ｉ≧ｋ たとえば、ｋ＝３で（1/2^k）（V_s−ｂ）≦ΔＶとなる
ような場合、すなわち（1/2³）（V_s−ｂ）≦ΔＶとなる
ような場合には、各トリミングパルスP_i（ｉ＝1,2,…）
の電圧値V_iは、次のようになる。

V₁＝ｂ＋（1/2）（V_s−ｂ） このときのV_iおよび（R_i−R_s）／R_sによって定まる座
標点P_i′を直交するＶ軸およびＱ軸（Ｑ＝（Ｒ−R_s）／
R_s）上にプロットした状態が第５図に示されている。

発熱抵抗体4cの抵抗値Ｒは、電圧値V_iのトリミングパ
ルスが印加されると減少するが、第５図から分かるよう
に、抵抗値Ｒの減少とともに（Ｒ−R_s）／R_sの値はＶ＝
Ｇ（R,R_s）の直線に沿って減少しながら（R₀−R_s）／R_s
＝Q₀の値に接近する。そして、第６トリミングパルスP₆
を印加した後に、（Ｒ−R_s）／R_sの値すなわち（R₆−
R_s）／R_sの値は（R₀−R_s）／R_sの値よりも小さくなり、
このとき発熱抵抗体4cの抵抗値R₆も目標抵抗値R₀以下に
なっている。

（b₅） 前記（b₁）〜（b₄）の作業を同一ロットで製造
された抵抗基板４上の熱記録に使用する全ての発熱抵抗
体4cに対して行う。そうすると、第５図に多数の点で示
すように、Ｖ＝Ｇ（R,R_s）の直線に沿って（Ｒ−R_s）／
R_sの値が変化しながら、各発熱抵抗体4cの抵抗値Ｒは、
目標抵抗値R₀に接近する。

以上、本発明による熱記録用ヘッドの実施例を詳述し
たが、本発明は、前述の実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載された本発明を逸脱すること
なく、種々の設計変更を行うことが可能である。

たとえば、ダミー電極4a′,4b′は熱記録を行う個別
電極4aおよび共通電極4bの両端外側部に配設する代わり
に一端外側部に配設することも可能である。また、校正
カーブ関数Ｇ（R,R_s）は同一ロット毎に作成するのでは
なく、各抵抗基板４毎に作成することも可能である。さ
らに、第１トリミングパルスP₁は、V₁＝（1/2）V_s、V₁
＝（2/3）V_sのように設定することも可能である。そし
て、たとえば、V₁＝（1/2）V_sとした場合、 V₂＝（1/2＋1/2²）V_s V₃＝（1/2＋1/2²＋1/2³）V_s … V_i＝（1/2＋1/2²＋…＋1/2^k）V_s ＋（ｉ−ｋ）ΔＶ 但し、（1/2^k）V_s≦ΔＶ、ｉ≧ｋ とすることも可能である。

さらにまた、Ｖ軸および（Ｒ−R_s）／R_s軸から成る直
交座標軸上における座標データ（V_ti，（R_ti−R_s）／
R_s）の分布を近似するする式はコンピュータ処理によっ
て求めることが可能である。

C.発明の効果 前述の本発明の熱記録用ヘッドの抵抗値トリミング方
法は、抵抗基板上に設けたダミー電極間の熱記録に使用
しない発熱抵抗体に抵抗破壊をおそれずにテストパルス
を印加することにより、前記校正カーブ関数や速やかに
求めることができるので、前記目標達成電圧値V_sを速や
かに求めることかできる。

しかも、そのテストパルスを印加したダミー電極間の
発熱抵抗体が破壊されてもその抵抗基板を熱記録に使用
することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による熱記録用ヘッドの一実施例の要部
の拡大斜視図で第３図の矢視Ｉの部分の拡大図、第２図
は同実施例の側断面図、第３図は同実施例の要部の斜視
図、第４図は同実施例のテストパルス印加方法の説明
図、第５図は同実施例のトリミングパルスの印加方法の
説明図、第６図および第７図は本発明の前提となる抵抗
値トリミング技術の説明図、である。 ４……抵抗基板、4a……個別電極、4a′……個別ダミー
電極、4b……共通電極、4b′……共通ダミー電極、4c…
…発熱抵抗体、

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】抵抗基板（４）上面に、熱記録に使用され
   る複数の個別電極（4a）および共通電極（4b）が列設さ
   れ、それらの電極（4a,4b）間に発熱抵抗体（4c）を配
   設した熱記録用ヘッドにおける前記発熱抵抗体（4c）の
   初期抵抗値（RS）が目標抵抗値（R0）よりも大きい場合
   に前記発熱抵抗体（4c）に第１トリミングパルス（P1）
   を印加し、この第１トリミングパルス（P1）印加後の発
   熱抵抗体（4c）の抵抗値（R1）が目標抵抗値（R0）より
   も大きい場合に前記発熱抵抗体（4c）に第２トリミング
   パルス（P2）を印加し、この第２トリミングパルス（P
   2）印加後の発熱抵抗体（4c）の抵抗値（R2）が目標抵
   抗値（R0）よりも大きい場合に前記発熱抵抗体（4c）に
   第３トリミングパルス（P3）を印加するという順序で発
   熱抵抗体（4c）の抵抗値が前記目標抵抗値（Ro）に達す
   るまでトリミングパルス（Pi:i＝1,2,…）の電圧値（V
   i:i＝1,2,…）を増加させながら順次印加するようにし
   た発熱抵抗体（4c）の抵抗値トリミング方法において、 抵抗基板（４）上面に、前記熱記録に使用される電極
   （4a,4b）と同様に構成されているが熱記録に使用され
   ない個別ダミー電極（4a′）および共通ダミー電極4
   b′）を列設するとともに、それらの電極（4a′,4b′）
   間に前記発熱抵抗体（4c）を配設し、前記個別ダミー電
   極（4a′）および共通ダミー電極（4b′）間の発熱抵抗
   体（4c）に電圧値が順次増加するテストパルス（Pti:i
   ＝1,2,…）を順次印加して発熱抵抗体（4c）の抵抗値
   （Ｒ）の変化を調べる試験により、初期抵抗値（RS）の
   発熱抵抗体（4c）の抵抗値を一度に目標抵抗値（R0）に
   接近させるトリミングパルス（Ps）の目標達成電圧値
   （Vs）を求め、この求めた目標達成電圧値（Vs）よりも
   所定量小さな値に前記第１トリミングパルス（P1）の電
   圧値（V1）を設定するとともに、発熱抵抗体（4c）の抵
   抗値（Ｒ）と目標抵抗値（Ro）との差が所定範囲にある
   間は、発熱抵抗体（4c）の抵抗値（Ｒ）が目標抵抗値
   （Ro）に近づくにつれてその直前のトリミングパルス
   （Pi−１）の電圧値（Vi−１）に対するトリミングパル
   ス（Pi）の電圧値（Vi）の増加量（Vi−Vi−１）を、漸
   減するように設定したことを特徴とする抵抗値トリミン
   グ方法。
2. 【請求項２】請求項１記載の抵抗値トリミング方法にお
   いて、 前記トリミングパルス（Pi）の電圧値（Vi）の増加量
   （Vi−Vi−１）が所定の電圧値よりも小さくなったとき
   に、前記電圧値を前記所定の電圧値ずつ増加させるよう
   にしたことを特徴とする抵抗値トリミング方法。
3. 【請求項３】抵抗基板（４）上面に、熱記録に使用され
   る複数の個別電極（4a）および共通電極（4b）が列設さ
   れ、それらの電極（4a,4b）間に発熱抵抗体（4c）を配
   設した熱記録用ヘッドにおける前記発熱抵抗体（4c）の
   初期抵抗値（RS）が目標抵抗値（R0）よりも大きい場合
   に前記発熱抵抗体（4c）に第１トリミングパルス（P1）
   を印加し、この第１トリミングパルス（P1）印加後の発
   熱抵抗体（4c）の抵抗値（R1）が目標抵抗値（R0）より
   も大きい場合に前記発熱抵抗体（4c）に第２トリミング
   パルス（P2）を印加し、この第２トリミングパルス（P
   2）印加後の発熱抵抗体（4c）の抵抗値（R2）が目標抵
   抗値（R0）よりも大きい場合に前記発熱抵抗体（4c）に
   第３トリミングパルス（P3）を印加するという順序で発
   熱抵抗体（4c）の抵抗値が前記目標抵抗値（Ro）に達す
   るまでトリミングパルス（Pi:i＝1,2,…）の電圧値（V
   i:i＝1,2,…）を増加させながら順次印加するようにし
   た発熱抵抗体（4c）の抵抗値トリミング方法において、 抵抗基板（４）上面に、前記熱記録に使用される電極
   （4a,4b）と同様に構成されているが熱記録に使用され
   ない個別ダミー電極（4a′）および共通ダミー電極（4
   b′）を列設するとともに、それらの電極（4a′,4b′）
   間に前記発熱抵抗体（4c）を配設し、前記個別ダミー電
   極（4a′）および共通ダミー電極（4b′）間の発熱抵抗
   体（4c）に電圧値が順次増加するテストパルス（Pti:i
   ＝1,2,…）を順次印加して発熱抵抗体（4c）の抵抗値
   （Ｒ）の変化を前記発熱抵抗体（4c）が抵抗破壊を起こ
   すまで繰り返して調べる試験により、初期抵抗値（RS）
   の発熱抵抗体（4c）の抵抗値を一度に目標抵抗値（R0）
   に接近させるトリミングパルス（Ps）の目標達成電圧値
   （Vs）を求め、この目標達成電圧値（Vs）に基づいて前
   記発熱抵抗体（4c）のトリミングを行うことを特徴とす
   る抵抗値トリミング方法。