JP2674242B2 - Defect inspection method for recording medium of disk storage device - Google Patents
Defect inspection method for recording medium of disk storage deviceInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は固定ディスク装置等のディスク記憶装置の記
録媒体の欠陥を検査する方法に関する。The present invention relates to a method for inspecting a recording medium for defects in a disk storage device such as a fixed disk device.
周知のように、ディスク記憶装置のディスク面には、
フエライト,クロム等の磁性体薄膜が記録媒体としてめ
っきや蒸着法で付けられるが、これには薄膜の微視的な
不均一性や外物との接触傷による欠陥の発生が避けられ
ないので、ディスク単独の状態で精密な表面検査等で不
良品が排除されるのはもちろん、装置に組み込み後もそ
の面内の欠陥個所を検査した上で、そこを除外してフォ
ーマッティングを施すのが一般である。As is well known, the disk surface of a disk storage device
A magnetic thin film such as ferrite or chrome is applied as a recording medium by plating or vapor deposition. However, since the occurrence of defects due to microscopic non-uniformity of the thin film and contact scratches with external objects is unavoidable, In addition to eliminating defective products by precise surface inspection etc. with the disc alone, it is common to inspect defective parts in the surface after assembling in the device and then exclude it and perform formatting. is there.
従来から、この装置への組み込み後の欠陥検査には専
用の検査設備が用いられ、これからできるだけ高い周波
数をもつ書込信号を装置に与えてディスク面に書き込ん
で置き、次に装置のヘッドを介してこれを読み出した信
号のアナログ値を評価して、アナログ値が規定レベルに
達しない個所を欠陥個所として登録する。また、この書
込内容をイレーズした後に再度読み出し、読出信号のア
ナログ値が規定レベルより高い個所も欠陥個所として登
録することが行なわれている。Conventionally, dedicated inspection equipment has been used for defect inspection after being incorporated in this device.From now on, a write signal with a frequency as high as possible is given to the device to write it on the disk surface and then put it through the head of the device. Then, the analog value of the read signal is evaluated, and the part where the analog value does not reach the specified level is registered as a defective part. Further, after erasing the written contents, the contents are read again, and a portion where the analog value of the read signal is higher than a prescribed level is also registered as a defective portion.
上述の専用検査設備を用いる欠陥検査法は、読出信号
から欠陥をアナログ的に検出するので検出レベルの選定
によって欠陥に対する管理レベルを任意に設定できる利
点があり、書込信号の周波数の選定によって検出すべき
欠陥個所の大きさも指定できるが、検査に時間が掛かっ
て1台で検査できるディスク記憶装置の台数が限られて
いるので設備費が高価につくほか、検査にかなり手間が
掛かってあまり量産向きでない問題がある。The defect inspection method using the above-mentioned exclusive inspection equipment has an advantage that the control level for the defect can be arbitrarily set by selecting the detection level because the defect is detected in an analog manner from the read signal, and it is detected by selecting the frequency of the write signal. You can also specify the size of the defect to be made, but since the inspection takes time and the number of disk storage devices that can be inspected by one unit is limited, the equipment cost is expensive and the inspection takes a lot of time and mass production is too much. There is a problem that is not suitable.
従来の欠陥検査方法のもう一つの問題点は、検出精度
は充分に高め得るものの、検査結果からディスク記憶装
置に許容できる欠陥か否かを決める尺度に必ずしもなら
ないことである。すなわち、ある欠陥が許容できるか否
かはその欠陥の程度だけでなく、ディスク記憶装置のデ
ータ記録上の変調方式,同期化データを含むフォーマッ
ティングの様式,読取信号の信号処理系の性能,ヘッド
操作系の位置決め精度等の因子によっても変わって来る
からである。Another problem of the conventional defect inspection method is that the detection accuracy can be sufficiently increased, but it is not necessarily a measure for determining whether or not the defect is acceptable for the disk storage device based on the inspection result. That is, whether or not a certain defect can be tolerated depends not only on the degree of the defect, but also on the modulation method in the data recording of the disk storage device, the format of the formatting including the synchronization data, the performance of the signal processing system of the read signal, the head operation This is because it also depends on factors such as the positioning accuracy of the system.
また、最近の技術進歩によりディスクの欠陥数とくに
重欠陥数が従来よりも少なくなり、許容可否がむしろデ
ィスク記憶装置の全体性能で決まる程度の軽欠陥がほと
んどになって来ているので、従来方法では検査基準が徒
に厳しくあるいは逆に甘きに過ぎることにもなりかねな
い。Also, due to recent technological advances, the number of disk defects, especially the number of heavy defects, has become smaller than in the past, and the number of light defects whose acceptability is rather determined by the overall performance of the disk storage device has become almost the same. In that case, the inspection standard may be too strict or, on the contrary, too sweet.
本発明の目的は、かかる従来方法の問題点を解決し
て、ほとんど手間が掛からずに量産に適し、かつ欠陥の
許容可否を実用的に判定できる記録媒体の欠陥検査方法
を得ることにある。An object of the present invention is to solve the problems of the conventional method, and to obtain a defect inspection method for a recording medium, which is suitable for mass production with almost no trouble and is capable of practically determining acceptability of defects.
かかる本発明の目的は、ディスク内の各トラックにフ
ォーマッティングデータを書き込んでデータ用セクタを
設定するフォーマッティングステップと、これを読み取
ってセクタごとに欠陥の有無を検査する第1の検査ステ
ップと、これにより無欠陥とされた各セクタに検査デー
タを書き込みかつそれを読み取ってセクタごとに欠陥の
有無を検査する第2の検査ステップとを経て記録媒体を
欠陥検査することにより達成される。The object of the present invention is to perform a formatting step of writing formatting data to each track in the disc to set a data sector, and a first inspection step of reading the formatting data and inspecting each sector for a defect. This is achieved by inspecting the recording medium for defects through a second inspection step of writing inspection data in each sector determined to be defect-free and reading it to inspect whether there is a defect in each sector.
本発明によるディスク記憶装置の記録媒体の欠陥検査
方法は、専用の検査設備を用いることなくディスク記憶
装置自体でその記録媒体を検査し、かつ欠陥の検出をす
てデータ記憶用セクタ単位で行なうのが特徴である。The method for inspecting a recording medium defect of a disk storage device according to the present invention inspects the recording medium by the disk storage device itself without using dedicated inspection equipment, and detects defects in units of data storage sectors. Is a feature.
このため、上記構成にいうフォーマッティングステッ
プでは、ディスク記憶装置のデータ記録用に実際に用い
られるフォーマッティングデータをディスク内の各トラ
ックに,かつその全体に亘って書き込み、もちろんその
際のヘッドは装置自身のヘッド操作系で位置決めする。Therefore, in the above-mentioned formatting step, the formatting data actually used for data recording of the disk storage device is written to each track in the disk and over the whole, and of course the head at that time is the device itself. Position with the head operation system.
次の第1の検査ステップでは、このフォーマッティン
グデータを読み取ってそれが正しく読み取られるか否か
によってセクタごとに欠陥の有無を検査するが、この際
のヘッドの位置決めを装置自体で行なうのはもちろん、
読取信号の信号処理や読み取りエラーの検出にも装置自
体に組み込まれている回路を用いることにより、最も実
際に近い形で欠陥検査を行なう。In the next first inspection step, the formatting data is read and the presence or absence of a defect is inspected for each sector depending on whether or not it is correctly read. Of course, the positioning of the head at this time is performed by the apparatus itself.
By using a circuit incorporated in the apparatus itself for signal processing of a read signal and detection of a read error, the defect inspection is performed in the most practical form.
第2の検査ステップでは、この第1の検査ステップで
無欠陥とされた各セクタに検査データを書き込み、かつ
それを読み取ってそれが正しく読み取られるか否かによ
りセクタごとに、ただしそのフォーマッティングデータ
が書き込まれていなかった部分の欠陥の有無が、同様に
装置自体で検査される。なお、この際の検査データには
各セクタに本来書き込むデータそのものであるが、欠陥
の検出上都合がよい,つまり書き込みエラーや読み取り
エラーが発生しやすい数種類のデータを適宜に選定する
ことができる。In the second inspection step, the inspection data is written in each sector which is determined to be defect-free in the first inspection step, and it is read whether or not it is correctly read, but the formatting data is not read for each sector. The device itself is also inspected for defects in the unwritten areas. It should be noted that the inspection data at this time is the data itself that is originally written in each sector, but it is possible to appropriately select several types of data that are convenient in detecting defects, that is, in which write errors and read errors are likely to occur.
このように本発明方法では、その上記3個のステップ
を踏みながらセクタごとの欠陥検査を特別に設備を用い
ず装置自体により、かつ最も実際に近い形で行なうこと
ができ、これによって上述の課題が解決される。As described above, in the method of the present invention, the defect inspection for each sector can be performed by the apparatus itself without using special equipment and in the most practical form while taking the above-mentioned three steps. Is solved.
なお、第1と第2の検査ステップで検出された欠陥セ
クタはディスク面内の登録として残され、欠陥セクタが
ある場合はそれを除外した再フォーマッティングが適宜
施される。It should be noted that the defective sectors detected in the first and second inspection steps are left as registration in the disk surface, and if there are defective sectors, reformatting that excludes them is appropriately performed.
以下、図を参照しながら本発明方法の具体的な実施例
を説明する。第1図は本発明方法の実施に関連する部分
を示すディスク記憶装置の構成図であり、第2図は本発
明方法による3個のステップを含む動作を例示する流れ
図である。Hereinafter, specific examples of the method of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a disk storage device showing a part related to implementation of the method of the present invention, and FIG. 2 is a flow chart illustrating an operation including three steps according to the method of the present invention.
第1図に示されたディスク記憶装置30は固定ディスク
装置であって、この例では機構部10とコントローラ部20
からなっている。機構部10内のふつう複数個設けられる
ディスク11の各面にはヘッドの位置を検出するためのサ
ーボ情報SIがこの例ではその扇形領域に書き込まれてお
り、このサーボ情報を基準に数百条のトラックTが設定
され、この実施例ではその内の最外径トラックToに検査
結果としての欠陥セクタが記録ないしは登録されるもの
とする。各ディスク面ごとに設けられるヘッド12は通例
のように薄い板ばねを介して左右方向に移動自在なキャ
リッジ13に支承され、これに結合されたヘッド操作モー
タ14を駆動回路15で駆動することによりその位置が操作
される。The disk storage device 30 shown in FIG. 1 is a fixed disk device, and in this example, the mechanical unit 10 and the controller unit 20.
Consists of Servo information SI for detecting the position of the head is written in each fan-shaped area on each surface of the disk 11 which is usually provided in the mechanical section 10 in several hundreds of lines on the basis of this servo information. Track T is set, and in this embodiment, a defective sector as an inspection result is recorded or registered in the outermost diameter track To thereof. The head 12 provided for each disk surface is supported by a carriage 13 which is movable in the left-right direction via a thin leaf spring as usual, and a head operating motor 14 coupled thereto is driven by a drive circuit 15 to drive the head operating motor 14. Its position is manipulated.
機構部10内にはこのほかに通例のようにヘッド12に接
続されたリードライト回路16,その読取出力Rからの読
取信号RS用の復調回路17,アナログ状態の読取信号RSか
らヘッドの各トラックに対するオフトラック量を検出す
るオフトラック検出回路18等が含まれる。さらに機構部
内の総括制御用にプロセッサ19が組み込まれ、駆動回路
15に駆動指令を,リードライト回路16にヘッド選択指令
と読み書き指令等を発し、オフトラック検出回路18から
オフトラック量を受け取る。In addition to the above, a read / write circuit 16 connected to the head 12 as usual, a demodulation circuit 17 for a read signal RS from its read output R, and a track from the analog read signal RS to each track of the head. An off-track detection circuit 18 for detecting the off-track amount for Furthermore, a processor 19 is incorporated for overall control within the mechanical section, and the drive circuit
The drive command is issued to 15, the head selection command and the read / write command are issued to the read / write circuit 16, and the off-track amount is received from the off-track detection circuit 18.
コントローラ部20内の信号処理回路21は、読取信号RS
と書込信号WS用のエンコーダ・デコーダ回路や読取信号
RS用の同期分離回路を含み、リードライト回路16にRLL
変調方式等の書込信号WSを与え、復調回路17から同じ変
調方式の読取信号RSを受ける。データ制御回路22は信号
処理回路21と交換するシリアルな信号とパラレルなデー
タ間の交換等を行なういわばデータプロセッサで、書込
データや読取データの例えば1トラック分を一時記憶す
るRAM22aをその内部にもつ。The signal processing circuit 21 in the controller unit 20 reads the read signal RS.
And write signal WS encoder / decoder circuit and read signal
RLL in read / write circuit 16 including sync separation circuit for RS
A write signal WS of a modulation method or the like is given, and a read signal RS of the same modulation method is received from the demodulation circuit 17. The data control circuit 22 is a so-called data processor for exchanging serial signals and parallel data exchanged with the signal processing circuit 21, and has a RAM 22a for temporarily storing, for example, one track of write data or read data therein. Hold.
この他、コントローラ部20内には主に計算機との連係
用にプロセッサ23が組み込まれており、内部バス24,イ
ンタフェース25および外部バス26を介して図示しない計
算機と連係動作するほか、信号処理回路21の動作を信号
線を介して,データ制御回路22の動作を連絡バス27を介
してそれぞれ制御する。また、このプロセッサ23は機構
部10内の前述のプロセッサ19とも、若干の信号線,イン
ターフェース28および連系バス29を介して連系動作す
る。なお、計算機との書込データと読取データの受け渡
しのため、内部バス24がデータ制御回路22のRAM22aとも
接続される。In addition, a processor 23 is mainly incorporated in the controller unit 20 for the purpose of linking with a computer, and in addition to linking with a computer (not shown) via an internal bus 24, an interface 25 and an external bus 26, a signal processing circuit The operation of 21 is controlled via a signal line, and the operation of the data control circuit 22 is controlled via a communication bus 27. Further, the processor 23 is also interconnected with the above-mentioned processor 19 in the mechanical section 10 via some signal lines, the interface 28 and the interconnection bus 29. The internal bus 24 is also connected to the RAM 22a of the data control circuit 22 for passing write data and read data to and from the computer.
さて、本発明を構成するフォーマッティングステップ
S20,第1の検査ステップS30および第2の検査ステップS
40は、この実施例ではコントローラ部20のプロセッサ23
内のソフトウエアとして組み込まれる、もちろん、これ
らは機構部10のプロセッサ19内に組み込んでもよく、い
わゆるコントローラー体形のディスク記憶装置では、共
通のプロセッサ内に組み込まれる。Now, the formatting step which constitutes the present invention
S20, first inspection step S30 and second inspection step S
40 is a processor 23 of the controller unit 20 in this embodiment.
Of course, they may be incorporated in the processor 19 of the mechanical unit 10, and in a so-called controller-type disk storage device, they are incorporated in a common processor.
第2図はこのソフトウエアの動作を示す流れ図であっ
て、上述の3個のステップS20〜40の動作がそれぞれ一
点鎖線で囲んで示されている。なおこの実施例では第2
の検出ステップS40内の検査データの書き込みステップS
41のみは便宜上第1の検査ステップS30による動作の流
れ内に組み込まれるものとする。FIG. 2 is a flow chart showing the operation of this software, in which the operations of the above-mentioned three steps S20 to S40 are each surrounded by a dashed line. In this embodiment, the second
Detection step S40 of writing inspection data in step S40
Only 41 is incorporated in the flow of the operation by the first inspection step S30 for convenience.
図示の流れの最初のステップS1では、流れの制御用フ
ラグFに1を立てて検査動作中である旨を指定し、つい
でフォーマッティングステップS20としての単独のステ
ップS21に移る。このステップS21では、ヘッド2をディ
スク1内のふつうは0番トラックである最外径トラック
Toから始まる各トラックT上に順次置き、そのトラック
の通常のフォーマッティングではいわゆるギャップとさ
れる部分を含む全体にフォーマッティングデータを書き
込み、各トラックT内に数十個のセクタを設定する。こ
のフォーマッティングデータ内にはセクタ番号等の照合
部のほか読み取り時に用いられる同期化データが含めら
れる。In the first step S1 of the illustrated flow, 1 is set to the flow control flag F to specify that the inspection operation is being performed, and then the process proceeds to a single step S21 as the formatting step S20. In this step S21, the head 2 is usually the outermost track in the disk 1 which is the 0th track.
It is sequentially placed on each track T starting from To, formatting data is written in the entire track including a so-called gap in normal formatting of that track, and several tens of sectors are set in each track T. This formatting data includes a collating unit such as a sector number and synchronization data used at the time of reading.
なお、ヘッド12の各トラックT上への位置決めは機構
部10のプロセッサ19が担当し、サーボ情報SIを読み出し
て検出したオフトラック量をオフトラック検出回路18か
ら受け、これを0にするようヘッド操作モータ14の駆動
回路15に駆動指令を与えてヘッドの位置をクローズドル
ープ制御する。フォーマッティングデータはコントロー
ラ部20のプロセッサ23からデータ制御回路22に与え、そ
のRAM22a内に例えば1トラック分記憶した上で書込信号
WSの形でリードライト回路16に送る。Note that the positioning of the head 12 on each track T is handled by the processor 19 of the mechanical unit 10, and the off-track amount detected by reading the servo information SI is received from the off-track detection circuit 18 and set to 0. A drive command is given to the drive circuit 15 of the operation motor 14 to perform closed loop control of the position of the head. The formatting data is given from the processor 23 of the controller unit 20 to the data control circuit 22, and stored in the RAM 22a for one track, for example, and then a write signal is given.
Send to the read / write circuit 16 in the form of WS.
ステップS2からS9までは第1および第2の検査ステッ
プのための準備ステップである。ステップS2ではフラグ
Fが0か否かを判定するが、いまはこれに1が立ってい
るからステップS3に移り、検査回数を表す変数iに0を
入れ、次のステップS4でこれを1だけ歩進させて1回目
の検査を指定する。ステップS5とS6では変数iの値によ
って流れを振り分けるが、いまはその値が1なので動作
はステップS7に入り検査データTDとして最高周波数デー
タDHを指定する。Steps S2 to S9 are preparatory steps for the first and second inspection steps. In step S2, it is determined whether or not the flag F is 0. Now, since 1 is set in this flag, the process moves to step S3, 0 is put in the variable i representing the number of inspections, and only 1 is set in the next step S4. Step forward and specify the first inspection. In steps S5 and S6, the flow is divided according to the value of the variable i, but since the value is 1 now, the operation proceeds to step S7 and the highest frequency data DH is designated as the inspection data TD.
次いで動作は第1の検査ステップS30に入り、その最
初のステップS31ではトラック番号変数jに0を入れて
最外径トラックToから検査を始めることを指定する。ス
テップS32ではこのトラック番号jのトラックTjにヘッ
ド2を移動させるいわゆるシーク動作を行ない、かつサ
ーボ情報SIを参照する上述のクローズドループ制御によ
りヘッドをこのトラックの正規位置に位置決めする。Then, the operation enters the first inspection step S30, and in the first step S31, 0 is put in the track number variable j to specify that the inspection is started from the outermost diameter track To. In step S32, a so-called seek operation of moving the head 2 to the track Tj of the track number j is performed, and the head is positioned at the regular position of this track by the above-mentioned closed loop control referring to the servo information SI.
次のステップS33は、前にフォーマッティングステッ
プS20でトラックTjに書き込まれたフォーマッティング
データFDjを読み取り、それが正しく読み取れたか否か
により欠陥セクタを検出するためのステップで、コント
ローラ部20のプロセッサ23からの指令によりデータ制御
回路22がフォーマッティングデータFDjの1トラック分
をリードライト回路16,復調回路17および信号処理回路2
1を介して読み取ってRAM22a内に一旦記憶した上で、そ
の内容をセクタごとに検査して読み取りエラーの有無
と,エラー有りの場合は欠陥セクタ番号とをプロセッサ
23に報告する。The next step S33 is a step for reading the formatting data FDj previously written in the track Tj in the formatting step S20, and a step for detecting a defective sector depending on whether or not it has been correctly read, from the processor 23 of the controller unit 20. In response to the command, the data control circuit 22 reads one track of the formatting data FDj from the read / write circuit 16, demodulation circuit 17 and signal processing circuit 2
The data is read via 1 and temporarily stored in the RAM 22a, then the contents are inspected for each sector, and the presence or absence of a read error and, if there is an error, the defective sector number is processed by the processor.
Report to 23.
これからわかるように、本発明方法では各セクタの欠
陥の有無は復調回路17,信号処理回路21の動作特性ない
し性能をも含めた実際的な形で検査される。また、フォ
ーマッティングステップ20で書き込んだフォーマッティ
ングデータがこの実施例ではヘッド位置をステップS32
で置き直した後に読み取られるので、ヘッドの位置決め
系の精度もさらに含めた最も実際的な形で検査が行なわ
れることになる。As can be seen from this, in the method of the present invention, the presence or absence of a defect in each sector is inspected in a practical form including the operation characteristics or performance of the demodulation circuit 17 and the signal processing circuit 21. Further, the formatting data written in the formatting step 20 indicates the head position in step S32 in this embodiment.
Since the data is read after being replaced with, the inspection is performed in the most practical form that further includes the accuracy of the head positioning system.
続くステップS34ではステップS33での検査の結果エラ
ーが検出されたか否かで流れを変える。エラーなしの場
合は、動作はステップS35に移ってフラグFが0か否か
が判定されるが、フラグFがいまは1なので動作はさら
にこの例では第2の検出ステップS40としてのステップS
40に移る。エラーありの場合、動作はステップS36に入
るがフラグFが1なのでさらにステップS37に移り、ス
テップS33で検出された欠陥セクタを例えばプロセッサ2
3内に記憶する。この後の動作は上と同様にステップS41
に移される。In the following step S34, the flow is changed depending on whether or not an error is detected as a result of the inspection in step S33. If there is no error, the operation proceeds to step S35 and it is determined whether or not the flag F is 0. However, since the flag F is now 1, the operation is further performed in step S40 as the second detection step S40 in this example.
Move to 40. If there is an error, the operation proceeds to step S36, but since the flag F is 1, the operation proceeds to step S37, and the defective sector detected in step S33 is detected by the processor 2, for example.
Remember in 3. The operation after this is the same as the above step S41.
Moved to
この実施例におけるステップS41は、第1の検査ステ
ップS30の流れを利用して検査データTDを書き込んで置
き、第2の検査ステップS40の中でヘッドの位置を置き
直した後にこれを読み取るようにするために挿入したも
のである。このステップS41ではステップS33の検査結果
で無欠陥とされたセクタにこの検査データTDが書き込ま
れる。この検査データTDがデータ制御回路22,信号処理
回路21およびリードライト回路16を介して書き込まれる
のは上と同様である。In the step S41 in this embodiment, the inspection data TD is written and placed by using the flow of the first inspection step S30, and the head is repositioned in the second inspection step S40 and then read. It is inserted to do. In this step S41, this inspection data TD is written in the sector which is determined to be defect-free according to the inspection result of step S33. The inspection data TD is written via the data control circuit 22, the signal processing circuit 21, and the read / write circuit 16 as in the above.
次のステップS38は第1の検査ステップS30内のステッ
プで、トラック番号変数jが最大値jmに達したか否かを
判定し、否の限りステップS39で変数jを歩進させた上
で流れをステップS32に戻して同じ動作を繰り返えす。
ディスク1上の全トラックTに対する第1の検査ステッ
プS30の動作が終わって変数jが最大値jmに達した時、
流れはステップS38から動作ループを抜け出してステッ
プS10に移り、フラグFが1なのでさらに第2の検査ス
テップ40内のステップS42に入る。The next step S38 is a step in the first inspection step S30, in which it is determined whether or not the track number variable j has reached the maximum value jm, and if not, the variable j is incremented in step S39 before the flow. Return to step S32 and repeat the same operation.
When the operation of the first inspection step S30 for all tracks T on the disk 1 is finished and the variable j reaches the maximum value jm,
The flow exits the operation loop from step S38 and moves to step S10. Since the flag F is 1, the flow further enters step S42 in the second inspection step 40.
このステップS42ではトラック番号変数jを0に戻
し、次のステップS43で前と同様にヘッドをj番目のト
ラックTjにシークしてその正規位置に位置決めする。ス
テップS44が前にステップS41で書き込まれた検査データ
TDを読み取り検査するステップであり、前のステップS3
3と同じ要領でデータ制御回路22がこの検査データTDを
読み取りかつ検査して結果をプロセッサ23に報告する。
この第2の検査ステップ40による欠陥検査が復調回路1
7,信号処理回路21,ヘッドの位置決め系等の性能や精度
を含めた形でなされるのは第1の検査ステップ30におけ
ると同じである。In this step S42, the track number variable j is returned to 0, and in the next step S43, the head is sought to the j-th track Tj and positioned at its normal position as before. Inspection data written in step S41 before step S44
This is the step of reading and inspecting the TD, and the previous step S3
The data control circuit 22 reads and inspects this inspection data TD in the same manner as 3 and reports the result to the processor 23.
The defect inspection in the second inspection step 40 is the demodulation circuit 1
As in the first inspection step 30, the performance and accuracy of the signal processing circuit 21, the head positioning system, etc. are included.
続くステップS45ではエラーの有無を判定し、エラー
ありの場合に限りステップS46で欠陥セクタを記憶す
る。ステップS47では変数jをその最大値jmと比較し、
それより小な限りステップS48で変数jを歩進させた上
で流れをステップS43に戻して同じ動作を繰り返えし、
すべてのトラックに対する第2の検査ステップ40の動作
終了後に流れはステップS11に移る。In a succeeding step S45, it is determined whether or not there is an error, and only when there is an error, the defective sector is stored in step S46. In step S47, the variable j is compared with its maximum value jm,
As long as it is smaller than that, the variable j is incremented in step S48, the flow is returned to step S43, and the same operation is repeated.
After the operation of the second inspection step 40 for all the tracks is completed, the flow moves to step S11.
この実施例では検査データTDを変えて検査をim回,例
えば5回繰り返えすので、ステップS11では検査回数を
変数iを最大値imと比較し、それに達しない限り流れを
ステップS4に戻して変数iを歩進させる。変数iの値が
1の1回目の検査用の検査データTDは例えばRLL変調方
式で492の繰り返えしであう最高周波数データDHであっ
たが、ステップS4が変数iが2に歩進した後は、ステッ
プS5とS6を経由したステップS8において2回目の検査デ
ータTDに同じ変調方式で33の繰り返えしである最低周波
数データDLが指定される。なおこの実施例では、かかる
最高と最低の周波数データを用いる検査の終了後は、ス
テップS9で3回目以降の検査データTDにランダムに発生
された1セクタ長のランダムデータDRが指定される。In this embodiment, since the inspection data TD is changed and the inspection is repeated im times, for example, five times, the variable i is compared with the maximum value im in step S11, and the flow is returned to step S4 unless it is reached. Step the variable i. Although the inspection data TD for the first inspection in which the value of the variable i is 1 is the highest frequency data DH which repeats 492 in the RLL modulation method, for example, after the variable i advances to 2 in step S4. In the step S8 via the steps S5 and S6, the lowest frequency data DL, which is 33 repetitions, is designated by the same modulation method as the second inspection data TD. In this embodiment, after completion of the inspection using the highest and lowest frequency data, random data DR of one sector length randomly specified in the inspection data TD from the third time onward is designated in step S9.
このように検査データTDを切り換えた後の2回目以降
の第1の第2の検査ステップS30とS40の動作は上述と同
じで、欠陥セクタが新しく検出されるつどにステップS3
7とS46による記憶内容に欠陥セクタ番号が追加される。The operation of the first and second inspection steps S30 and S40 after the inspection data TD is switched in this way is the same as that described above, and step S3 is performed each time a defective sector is newly detected.
The defective sector number is added to the stored contents of 7 and S46.
かかる所定回数の検査終了後に動作はステップS11か
らステップS12に移り、フラグFを0にした上で流れを
フォーマッティングステップS20に戻し、ディスク記憶
装置を使用可能な状態にするためフォーマッティングデ
ータを書き直す。もちろん、かかる再フォーマッティン
グの際には、ステップS37とS46で記憶された欠陥セクタ
を飛ばしてフォーマッティングする。1ディスク面内の
欠陥セクタ数は多くても10個で1トラック内に欠陥セク
タが複数個発生する確率は非常に低く、各トラックの通
常はギャップとされる部分を含む全体に検査が済んでい
るので、この再フォーマッティングはほぼ確実に可能で
ある。After the inspection is performed a predetermined number of times, the operation shifts from step S11 to step S12, the flag F is set to 0, the flow returns to the formatting step S20, and the formatting data is rewritten to make the disk storage device usable. Of course, in such reformatting, the defective sectors stored in steps S37 and S46 are skipped and formatting is performed. The number of defective sectors in one disk surface is at most 10, and the probability of multiple defective sectors occurring in one track is very low. The entire area of each track, including the gap, is normally inspected. Therefore, this reformatting is almost certainly possible.
再フォーマッティングの終了後に動作はステップS2に
入り、今度はフラグFが0になっているので流れはステ
ップS60に移り、第1および第2の検査ステップS30およ
びS40で検出され欠陥セクタの例えばトラック番号とセ
クタ番号を上のように再フォーマッティング済みのこの
実施例では最外径トラックToに登録する。After the reformatting is completed, the operation goes to step S2, and the flag F is set to 0 this time, so that the flow moves to step S60, and the defective sector detected in the first and second inspection steps S30 and S40, for example, the track number. In this embodiment, which has already been reformatted, the sector number and the sector number are registered in the outermost diameter track To.
さらに、この実施例では再フォーマッティングの確認
検査を第1の検査ステップS30を利用して行なうので、
このため続くステップS13で変数jに1を入れてこの例
では確認検査を最外径トラックToの次のトラックから始
めることを指定した上で流れをステップ32に入れる。Further, in this embodiment, since the confirmation inspection of reformatting is performed by using the first inspection step S30,
Therefore, in the subsequent step S13, 1 is put into the variable j, and in this example, the confirmation inspection is started from the track next to the outermost diameter track To, and then the flow is entered into step 32.
この確認検査時の第1の検査ステップS30の動作中、
ステップS33のフォーマッティングデータFDjの読み取り
検査の結果、エラーなしの場合の動作はステップS34か
らステップS35に入り、フラグFが0なので動作はステ
ップS41を経由せずにステップS38に入れられる。しか
し、エラーあたりの場合は、動作はステップS34からス
テップS36に入り、この実施例では図で破線で示したよ
うに再フォーマッティングが不良の旨を例えば表示した
上で流れを直ちに終結ないしは中断させる。すべてのト
ラックについて再フォーマッティングが良と確認された
場合、動作はステップS38からステップS10に移り、今度
はフラグFが0なのでこれですべての流れが完了する。During the operation of the first inspection step S30 at the time of this confirmation inspection,
As a result of the read inspection of the formatting data FDj in step S33, the operation when there is no error enters from step S34 to step S35, and since the flag F is 0, the operation is entered into step S38 without passing through step S41. However, in the case of an error, the operation proceeds from step S34 to step S36, and in this embodiment, as shown by the broken line in the figure, for example, the fact that the reformatting is defective is displayed and then the flow is immediately terminated or interrupted. If reformatting is confirmed to be good for all tracks, the operation moves from step S38 to step S10, and since the flag F is 0 this time, the entire flow is completed.
なお、以上の動作中の第2の検査ステップS40で用い
る検査データTDにはエラーチェックコードないしエラー
修正コードを通常のデータのように含ませて置くのが望
ましいが、これによるエラー修正機能を行なわないよう
例えばプロセッサ23からデータ制御回路22に指定され
る。It is desirable that the inspection data TD used in the second inspection step S40 in the above operation include an error check code or an error correction code like normal data. However, the error correction function by this is performed. The data control circuit 22 is designated by the processor 23 so as not to exist.
以上説明した実施例における第2の全動作に要する時
間はふつう1時間程度で、従来の専用検査設備を用いた
場合の3倍程度掛かるが、本発明方法では第1図のディ
スク記憶装置30自体でこの一連の動作の流れをすべて自
動的に従って何台でも並行して進めることができるの
で、検査の手間はほとんど掛からず、ディスク記憶装置
の量産に際して多大の利便が得られる。The time required for the second total operation in the above-described embodiment is usually about one hour, which is about three times as long as when the conventional dedicated inspection equipment is used, but the method of the present invention uses the disk storage device 30 itself shown in FIG. Since this sequence of operations can be automatically performed in parallel for any number of units, inspection work is hardly required, and great convenience can be obtained in mass production of disk storage devices.
以上説明した実施例に限らず、本発明は種々の態様で
実施をすることができる。第1図の本発明の実施対象と
してのディスク記憶装置の具体構成および第2図の本発
明方法の動作内容やステップの順序はあくまでも例示で
あり、本発明の要旨内において必要に応じてその構成や
動作の内容に適宜な変更や置換を加えることが可能であ
る。The present invention is not limited to the embodiments described above, and can be implemented in various modes. The specific configuration of the disk storage device as an implementation target of the present invention in FIG. 1 and the operation contents and the order of steps of the method of the present invention in FIG. It is possible to add appropriate changes and substitutions to the contents of the operation.
例えば、実施例では従来の専用検査設備による記録内
容のイレーズ検査機能がないが、第2図のステップS11
から流れをステップS4に戻すかわりに、イレーズ用の動
作ステップを経た上で流れをフォーマッティングステッ
プS20に戻すようにすれば、従来のイレーズ検査と等価
な機能を本発明方法にも持たせることができる。For example, in the embodiment, the erase inspection function of the recorded contents by the conventional dedicated inspection equipment is not provided, but step S11 in FIG.
Instead of returning the flow from step S4 to step S4, if the flow is returned to the formatting step S20 after passing through the operation step for erase, the method of the present invention can have a function equivalent to the conventional erase inspection. .
上述のとおり本発明方法では、ディスク面に設定され
た各トラックの全体にフォーマッティングデータを書き
込んでデータ記憶用のセクタを設定するフォーマッティ
ングステップと、このフォーマッティングデータを読み
取ってセクタごとに欠陥の有無を検査する第1の検査ス
テップと、第1の検査ステップで無欠陥とされた各セク
タに検査データを書き込みかつそれを読み取ってセクタ
ごとに欠陥の有無を検査する第2の検査ステップを経由
して記録媒体の欠陥を検査することにより、次の効果を
得ることができる。As described above, in the method of the present invention, the formatting step of writing the formatting data to the whole of each track set on the disk surface to set the sector for data storage, and reading the formatting data to inspect the presence or absence of a defect for each sector. Recording is performed via a first inspection step for performing inspection, and a second inspection step for writing inspection data into each sector determined to be defect-free in the first inspection step and reading the sector to inspect whether there is a defect in each sector. The following effects can be obtained by inspecting the medium for defects.
(a)第1の検査ステップによりフォーマッティグデー
タをセクタごとに検査するようにしたので、それにより
欠陥無しとされたセクタに対しては欠陥の検出に都合の
よい検査データを書き込みかつ読み出すことができる。
従って、第2の検査ステップでそのセクタに対して好適
な検査データを書き込みかつ読み取って検査することに
より、微細な欠陥も検出することができる。よって、専
用の検査設備を用いることなく、ディスク記憶装置自体
によりそのディスクの記録媒体の検査を自動的に行なう
ことができる。(A) Since the formatting data is inspected on a sector-by-sector basis in the first inspection step, it is possible to write and read the inspection data, which is convenient for detecting a defect, to a sector which has no defect. it can.
Therefore, fine defects can also be detected by writing and reading suitable inspection data for the sector and inspecting it in the second inspection step. Therefore, the recording medium of the disc can be automatically inspected by the disc storage device itself without using dedicated inspection equipment.
(b)ディスク記憶装置の読取信号の信号処理回路,ヘ
ッドの位置決め系等の性能や精度を含めた最も実際に則
した基準で記録媒体を検査でき、従って徒に厳しくある
いは逆に甘きに過ぎる基準で検査するような不合理がな
くなる。(B) The recording medium can be inspected according to the most practical standard including the performance and accuracy of the signal processing circuit of the read signal of the disk storage device, the positioning system of the head, etc., and therefore the standard is too strict or, conversely, too sweet. There is no irrationality like inspecting.
(c)記録媒体の欠陥をすべてデータ用のセクタ単位で
検査することにより、簡単なソフトウエアをディスク記
憶装置に装荷するだけで、その構成に何らの追加や変更
を加えることなく容易に本発明方法を実施できる。(C) All defects of the recording medium are inspected in units of data sectors, so that simple software can be loaded into the disk storage device, and the present invention can be easily performed without adding or changing the configuration. The method can be carried out.
本発明は、専用の検査設備を用いる場合のような微小
欠陥の検出や欠陥分布の把握等の記録媒体のプロセス条
件の管理用情報を得るにはあまり適さないが、ディスク
記憶装置の量産に際して能率的に検査を進め、かつ合理
的な品質管理基準で欠陥を検査できる実用性の高い記録
媒体の検査方法を提供し得るものである。The present invention is not very suitable for obtaining information for managing process conditions of a recording medium such as detection of minute defects and grasp of defect distribution as in the case of using a dedicated inspection facility, but it is efficient in mass production of disk storage devices. Therefore, it is possible to provide a highly practical method of inspecting a recording medium, which is capable of inspecting defects in accordance with rational quality control standards.
図はすべて本発明に関し、第1図は本発明による記録媒
体の欠陥検査方法の実施対象であるディスク記憶装置を
例示するその要部構成図、第2図は本発明方法をそれ用
のソフトウエア面で例示する動作ステップの流れ図であ
る。図において、 10:ディスク記憶装置の機構部、11:ディスク、12:ヘッ
ド、13:キャリッジ、14:ヘッド操作モータ、15:ヘッド
操作モータ用駆動回路、16:リードライト回路、17:復調
回路、18:オフトラック検出回路、19:プロセッサ、20:
ディスク記憶装置のコントローラ部、21:信号処理回
路、22:データ制御回路、22a:RAM、23:プロセッサ、24:
内部バス、25:インタフェース、26:外部バス、27:連絡
バス、28:インタフェース、29:連系バス、30:ディスク
記憶装置、DH:検査データとしての最高周波数データ、D
L:検査データとしての最低周波数データ、DR:検査デー
タとしてのランダムデータ、F:フラグ、FD:フォーマッ
ティングデータ、i:検査回数を表す変数、im:変数iに
対する最大値、j:トラック番号変数、jm:変数jに対す
る最大値、RS:読取信号、SI:サーボ情報、S1〜S13:本発
明方法の関連動作ステップ、S20:フォーマッティングス
テップ、S21:フォーマッティングステップ中の動作ステ
ップ、S30:第1の検査ステップ、S31〜S39:第1の検査
ステップ中の動作ステップ、S40:第2の検査ステップ、
S41〜S48:第2の検査ステップ中の動作ステップ、T:ト
ラック、TD:検査データ、To:最外径トラック、WS:書込
信号、である。The drawings are all related to the present invention. FIG. 1 is a block diagram showing the essential part of a disk storage device which is an object of the defect inspection method for a recording medium according to the present invention, and FIG. 2 is software for the method according to the present invention. 10 is a flow chart of operational steps exemplified in terms of aspects. In the figure, 10: mechanism of disk storage device, 11: disk, 12: head, 13: carriage, 14: head operating motor, 15: head operating motor drive circuit, 16: read / write circuit, 17: demodulation circuit, 18: Off-track detection circuit, 19: Processor, 20:
Controller unit of disk storage device, 21: signal processing circuit, 22: data control circuit, 22a: RAM, 23: processor, 24:
Internal bus, 25: Interface, 26: External bus, 27: Communication bus, 28: Interface, 29: Interconnected bus, 30: Disk storage device, DH: Maximum frequency data as inspection data, D
L: lowest frequency data as inspection data, DR: random data as inspection data, F: flag, FD: formatting data, i: variable representing the number of inspections, im: maximum value for variable i, j: track number variable, jm: maximum value for variable j, RS: read signal, SI: servo information, S1 to S13: related operation step of the method of the present invention, S20: formatting step, S21: operation step during formatting step, S30: first inspection Step, S31 to S39: operation step in the first inspection step, S40: second inspection step,
S41 to S48: operation step in the second inspection step, T: track, TD: inspection data, To: outermost diameter track, WS: write signal.
Claims (1)
にフォーマッティングデータを書き込んでデータ記憶用
のセクタを設定するフォーマッティングステップと、こ
のフォーマッティングデータを読み取ってセクタごとに
欠陥の有無を検査する第1の検査ステップと、第1の検
査ステップで無欠陥とされた各セクタに検査データを書
き込みかつそれを読み取ってセクタごとに欠陥の有無を
検査する第2の検査ステップとを含み、第1および第2
の検査ステップで欠陥が検出されたセクタをディスクに
登録するようにしたことを特徴とするディスク記録装置
の記録媒体の欠陥検査方法。1. A formatting step of writing formatting data to the whole of each track set on a disk surface to set a sector for data storage, and a first reading of the formatting data to inspect each sector for a defect. And the second inspection step of writing inspection data into each sector determined to be defect-free in the first inspection step and reading the inspection data to inspect whether there is a defect in each sector. Two
The method for inspecting a defect of a recording medium of a disk recording device, wherein a sector in which a defect is detected in the inspection step is registered in the disk.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29420389A JP2674242B2 (en) | 1989-11-13 | 1989-11-13 | Defect inspection method for recording medium of disk storage device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29420389A JP2674242B2 (en) | 1989-11-13 | 1989-11-13 | Defect inspection method for recording medium of disk storage device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03154268A JPH03154268A (en) | 1991-07-02 |
| JP2674242B2 true JP2674242B2 (en) | 1997-11-12 |
Family
ID=17804658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29420389A Expired - Lifetime JP2674242B2 (en) | 1989-11-13 | 1989-11-13 | Defect inspection method for recording medium of disk storage device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2674242B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05128735A (en) * | 1991-10-31 | 1993-05-25 | Fujitsu Ltd | Bad block alternation control method |
-
1989
- 1989-11-13 JP JP29420389A patent/JP2674242B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03154268A (en) | 1991-07-02 |
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