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JP2664246B2 - Printed circuit board manufacturing method - Google Patents

Printed circuit board manufacturing method

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JP2664246B2
JP2664246B2 JP1132615A JP13261589A JP2664246B2 JP 2664246 B2 JP2664246 B2 JP 2664246B2 JP 1132615 A JP1132615 A JP 1132615A JP 13261589 A JP13261589 A JP 13261589A JP 2664246 B2 JP2664246 B2 JP 2664246B2
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resist
copper plating
chemical copper
copper
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晴夫 赤星
峰雄 川本
律司 鳥羽
元世 和嶋
政志 宮崎
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Hitachi Ltd
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  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はプリント板の回路形成法に係り、特に、高密
度で微細な回路形成に適したプリント板の回路形成法に
関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a circuit on a printed circuit board, and more particularly to a method for forming a circuit on a printed circuit board suitable for forming high-density and fine circuits.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、両面プリント板や多層プリント板などの高密度
プリント板は銅張積層板を出発材料とし、パネル電気銅
めつきによりスルーホールを形成した後、回路部分以外
の銅をエツチング除去することによつて得る方法が主流
であつた。しかし、この方法は、厚さのばらつきの大き
い電気銅めつきを用いること、回路精度がエツチングレ
ジストの形成精度と銅エツチング精度の両方に依存する
ことなどにより、高密度、微細回路形成には不向きであ
る。そこで、高密度化、微細化に適した回路形成法が種
々提供されてきた。その一つにパターン化学銅めつき法
がある。これは、銅張積層板を使用し、回路形成予定部
分以外を感光性めつきレジストでマスクし、次いで、回
路形成予定部分のみに選択的に化学銅めつきを行つた
後、めつきレジストを除去し、レジストを除去した部
分、すなわち、回路形成予定部分以外の銅をエツチング
除去して回路を形成する方法である。しかし、この方法
ではめつきレジストがめつき中に剥離しやすく、良好な
回路形成が出来ないという問題がある。この問題は、め
つき厚さのばらつきがほとんどない化学銅めつきで顕著
であり、電気銅めつきではあまり問題にならない場合が
多い。すなわち、電気銅めつきはめつき速度が速く短時
間でめつきが終了するのに対して、化学銅めつきはめつ
き速度が遅いため、長時間のめつきが必要であり、剥離
が進行する。例えば、30μmの化学銅めつきを行うには
10〜30時間かかつてしまい、電気銅めつきの十倍以上時
間がかかる。このように、長時間めつきを行うため、め
つきレジストはダメージを受ける。例えば、めつきレジ
ストと下地との界面、あるいは、レジスト膜を通して化
学銅めつき液が浸み込み、下地との界面で(1)式の反
応によつて水酸イオン 2H2O+O2+4e→4OH- …(1) が生成し、界面を破壊すると言われている。また、化学
銅めつき液はpH12前後の高アルカリ性であるため、めつ
きレジストと下地との界面破壊が生じやすいと考えられ
る。
Conventionally, high-density printed boards, such as double-sided printed boards and multilayer printed boards, use a copper-clad laminate as a starting material. The main method was to get it. However, this method is not suitable for high-density and fine circuit formation due to the use of electrolytic copper plating with large thickness variations and the circuit accuracy depending on both the etching resist formation accuracy and copper etching accuracy. It is. Therefore, various circuit forming methods suitable for high density and miniaturization have been provided. One of them is a pattern chemical copper plating method. This involves using a copper-clad laminate, masking the area other than the area where the circuit is to be formed with a photosensitive plating resist, then selectively performing chemical copper plating only on the area where the circuit is to be formed, and then removing the plating resist. This is a method of forming a circuit by etching and removing a portion other than the portion where the resist is removed, that is, the portion other than the portion where the circuit is to be formed. However, this method has a problem in that the plating resist is easily peeled off during plating, and good circuit formation cannot be performed. This problem is remarkable in chemical copper plating where there is almost no variation in plating thickness, and in many cases, there is not much problem in electrolytic copper plating. That is, while the plating speed of the electrolytic copper plating is high and the plating is completed in a short time, the plating speed of the chemical copper plating is low, so that a long plating is required, and the peeling proceeds. For example, to perform 30μm chemical copper plating
It takes 10 to 30 hours and takes more than 10 times longer than copper plating. As described above, since the plating is performed for a long time, the plating resist is damaged. For example, a chemical copper plating solution permeates through the interface between the plating resist and the base or through the resist film, and at the interface with the base, the hydroxyl ion 2H 2 O + O 2 + 4e → 4OH - ... (1) is generated, it is said that to destroy the interface. In addition, since the chemical copper plating solution is highly alkaline at around pH 12, it is considered that interface destruction between the plating resist and the base is likely to occur.

このような問題を解決するため、上述の文献IBMジヤ
ーナル オブ リサーチ アンド デベロツプメント;2
9巻,No.1,27ページ〜36ページ(1985)に記載されてい
るように、銅張積層板の表面を軽石などで研磨して平滑
にした後、ベンゾトリアゾールなどでこの表面を処理し
て感光性めつきレジストで回路予定部分以外をマスクす
る方法が提案されている。また、化学銅めつきの代わり
に電気銅めつきを用いた場合については、特公昭50−91
77号公報に記載されているように、ベンゾトリアゾール
などを感光性めつきレジストに添加する方法が提供され
ている。これらにより、めつきレジストが下地から剥離
する問題は大幅に改善されるに至つた。
In order to solve such problems, the above-mentioned reference IBM Journal of Research and Development; 2
As described in Volume 9, No. 1, pages 27-36 (1985), the surface of a copper-clad laminate is polished and smoothed with pumice stone, and then this surface is treated with benzotriazole or the like. There has been proposed a method of masking a portion other than a circuit planned portion with a photosensitive plating resist. Also, when using electrolytic copper plating instead of chemical copper plating, see Japanese Patent Publication No. 50-91.
As described in Japanese Patent Publication No. 77, there is provided a method of adding benzotriazole or the like to a photosensitive plating resist. As a result, the problem that the plating resist peels off from the base has been greatly improved.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかし、従来技術はベンゾトリアゾールを適用した場
合の化学銅めつきに対する悪影響について十分な記述が
なされていなかつた。例えば、適用する量を多くすると
めつき速度を局部、あるいは、全体にわたつて低下させ
たり、めつき膜の物性を低下させたりする問題があつ
た。
However, the prior art does not provide a sufficient description of the adverse effect on chemical copper plating when benzotriazole is applied. For example, when the applied amount is increased, there has been a problem that the plating speed is reduced locally or over the whole, or the physical properties of the plating film are reduced.

これはベンゾトリアゾールが化学銅めつき液に溶け出
したためと推定される。このような現象が生じると、十
分な信頼性が得られないばかりか、場合によつては、回
路形成そのものが不可能になつてしまうという欠点があ
つた。この問題が生じないようにコントロールするため
ベンゾトリアゾールのレジスト中や下地表面での適切な
濃度管理が不可欠であると考えられるが、実質的には表
面状態等、他因子のばらつきがあるため回路形成は難し
いという面があつた。
This is presumably because benzotriazole was dissolved in the chemical copper plating solution. When such a phenomenon occurs, sufficient reliability cannot be obtained, and in some cases, circuit formation itself becomes impossible. It is thought that proper control of the concentration of benzotriazole in the resist and the underlying surface is indispensable to control so that this problem does not occur. Was difficult.

本発明の目的は、微細回路形成ができるパターン化学
銅めつき法を提供するにある。具体的には、めつきレジ
ストが下地金属層へ十分密着していて、めつき時に剥離
することがなく、且つ、めつき特性に悪影響を及ぼさな
い微細回路形成に適した方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a pattern chemical copper plating method capable of forming a fine circuit. Specifically, it is an object of the present invention to provide a method suitable for forming a fine circuit in which a plating resist is sufficiently adhered to an underlying metal layer, does not peel off during plating, and does not adversely affect plating characteristics. is there.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記目的は絶縁板上に設けた銅層の表面に第二金属層
を設け、次いで、必要個所にめつきレジストを形成した
後、パターン化学銅めつきを行うプリント板の製造方法
において、パターン化学銅めつきを標準水素電極(以下
NHE)に対して−550mVより貴の電位でめつきすることに
より達成される。
The above object is achieved by providing a second metal layer on the surface of a copper layer provided on an insulating plate, and then forming a resist at a required location, and then performing a pattern chemical copper plating process. Copper plating with standard hydrogen electrode (below
This is achieved by plating at a potential nobler than -550 mV with respect to NHE).

〔作用〕[Action]

パターン化学銅めつきにおいて、めつきレジストが剥
離する現象を調べたところ、めつきレジストが下地とは
完全に密着しておらず、すき間に化学銅めつき液が浸み
込むために起こるものとかんがえられ、化学銅めつき反
応がその隙間で生じることと関係すると推定された。本
発明では、この点を考慮し、標準水素電極に対して−55
0mVより貴の電位で化学銅めつきすることが、めつきレ
ジストの剥離を防止する観点から有効であり、良好なパ
ターン形成が可能になることを見出した。その明らかな
理由は不明であるが、めつき反応電位が十分卑であると
第二金属表面の酸化物が還元されて、めつきレジスト界
面が破壊されることが予想される。めつき反応電位がよ
り貴であれば、このような還元反応は起こらず破壊され
ることがない。第二金属層として特に有効なニツケル,
亜鉛,すず,クロムを用いたとき、標準水素電極に対し
て約−550mVより貴のめつき反応電位であれば、本発明
の目的を実質的に達成できることがわかつた。
In the pattern chemical copper plating, we investigated the phenomenon that the plating resist was peeled off, and found that the plating resist did not completely adhere to the base, and the chemical copper plating liquid infiltrated into the gap. It was presumed to be related to the chemical copper plating reaction occurring in the gap. In the present invention, in consideration of this point, the standard hydrogen electrode is set to -55.
It has been found that chemical copper plating at a potential nobler than 0 mV is effective from the viewpoint of preventing peeling of the plating resist, and that a good pattern can be formed. Although the obvious reason is unknown, if the plating reaction potential is sufficiently low, it is expected that the oxide on the surface of the second metal is reduced and the plating resist interface is destroyed. If the plating reaction potential is more noble, such a reduction reaction does not occur and is not destroyed. Nickel particularly effective as a second metal layer,
It has been found that when zinc, tin, and chromium are used, the object of the present invention can be substantially achieved if the plating reaction potential is noble than about -550 mV with respect to a standard hydrogen electrode.

本発明ではベンゾトリアゾールなどのような処理剤を
金属表面に適用しなくてもすむため、めつき膜の品質低
下や、めつきした回路の欠けなどが生じる問題はない。
In the present invention, since there is no need to apply a treating agent such as benzotriazole to the metal surface, there is no problem that the quality of the plated film is degraded or the plated circuit is chipped.

以下、第1図により本発明の製造工程を説明する。 Hereinafter, the manufacturing process of the present invention will be described with reference to FIG.

本発明では絶縁板1上の銅2層に第二金属層3を設け
るが、本発明の目的を十分に達成するために、第二金属
層3の形成前に銅2の表面を十分に粗化することがのぞ
ましい(A)。粗化の方法は、塩化第二銅水溶液、過硫
酸アンモニウム水溶液などに浸漬して粗化する方法が可
能である。次に、酸化膜層を形成してさらに微細な凹凸
を形成するが、ここではアルカリ性亜鉛素酸塩水溶液な
どが適用できる。さらに、酸化膜層を電気的、あるい
は、ジメチルアミンボランなどの還元剤入り溶液で処理
する。このような処理により良好な粗化面を得ることが
できる。ひき続き粗化した銅2の上に第二の金属層3を
形成する。(B)この第二の金属層3は卑な電位の金属
が適している。例えば、ニツケル,亜鉛,すず,クロム
などが挙げられる。これらの金属は電気めつき、あるい
は、化学めつき等で形成することができる。次いで、回
路形成部以外をめつきレジスト4でマスクする。(C)
めつきレジスト4には市販の感光性のものが適用でき
る。例えば、デユポン社のリストンフイルムR−1220,T
−168,チオコールダイナケム社のラミナーGSI,日立化成
工業社のフオテツクSR−3200などがある。これらのめつ
きレジスト4はフイルムタイプであり、ホツトロールな
どで基板表面にラミネートされる。また、本発明ではフ
イルムタイプ以外にも液状のものも適用できる。基板表
面の必要個所にめつきレジスト4を形成するため、通常
の露光,現象を行うことにより達成できる。引き続い
て、所望の回路形成部分にパターン銅めつきを行う。こ
こでは、回路形成部分に露出している第二金属層3を除
去することが望ましい。(D)パターン銅めつきには優
れためつき膜品質を与える厚付け用化学銅めつき5が適
している。(E)このパターン化学銅めつき5でめつき
反応電位を標準水素電極に対して−550mVより貴にする
が、めつき反応電位を貴にシフトさせる方法として、銅
イオン濃度を高くする、還元剤濃度及びpHを低くする方
法などがある。また、めつき反応生成物である硫酸イオ
ンやぎ酸イオン、あるいは、他の各種イオンを添加する
方法などがある。その他に溶存酸素濃度を高くする方
法、ホルマリンの酸化反応抑制剤や銅イオンの還元反応
促進剤を添加する方法がある。
In the present invention, the second metal layer 3 is provided on the copper 2 layer on the insulating plate 1, but in order to sufficiently achieve the object of the present invention, the surface of the copper 2 is sufficiently roughened before the formation of the second metal layer 3. (A). As a roughening method, a method of immersing in an aqueous solution of cupric chloride, an aqueous solution of ammonium persulfate, or the like for roughening is possible. Next, an oxide film layer is formed to form finer irregularities. Here, an alkaline zincate aqueous solution or the like can be used. Further, the oxide film layer is treated electrically or with a solution containing a reducing agent such as dimethylamine borane. By such a treatment, a good roughened surface can be obtained. Subsequently, the second metal layer 3 is formed on the roughened copper 2. (B) The second metal layer 3 is preferably made of a metal having a low potential. For example, nickel, zinc, tin, chromium and the like can be mentioned. These metals can be formed by electroplating, chemical plating, or the like. Next, portions other than the circuit forming portion are masked with the plating resist 4. (C)
A commercially available photosensitive resist can be used as the plating resist 4. For example, DuPont's Liston Film R-1220, T
-168, Laminar GSI of Thiokol Dynachem, and Huotek SR-3200 of Hitachi Chemical Co., Ltd. These plating resists 4 are of a film type, and are laminated on the surface of the substrate by a photo roll or the like. In the present invention, a liquid type can be applied in addition to the film type. In order to form a resist 4 at a required portion of the substrate surface, it can be achieved by performing ordinary exposure and phenomenon. Subsequently, copper plating is performed on a desired circuit formation portion. Here, it is desirable to remove the second metal layer 3 exposed at the circuit formation portion. (D) Since the copper plating is excellent, the chemical copper plating 5 for thickening which gives the film quality is suitable. (E) The pattern chemical copper plating 5 makes the plating reaction potential nobleer than -550 mV with respect to the standard hydrogen electrode, but as a method of shifting the plating reaction potential noblely, increasing the copper ion concentration, reducing Methods include lowering the agent concentration and pH. Further, there is a method of adding a sulfate ion or a formate ion, which is a plating reaction product, or other various ions. Other methods include increasing the dissolved oxygen concentration and adding a formalin oxidation reaction inhibitor or a copper ion reduction reaction accelerator.

この方法により、めつきレジスト4の剥離などが実質
的に生じない良好なパターンめつき後は、通常の方法
で、半田めつき6によりエツチングレジストを形成し
(F)、次いで、めつきレジスト4を除去し(G)た
後、エツチングにより、めつきレジスト4が被覆されて
いた部分の第二金属層3と銅層2を除去する。(H)最
終的には半田めつき6層を除去し、(I)プリント板の
回路パターンを形成することができる。
By this method, after good pattern plating in which the peeling of the plating resist 4 does not substantially occur, an etching resist is formed by solder plating 6 by an ordinary method (F), and then the plating resist 4 is formed. After removing (G), the portion of the second metal layer 3 and the copper layer 2 covered with the plating resist 4 is removed by etching. (H) Eventually, the six soldered layers are removed, and (I) the circuit pattern of the printed board can be formed.

〔実施例〕〔Example〕

本発明を実施例により具体的に説明する。 The present invention will be specifically described with reference to examples.

〈実施例1〉 工程:1.6mm厚の両面銅張ガラスエポキシ積層板(銅箔厚
18μm)に0.4mm径のドリルで孔をあけた。表面をブラ
シ研磨した後、高圧水洗で孔内で洗浄した。次いで、過
硫酸アンモニウム水溶液によつて表面のソフトエツチン
グを行い、さらに、酸洗いした。ひき続き、化学銅めつ
きのための触媒(日立化成社製増感剤HS101B)に浸漬し
て活性化した。次に、酸洗いをしてから下記組成の化学
銅めつき液に70℃で二時間浸漬し、約6μmの厚さの化
学銅めつき層を形成した。
<Example 1> Process: 1.6 mm thick double-sided copper-clad glass epoxy laminate (copper foil thickness
(18 μm) with a 0.4 mm diameter drill. After the surface was polished with a brush, the inside of the hole was washed with high-pressure water. Next, the surface was soft-etched with an aqueous solution of ammonium persulfate, and then pickled. Subsequently, it was activated by immersion in a catalyst for chemical copper plating (sensitizer HS101B manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.). Next, after pickling, it was immersed in a chemical copper plating solution having the following composition at 70 ° C. for 2 hours to form a chemical copper plating layer having a thickness of about 6 μm.

工程2:工程1を終了した後、表面を酸洗いし、過硫酸ア
ンモニウム水溶液(200g/)で軽く粗化した。次い
で、下記の組成の液で70℃,2分間処理し微細凹凸をもつ
酸化膜層を形成した。
Step 2: After step 1, the surface was pickled and lightly roughened with an aqueous solution of ammonium persulfate (200 g /). Next, the resultant was treated with a liquid having the following composition at 70 ° C. for 2 minutes to form an oxide film layer having fine irregularities.

さらに下記組成の処理液で上記酸化膜を還元した。 Further, the oxide film was reduced with a treatment solution having the following composition.

さらに、水洗を行つて十分表面をきれいにした後、0.
05A/dm2で4分間無光沢の電気ニツケル液でめつきし
た。水洗乾燥後、デユポン社製の感光性ドライフイル
ム,リストン1220を110℃に加熱したホツトロールによ
りラミネートした。さらに、露光現象を行うことによつ
て、回路形成部分以外にめつきレジストを形成した。次
に、140℃で1時間加熱してエージングした。
In addition, after thoroughly washing the surface by washing with water,
Were plated in 4 minutes matte electric nickel solution at 05A / dm 2. After washing and drying, a photosensitive dry film, Liston 1220 manufactured by DuPont, was laminated by a hot roll heated to 110 ° C. Further, by performing an exposure phenomenon, a resist was formed on portions other than the circuit forming portion. Next, it was aged by heating at 140 ° C. for 1 hour.

工程3:次に、過硫酸アンモニウム水溶液(200g/)に
浸漬し、表面に露出しているニツケルめつき層を銅とと
もにエツチングして除去した。酸洗、水洗を行つた後、
下記の組成の化学銅めつき液に72℃で浸漬してめつき反
応電位−550〜−550mVvsNHEで約30μmの厚さのパター
ン化学銅めつきを行つた。
Step 3: Next, the substrate was immersed in an aqueous solution of ammonium persulfate (200 g /), and the nickel plating layer exposed on the surface was removed by etching with copper. After pickling and washing with water,
It was immersed in a chemical copper plating solution having the following composition at 72 ° C., and a patterning chemical copper plating having a thickness of about 30 μm was performed at a plating reaction potential of −550 to −550 mV vs. NHE.

めつき終了後、十分水洗し、パターン化学銅めつきま
での工程を完了した。
After the completion of the plating, the substrate was thoroughly washed with water to complete the steps up to the pattern chemical copper plating.

〈実施例2〉 実施例1において、工程3のパターン化学銅めつき液
の硫酸銅(5水和量)量を15g/、ホルマリン(37%)
量を1.5g/にしてめつき反応電位を−520〜−480mVvsN
HEとした以外は実施例1と全く同様の方法でパターン化
学銅めつきまでの工程を完了した。
<Example 2> In Example 1, the amount of copper sulfate (pentahydrate) in the pattern chemical copper plating solution in Step 3 was 15 g / formalin (37%).
And the reaction potential was -520 to -480 mV vs N
The steps up to pattern chemical copper deposition were completed in exactly the same manner as in Example 1 except that HE was used.

〈実施例3〉 実施例1における工程3の化学銅めつき液に硫酸ナト
リウム30g/、ぎ酸ナトリウム30g/添加してめつき反
応電位を−500mVvsNHEとした以外は実施例1と全く同様
の方法でパターン化学銅めつきまでの工程を完了した。
<Example 3> Exactly the same as Example 1 except that the plating reaction potential was -500 mV vs NHE by adding 30 g of sodium sulfate and 30 g / sodium formate to the chemical copper plating solution of step 3 in Example 1. The process up to the pattern chemical copper plating was completed by the method described above.

〈実施例4〉 実施例1における工程2で、電気ニツケルめつきの代
わりに酸化亜鉛めつき浴中で0.3A/dm2,6分間亜鉛めつき
した以外は実施例1と全く同様の方法でパターン化学銅
めつきまでの工程を完了した。
<Example 4> In step 2 of Example 1, a pattern was formed in the same manner as in Example 1 except that zinc plating was performed in a zinc oxide plating bath at 0.3 A / dm 2 for 6 minutes instead of electric nickel plating. The process up to chemical copper plating was completed.

〈実施例5〉 実施例1における工程2で、電気ニツケルめつきの代
わりに電気すずめつき浴中で0.3A/dm3,6分間すずめつき
をした以外は実施例1と全く同様の方法でパターン化学
銅めつきまでの工程を完了した。
In step 2 of <Example 5> Example 1, pattern chemical electric nickel plated 0.3 A / dm 3 instead an electric sparrow with bath, except that the 6 minutes sparrow with Example 1 and exactly the same manner The process up to copper plating was completed.

〈比較例1〉 実施例1の工程3における化学銅めつき液を硫酸銅
(5水和物)量を5g/,pH12.9として、めつき反応電位
を−630〜−580mVBvsNHEとした以外は実施例1と同様の
方法でパターン化学銅めつきまでの工程を完了した。
<Comparative Example 1> The chemical copper plating solution in Step 3 of Example 1 was adjusted to have a copper sulfate (pentahydrate) content of 5 g / pH 12.9 and a plating reaction potential of -630 to -580 mVB vs NHE. Except for this, the steps up to the pattern chemical copper plating were completed in the same manner as in Example 1.

〈比較例2〉 実施例1の工程3における化学銅めつき液を硫酸銅
(5水和物)量を3.5g/として、めつき反応電位を−6
50〜−600mVvsNHEとした以外は実施例1と同様の方法で
パターン化学銅めつきまでの工程を完了した。
<Comparative Example 2> In the chemical copper plating solution in Step 3 of Example 1, the amount of copper sulfate (pentahydrate) was 3.5 g /, and the plating reaction potential was −6.
The process up to pattern chemical copper plating was completed in the same manner as in Example 1 except that the voltage was set to 50 to -600 mV vs NHE.

〈比較例3〉 比較例1における電気ニツケルめつきを電気亜鉛めつ
き(0.3A/dm2,6分)に代えた以外は比較例1と全く同様
の方法でパターン化学銅めつきまでの工程を完了した。
<Comparative Example 3> The process up to pattern chemical copper plating was performed in exactly the same manner as in Comparative Example 1 except that the electric nickel plating in Comparative Example 1 was replaced with electric zinc plating (0.3 A / dm 2 , 6 minutes). Completed.

〈比較例4〉 比較例1における電気ニツケルめつきを電気亜鉛めつ
き(0.3A/dm2,6分)に代えた以外は比較例1と全く同様
の方法でパターン化学銅めつきまでの工程を完了した。
<Comparative Example 4> The process up to pattern chemical copper plating was performed in exactly the same manner as in Comparative Example 1 except that the electric nickel plating in Comparative Example 1 was replaced with electric zinc plating (0.3 A / dm 2 , 6 minutes). Completed.

上述した実施例1〜5について、めつきレジストの剥
離やふくれを観察した結果、それらの発生はごくわずか
であり、パターン形成上全く支障がなかつた。これに対
して、比較例1〜3ではめつきレジストの剥離やふくれ
が数多く認められ、次の工程で半田めつきを行つたとこ
ろ、レジストの剥れたところにも半田めつきがついてし
まい、回路形成上不都合が生じた。
As a result of observing peeling and blistering of the plating resist in Examples 1 to 5 described above, the occurrence thereof was very small, and there was no problem in pattern formation. On the other hand, in Comparative Examples 1 to 3, peeling and swelling of the attached resist were recognized, and when soldering was performed in the next step, soldering was attached to the area where the resist was peeled off. Inconvenience occurred in circuit formation.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明によれば、めつきレジストの局部的な剥離やふ
くれを実質的に防止できるので、微細パターンを形成す
る上で大きな効果がある。
According to the present invention, since local peeling and blistering of the plating resist can be substantially prevented, there is a great effect in forming a fine pattern.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例のプリント配線板製造工程の
断面図である。 1……絶縁板、2……銅、3……第二金属層、4……め
つきレジスト、5……化学銅めつき、6……半田めつ
き。
FIG. 1 is a sectional view of a printed wiring board manufacturing process according to one embodiment of the present invention. 1 ... insulating plate, 2 ... copper, 3 ... second metal layer, 4 ... plating resist, 5 ... chemical copper plating, 6 ... solder plating.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鳥羽 律司 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社 日立製作所神奈川工場内 (72)発明者 和嶋 元世 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社 日立製作所神奈川工場内 (72)発明者 宮崎 政志 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社 日立製作所神奈川工場内 (56)参考文献 特開 昭60−96767(JP,A) 特開 昭64−13794(JP,A) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Ryoji Toba 1st Horiyamashita, Hadano City, Kanagawa Prefecture Inside Hitachi, Ltd. Kanagawa Plant (72) Inventor Motoyo Wajima 1st Horiyamashita, Hadano City, Kanagawa Prefecture Hitachi, Ltd. Inside the Kanagawa Plant (72) Inventor Masashi Miyazaki 1 Horiyamashita, Hadano City, Kanagawa Prefecture Inside the Kanagawa Plant, Hitachi, Ltd. (56) References JP-A-60-96767 (JP, A) JP-A 64-13794 (JP, A)

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】絶縁板上に設けた銅層の表面に第二金属層
を設け、次いで必要個所にめつきレジストを形成した
後、パターン化学銅めつきを行うプリント基板の製造方
法において、 前記パターン化学銅めつきを標準水素電極に対して−55
0mVより貴の電位でめつきすることを特徴とするプリン
ト基板の製造方法。
1. A method for manufacturing a printed circuit board, comprising: providing a second metal layer on a surface of a copper layer provided on an insulating plate, forming a plating resist at a required portion, and then performing pattern chemical copper plating. Pattern chemical copper plating -55 with respect to standard hydrogen electrode
A method for manufacturing a printed circuit board, comprising: plating at a potential nobler than 0 mV.
【請求項2】特許請求の範囲第1項において、 前記二金属層がニツケル,亜鉛,すず,クロムのうち、
少なくとも一種またはその合金からなることを特徴とす
るプリント基板の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein said bimetallic layer is selected from the group consisting of nickel, zinc, tin, and chromium.
A method for manufacturing a printed circuit board comprising at least one or an alloy thereof.
【請求項3】特許請求の範囲第2項において、 前記第二金属層を形成するに先立ち、銅層表面を粗化し
てから酸化膜層を表面に形成し、さらに、微細な凹凸を
作成し、次いで、前記表面の前記酸化膜層を還元するこ
とを特徴とするプリント基板の製造方法。
3. The method according to claim 2, wherein prior to forming the second metal layer, the surface of the copper layer is roughened, an oxide film layer is formed on the surface, and fine irregularities are formed. And then reducing the oxide layer on the surface.
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