JP2658703B2 - IC socket - Google Patents
IC socketInfo
- Publication number
- JP2658703B2 JP2658703B2 JP3360030A JP36003091A JP2658703B2 JP 2658703 B2 JP2658703 B2 JP 2658703B2 JP 3360030 A JP3360030 A JP 3360030A JP 36003091 A JP36003091 A JP 36003091A JP 2658703 B2 JP2658703 B2 JP 2658703B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- lead
- socket
- contact pin
- main body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 7
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Connecting Device With Holders (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、IC(半導体集積回路
装置)のソケットに関し、特にSOP、QFPのなどの
フラット形パッケージICに用いられるソケットに関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a socket for an IC (semiconductor integrated circuit device), and more particularly to a socket used for a flat package IC such as an SOP and a QFP.
【0002】[0002]
【従来の技術】フラット形パッケージのICでは、外部
リード(以下、単にリードという)はパッケージの二辺
または四辺に均等に配列され、プリント基板等へ接続し
易いように成形されている。このようなICの各リード
とプリント基板等に形成されている配線との接続手段と
してICソケットを用いることがある。2. Description of the Related Art In a flat package IC, external leads (hereinafter simply referred to as leads) are evenly arranged on two or four sides of the package and are formed so as to be easily connected to a printed circuit board or the like. In some cases, an IC socket is used as a means for connecting each of the leads of the IC to the wiring formed on a printed circuit board or the like.
【0003】図3の(a)は、この種従来のソケット
の、蓋部を開いた状態を示す平面図であり、図3の
(b)はそのA−A線断面図である。本従来例にICを
装着する場合、ソケットの本体部31の中央部分に上下
動自在に組み込まれた位置決め台32の上にICを載せ
て蓋部33に取り付けられたリード押え部34によりリ
ード先端部を上側から押し下げてICのリードとコンタ
クトピン35との電気的接触を実現する。FIG. 3A is a plan view showing a conventional socket of this kind in a state in which a cover is opened, and FIG. 3B is a sectional view taken along line AA. When an IC is mounted on the conventional example, the IC is placed on a positioning table 32 which is vertically movable and installed at the center of the main body 31 of the socket. The part is pushed down from above to realize electrical contact between the lead of the IC and the contact pin 35.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来ソケット
では、ICのリードを直接位置決めするものではなく、
またコンタクトピンの非固定部分が長くなされているの
でICリードとコンタクトピンとの位置決めに誤差が生
じ易い構造となっており、例えばリードの間隔が0.5
mm以下と微細化された場合には、リードとコンタクトピ
ンとの相対的位置決め誤差が無視できない値になる。In the conventional socket described above, the lead of the IC is not directly positioned,
In addition, since the non-fixed portion of the contact pin is made long, an error is likely to occur in the positioning between the IC lead and the contact pin.
When the size is reduced to less than mm, the relative positioning error between the lead and the contact pin becomes a value that cannot be ignored.
【0005】また、コンタクトピンが導電経路(線路
長)が比較的に長くなる形状であったので、インダクタ
ンス値が大きくなり、さらにコンタクトピン間の浮遊容
量値も大きくなる傾向にあり、そのため20〜30MH
z程度以上の高周波信号を取り扱えないという問題もあ
った。Further, since the contact pin has a shape in which the conductive path (line length) is relatively long, the inductance value tends to increase, and the stray capacitance value between the contact pins also tends to increase. 30MH
There is also a problem that high frequency signals of about z or more cannot be handled.
【0006】従来例の他の問題点は、コンタクトピンが
摩耗するなどしてソケットを交換する必要が生じても、
簡単には交換することのできない構造となっていたこと
である。Another problem with the prior art is that even if the contact pins need to be replaced due to wear of the contact pins, etc.
It was a structure that could not be easily replaced.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明によるICソケッ
トは、ICのリード列の両端の位置を規制する位置決め
部を有し、頂部がICリードと接触し下部が下部本体の
導体との接触部となっている第1コンタクトピンを保持
する上部本体と、押圧時に前記第1コンタクトピンに接
触すると共に外部導出可能な第2コンタクトピンを有す
る下部本体と、上部本体と下部本体との間の弾撥力に抗
しICのリードを第1コンタクトピンの頂部に押しつけ
かつ第1コンタクトピンの下部を第2コンタクトピンへ
押しつける押圧部材と、を具備している。また、本発明
によるもう一つのICソケットは、ICのリード列の両
端の位置を規制する位置決め部を有し、頂部がICリー
ドと接触し下部がプリント基板の導体との接触部となっ
ているコンタクトピンを保持する本体と、本体とプリン
ト基板との間の弾撥力に抗しICのリードをコンタクト
ピンの頂部に押しつけかつ第1コンタクトピンの下部を
プリント基板の導体へ押しつける押圧部材と、を具備し
ている。 SUMMARY OF THE INVENTION An IC socket according to the present invention has a positioning portion for regulating the positions of both ends of a lead row of ICs, wherein a top portion is in contact with an IC lead and a lower portion is a conductor of a lower body. An upper body holding a first contact pin serving as a contact portion with the first contact pin;
Has a second contact pin that can be touched and led out
The lower body and the elasticity between the upper and lower bodies
A pressing member for pressing and pressing was IC lead on top of the first contact pins at the bottom of the first contact pin to the second contact pins, that are equipped with. In addition, the present invention
Another IC socket according to
It has a positioning part that regulates the position of the end, and the top part is an IC
Contact with the printed circuit board conductor at the bottom
Body that holds the contact pins
Contacts the IC leads against the resilience between the substrate
Press the top of the pin and lower the first contact pin
A pressing member that presses against the conductor of the printed circuit board.
ing.
【0008】[0008]
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は、本発明の第1の実施例を示す断面
図である。同図に示されるように、本実施例では、ソケ
ット本体は、それぞれ一体的に成形された上部本体11
と下部本体12の2つの部分に分割されている。Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of the present invention. As shown in the figure, in the present embodiment, the socket main bodies are each formed integrally with the upper main body 11.
And the lower body 12 is divided into two parts.
【0009】上部本体11の中央部には、4方を板状体
に囲まれたIC載置部11aが設けられており、各辺の
板状体には凵型の切り込みが入れられ、その切り込みの
側面がリード位置決め面11bとなされている。上部本
体の中央部にはまた、下部本体12に形成された突起1
2aが嵌合される貫通孔11cが開けられている。At the center of the upper body 11, there is provided an IC mounting portion 11a surrounded by plate members on four sides, and a U-shaped cut is made in each side plate member. The side surface of the cut is the lead positioning surface 11b. A protrusion 1 formed on the lower body 12 is also provided at the center of the upper body.
A through hole 11c into which 2a is fitted is opened.
【0010】IC載置部11aの周囲には、J字形の形
状で頂部がICリードとの接触部になされ、その反対側
の先端部が上部本体11に固定されたコンタクトピン1
3aが配列されている。このコンタクトピン13aの先
端部は上部本体11の成形時に本体内に埋め込まれる。
IC載置部11aの下部には、ストッパピン14が回動
自在に取り付けられている。[0010] Around the IC mounting portion 11a, a contact pin 1 having a J-shaped top is formed as a contact portion with the IC lead, and a tip on the opposite side is fixed to the upper body 11.
3a are arranged. The tip of the contact pin 13a is embedded in the main body when the upper main body 11 is formed.
A stopper pin 14 is rotatably attached to a lower portion of the IC mounting portion 11a.
【0011】下部本体12の中央部には角形の突起12
aが形成されており、その外側にはストッパピン14を
通すための貫通孔12bが開けられている。貫通孔12
bの途中にはストッパピンと係合する段差部が設けられ
ている。下部本体12には、またコンタクトピン13a
に当接する位置にコンタクトピン13bが埋め込まれて
いる。下部本体12の突起12aには、上部本体11と
下部本体とを離隔させるように作用するばね15が装着
されている。At the center of the lower body 12, a square projection 12 is provided.
a is formed, and a through hole 12b through which the stopper pin 14 is passed is formed on the outside thereof. Through hole 12
In the middle of b, a step portion that engages with the stopper pin is provided. The lower body 12 also has contact pins 13a.
The contact pin 13b is buried in a position where the contact pin 13b comes into contact. A spring 15 acting to separate the upper main body 11 from the lower main body is mounted on the projection 12a of the lower main body 12.
【0012】実使用時には、IC16がIC載置部11
aに載置される。このとき、パッケージの四側面に設け
られたリード列は、それぞれ両端のリードがリード位置
決め面に当接することにより位置決めされる。リード押
え部17が、リードをコンタクトピン13aに押しつけ
るとともにコンタクトピン13aをコンタクトピン13
bに接触させる。At the time of actual use, the IC 16 is mounted on the IC
a. At this time, the lead rows provided on the four side surfaces of the package are positioned by the leads at both ends contacting the lead positioning surfaces. The lead pressing portion 17 presses the lead against the contact pin 13a and presses the contact pin 13a to the contact pin 13a.
b.
【0013】本実施例では、IC16のリードが本体1
1のリード位置決め面11bによって位置決めされるの
で、リードとコンタクトピン13aとの位置ずれを少な
くすることができる。そしてコンタクトピンが全体とし
て短くなされているので、寄生インダクタンス、寄生容
量をともに減少させることができ高周波特性を改善する
ことができる。さらに、コンタクトピン13aが摩耗す
るなどしてソケットを交換する必要が生じた場合には、
ストッパピン14を回動することにより上部本体を下部
本体から簡単に取り外すことができる。In this embodiment, the lead of the IC 16 is
Since the positioning is performed by the one lead positioning surface 11b, the positional deviation between the lead and the contact pin 13a can be reduced. Since the contact pins are shortened as a whole, both the parasitic inductance and the parasitic capacitance can be reduced, and the high-frequency characteristics can be improved. Further, when the socket needs to be replaced due to wear of the contact pin 13a, etc.,
By rotating the stopper pin 14, the upper body can be easily removed from the lower body.
【0014】図2は本発明の第2の実施例を示す断面図
である。本実施例において、本体21は、先の実施例の
上部本体11とほぼ同一の構成を有する。即ち、一体的
に成形された本体21の中央部にはIC載置部21aが
設けられ、このIC載置部21aを囲む板状体には、側
面がリード位置決め面となる切り込みが入れられてい
る。IC載置部21aの下部には突起21cが形成され
ている。本体21には、また先の実施例と同様にコンタ
クトピン23とストッパピン24が設けられている。FIG. 2 is a sectional view showing a second embodiment of the present invention. In this embodiment, the main body 21 has substantially the same configuration as the upper main body 11 of the previous embodiment. That is, an IC mounting portion 21a is provided at a central portion of the integrally formed main body 21, and a cutout having a side surface serving as a lead positioning surface is formed in a plate-like body surrounding the IC mounting portion 21a. I have. A projection 21c is formed below the IC mounting portion 21a. The main body 21 is provided with a contact pin 23 and a stopper pin 24 as in the previous embodiment.
【0015】この本体はプリント基板28に直接取り付
けられる。プリント基板28には、コンタクトピン23
と接触する配線28aの外、本体21の突起21cが嵌
合する穴と、ストッパピン24を通すための貫通孔28
bが設けられている。このソケットをプリント基板に取
り付ける際には、本体−プリント基板間にばね25が入
れられる。The main body is directly mounted on the printed circuit board 28. The printed circuit board 28 has contact pins 23
A hole into which the protrusion 21c of the main body 21 fits, and a through hole 28 through which the stopper pin 24 passes.
b is provided. When this socket is mounted on a printed circuit board, a spring 25 is inserted between the main body and the printed circuit board.
【0016】本実施例は、以上の構成により先の実施例
と同様の効果を有するが、下部本体を使用しなくなって
いるので、コンタクトピンによるインダクタンスおよび
寄生容量はさらに減少せしめられており、高周波特性は
一層改善されている。さらに、先の実施例のものより構
造が簡素化されているので、より安価にソケットを提供
することができる。This embodiment has the same effect as the previous embodiment by the above configuration, but since the lower body is not used, the inductance and the parasitic capacitance due to the contact pins are further reduced, and the high frequency The properties are further improved. Further, since the structure is simpler than that of the previous embodiment, the socket can be provided at lower cost.
【0017】以上好ましい実施例について説明したが、
本発明はこれら実施例に限定されるものではなくいくつ
かの改変が可能である。例えば、ストッパピンおよびば
ねのいずれか一方あるいは双方を除去することができ
る。While the preferred embodiment has been described above,
The present invention is not limited to these examples, and some modifications are possible. For example, one or both of the stopper pin and the spring can be removed.
【0018】[0018]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のICソケ
ットは、上端がICのリードとの接触部で下端が他導体
との接触部となるJ字形のコンタクトピンが組み込まれ
た本体に、ICのリードの位置決め部を設けたものであ
るので、以下の効果を奏することができる。As described above, the IC socket of the present invention has a body in which a J-shaped contact pin whose upper end is in contact with an IC lead and whose lower end is in contact with another conductor is incorporated. Since the IC lead positioning portion is provided, the following effects can be obtained.
【0019】 ICのリードが直接ソケット本体に位
置決めされるので、ICが多ピン化された場合であって
もICのリードとコンタクトピンとの位置合わせの相対
誤差を少なくすることができる。 コンタクトピンの形状が直線に近くなり、その寸法
も短縮されているので、寄生インダクタンスおよび寄生
容量が減少し、高周波特性が改善される。Since the leads of the IC are positioned directly on the socket body, a relative error in the alignment between the leads of the IC and the contact pins can be reduced even when the IC has a large number of pins. Since the shape of the contact pin is close to a straight line and its size is also reduced, the parasitic inductance and the parasitic capacitance are reduced, and the high-frequency characteristics are improved.
【0020】 ICのリードが接触するコンタクトピ
ンを直接プリント基板等に半田付けするものではないの
で、交換作業が容易化される。 本体(または上部本体)を一体成形品として構成し
ているので構造が簡素化されコストダウンを図ることが
できる。Since the contact pins that contact the leads of the IC are not directly soldered to a printed circuit board or the like, the replacement operation is facilitated. Since the main body (or the upper main body) is formed as an integrally molded product, the structure is simplified and the cost can be reduced.
【図1】本発明の第1の実施例を示す断面図。FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の第2の実施例を示す断面図。FIG. 2 is a sectional view showing a second embodiment of the present invention.
【図3】従来例の平面図と断面図。FIG. 3 is a plan view and a cross-sectional view of a conventional example.
11 上部本体 21 本体 11a、21a IC載置部 11b、21b リード位置決め面 11c 貫通孔 21c 突起 12 下部本体 12a 突起 12b 貫通孔 13a、13b、23 コンタクトピン 14、24 ストッパピン 15、25 ばね 16 IC 17 リード押え部 28 プリント基板 31 本体部 32 位置決め台 33 蓋部 34 リード押え部 35 コンタクトピン DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Upper main body 21 Main body 11a, 21a IC mounting part 11b, 21b Lead positioning surface 11c Through hole 21c Projection 12 Lower main body 12a Projection 12b Through hole 13a, 13b, 23 Contact pin 14, 24 Stopper pin 15, 25 Spring 16 IC 17 Lead presser 28 Printed circuit board 31 Main body 32 Positioning table 33 Lid 34 Lead presser 35 Contact pin
Claims (3)
位置決め部を有し、頂部がICリードと接触し下部が下
部本体の導体との接触部となっている第1コンタクトピ
ンを保持する上部本体と、押圧時に前記第1コンタクトピンに接触すると共に外部
導出可能な第2コンタクトピンを有する下部本体と、 上部本体と下部本体との間の弾撥力に抗し ICのリード
を第1コンタクトピンの頂部に押しつけかつ第1コンタ
クトピンの下部を第2コンタクトピンへ押しつける押圧
部材と、 を具備することを特徴とするICソケット。1. A positioning portion for regulating the positions of both ends of an IC lead row, wherein a top portion is in contact with an IC lead and a lower portion is a lower portion.
An upper body which holds the first contact pin part has a contact portion with the conductor of the body, external as well as contact with the first contact pins during pressing
A lower body having a derivable second contact pins, the upper body and the lower part of the pressing and the first contact pins of the IC lead against the repulsive force to the top of the first contact pin between the lower body second An IC socket comprising: a pressing member that presses against a contact pin .
位置決め部を有し、頂部がICリードと接触し下部がプ
リント基板の導体との接触部となっているコンタクトピ
ンを保持する本体と、 本体とプリント基板との間の弾撥力に抗しICのリード
をコンタクトピンの頂部に押しつけかつ第1コンタクト
ピンの下部をプリント基板の導体へ押しつける押圧部材
と、 を具備することを特徴とするICソケット。 2. Controlling the positions of both ends of a lead row of an IC.
It has a positioning part, with the top part contacting the IC lead and the bottom part
Contact pins that are in contact with conductors on the printed circuit board
And a lead for the IC against the resilience between the main body and the printed circuit board.
To the top of the contact pin and the first contact
A pressing member that presses the lower part of the pin against the conductor on the printed circuit board
And an IC socket comprising:
本体または前記プリント基板から取り外し可能であるこ
とを特徴とする請求項1または2記載のICソケット。 3. The method according to claim 1, wherein the upper body or the body is the lower part.
Be removable from the main body or the printed circuit board.
The IC socket according to claim 1 or 2, wherein:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3360030A JP2658703B2 (en) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | IC socket |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3360030A JP2658703B2 (en) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | IC socket |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05182730A JPH05182730A (en) | 1993-07-23 |
JP2658703B2 true JP2658703B2 (en) | 1997-09-30 |
Family
ID=18467542
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3360030A Expired - Lifetime JP2658703B2 (en) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | IC socket |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2658703B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6065986A (en) * | 1998-12-11 | 2000-05-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Socket for semiconductor device |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5913843B2 (en) * | 1980-03-06 | 1984-04-02 | 月星化成株式会社 | Manufacturing method for polyurethane shoe soles |
US4927369A (en) * | 1989-02-22 | 1990-05-22 | Amp Incorporated | Electrical connector for high density usage |
-
1991
- 1991-12-27 JP JP3360030A patent/JP2658703B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05182730A (en) | 1993-07-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4053786B2 (en) | Socket for electrical parts | |
KR200334763Y1 (en) | System for testing bare ic chips and a socket for such chips | |
KR100393316B1 (en) | Semiconductor device testing apparatus | |
JPH11233216A (en) | Ic socket for test | |
US6910898B2 (en) | Socket for semiconductor device | |
US5175491A (en) | Integrated circuit testing fixture | |
JPH04162382A (en) | Ic socket | |
US5249972A (en) | Electrical socket | |
US5469074A (en) | Chip socket testing apparatus with adjustable contact force | |
KR101912949B1 (en) | Test socket for ball grid array package | |
US6609923B2 (en) | Semiconductor device-socket | |
US4560217A (en) | Chip carrier connector | |
JP3205814B2 (en) | socket | |
JP2658703B2 (en) | IC socket | |
US5006962A (en) | Apparatus for surface mounting an integrated circuit package | |
JPS6362343A (en) | Probe card | |
JP2819762B2 (en) | IC socket | |
KR100318621B1 (en) | IC Device Test Socket Using Symmetrically structured Contact Pin | |
JPH10112365A (en) | Ic socket | |
KR200281252Y1 (en) | Semiconductor package test socket by using silicone rubber | |
JPH0611541A (en) | Burn-in receptacle | |
KR200322060Y1 (en) | A contactor structure of test socket for semiconductor packages | |
KR100258877B1 (en) | Socket for semiconductor | |
KR20030008646A (en) | Socket of semiconductor package | |
JP4176887B2 (en) | Socket for electrical parts |