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JP2653099C - - Google Patents

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JP2653099C
JP2653099C JP2653099C JP 2653099 C JP2653099 C JP 2653099C JP 2653099 C JP2653099 C JP 2653099C
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JP
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thin film
driver circuit
line driver
silicon thin
gate
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、薄膜トランジスタを用いて形成されたアクティブマトリクスパネル
に関する。 〔従来の技術〕 従来のアクティブマトリクス液晶パネルは、文献「エスアイディー83ダイジ
ェスト156頁〜157頁、B/WアンドカラーLCビデオディスプレイズアド
レストバイポリシリコンティーエフティーズ」(モロズミ他)に示される様に薄
膜トランジスタを用いた画素マトリクスが透明基板上に形成されたものであり、
ゲート線ドライバー回路及びソース線ドライバー回路は単結晶シリコンによるM
OS集積回路で形成され第19図に示す様に前記アクティブマトリクスパネルに
外付けされていた。第19図において、1はアクティブマトリクスパネルであり
、 該アクティブマトリクスパネル1は画素マトリクス2を備えている。3はフレキ
シブル基板であり、単結晶シリコンによるドライバー集積回路4が搭載されてい
る。アクティブマトリクスパネル1とフレキシブル基板3とはパッド5において
接続されている。実装基板6は、ドライバー集積回路4と外部回路とを電気的に
接続するのみならずフレキシブル基板3及びアクティブマトリクスパネル1を機
械的に保持している。 〔発明が解決しようとする課題〕 従来のアクティブマトリクスパネルに依ると次の様な課題があった。 (1)高精細化が妨げられていた 従来は、第19図に示す様にフレキシブル基板3と、アクティブマトリクスパ
ネル1のソース線又はゲート線とがパッド5において接続されており、実装技術
上接続可能なパッド間隔によって画素ピッチが制限されていた。このため、従来
、100μm以下の画素ピッチを有するアクティブマトリクスパネルを量産する
ことは大変困難であり高精細化が妨げられていた。 (2)表示装置の小形化が妨げられていた 第19図に示される様な従来のアクティブマトリクスパネルは、ドライバー集
積回路が外付けされていたため実装基板6の外形寸法が面積にして画素マトリク
ス部2の4〜5倍程度又はそれ以上必要であった。このため、従来のアクティブ
マトリクスパネルを使用した表示装置の大きさは表示に寄与する画素マトリクス
部の面積の割に大形にならざるを得ず、このことは、例えばビデオカメラのビュ
ーファインダーの様な超小形モニターへの応用を制限する要因を成していた。 (3)製造コストが高かった 表示装置を製造する際、アクティブマトリクスパネル1とフレキシブル基板3
とを接続する工程、ドライバー集積回路4とフレキシブル基板3とを接続する工
程及び、フレキシブル基板3と実装基板6とを実装する工程を必要とし製造コス
トが高くならざるを得なかった。 (4)信頼性が低かった アクティブマトリクスパネル1とフレキシブル基板3との接続、ドライバー集
積回路4とフレキシブル基板3との接続等接続個所が多くしかもそれらに応力が 加わりやすいため、前記接続箇所における接続強度が十分でなく、表示装置全体
の信頼性が低かった。又は、十分な信頼性を確保するために多大な費用を要した
。 本発明は、以上のごとき課題を解決し、高精細かつコンパクトで信頼性に優れ
たアクティブマトリクスパネルを安価に提供することを目的とする。また、本発
明のアクティブマトリクスパネルはビデオカメラの電子ビューファインダーや携
帯形VTRのモニター等に応用されることを意図している。更に、投写形表示装
置のライトバルブとしての使用も意図している。 〔課題を解決するための手段〕 本発明は、上述の課題を解決するために、一対の基板間に液晶が封入されてな
り、該一対の基板の一方の基板上には、複数のゲート線及び複数のソース線と、
該複数のゲート線及びソース線に接続された多結晶シリコン薄膜トランジスタを
有する画素マトリクスが配置されてなるアクティブマトリクスパネルにおいて、
該一方の基板上には、該複数のゲート線及びソース線のそれぞれに信号を供給す
るゲート線ドライバー回路及びソース線ドライバー回路の少なくとも一方が形成
されてなり、該ゲート線ドライバー回路または該ソース線ドライバー回路を構成
するシフトレジスタとバッファー回路のうち、該シフトレジスタは相補型の多結
晶シリコン薄膜トランジスタからなるクロックドインバータ回路を有するスタテ
ィックシフトレジスタであり、該スタティックシフトレジスタから前記バッファ
ー回路を介して伝送された信号に基づいて前記複数のゲート線またはソース線に
信号が供給され、該ゲート線ドライバー回路または該ソース線ドライバー回路を
構成する多結晶シリコン薄膜トランジスタ間を接続する配線層に、前記複数のソ
ース線と同一層からなるアルミニウムまたはアルミシリサイドが用いられてなり
、かつ、前記ゲート線ドライバー回路またはソース線ドライバー回路は、相補型
の多結晶シリコン薄膜トランジスタの第1導電型薄膜トランジスタの多結晶シリ
コン薄膜層の島と第2導電型薄膜トランジスタの多結晶シリコン薄膜層の島とが
正電源用配線と負電源用配線との間に互い違いに配置されたレイアウトを有する
ことを特徴とする。 また、本発明は、一対の基板間に液晶が封入されてなり、該一対の基板の一方
の基板上には、複数のゲート線及び複数のソース線と、該複数のゲート線及びソ ース線に接続された多結晶シリコン薄膜トランジスタを有する画素マトリクスが
配置されてなるアクティブマトリクスパネルにおいて、該一方の基板上には、該
複数のゲート線及びソース線のそれぞれに信号を供給するゲート線ドライバー回
路及びソース線ドライバー回路の少なくとも一方が形成されてなり、該ゲート線
ドライバー回路または該ソース線ドライバー回路を構成するシフトレジスタとバ
ッファー回路のうち、該シフトレジスタは相補型の多結晶シリコン薄膜トランジ
スタからなるインバータ回路及びトランスミッションゲート回路を有するスタテ
ィックシフトレジスタであり、該スタティックシフトレジスタから前記バッファ
ー回路を介して伝送された信号に基づいて前記複数のゲート線またはソース線に
信号が供給され、該ゲート線ドライバー回路または該ソース線ドライバー回路を
構成する多結晶シリコン薄膜トランジスタ間を接続する配線層に、前記複数のソ
ース線と同一層からなるアルミニウムまたはアルミシリサイドが用いられてなり
、かつ、前記ゲート線ドライバー回路またはソース線ドライバー回路は、相補型
の多結晶シリコン薄膜トランジスタの第1導電型薄膜トランジスタの多結晶シリ
コン薄膜層の島と第2導電型薄膜トランジスタの多結晶シリコン薄膜層の島とが
正電源用配線と負電源用配線との間に互い違いに配置されたレイアウトを有する
ことを特徴とする。 〔実施例〕 以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明する。 第1図に本発明の実施例を示す。同図はシリコン薄膜による相補形金属酸化膜
半導体構造(Complementary Metal Oxide Semi
conductor;以下、CMOS構造と略記する。)のソース線ドライバー
回路12及びゲート線ドライバー回路21と画素マトリクス22とが同一の透明
基板上に形成されたアクティブマトリクスパネル11の構造を示したプロック図
である。ソース線ドライバー回路12はシフトレジスタ13、薄膜トランジスタ
(Thin Film Transistor;以下、TFTと略記する。)よ
り成るサンプルホールド回路17、18、19、及びビデオ信号バス14、15
、16を含み、ゲート線ドライバー回路21はシフトレジスタ20及びバッファ
ー23を含む。また、画素マトリクス22は、前記ソース線ドライバー回路12
に 接続される複数のソース線26、27、28、ゲート線ドライバー回路21に接
続される複数のゲート線24、25及びソース線とゲート線の交点に形成された
複数の画素32、33を含む。該画素はTFT29及び液晶セル30を含み、該
液晶セル30は画素電極と対向電極31と液晶より成る。尚、前記シフトレジス
タ13及び20はソース線及びゲート線を順次選択する機能を有する他の回路、
例えばカウンター及びデコーダで代用しても差し支えない。ソース線ドライバー
回路の入力端子34、35、36には、それぞれ、クロック信号CLX、スター
ト信号DX、ビデオ信号V1、V2、V3が入力され、ゲート線ドライバー回路の
入力端子37、38には、それぞれクロック信号CLY、スタート信号DYが入
力される。 第1図のシフトレジスタ13及びシフトレジスタ20はP形TFT及びN形T
FTより成る相補形TFTによるスタテック形又はダイナミック形回路、もしく
は片極性TFTによるダイナミック形又はスタティック形回路にて構成され得る
。これらのうち、TFTのデバイス性能を考慮すると、相補形TFTによるスタ
ティック形回路が最適である。この理由は以下の様に説明される。一般に、アク
ティブマトリクスパネルに使用されるTFTは絶縁基板上に多結晶又は非晶質の
シリコン薄膜で形成されるため、単結晶シリコンによる金属酸化膜半導体電界効
果トランジスタ(以下、MOSFETと略記する。)に比較して、そのオン電流
は小さくそのオフ電流は大きい。この理由は、シリコン薄膜中に存在するトラッ
プ密度が単結晶シリコン中のそれに比べてはるかに高いためキャリア移動度が小
さくなること及び逆バイアスされたPN接合においてキャリアの再結合が頻繁に
起こることによる。この様なTFTのデバイス上の特徴に鑑み、以下の理由によ
って本発明は相補形TFTによるスタティックシフトレジスタを採用する。 (1)TFTはオフ電流が大きいため、TFTによって構成されたダイナミッ
ク回路は動作電圧範囲、動作周波数範囲並びに動作温度範囲が狭い。 (2)アクティブマトリクス型液晶パネルの低消費電力性を生かすためドライ
バー回路は低消費電力のCMOS構造で形成される必要がある。 (3)片極性MOSダイナミックシフトレジスタに比べて、要求されるオン電
流値が小さくて済む。 第2図(a)に、第1図のシフトレジスタ13及び20の回路構造例を示す。
第2図(a)において、インバータ41及び42は、第2図(b)に示す様にP
形TFT47とN形TFT48とから成る。また、クロックドインバータ43及
び46は、第2図(c)に示す様にp形TFT49、50とN形TFT51、5
2とから成り、N形TFT52のゲートにクロック信号CLが、P形TFT49
のゲートに反転クロック信号CLが入力される。同様に、クロックドインバータ
44及び45は、P形TFT53、54とN形TFT55、56とから成り、N
形TFT56のゲートに反転クロック信号CLが、P形TFT53のゲートにク
ロック信号CLが入力される。第2図(a)において、クロックドインバータ4
3、46の代わりに第2図(e)に示すインバータ57とN形TFT58及びP
形TFT59より成るアナログスイッチとで構成された回路を使用し、クロック
ドインバータ44、45の代わりに第2図(f)に示すインバータ60とN形T
FT61及びP形TFT62より成るアナログスイッチとで構成された回路を使
用しても差し支えない。 上述したごとく、アクティブマトリクスパネルにおいてドライバー回路をCM
OS構造のTFTで構成することは大変有益である。しかし、従来技術を単にT
FTに適用することによって得られる相補形TFT集積回路は以下の様な欠点を
有している。 (1)P形TFTとN形TFTの双方を同一基板上に集積化する製造方法が複雑
となり製造コストが高くなる。 (2)相補形TFT集積回路を構成するための重要な要素である特性の揃ったP
形TFTとN形TFTを形成することが困難である。 (3)P形TFT及びN形TFTがドライバー回路を実現するに足る駆動能力を
備えていない。 本発明は、製造方法、デバイス構造、デバイス寸法、材料等に工夫を加えるこ
とによって上記の問題点を克服している。以下、順を追ってそれらを説明する。 第3図(a)に第1図のソース線ドライバー回路12及びゲート線ドライバー
回路21を構成する相補形TFTの断面構造の一例を、第3図(b)に第1図の
画素マトリクス22を構成するTFT及び画素の断面構造の一例を示す。第3図 (a)において、71はガラス、石英基板等の絶縁基板であり、その上にP形T
FT99及びN形TFT100が形成されている。73、76はチャネル領域と
なるシリコン薄膜、72、74、75、77はソース領域又はドレイン領域とな
るシリコン薄膜であり、72、74はP形に不純物ドープされており、75、7
7はN形に不純物ドープされている。78、79はSiO2、シリコンナイトラ
イド等によるゲート絶縁膜、80、81は多結晶シリコン、金属、金属シリサイ
ド等によるゲート電極、82はSiO2等による層間絶縁膜、83は金属等によ
る配線層、84はSiO2等による絶縁膜、85はパシベーション膜である。一
方、画素マトリクスの断面構造を示した第3図(b)において、86は同図(a
)の71と同一の絶縁基板であり、その上に画素TFT101とITO(インジ
ウム・ティン・オキサイド)等の透明導電膜から成る画素電極94とが形成され
ている。87、88、89は第3図(a)の72、73、74、75、76、7
7と同一のシリコン薄膜層で形成されており、88はチャネル領域、87及び8
9はソース領域又はドレイン領域を成す。領域87及び89はP形又はN形に不
純物ドープされており、それらの領域に含まれる不純物の構成は領域72及び7
4又は領域75及び77に含まれる不純物の構成と同一である。90は78、7
9と同一の層より成るゲート絶縁膜、91は80、81と同一の層より成るゲー
ト電極、92は82と同一の層より成る層間絶縁膜、93は83と同一の層より
成る配線層、95は84と同一の層より成る絶縁膜、96は液晶、97は透明導
電膜層を含む対向電極、98は透明基板である。ここで、ドライバー回路を構成
するTFT99、100と画素TFT101とは、ソース・ドレイン領域、チャ
ネル領域、ゲート絶縁膜、ゲート電極、層間絶縁膜はそれぞれ同一の薄膜層で形
成されている。また、ソース線ドライバー回路並びにゲート線ドライバー回路に
おけるTFT間の接続は例えばアルミニウム等の金属によるシート抵抗の低い配
線層83を介して成され、画素マトリクス内のソース線は83と同一の層より成
る配線層93にて形成され、画素電極94のみがITO等の透明導電膜層で形成
される。前記配線層(93)をアルミニウム又はアルミシリサイドで、前記透明
導電膜層(94)をITOで形成する場合、それら二つの層の間に層間絶縁膜を
設けない構造とすれば同一の工程にて開口されたスルーホール(102、103
) をそれぞれ異なる二つの層(93、94)とシリコン薄膜層(87、89)との
接続用に使用することが可能となり製造工程が簡略化される。ここで、アルミニ
ウムとITOは異なるエッチング液にて加工され、しかもITOはアルミニウム
のエッチング液にて浸されないという性質を利用しITOをアルミニウムよりも
前の工程にて成膜しパターン形成する。第3図(b)において、絶縁膜95は液
晶96に直流電圧が印加されるのを防ぐためのキャパシタでありその容量値は画
素容量の値に比して十分に大きくなくてはならず、従ってその膜厚は一定値(例
えば、3000Å程度)以下でなくてはならない。一方、耐湿性を確保するため
、第3図(a)に示す様にドライバー回路部を一定値(例えば1μm程度)以上
の膜厚を有するパシベーション膜85にて被う必要がある。パシベーション膜8
5は、アクティブマトリクス基板全面に成膜した後ドライバー部を残して除去す
るという方法で形成するのが最も有効であり、このため、前記パシベーション膜
85は、絶縁膜84、95を浸さないエッチング液にて加工される材料、例えば
ポリイミド等、で構成される。 上記本発明の製造方法並びにそれにより得られる相補形TFTの構造上の特徴
について以下に説明する。従来の単結晶シリコンによるCMOS集積回路の製造
方法に依ると片極性例えばN形MOSFETによる集積回路の製造工程に比して
最低4回のホト工程(低濃度Pウェル形成工程、P形ストッパー層形成工程、P
MOSFETのソース・ドレイン形成工程、N形MOSFETのソース・ドレイ
ン形成工程)が余分に必要となる。これに対し、本発明によると片極性TFT集
積回路の製造工程に比して最低1回のホト工程を追加することによって相補形T
FT集積回路が実現される。 第4図(a)〜(d)に、本発明のアクティブマトリクスパネルの製造工程の
主要部の一例を示す。まず第4図(a)の様に、透明な絶縁基板110上にシリ
コン薄膜を堆積させた後、所望のパターンを形成して、P形TFTのチャネル領
域111及びN形TFTのチャネル領域112、113を形成する。その後、熱
酸化法や気相成長法を用いてゲート絶縁膜114、115、116を形成し、更
にゲート電極117、118、119を形成する。次に、第4図(b)の様に、
イオン打ち込み法を用いてボロンなどのアクセプタ不純物120を全面に打ち込 む。打ち込まれたアクセプタ不純物は後の熱処理で活性化してアクセプタとなり
P形半導体を形成する。これにより、P形TFTのソース・ドレイン領域121
、122が形成される。この際、N形TFTのソース・ドレイン領域となるべき
領域123、124、125、126にもアクセプタが添加される。次に、第4
図(c)の様に、P形TFTを、例えばホトレジスト128等のマスク材で被覆
して、リン又はヒ素等のドナー不純物127を前記アクセプタ不純物120より
高濃度に打ち込む。打ち込まれたドナー不純物は後の熱処理で活性化してドナー
となる。仮に、前記イオン打ち込みされたアクセプタ不純物のドーズ量が1×1
15cm-2、ドナー不純物のドーズ量が3×1015cm-2であれば、領域123
、124、125、126はドーズ量2×1015cm-2に対応するドナーのみが
含まれるのとほぼ等価となる。以上でN形TFTのソース・ドレイン領域123
、124、125、126が形成される。次に、第4図(d)の様に、前記マス
ク材128を除去した後、層間絶縁膜129を堆積させ、スルーホールを開口し
、透明導電膜による画素電極131を形成し、金属等による配線130を形成す
る。以上でドライバー回路部のP形TFT132、N形TFT133、画素マト
リクス部の画素TFTを成すN形TFT134が完成する。尚、画素マトリクス
部のTFTをP形に形成することももちろん可能である。この様にして得られた
TFTにおいて、P形TFTはソース・ドレイン領域にアクセプタ不純物を含み
、N形TFTはソース・ドレイン領域にアクセプタ不純物と該アクセプタ不純物
よりも高濃度のドナー不純物を含む。 上記製造工程において、第4図(b)のアクセプタ不純物120をドナー不純
物120に、同図(c)のドナー不純物127をアクセプタ不純物127に置き
換えることによって、同図(d)にN形TFT132及びP形TFT133、1
34が得られる。この様にして得られたN形TFTはソース・ドレイン領域にド
ナー不純物を含み、P形TFTはソース・ドレイン領域にドナー不純物と該ドナ
ー不純物よりも高濃度のアクセプタ不純物を含む。 上述の製造方法によれば、片極性TFT集積回路の製造工程に対し、第4図(
c)のマスクパターン128の形成に要する1回のホト工程を追加するだけで相
補形TFT集積回路が形成される。これによってドライバー回路を内蔵したア クティブマトリクスパネルが実現可能となる。経済的見地からみて、上述の製造
方法が最良であることはもちろんであるが、アクセプタ不純物、ドナー不純物を
イオン打ち込みするそれぞれの工程でマスクパターンを形成する方法を採用して
も差し支えない。また、上述の方法によって製造された相補形TFT集積回路に
おいて、それぞれのTFTは絶縁基板上に島状に分離されており特別な素子分離
工程を必要としない。更に、単結晶シリコンによる集積回路と異なり寄生MOS
FETが生ずることが無く、チャネルストッパーを形成する必要がない。 次に、相補形集積回路を構成するために必要な特性の揃ったP形TFT及びN
形TFTを実現する手段について述べる。従来、II−VI族化合物半導体を用いた
TFTが古くから知られている。しかし、次の二つの理由、 (1)化合物半導体では、P形、N形双方の導電形を制御し実現することが事実
上不可能である。 (2)化合物半導体と絶縁膜との界面の制御が極めて困難であり、MOS構造が
実現されていない。 によって、化合物半導体を用いて相補形TFTを実現することは出来ない。従っ
て、本発明ではシリコン薄膜にてソース・ドレイン領域及びチャネル領域を形成
する。シリコン薄膜のうち、非晶質シリコン薄膜及び多結晶シリコン薄膜につい
て、伝導形別にそのキャリア移動度を第1表に示す。同表より、TFTを構成す
る際、P形、N形双方で特性を揃えやすいこと及びTFTの電流供給能力を大き
く出来ることから、相補形TFT集積回路を実現するためには多結晶シリコン薄
膜が最適であると言える。 次に、TFT、特にドライバー回路を構成するP形及びN形TFTの電流供給
能力を高めるために本発明が採用する手段について述べる。先に述べたごとく、
非単結晶シリコン薄膜によるTFTは、トラップ密度が高いため、単結晶シリコ
ンMOSFETに比してオン電流が小さくオフ電流が大きい特性を有する。第5
図に、ゲート長、ゲート幅、及びソース・ドレイン電圧VDSを同一として測定し
た単結晶シリコンMOSFETの特性140とシリコン薄膜によるTFTの特性
141とを比較して示す。同図で、横軸はソースを基準としたゲートの電圧VGS
、縦軸はソース・ドレイン間電流IDsの相対値である。同図からわかる様にTF
Tはオン・オフ比が低いため、第1図における画素マトリクス用TFT29とド
ライバー回路12及び21を構成するTFTのそれぞれを最適な素子寸法に形成
しなくてはならない。例えば、NTSC信号を表示することを意図した場合、画
素マトリクス用TFTは、使用温度範囲内において次式を満足しなくてはならな
い。 ここで、C1は一画素の全画素容量、RON 1、ROFF1はそれぞれTFTのオン抵
抗、オフ抵抗である。式(1)は任意の画素における保持条件であり、これが満
足されれば書き込まれた電荷の90%以上が1フィールドに亘って保持される。
また、式(2)は任意の画素における書き込み条件であり、これが満足されれば
所望の表示信号の99%以上が画素に書き込まれる。一方、ドライバー回路を構
成するTFTは、使用温度範囲内において次式を満足しなくてはならない。 ここで、C2、C3はそれぞれ図2(a)における節点142、143に付加する
容量、RON 2、RON 3はクロックドインバータ43、インバータ41の出力抵抗
、fはシフトレジスタのクロック周波数、kは定数である。(kの値は、経験的
に言って、1.0〜2.0程度である。)出願人の実測及びシミュレーションに
よると、例えばクロック周波数f=2MHz程度のシフトレジスタを実現するた
めには、ドライバー回路を形成するTFTのRON 2及びRON 3は画素TFTの RON 1の1/10以下でなくてはならない。この様な低出力抵抗を実現するため
、本発明は、耐圧が許す限度内においてドライバー回路を構成するTFTのゲー
ト長を極力短かく形成する。また、第1図におけるサンプルホールド回路17、
18、19を形成するTFTは、シフトレジスタ13を形成するTFTよりも低
耐圧でよいため該シフトレジスタ13を形成するTFTよりもゲート長を更に短
かく形成する。第6図にゲート長Lの定義を、第2表に本発明に採用する各部の
TFTのゲート長の一例を示す。第6図において、142はゲート電極、143
はチャネル領域を形成するシリコン薄膜であり、144がゲート長を145がゲ
ート幅を示す。 P形TFT及びN形TFTの電流供給能力を高めるため、チャネル領域を形成
するシリコン薄膜の膜厚が該シリコン薄膜表面に広がり得る空乏層の幅の最大値
より小さくなる様にTFTを構成するという手段を供用すれば更に効果的である
。シリコン薄膜によるP形TFTにおける空乏層幅の最大値XP max、N形TF
Tにおける空乏層幅の最大値XN maxは、それぞれ次式で与えられる。 XP max=(2ε・2φfP1/2・(q・ND-1/2 ・・・・(4) XN max=(2ε・2φFN1/2・(q・NA-1/2 ・・・・(5) ここで、qは単位電荷量、εはシリコン薄膜の誘電率、φfP、φfNはそれぞれP
形、N形TFTのフェルミエネルギー、ND、NAはそれぞれチャネル領域にお ける等価的なドナー密度、アクセプタ密度である。尚、等価的なドナー密度及び
アクセプタ密度は、当該領域に存在するドナー及びアクセプタ不純物の密度とド
ナー及びアクセプタとして働くトラップ密度とから決められる。本発明では、P
形及びN形TFTにおけるチャネル領域のシリコン薄膜の厚さを前記XP max
びXN maxのいずれの値よりも小さく構成する。第7図に、空乏層が形成された
TFTの断面構造を示す。同図において、146は絶縁基板、147はチャネル
領域を成すシリコン薄膜、148、149はソース・ドレイン領域を示すシリコ
ン薄膜、150はゲート絶縁膜、151はゲート電極であり、tsi、Xは、それ
ぞれ、シリコン薄膜の膜厚、シリコン薄膜表面に形成された空乏層の幅を示して
いる。 以上に述べたそれぞれの手段、即ち、 (1)ドライバー回路の回路形式を相補形TFTによるスタティック形のものと
すること。 (2)相補形TFT集積回路の製造方法及び構造に工夫を加えること。 (3)P形及びN形TFTの特性を揃えること。 (4)TFTの負荷駆動能力を高めること。 によって、アクティブマトリクスパネルにドライバー回路を内蔵するための基本
となる技術が確立される。 次に、上述の基本技術の上に立って、本発明を更に有効なものとするためのい
くつかの手段について説明する。 まず、一番目に、本発明で使用する、アクティブマトリクスパネル内のパター
ンレイアウト上の工夫について述べる。第8図は、各機能ブロックのレイアウト
を説明するための、アクティブマトリクスパネルの平面図である。画像が正像と
して形成される様にアクティブマトリクスパネル160を見て、天及び(又は)
地の方向の周辺部にソース線ドライバー回路161(162)を形成し、該ソー
ス線ドライバー回路内で周辺から中心に向かって順にシフトレジスタ163、バ
ッファー164、ビデオ信号バス165、サンプルホールド回路166を配置す
る。また、左及び(又は)右方向の周辺部にはゲート線ドライバー回路167(
170)を形成し、該ゲート線ドライバー内で周辺から中心向かって順にシフ トレジスタ168、バッファー169を配置する。前記ソース線ドライバー回路
161(612)及びゲート線ドライバー回路167(170)に接する様にア
クティブマトリクスパネル160の中心部に画素マトリクス171を形成し、コ
ーナ部には入出力端子172、173、174、175を配置する。信号の伝送
は矢印176〜180の方向に行なわれる。以上の様に各機能ブロックをレイア
ウトすることによって、限られたスペースを最も有効に活用することが可能とな
る。 また、前記ソース線ドライバー回路及び(又は)ゲート線ドライバー回路内に
おいて、画素ピッチに等しい(又は画素ピッチの2倍の)限られたピッチ内にド
ライバー回路の単位セルを形成するために、第9図に示す様なパターンレイアウ
トを使用する。第9図において、181〜183は一画素分(又は2画素分)の
画素ピッチでありその長さはDである。第8図の様なレイアウトを採用しつつ、
Dを周期としてドライバー回路のセルを繰り返し配置すれば、より一層有効なス
ペースの活用が可能となる。第9図は、ドライバー回路を構成する一部の薄膜層
のパターンレイアウト例を示すものである。同図において、184、185はそ
れぞれ正電源用配線、負電源用配線、186〜191はP形TFTのソース・ド
レイン及びチャネル部を成すシリコン薄膜、192〜195はN形TFTのソー
ス・ドレイン及びチャネル部を成すシリコン薄膜であり、破線で囲まれた領域1
96、197、198にドライバー回路の単位セルが形成される。各TFTの素
子分離は、同極性、異極性にかかわらず、シリコン薄膜を島状にエッチングする
ことによって成されるため、例えば、N形TFT用シリコン薄膜の島192とP
形TFT用シリコン薄膜の島187との距離aと、P形TFT用シリコン薄膜の
二つの島187と188との距離bとを略等しくすることが可能となる。本発明
は、この性質を積極的に利用し、P形TFT用の島とN形TFTの島とを互いち
がいに配置することによって、単位セルが繰り返される方向の集積度を高めてい
る。 本発明は、更に集積度を高めるために、次の様な手段を併用する。第10図(
a)、(b)は、正電源用配線199と負電源用配線200との間に相補形TF
Tによるインバータを形成する例である。同図において、201、202はソ ース部のコンタクト形成用のスルーホール、203はゲート電極である。まず、
第10図(a)の様に、208を境界として一つのシリコン薄膜の島にP形領域
204とN形領域205とを設ける。次に、第10図(b)の様に、スルーホー
ル206によってドレイン部のコンタクトを形成し、配線207によってインバ
ータの出力を取り出す。 本発明を更に有効にする工夫の二番目は、ソース線ドライバー回路におけるク
ロックノイズの低減に関するものである。第1図に示される様に、ソース線ドラ
イバー回路12はビデオ信号バス14〜16と、シフトレジスタ13を駆動する 備えている。ここで、あるビデオ信号バスとCL配線との間に形成される浮遊容 あれば、該ビデオ信号にクロック信号に同期したスパイク状のノイズが重畳され
る結果、アクティブマトリクスパネルの画面にライン状の表示ムラが生ずる。本 ることによって上述のクロックノイズを低減させる。第11図(a)はソース線
ドライバー回路を示しており、210〜213はシフトレジスタの単位セル、2
14、215はサンプルホールド回路、216は画素マトリクス、217はビデの略中央においてツイストされている。この様にすることによって、CL配線及 が略等しくなり、その結果、CL配線とビデオ信号バスとの間に付加する浮遊容 様に、一方の立ち上がりタイミングと他方の立ち下がりタイミングが略一致する
。以上の結果として、ビデオ信号に重畳されるクロックノイズは大幅に軽減され
も差し支えない。 本発明を更に有効にする工夫の三番目は、サンプルホールド回路に対して直列
に付加される抵抗の均一化に関するものである。第12図に、第1図の一部を示 す。第12図において、230はソース線ドライバー回路に含まれるシフトレジ
スタ、231〜233はビデオ信号バス、234〜236はサンプルホールド回
路、240は画素マトリクスである。3本のビデオ信号バス231〜233には
、例えば3原色赤(R)、緑(G)、青(B)に相当する画像信号が伝送され、
それらの組み合せは1水平走査毎に変えられる。該3本のビデオ信号バスには、
低抵抗が要求されるため、配線材料としてアルミ等の金属層が使用される。一方
、経済的観点からみて最も有効と考えられる第3図(a)、(b)の構造を採用
する場合、前記ビデオ信号バスからサンプルホールド回路に至るまでの配線23
7〜239の材料にはゲート電極と同一の材料、例えば多結晶シリコン薄膜等が
使用される。この場合、多結晶シリコン薄膜のシート抵抗が金属層に比してかな
り高いことと、単に直線で接続すれば配線237、238、239の長さが等し
くならないこととのために、該配線237〜239の抵抗が等しくならず、この
配線抵抗の差がライン状の表示ムラを生ぜしめる。そこで、本発明は、前記配線
237、238、239の抵抗がすべて等しくなる様に配線パターンを工夫する
。具体的には、配線幅Wを一定とし配線長Lを等しくする、又は、配線237〜
239のそれぞれについてWを変える等である。 本発明を更に有効にする工夫の四番目は、TFTによるドライバー回路の動作
速度の遅さを補う駆動方法に関するものである。第5図に示される様にTFTの
性能は単結晶シリコンMOSFETの性能に比して劣るため、TFTよるシフト
レジスタの動作速度はアクティブマトリクスパネルを駆動するのに十分とは言え
ない。この動作速度の遅さを補うため、本発明は第13図(a)に例示する回路
構造と同図(b)に例示する駆動方法を用いる。第13図(a)において、25
0はソース線ドライバー回路に含まれる第1のシフトレジスタであり、スタート ・・・を出力する。また、251はソース線駆動回路に含まれる第2のシフトレ 出力信号253、255、・・を出力する。265はビデオ信号Vが与えられる
ビデオ信号バス、256〜259はサンプルホールド回路、261〜264はソ
ース線、260は画素マトリクスである。前記ソース線ドライバー回路に入力さ タ250、251より出力される信号252〜255を第13図(b)に示す。
第13図(a)のソース線ドライバー回路は2系列のシフトレジスタ250、2
51を具備しており、シフトレジスタ250、251は、それぞれ略90°位相 る。ソース線ドライバー回路がN系列のシフトレジスタを具備する場合、各シフ
トレジスタは略180°/Nだけ位相のずれたN系統のクロックとその反転クロ
ックで駆動される。CL×1及びCL×2の周波数をfとすれば、出力信号25
2〜255は1/4fの時間間隔で順次出力され、それぞれのエッジ266〜2
69でビデオ信号Vをサンプリングし、ソース線261〜264にホールドする
。この結果、周波数fのクロックで駆動されるシフトレジスタを用いて周波数4
fのサンプリングを実現することが可能となり、TFTによるシフトレジスタの
動作速度の遅さを補う有効な手段となる。前記ソース線ドライバー回路がN系列
のシフトレジスタを具備する場合、周波数fのクロックで駆動されるシフトレジ
スタを用いて、周波数2Nfのサンプリングを実現することが可能である。 本発明を更に有効にする工夫の五番目は、ソース線及びゲート線ドライバー回
路の各出力にテスト手段を設けることである。第14図に具体例を示す。同図に
おいて、280はソース線ドライバー回路に含まれるシフトレジスタ、281は
ビデオ信号バス端子、282はサンプルホールド回路、283はソース線ドライ
バーテスト回路、284、285はそれぞれテスト回路283の制御端子、テス
ト信号出力端子、286はソース線である。すべてのソース線に283の様なテ
スト回路が付加される。また、287はゲート線ドライバー回路に含まれるシフ
トレジスタ、288はゲート線ドライバーテスト回路、289、290はそれぞ
れテスト信号入力端子、テスト信号出力端子、291はゲート線、292は画素
マトリクスである。すべてのゲート線に288の様なテスト回路が付加される。
前記テスト回路は以下の様に動作する。ソース線ドライバー回路のテスト動作中
、端子284の制御によりテスト回路283をオンさせておく。この状態で、ビ
デオ信号バス端子281に所定のテスト信号を入力したうえで、シフトレジスタ
280を走査する。このとき、テスト出力端子285に規格内の信号が時系列で
出 力されれば該ソース線ドライバー回路は「良」と判定され、そうでなければ「不
良」と判定される。ゲート線ドライバー回路のテスト時、端子289に所定のテ
スト信号を入力した状態でシフトレジスタ287を走査する。このとき、テスト
出力端子290に規格内の信号が時系列で出力されれば該ゲート線ドライバー回
路は「良」と判定され、そうでなければ「不良」と判定される。以上の様にする
ことによって、従来テストパターンを表示したうえで目視にて行っていたアクテ
ィブマトリクスパネルの検査を、電気的にしかも自動で実施することが可能とな
る。 本発明を更に有効にする工夫の六番目は、製造プロセスを追加すること無しに
、画素内に保持容量を作り込むことである。第15図(a)、(b)に本発明の
画素構造の具体例を示す。同図(a)は等価回路、同図(b)は断面構造である
。同図(a)において、300、301はそれぞれソース線、ゲート線、302
は画素TFT、303は液晶セル、304は対向電極端子であり、305が本発
明の特徴を成す金属酸化膜半導体キャパシタ(以下、MOSキャパシタと略記す
る。)、306が該MOSキャパシタ305のゲート電極である。また、同図(
b)において、310及び324は透明な絶縁基板、311〜315はシリコン
薄膜層、316、317はゲート絶縁膜、318、319はゲート電極、320
は層間絶縁膜、321はソース線を成す配線層、322は画素電極を成す透明導
電膜層、323は透明導電膜層を含む対向電極、325は液晶である。326で
示した部分に前記画素TFT302が形成され、領域311、313がソース・
ドレイン部を、領域312がチャネル部を成す。327で示した部分には前記M
OSキャパシタ305が形成され、領域313、315がソース・ドレイン部を
、領域314がチャネル部を成す。第15図(b)から明らかな様に、MOSキ
ャパシタ305は画素TFT302と全く同一な断面構造を有し、従って、MO
Sキャパシタ305を形成するために特別な製造プロセスを追加する必要は無い
。ただし、MOSキャパシタ305を保持容量として使用するためには、領域3
14にチャネル即ち反転層が形成された状態を保つ必要がある。この状態を保つ
ために、前記MOSキャパシタ305のゲート電極306には該MOSキャパシ
タがオンする様な所定の電位を与えておく。所定の電位とは、例えば、MOSキ
ャパシタが N形の場合には正電源電位、P形の場合には負電源電位が適切である。ゲート絶
縁膜は通常非常に薄く形成されるため、以上の様にゲート絶縁膜を用いて保持キ
ャパシタを構成することによって、従来の様な層間絶縁膜を用いたものに比較し
て、単位面積当り5〜10倍の保持容量を得ることが可能となり、保持容量を形
成するための面積を節約する上で大変有効である。このため、アクティブマトリ
クスパネルの開口率を極めて高くすることが可能となる。 本発明を更に有効にする工夫の最後は、ドライバー回路を内蔵したアクティブ
マトリクスパネルの実装に関するものである。第16図(a)、(b)にその具
体例を示す。同図(a)は断面構造を示す図であり、330はTFTによる画素
マトリクスとドライバー回路とが形成された透明基板、331は対向電極が形成
された透明基板、334はシール材、333は封入された液晶、335は実装基
板、340は実装基板335の開口部、338は金、アルミ等の金属によるワイ
ヤ、339は保護部材である。実装基板335において、透明基板330が配置
される部分に凹部336を設けることは、ワイヤ338による接続強度を確保す
るうえで大変有効である。また、実装基板の一部又は全部に遮光部材337を設
け、透明基板331又は透明基板330に画素マトリクス部の周囲を取り囲む様
な形状に帯状に遮光部材332を設けることは、アクティブマトリクスパネルの
表示装置としての外観を改善する意味で大変有効である。第16図(b)は、同
図(a)のアクティブマトリクスパネル及びその実装構造を平面図にて示したも
のである。341は画素マトリクス部を示し、点線342は実装基板335の開
口部を示す。以上の様にすることによって、次の効果が生ずる。第一に、金属ワ
イヤ338に加わる応力が均等となるため、接続強度が向上する。第二に、本発
明のアクティブマトリクスパネルを透過形表示装置として用い背面に光源を設置
する場合、上述の本発明の構造に依れば、画素マトリクス部の周辺から不要な光
が洩れることが防止され、表示装置としての外観が向上する。 実施例の最後として、本発明の応用例を二つ挙げて説明する。 応用例の一つは、本発明のアクティブマトリクスパネルを用いて構成される、
ビデオカメラ等の電子ビューファインダー(Electric View Fi
nder;以下、EVFと略記する)である。前述した様な多くの工夫を施すこ とによって、画素マトリクスの周辺に相補形TFTによるドライバー回路を集積
化する技術が確立され、小形、高精細、低消費電力でありかつ信頼性の高いアク
ティブマトリクスパネルを安価に得られるようになった結果、第17図に例示す
る様な構造のEVFが実現可能となっている。第17図において、350は撮像
装置、352は記録装置、351はビデオ信号処理回路で端子362には複合映
像信号が得られる。353がEVFであり、該EVF353はクロマ回路、同期
制御回路、液晶パネル駆動信号形成回路、電源回路、バックライト駆動回路を含
む駆動回路部354と、バックライト用光源356と、反射板355と、拡散板
357と、偏光板358及び360と、本発明のアクティブマトリクスパネル3
59と、レンズ361を具備して成る。以上の様にすることによって、従来のC
RT(Cathode Ray Tube)を用いたEVFになかった次の様な
効果がもたらされる。 (1)カラーフィルターを備えたアクティブマトリクスパネルを使用することに
よって、画素ピッチが50μm以下の極めて高精細なカラーEVFが実現される
。しかも低消費電力化も促進される。 (2)極めて小形・省スペースでしかも極めて軽量なEVFが実現される。 (3)EVFの形状の自由度が増大し、例えばフラットEVFの様な斬新な意匠
が可能になる。 もう一つの応用例は、本発明のアクティブマトリクスパネルを液晶ライトバル
ブとして使用した投写形カラー表示装置である。 第18図は、該投写型カラー表示装置の平面図である。ハロゲンランプ等の投
写光源370から発した白色光は、放物ミラー371により集光され、熱線カッ
トフィルター372により赤外域の熱線がカットされ、可視光のみがダイクロイ
ックミラー系に入射する。まず、青色反射ダイクロイックミラー373により、
青色光(おおむね500〔nm〕以下の波長の光)を反射し、その他の光(黄色
光)を透過する。反射した青色光は、反射ミラー374により方向を変え、青色
変調液晶ライトバルブ378に入射する。 青色反射ダイクロイックミラー373を透過した光は、緑色反射ダイクロイッ
クミラー375に入射し、緑色光(おおむね500〔nm〕から600〔nm〕 の間の波長の光)を反射し、その他の光である赤色光(おおむね600〔nm〕
以上の波長の光)を透過する。反射した緑色光は、緑色変調液晶ライトバルブ3
79に入射する。 緑色反射ダイクロイックミラー375を透過した赤色光は、反射ミラー376
、377により方向を変え、赤色変調液晶バルブ380に入射する。 青色光、緑色光、赤色光は、それぞれ、青、緑、赤の原色信号で駆動された、
本発明のアクティブマトリクスパネルによる液晶ライトバルブ378、379、
380によって変調された後、ダイクロイックプリズム383によって合成され
る。ダイクロイックプリズム383は、青反射面381と赤反射面382とが互
いに直交するように構成されている。こうして合成されたカラー画像は、投写レ
ンズ384によってスクリリーン上に拡大投写され表示される。以上の様にする
ことによって、従来のCRTによる投写管を用いた投写形カラー表示装置に無か
った次の様な効果がもたらされる。 (1)液晶ライトバルブを、CRTに比してはるかに小形かつ高精細に形成する
ことが出来るため前記投写レンズ384に口径の小さいものを使用することが許
される。このため、投写形カラー表示装置の小形化、軽量化、低コスト化が実現
される。 (2)本発明のアクティブマトリクスパネルは高い開口率を有するため、小口径
の投射レンズを用いても明るい表示を得ることが出来る。 (3)CRTによる投写管と異なり、前記ダイクロイックミラー及びダイクロイ
ックプリズムによって、赤、緑、青それぞれのライトバルブの光軸を完全に一致
させ得るため、三色のレジストレーションが大変良好となる。 以上で本発明の実施例の説明を終える。 前述の〔課題を解決するための手段〕並びに〔実施例〕に対応させて本発明の
効果を説明する。 まず、本発明を有効なものとする四つの基本技術がもたらす効果について説明
する。 第一に、画素マトリクス部と同一の透明基板上に相補形TFTによるゲート線
乃至ソース線のドライバー回路を集積化することによって以下の効果がもたらさ れる。 (1)外付けドライバー集積回路を実装する際の接続ピッチによって、パネルの
精細度が制限されることが無くなる。この結果、本発明を用いることによって、
50μm以下の画素ピッチを有する液晶パネルが実現可能となる。 (2)パネルを実装する実装基板の外形寸法が大幅に小形化され、本発明の液晶
パネルを用いた表示装置の小形・薄形・軽量化が促進される。 (3)ドライバー集積回路を外付けする工程が不要となるため、本発明の液晶パ
ネルを用いた表示装置の低コスト化が促進される。 (4)ドライバー集積回路の外付けが不要となるため、本発明の液晶パネルを用
いた表示装置の信頼性が向上する。 (5)相補形TFTによってドライバー回路を形成することによって、液晶パネ
ルが本来持っている低電力性との相乗効果が発揮され、表示装置全体の低電力化
が実現される。これは、ビデオカメラのEVFや携帯形画像モニターへの応用を
可能とするための重要な要素である。 第二に、相補形TFTを用い、尚且つ、シフトレジスタをスタティック形の回
路構成とすることによって、低電力化のみならず動作電圧範囲及び動作周波数範
囲を広げる効果をもたらす。TFTは第5図に示される様なオフ電流の高い特性
を有し、更に、オフ電流の温度特性も大きい。この様なTFTの欠点はシフトレ
ジスタをスタティック形構成とすることによって補われ、動作電圧範囲及び動作
周波数範囲が拡大される。 第三に、相補形TFTの構造において、第1の極性のTFTのソース・ドレイ
ン領域に第1の極性の不純物を含み、第2の極性のTFTのソース・ドレイン領
域に第1の極性の不純物とそれより高濃度の第2の極性の不純物を含む構造を採
用することによって、従来の片極性のTFTの製造工程に単に1回のホト工程を
追加することによって、安価に、画素マトリクスを含む相補形TFT集積回路が
得られる。更に、特性の揃ったP形並びにN形TFTが得られる。 第四に、ドライバー回路を構成するTFTのゲート長を画素マトリクスを構成
するTFTのそれよりも短かく形成することによって、ドライバー回路の動作速
度を向上させ、尚且つ、各画素における書込み、保持動作を最適状態に保つこと が可能となる。 次に、本発明を更に有効なものとする七つの手段がもたらす効果について説明
する。 第一に、各機能ブロックのパターンレイアウトを、第8図、第9図、第10図
(a)、(b)の様にすることによって、特にドライバー回路部の集積度が高め
られ、画素ピッチという限定されたピッチ内にドライバー回路の単位セルを作り
込むことが可能になる。 第二に、ソース線ドライバー回路のクロック配線を第11図(a)の様に配置
することによって、ビデオ信号に混入するクロックノイズを除去し、画面に生ず
るライン状の表示ムラを視認不可能なレベルに抑圧することが可能となる。 第三に、第12図に示すサンプルホールド回路に接続される抵抗を全ソース線
に亘って均一化することによって、全ソース線への表示信号の書き込みレベルを
完全に均一にすることが可能となり、ライン状の表示ムラが除去される。 第四に、ソース線ドライバー回路を、第13図(a)の様に構成し、同図(b
)の様な方法で駆動することによって、周波数fのクロックで駆動されるN系列
のシフトレジスタを用いて周波数2Nfでビデオ信号をサンプリングすることが
可能となる。これによって、必ずしもオン電流の大きさが十分でないTFTを用
いて高精細なドライバー回路内蔵アクティブマトリクスパネルが実現される。 第五に、第14図の様にドライバー回路の各出力にテスト回路を設けることに
よって、従来テストパターンを表示した状態で目視にて行っていたアクティブマ
トリクスパネルの検査を、電気的にしかも自動で実施することが可能となる。 第六に、各画素に第15図(a)、(b)の様な構造の保持容量を作り込むこ
とによって、製造コストの上昇無しに、しかも、開口率をほとんど減少させるこ
と無しに、各画素における電荷の保持をより確実なものとすることが可能となる
。 第七に、実装構造を、第16図(a)、(b)の様なものとすることによって
、接続強度及び信頼性を向上させ得るのみならず、本発明のアクティブマトリク
スパネルにバックライト装置を併用して透過形表示装置を構成する場合に画素マ
トリクス部周辺から不要光が洩れることを防止出来る。 最後に、本発明を特定の表示システムに応用することによって得られる効果に ついて述べる。 第一に、本発明をビデオカメラのEVFに応用することによって、従来のCR
Tを用いたEVFに無かった以下の効果がもたらされる。 (1)カラーフィルターを備えたアクティブマトリクスパネルを使用することに
よって、画素ピッチが50μm以下の極めて高精細なカラーEVFが実現される
。しかも低消費電力化も促進される。 (2)極めて小形・省スペースでしかも極めて軽量なEVFが実現される。 (3)EVFの形状の自由度が増大し、例えばフラットEVFの様な斬新な意匠
が可能になる。 第二に、本発明を投写形カラー表示装置に応用することによって、従来のCR
Tを用いたものに無かった以下の効果がもたらされる。 (1)液晶ライトバルブを、CRTに比してはるかに小形かつ高精細に形成する
ことが出来るため投写レンズに口径の小さいものを使用することが許される。こ
のため、投写形カラー表示装置の小形化、軽量化、低コスト化が実現される。 (2)本発明のアクティブマトリクスパネルは高い開口率を有するため、小口径
の投写レンズを用いても明るい表示を得ることが出来る。 (3)CRTによる投写管と異なり、前記ダイクロイックミラー及びダイクロイ
ックプリズムによって赤、緑、青それぞれのライトバルブの光軸を完全に一致さ
せ得るため、三色のレジストレーションが大変良好となる。 〔発明の効果〕 (a)シフトレジスタを相補型の多結晶シリコン薄膜トランジスタにより構成す
ることにより、低消費電力駆動が可能となり、多結晶シリコン薄膜トランジスタ
であっても高性能なトランジスタを供給することができる。 (b)多結晶シリコン薄膜トランジスタは単結晶シリコントランジスタに比べて
、オフ時のリーク電流が大きいが、ドライバー回路を構成するシフトレジスタを
多結晶シリコン薄膜トランジスタによるスタティックシフトレジスタとすること
により、オフ時のリーク電流の影響を抑えて高速動作が可能となる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial applications]   The present invention relates to an active matrix panel formed using a thin film transistor.
About. [Conventional technology]   The conventional active matrix liquid crystal panel is described in the document
Pages 156 to 157, B / W and color LC video displays
Rest by Polysilicon Tefties ”(Morozumi et al.)
A pixel matrix using a film transistor is formed on a transparent substrate,
The gate line driver circuit and the source line driver circuit are made of M
As shown in FIG. 19, the active matrix panel is formed of an OS integrated circuit.
It was external. In FIG. 19, reference numeral 1 denotes an active matrix panel.
, The active matrix panel 1 has a pixel matrix 2. 3 is flexible
This is a shibble substrate on which the driver integrated circuit 4 of single crystal silicon is mounted.
You. Active matrix panel 1 and flexible substrate 3 are connected to pad 5
It is connected. The mounting substrate 6 electrically connects the driver integrated circuit 4 and an external circuit.
Not only connect, but also flexible substrate 3 and active matrix panel 1
It is mechanically held. [Problems to be solved by the invention]   The conventional active matrix panel has the following problems. (1) High definition was hindered   Conventionally, as shown in FIG.
The source line or the gate line of the channel 1 is connected at the pad 5 and the mounting technology
The pixel pitch is limited by the pad space that can be connected above. For this reason,
Mass-produces active matrix panels having a pixel pitch of 100 μm or less
This was very difficult and prevented high definition. (2) Miniaturization of the display device was hindered   A conventional active matrix panel as shown in FIG.
Since the integrated circuit was externally attached, the external dimensions of the mounting
About 4 to 5 times or more than that of the metal part 2. For this reason, the traditional active
The size of a display device using a matrix panel is a pixel matrix that contributes to display.
The size of the camera must be large for its area.
-This was a factor limiting the application to ultra-small monitors such as viewfinders. (3) Manufacturing cost was high   When manufacturing a display device, the active matrix panel 1 and the flexible substrate 3
Connecting the driver integrated circuit 4 and the flexible substrate 3
And a process of mounting the flexible substrate 3 and the mounting substrate 6 is required.
Had to be high. (4) Low reliability   Connection between active matrix panel 1 and flexible substrate 3, collection of drivers
There are many connection points such as connection between the integrated circuit 4 and the flexible substrate 3 and stress is applied to them. Connection strength is insufficient at the connection points, and the entire display device
The reliability was low. Or it took a lot of money to secure enough reliability
.   The present invention solves the above problems, and has high definition, compactness, and excellent reliability.
It is an object of the present invention to provide an inexpensive active matrix panel. In addition,
Ming's active matrix panel is used for video camera electronic viewfinders and mobile phones.
It is intended to be applied to a monitor of a belt-type VTR and the like. In addition, a projection display
It is also intended to be used as a light valve. [Means for solving the problem]   According to the present invention, in order to solve the above-described problem, liquid crystal is not sealed between a pair of substrates.
A plurality of gate lines and a plurality of source lines on one of the pair of substrates;
A polysilicon thin film transistor connected to the plurality of gate lines and source lines;
In an active matrix panel in which a pixel matrix having
A signal is supplied to each of the plurality of gate lines and source lines on the one substrate.
Forming at least one of a gate line driver circuit and a source line driver circuit
To form the gate line driver circuit or the source line driver circuit.
Shift register and buffer circuit, the shift register is a complementary type
With clocked inverter circuit composed of polycrystalline silicon thin film transistor
A static shift register, and the buffer
A plurality of gate lines or source lines based on a signal transmitted through a circuit.
A signal is supplied to the gate line driver circuit or the source line driver circuit.
The wiring layers connecting the polycrystalline silicon thin film transistors to be formed are provided with the plurality of silicon thin film transistors.
Aluminum or aluminum silicide made of the same layer as
And the gate line driver circuit or the source line driver circuit is a complementary type.
Polycrystalline silicon thin film transistor of the first conductivity type polycrystalline silicon thin film transistor
The island of the silicon thin film layer and the island of the polycrystalline silicon thin film layer of the second conductivity type thin film transistor
Has a layout staggered between the positive power supply wiring and the negative power supply wiring
It is characterized by the following.   Further, according to the present invention, a liquid crystal is sealed between a pair of substrates, and one of the pair of substrates is provided.
A plurality of gate lines and a plurality of source lines, and the plurality of gate lines and a A pixel matrix having a polycrystalline silicon thin film transistor connected to a ground line
In the active matrix panel arranged, the one substrate has the
Gate line driver circuit that supplies signals to each of a plurality of gate lines and source lines
And at least one of a source line and a source line driver circuit are formed.
A driver circuit or a shift register and a bus constituting the source line driver circuit;
In the buffer circuit, the shift register is a complementary polycrystalline silicon thin film transistor.
Stator having inverter circuit and transmission gate circuit comprising star
A static shift register, and the buffer
A plurality of gate lines or source lines based on a signal transmitted through a circuit.
A signal is supplied to the gate line driver circuit or the source line driver circuit.
The wiring layers connecting the polycrystalline silicon thin film transistors to be formed are provided with the plurality of silicon thin film transistors.
Aluminum or aluminum silicide made of the same layer as
And the gate line driver circuit or the source line driver circuit is a complementary type.
Polycrystalline silicon thin film transistor of the first conductivity type polycrystalline silicon thin film transistor
The island of the silicon thin film layer and the island of the polycrystalline silicon thin film layer of the second conductivity type thin film transistor
Has a layout staggered between the positive power supply wiring and the negative power supply wiring
It is characterized by the following. 〔Example〕   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.   FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. The figure shows a complementary metal oxide film made of silicon thin film.
Semiconductor Structure (Complementary Metal Oxide Semi)
abbreviated as CMOS structure. ) Source line driver
The circuit 12, the gate line driver circuit 21, and the pixel matrix 22 have the same transparency.
Block diagram showing structure of active matrix panel 11 formed on substrate
It is. The source line driver circuit 12 includes a shift register 13 and a thin film transistor
(Thin Film Transistor; hereinafter abbreviated as TFT).
Sample and hold circuits 17, 18, 19, and video signal buses 14, 15
, 16 and the gate line driver circuit 21 includes a shift register 20 and a buffer.
-23. Further, the pixel matrix 22 includes the source line driver circuit 12.
To A plurality of connected source lines 26, 27, 28 and a gate line driver circuit 21 are connected.
A plurality of gate lines 24 and 25 connected to each other and formed at intersections of source lines and gate lines.
A plurality of pixels 32 and 33 are included. The pixel includes a TFT 29 and a liquid crystal cell 30,
The liquid crystal cell 30 includes a pixel electrode, a counter electrode 31, and liquid crystal. In addition, the shift register
Other circuits having a function of sequentially selecting a source line and a gate line,
For example, a counter and a decoder may be substituted. Source line driver
The input terminals 34, 35 and 36 of the circuit are connected to the clock signal CLX and the star, respectively.
Signal DX, video signal V1, VTwo, VThreeIs input to the gate line driver circuit.
Clock signals CLY and start signal DY are input to input terminals 37 and 38, respectively.
Is forced.   The shift register 13 and the shift register 20 shown in FIG.
Static or dynamic circuit with complementary TFT composed of FT, or
Can be configured as a dynamic or static circuit with a unipolar TFT
. Of these, considering the device performance of the TFT, the complementary TFT
Tick-type circuits are best. The reason is explained as follows. In general,
TFTs used for active matrix panels are made of polycrystalline or amorphous
Since it is formed of silicon thin film, metal oxide film semiconductor field effect by single crystal silicon
As compared with a transistor (hereinafter abbreviated as MOSFET), its on-current
Is small and its off-state current is large. The reason for this is that the traps
Carrier density is much higher than that in single crystal silicon
And recombination of carriers frequently in reverse-biased PN junctions
Depending on what happens. In view of the device characteristics of such TFTs,
Therefore, the present invention employs a static shift register using complementary TFTs.   (1) Since the TFT has a large off-state current, the dynamic
The operating circuit has a narrow operating voltage range, operating frequency range, and operating temperature range.   (2) Dry to take advantage of the low power consumption of active matrix liquid crystal panels
The bar circuit needs to be formed with a low power consumption CMOS structure.   (3) On-state current required compared to unipolar MOS dynamic shift register
The flow value can be small.   FIG. 2A shows an example of a circuit structure of the shift registers 13 and 20 in FIG.
In FIG. 2 (a), inverters 41 and 42 are connected to P as shown in FIG. 2 (b).
It comprises a TFT 47 and an N-type TFT 48. In addition, clocked inverter 43 and
And 46 are p-type TFTs 49 and 50 and n-type TFTs 51 and 5 as shown in FIG.
The clock signal CL is supplied to the gate of the N-type TFT 52 by the P-type TFT 49.
, The inverted clock signal CL is input to the gate. Similarly, a clocked inverter
44 and 45 are composed of P-type TFTs 53 and 54 and N-type TFTs 55 and 56,
The inverted clock signal CL is applied to the gate of the TFT 56 and the gate of the P-type TFT 53 is applied to the inverted clock signal CL.
The lock signal CL is input. In FIG. 2A, the clocked inverter 4
Instead of 3 and 46, an inverter 57 and N-type TFTs 58 and P shown in FIG.
Using a circuit composed of an analog switch composed of a TFT 59 and a clock
The inverters 60 and N-type T shown in FIG.
A circuit composed of an FT61 and an analog switch composed of a P-type TFT62 is used.
You can use it.   As described above, the driver circuit in the active matrix panel is
It is very useful to use a TFT having an OS structure. However, the prior art is simply T
Complementary TFT integrated circuits obtained by applying to FT have the following disadvantages.
Have. (1) The manufacturing method for integrating both a P-type TFT and an N-type TFT on the same substrate is complicated
And the manufacturing cost increases. (2) P with uniform characteristics, which is an important element for configuring a complementary TFT integrated circuit
It is difficult to form an N-type TFT and an N-type TFT. (3) P-type TFT and N-type TFT have sufficient driving capability to realize a driver circuit.
Not equipped.   In the present invention, the manufacturing method, the device structure, the device dimensions, the material, and the like are modified.
This overcomes the above problems. Hereinafter, they will be described step by step.   FIG. 3A shows the source line driver circuit 12 and the gate line driver shown in FIG.
FIG. 3 (b) shows an example of the sectional structure of the complementary TFT constituting the circuit 21 in FIG.
1 shows an example of a cross-sectional structure of a TFT and a pixel constituting a pixel matrix 22. Fig. 3 7A, reference numeral 71 denotes an insulating substrate such as a glass or quartz substrate, on which a P-type T
The FT99 and the N-type TFT 100 are formed. 73 and 76 are channel regions
Silicon thin films 72, 74, 75 and 77 serve as source regions or drain regions.
72, 74 are P-type doped with impurities, and 75, 7
7 is N-type doped with impurities. 78 and 79 are SiOTwo, Silicon Nitra
80, 81 are polycrystalline silicon, metal, metal silicide
A gate electrode made of SiO 2, etc .;Two83 is made of metal or the like.
Wiring layer 84 is SiOTwoThe reference numeral 85 denotes a passivation film. one
On the other hand, in FIG. 3B showing the cross-sectional structure of the pixel matrix, reference numeral 86 denotes
) Is the same insulating substrate as 71, on which the pixel TFT 101 and the ITO (indium
And a pixel electrode 94 made of a transparent conductive film such as um-tin-oxide.
ing. 87, 88 and 89 are 72, 73, 74, 75, 76 and 7 in FIG.
7 is formed of the same silicon thin film layer, 88 is a channel region, 87 and 8
Reference numeral 9 denotes a source region or a drain region. Regions 87 and 89 are not P-type or N-type.
It is purely doped, and the configuration of impurities contained in those regions is the regions 72 and 7.
4 or the configuration of the impurities contained in the regions 75 and 77. 90 is 78, 7
9, a gate insulating film made of the same layer as that of the gate insulating film 91;
Electrode 92, an interlayer insulating film made of the same layer as 82, 93 is made of the same layer as 83
95, an insulating film consisting of the same layer as 84; 96, a liquid crystal; 97, a transparent conductive film;
The counter electrode 98 including the electromembrane layer is a transparent substrate. Here, the driver circuit is configured
The TFTs 99 and 100 and the pixel TFT 101 are formed in a source / drain region and a channel.
The tunnel region, gate insulating film, gate electrode, and interlayer insulating film are each formed of the same thin film layer.
Has been established. In addition, source line driver circuits and gate line driver circuits
The connection between the TFTs is made of a metal such as aluminum which has a low sheet resistance.
The source line in the pixel matrix is formed of the same layer as the layer 83.
Only the pixel electrode 94 is formed of a transparent conductive film layer of ITO or the like.
Is done. The wiring layer (93) is made of aluminum or aluminum silicide,
When the conductive film layer (94) is formed of ITO, an interlayer insulating film is formed between the two layers.
If the structure is not provided, the through holes (102, 103) opened in the same process
) Between the two different layers (93, 94) and the silicon thin film layers (87, 89).
It can be used for connection, and the manufacturing process is simplified. Where aluminum
Aluminum and ITO are processed with different etchants, and ITO is aluminum
Taking advantage of the property that it is not immersed in the etching solution of
A film is formed and a pattern is formed in the previous step. In FIG. 3B, the insulating film 95 is made of a liquid.
A capacitor for preventing DC voltage from being applied to the crystal 96.
It must be sufficiently large compared to the value of the elementary capacitance, so that its film thickness is constant (eg,
(For example, about 3000 °). Meanwhile, to ensure moisture resistance
As shown in FIG. 3 (a), the driver circuit is set to a certain value (for example, about 1 μm) or more.
It is necessary to cover with a passivation film 85 having a thickness of Passivation film 8
No. 5 is formed by forming a film on the entire surface of the active matrix substrate and then removing it while leaving the driver portion.
The most effective method is to form the passivation film.
85 is a material processed with an etchant that does not immerse the insulating films 84 and 95, for example,
It is composed of polyimide or the like.   The manufacturing method of the present invention and the structural features of the complementary TFT obtained thereby.
Will be described below. Fabrication of CMOS integrated circuit using conventional single crystal silicon
According to the method, as compared with the manufacturing process of an integrated circuit using one polarity, for example, an N-type MOSFET.
At least four photo steps (low concentration P well formation step, P type stopper layer formation step, P
MOSFET source / drain formation process, N-type MOSFET source / drain
An additional step is required. On the other hand, according to the present invention, a unipolar TFT
By adding at least one photo process compared to the manufacturing process of the integrated circuit, the complementary T
An FT integrated circuit is realized.   4 (a) to 4 (d) show the manufacturing process of the active matrix panel of the present invention.
An example of the main part is shown. First, as shown in FIG.
After depositing a capacitor thin film, a desired pattern is formed and the channel region of the P-type TFT is formed.
A region 111 and channel regions 112 and 113 of the N-type TFT are formed. Then heat
The gate insulating films 114, 115, and 116 are formed by an oxidation method or a vapor deposition method, and
Then, gate electrodes 117, 118, and 119 are formed. Next, as shown in FIG.
Implant acceptor impurities 120 such as boron over the entire surface using ion implantation No. The implanted acceptor impurities are activated by a subsequent heat treatment and become acceptors.
A P-type semiconductor is formed. Thereby, the source / drain region 121 of the P-type TFT is formed.
, 122 are formed. At this time, it should be the source / drain region of the N-type TFT
Acceptors are also added to the regions 123, 124, 125, 126. Next, the fourth
As shown in FIG. 3C, a P-type TFT is covered with a mask material such as a photoresist 128, for example.
Then, a donor impurity 127 such as phosphorus or arsenic is removed from the acceptor impurity 120.
Drive in high concentration. The implanted donor impurities are activated by a subsequent heat treatment to form a donor impurity.
Becomes If the dose of the ion-implanted acceptor impurity is 1 × 1
015cm-2The donor impurity dose is 3 × 1015cm-2If so, the area 123
, 124, 125 and 126 have a dose of 2 × 1015cm-2Only donors corresponding to
It is almost equivalent to being included. Thus, the source / drain region 123 of the N-type TFT is obtained.
, 124, 125, 126 are formed. Next, as shown in FIG.
After removing the mask material 128, an interlayer insulating film 129 is deposited, and a through hole is opened.
The pixel electrode 131 is formed of a transparent conductive film, and the wiring 130 is formed of metal or the like.
You. As described above, the P-type TFT 132, the N-type TFT 133, and the pixel
An N-type TFT 134 forming a pixel TFT in the ris part is completed. The pixel matrix
Of course, it is also possible to form the TFT of the portion in a P-shape. Obtained in this way
In a TFT, a P-type TFT contains an acceptor impurity in a source / drain region.
, N-type TFTs have an acceptor impurity in the source / drain region and the acceptor impurity.
Contains a higher concentration of donor impurities.   In the above manufacturing process, the acceptor impurity 120 shown in FIG.
In the object 120, the donor impurity 127 of FIG.
2D, the N-type TFT 132 and the P-type TFTs 133, 1
34 is obtained. The N-type TFT thus obtained is doped in the source / drain regions.
P-type TFTs include donor impurities and the donor impurities in the source / drain regions.
-Contains a higher concentration of acceptor impurities than impurities.   According to the above-described manufacturing method, the manufacturing process of the unipolar TFT integrated circuit is performed as shown in FIG.
By adding only one photo step required for forming the mask pattern 128 of c),
A complementary TFT integrated circuit is formed. This allows the driver circuit to be built in. An active matrix panel can be realized. From an economic point of view,
Of course, the method is best, but acceptor impurities and donor impurities
Adopting a method of forming a mask pattern in each step of ion implantation
No problem. In addition, the complementary TFT integrated circuit manufactured by the method described above
Each TFT is isolated on an insulating substrate in the form of an island.
No process is required. Furthermore, unlike integrated circuits using single crystal silicon, parasitic MOS
No FET occurs, and there is no need to form a channel stopper.   Next, a P-type TFT and an N-type TFT having the same characteristics necessary for forming a complementary integrated circuit are described.
The means for realizing the TFT will be described. Conventionally, using II-VI group compound semiconductor
TFTs have been known for a long time. However, for two reasons: (1) In compound semiconductors, it is the fact that both P-type and N-type conductivity types are controlled and realized.
It is impossible. (2) It is extremely difficult to control the interface between the compound semiconductor and the insulating film, and the MOS structure
Not realized. Therefore, a complementary TFT cannot be realized using a compound semiconductor. Follow
In the present invention, the source / drain region and the channel region are formed by a silicon thin film.
I do. Among the silicon thin films, amorphous silicon thin film and polycrystalline silicon thin film
Table 1 shows the carrier mobilities for each conduction type. From the table, the TFT
The characteristics of both the P-type and N-type are easy to match, and the current supply capability of the TFT is large.
In order to realize a complementary TFT integrated circuit, it is necessary to use polycrystalline silicon thin film.
It can be said that the membrane is optimal.   Next, supply of current to TFTs, especially P-type and N-type TFTs constituting a driver circuit
The means employed by the present invention to enhance performance will be described. As mentioned earlier,
TFTs with non-single-crystal silicon thin films have a high trap density,
It has the characteristic that the ON current is small and the OFF current is large as compared with the MOSFET. Fifth
The figure shows the gate length, gate width, and source / drain voltage VDSAre measured as the same
140 of a single crystal silicon MOSFET and characteristics of a TFT using a silicon thin film
141 is shown. In the figure, the horizontal axis represents the gate voltage V with respect to the source.GS
The vertical axis represents the source-drain current IDsIs the relative value of As can be seen from the figure, TF
Since T has a low on / off ratio, it is connected to the pixel matrix TFT 29 in FIG.
Each of the TFTs constituting the driver circuits 12 and 21 is formed to an optimum element size.
I have to do it. For example, if you intend to display NTSC signals,
The element matrix TFT must satisfy the following equation within the operating temperature range.
No. Where C1Is the total pixel capacity of one pixel, RON 1, ROFF1Is the on-resistance of each TFT
Anti-off resistance. Equation (1) is a holding condition for an arbitrary pixel.
If added, 90% or more of the written charge is held over one field.
Expression (2) is a writing condition for an arbitrary pixel. If this condition is satisfied,
99% or more of the desired display signal is written to the pixel. On the other hand, the driver circuit
The TFT to be formed must satisfy the following expression within the operating temperature range. Where CTwo, CThreeAre added to nodes 142 and 143 in FIG.
Capacity, RON 2, RON 3Is the output resistance of the clocked inverter 43 and the inverter 41
, F is the clock frequency of the shift register, and k is a constant. (The value of k is empirical
In other words, it is about 1.0 to 2.0. ) For actual measurement and simulation of applicant
According to this, for example, a shift register having a clock frequency f of about 2 MHz is realized.
In order to achieve this, the RON 2And RON 3Is the pixel TFT RON 1Must be 1/10 or less. To realize such low output resistance
In addition, the present invention relates to a TFT gate forming a driver circuit within a limit allowed by a withstand voltage.
G is formed as short as possible. Further, the sample and hold circuit 17 in FIG.
The TFTs forming 18 and 19 are lower than the TFTs forming the shift register 13.
Since the withstand voltage is sufficient, the gate length is shorter than that of the TFT forming the shift register 13.
It forms in this way. FIG. 6 shows the definition of the gate length L, and Table 2 shows each of the components employed in the present invention.
An example of the gate length of a TFT is shown. In FIG. 6, reference numeral 142 denotes a gate electrode;
Is a silicon thin film forming a channel region, 144 is a gate length, and 145 is a gate thin film.
Indicates the port width.   Form a channel region to increase current supply capability of P-type TFT and N-type TFT
Value of the width of the depletion layer in which the thickness of the silicon thin film to be spread can spread on the surface of the silicon thin film
It is more effective to use a means of configuring the TFT so as to be smaller.
. Maximum value X of depletion layer width in P-type TFT using silicon thin filmP max, N type TF
The maximum value X of the depletion layer width at TN maxAre given by the following equations, respectively. XP max= (2ε · 2φfP)1/2・ (Q ・ ND)-1/2        ... (4) XN max= (2ε · 2φFN)1/2・ (Q ・ NA)-1/2        ... (5) Here, q is the unit charge, ε is the dielectric constant of the silicon thin film, φfP, ΦfNIs P
Energy of N-type and N-type TFTs, ND, NAAre in the channel area Donor density and acceptor density of the sample. The equivalent donor density and
The acceptor density is determined by the density of the donor and acceptor impurities present in the region.
And the trap density acting as a donor and an acceptor. In the present invention, P
The thickness of the silicon thin film in the channel region of the N-type and N-type TFTs is determined by XP maxPassing
And XN maxIt is configured to be smaller than any of the values. In FIG. 7, a depletion layer was formed.
1 shows a cross-sectional structure of a TFT. In the figure, 146 is an insulating substrate, and 147 is a channel.
The silicon thin films 148 and 149 are silicon which indicates source / drain regions.
150, a gate insulating film; 151, a gate electrode;si, X is it
Denote the thickness of the silicon thin film and the width of the depletion layer formed on the surface of the silicon thin film, respectively.
I have.   Each of the means described above, namely, (1) The circuit type of the driver circuit is different from that of the static type using complementary TFTs.
To do. (2) To devise a manufacturing method and a structure of a complementary TFT integrated circuit. (3) To make the characteristics of P-type and N-type TFT uniform. (4) To enhance the load driving capability of the TFT. To build driver circuits into active matrix panels
Is established.   Next, on the basis of the basic technology described above, it is necessary to make the present invention more effective.
Some means will be described.   First, the pattern in the active matrix panel used in the present invention
Here are some ideas on layout. FIG. 8 shows the layout of each functional block.
FIG. 3 is a plan view of an active matrix panel for explaining the following. The image is a normal image
Look at the active matrix panel 160 as if it were formed
A source line driver circuit 161 (162) is formed in a peripheral portion in the direction of the ground, and
The shift register 163 and the bus are sequentially arranged from the periphery to the center in the line driver circuit.
Buffer 164, video signal bus 165, and sample and hold circuit 166.
You. Further, a gate line driver circuit 167 (around the left and / or right direction peripheral portion) is provided.
170), and are shifted in order from the periphery to the center in the gate line driver. The register 168 and the buffer 169 are arranged. The source line driver circuit
161 (612) and the gate line driver circuit 167 (170).
A pixel matrix 171 is formed at the center of the active matrix panel 160, and
Input / output terminals 172, 173, 174, and 175 are arranged in the corner portion. Signal transmission
Is performed in the direction of arrows 176-180. Layer each function block as above
The most efficient use of the limited space.
You.   Further, in the source line driver circuit and / or the gate line driver circuit,
Within a limited pitch equal to the pixel pitch (or twice the pixel pitch).
In order to form a unit cell of the driver circuit, a pattern layout as shown in FIG. 9 is used.
Use In FIG. 9, reference numerals 181 to 183 denote one pixel (or two pixels).
It is a pixel pitch and its length is D. While adopting the layout shown in Fig. 8,
If the cells of the driver circuit are repeatedly arranged with a cycle of D, a more effective switch can be achieved.
The pace can be utilized. FIG. 9 shows a part of a thin film layer constituting a driver circuit.
3 shows an example of a pattern layout. In the figure, 184 and 185 are
Wiring for positive power supply, wiring for negative power supply, 186 to 191 are the source and
Rain and a silicon thin film forming a channel portion, 192 to 195 are N-type TFT saws.
Region 1 which is a silicon thin film forming a drain / drain and a channel portion and is surrounded by a broken line.
At 96, 197 and 198, unit cells of the driver circuit are formed. Element of each TFT
In silicon separation, silicon thin films are etched into islands regardless of polarity.
Therefore, for example, the island 192 and the P
The distance a between the silicon thin film for the P-type TFT and the island a 187,
The distance b between the two islands 187 and 188 can be made substantially equal. The present invention
Utilizes this property positively and connects the island for P-type TFT and the island for N-type TFT to each other.
Placing them in the insulator increases the degree of integration in the direction in which unit cells are repeated.
You.   The present invention uses the following means in combination to further increase the degree of integration. Fig. 10 (
a) and (b) show a complementary TF between a positive power supply wiring 199 and a negative power supply wiring 200;
This is an example of forming an inverter by T. Referring to FIG. A through hole for forming a contact in the ground portion 203 is a gate electrode. First,
As shown in FIG. 10 (a), a P-type region is formed on one silicon thin film island with 208 as a boundary.
204 and an N-type region 205 are provided. Next, as shown in FIG.
The contact of the drain part is formed by the
Extract data output.   The second measure to make the present invention even more effective is the clutter in the source line driver circuit.
It relates to the reduction of lock noise. As shown in FIG.
The inverter circuit 12 drives the video signal buses 14 to 16 and the shift register 13. Have. Here, the floating capacitance formed between a certain video signal bus and the CL wiring If present, spike noise synchronized with the clock signal is superimposed on the video signal.
As a result, line-shaped display unevenness occurs on the screen of the active matrix panel. Book Thus, the above-described clock noise is reduced. FIG. 11A shows a source line.
A driver circuit is shown, and 210 to 213 are unit cells of a shift register, 2
14 and 215 are sample and hold circuits, 216 is a pixel matrix, and 217 is a video matrix.Is twisted approximately at the center. By doing so, the CL wiring and Are substantially equal, and as a result, the floating capacitance added between the CL wiring and the video signal bus is increased. The rise timing of one and the fall timing of the other almost match
. As a result, the clock noise superimposed on the video signal is greatly reduced.
, No problem.   The third measure to make the present invention more effective is to connect the sample-and-hold circuit in series.
This is related to the uniformization of the resistance added to. FIG. 12 shows a part of FIG. You. In FIG. 12, reference numeral 230 denotes a shift register included in the source line driver circuit.
231 to 233 are video signal buses, and 234 to 236 are sample hold circuits.
The path 240 is a pixel matrix. The three video signal buses 231 to 233
For example, image signals corresponding to the three primary colors red (R), green (G), and blue (B) are transmitted,
These combinations are changed every horizontal scanning. The three video signal buses include:
Since low resistance is required, a metal layer such as aluminum is used as a wiring material. on the other hand
Adopts the structure shown in Fig. 3 (a) and (b), which is considered to be most effective from an economic point of view.
The wiring 23 from the video signal bus to the sample and hold circuit.
Materials 7 to 239 include the same material as the gate electrode, for example, a polycrystalline silicon thin film.
used. In this case, the sheet resistance of the polycrystalline silicon thin film is higher than that of the metal layer.
And if they are simply connected in a straight line, the lengths of the wirings 237, 238, and 239 are equal.
Since the resistances of the wires 237 to 239 are not equal,
The difference in the wiring resistance causes line-shaped display unevenness. Therefore, the present invention provides the wiring
Devise the wiring pattern so that the resistances of 237, 238, and 239 are all equal.
. Specifically, the wiring width W is fixed and the wiring length L is equal, or the wiring 237 to
For example, W is changed for each of H.239.   The fourth measure to make the present invention more effective is the operation of the driver circuit by the TFT.
The present invention relates to a driving method for compensating for a low speed. As shown in FIG.
Since the performance is inferior to the performance of single crystal silicon MOSFET, shift by TFT
The operating speed of the registers is not enough to drive the active matrix panel
Absent. In order to compensate for this slow operation speed, the present invention employs a circuit illustrated in FIG.
The structure and the driving method illustrated in FIG. In FIG. 13 (a), 25
0 is the first shift register included in the source line driver circuit, ... is output. 251 is a second shift register included in the source line driving circuit. The output signals 253, 255,. 265 is supplied with the video signal V
The video signal bus, 256 to 259 are sample and hold circuits, and 261 to 264 are software
And 260 is a pixel matrix. Input to the source line driver circuit. FIG. 13B shows signals 252 to 255 output from the data 250 and 251.
The source line driver circuit shown in FIG.
51, and the shift registers 250 and 251 each have a phase of approximately 90 °. You. If the source line driver circuit has N series shift registers,
The register has N clocks whose phases are shifted by approximately 180 ° / N and their inverted clocks.
It is driven by a hook. If the frequency of CL × 1 and CL × 2 is f, the output signal 25
2 to 255 are sequentially output at a time interval of 4f, and the respective edges 266 to 2
At 69, the video signal V is sampled and held on the source lines 261 to 264.
. As a result, using a shift register driven by a clock of frequency f, frequency 4
f can be realized, and the shift register of the TFT can be realized.
This is an effective means to compensate for the slow operation speed. The source line driver circuit is N-series
Is provided, the shift register driven by the clock of frequency f
It is possible to realize sampling at a frequency of 2Nf by using a star.   The fifth measure to make the present invention more effective is the source line and gate line driver circuit.
Providing test means at each output of the road. FIG. 14 shows a specific example. In the figure
Here, 280 is a shift register included in the source line driver circuit, and 281 is
Video signal bus terminal, 282 is a sample hold circuit, 283 is a source line dry
Bar test circuits 284 and 285 are control terminals of the test circuit 283 and test terminals, respectively.
A signal output terminal 286 is a source line. Text like 283 on all source lines
A strike circuit is added. Reference numeral 287 denotes a shift included in the gate line driver circuit.
Register 288 is a gate line driver test circuit, 289 and 290 are each
Test signal input terminal, test signal output terminal, 291 is a gate line, 292 is a pixel
It is a matrix. A test circuit such as 288 is added to every gate line.
The test circuit operates as follows. During test operation of source line driver circuit
The test circuit 283 is turned on under the control of the terminal 284. In this state,
After inputting a predetermined test signal to the video signal bus terminal 281, the shift register
Scan 280. At this time, a signal within the standard is time-sequentially output to the test output terminal 285.
Out If it is input, the source line driver circuit is determined to be “good”;
Good ". When testing the gate line driver circuit, a predetermined test is applied to the terminal 289.
The shift register 287 is scanned with the strike signal input. At this time, test
If signals within the standard are output in time series to the output terminal 290, the gate line driver circuit
The road is determined to be "good", otherwise it is determined to be "bad". Do as above
This makes it possible to display the test pattern and visually
Inspection of active matrix panels can be performed electrically and automatically.
You.   The sixth aspect of the invention that makes the present invention more effective is that without adding a manufacturing process
That is, a storage capacitor is formed in a pixel. FIGS. 15 (a) and (b) show the present invention.
A specific example of a pixel structure is shown. FIG. 1A shows an equivalent circuit, and FIG. 1B shows a cross-sectional structure.
. In FIG. 3A, reference numerals 300 and 301 denote a source line, a gate line, and 302, respectively.
Denotes a pixel TFT, 303 denotes a liquid crystal cell, 304 denotes a counter electrode terminal, and 305 denotes a main electrode.
Metal oxide semiconductor capacitor (hereinafter abbreviated as MOS capacitor)
You. ) And 306 are gate electrodes of the MOS capacitor 305. In addition, the same figure (
In b), 310 and 324 are transparent insulating substrates, and 311 to 315 are silicon.
Thin film layers 316 and 317 are gate insulating films, 318 and 319 are gate electrodes, 320
Denotes an interlayer insulating film, 321 denotes a wiring layer forming a source line, and 322 denotes a transparent conductive layer forming a pixel electrode.
The electrode layer 323 is a counter electrode including a transparent conductive film layer, and 325 is a liquid crystal. At 326
The pixel TFT 302 is formed in the portion shown, and the regions 311 and 313 are the source TFTs.
The drain portion and the region 312 form a channel portion. In the portion indicated by 327, the M
An OS capacitor 305 is formed, and regions 313 and 315 serve as source / drain portions.
, Region 314 forms a channel portion. As is apparent from FIG.
The capacitor 305 has the same cross-sectional structure as the pixel TFT 302, and
No special manufacturing process needs to be added to form S capacitor 305
. However, in order to use the MOS capacitor 305 as a storage capacitor, the region 3
It is necessary to keep a state in which a channel, that is, an inversion layer is formed in 14. Keep this state
Therefore, the gate electrode 306 of the MOS capacitor 305 is
A predetermined potential such that the data is turned on is given. The predetermined potential is, for example, a MOS key.
Japashita A positive power supply potential is appropriate for the N type, and a negative power supply potential is appropriate for the P type. Gate excellence
Since the edge film is usually formed to be very thin, the holding key is formed using the gate insulating film as described above.
By configuring the capacitor, it can be compared with the conventional one using an interlayer insulating film.
As a result, a storage capacity of 5 to 10 times per unit area can be obtained, and the storage capacity can be reduced.
This is very effective in saving the area for forming. Therefore, active matrices
The aperture ratio of the panel can be made extremely high.   The last step to make the present invention even more effective is an active device with a built-in driver circuit.
It relates to mounting of a matrix panel. Fig. 16 (a) and (b) show the components.
Show body examples. FIG. 3A is a diagram showing a cross-sectional structure.
Transparent substrate on which matrix and driver circuit are formed, 331 has counter electrode formed
334 is a sealing material, 333 is a sealed liquid crystal, and 335 is a mounting substrate.
The plate 340 is an opening of the mounting board 335, and 338 is a wire made of metal such as gold or aluminum.
And 339, a protection member. The transparent substrate 330 is disposed on the mounting substrate 335.
Providing the concave portion 336 in the portion to be secured ensures the connection strength by the wire 338.
It is very effective in running. Further, a light shielding member 337 is provided on a part or all of the mounting board.
The transparent substrate 331 or the transparent substrate 330 surrounds the periphery of the pixel matrix portion.
Providing the light shielding member 332 in a strip shape in a simple shape is
This is very effective in improving the appearance as a display device. FIG. 16 (b)
The active matrix panel and its mounting structure in FIG.
It is. Reference numeral 341 denotes a pixel matrix portion, and a dotted line 342 denotes an opening of the mounting substrate 335.
Show mouth. The following effects are produced by the above-described operations. First, metal
Since the stress applied to the ear 338 becomes uniform, the connection strength is improved. Second, the origin
A light source is installed on the back using a light active matrix panel as a transmissive display device.
In this case, according to the above-described structure of the present invention, unnecessary light is
Is prevented from leaking, and the appearance of the display device is improved.   Finally, two application examples of the present invention will be described.   One application example is configured using the active matrix panel of the present invention.
Electronic view finder (Electric View Fi
ndr; hereinafter abbreviated as EVF). Make sure to take many measures as described above. And integrated driver circuit with complementary TFT around pixel matrix
Technology has been established, and small, high-definition, low power consumption and highly reliable
FIG. 17 shows an example in which the active matrix panel can be obtained at a low cost.
EVF having such a structure can be realized. In FIG. 17, reference numeral 350 denotes an image
352, a recording device; 351, a video signal processing circuit;
An image signal is obtained. 353 is an EVF, and the EVF 353 is a chroma circuit and a synchronous circuit.
Control circuit, LCD panel drive signal formation circuit, power supply circuit, backlight drive circuit
A driving circuit unit 354, a backlight light source 356, a reflection plate 355, and a diffusion plate.
357, polarizing plates 358 and 360, and the active matrix panel 3 of the present invention.
59 and a lens 361. By performing the above, the conventional C
RT (Cathode Ray Tube) using EVF which is not in the following
The effect is brought. (1) Using an active matrix panel with color filters
Therefore, an extremely high-definition color EVF having a pixel pitch of 50 μm or less is realized.
. In addition, lower power consumption is promoted. (2) An extremely small, space-saving and extremely lightweight EVF is realized. (3) The degree of freedom of the shape of the EVF is increased, for example, a novel design such as a flat EVF.
Becomes possible.   Another application is an active matrix panel of the present invention using a liquid crystal light bulb.
This is a projection type color display device used as a projector.   FIG. 18 is a plan view of the projection type color display device. Projection of halogen lamps, etc.
The white light emitted from the imaging light source 370 is condensed by the parabolic mirror 371, and
Heat rays in the infrared region are cut by the filter 372, and only visible light is dichroic.
Into the mirror system. First, the blue reflecting dichroic mirror 373
Reflects blue light (light having a wavelength of approximately 500 nm or less) and other light (yellow
Light). The reflected blue light changes its direction by the reflecting mirror 374 and is turned blue.
The light enters the modulation liquid crystal light valve 378.   The light transmitted through the blue reflecting dichroic mirror 373 is reflected by the green reflecting dichroic mirror.
Incident on the mirror 375, and emits green light (approximately 500 nm to 600 nm). Red light (approximately 600 [nm]) that reflects other wavelengths.
Of the above wavelength). The reflected green light is a green modulated liquid crystal light valve 3
It is incident on 79.   The red light transmitted through the green reflecting dichroic mirror 375 is reflected by the reflecting mirror 376.
377, and the light is incident on the red modulation liquid crystal valve 380.   Blue light, green light, and red light were driven by blue, green, and red primary color signals, respectively.
The liquid crystal light valves 378, 379 by the active matrix panel of the present invention,
After being modulated by 380, they are combined by the dichroic prism 383.
You. The dichroic prism 383 has a blue reflecting surface 381 and a red reflecting surface 382 that are alternated.
They are configured to be orthogonal to each other. The color image synthesized in this way is
384, the image is enlarged and projected on the screen and displayed. Do as above
Thus, there is no necessity in a projection type color display device using a conventional CRT projection tube.
The following effects are obtained. (1) Form a liquid crystal light valve much smaller and more precise than a CRT
Because it is possible to use a small aperture lens for the projection lens 384,
Is done. As a result, the size, weight, and cost of the projection color display can be reduced.
Is done. (2) Since the active matrix panel of the present invention has a high aperture ratio, it has a small aperture.
A bright display can be obtained by using the projection lens of the above. (3) Unlike the CRT projection tube, the dichroic mirror and the dichroic
Perfect alignment of red, green, and blue light valves with back prism
Therefore, the three-color registration is very good.   This concludes the description of the embodiment of the present invention.   According to the above-mentioned [Means for Solving the Problems] and [Example],
The effect will be described.   First, the effects of the four basic technologies that make the present invention effective will be described.
I do.   First, a gate line made of complementary TFTs on the same transparent substrate as the pixel matrix
The following effects can be obtained by integrating the driver circuit of the source line. It is. (1) Depending on the connection pitch when mounting an external driver integrated circuit,
The definition is not limited. As a result, by using the present invention,
A liquid crystal panel having a pixel pitch of 50 μm or less can be realized. (2) The external dimensions of the mounting board on which the panel is mounted are greatly reduced, and the liquid crystal of the present invention is used.
Small, thin, and lightweight display devices using panels are promoted. (3) Since the step of externally attaching the driver integrated circuit is not required, the liquid crystal panel of the present invention is not required.
Cost reduction of a display device using a channel is promoted. (4) Since the external mounting of the driver integrated circuit is not required, the liquid crystal panel of the present invention is used.
The reliability of the display device is improved. (5) A liquid crystal panel is formed by forming a driver circuit using complementary TFTs.
The synergistic effect with the low power characteristics inherent in the display device is exhibited, and the power consumption of the entire display device is reduced.
Is realized. This is applied to EVF of video cameras and portable image monitors.
It is an important factor to make it possible.   Second, the complementary TFT is used, and the shift register is a static type circuit.
By adopting a circuit configuration, not only low power consumption but also operating voltage range and operating frequency range
This has the effect of expanding the enclosure. TFT has high off-current characteristics as shown in Fig. 5.
And the temperature characteristics of off-state current are also large. The disadvantage of such a TFT is that
The operating voltage range and operation are compensated for by the static configuration of the resistor.
The frequency range is extended.   Third, in the structure of the complementary TFT, the source / drain of the TFT of the first polarity is used.
The source / drain region of the TFT of the second polarity contains impurities of the first polarity in the drain region.
The region contains a first polarity impurity and a higher concentration of a second polarity impurity.
By using this method, a single photo step can be added to the conventional unipolar TFT manufacturing process.
By adding, complementary TFT integrated circuits including pixel matrices can be produced at low cost.
can get. Further, P-type and N-type TFTs having uniform characteristics can be obtained.   Fourth, the gate length of the TFT that constitutes the driver circuit constitutes the pixel matrix
The operating speed of the driver circuit can be increased by forming the TFT shorter than that of the
To maintain the optimum writing and holding operation for each pixel. Becomes possible.   Next, the effects provided by the seven means for making the present invention more effective will be described.
I do.   First, the pattern layout of each functional block is shown in FIG. 8, FIG. 9, and FIG.
By adopting (a) and (b), the degree of integration of the driver circuit portion is particularly increased.
The unit cell of the driver circuit within the limited pitch of the pixel pitch.
Can be included.   Second, the clock wiring of the source line driver circuit is arranged as shown in FIG.
By removing clock noise mixed into the video signal,
It is possible to suppress the line-shaped display unevenness to a level that is not visible.   Third, the resistance connected to the sample and hold circuit shown in FIG.
And the write level of the display signal to all the source lines can be reduced.
Complete uniformity can be achieved, and line-shaped display unevenness is eliminated.   Fourth, the source line driver circuit is configured as shown in FIG.
), An N-sequence driven by a clock of frequency f
Sampling a video signal at a frequency of 2Nf using a shift register of
It becomes possible. This makes it possible to use TFTs whose on-current is not always large enough.
Thus, an active matrix panel with a built-in driver circuit with high definition is realized.   Fifth, test circuits should be provided for each output of the driver circuit as shown in FIG.
Therefore, the active mask, which was visually inspected while the test pattern was displayed in the past, was
The inspection of the trick panel can be performed electrically and automatically.   Sixth, it is necessary to create a storage capacitor having a structure as shown in FIGS. 15A and 15B in each pixel.
Thus, the aperture ratio can be almost reduced without increasing the manufacturing cost.
Without the above, it is possible to more reliably hold the electric charge in each pixel.
.   Seventh, by making the mounting structure as shown in FIGS. 16 (a) and (b)
Not only can improve the connection strength and reliability, but also the active matrix of the present invention.
When a transmissive display device is constructed by using a backlight device together with a
Unnecessary light can be prevented from leaking from around the trix section.   Finally, the effect obtained by applying the present invention to a specific display system is described. I will talk about it.   First, by applying the present invention to the EVF of a video camera, the conventional CR
The following effects not provided by EVF using T are obtained. (1) Using an active matrix panel with color filters
Therefore, an extremely high-definition color EVF having a pixel pitch of 50 μm or less is realized.
. In addition, lower power consumption is promoted. (2) An extremely small, space-saving and extremely lightweight EVF is realized. (3) The degree of freedom of the shape of the EVF is increased, for example, a novel design such as a flat EVF.
Becomes possible.   Second, by applying the present invention to a projection type color display device, the conventional
The following effects that are not available in the case of using T are obtained. (1) Form a liquid crystal light valve much smaller and more precise than a CRT
Therefore, it is permissible to use a small-diameter projection lens. This
Therefore, the projection type color display device can be reduced in size, weight, and cost. (2) Since the active matrix panel of the present invention has a high aperture ratio, it has a small aperture.
A bright display can be obtained by using the projection lens of the above. (3) Unlike the CRT projection tube, the dichroic mirror and the dichroic
Optical prisms for the red, green and blue light valves
Therefore, the registration of three colors becomes very good. 〔The invention's effect〕 (A) The shift register is composed of complementary polycrystalline silicon thin film transistors
This makes it possible to drive with low power consumption,
However, a high-performance transistor can be supplied. (B) Polycrystalline silicon thin film transistors are compared with single crystal silicon transistors.
Although the leakage current at the time of off is large, the shift register
Static shift register using polycrystalline silicon thin film transistor
Accordingly, high-speed operation can be performed while suppressing the influence of the leak current at the time of turning off.

【図面の簡単な説明】 第1図は、本発明の実施例、即ち、周辺にドライバー回路を集積化したアクテ ィブマトリクスパネルを示した図。 第2図(a)〜(f)は、第1図におけるドライバー回路の詳細な構成例を示
した図。 第3図(a)、(b)は、本発明のアクティブマトリクスパネルの断面構造を
例示した図。 第4図(a)〜(d)は、本発明のアクティブマトリクスパネルの製造方法を
例示した図。 第5図は、本発明に関わるTFTの特性例を単結晶シリコンMOSFETのそ
れと比較して示した図。 第6図は、本明細書中におけるゲート長、ゲート幅の定義を示した図。 第7図は、本明細書中における空乏層幅、シリコン薄膜の膜厚の定義を示した
図。 第8図、第9図、第10図(a)、(b)は、本発明を更に有効なものとする
第一の手段を説明するための図。 第11図(a)、(b)は、本発明を更に有効なものとする第二の手段を説明
するための図。 第12図は、本発明を更に有効なものとする第三の手段を説明するための図。 第13図(a)、(b)は、本発明を更に有効なものとする第四の手段を説明
するための図。 第14図は、本発明を更に有効なものとする第五の手段を説明するための図。 第15図(a)、(b)は、本発明を更に有効なものとする第六の手段を説明
するための図。 第16図(a)、(b)は、本発明を更に有効なものとする第七の手段を説明
するための図。 第17図は、本発明の第一の応用例を示した図。 第18図は、本発明の第二の応用例を示した図。 第19図は、従来技術を説明するための図。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention, that is, an active matrix panel in which a driver circuit is integrated around the active matrix panel. FIGS. 2A to 2F are diagrams showing a detailed configuration example of the driver circuit in FIG. 3 (a) and 3 (b) are diagrams illustrating the cross-sectional structure of the active matrix panel of the present invention. 4 (a) to 4 (d) are diagrams illustrating a method for manufacturing an active matrix panel of the present invention. FIG. 5 is a diagram showing a characteristic example of a TFT according to the present invention in comparison with that of a single crystal silicon MOSFET. FIG. 6 is a diagram showing definitions of a gate length and a gate width in this specification. FIG. 7 is a diagram showing definitions of a depletion layer width and a silicon thin film thickness in this specification. FIG. 8, FIG. 9, FIG. 10 (a), (b) are diagrams for explaining the first means for making the present invention more effective. FIGS. 11 (a) and (b) are diagrams for explaining a second means for making the present invention more effective. FIG. 12 is a diagram for explaining a third means for making the present invention more effective. 13 (a) and 13 (b) are diagrams for explaining a fourth means for making the present invention more effective. FIG. 14 is a diagram for explaining a fifth means for making the present invention more effective. FIGS. 15 (a) and (b) are views for explaining sixth means for making the present invention more effective. FIGS. 16 (a) and (b) are views for explaining seventh means for making the present invention more effective. FIG. 17 is a diagram showing a first application example of the present invention. FIG. 18 is a diagram showing a second application example of the present invention. FIG. 19 is a diagram for explaining a conventional technique.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)一対の基板間に液晶が封入されてなり、該一対の基板の一方の基板上には
、複数のゲート線及び複数のソース線と、該複数のゲート線及びソース線に接続
された多結晶シリコン薄膜トランジスタを有する画素マトリクスが配置されてな
るアクティブマトリクスパネルにおいて、 該一方の基板上には、該複数のゲート線及びソース線のそれぞれに信号を供給
するゲート線ドライバー回路及びソース線ドライバー回路の少なくとも一方が形
成されてなり、該ゲート線ドライバー回路または該ソース線ドライバー回路を構
成するシフトレジスタとバッファー回路のうち、該シフトレジスタは相補型の多
結晶シリコン薄膜トランジスタからなるクロックドインバータ回路を有するスタ
ティックシフトレジスタであり、該スタティックシフトレジスタから前記バッフ
ァー回路を介して伝送された信号に基づいて前記複数のゲート線またはソース線
に信号が供給され、該ゲート線ドライバー回路または該ソース線ドライバー回路
を構成する多結晶シリコン薄膜トランジスタ間を接続する配線層に、前記複数の
ソース線と同一層からなるアルミニウムまたはアルミシリサイドが用いられてな
り、かつ、前記ゲート線ドライバー回路またはソース線ドライバー回路は、相補
型の多結晶シリコン薄膜トランジスタの第1導電型薄膜トランジスタの多結晶シ
リコン薄膜層の島と第2導電型薄膜トランジスタの多結晶シリコン薄膜層の島と
が正電源用配線と負電源用配線との間に互い違いに配置されたレイアウトを有す
ることを特徴とするアクティブマトリクスパネル。 (2)請求項1記載のアクティブマトリクスパネルを用いた投写型表示装置。 (3)請求項1記載のアクティブマトリクスパネルを用いたビューファインダー
。 (4)一対の基板間に液晶が封入されてなり、該一対の基板の一方の基板上には
、複数のゲート線及び複数のソース線と、該複数のゲート線及びソース線に接続
された多結晶シリコン薄膜トランジスタを有する画素マトリクスが配置されてな
るアクティブマトリクスパネルにおいて、 該一方の基板上には、該複数のゲート線及びソース線のそれぞれに信号を供給
するゲート線ドライバー回路及びソース線ドライバー回路の少なくとも一方が形
成されてなり、該ゲート線ドライバー回路または該ソース線ドライバー回路を構
成するシフトレジスタとバッファー回路のうち、該シフトレジスタは相補型の多
結晶シリコン薄膜トランジスタからなるインバータ回路及びトランスミッション
ゲート回路を有するスタティックシフトレジスタであり、該スタティックシフト
レジスタから前記バッファー回路を介して伝送された信号に基づいて前記複数の
ゲート線またはソース線に信号が供給され、該ゲート線ドライバー回路または該
ソース線ドライバー回路を構成する多結晶シリコン薄膜トランジスタ間を接続す
る配線層に、前記複数のソース線と同一層からなるアルミニウムまたはアルミシ
リサイドが用いられてなり、かつ、前記ゲート線ドライバー回路またはソース線
ドライバー回路は、相補型の多結晶シリコン薄膜トランジスタの第1導電型薄膜
トランジスタの多結晶シリコン薄膜層の島と第2導電型薄膜トランジスタの多結
晶シリコン薄膜層の島とが正電源用配線と負電源用配線との間に互い違いに配置
されたレイアウトを有することを特徴とするアクティブマトリクスパネル。 (5)請求項4記載のアクティブマトリクスパネルを用いた投写型表示装置。 (6)請求項4記載のアクティブマトリクスパネルを用いたビューファインダー
Claims: (1) A liquid crystal is sealed between a pair of substrates, and a plurality of gate lines and a plurality of source lines, and a plurality of gate lines and a plurality of source lines are provided on one of the pair of substrates. In an active matrix panel in which a pixel matrix having a polycrystalline silicon thin film transistor connected to a source line is arranged, a gate line driver for supplying a signal to each of the plurality of gate lines and source lines is provided on the one substrate. At least one of a circuit and a source line driver circuit is formed. Of the shift register and the buffer circuit included in the gate line driver circuit or the source line driver circuit, the shift register includes a complementary polycrystalline silicon thin film transistor. A static shift register having a clocked inverter circuit; A signal is supplied to the plurality of gate lines or source lines based on a signal transmitted from the tick shift register via the buffer circuit, and the gate line driver circuit or the polycrystalline silicon thin film transistors constituting the source line driver circuit are supplied. Aluminum or aluminum silicide made of the same layer as the plurality of source lines, and the gate line driver circuit or the source line driver circuit is formed of a complementary type polycrystalline silicon thin film transistor. A layout in which islands of the polycrystalline silicon thin film layer of the one conductivity type thin film transistor and islands of the polycrystalline silicon thin film layer of the second conductivity type thin film transistor are alternately arranged between the positive power supply wiring and the negative power supply wiring An active matrix panel characterized by the following. (2) A projection display device using the active matrix panel according to claim 1. (3) A view finder using the active matrix panel according to claim 1. (4) Liquid crystal is sealed between a pair of substrates, and a plurality of gate lines and a plurality of source lines and a plurality of gate lines and a plurality of source lines are connected to one of the pair of substrates. An active matrix panel in which a pixel matrix having a polycrystalline silicon thin film transistor is arranged, a gate line driver circuit and a source line driver circuit for supplying a signal to each of the plurality of gate lines and source lines on the one substrate. At least one of the shift register and the buffer circuit constituting the gate line driver circuit or the source line driver circuit, wherein the shift register is an inverter circuit and a transmission gate circuit comprising a complementary polycrystalline silicon thin film transistor A static shift register having A signal is supplied to the plurality of gate lines or source lines based on a signal transmitted from the static shift register through the buffer circuit, and the gate line driver circuit or the polycrystalline silicon thin film transistors forming the source line driver circuit are supplied. Aluminum or aluminum silicide made of the same layer as the plurality of source lines, and the gate line driver circuit or the source line driver circuit is formed of a complementary type polycrystalline silicon thin film transistor. A layout in which islands of the polycrystalline silicon thin film layer of the one conductivity type thin film transistor and islands of the polycrystalline silicon thin film layer of the second conductivity type thin film transistor are alternately arranged between the positive power supply wiring and the negative power supply wiring An active matrix panel characterized by the following. (5) A projection display device using the active matrix panel according to claim 4. (6) A viewfinder using the active matrix panel according to claim 4.

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