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JP2642268B2 - 磁場強度測定方法 - Google Patents

磁場強度測定方法

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Publication number
JP2642268B2
JP2642268B2 JP3307673A JP30767391A JP2642268B2 JP 2642268 B2 JP2642268 B2 JP 2642268B2 JP 3307673 A JP3307673 A JP 3307673A JP 30767391 A JP30767391 A JP 30767391A JP 2642268 B2 JP2642268 B2 JP 2642268B2
Authority
JP
Japan
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magnetic field
magnetoresistive element
ratio
resistance
field strength
Prior art date
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Expired - Fee Related
Application number
JP3307673A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05145143A (ja
Inventor
正勝 千田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP3307673A priority Critical patent/JP2642268B2/ja
Publication of JPH05145143A publication Critical patent/JPH05145143A/ja
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  • Hall/Mr Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気センサなどに用い
られる磁気抵抗素子および磁場強度測定法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気抵抗素子としては、強磁性体
の磁気抵抗効果を利用した素子が多く使用されてきた。
従来の磁気抵抗素子の一例を図3に示す。磁気抵抗素子
は強磁性体からなる磁気抵抗素子部11とその両端の一
対の電極部12から構成される。磁気抵抗効果は、強磁
性体の抵抗Rが強磁性体の磁化方向と強磁性体に流す電
流方向との間の角度θによって、 R=R0 +ΔR・cos2 θ と変化する現象である。ここに、R0 は磁化方向が電流
方向と垂直になった場合の抵抗、ΔRは磁化方向と電流
方向が平行になった場合の抵抗とR0 との差である。磁
気抵抗素子のS/N比はΔR/R0 で表される。図4に
従来、磁気抵抗素子に用いられてきた強磁性体であるN
iFe合金における抵抗率の磁場依存性を示す。R0
ΔRに対応する抵抗率をそれぞれρ0 ,Δρとすると、
ΔR/R=Δρ/ρは(20.8−20)/20=
0.04となる。その他の強磁性体であるNiCo,N
iCu合金などでもΔρ/ρ0 はいずれも室温で数%程
度であり、磁場センサなどに用いるにはS/N比は不十
分であった。以上、強磁性体の磁気抵抗効果を利用した
磁気抵抗素子はS/N比が非常に低いという問題点があ
った。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、従来
の磁気抵抗素子の問題であったS/N比の低さを解決
し、S/N比の高い磁気抵抗素子を提供することおよび
この磁気抵抗素子を用いた磁場強度測定法を提供するこ
とにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】この様な目的を達成する
ために、本発明の磁場強度測定方法は、非磁性導体膜の
両面に軟磁性体膜が設けられている磁気抵抗素子を磁場
中に配置する工程と、前記磁気抵抗素子の非磁性導体膜
の両側に高周波を印加する工程と、前記磁気抵抗素子の
高周波抵抗値の前記磁場による変化に基づいて前記磁場
の強度を測定する工程とを有することを特徴とする。
【0005】
【0006】
【0007】
【作用】本発明においては、磁気抵抗素子の高周波抵抗
の磁場依存性が大きいことを利用する。その結果、高い
S/N比で磁場を測定することができる。
【0008】
【実施例】以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を詳
細に説明する。
【0009】図1は本発明の実施例を示す斜視図であ
り、一対の電極4を有する導体2からなるラインの上下
に、軟磁性体1が設けられた構造を成している。3は磁
気抵抗素子部、5は外部磁場である。このような構造を
持つ素子の両端にある周波数fを印加した時の抵抗R
(f)は、 R(f)=R0 (f)+ΔRmag (f) で表される。ここで、R0 (f)は軟磁性体が積層され
ていない導体のみの場合の抵抗、ΔRmag (f)は軟磁
性体が設けられたことによる抵抗の増加分である。R0
(f)は周波数が1GHz以下では、ほとんど周波数に
依存せず一定値となる。一方、軟磁性体では、高周波域
で比透磁率の虚数部μ″(f)が大きくなり、 ΔRmag (f)∝f・μ″(f) の関係により、ΔRmag (f)は大きくなる。軟磁性体
に外部磁場を印加していくと、μ″(f)は徐々に小さ
くなり、印加磁場の大きさが軟磁性体の異方性磁場に比
べ十分大きな値となると遂にはμ″(f)は零となる。
従って、図1に示した磁気抵抗素子のS/N比は、 ΔRmag (f)/R0 (f) で表されることになる。R0 (f)は小さく、ΔRmag
(f)は高周波域で非常に大きな値となるため、この磁
気抵抗素子は非常に大きなS/N比を持つことになる。
【0010】導体2として膜厚1μmのCuを、軟磁性
体1として膜厚0.5μmのNiFe合金を使用し、周
波数500MHzにおいて測定した抵抗の外部磁場依存
性を図2に示す。磁気抵抗素子部の長さは8mm、幅は
1.5mmである。抵抗値は外部磁場零の時4.70Ω
であるが、外部磁場の増加と共に急激に低下し、NiF
e合金の異方性磁場5 Oeより十分大きな外部磁場下
では、0.695Ωにまで低下する。この実験では、R
0 =0.695Ω、ΔRmag =4.70−0.695≒
4.0であり、S/N比はΔRmag /R0 ≒4.0/
0.695≒5.76と非常に高い値となる。
【0011】なお、本発明による磁気抵抗素子では、C
uおよびNiFe合金の膜厚を厚くすることにより、R
0 を下げ、ΔRmag を上げることができるため、これら
の膜厚を適当に設定することにより、S/N比をさらに
向上させることが可能である。
【0012】この結果から明らかなように、本発明の磁
気抵抗素子は従来の磁気抵抗素子に比べ、S/N比が高
いという利点がある。
【0013】図2に示したように、磁気抵抗素子の両端
に高周波を印加した時、抵抗値は外部磁場に大きく依存
する。従って、あらかじめ較正曲線を求めておけば、抵
抗値から外部磁場の強度を求めることができる。
【0014】なお、図1において軟磁性体1は、導体2
の表面に直接接触して設けられているが、他の実施例と
して、軟磁性体を導体表面に非磁性体を介して設けた磁
気抵抗素子も、図1の磁気抵抗素子と同様に高いS/N
比を持つ磁気抵抗素子として機能する。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による磁気
抵抗素子は高周波抵抗が大きな磁場依存性を示すため磁
気抵抗素子としてのS/N比が非常に高いという利点が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の磁気抵抗素子の一実施例を示す斜視図
である。
【図2】本発明の磁気抵抗素子における抵抗の磁場依存
性の一例を示す特性図である。
【図3】従来の磁気抵抗素子を示す斜視図である。
【図4】従来の磁気抵抗素子に使用されているNiFe
膜における抵抗率の磁場依存性を示す特性図である。
【符号の説明】
1 軟磁性体 2 導体 3 磁気抵抗素子部 4 電極 5 外部磁場

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非磁性導体膜の両面に軟磁性体膜が設け
    られている磁気抵抗素子を磁場中に配置する工程と、前
    記磁気抵抗素子の非磁性導体膜の両側に高周波を印加す
    る工程と、前記磁気抵抗素子の高周波抵抗値の前記磁場
    による変化に基づいて前記磁場の強度を測定する工程と
    を有することを特徴とする磁場強度測定方法。
JP3307673A 1991-11-22 1991-11-22 磁場強度測定方法 Expired - Fee Related JP2642268B2 (ja)

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JPH05145143A JPH05145143A (ja) 1993-06-11
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JPS63308394A (ja) * 1987-06-10 1988-12-15 Mitsubishi Electric Corp 磁気抵抗効果素子の製造方法
JPS6419512A (en) * 1987-07-14 1989-01-23 Sony Corp Magneto-resistance effect type magnetic head
JPH0642566B2 (ja) * 1987-12-09 1994-06-01 日本電気株式会社 磁気低抗効果素子の製造方法

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