JP2589433B2 - メッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物 - Google Patents
メッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物Info
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Landscapes
- Powder Metallurgy (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はメッキ付け可能な厚膜銅
導体ペースト組成物に関し、詳しくはアルミナなどの無
機誘電体に焼き付けた後、その焼成銅導体上に無電解メ
ッキあるいは電解メッキが可能であり、さらにメッキ後
の無機誘電体と焼成銅導体とが優れた密着性を有する、
メッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物に関するも
のである。
導体ペースト組成物に関し、詳しくはアルミナなどの無
機誘電体に焼き付けた後、その焼成銅導体上に無電解メ
ッキあるいは電解メッキが可能であり、さらにメッキ後
の無機誘電体と焼成銅導体とが優れた密着性を有する、
メッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】厚膜導体組成物は、導電性金属および無
機バインダーが微粉末状で有機媒体中に分散し、さらに
必要に応じて他の添加剤が配合されたもので、厚膜導体
はハイブリッド回路を始めとする種々の電子部品構成材
料として使用されている。この導体に対しては、電気伝
導性、半田濡れ性、耐半田溶解性および基板に対する接
着性などが要求されており、この要求特性に応じて各種
の添加剤が選択使用されている。
機バインダーが微粉末状で有機媒体中に分散し、さらに
必要に応じて他の添加剤が配合されたもので、厚膜導体
はハイブリッド回路を始めとする種々の電子部品構成材
料として使用されている。この導体に対しては、電気伝
導性、半田濡れ性、耐半田溶解性および基板に対する接
着性などが要求されており、この要求特性に応じて各種
の添加剤が選択使用されている。
【0003】さて、銅を導電性金属として用いる厚膜導
体は、金、銀、白金、パラジウムなどの高価な貴金属を
導電性金属とする厚膜導体のコストを低減させるという
目的で導入されたが、最近になって銅自身のもつ特性、
特に高周波特性が着目され、種々の方法で各方面に応用
されている。
体は、金、銀、白金、パラジウムなどの高価な貴金属を
導電性金属とする厚膜導体のコストを低減させるという
目的で導入されたが、最近になって銅自身のもつ特性、
特に高周波特性が着目され、種々の方法で各方面に応用
されている。
【0004】ところが、銅を導電性金属として用いた場
合、従来の金、銀、白金、パラジウムなどの貴金属を用
いた厚膜導体に比べて不都合な点がある。例えば、銅を
焼き付けた基板は空気中で容易に銅表面が酸化されやす
く、そのため半田濡れ性が悪くなったり、金線やアルミ
ニウム線のワイヤーボンディングが難しくなっりするこ
とがある。これらの問題を回避する方策として、銅導体
上に酸化されにくいメッキを施すことが考えられるが、
従来の銅導体ペーストでは、メッキ時のメッキ液により
銅導体と無機誘電体との接着性が大きく劣化した。
合、従来の金、銀、白金、パラジウムなどの貴金属を用
いた厚膜導体に比べて不都合な点がある。例えば、銅を
焼き付けた基板は空気中で容易に銅表面が酸化されやす
く、そのため半田濡れ性が悪くなったり、金線やアルミ
ニウム線のワイヤーボンディングが難しくなっりするこ
とがある。これらの問題を回避する方策として、銅導体
上に酸化されにくいメッキを施すことが考えられるが、
従来の銅導体ペーストでは、メッキ時のメッキ液により
銅導体と無機誘電体との接着性が大きく劣化した。
【0005】この厚膜銅導体ペースト組成物に関して
は、トレプトー(Treptow) の米国特許第2993815
号には、「5〜50重量部の銅または酸化銅および1重
量部の還元抵抗性ガラスフリットからなり、500〜1
050℃で2段階焼成して銅導体層を形成するプリント
回路用導体組成物」が開示され、フリードマン(Friedma
n)の米国特許第3647532号には、「酸化カドミウ
ムを含むホウケイ酸鉛ガラスをバインダーとする銅、ガ
ラス組成物」が開示され、ホフマン(Hoffman) の米国特
許第4070518号には、「特に誘電体上で使用する
85〜97重量部の銅粉末と、3〜15重量部のCd、
Biを含まないアルミナホウ酸ガラスフリットからなる
導体組成物」が開示され、グリエル(Grier) 等の米国特
許第4072771号には、「表面を予備酸化した銅粉
とアルミナホウケイ酸鉛ガラスからなり、酸化銅は固形
分の1〜5重量部であり、ガラスフリットは固形分の1
〜10重量部である導体組成物」が開示されている。
は、トレプトー(Treptow) の米国特許第2993815
号には、「5〜50重量部の銅または酸化銅および1重
量部の還元抵抗性ガラスフリットからなり、500〜1
050℃で2段階焼成して銅導体層を形成するプリント
回路用導体組成物」が開示され、フリードマン(Friedma
n)の米国特許第3647532号には、「酸化カドミウ
ムを含むホウケイ酸鉛ガラスをバインダーとする銅、ガ
ラス組成物」が開示され、ホフマン(Hoffman) の米国特
許第4070518号には、「特に誘電体上で使用する
85〜97重量部の銅粉末と、3〜15重量部のCd、
Biを含まないアルミナホウ酸ガラスフリットからなる
導体組成物」が開示され、グリエル(Grier) 等の米国特
許第4072771号には、「表面を予備酸化した銅粉
とアルミナホウケイ酸鉛ガラスからなり、酸化銅は固形
分の1〜5重量部であり、ガラスフリットは固形分の1
〜10重量部である導体組成物」が開示されている。
【0006】また、ミッチェル(Mitchell)の米国特許第
4182919号には、「銅86〜97重量部、酸化銅
1〜7重量部および少なくとも75重量部の酸化ビスマ
スを含むガラスフリット1〜7重量部からなる導体組成
物」が開示され、プロバンス(Provance)の米国特許第4
322316号には、「ホウ素7〜27重量部、ガラス
フリット0〜35重量部、残部酸化銅からなる導体組成
物」が開示され、レリック(Rellick) の米国特許第43
23483号には、「銅、酸化銅、酸化鉛およびビスマ
ス酸化物からなり、ガラスフリットを必要としない導体
組成物」が開示され、シウタ(Siuta) 等の米国特許第4
521329号には、「酸化物被覆を有する銅粉末と3
00〜700℃の軟化点を持つ無機バインダーからなる
導体組成物」が開示され、さらに、マコーミック(MaCor
mick) 等のヨーロッパ特許第0068167号には、
「銅65〜80重量部、酸化銅0〜6重量部およびBi
を含まない低軟化点ガラス3〜8重量部からなる導体組
成物」が開示されている。上記したように、銅導体組成
物に関する多数の文献が公知であるが、いずれも銅導体
上へのメッキ付けに関しては考慮されていない。
4182919号には、「銅86〜97重量部、酸化銅
1〜7重量部および少なくとも75重量部の酸化ビスマ
スを含むガラスフリット1〜7重量部からなる導体組成
物」が開示され、プロバンス(Provance)の米国特許第4
322316号には、「ホウ素7〜27重量部、ガラス
フリット0〜35重量部、残部酸化銅からなる導体組成
物」が開示され、レリック(Rellick) の米国特許第43
23483号には、「銅、酸化銅、酸化鉛およびビスマ
ス酸化物からなり、ガラスフリットを必要としない導体
組成物」が開示され、シウタ(Siuta) 等の米国特許第4
521329号には、「酸化物被覆を有する銅粉末と3
00〜700℃の軟化点を持つ無機バインダーからなる
導体組成物」が開示され、さらに、マコーミック(MaCor
mick) 等のヨーロッパ特許第0068167号には、
「銅65〜80重量部、酸化銅0〜6重量部およびBi
を含まない低軟化点ガラス3〜8重量部からなる導体組
成物」が開示されている。上記したように、銅導体組成
物に関する多数の文献が公知であるが、いずれも銅導体
上へのメッキ付けに関しては考慮されていない。
【0007】一方、厚膜ペースト上へのメッキに関して
は、例えば、特開昭56−125889号には、「耐熱
性絶縁基板上へPd、Pt化合物を含むペーストを塗
布、焼成後、Ni、CuまたはCoを無電解メッキする
ことで回路を形成する方法」が開示され、また厚膜印刷
基板の製造法に関し、特開平3−124091号には、
「アルミナセラミック基板に銅ペーストを印刷し、焼成
した銅厚膜の電極部に無電解メッキ法でNi−Au層を
設ける方法」が開示され、さらに、特開平3−1756
89号には、「導体パターン上にNiまたはCoを含有
する物質よりなるメッキ層を無電解メッキにて形成し、
厚膜回路基板を得る方法」が開示されている。このよう
に、導体上へ無電解メッキでメッキ層を形成する方法が
各種提案されているが、本発明に関連のある銅導体ペー
ストの組成に関しては開示されていない。
は、例えば、特開昭56−125889号には、「耐熱
性絶縁基板上へPd、Pt化合物を含むペーストを塗
布、焼成後、Ni、CuまたはCoを無電解メッキする
ことで回路を形成する方法」が開示され、また厚膜印刷
基板の製造法に関し、特開平3−124091号には、
「アルミナセラミック基板に銅ペーストを印刷し、焼成
した銅厚膜の電極部に無電解メッキ法でNi−Au層を
設ける方法」が開示され、さらに、特開平3−1756
89号には、「導体パターン上にNiまたはCoを含有
する物質よりなるメッキ層を無電解メッキにて形成し、
厚膜回路基板を得る方法」が開示されている。このよう
に、導体上へ無電解メッキでメッキ層を形成する方法が
各種提案されているが、本発明に関連のある銅導体ペー
ストの組成に関しては開示されていない。
【0008】以上詳述したように、メッキが可能な銅導
体ペースト組成物に関する有用な技術は開示されていな
い。
体ペースト組成物に関する有用な技術は開示されていな
い。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような現
状に鑑みてなされたものであって、その目的は、焼成さ
れた銅導体上に無電解あるいは電解によるメッキ処理を
行った後においても無機誘電体との間で接着強度の劣化
の少ないメッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物を
提供することにある。
状に鑑みてなされたものであって、その目的は、焼成さ
れた銅導体上に無電解あるいは電解によるメッキ処理を
行った後においても無機誘電体との間で接着強度の劣化
の少ないメッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物を
提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明者は種々検討を重ねた結果、ガラスフリットと
して特定成分のものを使用し、さらに酸化チタン粉末と
酸化亜鉛粉末を併用することで、メッキ後の無機誘電体
との接着強度の強い厚膜銅導体ペースト組成物を得るに
至ったのである。
に本発明者は種々検討を重ねた結果、ガラスフリットと
して特定成分のものを使用し、さらに酸化チタン粉末と
酸化亜鉛粉末を併用することで、メッキ後の無機誘電体
との接着強度の強い厚膜銅導体ペースト組成物を得るに
至ったのである。
【0011】すなわち、本発明の要旨は、下記配合の無
機粉末70〜95重量部と有機ビヒクル5〜30重量部
からなるメッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物に
ある。この無機粉末は、「銅粉末100重量部」と「P
bOとSiO2 とB2 O3 とアルカリ金属酸化物からな
るガラスフリット3〜10重量部」と「酸化チタン粉末
0.1〜3重量部」と「酸化亜鉛粉末0.5〜3重量
部」からなるものであり、上記アルカリ金属酸化物と
は、Li2 O、Na2 OおよびK2 Oのうちの1種以上
からなるものをいう。
機粉末70〜95重量部と有機ビヒクル5〜30重量部
からなるメッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物に
ある。この無機粉末は、「銅粉末100重量部」と「P
bOとSiO2 とB2 O3 とアルカリ金属酸化物からな
るガラスフリット3〜10重量部」と「酸化チタン粉末
0.1〜3重量部」と「酸化亜鉛粉末0.5〜3重量
部」からなるものであり、上記アルカリ金属酸化物と
は、Li2 O、Na2 OおよびK2 Oのうちの1種以上
からなるものをいう。
【0012】ガラスフリット中の各無機物の配合として
は、PbO50〜70重量部、SiO2 20〜40重量
部、B2 O3 5〜15重量部およびアルカリ金属酸化物
のうちの1種以上のもの0.5〜10重量部であるのが
好ましい。更に、Al2 O3、CaO、MgO、Zn
O、BaOおよびSrOのうちの1種以上のものを必要
に応じて10重量部以下の範囲内で添加することができ
る。
は、PbO50〜70重量部、SiO2 20〜40重量
部、B2 O3 5〜15重量部およびアルカリ金属酸化物
のうちの1種以上のもの0.5〜10重量部であるのが
好ましい。更に、Al2 O3、CaO、MgO、Zn
O、BaOおよびSrOのうちの1種以上のものを必要
に応じて10重量部以下の範囲内で添加することができ
る。
【0013】また、酸化チタン粉末としては、ルチル
型、ブルッカイト型またはアナターゼ型構造のものが知
られているが、これら結晶構造のうちどの構造のものを
用いてもよく、また2種以上を用いることもできる。
型、ブルッカイト型またはアナターゼ型構造のものが知
られているが、これら結晶構造のうちどの構造のものを
用いてもよく、また2種以上を用いることもできる。
【0014】本発明でいう銅粉末とは、平均粒径が0.
5〜10μm、タップ密度が2〜5g/cm3 のものを指
しており、粉末形状は球状、フレーク状、樹脂状のいず
れでもよい。また、自然環境下で銅粉表面が酸化される
程度の酸素を含有してもよく、その量は銅粉中の酸素含
有量として1重量%以下である。
5〜10μm、タップ密度が2〜5g/cm3 のものを指
しており、粉末形状は球状、フレーク状、樹脂状のいず
れでもよい。また、自然環境下で銅粉表面が酸化される
程度の酸素を含有してもよく、その量は銅粉中の酸素含
有量として1重量%以下である。
【0015】また、有機ビヒクルとは、エチルセルロー
ス、(メタ)アクリル樹脂、ポリエステル樹脂等をブチ
ルカルビトールアセテート、ターピネオール等の樹脂成
分を溶解することのできる溶媒で溶解したものを指し、
当業界で一般に使用されているものを使用できる。
ス、(メタ)アクリル樹脂、ポリエステル樹脂等をブチ
ルカルビトールアセテート、ターピネオール等の樹脂成
分を溶解することのできる溶媒で溶解したものを指し、
当業界で一般に使用されているものを使用できる。
【0016】本発明のメッキ付け可能な厚膜銅導体組成
物は、撹拌混合機を用いて混練したのち3本ロールミル
で分散安定化させ、ペースト状とすることができる。こ
のペースト組成物は無機誘電体上にスクリーン印刷、転
写印刷、ディッピング、またはディスペンサー塗布等の
適宜な方法によって塗工することができる。次いで、ペ
ーストを塗布した無機誘電体を100〜200℃の温度
で乾燥後、850〜1060℃の温度範囲内で焼成する
ことができる。焼成雰囲気は、非酸化性が好ましく、N
2 またはAr等の不活性雰囲気を採用することができ
る。なお、有機樹脂の燃焼促進のため系内に少量の酸素
を含有することが好ましい。
物は、撹拌混合機を用いて混練したのち3本ロールミル
で分散安定化させ、ペースト状とすることができる。こ
のペースト組成物は無機誘電体上にスクリーン印刷、転
写印刷、ディッピング、またはディスペンサー塗布等の
適宜な方法によって塗工することができる。次いで、ペ
ーストを塗布した無機誘電体を100〜200℃の温度
で乾燥後、850〜1060℃の温度範囲内で焼成する
ことができる。焼成雰囲気は、非酸化性が好ましく、N
2 またはAr等の不活性雰囲気を採用することができ
る。なお、有機樹脂の燃焼促進のため系内に少量の酸素
を含有することが好ましい。
【0017】上記ペースト化工程において、ぺーストの
性状をコントロールするため、メッキ付け可能な厚膜銅
導体組成物の特性を損なわない限りにおいて、界面活性
剤、可塑剤等を配合することが可能である。
性状をコントロールするため、メッキ付け可能な厚膜銅
導体組成物の特性を損なわない限りにおいて、界面活性
剤、可塑剤等を配合することが可能である。
【0018】また、無機誘電体としては、ハイブリッド
ICやセラミックパッケージ等に使用されているアルミ
ナ基板、窒化アルミニウム基板、ホーロー基板の他に低
温で焼成可能なガラス−セラミック基板などを挙げるこ
とができる。さらに、セラミックコンデンサーや高周波
用途の基板材料、フェライト基板等のセラミック基板を
使用することが可能である。
ICやセラミックパッケージ等に使用されているアルミ
ナ基板、窒化アルミニウム基板、ホーロー基板の他に低
温で焼成可能なガラス−セラミック基板などを挙げるこ
とができる。さらに、セラミックコンデンサーや高周波
用途の基板材料、フェライト基板等のセラミック基板を
使用することが可能である。
【0019】
【作用】本発明によれば、無機誘電体上に本発明のペー
ストを塗布焼成することによって、無電解メッキあるい
は電解メッキを施した後も無機誘電体と銅導体との密着
性は十分に確保され、信頼性のある回路または電極を得
ることができる。
ストを塗布焼成することによって、無電解メッキあるい
は電解メッキを施した後も無機誘電体と銅導体との密着
性は十分に確保され、信頼性のある回路または電極を得
ることができる。
【0020】本発明において各成分の配合量を限定した
理由は以下に示す通りである。 (無機粉末の組成) 『ガラスフリット』 ガラスフリットの配合量が3重
量部未満では、無機誘電体との密着性が不十分であり、
一方、その配合量が10重量部を超えると、銅ペースト
を塗布した無機誘電体を焼成するときにガラスが銅導体
表面にブリードアウトし、その結果メッキ付け時にメッ
キ金属と銅導体の表面銅とが十分結合せず、密着性が弱
くなる。 『酸化チタン粉末』 酸化チタン粉末が0.1重量部
未満では、メッキ時の接着強度の劣化が著しく、一方、
酸化チタン粉末が3重量部を超えると、メッキ金属と銅
導体との密着性が低下する。 『酸化亜鉛粉末』 酸化亜鉛粉末についても本発明の
範囲内で配合することで、酸化チタン粉末と同様の効果
があり、両者を併用することで相乗効果が期待できる。
理由は以下に示す通りである。 (無機粉末の組成) 『ガラスフリット』 ガラスフリットの配合量が3重
量部未満では、無機誘電体との密着性が不十分であり、
一方、その配合量が10重量部を超えると、銅ペースト
を塗布した無機誘電体を焼成するときにガラスが銅導体
表面にブリードアウトし、その結果メッキ付け時にメッ
キ金属と銅導体の表面銅とが十分結合せず、密着性が弱
くなる。 『酸化チタン粉末』 酸化チタン粉末が0.1重量部
未満では、メッキ時の接着強度の劣化が著しく、一方、
酸化チタン粉末が3重量部を超えると、メッキ金属と銅
導体との密着性が低下する。 『酸化亜鉛粉末』 酸化亜鉛粉末についても本発明の
範囲内で配合することで、酸化チタン粉末と同様の効果
があり、両者を併用することで相乗効果が期待できる。
【0021】(ガラスフリットの組成) 『PbO』 PbOはガラスの軟化温度を決定する重
要な成分であり、PbOが50重量部未満では、ガラス
の軟化温度が高くなり無機誘電体との密着性が十分でな
くなる。一方、PbOが70重量部を超えると、メッキ
時にPbOが還元されてガラスの破壊につながり、無機
誘電体との密着性が劣化する。
要な成分であり、PbOが50重量部未満では、ガラス
の軟化温度が高くなり無機誘電体との密着性が十分でな
くなる。一方、PbOが70重量部を超えると、メッキ
時にPbOが還元されてガラスの破壊につながり、無機
誘電体との密着性が劣化する。
【0022】『SiO2 』 SiO2 はメッキ液によ
るガラスの侵食をくい止める効果があり、そのために
は、20重量部以上必要であるが、40重量部を超える
と軟化点が高くなり過ぎてガラスとしての作用を示さな
くなる。
るガラスの侵食をくい止める効果があり、そのために
は、20重量部以上必要であるが、40重量部を超える
と軟化点が高くなり過ぎてガラスとしての作用を示さな
くなる。
【0023】『B2 O3 』 B2 O3 はガラスの融剤
としての役目を持っているが、多過ぎるとメッキ液に侵
食されやすくなり、少な過ぎるとガラスの軟化温度を上
げて無機誘電体との密着性向上に対する効果が期待でき
ない。そこで、B2 O3 は5〜15重量部配合するのが
好ましい。
としての役目を持っているが、多過ぎるとメッキ液に侵
食されやすくなり、少な過ぎるとガラスの軟化温度を上
げて無機誘電体との密着性向上に対する効果が期待でき
ない。そこで、B2 O3 は5〜15重量部配合するのが
好ましい。
【0024】『アルカリ金属酸化物』 アルカリ金属
酸化物はガラスの軟化点とガラスの流動化を促進するも
のであるが、多くなり過ぎるとメッキ液による侵食が大
きくなり、少な過ぎるとガラスの流動化が起こりにくく
なる。そこで、0.5〜10重量部配合するのが好まし
い。なお、Al2 O3 、CaO、MgO、ZnO、Ba
OおよびSrO等も10重量部以下の範囲内で添加する
ことにより、アルカリ金属酸化物と同様の効果が期待で
きる。
酸化物はガラスの軟化点とガラスの流動化を促進するも
のであるが、多くなり過ぎるとメッキ液による侵食が大
きくなり、少な過ぎるとガラスの流動化が起こりにくく
なる。そこで、0.5〜10重量部配合するのが好まし
い。なお、Al2 O3 、CaO、MgO、ZnO、Ba
OおよびSrO等も10重量部以下の範囲内で添加する
ことにより、アルカリ金属酸化物と同様の効果が期待で
きる。
【0025】(有機ビヒクル)無機粉末70〜95重量
部に対して有機ビヒクル5重量部未満では、ペースト化
に際しペースト状とするのが困難で、一方、有機ビヒク
ルが30重量部を超えると、焼成後の銅導体がポーラス
となってメッキ液の銅導体への侵食を大幅に助長し、密
着性を劣化させる。
部に対して有機ビヒクル5重量部未満では、ペースト化
に際しペースト状とするのが困難で、一方、有機ビヒク
ルが30重量部を超えると、焼成後の銅導体がポーラス
となってメッキ液の銅導体への侵食を大幅に助長し、密
着性を劣化させる。
【0026】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明するが、本発明
はこれら実施例により何等限定されるものではない。
はこれら実施例により何等限定されるものではない。
【0027】本実施例においては、以下の表1に示すよ
うに、銅粉としてはA、Bの2種類を使用し、ガラスフ
リットとしては以下の表2に示す3種類のもの(C、
D、E)を使用した。表2において、配合量は重量部を
示す。
うに、銅粉としてはA、Bの2種類を使用し、ガラスフ
リットとしては以下の表2に示す3種類のもの(C、
D、E)を使用した。表2において、配合量は重量部を
示す。
【0028】
【表1】
【0029】
【表2】
【0030】そして、以下の表3に示すように配合した
ものを混合撹拌機にて予備混練した後、3本ロールミル
で均一に分散させてペーストを作製した。これらの各ペ
ーストを同表に示す材質の基板に同表記載の各塗布方法
で塗布し、120℃で10分間乾燥した。次いで、この
各基板を、5ppmの酸素を含有する窒素雰囲気、ピー
ク温度900℃、インアウト60分の条件のベルト式焼
成炉で焼成した。そして、焼成した基板をまず溶剤で脱
脂し、次いでアルカリ脱脂および酸洗を行い、表面が清
浄にされたものについて、表3記載のようにメッキを行
った。メッキ条件は、無電解NiおよびAuメッキの場
合、あらかじめPd溶液にて活性化処理を行った後にN
i−P系のメッキ浴中で処理を行い、Niを0.1〜3
μm厚付着させ、さらにその後Auを0.01〜0.1
μm厚付着させた。一方、電解メッキの場合、洗浄工程
は無電解メッキと同一であるが、バレルメッキ法により
Niを1〜5μm厚付着させ、引き続き半田メッキを
0.5〜2μm厚み施した。このようにしてメッキされ
た各基板に対して半田にてワイヤを固定し、ピール法で
引き剥がし強度を測定した。その結果を表3に示す。表
3において、配合量は重量部を示す。
ものを混合撹拌機にて予備混練した後、3本ロールミル
で均一に分散させてペーストを作製した。これらの各ペ
ーストを同表に示す材質の基板に同表記載の各塗布方法
で塗布し、120℃で10分間乾燥した。次いで、この
各基板を、5ppmの酸素を含有する窒素雰囲気、ピー
ク温度900℃、インアウト60分の条件のベルト式焼
成炉で焼成した。そして、焼成した基板をまず溶剤で脱
脂し、次いでアルカリ脱脂および酸洗を行い、表面が清
浄にされたものについて、表3記載のようにメッキを行
った。メッキ条件は、無電解NiおよびAuメッキの場
合、あらかじめPd溶液にて活性化処理を行った後にN
i−P系のメッキ浴中で処理を行い、Niを0.1〜3
μm厚付着させ、さらにその後Auを0.01〜0.1
μm厚付着させた。一方、電解メッキの場合、洗浄工程
は無電解メッキと同一であるが、バレルメッキ法により
Niを1〜5μm厚付着させ、引き続き半田メッキを
0.5〜2μm厚み施した。このようにしてメッキされ
た各基板に対して半田にてワイヤを固定し、ピール法で
引き剥がし強度を測定した。その結果を表3に示す。表
3において、配合量は重量部を示す。
【0031】
【表3】
【0032】表3に明らかなように、本実施例に係る厚
膜銅導体ペースト組成物は、メッキ後にも実用上十分な
接着強度を有していることが分かる。
膜銅導体ペースト組成物は、メッキ後にも実用上十分な
接着強度を有していることが分かる。
【0033】
【発明の効果】本発明により、焼成された銅導体上に無
電解あるいは電解によるメッキ処理を行って後において
も、無機誘電体との間で接着強度の劣化の少ないメッキ
可能な厚膜銅導体ペースト組成物を提供することができ
る。
電解あるいは電解によるメッキ処理を行って後において
も、無機誘電体との間で接着強度の劣化の少ないメッキ
可能な厚膜銅導体ペースト組成物を提供することができ
る。
Claims (3)
- 【請求項1】 下記配合の無機粉末70〜95重量部と
有機ビヒクル5〜30重量部からなるメッキ付け可能な
厚膜銅導体ペースト組成物。無機粉末は、「銅粉末10
0重量部」と「PbOとSiO2 とB2 O3 とアルカリ
金属酸化物からなるガラスフリット3〜10重量部」と
「酸化チタン粉末0.1〜3重量部」と「酸化亜鉛粉末
0.5〜3重量部」からなるものであり、上記アルカリ
金属酸化物とは、Li2 O、Na2 OおよびK2 Oのう
ちの1種以上からなるものをいう。 - 【請求項2】 ガラスフリットの組成が、PbO50〜
70重量部で、SiO2 20〜40重量部で、B2 O3
5〜15重量部で、アルカリ金属酸化物のうちの1種以
上のもの0.5〜10重量部であることを特徴とする請
求項1記載のメッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成
物。 - 【請求項3】 酸化チタン粉末が、ルチル型、ブルッカ
イト型またはアナターゼ型のうち1種以上の構造を有す
ることを特徴とする請求項1記載のメッキ付け可能な厚
膜銅導体ペースト組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24469592A JP2589433B2 (ja) | 1992-09-14 | 1992-09-14 | メッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24469592A JP2589433B2 (ja) | 1992-09-14 | 1992-09-14 | メッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0693307A JPH0693307A (ja) | 1994-04-05 |
JP2589433B2 true JP2589433B2 (ja) | 1997-03-12 |
Family
ID=17122565
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24469592A Expired - Fee Related JP2589433B2 (ja) | 1992-09-14 | 1992-09-14 | メッキ付け可能な厚膜銅導体ペースト組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2589433B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07192529A (ja) * | 1993-12-24 | 1995-07-28 | Miyoshi Denshi Kk | 耐メッキ性導電性被膜形成用厚膜銅組成物 |
KR20040008094A (ko) * | 2002-07-17 | 2004-01-28 | 엔지케이 스파크 플러그 캄파니 리미티드 | 동 페이스트, 이것을 이용한 배선기판 및 배선기판의제조방법 |
US7558047B2 (en) | 2004-04-23 | 2009-07-07 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Electronic component and method for producing the same |
JP5137923B2 (ja) * | 2009-09-18 | 2013-02-06 | 株式会社ノリタケカンパニーリミテド | 太陽電池用電極ペースト組成物 |
JP5351100B2 (ja) | 2010-07-02 | 2013-11-27 | 株式会社ノリタケカンパニーリミテド | 太陽電池用導電性ペースト組成物 |
-
1992
- 1992-09-14 JP JP24469592A patent/JP2589433B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0693307A (ja) | 1994-04-05 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |