JP2576875B2 - 水準儀のマイクロ装置 - Google Patents
水準儀のマイクロ装置Info
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Description
本発明は水準測量に用いる水準儀のマイクロ装置に係
り、特に水準儀に組付けて使用し、或いは体に組込まれ
てなる、標尺目盛の堆数読取りに用いられる水準儀のマ
イクロ装置に関する。
り、特に水準儀に組付けて使用し、或いは体に組込まれ
てなる、標尺目盛の堆数読取りに用いられる水準儀のマ
イクロ装置に関する。
従来から標尺目盛の端数読取り用のマイクロ装置につ
いては、種々のものが用いられている。 第３図乃至第５図は従来例を示すものであり、第3A図
は水準儀にマイクロ装置を組付けた側面図、第3B図はマ
イクロ装置の概略構成図、第3C図は水準儀テレスコープ
視野内の標尺目盛と平行平面ガラスとの関係を示す説明
図である。第3A図で示すマイクロ装置Ｓは、水準儀40の
対物レンズ前方に組付けて使用される例を示す。つまみ
である目盛ドラム41には、ピニオン42連設されており、
該ピニオン42にはラック43が噛み合っている。ラック43
の先端側にはラックピン44を介してレバー45が連結され
ており、該レバー45には平行平面ガラス46が連結されて
いる。また平行平面ガラス46は、軸47によってマイクロ
装置Ｓのケーシングに枢着されて、矢印方向に揺動でき
るように構成されている。このような構成では、つまみ
である目盛ドラム41を回転させるとピニオン42によっ
て、ラック43が摺動し、ラック43の先端側に配置された
ラックピン44を介してレバー45が揺動し、平行平面ガラ
ス46が軸47を中心に回動するようになっている。そして
第3C図で示すように、像の平行移動量をｅ、平行平面ガ
ラスの傾斜θ，厚さをd,ガラスの屈折率をｎとすれば、 θ＝±25゜程度までは、 ｅ＝d x（ｎ−1/n）tanθ となる。目盛ドラム41を回転させるとレバー45が揺動
し、平行平面ガラス46にθなる回転量を与えることにな
る。この左右の移動量は、像の平行移動量ｅに比例す
る。従って、例えばテレコープ内で、第3C図で示すよう
に、標尺目盛47と48の間のP1の位置にクロスヘア位置が
あったとすると、この目盛47とクロスヘア位置との間の
端数を読取るときに、まず目盛ドラム41を回転させてク
ロスヘアが目盛47の位置となるようにし、このときの目
盛ドラム41のを読んで端数（例えば0.41）を求め、47.4
1cmっと読取る。つまり平面ガラス46をθだけ傾斜させ
て光軸をｅだけずらし、このｅなる長さが目盛ドラム41
の目盛（0.41cm）としてあらわれるようになっている。 また第４図は従来の他のマイクロ装置の構成図であ
り、これは、上記第3B図で示すマイクロ装置のラック43
に、目盛ガラススケール51を連設し、平行平面ガラス46
の変位置を目盛ガラススケール51の変位置として示し、
目盛ガラススケール51の変位置（0.41cm）をプリズム53
を介してマイクロスコープ52で拡大して読取るようにし
たものである。 さらに第5A図及び第5B図は他の従来例を示し、第5A図
は水準儀にマイクロ装置を組付けた斜視図、第5B図はマ
イクロ装置の概略構成図である。第5A図及び第5B図に示
されるように平行平面ガラス66に回転レバー65を一体化
し、回転レバー65につまみ61と連拮されたビニオン62と
噛合するラック63を形成しておき、ピニオン62の回動に
より平行平面ガラス66が回動するようにする。そして回
転レバー65に目盛板64を一体に連結したものもある。平
行平面ガラス61の回動量は目盛板64の回動量、即ち、目
盛板64の目盛の変位置としてあらわれ、これをマイクロ
スコープ68で読取る。この従来例は、平行平面ガラスの
回動を目盛板の回動変位置としているので、上記従来例
の回動量を直線の変位置にする場合に比し、誤差が小さ
いという特傲がある。
いては、種々のものが用いられている。 第３図乃至第５図は従来例を示すものであり、第3A図
は水準儀にマイクロ装置を組付けた側面図、第3B図はマ
イクロ装置の概略構成図、第3C図は水準儀テレスコープ
視野内の標尺目盛と平行平面ガラスとの関係を示す説明
図である。第3A図で示すマイクロ装置Ｓは、水準儀40の
対物レンズ前方に組付けて使用される例を示す。つまみ
である目盛ドラム41には、ピニオン42連設されており、
該ピニオン42にはラック43が噛み合っている。ラック43
の先端側にはラックピン44を介してレバー45が連結され
ており、該レバー45には平行平面ガラス46が連結されて
いる。また平行平面ガラス46は、軸47によってマイクロ
装置Ｓのケーシングに枢着されて、矢印方向に揺動でき
るように構成されている。このような構成では、つまみ
である目盛ドラム41を回転させるとピニオン42によっ
て、ラック43が摺動し、ラック43の先端側に配置された
ラックピン44を介してレバー45が揺動し、平行平面ガラ
ス46が軸47を中心に回動するようになっている。そして
第3C図で示すように、像の平行移動量をｅ、平行平面ガ
ラスの傾斜θ，厚さをd,ガラスの屈折率をｎとすれば、 θ＝±25゜程度までは、 ｅ＝d x（ｎ−1/n）tanθ となる。目盛ドラム41を回転させるとレバー45が揺動
し、平行平面ガラス46にθなる回転量を与えることにな
る。この左右の移動量は、像の平行移動量ｅに比例す
る。従って、例えばテレコープ内で、第3C図で示すよう
に、標尺目盛47と48の間のP1の位置にクロスヘア位置が
あったとすると、この目盛47とクロスヘア位置との間の
端数を読取るときに、まず目盛ドラム41を回転させてク
ロスヘアが目盛47の位置となるようにし、このときの目
盛ドラム41のを読んで端数（例えば0.41）を求め、47.4
1cmっと読取る。つまり平面ガラス46をθだけ傾斜させ
て光軸をｅだけずらし、このｅなる長さが目盛ドラム41
の目盛（0.41cm）としてあらわれるようになっている。 また第４図は従来の他のマイクロ装置の構成図であ
り、これは、上記第3B図で示すマイクロ装置のラック43
に、目盛ガラススケール51を連設し、平行平面ガラス46
の変位置を目盛ガラススケール51の変位置として示し、
目盛ガラススケール51の変位置（0.41cm）をプリズム53
を介してマイクロスコープ52で拡大して読取るようにし
たものである。 さらに第5A図及び第5B図は他の従来例を示し、第5A図
は水準儀にマイクロ装置を組付けた斜視図、第5B図はマ
イクロ装置の概略構成図である。第5A図及び第5B図に示
されるように平行平面ガラス66に回転レバー65を一体化
し、回転レバー65につまみ61と連拮されたビニオン62と
噛合するラック63を形成しておき、ピニオン62の回動に
より平行平面ガラス66が回動するようにする。そして回
転レバー65に目盛板64を一体に連結したものもある。平
行平面ガラス61の回動量は目盛板64の回動量、即ち、目
盛板64の目盛の変位置としてあらわれ、これをマイクロ
スコープ68で読取る。この従来例は、平行平面ガラスの
回動を目盛板の回動変位置としているので、上記従来例
の回動量を直線の変位置にする場合に比し、誤差が小さ
いという特傲がある。
しかしながら、上記第3A図乃至第3C図で示す技術で
は、読取り目盛が円筒の目盛ドラム41であるため、円筒
の径との関係で目盛の幅も小さくなるため、読み取り精
度に眠界がある。さらに水準儀40の接眼部から離れた前
方位置に目盛ドラム41が配設されることとなり、目盛が
読みにくいという問題がある。 第４図及び第５図で示す技術では、マイクロスコープ
の視野の狭い所から読むため、読みずらいという問題が
ある。またマイクロスコープで読み取るため、自然光の
明暗によって視野の明るさが左右されるという問題もあ
る。 その上、上記いずれの従来技術においても、アナログ
表示目盛、すなわち目盛ドラムの目盛、マイクロメータ
観測窓内に拡大されたメモリガラススケールの目盛等
を、観測者が直接読み取っていたので、長時間の読取り
作業では疲れやすく、すく、また誤読の可能性という問
題もあった。
は、読取り目盛が円筒の目盛ドラム41であるため、円筒
の径との関係で目盛の幅も小さくなるため、読み取り精
度に眠界がある。さらに水準儀40の接眼部から離れた前
方位置に目盛ドラム41が配設されることとなり、目盛が
読みにくいという問題がある。 第４図及び第５図で示す技術では、マイクロスコープ
の視野の狭い所から読むため、読みずらいという問題が
ある。またマイクロスコープで読み取るため、自然光の
明暗によって視野の明るさが左右されるという問題もあ
る。 その上、上記いずれの従来技術においても、アナログ
表示目盛、すなわち目盛ドラムの目盛、マイクロメータ
観測窓内に拡大されたメモリガラススケールの目盛等
を、観測者が直接読み取っていたので、長時間の読取り
作業では疲れやすく、すく、また誤読の可能性という問
題もあった。
本発明は上記問題点を解決するためになされた物であ
り、本発明の水準儀のマイクロ装置は、水準儀の光軸上
で対物レンズ前方に平行平面ガラスを配置し、前記平行
平面ガラスを傾ける手段と、該平行平面ガラスの傾斜量
をエンコーダによって読取らせる目盛読取手段と、該目
盛読取手段によって得た信号を処理する回路手段と、該
回路手段によって処理された結果を表示する表示手段
と、を備え、前記平行平面ガラスを傾ける手段は、手動
つまみと一体となった目盛ドラムと、該目盛ドラムに連
設されたピニオンと、該ピニオンに噛合したラック部材
と、ラック部材の一端部側にレバーを介して連設された
平行平面ガラスで構成され、該平行平面ガラスの傾斜量
をエンコーダによって読取らせる目盛読取手段は、ラッ
ク部材の他端側に連設されて平行平面ガラスの回動量に
よりレバー及びラック部材を介して摺動する目盛部材
と、発光部と、検出部と、マスク目盛と、で構成され、
前記マスク目盛は、位相のずれたcos,sinの受光素子用
の検出窓が設けられ、前記検出部には、マスク目盛を通
過した光を受けるcos,sin,REF用の受光素子を備えてな
る構成とする。
り、本発明の水準儀のマイクロ装置は、水準儀の光軸上
で対物レンズ前方に平行平面ガラスを配置し、前記平行
平面ガラスを傾ける手段と、該平行平面ガラスの傾斜量
をエンコーダによって読取らせる目盛読取手段と、該目
盛読取手段によって得た信号を処理する回路手段と、該
回路手段によって処理された結果を表示する表示手段
と、を備え、前記平行平面ガラスを傾ける手段は、手動
つまみと一体となった目盛ドラムと、該目盛ドラムに連
設されたピニオンと、該ピニオンに噛合したラック部材
と、ラック部材の一端部側にレバーを介して連設された
平行平面ガラスで構成され、該平行平面ガラスの傾斜量
をエンコーダによって読取らせる目盛読取手段は、ラッ
ク部材の他端側に連設されて平行平面ガラスの回動量に
よりレバー及びラック部材を介して摺動する目盛部材
と、発光部と、検出部と、マスク目盛と、で構成され、
前記マスク目盛は、位相のずれたcos,sinの受光素子用
の検出窓が設けられ、前記検出部には、マスク目盛を通
過した光を受けるcos,sin,REF用の受光素子を備えてな
る構成とする。
まず、平行平面ガラスを用いたマイクロ装貴を第1B図
で説明する。一般に表尺の目盛間隔は、通常10mm又は5m
m間隔で形成されている。これを水準儀の望遠鏡の焦点
板に形成された牛丙クロスヘアー線の示す位置で読みと
る。このとき、鎖線で示すように、目盛線の間に位置す
る場合に、その位置を正確に測定するために、平行平面
ガラスを用いて、視軸を平行移動する。 一般に、平行平面ガラスの傾き角と視軸の平行移動量
の関係は、前記したように次の式（１）で表わされる。 ｅ＝dx（ｎ−1/n）tanθ ……（１） 但し、e:像（視軸）の平行移動量 θ：平行平面ガラスの傾斜角 d:平行平面ガラスの厚さ n:平行平面ガラスの屈析率 こで、平行平面ガラスの屈折率ｎ及び平行平面ガラスの
厚さｄは、設計的に決めればよいもので定数となるの
で、 ｋ＝ｎ−1/n・ｄとおけば、 上記（１）式は、 ｅ＝Ｋ・tonθ ……（２） となる。 よって角度θを検出すれば、視軸の移動量が測定でき
ることになる。 つまり、本願発明は、前記のように構成されているの
で、目盛端数は平行平面ガラスの光軸の変位量であり、
この光軸変位量は平行平面ガラスの回動量であり、この
平行平面ガラスの同動量は目盛部材の目盛変位量とな
る。そして、この目盛部材の目盛の変位量を目盛読取手
段によって読取り、この目盛読取手段によって得た信号
を回路手段によって処理し、回路手段によって処理され
た結果を表示手段によって表示するものである。 したがって、表示手段（実施例で示すようにデジタル
表示）によるために、誤差がなく、読定値を大きく目視
し易くできる。そのうえ所定回路等を接続すれば、設定
単位を自由に変更することができる。
で説明する。一般に表尺の目盛間隔は、通常10mm又は5m
m間隔で形成されている。これを水準儀の望遠鏡の焦点
板に形成された牛丙クロスヘアー線の示す位置で読みと
る。このとき、鎖線で示すように、目盛線の間に位置す
る場合に、その位置を正確に測定するために、平行平面
ガラスを用いて、視軸を平行移動する。 一般に、平行平面ガラスの傾き角と視軸の平行移動量
の関係は、前記したように次の式（１）で表わされる。 ｅ＝dx（ｎ−1/n）tanθ ……（１） 但し、e:像（視軸）の平行移動量 θ：平行平面ガラスの傾斜角 d:平行平面ガラスの厚さ n:平行平面ガラスの屈析率 こで、平行平面ガラスの屈折率ｎ及び平行平面ガラスの
厚さｄは、設計的に決めればよいもので定数となるの
で、 ｋ＝ｎ−1/n・ｄとおけば、 上記（１）式は、 ｅ＝Ｋ・tonθ ……（２） となる。 よって角度θを検出すれば、視軸の移動量が測定でき
ることになる。 つまり、本願発明は、前記のように構成されているの
で、目盛端数は平行平面ガラスの光軸の変位量であり、
この光軸変位量は平行平面ガラスの回動量であり、この
平行平面ガラスの同動量は目盛部材の目盛変位量とな
る。そして、この目盛部材の目盛の変位量を目盛読取手
段によって読取り、この目盛読取手段によって得た信号
を回路手段によって処理し、回路手段によって処理され
た結果を表示手段によって表示するものである。 したがって、表示手段（実施例で示すようにデジタル
表示）によるために、誤差がなく、読定値を大きく目視
し易くできる。そのうえ所定回路等を接続すれば、設定
単位を自由に変更することができる。
以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。な
お以下に説明する部材，配置等は本発明を限定するもの
ではなく、本発明の趨旨に反しない範囲で種々改変する
ことができるものである． 第1A図乃至第1D図は本発明の第１実施例を示すもので
あり、第1A図及ぴ第1D図で示すように、本例のマイクロ
装置Ｓは、水準儀本体９の対物レンズ枠9aにマイクロ装
置本体ケーシング１が組付けられるようになっている。
マイクロ装置Ｓを対物レンズ枠9aに組付ける手段として
は、特に限定されるものではない。なお符号9bは水準儀
の対物レンズである。 そして本例のマイクロ装置Ｓは、マイクロ装置本体ケ
ーシング１に枢着されて傾斜状態を変えることのできる
平行平面ガラス２と、該平行平面ガラス２の傾斜量をエ
ンコーダによって読取らせる目盛読取手段と、該目盛読
取手段によって得た信号を処理する回路手段と、該回路
手段によって処理された結果を表示する表示手段等とか
ら構成されている。 すなわち、本例のマイクロ装置本体ケーシング１の側
部所定箇所には、手動つまみである目盛トラム５が配設
され、該目盛トラム５には、ピニオン６が連設されてお
り、このピニオン６にはラック部材７が噛み合ってい
る。ラック部材７の後側（第1A図において右側）には、
目盛部材３が連続して設けられており、ラック部材７の
先端側にはラックピン7aを介してレバー８が連結されて
いる。このレバー８は平行平面ガラス２と一体に連結さ
れているが、このレバー８は下端部が二股となって、こ
の二股部にラックピン7a,ラック部材７を介して上記目
盛部材３が係合し、平行平面ガラス２の回動量（傾斜
量）に応じて目盛部材３が前後に摺動できるようになっ
ている。 一方、平行平面ガラス２は、対物レンズの光軸上に配
置され、ピン軸2aによってマイクロ装置Ｓのケーシング
１に枢着されて、このピン軸2aを中心に矢印方向摺動で
きるように構成されている。このように、手動つまみで
ある目盛ドラム５を回転させるとピニオン６によって、
ラック部材７が播動し、ラック部材７の先端部に配置さ
れたラックピン7aを介してレバー８が揺動し、平行平面
ガラス２がピン軸2aを中心に回動するようになってい
る。 上記目盛部材３には平行平面ガラス２の回動量に応じ
た目盛が形成されている。つまり本例の目盛部材３に
は、所定間隔で長手方向にスリット3bが形成されてお
り、目盛部材３の上方（又は下方）には、マスク目盛3a
が配設されている。そしてマスク目盛3aには、位相のず
れた受尤素子cos,sinの検出窓が設けられており、摺動
方向を区別する。この目盛部材３とマスク部材3aの重ね
合せで生じる光量変化を、受光素子131で検出する目盛
読取手段によって目盛部材３の目盛移動量が読取られる
エンコーダとなっている。 本例の目盛読取手段は、第1C図で示すように、発光部
120,検出部130等から構成されている． 発光部120は、発光量調整回路121と、発光素子122
と、コリメータレンズ123等とからなり、発光素子（発
光ダイオード）122は発光量調整回路121と接続されてお
り、この発光量調整回路121は発光素子122の温度特性等
を補償する。発光素子122で発光した光は、コリメータ
レンズ123で平行にされ、上記目盛部材３に照射され
る。 検出部130は、目盛部材３及びマスク目盛3aを通過し
た光を受ける受光素子131からなり、該受光素子131はco
s,sin,REF用の各素子からなる。 目盛読取手段によって得た信号を処理する回路手段
は、HVアンプボード及びCPUポードに配設されている。H
Vアンプポードには受光素子131で変換された光電流を電
圧に変換する素子132と、発光量調整回路121とが配設さ
れている。またCPUボートには、UP/DOWNカウンタ134
と、比較回路135と、A/Dコバータ136等が配設されてい
る。 表示手段は、CRTや液晶からなるディスプレイ装置111
であり、入力部であるキーボード等112と共に、CPU（中
央演算装置）113と接続されてなる。なお本例のディス
プレイ装置111はマイクロ装置本体ケーシング１の上部
に固定している。 電源部140はバッテリー141と電源回路142等から構成
されており、所定のバッテリー141から所定電圧電流を
発光素子122及び各ボード，表示部等へ供給するもので
ある． 上記構成からなる実施例においては、平行平面ガラス
の傾斜量を検出するため、発光素子122からコリメータ
レンズ123を通った平行光が、目盛部材３とマスク目盛3
aのスリットの間を通り、この目盛部材３とマスク部材3
aの重ね合せで生じる光量変化を、受光素子131で受光
し、光電流に変換して、HVアンプで電圧に変換する。電
圧に変換された光電流は、cos,sin信号から比較回路135
へ導入される。比較回路135で波形整形された位相差を
もつ矩形波の出力は、UP/DOWNカウンタ134によって信号
化され、CPU113を介してディスプレイ装置111に投影さ
れる。同様にA/Dコンバータ136でデジタル信号に変換さ
れ、CPU113を介してディスプレイ装置111に表示され
る。 一方、受光素子REFは上記発光量調整回路121に導か
れ、発光素子の温度特性等を補償する基準信号にした
り、cos,sin信号を比較回路135で矩形波に整形する基準
信号等としたりする。 なお上記例では化学式のものを例示したが、磁気式の
ものであっても良い。 また本例では、つまみである目盛ドラム５にも目盛が
形成されており、この目盛ドラム５の目盛を読むことに
よっても、端数を読み取ることもできる。 以上のように本例によれば、デジタル表示によってい
るため、周知・公知の単位変換回路等を接続することに
よって、読定単数を自由に変えられる。 なお、上記実施例では光学式リニアエンコーダによっ
て目盛読取り機構を構成したが、光学式ロータリーエン
コーダを用いて構成することもできる。この場合には、
例えば、従来例で示した第5A図及び第5B図で示すような
回転レバーに、目盛板に相当する目盛部材を設け、この
目盛部材の目盛を、光学式又は磁気式によって読取るよ
うにして構成することができる。 また第２図は本願発明の１の表示装置部に関する第２
の実施例を示すものである。 上記実施例では、マイクロ装置本体ケーシング１にデ
ィスプレイ装置111を固定しているが、第２図で示され
たように、ディスプレイ装置211をフレキレブルコード2
12を介して接続すれば、目の位置が固定されずに済む。 さらに例えばディスプレイ装置を磁力で、水準儀本体
のテレスコープ近傍に配置するようにすることもでき
る。
お以下に説明する部材，配置等は本発明を限定するもの
ではなく、本発明の趨旨に反しない範囲で種々改変する
ことができるものである． 第1A図乃至第1D図は本発明の第１実施例を示すもので
あり、第1A図及ぴ第1D図で示すように、本例のマイクロ
装置Ｓは、水準儀本体９の対物レンズ枠9aにマイクロ装
置本体ケーシング１が組付けられるようになっている。
マイクロ装置Ｓを対物レンズ枠9aに組付ける手段として
は、特に限定されるものではない。なお符号9bは水準儀
の対物レンズである。 そして本例のマイクロ装置Ｓは、マイクロ装置本体ケ
ーシング１に枢着されて傾斜状態を変えることのできる
平行平面ガラス２と、該平行平面ガラス２の傾斜量をエ
ンコーダによって読取らせる目盛読取手段と、該目盛読
取手段によって得た信号を処理する回路手段と、該回路
手段によって処理された結果を表示する表示手段等とか
ら構成されている。 すなわち、本例のマイクロ装置本体ケーシング１の側
部所定箇所には、手動つまみである目盛トラム５が配設
され、該目盛トラム５には、ピニオン６が連設されてお
り、このピニオン６にはラック部材７が噛み合ってい
る。ラック部材７の後側（第1A図において右側）には、
目盛部材３が連続して設けられており、ラック部材７の
先端側にはラックピン7aを介してレバー８が連結されて
いる。このレバー８は平行平面ガラス２と一体に連結さ
れているが、このレバー８は下端部が二股となって、こ
の二股部にラックピン7a,ラック部材７を介して上記目
盛部材３が係合し、平行平面ガラス２の回動量（傾斜
量）に応じて目盛部材３が前後に摺動できるようになっ
ている。 一方、平行平面ガラス２は、対物レンズの光軸上に配
置され、ピン軸2aによってマイクロ装置Ｓのケーシング
１に枢着されて、このピン軸2aを中心に矢印方向摺動で
きるように構成されている。このように、手動つまみで
ある目盛ドラム５を回転させるとピニオン６によって、
ラック部材７が播動し、ラック部材７の先端部に配置さ
れたラックピン7aを介してレバー８が揺動し、平行平面
ガラス２がピン軸2aを中心に回動するようになってい
る。 上記目盛部材３には平行平面ガラス２の回動量に応じ
た目盛が形成されている。つまり本例の目盛部材３に
は、所定間隔で長手方向にスリット3bが形成されてお
り、目盛部材３の上方（又は下方）には、マスク目盛3a
が配設されている。そしてマスク目盛3aには、位相のず
れた受尤素子cos,sinの検出窓が設けられており、摺動
方向を区別する。この目盛部材３とマスク部材3aの重ね
合せで生じる光量変化を、受光素子131で検出する目盛
読取手段によって目盛部材３の目盛移動量が読取られる
エンコーダとなっている。 本例の目盛読取手段は、第1C図で示すように、発光部
120,検出部130等から構成されている． 発光部120は、発光量調整回路121と、発光素子122
と、コリメータレンズ123等とからなり、発光素子（発
光ダイオード）122は発光量調整回路121と接続されてお
り、この発光量調整回路121は発光素子122の温度特性等
を補償する。発光素子122で発光した光は、コリメータ
レンズ123で平行にされ、上記目盛部材３に照射され
る。 検出部130は、目盛部材３及びマスク目盛3aを通過し
た光を受ける受光素子131からなり、該受光素子131はco
s,sin,REF用の各素子からなる。 目盛読取手段によって得た信号を処理する回路手段
は、HVアンプボード及びCPUポードに配設されている。H
Vアンプポードには受光素子131で変換された光電流を電
圧に変換する素子132と、発光量調整回路121とが配設さ
れている。またCPUボートには、UP/DOWNカウンタ134
と、比較回路135と、A/Dコバータ136等が配設されてい
る。 表示手段は、CRTや液晶からなるディスプレイ装置111
であり、入力部であるキーボード等112と共に、CPU（中
央演算装置）113と接続されてなる。なお本例のディス
プレイ装置111はマイクロ装置本体ケーシング１の上部
に固定している。 電源部140はバッテリー141と電源回路142等から構成
されており、所定のバッテリー141から所定電圧電流を
発光素子122及び各ボード，表示部等へ供給するもので
ある． 上記構成からなる実施例においては、平行平面ガラス
の傾斜量を検出するため、発光素子122からコリメータ
レンズ123を通った平行光が、目盛部材３とマスク目盛3
aのスリットの間を通り、この目盛部材３とマスク部材3
aの重ね合せで生じる光量変化を、受光素子131で受光
し、光電流に変換して、HVアンプで電圧に変換する。電
圧に変換された光電流は、cos,sin信号から比較回路135
へ導入される。比較回路135で波形整形された位相差を
もつ矩形波の出力は、UP/DOWNカウンタ134によって信号
化され、CPU113を介してディスプレイ装置111に投影さ
れる。同様にA/Dコンバータ136でデジタル信号に変換さ
れ、CPU113を介してディスプレイ装置111に表示され
る。 一方、受光素子REFは上記発光量調整回路121に導か
れ、発光素子の温度特性等を補償する基準信号にした
り、cos,sin信号を比較回路135で矩形波に整形する基準
信号等としたりする。 なお上記例では化学式のものを例示したが、磁気式の
ものであっても良い。 また本例では、つまみである目盛ドラム５にも目盛が
形成されており、この目盛ドラム５の目盛を読むことに
よっても、端数を読み取ることもできる。 以上のように本例によれば、デジタル表示によってい
るため、周知・公知の単位変換回路等を接続することに
よって、読定単数を自由に変えられる。 なお、上記実施例では光学式リニアエンコーダによっ
て目盛読取り機構を構成したが、光学式ロータリーエン
コーダを用いて構成することもできる。この場合には、
例えば、従来例で示した第5A図及び第5B図で示すような
回転レバーに、目盛板に相当する目盛部材を設け、この
目盛部材の目盛を、光学式又は磁気式によって読取るよ
うにして構成することができる。 また第２図は本願発明の１の表示装置部に関する第２
の実施例を示すものである。 上記実施例では、マイクロ装置本体ケーシング１にデ
ィスプレイ装置111を固定しているが、第２図で示され
たように、ディスプレイ装置211をフレキレブルコード2
12を介して接続すれば、目の位置が固定されずに済む。 さらに例えばディスプレイ装置を磁力で、水準儀本体
のテレスコープ近傍に配置するようにすることもでき
る。
本願発明は上述のように構成されており、測定値を読
取手段によって読み取り、デジタル表示されるため測定
値の誤読がない。また表示装置部が別に形成されるの
で、読定値を大きく見やすい大きさにすることができ
る。
取手段によって読み取り、デジタル表示されるため測定
値の誤読がない。また表示装置部が別に形成されるの
で、読定値を大きく見やすい大きさにすることができ
る。
第１図は本発明の第１実施例を示し、第1A図はブロック
ダイヤグラム、第1B図は水準儀テレスコープ視野内の標
尺目盛と平行平面ガラスとの関係を示す説明図、第1C図
は検出部の要部説明図、第1D図は水準儀にマイクロ装置
を組付けた側面図、第２図は本願発明の表示部に関する
第２の実施例を示す概略斜視図であり、第３図乃至第５
図は従来例を示す。 １……マイクロ装置本体ケーシング、 ２……平行平面ガラス、 ３……目盛部材、 ５……手動つまみ、 ９……水準儀、 9b……対物レンズ、 120……発光部（目盛読取手段）、 130……検出部（目盛読取手段）、 Ｓ……マイクロ装置。
ダイヤグラム、第1B図は水準儀テレスコープ視野内の標
尺目盛と平行平面ガラスとの関係を示す説明図、第1C図
は検出部の要部説明図、第1D図は水準儀にマイクロ装置
を組付けた側面図、第２図は本願発明の表示部に関する
第２の実施例を示す概略斜視図であり、第３図乃至第５
図は従来例を示す。 １……マイクロ装置本体ケーシング、 ２……平行平面ガラス、 ３……目盛部材、 ５……手動つまみ、 ９……水準儀、 9b……対物レンズ、 120……発光部（目盛読取手段）、 130……検出部（目盛読取手段）、 Ｓ……マイクロ装置。
Claims (1)
- 【請求項１】水準儀の光軸上で対物レンズ前方に平行平
面ガラスを配置し、前記平行平面ガラスを傾ける手段
と、該平行平面ガラスの傾斜量をエンコーダによって読
取らせる目盛読取手段と、該目盛読取手段によって得た
信号を処理する回路手段と、該回路手段によって処理さ
れた結果を表示する表示手段と、を備え、 前記平行平面ガラスを傾ける手段は、手動つまみと一体
となった目盛ドラムと、該目盛ドラムに連設されたピニ
オンと、該ピニオンに噛合したラック部材と、ラック部
材の一端部側にレバーを介して連設された平行平面ガラ
スで構成され、 該平行平面ガラスの傾斜量をエンコーダによって読取ら
せる目盛読取手段は、ラック部材の他端側に連設されて
平行平面ガラスの回動量によりレバー及びラック部材を
介して摺動する目盛部材と、発光部と、検出部と、マス
ク目盛と、で構成され、前記マスク目盛は、位相のずれ
たcos,sinの受光素子用の検出窓が設けられ、前記検出
部には、マスク目盛を通過した光を受けるcos,sin,REF
用の受光素子を備えてなることを特徴とする水準儀のマ
イクロ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62259221A JP2576875B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 水準儀のマイクロ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62259221A JP2576875B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 水準儀のマイクロ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01101411A JPH01101411A (ja) | 1989-04-19 |
| JP2576875B2 true JP2576875B2 (ja) | 1997-01-29 |
Family
ID=17331086
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62259221A Expired - Lifetime JP2576875B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 水準儀のマイクロ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2576875B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102128610A (zh) * | 2011-01-11 | 2011-07-20 | 苏州市太平洋光学仪器厂 | 数字显示平板测微读数系统 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2652346B1 (fr) * | 1989-09-22 | 1991-11-29 | Air Liquide | Procede de preparation de disilane. |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55155209A (en) * | 1979-05-23 | 1980-12-03 | Mitsui Seiki Kogyo Kk | Processing circuit for displacement signal |
| JPS6118123A (ja) * | 1984-07-04 | 1986-01-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 薄膜形成装置 |
-
1987
- 1987-10-14 JP JP62259221A patent/JP2576875B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102128610A (zh) * | 2011-01-11 | 2011-07-20 | 苏州市太平洋光学仪器厂 | 数字显示平板测微读数系统 |
| CN102128610B (zh) * | 2011-01-11 | 2012-10-03 | 苏州市太平洋光学仪器厂 | 数字显示平板测微读数系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01101411A (ja) | 1989-04-19 |
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