JP2565233B2 - Optical disk device - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 以下の順序で本発明を説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention will be described in the following order.
A産業上の利用分野 B発明の概要 C従来の技術 D発明が解決しようとする問題点(第6図〜第8図) E問題点を解決するための手段(第1図) F作用(第1図) G実施例(第1図〜第5図) H発明の効果 A産業上の利用分野 本発明は光デイスク装置に関し、特にプルグループが
形成された光デイスクを用いる光磁気デイスク装置等の
光デイスク装置に適用して好適なものである。A Industrial Field B Outline of Invention C Prior Art D Problems to be Solved by the Invention (FIGS. 6 to 8) E Means for Solving Problems (FIG. 1) F Action (FIG. 1) G Example (FIGS. 1 to 5) H Effect of the invention A Industrial field of application The present invention relates to an optical disk device, and more particularly to a magneto-optical disk device using an optical disk having a pull group formed therein. It is suitable for application to an optical disk device.
B発明の概要 本発明は、光デイスク装置において、フオーカスエラ
ー信号に混入した漏れ信号の信号レベルに基づいて、漏
れ信号を除去する不感帯回路を制御することにより、フ
オーカスエラーの発生を未然に防止することができる。B. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention prevents occurrence of a focus error in an optical disk device by controlling a dead zone circuit for removing the leak signal based on the signal level of the leak signal mixed in the focus error signal. Can be prevented.
C従来の技術 従来、この種の光磁気ディスク装置においては、光ヘ
ツドをトラツキング制御すると共にフオーカス制御する
ことにより、情報を確実に記録及び再生することができ
るようになされている。C Conventional Technology Conventionally, in this type of magneto-optical disk device, it is possible to reliably record and reproduce information by tracking control and focus control of an optical head.
すなわち光デイスクの記録トラツク間に予め形成され
たプリグループから得られる反射光に基づいて、トラツ
キングエラー信号を得、当該トラツキングエラー信号に
基づいて光ヘツドを駆動制御することにより、ジヤスト
トラツキングの状態を得る。That is, the tracking error signal is obtained based on the reflected light obtained from the pre-group formed in advance between the recording tracks of the optical disk, and the optical head is drive-controlled based on the tracking error signal, so that the just track track is generated. Get the King state.
さらに記録トラツクから得られる反射光に基づいて、
フオーカスエラー信号を得、当該フオーカスエラー信号
に基づいて光ヘツドを駆動制御することにより、ジヤス
トフオーカスの状態を得るようになされている。Furthermore, based on the reflected light obtained from the recording track,
By obtaining a focus error signal and driving and controlling the optical head based on the focus error signal, the state of the just focus is obtained.
これに対してシーク時においては、トラツキングエラ
ー信号に代えて所定の駆動信号に基づいて光ヘツドを光
デイスクの半径方向に駆動制御することにより、所望の
記録トラツクに対して光ヘツドを移動するようになされ
ている。On the other hand, at the time of seek, the optical head is driven and controlled in the radial direction of the optical disk based on a predetermined drive signal instead of the tracking error signal, thereby moving the optical head with respect to a desired recording track. It is done like this.
D発明が解決しようとする問題点 ところがこの種の光磁気デイスク装置においては、シ
ーク時に光ヘツドが光デイスクの半径方向に移動する
と、光スポツトがプリグルーブ及び記録トラツクを横切
るたびに、フオーカスエラー信号の検出に供する反射光
の光量が変化する現象が生じる。D. The problem to be solved by the invention. However, in this type of magneto-optical disk device, if the optical head moves in the radial direction of the optical disk during seek, a focus error occurs each time the optical spot crosses the pre-groove and the recording track. A phenomenon occurs in which the amount of reflected light used for signal detection changes.
従つて第6図に示すように、フオーカスエラー信号S
FEにおいては、反射光の光量の変化に伴つて信号レベル
が変化し、その結果フオーカスエラー信号に周波数の高
い信号成分(すなわちプリグルーブで変調された信号で
以下漏れ信号と呼ぶ)が混入する問題がある(第6図
(A))。Therefore, as shown in FIG. 6, the focus error signal S
In the FE , the signal level changes as the amount of reflected light changes, and as a result, a high-frequency signal component (that is, a signal modulated by pregroove, referred to as a leak signal below) is mixed into the focus error signal. There is a problem (Fig. 6 (A)).
第7図に示すように、実際上フオーカスサーボ回路1
においては、応答特性を改善するために位相補償回路2
を用いてフオーカスエラー信号SFEの周波数の高い信号
成分を強調した後、駆動回路3の駆動出力信号SFDでフ
オーカスアクチユエータ4を駆動するになされている。As shown in FIG. 7, the focus servo circuit 1 is actually used.
In order to improve the response characteristics, the phase compensation circuit 2
Is used to emphasize the high frequency signal component of the focus error signal S FE , and then the focus output actuator S 4 is driven by the drive output signal S FD of the drive circuit 3.
従つてこのような漏れ信号がフオーカスエラー信号S
FEに混入すると、フオーカスサーボ回路1によつて構成
されるフオーカスサーボループで当該漏れ信号が強調さ
れて、ついにはピークが飽和して波形歪が生じた駆動出
力信号SFD(第6図(B))出力されるようになる。Therefore, such a leak signal is a focus error signal S.
When mixed into FE , the leakage signal is emphasized in the focus servo loop configured by the focus servo circuit 1, and finally the peak is saturated and waveform drive distortion occurs in the drive output signal S FD (Fig. 6). (B)) It will be output.
このように駆動出力信号SFDに波形歪が生じると、そ
の分当該駆動出力信号SFDの直流レベルが変化してフオ
ーカスエラーが生じる問題がある。When the waveform distortion occurs in the drive output signal S FD in this way, there is a problem that the DC level of the drive output signal S FD changes correspondingly and a focus error occurs.
この問題を解決するための1つの方法として第8図に
示すように、漏れ信号除去回路10を介してフオーカスエ
ラー信号SFEを位相補償回路2(第7図)に入力する方
法が提案がされている(特願昭62−69053号)。As one method for solving this problem, as shown in FIG. 8, a method of inputting the focus error signal S FE to the phase compensation circuit 2 (FIG. 7) via the leakage signal removal circuit 10 has been proposed. (Japanese Patent Application No. 62-69053).
すなわちボルテージフオロワ回路構成の演算増幅回路
11を介してフオーカスエラー信号SFEを不感帯回路12に
与え、不感帯回路12の出力信号を抵抗13、コンデンサ14
及びボルテージフオロワ回路構成の演算増幅回路15で構
成されたホールド回路16を介して位相補償回路2で出力
する。That is, the operational amplifier circuit of the voltage follower circuit configuration
The focus error signal S FE is applied to the dead zone circuit 12 via 11 and the output signal of the dead zone circuit 12 is supplied to the resistor 13 and the capacitor 14.
And a phase compensating circuit 2 through a hold circuit 16 composed of an operational amplifier circuit 15 having a voltage follower circuit configuration.
不感帯回路12は、逆極性に並列接続されたダイオード
17及び18で構成され、2つのダイオード17及び18の立上
り電圧の電位差を利用してフオーカスエラー信号SFEに
混入した漏れ信号を除去するようになされている。The dead band circuit 12 is a diode connected in parallel with opposite polarity.
The leakage signal mixed in the focus error signal S FE is removed by using the potential difference between the rising voltages of the two diodes 17 and 18.
すなわち演算増幅回路15の非反転入力端に保持された
ホールド電圧VHに対して不感帯回路12の入力電圧V
FE(すなわち漏れ信号が混入したフオーカスエラー信号
の電圧でなる)が変動した場合において、この電圧変動
幅(すなわち電位差VH−VFEでなる)がダイオード17又
は18の立上り電圧VD1又はVD2より小さい場合において
は、ともにダイオード17及び18はオフ状態を維持し、そ
の結果ホールド回路16に保持されたホールド電圧VHが、
そのまま位相補償回路2(第6図)に出力される。That is, with respect to the hold voltage V H held at the non-inverting input terminal of the operational amplifier circuit 15, the input voltage V
When FE (that is, the voltage of the focus error signal mixed with the leak signal) fluctuates, this voltage fluctuation width (that is, the potential difference V H −V FE ) causes the rising voltage V D1 or V of the diode 17 or 18. When it is smaller than D2 , both the diodes 17 and 18 maintain the off state, and as a result, the hold voltage V H held in the hold circuit 16 is
It is directly output to the phase compensation circuit 2 (FIG. 6).
これに対して電圧変動幅VH−VFEがダイオード17又は1
8の立上り電圧VD1又はVD2より大きくなると、ダイオー
ド17又は18がオン状態になり、変動した電圧VH−VFEか
らダイオード17又は18の立上り電圧VD1又はVD2を減算し
た差電圧の分だけホールド電圧VHが変化する。On the other hand, the voltage fluctuation range V H −V FE is
When it becomes larger than the rising voltage V D1 or V D2 of 8, the diode 17 or 18 is turned on, and the difference voltage obtained by subtracting the rising voltage V D1 or V D2 of the diode 17 or 18 from the changed voltage V H −V FE . The hold voltage V H changes by that amount.
従つてホールド電圧VHに対して、入力電圧VFEがダイ
オード17及び18の立上り電圧VD1及びVD2の範囲の信号レ
ベルで変動しても、当該ホールド電圧VHが変化しない領
域(以下不感帯と呼ぶ)を得ることができ、かくしてフ
オーカスエラー信号SFEに混入した漏れ信号を当該不感
帯を用いて除去することができる。Against sub connexion hold voltage V H, also the input voltage V FE is varied in signal level in the range of threshold voltage V D1 and V D2 of the diode 17 and 18, the holding voltage V H is not changed region (hereinafter deadband ) Can be obtained, and thus the leak signal mixed in the focus error signal S FE can be removed by using the dead zone.
ところが第8図に示す構成の漏れ信号除去回路10にお
いては、不感帯の幅がダイオード17及び18の立上り電圧
VD1及びVD2によつて得られることから、漏れ信号だけを
効率良く除去することが困難な問題があつた。However, in the leakage signal elimination circuit 10 having the configuration shown in FIG. 8, the dead band width is the rising voltage of the diodes 17 and 18.
Since it is obtained by V D1 and V D2, there is a problem that it is difficult to efficiently remove only the leak signal.
すなわち当該立上り電圧VD1及びVD2よりも大きな電位
差で変化する漏れ信号が混入すると、フオーカスエラー
信号FFEから当該漏れ信号が完全に除去されないで出力
されるおそれがあり、この場合フオーカスエラーを生じ
るおそれがあつた。That is, if a leak signal that changes with a potential difference larger than the rising voltages V D1 and V D2 is mixed, the leak signal may be output without being completely removed from the focus error signal F FE. May occur.
逆に全体として当該立上り電圧よりも小さな電位差で
変化する漏れ信号が混入している場合においては、漏れ
信号の分だけでなく、必要以上にフオーカスエラー信号
の信号レベルが低下する。従つて、その分フオーカスカ
ーボループ全体のフオーカスエラー補正特性が劣下し、
フオーカスエラーを生じるおそれがあつた。On the contrary, when a leak signal that changes with a potential difference smaller than the rising voltage is mixed as a whole, not only the leak signal but also the signal level of the focus error signal is lowered more than necessary. Therefore, the focus error correction characteristic of the entire focus loop is degraded by that amount,
A focus error could occur.
さらに実際上当該立上り電圧は、ダイオード17及び18
の温度特性によつて変動し、例えば温度が高くなればそ
の分不感帯の幅が狭くなる問題があつた。Further, in practice, the rising voltage is the diodes 17 and 18
There is a problem in that the width of the dead zone becomes narrower as the temperature rises.
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、フオー
カスエラー信号に混入した漏れ信号を効率良くしかも安
定に除去して、フオーカスエラーの発生を未然に防止し
た光デイスク装置を提案しようとするものである。The present invention has been made in consideration of the above points, and proposes an optical disk device that efficiently and stably removes a leak signal mixed in a focus error signal to prevent the occurrence of a focus error. It is what
E問題点を解決するための手段 かかる問題点を解決するため本発明においては、プリ
グループが形成された光デイスクを用いるようになされ
た光デイスク装置において、入力電圧VHを保持するホー
ルド回路と、フオーカスエラー信号SFEを受け、フオー
カスエラー信号SFEの信号レベルVFEを、ホールド回路16
に保持されたホールド電圧VHを基準にして所定範囲
VF1、VF2だけ抑制してホールド回路16の入力電圧VHとし
て出力する不感帯回路23と、ホールド回路16を介して得
られるフオーカスエラー信号SFE1から、プリグルーブに
よつて変調された漏れ信号SM1の信号レベルVCを検出す
る漏れ信号検出回路32、33、40、43と、漏れ信号検出回
路32、33、40、43の検出結果VCに基づいて不感帯回路23
で抑制される信号レベルの範囲VF1、VF2を制御する不感
帯幅制御回路25、26、48、57とを備え、ホールド回路16
を介して得られるフオーカスエラー信号SFE1に基づいて
フオーカス制御するようにする。E Means for Solving the Problems In order to solve the problems, according to the present invention, an optical disk device configured to use an optical disk having a pregroup is provided with a hold circuit for holding an input voltage V H. , The focus error signal S FE is received, and the signal level V FE of the focus error signal S FE is held by the hold circuit 16
Predetermined range based on the hold voltage V H held at
The dead-zone circuit 23 that suppresses only V F1 and V F2 and outputs it as the input voltage V H of the hold circuit 16 and the focus error signal S FE1 obtained through the hold circuit 16 cause the leakage modulated by the pre-groove. The leak signal detection circuits 32, 33, 40, 43 for detecting the signal level V C of the signal S M1 and the dead band circuit 23 based on the detection results V C of the leak signal detection circuits 32, 33, 40, 43.
A dead band width control circuit 25, 26, 48, 57 for controlling the signal level range V F1 , V F2 suppressed by the hold circuit 16 is provided.
The focus control is performed based on the focus error signal S FE1 obtained via.
F作用 フオーカスエラー信号SFE1から漏れ信号SM1の信号レ
ベルVCを検出して、当該検出結果に基づいて不感帯回路
23で抑制される信号レベルVF1、VF2を制御するようにす
れば、フオーカスエラー信号SFEに混入した漏れ信号SM1
を効率良くかつ安定に除去することができる。F action Detects the signal level V C of the leak signal S M1 from the focus error signal S FE1, and detects the dead zone circuit based on the detection result.
By controlling the signal levels V F1 and V F2 suppressed by 23, the leakage signal S M1 mixed in the focus error signal S FE
Can be removed efficiently and stably.
G実施例 以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。G Embodiment One embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第8図との対応部分に同一符号を付して示す第1図に
おいて、20は全体として漏れ信号除去回路を示し、ダイ
オード17及び18にそれぞれ直列接続された抵抗値R1の抵
抗21及び22で不感帯回路23を構成するようになされてい
る。In FIG. 1 in which parts corresponding to those in FIG. 8 are designated by the same reference numerals, reference numeral 20 denotes a leakage signal removing circuit as a whole, and resistors 21 and 22 having a resistance value R 1 connected in series to diodes 17 and 18, respectively. The dead band circuit 23 is configured by.
さらにダイオード17及び抵抗21と、ダイオード18及び
抵抗22の接続点には、電流I1及びI2の電流源25及び26が
接続され、かくして当該電流I1及びI2によつて抵抗21及
び22に生じる電圧降下VR1及びVR2の分、不感帯回路23の
入力電圧VFEに比してオフセツトされた電圧(すなわち
電圧VFE−VR1及びVFE+VR2でなる)がダイオード17及び
18に印加されるようになされている。Further diode 17 and resistor 21, to the connection point of the diodes 18 and the resistor 22, the current I 1 and connected current sources 25 and 26 of the I 2 is, thus the current I 1 and by the I 2 connexion resistors 21 and 22 Of the voltage drop V R1 and V R2 that occurs in the diode 17 and the offset voltage (that is, the voltage V FE −V R1 and V FE + V R2 ) compared with the input voltage V FE of the dead zone circuit 23.
It is designed to be applied to 18.
従つてダイオード17、18は、ホールド電圧VHに比して
印加電圧VFE−VR1及びVFE+VR2がそれぞれ次式 VD1<(VFE−VR1)−VH ……(1) VD2<VH−(VFE+VR2) ……(2) のときオン動作し、かくして、(1)式及び(2)式を
変形して、次式 VD1+VR1<VFE−VH ……(3) −(VD2+VR2)>VFE−VH ……(4) の関係式を得ることができる。Therefore, in the diodes 17 and 18, the applied voltage V FE −V R1 and V FE + V R2 are respectively compared with the hold voltage V H by the following formula V D1 <(V FE −V R1 ) −V H ...... (1) When V D2 <V H − (V FE + V R2 ) ... (2), it turns on, and thus the formulas (1) and (2) are modified to obtain the following formula V D1 + V R1 <V FE −V It is possible to obtain the relational expression of H …… (3)-(V D2 + V R2 )> V FE −V H …… (4).
すなわち、ホールド電圧VHに対する入力電圧VFEの変
動幅がそれぞれ電圧VD1+VR1及び−(VD2+VR2)を越え
るとダイオード17及び18がオン動作し、ホールド電圧VH
が変化することが分かる。That is, when the fluctuation width of the input voltage V FE with respect to the hold voltage V H exceeds the voltages V D1 + V R1 and − (V D2 + V R2 ) respectively, the diodes 17 and 18 are turned on and the hold voltage V H
You can see that changes.
従つてホールド電圧VHに対する入力電圧VFEの電圧変
動が電圧VD1+VR1から電圧−(VD2+VR2)の範囲で、当
該不感帯回路23の不感帯を得ることができ、電流源25及
び26の電流I1及びI2を制御することにより、不感帯の幅
を所望の値に設定することができる。Therefore, when the voltage fluctuation of the input voltage V FE with respect to the hold voltage V H is in the range of the voltage V D1 + V R1 to the voltage − (V D2 + V R2 ), the dead band of the dead band circuit 23 can be obtained, and the current sources 25 and 26 can be obtained. The width of the dead zone can be set to a desired value by controlling the currents I 1 and I 2 of.
従つて漏れ信号の信号レベルに応じて当該電流I1及び
I2を制御することにより、漏れ信号の信号レベルに応じ
て不感帯の幅を制御することができ、フオーカスエラー
信号SFEの信号レベルが必要以上に低下したり、逆に漏
れ信号が完全に除去されないで出力されたりすることを
未然に防止することができる。Therefore, depending on the signal level of the leakage signal, the current I 1 and
By controlling I 2 , the dead zone width can be controlled according to the signal level of the leak signal, and the signal level of the focus error signal S FE is lowered more than necessary, and conversely the leak signal is completely eliminated. It is possible to prevent from being output without being removed.
すなわち、コンデンサ30及び抵抗31で構成されたハイ
パスフイルタ回路32は、ホールド回路16から出力される
フオーカスエラー信号SFE1を受け、漏れ信号SM1を抽出
して絶対値回路33に与える。That is, the high-pass filter circuit 32 including the capacitor 30 and the resistor 31 receives the focus error signal S FE1 output from the hold circuit 16, extracts the leak signal S M1, and supplies it to the absolute value circuit 33.
その結果第2図に示すように、当該漏れ信号除去回路
20に、漏れ信号SM2が混入したフオーカスエラー信号SFE
(第2図(A))が入力された場合において、漏れ信号
SM2の信号レベルよりも不感帯の幅が狭い場合は、ハイ
パスフイルタ回路32を介して不感帯を越えた信号レベル
の分の漏れ信号SM1(第2図(B))が抽出されて、絶
対値回路33に入力される。As a result, as shown in FIG.
20, the focus error signal S FE mixed with the leak signal S M2
When (Fig. 2 (A)) is input, the leakage signal
If the dead band width is narrower than the signal level of S M2 , the leak signal S M1 (FIG. 2 (B)) corresponding to the signal level exceeding the dead band is extracted via the high-pass filter circuit 32, and the absolute value is extracted. Input to the circuit 33.
絶対値回路33は、入力抵抗34、帰還抵抗35及び出力端
に整流用ダイオード36を有した演算増幅回路37で構成さ
れ、それぞれ帰還抵抗35及び入力抵抗34の抵抗値が等し
い値になるように選定されている。The absolute value circuit 33 is composed of an input resistance 34, a feedback resistance 35, and an operational amplifier circuit 37 having a rectifying diode 36 at the output end so that the resistance values of the feedback resistance 35 and the input resistance 34 are equal to each other. It has been selected.
その結果絶対値回路33を介して、両波整流された出力
信号SMA(第2図(C))が得られ、これがボルテージ
フオロワ回路構成の演算増幅回路40を介して抵抗41及び
コンデンサ42で構成されたローパスフイルタ回路構成の
エンベロープ検出回路43に入力される。As a result, a double-wave rectified output signal S MA (FIG. 2 (C)) is obtained via the absolute value circuit 33, and this is output via the operational amplifier circuit 40 of the voltage follower circuit to the resistor 41 and the capacitor 42. It is input to the envelope detection circuit 43 of the low-pass filter circuit configuration constituted by.
その結果、エンベロープ検出回路43を介してハイパス
フイルタ回路32で抽出された漏れ信号SM1の信号レベル
に応じて信号レベルが変化するエンベレープ信号SE(第
2図(D))を得ることができる。As a result, an envelope signal S E (FIG. 2 (D)) whose signal level changes according to the signal level of the leak signal S M1 extracted by the high-pass filter circuit 32 can be obtained via the envelope detection circuit 43. .
かくしてハイパスフイルタ回路32、絶対値回路33、演
算増幅回路40及びローパスフイルタ回路43は、フオーカ
スエラー信号SSE1に混入した漏れ信号の信号レベルを検
出する漏れ信号検出回路を構成する。Thus, the high-pass filter circuit 32, the absolute value circuit 33, the operational amplifier circuit 40, and the low-pass filter circuit 43 constitute a leak signal detection circuit that detects the signal level of the leak signal mixed in the focus error signal S SE1 .
反転増幅回路48は、入力抵抗45及び帰還抵抗46を有す
る演算増幅回路47で構成され、エンベロープ信号SEを受
けてその反転出力信号を電流源25及び26に出力する。The inverting amplifier circuit 48 is composed of an operational amplifier circuit 47 having an input resistor 45 and a feedback resistor 46, receives the envelope signal S E and outputs its inverted output signal to the current sources 25 and 26.
ここで反転増幅回路48においては、帰還抵抗46及び入
力抵抗45の抵抗値が等しい値に設定され、ハイパスフイ
ルタ回路32で抽出された漏れ信号SM1の信号レベルを電
圧VCとおくと、電圧−VCのエンベロープ信号が出力され
るようになされている。Here, in the inverting amplifier circuit 48, when the resistance values of the feedback resistor 46 and the input resistor 45 are set to the same value, and the signal level of the leakage signal S M1 extracted by the high-pass filter circuit 32 is set to the voltage V C , -V C envelope signal is output.
電流源25は、非反転入力端及び出力端の間に帰還抵抗
50を接続すると共に出力端から出力抵抗51を介して反転
入力端に帰還抵抗52を接続した演算増幅回路53を有し、
抵抗55及び温度補償用ダイオード56で構成された基準電
源57から得られる基準電圧VD3を入力抵抗54を介して非
反転入力端に受けると共に反転増幅回路48から出力され
るエンベロープ信号を抵抗58を介して反転入力端に受け
る。The current source 25 has a feedback resistor between the non-inverting input terminal and the output terminal.
It has an operational amplifier circuit 53 in which a feedback resistor 52 is connected to an inverting input end from an output end via an output resistance 51 while connecting 50,
The non-inverting input terminal receives the reference voltage V D3 obtained from the reference power source 57 composed of the resistor 55 and the temperature compensating diode 56, and the envelope signal output from the inverting amplifier circuit 48 is received by the resistor 58. Received through the inverting input terminal.
さらに電流源25は、出力抵抗51を介して抵抗21に電流
I1を与えると共に当該出力抵抗51の抵抗値が抵抗21の抵
抗値R1と等しい値になるようになされている。Further, the current source 25 outputs a current to the resistor 21 via the output resistor 51.
I 1 is given and the resistance value of the output resistor 51 becomes equal to the resistance value R 1 of the resistor 21.
さらに帰還抵抗52及び50と入力抵抗54及び58において
は、その抵抗値が互いに等しい抵抗値R2になるように選
定され、その結果抵抗51においては、電流源25の入力電
圧VC及びVD3と出力電流I1について、次式 I1R1=VC−VD3 ……(5) の関係式を得ることができる。Further the input resistor 54 and 58 and the feedback resistor 52 and 50, the resistance value is selected to be equal to the resistance value R 2 together, in its result resistor 51, the input voltage V C and V D3 of the current source 25 For the output current I 1 and the output current I 1 , the following relational expression I 1 R 1 = V C −V D3 (5) can be obtained.
これに対して、電流I1が流れることによる抵抗21の電
圧降下VR1は、次式 VR1=R1I1 ……(6) の関係式で表される値になり、その結果(5)式及び
(6)式から、次式 VR1=VC−VD3 ……(7) の関係式を得ることができる。On the other hand, the voltage drop V R1 of the resistor 21 due to the flow of the current I 1 becomes the value expressed by the relational expression of the following expression V R1 = R 1 I 1 (6), and the result (5 From equations (6) and (6), the relational expression of V R1 = V C −V D3 (7) can be obtained.
その結果、抵抗21及びダイオード17で決まる不感帯の
電圧VF1は、次式 VF1−VD1+VR1=VD1+VC−VD3 ……(8) の関係式で表すことができ、ここでダイオード17、18及
び56において、互いに立上り電圧VD1、VD2及びVD3の等
しいダイオードを用いるようにすれば、(8)式から次
式 VF1=VC ……(9) の関係式を得ることができる。As a result, the dead band voltage V F1 determined by the resistor 21 and the diode 17 can be expressed by the following equation V F1 −V D1 + V R1 = V D1 + V C −V D3 (8), where For diodes 17, 18 and 56, if diodes having the same rising voltages V D1 , V D2 and V D3 are used, the relational expression of V F1 = V C (9) Obtainable.
かくして、不感帯回路23の不感帯のうちダイオード17
及び抵抗21で決まる不感帯の幅VF1をエンベロープ検出
回路43の出力電圧VCに比例して制御することができる。Thus, the diode 17 of the dead band of the dead band circuit 23 is
The dead band width V F1 determined by the resistor 21 can be controlled in proportion to the output voltage V C of the envelope detection circuit 43.
これに対して電流源26は、反転入力端及び出力端を帰
還抵抗62で接続すると共に出力端から出力抵抗61を介し
て非反転入力端に帰還抵抗60を接続した演算増幅回路64
を有し、入力抵抗65及び66を介してそれぞれ非反転入力
端及び反転入力端に基準電圧VD3及び反転増幅回路48の
出力電圧−VCを受けるようになされている。On the other hand, the current source 26 has an operational amplifier circuit 64 in which the inverting input terminal and the output terminal are connected by the feedback resistor 62 and the feedback resistor 60 is connected from the output terminal to the non-inverting input terminal via the output resistor 61.
And receives the reference voltage V D3 and the output voltage −V C of the inverting amplifier circuit 48 at the non-inverting input terminal and the inverting input terminal via the input resistors 65 and 66, respectively.
さらに電流源26においては、出力抵抗61の抵抗値が電
流源25の出力抵抗51及び抵抗22の抵抗値R1と等しい値に
設定され、さらに帰還抵抗60及び62と入力抵抗65及び66
とが電流源25の対応する抵抗50、52、54及び58と等しい
抵抗値R2になるようになされている。Further, in the current source 26, the resistance value of the output resistance 61 is set to a value equal to the resistance value R 1 of the output resistance 51 and the resistance 22 of the current source 25, and the feedback resistances 60 and 62 and the input resistances 65 and 66 are further set.
Are of a resistance R 2 equal to the corresponding resistances 50, 52, 54 and 58 of the current source 25.
従つて電流源26においては、出力抵抗61において、電
流源25の場合とは逆向きに電流I1と大きさの等しい電流
I2が得られ、電流I2が抵抗22に供給されるようになされ
ている。Therefore, in the current source 26, in the output resistor 61, a current whose magnitude is equal to that of the current I 1 in the opposite direction to that of the current source 25.
I 2 is obtained and the current I 2 is supplied to the resistor 22.
従つて抵抗22及びダイオード18においては、抵抗21及
びダイオード17の場合と同様に、次式 VF2=VC=VF1 ……(10) の関係式で表わされるダイオード17及び抵抗21とは逆方
向の不感帯を得ることができ、エンベロープ検出回路43
の出力電圧VCに比例して当該不感帯の幅VF2を制御する
ことができる。Therefore, as in the case of the resistor 21 and the diode 17, the resistor 22 and the diode 18 are opposite to the diode 17 and the resistor 21 expressed by the relational expression of the following equation V F2 = V C = V F1 (10). The dead zone of the direction can be obtained, and the envelope detection circuit 43
The width V F2 of the dead zone can be controlled in proportion to the output voltage V C.
その結果ホールド回路16から出力されるフオーカスエ
ラー信号SFE1に混入した漏れ信号SM1を抽出し、当該漏
れ信号SM1の信号レベルに比例して不感帯の幅VF1及びV
F2を制御することにより、全体としてフオーカスエラー
信号SFE1に混入する漏れ信号SM1の信号レベルが0レベ
ルになるように不感帯の幅VF1及びVF2が制御され、かく
して、漏れ信号が効率良く除去されたフオーカスエラー
信号SFE1(第2図(E))を得ることができる。As a result, the leak signal S M1 mixed in the focus error signal S FE1 output from the hold circuit 16 is extracted, and the dead band widths V F1 and V are proportional to the signal level of the leak signal S M1.
By controlling F2 , the dead band widths V F1 and V F2 are controlled so that the signal level of the leak signal S M1 mixed in the focus error signal S FE1 becomes 0 level as a whole, and thus the leak signal is efficiently generated. A well-removed focus error signal S FE1 (FIG. 2 (E)) can be obtained.
すなわち第3図に示すように、不感帯回路23において
は、入出力電位差(すなわちホールド電圧VHに対する入
力電圧VFEの差電圧)に対して比例定数1で比例してホ
ールド電圧VHの変化ΔVHが変化する入出力特性(破線で
示す)に対して、入出力電位差VH−VFEの電圧で0
〔V〕を中心に漏れ信号の信号レベルに応じて不感帯の
幅VF1及びVF2が変化する入出力特性を得ることができ
る。That is, as shown in FIG. 3, the dead zone circuit 23, input-output potential difference (i.e. the difference between the input voltage V FE for holding voltage V H) changes ΔV proportional to hold voltage V H in proportionality constant 1 against For the input / output characteristics (shown by the broken line) in which H changes, 0 at the voltage of the input / output potential difference V H −V FE
It is possible to obtain the input / output characteristic in which the dead band widths V F1 and V F2 change depending on the signal level of the leak signal centering on [V].
その結果第4図に示すように、入力電圧VFEに比例し
てホールド電圧VHが変化する入出力特性(破線で示す)
に対して、ホールド回路16に保持されたホールド電圧VH
を中心にして不感帯の幅VF1及びVF2が変化する入出力特
性を得ることができる。As a result, as shown in FIG. 4, the input / output characteristic in which the hold voltage V H changes in proportion to the input voltage V FE (shown by the broken line).
Against the hold voltage V H held in the hold circuit 16.
It is possible to obtain input / output characteristics in which the dead band widths V F1 and V F2 change around the center.
かくして第5図に示すように、不感帯の幅VF1及びVF2
を互いに等しい値に設定すると共に漏れ信号SM1の信号
レベルに応じて不感帯の幅VF1及びVF2を制御することに
より、漏れ信号SM1が混入したフオーカスエラー信号SFE
が入力された際に、漏れ信号SM1を効率良く除去したフ
オーカスエラー信号SFE1を得ることができ、その結果フ
オーカスエラーの発生を未然に防止することができる。Thus, as shown in FIG. 5, dead band widths V F1 and V F2
By controlling the width V F1 and V F2 of the dead zone in response to the signal level of the leakage signal S M1 with a set to each other equal, Fuo Kas error signal leakage signal S M1 is mixed S FE
When is input, the focus error signal S FE1 in which the leak signal S M1 is efficiently removed can be obtained, and as a result, the focus error can be prevented from occurring.
かくして電流源25及び26、反転増幅回路48及び電源回
路57は、不感帯回路23の不感帯の幅をエンベロープ信号
SEに基づいて制御する不感帯幅制御回路を構成する。Thus, the current sources 25 and 26, the inverting amplifier circuit 48, and the power supply circuit 57 change the dead band width of the dead band circuit 23 into an envelope signal.
A dead band width control circuit is controlled based on S E.
さらに電源回路57の温度特性補償用のダイオード56と
不感帯回路23のダイオード17及び18とに同一特性のダイ
オードを用いると共に当該漏れ信号除去回路全体として
不感帯の幅を制御する閉ループ回路構成にしたことによ
り、ダイオード17及び18の温度特性を実用上十分に補償
することができ、安定かつ効率良く漏れ信号を除去する
ことができる。Further, by using diodes having the same characteristics as the diode 56 for temperature characteristic compensation of the power supply circuit 57 and the diodes 17 and 18 of the dead zone circuit 23, the leak signal elimination circuit as a whole has a closed loop circuit configuration for controlling the width of the dead zone. The temperature characteristics of the diodes 17 and 18 can be sufficiently compensated for practical use, and the leak signal can be removed stably and efficiently.
さらに実際上フオーカス制御回路においては、フオー
カスサーボ回路が発振状態にならない範囲で実用上十分
なループゲンイが得られるようにフオーカス制御回路の
利得を調整するようになされており、このようにフオー
カス制御回路に漏れ信号除去回路を付加するようにすれ
ば、フオーカスサーボが完全に発振状態に陥る直前で不
感帯の幅を広く制御して発振状態を未然に回避すること
ができる。Further, in practice, the focus control circuit is designed to adjust the gain of the focus control circuit so that a loop gain is practically obtained in a range where the focus servo circuit does not oscillate. If a leakage signal removing circuit is added to, the width of the dead zone can be widened immediately before the focus servo completely falls into the oscillation state, and the oscillation state can be avoided in advance.
従つてその分フオーカス制御回路の利得の調整作業を
一段と簡略化することができる。Therefore, the work of adjusting the gain of the focus control circuit can be further simplified accordingly.
以上の構成において、フオーカスエラー信号SFEは、
演算増幅回路11を介して不感帯回路23に入力され、当該
不感帯回路23の出力信号がホールド回路16を介して位相
補償回路2(第7図)に出力される。In the above configuration, the focus error signal S FE is
The signal is input to the dead band circuit 23 via the operational amplifier circuit 11, and the output signal of the dead band circuit 23 is output to the phase compensation circuit 2 (FIG. 7) via the hold circuit 16.
このとき、当該ホールド回路16から出力されるフオー
カスエラー信号SFE1に混入した漏れ信号SM1がハイパス
フィルタ回路32で抽出された後、絶対値回路33、演算増
幅回路40及びエンベロープ検出回路43を介して当該漏れ
信号SM1の信号レベルが検出される。At this time, after the leak signal S M1 mixed in the focus error signal S FE1 output from the hold circuit 16 is extracted by the high-pass filter circuit 32, the absolute value circuit 33, the operational amplifier circuit 40, and the envelope detection circuit 43 are operated. The signal level of the leak signal S M1 is detected via this.
当該検出結果でなるエンベロープ信号SEは、不感帯回
路23の不感帯の幅VF1及びVF2を制御する電流I1及びI2の
制御信号として電流源25及び26に出力され、かくして漏
れ信号除去回路全体としてハイパスフイルタ回路32を介
して得られる漏れ信号SM1の信号レベルが0レベルにな
るように、不感帯回路23の不感帯の幅VF1及びVF2が制御
されてフオーカスエラー信号SFE1に混入した漏れ信号S
M1を効率良く除去することができる。The envelope signal S E that is the detection result is output to the current sources 25 and 26 as a control signal of the currents I 1 and I 2 that control the dead band widths V F1 and V F2 of the dead band circuit 23, and thus the leakage signal removal circuit. The dead band widths V F1 and V F2 of the dead band circuit 23 are controlled and mixed into the focus error signal S FE1 so that the signal level of the leak signal S M1 obtained through the high-pass filter circuit 32 becomes 0 level as a whole. Leak signal S
M1 can be removed efficiently.
以上の構成によれば、漏れ信号の信号レベルを検出
し、当該検出結果に基づいて不感帯回路の不感帯の幅を
制御することにより、全体として安定かつ効率良くフオ
ーカスエラー信号に混入した漏れ信号を除去することが
できる。According to the above configuration, by detecting the signal level of the leak signal and controlling the dead band width of the dead band circuit based on the detection result, the leak signal mixed into the focus error signal is stable and efficient as a whole. Can be removed.
なお上述の実施例においては、不感帯回路の抵抗21及
び22と電流源の抵抗51及び61とを等しい抵抗値に設定し
て各抵抗に流れる電流が等しくなるようにした場合につ
いて述べたが本発明はこれに限らず、抵抗値を異なる値
に設定したり、抵抗21及び22とで必要に応じて異なる電
流を流すようにしても良い。In the above embodiment, the case where the resistors 21 and 22 of the dead zone circuit and the resistors 51 and 61 of the current source are set to the same resistance value so that the currents flowing through the respective resistors are equal has been described. Is not limited to this, and the resistance value may be set to a different value, or different currents may flow between the resistors 21 and 22 as necessary.
また上述の実施例においては、本発明を光磁気デイス
ク装置に適用した場合について述べたが本発明はこれに
限らず、プリグループが形成された光デイスクを用いる
ようになされた光デイスク装置に広く適用することがで
きる。Further, in the above-described embodiments, the case where the present invention is applied to the magneto-optical disk device has been described, but the present invention is not limited to this, and is widely applied to an optical disk device configured to use an optical disk in which a pregroup is formed. Can be applied.
H発明の効果 以上のように本発明によれば漏れ信号の信号レベルに
応じて不感帯の幅を制御して漏れ信号を除去することに
より、安定かつ効率良く漏れ信号を除去することがで
き、フオーカスエラーの発生を未然に防止することがで
きる。As described above, according to the present invention, the width of the dead zone is controlled according to the signal level of the leak signal to remove the leak signal, so that the leak signal can be removed stably and efficiently. It is possible to prevent the occurrence of a scrap error.
第1図は本発明による漏れ信号除去回路の一実施例を示
す接続図、第2図はその動作の説明に供する信号波形
図、第3図及び第4図はその入出力特性を示す特性曲線
図、第5図はその動作の説明に供する信号波形図、第6
図は漏れ信号の説明に供する信号波形図、第7図はフオ
ーカスサーボ回路の構成を示すブロツク図、第8図は従
来の漏れ信号除去回路を示す接続図である。 1……フオーカスサーボ回路、10、20……漏れ信号除去
回路、11、15、37、40、47、53、64……演算増幅回路、
12、23……不感帯回路、16……ホールド回路、17、18、
36、56……ダイオード、25、26……電流源、32……ハイ
パスフイルタ回路、33……絶対値回路、43……エンベロ
ープ検出回路、48……反転増幅回路、57……電源回路。FIG. 1 is a connection diagram showing an embodiment of a leakage signal removal circuit according to the present invention, FIG. 2 is a signal waveform diagram used for explaining the operation thereof, and FIGS. 3 and 4 are characteristic curves showing its input / output characteristics. FIG. 5 and FIG. 5 are signal waveform diagrams for explaining the operation, and FIG.
FIG. 7 is a signal waveform diagram used to explain a leak signal, FIG. 7 is a block diagram showing the structure of a focus servo circuit, and FIG. 8 is a connection diagram showing a conventional leak signal removing circuit. 1 ... Focus servo circuit, 10, 20 ... Leakage signal elimination circuit, 11, 15, 37, 40, 47, 53, 64 ... Operational amplifier circuit,
12, 23 ... Dead band circuit, 16 ... Hold circuit, 17, 18,
36, 56 ...... Diode, 25, 26 ...... Current source, 32 ...... High pass filter circuit, 33 ...... Absolute value circuit, 43 ...... Envelope detection circuit, 48 ...... Inverting amplification circuit, 57 ...... Power supply circuit.
Claims (1)
いるようになされた光デイスク装置において、 入力電圧を保持するホールド回路と、 フオーカスエラー信号を受け、上記フオーカスエラー信
号の信号レベルを、上記ホールド回路に保持されたホー
ルド電圧を基準にして所定範囲だけ抑制して上記ホール
ド回路の入力電圧として出力する不感帯回路と、 上記ホールド回路を介して得られるフオーカスエラー信
号から、上記プリグループによつて変調された漏れ信号
の信号レベルを検出する漏れ信号検出回路と、 上記漏れ信号検出回路の検出結果に基づいて上記不感帯
回路で抑制される信号レベルの範囲を制御する不感帯幅
制御回路と を具え、上記ホールド回路を介して得られるフオーカス
エラー信号に基づいてフオーカス制御するようにしたこ
とを特徴とする光デイスク装置。1. An optical disk device configured to use an optical disk in which a pregroup is formed, a hold circuit for holding an input voltage, a focus error signal, and a signal level of the focus error signal, Based on the hold voltage held in the hold circuit, the dead band circuit that suppresses only a predetermined range and outputs as the input voltage of the hold circuit, and the focus error signal obtained through the hold circuit, A leak signal detection circuit that detects the signal level of the leak signal that is modulated by this, and a dead band width control circuit that controls the range of the signal level suppressed by the dead band circuit based on the detection result of the leak signal detection circuit. The focus control is based on the focus error signal obtained through the hold circuit. Optical disc system being characterized in that the.
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---|---|---|---|
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AT88302578T ATE96568T1 (en) | 1987-03-25 | 1988-03-24 | OPTICAL DISC RECORDER OR PLAYBACK DEVICE AND FOCUS CONTROL SYSTEMS THEREOF. |
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JP2010277658A (en) | 2009-05-29 | 2010-12-09 | Hitachi-Lg Data Storage Inc | Optical disc apparatus and program |
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- 1987-08-20 JP JP62206970A patent/JP2565233B2/en not_active Expired - Fee Related
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JPS6450240A (en) | 1989-02-27 |
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