JP2545465B2 - 成形機の成形条件上下限値自動設定方法 - Google Patents
成形機の成形条件上下限値自動設定方法Info
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/17—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C45/76—Measuring, controlling or regulating
- B29C45/768—Detecting defective moulding conditions
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Mechanical Engineering (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、射出成形機などの成形機において、製品の
良否を自動判定するために用いられる成形条件の上下限
値の自動設定方法に関する。
良否を自動判定するために用いられる成形条件の上下限
値の自動設定方法に関する。
[従来の技術] 射出成形などの成形作業を自動運転で行う際、成形さ
れた製品が不良品の山となつたのでは全く意味がないた
め、製品の品質決定要因となる多数の成形運転条件はき
め細かく設定されている。そして、成形機全体の制御を
司どるマイクロコンピユータよりなる制御装置は、予め
設定された成形運転条件値に基づき各種センサからの計
測情報を参照して自動運転を実行し、成形品を連続的に
成形する。ところで、突発的な事態などにより運転条件
が変動し、不良品が生じることは製造上避け難く、この
場合不良品を自動的に排除できるようにすることが望ま
しい。
れた製品が不良品の山となつたのでは全く意味がないた
め、製品の品質決定要因となる多数の成形運転条件はき
め細かく設定されている。そして、成形機全体の制御を
司どるマイクロコンピユータよりなる制御装置は、予め
設定された成形運転条件値に基づき各種センサからの計
測情報を参照して自動運転を実行し、成形品を連続的に
成形する。ところで、突発的な事態などにより運転条件
が変動し、不良品が生じることは製造上避け難く、この
場合不良品を自動的に排除できるようにすることが望ま
しい。
そこで、上述した成形運転条件の設定値と共に、この
それぞれの設定値に併せて上限値並びに下限値を設定
し、自動成形を行いながら各成形運転条件値が実際にど
のように変化したかを実測し、該実測値が上記した上・
下限値の範囲内にあれば良品、上限値または下限値から
外れた場合には不良品と判定し、不良判定がなされた場
合にはその際の成形品を、型開き・取出し時に正規の排
出箇所以外の場所に持つてゆくようにした、所謂「モニ
タ機能付き(もしくはウオツチング機能付きもしくは自
動検査機能付き)」の成形機が公知となつている。
それぞれの設定値に併せて上限値並びに下限値を設定
し、自動成形を行いながら各成形運転条件値が実際にど
のように変化したかを実測し、該実測値が上記した上・
下限値の範囲内にあれば良品、上限値または下限値から
外れた場合には不良品と判定し、不良判定がなされた場
合にはその際の成形品を、型開き・取出し時に正規の排
出箇所以外の場所に持つてゆくようにした、所謂「モニ
タ機能付き(もしくはウオツチング機能付きもしくは自
動検査機能付き)」の成形機が公知となつている。
モニタ項目としては、射出成形機を例にとると、例え
ばチヤージ完了位置、射出1次圧から2次圧に切替える
位置(所謂保圧切替位置)、射出保圧行程完了時点での
射出スクリユー先端位置(所謂クツシヨン量)などが、
成形品の良・不良と大きな相関関係があるので、従来か
ら重要なモニタ(監視)項目として使用されてきた。と
ころで、最近は、成形品の複雑化、高精密度化の要求や
使用樹脂の高級化に伴つて、成形品の良・不良の判定に
用いられるモニタ項目も増えてきて、各行程時のスクリ
ユー位置、細分化された射出速度・射出圧力条件、チャ
ージ条件、型開閉条件、各行程の時間等々、成形機によ
つては30〜50を数える多数のモニタ項目が設けられてい
る。そして、各モニタ項目について、前記した成形運転
条件値と共に、上・下限値が設定されるようになつてい
た。
ばチヤージ完了位置、射出1次圧から2次圧に切替える
位置(所謂保圧切替位置)、射出保圧行程完了時点での
射出スクリユー先端位置(所謂クツシヨン量)などが、
成形品の良・不良と大きな相関関係があるので、従来か
ら重要なモニタ(監視)項目として使用されてきた。と
ころで、最近は、成形品の複雑化、高精密度化の要求や
使用樹脂の高級化に伴つて、成形品の良・不良の判定に
用いられるモニタ項目も増えてきて、各行程時のスクリ
ユー位置、細分化された射出速度・射出圧力条件、チャ
ージ条件、型開閉条件、各行程の時間等々、成形機によ
つては30〜50を数える多数のモニタ項目が設けられてい
る。そして、各モニタ項目について、前記した成形運転
条件値と共に、上・下限値が設定されるようになつてい
た。
このように高級化されたモニタ機能を駆使すると、品
質管理上非常に有益である。すなわち、例えば、成形条
件と品質との相関関係を把握するために、制御装置にプ
リンタを付設し、このプリンタによつて、横軸に上・下
限値を設定した各モニタ項目を、縦軸には1シヨツト毎
(又は数シヨツトに1回)のモニタ項目の実測値をシヨ
ツト番号や時間と共にプリントアウトし、特に上・下限
値内からはみ出した異状データについてはプリントする
ときに異常マークを付すようにする。一方、取出された
成形品はシヨツト番号順に並べ、プリントアウトされた
データと対比することによつて、成形品品質の異状(不
良)と異状データとの相関関係が検討できる。そのよう
な手法を採ることにより、成形条件管理が相当難しい製
品についても、成形品品質(例えば、バリやヒケ等の成
形品重量精度と密接な関係を有するものから、表面外観
不良に至るまで)と成形条件の許容上・下限値との相関
関係が明確に掴めて、数量的・具体的な品質管理が行え
るようになつてきている。
質管理上非常に有益である。すなわち、例えば、成形条
件と品質との相関関係を把握するために、制御装置にプ
リンタを付設し、このプリンタによつて、横軸に上・下
限値を設定した各モニタ項目を、縦軸には1シヨツト毎
(又は数シヨツトに1回)のモニタ項目の実測値をシヨ
ツト番号や時間と共にプリントアウトし、特に上・下限
値内からはみ出した異状データについてはプリントする
ときに異常マークを付すようにする。一方、取出された
成形品はシヨツト番号順に並べ、プリントアウトされた
データと対比することによつて、成形品品質の異状(不
良)と異状データとの相関関係が検討できる。そのよう
な手法を採ることにより、成形条件管理が相当難しい製
品についても、成形品品質(例えば、バリやヒケ等の成
形品重量精度と密接な関係を有するものから、表面外観
不良に至るまで)と成形条件の許容上・下限値との相関
関係が明確に掴めて、数量的・具体的な品質管理が行え
るようになつてきている。
[発明が解決しようとする課題] しかし、このように品質管理上等で非常に役立つモニ
タ機能であつても、金型変更毎、樹脂材料変更毎に30〜
50に及ぶ全モニタ項目に上・下限値を設定してゆくの
は、現場の操作者にとつては大きな負担になるという問
題があつた。
タ機能であつても、金型変更毎、樹脂材料変更毎に30〜
50に及ぶ全モニタ項目に上・下限値を設定してゆくの
は、現場の操作者にとつては大きな負担になるという問
題があつた。
負担になる要因は、 予めプリントアウトされた実測データのバラツキなど
を参考にして、上・下限値を設定するのが、かなり高度
な判断を伴う業務となり、モニタ項目が増えるにつれ
て、増々煩雑で時間がかかるものとなること。
を参考にして、上・下限値を設定するのが、かなり高度
な判断を伴う業務となり、モニタ項目が増えるにつれ
て、増々煩雑で時間がかかるものとなること。
全項目に上・下限値設定を行うのは大変だから、重要
な項目だけを選出してモニタ項目にしようとしても、
「この製品形状でこの使用樹脂では、このような不良が
発生し勝ちであるから、それと因果関係のあるモニタす
べき項目はこれこれである。」というような判断を下さ
なければならないが、それには射出成形全般にわたる知
識と相当熟達した経験が必要となること。
な項目だけを選出してモニタ項目にしようとしても、
「この製品形状でこの使用樹脂では、このような不良が
発生し勝ちであるから、それと因果関係のあるモニタす
べき項目はこれこれである。」というような判断を下さ
なければならないが、それには射出成形全般にわたる知
識と相当熟達した経験が必要となること。
などが挙げられる。
また、総てのモニタ項目の上・下限値を素早く設定し
てゆこうとすると、勢い上・下限値は見当でラフに設定
されて、許容範囲が甘くなつてしまい勝ちになり、前述
したモニタ機能による良品/不良品判定という所期の自
動検査の目的が果せなくなる。
てゆこうとすると、勢い上・下限値は見当でラフに設定
されて、許容範囲が甘くなつてしまい勝ちになり、前述
したモニタ機能による良品/不良品判定という所期の自
動検査の目的が果せなくなる。
従つて本発明の解決すべき技術的課題は、上記従来技
術のもつ問題点を解消することにあり、その目的とする
ところは、特別に自動検査化についての熟達した知識と
経験を持たない操作者(作業員)でも、間違いなくモニ
タ機能を発揮させて良/不良の自動判別が行い得る成形
機の成形条件上下限値自動設定方法を提供することにあ
る。
術のもつ問題点を解消することにあり、その目的とする
ところは、特別に自動検査化についての熟達した知識と
経験を持たない操作者(作業員)でも、間違いなくモニ
タ機能を発揮させて良/不良の自動判別が行い得る成形
機の成形条件上下限値自動設定方法を提供することにあ
る。
[課題を解決するための手段] 本発明の上記した目的は、設定された各成形運転条件
値と各センサからの計測情報とに基づき成形機の各部を
駆動制御するマイクロコンピユータよりなる制御装置を
具備し、該制御装置は、連続自動運転時における成形品
の品質を判別するために、予め定められたモニタ項目の
上限値並びに下限値と実測値とを対比して、この比較結
果によつて成形品の良否を判別する機能を具備した成形
機の成形条件上下限値自動設定方法において、連続自動
運転をスタートして初期の所定シヨツト数が終了した後
に、引続く所定数のシヨツト毎に各モニタ項目の実測値
xを計測し、各モニタ項目毎に、 実測値xのバラツキ範囲R(R=x max−x min)並び
に実測値xの中間値Mi(Mi=x min+R/2)を少なくとも
統計演算し、該演算結果に基づき各モニタ項目毎の前記
上限値並びに下限値を、上限値並びに下限値が中間値Mi
から同一幅となるように自動設定することによって、達
成される。
値と各センサからの計測情報とに基づき成形機の各部を
駆動制御するマイクロコンピユータよりなる制御装置を
具備し、該制御装置は、連続自動運転時における成形品
の品質を判別するために、予め定められたモニタ項目の
上限値並びに下限値と実測値とを対比して、この比較結
果によつて成形品の良否を判別する機能を具備した成形
機の成形条件上下限値自動設定方法において、連続自動
運転をスタートして初期の所定シヨツト数が終了した後
に、引続く所定数のシヨツト毎に各モニタ項目の実測値
xを計測し、各モニタ項目毎に、 実測値xのバラツキ範囲R(R=x max−x min)並び
に実測値xの中間値Mi(Mi=x min+R/2)を少なくとも
統計演算し、該演算結果に基づき各モニタ項目毎の前記
上限値並びに下限値を、上限値並びに下限値が中間値Mi
から同一幅となるように自動設定することによって、達
成される。
[作 用] 連続自動運転をスタートして、初期の過渡的・不安定
な期間が終了して運転状態が安定したと見なせる程度の
初期の所定シヨツト数(例えば10シヨツト程度)が終了
すると、マイクロコンピユータよりなる制御装置は、引
続く連続数10シヨツト以上(望ましくは100シヨツト程
度)の各シヨツト毎に、予め定められた全モニタ項目に
関する実測値xを、所定の記憶エリアに格納する。そし
て、所定数の実測値xのサンプリングが終了すると、制
御装置は予め書込まれたプログラムに基づきモニタ項目
毎に多数の実測値xを統計演算処理し、各モニタ項目毎
に、 実測値xのバラツキ範囲R(x max−x min)並びに実
測値xの中間値Mi(x min+R/2)、 もしくは 実測値xの平均値(Σx/n)並びに標準偏差 をまず算出する。
な期間が終了して運転状態が安定したと見なせる程度の
初期の所定シヨツト数(例えば10シヨツト程度)が終了
すると、マイクロコンピユータよりなる制御装置は、引
続く連続数10シヨツト以上(望ましくは100シヨツト程
度)の各シヨツト毎に、予め定められた全モニタ項目に
関する実測値xを、所定の記憶エリアに格納する。そし
て、所定数の実測値xのサンプリングが終了すると、制
御装置は予め書込まれたプログラムに基づきモニタ項目
毎に多数の実測値xを統計演算処理し、各モニタ項目毎
に、 実測値xのバラツキ範囲R(x max−x min)並びに実
測値xの中間値Mi(x min+R/2)、 もしくは 実測値xの平均値(Σx/n)並びに標準偏差 をまず算出する。
次に、制御装置は、上記算出データを予め設定された
修正値aを考慮して演算処理し、各モニタ項目毎の上限
値並びに下限値を、上限値並びに下限値が中間値Miから
同一幅となるように、例えば、 上限値=Mi+a・R/2 下限値=Mi−a・R/2 として算出し、これを所定の記憶エリアに取込んで格納
する。
修正値aを考慮して演算処理し、各モニタ項目毎の上限
値並びに下限値を、上限値並びに下限値が中間値Miから
同一幅となるように、例えば、 上限値=Mi+a・R/2 下限値=Mi−a・R/2 として算出し、これを所定の記憶エリアに取込んで格納
する。
上述のように、安定状態の数10シヨツト以上のサンプ
リング実測値を統計処理することによつて、合理的に計
算された上・下限値を全モニタ項目について自動的に設
定することにより、自動モニタ(検査)動作が確実に実
行される。
リング実測値を統計処理することによつて、合理的に計
算された上・下限値を全モニタ項目について自動的に設
定することにより、自動モニタ(検査)動作が確実に実
行される。
[実施例] 以下、本発明をインラインスクリユータイプの射出成
形機に適用した第1図〜第6図に示した1実施例によつ
て説明する。
形機に適用した第1図〜第6図に示した1実施例によつ
て説明する。
第1図は射出成形機の要部の概略構成を示す説明図で
ある。同図における左上部分は型開閉メカニズム系を示
しており、該図示部分において、1はベース、2は該ベ
ース上に固設された固定ダイプレート、3は、ベース1
上に延設されたスライドベース1a上に設置された支持
盤、4は固定ダイプレート2と支持盤3との間に架設さ
れた複数本のタイバーである。上記支持盤3には、型開
閉駆動源たる型締シリンダ(油圧シリンダ)5が固設さ
れており、該型締シリンダ5のピストンロツド5aの先端
部には、公知のトグルリンク機構6を介して前記タイバ
ー4に挿通された可動ダイプレート7が連結されてい
る。そして、ピストンロツド5aを前後進させることによ
り、可動ダイプレート7を固定ダイプレート2に対し、
接近または後退させるようになつている。
ある。同図における左上部分は型開閉メカニズム系を示
しており、該図示部分において、1はベース、2は該ベ
ース上に固設された固定ダイプレート、3は、ベース1
上に延設されたスライドベース1a上に設置された支持
盤、4は固定ダイプレート2と支持盤3との間に架設さ
れた複数本のタイバーである。上記支持盤3には、型開
閉駆動源たる型締シリンダ(油圧シリンダ)5が固設さ
れており、該型締シリンダ5のピストンロツド5aの先端
部には、公知のトグルリンク機構6を介して前記タイバ
ー4に挿通された可動ダイプレート7が連結されてい
る。そして、ピストンロツド5aを前後進させることによ
り、可動ダイプレート7を固定ダイプレート2に対し、
接近または後退させるようになつている。
また、前記固定ダイプレート2と前記可動ダイプレー
ト7の相対向する面には、固定側金型8と可動側金型9
とが取付けられている。そして、成形サイクル中の型閉
じ行程時には、前記ピストンロツド5aの前進で前記トグ
ルリンク機構6を伸長させて可動ダイプレート7を前進
させ、両金型8,9を密着させ、続いて公知のようにトグ
ルリンク機構6を突張らせて所定の型締力を与えるよう
になつている。一方、成形サイクル中の型開き行程時に
は、ピストンロツド5aの後退でトグルリンク機構6を折
り縮めて可動ダイプレート7を後退させ、両金型8,9を
離間させるようになつている。なお、この型開き行程時
に、図示せぬ公知のエジエクト機構と製品(成形品)取
出し手段とによつて製品が取出され、例えばベルトコン
ベア上に載置され、また、後述する如く不良品判定がな
された場合には、取出された不良製品は不良品溜めに搬
送される。
ト7の相対向する面には、固定側金型8と可動側金型9
とが取付けられている。そして、成形サイクル中の型閉
じ行程時には、前記ピストンロツド5aの前進で前記トグ
ルリンク機構6を伸長させて可動ダイプレート7を前進
させ、両金型8,9を密着させ、続いて公知のようにトグ
ルリンク機構6を突張らせて所定の型締力を与えるよう
になつている。一方、成形サイクル中の型開き行程時に
は、ピストンロツド5aの後退でトグルリンク機構6を折
り縮めて可動ダイプレート7を後退させ、両金型8,9を
離間させるようになつている。なお、この型開き行程時
に、図示せぬ公知のエジエクト機構と製品(成形品)取
出し手段とによつて製品が取出され、例えばベルトコン
ベア上に載置され、また、後述する如く不良品判定がな
された場合には、取出された不良製品は不良品溜めに搬
送される。
第1図における右上部分は射出メカニズム系を示して
おり、該図示部分において、10は加熱シリンダ、11は該
加熱シリンダ10内に回転並びに前後進可能に配設された
スクリユー、12は加熱シリンダ10の先端に取付けられた
ノズル、13は加熱シリンダ10並びにノズル12の外周に巻
装されたバンドヒータ、14は樹脂材料をスクリユー11の
後部に供給するためのホツパー、15はスクリユー11の回
転駆動源たるモータ(例えば右、該実施例では電磁モー
タを用いているが油圧モータを用いることもできる)、
16はスクリユー11の前後進を制御するための射出シリン
ダ(油圧シリンダ)である。公知のように、ホツパー14
から供給された樹脂材料は、スクリユー11の回転によつ
て混練・可塑化されつつスクリユー11の先端側に移送さ
れながら溶融され、溶融樹脂がスクリユー11の先端側に
貯えられるに従つてスクリユー11が背圧を制御されつつ
後退し、1シヨツト分の溶融樹脂がスクリユー11の先端
側に貯えられた時点でスクリユー回転は停止される。そ
して、所定秒時を経た後、射出開始タイミングに至る
と、スクリユー11が前進駆動されて型締めされた金型8,
9間のキヤビテイへ溶融樹脂が射出・充填される。
おり、該図示部分において、10は加熱シリンダ、11は該
加熱シリンダ10内に回転並びに前後進可能に配設された
スクリユー、12は加熱シリンダ10の先端に取付けられた
ノズル、13は加熱シリンダ10並びにノズル12の外周に巻
装されたバンドヒータ、14は樹脂材料をスクリユー11の
後部に供給するためのホツパー、15はスクリユー11の回
転駆動源たるモータ(例えば右、該実施例では電磁モー
タを用いているが油圧モータを用いることもできる)、
16はスクリユー11の前後進を制御するための射出シリン
ダ(油圧シリンダ)である。公知のように、ホツパー14
から供給された樹脂材料は、スクリユー11の回転によつ
て混練・可塑化されつつスクリユー11の先端側に移送さ
れながら溶融され、溶融樹脂がスクリユー11の先端側に
貯えられるに従つてスクリユー11が背圧を制御されつつ
後退し、1シヨツト分の溶融樹脂がスクリユー11の先端
側に貯えられた時点でスクリユー回転は停止される。そ
して、所定秒時を経た後、射出開始タイミングに至る
と、スクリユー11が前進駆動されて型締めされた金型8,
9間のキヤビテイへ溶融樹脂が射出・充填される。
20は油圧測定ヘツド等よりなる射出圧力検出センサ、
21はエンコーダ等よりなる射出ストローク検出センサ、
22は回転エンコーダ等よりなるスクリユー回転検出セン
サ、23は加熱シリンダ10の温度を検出する熱電対等より
なる温度検出センサ、24はエンコーダ等よりなる型開閉
ストローク検出センサ、25は油圧測定ヘツド等よりなる
型締圧力検出センサで、これら各センサ20〜25の計測情
報信号S1〜S6、並びに図示せぬ他のセンサからの計測情
報信号が、後記する制御装置30に必要に応じ適宜入力変
換処理を施されて送出される。
21はエンコーダ等よりなる射出ストローク検出センサ、
22は回転エンコーダ等よりなるスクリユー回転検出セン
サ、23は加熱シリンダ10の温度を検出する熱電対等より
なる温度検出センサ、24はエンコーダ等よりなる型開閉
ストローク検出センサ、25は油圧測定ヘツド等よりなる
型締圧力検出センサで、これら各センサ20〜25の計測情
報信号S1〜S6、並びに図示せぬ他のセンサからの計測情
報信号が、後記する制御装置30に必要に応じ適宜入力変
換処理を施されて送出される。
30は、マシン全体の動作制御を司どる制御装置で、型
開閉動作、チヤージ・射出動作などの各成形行程全体の
制御や、後述する良品/不良品判定処理等々の各種演算
処理を実行する。該制御装置30はマイクロコンピユータ
よりなつており、各種I/Oインタフエス、主制御プログ
ラム並びに各種固定データを格納したROM、各種フラグ
や計測データなどを読み書きするRAM、全体の制御を司
どるCPUなどを具備しており、予め作成された各種プロ
グラムに従つて各種処理を実行するも、該実施例におい
ては説明の便宜上、制御装置30は、成形条件設定記憶部
31、成形プロセス制御部32、演算処理部33、実測値記憶
部34、上・下限値設定記憶部35、比較演算部36等々の機
能部を具備しているものとして、以下の説明を行う。
開閉動作、チヤージ・射出動作などの各成形行程全体の
制御や、後述する良品/不良品判定処理等々の各種演算
処理を実行する。該制御装置30はマイクロコンピユータ
よりなつており、各種I/Oインタフエス、主制御プログ
ラム並びに各種固定データを格納したROM、各種フラグ
や計測データなどを読み書きするRAM、全体の制御を司
どるCPUなどを具備しており、予め作成された各種プロ
グラムに従つて各種処理を実行するも、該実施例におい
ては説明の便宜上、制御装置30は、成形条件設定記憶部
31、成形プロセス制御部32、演算処理部33、実測値記憶
部34、上・下限値設定記憶部35、比較演算部36等々の機
能部を具備しているものとして、以下の説明を行う。
上記成形条件設定記憶部31には、キー入力手段40もし
くは他の適宜入力手段によつて入力された各種成形条件
値が、必要に応じ演算処理されて書き替え可能な形で記
憶されている。この成形条件としては、例えば、チヤー
ジ行程時のスクリユー位置とスクリユー回転数及び背圧
との関係、サツクバツク制御条件、射出開始点(位置)
から保圧切替点(位置)までの細分化された射出速度条
件、保圧切換時点から保圧終了時点までの細分化された
2次射出圧力(保圧圧力)条件、各部のバンドヒータ温
度、型閉じストロークと速度、型締力、型開きストロー
クと速度、エジエクト制御条件、製品取出し機制御条件
等々が挙げられる。
くは他の適宜入力手段によつて入力された各種成形条件
値が、必要に応じ演算処理されて書き替え可能な形で記
憶されている。この成形条件としては、例えば、チヤー
ジ行程時のスクリユー位置とスクリユー回転数及び背圧
との関係、サツクバツク制御条件、射出開始点(位置)
から保圧切替点(位置)までの細分化された射出速度条
件、保圧切換時点から保圧終了時点までの細分化された
2次射出圧力(保圧圧力)条件、各部のバンドヒータ温
度、型閉じストロークと速度、型締力、型開きストロー
クと速度、エジエクト制御条件、製品取出し機制御条件
等々が挙げられる。
前記成形プロセス制御部32は、予め作成された成形プ
ロセス制御プログラムと成形条件設定記憶部31に格納さ
れた設定条件値とに基づき、前記したセンサ20〜25など
からの情報及び制御装置30に内蔵されたクロツクからの
計時情報を参照しつつ、ドライバー群41を介して対応す
る駆動源を駆動制御し、一連の成形行程を実行させる。
第1図においては、ドライバ群41の駆動信号D1が制御弁
42を介して前記型締シリンダ5を駆動制御し、駆動信号
D2が前記バンドヒータ13の電熱源を駆動制御し、駆動信
号D3が前記モータ15を駆動制御し、駆動信号D4が制御弁
43を介して前記射出シリンダ16を駆動制御し、また、他
の駆動信号が図示せぬ適宜の駆動源を駆動制御するよう
になつている。
ロセス制御プログラムと成形条件設定記憶部31に格納さ
れた設定条件値とに基づき、前記したセンサ20〜25など
からの情報及び制御装置30に内蔵されたクロツクからの
計時情報を参照しつつ、ドライバー群41を介して対応す
る駆動源を駆動制御し、一連の成形行程を実行させる。
第1図においては、ドライバ群41の駆動信号D1が制御弁
42を介して前記型締シリンダ5を駆動制御し、駆動信号
D2が前記バンドヒータ13の電熱源を駆動制御し、駆動信
号D3が前記モータ15を駆動制御し、駆動信号D4が制御弁
43を介して前記射出シリンダ16を駆動制御し、また、他
の駆動信号が図示せぬ適宜の駆動源を駆動制御するよう
になつている。
前記実測値記憶部34には、連続自動運転時に自動検査
(モニタ)動作を実行させるための前提条件となるモニ
タ項目の総べての実測値xが、連続する所定多数回のシ
ヨツトにわたつてその記録エリアに取込れる。取込れる
モニタ項目は大別すると、時間監視項目,位置監視
項目,回転数監視項目,速度監視項目,圧力監視
項目,温度監視項目,電力監視項目などが挙げら
れ、前記した成形条件設定項目の相当部分がこれとオー
バーラツプし、成形品の品質に密接に関係するするフア
クターがモニタ項目として予め設定されている(例え
ば、第4図に示したモニタ項目参照)。該実施例におい
ては、このモニタ項目の数は30〜50程度とされ、前記し
たセンサ20〜25などからの情報及び制御装置30に内蔵さ
れたクロツクからの計時情報が必要に応じ変換処理され
て順次格納される。なお、モニタ項目はオペレータが選
択入力して設定することも可能である。
(モニタ)動作を実行させるための前提条件となるモニ
タ項目の総べての実測値xが、連続する所定多数回のシ
ヨツトにわたつてその記録エリアに取込れる。取込れる
モニタ項目は大別すると、時間監視項目,位置監視
項目,回転数監視項目,速度監視項目,圧力監視
項目,温度監視項目,電力監視項目などが挙げら
れ、前記した成形条件設定項目の相当部分がこれとオー
バーラツプし、成形品の品質に密接に関係するするフア
クターがモニタ項目として予め設定されている(例え
ば、第4図に示したモニタ項目参照)。該実施例におい
ては、このモニタ項目の数は30〜50程度とされ、前記し
たセンサ20〜25などからの情報及び制御装置30に内蔵さ
れたクロツクからの計時情報が必要に応じ変換処理され
て順次格納される。なお、モニタ項目はオペレータが選
択入力して設定することも可能である。
前記演算処理部33は、実測値記憶部34に記憶されたデ
ータが所定サンプリングシヨツト数に達すると、各モニ
タ項目毎の実測値xを統計演算処理し、 実測値xのバラツキ範囲R(x max−x min)と実測値
xの中間値Mi(x min+R/2)、及び/または、 実測値xの平均値(Σx/n)と標準偏差 を先ず算出し、 次に上記算出結果と後述する如く設定される修正係数
(修正値)aとによつて、各モニタ項目毎の上・下限値
を、 上限値=Mi+a・R/2 下限値=Mi−a・R/2 もしくは、 上限値=+a・3σ/2 下限値=−a・3σ/2 として算出する。このようにして算出された各モニタ項
目毎の上限値並びに下限値は、前記した上・下限値設定
記憶部35に転送されて記憶される。ここで、本実施例で
用いられる前記実測値xの中間値Miは、上記したように
Mi=x min+R/2で規定されるもので、計測した実測値x
群のデータ幅の中心に必ず位置する。したがって、中間
値Miを用いて算出・設定される上限値=Mi+a・R/2お
よび下限値=Mi−a・R/2は、実測値x群のデータ幅の
中心からそれぞれ同一幅の許容範囲を規定するものとな
る。このため、上限値,下限値としてMi+a・R/2,Mi−
a・R/2を用いる場合には、良否判定のための許容設定
範囲の把握が容易・確実なものとなり、また、良否判定
が上限値側と下限値側とでバランスのとれたものとな
る。
ータが所定サンプリングシヨツト数に達すると、各モニ
タ項目毎の実測値xを統計演算処理し、 実測値xのバラツキ範囲R(x max−x min)と実測値
xの中間値Mi(x min+R/2)、及び/または、 実測値xの平均値(Σx/n)と標準偏差 を先ず算出し、 次に上記算出結果と後述する如く設定される修正係数
(修正値)aとによつて、各モニタ項目毎の上・下限値
を、 上限値=Mi+a・R/2 下限値=Mi−a・R/2 もしくは、 上限値=+a・3σ/2 下限値=−a・3σ/2 として算出する。このようにして算出された各モニタ項
目毎の上限値並びに下限値は、前記した上・下限値設定
記憶部35に転送されて記憶される。ここで、本実施例で
用いられる前記実測値xの中間値Miは、上記したように
Mi=x min+R/2で規定されるもので、計測した実測値x
群のデータ幅の中心に必ず位置する。したがって、中間
値Miを用いて算出・設定される上限値=Mi+a・R/2お
よび下限値=Mi−a・R/2は、実測値x群のデータ幅の
中心からそれぞれ同一幅の許容範囲を規定するものとな
る。このため、上限値,下限値としてMi+a・R/2,Mi−
a・R/2を用いる場合には、良否判定のための許容設定
範囲の把握が容易・確実なものとなり、また、良否判定
が上限値側と下限値側とでバランスのとれたものとな
る。
前記比較演算部36は、上・下限値設定記憶部35に格納
されたデータと、最新のシヨツトにおける実測値データ
(例えば実測値記憶部34から転送される)とを対比し、
実測値が上・下限値範囲内(許容範囲内)にあるか否か
を判断し、上・下限値範囲内を外れた場合には、この旨
を前記成形プロセス制御部32に認知させて、該成形プロ
セス制御部32による製品取出し機の制御によつて、最新
シヨツトによる成形品を不良品として所定の不良品溜め
に搬送させる。
されたデータと、最新のシヨツトにおける実測値データ
(例えば実測値記憶部34から転送される)とを対比し、
実測値が上・下限値範囲内(許容範囲内)にあるか否か
を判断し、上・下限値範囲内を外れた場合には、この旨
を前記成形プロセス制御部32に認知させて、該成形プロ
セス制御部32による製品取出し機の制御によつて、最新
シヨツトによる成形品を不良品として所定の不良品溜め
に搬送させる。
なお、第1図において、44はカラーCRTデイスプレイ
等よりなる表示装置、45はドツトプリンタ等のプリンタ
で、この出力装置44,45には、制御装置30での処理結果
などが必要に応じ出力される。また、46は磁気デイスク
装置等の外部メモリで、制御装置30との間で必要に応じ
情報の授受がなされる。
等よりなる表示装置、45はドツトプリンタ等のプリンタ
で、この出力装置44,45には、制御装置30での処理結果
などが必要に応じ出力される。また、46は磁気デイスク
装置等の外部メモリで、制御装置30との間で必要に応じ
情報の授受がなされる。
次に、上述した構成による動作を説明する。
前記制御装置30は、オペレータによつてモニタ機能
(自動検査機能)を発揮させるための前提条件となる各
モニタ項目毎の上限値並びに下限値を自動的に算出する
ためのモードが選択されると、例えば表示装置44に、第
2図示のようなモニタ上・下限値自動設定画面を表示さ
せる。
(自動検査機能)を発揮させるための前提条件となる各
モニタ項目毎の上限値並びに下限値を自動的に算出する
ためのモードが選択されると、例えば表示装置44に、第
2図示のようなモニタ上・下限値自動設定画面を表示さ
せる。
第2図において、表示画面50上の左側部分には、統計
演算処理の基本データとなる実測値サンプリング中のプ
リンタ45の出力モードを指定するためのウインド表示が
なされ、プリント出力を望む場合はカーソルを「ON」表
示に移動させてこれを選択する。同様にカーソルを移動
させて、「全モニタ(実測)データ印字」か「任意シヨ
ツト数おきの印字」か「(不良判定が下された時の)不
良データのみ印字」かが選択され、「任意シヨツト数お
きの印字」が選択された場合には具体的数値がキー入力
される。また、「全モニタデータ印字」もしくは「任意
シヨツト数おきの印字」が選択された場合には、「(不
良データにこれを識別するための)不良データマーク」
を付与するか否かが選択される。
演算処理の基本データとなる実測値サンプリング中のプ
リンタ45の出力モードを指定するためのウインド表示が
なされ、プリント出力を望む場合はカーソルを「ON」表
示に移動させてこれを選択する。同様にカーソルを移動
させて、「全モニタ(実測)データ印字」か「任意シヨ
ツト数おきの印字」か「(不良判定が下された時の)不
良データのみ印字」かが選択され、「任意シヨツト数お
きの印字」が選択された場合には具体的数値がキー入力
される。また、「全モニタデータ印字」もしくは「任意
シヨツト数おきの印字」が選択された場合には、「(不
良データにこれを識別するための)不良データマーク」
を付与するか否かが選択される。
表示画面50上の中央部分には、各モニタ項目毎の上限
値並びに下限値を自動的に算出するための初期設定を行
うためのウインド表示がなされ、上・下限値を計算させ
る場合には、当然「ON」が選択される。また、上・下限
値を算出するための前提となる各モニタ項目毎の実測値
を何回サンプリングするかが、「統計シヨツト数」表示
部で数値をキー入力することによつて設定される。この
サンプリング(統計)シヨツト数は後述する統計計算の
精度を上げるため数10シヨツト以上を選定することが望
ましく、第2図では100シヨツトが選定された場合を示
している、また、統計計算のみを実行させて、算出結果
を自動検査のための設定データに自動的に設定しない場
合には、「統計計算のみスタート」のモードが選択さ
れ、統計計算を実行させてこの算出結果に基づき演算さ
れた上・下限値を自動設定する場合には、「上・下限値
の自動設定と連動」のモードが選択される。
値並びに下限値を自動的に算出するための初期設定を行
うためのウインド表示がなされ、上・下限値を計算させ
る場合には、当然「ON」が選択される。また、上・下限
値を算出するための前提となる各モニタ項目毎の実測値
を何回サンプリングするかが、「統計シヨツト数」表示
部で数値をキー入力することによつて設定される。この
サンプリング(統計)シヨツト数は後述する統計計算の
精度を上げるため数10シヨツト以上を選定することが望
ましく、第2図では100シヨツトが選定された場合を示
している、また、統計計算のみを実行させて、算出結果
を自動検査のための設定データに自動的に設定しない場
合には、「統計計算のみスタート」のモードが選択さ
れ、統計計算を実行させてこの算出結果に基づき演算さ
れた上・下限値を自動設定する場合には、「上・下限値
の自動設定と連動」のモードが選択される。
表示画面50上の右側上部分には、前記した上・下限値
を算出するための初期設定項目のウインド表示がなさ
れ、前記上・下限値を前記実測値xのバラツキ範囲Rと
中間値Miで算出する場合には、計算値「R」が指定選択
され、前記上・下限値を前記実測値xの平均値と標準
偏差σで算出する場合には、計数値「3σ」が指定選択
される。また、前記した上・下限値の計算式に用いられ
る前記修正計数aが、例えば「1.10」あるいは「1.20」
の如く入力設定される。この修正係数aは、要求される
成形品品質への要求の難易度などを考慮して決定され、
高精度が要求される場合には比較的小さく、要求精度が
ラフな場合には比較的大きく設定され、通常は1.00以上
の値が設定される。なお、該実施例においては、上記計
数値及び修正係数aは全モニタ項目に共通に一括して入
力設定されるようになつているが、第2図の表示画面の
右下に2点鎖線で囲んだ部位に示したように、各モニタ
項目毎に、計数値「R」または「3σ」の選択と修正係
数aの設定とを行うようにしてもよい。
を算出するための初期設定項目のウインド表示がなさ
れ、前記上・下限値を前記実測値xのバラツキ範囲Rと
中間値Miで算出する場合には、計算値「R」が指定選択
され、前記上・下限値を前記実測値xの平均値と標準
偏差σで算出する場合には、計数値「3σ」が指定選択
される。また、前記した上・下限値の計算式に用いられ
る前記修正計数aが、例えば「1.10」あるいは「1.20」
の如く入力設定される。この修正係数aは、要求される
成形品品質への要求の難易度などを考慮して決定され、
高精度が要求される場合には比較的小さく、要求精度が
ラフな場合には比較的大きく設定され、通常は1.00以上
の値が設定される。なお、該実施例においては、上記計
数値及び修正係数aは全モニタ項目に共通に一括して入
力設定されるようになつているが、第2図の表示画面の
右下に2点鎖線で囲んだ部位に示したように、各モニタ
項目毎に、計数値「R」または「3σ」の選択と修正係
数aの設定とを行うようにしてもよい。
いま、第2図のモニタ上・下限値自動設定画面におい
て、プリンタモードが「ON」されて所望の印字出力形態
が選択され、また、統計計算モードが「ON」されて統計
シヨツト数が入力設定されると共に、「上・下限値の自
動設定と連動」するモードが選択され、さらに、上・下
限値を算出するために使用する前記した計数値「R」ま
たは「3σ」の何れか一方が選択されると共に、修正係
数aが設定されたとする。この状態で、前記制御装置30
の管理下で射出成形機の連続自動運転が開始されて、初
回のシヨツト数からカウントして所定数(例えば10シヨ
ツト程度)の初期シヨツト数が計数され終わると、制御
装置30は初期の過渡的・不安定な期間が終了して運転状
態が安定したと見なし、引続く連続自動運転の各シヨツ
ト毎に、予め設定された前記モニタ項目総べての実測値
xを前記実測値記憶部34に取込ませる。
て、プリンタモードが「ON」されて所望の印字出力形態
が選択され、また、統計計算モードが「ON」されて統計
シヨツト数が入力設定されると共に、「上・下限値の自
動設定と連動」するモードが選択され、さらに、上・下
限値を算出するために使用する前記した計数値「R」ま
たは「3σ」の何れか一方が選択されると共に、修正係
数aが設定されたとする。この状態で、前記制御装置30
の管理下で射出成形機の連続自動運転が開始されて、初
回のシヨツト数からカウントして所定数(例えば10シヨ
ツト程度)の初期シヨツト数が計数され終わると、制御
装置30は初期の過渡的・不安定な期間が終了して運転状
態が安定したと見なし、引続く連続自動運転の各シヨツ
ト毎に、予め設定された前記モニタ項目総べての実測値
xを前記実測値記憶部34に取込ませる。
実測値xの実測値記憶部34への格納を行ないながら、
シヨツトカウンタによつて設定されたサンプリングシヨ
ツト数に達したことが認知されると、前記演算処理部33
は、各モニタ項目毎に全サンプリングシヨツト数の実測
値xを前記した如く統計演算処理する。該実施例におい
ては、前記した実測値xのバラツキ範囲R,実測値xの中
間値Mi,実測値xの平均値,実測値xの標準偏差σの
全部が算出されるようになつており、この計算結果と前
記修正係数aとに基づき前記した如く上・下限値が算出
される。第3図はこうした演算処理がなされる演算処理
部33のワークエリアが模式的に示されている。
シヨツトカウンタによつて設定されたサンプリングシヨ
ツト数に達したことが認知されると、前記演算処理部33
は、各モニタ項目毎に全サンプリングシヨツト数の実測
値xを前記した如く統計演算処理する。該実施例におい
ては、前記した実測値xのバラツキ範囲R,実測値xの中
間値Mi,実測値xの平均値,実測値xの標準偏差σの
全部が算出されるようになつており、この計算結果と前
記修正係数aとに基づき前記した如く上・下限値が算出
される。第3図はこうした演算処理がなされる演算処理
部33のワークエリアが模式的に示されている。
上記のようにして求められた上・下限値は、前記した
ように上・下限値設定記憶部35に転送されて格納され、
また、このデータは、必要に応じ前記した外部メモリ46
にも転送されて記憶される。なお、前記した統計(サン
プリングシヨツト)期間中の実測値データは、例えば第
4図のような形態で表示装置44に表示され、必要に応じ
プリントアウトされる。同図において、max,minは制御
装置30が便宜上自動的に設定する初期値であり、各デー
タを比較した結果の最大・最小値ではない。また、「○
/×」は例えば最大・最小の統計処理を行うか否の設定
などを示している。
ように上・下限値設定記憶部35に転送されて格納され、
また、このデータは、必要に応じ前記した外部メモリ46
にも転送されて記憶される。なお、前記した統計(サン
プリングシヨツト)期間中の実測値データは、例えば第
4図のような形態で表示装置44に表示され、必要に応じ
プリントアウトされる。同図において、max,minは制御
装置30が便宜上自動的に設定する初期値であり、各デー
タを比較した結果の最大・最小値ではない。また、「○
/×」は例えば最大・最小の統計処理を行うか否の設定
などを示している。
そして、上・下限値設定記憶部35に取込まれたデータ
は前述したように、連続自動運転時におけるモニタ動作
(自動検査)における各モニタ項目(成形条件実測値)
の許容範囲を示す値として活用され、制御装置30による
モニタ動作が前記した如く実行される。なお、第5図は
このモニタ動作のためのワークエリアをごく模式的に示
しており、同図における「不良数」は現在までの不良カ
ウンタの計数内容を指している。
は前述したように、連続自動運転時におけるモニタ動作
(自動検査)における各モニタ項目(成形条件実測値)
の許容範囲を示す値として活用され、制御装置30による
モニタ動作が前記した如く実行される。なお、第5図は
このモニタ動作のためのワークエリアをごく模式的に示
しており、同図における「不良数」は現在までの不良カ
ウンタの計数内容を指している。
第6図は、制御装置30で実行される上・下限値自動計
算処理フローの1例を示している。前記した第2図の表
示画面50で設定あるいは選択された数値やモードが入力
された後、上・下限値自動設定が指示されると、同図に
示す初期設定のステツプS1の後、ステツプS2で射出成形
機の連続自動運転をスタートさせ、ステツプS3に進む。
ステツプS3では予め設定された初期シヨツト数に達した
か否かが判断され、YESならステツプS4に進み、NOなら
該ステツプに留まる。ステツプS4では、モニタ項目総べ
てについての実測値xが各シヨツト毎にサンプリングさ
れ、ステツプS5に進む。ステツプS5では、設定されたサ
ンプリングシヨツト数に達したか否かが判断され、YES
ならステツプS6に進み、NOならステツプS4に戻る。ステ
ツプS6では、サンプリングされた実測値xを各モニタ項
目毎に前述したように統計計算処理をし、前記実測値x
のバラツキ範囲R,実測値xの中間値Mi,実測値xの平均
値,実測値xの標準偏差σがそれぞれ算出され、ステ
ツプS7へ進む。ステツプS7では、上・下限値算出のため
に前記実測値xのバラツキ範囲Rを用いるか否かが問わ
れ、YESならステツプS8で実測値xのバラツキ範囲Rな
どを用いて前述した算式による上・下限値の算出処理が
なされてステツプS10へ進み、NOなら実測値xの平均値
などを用いて前述した算式による上・下限値の算出処
理がなされてステツプS10へ進む。ステツプS10では、上
・下限値の自動設定がなされて一連の上・下限値自動計
算・設定処理フローが終了する。
算処理フローの1例を示している。前記した第2図の表
示画面50で設定あるいは選択された数値やモードが入力
された後、上・下限値自動設定が指示されると、同図に
示す初期設定のステツプS1の後、ステツプS2で射出成形
機の連続自動運転をスタートさせ、ステツプS3に進む。
ステツプS3では予め設定された初期シヨツト数に達した
か否かが判断され、YESならステツプS4に進み、NOなら
該ステツプに留まる。ステツプS4では、モニタ項目総べ
てについての実測値xが各シヨツト毎にサンプリングさ
れ、ステツプS5に進む。ステツプS5では、設定されたサ
ンプリングシヨツト数に達したか否かが判断され、YES
ならステツプS6に進み、NOならステツプS4に戻る。ステ
ツプS6では、サンプリングされた実測値xを各モニタ項
目毎に前述したように統計計算処理をし、前記実測値x
のバラツキ範囲R,実測値xの中間値Mi,実測値xの平均
値,実測値xの標準偏差σがそれぞれ算出され、ステ
ツプS7へ進む。ステツプS7では、上・下限値算出のため
に前記実測値xのバラツキ範囲Rを用いるか否かが問わ
れ、YESならステツプS8で実測値xのバラツキ範囲Rな
どを用いて前述した算式による上・下限値の算出処理が
なされてステツプS10へ進み、NOなら実測値xの平均値
などを用いて前述した算式による上・下限値の算出処
理がなされてステツプS10へ進む。ステツプS10では、上
・下限値の自動設定がなされて一連の上・下限値自動計
算・設定処理フローが終了する。
[発明の効果] 以上のように本発明によれば、現場の操作員が、個別
の成形品形状や使用樹脂の特性による不良の発生要因と
それに対応する成形条件(モニタ項目)の上下変動許容
範囲についての、高度な知識と熟達した判断力を持たな
くても(成形品の良否判別程度の知識のあるオペレータ
であれば)、実測統計データから合理的に演算決定され
た上・下限値が自動的に入力・設定されるので、モニタ
リング機能により間違いなく良/不良の自動判別が行え
る。また、Mi=x min+R/2で規定される中間値Miを求め
て、各モニタ項目毎の上限値並びに下限値を、上限値並
びに下限値が中間値Miから同一幅となるように自動設定
するので、良否判定のための許容設定範囲の把握が容易
・確実なものとなり、また、良否判定が上限値側と下限
値側とでバランスのとれたものとなる。さらに、修正係
数(修正値)aの値を、統計に現われない生産管理要因
上の判断、例えば、製品納入先の検査基準の厳寛度など
に応じて調整を加え、品質管理/コスト管理を徹底させ
ることが出来る。
の成形品形状や使用樹脂の特性による不良の発生要因と
それに対応する成形条件(モニタ項目)の上下変動許容
範囲についての、高度な知識と熟達した判断力を持たな
くても(成形品の良否判別程度の知識のあるオペレータ
であれば)、実測統計データから合理的に演算決定され
た上・下限値が自動的に入力・設定されるので、モニタ
リング機能により間違いなく良/不良の自動判別が行え
る。また、Mi=x min+R/2で規定される中間値Miを求め
て、各モニタ項目毎の上限値並びに下限値を、上限値並
びに下限値が中間値Miから同一幅となるように自動設定
するので、良否判定のための許容設定範囲の把握が容易
・確実なものとなり、また、良否判定が上限値側と下限
値側とでバランスのとれたものとなる。さらに、修正係
数(修正値)aの値を、統計に現われない生産管理要因
上の判断、例えば、製品納入先の検査基準の厳寛度など
に応じて調整を加え、品質管理/コスト管理を徹底させ
ることが出来る。
図面は何れも本発明の1実施例に係り、第1図は射出成
形機の要部の概略構成を示す説明図、第2図は表示装置
の表示画面上のモニタ上・下限値自動設定画面モードの
1例を示す説明図、第3図は上・下限値算出のための演
算処理がなされる制御装置のワークエリアを模式的に示
す説明図、第4図はサンプリングシヨツト期間中の実測
値データの表示装置での表示形態の1例を示す説明図、
第5図はモニタリング処理がなされる制御装置のワーク
エリアを模式的に示す説明図、第6図は制御装置で実行
される上・下限値自動計算処理フローの1例を示す説明
図である。 1……ベース、2……固定ダイプレート、3……支持
盤、4……タイバー、5……型締シリンダ、6……トグ
ルリンク機構、7……可動ダイプレート、8……固定側
金型、9……可動側金型、10……加熱シリンダ、11……
スクリユー、12……ノズル、13……バンドヒータ、14…
…ホツパー、15……モータ、16……射出シリンダ、20…
…射出圧力検出センサ、21……射出ストロークセンサ、
22……スクリユー回転検出センサ、23……温度検出セン
サ、24……型開閉ストローク検出センサ、25……型締圧
力検出センサ、30……制御装置、31……成形条件設定記
憶部、32……成形プロセス制御部、33……演算処理部、
34……実測値記憶部、35上・下限値設定記憶部、36……
比較演算部、40……キー入力手段、41……ドライバ群、
42,43……制御弁、44……表示装置、45……プリンタ、4
6……外部メモリ、50……表示画面、51……カーソル。
形機の要部の概略構成を示す説明図、第2図は表示装置
の表示画面上のモニタ上・下限値自動設定画面モードの
1例を示す説明図、第3図は上・下限値算出のための演
算処理がなされる制御装置のワークエリアを模式的に示
す説明図、第4図はサンプリングシヨツト期間中の実測
値データの表示装置での表示形態の1例を示す説明図、
第5図はモニタリング処理がなされる制御装置のワーク
エリアを模式的に示す説明図、第6図は制御装置で実行
される上・下限値自動計算処理フローの1例を示す説明
図である。 1……ベース、2……固定ダイプレート、3……支持
盤、4……タイバー、5……型締シリンダ、6……トグ
ルリンク機構、7……可動ダイプレート、8……固定側
金型、9……可動側金型、10……加熱シリンダ、11……
スクリユー、12……ノズル、13……バンドヒータ、14…
…ホツパー、15……モータ、16……射出シリンダ、20…
…射出圧力検出センサ、21……射出ストロークセンサ、
22……スクリユー回転検出センサ、23……温度検出セン
サ、24……型開閉ストローク検出センサ、25……型締圧
力検出センサ、30……制御装置、31……成形条件設定記
憶部、32……成形プロセス制御部、33……演算処理部、
34……実測値記憶部、35上・下限値設定記憶部、36……
比較演算部、40……キー入力手段、41……ドライバ群、
42,43……制御弁、44……表示装置、45……プリンタ、4
6……外部メモリ、50……表示画面、51……カーソル。
Claims (5)
- 【請求項1】設定された各成形運転条件値と各センサか
らの計測情報とに基づき成形機の各部を駆動制御するマ
イクロコンピュータによりなる制御装置を具備し、該制
御装置は、連続自動運転時における成形品の品質を判別
するために、予め定められたモニタ項目の上限値並びに
下限値と実測値とを対比して、この比較結果によって成
形品の良否を判別する機能を具備した成形機において、
連続自動運転をスタートして初期の所定ショット数が終
了した後に、引続く所定数のショット毎に各モニタ項目
の実測値xを計測し、各モニタ項目毎に、実測値xのバ
ラツキ範囲R(R=x max−x min)並びに実測値xの中
間値Mi(Mi=x min+R/2)を少なくとも統計演算し、該
演算結果に基づき各モニタ項目毎の前記上限値並びに下
限値を、上限値並びに下限値が中間値Miから同一幅とな
るように自動設定することを特徴とする成形機の成形条
件上下限値自動設定方法。 - 【請求項2】請求項1記載において、前記統計演算結果
に基づき前記各モニタ項目毎の上限値並びに下限値を設
定・演算するに際し、半固定的な修正値が算式中に入れ
られていることを特徴とする成形機の成形条件上下限値
自動設定方法。 - 【請求項3】請求項2記載において、前記修正値をaと
したとき、前記各モニタ項目毎の上限値並びに下限値
は、 上限値=Mi+a・R/2 下限値=Mi−a・R/2 で決定されることを特徴とする成形機の成形条件上下限
値自動設定方法。 - 【請求項4】請求項2記載において、前記修正値aは、
各モニタ項目毎に可変設定可能とされたことを特徴とす
る成形機の成形条件上下限値自動設定方法。 - 【請求項5】請求項1記載において、前記した統計演算
を行うためのショット数は、可変設定可能とされたこと
を特徴とする成形機の成形条件上下限値自動設定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1169993A JP2545465B2 (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 成形機の成形条件上下限値自動設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1169993A JP2545465B2 (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 成形機の成形条件上下限値自動設定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0336012A JPH0336012A (ja) | 1991-02-15 |
JP2545465B2 true JP2545465B2 (ja) | 1996-10-16 |
Family
ID=15896605
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1169993A Expired - Lifetime JP2545465B2 (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 成形機の成形条件上下限値自動設定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2545465B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0435923A (ja) * | 1990-05-31 | 1992-02-06 | Komatsu Ltd | エキスパートシステムを用いた成形条件探索方法 |
JP2770124B2 (ja) * | 1993-09-08 | 1998-06-25 | 日精樹脂工業株式会社 | 射出成形機の圧力検出方法及び装置 |
JP2657352B2 (ja) * | 1993-09-08 | 1997-09-24 | 日精樹脂工業株式会社 | 射出成形機の圧力検出方法及び装置 |
DE19801881C1 (de) | 1998-01-20 | 1999-05-27 | Karl Hehl | Verfahren zur Beurteilung von Spritzteilen |
JP3388716B2 (ja) * | 1999-06-29 | 2003-03-24 | 日精樹脂工業株式会社 | 射出成形機の管理方法 |
US7213478B2 (en) * | 2003-02-18 | 2007-05-08 | Tokyo Electron Limited | Method for automatic configuration of processing system |
JP4721454B2 (ja) * | 2007-02-22 | 2011-07-13 | 日精樹脂工業株式会社 | 射出成形装置における成形条件の決定方法及び射出成形装置 |
JP4915299B2 (ja) * | 2007-06-29 | 2012-04-11 | コニカミノルタオプト株式会社 | 成形方法 |
JP6587989B2 (ja) * | 2016-07-26 | 2019-10-09 | 双葉電子工業株式会社 | 計測装置、計測方法、プログラム |
WO2023223421A1 (ja) * | 2022-05-17 | 2023-11-23 | ファナック株式会社 | 射出成形機の制御装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61229523A (ja) * | 1985-04-04 | 1986-10-13 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 射出圧力の自動監視方法 |
-
1989
- 1989-07-03 JP JP1169993A patent/JP2545465B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0336012A (ja) | 1991-02-15 |
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Legal Events
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