[go: up one dir, main page]

JP2544318Y2 - Positioning pin device - Google Patents

Positioning pin device

Info

Publication number
JP2544318Y2
JP2544318Y2 JP10895691U JP10895691U JP2544318Y2 JP 2544318 Y2 JP2544318 Y2 JP 2544318Y2 JP 10895691 U JP10895691 U JP 10895691U JP 10895691 U JP10895691 U JP 10895691U JP 2544318 Y2 JP2544318 Y2 JP 2544318Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pin
substrate
positioning
positioning pin
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP10895691U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0550464U (en
Inventor
一也 澤田
健一 寺内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Screen Holdings Co Ltd
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Screen Holdings Co Ltd
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Screen Holdings Co Ltd, Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Screen Holdings Co Ltd
Priority to JP10895691U priority Critical patent/JP2544318Y2/en
Publication of JPH0550464U publication Critical patent/JPH0550464U/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2544318Y2 publication Critical patent/JP2544318Y2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Jigs For Machine Tools (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この考案は、光学式基板検査装置
の基板載置用透光テーブル上に、ガラスエキシポ製のプ
リント配線基板、ポリイミド製のフレキシブルプリント
回路、あるいはプリント配線基板の製作に使用する原画
パターンのマスク等の被検査基板を位置決めする位置決
めピン装置に関するものである。
The present invention is used for manufacturing a printed circuit board made of glass epoxy, a flexible printed circuit made of polyimide, or a printed circuit board on a transparent table for placing a substrate in an optical board inspection apparatus. The present invention relates to a positioning pin device for positioning a substrate to be inspected such as a mask of an original pattern.

【0002】[0002]

【従来の技術】光学式基板検査装置は、例えば被検査基
板であるプリント配線基板を検査テーブル上に載置して
位置決めピン装置により位置決めして、その被検査基板
に形成されている配線パターン等の画像をカメラにより
読み取り、読み取った画像のデータをマスターパターン
のデータと比較することにより、被検査基板の欠陥箇所
を発見するものである。
2. Description of the Related Art An optical board inspection apparatus, for example, mounts a printed wiring board, which is a board to be inspected, on an inspection table, positions it by a positioning pin device, and forms a wiring pattern formed on the board to be inspected. Is detected by a camera, and the data of the read image is compared with the data of the master pattern to find a defective portion on the substrate to be inspected.

【0003】この装置に付設される位置決めピン装置と
しては、従来より例えば図8で示すように、実開昭63
−63757号公報に開示されたものが知られている。
ここで符号110は位置決めピン装置全体を示す。この
位置決めピン装置110は、図8に示すように、一対の
位置決めピン111・111と、各位置決めピン111
を立設固定した一対の位置決めブロック120とから成
り、一対の位置決めブロック120は、被検査基板載置
用の検査テーブル130の基枠131に凹設した溝13
2に装着してピン間隔調節自在となるように取り付けら
れている。そして、この一対の位置決めピン111・1
11に被検査基板8の一対のピン孔(図示せず)を嵌め
込むことにより、被検査基板8を位置決めするように構
成されている。
As a positioning pin device attached to this device, for example, as shown in FIG.
The one disclosed in Japanese Patent No. 63735 is known.
Here, reference numeral 110 indicates the entire positioning pin device. As shown in FIG. 8, the positioning pin device 110 includes a pair of positioning pins 111, 111, and each positioning pin 111.
And a pair of positioning blocks 120 on which are fixed. The pair of positioning blocks 120 are provided with grooves 13 recessed in a base frame 131 of an inspection table 130 for mounting a substrate to be inspected.
2 so that the pin interval can be adjusted freely. Then, the pair of positioning pins 111.
The board to be inspected 8 is positioned by fitting a pair of pin holes (not shown) of the board to be inspected 11 into the pin 11.

【0004】ところで、近年においては、上記のような
光学式基板検査装置の検査テーブルとして、ガラスや樹
脂等の透光性素材により作られた透光テーブルが使用さ
れることがある。それは、近年の基板検査において、被
検査基板の表面の配線パターンのみならず、被検査基板
に形成される部品挿入孔等の透孔の位置や大きさなどを
検査することが望まれ、透過光による検査が必要とされ
ているためである。
In recent years, a light-transmitting table made of a light-transmitting material such as glass or resin is sometimes used as an inspection table of the above-mentioned optical substrate inspection apparatus. In recent board inspections, it is desired to inspect not only the wiring pattern on the surface of the board to be inspected but also the position and size of through holes such as component insertion holes formed in the board to be inspected. Is required.

【0005】しかるにこのような場合、図8に示す従来
の位置決めピン装置110にあっては、位置決めピン1
11は透光テーブルである検査テーブル130の周囲の
非透光性基枠131の上に位置することになるので、被
検査基板8のうちピン孔が形成された側の側縁部分8a
が、透過光による検査が可能な検査テーブル130の透
光領域からはみだしてしまい、その側縁部分8aに対す
る透過光による検査が不可能になる。また、ガラスや樹
脂等の透光性素材により作られた検査テーブル130の
透光領域内に、直接的に位置決めピンを取り付けること
は、取り付け作業の困難さなどの点で望ましくない。
However, in such a case, in the conventional positioning pin device 110 shown in FIG.
Since 11 is located on the non-light-transmitting base frame 131 around the inspection table 130 which is a light-transmitting table, the side edge portion 8a on the side of the substrate 8 to be inspected on which the pin holes are formed.
However, it protrudes from the translucent area of the inspection table 130 that can be inspected by the transmitted light, and it becomes impossible to inspect the side edge portion 8a by the transmitted light. In addition, it is not desirable to directly attach the positioning pins in the light-transmitting region of the inspection table 130 made of a light-transmitting material such as glass or resin because of the difficulty of the mounting operation.

【0006】かかる不都合を解消するには、例えば図9
に示すように、極く薄い金属板製のピンプレート112
の基端部112aを一対の位置決めブロック120を介
して非透光性基枠131に固定し、ピンプレート112
の先端部112bを検査テーブル130を構成する透光
板5上に延出して、その先端部112bに位置決めピン
111を立設し、被検査基板8のピン孔形成側の側縁部
分8aを透光領域5上に位置させれば良い。
In order to eliminate such inconvenience, for example, FIG.
As shown in the figure, a pin plate 112 made of an extremely thin metal plate is used.
Is fixed to the non-translucent base frame 131 via the pair of positioning blocks 120, and the pin plate 112
Of the substrate 8 to be inspected, a positioning pin 111 is erected at the distal end 112b, and a side edge portion 8a of the substrate to be inspected 8 on the pin hole forming side is transparent. What is necessary is just to position on the light area 5.

【0007】[0007]

【考案が解決しようとする課題】しかし、図9に示す従
来例においては、良い検査精度を保つなどのために、ピ
ンプレート112は厚みが極く薄いものであることが要
求される。そのため、被検査基板8は透光板5にほぼ密
着しており、被検査基板8のピン孔形成側の側縁部分8
aと透光板5との隙間に指先をかけて被検査基板8を取
り外すのが困難になる。また、無理な力を加えて被検査
基板8を取り外そうとすると、位置決めピン111がこ
じれて折れる。本考案はこのような事情を考慮してなさ
れたもので、 イ.被検査基板のピン孔形成側の側縁部分8aに対する
透過光による検査を可能にすること、 ロ.位置決めピンで位置決めされた被検査基板の取り外
しを容易にするとともに、位置決めピンのこじれによる
折れを無くすること、を技術課題とする。
However, in the conventional example shown in FIG. 9, the pin plate 112 is required to be extremely thin in order to maintain good inspection accuracy. Therefore, the substrate 8 to be inspected is almost in close contact with the light transmitting plate 5, and the side edge portion 8 of the substrate 8 to be inspected on the pin hole forming side
It becomes difficult to remove the substrate to be inspected 8 by putting a fingertip on the gap between the light transmitting plate 5 and the light transmitting plate 5. Also, when the substrate 8 to be inspected is removed by applying excessive force, the positioning pins 111 are twisted and broken. The present invention has been made in consideration of such circumstances. B. Inspection of the side edge portion 8a on the pin hole forming side of the substrate to be inspected by transmitted light is enabled; It is an object of the present invention to facilitate removal of a substrate to be inspected positioned by a positioning pin and to prevent the positioning pin from being broken due to twisting.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本考案は上記課題を解決
するものとして、以下のように構成される。即ち、光学
式基板検査装置の基板載置用透光テーブル上に位置決め
ピンを突出させ、この位置決めピンに被検査基板のピン
孔を嵌め込むことにより、被検査基板を位置決めする位
置決めピン装置において、位置決めピンと、弾性変形自
在な板バネ材料により形成したピン支持板とから成り、
ピン支持板は、位置決めピンを立設するピン固定部と、
位置決めピンの近傍でピン固定部の外周に位置する基板
押上部と、基板押上部をピン固定部の基端部に連結する
連結部と、連結部をはさんで基板押上部と連なる押下レ
バーとに区画され、ピン固定部は、その基端部が透光テ
ーブルの周囲の非透光基枠に取り付けられるとともに、
立設された位置決めピンが透光テーブルの透光領域上に
位置するように透光領域に延出し、上記連結部を揺動支
点として押下レバーを押し下げて基板押上部で被検査基
板を押し上げるように構成したことを特徴とするもので
ある。
The present invention is configured as follows to solve the above-mentioned problems. That is, in a positioning pin device for positioning a substrate to be inspected by projecting a positioning pin on a light transmitting table for mounting a substrate of an optical substrate inspection device and fitting a pin hole of the substrate to be inspected into the positioning pin, It consists of a positioning pin and a pin support plate formed of an elastically deformable leaf spring material,
The pin support plate has a pin fixing portion for erecting the positioning pin,
A board push-up portion located on the outer periphery of the pin fixing portion in the vicinity of the positioning pin, a connecting portion connecting the board push-up portion to the base end of the pin fixing portion, and a pressing lever connected to the board push-up portion across the connecting portion; The pin fixing portion is attached to a non-light-transmitting base frame around the light-transmitting table at its base end,
The erected positioning pins extend into the light transmitting area so as to be located on the light transmitting area of the light transmitting table, and push down the pressing lever with the connecting portion as a swing fulcrum to push up the substrate to be inspected with the substrate push-up portion. It is characterized by having comprised in.

【0009】[0009]

【作 用】本考案では、被検査基板が位置決めされてい
る状態において、ピン支持板のピン固定部は、立設され
た位置決めピンが透光テーブルの透光領域上に位置する
ように透光領域に延出している。そして、位置決めピン
により位置決めされる被検査基板のピン孔形成側の側縁
部分は、透光領域上に位置することになる。従って、ピ
ン孔形成側の側縁部分に対する透過光による検査が可能
になる。被検査基板を取り外す際には、ピン支持板の押
下レバーを押し下げる。すると、位置決めピンの近傍に
延出している基板押上部が、上記連結部を揺動支点とし
て被検査基板を押し上げる。これにより、被検査基板の
ピン孔が位置決めピンから外れ、被検査基板の当該ピン
孔形成側の側縁部分がテーブル透光板から浮上する。あ
とは、浮上したその側縁部分と透光テーブルとの隙間に
指先をかけて、容易に被検査基板を取り外すことが可能
になる。また、無理な状態で被検査基板を取り外すこと
もないから、位置決めピンのこじれによる折れの問題も
解消する。
According to the present invention, when the substrate to be inspected is positioned, the pin fixing portion of the pin support plate transmits light so that the standing positioning pin is positioned on the light transmitting area of the light transmitting table. Extending into the area. Then, the side edge portion on the pin hole forming side of the substrate to be inspected positioned by the positioning pins is located on the light transmitting region. Therefore, it is possible to inspect the side edge portion on the pin hole forming side with the transmitted light. When removing the substrate to be inspected, the pressing lever of the pin support plate is pressed down. Then, the board push-up portion extending to the vicinity of the positioning pin pushes up the board to be inspected by using the connecting portion as a swing fulcrum. As a result, the pin hole of the substrate to be inspected is disengaged from the positioning pin, and the side edge portion of the substrate to be inspected on the side where the pin hole is formed floats from the table light transmitting plate. Thereafter, it is possible to easily remove the substrate to be inspected by putting a fingertip on a gap between the raised side edge portion and the light transmitting table. Further, since the substrate to be inspected is not removed in an unreasonable state, the problem of breakage due to twisting of the positioning pin is also solved.

【0010】[0010]

【実施例】以下本考案の実施例を図面に基づいてさらに
詳しく説明する。図1は本考案の実施例に係る位置決め
ピン装置の使用態様を例示する平面図、図2は本考案の
実施例に係る位置決めピン装置の斜視図、図7は本考案
を実施する光学式基板検査装置の斜視図である。光学式
基板検査装置1は透光テーブル2を備えており、内部に
は透光テーブル2の下方から透光テーブル2に向けて光
を照射する光源9(図3参照)が設けられている。そし
て、透光テーブル2上の所定位置に被検査基板であるプ
リント配線基板(以下、単に基板と称する)8を位置決
めして、透光テーブル2からの透過光による検査をなし
得るように構成されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below in more detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view illustrating the use of the positioning pin device according to the embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of the positioning pin device according to the embodiment of the present invention, and FIG. 7 is an optical substrate for implementing the present invention. It is a perspective view of an inspection device. The optical board inspection apparatus 1 includes a light transmitting table 2, and a light source 9 (see FIG. 3) for irradiating light from below the light transmitting table 2 toward the light transmitting table 2 is provided inside. Then, a printed wiring board (hereinafter simply referred to as a substrate) 8 as a substrate to be inspected is positioned at a predetermined position on the light transmitting table 2 so that an inspection can be performed by light transmitted from the light transmitting table 2. ing.

【0011】基板8は、本考案の位置決めピン装置10
により位置決めされている。この位置決めピン装置10
は、位置決めピン11と、弾性変形自在の板バネ材料に
より一体に形成したピン支持板12と、ピン支持板12
を固定した位置決めプロック20とから成っている。上
記光学式検査装置1は、この位置決めピン装置10を一
対にして使用している。即ち、光学式検査装置1の透光
テーブル2上に位置決めピン11を突出させ、この位置
決めピン11に基板8に形成された一対のピン孔を嵌め
込むことにより、基板8を所定位置に位置決めするよう
に構成されている。なお、図中の符号5は、その周縁に
おける非透光基枠3との重なり部分を除いて、ほぼ全面
が透光領域となり透光テーブル2を構成する透光板、7
はその透光板5を非透光基枠3に固定する当たりブロッ
クである。
The substrate 8 is provided with the positioning pin device 10 of the present invention.
It is positioned by. This positioning pin device 10
Are a pin 11, a pin support plate 12 integrally formed of an elastically deformable leaf spring material, and a pin support plate 12.
And a positioning block 20 to which is fixed. The optical inspection device 1 uses the positioning pin device 10 as a pair. That is, the positioning pin 11 is projected onto the light transmitting table 2 of the optical inspection apparatus 1, and a pair of pin holes formed in the substrate 8 is fitted into the positioning pin 11 to position the substrate 8 at a predetermined position. It is configured as follows. Reference numeral 5 in the drawing denotes a light-transmitting plate which constitutes the light-transmitting table 2, and substantially the entire surface thereof becomes a light-transmitting region except for the peripheral portion thereof overlapping with the non-light-transmitting base frame 3.
Is a contact block for fixing the light-transmitting plate 5 to the non-light-transmitting base frame 3.

【0012】上記位置決めプロック20は、図1及び図
3に示すように、透光テーブル2の周縁部の非透光基枠
3に所定間隔おきにあけられた複数のネジ孔4に固定ボ
ルト21を螺合することにより任意の位置に固定され、
一対となった位置決めピン装置10・10の2本の位置
決めピン11・11の間隔が調節可能になっている。上
記ピン支持板12は厚み0.3mmのバネ鋼により形成さ
れ、図1〜図2に示すように、位置決めピン11を立設
するピン固定部13と、位置決めピン11の近傍でピン
固定部13の外周に位置する基板押上部15と、基板押
上部15をピン固定部13の基端部13aに連結する連
結部16と、連結部16を介して基板押上部15に連接
された押下レバー17とに区画され、ピン固定部13と
基板押上部15とは切り込み14により分離されてい
る。なお、このピン支持板12は、その耐久性等のきょ
うどを損なわない範囲で、できる限り薄く作ることが望
ましい。
As shown in FIGS. 1 and 3, the positioning block 20 is provided with fixing bolts 21 in a plurality of screw holes 4 provided at predetermined intervals in the non-light-transmitting base frame 3 at the periphery of the light-transmitting table 2. Is fixed at any position by screwing
The distance between the two positioning pins 11 of the pair of positioning pin devices 10 is adjustable. The pin support plate 12 is formed of a 0.3 mm-thick spring steel. As shown in FIGS. 1 and 2, a pin fixing portion 13 for erecting the positioning pin 11 and a pin fixing portion 13 near the positioning pin 11 are provided. , A connecting portion 16 for connecting the substrate pushing portion 15 to the base end 13 a of the pin fixing portion 13, and a pressing lever 17 connected to the substrate pushing portion 15 via the connecting portion 16. The pin fixing portion 13 and the substrate push-up portion 15 are separated by a cut 14. It is desirable that the pin support plate 12 be made as thin as possible within a range that does not impair the durability and the like.

【0013】上記ピン固定部13は、その基端部13a
が位置決めブロック20に固定ネジ22により固定さ
れ、この位置決めブロック20を介して透光テーブル2
の前縁部の非透光基枠3に取り付けられている。そして
ピン固定部13の先端部13bは、透光テーブル2の透
光板5の透光領域上に延出され、位置決めピン11はそ
の先端部13bに溶接して立設されている。これによ
り、位置決めピン11で位置決めされる基板8のピン孔
形成側の側縁部分8aは、透光領域の上に位置し、透光
領域からの透過光により照明される。従って、そのピン
孔形成側の側縁部分8aに対する透過光による検査が可
能になる。
The pin fixing part 13 has a base end 13a.
Are fixed to the positioning block 20 by fixing screws 22, and the light transmitting table 2 is
Is attached to the non-light-transmitting base frame 3 at the front edge of the frame. The distal end portion 13b of the pin fixing portion 13 extends on the light transmitting area of the light transmitting plate 5 of the light transmitting table 2, and the positioning pin 11 is erected on the distal end portion 13b by welding. Thus, the side edge portion 8a of the substrate 8 on the pin hole forming side positioned by the positioning pins 11 is located above the light transmitting area, and is illuminated by the light transmitted from the light transmitting area. Therefore, the inspection using the transmitted light can be performed on the side edge portion 8a on the pin hole forming side.

【0014】なお、基板位置決め用のピン孔は、通常、
その近傍に配線パターンや部品挿入孔のない基板8の隅
に形成される。本考案では、基板8のピン孔のごく近傍
の、ピン支持板12と重なる部分に対しては、透過光に
よる検査はできないが、ピン支持板12をピン孔の近傍
の部品挿入孔などにかからない大きさとすることによ
り、実用上の問題は無い。
Incidentally, the pin holes for positioning the substrate are usually
It is formed at a corner of the substrate 8 having no wiring pattern or component insertion hole in the vicinity thereof. In the present invention, the portion of the substrate 8 that is very close to the pin hole and that overlaps the pin support plate 12 cannot be inspected by transmitted light, but the pin support plate 12 does not cover the component insertion hole near the pin hole. With the size, there is no practical problem.

【0015】また基板押上部15は、その先端部15b
が位置決めピン11の近傍に延出してピン固定部13の
外周に位置している。また、押下レバー17は位置決め
ブロック20の後方に延出され、図2で示すように、上
記連結部16を起点として、約30゜の傾斜角度で後ろ
上がり状に形成されており、上記連結部16を揺動支点
Qとして押下レバー17を押し下げることにより、基板
押上部15で基板8のピン孔形成側の側縁部分8aを押
し上げるように構成されている。なお、押下レバー17
は必ずしも傾斜角度を必要とせず、押し下げることがで
きる形状のものであれば良い。
The substrate push-up portion 15 has a tip portion 15b.
Extends near the positioning pin 11 and is located on the outer periphery of the pin fixing portion 13. The pressing lever 17 extends to the rear of the positioning block 20 and is formed so as to rise rearward at an inclination angle of about 30 ° starting from the connecting portion 16 as shown in FIG. By pressing down the pressing lever 17 with the pivot 16 as the swing fulcrum Q, the substrate push-up portion 15 pushes up the side edge portion 8a of the substrate 8 on the pin hole forming side. The pressing lever 17
Does not necessarily require an inclination angle, and may have a shape that can be pushed down.

【0016】基板8を取り外す際には、図3で示すよう
に、この押下レバー17を押し下げることにより、位置
決めピン11の近傍に延出している基板押上部15が、
基板8のピン孔形成側の側縁部分8aを押し上げる。こ
れにより、位置決めピン11から基板8のピン孔が外
れ、当該ピン孔形成側の側縁部分8aが透光板5から浮
上する。あとは透光板5とその側縁部分8aとの隙間に
指先をかけて、容易に基板8を取り外すことができる。
これにより、無理な状態で基板8を取り外すこともない
から、ピン11のこじれによる折れの問題も解消する。
また、ピン固定部13、基板押上部15、連結部16、
押下レバー17に区画されるピン支持板12を1枚の板
バネ材料により構成しているので、製造コストも安くて
済む。
When the substrate 8 is detached, as shown in FIG. 3, by pushing down the push lever 17, the substrate push-up portion 15 extending near the positioning pin 11 is moved.
The side edge portion 8a of the substrate 8 on the pin hole forming side is pushed up. As a result, the pin hole of the substrate 8 is released from the positioning pin 11, and the side edge portion 8 a on the pin hole forming side floats from the light transmitting plate 5. Thereafter, the fingertip is put on the gap between the light transmitting plate 5 and the side edge portion 8a, and the substrate 8 can be easily removed.
Thereby, since the substrate 8 is not removed in an unreasonable state, the problem of breakage due to twisting of the pins 11 is also solved.
In addition, the pin fixing portion 13, the board push-up portion 15, the connecting portion 16,
Since the pin support plate 12 partitioned by the pressing lever 17 is made of one leaf spring material, the manufacturing cost can be reduced.

【0017】図4は位置決めピン装置の変形例を示す平
面図である。この実施例は、ピン固定部13とその外周
に位置する基板押上部15及び押下レバー17とを、短
い連結部分16で連結して成り、その他の点は図2の実
施例と同様に構成されている。
FIG. 4 is a plan view showing a modification of the positioning pin device. In this embodiment, a pin fixing portion 13 is connected to a substrate push-up portion 15 and a push-down lever 17 located on the outer periphery thereof by a short connecting portion 16, and the other points are configured in the same manner as the embodiment of FIG. ing.

【0018】なお、本考案の実施態様において、位置決
めピン装置10を透光テーブル2に取り付ける構造は、
上記実施例に限るものではない。例えば、一対で使用さ
れる位置決めピン装置のうち、向かって左側の位置決め
ブロック20には上記実施例の構造を採用し、右側の位
置決めブロック20には下記の構造を介して上記位置決
めピン装置10を固定することもできる。ここで図5は
位置決めピン装置10の別の取り付け構造を示す要部の
平面図、図6は図5のVI−VI線矢視縦断面図である。
In the embodiment of the present invention, the structure for attaching the positioning pin device 10 to the translucent table 2 is as follows.
It is not limited to the above embodiment. For example, of the positioning pin devices used as a pair, the structure of the above embodiment is adopted for the positioning block 20 on the left side, and the positioning pin device 10 is mounted on the right positioning block 20 via the following structure. It can also be fixed. Here, FIG. 5 is a plan view of a main part showing another mounting structure of the positioning pin device 10, and FIG. 6 is a vertical sectional view taken along line VI-VI of FIG.

【0019】この取り付け構造は、位置決めブロック2
0と、この位置決めブロック20の一端面に水平方向へ
一体的に延設され、先端に雄ネジ25aを形成したガイ
ド杆25と、ガイド杆25の先端の雄ネジ25aに螺合
するストッパー28と、ガイド杆25に摺動自在に設け
られ、上記位置決めピン装置10を固定した可動ブロッ
ク27と、ガイド杆25に遊動自在に外嵌され、可動ブ
ロック27をストッパー28側へ押圧付勢するコイルバ
ネ26とから成り、この右側の位置決めピン11と図外
左側の位置決めピンとのピン間隔が拡がる方向へ可動ブ
ロック27を付勢するように構成されている。上記取り
付け構造によれば、基板8にあけられているピン孔がピ
ン径に対して余裕のある場合、一対のピン孔の間隔にば
らつきがある場合等において、融通性が大であり、基板
8の位置決めを能率よく正確に行うことができる。
This mounting structure includes a positioning block 2
0, a guide rod 25 integrally extended in the horizontal direction on one end surface of the positioning block 20 and having a male screw 25a formed at the tip, and a stopper 28 screwed to the male screw 25a at the tip of the guide rod 25. A movable block 27 slidably provided on the guide rod 25 and fixed with the positioning pin device 10, and a coil spring 26 movably fitted on the guide rod 25 so as to freely press the movable block 27 toward the stopper 28. The movable block 27 is configured to bias the movable block 27 in a direction in which the pin interval between the right positioning pin 11 and the left positioning pin (not shown) increases. According to the above-mentioned mounting structure, flexibility is large when the pin holes formed in the substrate 8 have a margin with respect to the pin diameter, when the distance between the pair of pin holes varies, or the like. Positioning can be performed efficiently and accurately.

【0020】なお上記実施例では、1台の光学式基板検
査装置1に一対の位置決めピン装置10を使用する場合
において、両方のピン支持板12が共に図2ないし図4
のように、ピン固定部13と基板押上部15と連結部1
6と押下レバー17とから成るものとして説明したが、
これに限るものではなく、少なくともいずれか一方の位
置決め装置のピン支持板が上記構成のものであれば足り
る。また、ピン支持板12の材質は、リン青銅、ステン
レススチールバネ材、あるいはABS等のバネ性のある
樹脂など、板状でバネ性のあるものであればよく、また
位置決めピン11のピン支持板12への取り付け方法
も、十分な強度があれば、カシメや接着等の方法でもよ
い。その他ピン支持板の形状や、ピン支持板の取り付け
構造等についても、適宜変更を加えて実施し得ること
は、多言を要しない。
In the above embodiment, when a pair of positioning pin devices 10 are used in one optical substrate inspection apparatus 1, both the pin support plates 12 are shown in FIGS.
The pin fixing portion 13, the substrate push-up portion 15, and the connecting portion 1
6 and the pressing lever 17 have been described,
However, the present invention is not limited to this, and it is sufficient that at least one of the pin support plates of the positioning device has the above configuration. The material of the pin support plate 12 may be a plate-like and spring-like material such as phosphor bronze, stainless steel spring material, or a springy resin such as ABS. As long as the method of attaching to 12 is sufficient strength, a method such as caulking or bonding may be used. In addition, it is not necessary to say that the shape of the pin support plate, the mounting structure of the pin support plate, and the like can be appropriately changed and implemented.

【0021】[0021]

【考案の効果】本考案は上記のように構成され作用する
ので、以下の効果を奏する。 イ.基板が位置決めされている状態では、当該基板のピ
ン孔形成側の側縁部分は、透光テーブルの透光領域によ
り照明されるので、基板のピン孔形成側の側縁部分に対
する透過光による検査が可能になる。 ロ.基板を取り外す際には、ピン支持板の押下レバーを
押し下げるだけで、基板のピン孔形成側の側縁部分を透
光テーブルから浮上させることができるので、容易に基
板を取り外すことが可能になる。また、無理な状態で基
板を取り外すこともないから、位置決めピンのこじれに
よる折れの問題も解消する。 ハ.また、ピン支持板を一枚の板バネ材料により構成し
ているので、製造コストも安くて済む。
The present invention is constructed and operated as described above, and has the following effects. I. In a state where the substrate is positioned, the side edge portion of the substrate on which the pin hole is formed is illuminated by the light transmitting area of the light transmitting table. Becomes possible. B. When removing the board, the side edge portion of the board on which the pin hole is formed can be lifted from the light transmitting table simply by pressing down the push lever of the pin support plate, so that the board can be easily removed. . Further, since the substrate is not removed in an unreasonable state, the problem of breakage due to twisting of the positioning pin is also solved. C. Further, since the pin support plate is made of a single leaf spring material, the manufacturing cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案に係る位置決めピン装置の使用態様を例
示する平面図である。
FIG. 1 is a plan view illustrating a usage mode of a positioning pin device according to the present invention.

【図2】本考案に係る位置決めピン装置の斜視図であ
る。
FIG. 2 is a perspective view of the positioning pin device according to the present invention.

【図3】本考案に係る位置決めピン装置の作用説明図で
ある。
FIG. 3 is an operation explanatory view of the positioning pin device according to the present invention.

【図4】本考案の別の実施例に係る位置決めピン装置の
平面図である。
FIG. 4 is a plan view of a positioning pin device according to another embodiment of the present invention.

【図5】位置決めピン装置の別の取り付け構造を示す要
部の平面図である。
FIG. 5 is a plan view of a main part showing another mounting structure of the positioning pin device.

【図6】図5のVI−VI線矢視縦断面図である。FIG. 6 is a vertical sectional view taken along line VI-VI of FIG. 5;

【図7】位置決めピン装置を必要とする光学式基板検査
装置の斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view of an optical substrate inspection device that requires a positioning pin device.

【図8】従来例に係る位置決めピン装置の使用態様を示
す平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing a usage state of a positioning pin device according to a conventional example.

【図9】改良案に係る位置決めピン装置の使用態様を示
す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a use mode of the positioning pin device according to the improvement plan.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…基板載置用透光テーブル、 3…非透光基
枠、5…透光板、 8…基板、11…位置決めピ
ン、 12…ピン支持板、13…ピン
固定部、 15…基板押上部、16
…連結部分、 17…押下レバー、Q…揺動支点。
Reference numeral 2 denotes a light-transmitting table for mounting a substrate; 3 denotes a non-light-transmitting base frame; 5 denotes a light-transmitting plate; 8 denotes a substrate; 11 denotes a positioning pin; , 16
... Connection part, 17 ... Pressing lever, Q: Swing fulcrum.

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 光学式基板検査装置の基板載置用透光テ
ーブル上に位置決めピンを突出させ、この位置決めピン
に被検査基板のピン孔を嵌め込むことにより、被検査基
板を位置決めする位置決めピン装置において、 位置決めピンと、弾性変形自在な板バネ材料により形成
したピン支持板とから成り、 ピン支持板は、位置決めピンを立設するピン固定部と、
位置決めピンの近傍でピン固定部の外周に位置する基板
押上部と、基板押上部をピン固定部の基端部に連結する
連結部と、連結部をはさんで基板押上部と連なる押下レ
バーとに区画され、ピン固定部は、その基端部が透光テ
ーブルの周囲の非透光基枠に取り付けられるとともに、
立設された位置決めピンが透光テーブルの透光領域上に
位置するように透光領域に延出し、 上記連結部を揺動支点として押下レバーを押し下げて基
板押上部で被検査基板を押し上げるように構成したこと
を特徴とする位置決めピン装置。
1. A positioning pin for positioning a substrate to be inspected by projecting a positioning pin onto a light transmitting table for mounting a substrate of an optical substrate inspection apparatus and fitting a pin hole of the substrate to be inspected into the positioning pin. The apparatus comprises: a positioning pin; and a pin support plate formed of a resiliently deformable leaf spring material, wherein the pin support plate has a pin fixing portion for erecting the positioning pin,
A board push-up portion located on the outer periphery of the pin fixing portion in the vicinity of the positioning pin, a connecting portion connecting the board push-up portion to the base end of the pin fixing portion, and a pressing lever connected to the board push-up portion across the connecting portion; The pin fixing portion is attached to a non-light-transmitting base frame around the light-transmitting table at its base end,
The standing positioning pins extend into the light transmitting area so as to be located on the light transmitting area of the light transmitting table, and the connection portion is used as a swing fulcrum to push down the push lever to push up the board to be inspected by the board push-up portion. A positioning pin device characterized in that:
JP10895691U 1991-12-06 1991-12-06 Positioning pin device Expired - Lifetime JP2544318Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10895691U JP2544318Y2 (en) 1991-12-06 1991-12-06 Positioning pin device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10895691U JP2544318Y2 (en) 1991-12-06 1991-12-06 Positioning pin device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0550464U JPH0550464U (en) 1993-07-02
JP2544318Y2 true JP2544318Y2 (en) 1997-08-20

Family

ID=14497924

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10895691U Expired - Lifetime JP2544318Y2 (en) 1991-12-06 1991-12-06 Positioning pin device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2544318Y2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0550464U (en) 1993-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006201364A (en) Liquid crystal display device
JP2544318Y2 (en) Positioning pin device
CN1808527A (en) Alignment machine
JP2661266B2 (en) Circuit alignment apparatus for flexible printed wiring board and transparent substrate and method of using the same
JP2002126954A (en) Assembling device
JP4383483B2 (en) Lighting device
KR100335378B1 (en) Gap Sensor and Align Camera in united one body of Exposure Device
JP2946688B2 (en) Parts inspection equipment
CN214277954U (en) Keyboard key assembly online testing equipment
JPH08313857A (en) Lcd panel positioning mechanism
KR200408653Y1 (en) Probe Device for Display Panel Inspection
JPH06191090A (en) Imaging device
KR19980078009A (en) Pin Confirmation Device of Integrated Device
JP2000039548A (en) Lens holding mechanism
KR100207702B1 (en) How to adjust image magnification of vision inspector
JP3285465B2 (en) Display panel inspection socket
JPH04111500A (en) Automatic mounter of electronic parts
JPH0612487Y2 (en) Light source for photometry in optical extensometer
SU1725433A1 (en) Device for attachment of printed circuit boards
KR20000025763A (en) Apparatus for measuring semiconductor in three dimension
JPH0543416Y2 (en)
JPH1196337A (en) Photographic stand for image processing system
JPH05172899A (en) Determination of upper position of circuit board inspecting device
JPH0665865U (en) Probe pin mounting device
JP2581841Y2 (en) Flexible substrate positioning device