JP2534798B2 - 極性相違検出方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は基板の実装検査に際し、極性を有する搭載部
品の極性マークをカメラで撮像し、得られた画像の明る
さを調べて極性相違を検出する極性相違検出方法に関す
る。

〔従来の技術〕

従来、この種の極性相違検出方法は、搭載部品の極性
マーク位置をカメラで撮像し、得られた画像素子を２値
化して、特性値として面積，周囲長，角の数などを単独
もしくは統合してあらかじめ設定したしきい値と比較
し、不一致により極性相違と判定する方法となってい
た。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の極性相違の検出方法は、極性マークに
濃度が薄い、かすれが発生している場合、面積，周囲
長，角の数などの特徴量は大きなばらつきを持ってしま
うため、極性相違ではないにもかかわらず極性相違と誤
判定してしまう欠点があった。

本発明の目的は、極性マーク位置をマークウィンドウ
とし、対称位置のウィンドウおよび一つの基準ウィンド
ウをあらかじめ設定して、それぞれの明るさを調べて、
極性の相違を判定することにより、上記欠点を除去する
極性相違検出方法を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明による極性相違検出方法の基本構成は、基板の
実装検査に際し極性を有する搭載部品の極性マークをカ
メラで撮像し、得られた画像の明るさを調べて極性相違
を検出する極性相違検出方法において、一端に極性マー
クを有するラベルと、極性マークからラベルの他端まで
の、少くとも極性マークと下地部分との、明るさを画素
子から調べて一つの２値化レベルを設定するとともに、
前記極性マークの位置範囲を眺くマークウィンドウを設
定してこのマークウィンドウ内の前記ラベルの長さ方向
に垂直方向の画素ラインの本数を極性マークの特性値に
設定し、次いで画素ラインごとの画素子の明るさを調べ
て前記２値化レベルで区分する画素子数の一つをしきい
値に設定したのち、少くとも前記マークウィンドウの画
素ラインごとの画素子の明るさを調べて前記しきい値で
区分した画素ラインの本数を前記特性値と比較して極性
相違を判定する。

次に、本発明の一つの具体化構成は、基板の実装検査
に際し極性を有する搭載部品の極性マークをカメラで撮
像し、得られた画像の明るさを調べて極性相違を検出す
る極性相違検出方法において、一端に極性マークを有す
るラベルの極性マーク位置にマークウィンドウを、また
この極性マーク位置の対称位置にマーク対称位置ウィン
ドウを、更にラベルを長さ方向に縦断する細長形状の基
準ウィンドウを、それぞれ設けると共に、前記マークウ
ィンドウの、前記基準ウィンドウの長さ方向に垂直方向
の、画素ラインの本数を極性マークの特性値に設定し、
まず、前記基準ウィンドウの画素子の明るさを調べて一
つの２値化レベルを設定したのち、前記画素ラインごと
の画素子を前記２値化レベルで区分した画素子数の一つ
をしきい値に設定し、次いで前記マークウィンドウおよ
びマーク対称位置ウィンドウの少くとも一方で前記画素
ラインごとの画素子を調べて前記しきい値で区分した画
素ラインの本数を前記特性値と比較して極性相違を判定
する。

〔実施例〕

次に本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の一実施例を示す原理説明の参照図で
ある。第１図には、タンタルコンデンサの製品名が極性
マークとともに表示された例が示されう。すなわち、製
品名マークC105の符号Ｃの側に濃色により極性マーク１
が位置する。

極性マーク１の範囲をマークウィンドウ２とし、この
位置と対称の位置、すなわち部品の極性を逆にして搭載
したとき極性マーク１がある位置、例えば図示するよう
に製品名マークC105の数字５のマークウィンドウ２と同
一範囲の位置をマーク対称位置ウィンドウ３とする。ま
た、極性マーク１および製品名マークC105を中央位置で
縦断する細長形状の基準ウィンドウ４が設定される。こ
の基準ウィンドウ４は極性マークと下地の明るさを調べ
るウィンドウとなり、この基準ウィンドウ４内の画素子
の２値化レベル値によりしきい値が設定される。

また、基準ウィンドウ４の長さ方向に垂直方向の一画
素ライン5,6,7,8が図示される。画素ライン5,8はマーク
ウィンドウ２およびマーク対称位置ウィンドウ３を含む
両端に、また画素ライン５・６および画素ライン７・８
のそれぞれはマークウィンドウ２およびマーク対称位置
ウィンドウ３それぞれの両端に、それぞれ位置する。

従って、極性相違検出方法は、撮像装置により得られ
た画素子の明るさを調べ、各ウィンドウ1,2,3の明るさ
から極性相違を判定する。

次に、具体的な判定手順について説明する。

まず、基準ウィンドウ４の明るさを調べ、例えば平均
値を一つの２値化レベルに設定するとともに、各画素ラ
インの画素の半数をしきい値に設定する。

次に、マークウィンドウ２の画素ライン５で、２値化
レベル以上の明るさの画素子を数え、この数がしきい値
以上であれば符号１を、またしきい値未満であれば符号
０を付す。次いで、隣りの画素ラインから画素ライン６
まで同様手順によりそれぞれに符号を付す。

更に同様手順をマーク対称位置ウィンドウ３の画素ラ
イン７から画素ライン８まで実施してそれぞれ符号を付
す。

次いでウィンドウ2,3それぞれで符号１をもつ画素ラ
インの数を調べ、ウィンドウ２の数がウィンドウ３の数
より多いとき、マークウィンドウ２が明るいことになる
ので、コンデンサの極性が逆であると判定される。

上述の符号０・１を区別するしきい値は、極性マーク
と対称位置にある数字・文字の画素ラインで２値化レベ
ル以上の明るさの画素子の最小値未満の数に設定すると
き、極性マークの対称位置の符号０の画素ラインはほぼ
数値０となり、極性マークの側の画素ライン数との差が
大きくなる。また、しきい値からラインの全画素子数ま
での差が、かすれなどによる画素抜けに対するマージン
として働く。

すなわち、マーク対称位置ウィンドウで一方の符号の
画素ライン数をほぼ零にし、かつ極性マークの特性値と
の差を最大にしてマージンを大きくするしきい値を設定
することが、判定を容易にする。

本実施例では、マーク対称位置ウィンドウを図示して
説明したが、２値化レベルおよびしきい値の設定ができ
れば、マークウィンドウだけの画素子の明るさ測定で、
極性の相違が判定できる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、始めに極性マークと下
地の明るさとを照合して測定し、適切な２値化レベルを
設定するとともに、極性マークを表す特性値として一つ
のしきい値を設定し、このしきい値をもって極性マーク
の正常位置と、部品の逆取付けによる異常位置との明度
を測定して比較することにより、極性マークの濃度が薄
くても、またかすれがあっても誤判定を少くできる効果
がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の極性相違検出方法の一実施例を示す説
明図である。 １……極性マーク、2,3,4……ウィンドウ、5,6,7,8……
画素ライン。

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】基板の実装検査に際し極性を有する搭載部
   品の極性マークをカメラで撮像し、得られた画像の明る
   さを調べて極性相違を検出する極性相違検出方法におい
   て、一端に極性マークを有するラベルと、極性マークか
   らラベルの他端までの、少くとも極性マークと下地部分
   との、明るさを画素子から調べて一つの２値化レベルを
   設定するとともに、前記極性マークの位置範囲を眺くマ
   ークウィンドウを設定してこのマークウィンドウ内の前
   記ラベルの長さ方向に垂直方向の画素ラインの本数を極
   性マークの特性値に設定し、次いで画素ラインごとの画
   素子の明るさを調べて前記２値化レベルで区分する画素
   子数の一つをしきい値に設定したのち、少くとも前記マ
   ークウィンドウの画素ラインごとの画素子の明るさを調
   べて前記しきい値で区分した画素ラインの本数を前記特
   性値と比較して極性相違を判定することを特徴とする極
   性相違検出方法。
2. 【請求項２】基板の実装検査に際し極性を有する搭載部
   品の極性マークをカメラで撮像し、得られた画像の明る
   さを調べて極性相違を検出する極性相違検出方法におい
   て、一端に極性マークを有するラベルの極性マーク位置
   にマークウィンドウを、またこの極性マーク位置の対称
   位置にマーク対称位置ウィンドウを、更にラベルを長さ
   方向に縦断する細長形状の基準ウィンドウを、それぞれ
   設けると共に、前記マークウィンドウの、前記基準ウィ
   ンドウの長さ方向に垂直方向の、画素ラインの本数を極
   性マークの特性値に設定し、まず、前記基準ウィンドウ
   の画素子の明るさを調べて一つの２値化レベルを設定し
   たのち、前記画素ラインごとの画素子を前記２値化レベ
   ルで区分した画素子数の一つをしきい値に設定し、次い
   で前記マークウィンドウおよびマーク対称位置ウィンド
   ウの少くとも一方で前記画素ラインごとの画素子を調べ
   て前記しきい値で区分した画素ラインの本数を前記特性
   値と比較して極性相違を判定することを特徴とする極性
   相違検出方法。