JP2516468B2 - Ｃおよびｓ同時分析装置 - Google Patents
Ｃおよびｓ同時分析装置Info
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Landscapes
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、鋼中のＣ量およびＳ量を同時に測定する
ことができる燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同
時分析装置の改良に関する。
ことができる燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同
時分析装置の改良に関する。
従来一般に用いられている燃焼−赤外線吸収方式によ
るＣおよびＳ同時分析装置は、通常試料として切粉が用
いられ、秤量範囲を1g±0.2g程度として分析が行われる
ようになっている。
るＣおよびＳ同時分析装置は、通常試料として切粉が用
いられ、秤量範囲を1g±0.2g程度として分析が行われる
ようになっている。
しかし、この種の分析では試料として打ち抜き材料が
用いられる場合があり、このような試料は、その重量が
0.5〜0.7g程度であることから、標準品（1g±0.2g）で
測定した場合に較べ、重量による差から正確度が悪くな
るという問題がある。
用いられる場合があり、このような試料は、その重量が
0.5〜0.7g程度であることから、標準品（1g±0.2g）で
測定した場合に較べ、重量による差から正確度が悪くな
るという問題がある。
第１表に、従来装置を用いて鉄鋼標準試料の1gで測定
を行った場合と0.5gで測定を行った場合について、それ
ぞれの分析値と正確さの一例を示す。
を行った場合と0.5gで測定を行った場合について、それ
ぞれの分析値と正確さの一例を示す。
この種の分析での正確さは、ＣおよびＳともにJISに定
められた室内再現制度の２σ以内が目標である。しかし
ながら、従来装置では第１表に示されるように標準試料
重量1gの分析値はJISの許容差内にあるものの、試料重
量0.5gの分析値はJISの許容差を満足していない。
められた室内再現制度の２σ以内が目標である。しかし
ながら、従来装置では第１表に示されるように標準試料
重量1gの分析値はJISの許容差内にあるものの、試料重
量0.5gの分析値はJISの許容差を満足していない。
従来装置は上記のような試料重量による分析値の誤差
を補正する手段ないしは機能がなく、このため試料重量
の管理を厳密に行う必要があった。
を補正する手段ないしは機能がなく、このため試料重量
の管理を厳密に行う必要があった。
また、従来装置ではＣおよびＳの低濃度領域（ppmオ
ーダー）から高濃度域までを同一検量線で測定すると分
析値の正確さが悪化するため、例えば第２表に示すよう
に測定濃度域に合わせて使用する検量線（測定条件）を
変える必要があった。すなわち、一般にＣの測定範囲は
ppmオーダーから１％程度まで（最高では５％まで）、
またＳの測定範囲はppmオーダーから0.3％程度まであ
り、これを１本の検量線にしようとするとおよそ直線と
はならず、２次或いは３次関数的な曲線となるが、上記
のような広い濃度範囲の検量線を２次或いは３次曲線で
近似させたとしても、特に低濃度域や中濃度域での分析
値の正確さが十分に得られない。そこで、従来装置では
測定する濃度域毎に別個の測定条件（したがって、検量
線も異なる）を採用し、各濃度域をそれぞれ異なる測定
条件と検量線を用いて分析を行う必要があった。
ーダー）から高濃度域までを同一検量線で測定すると分
析値の正確さが悪化するため、例えば第２表に示すよう
に測定濃度域に合わせて使用する検量線（測定条件）を
変える必要があった。すなわち、一般にＣの測定範囲は
ppmオーダーから１％程度まで（最高では５％まで）、
またＳの測定範囲はppmオーダーから0.3％程度まであ
り、これを１本の検量線にしようとするとおよそ直線と
はならず、２次或いは３次関数的な曲線となるが、上記
のような広い濃度範囲の検量線を２次或いは３次曲線で
近似させたとしても、特に低濃度域や中濃度域での分析
値の正確さが十分に得られない。そこで、従来装置では
測定する濃度域毎に別個の測定条件（したがって、検量
線も異なる）を採用し、各濃度域をそれぞれ異なる測定
条件と検量線を用いて分析を行う必要があった。
本発明はこのような従来の問題に鑑みなされたもの
で、その目的ほ試料重量に拘りなく正確度ご高い分析値
が得られる装置を提供することにある。また他の目的
は、試料重量に拘りなく正確度が高い分析値が得られる
とともに、測定条件を変えることなく広い成分範囲のＣ
量、Ｓ量を分析測定することができる装置を提供するこ
とにある。
で、その目的ほ試料重量に拘りなく正確度ご高い分析値
が得られる装置を提供することにある。また他の目的
は、試料重量に拘りなく正確度が高い分析値が得られる
とともに、測定条件を変えることなく広い成分範囲のＣ
量、Ｓ量を分析測定することができる装置を提供するこ
とにある。
このため本発明の装置は、次のような構成を有する。
（１）燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同時分析
装置において、ＣおよびＳの全濃度領域を複数の領域に
分割し、分割された各個別の濃度領域における標準重量
の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重量よりも
小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測定値との
差を偏数として実測定値の重量補正を行う重量補正手段
を備えたＣおよびＳ同時分析装置。
装置において、ＣおよびＳの全濃度領域を複数の領域に
分割し、分割された各個別の濃度領域における標準重量
の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重量よりも
小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測定値との
差を偏数として実測定値の重量補正を行う重量補正手段
を備えたＣおよびＳ同時分析装置。
（２）燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同時分析
装置において、ＣおよびＳの全濃度領域における標準重
量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重量より
も小さい任意の重量の試料ＣおよびＳの平均測定値との
差ｘに関する重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙを用い、実測定値
に応じて前記重量補正式により与えられる値を偏数とし
て実測定値の重量補正を行う重量補正手段を備えたＣお
よびＳ同時分析装置。
装置において、ＣおよびＳの全濃度領域における標準重
量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重量より
も小さい任意の重量の試料ＣおよびＳの平均測定値との
差ｘに関する重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙを用い、実測定値
に応じて前記重量補正式により与えられる値を偏数とし
て実測定値の重量補正を行う重量補正手段を備えたＣお
よびＳ同時分析装置。
（３）燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同時分析
装置において、ＣおよびＳの全濃度領域を複数の領域に
分割し、該分割された各別個の濃度領域における標準重
量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重量より
も小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測定値と
の差を偏数として実測定値の重量補正を行う重量補正手
段と、ＣおよびＳの全濃度領域を複数の領域に分割し、
該分割された各個別の濃度領域に応じて設定された検量
係数を前記重量補正された測定値に応じて選択し、検量
線補正を行う検量補正手段とを備えたＣおよびＳ同時分
析装置。
装置において、ＣおよびＳの全濃度領域を複数の領域に
分割し、該分割された各別個の濃度領域における標準重
量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重量より
も小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測定値と
の差を偏数として実測定値の重量補正を行う重量補正手
段と、ＣおよびＳの全濃度領域を複数の領域に分割し、
該分割された各個別の濃度領域に応じて設定された検量
係数を前記重量補正された測定値に応じて選択し、検量
線補正を行う検量補正手段とを備えたＣおよびＳ同時分
析装置。
（４）燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同時分析
装置において、ＣおよびＳの全濃度領域における標準重
量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重量より
も小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測定値と
の差ｘに関する重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙを用い、実測定
値に応じて前記重量補正式により与えられる値を偏数と
して実測定値の重量補正を行う重量補正手段と、Ｃおよ
びＳの全濃度領域を複数の領域に分割し、該分割された
各個別の濃度領域に応じて設定された検量線係数を前記
重量補正された測定値に応じて選択し、検量線補正を行
う検量補正手段とを備えたＣおよびＳ同時分析装置。
装置において、ＣおよびＳの全濃度領域における標準重
量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重量より
も小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測定値と
の差ｘに関する重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙを用い、実測定
値に応じて前記重量補正式により与えられる値を偏数と
して実測定値の重量補正を行う重量補正手段と、Ｃおよ
びＳの全濃度領域を複数の領域に分割し、該分割された
各個別の濃度領域に応じて設定された検量線係数を前記
重量補正された測定値に応じて選択し、検量線補正を行
う検量補正手段とを備えたＣおよびＳ同時分析装置。
第１図は本発明の基本構成図である。天秤で秤量され
た試料は、磁製ルツボに投入され、このルツボを燃焼炉
にセットし、試料を酸素気流中にて燃焼させる。この
時、試料中の炭素、硫黄は二酸化炭素（CO2）、一酸化
炭素（CO）、二酸化硫黄（SO2）に変換され、酸素気流
に搬送されて、非分散赤外線検出器（計測部）に導かれ
る。上記ガスは、CO2、CO、SO2の各検出器によりガス濃
度が測定され、このガス濃度から、ＣおよびＳ量が算出
される。データ処理装置では、重量補正手段と検量線補
正手段により上記測定値の重量補正と検量線補正がなさ
れる。
た試料は、磁製ルツボに投入され、このルツボを燃焼炉
にセットし、試料を酸素気流中にて燃焼させる。この
時、試料中の炭素、硫黄は二酸化炭素（CO2）、一酸化
炭素（CO）、二酸化硫黄（SO2）に変換され、酸素気流
に搬送されて、非分散赤外線検出器（計測部）に導かれ
る。上記ガスは、CO2、CO、SO2の各検出器によりガス濃
度が測定され、このガス濃度から、ＣおよびＳ量が算出
される。データ処理装置では、重量補正手段と検量線補
正手段により上記測定値の重量補正と検量線補正がなさ
れる。
第３図はこのような補正処理のフローを示している。
データ処理装置は測定条件に対応した複数の校正式、重
量補正テーブル（または重量補正式）及び検量線補正テ
ーブルを有しており、測定条件に応じて校正式、重量補
正テーブル（または重量補正式）及び検量線補正テーブ
ルを選択し、その組み合わせを決める。そして、まず従
来と同様に、校正式Ｙ＝AX＋ＢによりＣおよびＳの測定
値（以下C/S値と記す）の標準化を行い、（C/S値）′を
得る。
データ処理装置は測定条件に対応した複数の校正式、重
量補正テーブル（または重量補正式）及び検量線補正テ
ーブルを有しており、測定条件に応じて校正式、重量補
正テーブル（または重量補正式）及び検量線補正テーブ
ルを選択し、その組み合わせを決める。そして、まず従
来と同様に、校正式Ｙ＝AX＋ＢによりＣおよびＳの測定
値（以下C/S値と記す）の標準化を行い、（C/S値）′を
得る。
次いで、重量補正手段による重量補正を行う。ここ
で、重量補正とは任意の試料重量における測定値を、標
準重量（例えば、1g）における測定値に近似させるため
の補正である。重量補正手段には、重量補正テーブル処
理に基づいて重量補正を行うテーブル処理方式と、重量
補正式に基づいて重量補正を行う関数処理方式とがあ
る。
で、重量補正とは任意の試料重量における測定値を、標
準重量（例えば、1g）における測定値に近似させるため
の補正である。重量補正手段には、重量補正テーブル処
理に基づいて重量補正を行うテーブル処理方式と、重量
補正式に基づいて重量補正を行う関数処理方式とがあ
る。
このうちテーブル処理方式ほ、ＣおよびＳ量の全濃度
流域をいくつかの領域に分割し、これら個別の濃度域毎
に、標準重量（例えば、1g）の試料の平均測定値と前記
標準重量よりも小さい任意の重量（例えば、0.5g）の試
料の平均測定値との差を偏数として重量補正を行うもの
である。この方式では、重量補正手段は前記各濃度域に
応じた偏数が予め設定された重量補正テーブルを有して
おり、この重量補正テーブルのなかから測定値（C/S
値）′の濃度に応じた偏数を選択して用い、下記変換式
による重量補正によって測定値（C/S値）″を得る。
流域をいくつかの領域に分割し、これら個別の濃度域毎
に、標準重量（例えば、1g）の試料の平均測定値と前記
標準重量よりも小さい任意の重量（例えば、0.5g）の試
料の平均測定値との差を偏数として重量補正を行うもの
である。この方式では、重量補正手段は前記各濃度域に
応じた偏数が予め設定された重量補正テーブルを有して
おり、この重量補正テーブルのなかから測定値（C/S
値）′の濃度に応じた偏数を選択して用い、下記変換式
による重量補正によって測定値（C/S値）″を得る。
（C/S値）″＝（C/S値）′×50/（50−Ｚ＋Ｚ×Ｗ）…
…（１） 但し、 Z:偏数 W:試料重量 例えば、1g（標準重量）の試料と0.5gの試料の各平均
測定値の差を偏数として用いる場合を例にとると、第２
図に示すように、1gと0.5gの試料の濃度（平均測定値）
差の傾きは、 であり、切片をＢとすると、ある試料重量Ｗ（ｇ）にお
ける（C/S値）′は次のように表わせる。
…（１） 但し、 Z:偏数 W:試料重量 例えば、1g（標準重量）の試料と0.5gの試料の各平均
測定値の差を偏数として用いる場合を例にとると、第２
図に示すように、1gと0.5gの試料の濃度（平均測定値）
差の傾きは、 であり、切片をＢとすると、ある試料重量Ｗ（ｇ）にお
ける（C/S値）′は次のように表わせる。
また、試料重量が1gの時（Ｗ＝１）は、（C/S値）′
と（C/S値）″は同じ値になるため、前式は次のように
書き改められる。
と（C/S値）″は同じ値になるため、前式は次のように
書き改められる。
上記２式から切片Ｂを消去すれば、上記（１）式を求
めることができる。
めることができる。
第５図は重量補正手段が有する重量補正テーブルの一
例（標準重量1gの試料と0.5gの試料の各平均測定値の差
を偏数として用いる場合の例）を示しており、このテー
ブルには分割された各濃度領域毎に偏数Z1〜Z10が設定
されており、前記（C/S値）′に応じてこれが属する濃
度領域の偏数が選択され、この偏数を用いて上記式
（１）式により、（C/S値）″が求められる。なお、他
の構成としては、例えば重量補正テーブルにいくつかの
レベルの濃度値に対応した偏数Ｚを設定しておき（例え
ば、A1（wt％）:Z1,A2（wt％）:Z2……A10（wt％）:Z1
0）、前記（C/S値）′に近い濃度値に対応する偏数を選
択してこの偏数の補正を行ない、この補正された偏数を
用いて前記（１）式により（C/S値）″を求めることも
できる。
例（標準重量1gの試料と0.5gの試料の各平均測定値の差
を偏数として用いる場合の例）を示しており、このテー
ブルには分割された各濃度領域毎に偏数Z1〜Z10が設定
されており、前記（C/S値）′に応じてこれが属する濃
度領域の偏数が選択され、この偏数を用いて上記式
（１）式により、（C/S値）″が求められる。なお、他
の構成としては、例えば重量補正テーブルにいくつかの
レベルの濃度値に対応した偏数Ｚを設定しておき（例え
ば、A1（wt％）:Z1,A2（wt％）:Z2……A10（wt％）:Z1
0）、前記（C/S値）′に近い濃度値に対応する偏数を選
択してこの偏数の補正を行ない、この補正された偏数を
用いて前記（１）式により（C/S値）″を求めることも
できる。
また、関数処理方式では、Ｃ、Ｓ量の全濃度領域にお
ける、標準重量（例えば、1g）の試料の平均測定値と前
記標準重量よりも小さい任意の重量（例えば、0.5g）の
試料の平均測定値との差ｘを重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙと
して関数化し、この重量補正式で与えられる値を偏数と
して実測定値の重量補正が行われる。第６図は重量補正
式ｆ（ｘ）＝ｙによる偏数の算出方法の一例を示してお
り、重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙにより（C/S値）′に応じ
た偏数が得られ、この偏数を用いて前記（１）式により
（C/S値）″が求められる。
ける、標準重量（例えば、1g）の試料の平均測定値と前
記標準重量よりも小さい任意の重量（例えば、0.5g）の
試料の平均測定値との差ｘを重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙと
して関数化し、この重量補正式で与えられる値を偏数と
して実測定値の重量補正が行われる。第６図は重量補正
式ｆ（ｘ）＝ｙによる偏数の算出方法の一例を示してお
り、重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙにより（C/S値）′に応じ
た偏数が得られ、この偏数を用いて前記（１）式により
（C/S値）″が求められる。
上述したテーブル処理方式と関数処理方式は、いずれ
の方式を用いても重量補正を適正に行うことができる。
の方式を用いても重量補正を適正に行うことができる。
以上にようにして重量補正された測定値は、検量線補
正手段により補正された検量線に基づき測定値（C/S
値）、すなわち分析値に変換される。
正手段により補正された検量線に基づき測定値（C/S
値）、すなわち分析値に変換される。
検量線補正手段は、ＣおよびＳの全濃度領域をいくつ
かの領域に分割し、該分割された各別個の濃度領域に応
じて設定された検量線係数を検量線補正テーブルに有し
ており、前記重量補正された測定値に応じて検量線係数
を選択してこの検量線係数に基づき検量線補正を行い、
補正された検量線により測定値（C/S値）を得る。例
えば、ＣおよびＳの全濃度領域を４つに分割した場合に
は、第４図に示すように上記重量補正された測定値（C/
S値）″の強度に応じて、〜のいずれかの補正され
た検量線が得られ、このいずれかの検量線を用いて、
（C/S値）が求められる。
かの領域に分割し、該分割された各別個の濃度領域に応
じて設定された検量線係数を検量線補正テーブルに有し
ており、前記重量補正された測定値に応じて検量線係数
を選択してこの検量線係数に基づき検量線補正を行い、
補正された検量線により測定値（C/S値）を得る。例
えば、ＣおよびＳの全濃度領域を４つに分割した場合に
は、第４図に示すように上記重量補正された測定値（C/
S値）″の強度に応じて、〜のいずれかの補正され
た検量線が得られ、このいずれかの検量線を用いて、
（C/S値）が求められる。
第７図は検量線補正手段が有する検量線補正テーブル
の一例を示すもので、例えば10個に分割された各濃度領
域毎に検量線係数a1,b1,c1〜a10,b10,c10が設定され、
前記（C/S値）″に応じてこれが属する濃度領域の検量
線係数が選択され、例えば検量線補正式ｆ（ｘ）＝ａ・
x2＋ｂ・ｘ＋ｃにより検量線補正がなされ、この補正さ
れた検量線に基づき前記（C/S値）″から（C/S値）が
求められる。
の一例を示すもので、例えば10個に分割された各濃度領
域毎に検量線係数a1,b1,c1〜a10,b10,c10が設定され、
前記（C/S値）″に応じてこれが属する濃度領域の検量
線係数が選択され、例えば検量線補正式ｆ（ｘ）＝ａ・
x2＋ｂ・ｘ＋ｃにより検量線補正がなされ、この補正さ
れた検量線に基づき前記（C/S値）″から（C/S値）が
求められる。
テーブル処理方式の重量補正手段及び検量線補正手段
を有する本発明装置とこれらの手段を持たない従来装置
により0.5gの試料の成分分析を行ない、分析の正確さを
調べた。その結果を第３表に示す。
を有する本発明装置とこれらの手段を持たない従来装置
により0.5gの試料の成分分析を行ない、分析の正確さを
調べた。その結果を第３表に示す。
同表によれば、本発明装置では試料重量に拘りなくJI
Sの室内再現許容差を満足できることが判る。
Sの室内再現許容差を満足できることが判る。
また、第４図は本発明装置で用いられた測定条件を示
したものである。先に述べた従来装置では第２表に示す
ように各濃度域をそれぞれ異なる測定条件（したがって
検量線も異なる）を用いて分析する必要があった。これ
に対して本発明装置では、第４表に示すように各濃度領
域に応じた検量線係数による検量線補正により、比較的
広い濃度領域を１つの測定条件で分析可能であることが
判る。但し、炭素の低濃度域に関してだけは、ルツボか
らの汚染を防止するために別の測定方法を用いた。
したものである。先に述べた従来装置では第２表に示す
ように各濃度域をそれぞれ異なる測定条件（したがって
検量線も異なる）を用いて分析する必要があった。これ
に対して本発明装置では、第４表に示すように各濃度領
域に応じた検量線係数による検量線補正により、比較的
広い濃度領域を１つの測定条件で分析可能であることが
判る。但し、炭素の低濃度域に関してだけは、ルツボか
らの汚染を防止するために別の測定方法を用いた。
〔発明の効果〕 以上述べた本発明の装置によれば、試料重量が0.5〜
0.7g程度でも高い正確度のＣ量及びＳ量の分析値を得る
ことができる。また、検量線補正手段を備えた本発明装
置によれば、上記の効果に加えて測定条件を変えること
なく広い成分範囲のＣ量、Ｓ量を分析測定することがで
き、従来装置に較べ分析作業を簡素化することができ
る。
0.7g程度でも高い正確度のＣ量及びＳ量の分析値を得る
ことができる。また、検量線補正手段を備えた本発明装
置によれば、上記の効果に加えて測定条件を変えること
なく広い成分範囲のＣ量、Ｓ量を分析測定することがで
き、従来装置に較べ分析作業を簡素化することができ
る。
第１図は本発明の基本構成図である。第２図はテーブル
処理方式による重量補正の原理を示すグラフである。第
３図は本発明装置による補正処理フロー図である。第４
図は本発明装置において補正された検量線の一例を模式
的に示したものである。第５図は重量補正手段が有する
重量補正テーブルの一例と、これを用いた重量補正方法
を示す説明図である。第６図は、関数処理方式の重量補
正手段による偏数の算出方法を示す説明図である。第７
図は検量線補正手段が有する検量線補正テーブルの一例
と、これを用いた検量線補正方法を示す説明図である。
処理方式による重量補正の原理を示すグラフである。第
３図は本発明装置による補正処理フロー図である。第４
図は本発明装置において補正された検量線の一例を模式
的に示したものである。第５図は重量補正手段が有する
重量補正テーブルの一例と、これを用いた重量補正方法
を示す説明図である。第６図は、関数処理方式の重量補
正手段による偏数の算出方法を示す説明図である。第７
図は検量線補正手段が有する検量線補正テーブルの一例
と、これを用いた検量線補正方法を示す説明図である。
Claims (4)
- 【請求項１】燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同
時分析装置において、ＣおよびＳの全濃度領域を複数の
領域に分割し、分割された各個別の濃度領域における標
準重量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重量
よりも小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測定
値との差を偏数として実測定値の重量補正を行う重量補
正手段を備えたＣおよびＳ同時分析装置。 - 【請求項２】燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同
時分析装置において、ＣおよびＳの全濃度領域における
標準重量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前期標準重
量よりも小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測
定値との差ｘに関する重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙを用い、
実測定値に応じて前記重量補正式により与えられる値を
偏数として実測定値の重量補正を行う重量補正手段を備
えたＣおよびＳ同時分析装置。 - 【請求項３】燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同
時分析装置において、ＣおよびＳの全濃度領域を複数の
領域に分割し、該分割された各個別の濃度領域における
標準重量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重
量よりも小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測
定値との差を偏数として実測定値の重量補正を行う重量
補正手段と、ＣおよびＳの全濃度領域を複数の領域に分
割し、該分割された各個別の濃度領域に応じて設定され
た検量線係数を前記重量補正された測定値に応じて選択
し、検量線補正を行う検量線補正手段とを備えたＣおよ
びＳ同時分析装置。 - 【請求項４】燃焼−赤外線吸収方式によるＣおよびＳ同
時分析装置において、ＣおよびＳの全濃度領域における
標準重量の試料のＣおよびＳの平均測定値と前記標準重
量よりも小さい任意の重量の試料のＣおよびＳの平均測
定値との差ｘの関する重量補正式ｆ（ｘ）＝ｙを用い、
実測定値に応じて前記重量補正式により与えられる値を
偏数として実測定値の重量補正を行う重量補正手段と、
ＣおよびＳの全濃度領域を複数の領域に分割し、該分割
された各個別の濃度領域に応じて設定された検量線係数
を前記重量補正された測定値に応じて選択し、検量線補
正を行う検量線補正手段とを備えたＣおよびＳ同時分析
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28573490A JP2516468B2 (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | Ｃおよびｓ同時分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28573490A JP2516468B2 (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | Ｃおよびｓ同時分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04160349A JPH04160349A (ja) | 1992-06-03 |
| JP2516468B2 true JP2516468B2 (ja) | 1996-07-24 |
Family
ID=17695352
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28573490A Expired - Lifetime JP2516468B2 (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | Ｃおよびｓ同時分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2516468B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106404706A (zh) * | 2016-08-29 | 2017-02-15 | 内蒙古包钢钢联股份有限公司 | 电石渣中碳和硫含量的检测方法 |
| CN105865830B (zh) * | 2015-01-23 | 2018-06-26 | 鞍钢股份有限公司 | 一种混匀铁矿石取样及化学成分预测方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5394934A (en) * | 1994-04-15 | 1995-03-07 | American Standard Inc. | Indoor air quality sensor and method |
| ES2281086T3 (es) | 1995-10-09 | 2007-09-16 | Otsuka Pharmaceutical Co., Ltd. | Procedimiento para medir espectrometricamente la relacion de concentracion de dos isotopos en un gas. |
| ATE421283T1 (de) | 2003-10-31 | 2009-02-15 | Otsuka Pharma Co Ltd | Verfahren zur bestimmung der gasinjektionsmenge in der isotopen-gasanalyse und isotopen-gas- analysier- und messverfahren und gerät |
| JP4631413B2 (ja) * | 2004-11-30 | 2011-02-16 | Ｊｆｅスチール株式会社 | ステンレス鋼中のｓ元素のスパーク放電発光分光分析方法 |
| CN102486442A (zh) * | 2010-12-06 | 2012-06-06 | 上海宝钢工业检测公司 | 超低碳钢标准物质的制备方法及相应的超低碳测定方法 |
| CN103196863B (zh) * | 2013-03-21 | 2015-12-02 | 内蒙古包钢钢联股份有限公司 | 异标校正红外吸收法测定铁合金中碳和硫的含量的方法 |
| CN103245633B (zh) * | 2013-05-16 | 2015-11-18 | 内蒙古包钢钢联股份有限公司 | 异标校正红外吸收法测定稀土铝合金中碳和硫含量的方法 |
| US20160131526A1 (en) * | 2013-06-07 | 2016-05-12 | Konica Minolta, Inc. | Spectroscopic Analysis System and Method |
| CN105806729A (zh) * | 2014-12-29 | 2016-07-27 | 中核北方核燃料元件有限公司 | 一种四氟化铀中碳、硫元素含量测定方法 |
| JP2019007901A (ja) * | 2017-06-27 | 2019-01-17 | 花王株式会社 | 粉粒体質量検査装置及び検査方法、並びに粉粒体含有物品の製造装置及び製造方法 |
| CN114486821B (zh) * | 2022-04-06 | 2022-08-12 | 合肥金星智控科技股份有限公司 | 冶金光谱特征回归方法、装置、电子设备和存储介质 |
-
1990
- 1990-10-25 JP JP28573490A patent/JP2516468B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105865830B (zh) * | 2015-01-23 | 2018-06-26 | 鞍钢股份有限公司 | 一种混匀铁矿石取样及化学成分预测方法 |
| CN106404706A (zh) * | 2016-08-29 | 2017-02-15 | 内蒙古包钢钢联股份有限公司 | 电石渣中碳和硫含量的检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04160349A (ja) | 1992-06-03 |
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