JP2515118B2 - 加熱調理器 - Google Patents
加熱調理器Info
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- JP2515118B2 JP2515118B2 JP62087433A JP8743387A JP2515118B2 JP 2515118 B2 JP2515118 B2 JP 2515118B2 JP 62087433 A JP62087433 A JP 62087433A JP 8743387 A JP8743387 A JP 8743387A JP 2515118 B2 JP2515118 B2 JP 2515118B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は被加熱物を加熱調理する加熱調理器に係り，
特に加熱中の被加熱物の表面の反射率の変化を検知し
て，被加熱物の焦げ目つけ調理を自動制御する機能を有
する加熱調理器に関するものである。
特に加熱中の被加熱物の表面の反射率の変化を検知し
て，被加熱物の焦げ目つけ調理を自動制御する機能を有
する加熱調理器に関するものである。
従来の技術 加熱室内に収納された被加熱物を加熱して焦げ目つけ
調理を行う電気オーブン，ガスオーブン，オーブンレン
ジなどの加熱調理器においては，被加熱物の焦げ具合の
判断は，従来より目視により行うか，あるいはタイマの
時間設定を経験により行って一応の目安としていた。し
かしいずれにしても被加熱物の量，含水率，組成，形状
などにより，所望の焦げ目のつく時間がそれぞれ異なる
ので，適正な焦げ具合となるのを常に監視していなけれ
ばならないという欠点があった。
調理を行う電気オーブン，ガスオーブン，オーブンレン
ジなどの加熱調理器においては，被加熱物の焦げ具合の
判断は，従来より目視により行うか，あるいはタイマの
時間設定を経験により行って一応の目安としていた。し
かしいずれにしても被加熱物の量，含水率，組成，形状
などにより，所望の焦げ目のつく時間がそれぞれ異なる
ので，適正な焦げ具合となるのを常に監視していなけれ
ばならないという欠点があった。
このわずらわしい欠点を除去する手段に，被加熱物の
焦げ目を適正に自動制御するものが考えられている。す
なわち，例えば特開昭55−89629号公報などに示される
ように，加熱室内の被加熱物に可視光を照射する光源を
設け，この照射光の被加熱物表面からの反射光を受光素
子で検知し，反射光の照度があらかじめ設定した値に達
したときに加熱源を制御するというものである。
焦げ目を適正に自動制御するものが考えられている。す
なわち，例えば特開昭55−89629号公報などに示される
ように，加熱室内の被加熱物に可視光を照射する光源を
設け，この照射光の被加熱物表面からの反射光を受光素
子で検知し，反射光の照度があらかじめ設定した値に達
したときに加熱源を制御するというものである。
発明が解決しようとする問題点 この検知方式は，原理的に優れているが，実用上つぎ
のような不具合があった。
のような不具合があった。
すなわち，この方式においては，焦げの発生の進行に
伴って反射光照度が連続的に低下するものであるが，こ
の焦げ目検知段階で自然光などの高照度外乱光が突如調
理器の窓部より加熱室に入ったような場合には，この外
乱光の影響で反射光照度が急変し，そのため焦げの検知
が不可能となるばかりでなく，被加熱物である食品の加
熱制御が行われなくなるので，食品の炭化，発煙など安
全上でも問題があった。
伴って反射光照度が連続的に低下するものであるが，こ
の焦げ目検知段階で自然光などの高照度外乱光が突如調
理器の窓部より加熱室に入ったような場合には，この外
乱光の影響で反射光照度が急変し，そのため焦げの検知
が不可能となるばかりでなく，被加熱物である食品の加
熱制御が行われなくなるので，食品の炭化，発煙など安
全上でも問題があった。
問題点を解決するための手段 本発明の目的は，上記の問題を解決し，被加熱物の異
常過熱を防止した安定性の高い，焦げ目検知機能を有す
る加熱調理器を提供することにあり，そのため反射光の
変化を常に監視し，検知信号が急変した場合には加熱を
制御する加熱制御手段を設定したものである。
常過熱を防止した安定性の高い，焦げ目検知機能を有す
る加熱調理器を提供することにあり，そのため反射光の
変化を常に監視し，検知信号が急変した場合には加熱を
制御する加熱制御手段を設定したものである。
作用 反射光照度の経時変化を計測し，載置台が１回転する
間の反射光照度の平均値を算出し，算出された平均値を
１周期毎に比較し，平均値の変化幅が設定範囲を越えた
ら加熱を制御する。
間の反射光照度の平均値を算出し，算出された平均値を
１周期毎に比較し，平均値の変化幅が設定範囲を越えた
ら加熱を制御する。
実施例 以下本発明の一実施例を，図に基づいて説明する。
第１図は本発明の加熱調理器の構成を説明する概略図
である。なおこの一実施例では，高周波加熱機能を具備
しているが，本発明における加熱調理器は，このような
高周波加熱による方式に限定されるものではない。
である。なおこの一実施例では，高周波加熱機能を具備
しているが，本発明における加熱調理器は，このような
高周波加熱による方式に限定されるものではない。
図において,1は加熱室で，内部には被加熱物である食
品３が容器２に入って回転載置台４に置かれており，モ
ータ５によって回転する。加熱室１内の天井部及び底部
には，電気ヒータ6a,6bが位置し，赤外エネルギーを発
生させてその輻射熱により食品３に焦げ目をつける。さ
らに加熱室１内への他の熱エネルギー源として，マグネ
トロン７が導波管８により加熱室１と結合されている。
９は導波管の開口部である。
品３が容器２に入って回転載置台４に置かれており，モ
ータ５によって回転する。加熱室１内の天井部及び底部
には，電気ヒータ6a,6bが位置し，赤外エネルギーを発
生させてその輻射熱により食品３に焦げ目をつける。さ
らに加熱室１内への他の熱エネルギー源として，マグネ
トロン７が導波管８により加熱室１と結合されている。
９は導波管の開口部である。
加熱室１の側壁面には食品３に可視光を照射するため
の光源ランプ10が取付けられ，透視窓11aを通して食品
３に可視光が照射される。食品３からの反射光は別の透
視窓11bを通して受光素子12で検知される。受光素子12
には，例えばフォトダイオードが用いられる。受光素子
12の検知信号は増幅器13によって増幅され，つぎにA/D
変換器14によってディジタル信号に変換され，マイクロ
コンピュータ15に送られる。16はマイクロコンピュータ
15の電源部である。
の光源ランプ10が取付けられ，透視窓11aを通して食品
３に可視光が照射される。食品３からの反射光は別の透
視窓11bを通して受光素子12で検知される。受光素子12
には，例えばフォトダイオードが用いられる。受光素子
12の検知信号は増幅器13によって増幅され，つぎにA/D
変換器14によってディジタル信号に変換され，マイクロ
コンピュータ15に送られる。16はマイクロコンピュータ
15の電源部である。
一方，回転載置台４の下方には，モータ5,減速機構
（図示せず）があり，シャフト17を介して回転載置台４
を回転する機構となっている。このシャフト17には，切
欠き部あるいはマーカー付の円板18が配置され，フォト
カプラなどの回転検出素子19によって載置台の回転状況
が計測される。20は回転検出素子の信号処理回路で，増
幅,A/D変換された回転検出信号はマイクロコンピュータ
15に送られる。
（図示せず）があり，シャフト17を介して回転載置台４
を回転する機構となっている。このシャフト17には，切
欠き部あるいはマーカー付の円板18が配置され，フォト
カプラなどの回転検出素子19によって載置台の回転状況
が計測される。20は回転検出素子の信号処理回路で，増
幅,A/D変換された回転検出信号はマイクロコンピュータ
15に送られる。
マイクロコンピュータ15は，前記したディジタル信号
すなわち受光素子12の受光した反射光の変換された信号
を逐次加算するとともに加算回数をカウントし，また回
転検出信号に基づき載置台が１回転する間の検知信号の
平均値を演算する。平均値は載置台が１回転する毎に演
算され，その経時変化が求められ，検知信号レベルが加
熱前の初期値から，あらかじめ設定されたレベルまで低
下したら，マイクロコンピュータ15の指令により制御器
21を動作させ，ヒータ6a,6bの加熱動作を停止せしめ
る。これで焦げ目検知ができる。この焦げ目検知段階に
おいては，食品３に照射される可視光は電球等の人工光
が利用されるが，その電源電圧が変動すると照射光の照
度の変動し，その結果反射光も変動するので，検知精度
を維持するには，定電圧電源を利用するか，或いは電圧
安定化手段を採用している。しかし実際に焦げ目を検知
している途中の段階において高照度の外乱光例えば自然
光が急にドア面から入射したりするとその影響を受けて
反射光照度が急変する場合がある。例えば第２図におけ
る正常時の検知信号の変化曲線24に対して，異常時には
曲線25に示されるような変化が現れる。すなわち時間t0
における照度検知信号V2から加熱が開始され，焦げ目の
発生，進行に伴って照度検知信号が次第に小さくなり，
適正な焦げ目を示す焦げ目設定値（加熱制御する照度検
知信号）V1に向って変化するとき，点P1において例えば
外乱光が入ったとする。この外乱光はそれまで食品に照
射されていた入射光と加算されて食品に入射されるの
で，必然的に反射光も増加し，その結果照度検知信号は
P1からP2に達する。この状態で加熱が持続されたとすれ
ば，照度検知信号は再び低下するものの，設定値V1には
到達せず，いつまでも加熱が持続されて危険な状態にな
る。
すなわち受光素子12の受光した反射光の変換された信号
を逐次加算するとともに加算回数をカウントし，また回
転検出信号に基づき載置台が１回転する間の検知信号の
平均値を演算する。平均値は載置台が１回転する毎に演
算され，その経時変化が求められ，検知信号レベルが加
熱前の初期値から，あらかじめ設定されたレベルまで低
下したら，マイクロコンピュータ15の指令により制御器
21を動作させ，ヒータ6a,6bの加熱動作を停止せしめ
る。これで焦げ目検知ができる。この焦げ目検知段階に
おいては，食品３に照射される可視光は電球等の人工光
が利用されるが，その電源電圧が変動すると照射光の照
度の変動し，その結果反射光も変動するので，検知精度
を維持するには，定電圧電源を利用するか，或いは電圧
安定化手段を採用している。しかし実際に焦げ目を検知
している途中の段階において高照度の外乱光例えば自然
光が急にドア面から入射したりするとその影響を受けて
反射光照度が急変する場合がある。例えば第２図におけ
る正常時の検知信号の変化曲線24に対して，異常時には
曲線25に示されるような変化が現れる。すなわち時間t0
における照度検知信号V2から加熱が開始され，焦げ目の
発生，進行に伴って照度検知信号が次第に小さくなり，
適正な焦げ目を示す焦げ目設定値（加熱制御する照度検
知信号）V1に向って変化するとき，点P1において例えば
外乱光が入ったとする。この外乱光はそれまで食品に照
射されていた入射光と加算されて食品に入射されるの
で，必然的に反射光も増加し，その結果照度検知信号は
P1からP2に達する。この状態で加熱が持続されたとすれ
ば，照度検知信号は再び低下するものの，設定値V1には
到達せず，いつまでも加熱が持続されて危険な状態にな
る。
そこで第１図には次のような信号処理手段を付加して
加熱を制御している。
加熱を制御している。
すなわち，前記の方法により載置台の１回転毎の検知
信号の平均値をマイクロコンピュータ15によって演算し
た後,2回目の回転における平均値を１回目の平均値と比
較し,2回目の平均値の方が小さいときには加熱を続行す
る。以下この動作を繰り返し，平均値があらかじめ設定
した値に到達したら加熱を停止する。一方平均値が前回
計測値を上廻り，かつ，その状態が持続されると判断さ
れた場合には，マイクロコンピュータ15は平均値の計測
を中止し，加熱の停止を制御器21に指令し，その結果，
加熱動作は停止される。平均値が前回測定より上廻る場
合の許容値の幅は平均値の２倍程度とする。
信号の平均値をマイクロコンピュータ15によって演算し
た後,2回目の回転における平均値を１回目の平均値と比
較し,2回目の平均値の方が小さいときには加熱を続行す
る。以下この動作を繰り返し，平均値があらかじめ設定
した値に到達したら加熱を停止する。一方平均値が前回
計測値を上廻り，かつ，その状態が持続されると判断さ
れた場合には，マイクロコンピュータ15は平均値の計測
を中止し，加熱の停止を制御器21に指令し，その結果，
加熱動作は停止される。平均値が前回測定より上廻る場
合の許容値の幅は平均値の２倍程度とする。
なお第１図における22はRAMで，焦げ目計測情報を読
み込んで蓄積したり，そのデータを読み出して平均値を
演算するなどの目的に使用される。また23はディジタル
スイッチで，これらのスイッチ類を使用することによ
り，多段階の焦げ目の設定ができる。
み込んで蓄積したり，そのデータを読み出して平均値を
演算するなどの目的に使用される。また23はディジタル
スイッチで，これらのスイッチ類を使用することによ
り，多段階の焦げ目の設定ができる。
第３図は，本発明における焦げ目検知コントロール方
法を示すフローチャートである。
法を示すフローチャートである。
まずあらかじめ焦げ目設定値をRAMに記憶させてお
き，ヒータ加熱により食品を加熱する。つぎに回転載置
台の１回転する間の照度検知信号の加算値を求め，計測
回数で割算して平均値を求める。以下この計測を繰り返
し，照度検知信号の平均値が，あらかじめ設定した焦げ
目設定値に到達したら加熱源を制御し，焦げ目検知は完
了とする。この焦げ目検知過程で、後の検知信号平均値
が前の検知信号平均値より大きい場合，すなわち,n−１
回目の検知信号Mn−１とｎ回目の検知信号Mnが,Mn≧2Mn
−１となった場合には，以後の検知信号の計測を中止
し，加熱を停止せしめる。
き，ヒータ加熱により食品を加熱する。つぎに回転載置
台の１回転する間の照度検知信号の加算値を求め，計測
回数で割算して平均値を求める。以下この計測を繰り返
し，照度検知信号の平均値が，あらかじめ設定した焦げ
目設定値に到達したら加熱源を制御し，焦げ目検知は完
了とする。この焦げ目検知過程で、後の検知信号平均値
が前の検知信号平均値より大きい場合，すなわち,n−１
回目の検知信号Mn−１とｎ回目の検知信号Mnが,Mn≧2Mn
−１となった場合には，以後の検知信号の計測を中止
し，加熱を停止せしめる。
第４図は，第１図におけるRAM22のポートを示す略図
である。RAM22には，照度検知信号の加算値，計測回数
カウント値，検知信号平均値，焦げ目設定値などのデー
タが一時記憶され，マイクロコンピュータに転送され
る。
である。RAM22には，照度検知信号の加算値，計測回数
カウント値，検知信号平均値，焦げ目設定値などのデー
タが一時記憶され，マイクロコンピュータに転送され
る。
なお実施例においては，照度検知信号が増加した場合
について述べたが，急に低下したような場合には焦げ目
設定値に早く到達するので，特に支障とはならない。し
かし信号計測時に信号が激しく脈動するような場合に
は，急激な低下を検知して上記と同様な手段を講ずるこ
とは有効である。
について述べたが，急に低下したような場合には焦げ目
設定値に早く到達するので，特に支障とはならない。し
かし信号計測時に信号が激しく脈動するような場合に
は，急激な低下を検知して上記と同様な手段を講ずるこ
とは有効である。
発明の効果 以上本発明によれば，被加熱物である食品の加熱に伴
う反射光の変化を計測することによって焦げ目を検知し
て加熱を自動的に制御する方式において，検知信号の異
常変化に対応して加熱手段を制御するようにしたので，
焦げ目検知信号が例えば外乱光などにより急増したよう
な場合においても焦げ目検知不能による過加熱が防止さ
れるので，安全性が確保される。
う反射光の変化を計測することによって焦げ目を検知し
て加熱を自動的に制御する方式において，検知信号の異
常変化に対応して加熱手段を制御するようにしたので，
焦げ目検知信号が例えば外乱光などにより急増したよう
な場合においても焦げ目検知不能による過加熱が防止さ
れるので，安全性が確保される。
第１図は本発明の一実施例を示す加熱調理器の焦げ目検
知システムの概略構成図，第２図は本発明を説明するた
めの特性図，第３図は同制御の手順を示すためのフロー
チャート図，第４図は同RAMポートを示す説明図であ
る。 １……加熱室,3……食品,10……光源ランプ,12……受光
素子,15……マイクロコンピュータ,21……制御器。
知システムの概略構成図，第２図は本発明を説明するた
めの特性図，第３図は同制御の手順を示すためのフロー
チャート図，第４図は同RAMポートを示す説明図であ
る。 １……加熱室,3……食品,10……光源ランプ,12……受光
素子,15……マイクロコンピュータ,21……制御器。
Claims (1)
- 【請求項１】加熱室内の被加熱物を加熱して焦げ目をつ
ける加熱手段と被加熱物を載置する回転載置台と被加熱
物に可視光を照射する光源と被加熱物からの反射光の照
度を検知する検知手段とを備え，上記検知手段の検知す
る反射光照度検知信号があらかじめ設定した値に達した
ときに上記加熱手段を制御するようにした加熱調理器に
おいて，検知信号の平均値を載置台の１周期毎に比較
し，検知信号の平均値が前の１周期において計測した平
均値より大きく，かつその許容幅を越えたときに加熱源
を制御する手段を設けたことを特徴とする加熱調理器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62087433A JP2515118B2 (ja) | 1987-04-09 | 1987-04-09 | 加熱調理器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62087433A JP2515118B2 (ja) | 1987-04-09 | 1987-04-09 | 加熱調理器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63254325A JPS63254325A (ja) | 1988-10-21 |
| JP2515118B2 true JP2515118B2 (ja) | 1996-07-10 |
Family
ID=13914733
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62087433A Expired - Lifetime JP2515118B2 (ja) | 1987-04-09 | 1987-04-09 | 加熱調理器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2515118B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2795935B1 (fr) * | 1999-07-08 | 2001-09-14 | Seb Sa | Controle de grillage du pain dans un grille-pain par courbe de reponse d'un element photosensible |
-
1987
- 1987-04-09 JP JP62087433A patent/JP2515118B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63254325A (ja) | 1988-10-21 |
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