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JP2025040180A - 真空計測システム - Google Patents

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JP2025040180A
JP2025040180A JP2023146926A JP2023146926A JP2025040180A JP 2025040180 A JP2025040180 A JP 2025040180A JP 2023146926 A JP2023146926 A JP 2023146926A JP 2023146926 A JP2023146926 A JP 2023146926A JP 2025040180 A JP2025040180 A JP 2025040180A
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JP
Japan
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vacuum
sensor
cable
connector
sensor chip
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Pending
Application number
JP2023146926A
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English (en)
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康秀 吉川
Yasuhide Yoshikawa
圭輔 小原
Keisuke Obara
雷太 森
Raita Mori
紗千子 利守
Sachiko Toshimori
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Azbil Corp
Original Assignee
Azbil Corp
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Publication date
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Abstract

Figure 2025040180000001
【課題】圧力センサのセンサチップを収容するセンサヘッドの全体を均熱できるようにする。
【解決手段】この真空計測システムは、センサヘッド101、回路ユニット102、真空フィードスルー103を備え、真空フィードスルー103は、真空状態を保っている真空チャンバ121の内部へ、電気信号を伝送するケーブル106を通すための気密構造を有し、外部からの大気の流入を遮る真空部品であり、センサチップ112とコネクタ105との間の接続経路201上の真空チャンバ121の外壁を貫通して設けられている。センサヘッド101に収容されたセンサハウジング113内のセンサチップ112と回路ユニット102内の計測回路102aとは、真空フィードスルー103を介してケーブル106により接続されている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、真空計測システムに関する。
静電容量式の隔膜真空計などの圧力センサは、ダイアフラム(隔膜)を含むセンサチップを収容したセンサヘッドを測定対象のガスが流れる配管などに取り付けて、圧力を受けたダイアフラムのたわみ量、すなわち変位を静電容量値に変換し、静電容量値から圧力値を出力する。この圧力センサは、ガス種依存性が少ないことから、半導体設備をはじめ、工業用途で広く使用されている。
ところで、圧力センサが用いられる半導体設備で用いられる半導体のプロセスガスは、液化または固化しやすい。このため、センサヘッドの中で、センサチップへの圧力導入管やセンサチップに、液化または固化した成分が付着して計測に影響する。このプロセスガスの付着を防止するために、センサヘッドを加熱している。この加熱では、例えば、センサヘッドの外周面を取り囲むようにしてヒータを設け、このヒータによってセンサヘッド(センサケース)内を加熱している(特許文献1)。
特開2007-002986号公報 特開2022-176611号公報
しかしながら、上述したヒータによる加熱では、センサヘッドの全体を均等に加熱(均熱)できないという問題があった。
本発明は、以上のような問題点を解消するためになされたものであり、圧力センサのセンサチップを収容するセンサヘッドの全体を均熱できるようにすることを目的とする。
本発明に係る真空計測システムは、ダイアフラムの変位を静電容量値に変換して出力するセンサチップを収容するセンサハウジングと、センサハウジングに接続してセンサチップのダイアフラムに被測定媒体の圧力を導く圧力導入管とを備え、真空チャンバ内に配置されるセンサヘッドと、センサチップが出力する静電容量値を入力するコネクタ、およびコネクタに接続して静電容量値を圧力値に変換する計測回路を備え、真空チャンバ外に設置される回路ユニットと、センサチップとコネクタとの間の接続経路上の真空チャンバの外壁を貫通して設けられた真空フィードスルーとを備える。
上記真空計測システムの一構成例において、真空フィードスルーを介してセンサチップとコネクタとの間を接続するケーブルを備える。
上記真空計測システムの一構成例において、真空フィードスルーに設けられた中継器と、中継器の一端とセンサチップとを接続するケーブルと、中継器の他端にコネクタを接続するアダプタとをさらに備える。
上記真空計測システムの一構成例において、真空フィードスルーに設けられた中継器と、センサチップと中継器の一端とを接続するための第1ケーブルと、第1ケーブルを中継器の一端に接続するセンサアダプタと、中継器の他端とコネクタとを接続するための第2ケーブルと、第2ケーブルを中継器の他端に接続する第1アダプタと、第2ケーブルをコネクタに接続する第2アダプタとをさらに備える。
上記真空計測システムの一構成例において、センサヘッドは、真空フィードスルーの気密構造を共用するように真空フィードスルーのフランジと一体に形成され、センサチップとコネクタとを接続するケーブルをさらに備える。
上記真空計測システムの一構成例において、真空フィードスルーは同軸構造を有する同軸型真空フィードスルーである。
以上説明したように、本発明によれば、センサチップを収容するセンサヘッドを真空チャンバ内に設置し、センサチップと真空チャンバ外に設置される回路ユニットのコネクタとの間の接続経路上の真空チャンバの外壁を貫通して真空フィードスルーを設けたので、圧力センサのセンサチップを収容するセンサヘッドの全体を均熱できる。
図1は、本発明の実施の形態1に係る真空計測システムの構成を示す構成図である。 図2は、本発明の実施の形態1に係る真空計測システムの一部構成を示す構成図である。 図3は、本発明の実施の形態2に係る真空計測システムの構成を示す構成図である。 図4は、本発明の実施の形態3に係る真空計測システムの構成を示す構成図である。 図5は、本発明の実施の形態4に係る真空計測システムの構成を示す構成図である。
以下、本発明の実施の形態に係る真空計測システムについて説明する。
[実施の形態1]
はじめに、本発明の実施の形態1に係る真空計測システムについて図1、図2を参照して説明する。この真空計測システムは、センサヘッド101、回路ユニット102、真空フィードスルー103を備える。センサヘッド101は、圧力(真空度)の測定対象の真空装置122に連接する真空チャンバ121内に配置され、真空状態下におかれる。
センサヘッド101は、ダイアフラム111の変位を静電容量値に変換して出力するセンサチップ112を収容するセンサハウジング113と、センサハウジング113に接続してセンサチップ112のダイアフラム111に被測定媒体の圧力を導く圧力導入管114とを備える。真空装置122の内部の被測定媒体の圧力が、圧力導入管114によりダイアフラム111に導かれる。センサハウジング113の内部は真空封止され、基準真空室とされている。真空基準室とされているセンサハウジング113の内部にセンサチップ112を配置するので、絶対圧が測定できる。
回路ユニット102は、センサチップ112が出力する静電容量値を入力するコネクタ105、およびコネクタ105に接続して入力した静電容量値を圧力値に変換する計測回路102aを備える。なお、回路ユニット102は真空チャンバ121の外に設置される。
真空フィードスルー103は、真空状態を保っている真空チャンバ121の内部へ、電気信号を伝送するケーブル106を通すための気密構造を有し、外部からの大気の流入を遮る真空部品であり、センサチップ112とコネクタ105との間の接続経路201上の真空チャンバ121の外壁を貫通して設けられている。なお、本発明の各実施の形態においては、真空フィードスルー103は、同軸構造を有する同軸型真空フィードスルーとすることが好ましい。センサヘッド101に収容されたセンサハウジング113内のセンサチップ112と回路ユニット102内の計測回路102aとは、真空フィードスルー103を介してケーブル106により接続されている。
ケーブル106は、例えば、同軸ケーブルとすることができる。静電容量式の圧力センサは、微小な容量変化を検出する必要があるため、計測値に寄生容量や浮遊容量の影響を受けやすい。特に、センサチップ112から計測回路102aまでの配線での寄生容量や浮遊容量の影響を受ける。これらの影響を受けないようにするために、同軸ケーブルを用い、芯線を用いてセンサチップ112とコネクタ105とを接続し、シールド線を接地(グランド)に接続する(特許文献2)。
例えば、センサチップ112の感圧用固定電極および感圧用可動電極の各々と計測回路102aとを接続することになるため、1つのセンサヘッド101において、2本の同軸ケーブルが必要となる。また、感圧電極に加えて参照電極も用いる場合は、更に参照用固定電極および参照用可動電極がセンサチップ112に設けられるため、追加で2本の同軸ケーブルが必要となり、結局合計4本の同軸ケーブルが必要となる。ただし、その場合は、感圧用固定電極と参照用固定電極を一体化して共通とすること、または、感圧用可動電極と参照用可動電極を一体化して共通とすることのどちらか一方を選択することも可能であり、このような選択をする場合は、3本の同軸ケーブルが必要となる。
上述した実施の形態によれば、センサヘッド101に収容されたセンサハウジング113内のセンサチップ112と計測回路102aとの間の接続を、真空チャンバ121の外壁を貫通して設けられた真空フィードスルー103を介して行うので、センサヘッド101を配置した真空チャンバ121の内部を真空状態とすることができる。なお、例えば、センサヘッド101と回路ユニット102との間の接続に、4本のケーブルを用いる場合、2本のケーブル毎に1つの真空フィードスルーを用いることができる。また、複数のケーブルを束ねることができる。
[実施の形態2]
次に、本発明の実施の形態2に係る真空計測システムについて図3を参照して説明する。この真空計測システムは、センサヘッド101、回路ユニット102、真空フィードスルー103を備える。これらの構成は、前述した実施の形態1と同様である。実施の形態2では、真空フィードスルー103に設けられた中継器107をさらに備える。
また、実施の形態2では、ケーブル106により、中継器107の一端とセンサチップ112とを接続する。また、実施の形態2では、アダプタ108により、中継器107の他端にコネクタ105を接続する。これらの接続により、ケーブル106-中継器107-アダプタ108-コネクタ105の接続経路201で、センサチップ112と計測回路102aとが接続される。
実施の形態2においても、センサヘッド101と計測回路102aとの間の接続を、真空フィードスルー103を介して行うので、実施の形態1と同様にセンサヘッド101を配置した真空チャンバ121の内部を、真空状態とすることができ、センサヘッド101を均熱することができる。また、実施の形態2によれば、真空フィードスルー103とコネクタ105との間のケーブルを不要とするため、接続経路201の総ケーブル長を短くできる利点を有する。
[実施の形態3]
次に、本発明の実施の形態3に係る真空計測システムについて図4を参照して説明する。この真空計測システムは、センサヘッド101、回路ユニット102、真空フィードスルー103を備える。これらの構成は、前述した実施の形態1と同様である。
実施の形態3では、真空フィードスルー103に設けられた中継器107をさらに備える。また、実施の形態3では、第1ケーブル106aにより、中継器107の一端とセンサチップ112とを接続する。第1ケーブル106aの中継器107側の端部にはセンサアダプタ109が取り付けられ、センサアダプタ109が中継器107に接続される。センサアダプタ109により、第1ケーブル106aが中継器107の一端に接続される。
また、実施の形態3では、第2ケーブル106bにより、中継器107の他端とコネクタ105とを接続する。第2ケーブル106bの中継器107側の端部は、第1アダプタ108aにより中継器107に接続される。第1アダプタ108aにより、第2ケーブル106bが、中継器107の他端に接続される。また、第2ケーブル106bのコネクタ105側の端部は、第2アダプタ108bにより、コネクタ105に接続される。
これらの接続により、第1ケーブル106a-センサアダプタ109-中継器107-第1アダプタ108a-第2ケーブル106b-第2アダプタ108b-コネクタ105の接続経路201で、センサチップ112と計測回路102aとが接続される。
実施の形態3においても、センサチップ112と計測回路102aとの間の接続を、真空フィードスルー103を介して行うので、実施の形態1と同様にセンサヘッド101を配置した真空チャンバ121の内部を、真空状態とすることができ、センサヘッド101を均熱することができる。また、実施の形態3によれば、真空フィードスルー103とコネクタ105との間の接続距離を現場で調整変更したい場合に、第2ケーブル106bを適切なケーブル長のものを選択するだけで容易に調整変更できる利点を有する。
[実施の形態4]
次に、本発明の実施の形態4に係る真空計測システムについて図5を参照して説明する。この真空計測システムは、センサヘッド101a、回路ユニット102、真空フィードスルー103aを備えているが、前述した実施の形態1と異なるのは、真空フィードスルー103aが、フランジ部でセンサヘッド101aと接合されて一体化されている(センサハウジング113の一部として一体に形成されている)点である。センサハウジング113の上面に、真空フィードスルー103aが形成され、両者が一体とされている。
このように真空フィードスルー103aとセンサヘッド101aとを一体化することにより、部品点数の削減が図られる。さらに、実施の形態1~3ではセンサハウジング113のケーブル取出部にも真空フィードスルー103と同様に気密構造を必要とするが、実施の形態4では真空フィードスルー103aの気密構造が共用できるため、気密構造も1つで良い。また、実施の形態1~3では、センサヘッド101にセンサハウジング113と真空フィードスルー103とを別個に固定する必要があるが、実施の形態4においては、真空フィードスルー103aをセンサヘッド101aに固定すればセンサハウジング113もいっしょに固定されるので、センサヘッド101aを真空チャンバ122内へ設置する作業が容易となる効果を有する。
また、回路ユニット102は、計測回路102aに接続するコネクタ105を備え、センサチップ112とコネクタ105とは、ケーブル106により接続されている。これらの接続により、センサチップ112-ケーブル106-コネクタ105の接続経路201で、センサチップ112と計測回路102aとが接続される。
実施の形態4においても、センサチップ112と計測回路102aとの間の接続を、真空フィードスルー103aを介して行うので、センサヘッド101aを配置した真空チャンバ121内部を、真空状態とすることができ、センサヘッド101aを均熱することができる。また、実施の形態4においても、真空フィードスルー103aとコネクタ105との間の接続距離を現場で調整変更したい場合に、ケーブル106を適切なケーブル長のものを選択するだけで容易に調整変更できる利点を有する。
以上に説明したように、本発明によれば、真空チャンバ内に設置されるセンサヘッドに設けられているセンサチップと真空チャンバ外に設置される回路ユニットのコネクタとの間の接続経路上の真空チャンバの外壁を貫通して真空フィードスルーを設けたので、圧力センサのセンサチップを収容するセンサヘッドの全体を均熱できるようになる。
なお、本発明は以上に説明した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で、当分野において通常の知識を有する者により、多くの変形および組み合わせが実施可能であることは明白である。
101…センサヘッド、102…回路ユニット、102a…計測回路、103…真空フィードスルー、105…コネクタ、106…ケーブル、111…ダイアフラム、112…センサチップ、113…センサハウジング、114…圧力導入管、121…真空チャンバ、122…真空装置、201…接続経路。

Claims (6)

  1. ダイアフラムの変位を静電容量値に変換して出力するセンサチップを収容するセンサハウジングと、前記センサハウジングに接続して前記センサチップの前記ダイアフラムに被測定媒体の圧力を導く圧力導入管とを備え、真空チャンバ内に配置されるセンサヘッドと、
    前記センサチップが出力する静電容量値を入力するコネクタ、および前記コネクタに接続して前記静電容量値を圧力値に変換する計測回路を備え、前記真空チャンバ外に設置される回路ユニットと、
    前記センサチップと前記コネクタとの間の接続経路上の前記真空チャンバの外壁を貫通して設けられた真空フィードスルーと
    を備える真空計測システム。
  2. 請求項1記載の真空計測システムにおいて、
    前記真空フィードスルーを介して前記センサチップと前記コネクタとの間を接続するケーブルを備える真空計測システム。
  3. 請求項1記載の真空計測システムにおいて、
    前記真空フィードスルーに設けられた中継器と、
    前記中継器の一端と前記センサチップとを接続するケーブルと、
    前記中継器の他端に前記コネクタを接続するアダプタと
    をさらに備える真空計測システム。
  4. 請求項1記載の真空計測システムにおいて、
    前記真空フィードスルーに設けられた中継器と、
    前記センサチップと前記中継器の一端とを接続するための第1ケーブルと、
    前記第1ケーブルを前記中継器の一端に接続するセンサアダプタと、
    前記中継器の他端と前記コネクタとを接続するための第2ケーブルと、
    前記第2ケーブルを前記中継器の他端に接続する第1アダプタと、
    前記第2ケーブルを前記コネクタに接続する第2アダプタと
    をさらに備える真空計測システム。
  5. 請求項1記載の真空計測システムにおいて、
    前記センサヘッドは、前記真空フィードスルーの気密構造を共用するように前記真空フィードスルーのフランジと一体に形成され、
    前記センサチップと前記コネクタとを接続するケーブルをさらに備える真空計測システム。
  6. 請求項1~5のいずれか1項に記載の真空計測システムにおいて、
    前記真空フィードスルーは同軸構造を有する同軸型真空フィードスルーである真空計測システム。
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