JP2025035385A - 測定チップ、自動分析装置、及び、自動分析システム - Google Patents

Abstract

【課題】自動分析装置を小型化しつつ、電解質項目の測定において、スループットを向上することである。
【解決手段】実施形態に係る測定チップは、試料又は、前記試料と反応させる試薬又は前記試料を希釈する希釈液を前記試料に混合した混合液を収容するチップ本体と、前記チップ本体に設けられた前記試料又は前記混合液を吸引するための吸引口と、前記チップ本体に設けられ、前記吸引口から吸引された前記試料又は前記混合液の対象物質の濃度を測定するための複数の端子と、自動分析装置の搬送部に前記チップ本体を装着するための装着部と、を備える。
【選択図】図３

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、測定チップ、自動分析装置、及び、自動分析システムに関する。

自動分析装置は、血液などの被検体から採取された被検試料又は各検査項目の標準試料などの試料と、各検査項目に対応する試薬又は試料を希釈する希釈液とを混合することで得られる混合液を、例えば光学的に測定することで、各検査項目に対応した被検試料の成分を分析する装置である。このような自動分析装置の検査項目の一つに、試料又は混合液におけるナトリウムイオンやカリウムイオン、塩素イオンなどの電解質項目の測定がある。

この電解質項目の測定に電解質測定ユニットを用いる場合、自動分析装置は、試料又は混合液を電解質測定ユニットに送液し、送液された試料又は混合液の電位を測定することにより、試料又は混合液における電解質の濃度を測定することとなる。しかしながら、電解質測定ユニットを用いた電解質項目の測定においては、電解質項目を測定する毎に、電解質測定ユニットを洗浄する必要があり、スループットの向上が困難となっている。

特開２０２０－１２８２３号公報

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、自動分析装置を小型化しつつ、電解質項目の測定において、スループットを向上することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記の課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

実施形態に係る測定チップは、試料又は、前記試料と反応させる試薬又は前記試料を希釈する希釈液を前記試料に混合した混合液を収容するチップ本体と、前記チップ本体に設けられた前記試料又は前記混合液を吸引するための吸引口と、前記チップ本体に設けられ、前記吸引口から吸引された前記試料又は前記混合液の対象物質の濃度を測定するための複数の端子と、自動分析装置の搬送部に前記チップ本体を装着するための装着部と、を備える。

第１実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図。 第１実施形態に係る分析機構の構成の一例を示す図。 第１実施形態に係る測定チップの構成の一例を示す図。 第１実施形態に係る分析機構が備える供給部の構成の一例を示す図。 第１実施形態に係る搬送機構の構成の一例を示す図。 第１実施形態に係る搬送機構における測定チップの搬送経路及び搬送経路上の各位置を説明する説明図。 第１実施形態に係る分析機構において、測定チップが搬送機構に装着されてから廃棄されるまでの一連の流れを説明する説明図。 第１実施形態に係る自動分析装置で実行される電解質項目測定処理の内容を説明するフローチャート図。 第１実施形態に係る電解質項目測定処理における搬送機構の動作例を説明する説明図。 第１実施形態に係る自動分析装置で実行される残量報告処理の内容を説明するフローチャート図。 第１実施形態に係る自動分析装置で実行される廃棄量報告処理の内容を説明するフローチャート図。 第２実施形態に係る測定チップの構成の一例を示す図。 第２実施形態に係る分析機構において、測定チップが搬送機構に装着されてから廃棄されるまでの一連の流れを説明する説明図。 第２実施形態に係る測定チップの構成の他の例を示す図。 第３実施形態に係る測定チップの構成の一例を示す図。 第３実施形態に係る搬送機構の構成の一例を示す図。 第３実施形態に係る分析機構において、測定チップが搬送機構に装着されてから測定チップが廃棄されるまでの一連の流れを説明する説明図。 変形例１に係る分析機構の構成の一例を示す図。 変形例１に係る測定チップの構成の一例を示す図。 変形例１に係る搬送機構の構成の一例を示す図。 変形例１に係る分析機構が備える測定チップ設置部の構成の一例を示す図。 変形例１に係る搬送機構及び廃棄チップ搬送機構における測定チップの搬送経路及び搬送経路上の各位置の一例を説明する説明図。 変形例１に係る分析機構において、測定チップが搬送機構に装着されてから廃棄されるまでの一連の流れを説明する説明図。 変形例１に係る自動分析装置で実行される電解質項目測定処理の内容を説明するフローチャート図。 変形例１に係る搬送機構及び廃棄チップ搬送機構における測定チップの搬送経路及び搬送経路上の各位置を他の例を説明する説明図。 変形例２に係る分析機構の構成の一例を示す図。 変形例２に係る吸引ユニットの構成の一例を示す図。 変形例２に係る搬送機構における測定チップの搬送経路及び搬送経路上の各位置の一例を説明する概念図。 変形例２に係る自動分析装置で実行される電解質項目測定処理の内容を説明するフローチャート図。 変形例２に係る電解質項目測定処理における搬送機構の動作例を説明する説明図。 変形例２に係る分析機構が備える搬送機構の構成の他の例を示す図。 変形例２に係る搬送機構の構成の他の例における測定チップの搬送経路、搬送経路上の各位置、及び、搬送機構の動作例を説明する説明図。 変形例２に係る搬送機構の構成の他の例における測定チップの搬送経路、搬送経路上の各位置、及び、搬送機構の動作例を説明する説明図。 変形例３に係る搬送機構の構成の一例を示す図。 変形例３に係る測定チップの構成の一例を示す図。 変形例３に係る測定チップが搬送機構に装着された状態を示す図。 変形例３に係る搬送機構及び測定チップの他の例を示す図。 変形例３に係る搬送機構及び測定チップの他の例を示す図。 変形例３に係る測定チップが搬送機構に装着された状態の別の例を示す図。 図３８及び図３９に示すガイド部及び補正部の他の例を示す図。

以下、図面を参照しながら、測定チップ、自動分析装置、及び、自動分析システムの実施形態について説明する。なお、以下の説明において実質的に同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行うこととする。

〔第１実施形態〕
図１は、第１実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図である。本実施形態に係る自動分析装置は、例えば、測定対象の試料と試薬との混合液又は測定対象の試料と希釈液との混合液等を測定することにより、試料内の成分を測定する装置である。この図１に示すように、本実施形態に係る自動分析装置１は、例えば、分析機構２と、解析回路３と、駆動機構４と、入力インターフェース５と、出力インターフェース６と、通信インターフェース７と、記憶回路８と、制御回路９とを備えて構成されている。

分析機構２は、標準試料又は被検試料等の試料に、この試料に設定される各検査項目で用いられる試薬を混合する。また、分析機構２は、検査項目によっては、試料を希釈する希釈液と、試料とを混合した混合液を生成する。分析機構２は、試料に試薬を混合して得られる混合液又は測定対象の試料と希釈液との混合液等を測定し、例えば、標準データ及び被検データを生成する。本実施形態においては、分析機構２は、例えば、試料、試料と試薬との混合液、又は、試料と希釈液との混合液を測定し、電位に関連付けられた標準データ及び被検データを生成する。なお、以下において、標準試料と被検試料を区別せずに表現する場合は、単に「試料」と表記する場合がある。

解析回路３は、分析機構２により生成される標準データ及び被検データを解析することで、検量データ及び分析データ等を生成するプロセッサである。解析回路３は、記憶回路８から解析プログラムを読み出し、読み出した解析プログラムに従って検量データ及び分析データなどを生成する。例えば、解析回路３は、標準データに基づき、標準データと、標準試料について予め設定された標準値との関係を示す検量データとを生成する。また、解析回路３は、被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づき、濃度値及び酵素の活性値として表される分析データを生成する。この分析データには、濃度値と酵素の活性値とを対応付けたデータ及び試料中の所望のイオンの濃度を時系列に記録したデータ等がある。解析回路３は生成した検量データ及び分析データなどを制御回路９へ出力する。

駆動機構４は、制御回路９の制御に従い、分析機構２を駆動させる。例えば、駆動機構４は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。例えば、駆動機構４は、後述する搬送機構等を所定の角度で回動させる。

入力インターフェース５は、例えば、ユーザから又は病院内ネットワークＮＷを介して、測定を依頼された試料に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インターフェース５は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インターフェース５は、制御回路９に接続され、ユーザから入力される操作指示を電気信号へ変換し、この電気信号を制御回路９へ出力する。なお、本実施形態においては、入力インターフェース５は、マウス、及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路９へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース５の例に含まれる。

出力インターフェース６は、制御回路９に接続され、制御回路９から供給される信号を出力する。出力インターフェース６は、例えば、表示回路、印刷回路及び音声デバイス等により実現される。表示回路には、例えば、ＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＬＥＤディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等が含まれる。なお、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路も表示回路に含まれる。印刷回路は、例えば、プリンタ等を含む。なお、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路も印刷回路に含まれる。音声デバイスは、例えば、スピーカ等を含む。なお、音声信号を外部へ出力する出力回路も音声デバイスに含まれる。

通信インターフェース７は、例えば、病院内ネットワークＮＷに接続されており、自動分析装置１を病院内ネットワークＮＷに接続する。通信インターフェース７は、病院内ネットワークＮＷを介してＨＩＳ（Hospital Information System）とデータ通信を行う。なお、通信インターフェース７は、病院内ネットワークＮＷと接続する検査部門システム（Laboratory Information System:ＬＩＳ）を介してＨＩＳとデータ通信を行っても構わない。

記憶回路８は、磁気的、若しくは、光学的記録媒体、又は、半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等により構成されている。なお、記憶回路８は、必ずしも単一の記憶装置により実現される必要は無い。例えば、記憶回路８は、複数の記憶装置により実現することもできる。

また、記憶回路８は、解析回路３で実行される解析プログラム、及び、制御回路９で実行される制御プログラムを記憶している。記憶回路８は、解析回路３により生成される分析データを検査項目毎に記憶する。

制御回路９は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。例えば、制御回路９は、分析機構２の各部を駆動させるための制御信号を駆動機構４へと出力する。また、制御回路９は、記憶回路８に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。なお、制御回路９は、記憶回路８で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えていてもよい。

図２は、第１実施形態に係る分析機構２の構成の一例を示す図である。この図２に示すように、本実施形態に係る分析機構２は、例えば、反応ディスク２０１と、恒温部２０２と、ラックサンプラ２０３と、第１試薬庫２０４と、第２試薬庫２０５と、サンプル分注アーム２０６と、サンプル分注プローブ２０７と、第１試薬分注アーム２０８と、第１試薬分注プローブ２０９と、第２試薬分注アーム２１０と、第２試薬分注プローブ２１１と、第１撹拌ユニット２１２と、第２撹拌ユニット２１３と、測光ユニット２１４と、洗浄ユニット２１５、貯留部２１６と、第１検知部２１７と、供給部２１８と、搬送機構２１９と、廃棄部２２０と、第２検知部２２１と、を備えて構成されている。

反応ディスク２０１は、複数の反応容器２０１１を、環状に配列させて保持する。反応ディスク２０１は、複数の反応容器２０１１を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、試料と試薬の混合液又は試料と希釈液の混合液の分析動作中、反応ディスク２０１は、駆動機構４により、既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応容器２０１１は、例えば、ガラス、ポリプロピレン（ｐｏｌｙｐｒｏｐｙｌｅｎｅ：ＰＰ）またはアクリルにより形成されている。

恒温部２０２は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留する。恒温部２０２は、貯留する熱媒体に反応容器２０１１を浸漬させることで、反応容器２０１１に収容される反応液を所定の温度まで昇温し保温する。

ラックサンプラ２０３は、測定を依頼された試料を収容する複数の試料容器を保持可能な試料ラック２０３１を、移動可能に支持する。これら複数の試料容器には、測定を依頼された血液などの検体が収容されている。図２に示す例では、５本の試料容器を並列して保持可能な試料ラック２０３１が示されている。

ラックサンプラ２０３には、試料ラック２０３１を搬送する搬送領域２０３２が設けられている。すなわち、この搬送領域２０３２を使用して、試料ラック２０３１が投入される投入位置から、測定が完了した試料ラック２０３１を回収する回収位置まで、試料ラック２０３１が搬送される。搬送領域２０３２では、長手方向に整列された複数の試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ１へ移動される。

また、ラックサンプラ２０３には、試料ラック２０３１で保持される試料容器を所定の試料吸引位置へ移動させるため、試料ラック２０３１を搬送領域２０３２から引き込む引き込み領域２０３３が設けられている。試料吸引位置は、例えば、サンプル分注プローブ２０７の上下方向への移動軌道と、ラックサンプラ２０３で支持されて試料ラック２０３１で保持される試料容器の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。引き込み領域２０３３では、搬送されてきた試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ２へ移動される。

また、ラックサンプラ２０３には、試料が吸引された試料容器を保持する試料ラック２０３１を搬送領域２０３２へ戻すための戻し領域２０３４が設けられている。戻し領域２０３４では、試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ３へ移動される。

第１試薬庫２０４は、標準試料及び被検試料に含まれる所定の成分と反応する第１試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。第１試薬は、例えば、ウシ血清アルブミン（ＢＳＡ）等を含む緩衝液である。試薬容器には、試薬ラベルが貼付されている。試薬ラベルには、試薬情報を表す光学式マークが印刷されている。光学式マークには、例えば、１次元画素コード及び２次元画素コード等、任意の画素コードが用いられる。試薬情報は、試薬容器に収容される試薬に関する情報であり、例えば、試薬名、試薬メーカコード、試薬項目コード、ボトル種類、ボトルサイズ、容量、製造ロット番号、及び、有効期間等を含んでいる。

また、第１試薬庫２０４は、標準試料を収容する標準試料容器を複数保冷する。複数の標準試料容器のそれぞれには、濃度が異なる同一の成分の標準試料が収容されている。なお、標準試料容器は、試料ラック２０３１に保持されていてもよい。また、第１試薬庫２０４は、希釈液を収容する希釈液容器を１又は複数保冷する。

第１試薬庫２０４内には、試薬ラック２０４１が回転自在に設けられている。試薬ラック２０４１は、複数の試薬容器、複数の標準試料容器及び希釈液容器を、円環状に配列して保持する。試薬ラック２０４１は、駆動機構４により回動される。また、第１試薬庫２０４内には、試薬容器に貼付されている試薬ラベルから試薬情報を読み取るリーダ（図示せず）が設けられている。読み取られた試薬情報は、記憶回路８で記憶される。

第２試薬庫２０５は、２試薬系の第１試薬と対をなす第２試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。第２試薬は、試料に含まれる所定の抗原又は抗体と、特異的抗原抗体反応により結合又は乖離する抗原又は抗体が固定化された不溶性担体、例えば、担体粒子を含む溶液である。特異的反応により結合又は乖離するものとして酵素、基質、アプタマー、受容体であっても良い。第２試薬庫２０５内には、試薬ラック２０５１が回転自在に設けられている。

試薬ラック２０５１は、複数の試薬容器を円環状に配列して保持する。なお、第２試薬庫２０５において、標準試料を収容する標準試料容器が保冷されていてもよい。試薬ラック２０５１は、駆動機構４により回動される。また、第２試薬庫２０５内には、試薬容器に貼付されている試薬ラベルから試薬情報を読み取るリーダ（図示せず）が設けられている。読み取られた試薬情報は、記憶回路８で記憶される。

第２試薬庫２０５上の所定の位置には、第２試薬吸引位置が設定されている。第２試薬吸引位置は、例えば、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、試薬ラック２０５１に円環状に配列される試薬容器の開口部の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。

サンプル分注アーム２０６は、反応ディスク２０１とラックサンプラ２０３との間に設けられている。サンプル分注アーム２０６は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム２０６は、一端にサンプル分注プローブ２０７を保持する。

サンプル分注プローブ２０７は、サンプル分注アーム２０６の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、分注位置が設けられている。また、サンプル分注プローブ２０７の回動軌道上には、サンプル分注プローブ２０７が吸引した試料を反応容器２０１１へ吐出するためのサンプル吐出位置が設けられている。サンプル吐出位置は、サンプル分注プローブ２０７の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。

サンプル分注プローブ２０７は、駆動機構４によって駆動され、分注位置又はサンプル吐出位置において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、分注位置において、試料容器から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、吸引した試料を、サンプル吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。

第１試薬分注アーム２０８は、第１試薬庫２０４の外周近傍に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、一端に第１試薬分注プローブ２０９を保持している。

第１試薬分注プローブ２０９は、第１試薬分注アーム２０８の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第１試薬分注プローブ２０９が第１試薬、標準試料、又は、希釈液を吸引する第１試薬吸引位置が設けられている。第１試薬吸引位置は、例えば、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、試薬ラック２０５１に円環状に配列される試薬容器や標準試料容器、希釈液容器の開口部の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。また、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道上には、第１試薬分注プローブ２０９が吸引した第１試薬、標準試料、又は、希釈液を反応容器２０１１へ吐出するための第１試薬吐出位置が設定されている。第１試薬吐出位置は、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。

第２試薬分注アーム２１０は、第１試薬庫２０４の外周近傍に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、一端に第２試薬分注プローブ２１１を保持している。

第２試薬分注プローブ２１１は、第２試薬分注アーム２１０の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、前述の第２試薬吸引位置が設けられている。また、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道上には、第２試薬分注プローブ２１１が吸引した第２試薬を反応容器２０１１へ吐出するための第２試薬吐出位置が設定されている。第２試薬吐出位置は、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。

第１撹拌ユニット２１２は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。第１撹拌ユニット２１２は、第１撹拌アーム２１２１を有し、また、この第１撹拌アーム２１２１の先端に設けられる第１撹拌子を有する。第１撹拌ユニット２１２は、第１撹拌子により、反応ディスク２０１上の第１撹拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されている標準試料と第１試薬との反応液を撹拌する。また、第１撹拌ユニット２１２は、第１撹拌子により、反応ディスク２０１上の第１撹拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されている被検試料と第１試薬との反応液を撹拌する。なお、第１撹拌ユニット２１２は、反応ディスク２０１上の第１撹拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されている被検試料と希釈液との反応液を撹拌してもよい。

第２撹拌ユニット２１３は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。第２撹拌ユニット２１３は、第２撹拌アーム２１３１を有し、また、この第２撹拌アーム２１３１の先端に設けられる第２撹拌子を有する。第２撹拌ユニット２１３は、第２撹拌子により、反応ディスク２０１上の第２撹拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されている標準試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を撹拌する。また、第２撹拌ユニット２１３は、第２撹拌子により、第２撹拌位置に位置する反応容器２０１１内に収容されている被検試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を撹拌する。

測光ユニット２１４は、反応容器２０１１内に吐出された試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を光学的に測定する。測光ユニット２１４は、光源２１４１、及び、光検出器２１４２を有する。測光ユニット２１４は、制御回路９の制御に従い、光源から光を照射する。照射された光は、反応容器２０１１の第１側壁から入射され、第１側壁と対向する第２側壁から出射される。測光ユニット２１４は、反応容器２０１１から出射された光を、光検出器２１４２により検出する。この測光ユニット２１４は、本実施形態における測光部に相当する。また、光検出器２１４２は、本実施形態における光検出部に相当する。

具体的には、例えば、光検出器２１４２は、光源２１４１から反応容器２０１１に照射される光の光軸上の位置に配置されている。光検出器２１４２は、反応容器２０１１内の標準試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を透過した光を検出する。自動分析装置１は、この光検出器２１４２が検出した光の強度により表される測光データを取得する。そして、自動分析装置１は、この測光データから所定のタイミングで取得される測定データに基づき、吸光度により表される標準データを生成する。また、光検出器２１４２は、反応容器２０１１内の被検試料、第１試薬、及び第２試薬の反応液を透過した光を検出する。自動分析装置１は、この光検出器２１４２が検出した光の強度により表される測光データを取得する。そして、自動分析装置１は、この測光データから所定のタイミングで取得される測定データに基づき、吸光度により表される被検データを生成する。測光ユニット２１４は、生成した標準データ及び被検データを解析回路３へ出力する。

洗浄ユニット２１５は、測光ユニット２１４で反応液の測定が終了した反応容器２０１１の内部を洗浄する。

貯留部２１６は、測定チップ３００を貯留する。本実施形態に係る貯留部２１６は、測定チップ３００を複数貯留する。

測定チップ３００は、電解質項目を測定するためのチップである。この貯留部２１６に貯留される測定チップ３００は、使い捨てのチップである。この測定チップ３００は搬送機構２１９に装着されることにより搬送される。測定チップ３００と、この測定チップ３００に収容された試料又は混合液を用いて、試料を分析する自動分析装置１とは、本実施形態に係る自動分析システムを構成している。

図３は、本実施形態に係る測定チップ３００の構成の一例を示す図である。この図３に示すように、本実施形態に係る測定チップ３００は、チップ本体３０１と、吸引口３０２と、複数の端子３０３と、装着部３０４とを備える。チップ本体３０１は、試料又は、試料と反応させる試薬又は試料を希釈する希釈液を試料に混合した混合液を収容する。吸引口３０２は、チップ本体３０１に設けられた試料又は混合液を吸引するための開口である。

複数の端子３０３は、チップ本体３０１に設けられ、吸引口３０２から吸引された試料又は混合液の対象物質の濃度を測定する。ここで、対象物質とは、ナトリウムイオン、カリウムイオン及び塩素イオン等の電解質である。なお、電解質は、マグネシウムイオン、鉄イオン、亜鉛イオン等であってもよい。

本実施形態に係る複数の端子３０３は、吸引口３０２の径方向に対して、複数の端子３０３のそれぞれの軸方向が垂直になるように、チップ本体３０１に設けられる。また、本実施形態に係る複数の端子３０３は、チップ本体３０１に一体的に形成されることにより、チップ本体３０１に設けられる。図３に示す例において、複数の端子３０３は、４本である。なお、本実施形態に係る複数の端子３０３は、４本設けられることとしたが、チップ本体３０１に設けられる複数の端子３０３の数はこれに限られない。すなわち、複数の端子３０３の数は任意であり、チップ本体３０１に設けられる複数の端子３０３の数は、２本又は３本であってもよく、５本以上であってもよい。

また、複数の端子３０３は、試料又は混合液に含まれる電解質を選択的に検出するイオン選択性電極（Ion selective Electrode:以下、ＩＳＥと呼ぶ）及び一定の電位を発生する参照電極とを含む。本実施形態において、図３に示すように、複数の端子３０３である４本の端子のそれぞれは、ＩＳＥ３０３１～３０３３及び参照電極３０３４である。

ＩＳＥ３０３１は、ナトリウムイオンを選択的に検出する感応膜を有する。ＩＳＥ３０３１は、吸引口３０２から吸引された、試料又は混合液の活量係数及び溶液温度が一定となる条件で、参照電極３０３４に対して、ナトリウムイオンの濃度の対数に比例する電位を発生する。

ＩＳＥ３０３２は、カリウムイオンを選択的に検出する感応膜を有する。ＩＳＥ３０３２は、吸引口３０２から吸引された、試料又は混合液の活量係数及び溶液温度が一定となる条件で、参照電極３０３４に対して、カリウムイオンの濃度の対数に比例する電位を発生する。

ＩＳＥ３０３３は、塩素イオンを選択的に検出する感応膜を有する。ＩＳＥ３０３３は、吸引口３０２から吸引された、試料又は混合液の活量係数及び溶液温度が一定となる条件で、参照電極３０３４に対して、塩素イオンの濃度の対数に比例する電位を発生する。

参照電極３０３４は、一定の電位を発生する液絡部を有する。

なお、本実施形態に係る複数の端子３０３に含まれるＩＳＥ３０３１～３０３３は、ナトリウムイオン、カリウムイオン、及び、塩素イオンを選択的に検出することとしたが、ＩＳＥ３０３１～３０３３が選択的に検出する物質は、ナトリウムイオン、カリウムイオン、及び、塩素イオンに限られない。すなわち、ＩＳＥ３０３１～３０３３が選択的に検出する物質は任意であり、例えば、ＩＳＥ３０３１～３０３３は、マグネシウムイオンや、鉄イオン、亜鉛イオンなどを選択的に検出するようにしてもよい。また、図３に示す例においては、左からＩＳＥ３０３１～３０３３及び参照電極３０３４の順に並べられているが、ＩＳＥ３０３１～３０３３及び参照電極３０３４の並び順は任意である。

装着部３０４は、自動分析装置１の搬送機構２１９にチップ本体３０１を装着するための部分である。本実施形態に係る装着部３０４は、詳しくは後述する自動分析装置１の搬送機構２１９の測定チップ被装着部を挿入するための開口部である。本実施形態に係る装着部３０４の内周の口径は、搬送機構２１９の被装着部の外周の口径と略等しい。そのため、本実施形態に係る測定チップ３００は、装着部３０４が搬送機構２１９の測定チップ被装着部に外嵌することにより、自動分析装置１の搬送機構２１９に装着される。

第１検知部２１７は、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００の残量を検知する。この第１検知部２１７は、貯留部２１６又は貯留部２１６の近傍に設けられる。第１検知部２１７は、例えば、光学センサや重量センサ、光学カメラ等である。第１検知部２１７の検知結果は、制御回路９に出力される。

供給部２１８は、測定チップ３００を供給する位置である供給位置に、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００を供給する。この供給部２１８は、例えば、ベルトやスライダ、供給レール等により構成される。供給部２１８の構成について、図４を参照して、より詳細に説明する。図４は、本実施形態に係る分析機構２が備える供給部２１８の構成の一例を示す図である。図４に示す例において、本実施形態に係る供給部２１８は、供給レール２１８１と、測定チップ送り出し機構２１８２と、位置決め機構２１８３とを備えている。

供給レール２１８１は、貯留部２１６に貯留されている測定チップ３００を外に排出して、供給位置に供給する。図４に示す例においては、供給レール２１８１は、例えば、供給位置に向かって傾斜して設けられている。そのため、測定チップ３００は、供給レール２１８１上を、重力により摺動して、供給位置に向かって移動する。供給位置は、例えば、搬送機構２１９の搬送経路である回動軌道と、供給レール２１８１上における測定チップ３００の移動軌道とが交差する位置である。

測定チップ送り出し機構２１８２は、制御回路９の制御に従い、供給レール２１８１上の測定チップ３００を供給位置に送り出す機構である。この測定チップ送り出し機構２１８２は、供給位置の近傍に設けられている。

位置決め機構２１８３は、測定チップ３００の複数の端子３０３が搬送機構２１９に対して、所定の位置に位置決めされるように、測定チップ３００を回転させる機構である。具体的には、位置決め機構２１８３は、制御回路９の制御に従い、測定チップ３００の複数の端子３０３が、後述する搬送機構２１９の接続部に対応する位置に位置決めされるように、供給位置に供給された測定チップ３００を回転させる。また、位置決め機構２１８３は、供給位置の近傍に設けられている。なお、位置決め機構２１８３は、位置決めを行わないときは、退避位置に退避してもよく、位置決めが必要な場合に測定チップ３００の下方又は側方から移動してもよい。

なお、本実施形態に係る供給部２１８は、供給レール２１８１と、測定チップ送り出し機構２１８２と、位置決め機構２１８３とを備えることとしたが、測定チップ送り出し機構２１８２と、位置決め機構２１８３とは備えられていなくてもよい。つまり、供給部２１８は、少なくとも供給レール２１８１を備えていればよい。

搬送機構２１９は、試料又は混合液の対象物質の濃度を測定するための測定チップ３００を装着可能とし、測定チップ３００を搬送する。本実施形態に係る搬送機構２１９は、制御回路９の制御に従い、供給位置に供給された測定チップ３００を、後述する反応容器位置に搬送する。また、本実施形態に係る搬送機構２１９は、測定が完了した測定チップ３００を、後述する廃棄位置に搬送する。この搬送機構２１９は、本実施形態における搬送部に相当している。

図２及び図５を参照して、本実施形態に係る搬送機構２１９の構成を説明する。図５は本実施形態に係る搬送機構２１９の構成の一例を示す図である。図２及び図５に示すように、本実施形態に係る搬送機構２１９は、測定チップ被装着部２１９１と、搬送アーム２１９２と、測定部２１９３と、接続部２１９４と、吸引機構２１９５と、測定チップ取外し機構２１９６と、加温部２１９７と、温度センサ２１９８と、を備える。

測定チップ被装着部２１９１には、測定チップ３００が装着される。本実施形態に係る測定チップ被装着部２１９１の外周の口径は、装着部３０４の内周の口径と略等しい。そのため、本実施形態に係る測定チップ被装着部２１９１を測定チップ３００の装着部３０４に挿入することにより、測定チップ被装着部２１９１に、測定チップ３００が外嵌される。これにより、本実施形態に係る測定チップ被装着部２１９１は、測定チップ３００を装着する。

搬送アーム２１９２は、反応ディスク２０１と貯留部２１６の間に設けられている。搬送アーム２１９２は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。なお、図２に示す搬送アーム２１９２は、１本の搬送アームから構成されているが、搬送アーム２１９２の本数はこれに限られない。すなわち、搬送アーム２１９２の本数は任意である。例えば、搬送アーム２１９２は、２以上の複数のアームから構成されてもよい。

また、搬送アーム２１９２は、測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００を所定の搬送経路に沿って搬送する。具体的には、本実施形態に係る搬送アーム２１９２は、搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１及び測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００が搬送経路を通るように、供給部２１８から廃棄部２２０へ測定チップ３００を搬送する。この測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００の搬送経路は、例えば、搬送アーム２１９２の一端の中心とする回動に伴う円弧上の回動軌道上に形成される。なお、搬送機構２１９における測定チップ３００の搬送経路は、任意である。例えば、搬送機構２１９における測定チップ３００の搬送経路は、楕円状の軌道上に形成されてもよく、特定の形状を有しない搬送経路であってもよい。

測定部２１９３は、搬送機構２１９で搬送された測定チップ３００に設けられた複数の端子３０３の電位を測定する。具体的には、試料又は混合液について、ＩＳＥ３０３１～３０３３と参照電極３０３４との間の電位を測定する。測定部２１９３は、電位を測定したデータを標準データまたは被検データとして、解析回路３へ出力する。本実施形態に係る測定部２１９３は、搬送機構２１９に設けられた接続部２１９４を介して、複数の端子３０３の電位を測定する。本実施形態に係る測定部２１９３は、例えば、搬送機構２１９に設けられている。

接続部２１９４は、搬送機構２１９に設けられ、測定部２１９３と電気的に接続されている接続端子である。具体的には、接続部２１９４の一端は、測定部２１９３と電気的に接続され、接続部２１９４の他端は、測定チップ３００に設けられた複数の端子３０３と接続可能となっている。この接続部２１９４は、ＩＳＥと参照電極との間の電位を測定するために、複数の接続端子を備えている。この接続部２１９４が備える接続端子の本数は、測定チップ３００の複数の端子３０３の本数に対応している。本実施形態に係る接続部２１９４は、ＩＳＥ３０３１～３０３３と参照電極３０３４と接続するために、４本の接続端子を備えている。

吸引機構２１９５は、搬送機構２１９に設けられ、搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００に試料又は混合液を吸引する機構である。この吸引機構２１９５は、例えば、中空部と有するシリンダと中空部に連通するプランジャとからなるシリンジポンプや、シリンダ等である。この図２に示す例においては、吸引機構２１９５は、シリンジポンプである。本実施形態に係る吸引機構２１９５は、シリンダとしての測定チップ被装着部２１９１の中空部をプランジャが上下に動作することにより、試料又は混合液を吸引する。プランジャには、例えば、測定チップ被装着部２１９１の中空部を上上下に動作させる機構（図示しない）が接続されている。なお、吸引機構２１９５の構成はこれに限られない。すなわち、吸引機構２１９５の構成は任意であり、例えば、吸引機構２１９５は、一端にシリンジポンプや真空ポンプが接続され、他端が搬送機構２１９の先端に取り付けられたチューブにより構成されてもよい。吸引機構２１９５は、本実施形態における吸引部に相当している。

測定チップ取外し機構２１９６は、測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００を、測定チップ被装着部２１９１から取り外すための機構である。この測定チップ取外し機構２１９６は、測定チップ取外し機構２１９６を上下に動作させる機構（図示しない）に接続されている。このため図５に示す例において、測定チップ取外し機構２１９６は、測定チップ被装着部２１９１に対して、上下動可能である。

加温部２１９７は、測定チップ３００に収容された試料又は混合液を加温する。この加温部２１９７は、温度センサ２１９８の測定結果に基づいて、制御回路９により制御される。図２に示す例において、加温部２１９７は、測定チップ被装着部２１９１に取り付けられており、測定チップ被装着部２１９１を介して、測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００の試料又は混合液を加温する。本実施形態において、加温部２１９７は、例えば、ヒータなどである。

温度センサ２１９８は、測定チップ３００に収容された試料又は混合液の温度を測定するためのセンサである。図２に示すように、本実施形態に係る温度センサ２１９８は、測定チップ被装着部２１９１の先端に取り付けられている。この温度センサ２１９８の測定結果は、制御回路９に出力される。

図６は、本実施形態に係る搬送機構２１９における測定チップ３００の搬送経路及び搬送経路上の各位置を説明する説明図である。図６に示すように、本実施形態に係る搬送機構２１９の搬送経路ＴＰ１上の各位置には、供給位置Ｐ１１と、反応容器位置Ｐ１２と、廃棄位置Ｐ１３とが設けられる。本実施形態に係る搬送機構２１９は、制御回路９の制御に従い、供給位置Ｐ１１、反応容器位置Ｐ１２、廃棄位置Ｐ１３の順に、搬送経路ＴＰ１である回動軌道上の各位置へ測定チップ３００を搬送する。

供給位置Ｐ１１は、上述したとおり、測定チップ３００が供給される位置である。本実施形態に係る供給位置Ｐ１１は、搬送機構２１９の搬送経路ＴＰ１である回動軌道と、供給レール２１８１上における測定チップ３００の移動軌道とが交差する位置に設けられる。

反応容器位置Ｐ１２は、反応容器２０１１に収容された試料又は混合液を測定チップ３００に吸引する位置である。本実施形態に係る反応容器位置Ｐ１２は、搬送機構２１９の搬送経路ＴＰ１である回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道とが交差する位置に設けられる。

廃棄位置Ｐ１３は、測定チップ３００を廃棄部２２０に廃棄する位置である。本実施形態に係る廃棄位置Ｐ１３は、搬送機構２１９の搬送経路ＴＰ１である回動軌道と、廃棄部２２０の中心から上方に伸びる線分とが交差する位置に設けられる。

図２に戻り、廃棄部２２０は、測定が完了した測定チップ３００が廃棄される。本実施形態において、廃棄部２２０は、廃棄測定チップ収容部２２０１を備えている。この廃棄測定チップ収容部２２０１は、測定が完了して廃棄される測定チップ３００が収容される。本実施形態に係る廃棄測定チップ収容部２２０１は、搬送機構２１９に装着された測定チップ３００が廃棄可能なように、廃棄位置Ｐ１３の直下に設けられている。

第２検知部２２１は、廃棄部２２０に廃棄された測定チップ３００の量を検知する。具体的には、第２検知部２２１は、廃棄測定チップ収容部２２０１に収容された測定チップ３００の量を検知する。この第２検知部２２１は、廃棄部における廃棄測定チップ収容部２２０１又は廃棄測定チップ収容部２２０１の近傍に設けられる。第２検知部２２１は、例えば、光学センサや重量センサ、光学カメラ等である。この第２検知部２２１の検知結果は、制御回路９に出力される。

図７は、本実施形態に係る分析機構２において、測定チップ３００が搬送機構２１９に装着されてから廃棄されるまでの一連の流れを説明する説明図である。まず、図７（ａ）に示すように、測定チップ３００は、供給位置Ｐ１１において、搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１に装着される。この測定チップ３００が搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１に装着されるとき、本実施形態に係る測定チップ３００の複数の端子３０３は、接続部２１９４に接続される。次に、図７（ｂ）に示すように、反応容器位置Ｐ１２において、測定チップ３００の吸引口３０２は、反応容器２０１１に収容された試料又は混合液に接触する。そして、測定チップ３００は、吸引機構２１９５により、吸引口３０２から試料又は混合液を吸引する。次に、図７（ｃ）に示すように、測定チップ３００において、吸引口３０２から吸引された試料又は混合液が複数の端子３０３に接触する。これにより、測定部２１９３は、搬送機構２１９に設けられた接続部２１９４を介して、複数の端子３０３の電位を測定する。そして、図７（ｄ）に示すように、測定部２１９３による測定が完了した測定チップ３００は、廃棄位置Ｐ１３において、測定チップ取外し機構２１９６により取り外されて、廃棄部２２０に廃棄される。

図１に戻り、図１に示される制御回路９は、記憶回路８に記憶されている制御プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路９は、制御プログラムを実行することで、システム制御機能９１と、温度制御機能９２と、搬送制御機能９３と、第１報告機能９４と、第２報告機能９５とを有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能９１と、温度制御機能９２と、搬送制御機能９３と、第１報告機能９４と、第２報告機能９５とが実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより、これらの各種機能を実現しても構わない。

なお、図１に示したシステム制御機能９１と、温度制御機能９２と、搬送制御機能９３と、第１報告機能９４と、第２報告機能９５とは、それぞれ、本実施形態におけるシステム制御部、温度制御部、搬送制御部、第１報告部、第２報告部に相当している。

システム制御機能９１は、入力インターフェース５から入力される入力情報に基づき、自動分析装置１における各部を統括して制御する機能である。例えば、システム制御機能９１において制御回路９は、駆動機構４及び分析機構２を制御することにより、サンプル分注アーム２０６や第１試薬分注アーム２０８を制御して、反応容器２０１１に試料や試薬、希釈液を分注したり、測定チップ３００に試料又は混合液を吸引したりする。また、本実施形態に係るシステム制御機能９１は、測定チップ送り出し機構２１８２や位置決め機構２１８３を制御する。また、システム制御機能９１は、検査項目に応じた解析を実施するように解析回路３を制御する。

温度制御機能９２は、測定チップ３００、測定チップ３００に収容された試料、及び、測定チップ３００に収容された混合液の少なくとも一つの温度を制御する。本実施形態に係る温度制御機能９２は、温度センサ２１９８の測定結果に基づいて、加温部２１９７を制御して、測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００の温度を制御する。これにより、温度制御機能９２は、測定チップ３００に収容された試料又は混合液の温度が所定の温度となるようにする。ここで所定の温度とは、例えば、３７℃である。なお、所定の温度は３７℃に限られない。すなわち、所定の温度は任意であり、３７℃以上であってもよく、３７℃以下であってもよい。

搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御することにより、搬送機構２１９を制御する。本実施形態に係る搬送制御機能９３は、搬送機構２１９における搬送アーム２１９２の鉛直方向への上下動、及び、水平方向への回動を制御する。具体的には、搬送制御機能９３は、搬送機構２１９を制御して、測定チップ３００を搬送経路ＴＰ１の各位置に搬送させる。

第１報告機能９４は、第１検知部２１７の検知結果に基づいて、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００の残量が所定の残量以下の場合にユーザに報告する。本実施形態に係る第１報告機能９４は、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００の残量が所定の残量以下である場合に、出力インターフェース６又は通信インターフェース７を介して、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００の残量が所定の残量以下である旨をユーザに報告する。

第２報告機能９５は、第２検知部２２１の検知結果に基づいて、廃棄部２２０に廃棄された測定チップ３００の量が所定の量以上の場合にユーザに報告する。具体的には、第２報告機能９５は、第２検知部２２１の検知結果に基づいて、廃棄測定チップ収容部２２０１に収容された測定チップ３００の量が所定の量以上の場合にユーザに報告する。本実施形態に係る第２報告機能９５は、廃棄測定チップ収容部２２０１に収容された測定チップ３００の量が所定の量以上の場合に、出力インターフェース６又は通信インターフェース７を介して、廃棄測定チップ収容部２２０１に収容された測定チップ３００の量が所定の量以上である旨をユーザに報告する。

また、図１に示される解析回路３は、記憶回路８に記憶されている動作プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、解析回路３は、動作プログラムを実行することで、検量データ生成機能３１及び分析データ生成機能３２を実現する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによって検量データ生成機能３１、及び分析データ生成機能３２が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて解析回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することにより検量データ生成機能３１、及び分析データ生成機能３２を実現するようにしてもよい。

検量データ生成機能３１は、分析機構２で生成された標準データに基づいて検量データを生成する機能である。具体的には、解析回路３は、分析機構２で生成された標準データを受信すると、検量データ生成機能３１を実行する。検量データ生成機能３１を実行すると解析回路３は、異なる複数の濃度の標準試料に関する吸光度を含む測定データである標準データに基づいて、検量線を生成する。この生成された検量線は、検量データとして記憶回路８に記憶される。

分析データ生成機能３２は、分析機構２で生成された被検データを解析することで分析データを生成する機能である。具体的には、解析回路３は、分析機構２で生成された被検データを受信すると、分析データ生成機能３２を実行する。分析データ生成機能３２を実行すると解析回路３は、検量線に関する情報を含む検量データを記憶回路８から読み出す。解析回路３は、これら被検データ及び検量データに基づき、被検試料の検出対象の濃度に関する情報を含む分析データを生成する。

本実施形態に係る分析データ生成機能３２は、測定部２１９３から、被検データとして、測定部２１９３により測定された電位のデータを取得した場合、測定部２１９３により測定された電位に基づいて、測定チップ３００に収容された試料又は混合液の対象物質の濃度を算出する。具体的には、分析データ生成機能３２は測定部２１９３により測定された電位と検量データに基づき、分析データとして、測定チップ３００に収容された試料又は混合液の対象物質の濃度を算出する。そして、分析データ生成機能３２は、算出結果を制御回路９に出力する。すなわち、解析回路３の分析データ生成機能３２は、試料又は混合液の対象物質の濃度を算出する際には、算出部として機能することが分かる。

次に、図８及び図９を参照して、電解質項目測定処理を説明する。図８は、本実施形態に係る自動分析装置１で実行される電解質項目測定処理の内容を説明するフローチャート図である。図９は、本実施形態に係る電解質項目測定処理における搬送機構２１９の動作例を説明する説明図である。この電解質項目測定処理では、測定チップ３００を用いて電解質項目を測定したり、測定が完了した測定チップ３００を廃棄したりする。例えば、この電解質項目測定処理は、電解質項目の測定が開始されるタイミングで実行される処理である。

まず、図８に示すように、本実施形態に係る自動分析装置１が実行する電解質項目測定処理においては、自動分析装置１は、搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１を供給位置Ｐ１１へ移動させる（ステップＳ１１）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御することにより、搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１を供給位置Ｐ１１へ移動させる。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００を位置決めする（ステップＳ１３）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９におけるシステム制御機能９１は、図９（ａ）に示すように、位置決め機構２１８３を供給位置Ｐ１１に供給された測定チップ３００にセットする。そして、システム制御機能９１は、供給位置Ｐ１１に供給された測定チップ３００を撮影する光学カメラ（図示しない）の撮影画像に基づいて、測定チップ３００の複数の端子３０３が、所定の位置になるように、位置決め機構２１８３を制御する。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００を装着する（ステップＳ１５）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、図９（ｂ）に示すように、駆動機構４を制御することより、測定チップ被装着部２１９１を下降して、測定チップ被装着部２１９１を測定チップ３００の装着部３０４に装着する。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００を反応容器位置Ｐ１２へ搬送する（ステップＳ１７）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、図９（ｃ）に示すように、駆動機構４を制御することにより、測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００を反応容器位置Ｐ１２へ搬送する。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、試料又は混合液を吸引する（ステップＳ１９）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、図９（ｄ）に示すように、駆動機構４を制御することにより、測定チップ３００を下降させる。そして、システム制御機能９１は、吸引機構２１９５を制御して、測定チップ３００に試料又は混合液を吸引する。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、温度を制御する（ステップＳ２１）。自動分析装置１の制御回路９における温度制御機能９２は、温度センサ２１８８の測定結果に基づいて、試料又は混合液の温度が所定の温度となるように、加温部２１８７を制御する。なお、ステップＳ１９において吸引された試料が又は混合液が所定の温度となっている場合、このステップＳ２１の処理を省略する。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、電位を測定する（ステップＳ２３）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９におけるシステム制御機能９１は、測定部２１９３に、接続部２１９４を介して、測定チップ３００の複数の端子３０３のそれぞれの電位を測定させる。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、対象物質の濃度を算出する（ステップＳ２５）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９におけるシステム制御機能９１は、解析回路３における分析データ生成機能３２を制御して、ステップＳ２３において測定された電位に基づいて、対象物質の濃度を算出させる。本実施形態においては、分析データ生成機能３２は、測定部２１９３により測定された電位に基づいて、ナトリウムイオン、カリウムイオン、塩素イオンの濃度を算出する。そして、分析データ生成機能３２は、算出結果を制御回路９に出力する。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、算出結果を出力する（ステップＳ２７）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９におけるシステム制御機能９１は、出力インターフェース６又は通信インターフェース７を介して、対象物質の濃度の算出結果を出力する。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００を廃棄位置Ｐ１３へ搬送する（ステップＳ２９）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、図９（ｅ）に示すように、駆動機構４を制御することにより、測定が完了した測定チップ３００を廃棄位置Ｐ１３へ搬送する。

次に、図８に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００を廃棄する（ステップＳ３１）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、測定チップ３００を廃棄部２２０に廃棄する。より具体的には、搬送制御機能９３は、廃棄位置Ｐ１３において、搬送アーム２１９２を制御して、測定チップ被装着部２１９１を降下させる。そして、搬送制御機能９３は、測定チップ取外し機構２１９６を制御して、測定チップ被装着部２１９１から測定チップ３００を取り外すことにより、測定チップ３００を廃棄測定チップ収容部２２０１に廃棄する。なお、ステップＳ３１において、搬送制御機能９３は、廃棄位置Ｐ１３において、搬送アーム２１９２を制御して、測定チップ被装着部２１９１を降下させることとしたが、搬送制御機能９３は、測定チップ被装着部２１９１を降下させなくてもよい。すなわち、搬送制御機能９３は、廃棄位置Ｐ１３において、測定チップ被装着部２１９１を降下させることなく、測定チップ取外し機構２１９６を制御して、測定チップ被装着部２１９１から測定チップ３００を取り外すことにより、測定チップ３００を廃棄測定チップ収容部２２０１に廃棄してもよい。

このステップＳ３１を実行することにより、本実施形態に係る電解質項目測定処理を終了する。

なお、上述した本実施形態に係る電解質項目測定処理においては、自動分析装置１は、ステップＳ２５において対象物質の濃度を算出し、ステップＳ２７において算出結果を出力した後に、ステップＳ２９において測定チップ３００を廃棄位置Ｐ１３へ搬送し、ステップＳ３１において測定チップ３００を廃棄することとしたが、ステップＳ２９及びステップＳ３１における測定チップ３００の廃棄動作を行うタイミングはこれに限られない。すなわち、ステップＳ２９及びステップＳ３１における測定チップ３００の廃棄動作を行うタイミングは任意であり、例えば、ステップＳ２３において電位を測定した後にステップＳ２９及びステップＳ３１における測定チップ３００の廃棄動作を行うようにしてもよい。この場合、ステップＳ２５における対象物質の濃度の算出及びステップＳ２７における算出結果の出力は、ステップＳ２９及びステップＳ３１における測定チップ３００の廃棄動作と並行して行われてもよく、ステップＳ２９及びステップＳ３１における測定チップ３００の廃棄動作が完了した後に行われてもよい。

図１０は、本実施形態に係る自動分析装置１で実行される残量報告処理の内容を説明するフローチャート図である。この残量報告処理では、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００の残量が所定の残量以下の場合、ユーザに報告する。例えば、この残量報告処理は、自動分析装置１の電源がＯＮとなっている間に実行される処理である。

図１０に示すように、まず、本実施形態に係る自動分析装置１が実行する残量報告処理においては、自動分析装置１は、第１検知部２１７の検知結果を取得する（ステップＳ４１）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における第１報告機能９４は、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００の残量の検知結果を取得する。

次に、図１０に示すように、自動分析装置１は、残量が所定の量以下であるか否かを判定する（ステップＳ４３）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における第１報告機能９４は、ステップＳ３１における第１検知部２１７の検知結果に基づいて、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００の残量が所定の残量以下であるか否かを判定する。

そして、ステップＳ４３において、測定チップ３００の残量が所定の残量以下でない場合（ステップＳ４３：Ｎｏ）、自動分析装置１は、第１検知部２１７の検知結果を取得して、測定チップ３００の残量が所定の残量以下となるまで、ステップＳ４１及びステップＳ４３を繰り返して待機する。

一方、ステップＳ４３において、測定チップ３００の残量が所定の残量以下である場合（ステップＳ４３：Ｙｅｓ）、自動分析装置１は、ユーザに報告する（ステップＳ４５）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における第１報告機能９４は、出力インターフェース６又は通信インターフェース７を介して、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００の残量が所定の残量以下である旨をユーザに報告する。このステップＳ４５を実行することにより、本実施形態に係る残量報告処理を終了する。

図１１は、本実施形態に係る自動分析装置１で実行される廃棄量報告処理の内容を説明するフローチャート図である。この廃棄量報告処理では、廃棄部２２０に廃棄された測定チップ３００の量が所定の量以上の場合、ユーザに報告する。例えば、この廃棄量報告処理は、自動分析装置１の電源がＯＮとなっている間で実行される処理である。

図１１に示すように、まず、本実施形態に係る自動分析装置１が実行する廃棄量報告処理においては、自動分析装置１は、第２検知部２２１の検知結果を取得する（ステップＳ５１）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における第２報告機能９５は、廃棄部２２０に廃棄された測定チップ３００の量の検知結果を取得する。

次に、図１１に示すように、自動分析装置１は、廃棄された測定チップ３００の量が所定の量以上であるか否かを判定する（ステップＳ５３）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における第２報告機能９５は、ステップＳ５１における第２検知部２２１の検知結果に基づいて、廃棄部２２０に廃棄された測定チップ３００の量が所定の量以上であるか否かを判定する。

そして、ステップＳ５３において、廃棄された測定チップ３００の量が所定の量以上でない場合（ステップＳ５３：Ｎｏ）、自動分析装置１は、第２検知部２２１の検知結果を取得して、廃棄部２２０に廃棄された測定チップ３００の量が所定の量以上となるまで、ステップＳ５１及びステップＳ５３を繰り返して待機する。

一方、ステップＳ５３において、廃棄された測定チップ３００の量が所定の量以上である場合（ステップＳ５３：Ｙｅｓ）、自動分析装置１は、ユーザに報告する（ステップＳ５５）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における第２報告機能９５は、廃棄部２２０に廃棄された測定チップ３００の量が所定の量以上である旨をユーザに報告する。このステップＳ５５を実行することにより、本実施形態に係る廃棄量報告処理を終了する。

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置１によれば、電解質項目を測定する際に、使い捨ての測定チップ３００を搬送機構２１９により搬送して、測定チップ３００に試料又は混合液を吸引し、測定チップ３００に設けられた複数の端子３０３により吸引された試料又は混合液の電位を測定し、測定された電位に基づいて対象物質の濃度を算出することとしたので、電解質項目を測定する毎に、搬送機構２１９の洗浄が不要となる。この結果、電解質項目を測定する場合において、スループットを向上することができる。

また、本実施形態に係る自動分析装置１は、試料又は混合液を測定チップ３００に収容した状態で、測定部２１９３が複数の端子３０３の電位の測定を行うこととしたので、搬送機構２１９に試料又は混合液が接触しない。この結果、キャリーオーバーの発生を低減することができる。

さらに、本実施形態に係る自動分析装置１は、搬送機構２１９に試料又は混合液が接触しないので、搬送機構２１９を洗浄するための洗浄ユニットが不要となる。この結果、自動分析装置１を小型化することができる。

〔第２実施形態〕
上述した第１実施形態に係る測定チップ３００においては、測定チップ３００内に試料又は混合液を保持する保持部を備えることも可能である。以下、上述した第１実施形態に本変形例を適用した場合を例に第２実施形態として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。

図１２は、第２実施形態に係る測定チップの構成の一例を示す図であり、上述した第１実施形態における図３に対応する図である。図１２に示すように、本実施形態に係る測定チップ３００ａは、チップ本体３０１と、吸引口３０２と、複数の端子３０３と、装着部３０４とに加えて、保持部３０５とを備えて構成されている。保持部３０５以外の構成は、上述した第１実施形態と同等であるため説明を省略する。この本実施形態に係る測定チップ３００ａと、この測定チップ３００ａに収容された試料又は混合液を用いて、試料を分析する自動分析装置１とは、本実施形態に係る自動分析システムを構成している。

保持部３０５は、チップ本体３０１に設けられ、吸引口３０２から吸引された試料又は混合液を保持する。この保持部３０５は、例えば、紙やスポンジなどの海綿体でからなる。また、保持部３０５の少なくとも一部は、複数の端子３０３と接触している。なお、保持部３０５の材質は、紙やスポンジに限られない。すなわち、保持部３０５の材質は任意であり、試料又は混合液を保持できる部材であればよい。

図１３は、本実施形態に係る分析機構２において、測定チップ３００ａが搬送機構２１９に装着されてから廃棄されるまでの一連の流れを説明する説明図であり、上述した第１実施形態における図７に対応する図である。まず、図１３（ａ）に示すように、測定チップ３００ａは、供給位置Ｐ１１において、搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１に装着される。この測定チップ３００ａが搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１に装着されるとき、本実施形態に係る測定チップ３００ａの複数の端子３０３は、接続部２１９４に接続される。次に、図１３（ｂ）に示すように、反応容器位置Ｐ１２において、測定チップ３００ａの吸引口３０２は反応容器２０１１に収容された試料又は混合液に接触する。そして、測定チップ３００ａは、吸引機構２１９５により、吸引口３０２から試料又は混合液を吸引する。次に、図１３（ｃ）に示すように、測定チップ３００ａにおいて、吸引口３０２から吸引された試料又は混合液は、測定チップ３００ａの保持部３０５に保持される。次に、図１３（ｄ）に示すように、測定チップ３００ａにおいて、保持部３０５に保持された試料又は混合液は、複数の端子３０３に接触する。これにより、測定部２１９３は、搬送機構２１９に設けられた接続部２１９４を介して、複数の端子３０３の電位を測定する。そして、図１３（ｅ）に示すように、測定部２１９３による測定が完了した測定チップ３００ａは、廃棄位置Ｐ１３において、測定チップ取外し機構２１９６により取り外されて、廃棄部２２０に廃棄される。

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置１によれば、測定チップ３００ａに保持部３０５を追加的に設けることとしたので、試料又は混合液が測定チップ３００ａから試料又は混合液が漏れ出す蓋然性を低減することができる。

また、本実施形態に係る自動分析装置１によれば、測定チップ３００ａの保持部３０５が試料又は混合液を保持するため、廃棄部２２０が試料又は混合液により汚染されるリスクや廃棄部２２０に収容された測定チップ３００ａをユーザが廃棄する際に、ユーザが感染するリスクを低減することができる。

なお、上述した第２実施形態においては、測定チップ３００ａの保持部３０５は、吸引口３０２から離間した位置に設けることとしたが、保持部３０５を吸引口３０２の近傍に設けるようにしてもよい。このように、保持部３０５を吸引口３０２の近傍に設けることにより、自動分析装置１は、保持部３０５を試料又は混合液に接触させて、試料又は混合液を吸引することができる。このため、自動分析装置１において、吸引機構２１９５が不要となるため、自動分析装置１を小型化することができる。

また、上述した第２実施形態においては、図１４に示すように、測定チップ３００の保持部３０５に連通口３０５１を設けるようにしてもよい。このように、連通口３０５１を設けることにより、吸引機構２１９５による試料又は混合液の吸引を容易にすることができる。

〔第３実施形態〕
上述した第１実施形態に係る測定チップにおいては、測定チップ自体が試料又は混合液を吸引できるようにすることにより、自動分析装置１の吸引機構２１９５を不要とすることも可能である。以下、上述した第１実施形態に本変形例を適用した場合を例に第３実施形態として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。

図１５は、第３実施形態に係る測定チップの構成の一例を示す図であり、上述した第１実施形態における図３に対応する図である。図１５に示すように、本実施形態に係る測定チップ３００ｂは、チップ本体３０１ａと、吸引口３０２ａと、複数の端子３０３ａと、装着部３０４ａと、を備える。この本実施形態に係る測定チップ３００ｂと、この測定チップ３００ｂに収容された試料又は混合液を用いて、試料を分析する自動分析装置１とは、本実施形態に係る自動分析システムを構成している。

チップ本体３０１ａは、試料又は、試料と反応させる試薬又は試料を希釈する希釈液を試料に混合した混合液を収容する。また、本実施形態に係るチップ本体３０１ａは、吸引口３０２ａを介して、毛細管現象により試料又は混合液を吸引する。そして、チップ本体３０１ａは、毛細管現象により吸引された試料又は混合液を収容する。

吸引口３０２ａは、チップ本体３０１ａに設けられた試料又は混合液を吸引するための開口である。本実施形態に係る吸引口３０２ａの開口において、毛細管現象が発生するように、その幅や径が決定される。

複数の端子３０３ａは、吸引口３０２ａの径方向に対して、複数の端子３０３ａの軸方向が垂直になるように、チップ本体３０１ａに設けられる。本実施形態に係る複数の端子３０３ａは、チップ本体３０１ａの内部に設けられる。その他の複数の端子３０３ａの構成は、上述した第１実施形態に係る複数の端子３０３と同等であるため説明を省略する。

装着部３０４ａは、分析機構２のおける搬送機構２１９にチップ本体３０１ａを装着するための部分である。本実施形態に係る装着部３０４ａは、詳しくは後述する本実施形態に係る測定チップ被装着部に挿入するためのチップ本体３０１ａの外壁である。このため、本実施形態に係る装着部３０４ａの外壁における外周の径は、本実施形態に係る測定チップ被装着部の内周の径と略等しい。そのため、本実施形態に係る測定チップ３００は、装着部３０４ａが測定チップ被装着部に挿嵌することにより、自動分析装置１の搬送機構２１９に装着される。

図１６は、本実施形態に係る搬送機構の構成の一例を示す図であり、上述した第１実施形態における図５に対応する図である。図１６に示すように、本実施形態に係る搬送機構２１９ａは、測定チップ被装着部と、測定チップ取外し機構とが、第１実施形態異なるため、本実施形態においては、測定チップ被装着部２１９１ａと、測定チップ取外し機構２１９６ａと表記する。また、本実施形態に係る搬送機構２１９ａは、測定チップ３００ｂが毛細管現象により試料又は混合液を吸引するため、吸引機構２１９５が備えられていない。なお、測定チップ被装着部２１９１ａと、測定チップ取外し機構２１９６ａと、吸引機構２１９５以外の構成及び機能は、上述した第１実施形態における図５と同様であるので、説明を省略する。

測定チップ被装着部２１９１ａには、測定チップ３００ｂが装着される。本実施形態に係る測定チップ被装着部の内周の径は、本実施形態に係る装着部３０４ａの外壁における外周の径と略等しい。本実施形態に係る測定チップ被装着部２１９１ａを測定チップ３００ｂの装着部３０４ａに挿入することにより、測定チップ被装着部２１９１ａに、測定チップ３００ｂが挿嵌される。これにより、本実施形態に係る測定チップ被装着部２１９１ａは、測定チップ３００ｂを装着する。

測定チップ取外し機構２１９６ａは、測定チップ被装着部２１９１ａに取り付けられた測定チップ３００ｂを取り外すための機構である。本実施形態に係る測定チップ取外し機構２１９６ａは測定チップ被装着部２１９１ａの内側に設けられている。

図１７は、本実施形態に係る分析機構２において、測定チップ３００ｂが搬送機構２１９に装着されてから廃棄されるまでの一連の流れを説明する図であり、上述した第１実施形態における図７に対応する図である。まず、図１７（ａ）に示すように、測定チップ３００ｂは、供給位置Ｐ１１において、搬送機構２１９ａの測定チップ被装着部２１９１ａに装着される。この測定チップ３００ｂが搬送機構２１９ａの測定チップ被装着部２１９１ａに装着されるとき、本実施形態に係る測定チップ３００ｂの複数の端子３０３ａは、接続部２１９４に接続される。次に、図１３（ｂ）に示すように、反応容器位置Ｐ１２において、測定チップ３００の吸引口３０２は、反応容器２０１１に収容された試料又は混合液に接触する。このとき、測定チップ３００ｂのチップ本体３０１ａは、吸引口３０２ａを介して、毛細管現象により試料又は混合液を吸引する。次に、図１７（ｃ）に示すように、測定チップ３００ｂにおいて、吸引口３０２ａから吸引された試料又は混合液が複数の端子３０３ａに接触する。これにより、測定部２１９３は、搬送機構２１９ａに設けられた接続部２１９４を介して、複数の端子３０３ａの電位を測定する。そして、図１３（ｄ）に示すように、測定部２１９３による測定が完了した測定チップ３００ｂは、廃棄位置Ｐ１３において、測定チップ取外し機構２１９６ａにより取り外されて、廃棄部２２０に廃棄される。

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置１によれば、測定チップ３００ｂが、毛細管現象により試料又は混合液を吸引できるため、搬送機構２１９ａの吸引機構２１９５は不要となる。そのため、自動分析装置１を小型化することができる。

〔変形例１〕
上述した第２及び第３実施形態に係る自動分析装置１においては、複数の端子３０３ａ、３０３ｂと測定部２１９３とを接続するために、搬送機構２１９に接続部２１９４を設けることとしたが、搬送機構２１９に接続部を設けることなく、複数の端子と測定部とを接続するようにしてもよい。以下、上述した第２実施形態に本変形例を適用した場合を例に変形例１として、上述した第２実施形態と異なる部分を説明する。

図１８は、変形例１に係る分析機構２の構成の一例を示す図であり、上述した第２実施形態の分析機構２と同等の第１実施形態の分析機構２の構成を示す図２に対応する図である。この図１８に示すように、変形例１に係る分析機構２は、上述した第２実施形態に係る分析機構２に対して、測定チップ設置部２２２を追加することにより構成されている。また、搬送機構及び廃棄部が第２実施形態と異なるため、本変形例においては、搬送機構２１９ｂ、及び、廃棄部２２０ａと表記する。測定チップ設置部２２２、搬送機構２１９ｂ、及び、廃棄部２２０ａ以外の構成及び機能は、上述した第２実施形態の分析機構２と同等の第１実施形態の分析機構２における図２と同等であるため説明を省略する。

図１９は、本変形例に係る測定チップの構成の一例を示す図であり、上述した第２実施形態における図１２に対応する図である。図１９に示すように、本変形例１に係る測定チップ３００ｃは、複数の端子が第２実施形態と異なるため、本変形例においては、複数の端子３０３ｂと表記する。この複数の端子３０３ｂ以外の構成及び機能は、上述した第２実施形態における図１２と同等であるため、説明を省略する。この変形例に係る測定チップ３００ｃと、この測定チップ３００ｃに収容された試料又は混合液を用いて、試料を分析する自動分析装置１とは、本変形例に係る自動分析システムを構成している。

複数の端子３０３ｂは、チップ本体３０１に設けられ、吸引口３０２から吸引された試料又は混合液の対象物質を測定する。本変形例に係る複数の端子３０３ｂは、複数の端子３０３ｂのそれぞれの一端がチップ本体３０１の外壁から外部に露出し、吸引口３０２の径方向に対して、複数の端子３０３それぞれの軸方向が平行になるように、チップ本体３０１に設けられる。また、本変形例に係る複数の端子３０３ｂは、複数の端子３０３ｂのそれぞれが、保持部３０５と接触するように設けられている。具体的には、複数の端子３０３ｂは、チップ本体３０１の内壁に設けられる。その他の複数の端子３０３ｂの構成は、上述した第２実施形態に係る複数の端子と同等の第１実施形態に係る複数の端子３０３と同等であるため説明を省略する。

図２０は、本変形例に係る搬送機構の構成の一例を示す図であり、上述した第２実施形態の吸引機構２１９５と同等の第１実施形態の吸引機構２１９５における図５に対応する図である。図２０に示すように、本変形例に係る搬送機構２１９ｂは、測定部２１９３と、接続部２１９４が備えられていない点で第２実施形態と異なる。この測定部２１９３及び接続部２１９４以外の構成及び機能は、上述した第２実施形態の吸引機構２１９５と同等の第１実施形態の吸引機構における図５と同等であるため説明を省略する。

本変形例に係る搬送機構２１９ｂは、搬送機構２１９ｂの測定チップ被装着部２１９１及び測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００ｃが搬送経路を通るように、供給部２１８から測定チップ設置部２２２へ測定チップ３００ｃを搬送する。この測定チップ被装着部２１９１に装着された測定チップ３００ｃの搬送経路は、例えば、搬送アーム２１９２の一端の中心とする回動に伴う円弧上の回動軌道上に形成される。なお、搬送機構２１９ｂにおける測定チップ３００ｃの搬送経路は、任意である。例えば、搬送機構２１９ｂにおける測定チップ３００ｃの搬送経路は、楕円状の軌道上に形成されてもよく、特定の形状を有しない搬送経路であってもよい。この搬送機構２１９ｂは、本変形例における搬送部に相当している。

廃棄部２２０ａは、測定が完了した測定チップ３００ｃを廃棄する。本変形例において、廃棄部２２０ａは、廃棄測定チップ収容部２２０１と、廃棄測定チップ搬送機構２２０２とを備えている。廃棄測定チップ収容部２２０１の構成は、上述した第２実施形態の廃棄測定チップ収容部２２０１と同等の第１実施形態の廃棄測定チップ収容部２２０１と同等であるため、説明を省略する。

廃棄測定チップ搬送機構２２０２は、測定が完了した測定チップ３００ｃを、測定チップ設置部２２２から廃棄測定チップ収容部２２０１まで搬送する。本変形例に係る廃棄測定チップ搬送機構２２０２は、廃棄測定チップ被装着部２２０２＿１と廃棄測定チップ搬送アーム２２０２＿２と、廃棄測定チップ取外し機構２２０２＿３を備えて構成されている。

廃棄測定チップ被装着部２２０２＿１には、測定が完了した測定チップ３００ｃが装着される。廃棄測定チップ搬送アーム２２０２＿２は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。廃棄測定チップ取外し機構２２０２＿３は、廃棄測定チップ被装着部２２０２＿１に取り付けられた測定チップ３００ｃを取り外すための機構である。この廃棄測定チップ取外し機構２２０２＿３は、廃棄測定チップ取外し機構２２０２＿３を上下に動作させる機構（図示しない）に接続されている。この図１８に示す例において、廃棄測定チップ取外し機構２２０２＿３は、廃棄測定チップ被装着部２２０３＿１に対して、上下動可能に設けられている。

なお、廃棄測定チップ搬送機構２２０２の構成は、廃棄測定チップ被装着部２２０２＿１と廃棄測定チップ搬送アーム２２０２＿２と、廃棄測定チップ取外し機構２２０２＿３とを備える場合に限られない。すなわち、廃棄測定チップ搬送機構２２０２の構成は任意であり、例えば、測定チップ３００ｃを把持することにより、測定チップ設置部２２２から廃棄測定チップ収容部２２０１まで搬送するような構成であってもよい。

測定チップ設置部２２２は、搬送機構２１９ｂの搬送経路上に設けられ、測定チップ３００ｃの複数の端子３０３ｂと接続するための後述する接続部が設けられた、測定チップ３００ｃを設置するための台である。

図２１は本変形例に係る分析機構２が備える測定チップ設置部２２２の構成の一例を示す図である。図２１に示すように、測定チップ設置部２２２は、測定チップ載置部２２２１と、接続部２２２２と、測定部２２２３とを備えて構成されている。測定チップ載置部２２２１は、搬送機構２１９ｂにより搬送された測定チップ３００ｃを載置する。

接続部２２２２は、測定チップ設置部２２２に設けられ、測定部２２２３と電気的に接続されている接続端子である。具体的には、接続部２２２２の一端は、測定部２２２３と電気的に接続され、接続部２２２２の他端は、測定チップ３００ｃに設けられた複数の端子３０３ｂと接続可能となっている。この接続部２１９４は、ＩＳＥと参照電極との間の電位を測定するために、複数の接続端子を備えている。この接続部２２２２が備える接続端子の本数は、測定チップ３００ｃの複数の端子３０３ｂの本数に対応している。本変形例に係る接続部２２２２は、ＩＳＥ３０３１～３０３３と参照電極３０３４と接続するために、４本の接続端子を備えている。

測定部２２２３は、搬送機構２１９ｂで搬送された測定チップ３００ｃに設けられた複数の端子３０３ｂの電位を測定する。本変形例に係る測定部２２２３は、測定チップ設置部２２２に設けられた接続部２２２２を介して、複数の端子３０３ｂの電位を測定する。

図２２は、本変形例に係る搬送機構２１９ｂ及び廃棄測定チップ搬送機構２２０２における測定チップ３００ｃの搬送経路及び搬送経路上の各位置の一例を説明する説明図であり、上述した第２実施形態の搬送経路と同等の第１実施形態の搬送経路を示す図６に対応する図である。図２２に示すように、本変形例に係る搬送経路上の各位置は、上述した第１実施形態に係る搬送経路上の各位置に対して、測定チップ設置位置Ｐ１４を追加することにより、構成されている。また、廃棄位置が第１実施形態と異なるため、本変形例においては、廃棄位置Ｐ１３ａと表記する。本変形例においては、廃棄位置Ｐ１３ａ及び測定チップ設置位置Ｐ１４以外の構成は、上述した第１実施形態における図６と同等であるため説明を省略する。

廃棄位置Ｐ１３ａは、測定チップ３００ｃを廃棄する位置である。本変形例に係る廃棄位置Ｐ１３ａは、廃棄測定チップ搬送機構２２０２の搬送経路ＴＰ２である回動軌道と、廃棄測定チップ収容部の中心から上方に伸びる線分とが交差する位置に設けられる。つまり、廃棄位置のＰ１３ａの直下には、廃棄測定チップ収容部２２０１が備えられる。

測定チップ設置位置Ｐ１４は、測定チップ３００ｃを測定チップ設置部２２２に設置する位置である。本変形例に係る測定チップ設置位置Ｐ１４は、搬送機構２１９ｂの搬送経路ＴＰ１ａである回動軌道上と、廃棄測定チップ搬送機構２２０２の搬送経路ＴＰ２が交差する位置に設けられる。

図２３は、本変形例に係る分析機構２において、測定チップ３００ｃが搬送機構２１９ｂに装着されてから廃棄されるまでの一連の流れを説明する説明図であり、上述した第２実施形態と同等の第１実施形態の図７に対応する図である。まず、図２３（ａ）に示すように、測定チップ３００ｃは、供給位置Ｐ１１において、搬送機構２１９ｂの測定チップ被装着部２１９１に装着される。次に、図２３（ｂ）に示すように、反応容器位置Ｐ１２において、測定チップ３００ｃの吸引口３０２は反応容器２０１１に収容された試料又は混合液に接触する。そして、測定チップ３００ｃは、吸引機構２１９５により、吸引口３０２から試料又は混合液を吸引する。次に、図２３（ｃ）に示すように、測定チップ３００ｃにおいて、吸引口３０２から吸引された試料又は混合液は、測定チップ３００ｃの保持部３０５に保持される。次に、図２３（ｄ）に示すように、測定チップ３００ｃにおいて、保持部３０５に保持された試料又は混合液は、複数の端子３０３ｂに接触する。次に、図２３（ｅ）に示すように、測定チップ３００ｃは、測定チップ設置位置Ｐ１４に搬送される。図２３（ｆ）に示すように、測定チップ設置位置Ｐ１４において、測定チップ３００ｃは、測定チップ取外し機構２１９６により取り外されて、測定チップ設置部２２２に設置される。これにより、測定チップ３００ｃの複数の端子３０３ｂと、接続部２２２２とが接続されるため、測定部２２２３は、測定チップ設置部２２２に設けられた接続部２２２２を介して、複数の端子３０３ｂの電位を測定する。そして、測定部２２２３による測定が完了した測定チップ３００ａは、廃棄測定チップ搬送機構２２０２により廃棄位置Ｐ１３ａに搬送され、廃棄測定チップ収容部２２０１に収容される。

図２４は、本変形例に係る自動分析装置１で実行される電解質項目測定処理の内容を説明するフローチャート図であり、第２実施形態と同等の第１実施形態における図８に対応する図である。この電解質項目測定処理では、測定チップ３００ｃを用いて電解質項目を測定したり、測定が完了した測定チップ３００ｃを廃棄したりする。例えば、この電解質項目測定処理は、電解質項目の測定が開始されるタイミングで実行される処理である。なお、ステップＳ２１までの処理は、上述した第１実施形態と同等であるため説明を省略する。

次に、図２４に示すように、自動分析装置１は、測定チップ設置位置Ｐ１４へ測定チップ３００ｃを搬送する（ステップＳ６１）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御することにより、測定チップ設置位置Ｐ１４へ測定チップ３００ｃを搬送する。

次に、図２４に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００ｃを設置する（ステップＳ６３）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御することにより、測定チップ設置部２２２に、測定チップ３００ｃを設置する。より具体的には、搬送制御機能９３は、測定チップ設置位置Ｐ１４において、搬送アーム２１９２を降下させて、測定チップ設置部２２２に、測定チップ３００ｃを載置する。そして、搬送制御機能９３は、測定チップ取外し機構２１９６を制御して、測定チップ３００ｃを測定チップ被装着部２１９１から取り外す。

次に、図２４に示すように、自動分析装置１は、電位を測定する（ステップＳ６５）。具体的には自動分析装置１の制御回路９におけるシステム制御機能９１は、測定部２２２３に、接続部２２２２を介して、測定チップ３００ｃの複数の端子３０３ｂのそれぞれの電位を測定させる。なお、ステップＳ６５における電位の測定は、測定チップ設置部２２２に測定チップ３００ｃを設置したタイミングで行われる場合に限られない。例えば、測定チップ設置部２２２に測定チップ３００ｃを設置した後、所定のタイミングで、測定チップ設置部２２２に設けられた接続部２２２２と複数の端子３０３ｂとを電気的に接続させて、ステップＳ６５における電位の測定が行われるようにしてもよい。また、ステップＳ６５の後のステップＳ２５及びステップＳ２７の処理は、上述した第１実施形態の図８と同様であるため、説明を省略する。

そして、ステップＳ２５の後、図２４に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００ｃを廃棄位置Ｐ１３ａへ搬送する（ステップＳ６７）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、測定が完了した後、廃棄測定チップ搬送機構２２０２を制御して、測定チップ設置部２２２に設置された測定チップ３００ｃを、廃棄位置Ｐ１３ａへ搬送する。

次に、図２４に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００ｃを廃棄する（ステップＳ６９）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、測定チップ３００ｃを廃棄部２２０に廃棄する。より具体的には、搬送制御機能９３は、廃棄位置にＰ１３ａにおいて。廃棄測定チップ搬送機構２２０２を制御して、測定チップ３００ｃを廃棄測定チップ収容部２２０１に廃棄する。このステップＳ６９を実行することにより、本変形例に係る電解質項目測定処理を終了する。

なお、上述した本変形例に係る電解質項目測定処理においては、自動分析装置１は、ステップＳ２５において対象物質の濃度を算出し、ステップＳ２７において算出結果を出力した後に、ステップＳ６７において測定チップ３００ｃを廃棄位置Ｐ１３ａへ搬送し、ステップＳ６９において測定チップ３００ｃを廃棄することとしたが、ステップＳ６７及びステップＳ６９における測定チップ３００の廃棄動作を行うタイミングはこれに限られない。すなわち、ステップＳ６７及びステップＳ６９における測定チップ３００ｃの廃棄動作を行うタイミングは任意であり、例えば、ステップＳ２３において電位を測定した後に、ステップＳ６７及びステップＳ６９における測定チップ３００ｃの廃棄動作を行うようにしてもよい。この場合、ステップＳ２５における対象物質の濃度の算出及びステップＳ２７における算出結果の出力は、ステップＳ６７及びステップＳ６９における測定チップ３００ｃの廃棄動作と並行して行われてもよく、ステップＳ６７及びステップＳ６９における測定チップ３００ｃの廃棄動作が完了した後に行われてもよい。

以上のように、本変形例に係る自動分析装置１によれば、測定チップ３００ｃの搬送と、試料又は混合液の測定をそれぞれ別の機構で行うことができるため、搬送機構２１９ｂは、測定チップ３００ｃに収容された試料又は混合液の測定の完了を待つことなく、次の測定チップ３００ｃの搬送を行うことができる。この結果、電解質項目の測定において、スループットを向上することができる。

また、この変形例１は、第３実施形態においても適用することができる。また、測定チップ設置部２２２を用いて電位を測定する変形例１は、第１実施形態に適用されてもよい。この変形例１を第１実施形態に適用する場合にあっては、測定チップ３００を測定チップ被装着部２１９１から取り外すことなく、測定チップ設置部２２２に測定チップ３００を設置して、電位を測定し、廃棄部２２０まで搬送する必要がある。そのため、変形例１を第１実施形態に適用する場合にあっては、図２５に示すように、搬送機構２１９の搬送経路上に測定チップ設置位置Ｐ１４と、廃棄位置Ｐ１３とを設けることにより、測定チップ３００を測定チップ被装着部２１９１から取り外すことなく、測定チップ設置部２２２に測定チップ３００を設置し、電位の測定を行い、測定が完了した測定チップ３００を廃棄位置Ｐ１３に搬送するようにして、電解質項目測定処理が行われる。

なお、上述した変形例１においては、第２実施形態と同様に、搬送機構２１９が加温部２１９７及び温度センサ２１９８を備え、温度センサ２１９８の測定結果に基づいて、加温部２１９７を制御して、搬送機構２１９に装着された測定チップ３００ｃの試料又は混合液の温度を制御することとしたが、これに限られない。すなわち、加温部２１９７及び温度センサ２１９８を備える箇所は任意であり、例えば、測定チップ設置部２２２が加温部及び温度センサを備えるようにしてもよく、供給部２１８が加温部及び温度センサを備えるようにしてもよい。また、搬送機構２１９は加温部２１９７と温度センサ２１９８を備えることなく、温度制御機能９２は、恒温部２０２を制御することにより、反応容器２０１１に収容された試料又は混合液の温度を制御して、所定の温度の試料又は混合液を吸引させるようにしてもよい。

〔変形例２〕
上述した第２及び第３実施形態に係る自動分析装置１においては、搬送アーム２１９２を備えた搬送機構２１９により測定チップを搬送することとしたが、測定チップを装着可能とする回転テーブルを備えた搬送機構により、測定チップを搬送するようにすることも可能である。以下、上述した第２実施形態に変形例を適用した場合を例に変形例２として説明する。

図２６は、本変形例に係る分析機構２の構成の一例を示す図であり、上述した第２実施形態の分析機構と同等の第１実施形態の分析機構を示す図２に対応する図である。この図２６に示すように、変形例２に係る分析機構２は、上述した第２実施形態に係る分析機構２に対して、吸引ユニット２２３を追加することにより構成されている。また、供給部、搬送機構、廃棄部が第２実施形態と異なるため、本変形例においては、供給部２１８ａ、搬送機構２１９ｃ、及び、廃棄部２２０ｂと表記する。供給部２１８ａ、搬送機構２１９ｃ、廃棄部２２０ｂ及び吸引ユニット２２３以外の構成及び機能は、第２実施形態の分析機構と同等の第１実施形態の分析機構における図２と同等であるため説明を省略する。

供給部２１８ａは、測定チップ３００ａを供給する位置である供給位置に、貯留部２１６に貯留された測定チップ３００ａを供給する。この供給部２１８ａは、例えば、ベルトやスライダ、供給レール等により構成される。本変形例に係る供給部２１８ａは、供給レール２１８１、測定チップ送り出し機構２１８２と、位置決め機構２１８３ａとを備えている。なお、供給レール２１８１及び測定チップ送り出し機構２１８２の構成は、上述した第２実施形態の供給レール２１８１及び測定チップ送り出し機構２１８２と同等の第１実施形態の供給レール２１８１及び測定チップ送り出し機構２１８２と同等であるため、説明を省略する。

位置決め機構２１８３ａは、測定チップ３００ａの複数の端子３０３が吸引ユニット２２３に対して、所定の位置に位置決めされるように、測定チップ３００ａを回転させる機構である。具体的には、位置決め機構２１８３ａは、制御回路９の制御に従い、測定チップ３００ａの複数の端子３０３が、後述する吸引ユニット２２３の接続部に対応する位置に位置決めされるように、後述する位置決め位置に搬送された測定チップ３００ａを回転させる。また、位置決め機構２１８３ａは、位置決め位置の近傍に設けられている。なお、位置決め機構２１８３ａは、位置決めを行わないときは、退避位置に退避してもよく、位置決めが必要な場合に測定チップ３００ａの下方又は側方から移動してもよい。

搬送機構２１９ｃは、試料又は混合液を測定するための測定チップ３００ａを装着可能とし、測定チップ３００ａを搬送する。図２６に示すように、本変形例に係る搬送機構２１９ｃは、回転テーブル２１９９と、支持部２１９１０とを備えて構成されている。搬送機構２１９ｃは、本変形例における搬送部に相当している。

回転テーブル２１９９は、測定チップ３００ａを装着可能とし、測定チップ３００ａを所定の搬送経路に沿って搬送するように回転する。図２６に示すように、本変形例に係る回転テーブル２１９９には、測定チップ３００ａを装着するための測定チップ被装着孔２１９９＿１が設けられている。測定チップ被装着孔２１９９＿１には、測定チップ３００ａの外壁が装着される。すなわち、本変形例に係る測定チップ３００ａの装着部３０４は、チップ本体３０１の外壁である。図２６に示す例においては、４つの測定チップ被装着孔２１９９＿１が設けられているが、測定チップ被装着孔２１９９＿１の数はこれに限られない。すなわち、測定チップ被装着孔２１９９＿１の数は任意である。

支持部２１９１０は、回転テーブル２１９９を支持する。具体的には、支持部２１９１０は、回転テーブル２１９９を、回転自在に、かつ、上下動自在に支持している。また、この支持部２１９１０は、一端に回転テーブル２１９９が取り付けられ、他端は駆動機構４に接続されている。

本変形例に係る搬送機構２１９ｃは、回転テーブルの測定チップ被装着孔２１９９＿１及び測定チップ被装着孔２１９９＿１に装着された測定チップ３００ａが搬送経路を通るように、供給部２１８から廃棄部２２０ｂへ測定チップ３００ａを搬送する。この測定チップ被装着孔２１９９＿１に装着された測定チップ３００の搬送経路は、回転テーブル２１９９の支持部２１９１０を中心とする回動に伴う回動軌道上に形成される。

廃棄部２２０ｂは、測定が完了した測定チップ３００ａを廃棄する。図２に示すように、本変形例において、廃棄部２２０ｂは、廃棄測定チップ収容部２２０１と、廃棄ガイド２２０３とを備えている。廃棄測定チップ収容部２２０１の構成は、上述した第２実施形態の廃棄測定チップ収容部２２０１と同等の第１実施形態の廃棄測定チップ収容部２２０１と同等であるため、説明を省略する。

廃棄ガイド２２０３は、廃棄位置にＰ１３に搬送された測定チップ３００ａを測定チップ被装着孔２１９９＿１から取り外して、廃棄測定チップ収容部２２０１に収容させるためのガイド部材である。この廃棄ガイド２２０３は、廃棄測定チップ収容部２２０１の上方に設けられている。

吸引ユニット２２３は、搬送機構２１９ｃとは別途に設けられ、回転テーブル２１９９に装着された測定チップ３００ａに試料又は混合液を吸引する。本変形例に係る吸引ユニット２２３は、搬送機構２１９ｃ及び反応ディスク２０１の近傍に設けられ、反応容器位置Ｐ１２に搬送された測定チップ３００ａに試料又は混合液を吸引する。吸引ユニット２２３は本変形例における吸引部に相当している。

図２６及び図２７を参照して、本変形例に係る吸引ユニット２２３の構成を説明する。図２７は、本変形例に係る吸引ユニット２２３の構成の一例を示す図である。図２６及び図２７に示すように、吸引ユニット２２３は、測定チップ被取付部２２３１と、吸引アーム２２３２と、測定部２２３３と、接続部２２３４と、プランジャ２２３５と、測定チップ取外し機構２２３６と、加温部２２３７と、温度センサ２２３８とを備えて構成されている。

測定チップ被取付部２２３１は、測定チップ３００に試料又は混合液を吸引する際に測定チップ３００ａに取り付けられる。測定チップ被取付部２２３１は、吸引アーム２２３２の一端に設けられている。また、測定チップ被取付部２２３１の内部には、プランジャ２２３５を取り付けるための中空部２２３１＿１を有する。

吸引アーム２２３２は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在に設けられている。なお、図２６に示す吸引アーム２２３２は、１本の搬送アームから構成されているが、吸引アーム２２３２の本数はこれに限られない。すなわち、吸引アーム２２３２の本数は任意である。例えば、吸引アーム２２３２は、２以上の複数のアームから構成されてもよい。

測定部２２３３は、搬送機構２１９ｃで搬送された測定チップ３００ａに設けられた複数の端子３０３の電位を測定する。具体的には、測定部２２３３は、試料又は混合液について、ＩＳＥ３０３１～３０３３と参照電極３０３４との間の電位を測定する。測定部２２３３は、電位を測定したデータを標準データまたは被検データとして、解析回路３へ出力する。本変形例に係る測定部２２３３は、吸引ユニット２２３に設けられた接続部２２３４を介して、複数の端子３０３の電位を測定する。本変形例に係る測定部２２３３は、例えば、吸引ユニット２２３に設けられている。

接続部２２３４は、吸引ユニット２２３に設けられ、測定部２２３３と電気的に接続されている接続端子である。具体的には、接続部２２３４の一端は、測定部２２３３と電気的に接続され、接続部２２３４の他端は、測定チップ３００ａに設けられた複数の端子３０３と接続可能となっている。この接続部２２３４は、ＩＳＥと参照電極との間の電位を測定するために、複数の接続端子を備えている。この接続部２２３４が備える接続端子の本数は、測定チップ３００ａの複数の端子３０３の本数に対応している。本変形例に係る接続部２２３４は、ＩＳＥ３０３１～３０３３と参照電極３０３４と接続するために、４本の接続端子を備えている。

プランジャ２２３５は、測定チップ被取付部２２３１の中空部２２３１＿１に取り付けられる。このプランジャ２２３５が、中空部２２３１＿１内を上下に動作することにより、試料又は混合液を測定チップ３００ａに吸引することができる。

測定チップ取外し機構２２３６は、測定チップ被取付部２２３１に取り付けられた測定チップ３００ａを取り外すための機構である。図２７に示す例において、測定チップ取外し機構２２３６は、測定チップ取外し機構２２３６を上下に動作させる機構（図示しない）に接続されている。このため図２７に示す例において、測定チップ取外し機構２２３６は、測定チップ被取付部２２３１に対して、上下動可能である。

加温部２２３７は、測定チップ３００ａに収容された試料又は混合液を加温する。この加温部２２３７は、温度センサ２２３８の測定結果に基づいて、制御回路９により制御される。図２７に示す例において、加温部２２３７は、測定チップ被取付部２２３１に取り付けられており、測定チップ被取付部２２３１を介して、測定チップ被取付部２２３１に取り付けられた測定チップ３００ａの試料又は混合液を加温する。本変形例において、加温部２２３７は、例えば、ヒータなどである。

温度センサ２２３８は、測定チップ３００ａに収容された試料又は混合液の温度を測定するためのセンサである。図２７に示す例において、温度センサ２２３８は、測定チップ被取付部２２３１の先端に取り付けられている。この温度センサ２２３８の測定結果は、制御回路９に出力される。

図２８は、本変形例に係る搬送機構２１９ｃにおける測定チップ３００ａの搬送経路及び搬送経路上の各位置の一例を示す図であり、上述した第２実施形態の搬送経路と同等の第１実施形態の搬送経路を示す図６に対応する図である。図２８に示すように、本変形例に係る搬送経路ＴＰ４上の各位置は、上述した第１実施形態に係る搬送経路上の各位置に対して、位置決め位置Ｐ１５を追加することにより構成されている。本変形例においては、位置決め位置Ｐ１５以外の構成及び機能は、上述した第２実施形態の搬送経路と同等の第１実施形態の搬送経路を示す図６と同等であるため説明を省略する。

位置決め位置Ｐ１５は、位置決め機構２１８３ａにより測定チップ３００ａの位置決めが行われる位置である。本変形例に係る位置決め位置Ｐ１５は、搬送機構２１９ｃの回動軌道と、位置決め機構２１８３ａの中心から鉛直方向に延びる線分とが交差する位置に設けられる。

次に図２９及び図３０を参照して、本変形例に係る電解質項目測定処理を説明する。図２９は、本変形例に係る自動分析装置１で実行される電解質項目測定処理の内容を説明するフローチャート図であり、第２実施形態と同等の第１実施形態における図８に対応する図である。図３０は、本変形例に係る搬送機構２１９ｃの動作例を示す図であり、第２実施形態と同等の第１実施形態おける図９に対応する図である。この電解質項目測定処理では、測定チップ３００ａを用いて電解質項目を測定したり、測定が完了した測定チップ３００ａを廃棄したりする。例えば、この電解質項目測定処理は、電解質項目の測定が開始されるタイミングで実行される処理である。

まず、図２９に示すように、本変形例に係る自動分析装置１が実行する電解質項目測定処理においては、自動分析装置１は、測定チップ３００ａを装着する。（ステップＳ７１）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御することにより、回転テーブル２１９９の測定チップ被装着孔２１９９＿１に測定チップ３００ａを装着する。より具体的には、搬送制御機能９３は、回転テーブル２１９９を下降して、測定チップ３００ａを供給位置Ｐ１１に供給し、回転テーブル２１９９を上昇して、測定チップ３００ａの下方から、測定チップ３００ａを測定チップ被装着孔２１９９＿１に挿入する。これにより、図３０（ａ）に示すように、搬送制御機能９３は、測定チップ３００ａを測定チップ被装着孔２１９９＿１に装着する。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００ａを位置決め位置Ｐ１５に搬送する（ステップＳ７３）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御することにより、回転テーブル２１９９の測定チップ被装着孔２１９９＿１に装着された測定チップ３００ａを位置決め位置Ｐ１５に搬送する。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００ａを位置決めする（ステップＳ７５）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９におけるシステム制御機能９１は、位置決め位置Ｐ１５において、回転テーブル２１９９を降下して、位置決め機構に測定チップ３００ａをセットし、測定チップ３００ａを撮影する光学カメラ（図示しない）の撮影画像に基づいて、測定チップ３００ａの複数の端子３０３が、所定の位置になるように、位置決め機構２１８３ａを制御する。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００ａを反応容器位置Ｐ１２へ搬送する（ステップＳ７７）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御することにより、測定チップ被装着孔２１９９＿１に装着された測定チップ３００ａを反応容器位置Ｐ１２へ搬送する。より具体的には、搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御することにより、回転テーブル２１９９を回動する。これにより、図３０（ｂ）に示すように、搬送制御機能９３は、測定チップ被装着孔２１９９＿１に装着された測定チップ３００ａを反応容器位置Ｐ１２へ搬送する。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、搬送機構２１９ｃを降下する（ステップＳ７９）。自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、反応容器位置Ｐ１２において、駆動機構４を制御することにより、測定チップ被装着孔２１９９＿１に装着された測定チップ３００ａが反応容器２０１１に収容された試料又は混合液に接触するように、搬送機構２１９ｃの回転テーブル２１９９を降下する。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、吸引ユニット２２３を取り付ける（ステップＳ８１）。自動分析装置１の制御回路９におけるシステム制御機能９１は、反応容器位置Ｐ１２において、駆動機構４を制御することにより、吸引ユニット２２３を降下して、図３０（ｃ）に示すように、測定チップ被取付部２２３１を測定チップ３００ａに取り付ける。このとき、吸引ユニット２２３の接続部２２３４と、測定チップ３００ａの複数の端子３０３とも電気的に接続される。なお、このステップＳ８１の後のステップＳ１９の処理は、上述した第２実施形態の処理と同等の第１実施形態の処理と同等であるため説明を省略する。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、温度を制御する（ステップＳ８３）。自動分析装置１の制御回路９における温度制御機能９２は、温度センサ２２３８の測定結果に基づいて、試料又は混合液の温度が所定の温度となるように、加温部２２３７を制御する。なお、ステップＳ８１において吸引された試料が又は混合液が所定の温度となっている場合、このステップＳ８３の処理を省略する。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、電位を測定する（ステップＳ８５）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９におけるシステム制御機能９１は、測定部２２３３に、接続部２２３４を介して、測定チップ３００ａの複数の端子３０３のそれぞれの電位を測定させる。また、このステップＳ８３の後のステップＳ２５及びステップＳ２７の処理は、上述した第１実施形態の処理と同等であるため説明を省略する。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、吸引ユニット２２３を取り外す（ステップＳ８７）。自動分析装置１の制御回路９におけるシステム制御機能９１は、駆動機構４を制御することにより、反応容器位置Ｐ１２において、搬送機構２１９ｃの回転テーブル２１９９及び吸引ユニット２２３を上昇するとともに、吸引ユニット２２３の測定チップ取外し機構２２３６を制御して、図３０（ｄ）に示すように、測定チップ被取付部２２３１を測定チップ３００ａから取り外す。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００ａを廃棄位置Ｐ１３へ搬送する（ステップＳ８９）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、図９（ｅ）に示すように、駆動機構４を制御することにより、搬送機構２１９ｃの回転テーブル２１９９を回動して、図３０（ｅ）に示すように、測定が完了した測定チップ３００ａを廃棄位置Ｐ１３へ搬送する。

次に、図２９に示すように、自動分析装置１は、測定チップ３００ａを廃棄する（ステップＳ９１）。具体的には、自動分析装置１の制御回路９における搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御することにより、測定チップ３００ａを廃棄部２２０に廃棄する。より具体的には、搬送制御機能９３は、回転テーブル２１９９を降下して、測定チップ被装着孔２１９９＿１に装着された測定チップ３００ａを廃棄ガイド２２０３に接触させ、測定チップ３００ａを測定チップ被装着孔２１９９＿１から取り外すことにより、図３０（ｆ）に示すように測定チップ３００ａを廃棄測定チップ収容部２２０１に廃棄する。このステップＳ９１を実行することにより、本変形例に係る電解質項目測定処理を終了する。

なお、上述した本変形例に係る電解質項目測定処理においては、自動分析装置１は、ステップＳ２５において対象物質の濃度を算出し、ステップＳ２７において算出結果を出力した後に、ステップＳ８７において吸引ユニット２２３を取り外し、ステップＳ８９において測定チップ３００ａを廃棄位置Ｐ１３へ搬送し、ステップＳ９１において測定チップ３００ａを廃棄することとしたが、ステップＳ８７、ステップＳ８９及びステップＳ９１における測定チップ３００ａの廃棄動作を行うタイミングはこれに限られない。すなわち、ステップＳ８７、ステップＳ８９及びステップＳ９１における測定チップ３００ａの廃棄動作を行うタイミングは任意であり、例えば、ステップＳ２３において電位を測定した後にステップＳ８７、ステップＳ８９及びステップＳ９１における測定チップ３００ａの廃棄動作を行うようにしてもよい。この場合、ステップＳ２５における対象物質の濃度の算出及びステップＳ２７における算出結果の出力は、ステップＳ８７、ステップＳ８９及びステップＳ９１における測定チップ３００ａの廃棄動作と並行して行われてもよく、ステップＳ８７、ステップＳ８９及びステップＳ９１における測定チップ３００ａの廃棄動作が完了した後に行われてもよい。

以上のように、本変形例に係る自動分析装置１においては、電解質項目を測定する際に、使い捨ての測定チップ３００ａを搬送機構２１９ｃである測定チップ被装着孔２１９９＿１が設けられた回転テーブル２１９９により搬送して、吸引ユニット２２３により測定チップ３００ａに吸引し、測定チップ３００ａに設けられた複数の端子３０３により、試料又は混合液の電位を測定し、測定された電位に基づいて対象物質の濃度を算出することとしたので、電解質項目を測定する毎に、搬送機構２１９ｃの洗浄が不要となる。この結果、電解質項目の測定において、搬送機構２１９ｃとして測定チップ被装着孔２１９９＿１が設けられた回転テーブル２１９９を用いる場合であっても、スループットを向上することができる。

また、本変形例に係る自動分析装置１は、試料又は混合液を測定チップ３００に収容した状態で、測定部２１９３が複数の端子３０３の電位の測定を行うこととしたので、搬送機構２１９に試料又は混合液が接触しない。この結果、キャリーオーバーの発生を低減することができる。

また、本変形例に係る自動分析装置１においては、複数の測定チップ３００を搬送することができ、１つの測定チップ３００ａの測定が完了する前に、他の測定チップ３００ａの測定の準備が同時に行われるため、スループットを向上することができる。

なお、上述した変形例２においては、搬送機構２１９ｃの降下動作により、測定チップ３００ａを廃棄ガイド２２０３に接触させて、廃棄測定チップ収容部２２０１に測定チップ３００ａを廃棄することとしたが、測定チップ３００ａを廃棄する方法は、廃棄ガイド２２０３を用いる場合に限られない。廃棄する測定チップ３００ａを搬送機構２１９ｃから廃棄測定チップ収容部２２０１に搬送する機構を備えるようにしてもよい。

また、上述した変形例２は、第３実施形態や変形例１にも適用可能である。なお、本変形例を第３実施形態に適用する場合、変形例２に係る自動分析装置１は、吸引ユニット２２３は必要ないので、吸引ユニット２２３に代えて、測定部に電気的に接続されている接続部を測定チップ３００ａの複数の端子３０３に電気的に接続する機構を備えていればよい。

また、上述した変形例２においては、吸引ユニット２２３が加温部２２３７及び温度センサ２２３８を備え、温度センサ２２３８の測定結果に基づいて、加温部２２３７を制御して、吸引ユニット２２３に取り付けられた測定チップ３００ａの試料又は混合液の温度を制御することとしたが、これに限られない。すなわち、加温部２２３７及び温度センサ２２３８を備える箇所は任意であり、例えば、回転テーブル２１９９が加温部２２３７及び温度センサ２２３８を備えるようにしてもよく、供給部２１８ａが加温部２２３７及び温度センサ２２３８を備えるようにしてもよい。また、加温部２２３７と温度センサ２２３８を備えることなく、温度制御機能９２は恒温部２０２を制御することにより、反応容器２０１１に収容された試料又は混合液の温度を制御して、所定の温度の試料又は混合液を吸引させるようにしてもよい。

また、上述した変形例２においては、回転テーブル２１９９は測定チップ被装着孔２１９９＿１のみを備えることとしたが、測定チップ被装着孔と測定チップ被装着溝を備える回転テーブルであってもよい。図３１は変形例２に係る分析機構２が備える搬送機構２１９ｃの構成の他の例を示す図である。図３１に示す例において、回転テーブル２１９９ａには、測定チップ被装着孔２１９９＿１ａと、測定チップ被装着溝２１９９＿２とが設けられている。

測定チップ被装着孔２１９９＿１ａは、被装着孔２１９９＿１１と、廃棄孔２１９９＿１２とにより形成されている。被装着孔２１９９＿１１の大きさよりも、廃棄孔２１９９＿１２の大きさが大きく形成されている。測定チップ被装着溝２１９９＿２は、供給位置Ｐ１１に供給されている測定チップ３００ａが装着可能に形成されている。

図３２及び図３３を参照して、回転テーブル２１９９ａを含む搬送機構２１９ｃの動作例を説明する。図３２及び図３３は、本変形例に係る搬送機構２１９ｃの構成の他の例における測定チップ３００ａの搬送経路、搬送経路上の各位置、及び、搬送機構２１９ｃの動作例を示す図である。図３２（ａ）及び図３２（ｂ）に示すように、回転テーブル２１９９ａは、測定チップ被装着溝２１９９＿２を供給位置Ｐ１１に移動して、測定チップ３００ａを測定チップ被装着溝２１９９＿２に装着する。そして、図３２（ｃ）に示すように、回転テーブル２１９９ａは、位置決め位置Ｐ１５に、測定チップ被装着溝２１９９＿２に装着された測定チップ３００ａを搬送して、位置決め機構２１８３ａにより位置決めを行う。次に、図３２（ｄ）に示すように、回転テーブル２１９９ａは反応容器位置Ｐ１２に測定チップ３００ａを搬送する。そして、反応容器位置Ｐ１２において、吸引ユニット２２３が測定チップ３００ａに取り付けられる。

次に、図３３（ａ）に示すように、吸引ユニット２２３は、水平方向に移動することにより、測定チップ３００ａを回転テーブル２１９９ａの測定チップ被装着溝２１９９＿２から取り外して、反応容器２０１１に収容された試料又は混合液を測定チップ３００ａに吸引する。そして、図３３（ｂ）に示すように、吸引ユニット２２３は、測定が完了した後、測定チップ被装着孔２１９９＿１ａの被装着孔２１９９＿１１に測定が完了した測定チップ３００ａを装着する。そして、図３３（ｃ）に示すように、回転テーブル２１９９ａが回動することにより、被装着孔２１９９＿１１に装着された測定チップ３００ａを廃棄位置Ｐ１３に搬送する。このとき、被装着孔２１９９＿１１に装着された測定チップ３００ａは、廃棄位置Ｐ１３に近づくにつれて、廃棄ガイド２２０３に接触することにより、廃棄孔２１９９＿１２へ移動していく。そして、図３３（ｄ）に示すように、測定チップ３００ａが廃棄位置Ｐ１３に搬送されると、測定チップ３００ａは、被装着孔２１９９＿１１から廃棄孔２１９９＿１２に移動して、廃棄孔２１９９＿１２から廃棄測定チップ収容部２２０１に廃棄される。

以上のように、測定チップ被装着孔２１９９＿１ａと測定チップ被装着溝２１９９＿２とを備える回転テーブル２１９９ａであっても変形例２と同様にスループットを向上することができる。

〔変形例３〕
上述した第１乃至第３実施形態に係る自動分析装置１においては、搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１に測定チップ３００の回転方向の位置を補正するための補正部を設け、測定チップ３００のチップ本体３０１に補正部をガイドするためのガイド部を設けることにより、測定チップ３００の複数の端子３０３を搬送機構２１９に対して、所定の位置に位置決めされるように、チップ本体３０１の回転方向の位置を補正してもよい。以下、上述した第１実施形態に変形例を適用した場合を変形例３として、上述した第１実施形態と異なる部分を説明する。

図３４は、変形例３に係る搬送機構２１９の構成の一例を示す図であり、上述した第１実施形態における図５に対応する図である。この図３４に示すように、本実施形態に係る搬送機構２１９は、上述した第１実施形態に係る搬送機構２１９に対して、測定チップ被装着部と測定チップ取外し機構とが異なるため、本実施形態においては、測定チップ被装着部２１９１ｂと、測定チップ取外し機構２１９６ｂと表記する。なお、測定チップ被装着部２１９１ｂと、測定チップ取外し機構２１９６ｂ以外の構成及び機能は上述した第１実施形態における図５と同様であるため説明を省略する。

本実施形態に係る測定チップ被装着部２１９１ｂは、図３４に示すように、測定チップ３００の回転方向の位置を補正するための補正部２１９１＿１を備える。補正部２１９１＿１は、後述する測定チップ３００のガイド部に挿入されることにより、搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１に装着される測定チップ３００の回転方向の位置を補正する。この補正部２１９１＿１は、測定チップ被装着部２１９１ｂの外周上に形成されている。図３４に示すように、本実施形態に係る補正部２１９１＿１は、逆三角形形状にて形成された突起である。

本実施形態に係る測定チップ取外し機構２１９６ｂは、図３４に示すように、測定チップ３００を測定チップ被装着部２１９１ｂから取り外す際に、補正部２１９１＿１と干渉しないように形成されている。例えば、測定チップ取外し機構２１９６ｂは、測定チップ３００の装着方向（鉛直下方）から見て、Ｃ型形状にて形成されている。なお、本実施形態に係る測定チップ取外し機構２１９６ｂのその他の構成は、上述した第１実施形態に係る測定チップ取外し機構２１９６と同様であるため説明を省略する。

図３５は、変形例３に係る測定チップ３００の構成の一例を示す図であり、上述した第１実施形態における図３に対応する図である。この図３５に示すように、本実施形態に係る測定チップ３００は、上述した第１実施形態に係る測定チップ３００に対して、チップ本体が異なるため、本実施形態において、チップ本体３０１ｂと表記する。なお、チップ本体３０１ｂ以外の構成は、上述した第１実施形態における図３と同様であるため、説明を省略する。

本実施形態に係るチップ本体３０１ｂは、補正部２１９１＿１をガイドするためのガイド部３０１１が形成されている。このガイド部３０１１は、補正部２１９１＿１に対応する形状で形成された切り欠きである。本実施形態に係るガイド部３０１１は、図３５に示すように、逆三角形形状の補正部２１９１＿１に対応するように、逆三角形形状にて形成された切り欠きである。このガイド部３０１１は、チップ本体３０１ｂの所定の位置に形成されている。

そして、上述した図８の電解質項目測定処理において、システム制御機能９１は、ステップＳ１３で、光学カメラの撮影画像に基づいて位置決め機構２１８３を制御して、測定チップ３００の複数の端子３０３が、所定の位置となるように位置決めする。そして、ステップＳ１５において、搬送制御機能９３は、駆動機構４を制御して、測定チップ被装着部２１９１ｂを下降する。そして、搬送制御機能９３は、測定チップ３００の補正部２１９１＿１をガイド部３０１１に挿入しながら、測定チップ被装着部２１９１ｂを測定チップ３００の装着部３０４に装着する。

図３６は、本変形例に係る測定チップ３００が搬送機構２１９に装着された状態を示す図である。図３６に示すように、測定チップ被装着部２１９１ｂが測定チップ３００の装着部３０４に装着される際に、測定チップ３００のガイド部３０１１が搬送機構２１９の補正部２１９１＿１に挿入されることにより、搬送機構２１９に対する測定チップ３００の回転方向の位置が補正される。そして、測定チップ３００の複数の端子３０３と、搬送機構２１９の接続部２１９４とが接続される。

以上のように、本変形例に係る自動分析装置１によれば、搬送機構２１９の測定チップ被装着部２１９１に測定チップ３００の回転方向の位置を補正するための補正部２１９１＿１を設け、測定チップ３００のチップ本体３０１に補正部２１９１＿１をガイドするためのガイド部３０１１を設け、ガイド部３０１１が補正部２１９１＿１に挿入されることにより、搬送機構２１９に対する測定チップ３００の回転方向の位置が補正され、複数の端子３０３と接続部２１９４とが接続されることとしたので、光学式カメラの撮影画像のみに基づいて複数の端子３０３を接続部２１９４に対応する位置に位置決めする場合よりも、より高い精度で、複数の端子３０３を接続部２１９４に対応する位置に位置決めすることができる。

なお、上述した変形例３においては、測定チップ被装着部２１９１ｂに補正部を設け、チップ本体３０１にガイド部を設けることとしてもよい。図３７は、変形例３に係る搬送機構２１９及び測定チップ３００の他の例を示す図である。図３７（ａ）はガイド部及び補正部のそれぞれの構成を示す図であり、上述した変形例３における図３４及び図３５に対応する図である。また、図３７（ｂ）は、図３７（ａ）に示す測定チップ３００が搬送機構２１９に装着された状態を示す図であり、上述した変形例３における図３６に対応する図である。

図３７（ａ）に示すように、チップ本体３０１には補正部３０１２が設けられ、測定チップ被装着部２１９１ｂにはガイド部２１９１＿２が設けられている。なお、補正部３０１２及びガイド部２１９１＿２は、それぞれ、補正部２１９１＿１及びガイド部３０１１に対応しており、実質的に同等の機能を有しているため、説明を省略する。そして、図３７（ｂ）に示すように、測定チップ被装着部２１９１ｂが装着部３０４に装着され、測定チップ３００の補正部３０１２が測定チップ被装着部２１９１ｂのガイド部２１９１＿２に挿入されることにより、搬送機構２１９に対する測定チップ３００の回転方向の位置が補正される。そして、測定チップ３００の複数の端子３０３と、搬送機構２１９の接続部２１９４とが接続される。すなわち、図３４乃至図３６に示す場合と同様に、搬送機構２１９に対する測定チップ３００の回転方向の位置が補正されるので、より高い精度で、複数の端子３０３を接続部２１９４に対応する位置に位置決めすることができる。

また、上述した変形例３においては、ガイド部３０１１及び補正部２１９１＿１は逆三角形形状に形成されることとしたが、ガイド部３０１１及び補正部２１９１＿１の形状はこれに限られない。すなわち、ガイド部３０１１及び補正部２１９１＿１の形状は任意である。また、ガイド部３０１１及び補正部２１９１＿１は、同一形状でなくてもよい。すなわち、ガイド部３０１１及び補正部２１９１＿１は異なる形状であってもよい。

図３８は、変形例３に係る搬送機構２１９及び測定チップ３００の他の例を示す図である。図３８に示す例においては、補正部２１９１＿１ａは、ガイド部３０１１ａへの挿入側の先端が尖った長方形状に形成された突起である。また、図３８に示す例において、ガイド部３０１１ａは、補正部２１９１＿１ａの形状に対応するように、底部が尖った長方形状に形成された切り欠き形状である。また、図３８に示す例において、ガイド部３０１１は、補正部２１９１＿１ａを挿入する挿入口がガイド部３０１１ａの中央に向かって傾斜する形状を有している。

図３９は、本変形例に係る測定チップ３００が搬送機構２１９に装着された状態の別の例を示す図である。図３９に示すように、測定チップ被装着部２１９１ｂが測定チップ３００の装着部３０４に装着されることにより、搬送機構２１９の補正部２１９１＿１ａが測定チップ３００のガイド部３０１１ａに挿入される。これにより、図３６に示す例と同様に、測定チップ３００の複数の端子３０３と、搬送機構２１９の接続部２１９４が接続される。なお、図３９に示すように、補正部２１９１＿１ａがガイド部３０１１ａに挿入された状態において、補正部２１９１＿１ａとガイド部３０１１ａとの間に空間を有するようにしてもよい。

以上のように、図３８及び図３９に示す例においても光学式カメラの撮影画像のみに基づいて複数の端子３０３を接続部２１９４に対応する位置に位置決めする場合よりも、より高い精度で、複数の端子３０３を接続部２１９４に対応する位置に位置決めすることができる。また、ガイド部３０１１ａが、ガイド部３０１１ａの中央に向かって傾斜する形状を有することにより、位置決め機構２１８３による測定チップ３００の位置決めの誤差が大きい場合でも、測定チップ被装着部２１９１ｂが下降して、補正部２１９１＿１ａがガイド部３０１１ａに挿入される際に、補正部２１９１＿１ａがガイド部３０１１ａの中央に向かって傾斜する形状に沿って測定チップ３００を回転させて、搬送機構２１９に対する測定チップ３００の回転方向の位置が補正されるので、複数の端子３０３を接続部２１９４に対応する位置に位置決めすることができる。

なお、図３８及び図３９に示す例においても、測定チップ被装着部２１９１ｂにガイド部を設け、チップ本体３０１ｂに補正部を設けることとしてもよい。図４０は、図３８及び図３９に示す、ガイド部及び補正部の他の例を示す図である。図４０（ａ）は、ガイド部及び補正部のそれぞれの構成を示す図であり、上述した図３８に対応する図である。また、図４０（ｂ）は、図４０（ａ）に示す測定チップ３００が搬送機構２１９に装着された状態を示す図であり、上述した図３９に対応する図である。

図４０（ａ）に示すように、チップ本体３０１には補正部３０１２ａが設けられ、測定チップ被装着部２１９１ｂにはガイド部２１９１＿２ａが設けられている。なお、補正部３０１２ａ及びガイド部２１９１＿２ａは、それぞれ、補正部２１９１＿１ａ及びガイド部３０１１ａに対応しており、実質的に同等の機能を有しているため、説明を省略する。そして、図４０（ｂ）に示すように、測定チップ被装着部２１９１ｂが装着部３０４に装着され、測定チップ３００の補正部３０１２ａが測定チップ被装着部２１９１ｂのガイド部２１９１＿２ａに挿入されることにより、搬送機構２１９に対する測定チップ３００の回転方向の位置が補正される。そして、測定チップ３００の複数の端子３０３と、搬送機構２１９の接続部２１９４とが接続される。すなわち、図３８及び図３９に示す場合と同様に、搬送機構２１９に対する測定チップ３００の回転方向の位置が補正されるので、複数の端子３０３を接続部２１９４に対応する位置に位置決めすることができる。

また、上述した変形例３においては、測定チップ取外し機構２１９６ｂを測定チップ３００の装着方向（鉛直下方）から見て、Ｃ型形状にて形成されることとしたが、測定チップ取外し機構２１９６ｂの形状は、これに限られない。すなわち、測定チップ取り外し機構２１９６ｂの形状は任意であり、測定チップ３００を測定チップ被装着部２１９１ｂから取り外す際に、測定チップ取り外し機構２１９６ｂと補正部２１９１＿１とが干渉しないのであれば、例えば、円筒形状等であってもよく、長方形状であってもよい。

さらに、変形例３は、上述した第１実施形態の変形例として説明したが、第２実施形態や第３実施形態、変形例１、変形例２にも応用可能である。なお、変形例１に変形例３を適用する場合にあっては、測定チップ３００ｃ及び搬送機構２１９ｂに設けられる補正部及びガイド部に加えて、又は、測定チップ３００ｃ及び搬送機構２１９ｂに設けられる補正部及びガイド部に代えて、測定チップ３００ｃのチップ本体３０１の外周に補正部又はガイド部のいずれか一方を設け、測定チップ設置部２２２の測定チップ載置部２２２１に補正部又はガイド部のいずれか他方を設けるようにしてもよい。また、変形例２に変形例３を適用する場合にあっては、測定チップ３００ａ及び搬送機構２１９ｃに設けられる補正部及びガイド部に加えて、又は、測定チップ３００ａ及び搬送機構２１９ｃに設けられる補正部及びガイド部に代えて、測定チップ３００ｃのチップ本体３０１の外周に補正部又はガイド部のいずれか一方を設け、回転テーブル２１９９の測定チップ被装着孔２１９９＿１に補正部又はガイド部のいずれか他方を設けるようにしてもよい。

〔その他の変形例〕
上述した第１乃至第３実施形態、変形例１及び変形例２においては、自動分析装置１は、貯留部２１６に貯留された測定チップが所定の残量以下の場合及び廃棄部２２０、２２０ａに廃棄された測定チップが所定の量以上の場合にユーザに報告することとしたが、ユーザに報告する場合は、これに限られない。例えば、供給位置Ｐ１１に測定チップが供給されない、光学カメラによる供給位置Ｐ１１の撮影画像が取得できない、正常に試料吸引ができない、電位を測定できない等の異常が発生した場合において、自動分析装置１の制御回路９における第１報告機能９４又は第２報告機能９５は、ユーザに報告するようにしてもよい。また、異常が発生した場合には、異常が解消されるまで電解質項目の測定を一時停止するようにしてもよい。

なお、上述した第１乃至第３実施形態においては、搬送機構２１９が加温部２１９７及び温度センサ２１９８を備え、温度センサ２１９８の測定結果に基づいて、加温部２１９７を制御して、搬送機構２１９に装着された測定チップ３００の試料又は混合液の温度を制御することとしたが、これに限られない。すなわち、加温部２１９７及び温度センサ２１９８を備える箇所は任意であり、例えば、供給部２１８が加温部２１９７及び温度センサ２１９８を備えるようにしてもよい。また、搬送機構２１９は加温部２１９７と温度センサ２１９８を備えることなく、温度制御機能９２は、恒温部２０２を制御することにより、反応容器２０１１に収容された試料又は混合液の温度を制御して、所定の温度の試料又は混合液を吸引させるようにしてもよい。

また、上述した第１乃至第３実施形態の自動分析装置１は、生化学検査を実施する自動分析装置への適用について説明したが、実施形態はこれに限られない。すなわち、血液凝固分析検査を実施する自動分析装置などの、電解質項目を測定する他の自動分析装置にも、第１乃至第３実施形態は応用可能である。

なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及び、フィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは、記憶回路８に保存されたプログラムを読み出して実行することにより機能を実現する。なお、記憶回路８にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成して構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、プロセッサは、プロセッサ単一の回路として構成されている場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて、１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合して、その機能を実現するようにしてもよい。

以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規な装置及び方法は、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明した装置及び方法の形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。添付の特許請求の範囲及びこれに均等な範囲は、発明の範囲や要旨に含まれるこのような形態や変形例を含むように意図されている。

１…自動分析装置、２…分析機構、３…解析回路、４…駆動機構、５…入力インターフェース、６…出力インターフェース、７…通信インターフェース、８…記憶回路、９…制御回路、９１…システム制御機能、９２…温度制御機能、９３…搬送制御機能、９４…第１報告機能、９５…第２報告機能、２０１…反応ディスク、２０２…恒温部、２０３…ラックサンプラ、２０４…第１試薬庫、２０５…第２試薬庫、２０６…サンプル分注アーム、２０７…サンプル分注プローブ、２０８…第１試薬分注アーム、２０９…第１試薬分注プローブ、２１０…第２試薬分注アーム、２１１…第２試薬分注プローブ、２１２…第１撹拌ユニット、２１３…第２撹拌ユニット、２１４…測光ユニット、２１５…洗浄ユニット、２１６…貯留部、２１７…第１検知部、２１８、２１８ａ…供給部、２１９、２１９ａ、２１９ｂ、２１９ｃ…搬送機構、２２０、２２０ａ、２２０ｂ…廃棄部、２２１…第２検知部、２２２…測定チップ設置部、２２３…吸引ユニット、３００、３００ａ、３００ｂ、３００ｃ…測定チップ、３０１、３０１ａ…チップ本体、３０２…吸引口、３０３、３０３ａ、３０３ｂ…複数の端子、３０４、３０４ａ…装着部、３０５…保持部、ＮＷ…病院内ネットワーク

Claims (20)

1. 試料又は、前記試料と反応させる試薬又は前記試料を希釈する希釈液を前記試料に混合した混合液を収容するチップ本体と、
   前記チップ本体に設けられた前記試料又は前記混合液を吸引するための吸引口と、
   前記チップ本体に設けられ、前記吸引口から吸引された前記試料又は前記混合液の対象物質の濃度を測定するための複数の端子と、
   自動分析装置の搬送部に前記チップ本体を装着するための装着部と、
   を備える、測定チップ。
2. 前記チップ本体に設けられ、前記吸引口から吸引された前記試料又は前記混合液を保持する保持部をさらに備える、請求項１に記載の測定チップ。
3. 前記チップ本体は、前記吸引口を介して、毛細管現象により前記試料又は前記混合液を吸引する、請求項１に記載の測定チップ。
4. 前記複数の端子は、前記吸引口の径方向に対して、前記複数の端子のそれぞれの軸方向が垂直になるように、前記チップ本体に設けられる、請求項１に記載の測定チップ。
5. 前記複数の端子は、前記複数の端子のそれぞれの一端が、前記チップ本体の外壁から外部に露出し、前記吸引口の径方向に対して、前記複数の端子のそれぞれの軸方向が平行になるように、前記チップ本体に設けられる、請求項１に記載の測定チップ。
6. 前記複数の端子は、前記試料又は前記混合液に含まれる電解質を選択的に検出するイオン選択性電極と、一定の電位を発生する参照電極とを含む、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の測定チップ。
7. 試料又は、前記試料と反応させる試薬又は前記試料を希釈する希釈液を前記試料に混合した混合液の対象物質の濃度を測定するための測定チップを装着可能とし、前記測定チップを搬送する搬送部と、
   前記搬送部で搬送された前記測定チップに設けられた複数の端子の電位を測定する測定部と、
   前記測定部により測定された前記電位に基づいて、前記測定チップに収容された前記試料又は前記混合液の対象物質の濃度を算出する算出部と、
   を備える、自動分析装置。
8. 前記搬送部は、
   前記測定チップが装着される測定チップ被装着部と、
   前記測定チップ被装着部に装着された前記測定チップを所定の搬送経路に沿って搬送する搬送アームと、
   を含む、請求項７に記載の自動分析装置。
9. 前記搬送部に設けられ、前記搬送部の前記測定チップ被装着部に装着された前記測定チップに前記試料又は前記混合液を吸引する吸引部をさらに備える、請求項８に記載の自動分析装置。
10. 前記搬送部に設けられ、前記測定部と電気的に接続されている接続部を更に備え、
    前記測定部は、前記搬送部に設けられた前記接続部を介して、前記複数の端子の電位を測定する、請求項８又は請求項９に記載の自動分析装置。
11. 前記搬送部は、
    前記測定チップを装着可能とし、前記測定チップを所定の搬送経路に沿って搬送するように回転する回転テーブルと、
    前記回転テーブルを支持する支持部と、
    を含む、請求項７に記載の自動分析装置。
12. 前記回転テーブルに装着された前記測定チップに前記試料又は前記混合液を吸引する吸引部をさらに備える、請求項１１に記載の自動分析装置。
13. 前記吸引部に設けられ、前記測定部と電気的に接続されている接続部を更に備え、
    前記測定部は、前記吸引部に設けられた前記接続部を介して、前記複数の端子の電位を測定する、請求項１２に記載の自動分析装置。
14. 前記搬送部の搬送経路上に設けられ、前記測定部と電気的に接続されている接続部が設けられた、前記測定チップを設置するための測定チップ設置部をさらに備え、
    前記測定部は、前記測定チップ設置部に設けられた前記接続部を介して、前記複数の端子の電位を測定する、請求項７に記載の自動分析装置。
15. 前記測定チップ、前記測定チップに収容された前記試料、及び、前記測定チップに収容された前記混合液の少なくとも１つの温度を制御するための温度制御部を更に備える、請求項７に記載の自動分析装置。
16. 前記測定チップを貯留する貯留部と、
    前記測定チップを供給する位置である供給位置に、前記貯留部に貯留された前記測定チップを供給する供給部と、を更に備える、請求項７に記載の自動分析装置。
17. 前記貯留部に貯留された前記測定チップの残量を検知する第１検知部と、
    前記第１検知部の検知結果に基づいて、前記貯留部に貯留された前記測定チップの残量が所定の残量以下の場合に、ユーザに報告する第１報告部と、を更に備える、請求項１６に記載の自動分析装置。
18. 前記測定部による測定が完了した測定チップが廃棄される廃棄部を更に備える、請求項７に記載の自動分析装置。
19. 前記廃棄部に廃棄された前記測定チップの量を検知する第２検知部と、
    前記第２検知部の検知結果に基づいて、前記廃棄部に廃棄された前記測定チップの量が所定の量以上の場合に、ユーザに報告する第２報告部と、を更に備える、請求項１８に記載の自動分析装置。
20. 試料又は、前記試料と反応させる試薬又は前記試料を希釈する希釈液を前記試料に混合した混合液の対象物質の濃度を測定するための測定チップと、
    前記測定チップに収容された前記試料又は前記混合液を用いて、前記試料を分析する自動分析装置と、を備える自動分析システムであって、
    前記測定チップは、
    前記試料又は前記混合液を収容するチップ本体と、
    前記チップ本体に設けられた前記試料又は前記混合液を吸引するための吸引口と、
    前記チップ本体に設けられ、前記吸引口から吸引された前記試料又は前記混合液の対象物質の濃度を測定するための複数の端子と、を備え、
    前記自動分析装置は、
    前記測定チップを装着可能とし、前記測定チップを搬送する搬送部と、
    前記搬送部で搬送された前記測定チップに設けられた前記複数の端子の電位を測定する測定部と、
    前記測定部により測定された前記電位に基づいて、前記チップ本体に収容された前記試料又は前記混合液の対象物質の濃度を算出する算出部と、を備える、
    自動分析システム。