[go: up one dir, main page]

JP2024543871A - 3軸磁気センサおよびその製造方法 - Google Patents

3軸磁気センサおよびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2024543871A
JP2024543871A JP2024529906A JP2024529906A JP2024543871A JP 2024543871 A JP2024543871 A JP 2024543871A JP 2024529906 A JP2024529906 A JP 2024529906A JP 2024529906 A JP2024529906 A JP 2024529906A JP 2024543871 A JP2024543871 A JP 2024543871A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
axis
detection mechanism
grooves
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2024529906A
Other languages
English (en)
Inventor
クオ、ホイファン
シアオ、ヨン
Original Assignee
キューエスティー コーポレーション リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by キューエスティー コーポレーション リミテッド filed Critical キューエスティー コーポレーション リミテッド
Publication of JP2024543871A publication Critical patent/JP2024543871A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0017Means for compensating offset magnetic fields or the magnetic flux to be measured; Means for generating calibration magnetic fields
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0052Manufacturing aspects; Manufacturing of single devices, i.e. of semiconductor magnetic sensor chips
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/0206Three-component magnetometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • G01R33/096Magnetoresistive devices anisotropic magnetoresistance sensors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/10Plotting field distribution ; Measuring field distribution

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Abstract

本出願は、3軸磁気センサおよびその製造方法を開示し、前記3軸磁気センサは、少なくとも2つの溝が形成される基板と、第1方向の磁界を検知する第1磁気検知機構と、第2方向の磁界を検知する第2磁気検知機構と、第3方向の磁界を検知する第3磁気検知機構とを含み、第1磁気検知機構および第2磁気検知機構が基板の表面に設置され、第3磁気検知機構が溝に設置され、少なくとも一対の隣接する溝が少なくとも1つの第1磁気検知機構および/または少なくとも1つの第2磁気検知機構に隔てられる。本出願によれば、プロセス加工誤差を低減し、プロセスウィンドウを広げ、製品の全体的な歩留まりを向上させることができる。【選択図】図2

Description

本出願は、微細電子技術分野に属し、磁気センサに関し、特に3軸磁気センサおよびその製造方法に関する。
従来の3軸磁気センサは、X、Y、Zのブリッジ抵抗を個別にして、X軸およびY軸の検知ユニットが平面内にあり、Z軸検知ユニットが斜面にあるといった設計を採用したが、斜面の集中分布は、プロセス制御に大きな困難をもたらす。
これに鑑みて、従来の3軸磁気センサの上記欠点の少なくとも一部を克服するために、現在、新たな3軸磁気センサを設計することが急務となっている。
本出願は、プロセス加工誤差を低減し、プロセスウィンドウを増加させ、製品の全体的な歩留まりを向上させることができる、3軸磁気センサおよびその製造方法を提供する。
上記の技術的課題を解決するために、本出願の一態様によれば、以下の技術案を使用する。
前記3軸磁気センサは、表面部分が少なくとも2つの溝を形成するように凹んでいる基板と、第1方向の磁界を検知する少なくとも1つの第1磁気検知機構と、第2方向の磁界を検知する少なくとも1つの第2磁気検知機構と、第3方向の磁界を検知する少なくとも2つの第3磁気検知機構と、を含み、前記第1方向および第2方向が前記基板の表面に対応する平面を形成するものであり、前記第3方向が前記基板の表面と交差するものであり、各前記溝は、前記第1方向または前記第2方向に沿って並設され、または一部が前記第1方向、一部が前記第2方向に沿って並設され、前記第1磁気検知機構および前記第2磁気検知機構が前記基板の表面に設置され、各前記第3磁気検知機構が各前記溝に1対1で対応するように前記溝内に設置され、前記第1方向に沿って並設される前記溝のうち、少なくとも一対の隣接する前記溝が少なくとも1つの前記第1磁気検知機構に隔てられ、および/または前記第2方向に沿って並設される前記溝のうち、少なくとも一対の隣接する前記溝が少なくとも1つの前記第2磁気検知機構に隔てられる。
本出願の一実施形態として、前記第1磁気検知機構は、前記第2方向に延設される少なくとも1本の第1磁気抵抗ストリップを含み、前記第2磁気検知機構は、前記第1方向に延設される少なくとも1本の第2磁気抵抗ストリップを含み、前記第3磁気検知機構は、対応する溝の側壁に設置される少なくとも1本の第3磁気抵抗ストリップを含み、各前記第3磁気抵抗ストリップは、前記第1方向または前記第2方向に沿って延設され、または一部が前記第1方向、一部が前記第2方向に沿って延設される。
本出願の一実施形態として、隣設する前記第1磁気抵抗ストリップと前記第3磁気抵抗ストリップとの間にホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップが設置され、および/または隣設する前記第2磁気抵抗ストリップと前記第3磁気抵抗ストリップとの間にホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップが設置される。
本出願の一実施形態として、各前記磁気抵抗ストリップの上方または/および下方に、磁化容易軸方向に磁界を発生させるためのセット/リセットコイルが配置され、前記磁気抵抗ストリップの上面または/および下面に、前記磁気抵抗ストリップと所定角度をなす作用電極が配置される。
本出願の一実施形態として、前記磁気抵抗ストリップ上の電流方向は、磁気抵抗ストリップの磁化容易軸に対して45°の角をなす。
本出願の一実施形態として、各前記磁気検知機構は、組み合わせて独立したホイートストンブリッジを形成し、各ホイートストンブリッジの各アームは、少なくとも1本の磁気抵抗ストリップから構成され、外部磁界の検知において同じ誘導変化を有するいくつかの磁気抵抗ストリップは、1つのホイートストンブリッジのアームを構成し、1つのホイートストンブリッジは、外部磁界の入力に応じて抵抗値が大きくなる2組のアームと、外部磁界の入力に応じて抵抗値が小さくなる2組のアームとを含む。
本出願の一実施形態として、前記磁気抵抗ストリップの検出磁界に応じて、一部の領域に磁気抵抗ストリップに対応する検出方向の磁界を発生させるための自己検出コイルが配置される。
本出願の別の態様によれば、以下の技術案を使用する。3軸磁気センサの製造方法は、シリコン基板または回路を有する基板を設置するステップと、前記基板の表面に、側壁が前記基板の表面と所定角度をなす少なくとも2つの溝を形成し、各前記溝は、第1方向または第2方向に沿って並設され、または一部が第1方向、一部が第2方向に沿って並設され、第1方向に並設される前記溝のうち、少なくとも一対の隣接する溝の間に実装空間が設けられ、および/または第2方向に並設される前記溝のうち、少なくとも一対の隣接する溝の間に実装空間が設けられ、第1方向および第2方向が基板の表面に対応する平面を形成するものであるステップと、前記基板および溝の表面に絶縁層を形成するステップと、前記基板の絶縁層の表面に第1磁気検知機構および第2磁気検知機構を形成し、前記溝の絶縁層の表面に第3磁気検知機構を形成し、少なくとも1つの第1磁気検知機構が第1方向に沿う実装空間に設置され、および/または少なくとも1つの第2磁気検知機構が第2方向に沿う実装空間に設置され、第1磁気検知機構、第2磁気検知機構および第3磁気検知機構のいずれにも磁性材料が含まれるステップと、を含む。
本出願の一実施形態として、前記製造方法は、前記第1磁気検知機構、第2磁気検知機構および第3磁気検知機構の磁性材料の表面に誘電体層を形成するステップと、磁性材料の表面の誘電体層に貫通孔を形成するステップと、前記基板の表面および溝の側壁に連続する電極層を形成するステップと、前記電極層をパターニングして磁性材料の表面に作用電極を形成し、磁性材料が、その表面の誘電体層に形成された貫通孔を介して、後で形成される作用電極に接触するステップと、をさらに含む。
本出願の一実施形態として、前記磁性材料は、異方性磁気抵抗材料、巨大磁気抵抗材料およびトンネル磁気抵抗材料から選択されるいずれか1つであり、磁性材料を形成する際に、磁性材料の磁化方向を誘導し、磁性材料の磁気特性を高めるために、同時に基板に磁界を印加し、アニールする。
本出願の一実施形態として、前記製造方法は、前記基板の表面および溝内の磁気抵抗ストリップの両端にそれぞれ引き出し端子を設けるステップと、溝の底部、基板の下方、磁気検知機構の下方に自己検出コイルを設けるステップと、溝の頂部、基板の上方、磁気検知機構の上方にセットコイルまたは/およびリセットコイルを設けるステップと、をさらに含む。
本出願の有益な効果は、本出願に提出された3軸磁気センサおよびその製造方法によれば、プロセス加工誤差を低減し、プロセスウィンドウを広げ、製品の全体的な歩留まりを向上させることができる。
従来の3軸磁気センサの部分断面図である。 本出願の一実施例による3軸磁気センサの部分断面図である。 本出願の一実施例による3軸磁気センサの平面模式図である。 本出願の別の実施例による3軸磁気センサの平面模式図である。 本出願の別の実施例による3軸磁気センサの平面模式図である。 本出願の一実施例によるX軸磁気検知機構がホイートストンブリッジを形成する接続模式図である。 本出願の一実施例によるY軸磁気検知機構がホイートストンブリッジを形成する接続模式図である。 本出願の一実施例によるZ軸磁気検知機構がホイートストンブリッジを形成する接続模式図である。 本出願の一実施例によるZ軸磁気検知機構がホイートストンブリッジを形成する別の接続模式図である。
以下、図面を参照しながら本出願の好ましい実施例を詳しく説明する。
本出願をより理解するために、以下の実施例を用いて本出願の好ましい実施形態を説明するが、これらの説明は本出願の特徴と利点をさらに説明するためのものにすぎず、本出願の特許請求の範囲を限定するものではない。
この部分の説明は、いくつかの典型的な実施例についてのものにすぎず、本出願は、実施例の説明の範囲に限定されない。同一または類似の従来の技術的手段と実施例におけるいくつかの技術的特徴との互いの置換も、本出願の説明および保護の範囲内である。
明細書における各実施例のステップについての記載は、説明の便宜のためのものにすぎず、本出願の実現方式は、ステップの実現順序に限定されない。明細書における「接続」は、直接接続と間接接続の両方を含む。本願明細書において、複数は2つ以上を指す。
本出願は、3軸磁気センサを開示し、図2は、本出願の一実施例による3軸磁気センサの局所断面模式図である。上記3軸磁気センサは、基板と、少なくとも1つの第1磁気検知機構と、少なくとも1つの第2磁気検知機構と、少なくとも2つの第3磁気検知機構とを含む。
各第1磁気検知機構は第1方向の磁界を検知するものであり、各第2磁気検知機構は第2方向の磁界を検知するものであり、各第3磁気検知機構は第3方向の磁界を検知するものである。
第1方向および第2方向が基板の表面に対応する平面を形成するものであり、第3方向が基板の表面と交差するものである。
基板の表面部分が少なくとも2つの溝4を形成するように凹んでいる。各溝4は、そのすべてが第1方向にまたは第2方向に沿って並設され、または一部が第1方向、一部が第2方向に沿って並設される。
第1磁気検知機構および第2磁気検知機構が基板の表面に設置され、各第3磁気検知機構のそれぞれが各溝4に1対1で対応するように溝4内に設置される(すなわち、1つの溝4に1つの第3磁気検知機構が設置される)。
ここで、第1方向に並設される溝4のうち、少なくとも一対の隣接する溝4が少なくとも1つの第1磁気検知機構に隔てられ、および/または第2方向に並設される溝4のうち、少なくとも一対の隣接する溝4が少なくとも1つの第2磁気検知機構に隔てられる。
例えば、第1方向に並設される溝4が3つある場合、2対の隣接する溝4を構成する。第1対の隣接する溝4の間に少なくとも1つの第1磁気検知機構が設置され、第1対の隣接する溝4が隔てられ、および/または、第2対の隣接する溝4の間に少なくとも1つの第1磁気検知機構が設置され、第2対の隣接する溝4が隔てられる。
また、例えば、第2方向に並設される溝4が3つある場合、2対の隣接する溝4を構成する。第1対の隣接する溝4の間に少なくとも1つの第2磁気検知機構が設置され、第1対の隣接する溝4が隔てられ、および/または、第2対の隣接する溝4の間に少なくとも1つの第2磁気検知機構が設置され、第2対の隣接する溝4が隔てられる。
少なくとも1つの第1磁気検知機構および/または少なくとも1つの第2磁気検知機構により、少なくとも一対の隣接する溝4を隔てることで、少なくとも一対の溝4を集中させ連続させる必要がなく、プロセス制御の難易度を低減することができる。
一実施例において、第1方向に並設される溝4は、隣接する溝4を隔てるために、各対の隣接する溝4の間に少なくとも1つの第1磁気検知機構が設置される。第2方向に並設される溝4は、隣接する溝4を隔てるために、各対の隣接する溝4の間に少なくとも1つの第2磁気検知機構が設置される。
一実施例において、第1方向に並設される溝4は、隣接する溝4を隔てるために、各対の隣接する溝4の間に1つの第1磁気検知機構が設置される。第2方向に並設される溝4は、隣接する溝4を隔てるために、各対の隣接する溝4の間に1つの第2磁気検知機構が設置される。
前記第1磁気検知機構は、第2方向に延設される少なくとも1本の第1磁気抵抗ストリップを含み、すなわち、第1磁気抵抗ストリップの軸方向が第2方向に一致する。第1磁気検知機構が少なくとも2本の第1磁気抵抗ストリップを含む場合、各第1磁気抵抗ストリップが第1方向に並設される。一実施例において、第1磁気検知機構は、2本の第1磁気抵抗ストリップを含む。
前記第2磁気検知機構は、第1方向に延設される少なくとも1本の第2磁気抵抗ストリップを含み、すなわち、第2磁気抵抗ストリップの軸方向が第1方向に一致する。第2磁気検知機構が少なくとも2本の第2磁気抵抗ストリップを含む場合、各第2磁気抵抗ストリップが第2方向に並設される。一実施例において、第2磁気検知機構は、2本の第2磁気抵抗ストリップを含む。
前記第3磁気検知機構は、対応する溝4の側壁に設置される少なくとも1本の第3磁気抵抗ストリップを含む。第3磁気抵抗ストリップのうち、第1方向に並設される溝4に設置された第3磁気抵抗ストリップは、第2方向に延設され、すなわち、第3磁気抵抗ストリップの軸方向が第2方向に一致する。第3磁気抵抗ストリップのうち、第2方向に並設される溝4に設置された第3磁気抵抗ストリップは、第1方向に延設され、すなわち、第3磁気抵抗ストリップの軸方向が第1方向に一致する。第3磁気抵抗ストリップの並び方向は、それに対応する溝4に一致する。第3磁気抵抗ストリップは、そのすべてが第1方向または第2方向に沿って並設され、または一部が第1方向、一部が第2方向に沿って並設される。一実施例において、第3磁気検知機構は、2本の第3磁気抵抗ストリップを含む。第3磁気検知機構が第1方向に並設された溝4に設置される場合、2本の第3磁気抵抗ストリップは、溝4の第1方向に対向する両側壁にある。第3磁気検知機構が第2方向に並設された溝4に設置される場合、2本の第3磁気抵抗ストリップは、溝4の第2方向に対向する両側壁にある。
本出願の一実施例において、第1方向は第2方向に垂直のものであり、第3方向は、第1方向と第2方向によって形成される平面に垂直のものである。
一実施例において、第1方向は、座標系のX軸方向であり、第1磁気検知機構は、X軸磁気検知機構1である。第2方向は、座標系のY軸方向であり、第2磁気検知機構は、Y軸磁気検知機構2である。第3方向は、座標系のZ軸方向であり、第3磁気検知機構は、Z軸磁気検知機構3である。
前記X軸磁気検知機構1は、X軸方向の磁界を検知するものであり、少なくとも1本のX軸磁気抵抗ストリップを含む。前記Y軸磁気検知機構2は、Y軸方向の磁界を検知するものであり、少なくとも1本のY軸磁気抵抗ストリップを含む。
前記Z軸磁気検知機構3は、溝4の側壁に設置され、Z軸方向の磁界を検知するものである。前記Z軸磁気検知機構3は、少なくとも1本のZ軸磁気抵抗ストリップを含み、各Z軸磁気抵抗ストリップは、そのすべてがX軸方向にまたはY軸方向に沿って延設され、または一部がX軸方向、一部がY軸方向に沿って延設される。
なお、X軸方向およびZ軸方向の磁界干渉を回避する(すなわち、隣接するX軸磁気抵抗ストリップとZ軸磁気抵抗ストリップとの間の干渉を回避する)ために、隣設するX軸磁気抵抗ストリップとZ軸磁気抵抗ストリップとの間に、少なくとも1本の磁化容易方向(例えばY軸方向)に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップ123をさらに設置してもよい。
Y軸方向およびZ軸方向の磁界干渉を回避する(すなわち、隣接するY軸磁気抵抗ストリップとZ軸磁気抵抗ストリップとの間の干渉を回避する)ために、隣設するY軸磁気抵抗ストリップとZ軸磁気抵抗ストリップとの間に、磁化容易方向(例えばX軸方向)に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない少なくとも1本の擬似磁気抵抗ストリップ123をさらに設置してもよい。
図3は、本出願の一実施例による3軸磁気センサの平面模式図である。図3および図2に示すように、前記X軸磁気検知機構1は、複数本の第1のX軸磁気抵抗ストリップ1aおよび/または複数本の第2のX軸磁気抵抗ストリップ1bを含み、各第1のX軸磁気抵抗ストリップ1aおよび各第2のX軸磁気抵抗ストリップ1bは、対応する磁化容易方向(例えばY軸方向)に延設される。第1のX軸磁気抵抗ストリップ1aは、外部磁界の入力に応じて抵抗値が大きくなり、第2のX軸磁気抵抗ストリップ1bは、外部磁界の入力に応じて抵抗値が小さくなる。具体的に、本実施例において、X軸磁気検知機構1は2種類あり、第1のX軸磁気検知機構は、2本の第1のX軸磁気抵抗ストリップ1aを含み、第2のX軸磁気検知機構は、2本の第2のX軸磁気抵抗ストリップ1bを含む。
前記Y軸磁気検知機構2は、複数本の第1のY軸磁気抵抗ストリップ2aおよび/または複数本の第2のY軸磁気抵抗ストリップ2bを含み、各第1のY軸磁気抵抗ストリップ2aおよび各第2のY軸磁気抵抗ストリップ2bは、対応する磁化容易方向(例えばX軸方向)に延設される。第1のY軸磁気抵抗ストリップ2aは、外部磁界の入力に応じて抵抗値が大きくなり、第2のY軸磁気抵抗ストリップ2bは、外部磁界の入力に応じて抵抗値が小さくなる。具体的に、本実施例において、Y軸磁気検知機構2は2種類あり、第1のY軸磁気検知機構は、2本の第1のY軸磁気抵抗ストリップ2aを含み、第2のY軸磁気検知機構は、2本の第2のY軸磁気抵抗ストリップ2bを含む。
前記Z軸磁気検知機構3は、複数本の第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aおよび/または複数本の第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bを含み、各第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aおよび各第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bは、対応する磁化容易方向(例えば一部がX軸方向、一部がY軸方向)に延設される。第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aは、外部磁界の入力に応じて抵抗値が大きくなり、第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bは、外部磁界の入力に応じて抵抗値が小さくなる。具体的に、本実施例において、Z軸磁気検知機構3は3種類あり、ここで、第1のZ軸磁気検知機構は、2本の第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aを含み、第2のZ軸磁気検知機構は、2本の第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bを含み、第3のZ軸磁気検知機構は、1本の第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aと1本の第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bとを含む。
図3に示すように、溝4は、一部がX軸方向、一部がY軸方向に並設される。
X軸方向に並設される溝4のうち、隣接する溝4の間にX軸磁気検知機構1が設置され、例えば、一部の隣接する溝4の間に第1のX軸磁気検知機構が設置され、一部の隣接する溝4の間に第2のX軸磁気検知機構が設置されてもよい。また、溝4にZ軸磁気検知機構3が設置され、例えば、一部の溝4に第1のZ軸磁気検知機構が設置され、一部の溝4に第2のZ軸磁気検知機構が設置され、一部の溝4に第3のZ軸磁気検知機構が設置される。具体的に、第1のX軸磁気検知機構は、第1のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構との間にあり、第1のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構とに対応する隣接する2つの溝4を隔てる。第2のX軸磁気検知機構は、第2のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構との間にあり、第2のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構とに対応する隣接する2つの溝4を隔てる。また、第3のZ軸磁気検知機構は、第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aが第1のX軸磁気検知機構に隣接し、第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bが第2のX軸磁気検知機構に隣接する。対応する溝4内の第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aおよび第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bは、Y軸方向に延設され、各第1のX軸磁気抵抗ストリップ1a、各第2のX軸磁気抵抗ストリップ1bは、Y軸方向に延設される。なお、隣接する第1のX軸磁気抵抗ストリップ1aと第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aとの間に、Y軸方向に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップ123が設置されてもよい。隣接する第2のX軸磁気抵抗ストリップ1bと第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bとの間に、Y軸方向に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップ123が設置されてもよい。
Y軸方向に並設される溝4のうち、隣接する溝4の間にY軸磁気検知機構2が設置され、例えば、一部の隣接する溝4の間に第1のY軸磁気検知機構が設置され、一部の隣接する溝4の間に第2のY軸磁気検知機構が設置されてもよい。また、溝4にZ軸磁気検知機構3が設置され、例えば、一部の溝4に第1のZ軸磁気検知機構が設置され、一部の溝4に第2のZ軸磁気検知機構が設置され、一部の溝4に第3のZ軸磁気検知機構が設置される。具体的に、第1のY軸磁気検知機構は、第1のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構との間にあり、第1のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構とに対応する隣接する2つの溝4を隔てる。第2のY軸磁気検知機構は、第2のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構との間にあり、第2のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構とに対応する隣接する2つの溝4を隔てる。また、第3のZ軸磁気検知機構は、第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aが第1のY軸磁気検知機構に隣接し、第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bが第2のY軸磁気検知機構に隣接する。対応する溝4内の第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aおよび第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bは、X軸方向に延設され、各第1のY軸磁気抵抗ストリップ2a、各第2のY軸磁気抵抗ストリップ2bは、X軸方向に延設される。なお、隣接する第1のY軸磁気抵抗ストリップ2aと第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aとの間に、X軸方向に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップ123が設置されてもよい。隣接する第2のY軸磁気抵抗ストリップ2bと第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bとの間に、X軸方向に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップ123が設置されてもよい。
図4は、本出願の別の実施例による3軸磁気センサの平面模式図である。図4に示すように、本出願の別の実施例において、溝4は、Y軸方向に並設される。
Y軸方向に並設される溝4のうち、隣接する溝4の間にY軸磁気検知機構2が設置され、例えば、一部の隣接する溝4の間に第1のY軸磁気検知機構が設置され、一部の隣接する溝4の間に第2のY軸磁気検知機構が設置されてもよい。また、溝4にZ軸磁気検知機構3が設置され、例えば、一部の溝4に第1のZ軸磁気検知機構が設置され、一部の溝4に第2のZ軸磁気検知機構が設置され、一部の溝4に第3のZ軸磁気検知機構が設置される。具体的に、第1のY軸磁気検知機構は、第1のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構との間にあり、第1のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構とに対応する隣接する2つの溝4を隔てる。第2のY軸磁気検知機構は、第2のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構との間にあり、第2のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構とに対応する隣接する2つの溝4を隔てる。また、第3のZ軸磁気検知機構は、第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aが第1のY軸磁気検知機構に隣接し、第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bが第2のY軸磁気検知機構に隣接する。対応する溝4内の第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aおよび第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bは、X軸方向に延設され、各第1のY軸磁気抵抗ストリップ2a、各第2のY軸磁気抵抗ストリップ2bは、X軸方向に延設される。なお、隣接する第1のY軸磁気抵抗ストリップ2aと第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aとの間に、X軸方向に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップ123が設置されてもよい。隣接する第2のY軸磁気抵抗ストリップ2bと第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bとの間に、X軸方向に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップ123が設置されてもよい。
図5は、本出願の別の実施例による3軸磁気センサの平面模式図である。図5に示すように、本出願の別の実施例において、溝4は、X軸方向に並設される。
X軸方向に並設される溝4のうち、隣接する溝4の間にX軸磁気検知機構1が設置され、例えば、一部の隣接する溝4の間に第1のX軸磁気検知機構が設置され、一部の隣接する溝4の間に第2のX軸磁気検知機構が設置されてもよい。また、溝4にZ軸磁気検知機構3が設置され、例えば、一部の溝4に第1のZ軸磁気検知機構が設置され、一部の溝4に第2のZ軸磁気検知機構が設置され、一部の溝4に第3のZ軸磁気検知機構が設置される。具体的に、第1のX軸磁気検知機構は、第1のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構との間にあり、第1のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構とに対応する隣接する2つの溝4を隔てる。第2のX軸磁気検知機構は、第2のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構との間にあり、第2のZ軸磁気検知機構と第3のZ軸磁気検知機構とに対応する隣接する2つの溝4を隔てる。また、第3のZ軸磁気検知機構は、第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aが第1のX軸磁気検知機構に隣接し、第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bが第2のX軸磁気検知機構に隣接する。対応する溝4内の第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aおよび第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bは、Y軸方向に延設され、各第1のX軸磁気抵抗ストリップ1a、各第2のX軸磁気抵抗ストリップ1bは、Y軸方向に延設される。なお、隣接する第1のX軸磁気抵抗ストリップ1aと第1のZ軸磁気抵抗ストリップ3aとの間に、Y軸方向に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップ123が設置されてもよい。隣接する第2のX軸磁気抵抗ストリップ1bと第2のZ軸磁気抵抗ストリップ3bとの間に、Y軸方向に延設される、ホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップ123が設置されてもよい。
外部磁界の大きさは、磁気抵抗ストリップの磁化方向を変化させ、よって作用電極と磁気抵抗ストリップとの角度を変化させる。すなわち、磁気抵抗ストリップの電流方向と磁気抵抗ストリップの磁化方向との角度は、外部磁界の大きさに対応する。各磁気検知機構のそれぞれは、組み合わせて独立したホイートストンブリッジを形成し、各ホイートストンブリッジの各アームは、少なくとも1本の磁気抵抗ストリップから構成される。一実施例において、外部磁界の検知において同じ誘導変化を有するいくつかの磁気抵抗ストリップは、1つのホイートストンブリッジのアームを構成し、1つのホイートストンブリッジは、外部磁界の入力に応じて抵抗値が大きくなる2組のアームと、外部磁界の入力に応じて抵抗値が小さくなる2組のアームとからなる(図6~図9に示す)。
本出願の一実施例において、各磁気抵抗ストリップの上方または/および下方に、磁化容易軸方向に磁界を発生させるためのセット/リセット(set/reset)コイル6が配置され、磁気抵抗ストリップの上面または/および下面に、磁気抵抗ストリップと所定角度をなす作用電極が配置される。
セット/リセットコイル6は、磁気抵抗ストリップの初期磁化方向を決定し、ホイートストンブリッジの電源、グランドおよび磁気抵抗ストリップの上方の電極構造は、磁気抵抗ストリップの電流方向を決定する。初期状態において、初期磁化方向と電流方向とがなす角の角度の理想的な値が45°(もちろん他の値も可能)であってもよい。外部磁界がある場合、外部磁界は、磁気抵抗ストリップの磁化方向を変化させ、よって磁気抵抗ストリップの磁化方向と磁気抵抗ストリップの電流方向とがなす角の角度を変化させる。角度が大きくなると、磁気抵抗ストリップの抵抗が減少し、角度が小さくなると、磁気抵抗ストリップの抵抗が増加する。
なお、磁気抵抗ストリップの検出磁界に応じて、一部の領域に自己検出コイル5を配置してもよい。前記自己検出コイル5は、磁気抵抗ストリップに対応する検出方向の磁界を発生させるものである。
本出願の一実施例において、隣接する磁気抵抗ストリップの間に、外部磁界に信号を出力しない擬似磁気抵抗ストリップが配置される。前記擬似磁気抵抗ストリップの上面または/および下面に、擬似磁気抵抗ストリップと所定角度をなす作用電極が配置される。もちろん、擬似磁気抵抗ストリップと所定角度をなす作用電極が設置されなくてもよい。
本出願は、3軸磁気センサの製造方法をさらに開示し、前記製造方法は、以下のステップを含む。
ステップS1:シリコン基板または回路を有する基板を設置する。
ステップS2:前記基板の表面に、側壁が前記基板の表面と所定角度をなす少なくとも2つの溝を形成する。各溝は、第1方向または第2方向に沿って並設され、または一部が第1方向、一部が第2方向に沿って並設され、第1方向に並設される溝のうち、少なくとも一対の隣接する溝の間に実装空間が設けられ、および/または第2方向に並設される溝のうち、少なくとも一対の隣接する溝の間に実装空間が設けられる。
ステップS3:前記基板および溝の表面に絶縁層を形成する。
ステップS4:前記基板の絶縁層の表面に第1磁気検知機構および第2磁気検知機構を形成し、前記溝の絶縁層の表面に第3磁気検知機構を形成し、少なくとも1つの第1磁気検知機構が第1方向に沿う実装空間に設置され、および/または少なくとも1つの第2磁気検知機構が第2方向に沿う実装空間に設置され、第1磁気検知機構、第2磁気検知機構および第3磁気検知機構のいずれにも磁性材料が含まれる。各第1磁気検知機構は、第1方向の磁界を検知するものであり、各第2磁気検知機構は、第2方向の磁界を検知するものであり、各第3磁気検知機構は、第3方向の磁界を検知するものである。第1方向および第2方向が基板の表面に対応する平面を形成するものであり、第3方向が基板の表面と交差するものである。
一実施例において、第1方向は、座標系のX軸方向であり、第1磁気検知機構は、X軸磁気検知機構である。第2方向は、座標系のY軸方向であり、第2磁気検知機構は、Y軸磁気検知機構である。第3方向は、座標系のZ軸方向であり、第3磁気検知機構は、Z軸磁気検知機構である。
本出願の一実施例において、前記磁性材料は、異方性磁気抵抗材料、巨大磁気抵抗材料およびトンネル磁気抵抗材料から選択されるいずれか1つであり、磁性材料を形成する際に、磁性材料の磁化方向を誘導し、磁性材料の磁気特性を高めるために、同時に基板に磁界を印加し、アニールする。
本出願の一実施例において、ステップS4の後は、さらに以下のステップを含む。
ステップS41:前記第1磁気検知機構、第2磁気検知機構および第3磁気検知機構の磁性材料の表面に誘電体層を形成する。
ステップS42:磁性材料の表面の誘電体層に貫通孔を形成する。
ステップS43:前記基板の表面および溝の側壁に連続する電極層を形成する。
ステップS44:前記電極層をパターニングして磁性材料の表面に作用電極を形成し、磁性材料が、その表面の誘電体層に形成された貫通孔を介して、後で形成される作用電極に接触する。
なお、前記製造方法は、以下のステップの1つ又は複数をさらに含んでもよい。
前記基板の表面および溝内の磁気抵抗ストリップの両端にそれぞれ引き出し端子を設ける。
溝の底部、基板の下方、磁気検知機構の下方に自己検出コイルを設置する。
溝の頂部、基板の上方、磁気検知機構の上方にセットコイルまたは/およびリセットコイルを設置する。
上記のように、本出願に提出された3軸磁気センサおよびその製造方法によれば、プロセス加工誤差を低減し、プロセスウィンドウを広げ、製品の全体的な歩留まりを向上させることができる。
以上記載された実施例の各技術的特徴は、任意に組み合わせることができ、説明を簡単にするために各技術的特徴の可能な組み合わせを全て説明していないが、これらの技術的特徴の組み合わせに矛盾がない限り、本明細書の範囲内に属する。
これらの本出願についての説明および適用は例示的なものであり、本出願の範囲を上記実施例に限定することを意図しない。実施例に関わる効果または利点は、様々な要因によって阻害され、実施例で実現されない可能性があり、効果または利点の説明は、実施例を限定するものではない。ここで開示される実施例は、変形および変更が可能であり、当業者にとって、実施例の置換および同等の様々な部品が周知のものである。当業者は、本出願の精神及び原理から逸脱しない限り、本出願を他の形態、構造、配置、比率、および他の構成要素、材料、部品で実現可能である。本出願の範囲および精神から逸脱しない限り、ここで開示された実施例に対して他の変形および変更を行うことができる。

Claims (10)

  1. 表面部分が少なくとも2つの溝を形成するように凹んでいる基板と、
    第1方向の磁界を検知する少なくとも1つの第1磁気検知機構と、
    第2方向の磁界を検知する少なくとも1つの第2磁気検知機構と、
    第3方向の磁界を検知する少なくとも2つの第3磁気検知機構と、を含み、
    前記第1方向および前記第2方向が前記基板の表面に対応する平面を形成するものであり、前記第3方向が前記基板の表面と交差するものであり、
    各前記溝は、前記第1方向または前記第2方向に沿って並設され、または一部が前記第1方向、一部が前記第2方向に沿って並設され、
    前記第1磁気検知機構および前記第2磁気検知機構が前記基板の表面に設置され、各前記第3磁気検知機構が各前記溝に1対1で対応するように前記溝に設置され、
    前記第1方向に沿って並設される前記溝のうち、少なくとも一対の隣接する前記溝が少なくとも1つの前記第1磁気検知機構に隔てられ、および/または前記第2方向に沿って並設される前記溝のうち、少なくとも一対の隣接する前記溝が少なくとも1つの前記第2磁気検知機構に隔てられる
    ことを特徴とする3軸磁気センサ。
  2. 前記第1磁気検知機構は、前記第2方向に延設される少なくとも1本の第1磁気抵抗ストリップを含み、
    前記第2磁気検知機構は、前記第1方向に延設される少なくとも1本の第2磁気抵抗ストリップを含み、
    前記第3磁気検知機構は、対応する前記溝の側壁に設置される少なくとも1本の第3磁気抵抗ストリップを含み、
    各前記第3磁気抵抗ストリップは、前記第1方向または前記第2方向に沿って延設され、または一部が前記第1方向、一部が前記第2方向に沿って延設される
    ことを特徴とする請求項1に記載の3軸磁気センサ。
  3. 隣設する前記第1磁気抵抗ストリップと前記第3磁気抵抗ストリップとの間にホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップが設置され、および/または隣設する前記第2磁気抵抗ストリップと前記第3磁気抵抗ストリップとの間にホイートストンブリッジが介在されない擬似磁気抵抗ストリップが設置される
    ことを特徴とする請求項2に記載の3軸磁気センサ。
  4. 各前記磁気抵抗ストリップの上方または/および下方に、磁化容易軸方向に磁界を発生させるセット/リセットコイルが配置され、前記磁気抵抗ストリップの上面または/および下面に、前記磁気抵抗ストリップと所定角度をなす作用電極が配置される
    ことを特徴とする請求項2に記載の3軸磁気センサ。
  5. 各前記磁気検知機構は、組み合わせてホイートストンブリッジを形成し、各ホイートストンブリッジの各アームは、少なくとも1本の磁気抵抗ストリップから構成され、
    外部磁界の検知において同じ誘導変化を有するいくつかの磁気抵抗ストリップは、1つのホイートストンブリッジのアームを構成し、1つのホイートストンブリッジは、外部磁界の入力に応じて抵抗値が大きくなる2組のアームと、外部磁界の入力に応じて抵抗値が小さくなる2組のアームとを含む
    ことを特徴とする請求項2に記載の3軸磁気センサ。
  6. 前記磁気抵抗ストリップの検出磁界に応じて、一部の領域に磁気抵抗ストリップに対応する検出方向の磁界を発生させる自己検出コイルが配置される
    ことを特徴とする請求項2に記載の3軸磁気センサ。
  7. シリコン基板または回路を有する基板を設置するステップと、
    前記基板の表面に、側壁が前記基板の表面と所定角度をなす少なくとも2つの溝を形成し、各前記溝は、第1方向または第2方向に沿って並設され、または一部が前記第1方向、一部が前記第2方向に沿って並設され、前記第1方向に並設される前記溝のうち、少なくとも一対の隣接する溝の間に実装空間が設けられ、および/または前記第2方向に並設される前記溝のうち、少なくとも一対の隣接する溝の間に実装空間が設けられ、前記第1方向および前記第2方向が前記基板の表面に対応する平面を形成するものであるステップと、
    前記基板および前記溝の表面に絶縁層を形成するステップと、
    前記基板の前記絶縁層の表面に第1磁気検知機構および第2磁気検知機構を形成し、前記溝の前記絶縁層の表面に第3磁気検知機構を形成し、少なくとも1つの前記第1磁気検知機構が前記第1方向に沿う実装空間に設置され、および/または少なくとも1つの前記第2磁気検知機構が前記第2方向に沿う実装空間に設置され、前記第1磁気検知機構、前記第2磁気検知機構および前記第3磁気検知機構のいずれにも磁性材料が含まれるステップと、を含む
    ことを特徴とする3軸磁気センサの製造方法。
  8. 前記第1磁気検知機構、前記第2磁気検知機構および前記第3磁気検知機構の前記磁性材料の表面に誘電体層を形成するステップと、
    前記磁性材料の表面の前記誘電体層に貫通孔を形成するステップと、
    前記基板の表面および前記溝の側壁に連続する電極層を形成するステップと、
    前記電極層をパターニングして前記磁性材料の表面に作用電極を形成し、前記磁性材料が、その表面の前記誘電体層に形成された前記貫通孔を介して、後で形成される作用電極に接触するステップと、をさらに含む
    ことを特徴とする請求項7に記載の製造方法。
  9. 前記磁性材料は、異方性磁気抵抗材料、巨大磁気抵抗材料およびトンネル磁気抵抗材料から選択されるいずれか1つであり、
    前記磁性材料を形成する際に、前記磁性材料の磁化方向を誘導し、前記磁性材料の磁気特性を高めるために、同時に前記基板に磁界を印加し、アニールする
    ことを特徴とする請求項7に記載の製造方法。
  10. 前記基板の表面および溝内の磁気抵抗ストリップの両端にそれぞれ引き出し端子を設けるステップと、
    前記溝の底部、前記基板の下方、磁気検知機構の下方に自己検出コイルを設置するステップと、
    前記溝の頂部、前記基板の上方、磁気検知機構の上方にセットコイルまたは/およびリセットコイルを設置するステップと、をさらに含む
    ことを特徴とする請求項8に記載の製造方法。
JP2024529906A 2021-12-01 2022-08-23 3軸磁気センサおよびその製造方法 Pending JP2024543871A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111459362.3A CN114220913A (zh) 2021-12-01 2021-12-01 一种三轴磁传感器及其制备工艺
CN202111459362.3 2021-12-01
PCT/CN2022/114278 WO2023098159A1 (zh) 2021-12-01 2022-08-23 一种三轴磁传感器及其制备工艺

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2024543871A true JP2024543871A (ja) 2024-11-26

Family

ID=80699416

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2024529906A Pending JP2024543871A (ja) 2021-12-01 2022-08-23 3軸磁気センサおよびその製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20240393412A1 (ja)
JP (1) JP2024543871A (ja)
KR (1) KR20240136322A (ja)
CN (2) CN114220913A (ja)
WO (1) WO2023098159A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114220913A (zh) * 2021-12-01 2022-03-22 上海矽睿科技股份有限公司 一种三轴磁传感器及其制备工艺
CN114609560B (zh) * 2022-05-09 2022-07-29 四川永星电子有限公司 一种二维amr磁敏传感器及其制备工艺

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4085859B2 (ja) * 2002-03-27 2008-05-14 ヤマハ株式会社 磁気センサおよびその製造方法
WO2006098431A1 (ja) * 2005-03-17 2006-09-21 Yamaha Corporation 三軸磁気センサおよびその製造方法
TWI493209B (zh) * 2013-07-05 2015-07-21 Voltafield Technology Corp 一種單晶片三軸磁阻感測裝置
CN104576922B (zh) * 2014-04-23 2018-10-26 上海华虹宏力半导体制造有限公司 三轴amr磁力传感器的制造方法及结构
CN105261699A (zh) * 2015-09-08 2016-01-20 杭州士兰集成电路有限公司 单芯片三轴各向异性磁阻传感器制作方法
CN111722163A (zh) * 2019-03-18 2020-09-29 爱盛科技股份有限公司 磁场感测装置
CN113257511A (zh) * 2021-05-11 2021-08-13 电子科技大学 一种Set/Reset线圈及其设计方法
CN114220913A (zh) * 2021-12-01 2022-03-22 上海矽睿科技股份有限公司 一种三轴磁传感器及其制备工艺

Also Published As

Publication number Publication date
KR20240136322A (ko) 2024-09-13
CN115425141A (zh) 2022-12-02
WO2023098159A1 (zh) 2023-06-08
US20240393412A1 (en) 2024-11-28
CN114220913A (zh) 2022-03-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2024543871A (ja) 3軸磁気センサおよびその製造方法
EP3199966B1 (en) Single-chip differential free layer push-pull magnetic field sensor bridge and preparation method
US9702943B2 (en) Single chip push-pull bridge-type magnetic field sensor
US9891292B2 (en) Monolithic three-axis linear magnetic sensor and manufacturing method thereof
CN105261699A (zh) 单芯片三轴各向异性磁阻传感器制作方法
WO2017173992A1 (zh) 一种无需置位/复位装置的各向异性磁电阻amr传感器
JP2021156733A (ja) 磁気センサおよびその製造方法
CN107192969A (zh) 磁传感器及其制造方法
CN204964732U (zh) 单芯片三轴各向异性磁阻传感器
TWI720722B (zh) 觸控電極結構以及電容式觸控系統
US12235334B2 (en) Sensor including at least one inclined surface
US11686787B2 (en) Magnetic sensor
JP2008224486A (ja) 磁気式圧力センサ
JP2007315757A (ja) 応力検出センサ
US12000910B2 (en) Sensor including protruding surface
JPWO2010122919A1 (ja) 磁気センサ
US20230089065A1 (en) Sensor
CN104793155A (zh) 一种磁传感装置及该装置的制备工艺
CN115840170A (zh) 传感器
CN115840175A (zh) 传感器
JP2023046271A (ja) 磁気センサ
CN104483638A (zh) 可提高z轴方向磁感应强度的磁传感装置及其制备方法
CN104459575B (zh) 一种磁传感装置及该磁传感装置的制备工艺
CN115840166A (zh) 磁传感器
JP2008172011A (ja) ピエゾ抵抗構造およびそれを用いた外力検知センサ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20240520

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20250319

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20250325