[go: up one dir, main page]

JP2024142073A - Film forming apparatus, foreign matter removing apparatus, molding apparatus, film forming method, foreign matter removing method, molding method, and article manufacturing method - Google Patents

Film forming apparatus, foreign matter removing apparatus, molding apparatus, film forming method, foreign matter removing method, molding method, and article manufacturing method Download PDF

Info

Publication number
JP2024142073A
JP2024142073A JP2023054056A JP2023054056A JP2024142073A JP 2024142073 A JP2024142073 A JP 2024142073A JP 2023054056 A JP2023054056 A JP 2023054056A JP 2023054056 A JP2023054056 A JP 2023054056A JP 2024142073 A JP2024142073 A JP 2024142073A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
composition
plate
foreign matter
target member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2023054056A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
賢治 吉田
Kenji Yoshida
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2023054056A priority Critical patent/JP2024142073A/en
Publication of JP2024142073A publication Critical patent/JP2024142073A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

To provide a technique advantageous for reducing the protrusion of a composition from an outer edge of a member while a plate is being pressed to the composition on the member.SOLUTION: A film formation device which performs processing for forming a hardened film of a composition between a plate and a member comprises a light irradiation unit which irradiates the member with light which hardens the composition and a control unit which controls the processing. The processing includes a pressing step of pressing the plate to the liquid-state composition supplied onto a first face of the member and a hardening step of hardening the composition which passes the pressing step and is disposed between the plate and the member. The light irradiation unit includes a first light irradiation section which irradiates the first face with light and a second light irradiation section which irradiates at least a peripheral edge of a second face at an opposite side of the first face in the member with light. The control unit performs the pressing step in a state where the second face is irradiated with the light in such a manner that a part of the light from the second light irradiation section passes outside of the member.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、膜形成装置、異物除去装置、成形装置、膜形成方法、異物除去方法、成形方法、および物品製造方法に関する。 The present invention relates to a film forming device, a foreign matter removal device, a molding device, a film forming method, a foreign matter removal method, a molding method, and an article manufacturing method.

昨今、半導体デバイス等の製造におけるパターンの微細化の進展に伴い、半導体基板などの部材の洗浄において、粒子径が非常に小さい異物(例えば数十nm以下)をも当該部材から除去することが望まれている。そして、基板の洗浄方法として、薬液等を用いずに、インプリント方式を用いて部材上の異物を除去する異物除去方法が注目されている。一例として、特許文献1には、ダミーウェハ上に塗布された樹脂にテンプレートを押し付け、当該樹脂を硬化させた後に当該樹脂からテンプレートを離すことにより、テンプレート上の異物を除去する異物除去方法が記載されている。また、特許文献2には、異物を除去する対象のモールド上に塗布された樹脂に平坦化部材を接触させて樹脂膜を形成するとともに、当該樹脂膜を硬化し、樹脂膜から平坦化部材を剥離した後に、モールドから樹脂膜を剥離する異物除去方法が記載されている。 Recently, with the progress of miniaturization of patterns in the manufacture of semiconductor devices, etc., it is desired to remove even very small particles (e.g., tens of nm or less) from semiconductor substrates and other components when cleaning the components. As a method for cleaning substrates, a method of removing particles from components using an imprint method without using chemicals or the like is attracting attention. As an example, Patent Document 1 describes a method of removing particles from a template by pressing a template against a resin applied to a dummy wafer, hardening the resin, and then separating the template from the resin to remove particles from the template. Patent Document 2 describes a method of removing particles by contacting a planarizing member with a resin applied to a mold from which particles are to be removed to form a resin film, hardening the resin film, peeling the planarizing member from the resin film, and then peeling the resin film from the mold.

特許第5121549号公報Patent No. 5121549 特許第5982996号公報Patent No. 5982996 特許第5535164号公報Patent No. 5535164

このようなインプリント方式を用いた異物除去方法では、部材の端部に付着している異物を除去するために、樹脂等の組成物を部材の外縁(エッジ)まで拡げ、組成物の硬化膜を部材の外縁まで形成することが要求される。また、部材上の組成物を成形する成形装置(インプリント装置、平坦化装置)においても、部材の外縁まで組成物の硬化膜を形成することが要求されることがある。しかしながら、組成物を部材の外縁まで拡げる際に組成物が部材の外縁からはみ出してしまうと、部材の裏面や、部材を保持している保持機構に組成物が付着しうる。即ち、部材の裏面や当該保持機構が組成物によって汚染されることとなる。 In such a foreign matter removal method using an imprinting method, in order to remove foreign matter adhering to the edge of a component, it is required to spread a composition such as a resin to the outer periphery (edge) of the component and form a cured film of the composition to the outer periphery of the component. Also, in a molding device (imprinting device, planarizing device) that molds the composition on the component, it may be required to form a cured film of the composition to the outer periphery of the component. However, if the composition overflows from the outer periphery of the component when spreading the composition to the outer periphery of the component, the composition may adhere to the back surface of the component or the holding mechanism that holds the component. In other words, the back surface of the component and the holding mechanism will be contaminated by the composition.

特許文献3には、インプリント装置において、基板の最外周領域とパターン形成領域との境界を含む光照射領域に光を照射することで、当該光照射領域の外側に樹脂が拡がることを防ぐ方法が記載されている。しかしながら、この方法では、部材(基板)のうち光照射領域より外側の部分に組成物(樹脂)を拡げて、当該部分に組成物の硬化膜を形成することが困難になりうる。 Patent Document 3 describes a method for preventing resin from spreading outside a light irradiation area in an imprinting apparatus by irradiating light to the light irradiation area including the boundary between the outermost peripheral area of a substrate and a pattern formation area. However, this method can make it difficult to spread the composition (resin) to the part of the member (substrate) outside the light irradiation area and form a cured film of the composition in that part.

そこで、本発明は、プレートを部材上の組成物に押し付けている際に部材の外縁から組成物がはみ出すことを低減するために有利な技術を提供することを目的とする。 The present invention aims to provide an advantageous technique for reducing the overflow of the composition from the outer edge of a component when a plate is pressed against the composition on the component.

上記目的を達成するために、本発明の一側面としての膜形成装置は、プレートと部材との間に組成物の硬化膜を形成する処理を行う膜形成装置であって、前記組成物を硬化させる光を前記部材に照射する光照射部と、前記処理を制御する制御部と、を備え、前記処理は、前記部材の第1面上に供給された液状の前記組成物に前記プレートを押し付ける押付工程と、前記押付工程を経て前記プレートと前記部材との間に配置されている前記組成物を硬化させる硬化工程と、を含み、前記光照射部は、前記第1面に光を照射する第1光照射部と、前記部材における前記第1面と反対側の第2面の少なくとも周縁部に光を照射する第2光照射部と、を含み、前記制御部は、前記第2光照射部からの光の一部が前記部材より外側を通過するように前記第2光照射部により前記第2面に光を照射している状態で前記押付工程を行い、前記第1光照射部からの光を前記第1面上の前記組成物に照射することによって前記硬化工程を行う、ことを特徴とする。 In order to achieve the above object, the film forming apparatus according to one aspect of the present invention is a film forming apparatus that performs a process of forming a cured film of a composition between a plate and a member, and includes a light irradiation unit that irradiates the member with light that cures the composition, and a control unit that controls the process. The process includes a pressing process of pressing the plate against the liquid composition supplied onto a first surface of the member, and a curing process of curing the composition disposed between the plate and the member after the pressing process. The light irradiation unit includes a first light irradiation unit that irradiates light onto the first surface, and a second light irradiation unit that irradiates light onto at least the periphery of a second surface of the member opposite the first surface. The control unit performs the pressing process in a state in which the second light irradiation unit irradiates light onto the second surface so that a portion of the light from the second light irradiation unit passes outside the member, and performs the curing process by irradiating the light from the first light irradiation unit onto the composition on the first surface.

本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。 Further objects and other aspects of the present invention will become apparent from the following description of preferred embodiments thereof with reference to the accompanying drawings.

本発明によれば、例えば、プレートを部材上の組成物に押し付けている際に部材の外縁から組成物がはみ出すことを低減するために有利な技術を提供するために有利な技術を提供することができる。 The present invention can provide an advantageous technique for reducing overflow of a composition from the outer edge of a component when, for example, a plate is pressed against the composition on the component.

第1実施形態の異物除去処理を示すフローチャート1 is a flowchart showing a foreign matter removal process according to a first embodiment; 第1実施形態の異物除去処理を時系列で説明するための模式図FIG. 2 is a schematic diagram for explaining the foreign matter removal process of the first embodiment in chronological order; 押付工程での課題を説明するための図Diagram to explain the issues in the pressing process 第1実施形態の異物除去装置の構成例を示す模式図FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration example of a foreign matter removal device according to a first embodiment; 第1実施形態における第1光照射部および第2光照射部の構成例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a first light irradiation unit and a second light irradiation unit in a first embodiment; 第2実施形態における第1光照射部および第2光照射部の構成例を示す図FIG. 13 is a diagram showing an example of the configuration of a first light irradiation unit and a second light irradiation unit in a second embodiment; 第3実施形態における第1光照射部および第2光照射部の構成例を示す図FIG. 13 is a diagram showing an example of the configuration of a first light irradiation unit and a second light irradiation unit in the third embodiment; 物品製造方法を説明するための図A diagram for explaining a method for manufacturing an article

以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。 The following embodiments are described in detail with reference to the attached drawings. Note that the following embodiments do not limit the invention according to the claims. Although the embodiments describe multiple features, not all of these multiple features are necessarily essential to the invention, and multiple features may be combined in any manner. Furthermore, in the attached drawings, the same reference numbers are used for the same or similar configurations, and duplicate explanations are omitted.

本明細書及び添付図面では、組成物の硬化膜を形成する対象の部材の上面(第1面)に平行な方向をXY平面とするXYZ座標系で方向を示す。XYZ座標系におけるX軸、Y軸及びZ軸のそれぞれに平行な方向をX方向、Y方向及びZ方向とし、X軸周りの回転、Y軸周りの回転及びZ軸周りの回転のそれぞれを、θX、θY及びθZとする。X軸、Y軸、Z軸に関する制御及び駆動(移動)は、それぞれ、X軸に平行な方向、Y軸に平行な方向、Z軸に平行な方向に関する制御又は駆動(移動)を意味する。また、θX軸、θY軸、θZ軸に関する制御又は駆動は、それぞれ、X軸に平行な軸周りの回転、Y軸に平行な軸周りの回転、Z軸に平行な軸周りの回転に関する制御又は駆動を意味する。 In this specification and the accompanying drawings, directions are shown in an XYZ coordinate system in which the direction parallel to the upper surface (first surface) of the member on which the cured film of the composition is formed is the XY plane. The directions parallel to the X-axis, Y-axis, and Z-axis in the XYZ coordinate system are the X direction, the Y direction, and the Z direction, respectively, and the rotation around the X-axis, the Y axis, and the Z axis are θX, θY, and θZ, respectively. Control and drive (movement) about the X-axis, Y-axis, and Z-axis respectively refer to control or drive (movement) about the direction parallel to the X-axis, the direction parallel to the Y axis, and the direction parallel to the Z axis. In addition, control or drive about the θX-axis, θY-axis, and θZ-axis respectively refer to control or drive about the rotation around the axis parallel to the X-axis, the axis parallel to the Y axis, and the axis parallel to the Z axis.

<第1実施形態>
本発明に係る第1実施形態の膜形成方法について説明する。膜形成方法は、プレートと部材との間に組成物の硬化膜を形成する方法である。本実施形態では、プレートを用いて部材上の異物を除去する異物除去方法に当該膜形成方法を適用する例について説明する。
First Embodiment
A film forming method according to a first embodiment of the present invention will be described. The film forming method is a method for forming a cured film of a composition between a plate and a member. In this embodiment, an example of applying the film forming method to a foreign matter removal method for removing foreign matter on a member using a plate will be described.

[異物除去方法]
以下、本実施形態の異物除去方法について、図1~図2を参照しながら説明する。本実施形態の異物除去方法では、プレートを用いて部材上の異物を除去する異物除去処理が行われる。そして、当該異物除去処理は、プレートと部材との間に組成物の硬化膜を形成する膜形成処理を含む。図1は、本実施形態の異物除去処理を示すフローチャートである。また、図2は、本実施形態の異物除去処理を時系列で説明するための模式図である。なお、図1~図2に示す例は、あくまで代表例であり、図1~図2に示す例に限定されるものではない。
[Foreign matter removal method]
The foreign matter removal method of this embodiment will be described below with reference to Figs. 1 and 2. In the foreign matter removal method of this embodiment, a foreign matter removal process is carried out to remove foreign matter on a member using a plate. The foreign matter removal process includes a film formation process to form a cured film of a composition between the plate and the member. Fig. 1 is a flowchart showing the foreign matter removal process of this embodiment. Fig. 2 is a schematic diagram for explaining the foreign matter removal process of this embodiment in chronological order. Note that the examples shown in Figs. 1 and 2 are merely representative examples, and the present invention is not limited to the examples shown in Figs. 1 and 2.

まず、ステップS11(準備工程)において、異物を除去する対象の部材1を準備する。以下では、異物を除去する対象の部材1を「対象部材1」と表記することがある。準備工程は、対象部材1上の異物を除去する異物除去装置内に当該対象部材1を搬入する工程として理解されてもよい。異物除去装置の構成例については後述する。 First, in step S11 (preparation process), a target member 1 from which foreign matter is to be removed is prepared. Hereinafter, the target member 1 from which foreign matter is to be removed may be referred to as the "target member 1." The preparation process may be understood as a process of carrying the target member 1 into a foreign matter removal device that removes foreign matter on the target member 1. An example of the configuration of the foreign matter removal device will be described later.

対象部材1は、例えば、半導体デバイスやフラットパネルディスプレイを製造するためのリソグラフィ工程によってパターンが形成される基板でありうる。当該基板としては、パターンが形成された半導体ウエハやMEMSウエハ、パワー半導体ウエハ、ディスプレイ用ガラス基板(ガラスプレート)やバイオ素子などが挙げられる。ここで、本実施形態では、対象部材1として基板を適用する例を説明するが、対象部材1は、リソグラフィ工程において基板上にパターンを形成するために用いられる原版であってもよい。当該原版としては、EUV露光マスク、半導体露光マスク、半導体インプリントモールド(テンプレート)、MEMS露光マスク、パワー系半導体露光用マスク、ディスプレイ露光用マスクなどが挙げられる。なお、MEMSは、Micro Electro Mechanical Systemの略であり、EUVは、Extreme Ultravioletの略である。 The target member 1 may be, for example, a substrate on which a pattern is formed by a lithography process for manufacturing a semiconductor device or a flat panel display. Examples of the substrate include a semiconductor wafer or MEMS wafer on which a pattern is formed, a power semiconductor wafer, a glass substrate (glass plate) for a display, and a bioelement. In this embodiment, an example in which a substrate is used as the target member 1 is described, but the target member 1 may also be an original plate used to form a pattern on a substrate in a lithography process. Examples of the original plate include an EUV exposure mask, a semiconductor exposure mask, a semiconductor imprint mold (template), a MEMS exposure mask, a power semiconductor exposure mask, and a display exposure mask. Note that MEMS is an abbreviation for Micro Electro Mechanical System, and EUV is an abbreviation for Extreme Ultraviolet.

また、対象部材1は、図2(a)に示すように、凹部と凸部とが設けられた凹凸パターン3を有する中央部1a(パターン部)と、中央部1aを取り囲む周縁部1bとを有する。周縁部1bは、ベベル加工(例えば面取り加工)が行われている部分でありうる。そして、対象部材1の中央部1aに形成されている凹凸パターン3(凸部の上面や凹部の内部)、および、対象部材1の周縁部1bに、様々なサイズの異物2が付着している。特に、30nm以下の粒子径を有する極微小異物や凹凸パターン3の凹部内に付着している異物は、メガソニック洗浄や二流体洗浄などの従来の洗浄方法では除去することが困難である。ここで、以下では、対象部材1のうち、凹凸パターン3が形成されている面、即ち、異物除去処理が行われる面1c(第1面)を「表面1c」と表記し、当該面1c(第1面)と反対側の面1d(第2面)を「裏面1d」と表記することがある。 As shown in FIG. 2(a), the target member 1 has a central portion 1a (pattern portion) having an uneven pattern 3 with recesses and protrusions, and a peripheral portion 1b surrounding the central portion 1a. The peripheral portion 1b may be a portion where bevel processing (e.g., chamfering processing) is performed. Foreign matter 2 of various sizes is attached to the uneven pattern 3 (the upper surface of the protrusions and the inside of the recesses) formed in the central portion 1a of the target member 1 and to the peripheral portion 1b of the target member 1. In particular, it is difficult to remove extremely small foreign matter having a particle diameter of 30 nm or less and foreign matter attached to the recesses of the uneven pattern 3 by conventional cleaning methods such as megasonic cleaning and two-fluid cleaning. Hereinafter, the surface of the target member 1 on which the uneven pattern 3 is formed, i.e., the surface 1c (first surface) on which the foreign matter removal process is performed, may be referred to as the "front surface 1c", and the surface 1d (second surface) opposite to the surface 1c (first surface) may be referred to as the "rear surface 1d".

次に、ステップS12(供給工程)において、図2(b)に示すように、対象部材1上の異物2を取り込んで内包させるための組成物4を対象部材1の表面1c上(第1面上)に供給する。組成物4は、流動性を有している状態(即ち、液体の状態)で対象部材1上に供給される。また、組成物4は、対象部材1(周縁部1b)から外側にはみ出すことを回避するとの観点から、対象部材1の周縁部1b上に供給されないように、即ち、対象部材1の中央部1a(パターン部)のみ、即ち、周縁部1b以外の部分に対して供給されるとよい。 Next, in step S12 (supply step), as shown in FIG. 2(b), a composition 4 for capturing and encapsulating foreign matter 2 on the target member 1 is supplied onto the surface 1c (first surface) of the target member 1. The composition 4 is supplied onto the target member 1 in a fluid state (i.e., in a liquid state). From the viewpoint of avoiding the composition 4 spilling out of the target member 1 (peripheral portion 1b), it is preferable that the composition 4 is not supplied onto the peripheral portion 1b of the target member 1, that is, is supplied only to the central portion 1a (pattern portion) of the target member 1, i.e., to the portion other than the peripheral portion 1b.

組成物4としては、硬化用の光の照射により硬化する光硬化性組成物が用いられる。光硬化性組成物は、少なくとも重合性化合物と光重合開始剤とを含有し、必要に応じて非重合性化合物または溶剤を更に含有してもよい。重合性化合物とは、光重合開始剤から発生した重合因子(ラジカル等)と反応し、連鎖反応(重合反応)によって高分子化合物からなる膜を形成する化合物である。このような重合性化合物として、例えばラジカル重合性化合物が挙げられ、アクリロイル基またはメタクリロイル基を1つ以上有する化合物、すなわち(メタ)アクリル化合物であることが好ましい。非重合性化合物は、増感剤、水素供与体、内添型離型剤、界面活性剤、酸化防止剤、ポリマ成分などの群から選択される少なくとも一種である。なお、組成物4の粘度(25℃における粘度)は、例えば、1mPa・S以上100mPa・S以下である。 As the composition 4, a photocurable composition that is cured by irradiation with curing light is used. The photocurable composition contains at least a polymerizable compound and a photopolymerization initiator, and may further contain a non-polymerizable compound or a solvent as necessary. The polymerizable compound is a compound that reacts with a polymerization factor (radical, etc.) generated from the photopolymerization initiator to form a film made of a polymer compound by a chain reaction (polymerization reaction). For example, a radical polymerizable compound is an example of such a polymerizable compound, and it is preferably a compound having one or more acryloyl groups or methacryloyl groups, that is, a (meth)acrylic compound. The non-polymerizable compound is at least one selected from the group consisting of a sensitizer, a hydrogen donor, an internal mold release agent, a surfactant, an antioxidant, and a polymer component. The viscosity of the composition 4 (viscosity at 25°C) is, for example, 1 mPa·S or more and 100 mPa·S or less.

本実施形態の場合、組成物4は、インクジェット法により組成物4を吐出する装置を用いて対象部材1上に供給(塗布)されうる。但し、対象部材1上への組成物4の供給方法(塗布方法)は、インクジェット法に限られるものではなく、対象部材1上への組成物4の供給量(例えば、組成物4の塗布膜厚)が制御できる方法であればよい。例えば、組成物4は、ディスペンサ塗布、スピン塗布、スクリーンやグラビア、オフセット印刷などの各種印刷方法、ディッピング塗布などを用いて対象部材1上に供給されてもよい。 In this embodiment, the composition 4 can be supplied (applied) onto the target member 1 using a device that ejects the composition 4 by an inkjet method. However, the method of supplying (applying) the composition 4 onto the target member 1 is not limited to the inkjet method, and any method can be used as long as it can control the amount of the composition 4 supplied onto the target member 1 (for example, the coating film thickness of the composition 4). For example, the composition 4 may be supplied onto the target member 1 using dispenser application, spin application, various printing methods such as screen, gravure, and offset printing, dipping application, etc.

また、対象部材1上への組成物4の供給量は、対象部材1に付着している異物2のサイズに基づいて、後続の押付工程を経て対象部材1上に形成される組成物4の膜厚が異物2のサイズより厚くなるように決定されるとよい。異物2のサイズは、対象部材1に付着した異物2のサイズを事前に計測することにより得られる計測値であってもよいし、これまでの経験則に基づく計算から得られる予測値であってもよい。 The amount of composition 4 supplied onto the target member 1 may be determined based on the size of the foreign matter 2 adhering to the target member 1 so that the film thickness of the composition 4 formed on the target member 1 through the subsequent pressing process is thicker than the size of the foreign matter 2. The size of the foreign matter 2 may be a measured value obtained by measuring the size of the foreign matter 2 adhering to the target member 1 in advance, or may be a predicted value obtained from calculations based on past experience.

ここで、対象部材1の表面1cは、対象部材1と組成物4との間に気泡が巻き込まれないように、且つ、対象部材1上を組成物4が拡がり易くなるように、できるだけ濡れ性が高いことが好ましい。つまり、対象部材1と組成物4との接触角をできるだけ小さくすることが好ましい。当該接触角の許容範囲は、2度以下であることが好ましく、1度以下であることがより好ましい。 Here, it is preferable that the surface 1c of the target member 1 has as high wettability as possible so that air bubbles are not trapped between the target member 1 and the composition 4, and so that the composition 4 can easily spread over the target member 1. In other words, it is preferable to make the contact angle between the target member 1 and the composition 4 as small as possible. The allowable range of the contact angle is preferably 2 degrees or less, and more preferably 1 degree or less.

そのため、供給工程(ステップS12)の前に、組成物4に対して対象部材1の表面1cを親液化させる処理(親液化処理)が対象部材1に対して行われるとよい。親液化処理は、対象部材1上の有機コンタミ成分を除去する処理を含む。親液化処理としては、ベーキング、プラズマアッシング処理、大気圧プラズマ処理、アルカリ若しくはオゾン水洗浄などが挙げられる。本実施形態では、簡便な装置構成で実現することができる大気圧プラズマ処理が親液化処理として用いられうる。対象部材1が十分に親液性である場合には親液化処理を省略することができる。親液化処理を行う際には、対象部材1の表面層にダメージを与えない範囲で極表層のコンタミ成分を除去するようエッチング量を選択することが好ましい。このように対象部材1の表面1cを予め親液化した後に対象部材1上に組成物4を供給することにより、対象部材1とそれに付着している異物2との間の狭いチャネル(隙間)に毛管力で組成物4を浸透しやすくすることができる。なお、親液化処理は、準備工程(ステップS11)の前、例えば対象部材1が異物除去装置内に搬入される前に、異物除去装置の外部装置によって行われてもよい。また、後続の分離工程(ステップS15)で対象部材1と組成物4とを分離(剥離)し易くするための分離層(例えばフッ素系)が、供給工程(ステップS12)の前に対象部材1上に形成されてもよい。 Therefore, before the supplying step (step S12), a process (lyophilic process) for making the surface 1c of the target member 1 lyophilic to the composition 4 may be performed on the target member 1. The lyophilic process includes a process for removing organic contaminants on the target member 1. Examples of the lyophilic process include baking, plasma ashing, atmospheric pressure plasma process, and alkaline or ozone water cleaning. In this embodiment, atmospheric pressure plasma process, which can be realized with a simple device configuration, can be used as the lyophilic process. If the target member 1 is sufficiently lyophilic, the lyophilic process can be omitted. When performing the lyophilic process, it is preferable to select the amount of etching so as to remove the contaminants of the extreme surface layer without damaging the surface layer of the target member 1. In this way, by supplying the composition 4 onto the target member 1 after making the surface 1c of the target member 1 lyophilic in advance, the composition 4 can be easily penetrated by capillary force into the narrow channel (gap) between the target member 1 and the foreign matter 2 adhering thereto. The lyophilic treatment may be performed by an external device of the foreign matter removal device before the preparation step (step S11), for example, before the target member 1 is carried into the foreign matter removal device. Also, a separation layer (e.g., fluorine-based) may be formed on the target member 1 before the supply step (step S12) to facilitate separation (peeling) of the target member 1 and the composition 4 in the subsequent separation step (step S15).

次に、ステップS13(押付工程)において、組成物4が対象部材1の目標範囲にわたって拡がるように、対象部材1の表面1c上に供給された液状の組成物4にプレート5(テンプレート)を押し付ける。具体的には、押付工程は、図2(c)に示すように、供給工程で対象部材1上に供給された組成物4にプレート5を接触させた後、図2(d)に示すように、プレート5によって組成物4を対象部材1の表面1c上で押し拡げる。このとき、対象部材1の目標範囲にわたって組成物4が拡がり、目標範囲内の異物2が組成物4内に取り込まれるように、対象部材1上の組成物4にプレート5が押し付けられる。なお、押付工程は、対象部材1とプレート5とを相対的に駆動する駆動機構(駆動部)によって実行されうる。 Next, in step S13 (pressing step), a plate 5 (template) is pressed against the liquid composition 4 supplied onto the surface 1c of the target member 1 so that the composition 4 spreads over the target range of the target member 1. Specifically, in the pressing step, as shown in FIG. 2(c), the plate 5 is brought into contact with the composition 4 supplied onto the target member 1 in the supplying step, and then, as shown in FIG. 2(d), the plate 5 presses the composition 4 on the target member 1 so that the composition 4 spreads over the target range of the target member 1 and the foreign matter 2 within the target range is taken into the composition 4. The pressing step can be performed by a driving mechanism (driving unit) that drives the target member 1 and the plate 5 relatively.

本実施形態の押付工程は、図2(c)~(d)に示すように、組成物4を硬化させる光6を、当該光6の一部が対象部材1の外縁より外側を通過するように、対象部材1の裏面1dの少なくとも周縁部1bに照射している状態で行われる。即ち、本実施形態の押付工程では、光6の一部が対象部材1より外側を通過するように、当該光6が裏面1d側から対象部材1(周縁部1b)に照射される。これにより、対象部材1より外側を通過する光6によって、対象部材1の外縁を超える組成物4を硬化させ、対象部材1の外縁から組成物4がはみ出すことを防ぐことができる。つまり、対象部材1の外縁からはみ出した組成物4が、対象部材1の裏面1dや、対象部材1を保持している保持機構(ステージ)に付着して、それらを汚染することを低減することができる。 2(c)-(d), the pressing step of this embodiment is performed in a state in which light 6 for hardening the composition 4 is irradiated to at least the peripheral portion 1b of the back surface 1d of the target member 1 so that part of the light 6 passes outside the outer edge of the target member 1. That is, in the pressing step of this embodiment, the light 6 is irradiated to the target member 1 (peripheral portion 1b) from the back surface 1d side so that part of the light 6 passes outside the target member 1. This makes it possible to harden the composition 4 that exceeds the outer edge of the target member 1 by the light 6 passing outside the target member 1, and to prevent the composition 4 from spilling out from the outer edge of the target member 1. In other words, it is possible to reduce the possibility that the composition 4 that spills out from the outer edge of the target member 1 will adhere to the back surface 1d of the target member 1 or the holding mechanism (stage) that holds the target member 1, thereby contaminating them.

また、対象部材1は、組成物4を硬化させる光を通過しない材料(材質)によって構成されうる。そのため、対象部材1の裏面1dに照射される光6は、対象部材1に遮られ、対象部材1の表面1c上の組成物4に照射されることはない。つまり、光6は、押付工程において対象部材1の表面1c上の組成物4を硬化させず、対象部材1の目標範囲にわたって(即ち、対象部材1の外縁まで)組成物4が拡がることを阻害しない。 The target member 1 can also be made of a material that does not transmit the light that hardens the composition 4. Therefore, the light 6 irradiated to the back surface 1d of the target member 1 is blocked by the target member 1 and is not irradiated to the composition 4 on the front surface 1c of the target member 1. In other words, the light 6 does not harden the composition 4 on the front surface 1c of the target member 1 in the pressing process, and does not prevent the composition 4 from spreading over the target range of the target member 1 (i.e., to the outer edge of the target member 1).

対象部材1の目標範囲は、異物の除去を行うべき範囲であり、中央部1a(パターン部)に加えて、周縁部1bの少なくとも一部を含みうる。本実施形態の場合、目標範囲は、周縁部1bの全体を含む範囲、即ち、対象部材1の表面1cの全体に設定される。また、プレート5は、供給工程で対象部材1上に供給された組成物4を対象部材1上で押し拡げたり、後述する硬化工程で硬化した組成物4を対象部材1上から分離したりするためのハンドルの役割を担う部材(第2部材)である。プレート5は、対象部材1の外縁や周縁部1bの全体に対して異物の除去(洗浄)を効果的に行うため、対象部材1の目標範囲より大きいサイズで構成されるとよい。 The target area of the target member 1 is the area where foreign matter should be removed, and may include at least a part of the peripheral area 1b in addition to the central area 1a (pattern area). In this embodiment, the target area is set to an area including the entire peripheral area 1b, that is, the entire surface 1c of the target member 1. The plate 5 is a member (second member) that acts as a handle for spreading the composition 4 supplied onto the target member 1 in the supplying step on the target member 1, and for separating the composition 4 hardened from the target member 1 in the hardening step described below. The plate 5 is preferably configured to be larger than the target area of the target member 1 in order to effectively remove (clean) foreign matter from the outer edge and the entire peripheral area 1b of the target member 1.

ここで、押付工程では、図3(a)に示すように、プレート5と対象部材1とが相対的に傾いた状態でプレート5を対象部材1上の組成物4に押し付けると、対象部材1の目標範囲の全体にわたって組成物4を押し拡げることが困難になりうる。その結果、図3(b)に示すように、後述する分離工程を経た後においても、対象部材1(例えば周縁部1b)上に異物2が残存することがある。 In the pressing step, as shown in FIG. 3(a), if the plate 5 is pressed against the composition 4 on the target member 1 while the plate 5 and the target member 1 are tilted relative to each other, it may be difficult to spread the composition 4 over the entire target area of the target member 1. As a result, as shown in FIG. 3(b), foreign matter 2 may remain on the target member 1 (e.g., peripheral portion 1b) even after the separation step described below.

そのため、本実施形態の押付工程では、対象部材1の目標範囲の全体にわたって組成物4が拡がるように、プレート5と対象部材1との平行度、および、対象部材1上の組成物4に対するプレート5の押付力が制御されうる。例えば、プレート5と対象部材1との平行度は、プレート5の押付面5aと対象部材1の上面とが平行になるように、プレート5と対象部材1との相対姿勢(相対傾き)を調整することによって制御されうる。プレート5の押付面5aとは対象部材1上の組成物4に押し付けられる面(例えば下面)である。なお、当該平行度および当該押付力は、対象部材1とプレート5とを相対的に駆動する駆動機構(駆動部)によって制御されうる。 Therefore, in the pressing process of this embodiment, the parallelism between the plate 5 and the target member 1 and the pressing force of the plate 5 against the composition 4 on the target member 1 can be controlled so that the composition 4 spreads over the entire target range of the target member 1. For example, the parallelism between the plate 5 and the target member 1 can be controlled by adjusting the relative attitude (relative inclination) between the plate 5 and the target member 1 so that the pressing surface 5a of the plate 5 and the upper surface of the target member 1 are parallel. The pressing surface 5a of the plate 5 is the surface (e.g., the lower surface) that is pressed against the composition 4 on the target member 1. The parallelism and the pressing force can be controlled by a drive mechanism (drive unit) that drives the target member 1 and the plate 5 relatively.

また、本実施形態の押付工程では、図2(d)に示すように、撮影部16によって対象部材1上での組成物4の拡がりを観察しながら、対象部材1上の組成物4に対するプレート5の押し付け(例えば、平行度および/または押付力)を制御してもよい。撮影部16は、例えばカメラ16aと観察光学系16bとを含み、対象部材1の目標範囲の全体が撮影視野に収まるように構成されうる。これにより、対象部材1の目標範囲にわたって組成物4が拡がるように、対象部材の組成物4に対するプレート5の押し付けを制御することができる。また、光6に関しても、プレート5の押し付けと同様に、対象部材1上の組成物4の拡がり状態に応じて、光6の照射位置や強度、照射開始タイミングを制御してもよい。例えば、組成物4が対象部材1の周縁部1bに到達したときに、対象部材1に対する光6の照射を開始してもよい。なお、押付工程は、撮影部16での観察結果に限られず、時間管理によって制御してもよい。 In addition, in the pressing step of this embodiment, as shown in FIG. 2(d), pressing of the plate 5 against the composition 4 on the target member 1 (for example, parallelism and/or pressing force) may be controlled while observing the spread of the composition 4 on the target member 1 by the photographing unit 16. The photographing unit 16 may include, for example, a camera 16a and an observation optical system 16b, and may be configured so that the entire target range of the target member 1 fits within the photographing field of view. This allows the pressing of the plate 5 against the composition 4 of the target member 1 to be controlled so that the composition 4 spreads over the target range of the target member 1. In addition, as with the pressing of the plate 5, the irradiation position, intensity, and irradiation start timing of the light 6 may be controlled according to the spreading state of the composition 4 on the target member 1. For example, when the composition 4 reaches the peripheral portion 1b of the target member 1, irradiation of the light 6 against the target member 1 may be started. Note that the pressing step is not limited to the observation result by the photographing unit 16, and may be controlled by time management.

次に、ステップS14(硬化工程)において、図2(e)に示すように、対象部材1上の組成物4とプレート5とが接触している状態で組成物4に光7を照射(付与)することにより、当該組成物4を硬化させる。即ち、前述の押付工程を経て対象部材1とプレート5との間に配置されている組成物4にプレート5を介して光7を照射することにより、当該組成物4を硬化させる。これにより、対象部材1上の異物2を取り込んだ組成物4の硬化膜をプレート5と対象部材1との間に形成することができる。ここで、プレート5は、石英など、光(紫外光)を透過することができる材料で構成される。また、組成物4は、紫外光の照射によって硬化する材料に限られず、X線や可視光などの他の光を照射することによって重合反応が生じて硬化する材料であってもよい。本実施形態において、組成物4は、光(紫外線)の照射によって硬化する特性を有する光硬化性組成物である。光7は、組成物4を硬化させる光であり、押付工程で対象部材1の裏面1dに照射される光6と同じ波長の光であってもよい。 Next, in step S14 (curing step), as shown in FIG. 2(e), the composition 4 on the target member 1 is irradiated (applied) with light 7 while the composition 4 and the plate 5 are in contact with each other, thereby curing the composition 4. That is, the composition 4 that has been placed between the target member 1 and the plate 5 through the above-mentioned pressing step is irradiated with light 7 through the plate 5, thereby curing the composition 4. As a result, a cured film of the composition 4 that has incorporated the foreign matter 2 on the target member 1 can be formed between the plate 5 and the target member 1. Here, the plate 5 is made of a material that can transmit light (ultraviolet light), such as quartz. In addition, the composition 4 is not limited to a material that is cured by irradiation with ultraviolet light, but may be a material that is cured by polymerization reaction caused by irradiation with other light such as X-rays or visible light. In this embodiment, the composition 4 is a photocurable composition that has the property of being cured by irradiation with light (ultraviolet light). The light 7 is light that cures the composition 4, and may be light of the same wavelength as the light 6 irradiated to the back surface 1d of the target member 1 in the pressing step.

上記の押付工程(ステップS13)および硬化工程(ステップS14)は、プレート5と対象部材1との間に組成物4の硬化膜を形成する膜形成処理に含まれる。また、供給工程(ステップS12)、更には準備工程(ステップS11)が膜形成処理に含まれてもよい。 The above pressing step (step S13) and curing step (step S14) are included in the film formation process for forming a cured film of the composition 4 between the plate 5 and the target member 1. The film formation process may also include the supplying step (step S12) and even the preparation step (step S11).

次に、ステップS15(分離工程)において、図2(f)に示すように、プレート5と対象部材1との間隔を広げることにより、硬化工程で硬化された組成物4とプレート5とが貼り付いている状態でプレート5を対象部材1から分離(剥離)させる。つまり、異物2が取り込まれている組成物4の硬化膜とプレート5とが貼り付いている状態で、プレート5を組成物4の硬化膜とともに対象部材1から分離させる。このような分離工程を用いることで、対象部材1上の異物2の除去、即ち、対象部材1の洗浄を効率的に且つ簡易な処理で行うことができる。 Next, in step S15 (separation process), as shown in FIG. 2(f), the gap between the plate 5 and the target member 1 is widened to separate (peel) the plate 5 from the target member 1 while the composition 4 cured in the curing process is still attached to the plate 5. In other words, while the cured film of the composition 4 containing the foreign matter 2 is still attached to the plate 5, the plate 5 is separated from the target member 1 together with the cured film of the composition 4. By using such a separation process, the foreign matter 2 on the target member 1 can be removed, i.e., the target member 1 can be cleaned efficiently and simply.

ここで、上記の分離工程を行うためには、プレート5と組成物4との密着性が、対象部材1と組成物4との密着性より高い必要がある。そのため、押付工程(ステップS13)の前に、プレート5と組成物4との密着性を向上させる前処理がプレート5に対して行われるとよい。当該前処理は、組成物4に密着する密着膜(密着層)をプレート5の押付面5aに形成する処理を含みうる。当該前処理は、スプレイ法、蒸着、スピン塗布など一般的な薄膜形成方法によって行われうる。当該前処理は、異物除去装置にプレート5が搬入される前に、異物除去装置の外部装置によって行われてもよい。 Here, in order to perform the above separation step, the adhesion between the plate 5 and the composition 4 needs to be higher than that between the target member 1 and the composition 4. Therefore, it is preferable to perform a pretreatment on the plate 5 to improve the adhesion between the plate 5 and the composition 4 before the pressing step (step S13). The pretreatment may include a process of forming an adhesive film (adhesive layer) that adheres to the composition 4 on the pressing surface 5a of the plate 5. The pretreatment may be performed by a general thin film formation method such as a spray method, vapor deposition, or spin coating. The pretreatment may be performed by an external device of the foreign matter removal device before the plate 5 is carried into the foreign matter removal device.

また、プレート5の押付面5aは、押付工程においてプレート5と組成物4との間に気泡が巻き込まれないように、且つ、プレート5上を組成物4が拡がり易くなるように、できるだけ濡れ性が高いことが好ましい。つまり、押付工程におけるプレート5と対象部材1上の組成物4との接触角をできるだけ小さくすることが好ましい。プレート5と組成物4との接触角の許容範囲は、2度以下であることが好ましく、1度以下であることがより好ましく、対象部材1と組成物4との接触角より0.5~1度程度小さいとよい。例えば、対象部材1上にフッ素系の分離層が形成されている場合には、対象部材1と組成物4との接触角が前述の許容範囲を満たさないため、プレート5と組成物4との接触角を1度以下としてプレート5上での組成物4の拡がり速度を増加させるとよい。 In addition, it is preferable that the pressing surface 5a of the plate 5 has as high wettability as possible so that air bubbles are not caught between the plate 5 and the composition 4 in the pressing process and so that the composition 4 can easily spread on the plate 5. In other words, it is preferable to make the contact angle between the plate 5 and the composition 4 on the target member 1 as small as possible in the pressing process. The allowable range of the contact angle between the plate 5 and the composition 4 is preferably 2 degrees or less, more preferably 1 degree or less, and it is preferable that it is about 0.5 to 1 degree smaller than the contact angle between the target member 1 and the composition 4. For example, when a fluorine-based separation layer is formed on the target member 1, the contact angle between the target member 1 and the composition 4 does not satisfy the above-mentioned allowable range, so it is preferable to set the contact angle between the plate 5 and the composition 4 to 1 degree or less to increase the spreading speed of the composition 4 on the plate 5.

そのため、押付工程(ステップS13)の前に、組成物4に対してプレート5の押付面5aを親液化させる処理(親液化処理)がプレート5に対して行われてもよい。親液化処理は、プレート5の押付面5a上の有機コンタミ成分を除去する処理を含む。親液化処理としては、ベーキング、大気圧プラズマ処理やアッシング処理、アルカリ若しくはオゾン水洗浄などが挙げられる。本実施形態では、簡便な装置構成で実現することができる大気圧プラズマ処理が除去処理として用いられうる。このようにプレート5の押付面5aを親液化することにより、押付工程においてプレート5と組成物4との接触角を小さくし、プレート5上で組成物4を拡がり易くすることができる。なお、親液化処理は、プレート5が異物除去装置内に搬入される前に、異物除去装置の外部装置によって行われてもよい。 Therefore, before the pressing step (step S13), a process (lyophilic process) for making the pressing surface 5a of the plate 5 lyophilic to the composition 4 may be performed on the plate 5. The lyophilic process includes a process for removing organic contaminants on the pressing surface 5a of the plate 5. Examples of the lyophilic process include baking, atmospheric pressure plasma process, ashing process, and alkaline or ozone water cleaning. In this embodiment, atmospheric pressure plasma process, which can be realized with a simple device configuration, can be used as the removal process. By making the pressing surface 5a of the plate 5 lyophilic in this way, the contact angle between the plate 5 and the composition 4 in the pressing step can be reduced, and the composition 4 can be easily spread on the plate 5. The lyophilic process may be performed by an external device of the foreign matter removal device before the plate 5 is carried into the foreign matter removal device.

[異物除去装置の構成]
以下、本実施形態の異物除去装置10について説明する。図4は、本実施形態の異物除去装置10の構成例を示す模式図である。本実施形態の異物除去装置10は、図1~図2を用いて前述した異物除去処理を実行することによって対象部材1上の異物を除去する装置である。異物除去装置10は、例えば、ステージ11と、保持部12と、供給部13と、第1処理部14と、第2処理部15と、撮影部16と、第1光照射部17と、第2光照射部18と、制御部19とを含みうる。第1光照射部17および第2光照射部18は、組成物4を硬化させる光を対象部材1に照射する光照射部を構成する。
[Configuration of Foreign Matter Removal Device]
The foreign matter removal device 10 of this embodiment will be described below. FIG. 4 is a schematic diagram showing a configuration example of the foreign matter removal device 10 of this embodiment. The foreign matter removal device 10 of this embodiment is a device that removes foreign matter on a target member 1 by performing the foreign matter removal process described above with reference to FIGS. 1 and 2. The foreign matter removal device 10 may include, for example, a stage 11, a holding unit 12, a supply unit 13, a first processing unit 14, a second processing unit 15, an imaging unit 16, a first light irradiation unit 17, a second light irradiation unit 18, and a control unit 19. The first light irradiation unit 17 and the second light irradiation unit 18 constitute a light irradiation unit that irradiates the target member 1 with light that hardens the composition 4.

ステージ11は、異物を除去する対象の対象部材1の裏面1dを真空力や静電力で吸引して対象部材1を保持するとともに、ベースプレートBP上をXY方向に移動可能に構成される。つまり、ステージ11は、対象部材1を保持してXY方向に駆動する機構である。本実施形態のステージ11は、対象部材1の裏面1dにおける周縁部1bが露出するように、対象部材1の裏面1dにおける中央部(パターン部1a)を保持する構成となっている。この構成により、対象部材1の裏面cの少なくとも周縁部1bに第2光照射部18によって光6を照射することができる。また、本実施形態の場合、ステージ11は、XY方向のみに対象部材1を駆動するように構成されているが、Z方向や各軸の回転方向に対象部材1を駆動するように構成されてもよい。 The stage 11 is configured to hold the target member 1 from which foreign matter is to be removed by sucking the back surface 1d of the target member 1 with a vacuum force or electrostatic force, and to be movable in the XY direction on the base plate BP. In other words, the stage 11 is a mechanism for holding the target member 1 and driving it in the XY direction. The stage 11 in this embodiment is configured to hold the center (pattern portion 1a) of the back surface 1d of the target member 1 so that the peripheral portion 1b of the back surface 1d of the target member 1 is exposed. With this configuration, the second light irradiation unit 18 can irradiate light 6 to at least the peripheral portion 1b of the back surface c of the target member 1. In this embodiment, the stage 11 is configured to drive the target member 1 only in the XY direction, but may also be configured to drive the target member 1 in the Z direction or in the rotation direction of each axis.

保持部12は、プレート5を真空力や静電力で保持するとともに、プレート5をZ方向に駆動する機構である。本実施形態の場合、保持部12は、Z方向のみにプレート5を駆動するように構成されているが、XY方向や各軸の回転方向にプレート5を駆動するように構成されてもよい。ここで、ステージ11および保持部12は、対象部材1とプレート5とを相対的に駆動する駆動機構(駆動部)を構成しうる。 The holding unit 12 is a mechanism that holds the plate 5 by vacuum force or electrostatic force and drives the plate 5 in the Z direction. In this embodiment, the holding unit 12 is configured to drive the plate 5 only in the Z direction, but it may also be configured to drive the plate 5 in the XY direction or the rotational direction of each axis. Here, the stage 11 and the holding unit 12 can form a drive mechanism (drive unit) that drives the target member 1 and the plate 5 relatively.

供給部13は、液状の組成物4を対象部材1の表面1c上に供給する機構である。供給部13により対象部材1上に組成物4を供給する際には、ステージ11によって供給部13の下方に対象部材1が配置される。また、第1処理部14は、対象部材1に対して親液化処理を行う機構である。第1処理部14により対象部材1の親液化処理を行う際には、ステージ11によって第1処理部14の下方に対象部材1が配置される。第2処理部15は、プレート5に対して前処理および親液化処理を行う機構である。本実施形態の第2処理部15は、ベースプレートBP上をXY方向に移動可能な移動機構20によって支持されている。そして、第2処理部15によってプレート5の前処理および親液化処理を行う際には、移動機構20によってプレート5の下方に第2処理部15が配置される。 The supply unit 13 is a mechanism for supplying the liquid composition 4 onto the surface 1c of the target member 1. When the supply unit 13 supplies the composition 4 onto the target member 1, the target member 1 is positioned below the supply unit 13 by the stage 11. The first processing unit 14 is a mechanism for performing a lyophilic treatment on the target member 1. When the first processing unit 14 performs a lyophilic treatment on the target member 1, the stage 11 positions the target member 1 below the first processing unit 14. The second processing unit 15 is a mechanism for performing a pretreatment and a lyophilic treatment on the plate 5. In this embodiment, the second processing unit 15 is supported by a moving mechanism 20 that can move in the XY directions on the base plate BP. When the second processing unit 15 performs a pretreatment and a lyophilic treatment on the plate 5, the moving mechanism 20 positions the second processing unit 15 below the plate 5.

撮影部16は、押付工程において対象部材1上での組成物4の拡がりを観察するための機構である。撮影部16は、例えば、カメラ16aと観察光学系16bとを含みうる。図4の例では、撮影部16は、ミラーMRおよびプレート5を介して、対象部材1上での組成物4の拡がりを撮影するように構成されている。 The photographing unit 16 is a mechanism for observing the spread of the composition 4 on the target member 1 during the pressing process. The photographing unit 16 may include, for example, a camera 16a and an observation optical system 16b. In the example of FIG. 4, the photographing unit 16 is configured to photograph the spread of the composition 4 on the target member 1 via the mirror MR and the plate 5.

第1光照射部17は、硬化工程において、対象部材1の表面1c上の組成物4に光7を照射し、組成物4を硬化するための機構である。本実施形態の場合、第1光照射部17は、組成物4を硬化させる光7を射出する光源17a(第1光源)と、光源17aから射出された光7を対象部材1の表面1cに導く光学系17bとを含みうる。図4の例では、第1光照射部17は、ミラーMRおよびプレート5を介して、対象部材1の表面1c上の組成物4にエネルギ(光7)を照射することにより当該組成物4を硬化させる。なお、ミラーMRは、第1光照射部17の構成要素として理解されてもよい。 The first light irradiation unit 17 is a mechanism for irradiating the composition 4 on the surface 1c of the target member 1 with light 7 in the curing process to cure the composition 4. In this embodiment, the first light irradiation unit 17 may include a light source 17a (first light source) that emits light 7 to cure the composition 4, and an optical system 17b that guides the light 7 emitted from the light source 17a to the surface 1c of the target member 1. In the example of FIG. 4, the first light irradiation unit 17 cures the composition 4 by irradiating the composition 4 on the surface 1c of the target member 1 with energy (light 7) via the mirror MR and the plate 5. The mirror MR may be understood as a component of the first light irradiation unit 17.

第2光照射部18は、押付工程において、組成物4を硬化させる光6を、当該光6の一部が対象部材1より外側を通過するように、対象部材1の裏面1dの少なくとも周縁部1bに照射するための機構である。本実施形態の場合、第2光照射部18は、組成物4を硬化させる光6を射出する光源18a(第2光源)と、光源18aから射出された光6を対象部材1の裏面1dに導く光学系18bとを含みうる。 The second light irradiation unit 18 is a mechanism for irradiating light 6 for hardening the composition 4 to at least the peripheral portion 1b of the back surface 1d of the target member 1 in the pressing step, so that a portion of the light 6 passes outside the target member 1. In this embodiment, the second light irradiation unit 18 may include a light source 18a (second light source) that emits light 6 for hardening the composition 4, and an optical system 18b that guides the light 6 emitted from the light source 18a to the back surface 1d of the target member 1.

制御部19は、例えばCPUやMPU等のプロセッサ或いはロジック回路、メモリ等の記憶部を有するコンピュータによって構成され、異物除去装置10の各部を制御することにより、対象部材1上の異物を除去する異物除去処理を制御する。また、制御部19は、外部装置と通信するための通信部を有してもよい。なお、CPUは、Central Processing Unitの略であり、MPUは、Micro Processing Unitの略である。 The control unit 19 is configured by a computer having a processor such as a CPU or MPU, a logic circuit, and a storage unit such as a memory, and controls each part of the foreign matter removal device 10 to control the foreign matter removal process that removes foreign matter from the target member 1. The control unit 19 may also have a communication unit for communicating with an external device. Note that CPU is an abbreviation for Central Processing Unit, and MPU is an abbreviation for Micro Processing Unit.

[異物除去装置の動作]
以下、本実施形態の異物除去装置10の動作例について説明する。異物除去装置10の一連の動作は、制御部19が各部に信号を送信することで実行される。
[Operation of the Foreign Matter Removal Device]
An example of the operation of the foreign matter removal device 10 of this embodiment will be described below. A series of operations of the foreign matter removal device 10 is executed by the control unit 19 sending signals to each unit.

まず、不図示の搬送機構によって対象部材1がステージ11上に搬送され、対象部材1がステージ11によって保持される(準備工程)。そして、ステージ11により対象部材1を駆動することで第1処理部14の下方に対象部材1が配置された後、第1処理部14によって対象部材1の親液化処理が行われる。第1処理部14は、対象部材1上の有機コンタミ成分を除去することができるベーキング、プラズマアッシング処理、大気圧プラズマ処理、アルカリ若しくはオゾン水洗浄などから適宜選択される処理を親液化処理として実行することができる。 First, the target member 1 is transported onto the stage 11 by a transport mechanism (not shown), and the target member 1 is held by the stage 11 (preparation step). The target member 1 is then driven by the stage 11 to be positioned below the first processing unit 14, after which the first processing unit 14 performs a lyophilic treatment on the target member 1. The first processing unit 14 can perform a lyophilic treatment that is appropriately selected from baking, plasma ashing, atmospheric pressure plasma treatment, alkaline or ozone water cleaning, etc., which can remove organic contaminants from the target member 1.

次に、ステージ11により対象部材1を駆動することで供給部13の下方に対象部材1が配置された後、供給部13によって対象部材1の表面1c上に液状の組成物4が供給される(供給工程)。供給部13は、インクジェット法、ディスペンサ法、印刷法などから適宜選択される方式で組成物4を対象部材1上に供給することができる。なお、図4の例では、第1処理部14および供給部13が異物除去装置10の構成要素として設けられているが、第1処理部14および供給部13、またはそのどちらかは、異物除去装置10の外部要素として設けられてもよい。この場合、異物除去装置10の外部において親液化処理および組成物4の供給、またはそのどちらかが行われた対象部材1が、異物除去装置10内に搬入されうる。 Next, the target member 1 is placed below the supply unit 13 by driving the target member 1 with the stage 11, and then the liquid composition 4 is supplied onto the surface 1c of the target member 1 by the supply unit 13 (supply process). The supply unit 13 can supply the composition 4 onto the target member 1 by a method appropriately selected from an inkjet method, a dispenser method, a printing method, etc. In the example of FIG. 4, the first processing unit 14 and the supply unit 13 are provided as components of the foreign matter removal device 10, but the first processing unit 14 and/or the supply unit 13 may be provided as external elements of the foreign matter removal device 10. In this case, the target member 1 that has been subjected to a lyophilic treatment and/or a supply of the composition 4 outside the foreign matter removal device 10 can be carried into the foreign matter removal device 10.

ここで、供給部13によって対象部材1上に供給する組成物4の供給量について説明する。制御部19は、対象部材1に付着している異物のサイズを示す情報(以下では、異物情報と表記することがある)を取得する。異物情報は、外部の検査装置によって対象部材1上の異物のサイズを計測することで得られる異物の代表サイズを示す情報を含みうる。異物の代表サイズとは、例えば、対象部材1に付着している異物の最大サイズであってもよいし、平均サイズであってもよい。複数の対象部材1がある場合には、各対象部材1について代表サイズを得てもよいが、スループットの観点から、複数の対象部材1の中からサンプル(代表)として抜き取られた幾つかの対象部材1から代表サイズを得てもよい。 この場合、抜き取られた幾つかの対象部材1上の異物の最大サイズあるいは平均サイズが、代表サイズとして用いられうる。 Here, the amount of composition 4 supplied by the supply unit 13 onto the target member 1 will be described. The control unit 19 acquires information indicating the size of the foreign matter adhering to the target member 1 (hereinafter, this may be referred to as foreign matter information). The foreign matter information may include information indicating the representative size of the foreign matter obtained by measuring the size of the foreign matter on the target member 1 using an external inspection device. The representative size of the foreign matter may be, for example, the maximum size or average size of the foreign matter adhering to the target member 1. When there are multiple target members 1, the representative size may be obtained for each target member 1, but from the viewpoint of throughput, the representative size may be obtained from several target members 1 extracted as samples (representatives) from the multiple target members 1. In this case, the maximum size or average size of the foreign matter on the extracted several target members 1 may be used as the representative size.

また、制御部19は、対象部材1に形成されている凹凸パターン3の高さを示す情報(以下では、パターン情報を表記することがある)を取得する。凹凸パターン3の高さとは、凹凸パターン3における凸部の高さ(即ち、凹部の深さ)のことである。パターン情報は、対象部材1の凹凸パターン3の高さの計測結果を示す情報であってもよいし、対象部材1の凹凸パターン3の設計情報であってもよい。 The control unit 19 also acquires information (hereinafter sometimes referred to as pattern information) indicating the height of the uneven pattern 3 formed on the target member 1. The height of the uneven pattern 3 refers to the height of the convex portions in the uneven pattern 3 (i.e., the depth of the concave portions). The pattern information may be information indicating the measurement results of the height of the uneven pattern 3 of the target member 1, or may be design information for the uneven pattern 3 of the target member 1.

そして、制御部19は、異物情報およびパターン情報に基づいて、前述の押付工程を経て対象部材1とプレート5との間に形成される組成物4の液膜の厚さ(膜厚T)が以下の式(1)を満たすように、組成物4の供給量を決定する。式(1)における「α」は、1~100の間で適宜設定されうるが、本実施形態では、硬化工程での組成物4の硬化収縮と異物のサイズの計測精度を鑑みてα=1.5とした。制御部19は、決定した組成物4の供給量に応じた指示信号を供給部13に送信することによって供給部13を制御する。
T=(異物の最大サイズ+凹凸パターンの高さ)×α,α>1 ・・・(1)
Then, based on the foreign matter information and pattern information, the control unit 19 determines the amount of composition 4 to be supplied so that the thickness (film thickness T) of the liquid film of composition 4 formed between the target member 1 and the plate 5 through the above-mentioned pressing step satisfies the following formula (1). "α" in formula (1) can be set appropriately between 1 and 100, but in this embodiment, α is set to 1.5 in consideration of the curing shrinkage of composition 4 in the curing step and the measurement accuracy of the size of the foreign matter. The control unit 19 controls the supply unit 13 by sending an instruction signal according to the determined amount of composition 4 to be supplied.
T = (maximum size of foreign matter + height of uneven pattern) × α, α > 1 (1)

プレート5は、不図示の搬送機構によって保持部12上に搬送され、保持部12によって保持される。そして、移動機構20により第2処理部15がプレート5の下方に配置された後、第2処理部15によってプレート5の前処理が行われる。前処理は、プレート5と組成物4との密着性を向上させるための密着膜(密着層)をプレート5の押付面5aに形成する処理であり、例えば、シランカップリング処理、シラザン処理、有機薄膜の成膜などの表面処理を含みうる。このような密着膜をプレート5の押付面5aに形成すると、分離工程においてプレート5と組成物4とを密着させ、プレート5を組成物4とともに対象部材1から効率的に分離させることが可能となる。つまり、対象部材1から異物を効率的に且つ確実に除去することが可能となる。なお、組成物4の成分やプレート5の構成・材料によっては、密着膜の形成を省略してもよい。 The plate 5 is transported onto the holding unit 12 by a transport mechanism (not shown) and held by the holding unit 12. Then, after the second processing unit 15 is positioned below the plate 5 by the moving mechanism 20, the plate 5 is pre-processed by the second processing unit 15. The pre-processing is a process for forming an adhesive film (adhesive layer) on the pressing surface 5a of the plate 5 to improve the adhesion between the plate 5 and the composition 4, and may include surface treatments such as silane coupling treatment, silazane treatment, and formation of an organic thin film. When such an adhesive film is formed on the pressing surface 5a of the plate 5, the plate 5 and the composition 4 are brought into close contact in the separation process, and the plate 5 can be efficiently separated from the target member 1 together with the composition 4. In other words, it is possible to efficiently and reliably remove foreign matter from the target member 1. Note that, depending on the components of the composition 4 and the configuration and material of the plate 5, the formation of the adhesive film may be omitted.

また、第2処理部15によってプレート5の親液化処理が行われうる。第2処理部15は、プレート5上の有機コンタミ成分を除去することができるベーキング、プラズマアッシング処理、大気圧プラズマ処理、アルカリ若しくはオゾン水洗浄などから適宜選択される処理を親液化処理として実行することができる。なお、前述の密着層表面が十分に親液性である場合には親液化処理を省略することができる。親液化処理を行う際には、密着層にダメージを与えない範囲で極表層のコンタミ成分を除去するようエッチング量を選択することが好ましい。また、図4の例では、第2処理部15が異物除去装置10の構成要素として設けられているが、第2処理部15は、異物除去装置10の外部要素として設けられてもよい。この場合、異物除去装置10の外部において前処理および親液化処理、またはそのどちらかが行われたプレート5が、異物除去装置10内に搬入されうる。 The second processing unit 15 can perform a lyophilic treatment on the plate 5. The second processing unit 15 can perform a lyophilic treatment that is appropriately selected from baking, plasma ashing, atmospheric plasma treatment, alkaline or ozone water cleaning, etc., which can remove organic contaminants on the plate 5. If the above-mentioned adhesion layer surface is sufficiently lyophilic, the lyophilic treatment can be omitted. When performing the lyophilic treatment, it is preferable to select the amount of etching so as to remove the contaminants on the extreme surface layer without damaging the adhesion layer. In the example of FIG. 4, the second processing unit 15 is provided as a component of the foreign matter removal device 10, but the second processing unit 15 may be provided as an external element of the foreign matter removal device 10. In this case, the plate 5 that has been subjected to pretreatment and/or lyophilic treatment outside the foreign matter removal device 10 can be carried into the foreign matter removal device 10.

次に、ステージ11により対象部材1を駆動することでプレート5の下方に対象部材1が配置された後、保持部12によりプレート5を下降し、プレート5を対象部材1の表面1c上の組成物4に押し付ける(押付工程)。押付工程の時間、即ち、対象部材1上で組成物4を拡げている時間は、対象部材1の目標範囲内の異物を組成物4が十分に包み込むことができるように、組成物4の材料や性質等に応じて適宜設定されうる。 Next, the target member 1 is positioned below the plate 5 by driving the target member 1 with the stage 11, and then the plate 5 is lowered by the holding unit 12 and pressed against the composition 4 on the surface 1c of the target member 1 (pressing process). The time of the pressing process, i.e., the time during which the composition 4 is spread on the target member 1, can be set appropriately according to the material and properties of the composition 4 so that the composition 4 can fully encapsulate the foreign matter within the target area of the target member 1.

押印工程では、撮影部16によって対象部材1の表面1c上での組成物4の拡がりの均一性を観察しながら、対象部材1の表面1c上の組成物4に対するプレート5の押し付け(例えば、平行度および/または押付力)が制御されうる。例えば、制御部19は、撮影部16から取得される画像に対して公知の画像処理を行い、組成物4の外周および対象部材1の外縁(エッジ)を検出することにより、対象部材1の表面1c上での組成物4の拡がりの均一性を観察することができる。そして、制御部19は、組成物4の拡がりの不均一性を検出した場合には、当該不均一性が補正されるように、ステージ11および保持部12によってプレート5と対象部材1との相対姿勢、およびプレート5の押付力、またはそのどちらかを制御する。これにより、対象部材1の目標範囲にわたって組成物4を均一に拡げ、当該目標範囲に含まれる周縁部1b上の異物をも確実に除去することが可能となる。 In the imprinting process, the pressing (e.g., parallelism and/or pressing force) of the plate 5 against the composition 4 on the surface 1c of the target member 1 can be controlled while observing the uniformity of the spread of the composition 4 on the surface 1c of the target member 1 by the photographing unit 16. For example, the control unit 19 performs known image processing on the image acquired from the photographing unit 16 to detect the outer periphery of the composition 4 and the outer edge (edge) of the target member 1, thereby observing the uniformity of the spread of the composition 4 on the surface 1c of the target member 1. When the control unit 19 detects non-uniformity in the spread of the composition 4, it controls the relative attitude of the plate 5 and the target member 1 and/or the pressing force of the plate 5 by the stage 11 and the holding unit 12 so as to correct the non-uniformity. This makes it possible to uniformly spread the composition 4 over the target range of the target member 1 and to reliably remove foreign matter on the peripheral portion 1b included in the target range.

押付工程を開始したとき、または、押付工程中に拡げられている組成物4が一部でも対象部材1の周縁部1bに到達したときに、制御部19は、第2光照射部18に光照射指示信号を送信する。組成物4の拡がり状態は撮影部16により検知される。第2光照射部18は、当該信号の受信に応じて、図5(a)に示すように、組成物4を硬化させる光6を光源18aから射出する。第2光照射部18(光源18a)から射出された光6のうち一部は、対象部材1の裏面1cの周縁部1bに照射され、残りは、対象部材1より外側を通過する。これにより、プレート5の押し付けによって対象部材1の目標範囲(外縁)を超えて拡がってきた組成物4を硬化させ、対象部材1の外縁から組成物4がはみ出すことを防ぐことができる。つまり、対象部材1の外縁からはみ出した組成物4が、対象部材1の裏面1dやステージ11に付着して、それらを汚染することを低減することができる。 When the pressing process is started, or when even a part of the composition 4 being spread during the pressing process reaches the peripheral portion 1b of the target member 1, the control unit 19 transmits a light irradiation instruction signal to the second light irradiation unit 18. The spreading state of the composition 4 is detected by the photographing unit 16. In response to receiving the signal, the second light irradiation unit 18 emits light 6 for hardening the composition 4 from the light source 18a as shown in FIG. 5(a). A part of the light 6 emitted from the second light irradiation unit 18 (light source 18a) is irradiated to the peripheral portion 1b of the back surface 1c of the target member 1, and the remainder passes outside the target member 1. This makes it possible to harden the composition 4 that has spread beyond the target range (outer edge) of the target member 1 due to the pressing of the plate 5, and to prevent the composition 4 from spilling out from the outer edge of the target member 1. In other words, it is possible to reduce the possibility that the composition 4 that has spilled out from the outer edge of the target member 1 will adhere to the back surface 1d of the target member 1 or the stage 11 and contaminate them.

さらに、押付工程では、プレート5と対象部材1との間に巻き込まれた気泡の消失を促進するため、および酸素阻害による組成物4の硬化不良を回避するためのガスを、保持部12に設けられた気体供給ノズル(不図示)から導入してもよい。当該ガスとしては、例えばHe、H及びそれらの混合ガスが挙げられる。但し、プレート5と組成物4との間に気泡が巻き込まれたとしても、プレート5と組成物4との密着性に問題がない場合には、気体供給ノズルからのガスの導入を行わなくてもよい。 Furthermore, in the pressing step, a gas may be introduced from a gas supply nozzle (not shown) provided on the holding part 12 in order to promote the disappearance of bubbles trapped between the plate 5 and the target member 1 and to avoid poor curing of the composition 4 due to oxygen inhibition. Examples of such gas include He, H2, and mixed gases thereof. However, even if bubbles are trapped between the plate 5 and the composition 4, if there is no problem with the adhesion between the plate 5 and the composition 4, it is not necessary to introduce the gas from the gas supply nozzle.

押付工程により対象部材1の目標範囲にわたって組成物4が拡がると、組成物4の硬化を指示する信号が制御部19から第1光照射部17に送信される。第1光照射部17は、当該信号の受信に応じて、図5(b)に示すように、組成物4を硬化させる光7を光源17aから射出し、光学系17b、ミラーMRおよびプレート5を介して組成物4に当該光7を照射する(硬化工程)。これにより、押付工程を経てプレート5と対象部材1との間に配置されている組成物4を硬化することができる。即ち、プレート5と対象部材1との間に組成物4の硬化膜を形成することができる。 When the composition 4 spreads over the target area of the target member 1 by the pressing process, a signal instructing the composition 4 to be cured is sent from the control unit 19 to the first light irradiation unit 17. In response to receiving the signal, the first light irradiation unit 17 emits light 7 for curing the composition 4 from the light source 17a, as shown in FIG. 5(b), and irradiates the light 7 onto the composition 4 via the optical system 17b, the mirror MR, and the plate 5 (curing process). This makes it possible to cure the composition 4 that is disposed between the plate 5 and the target member 1 through the pressing process. In other words, a cured film of the composition 4 can be formed between the plate 5 and the target member 1.

第1光照射部17の光源17aから射出された光7は、プレート5を透過して対象部材1の表面1c上の組成物4に照射される。一方、第2光照射部18の光源18aから射出された光6は、対象部材1によって遮光され、対象部材1の表面1c上の組成物に照射されない。また、各光源17a、18aは、組成物4を硬化することのできる材料と波長との組み合わせが適切に選択されうる。本実施形態では、プレート5が石英によって構成され、対象部材1がシリコン(Si)により構成されており、光源17a、18aから射出されるエネルギとして波長365nmの紫外光が採用される。なお、光源17a、18aから射出されるエネルギとしては、波長365nmの紫外光に限られず、プレート5や組成物4、対象部材1の材料に応じて、可視光、波長365nm以外の紫外光、赤外光、X線、放射線、電子線などが採用されてもよい。 The light 7 emitted from the light source 17a of the first light irradiation unit 17 is transmitted through the plate 5 and irradiated onto the composition 4 on the surface 1c of the target member 1. On the other hand, the light 6 emitted from the light source 18a of the second light irradiation unit 18 is blocked by the target member 1 and is not irradiated onto the composition on the surface 1c of the target member 1. In addition, for each of the light sources 17a and 18a, a combination of a material and a wavelength capable of hardening the composition 4 can be appropriately selected. In this embodiment, the plate 5 is made of quartz, the target member 1 is made of silicon (Si), and ultraviolet light with a wavelength of 365 nm is used as the energy emitted from the light sources 17a and 18a. Note that the energy emitted from the light sources 17a and 18a is not limited to ultraviolet light with a wavelength of 365 nm, and visible light, ultraviolet light with a wavelength other than 365 nm, infrared light, X-rays, radiation, electron beams, etc. may be used depending on the material of the plate 5, the composition 4, and the target member 1.

ここで、硬化工程では、組成物4が十分に硬化することができるように、即ち、組成物4が目標硬度に硬化するように、組成物4に照射する光強度および照射時間が適宜設定されうる。組成物4の硬化速度は、周囲雰囲気における酸素の量によって変わりうるため、周辺雰囲気における酸素の量をセンサ等で検知し、その検知結果に基づいて、光量および照射時間または、そのどちらかが設定されてもよい。 Here, in the curing process, the light intensity and irradiation time of the composition 4 can be appropriately set so that the composition 4 can be sufficiently cured, i.e., so that the composition 4 can be cured to the target hardness. Since the curing speed of the composition 4 can vary depending on the amount of oxygen in the surrounding atmosphere, the amount of oxygen in the surrounding atmosphere can be detected by a sensor or the like, and the light intensity and/or irradiation time can be set based on the detection result.

上記の工程により、対象部材1上の組成物4は、毛管力および濡れ性により対象部材1の目標範囲にわたって拡がって目標範囲の異物を取り込むとともに、硬化した際の収縮により対象部材1から分離可能な状態となる。 By the above process, the composition 4 on the target member 1 spreads over the target area of the target member 1 due to capillary force and wettability, absorbing any foreign matter in the target area, and shrinks when hardened, making it separable from the target member 1.

次に、保持部12によりプレート5を上昇させ、プレート5を対象部材1から分離させる(分離工程)。このとき、プレート5と組成物4の硬化膜とが貼り付いている状態となるため、プレート5とともに組成物4の硬化膜が対象部材1から分離される。プレート5と対象部材1とを分離する速度は、対象部材1のパターンが破損されないように設定されうる。このようにプレート5を組成物4の硬化膜とともに対象部材1から分離することで、対象部材1上の異物を効率的に且つ簡易な処理で除去することができ、スループットの点でも有利になりうる。 Next, the plate 5 is raised by the holding part 12, and the plate 5 is separated from the target member 1 (separation process). At this time, the plate 5 and the cured film of the composition 4 are in a state of being attached to each other, so that the cured film of the composition 4 is separated from the target member 1 together with the plate 5. The speed at which the plate 5 and the target member 1 are separated can be set so as not to damage the pattern of the target member 1. By separating the plate 5 together with the cured film of the composition 4 from the target member 1 in this way, foreign matter on the target member 1 can be removed efficiently and with a simple process, which can be advantageous in terms of throughput.

ここで、プレート5および組成物4を対象部材1から分離する際、対象部材1が帯電し(剥離帯電と呼ばれる)、周囲の異物を静電気力で引き付けてしまうことがある。そのため、不図示のイオナイザーを用いてプレート5、組成物4および/または対象部材1を除電しながら分離工程を実行するとよい。なお、分離工程を行った後のプレート5には組成物4の硬化膜が貼り付いているため、新たな対象部材1に対して異物除去処理を行う場合には、プレート5の交換または洗浄が行われうる。 Here, when the plate 5 and composition 4 are separated from the target member 1, the target member 1 may become charged (called peeling electrification) and may attract surrounding foreign matter by electrostatic force. For this reason, it is advisable to carry out the separation process while de-electrifying the plate 5, composition 4 and/or target member 1 using an ionizer (not shown). Note that since a cured film of the composition 4 is attached to the plate 5 after the separation process has been carried out, when carrying out the foreign matter removal process on a new target member 1, the plate 5 may be replaced or cleaned.

分離工程が終了したら、不図示の搬送機構によって対象部材1がステージ11から分離されて搬出される。また、不図示の搬送機構によってプレート5が保持部12から分離されて搬出される。ここで、対象部材1をステージ11から分離する際、および/または、プレート5を保持部12から分離する際には、不図示のイオナイザーを用いて除電するとよい。 When the separation process is completed, the target member 1 is separated from the stage 11 and carried out by a transport mechanism (not shown). Also, the plate 5 is separated from the holder 12 and carried out by a transport mechanism (not shown). Here, when separating the target member 1 from the stage 11 and/or separating the plate 5 from the holder 12, it is advisable to use an ionizer (not shown) to eliminate static electricity.

上述したように、本実施形態の異物除去方法では、押付工程が、組成物4を硬化させる光6を、当該光6の一部が対象部材1より外側を通過するように対象部材1の裏面1dの少なくとも周縁部1bに照射している状態で行われる。これにより、対象部材1より外側を通過する光6によって、対象部材1の外縁を超える組成物4を硬化させ、対象部材1の外縁から組成物4がはみ出すことを防ぐことができる。つまり、対象部材1の外縁からはみ出した組成物4が、対象部材1の裏面1dやステージ11に付着して、それらを汚染することを低減することができる。 As described above, in the foreign matter removal method of this embodiment, the pressing step is performed in a state in which the light 6 that hardens the composition 4 is irradiated onto at least the peripheral portion 1b of the back surface 1d of the target member 1 so that a portion of the light 6 passes outside the target member 1. This allows the light 6 that passes outside the target member 1 to harden the composition 4 that extends beyond the outer edge of the target member 1, preventing the composition 4 from spilling out from the outer edge of the target member 1. In other words, it is possible to reduce the possibility that the composition 4 that spills out from the outer edge of the target member 1 will adhere to the back surface 1d of the target member 1 or the stage 11 and contaminate them.

<第2実施形態>
本発明に係る第2実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態を基本的に引き継ぐものであり、以下で説明する事項以外は第1実施形態に従いうる。
Second Embodiment
A second embodiment of the present invention will be described. This embodiment basically follows the first embodiment, and can follow the first embodiment except for the matters described below.

図6は、本実施形態の異物除去装置10(第1光照射部17、第2光照射部18)の構成例を示す模式図である。図6では、供給部13、第1処理部14、第2処理部15、撮影部16、制御部19を省略して図示している。本実施形態の異物除去装置10では、第1実施形態と比べ、遮光部材22(遮光板)が対象部材1(表面1c)と第1光照射部17との間に設けられている。本実施形態の場合、遮光部材22は、保持部12と第1光照射部17(具体的にはミラーMR)との間に配置されている。また、第2光照射部18では、光源18aおよび光学系18bの代わりに、反射部材18c(反射板)がステージ11に設けられている。反射部材18cは、第1光照射部17の光源17aからの光7を反射して対象部材1の裏面1dの少なくとも周縁部1bに照射するように構成される。また、反射部材18cは、反射した光のうち一部が対象部材1の裏面1cの周縁部1に照射され、残りが対象部材1より外側を通過するように構成(配置)される。 Figure 6 is a schematic diagram showing an example of the configuration of the foreign matter removal device 10 (first light irradiation unit 17, second light irradiation unit 18) of this embodiment. In Figure 6, the supply unit 13, the first processing unit 14, the second processing unit 15, the photographing unit 16, and the control unit 19 are omitted. In the foreign matter removal device 10 of this embodiment, compared to the first embodiment, a light shielding member 22 (light shielding plate) is provided between the target member 1 (surface 1c) and the first light irradiation unit 17. In this embodiment, the light shielding member 22 is disposed between the holding unit 12 and the first light irradiation unit 17 (specifically, the mirror MR). In addition, in the second light irradiation unit 18, a reflecting member 18c (reflecting plate) is provided on the stage 11 instead of the light source 18a and the optical system 18b. The reflecting member 18c is configured to reflect the light 7 from the light source 17a of the first light irradiation unit 17 and irradiate it to at least the peripheral portion 1b of the back surface 1d of the target member 1. In addition, the reflecting member 18c is configured (positioned) so that a portion of the reflected light is irradiated onto the peripheral portion 1 of the back surface 1c of the target member 1, and the remainder passes outside the target member 1.

遮光部材22は、第1光照射部17からの光7が対象部材1の表面1c上の組成物4に照射されないように当該光7を遮断する部材であり、遮光部(遮光膜)22aと、遮光部22aを保持する保持部22bとを含みうる。遮光部22aは、第1光照射部17から射出された光(の波長)を遮断する材質によって構成される。保持部22bは、少なくとも第1光照射部17から射出された光(の波長)を透過する材質によって構成される。また、遮光部22aおよび保持部22bは、それぞれ撮影部16で検出される光(の波長)を透過する材質で構成されることが望ましい。遮光部材22は、駆動機構23によって、対象部材1と第1光照射部17との間に挿抜されるように駆動される。具体的には、遮光部材22は、対象部材1と第1光照射部17との間の遮光位置と、対象部材1と第1光照射部17との間から退避した退避位置とで移動可能に構成される。駆動機構23は、制御部19からの指示に基づいて動作しうる。 The light-shielding member 22 is a member that blocks the light 7 from the first light irradiation unit 17 so that the light 7 is not irradiated onto the composition 4 on the surface 1c of the target member 1, and may include a light-shielding portion (light-shielding film) 22a and a holding portion 22b that holds the light-shielding portion 22a. The light-shielding portion 22a is made of a material that blocks the light (wavelength) emitted from the first light irradiation unit 17. The holding portion 22b is made of a material that transmits at least the light (wavelength) emitted from the first light irradiation unit 17. In addition, it is preferable that the light-shielding portion 22a and the holding portion 22b are each made of a material that transmits the light (wavelength) detected by the imaging unit 16. The light-shielding member 22 is driven by the driving mechanism 23 so as to be inserted and removed between the target member 1 and the first light irradiation unit 17. Specifically, the light blocking member 22 is configured to be movable between a light blocking position between the target member 1 and the first light irradiation unit 17 and a retracted position retracted from between the target member 1 and the first light irradiation unit 17. The drive mechanism 23 can operate based on instructions from the control unit 19.

次に、本実施形態における異物除去装置10の動作例について説明する。本実施形態における異物除去装置10の動作例は、押付工程(ステップS13)および硬化工程(ステップS14)が第1実施形態と異なり、その他の工程は第1実施形態と同様である。そのため、以下では、押付工程および硬化工程について説明し、その他の工程の説明を省略する。 Next, an example of the operation of the foreign matter removal device 10 in this embodiment will be described. The example of the operation of the foreign matter removal device 10 in this embodiment differs from the first embodiment in the pressing process (step S13) and the hardening process (step S14), but the other processes are the same as those in the first embodiment. Therefore, the pressing process and the hardening process will be described below, and the description of the other processes will be omitted.

本実施形態の押付工程(ステップS13)では、制御部19は、図6(a)に示すように、駆動機構23によって遮光部材22を遮光位置に移動させる。その後、制御部19は、組成物4を硬化させる光7を射出させる信号を第1光照射部17に送信し、第1光照射部17の光源17aに光7を射出させる。即ち、本実施形態の押付工程では、対象部材1の表面1cと第1光照射部17との間に遮光部材22を配置した状態で第1光照射部17の光源17aに光7を射出させる。第1光照射部17から射出された光7のうち一部は、遮光部材22(遮光部22a)によって遮光され、遮光部材22aより外側を通過した残りは、第2光照射部18の反射部材18cで反射される。そして、反射部材18cで反射されて対象部材1より外側を通過する光6は、プレート5を対象部材1上の組成物4に押し付けることによって対象部材1の目標範囲(外縁)を超えて拡がってきた組成物4を硬化させる。これにより、対象部材1の外縁から組成物4がはみ出すことを防ぎ、対象部材1の外縁からはみ出した組成物4が、対象部材1の裏面1dやステージ11に付着して、それらを汚染することを低減することができる。 In the pressing step (step S13) of this embodiment, the control unit 19 moves the light-shielding member 22 to the light-shielding position by the drive mechanism 23 as shown in FIG. 6 (a). Thereafter, the control unit 19 transmits a signal to the first light irradiation unit 17 to emit light 7 that hardens the composition 4, and causes the light source 17a of the first light irradiation unit 17 to emit light 7. That is, in the pressing step of this embodiment, the light source 17a of the first light irradiation unit 17 emits light 7 with the light-shielding member 22 disposed between the surface 1c of the target member 1 and the first light irradiation unit 17. A portion of the light 7 emitted from the first light irradiation unit 17 is blocked by the light-shielding member 22 (light-shielding unit 22a), and the remainder that passes outside the light-shielding member 22a is reflected by the reflecting member 18c of the second light irradiation unit 18. Then, the light 6 that is reflected by the reflecting member 18c and passes outside the target member 1 hardens the composition 4 that has spread beyond the target range (outer edge) of the target member 1 by pressing the plate 5 against the composition 4 on the target member 1. This prevents the composition 4 from spilling out from the outer edge of the target member 1, and reduces the possibility that the composition 4 that has spilled out from the outer edge of the target member 1 will adhere to the back surface 1d of the target member 1 or the stage 11 and contaminate them.

本実施形態の硬化工程(ステップS14)では、制御部19は、図6(b)に示すように、駆動機構23によって遮光部材22を退避位置に移動させる。その後、制御部19は、組成物4を硬化させる光7を射出させる信号を第1光照射部17に送信し、第1光照射部17の光源17aに光7を射出させる。即ち、本実施形態の硬化工程では、対象部材1の表面1cと第1光照射部17との間から遮光部材22を外した状態で第1光照射部17の光源17aに光7を射出させる。これにより、第1光照射部17からの光7を対象部材1の表面1c上の組成物4に照射して当該組成物4を硬化させ、プレート5と対象部材1との間に組成物4の硬化膜を形成することができる。 In the curing step (step S14) of this embodiment, the control unit 19 moves the light shielding member 22 to a retracted position by the drive mechanism 23 as shown in FIG. 6(b). Thereafter, the control unit 19 transmits a signal to the first light irradiation unit 17 to emit light 7 for curing the composition 4, and causes the light source 17a of the first light irradiation unit 17 to emit light 7. That is, in the curing step of this embodiment, the light shielding member 22 is removed from between the surface 1c of the target member 1 and the first light irradiation unit 17, and the light source 17a of the first light irradiation unit 17 emits light 7. As a result, the light 7 from the first light irradiation unit 17 is irradiated to the composition 4 on the surface 1c of the target member 1 to cure the composition 4, and a cured film of the composition 4 can be formed between the plate 5 and the target member 1.

<第3実施形態>
本発明に係る第3実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態を基本的に引き継ぐものであり、以下で説明する事項以外は第1実施形態に従いうる。
Third Embodiment
A third embodiment of the present invention will be described. This embodiment basically follows the first embodiment, and can follow the first embodiment except for the matters described below.

図7は、本実施形態の異物除去装置10(第1光照射部17、第2光照射部18)の構成例を示す模式図である。図7では、供給部13、第1処理部14、第2処理部15、撮影部16、制御部19を省略して図示している。本実施形態の異物除去装置10では、第1実施形態と比べ、遮光部材24(遮光板)が対象部材1(表面1c)と第1光照射部17との間に設けられている。本実施形態の場合、遮光部材24は、保持部12と第1光照射部17との間に配置されている。また、第1光照射部17では、光源17aおよび光学系17bの代わりに、反射部材17c(反射板)が設けられている。反射部材17cは、第2光照射部18の光源18aからの光6を反射して対象部材1の表面1cに照射するように構成される。本実施形態では、反射部材17cは、凹面鏡によって構成されている。また、本実施形態の異物除去装置10では、撮影部16(図7では不図示)が反射部材17cの上方に配置されており、反射部材17cは、撮影部16が対象部材1を撮影(観察)することができるように中央に開口(穴)が形成された形状を有している。 Figure 7 is a schematic diagram showing an example of the configuration of the foreign matter removal device 10 (first light irradiation unit 17, second light irradiation unit 18) of this embodiment. In Figure 7, the supply unit 13, the first processing unit 14, the second processing unit 15, the photographing unit 16, and the control unit 19 are omitted. In the foreign matter removal device 10 of this embodiment, compared to the first embodiment, a light shielding member 24 (light shielding plate) is provided between the target member 1 (surface 1c) and the first light irradiation unit 17. In this embodiment, the light shielding member 24 is disposed between the holding unit 12 and the first light irradiation unit 17. In addition, in the first light irradiation unit 17, a reflecting member 17c (reflecting plate) is provided instead of the light source 17a and the optical system 17b. The reflecting member 17c is configured to reflect the light 6 from the light source 18a of the second light irradiation unit 18 and irradiate it on the surface 1c of the target member 1. In this embodiment, the reflecting member 17c is configured by a concave mirror. In addition, in the foreign matter removal device 10 of this embodiment, the photographing unit 16 (not shown in FIG. 7) is disposed above the reflecting member 17c, and the reflecting member 17c has a shape with an opening (hole) formed in the center so that the photographing unit 16 can photograph (observe) the target member 1.

遮光部材24は、第2光照射部18からの光6(具体的には、第2照射部8から射出されて対象部材1より外側を通過した光)が反射部材17cで反射されて対象部材1の表面1c上の組成物4に照射されないように、当該光6を遮断する部材である。遮光部材24は、第2光照射部18からの光6(の波長)を遮断して吸収する材質によって構成される。遮光部材24は、第2光照射部18からの光6が第1光照射部17の反射部材17cに照射されることを遮断するように構成されうるが、反射部材17cで反射された光が対象部材1の表面1cに照射されることを遮断するように構成されてもよい。また、遮光部材24は、撮影部16で検出される光(の波長)を透過する材質で構成されることが望ましい。遮光部材24は、駆動機構25によって、対象部材1と第1光照射部17(反射部材17c)との間に挿抜されるように駆動される。具体的には、遮光部材24は、対象部材1と第1光照射部17との間の遮光位置と、対象部材1と第1光照射部17との間から退避した退避位置とで移動可能に構成される。駆動機構25は、制御部19からの指示に基づいて動作しうる。 The light shielding member 24 is a member that blocks the light 6 from the second light irradiation unit 18 (specifically, the light emitted from the second irradiation unit 8 and passing outside the target member 1) so that the light 6 is not reflected by the reflecting member 17c and irradiated to the composition 4 on the surface 1c of the target member 1. The light shielding member 24 is made of a material that blocks and absorbs the light 6 (wavelength) from the second light irradiation unit 18. The light shielding member 24 can be configured to block the light 6 from the second light irradiation unit 18 from being irradiated to the reflecting member 17c of the first light irradiation unit 17, but may also be configured to block the light reflected by the reflecting member 17c from being irradiated to the surface 1c of the target member 1. In addition, it is preferable that the light shielding member 24 is made of a material that transmits the light (wavelength) detected by the imaging unit 16. The light shielding member 24 is driven by the driving mechanism 25 so as to be inserted and removed between the target member 1 and the first light irradiation unit 17 (reflecting member 17c). Specifically, the light blocking member 24 is configured to be movable between a light blocking position between the target member 1 and the first light irradiation unit 17 and a retracted position retracted from between the target member 1 and the first light irradiation unit 17. The drive mechanism 25 can operate based on instructions from the control unit 19.

次に、本実施形態における異物除去装置10の動作例について説明する。本実施形態における異物除去装置10の動作例は、押付工程(ステップS13)および硬化工程(ステップS14)が第1実施形態と異なり、その他の工程は第1実施形態と同様である。そのため、以下では、押付工程および硬化工程について説明し、その他の工程の説明を省略する。 Next, an example of the operation of the foreign matter removal device 10 in this embodiment will be described. The example of the operation of the foreign matter removal device 10 in this embodiment differs from the first embodiment in the pressing process (step S13) and the hardening process (step S14), but the other processes are the same as those in the first embodiment. Therefore, the pressing process and the hardening process will be described below, and the description of the other processes will be omitted.

本実施形態の押付工程(ステップS13)では、制御部19は、図7(a)に示すように、駆動機構25によって遮光部材24を遮光位置に移動させる。その後、制御部19は、組成物4を硬化させる光6を射出させる信号を第2光照射部18に送信し、第2光照射部18の光源18aに光6を射出させる。即ち、本実施形態の押付工程では、対象部材1の表面1cと第1光照射部17(反射部材17c)との間に遮光部材24を配置した状態で第2光照射部18の光源18aに光6を射出させる。第2光照射部18から射出された光6のうち一部は対象部材1の裏面1cの周縁部1bに照射され、残りは対象部材1より外側を通過する。対象部材1より外側を通過した光は、プレート5を対象部材1上の組成物4に押し付けることによって対象部材1の目標範囲(外縁)を超えて拡がってきた組成物4を硬化させる。これにより、対象部材1の外縁から組成物4がはみ出すことを防ぎ、対象部材1の外縁からはみ出した組成物4が、対象部材1の裏面1dやステージ11に付着して、それらを汚染することを低減することができる。 In the pressing step (step S13) of this embodiment, the control unit 19 moves the light-shielding member 24 to the light-shielding position by the drive mechanism 25 as shown in FIG. 7(a). After that, the control unit 19 transmits a signal to the second light irradiation unit 18 to emit light 6 for hardening the composition 4, and causes the light source 18a of the second light irradiation unit 18 to emit light 6. That is, in the pressing step of this embodiment, the light source 18a of the second light irradiation unit 18 emits light 6 with the light-shielding member 24 disposed between the surface 1c of the target member 1 and the first light irradiation unit 17 (reflection member 17c). A part of the light 6 emitted from the second light irradiation unit 18 is irradiated to the peripheral portion 1b of the back surface 1c of the target member 1, and the rest passes outside the target member 1. The light that passes outside the target member 1 hardens the composition 4 that has spread beyond the target range (outer edge) of the target member 1 by pressing the plate 5 against the composition 4 on the target member 1. This prevents the composition 4 from spilling out from the outer edge of the target member 1, and reduces the risk of the composition 4 spilling out from the outer edge of the target member 1 adhering to the back surface 1d of the target member 1 or the stage 11 and contaminating them.

本実施形態の硬化工程(ステップS14)では、制御部19は、図7(b)に示すように、駆動機構25によって遮光部材24を退避位置に移動させる。その後、制御部19は、組成物4を硬化させる光6を射出させる信号を第2光照射部18に送信し、第2光照射部18の光源18aに光6を射出させる。即ち、本実施形態の硬化工程では、対象部材1の表面1cと第1光照射部17との間から遮光部材24を外した状態で第2光照射部18の光源18aに光6を射出させる。第2光照射部18からの光6は、第1光照射部17の反射部材17cで反射され、その反射光7が対象部材1の表面1c上の組成物4に照射される。これにより、当該組成物4を硬化させ、プレート5と対象部材1との間に組成物4の硬化膜を形成することができる。 In the curing step (step S14) of this embodiment, the control unit 19 moves the light shielding member 24 to a retracted position by the drive mechanism 25 as shown in FIG. 7(b). Thereafter, the control unit 19 transmits a signal to the second light irradiation unit 18 to emit light 6 for curing the composition 4, and causes the light source 18a of the second light irradiation unit 18 to emit the light 6. That is, in the curing step of this embodiment, the light source 18a of the second light irradiation unit 18 emits the light 6 with the light shielding member 24 removed from between the surface 1c of the target member 1 and the first light irradiation unit 17. The light 6 from the second light irradiation unit 18 is reflected by the reflecting member 17c of the first light irradiation unit 17, and the reflected light 7 is irradiated onto the composition 4 on the surface 1c of the target member 1. This allows the composition 4 to be cured, and a cured film of the composition 4 to be formed between the plate 5 and the target member 1.

<第4実施形態>
本発明に係る第4実施形態について説明する。本実施形態では、膜形成方法を成形方法に適用する例について説明する。本実施形態の成形方法では、プレート5を用いて部材1上の組成物を成形する成形処理が行われる。当該成形処理は、プレート5と部材1との間に組成物4の硬化膜を形成する膜形成処理を含む。当該膜形成処理は、第1~3実施形態で説明した押付工程(ステップS13)および硬化工程(ステップS14)を含む。当該膜形成処理は、供給工程(ステップS12)を更に含んでもよい。また、成形処理は、分離工程(ステップS15)を更に含む。
Fourth Embodiment
A fourth embodiment of the present invention will be described. In this embodiment, an example in which the film formation method is applied to a molding method will be described. In the molding method of this embodiment, a molding process is performed in which a composition on a member 1 is molded using a plate 5. The molding process includes a film formation process in which a cured film of the composition 4 is formed between the plate 5 and the member 1. The film formation process includes the pressing process (step S13) and the curing process (step S14) described in the first to third embodiments. The film formation process may further include a supplying process (step S12). In addition, the molding process further includes a separating process (step S15).

成形方法(成形処理)としては、インプリント方法および平坦化方法が挙げられる。インプリント方法は、凹凸パターンを有する型(モールド)をプレート5として用い、当該型を部材1上の組成物4(インプリント材)に押し付けることにより当該組成物にパターンを形成(転写)する方法である。また、平坦化方法は、平坦面を有する型(テンプレート)をプレート5として用い、当該型を部材1上の組成物4に押し付けることにより当該組成物の表面を平坦化する方法である。 Examples of molding methods (molding processes) include the imprinting method and the planarization method. The imprinting method is a method in which a mold having a concave-convex pattern is used as a plate 5, and the mold is pressed against a composition 4 (imprinting material) on a member 1 to form (transfer) a pattern in the composition. The planarization method is a method in which a mold (template) having a flat surface is used as a plate 5, and the mold is pressed against the composition 4 on the member 1 to planarize the surface of the composition.

成形方法では、第1~第3実施形態で説明した異物除去方法に対し、分離工程(ステップS15)が異なり、他の工程(ステップS11~S14)は同様である。但し、供給行程(ステップS12)において対象部材1上に供給される組成物4の供給量は、対象部材1の目標範囲内に形成されるべき組成物4の硬化膜のパターン形状に応じて設定されうる。本実施形態における目標範囲は、対象部材1上にパターンを形成する範囲であり、対象部材1の表面1cの全体に設定される。また、押付工程(ステップS14)において、インプリント方法で用いられるプレート5(型)の押付面5aには、対象部材1の表面1上に形成すべき組成物4の硬化膜のパターンの凹凸形状に対して凹凸が逆になった形状を有するパターンが形成されている。このプレート5を対象部材1上の組成物4に押し付けることによって、組成物4にプレート5の押付面5aの形状を転写することができる。一方、平坦化方法で用いられるプレート5(型)の押付面5aは、平坦面に形成されている。このプレート5を対象部材1上の組成物4に押し付けることによって、組成物4の表面を平坦化することができる。 In the molding method, the separation step (step S15) is different from the foreign matter removal method described in the first to third embodiments, but the other steps (steps S11 to S14) are the same. However, the amount of composition 4 supplied onto the target member 1 in the supply step (step S12) can be set according to the pattern shape of the cured film of the composition 4 to be formed within the target range of the target member 1. The target range in this embodiment is the range in which a pattern is formed on the target member 1, and is set to the entire surface 1c of the target member 1. Also, in the pressing step (step S14), a pattern having a shape in which the concaves and convexes are reversed to the concaves and convexes of the pattern of the cured film of the composition 4 to be formed on the surface 1 of the target member 1 is formed on the pressing surface 5a of the plate 5 (mold) used in the imprinting method. By pressing this plate 5 against the composition 4 on the target member 1, the shape of the pressing surface 5a of the plate 5 can be transferred to the composition 4. On the other hand, the pressing surface 5a of the plate 5 (mold) used in the planarization method is formed as a flat surface. By pressing this plate 5 against the composition 4 on the target member 1, the surface of the composition 4 can be flattened.

成形方法における分離工程では、プレート5と対象部材1との間隔を広げることにより、硬化工程で硬化された組成物4の硬化膜と対象部材1とが貼り付いている状態で、プレート5を組成物4の硬化膜から分離させる。これにより、対象部材1上の組成物4を成形することができる。つまり、インプリント方法では、プレート5の凹凸パターンが転写された組成物4の硬化膜を対象部材1上に形成することができる。また、平坦化方法では、プレート5により表面が平坦化された組成物4の硬化膜を対象部材1上に形成することができる。 In the separation step of the molding method, the plate 5 is separated from the cured film of composition 4 while the cured film of composition 4 cured in the curing step is attached to the target member 1 by widening the gap between the plate 5 and the target member 1. This allows the composition 4 on the target member 1 to be molded. In other words, in the imprint method, a cured film of composition 4 to which the concave-convex pattern of the plate 5 is transferred can be formed on the target member 1. In addition, in the planarization method, a cured film of composition 4 with the surface planarized by the plate 5 can be formed on the target member 1.

ここで、成形方法を行うための成形装置(インプリント装置、平坦化装置)は、第1~第3実施形態で説明した異物除去装置10と同様に構成されうる。したがって、成形装置についての詳細な説明については省略する。成形装置では、第1~第3実施形態で説明した異物除去装置10に対し、第2処理部15および移動機構20が設けられていなくてもよい。また、インプリント装置では、押付面5aに凹凸パターンを有する型(モールド)がプレート5として保持部12によって保持される。一方、平坦化装置では、押付面5aが平坦面である型(テンプレート)がプレート5として保持部12によって保持される。 Here, the molding device (imprinting device, flattening device) for performing the molding method can be configured in the same manner as the foreign matter removal device 10 described in the first to third embodiments. Therefore, a detailed description of the molding device will be omitted. In the molding device, the second processing unit 15 and the moving mechanism 20 may not be provided, unlike the foreign matter removal device 10 described in the first to third embodiments. Also, in the imprinting device, a mold having a concave-convex pattern on the pressing surface 5a is held by the holding unit 12 as the plate 5. On the other hand, in the flattening device, a mold (template) having a flat pressing surface 5a is held by the holding unit 12 as the plate 5.

<物品の製造方法の実施形態>
本発明の実施形態にかかる物品製造方法は、例えば、半導体デバイス等のマイクロデバイスや微細構造を有する素子等の物品を製造するのに好適である。本実施形態の物品製造方法は、上記の異物除去方法によって部材上の異物を除去する異物除去工程と、異物除去工程を経た部材を加工する加工工程と、加工工程を経た部材から物品を製造する製造工程とを含む。加工工程は、異物除去工程を経た部材上にパターンを形成する工程、または、異物除去工程を経た部材上に平坦化膜を形成する工程を含みうる。また、本実施形態の物品製造方法は、上記の成形方法によって部材上の組成物を成形する成形工程と、成形工程を経た部材を加工する加工工程と、加工工程を経た部材から物品を製造する製造工程とを含む。更に、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含む。本実施形態の物品の製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
<Embodiments of a method for manufacturing an article>
The article manufacturing method according to the embodiment of the present invention is suitable for manufacturing articles such as microdevices such as semiconductor devices and elements having a fine structure. The article manufacturing method of the present embodiment includes a foreign matter removal step of removing foreign matter on a member by the foreign matter removal method described above, a processing step of processing the member that has undergone the foreign matter removal step, and a manufacturing step of manufacturing an article from the member that has undergone the processing step. The processing step may include a step of forming a pattern on the member that has undergone the foreign matter removal step, or a step of forming a planarizing film on the member that has undergone the foreign matter removal step. The article manufacturing method of the present embodiment also includes a molding step of molding a composition on a member by the above molding method, a processing step of processing the member that has undergone the molding step, and a manufacturing step of manufacturing an article from the member that has undergone the processing step. Furthermore, such a manufacturing method includes other well-known steps (oxidation, film formation, deposition, doping, planarization, etching, resist stripping, dicing, bonding, packaging, etc.). The article manufacturing method of the present embodiment is advantageous in at least one of the performance, quality, productivity, and production cost of the article compared to conventional methods.

成形方法としてインプリント方法が用いられる場合、インプリント方法によって形成される硬化物のパターンは、各種物品の少なくとも一部に恒久的に、或いは各種物品を製造する際に一時的に用いられる。物品とは、電気回路素子、光学素子、MEMS、記録素子、センサ、或いは、型等である。電気回路素子としては、DRAM、SRAM、フラッシュメモリ、MRAMのような、揮発性或いは不揮発性の半導体メモリや、LSI、CCD、イメージセンサ、FPGAのような半導体素子等が挙げられる。型としては、インプリント用のモールド等が挙げられる。 When the imprinting method is used as the molding method, the pattern of the cured product formed by the imprinting method is used permanently on at least a part of various articles, or temporarily when manufacturing various articles. The articles are electric circuit elements, optical elements, MEMS, recording elements, sensors, molds, etc. Examples of electric circuit elements include volatile or non-volatile semiconductor memories such as DRAM, SRAM, flash memory, and MRAM, and semiconductor elements such as LSI, CCD, image sensors, and FPGAs. Examples of molds include molds for imprinting.

硬化物のパターンは、上記物品の少なくとも一部の構成部材として、そのまま用いられるか、或いは、レジストマスクとして一時的に用いられる。基板の加工工程においてエッチング又はイオン注入等が行われた後、レジストマスクは除去される。 The pattern of the cured material is used as it is, as at least a part of the component of the article, or is used temporarily as a resist mask. After etching or ion implantation is performed in the substrate processing step, the resist mask is removed.

次に、物品の具体的な製造方法について説明する。ここでは、インプリント方法を用いた物品の製造方法の一例を説明する。図8(a)に示すように、絶縁体等の被加工材2zが表面に形成されたシリコンウェハ等の基板1zを用意し、続いて、インクジェット法等により、被加工材2zの表面にインプリント材3zを付与する。ここでは、複数の液滴状になったインプリント材3zが基板上に付与された様子を示している。 Next, a specific method for manufacturing an article will be described. Here, an example of a method for manufacturing an article using an imprinting method will be described. As shown in FIG. 8(a), a substrate 1z such as a silicon wafer is prepared on whose surface a workpiece 2z such as an insulator is formed, and then an imprinting material 3z is applied to the surface of the workpiece 2z by an inkjet method or the like. Here, the state in which the imprinting material 3z in the form of multiple droplets is applied onto the substrate is shown.

図8(b)に示すように、インプリント用の型4zを、その凹凸パターンが形成された側を基板上のインプリント材3zに向け、対向させる。図8(c)に示すように、インプリント材3zが付与された基板1zと型4zとを接触させ、圧力を加える。インプリント材3zは型4zと被加工材2zとの隙間に充填される。この状態で硬化用のエネルギとして光を型4zを通して照射すると、インプリント材3zは硬化する。 As shown in FIG. 8(b), the imprinting mold 4z is placed with the side on which the concave-convex pattern is formed facing the imprinting material 3z on the substrate. As shown in FIG. 8(c), the substrate 1z to which the imprinting material 3z has been applied is brought into contact with the mold 4z, and pressure is applied. The imprinting material 3z fills the gap between the mold 4z and the workpiece 2z. When light is irradiated through the mold 4z in this state as hardening energy, the imprinting material 3z hardens.

図8(d)に示すように、インプリント材3zを硬化させた後、型4zと基板1zを引き離すと、基板1z上にインプリント材3zの硬化物のパターンが形成される。この硬化物のパターンは、型の凹部が硬化物の凸部に、型の凸部が硬化物の凹部に対応した形状になっており、即ち、インプリント材3zに型4zの凹凸パターンが転写されたことになる。なお、不図示の厚さ数十nm程度のRLT部(Residual Layer Thickness、残膜厚と呼ばれることがある)が硬化物の凹部に残る。 As shown in FIG. 8(d), after the imprint material 3z is cured, the mold 4z and the substrate 1z are separated, and a pattern of the cured product of the imprint material 3z is formed on the substrate 1z. In this cured product pattern, the concave portions of the mold correspond to the convex portions of the cured product, and the convex portions of the mold correspond to the concave portions of the cured product, i.e., the concave-convex pattern of the mold 4z is transferred to the imprint material 3z. Note that an RLT portion (Residual Layer Thickness, sometimes called the residual film thickness) of about several tens of nanometers (not shown) remains in the concave portions of the cured product.

図8(e)に示すように、硬化物のパターンを耐エッチングマスクとしてRLT部を含めてエッチングを行うと、被加工材2zの表面のうち、硬化物が無いか或いは薄く残存した部分が除去され、溝5zとなる。図8(f)に示すように、硬化物のパターンを除去すると、被加工材2zの表面に溝5zが形成された物品を得ることができる。ここでは硬化物のパターンを除去したが、加工後も除去せずに、例えば、半導体素子等に含まれる層間絶縁用の膜、つまり、物品の構成部材として利用してもよい。 As shown in FIG. 8(e), when etching is performed including the RLT portion using the cured material pattern as an etching-resistant mask, the portion of the surface of the workpiece 2z where there is no cured material or where only a thin layer remains is removed, forming a groove 5z. As shown in FIG. 8(f), when the cured material pattern is removed, an article is obtained in which a groove 5z is formed on the surface of the workpiece 2z. Here, the cured material pattern is removed, but it may be used as an interlayer insulating film included in a semiconductor element, or as a component of an article, without being removed after processing.

<実施形態のまとめ>
本明細書の開示は、少なくとも以下の膜形成装置、異物除去装置、成形装置、膜形成方法、異物除去方法、成形方法、および物品製造方法を含む。
(項目1)
プレートと部材との間に組成物の硬化膜を形成する処理を行う膜形成装置であって、
前記組成物を硬化させる光を前記部材に照射する光照射部と、
前記処理を制御する制御部と、
を備え、
前記処理は、前記部材の第1面上に供給された液状の前記組成物に前記プレートを押し付ける押付工程と、前記押付工程を経て前記プレートと前記部材との間に配置されている前記組成物を硬化させる硬化工程と、を含み、
前記光照射部は、前記第1面に光を照射する第1光照射部と、前記部材における前記第1面と反対側の第2面の少なくとも周縁部に光を照射する第2光照射部と、を含み、
前記制御部は、前記第2光照射部からの光の一部が前記部材より外側を通過するように前記第2光照射部により前記第2面に光を照射している状態で前記押付工程を行い、前記第1光照射部からの光を前記第1面上の前記組成物に照射することによって前記硬化工程を行う、ことを特徴とする膜形成装置。
(項目2)
前記第1光照射部は第1光源を含み、前記第2光照射部は第2光源を含み、
前記制御部は、押付工程において前記第2光源に光を射出させ、前記硬化工程において前記第1光源に光を射出させる、ことを特徴とする項目1に記載の膜形成装置。
(項目3)
前記部材を保持するステージを更に備え、
前記第2光源は、前記ステージに設けられている、ことを特徴とする項目2に記載の膜形成装置。
(項目4)
前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間に配置される遮光部材を更に備え、
前記第1光照射部は、光源を含み、
前記第2光照射部は、前記光源からの光を反射して前記部材の前記第2面に照射する反射部材を含み、
前記制御部は、
前記押付工程において、前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間に前記遮光部材を配置した状態で前記光源に光を射出させ、
前記硬化工程において、前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間から前記遮光部材を外した状態で前記光源に光を射出させる、ことを特徴とする項目1に記載の膜形成装置。
(項目5)
前記部材を保持するステージを更に備え、
前記反射部材は、前記ステージに設けられている、ことを特徴とする項目4に記載の膜形成装置。
(項目6)
前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間に配置される遮光部材を更に備え、
前記第2光照射部は、光源を含み、
前記第1光照射部は、前記光源からの光を反射して前記部材の前記第1面に照射する反射部材を含み、
前記制御部は、
前記押付工程において、前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間に前記遮光部材を配置した状態で前記光源に光を射出させ、
前記硬化工程において、前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間から前記遮光部材を外した状態で前記光源に光を射出させる、ことを特徴とする項目1に記載の膜形成装置。
(項目7)
前記部材を保持するステージを更に備え、
前記光源は、前記ステージに設けられている、ことを特徴とする項目6に記載の膜形成装置。
(項目8)
前記第2面の前記周縁部が露出するように前記部材を保持するステージを更に備える、ことを特徴とする項目1乃至7のいずれか1項目に記載の膜形成装置。
(項目9)
前記部材は、前記第2光照射部からの光を透過しない材料によって構成されている、ことを特徴とする項目1乃至8のいずれか1項目に記載の膜形成装置。
(項目10)
プレートを用いて部材上の異物を除去する異物除去装置であって、
前記プレートと前記部材との間に前記組成物の硬化膜を形成する処理を行う項目1乃至9のいずれか1項目に記載の膜形成装置を備え、
前記膜形成装置で前記処理を行った後、前記プレートに前記硬化膜が貼り付いている状態で前記プレートを前記部材から分離させる、ことを特徴とする異物除去装置。
(項目11)
プレートを用いて部材上の組成物を成形する成形装置であって、
前記プレートと前記部材との間に前記組成物の硬化膜を形成する処理を行う項目1乃至9のいずれか1項目に記載の膜形成装置を備え、
前記膜形成装置で前記処理を行った後、前記プレートを前記部材上の前記硬化膜から分離させる、ことを特徴とする成形装置。
(項目12)
プレートと部材との間に組成物の硬化膜を形成する膜形成方法であって、
前記部材の第1面上に液状の前記組成物を供給する供給工程と、
前記供給工程で前記第1面上に供給された前記組成物に前記プレートを押し付ける押付工程と、
前記押付工程を経て前記プレートと前記部材との間に配置されている前記組成物を硬化させる硬化工程と、
を含み、
前記押付工程は、前記組成物を硬化させる光の一部が前記部材より外側を通過するように、前記部材における前記第1面と反対側の第2面の少なくとも周縁部に当該光を照射している状態で行われる、ことを特徴とする膜形成方法。
(項目13)
プレートを用いて部材上の異物を除去する異物除去方法であって、
項目12に記載された膜形成方法により、前記部材上の異物を取り込んだ組成物の硬化膜を前記プレートと前記部材との間に形成する膜形成工程と、
前記膜形成工程の後、前記プレートに前記硬化膜が貼り付いている状態で前記プレートを前記部材から分離させる分離工程と、
を含むことを特徴とする異物除去方法。
(項目14)
項目13に記載の異物除去方法により部材上の異物を除去する異物除去工程と、
前記異物除去工程を経た前記部材を加工する加工工程と、
前記加工工程を経た前記部材から物品を製造する製造工程と、
を含むことを特徴とする物品製造方法。
(項目15)
プレートを用いて部材上の組成物を成形する成形方法であって、
項目12に記載された膜形成方法により、前記部材上の異物を取り込んだ組成物の硬化膜を前記プレートと前記部材との間に形成する膜形成工程と、
前記膜形成工程の後、前記プレートを前記部材上の前記硬化膜から分離させる分離工程と、
を含むことを特徴とする成形方法。
(項目16)
項目15に記載の成形方法により部材上の組成物を成形する成形工程と、
前記成形工程を経た前記部材を加工する加工工程と、
前記加工工程を経た前記部材から物品を製造する製造工程と、
を含むことを特徴とする物品製造方法。
Summary of the embodiment
The disclosure of this specification includes at least the following film forming apparatus, foreign matter removing apparatus, molding apparatus, film forming method, foreign matter removing method, molding method, and article manufacturing method.
(Item 1)
A film-forming apparatus for performing a process of forming a cured film of a composition between a plate and a member,
a light irradiation unit that irradiates the member with light that cures the composition;
A control unit for controlling the processing;
Equipped with
The treatment includes a pressing step of pressing the plate against the liquid composition supplied onto the first surface of the member, and a curing step of curing the composition disposed between the plate and the member through the pressing step,
the light irradiation unit includes a first light irradiation unit that irradiates the first surface with light, and a second light irradiation unit that irradiates at least a peripheral portion of a second surface of the member opposite to the first surface with light,
The control unit performs the pressing process while irradiating light from the second light irradiation unit to the second surface so that a portion of the light from the second light irradiation unit passes outside the member, and performs the curing process by irradiating light from the first light irradiation unit to the composition on the first surface.
(Item 2)
The first light irradiation unit includes a first light source, and the second light irradiation unit includes a second light source,
2. The film forming apparatus according to item 1, wherein the control unit causes the second light source to emit light in the pressing step and causes the first light source to emit light in the curing step.
(Item 3)
Further comprising a stage for holding the member,
3. The film forming apparatus according to item 2, wherein the second light source is provided on the stage.
(Item 4)
The light-shielding member is further provided between the first surface of the member and the first light irradiation unit,
The first light irradiation unit includes a light source,
the second light irradiation unit includes a reflecting member that reflects the light from the light source and irradiates the light onto the second surface of the member,
The control unit is
In the pressing step, the light source is caused to emit light in a state in which the light blocking member is disposed between the first surface of the member and the first light irradiating unit,
2. The film forming apparatus according to item 1, characterized in that, in the curing step, the light source is caused to emit light in a state in which the light blocking member is removed from between the first surface of the member and the first light irradiation unit.
(Item 5)
Further comprising a stage for holding the member,
5. The film forming apparatus according to claim 4, wherein the reflecting member is provided on the stage.
(Item 6)
The light-shielding member is further provided between the first surface of the member and the first light irradiation unit,
The second light irradiation unit includes a light source,
the first light irradiating unit includes a reflecting member that reflects light from the light source and irradiates the light onto the first surface of the member,
The control unit is
In the pressing step, the light source is caused to emit light in a state in which the light blocking member is disposed between the first surface of the member and the first light irradiating unit,
2. The film forming apparatus according to item 1, characterized in that, in the curing step, the light source is caused to emit light in a state in which the light blocking member is removed from between the first surface of the member and the first light irradiation unit.
(Item 7)
Further comprising a stage for holding the member,
7. The film forming apparatus according to item 6, wherein the light source is provided on the stage.
(Item 8)
8. The film forming apparatus according to any one of items 1 to 7, further comprising a stage that holds the member so that the peripheral portion of the second surface is exposed.
(Item 9)
9. The film forming apparatus according to any one of items 1 to 8, wherein the member is made of a material that does not transmit the light from the second light irradiation unit.
(Item 10)
A foreign matter removal device for removing foreign matter on a member using a plate,
10. The film forming apparatus according to any one of items 1 to 9, which performs a process of forming a cured film of the composition between the plate and the member,
a foreign matter removing apparatus comprising: a film forming apparatus for forming a foreign matter on a substrate; a plate having a cured film attached thereto, the plate being separated from the member after the treatment is performed in the film forming apparatus;
(Item 11)
A molding apparatus for molding a composition on a member using a plate, comprising:
10. The film forming apparatus according to any one of items 1 to 9, which performs a process of forming a cured film of the composition between the plate and the member,
A molding apparatus, comprising: a film forming apparatus for forming a film on a surface of the member; a plate for separating the plate from the cured film on the member;
(Item 12)
A film forming method for forming a cured film of a composition between a plate and a member, comprising the steps of:
a step of applying the composition in liquid form onto a first surface of the member;
a pressing step of pressing the plate against the composition supplied onto the first surface in the supplying step;
a curing step of curing the composition disposed between the plate and the member through the pressing step;
Including,
The pressing step is carried out in a state in which light for curing the composition is irradiated to at least a peripheral portion of a second surface of the member opposite the first surface, so that a portion of the light passes outside the member.
(Item 13)
A method for removing foreign matter on a member using a plate, comprising the steps of:
A film forming process of forming a cured film of a composition incorporating foreign matter on the member between the plate and the member by the film forming method according to item 12;
a separation step of separating the plate from the member with the cured film attached to the plate after the film forming step;
A method for removing foreign matter, comprising:
(Item 14)
A foreign matter removal step of removing foreign matter on a member by the foreign matter removal method according to item 13;
a processing step of processing the member that has been subjected to the foreign matter removal step;
a manufacturing process for manufacturing an article from the member that has been subjected to the processing process;
A method for manufacturing an article, comprising:
(Item 15)
A molding method for molding a composition on a member using a plate, comprising the steps of:
A film forming process of forming a cured film of a composition incorporating foreign matter on the member between the plate and the member by the film forming method according to item 12;
a separation step of separating the plate from the cured film on the member after the film forming step;
A molding method comprising the steps of:
(Item 16)
A molding step of molding the composition on a member by the molding method according to item 15;
a processing step of processing the member that has been subjected to the molding step;
a manufacturing process for manufacturing an article from the member that has been subjected to the processing process;
A method for manufacturing an article, comprising:

発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。 The invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications and variations are possible without departing from the spirit and scope of the invention. Therefore, the following claims are appended to disclose the scope of the invention.

1:対象部材、4:組成物、5:プレート、10:異物除去装置(成形装置)、11:ステージ、12:保持部、13:供給部、17:第1光照射部、18:第2光照射部、19:制御部 1: Target material, 4: Composition, 5: Plate, 10: Foreign matter removal device (molding device), 11: Stage, 12: Holding unit, 13: Supply unit, 17: First light irradiation unit, 18: Second light irradiation unit, 19: Control unit

Claims (16)

プレートと部材との間に組成物の硬化膜を形成する処理を行う膜形成装置であって、
前記組成物を硬化させる光を前記部材に照射する光照射部と、
前記処理を制御する制御部と、
を備え、
前記処理は、前記部材の第1面上に供給された液状の前記組成物に前記プレートを押し付ける押付工程と、前記押付工程を経て前記プレートと前記部材との間に配置されている前記組成物を硬化させる硬化工程と、を含み、
前記光照射部は、前記第1面に光を照射する第1光照射部と、前記部材における前記第1面と反対側の第2面の少なくとも周縁部に光を照射する第2光照射部と、を含み、
前記制御部は、前記第2光照射部からの光の一部が前記部材より外側を通過するように前記第2光照射部により前記第2面に光を照射している状態で前記押付工程を行い、前記第1光照射部からの光を前記第1面上の前記組成物に照射することによって前記硬化工程を行う、ことを特徴とする膜形成装置。
A film-forming apparatus for performing a process of forming a cured film of a composition between a plate and a member,
a light irradiation unit that irradiates the member with light that cures the composition;
A control unit for controlling the processing;
Equipped with
The treatment includes a pressing step of pressing the plate against the liquid composition supplied onto the first surface of the member, and a curing step of curing the composition disposed between the plate and the member through the pressing step,
the light irradiation unit includes a first light irradiation unit that irradiates the first surface with light, and a second light irradiation unit that irradiates at least a peripheral portion of a second surface of the member opposite to the first surface with light,
The control unit performs the pressing process while irradiating the second surface with light from the second light irradiation unit so that a portion of the light from the second light irradiation unit passes outside the member, and performs the curing process by irradiating the composition on the first surface with light from the first light irradiation unit.
前記第1光照射部は第1光源を含み、前記第2光照射部は第2光源を含み、
前記制御部は、押付工程において前記第2光源に光を射出させ、前記硬化工程において前記第1光源に光を射出させる、ことを特徴とする請求項1に記載の膜形成装置。
The first light irradiation unit includes a first light source, and the second light irradiation unit includes a second light source,
The film forming apparatus according to claim 1 , wherein the control unit causes the second light source to emit light in the pressing step and causes the first light source to emit light in the curing step.
前記部材を保持するステージを更に備え、
前記第2光源は、前記ステージに設けられている、ことを特徴とする請求項2に記載の膜形成装置。
Further comprising a stage for holding the member,
The film forming apparatus according to claim 2 , wherein the second light source is provided on the stage.
前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間に配置される遮光部材を更に備え、
前記第1光照射部は、光源を含み、
前記第2光照射部は、前記光源からの光を反射して前記部材の前記第2面に照射する反射部材を含み、
前記制御部は、
前記押付工程において、前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間に前記遮光部材を配置した状態で前記光源に光を射出させ、
前記硬化工程において、前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間から前記遮光部材を外した状態で前記光源に光を射出させる、ことを特徴とする請求項1に記載の膜形成装置。
The light-shielding member is further provided between the first surface of the member and the first light irradiation unit,
The first light irradiation unit includes a light source,
the second light irradiation unit includes a reflecting member that reflects the light from the light source and irradiates the light onto the second surface of the member,
The control unit is
In the pressing step, the light source is caused to emit light in a state in which the light blocking member is disposed between the first surface of the member and the first light irradiating unit,
2. The film forming apparatus according to claim 1, wherein in the curing step, the light source is caused to emit light in a state in which the light blocking member is removed from between the first surface of the member and the first light irradiation unit.
前記部材を保持するステージを更に備え、
前記反射部材は、前記ステージに設けられている、ことを特徴とする請求項4に記載の膜形成装置。
Further comprising a stage for holding the member,
The film forming apparatus according to claim 4 , wherein the reflecting member is provided on the stage.
前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間に配置される遮光部材を更に備え、
前記第2光照射部は、光源を含み、
前記第1光照射部は、前記光源からの光を反射して前記部材の前記第1面に照射する反射部材を含み、
前記制御部は、
前記押付工程において、前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間に前記遮光部材を配置した状態で前記光源に光を射出させ、
前記硬化工程において、前記部材の前記第1面と前記第1光照射部との間から前記遮光部材を外した状態で前記光源に光を射出させる、ことを特徴とする請求項1に記載の膜形成装置。
The light-shielding member is further provided between the first surface of the member and the first light irradiation unit,
The second light irradiation unit includes a light source,
the first light irradiating unit includes a reflecting member that reflects light from the light source and irradiates the light onto the first surface of the member,
The control unit is
In the pressing step, the light source is caused to emit light in a state in which the light blocking member is disposed between the first surface of the member and the first light irradiating unit,
2. The film forming apparatus according to claim 1, wherein in the curing step, the light source is caused to emit light in a state in which the light blocking member is removed from between the first surface of the member and the first light irradiation unit.
前記部材を保持するステージを更に備え、
前記光源は、前記ステージに設けられている、ことを特徴とする請求項6に記載の膜形成装置。
Further comprising a stage for holding the member,
7. The film forming apparatus according to claim 6, wherein the light source is provided on the stage.
前記第2面の前記周縁部が露出するように前記部材を保持するステージを更に備える、ことを特徴とする請求項1に記載の膜形成装置。 The film forming apparatus according to claim 1, further comprising a stage for holding the member so that the peripheral portion of the second surface is exposed. 前記部材は、前記第2光照射部からの光を透過しない材料によって構成されている、ことを特徴とする請求項1に記載の膜形成装置。 The film forming device according to claim 1, characterized in that the member is made of a material that does not transmit light from the second light irradiation unit. プレートを用いて部材上の異物を除去する異物除去装置であって、
前記プレートと前記部材との間に前記組成物の硬化膜を形成する処理を行う請求項1乃至9のいずれか1項に記載の膜形成装置を備え、
前記膜形成装置で前記処理を行った後、前記プレートに前記硬化膜が貼り付いている状態で前記プレートを前記部材から分離させる、ことを特徴とする異物除去装置。
A foreign matter removal device for removing foreign matter on a member using a plate,
The film forming apparatus according to claim 1 , further comprising:
a foreign matter removing apparatus comprising: a film forming apparatus for forming a foreign matter on a substrate; a plate having a cured film attached thereto, the plate being separated from the member after the treatment is performed in the film forming apparatus;
プレートを用いて部材上の組成物を成形する成形装置であって、
前記プレートと前記部材との間に前記組成物の硬化膜を形成する処理を行う請求項1乃至9のいずれか1項に記載の膜形成装置を備え、
前記膜形成装置で前記処理を行った後、前記プレートを前記部材上の前記硬化膜から分離させる、ことを特徴とする成形装置。
A molding apparatus for molding a composition on a member using a plate, comprising:
The film forming apparatus according to claim 1 , further comprising:
A molding apparatus, comprising: a film forming apparatus for forming a film on a surface of the member; a plate for separating the plate from the cured film on the member;
プレートと部材との間に組成物の硬化膜を形成する膜形成方法であって、
前記部材の第1面上に液状の前記組成物を供給する供給工程と、
前記供給工程で前記第1面上に供給された前記組成物に前記プレートを押し付ける押付工程と、
前記押付工程を経て前記プレートと前記部材との間に配置されている前記組成物を硬化させる硬化工程と、
を含み、
前記押付工程は、前記組成物を硬化させる光の一部が前記部材より外側を通過するように、前記部材における前記第1面と反対側の第2面の少なくとも周縁部に当該光を照射している状態で行われる、ことを特徴とする膜形成方法。
A film forming method for forming a cured film of a composition between a plate and a member, comprising the steps of:
a step of applying the composition in liquid form onto a first surface of the member;
a pressing step of pressing the plate against the composition supplied onto the first surface in the supplying step;
a curing step of curing the composition disposed between the plate and the member through the pressing step;
Including,
The pressing step is carried out in a state in which light for curing the composition is irradiated to at least a peripheral portion of a second surface of the member opposite the first surface, so that a portion of the light passes outside the member.
プレートを用いて部材上の異物を除去する異物除去方法であって、
請求項12に記載された膜形成方法により、前記部材上の異物を取り込んだ組成物の硬化膜を前記プレートと前記部材との間に形成する膜形成工程と、
前記膜形成工程の後、前記プレートに前記硬化膜が貼り付いている状態で前記プレートを前記部材から分離させる分離工程と、
を含むことを特徴とする異物除去方法。
A method for removing foreign matter on a member using a plate, comprising the steps of:
a film forming step of forming a cured film of a composition containing foreign matter on the member between the plate and the member by the film forming method according to claim 12;
a separation step of separating the plate from the member with the cured film attached to the plate after the film forming step;
A method for removing foreign matter, comprising:
請求項13に記載の異物除去方法により部材上の異物を除去する異物除去工程と、
前記異物除去工程を経た前記部材を加工する加工工程と、
前記加工工程を経た前記部材から物品を製造する製造工程と、
を含むことを特徴とする物品製造方法。
a foreign matter removing step of removing foreign matter on a member by the foreign matter removing method according to claim 13;
a processing step of processing the member that has been subjected to the foreign matter removal step;
a manufacturing process for manufacturing an article from the member that has been subjected to the processing process;
A method for manufacturing an article, comprising:
プレートを用いて部材上の組成物を成形する成形方法であって、
請求項12に記載された膜形成方法により、前記部材上の異物を取り込んだ組成物の硬化膜を前記プレートと前記部材との間に形成する膜形成工程と、
前記膜形成工程の後、前記プレートを前記部材上の前記硬化膜から分離させる分離工程と、
を含むことを特徴とする成形方法。
A molding method for molding a composition on a member using a plate, comprising the steps of:
a film forming step of forming a cured film of a composition containing foreign matter on the member between the plate and the member by the film forming method according to claim 12;
a separation step of separating the plate from the cured film on the member after the film forming step;
A molding method comprising the steps of:
請求項15に記載の成形方法により部材上の組成物を成形する成形工程と、
前記成形工程を経た前記部材を加工する加工工程と、
前記加工工程を経た前記部材から物品を製造する製造工程と、
を含むことを特徴とする物品製造方法。
A molding step of molding the composition on a member by the molding method according to claim 15;
a processing step of processing the member that has been subjected to the molding step;
a manufacturing process for manufacturing an article from the member that has been subjected to the processing process;
A method for manufacturing an article, comprising:
JP2023054056A 2023-03-29 2023-03-29 Film forming apparatus, foreign matter removing apparatus, molding apparatus, film forming method, foreign matter removing method, molding method, and article manufacturing method Pending JP2024142073A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2023054056A JP2024142073A (en) 2023-03-29 2023-03-29 Film forming apparatus, foreign matter removing apparatus, molding apparatus, film forming method, foreign matter removing method, molding method, and article manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2023054056A JP2024142073A (en) 2023-03-29 2023-03-29 Film forming apparatus, foreign matter removing apparatus, molding apparatus, film forming method, foreign matter removing method, molding method, and article manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2024142073A true JP2024142073A (en) 2024-10-10

Family

ID=92975235

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2023054056A Pending JP2024142073A (en) 2023-03-29 2023-03-29 Film forming apparatus, foreign matter removing apparatus, molding apparatus, film forming method, foreign matter removing method, molding method, and article manufacturing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2024142073A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8946093B2 (en) Imprint method, imprint apparatus, and method of manufacturing semiconductor device
KR20110088499A (en) How to clone an imprint lithography template
JP7270417B2 (en) IMPRINT APPARATUS CONTROL METHOD, IMPRINT APPARATUS, AND ARTICLE MANUFACTURING METHOD
WO2018088049A1 (en) Imprint device, imprint method, and article manufacturing method
JP6942562B2 (en) Lithography equipment and manufacturing method of goods
US20230347391A1 (en) Foreign particle removing method, formation method, article manufacturing method, foreign particle removing apparatus, system, and template
US20230347390A1 (en) Foreign particle removing method, formation method, article manufacturing method, foreign particle removing apparatus, and system
JP2024142073A (en) Film forming apparatus, foreign matter removing apparatus, molding apparatus, film forming method, foreign matter removing method, molding method, and article manufacturing method
JP6938313B2 (en) Imprint device, imprint method, method of determining the arrangement pattern of imprint material, and method of manufacturing articles
KR20230166906A (en) Forming apparatus, forming method, and article manufacturing method
JP2022144930A (en) Imprint method and manufacturing method of semiconductor device
JP2024146289A (en) Foreign body removal method, forming method, article manufacturing method, foreign body removal device, and system
JP2024060958A (en) Foreign substance removal method, foreign substance removal device, forming method, and article manufacturing method
JP2024124964A (en) Foreign matter removal method, substrate processing system, and article manufacturing method
US20230112924A1 (en) Substrate conveyance method, substrate conveyance apparatus, molding method, and article manufacturing method
JP7551694B2 (en) Foreign matter removal method, foreign matter removal device, and article manufacturing method
JP2024055155A (en) Foreign material removal system, foreign material removal method, foreign material removal equipment, and method for manufacturing article
JP7112220B2 (en) Methods, apparatus, systems, and methods of manufacturing articles
JP2024108835A (en) Foreign matter removal device, foreign matter removal method, and article manufacturing method
US20240393678A1 (en) Removing method, removal apparatus, imprint apparatus, replica manufacturing apparatus, and article manufacturing method
JP2019220526A (en) Molding apparatus for molding composition on substrate using mold, molding method, and method of manufacturing article
KR102461027B1 (en) Molding apparatus for molding composition on substrate using mold, molding method, and method for manufacturing article
US20220184876A1 (en) Planarization apparatus, planarization method, and article manufacturing method
JP2024143592A (en) IMPRINT APPARATUS, IMPRINT METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING ARTICLE
JP2024160394A (en) Foreign matter removal method, foreign matter removal device, and article manufacturing method