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JP2024114913A - Diagnostic system, resistance value estimation method, and computer program - Google Patents

Diagnostic system, resistance value estimation method, and computer program Download PDF

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JP2024114913A JP2024104876A JP2024104876A JP2024114913A JP 2024114913 A JP2024114913 A JP 2024114913A JP 2024104876 A JP2024104876 A JP 2024104876A JP 2024104876 A JP2024104876 A JP 2024104876A JP 2024114913 A JP2024114913 A JP 2024114913A
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Abstract

To provide a diagnosis system, a resistance value estimation method, and a computer program which can predict a change in resistance value of insulating resistance with good accuracy.SOLUTION: A diagnosis system comprises a measurement unit, an estimation expression storage unit, a resistance value estimation unit, and an insulating resistance information storage unit. The measurement unit measures at least one of the material factor of insulating resistance used in the target equipment and the adhering amount of an ionic pollutant of the environment factor. The estimation expression storage unit stores information regarding an estimation expression for estimating the resistance value of the insulating resistance on the basis of the result of measurement by the measurement unit. The resistance value estimation unit estimates the resistance value of the insulating resistance using the result of measurement by the measurement unit and the estimation expression stored in the estimation expression storage unit. The insulating resistance information storage unit stores one or a plurality of the result of resistance value estimation by the resistance value estimation unit, the material factor, and the environment factor.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明の実施形態は、診断システム、抵抗値推定方法、およびコンピュータープログラムに関する。 Embodiments of the present invention relate to a diagnostic system, a resistance value estimation method, and a computer program.

電力設備は社会インフラストラクチャを支える重要な設備であり、長期にわたり安定して稼動できることを求められる。安定稼動のためには、電力設備の劣化状態を把握するとともに、その保全・更新を計画的に実施する必要がある。電力設備の導体支持またはバリヤなどに用いられる絶縁材料は材料自体の経年劣化や、設置環境に浮遊する塵埃またはガスの付着などで絶縁特性が低下する。絶縁特性が低下すると放電やトラッキングを生じて設備停止に至る虞もある。よって、絶縁材料の状態は電力設備の劣化を診断するためのバロメータになる。 Electric power equipment is an important piece of equipment that supports social infrastructure, and it is expected to operate stably for a long period of time. To ensure stable operation, it is necessary to understand the deterioration state of the power equipment and to carry out its maintenance and renewal in a planned manner. The insulating properties of insulating materials used for conductor supports or barriers in power equipment deteriorate over time due to the deterioration of the material itself and the adhesion of dust or gas floating in the installation environment. If the insulating properties deteriorate, discharge or tracking may occur, which may lead to the equipment being shut down. Therefore, the condition of insulating materials serves as a barometer for diagnosing the deterioration of power equipment.

設置環境が絶縁材料の劣化に及ぼす影響は、塵埃やガスの付着による汚損だけとは限らない。絶縁材料の成分と化学反応する環境因子が存在する環境では、通常の経年劣化を上回る速度で、絶縁材料が劣化する場合がある。例えば炭酸カルシウムは、絶縁材料の無機充填材として多く使用される。炭酸カルシウムが塩素系ガスや窒素酸化物ガスなどと反応すると、絶縁材料表面に塩化カルシウムまたは硝酸カルシウムが形成される。これらの物質は湿度40%RH(相対湿度)以下の低湿度であっても大気中の水分を吸入して潮解するので、低湿度条件であっても絶縁材料の表面が結露し、絶縁材料の表面を漏れ電流が流れることがある。これが甚だしくなると絶縁が破壊され、最悪の場合には設備停止に至ることもある。 The influence of the installation environment on the deterioration of insulating materials is not limited to contamination due to the adhesion of dust and gas. In an environment where environmental factors that react chemically with the components of insulating materials are present, insulating materials may deteriorate at a rate that exceeds normal deterioration over time. For example, calcium carbonate is often used as an inorganic filler for insulating materials. When calcium carbonate reacts with chlorine gases or nitrogen oxide gases, calcium chloride or calcium nitrate is formed on the surface of the insulating material. These substances absorb moisture from the air and deliquesce even at low humidity levels of 40% RH (relative humidity) or less, so even under low humidity conditions, condensation can form on the surface of the insulating material, and leakage current can flow across the surface of the insulating material. If this becomes severe, the insulation can be destroyed, and in the worst case, it can lead to equipment shutdowns.

電気設備に使われている絶縁材料の絶縁抵抗値を、フィールドで直接測定することは可能である。しかしながらその測定値は測定場所の雰囲気に、具体的には湿度に大きく影響される。例えば乾燥した環境下では絶縁抵抗値の測定値は実際よりも高くなることが多く、これにより絶縁材料の劣化が見逃されるケースがある。また、電気設備が絶縁不良で停止するのは、ほとんど梅雨時等の高温多湿の時期である。このように絶縁材料の抵抗値を直接測定することは実地の運用には向いているといえない。 It is possible to directly measure the insulation resistance of insulating materials used in electrical equipment in the field. However, the measured value is greatly affected by the atmosphere of the measurement location, specifically the humidity. For example, in a dry environment, the measured insulation resistance value is often higher than the actual value, which can lead to deterioration of the insulating material being overlooked. Furthermore, electrical equipment mostly stops operating due to poor insulation during periods of high temperature and humidity, such as the rainy season. As such, directly measuring the resistance value of insulating materials is not suitable for practical use.

そこで、多変量解析などを用いた数値的演算により絶縁材料の絶縁抵抗値を推定する方法が提案されている。つまり、絶縁抵抗と相関を持ち測定場所の雰囲気に影響されない項目を複数測定し、その項目の値に基づいて絶縁抵抗値を算出する方法である。この方法ではフィールドで使用されている絶縁材料、および強制劣化させた絶縁材料について、絶縁抵抗と相関のあるデータを取得し、多変量解析により診断指標である絶縁抵抗の推定式を策定する。絶縁診断では、推定式を策定した項目を測定し、絶縁抵抗推定式から、任意の温湿度の絶縁抵抗を推定するようにする。 A method has been proposed to estimate the insulation resistance value of insulating materials through numerical calculations using methods such as multivariate analysis. In other words, this method involves measuring multiple items that are correlated with insulation resistance and are not affected by the atmosphere at the measurement location, and calculating the insulation resistance value based on the values of those items. With this method, data that correlates with insulation resistance is obtained for insulating materials used in the field and insulating materials that have been subjected to forced deterioration, and an estimation formula for insulation resistance, which is a diagnostic index, is formulated through multivariate analysis. In insulation diagnosis, the items for which the estimation formula was formulated are measured, and the insulation resistance at any temperature and humidity is estimated from the insulation resistance estimation formula.

従来技術による劣化診断装置は、所定の評価項目の実測値と予め記憶しておいた推定式とにより、絶縁抵抗値を推定する。また、従来技術による劣化診断装置は、推定された絶縁抵抗値と、抵抗値の実測値とに基づいて、上記推定式の妥当性を判定する。さらに、従来技術による劣化診断装置は、推定された絶縁抵抗値と、その絶縁材料の使用期間に基づいて、その絶縁材料の有効期限を算出する。
また、従来技術では、診断対象となる絶縁材料に直流電圧を印加して絶縁抵抗の経時変化を測定する。また、該絶縁抵抗と測定時間との関係を指数方程式で近似した場合の指数近似曲線の定数に基づいて、絶縁材料の汚損状態を診断する。また、絶縁抵抗と測定時間との関係を累乗方程式で近似した場合の累乗近似曲線の定数に基づいて、絶縁材料の劣化状態を診断する。
また、従来技術では、絶縁劣化判定基準となる絶縁材料の絶縁抵抗の変化と、絶縁材料の材料特性及び絶縁材料が設置されている大気環境因子との関係に基づき、多変量解析し、絶縁抵抗の推定式を予め作成する。また、推定式により、絶縁材料の設置環境で想定される最高温度湿度での絶縁材料の絶縁抵抗を算出する。また、算出された最高温度湿度での絶縁材料の絶縁抵抗に基づいて寿命閾値までの時間を判定する。
The degradation diagnosis device according to the prior art estimates an insulation resistance value based on actual measured values of a predetermined evaluation item and a pre-stored estimation formula. The degradation diagnosis device according to the prior art also determines the validity of the estimation formula based on the estimated insulation resistance value and the actual measured resistance value. Furthermore, the degradation diagnosis device according to the prior art calculates the expiration date of an insulating material based on the estimated insulation resistance value and the period of use of the insulating material.
In the conventional technology, a DC voltage is applied to the insulating material to be diagnosed to measure the change in insulation resistance over time. The contamination state of the insulating material is diagnosed based on the constant of an exponential approximation curve obtained by approximating the relationship between the insulation resistance and the measurement time with an exponential equation. The deterioration state of the insulating material is diagnosed based on the constant of a power approximation curve obtained by approximating the relationship between the insulation resistance and the measurement time with a power equation.
In the conventional technology, a formula for estimating insulation resistance is created in advance by performing a multivariate analysis based on the relationship between the change in insulation resistance of the insulating material, which is the insulation deterioration judgment criterion, and the material properties of the insulating material and the atmospheric environmental factors in which the insulating material is installed.The insulation resistance of the insulating material at the maximum temperature and humidity assumed in the installation environment of the insulating material is calculated using the estimation formula.Then, the time until the life threshold is determined based on the calculated insulation resistance of the insulating material at the maximum temperature and humidity.

絶縁特性に影響を及ぼす環境因子の影響度を評価するためには、フィールドで使用している機器の(絶縁材料の)表面の汚損状況を測定する必要がある。具体的には塵埃や海塩粒子、ガスの付着による汚損、さらにはこれら外来の汚損因子と絶縁材料の成分とが化学反応した低湿度で吸湿する潮解物質の影響度を評価する。そのための計測方法としては、湿らせたガーゼで対象物表面の一定面積の汚損物質を拭き取り、一定量の純水にて抽出した汚損液について、電導度測定や含まれるイオン濃度を分析する方法が用いられる。この計測方法を実施するにあたっては、検査員が実際に対象機器からサンプリング作業を実施する必要がある。しかしながら、検査員が常時対象機器のそばでサンプリング作業を連続的に行うことは事実上困難であり、所定期間ごとのサンプリングに基づく評価を行うこととせざるを得ないという問題がある。 To evaluate the degree of influence of environmental factors that affect the insulation characteristics, it is necessary to measure the degree of contamination of the surface (insulating material) of equipment used in the field. Specifically, the degree of influence of contamination due to dust, sea salt particles, and gas adhesion, as well as deliquescent substances that absorb moisture at low humidity and are the result of chemical reactions between these foreign contamination factors and the components of the insulating material, is evaluated. The measurement method used for this purpose is to wipe off a certain area of the contaminated material on the surface of the target object with a damp gauze, and then measure the electrical conductivity and analyze the ion concentration of the contaminated liquid extracted with a certain amount of pure water. To carry out this measurement method, an inspector must actually perform sampling work from the target equipment. However, it is practically difficult for an inspector to perform sampling work continuously near the target equipment at all times, and there is a problem that the evaluation must be based on sampling at specified intervals.

また、絶縁抵抗の低下を事前に予測することも困難であった。特に、周囲の構造物の新築、改築、工事、台風等の異常気象等の影響で、外来の汚損物の飛来状況が変化したり、外来の汚損成分と絶縁材料との反応が発生し急速に絶縁低下が進行したりする場合には、絶縁抵抗の低下を事前に予測することは困難であった。 It was also difficult to predict the deterioration of insulation resistance in advance. In particular, it was difficult to predict the deterioration of insulation resistance in advance when the conditions for the arrival of foreign contaminants changed due to the construction, renovation, or construction of surrounding structures, or abnormal weather such as typhoons, or when foreign contaminants reacted with insulating materials, causing a rapid deterioration of insulation.

特許第5951299号公報Patent No. 5951299 特許第5836904号公報Patent No. 5836904 特許第5872643号公報Patent No. 5872643

本発明が解決しようとする課題は、絶縁抵抗の抵抗値の変化を精度よく予測することができる診断システム、抵抗値推定方法、およびコンピュータープログラムを提供することである。 The problem that the present invention aims to solve is to provide a diagnostic system, a resistance value estimation method, and a computer program that can accurately predict changes in the resistance value of insulation resistance.

実施形態の劣化診断システムは、測定部と、推定式記憶部と、抵抗値推定部と、絶縁抵抗情報記憶部とを持つ。測定部は、対象機器に用いられている絶縁抵抗の絶縁材料に関する材料因子、または前記絶縁抵抗が設置されている場所における環境因子のうちイオン性汚損物質の付着量、の少なくともいずれか一方を測定する。推定式記憶部は、前記測定部による測定結果を基に前記絶縁抵抗の抵抗値を推定するための推定式に関する情報を記憶する。抵抗値推定部は、前記測定部による前記測定結果と、前記推定式記憶部に記憶された前記推定式と、を用いて前記絶縁抵抗の前記抵抗値を推定する。絶縁抵抗情報記憶部は、前記抵抗値推定部による抵抗値の推定結果、前記材料因子及び前記環境因子のいずれか一つ又は複数を記憶する。 The degradation diagnosis system of the embodiment has a measurement unit, an estimation formula storage unit, a resistance value estimation unit, and an insulation resistance information storage unit. The measurement unit measures at least one of a material factor related to the insulating material of the insulation resistor used in the target device, or an amount of ionic pollutants attached among environmental factors at the location where the insulation resistor is installed. The estimation formula storage unit stores information related to an estimation formula for estimating the resistance value of the insulation resistor based on the measurement result by the measurement unit. The resistance value estimation unit estimates the resistance value of the insulation resistor using the measurement result by the measurement unit and the estimation formula stored in the estimation formula storage unit. The insulation resistance information storage unit stores one or more of the resistance value estimation result by the resistance value estimation unit, the material factor, and the environmental factor.

第1の実施形態による劣化診断装置の概略機能構成を示すブロック図。1 is a block diagram showing a schematic functional configuration of a degradation diagnosis device according to a first embodiment; 絶縁抵抗値の推定結果の変化傾向の具体例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a specific example of a change trend of an estimation result of an insulation resistance value. 絶縁抵抗値の推定結果の変化傾向の具体例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a specific example of a change trend of an estimation result of an insulation resistance value. 第1の実施形態において、診断対象機器の近傍に劣化診断装置を設ける際の第1の配置例を示す概略図。1 is a schematic diagram showing a first arrangement example when a degradation diagnosis device is provided near a device to be diagnosed in the first embodiment; 第1の実施形態において、診断対象機器の近傍に劣化診断装置を設ける際の第2の配置例を示す概略図。4 is a schematic diagram showing a second arrangement example when the degradation diagnosis device is provided near the diagnosis target device in the first embodiment; FIG. 第1の実施形態の環境因子測定部の一構成例であるセンサーを示す断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a sensor as an example of the configuration of the environmental factor measuring unit according to the first embodiment. 第1の実施形態の環境因子測定部の一構成例であるセンサーを示す平面図。FIG. 2 is a plan view showing a sensor which is a configuration example of the environmental factor measuring unit of the first embodiment. 第1の実施形態の水晶振動子法を用いて環境因子測定部を構成した一例であるセンサーを示す概略図。FIG. 2 is a schematic diagram showing a sensor that is an example of an environmental factor measuring unit that uses the quartz crystal oscillator method according to the first embodiment. 第1の実施形態においてイオン成分を分析・測定するためのイオン成分分析装置の構成例を示す概略図。1 is a schematic diagram showing a configuration example of an ion component analyzer for analyzing and measuring ion components in a first embodiment; 第2の実施形態による劣化診断システムの概略機能構成を示すブロック図。FIG. 11 is a block diagram showing a schematic functional configuration of a degradation diagnosis system according to a second embodiment. 第3の実施形態による劣化診断システムの概略機能構成を示すブロック図。FIG. 11 is a block diagram showing a schematic functional configuration of a degradation diagnosis system according to a third embodiment. 材料因子の変化傾向の具体例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a specific example of a change trend of a material factor. 環境因子の変化傾向の具体例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a specific example of a change trend of an environmental factor.

以下、実施形態の劣化診断システム、抵抗値推定方法、およびコンピュータープログラムを、図面を参照して説明する。 The following describes the degradation diagnosis system, resistance value estimation method, and computer program of the embodiment with reference to the drawings.

(第1の実施形態)
本実施形態による劣化診断装置(劣化診断システムとも呼ぶ)は、材料因子と環境因子とを測定し、それらの測定値を基に抵抗値を推定する。さらに、本実施形態による劣化診断装置は、抵抗値の推定結果を時系列に記憶し、推定結果の時系列変化に基づいて将来の抵抗値を推定する。材料因子は、電気設備等における絶縁抵抗の材料に係る要因である。環境因子は、電気設備等が設置されている環境(特に、絶縁材料が晒される環境)に係る要因である。本実施形態による劣化診断装置は、これら材料因子および環境因子の測定を、自動的且つ連続的に行えるように構成される。
First Embodiment
The degradation diagnosis device (also called a degradation diagnosis system) according to this embodiment measures material factors and environmental factors, and estimates a resistance value based on these measured values. Furthermore, the degradation diagnosis device according to this embodiment stores the resistance value estimation results in chronological order, and estimates a future resistance value based on the time-series changes in the estimation results. The material factors are factors related to the material of the insulation resistance in electrical equipment, etc. The environmental factors are factors related to the environment in which the electrical equipment, etc. is installed (particularly the environment to which the insulating material is exposed). The degradation diagnosis device according to this embodiment is configured to automatically and continuously measure these material factors and environmental factors.

本実施形態では、環境因子のうち、特に、大気中のイオン性の汚損成分に着目する。つまり、劣化診断装置は、イオン性汚損成分の付着量等を連続的に計測することにより、例えば外来の環境因子の影響が急変した場合でも、絶縁抵抗の特性低下が実際に発生する前にその予兆を検知する。また、劣化診断装置は自動的に動作するため、検査員を現地に定期的に派遣する必要がなく、省力化を実現できる。 In this embodiment, of the environmental factors, the focus is on ionic pollutant components in the atmosphere in particular. In other words, the degradation diagnosis device continuously measures the amount of ionic pollutant components adhering to the equipment, and can detect signs of degradation of insulation resistance characteristics before they actually occur, even if the influence of external environmental factors suddenly changes. In addition, because the degradation diagnosis device operates automatically, there is no need to regularly dispatch inspectors to the site, which can reduce labor.

図1は、本実施形態による劣化診断装置の概略機能構成を示すブロック図である。図示するように、劣化診断装置1は、測定部2と、抵抗値推定部3と、妥当性判定部4と、診断部5と、診断結果表示部6と、推定式記憶部7と、機種別材料名記憶部8と、推定式作成用解析データ記憶部11と、推定式作成部12と、絶縁抵抗情報記憶部13と、を含んで構成される。また、測定部2は、材料因子測定部21と、環境因子測定部22とを有する。
これらの各機能部は、例えば、電子回路を用いて実現される。また、各機能部は、必要に応じて、半導体メモリーや磁気ハードディスク装置などといった記憶手段を内部に備えてよい。また、各機能を、コンピューターおよびソフトウェアによって実現するようにしてもよい。
1 is a block diagram showing a schematic functional configuration of a degradation diagnosis device according to this embodiment. As shown in the figure, the degradation diagnosis device 1 includes a measurement unit 2, a resistance value estimation unit 3, a validity determination unit 4, a diagnosis unit 5, a diagnosis result display unit 6, an estimation formula storage unit 7, a model-specific material name storage unit 8, an analysis data storage unit for creating an estimation formula 11, an estimation formula creation unit 12, and an insulation resistance information storage unit 13. The measurement unit 2 also includes a material factor measurement unit 21 and an environmental factor measurement unit 22.
Each of these functional units is realized, for example, by using an electronic circuit. Each functional unit may also include internal storage means such as a semiconductor memory or a magnetic hard disk drive, as necessary. Each function may also be realized by a computer and software.

測定部2は、対象機器等(電気製品や電気設備)に用いられる絶縁抵抗(診断対象)の劣化に関する様々な因子を測定する。測定部2は、測定結果のデータを抵抗値推定部3に渡す。具体的には次の通りである。
測定部2内の材料因子測定部21は、絶縁材料の素材の劣化に関わる項目を測定する。材料因子測定部21が測定する項目は、例えば、絶縁抵抗の表面の色(例えば、L*,a*,b*の色空間で表現される。色画像であってもよい。)、青色反射率、赤色反射率、光沢度(入射角20度の場合)、光沢度(入射角60度の場合)、光沢度(入射角85度の場合)、表面粗さ、濡れ性(接触角)、分光反射スペクトルである。これらの項目によって測定される特性は、抵抗材料の劣化に伴い変化する特性である。
測定部2内の環境因子測定部22は、絶縁抵抗を取り巻く環境に関する項目を測定する。環境因子測定部22が測定する項目は、例えば、イオン性物質の量(付着量など)や、設置環境における温度および湿度等である。ここで、イオン性物質の具体例は、塩化物イオン、硝酸イオン、硫酸イオン、ナトリウムイオン、アンモニウムイオン等である。
The measuring unit 2 measures various factors related to deterioration of an insulation resistance (a diagnostic target) used in a target device, etc. (an electrical product or electrical equipment). The measuring unit 2 passes data of the measurement results to the resistance value estimating unit 3. Specifically, the measurement is performed as follows.
The material factor measurement unit 21 in the measurement unit 2 measures items related to deterioration of the insulating material. Items measured by the material factor measurement unit 21 include, for example, the surface color of the insulating resistor (expressed in the color space of L*, a*, b*, for example, or a color image), blue reflectance, red reflectance, glossiness (when the incidence angle is 20 degrees), glossiness (when the incidence angle is 60 degrees), glossiness (when the incidence angle is 85 degrees), surface roughness, wettability (contact angle), and spectral reflectance spectrum. The characteristics measured by these items are characteristics that change with deterioration of the resistor material.
The environmental factor measuring section 22 in the measuring section 2 measures items related to the environment surrounding the insulation resistance. Items measured by the environmental factor measuring section 22 include, for example, the amount of ionic substances (such as the amount of adhesion), and the temperature and humidity in the installation environment. Specific examples of ionic substances include chloride ions, nitrate ions, sulfate ions, sodium ions, and ammonium ions.

上記の材料因子測定部21と環境因子測定部22との少なくともいずれかが、自動的かつ連続的な計測を行えるように構成してもよい。これにより、突発的な状況(環境等)の変化による絶縁抵抗値の低下がある場合にも、高い確度でその予兆を捉えることが可能となる。材料因子と環境因子とを比較した場合、突発的な状況変化による抵抗特性の変化がより起きやすいのは、環境因子によるものである。つまり、環境因子を連続的に計測することによって、より効果的に、突発的な状況変化による抵抗特性の変化を予測できる。ただし、材料因子に関しても、連続的な計測自体は有効である。 At least one of the material factor measurement unit 21 and the environmental factor measurement unit 22 may be configured to perform automatic and continuous measurement. This makes it possible to accurately detect the signs of a drop in insulation resistance value due to a sudden change in circumstances (environment, etc.). When comparing material factors and environmental factors, environmental factors are more likely to cause changes in resistance characteristics due to sudden changes in circumstances. In other words, by continuously measuring environmental factors, it is possible to more effectively predict changes in resistance characteristics due to sudden changes in circumstances. However, continuous measurement itself is also effective with regard to material factors.

つまり、測定部2は、対象機器に用いられている絶縁材料に関する材料因子、または絶縁抵抗が設置されている場所における環境因子のうちイオン性汚損物質の付着量、の少なくともいずれか一方を測定する。 In other words, the measurement unit 2 measures at least one of the following: material factors related to the insulating material used in the target device, or the amount of ionic pollutants adhering to the device, which is an environmental factor at the location where the insulation resistor is installed.

抵抗値推定部3は、測定部2から、測定結果のデータを受け取る。また、抵抗値推定部3は、診断の対象としている機器の機種識別情報を、測定結果データと関連付ける。機種識別情報は、測定部2から受け取るようにしてもよいし、抵抗値推定部3が予め設定されたデータ等として保持しておいてもよい。抵抗値推定部3は、測定結果データに基づいて、絶縁抵抗の抵抗値を推定するための計算を行う。そして、抵抗値推定部3は、推定結果として得られた絶縁抵抗の抵抗値を、その抵抗値が得られた時刻情報と対応づけて絶縁抵抗情報記憶部13に記録する。対応づけられる時刻情報は、推定結果と関連する時刻情報である。例えば、測定部2によって測定が行われた時刻を示す情報であってもよいし、抵抗値推定部3が推定を行った時刻を示す情報であってもよい。 The resistance value estimation unit 3 receives data of the measurement result from the measurement unit 2. The resistance value estimation unit 3 also associates the model identification information of the device to be diagnosed with the measurement result data. The model identification information may be received from the measurement unit 2, or may be stored by the resistance value estimation unit 3 as preset data, etc. The resistance value estimation unit 3 performs calculations to estimate the resistance value of the insulation resistance based on the measurement result data. The resistance value estimation unit 3 then records the resistance value of the insulation resistance obtained as the estimation result in the insulation resistance information storage unit 13 in association with the time information at which the resistance value was obtained. The associated time information is time information related to the estimation result. For example, it may be information indicating the time at which the measurement was performed by the measurement unit 2, or it may be information indicating the time at which the resistance value estimation unit 3 performed the estimation.

具体的には、抵抗値推定部3は、次の手順により推定を行う。まず、抵抗値推定部3は、対象機器の機種および製造年月を特定する。そして、抵抗値推定部3は、その機種と製造年月との組み合わせに対応する絶縁材料の材料名を、機種別材料名記憶部8から読み出す。これにより、対象機器に用いられている絶縁材料が特定される。次に、抵抗値推定部3は、特定された絶縁材料用の抵抗値推定式を、推定式記憶部7から読み出す。次に、抵抗値推定部3は、測定部2から受け取った測定値データを、推定式記憶部7から読み出した推定式に適用する。そして、抵抗値推定部3は、その推定式の計算を行うことにより、対象機器の絶縁抵抗の抵抗値(推定値)を算出する。つまり抵抗値推定部3は、機種別材料名記憶部8を参照して特定した絶縁材料の絶縁抵抗推定式を推定式記憶部7から呼び出し、この推定式を用いて絶縁材料の絶縁抵抗値を推定する。 Specifically, the resistance value estimation unit 3 performs estimation according to the following procedure. First, the resistance value estimation unit 3 identifies the model and manufacturing date of the target device. Then, the resistance value estimation unit 3 reads the name of the insulating material corresponding to the combination of the model and manufacturing date from the model-specific material name storage unit 8. This identifies the insulating material used in the target device. Next, the resistance value estimation unit 3 reads the resistance value estimation formula for the identified insulating material from the estimation formula storage unit 7. Next, the resistance value estimation unit 3 applies the measurement value data received from the measurement unit 2 to the estimation formula read from the estimation formula storage unit 7. Then, the resistance value estimation unit 3 calculates the resistance value (estimated value) of the insulation resistance of the target device by performing calculations using the estimation formula. In other words, the resistance value estimation unit 3 calls up the insulation resistance estimation formula of the identified insulating material from the estimation formula storage unit 7 by referring to the model-specific material name storage unit 8, and estimates the insulation resistance value of the insulating material using this estimation formula.

つまり、抵抗値推定部3は、測定部2による測定結果と、推定式記憶部7に記憶された推定式と、を用いて絶縁抵抗の抵抗値を推定する。そして、抵抗値推定部3は、推定結果として得られた絶縁抵抗の抵抗値を、その抵抗値が得られた時刻情報と対応づけて絶縁抵抗情報記憶部13に記録する。 In other words, the resistance value estimation unit 3 estimates the resistance value of the insulation resistance using the measurement results from the measurement unit 2 and the estimation formula stored in the estimation formula storage unit 7. The resistance value estimation unit 3 then records the resistance value of the insulation resistance obtained as the estimation result in the insulation resistance information storage unit 13 in association with the time information at which the resistance value was obtained.

絶縁抵抗情報記憶部13は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置等の記憶装置を用いて構成される。絶縁抵抗情報記憶部13は、測定部2による測定の対象となっている絶縁抵抗に関する時系列情報を記憶する。例えば、絶縁抵抗情報記憶部13は、抵抗値推定部3による抵抗値の推定結果の時系列情報を記憶してもよい。 The insulation resistance information storage unit 13 is configured using a storage device such as a magnetic hard disk drive or a semiconductor storage device. The insulation resistance information storage unit 13 stores time-series information regarding the insulation resistance that is the subject of measurement by the measurement unit 2. For example, the insulation resistance information storage unit 13 may store time-series information on the results of the resistance value estimation by the resistance value estimation unit 3.

妥当性判定部4は、妥当性判定部4は、抵抗値推定部3により推定された絶縁抵抗値の妥当性を判定する。妥当性判定部4は、例えば抵抗値に関する既定の上限値との比較に基づいて推定された絶縁抵抗値の妥当性を判定する。あるいは、妥当性判定部4は、例えば、絶縁抵抗値の実測値との比較に基づいて推定された絶縁抵抗値の妥当性を判定してもよい。
つまり、妥当性判定部4は、抵抗値推定部3が推定した抵抗値と、絶縁抵抗の抵抗値の実測値とを比較することにより推定式の妥当性を判定することができる。
The validity determination unit 4 determines the validity of the insulation resistance value estimated by the resistance value estimation unit 3. The validity determination unit 4 determines the validity of the estimated insulation resistance value based on, for example, a comparison with a predetermined upper limit value for the resistance value. Alternatively, the validity determination unit 4 may determine the validity of the estimated insulation resistance value based on, for example, a comparison with an actual measured value of the insulation resistance value.
In other words, the validity determining unit 4 can determine the validity of the estimation formula by comparing the resistance value estimated by the resistance value estimating unit 3 with the actual measured resistance value of the insulation resistor.

診断部5は、抵抗値推定部3によって推定された絶縁抵抗値の時系列変化に基づいて、診断処理を行う。診断処理の具体例として、変化傾向を判定する処理、将来の絶縁抵抗値を推定する処理、絶縁抵抗の余寿命を推定する処理、異常の発生を検知する処理、がある。診断部5は、診断処理の具体例として以下に説明する処理のうち、1又は複数の処理を行ってもよい。以下、診断処理の各具体例について説明する。 The diagnostic unit 5 performs diagnostic processing based on the time series changes in the insulation resistance value estimated by the resistance value estimation unit 3. Specific examples of diagnostic processing include processing for determining a trend of change, processing for estimating a future insulation resistance value, processing for estimating the remaining life of the insulation resistance, and processing for detecting the occurrence of an abnormality. The diagnostic unit 5 may perform one or more of the processes described below as specific examples of diagnostic processing. Each specific example of diagnostic processing is described below.

1)変化傾向を判定する処理
診断部5は、絶縁抵抗値の時系列の変化傾向を判定する。診断部5が変化傾向を判定する手法には、どのような手法が用いられてもよい。例えば、既存の近似手法が用いられてもよい。より具体的には以下の通りである。診断部5は、例えば線形近似、対数近似、指数近似、累乗近似等の近似手法のうち、予め定められたいずれかの近似手法を用いることによって、絶縁抵抗値の時系列の変化傾向を判定してもよい。図2は、変化傾向の具体例を示す図である。時刻Aは現在時刻を示す。そのため、時刻Aまでは、実際に測定部2によって得られた測定結果に基づいて絶縁抵抗値の推定値が得られている。一方、時刻A以降は将来となるため、測定部2によって測定結果が得られていない。そのため、測定結果に基づいた絶縁抵抗値の推定値(抵抗値推定部3による推定結果)は得られていない。時刻Aまでに位置する複数の円が、それぞれの時刻における絶縁抵抗値の推定値を示す。これらの複数の推定値を近似することによって、時刻Aまで伸びている実線の近似線が得られる。このような近似の線(図2では直線)が、絶縁抵抗値の時系列の変化傾向を示している。
1) Process for Determining Change Trend The diagnostic unit 5 determines the change trend of the insulation resistance value over time. Any method may be used for the diagnostic unit 5 to determine the change trend. For example, an existing approximation method may be used. More specifically, the process is as follows. The diagnostic unit 5 may determine the change trend of the insulation resistance value over time by using any of predetermined approximation methods, such as linear approximation, logarithmic approximation, exponential approximation, and power approximation. FIG. 2 is a diagram showing a specific example of the change trend. Time A indicates the current time. Therefore, up to time A, an estimated value of the insulation resistance value is obtained based on the measurement results actually obtained by the measurement unit 2. On the other hand, since the time after time A is in the future, no measurement results have been obtained by the measurement unit 2. Therefore, an estimated value of the insulation resistance value based on the measurement results (estimated result by the resistance value estimation unit 3) has not been obtained. A plurality of circles located up to time A indicate estimated values of the insulation resistance value at each time. By approximating these multiple estimated values, a solid approximation line extending to time A is obtained. Such an approximation line (a straight line in FIG. 2) indicates the change trend of the insulation resistance value over time.

診断部5は、例えば線形近似、対数近似、指数近似、累乗近似等の近似手法のうち、どの近似手法を用いるかを動的に決定し、決定された近似手法を用いることによって、絶縁抵抗値の時系列の変化傾向を判定してもよい。診断部5は、例えば近似手法の候補を予め複数有し、複数の近似手法によって得られる変化傾向のうち、絶縁抵抗情報記憶部13に記憶されている時系列変化の傾向と最も類似している近似手法を採用することによって、変化傾向を判定してもよい。 The diagnostic unit 5 may dynamically determine which approximation method to use, for example, from linear approximation, logarithmic approximation, exponential approximation, power approximation, etc., and may determine the change trend of the insulation resistance value over time by using the determined approximation method. For example, the diagnostic unit 5 may have multiple approximation method candidates in advance, and may determine the change trend by adopting the approximation method that is most similar to the change trend of the time series stored in the insulation resistance information storage unit 13 from among the change trends obtained by the multiple approximation methods.

診断部5は、例えば過去に測定された絶縁抵抗値の時系列の値と、その時系列の値に適した近似手法と、を対応づけた教師データを複数用いることによって行われる機械学習の結果に基づいて、今回の診断対象となっている絶縁抵抗値の時系列の値に適した近似手法を決定してもよい。 The diagnosis unit 5 may determine an approximation method suitable for the time series values of the insulation resistance value that is the subject of the current diagnosis, based on the results of machine learning performed by using multiple pieces of training data that correspond, for example, to time series values of insulation resistance values measured in the past and approximation methods suitable for those time series values.

診断部5は、例えば絶縁抵抗値の時系列の変化のうち、変化の傾向が変わった時点(以下「変化時点」という。)を判定し、変化時点以降の変化傾向を判定する際には、変化時点までの絶縁抵抗値を用いず、変化時点以降の絶縁抵抗値のみに基づいて変化傾向を判定してもよい。図3は、変化傾向の具体例を示す図である。図3における時刻Cの時点よりも以前と以降とで、変化傾向が変わっている。このような変化時点は、例えば各時刻における絶縁抵抗の推定値の変化率(例えば微分値)を算出することによって判定されてもよい。変化率の値が閾値を超えて急激に変化することや、変化率の値が不連続となるように急激に変化した場合(例えば連続する時刻における変化率の差が閾値を超えた場合)には、その時点が変化時点として判定されてもよい。診断部5は、変化時点となった時刻C以降の変化傾向を、時刻C以前の推定値を用いることなく判定する。例えば、診断部5は、時刻C以降の変化傾向を、時刻Cから時刻Dまでの間の推定値のみに基づいて判定してもよい。この場合、時刻Dは、実際の測定結果に基づく絶縁抵抗の推定値が得られている時刻。例えば現在時刻。このように変化傾向が判定されることによって、より精度良く変化傾向を判定することができる。その結果、後述するような将来の絶縁抵抗値を推定する処理や、余寿命を推定する処理において、より精度良く各値を推定することが可能となる。 The diagnostic unit 5 may, for example, determine the time point at which the trend of change in the time series of the insulation resistance value changes (hereinafter referred to as the "time point of change"), and when determining the trend of change after the time point of change, may determine the trend of change based only on the insulation resistance value after the time point of change without using the insulation resistance value up to the time point of change. FIG. 3 is a diagram showing a specific example of the trend of change. The trend of change changes before and after time C in FIG. 3. Such a time point of change may be determined, for example, by calculating the rate of change (e.g., differential value) of the estimated value of the insulation resistance at each time. When the value of the rate of change changes suddenly beyond a threshold value, or when the value of the rate of change changes suddenly so as to become discontinuous (for example, when the difference between the rates of change at consecutive times exceeds a threshold value), that time point may be determined as the time point of change. The diagnostic unit 5 determines the trend of change after time C, which is the time point of change, without using the estimated value before time C. For example, the diagnostic unit 5 may determine the trend of change after time C based only on the estimated value between time C and time D. In this case, time D is the time at which the estimated value of the insulation resistance based on the actual measurement result is obtained. For example, the current time. By determining the change trend in this way, it is possible to determine the change trend with greater accuracy. As a result, it becomes possible to estimate each value with greater accuracy in the process of estimating future insulation resistance values and remaining life, as described below.

2)将来の絶縁抵抗値を推定する処理
診断部5は、上述した変化傾向の判定結果に基づいて、将来の絶縁抵抗値を推定する。診断部5は、例えば将来の任意の時点における絶縁抵抗値を、変化傾向の判定結果に基づいて推定してもよい。将来の任意の時点は、ユーザーによって不図示の入力装置を介して指定されてもよいし、他の情報処理装置等から受信されるデータにおいて指定されてもよい。
2) Process of estimating future insulation resistance value The diagnosis unit 5 estimates a future insulation resistance value based on the above-mentioned determination result of the change trend. The diagnosis unit 5 may estimate, for example, an insulation resistance value at an arbitrary time point in the future based on the determination result of the change trend. The arbitrary time point in the future may be specified by a user via an input device (not shown), or may be specified in data received from another information processing device or the like.

3)絶縁抵抗の余寿命を推定する処理
診断部5は、上述した変化傾向の判定結果に基づいて、絶縁抵抗の余寿命を推定する。具体的には以下の通りである。診断部5は、絶縁抵抗値の下限値を予め記憶している。下限値は、絶縁抵抗値がこの値を下回ってしまうと、所定の基準を満たさなくなり絶縁材料を交換するなどのメンテナンスが必要となってしまうことを示す値である。診断部5は、下限値を示す閾値を絶縁抵抗の推定値が下回るタイミングを判定する。診断部5は、このようなタイミングまでの残りの期間を余寿命の値として推定する。例えば、図2の場合には、変化傾向にしたがって絶縁抵抗値が劣化した場合には時刻Bにおいて閾値を推定値が下回る。そのため、現時点(時刻A)から時刻Bまでの期間が余寿命として判定される。例えば、図3の場合には、変化傾向にしたがって絶縁抵抗値が劣化した場合には時刻Eにおいて閾値を推定値が下回る。そのため、現時点(時刻D)から時刻Eまでの期間が余寿命として判定される。
3) Process for estimating remaining life of insulation resistance The diagnostic unit 5 estimates the remaining life of the insulation resistance based on the above-mentioned determination result of the change trend. Specifically, the process is as follows. The diagnostic unit 5 prestores a lower limit value of the insulation resistance value. The lower limit value is a value indicating that if the insulation resistance value falls below this value, it will not satisfy a predetermined standard and maintenance such as replacing the insulating material will be required. The diagnostic unit 5 determines the timing at which the estimated value of the insulation resistance falls below a threshold value indicating the lower limit value. The diagnostic unit 5 estimates the remaining period until such timing as the value of the remaining life. For example, in the case of FIG. 2, if the insulation resistance value deteriorates according to the change trend, the estimated value falls below the threshold value at time B. Therefore, the period from the current time (time A) to time B is determined as the remaining life. For example, in the case of FIG. 3, if the insulation resistance value deteriorates according to the change trend, the estimated value falls below the threshold value at time E. Therefore, the period from the current time (time D) to time E is determined as the remaining life.

4)異常の発生を検知する処理
診断部5は、上述した変化時点の有無を判定し、変化時点が生じていると判定された場合には、異常が発生していると検知してもよい。診断部5によって変化時点が生じていると判定された場合には、変化時点に関する情報がユーザーに対して出力されてもよい。このような出力は、例えば診断結果表示部6によって行われてもよい。絶縁抵抗値の急激な変化は、例えば負荷電流の増加や環境の急激な変化に起因している可能性がある。このような事象が発生する場合には、保護機器の破損や、周囲の保護筐体の破損等の異常が発生している可能性もある。そのため、このような異常の発生が検知されてユーザーに対して出力されることによって、ユーザーにおいて何らかの対応をより早い時点で取ることを可能とする。
4) Processing for detecting occurrence of abnormality The diagnostic unit 5 may determine whether the above-mentioned change time point exists, and may detect the occurrence of an abnormality when it is determined that the change time point exists. When the diagnostic unit 5 determines that the change time point exists, information on the change time point may be output to the user. Such output may be performed, for example, by the diagnostic result display unit 6. A sudden change in the insulation resistance value may be caused, for example, by an increase in load current or a sudden change in the environment. When such an event occurs, an abnormality such as damage to the protective device or damage to the surrounding protective housing may occur. Therefore, by detecting the occurrence of such an abnormality and outputting it to the user, it is possible for the user to take some kind of action at an earlier point in time.

診断部5の処理によって得られる診断結果は、診断結果表示部6に渡される。
診断結果表示部6は、診断部5から渡される診断結果を表示する。これにより、劣化診断装置1のユーザーは、対象機器に用いられている抵抗の有効期限の推定値を知ることができる。なお、診断結果表示部6は、他の態様で出力を行う装置に置き換えられてもよい。例えば、音声で情報を出力するスピーカーに置き換えられてもよいし、点滅や明滅の態様によって情報を出力する1又は複数の照明に置き換えられてもよい。
The diagnosis result obtained by the processing of the diagnosis unit 5 is passed to the diagnosis result display unit 6 .
The diagnostic result display unit 6 displays the diagnostic result passed from the diagnostic unit 5. This allows the user of the degradation diagnosis device 1 to know the estimated expiration date of the resistor used in the target device. The diagnostic result display unit 6 may be replaced with a device that outputs in another manner. For example, it may be replaced with a speaker that outputs information by voice, or it may be replaced with one or more lights that output information by flashing or blinking.

推定式記憶部7は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置等の記憶装置を用いて構成される。推定式記憶部7は、絶縁材料別の推定式を記憶する。推定式記憶部7が記憶する推定式は、複数の劣化モードにわたるものであり、解析データに基づいて予めT法で作成されたものである。これらの推定式は、一般化すると、下の式(1)で表される。
R=f(m,d,d,…,d) ・・・ (1)
式(1)において、Rは推定された抵抗値であり、f()は推定抵抗値を出力するための所定の関数である。また、mは、絶縁材料の種類(物質)を指標する値(例えば、整数値)である。また、d,d,…,dは、絶縁材料の種類以外を表すN個のパラメーターである。これらのパラメーターには、絶縁材料の形状やサイズ(例えば、断面積や長さ等)に関するデータが含まれる。また、これらのパラメーターには、測定部2において測定される測定結果データが含まれる。
なお、多数の劣化モードを網羅して推定式を作成するほど、推定される抵抗値の精度は上がり、誤診断が少なくなる。
The estimation formula storage unit 7 is configured using a storage device such as a magnetic hard disk drive or a semiconductor storage device. The estimation formula storage unit 7 stores an estimation formula for each insulating material. The estimation formulas stored in the estimation formula storage unit 7 cover a plurality of deterioration modes and are created in advance by the T-method based on analysis data. These estimation formulas can be generalized and expressed by the following formula (1).
R=f(m, d 1 , d 2 ,..., d N )... (1)
In formula (1), R is the estimated resistance value, and f() is a predetermined function for outputting the estimated resistance value. Furthermore, m is a value (e.g., an integer value) that indicates the type (substance) of the insulating material. Furthermore, d1 , d2 , ..., dN are N parameters that indicate things other than the type of insulating material. These parameters include data on the shape and size (e.g., cross-sectional area, length, etc.) of the insulating material. Furthermore, these parameters include measurement result data measured by the measurement unit 2.
In addition, the more degradation modes that are covered when creating the estimation equation, the higher the accuracy of the estimated resistance value will be, and the fewer misdiagnoses will occur.

推定式記憶部7は、この関数f()を記憶する。具体的には、推定式記憶部7は、例えば、関数f()を表す数式を構文木の形式のデータとして記憶してもよい。また、推定式記憶部7は、例えば、関数f()を実現するコンピュータープログラムモジュール(ソースプログラム、あるいは実行可能形式のプログラム等)を記憶してもよい。また、推定式記憶部7は、関数f()を記憶する代わりに、絶縁材料の種類mごとに個別に定義された関数f()を記憶してもよい(例えば、m=1,2,…)。関数f()は、下の式(2)で表される。
R=f(d,d,…,d) ・・・ (2)
The estimation formula storage unit 7 stores this function f(). Specifically, the estimation formula storage unit 7 may store, for example, a formula representing the function f() as data in the form of a syntax tree. The estimation formula storage unit 7 may also store, for example, a computer program module (such as a source program or an executable program) that realizes the function f(). Instead of storing the function f(), the estimation formula storage unit 7 may also store a function f m () that is individually defined for each type m of insulating material (for example, m = 1, 2, ...). The function f m () is expressed by the following formula (2).
R=f m (d 1 , d 2 ,..., d N )... (2)

つまり、推定式記憶部7は、測定部2による測定結果を基に絶縁抵抗の抵抗値を推定するための推定式に関する情報を記憶する。 In other words, the estimation formula storage unit 7 stores information about the estimation formula for estimating the resistance value of the insulation resistance based on the measurement results by the measurement unit 2.

機種別材料名記憶部8は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置等の記憶装置を用いて構成される。機種別材料名記憶部8は、診断対象の機器の、機種および製造年月と、絶縁材料の種類とを関連付けて記憶する。つまり、対象機器の機種および製造年月を特定して機種別材料名記憶部8を参照すると、使用されている絶縁材料の種別を特定することができるようになっている。 The model-specific material name storage unit 8 is configured using a storage device such as a magnetic hard disk drive or a semiconductor storage device. The model-specific material name storage unit 8 stores the model and manufacturing date of the device to be diagnosed in association with the type of insulating material. In other words, by identifying the model and manufacturing date of the target device and referring to the model-specific material name storage unit 8, it is possible to identify the type of insulating material used.

推定式作成用解析データ記憶部11は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置等の記憶装置を用いて構成される。推定式作成用解析データ記憶部11は、推定式を作成するために用いる解析データを記憶する。推定式作成用解析データ記憶部11が記憶するデータは、式(1)や式(2)におけるm,d,d,…,d、およびRの値の組の集合である。
推定式作成部12は、推定式作成用解析データ記憶部11に記憶されている解析データを基に、T法(タグチ法)による多変量解析を行い、推定式を求める。推定式作成部12によって求められる推定式は、前記の式(1)または式(2)で表されるものである。なお、推定式作成部12は、T法に代えて、MT法(マハラノビス・タグチ法)を用いてもよい。なお、T法やMT法自体は、既存の技術である。
つまり、推定式作成部12は、測定部2が測定する測定項目の実測値と絶縁抵抗の抵抗値の実測値との組に基づき、タグチ法またはタグチ・シュミット法を用いた多変量解析により推定式を予め作成する。
The analytical data storage unit 11 for creating an estimation formula is configured using a storage device such as a magnetic hard disk device or a semiconductor storage device. The analytical data storage unit 11 for creating an estimation formula stores analytical data used to create an estimation formula. The data stored in the analytical data storage unit 11 for creating an estimation formula is a set of values of m, d 1 , d 2 , ..., d N , and R in formula (1) and formula (2).
The estimation formula creation unit 12 performs multivariate analysis by the Taguchi method (T method) based on the analysis data stored in the estimation formula creation analysis data storage unit 11 to obtain an estimation formula. The estimation formula obtained by the estimation formula creation unit 12 is expressed by the above-mentioned formula (1) or formula (2). The estimation formula creation unit 12 may use the Mahalanobis-Taguchi method (MT method) instead of the T method. The T method and the MT method themselves are existing technologies.
In other words, the estimation equation creation unit 12 creates an estimation equation in advance by multivariate analysis using the Taguchi method or the Taguchi-Schmidt method, based on a pair of actual measured values of the measurement items measured by the measurement unit 2 and the actual measured resistance value of the insulation resistance.

なお、劣化診断装置1が、推定式作成用解析データ記憶部11や推定式作成部12を持たない構成としてもよい。その場合にも、予め、劣化診断装置1以外の装置が有する推定式作成部12が推定した推定式は、推定式記憶部7に記憶されている。よって、抵抗値推定部3は、その推定式を用いて、抵抗値を推定することができる。 The degradation diagnosis device 1 may be configured not to have the estimation equation creation analysis data storage unit 11 or the estimation equation creation unit 12. Even in this case, the estimation equation estimated by the estimation equation creation unit 12 of a device other than the degradation diagnosis device 1 is stored in advance in the estimation equation storage unit 7. Therefore, the resistance value estimation unit 3 can estimate the resistance value using the estimation equation.

図4は、診断対象機器の近傍に本実施形態による劣化診断装置を設ける場合の配置例(第1の配置例)を示す概略図である。図示するように、本例では、筺体311の内部に、対象機器312および313が設置されている。対象機器312および313は、高電圧を使用する電気機器であり、絶縁のための絶縁材料を内部に備えている。筺体311は、吸気口316と排気口317とを備えている。例えば不図示のファン等が筺体311内または近傍の所定の箇所に設けられていることによって、筺体311の外部の空気が吸気口316を通って筺体311の内部に流入する。また、同様に、筺体311の内部の空気が排気口317を通って筺体311の外部に流出する。吸気口316と排気口317の位置に示している太い矢印は、それぞれ、空気の流れる方向を表している。本例では、基本的にはこれらの吸気口316および排気口317のみによって、筺体311の内部と外部の空気は交換される。そして、対象機器312および313の近傍に、それぞれ、測定部314および315が設置されている。この測定部314および315は、その場所における汚損物質を計測するものである。つまり、測定部314は、対象機器312に影響する環境因子に関する測定を行う。また、測定部315は、対象機器313に影響する環境因子に関する測定を行う。即ち、測定部314および315は、図1における環境因子測定部22に当たる。なお、対象機器312および対象機器313のそれぞれについて、材料因子を測定するための不図示の測定部(図1における材料因子測定部21に当たる)が設けられていてもよい。図4に示す例では、測定部314および315は、通信線を介して筺体311の外部と接続されている。そして、劣化診断装置1が有する測定部2以外の機能(つまり、抵抗値推定部3と、妥当性判定部4と、診断部5と、診断結果表示部6と、推定式記憶部7と、機種別材料名記憶部8と、推定式作成用解析データ記憶部11と、推定式作成部12とを含む機能)は、筺体311の外部に存在する。そして、測定部314および315のそれぞれは、上記の通信線を介して測定結果データを抵抗値推定部3に伝える。 4 is a schematic diagram showing an example of arrangement (first arrangement example) in the case where a deterioration diagnosis device according to this embodiment is provided near a diagnosis target device. As shown in the figure, in this example, target devices 312 and 313 are installed inside a housing 311. The target devices 312 and 313 are electrical devices that use high voltage and have an insulating material inside for insulation. The housing 311 has an air intake 316 and an exhaust 317. For example, a fan (not shown) is provided at a predetermined location inside or near the housing 311, so that air outside the housing 311 flows into the inside of the housing 311 through the air intake 316. Similarly, air inside the housing 311 flows out to the outside of the housing 311 through the exhaust 317. The thick arrows shown at the positions of the air intake 316 and the exhaust 317 respectively indicate the direction of air flow. In this example, air is exchanged between the inside and outside of the housing 311 basically only through the intake port 316 and the exhaust port 317. Measurement units 314 and 315 are installed near the target devices 312 and 313, respectively. These measurement units 314 and 315 measure the polluting substances at the locations. That is, the measurement unit 314 measures the environmental factors that affect the target device 312. Also, the measurement unit 315 measures the environmental factors that affect the target device 313. That is, the measurement units 314 and 315 correspond to the environmental factor measurement unit 22 in FIG. 1. Note that a measurement unit (not shown) for measuring material factors (corresponding to the material factor measurement unit 21 in FIG. 1) may be provided for each of the target devices 312 and 313. In the example shown in FIG. 4, the measurement units 314 and 315 are connected to the outside of the housing 311 via a communication line. Functions of the degradation diagnosis device 1 other than the measurement unit 2 (i.e., functions including the resistance value estimation unit 3, the validity determination unit 4, the diagnosis unit 5, the diagnosis result display unit 6, the estimation formula storage unit 7, the model-specific material name storage unit 8, the analysis data storage unit 11 for creating the estimation formula, and the estimation formula creation unit 12) exist outside the housing 311. Each of the measurement units 314 and 315 transmits the measurement result data to the resistance value estimation unit 3 via the above-mentioned communication line.

図4に示した配置の場合、筺体311内の気流の流れに応じて、空気中の汚損物質(イオン性物質等)が筺体311内に分布する。各々の対象機器の近傍に測定部を設けることにより、対象機器ごとの汚損状況(環境因子)を測定することができる。
つまり、測定部2における、イオン性汚損物質の付着量の計測手段を、対象機器における絶縁抵抗の近傍に設置するようにしている。これにより、絶縁抵抗が環境から受ける要因をより正確に測定できる。
4, airborne contaminants (ionic substances, etc.) are distributed within the housing 311 according to the airflow within the housing 311. By providing a measuring unit in the vicinity of each target device, it is possible to measure the contamination state (environmental factors) of each target device.
That is, the measuring means for measuring the amount of adhesion of ionic pollutants in the measuring unit 2 is arranged in the vicinity of the insulation resistance of the target device, thereby making it possible to more accurately measure the influence of the environment on the insulation resistance.

また、筺体311内における気流の流れが明らかな場合には、例えば最も汚損されすい箇所のみについて、監視対象として測定することもできる。例えば図4の配置において、気流(概ね、太い矢印で示す)の上流側に位置する対象機器312に対応する測定部314のみを設けるようにしてよい。 In addition, when the air flow within the housing 311 is clear, it is possible to measure only the areas that are most likely to be soiled as the monitored objects. For example, in the arrangement shown in FIG. 4, only the measuring unit 314 corresponding to the target device 312 located upstream of the air flow (roughly indicated by the thick arrow) may be provided.

図5は、診断対象機器の近傍に本実施形態による劣化診断装置を設ける際の第2の配置例を示す概略図である。本図に示す例では、図4に示した場合と同様に、筺体311の内部に対象機器312および313が設置されている。また、筺体311は、吸気口316および排気口317を有している。つまり、図4に示した場合と同様に、筺体311の外部の空気は、吸気口316を通って筺体311の内部に流入する。また、筺体311の内部の空気は、排気口317を通って筺体311の外部に流出する。そして、筺体311内における吸気口316の近傍に、測定部318が設置されている。測定部318は、その場所における汚損物質を計測するものである。吸気口316から筺体311の内部に流入する空気は、測定部318の周辺の場所を通り、筺体311内を循環し、排気口317を撮って筺体311の外部に流出する。つまり、測定部318は、対象機器312および313に影響する環境因子に関する測定を行う。即ち、測定部318は、図1における環境因子測定部22に当たる。なお、対象機器312および対象機器313のそれぞれについて、材料因子を測定するための不図示の測定部(図1における材料因子測定部21に当たる)が設けられていてもよい。図5に示す例においても、測定部318は、通信線を介して筺体311の外部と接続されている。そして、劣化診断装置1が有する測定部2以外の機能(つまり、抵抗値推定部3と、妥当性判定部4と、診断部5と、診断結果表示部6と、推定式記憶部7と、機種別材料名記憶部8と、推定式作成用解析データ記憶部11と、推定式作成部12とを含む機能)は、筺体311の外部に存在する。そして、測定部318は、上記の通信線を介して測定結果データを抵抗値推定部3に伝える。 Figure 5 is a schematic diagram showing a second arrangement example when a deterioration diagnosis device according to this embodiment is provided near the equipment to be diagnosed. In the example shown in this figure, the target equipment 312 and 313 are installed inside the housing 311, as in the case shown in Figure 4. The housing 311 also has an intake port 316 and an exhaust port 317. That is, as in the case shown in Figure 4, the air outside the housing 311 flows into the inside of the housing 311 through the intake port 316. The air inside the housing 311 also flows out to the outside of the housing 311 through the exhaust port 317. A measuring unit 318 is installed near the intake port 316 inside the housing 311. The measuring unit 318 measures the polluting substances at that location. The air flowing into the housing 311 from the intake port 316 passes around the measuring unit 318, circulates inside the housing 311, and flows out of the housing 311 through the exhaust port 317. That is, the measuring unit 318 measures environmental factors that affect the target devices 312 and 313. That is, the measuring unit 318 corresponds to the environmental factor measuring unit 22 in FIG. 1. Note that a measuring unit (not shown) for measuring material factors (corresponding to the material factor measuring unit 21 in FIG. 1) may be provided for each of the target devices 312 and 313. In the example shown in FIG. 5, the measuring unit 318 is also connected to the outside of the housing 311 via a communication line. Functions of the degradation diagnosis device 1 other than the measurement unit 2 (i.e., functions including the resistance value estimation unit 3, the validity determination unit 4, the diagnosis unit 5, the diagnosis result display unit 6, the estimation formula storage unit 7, the model-specific material name storage unit 8, the analysis data storage unit 11 for creating the estimation formula, and the estimation formula creation unit 12) exist outside the housing 311. The measurement unit 318 transmits the measurement result data to the resistance value estimation unit 3 via the above-mentioned communication line.

図5に示した配置の場合、吸気口316の近傍に設けた測定部318が、筺体311に流入する汚損物質(イオン性物質等)の量を測定する。実際の監視対象である対象機器312および313のそれぞれの場所においては、汚損物質の量は、吸気口316の近傍よりも少なくなると推定される。つまり、図示する配置とすることにより、対象機器312および313における絶縁抵抗値の低下の予兆を、事前に検知するのに有効である。
絶縁抵抗値の低下の予兆を検知した場合には、個々の対象機器に関して、マニュアル作業による目視点検や、従来の汚損度の計測等を実施することができる。これにより、測定手段の設置数を少なく抑制しながら、予防保全を達成することができる。
5, a measuring unit 318 provided near the intake 316 measures the amount of pollutants (ionic substances, etc.) flowing into the housing 311. It is estimated that the amount of pollutants will be less in the locations of the target devices 312 and 313 that are the actual monitoring targets than in the vicinity of the intake 316. In other words, the illustrated arrangement is effective in detecting signs of a decrease in the insulation resistance value of the target devices 312 and 313 in advance.
When a sign of a decrease in insulation resistance is detected, manual visual inspection or conventional measurement of the degree of contamination can be performed for each target device, making it possible to achieve preventive maintenance while keeping the number of installed measuring devices to a minimum.

つまり、本例では、測定部2における、イオン性汚損物質の付着量の計測手段を、対象機器における絶縁抵抗を収容する筺体の吸気口の近傍に設置するようにしている。
さらに、上記のイオン性汚損物質の付着量の計測手段を、上記筺体の排気口の近傍にも設置するようにしてもよい。
That is, in this example, the means for measuring the amount of attached ionic pollutants in the measuring section 2 is arranged in the vicinity of the air intake of the housing that houses the insulation resistor in the target device.
Furthermore, the above-mentioned measuring means for measuring the amount of attached ionic pollutants may also be installed near the exhaust port of the housing.

次に、環境因子測定部22の実現例について説明する。
図6および図7は、環境因子測定部22の一構成例であるセンサーを示す断面図および平面図である。図6は、断面図である。図7は、平面図である。図6の断面図は、図7における一点鎖線C-C´において切った断面を示すものである。
図6および図7に示すように、本例による環境因子測定部22は、絶縁板31と、第1電極32と、第2電極33とを有する。第1電極32と第2電極33とは、互いに所定の距離を置いて、絶縁板31上に所定のパターンで配置される。第1電極32と第2電極33のパターン形成には、例えば、プリント技術を用いる。図7に示すように、第1電極32と第2電極33は、それぞれ、電圧源(図中の「V」)および電流計(図中の「A」)に接続される。電圧源は、第1電極32と第2電極33との間に、交流電圧または直流電圧を印加する。電流計は、第1電極32から第2電極33に流れる電流を測定する。図6において、符号34は、汚損物や水膜である。汚損物/水膜34の付着により、第1電極32から第2電極33に漏れ電流が流れる。上記の電流計は、この漏れ電流を計測する。つまり、上記の電流計は、電極パターン(第1電極32と第2電極33)上に付着した汚損物/水膜34のイオン電導性を計測する。計測される電流は、付着した汚損物あるいは水膜の量により変化する。
Next, an example of the implementation of the environmental factor measuring unit 22 will be described.
6 and 7 are a cross-sectional view and a plan view showing a sensor which is one configuration example of the environmental factor measuring unit 22. Fig. 6 is a cross-sectional view. Fig. 7 is a plan view. The cross-sectional view of Fig. 6 shows a cross section taken along dashed line CC' in Fig. 7.
As shown in Fig. 6 and Fig. 7, the environmental factor measuring unit 22 according to this embodiment has an insulating plate 31, a first electrode 32, and a second electrode 33. The first electrode 32 and the second electrode 33 are arranged in a predetermined pattern on the insulating plate 31 at a predetermined distance from each other. The pattern of the first electrode 32 and the second electrode 33 is formed, for example, by a printing technique. As shown in Fig. 7, the first electrode 32 and the second electrode 33 are respectively connected to a voltage source ("V" in the figure) and an ammeter ("A" in the figure). The voltage source applies an AC voltage or a DC voltage between the first electrode 32 and the second electrode 33. The ammeter measures the current flowing from the first electrode 32 to the second electrode 33. In Fig. 6, the reference numeral 34 denotes a contaminant or a water film. Due to the adhesion of the contaminant/water film 34, a leakage current flows from the first electrode 32 to the second electrode 33. The above-mentioned ammeter measures this leakage current. That is, the ammeter measures the ionic conductivity of the contaminants/water film 34 attached to the electrode pattern (first electrode 32 and second electrode 33). The measured current varies depending on the amount of attached contaminants or water film.

以上説明したように、本例では、測定部2における、イオン性汚損物質の付着量の計測手段は、電極を有するセンサーに付着したイオン性汚損物質を含む水膜の電導性を計測するものである。 As described above, in this example, the means for measuring the amount of ionic pollutants attached in the measurement unit 2 measures the electrical conductivity of a water film containing ionic pollutants attached to a sensor having electrodes.

なお、第1電極32と第2電極33とにそれぞれ異種金属を用いて、電極間に流れるガルバニック電流を計測する方法としてもよい。この場合、ガルバニック電流は、付着した水分の量および付着したイオン性汚損物質の量に応じて変化する。つまり、ガルバニック電流を測定することで、電極間のイオン性汚損物質の付着量を推定することが可能である。 Alternatively, dissimilar metals may be used for the first electrode 32 and the second electrode 33, and the galvanic current flowing between the electrodes may be measured. In this case, the galvanic current changes depending on the amount of attached moisture and the amount of attached ionic contaminants. In other words, by measuring the galvanic current, it is possible to estimate the amount of attached ionic contaminants between the electrodes.

なお、測定時の温度や湿度は、電極間の水分量に影響を及ぼす。つまり、温度や湿度によっても、電流計による計測値は変化する。そのため、予め、付着物の汚損度と、温度と、湿度と、センサー計測値(電流)との相関を予め取得しておくようにする。これにより、計測された電流の値から、水分による寄与分を補正することが可能となる。そして、環境因子測定部22は、温度と、湿度と、電流とを計測し、それらの計測値から、付着物の汚損度を推定する。以上のように、環境因子測定部22は、絶縁抵抗値を低下させる要因となる汚損物の付着度を測定する。
この場合、推定式は、温度や湿度にも基づいて推定抵抗値を算出するものである。
The temperature and humidity at the time of measurement affect the amount of moisture between the electrodes. In other words, the measurement value by the ammeter also changes depending on the temperature and humidity. For this reason, the correlation between the degree of contamination of the attached matter, the temperature, the humidity, and the sensor measurement value (current) is acquired in advance. This makes it possible to correct the contribution of moisture from the measured current value. The environmental factor measurement unit 22 then measures the temperature, humidity, and current, and estimates the degree of contamination of the attached matter from these measurement values. As described above, the environmental factor measurement unit 22 measures the degree of attachment of the contaminants that are factors that reduce the insulation resistance value.
In this case, the estimation formula calculates an estimated resistance value based on temperature and humidity as well.

環境因子測定部22の他の実現例についても説明する。
汚損物質の付着による質量変化を捉えるために、水晶振動子(QCM)法や、表面弾性波(SAW)法を適用することができる。このように、微小な重量変化に伴う振動特性の変化を計測することによって汚損物質の付着量を求める方法は、比較的容易であるとともに、高感度に汚損物質の付着量を検知し、定量化することができる。
Other examples of implementing the environmental factor measuring unit 22 will also be described.
In order to capture the mass change due to the adhesion of contaminants, the quartz crystal microbalance (QCM) method or the surface acoustic wave (SAW) method can be applied. In this way, the method of determining the amount of adhesion of contaminants by measuring the change in vibration characteristics accompanying a minute change in weight is relatively easy and can detect and quantify the amount of adhesion of contaminants with high sensitivity.

図8は、水晶振動子法を用いた環境因子測定部22の一構成例であるセンサーを示す概略図である。図示するように、本例によるセンサーは、水晶振動子40を電極43と電極44とで挟んで構成される。そして、電極43と44との間に、外部から電圧を印加できるようにしている。これら電極間に電圧を印加すると、水晶振動子40は固有の周波数(共振周波数)で振動する。また、付着物41や42は、汚損物質である。付着物41や42が付着している場合と付着していない場合とでは、質量が変わるため、水晶振動子40の共振周波数が変わる。また、付着物の量に応じて、水晶振動子40の共振周波数が変わる。本例によるセンサーでは、この共振周波数の変化に基づいて、付着物の質量を計測することができる。測定精度として、0.1ng(ナノグラム)のオーダーの質量変化を計測することが可能である。 Figure 8 is a schematic diagram showing a sensor that is an example of the configuration of the environmental factor measurement unit 22 using the quartz crystal oscillator method. As shown in the figure, the sensor of this example is configured by sandwiching a quartz crystal oscillator 40 between electrodes 43 and 44. A voltage can be applied between the electrodes 43 and 44 from the outside. When a voltage is applied between these electrodes, the quartz crystal oscillator 40 vibrates at a specific frequency (resonant frequency). In addition, the deposits 41 and 42 are contaminants. The mass changes when the deposits 41 and 42 are attached and when they are not attached, so the resonant frequency of the quartz crystal oscillator 40 changes. In addition, the resonant frequency of the quartz crystal oscillator 40 changes depending on the amount of the deposits. In the sensor of this example, the mass of the deposits can be measured based on the change in the resonant frequency. It is possible to measure a mass change on the order of 0.1 ng (nanogram) as a measurement accuracy.

つまり、測定部2における、イオン性汚損物質の付着量の計測手段は、イオン性汚損物質を含む汚損物質がセンサーに付着したことに依る前記センサーの質量の変化を計測するものである。 In other words, the means for measuring the amount of ionic pollutants attached in the measurement unit 2 measures the change in the mass of the sensor due to the attachment of pollutants, including ionic pollutants, to the sensor.

図6および図7に示した構成例と同様に、図8の構成例においても、測定時の温度や湿度が、水晶振動子に付着する水分量に影響を及ぼす。つまり、温度や湿度によって、質量変化の計測値は変化する。そのため、予め、付着物の汚損度と、温度と、湿度と、センサー計測値(電流)との相関を予め取得しておくようにする。これにより、計測された質量変化の値から、水分による寄与分を補正することが可能となる。そして、環境因子測定部22は、温度と、湿度と、質量変化とを計測し、それらの計測値から、付着物の汚損度を推定する。 As with the configuration examples shown in Figures 6 and 7, in the configuration example of Figure 8, the temperature and humidity at the time of measurement affect the amount of moisture adhering to the quartz oscillator. In other words, the measured value of the mass change changes depending on the temperature and humidity. For this reason, the correlation between the degree of contamination of the attached matter, the temperature, humidity, and the sensor measurement value (current) is obtained in advance. This makes it possible to correct the contribution of moisture from the measured value of the mass change. The environmental factor measurement unit 22 then measures the temperature, humidity, and mass change, and estimates the degree of contamination of the attached matter from these measured values.

付着する汚損物質に含まれるイオン成分の測定には、イオンクロマトグラフ法や、イオン選択性電極による方法等を用いる。これらの方法を用いるためには、飛来した汚損物質のうちのイオン成分を水に展開した後、分析用の機器に供給する必要がある。 Ion components contained in the adhering pollutants are measured using methods such as ion chromatography and ion-selective electrodes. To use these methods, the ionic components of the pollutants that have arrived must be dispersed in water, which must then be supplied to an analytical device.

図9は、イオン成分を分析・測定するためのイオン成分分析装置の構成例を示す概略図である。図示するように、イオン成分分析装置50は、純水供給部51と、純水供給配管52と、汚損物採取槽53と、サンプリング配管54と、三方弁56と、洗浄排水配管57と、成分計測部58と、を含んで構成される。このイオン成分分析装置50は、次の通り機能する。 Figure 9 is a schematic diagram showing an example of the configuration of an ion component analyzer for analyzing and measuring ion components. As shown in the figure, the ion component analyzer 50 includes a pure water supply unit 51, a pure water supply pipe 52, a contaminant collection tank 53, a sampling pipe 54, a three-way valve 56, a cleaning drain pipe 57, and a component measurement unit 58. This ion component analyzer 50 functions as follows.

純水供給部51は、必要時に、純水供給配管52を通して純水を供給する。
純水供給配管52は、純水供給部51から供給される純水を、必要時に汚損物採取槽53に供給する。
汚損物採取槽53は、外部より飛来した汚損物質を採取する。イオン成分分析装置50を放置している期間中に、汚損物採取槽53には、外部からの汚損物質が堆積する。放置期間に汚損物質が堆積した後、溶解期間において、純水供給配管52から供給される純水中に、汚損物質に含まれるイオン性物質が溶解する。イオン性物質が溶解した水は、汚損物採取槽53からサンプリング配管54側に流れる。
サンプリング配管54は、汚損物採取槽53で採取されたイオン性物質を含む水を、三方弁56を介して、成分計測部58に供給する機能を持つ。
なお、汚損物採取槽53と三方弁56との間に、ポンプが設けられている。このポンプは、サンプリング配管54内に水圧を生じさせる。このポンプの作用により、サンプリング配管54内において、図の左側から右側への水の流れが生じる。
三方弁56は、3方向の出入口を有する弁である。イオン成分分析装置50において、この三方弁56により、汚損物採取槽53からの水を、成分計測部58側に導くか、洗浄排水配管57側に導くかを切り替えることができる。つまり、成分計測部58による計測を行うときには、汚損物採取槽53からの水が成分計測部58側に供給されるようにする。また、成分計測部58による計測が終了すると、汚損物採取槽53からの水は、洗浄排水配管57側に流れ、排水される。
洗浄排水配管57は、不要となった水(汚損物採取槽53に貯められた水)を排水するための配管である。
成分計測部58は、イオンクロマトグラフ法やイオン選択性電極による方法等により、供給される水に含まれるイオン成分の種類と量とを計測する。成分計測部58は、計測結果のデータを出力する。
The pure water supply unit 51 supplies pure water through a pure water supply pipe 52 when necessary.
The pure water supply pipe 52 supplies the pure water supplied from the pure water supply unit 51 to the contaminant sampling tank 53 when necessary.
The contaminant sampling tank 53 samples contaminants that have come flying in from the outside. While the ion component analyzer 50 is left unused, contaminants from the outside accumulate in the contaminant sampling tank 53. After the contaminants accumulate during the left-behind period, ionic substances contained in the contaminants dissolve in the pure water supplied from the pure water supply pipe 52 during the dissolution period. The water in which the ionic substances have been dissolved flows from the contaminant sampling tank 53 to the sampling pipe 54.
The sampling pipe 54 has the function of supplying the water containing ionic substances collected in the contaminant sampling tank 53 to a component measuring section 58 via a three-way valve 56 .
A pump is provided between the pollutant sampling tank 53 and the three-way valve 56. This pump generates water pressure in the sampling pipe 54. The action of this pump causes water to flow in the sampling pipe 54 from the left side to the right side in the figure.
The three-way valve 56 is a valve having three-way inlets and outlets. In the ion component analyzer 50, the three-way valve 56 can switch between directing the water from the soil sampling tank 53 to the component measuring unit 58 side or to the cleaning drain pipe 57 side. In other words, when the component measuring unit 58 is performing a measurement, the water from the soil sampling tank 53 is supplied to the component measuring unit 58 side. When the measurement by the component measuring unit 58 is completed, the water from the soil sampling tank 53 flows to the cleaning drain pipe 57 side and is drained.
The cleaning drain pipe 57 is a pipe for draining unnecessary water (water stored in the soil sampling tank 53).
The component measuring unit 58 measures the types and amounts of ion components contained in the supplied water by ion chromatography, a method using an ion selective electrode, etc. The component measuring unit 58 outputs data on the measurement results.

以上のように構成されるイオン成分分析装置50を用いることにより、(1)外部からの汚損物質が堆積→(2)イオン成分の分析および計測→(3)イオン成分の計測に使用されなかった水の排水というプロセスを1サイクルとして、計測を繰り返すことができる。なお、計測の周期は、適宜設定される。 By using the ion component analyzer 50 configured as described above, the following process is considered as one cycle: (1) accumulation of contaminants from the outside → (2) analysis and measurement of ion components → (3) drainage of water not used in measuring the ion components. Measurements can be repeated. The measurement cycle can be set appropriately.

つまり、測定部2における、イオン性汚損物質の付着量の計測手段は、イオン性汚損物質の組成を分析するためのイオン成分分析装置50を備える。イオン成分分析装置50は、イオン性汚損成分の組成を定性的に、また定量的に分析するものである。 In other words, the measuring means for measuring the amount of ionic pollutants in the measuring unit 2 includes an ion component analyzer 50 for analyzing the composition of the ionic pollutants. The ion component analyzer 50 analyzes the composition of the ionic pollutants qualitatively and quantitatively.

以上説明したように、本実施形態によれば、対象機器に用いられている絶縁抵抗の絶縁材料に関する材料因子、または前記絶縁抵抗が設置されている場所における環境因子のうちイオン性汚損物質の付着量、の少なくともいずれか一方を測定する測定部と、その測定結果を用いて絶縁抵抗の抵抗値を推定する抵抗値推定部とを持つことにより、抵抗値を精度よく予測することができる。 As described above, according to this embodiment, the resistance value can be accurately predicted by having a measurement unit that measures at least one of the material factors related to the insulating material of the insulation resistor used in the target device or the amount of ionic pollutants attached among the environmental factors at the location where the insulation resistor is installed, and a resistance value estimation unit that estimates the resistance value of the insulation resistor using the measurement results.

また、電気設備の構造によっては、気流の影響により設備内の部位によって、汚損状況が異なる場合がある。
本実施形態では、イオン性汚損成分の付着量の計測手段を、診断対象とする絶縁材料の近傍に設置してよいため、これにより、対象材料の汚損状況をより正確に把握することが可能となる。
In addition, depending on the structure of the electrical equipment, the degree of contamination may vary depending on the location within the equipment due to the influence of air currents.
In this embodiment, a means for measuring the amount of ionic contamination components attached may be installed in the vicinity of the insulating material to be diagnosed, which makes it possible to grasp the contamination state of the target material more accurately.

また、イオン性汚損成分の付着量の計測手段を、診断対象とする絶縁材料ごとに設置できれば、それぞれの材料の絶縁低下を高精度に予測可能であるが、全ての絶縁材料が用いられている部位に個別に計測手段を設置するのは困難である。
本実施形態では、気流の関係で汚損が最も進行しやすい絶縁材料の部位の汚損状況を計測する方法を用いることもできる。
診断対象とする絶縁材料が収容されている筐体の吸気口の近傍に、イオン性汚損成分の付着量の計測手段を設置することもできる。この場合、筐体内の局所的な汚損状況に関する情報を取得することはできないが、筐体内の汚損レベルを総括的に把握することが可能となる。
筐体内の総括的な汚損レベルの上昇を検知した場合、マニュアル作業による目視点検等を実施することで、少数の計測手段の設置数を抑えつつ、予防保全を達成することができる。
また、イオン性汚損成分の付着量の計測手段を、診断対象とする絶縁材料が収容されている筐体の吸気口だけでなく、同筺体の排気口の近傍にも設置してよい。この場合、排出口近傍の計測手段の結果から、筐体から排出されるイオン性汚損成分の量を把握することできる。そのため、筐体内部に残留するイオン性汚損成分の量をより正確に把握することが可能となる。
Furthermore, if a measuring device for the amount of ionic contaminant components adhering to each insulating material being diagnosed could be installed, it would be possible to predict the insulation degradation of each material with high accuracy; however, it is difficult to install measuring devices individually in all locations where insulating materials are used.
In this embodiment, a method of measuring the state of contamination at a portion of an insulating material where contamination is most likely to progress due to airflow can also be used.
A means for measuring the amount of ionic contamination components attached can be installed near the air intake of the housing that contains the insulating material to be diagnosed. In this case, although it is not possible to obtain information on the local contamination state inside the housing, it is possible to grasp the overall contamination level inside the housing.
If an increase in the overall level of contamination inside the housing is detected, preventive maintenance can be achieved while keeping the number of installed measuring means to a minimum by performing a manual visual inspection or the like.
In addition, a measuring means for measuring the amount of ionic contaminant adhesion may be installed not only at the intake port of the housing in which the insulating material to be diagnosed is housed, but also near the exhaust port of the same housing. In this case, the amount of ionic contaminant discharged from the housing can be determined from the results of the measuring means near the exhaust port. Therefore, it is possible to more accurately determine the amount of ionic contaminant remaining inside the housing.

また、本実施形態では、イオン性汚損成分の付着量の計測のために、イオン性汚損成分を溶解させた水膜中のイオン電導性を計測する手段を備えてもよい。イオン性成分の汚損成分は、絶縁材料表面の水膜の電導度を上昇させることで、絶縁抵抗の低下を引き起こす。そのため、電導度を計測することで、直接的に絶縁低下への影響度を評価することが可能となる。 In addition, in this embodiment, a means for measuring the ionic conductivity in the water film in which the ionic contaminants have been dissolved may be provided in order to measure the amount of adhesion of the ionic contaminants. The ionic contaminants increase the conductivity of the water film on the surface of the insulating material, thereby causing a decrease in insulation resistance. Therefore, by measuring the conductivity, it is possible to directly evaluate the degree of influence on insulation deterioration.

イオン性汚損成分の付着量の計測のため、汚損物の付着による質量変化を計測する手段を備えることもできる。絶縁抵抗の低下を引き起こすのは上記の様に海塩粒子、ガス等であるが、これらのイオン性汚損成分の付着量の増加にともない、質量が増加する。質量を計測する場合には、非イオン性の塵埃も同時に計測されるが、非イオン性の塵埃はイオン性汚損成分と同様に気流によって運ばれる。よって、イオン性汚損性成分が増加する場合には、非イオン性の塵埃も同時に増加する傾向がある。そのため、質量変化を計測することで、イオン性汚損成分の増加を予測することが可能となる。 To measure the amount of ionic pollutants adhering, a means for measuring the change in mass due to the adhesion of pollutants can also be provided. As mentioned above, it is sea salt particles, gases, etc. that cause a decrease in insulation resistance, and as the amount of these ionic pollutants adhering increases, the mass also increases. When measuring the mass, non-ionic dust is also measured at the same time, but non-ionic dust is carried by the air current just like ionic pollutants. Therefore, when ionic pollutants increase, there is a tendency for non-ionic dust to increase at the same time. Therefore, by measuring the change in mass, it is possible to predict the increase in ionic pollutants.

さらにイオン性汚損成分の組成を定性・定量的に分析する手段を備えることで、絶縁低下への影響度をさらに高精度に評価することが可能となる。 Furthermore, by providing a means to qualitatively and quantitatively analyze the composition of ionic contaminant components, it will be possible to evaluate the degree of impact on insulation degradation with even greater precision.

また、絶縁特性に対して大きな影響を及ぼすイオン成分として硝酸イオンがある。絶縁抵抗が低下し放電が発生し始めると空気中の窒素を原料として硝酸が生成される。この硝酸が水膜中に溶け込み絶縁材料充填材である炭酸カルシウムと反応することで、低湿度で潮解する硝酸カルシウムが生成され、急速に絶縁低下が進行することになる。そのため、硝酸イオンの存在を検知することは、絶縁低下の傾向を予測する上では有効な手段となる。 In addition, nitrate ions are an ionic component that has a significant effect on insulation properties. When insulation resistance decreases and discharge begins to occur, nitric acid is produced using nitrogen in the air as a raw material. This nitric acid dissolves in the water film and reacts with calcium carbonate, which is the insulating material filler, producing calcium nitrate, which deliquesces at low humidity, causing a rapid deterioration of insulation. Therefore, detecting the presence of nitrate ions is an effective means of predicting the tendency for insulation to deteriorate.

上記の様に、それまで外来の汚損成分の影響が支配的だったのが、ある時点で放電により生成した硝酸の影響が絶縁低下の主要因に変化する場合がある。その場合、絶縁抵抗低下の進行度の予測式が変化する可能性がある。
そこで、硝酸イオンの存在量が増大を検知することで、上記の様な劣化モードの変化点を捉え、絶縁抵抗低下の進行度の予測式を切り替えることで、より高精度な余寿命診断が可能となる。
As mentioned above, the influence of foreign contaminants may be dominant until a certain point, at which point the influence of nitric acid generated by discharge may become the main cause of insulation deterioration. In that case, the prediction formula for the progress of insulation resistance deterioration may change.
Therefore, by detecting an increase in the amount of nitrate ions, it is possible to grasp the change in the deterioration mode as described above and switch the prediction formula for the progress of insulation resistance degradation, enabling more accurate remaining life diagnosis.

(第2の実施形態)
次に、第2の実施形態について説明する。なお、前実施形態において既に説明した事項については以下において説明を省略する場合がある。ここでは、本実施形態に特有の事項を中心に説明する。
Second Embodiment
Next, a second embodiment will be described. Note that the description of the matters already described in the previous embodiment may be omitted below. Here, the description will focus on matters unique to this embodiment.

図10は、本実施形態による劣化診断システムの概略機能構成を示すブロック図である。
図示するように、劣化診断システム100は、測定装置110と、分析装置120と、を含んで構成される。測定装置110と、分析装置120とは、通信ネットワークを介して相互に接続されている。なお、複数の測定装置110が、劣化診断システム100に含まれていても良い。
FIG. 10 is a block diagram showing a schematic functional configuration of the degradation diagnosis system according to this embodiment.
As shown in the figure, the degradation diagnosis system 100 includes a measuring device 110 and an analyzing device 120. The measuring device 110 and the analyzing device 120 are connected to each other via a communication network. Note that a plurality of measuring devices 110 may be included in the degradation diagnosis system 100.

測定装置110は、測定部2と、測定値送信部111と、を含んで構成される。
また、分析装置120は、測定値受信部121と、抵抗値推定部3と、妥当性判定部4と、診断部5と、診断結果表示部6と、推定式記憶部7と、機種別材料名記憶部8と、推定式作成用解析データ記憶部11と、推定式作成部12と、を含んで構成される。測定装置110は、例えば、サーバー型コンピューターを用いて実現される。
上記の各機能部のうち、測定部2と、抵抗値推定部3と、妥当性判定部4と、診断部5と、診断結果表示部6と、推定式記憶部7と、機種別材料名記憶部8と、推定式作成用解析データ記憶部11と、推定式作成部12とは、第1実施形態におけるそれらと同様の機能を有する(図1を参照)ものである。よって、ここでは、これら各機能部に関する詳細な説明を省略する。
The measuring device 110 includes a measuring section 2 and a measurement value transmitting section 111 .
The analysis device 120 includes a measurement value receiving unit 121, a resistance value estimating unit 3, a validity determining unit 4, a diagnosis unit 5, a diagnosis result display unit 6, an estimation formula storage unit 7, a model-specific material name storage unit 8, an analysis data for creating an estimation formula storage unit 11, and an estimation formula creating unit 12. The measurement device 110 is realized, for example, by using a server-type computer.
Of the above functional units, the measurement unit 2, resistance value estimation unit 3, validity determination unit 4, diagnosis unit 5, diagnosis result display unit 6, estimation formula storage unit 7, model-specific material name storage unit 8, analysis data for creating estimation formula storage unit 11, and estimation formula creation unit 12 have the same functions as those in the first embodiment (see FIG. 1), and therefore detailed description of each of these functional units will be omitted here.

測定装置110側の測定値送信部111は、測定部2によって測定された結果得られるデータを、通信ネットワークを介して、分析装置120側に送信する。
分析装置120側の測定値受信部121は、測定装置110側の測定値送信部111から送信された測定結果データを受信する。測定値受信部121は、受信した測定結果データを、抵抗値推定部3に渡す。
これにより、分析装置120側では、測定装置110側で測定されたデータに基づいて、抵抗値を推定し、推定された抵抗値の妥当性を判定し、診断を行い、その診断結果を表示する。
A measurement value transmitting section 111 on the measuring device 110 side transmits data obtained as a result of measurement by the measuring section 2 to the analyzing device 120 side via the communication network.
The measurement value receiving section 121 on the analytical device 120 side receives the measurement result data transmitted from the measurement value transmitting section 111 on the measuring device 110 side. The measurement value receiving section 121 passes the received measurement result data to the resistance value estimating section 3.
As a result, the analysis device 120 estimates a resistance value based on the data measured by the measurement device 110, determines the validity of the estimated resistance value, performs a diagnosis, and displays the diagnosis results.

本実施形態によれば、所謂クライアントサーバー構成により、単独の、または少数の分析装置120と、多数の測定装置110とで、劣化診断システム100を構成することができる。つまり、対象機器が設置されている現場において必要な測定を行い、それらの測定結果のデータを用いた抵抗値の推定の処理を、例えばデータセンター等に設置された少数のサーバー装置で集中的に行うことができる。これにより、劣化診断システム100全体のコストを低減化できる。 According to this embodiment, the degradation diagnosis system 100 can be configured with a single or a small number of analysis devices 120 and a large number of measurement devices 110 in a so-called client-server configuration. In other words, the necessary measurements are performed at the site where the target equipment is installed, and the process of estimating resistance values using the data from these measurement results can be performed centrally on a small number of server devices installed in, for example, a data center. This allows the overall cost of the degradation diagnosis system 100 to be reduced.

(第3の実施形態)
次に、第3の実施形態について説明する。なお、前実施形態までにおいて既に説明した事項については以下において説明を省略する場合がある。ここでは、本実施形態に特有の事項を中心に説明する。
Third Embodiment
Next, a third embodiment will be described. Note that the description of the matters already described in the previous embodiments may be omitted below. Here, the description will focus on matters unique to this embodiment.

図11は、本実施形態による劣化診断システムの概略機能構成を示すブロック図である。
図示するように、劣化診断システム150は、測定装置110と、分析装置160と、を含んで構成される。測定装置110と、分析装置160とは、通信ネットワークを介して相互に接続されている。なお、複数の測定装置110が、劣化診断システム100に含まれていても良い。
FIG. 11 is a block diagram showing a schematic functional configuration of the degradation diagnosis system according to this embodiment.
As shown in the figure, the degradation diagnosis system 150 includes a measuring device 110 and an analyzing device 160. The measuring device 110 and the analyzing device 160 are connected to each other via a communication network. Note that a plurality of measuring devices 110 may be included in the degradation diagnosis system 100.

測定装置110は、測定部2と、測定値送信部111と、を含んで構成される。
また、分析装置160は、測定値受信部161と、解析データ収集部162と、抵抗値推定部3と、妥当性判定部4と、診断部5と、診断結果表示部6と、推定式記憶部7と、機種別材料名記憶部8と、推定式作成用解析データ記憶部11と、推定式作成部12と、を含んで構成される。分析装置160は、例えば、サーバー型コンピューターを用いて実現される。
上記の各機能部のうち、測定部2と、抵抗値推定部3と、妥当性判定部4と、診断部5と、診断結果表示部6と、推定式記憶部7と、機種別材料名記憶部8と、推定式作成用解析データ記憶部11と、推定式作成部12とは、第1実施形態におけるそれらと同様の機能を有する(図1を参照)ものである。よって、ここでは、これら各機能部に関する詳細な説明を省略する。
The measuring device 110 includes a measuring section 2 and a measurement value transmitting section 111 .
The analytical device 160 includes a measurement value receiving unit 161, an analysis data collecting unit 162, a resistance value estimating unit 3, a validity determining unit 4, a diagnosing unit 5, a diagnosis result display unit 6, an estimation formula storing unit 7, a model-specific material name storing unit 8, an analysis data for creating an estimation formula storing unit 11, and an estimation formula creating unit 12. The analytical device 160 is realized, for example, by using a server-type computer.
Of the above functional units, the measurement unit 2, resistance value estimation unit 3, validity determination unit 4, diagnosis unit 5, diagnosis result display unit 6, estimation formula storage unit 7, model-specific material name storage unit 8, analysis data for creating estimation formula storage unit 11, and estimation formula creation unit 12 have the same functions as those in the first embodiment (see FIG. 1), and therefore detailed description of each of these functional units will be omitted here.

測定装置110側の測定値送信部111は、測定部2によって測定された結果得られるデータを、通信ネットワークを介して、分析装置120側に送信する。
分析装置160側の測定値受信部161は、測定装置110側の測定値送信部111から送信された測定結果データを受信する。測定値受信部161は、受信した測定結果データを、抵抗値推定部3に渡す。
これにより、分析装置160側では、測定装置110側で測定されたデータに基づいて、抵抗値を推定し、推定された抵抗値の妥当性を判定し、診断を行い、その診断結果を表示する。
A measurement value transmitting section 111 on the measuring device 110 side transmits data obtained as a result of measurement by the measuring section 2 to the analyzing device 120 side via the communication network.
The measurement value receiving section 161 on the analytical device 160 side receives the measurement result data transmitted from the measurement value transmitting section 111 on the measuring device 110 side. The measurement value receiving section 161 passes the received measurement result data to the resistance value estimating section 3.
As a result, the analysis device 160 estimates a resistance value based on the data measured by the measurement device 110, determines the validity of the estimated resistance value, performs a diagnosis, and displays the diagnosis results.

また、分析装置160側の測定値受信部161は、受信したデータを、解析データ収集部162に渡す。解析データ収集部162は、測定値受信部161から受け取ったデータを推定式作成用解析データ記憶部11に書き込む。つまり、推定式作成部12は、推定式作成用解析データ記憶部11を参照して推定式を作成する際に、解析データ収集部162が収集したデータを含めて分析を行う。つまり、分析装置160は、予め記憶していた解析データだけでなく、測定装置110から受け取ったデータをも用いて、推定式を作成することができる。なお、推定式を作成するために用いる解析データには、抵抗値の実測値を含んでいてもよい。 The measurement value receiving unit 161 on the analysis device 160 side passes the received data to the analysis data collecting unit 162. The analysis data collecting unit 162 writes the data received from the measurement value receiving unit 161 to the analysis data storage unit 11 for creating an estimation formula. That is, when the estimation formula creating unit 12 creates an estimation formula by referring to the analysis data storage unit 11 for creating an estimation formula, it performs an analysis including the data collected by the analysis data collecting unit 162. That is, the analysis device 160 can create an estimation formula using not only the analysis data stored in advance, but also the data received from the measurement device 110. Note that the analysis data used to create the estimation formula may include the actual measured resistance value.

本実施形態によれば、分析装置160の解析データ収集部162が、測定装置110から受け取った測定結果データを推定式作成用解析データ記憶部11に書き込む。つまり、分析装置160は、測定装置110から受け取った測定結果データを用いて、抵抗値を推定するための推定式を作成することができる。分析装置160は、この推定式の作成を、任意の適切なタイミングで実行することができる。つまり、分析装置160は、測定装置110から収集した測定結果データを用いて、抵抗値の推定式に関する学習を行うことが可能となる。 According to this embodiment, the analysis data collection unit 162 of the analysis device 160 writes the measurement result data received from the measurement device 110 to the analysis data storage unit 11 for creating an estimation equation. That is, the analysis device 160 can create an estimation equation for estimating a resistance value using the measurement result data received from the measurement device 110. The analysis device 160 can create this estimation equation at any appropriate timing. That is, the analysis device 160 can learn about the estimation equation for resistance value using the measurement result data collected from the measurement device 110.

実施形態の変形例について説明する。
上記実施形態の、図4や図5に示す配置例では、劣化診断装置1が有する測定部2以外の機能(つまり、抵抗値推定部3と、妥当性判定部4と、診断部5と、診断結果表示部6と、推定式記憶部7と、機種別材料名記憶部8と、推定式作成用解析データ記憶部11と、推定式作成部12とを含む機能)は、筺体311の外部に存在する。しかしながら、これらの抵抗値推定部3と、妥当性判定部4と、診断部5と、診断結果表示部6と、推定式記憶部7と、機種別材料名記憶部8と、推定式作成用解析データ記憶部11と、推定式作成部12とが筺体311の内部に存在しても良い。
また、測定部2における、イオン性汚損物質の付着量の計測手段の配置方法は、図4や図5に例示したものに限らず、他の配置方法としてもよい。
A modification of the embodiment will be described.
4 and 5 of the above embodiment, functions other than the measurement unit 2 of the degradation diagnosis device 1 (i.e., functions including the resistance value estimation unit 3, the validity determination unit 4, the diagnosis unit 5, the diagnosis result display unit 6, the estimation formula storage unit 7, the model-specific material name storage unit 8, the analysis data storage unit 11 for creating the estimation formula, and the estimation formula creation unit 12) exist outside the housing 311. However, the resistance value estimation unit 3, the validity determination unit 4, the diagnosis unit 5, the diagnosis result display unit 6, the estimation formula storage unit 7, the model-specific material name storage unit 8, the analysis data storage unit 11 for creating the estimation formula, and the estimation formula creation unit 12 may also exist inside the housing 311.
Furthermore, the arrangement of the measuring means for measuring the amount of attached ionic pollutants in the measuring section 2 is not limited to the examples shown in Figs. 4 and 5, and other arrangements may be used.

また、イオン性汚損物質の付着量の計測手段の具体例として、図6,図7,図8,図9等を参照しながらその実現方法であるセンサーを説明したが、複数のセンサーを併用してイオン性汚損物質の付着量を計測するようにしてもよい。 As a specific example of a means for measuring the amount of ionic pollutants attached, a sensor that is a method for achieving this has been described with reference to Figures 6, 7, 8, and 9, but multiple sensors may also be used in combination to measure the amount of ionic pollutants attached.

また、図9に示したイオン成分分析装置50は、イオン性汚損物質の組成を分析することとしたが、ここで判定された組成に応じて、抵抗値推定部3が、異なる推定式を用いて抵抗値を推定するようにしてもよい。つまり、この場合、イオン性汚損成分の組成により、抵抗値推定部3が、絶縁抵抗の推定式を切り替えて使用する。これにより、抵抗値推定部3は、イオン性汚損物質の組成にマッチした推定式を用いることができる。即ち、抵抗値をより精度良く推定することが可能となる。 The ion component analyzer 50 shown in FIG. 9 analyzes the composition of ionic pollutants, but the resistance value estimation unit 3 may estimate the resistance value using a different estimation formula depending on the composition determined here. In other words, in this case, the resistance value estimation unit 3 switches between insulation resistance estimation formulas depending on the composition of the ionic pollutant components. This allows the resistance value estimation unit 3 to use an estimation formula that matches the composition of the ionic pollutant. In other words, it becomes possible to estimate the resistance value with greater accuracy.

変化時点を判定する際に、絶縁抵抗に対してメンテナンスが行われたことに基づいて判定が行われてもよい。メンテナンスが行われると、環境因子が急激に良い方向に変化することが多い。そうすると、メンテナンス前の測定値に基づいた絶縁抵抗の推定値と、メンテナンス後の測定値に基づいた絶縁抵抗の推定値とでは、メンテナンス時を境に不連続に変化する可能性がある。このような場合に、メンテナンス前後の推定値を用いて近似を行うと、不正確な近似が行われてしまうおそれがある。このような問題に対し、メンテナンス時を上述した変化時点として扱うことによって、より正確な変化傾向を得ることが可能となる。例えば、劣化診断装置1は、メンテナンスが行われた時刻を入力することが可能となるように構成されてもよい。この場合、劣化診断装置1の絶縁抵抗情報記憶部13は、メンテナンスが行われた日時を示す情報を記憶してもよい。 When determining the time of change, the determination may be made based on whether maintenance has been performed on the insulation resistance. When maintenance is performed, environmental factors often change suddenly in a positive direction. In that case, the estimated insulation resistance based on the measured value before maintenance and the estimated insulation resistance based on the measured value after maintenance may change discontinuously at the time of maintenance. In such a case, if an approximation is performed using the estimated values before and after maintenance, there is a risk that an inaccurate approximation will be performed. To address this problem, a more accurate change trend can be obtained by treating the time of maintenance as the above-mentioned time of change. For example, the degradation diagnosis device 1 may be configured to make it possible to input the time when maintenance was performed. In this case, the insulation resistance information storage unit 13 of the degradation diagnosis device 1 may store information indicating the date and time when maintenance was performed.

上述した診断部5における4つの診断処理は、いずれも抵抗値推定部3による推定結果に基づいて行われている。しかしながら、診断部5は、推定結果以外の値に基づいて診断処理を行ってもよい。例えば、測定部2によって測定された値(以下「推定因子」という。)に基づいて診断処理を行ってもよい。推定因子は、材料因子及び環境因子のいずれか一方又は双方を含む。この場合、抵抗値推定部3は、絶縁抵抗情報記憶部13に対し、抵抗値の推定に用いられた推定因子の値をさらに時刻情報及び抵抗の推定値と対応づけて記録する。診断部5は、絶縁抵抗情報記憶部13に記憶されている推定因子の時系列の変化に応じて、推定因子の変化傾向を判定する処理、将来の推定因子の値を推定する処理、異常の発生を検知する処理を行ってもよい。これらの処理は、いずれも上述した1)、2)及び4)の処理を、絶縁抵抗の推定値に代えて推定因子を用いることによって行われる。 The above-mentioned four diagnostic processes in the diagnosis unit 5 are all performed based on the estimation results by the resistance value estimation unit 3. However, the diagnosis unit 5 may perform diagnostic processes based on values other than the estimation results. For example, the diagnosis process may be performed based on values measured by the measurement unit 2 (hereinafter referred to as "estimation factors"). The estimation factors include either one or both of material factors and environmental factors. In this case, the resistance value estimation unit 3 records the values of the estimation factors used to estimate the resistance value in the insulation resistance information storage unit 13 in association with time information and the estimated resistance value. The diagnosis unit 5 may perform a process of determining the change trend of the estimation factors, a process of estimating future values of the estimation factors, and a process of detecting the occurrence of an abnormality according to the time series changes in the estimation factors stored in the insulation resistance information storage unit 13. All of these processes are performed by using the estimation factors instead of the estimated insulation resistance value in the above-mentioned processes 1), 2), and 4).

また、このような診断部5の処理によって得られた将来の推定因子に基づいて、将来の絶縁抵抗の推定値が得られてもよい。具体的には、抵抗値推定部3が、測定部2によって測定された値(測定された推定因子)ではなく、診断部5の処理によって得られた将来の推定因子を用いて、絶縁抵抗値の推定処理を行うことによって、将来の絶縁抵抗の推定値が得られてもよい。さらに、診断部5は、このようにして得られた将来の絶縁抵抗の推定値に基づいて、絶縁材料の余寿命を判定してもよい。 Furthermore, an estimate of the future insulation resistance may be obtained based on the future estimation factor obtained by the processing of the diagnosis unit 5. Specifically, the resistance value estimation unit 3 may obtain an estimate of the future insulation resistance by performing an estimation process of the insulation resistance value using the future estimation factor obtained by the processing of the diagnosis unit 5, rather than the value measured by the measurement unit 2 (measured estimation factor). Furthermore, the diagnosis unit 5 may determine the remaining life of the insulating material based on the estimate of the future insulation resistance obtained in this manner.

図12は、推定因子の一例として、材料因子に含まれる光沢度の値の変化傾向の具体例を示す図である。時刻Fは現在時刻を示す。そのため、時刻Fまでは、実際に測定部2によって得られた測定結果の光沢度が得られている。一方、時刻F以降は将来となるため、測定部2によって光沢度の測定結果が得られていない。時刻Fまでに位置する複数の円が、それぞれの時刻における光沢度の測定結果を示す。これらの複数の測定結果を近似することによって、時刻Fまで伸びている実線の近似線が得られる。このような近似の線(図12では直線)が、変化傾向を示している。 Figure 12 shows a specific example of the change trend of the glossiness value included in the material factor, as an example of an estimation factor. Time F indicates the current time. Therefore, up to time F, the glossiness is actually the measurement result obtained by the measurement unit 2. On the other hand, from time F onwards, it is in the future, so no glossiness measurement results have been obtained by the measurement unit 2. The multiple circles located up to time F indicate the glossiness measurement results at each time. By approximating these multiple measurement results, a solid approximation line extending to time F is obtained. Such an approximation line (a straight line in Figure 12) indicates the change trend.

図13は、推定因子の一例として、環境因子に含まれる汚損度の値の変化傾向の具体例を示す図である。図13における時刻Hの時点よりも以前と以降とで、変化傾向が変わっている。このような変化時点は、例えば各時刻における汚損度の変化率(例えば微分値)を算出することによって判定されてもよい。変化率の値が閾値を超えて急激に変化することや、変化率の値が不連続となるように急激に変化した場合(例えば連続する時刻における変化率の差が閾値を超えた場合)には、その時点が変化時点として判定されてもよい。診断部5は、変化時点となった時刻H以降の変化傾向を、時刻H以前の汚損度の測定結果を用いることなく判定する。例えば、診断部5は、時刻H以降の汚損度の変化傾向を、時刻Hから時刻Iまでの間の推定値のみに基づいて判定してもよい。このように変化傾向が判定されることによって、より精度良く変化傾向を判定することができる。 13 is a diagram showing a specific example of a change trend of the value of the degree of contamination included in the environmental factor as an example of an estimation factor. The change trend changes before and after the time point H in FIG. 13. Such a change time point may be determined, for example, by calculating the rate of change of the degree of contamination at each time point (e.g., a differential value). If the value of the rate of change changes rapidly beyond a threshold value, or if the value of the rate of change changes rapidly so as to become discontinuous (e.g., if the difference between the rates of change at consecutive times exceeds a threshold value), that time point may be determined as the change time point. The diagnosis unit 5 determines the change trend after the time point H, which is the change time point, without using the measurement results of the degree of contamination before the time H. For example, the diagnosis unit 5 may determine the change trend of the degree of contamination after the time H based only on the estimated value between the time H and the time I. By determining the change trend in this way, the change trend can be determined more accurately.

以上説明した少なくともひとつの実施形態によれば、対象機器に用いられている絶縁抵抗の絶縁材料に関する材料因子、または前記絶縁抵抗が設置されている場所における環境因子のうちイオン性汚損物質の付着量、の少なくともいずれか一方を測定する測定部と、その測定結果を用いて絶縁抵抗の抵抗値を推定する抵抗値推定部とを持つことにより、抵抗値を精度よく予測することができる。 According to at least one of the embodiments described above, the resistance value can be accurately predicted by having a measurement unit that measures at least one of the material factors related to the insulating material of the insulation resistor used in the target device or the amount of ionic pollutants attached among the environmental factors at the location where the insulation resistor is installed, and a resistance value estimation unit that estimates the resistance value of the insulation resistor using the measurement results.

なお、上述した各実施形態における劣化診断装置、測定装置、分析装置の機能をコンピューターで実現するようにしても良い。その場合、この機能を実現するためのプログラムをコンピューター読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピューターシステムに読み込ませ、実行することによって実現しても良い。なお、ここでいう「コンピューターシステム」とは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピューター読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD-ROM、DVD-ROM、USBメモリー等の可搬媒体、コンピューターシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピューター読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバーやクライアントとなるコンピューターシステム内部の揮発性メモリーのように、一定時間プログラムを保持しているものも含んでも良い。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良く、さらに前述した機能をコンピューターシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであっても良い。 The functions of the degradation diagnosis device, the measurement device, and the analysis device in each of the above-mentioned embodiments may be realized by a computer. In that case, a program for realizing this function may be recorded in a computer-readable recording medium, and the program recorded in the recording medium may be read into a computer system and executed to realize the functions. Note that the term "computer system" here includes hardware such as an OS and peripheral devices. Furthermore, the term "computer-readable recording medium" refers to portable media such as flexible disks, optical magnetic disks, ROMs, CD-ROMs, DVD-ROMs, and USB memories, and storage devices such as hard disks built into computer systems. Furthermore, the term "computer-readable recording medium" may include those that dynamically hold a program for a short period of time, such as a communication line when a program is transmitted via a network such as the Internet or a communication line such as a telephone line, and those that hold a program for a certain period of time, such as a volatile memory inside a computer system that is a server or client in such a case. The above-mentioned program may be for realizing part of the above-mentioned functions, and may further be capable of realizing the above-mentioned functions in combination with a program already recorded in the computer system.

なお、コンピューターを用いて各実施形態における測定部2を実現する場合、プログラムは、「対象機器に用いられている絶縁抵抗の絶縁材料に関する材料因子、または前記絶縁抵抗が設置されている場所における環境因子のうちイオン性汚損物質の付着量、の少なくともいずれか一方を測定するよう制御する測定過程」の処理をコンピューターに実行させる。そして、コンピューターによる制御の下、物理量の測定自体は実施形態にも記載したセンサー等が行う。 When the measuring unit 2 in each embodiment is realized using a computer, the program causes the computer to execute the process of "a measurement process that controls the measurement of at least one of the following: a material factor related to the insulating material of the insulation resistor used in the target device, or an environmental factor at the location where the insulation resistor is installed, which is the amount of ionic pollutants attached." Then, under the control of the computer, the measurement of the physical quantity itself is performed by a sensor or the like described in the embodiment.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, substitutions, and modifications can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and their modifications are within the scope of the invention and its equivalents as set forth in the claims, as well as the scope and gist of the invention.

1…劣化診断装置、2…測定部、3…抵抗値推定部、4…妥当性判定部、5…診断部、6…診断結果表示部、7…推定式記憶部、8…機種別材料名記憶部、11…推定式作成用解析データ記憶部、12…推定式作成部、13…絶縁抵抗情報記憶部、21…材料因子測定部、22…環境因子測定部、31…絶縁板、32…第1電極、33…第2電極、34…汚損物/水膜、40…水晶振動子、41,42…付着物、43,44…電極、50…イオン成分分析装置、51…純水供給部、52…純水供給配管、53…汚損物採取槽、54…サンプリング配管、56…三方弁、57…洗浄排水配管、58…成分計測部、100…劣化診断システム、110…測定装置、111…測定値送信部、120…分析装置、121…測定値受信部、150…劣化診断システム、160…分析装置、161…測定値受信部、162…解析データ収集部、311…筺体、312,313…対象機器、314,315…測定部、316…吸気口、317…排気口、318…測定部 1...deterioration diagnosis device, 2...measurement section, 3...resistance value estimation section, 4...validity determination section, 5...diagnosis section, 6...diagnosis result display section, 7...estimated formula memory section, 8...model-specific material name memory section, 11...analysis data memory section for creating estimated formula, 12...estimated formula creation section, 13...insulation resistance information memory section, 21...material factor measurement section, 22...environmental factor measurement section, 31...insulating plate, 32...first electrode, 33...second electrode, 34...contamination/water film, 40...quartz oscillator, 41, 42...deposits, 43, 44...electrodes, 50...ion component analysis device, 51...pure water supply unit, 52...pure water supply pipe, 53...pollutant collection tank, 54...sampling pipe, 56...three-way valve, 57...cleaning drain pipe, 58...component measurement unit, 100...deterioration diagnosis system, 110...measuring device, 111...measurement value transmission unit, 120...analysis device, 121...measurement value reception unit, 150...deterioration diagnosis system, 160...analysis device, 161...measurement value reception unit, 162...analysis data collection unit, 311...casing, 312, 313...target device, 314, 315...measurement unit, 316...intake port, 317...exhaust port, 318...measurement unit

Claims (13)

対象機器に用いられている絶縁抵抗の絶縁材料に関する材料因子、または前記絶縁抵抗が設置されている場所における環境因子のうちイオン性汚損物質の付着量、の少なくともいずれか一方を測定する測定部を備え、
前記測定部は、前記対象機器が内部に設置された筐体内であって、前記筐体に設けられ前記筐体内に筐体外から空気を流入させる吸気口の近傍であって、前記対象機器と前記吸気口との中間よりも前記吸気口により近い位置に設置される、診断システム。
A measuring unit is provided for measuring at least one of a material factor related to an insulating material of an insulation resistor used in a target device, and an amount of adhesion of ionic pollutants among environmental factors at a location where the insulation resistor is installed,
A diagnostic system in which the measurement unit is installed within a housing in which the target device is installed, near an intake port provided in the housing through which air flows into the housing from outside the housing, and at a position closer to the intake port than halfway between the target device and the intake port.
前記測定部は、水晶振動子の共振周波数の変化に基づいて前記イオン性汚損物質の付着量を測定する、請求項1に記載の診断システム。 The diagnostic system according to claim 1, wherein the measurement unit measures the amount of the ionic contaminants adhered based on a change in the resonant frequency of the quartz crystal oscillator. 前記測定部は、測定結果と、温度と、湿度と、前記イオン性汚損物質の汚損度と、の相関に基づいて、測定結果、温度及び湿度に基づいて前記イオン性汚損物質の汚損度を測定する、請求項1に記載の診断システム。 The diagnostic system according to claim 1, wherein the measurement unit measures the degree of contamination of the ionic contaminant based on the measurement result, temperature, and humidity, based on a correlation between the measurement result, temperature, humidity, and the degree of contamination of the ionic contaminant. 前記測定部は、非イオン性の塵埃の質量の変化を測定し、測定結果に基づいてイオン性塵埃の増加を予測する、請求項1に記載の診断システム。 The diagnostic system of claim 1, wherein the measurement unit measures changes in the mass of non-ionic dust and predicts an increase in ionic dust based on the measurement results. 前記測定部による測定結果を基に前記絶縁抵抗の抵抗値を推定するための推定式に関する情報を記憶する推定式記憶部と、
前記測定部による前記測定結果と、前記推定式記憶部に記憶された前記推定式と、を用いて前記絶縁抵抗の前記抵抗値を推定する抵抗値推定部と、
前記抵抗値推定部による抵抗値の推定結果、前記材料因子及び前記環境因子のいずれか一つ又は複数を記憶する絶縁抵抗情報記憶部と、
をさらに具備する請求項1に記載の診断システム。
an estimation equation storage unit that stores information about an estimation equation for estimating a resistance value of the insulation resistor based on a measurement result by the measurement unit;
a resistance value estimation unit that estimates the resistance value of the insulation resistor by using the measurement result by the measurement unit and the estimation equation stored in the estimation equation storage unit;
an insulation resistance information storage unit that stores one or more of a result of the resistance value estimation by the resistance value estimation unit, the material factors, and the environmental factors;
The diagnostic system of claim 1 further comprising:
前記測定部の測定結果を送信する送信部と、
前記測定結果を受信する受信部と、をさらに備え、
前記抵抗値推定部は、前記受信部によって受信された測定結果を用いて前記抵抗値を推定する、請求項5に記載の診断システム。
A transmission unit that transmits the measurement result of the measurement unit;
A receiving unit that receives the measurement result,
The diagnostic system according to claim 5 , wherein the resistance value estimating unit estimates the resistance value using a measurement result received by the receiving unit.
前記受信部によって受信された測定結果を記憶部に書き込む解析データ収集部をさらに備える、請求項6に記載の診断システム。 The diagnostic system according to claim 6, further comprising an analysis data collection unit that writes the measurement results received by the receiving unit into a memory unit. 絶縁抵抗情報記憶部に記憶される推定結果に基づいて、前記抵抗値推定部によって推定された抵抗値の値である抵抗推定値の時系列の変化の傾向を判定する診断部をさらに備える、請求項5に記載の診断システム。 The diagnostic system according to claim 5, further comprising a diagnostic unit that determines a trend of change over time of an estimated resistance value, which is a resistance value estimated by the resistance value estimation unit, based on the estimation results stored in the insulation resistance information storage unit. 前記診断部は、前記変化の傾向に基づいて、前記抵抗推定値の将来の値を推定する、請求項8に記載の診断システム。 The diagnostic system according to claim 8, wherein the diagnostic unit estimates a future value of the resistance estimate based on the trend of the change. 前記診断部は、前記変化の傾向に基づいて、予め定められた下限閾値を前記抵抗推定値の将来の値の推定結果が下回るタイミングを判定する、請求項8に記載の診断システム。 The diagnostic system according to claim 8, wherein the diagnostic unit determines the timing at which the estimated future resistance value falls below a predetermined lower threshold based on the trend of the change. 前記診断部は、前記変化の傾向において、変化の傾向が変わった時点である変化時点を判定する、請求項8に記載の診断システム。 The diagnostic system according to claim 8, wherein the diagnostic unit determines a time point at which the trend of change changes. 対象機器に用いられている絶縁抵抗の絶縁材料に関する材料因子、または前記絶縁抵抗が設置されている場所における環境因子のうちイオン性汚損物質の付着量、の少なくともいずれか一方を測定する測定部によって前記材料因子または前記イオン性汚損物質の付着量を測定する測定ステップを有し、
前記測定部は、前記対象機器が内部に設置された筐体内であって、前記筐体に設けられ前記筐体内に筐体外から空気を流入させる吸気口の近傍であって、前記対象機器と前記吸気口との中間よりも前記吸気口により近い位置に設置される、抵抗値推定方法。
a measuring step of measuring at least one of a material factor related to an insulating material of an insulation resistor used in a target device, and an amount of adhesion of ionic contaminants among environmental factors at a location where the insulation resistor is installed, by a measuring unit,
A resistance value estimation method in which the measuring unit is installed within a housing in which the target device is installed, near an intake port provided in the housing through which air flows into the housing from outside the housing, and at a position closer to the intake port than halfway between the target device and the intake port.
対象機器に用いられている絶縁抵抗の絶縁材料に関する材料因子、または前記絶縁抵抗が設置されている場所における環境因子のうちイオン性汚損物質の付着量、の少なくともいずれか一方を測定する測定部を備え、
前記測定部は、前記対象機器が内部に設置された筐体内であって、前記筐体に設けられ前記筐体内に筐体外から空気を流入させる吸気口の近傍であって、前記対象機器と前記吸気口との中間よりも前記吸気口により近い位置に設置される、診断システム、としてコンピューターを機能させるためのコンピュータープログラム。
A measuring unit is provided for measuring at least one of a material factor related to an insulating material of an insulation resistor used in a target device, and an amount of adhesion of ionic pollutants among environmental factors at a location where the insulation resistor is installed,
A computer program for causing a computer to function as a diagnostic system, wherein the measurement unit is installed within a housing in which the target device is installed, near an intake port provided in the housing through which air flows into the housing from outside the housing, and at a position closer to the intake port than halfway between the target device and the intake port.
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