JP2023015418A - Inspection method, program and inspection system - Google Patents
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Abstract
【課題】課題は、対象物の表面の状態の検査の精度を向上できる、検査方法、プログラム、及び、検査システムを提供することである。【解決手段】検査方法は、取得ステップS11と、検査ステップS12とを含む。取得ステップS11は、対象物の表面に関する対象画像を取得するステップである。検査ステップS12は、対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、対象物の表面の状態の検査をする。【選択図】 図1An object of the present invention is to provide an inspection method, a program, and an inspection system capable of improving the accuracy of inspection of the surface state of an object. An inspection method includes an acquisition step S11 and an inspection step S12. Acquisition step S11 is a step of acquiring a target image of the surface of the target object. The inspection step S12 inspects the state of the surface of the object based on the object information including the shape information representing the shape of the frequency distribution of the parameters based on the pixel values obtained from the object image. [Selection diagram] Fig. 1
Description
本開示は、検査方法、プログラム、及び、検査システムに関する。特に、本開示は、画像により対象物の表面の状態の検査を行う検査方法、プログラム、及び、検査システムに関する。 The present disclosure relates to inspection methods, programs, and inspection systems. In particular, the present disclosure relates to an inspection method, program, and inspection system for inspecting the state of the surface of an object using images.
特許文献1は、着色検査装置を開示する。特許文献1に開示された着色検査装置は、CIEXYZ等色関数と等価に線形変換された三つの分光感度を有するカメラと、カメラが取得した三つの分光感度を有する画像をCIEXYZ表色系における三刺激値に変換した着色データを取得し演算する演算処理装置と、測定対象物の一例である自動車を照射する照明部と、を備える。着色検査装置は、検査物と基準物の2つのxyz色度ヒストグラム分布の重なり合った割合を示す色分布一致指数を演算することにより、色を検査する。
検査物(測定対象物、対象物)の色の見え方は、検査物の表面の形状の影響を受け得る。そのため、特許文献1で得られる、検査物と基準物の2つのxyz色度ヒストグラム分布の重なり合った割合を示す色分布一致指数が高くても、人が感じる見た目の感覚が異なることがある。
The appearance of the color of an inspection object (measuring object, object) can be affected by the shape of the surface of the inspection object. Therefore, even if the color distribution coincidence index obtained in
課題は、対象物の表面の状態の検査の精度を向上できる、検査方法、プログラム、及び、検査システムを提供することである。 An object of the present invention is to provide an inspection method, a program, and an inspection system that can improve the accuracy of inspection of the surface state of an object.
本開示の一態様の検査方法は、取得ステップと、検査ステップとを含む。前記取得ステップは、対象物の表面に関する対象画像を取得するステップである。前記検査ステップは、前記対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、前記対象物の表面の状態の検査をするステップである。 An inspection method of one aspect of the present disclosure includes an acquisition step and an inspection step. The acquisition step is a step of acquiring a target image of the surface of the target. The inspection step is a step of inspecting the state of the surface of the object based on object information including shape information representing the shape of the frequency distribution of parameters based on pixel values obtained from the object image.
本開示の一態様のプログラムは、1以上のプロセッサに、前記検査方法を実行させるための、プログラムである。 A program according to one aspect of the present disclosure is a program for causing one or more processors to execute the inspection method.
本開示の一態様の検査システムは、対象物の表面の対象画像を取得する取得部と、前記対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、前記対象物の表面の状態の検査をする検査部と を備える。 An inspection system according to one aspect of the present disclosure includes an acquisition unit that acquires a target image of a surface of an object, and target information including shape information representing the shape of a frequency distribution of parameters based on pixel values obtained from the target image. and an inspection unit that inspects the state of the surface of the object based on the above.
本開示の態様によれば、対象物の表面の状態の検査の精度を向上できる、という効果を奏する。 According to the aspect of the present disclosure, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object.
(1)実施形態
(1.1)概要
一実施形態の検査方法は、図2に示すような対象物100の表面の状態の検査のために利用され得る。対象物100の表面の状態は、対象物100の表面の色、形状、質感(テクスチャ)、光沢感、グラデーション、及び塗装状態を含み得る。本実施形態では、グラデーションは、表面が曲面である場合に入射角度と反射角度に依存して生じるグラデーションだけではなく、フリップフロップ性、カラートラベル効果、光輝感、及び粒状感を含み得る。本実施形態では、対象物100は、自動車を想定している。特に、対象物100の表面は、自動車の車体の外面の一部である。なお、対象物100は自動車に限られない。例えば、対象物100は、自動車以外の移動体であってよいし、移動体でなくてもよい。移動体の例としては、二輪車、電車、ドローン、航空機、建設機械、及び船舶が挙げられる。また、対象物100は、電気機器や、食器、容器、家具、衣類、建材等であってもよい。要するに、対象物100は、表面を有する物体であればよい。
(1) Embodiment (1.1) Overview An inspection method according to one embodiment can be used for inspecting the state of the surface of an
図1は、本実施形態の検査方法のフローチャートを示す。本実施形態の検査方法は、取得ステップS11と、検査ステップS12とを含む。取得ステップS11は、対象物100の表面に関する対象画像を取得するステップである。検査ステップS12は、対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、対象物100の表面の状態の検査をする。
FIG. 1 shows a flowchart of the inspection method of this embodiment. The inspection method of this embodiment includes an acquisition step S11 and an inspection step S12. Acquisition step S<b>11 is a step of acquiring a target image of the surface of the
本実施形態の検査方法では、対象物100の表面の対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を利用して、対象物の100の表面の状態の検査をする。つまり、本実施形態の検査方法では、度数分布の形状そのものを利用している。その結果、本実施形態の検査方法によれば、対象物100の表面の状態の検査の精度を向上できる。
In the inspection method of the present embodiment, the surface state of the
(1.2)詳細
以下、本実施形態の検査方法について、図1~図12を参照して更に詳細に説明する。本実施形態の検査方法は、図2に示す検査システム1により実行され得る。検査システム1は、対象物100の表面の検査のためのシステムである。検査システム1は、着色検査装置としての機能を有する。また、検査システム1は、対象物100の塗装も可能である。検査システム1は、検査の結果に応じて対象物100を塗装することができ、これによって、所望の塗装がされた対象物100が得られる。
(1.2) Details The inspection method of the present embodiment will be described in more detail below with reference to FIGS. 1 to 12. FIG. The inspection method of this embodiment can be executed by the
検査システム1は、図2に示すように、判定システム10と、照明システム20と、撮像システム30と、塗装システム40とを備える。
The
照明システム20は、対象物100の表面に光を照射するためのシステムである。照明システム20は、対象物100に光を照射する1以上のランプを含む。ランプは、一例としては、LEDランプである。また、ランプは、白色光を放射する。なお、照明システム20において、ランプの数は特に限定されず、ランプの種類も、LED以外の光源であってよい。また、ランプの発光色は白色に限定されない。ランプの発光色は、対象物100の色及び撮像システム30で検出可能な色を考慮して適宜設定され得る。また、照明システム20が放射する光の波長は変更可能であってよい。
The
撮像システム30は、対象物100の表面の画像(デジタル画像)を生成するためのシステムである。本実施形態では、撮像システム30は、照明システム20によって照らされている対象物100の表面を撮像して対象物100の表面の画像を生成する。撮像システム30は、1以上のカメラを含む。カメラは、1以上のイメージセンサを備える。なお、カメラは1以上のラインセンサを備えてもよい。
The
塗装システム40は、対象物100の表面の塗装のためのシステムである。塗装システム40は、1以上の塗装部(塗装ロボット)を含む。塗装ロボットは、従来周知の構成であってよいから、詳細な説明は省略する。
The
判定システム10は、図2に示すように、入出力部11と、記憶部12と、処理部13とを備える。判定システム10は、コンピュータシステムにより実現され得る。コンピュータシステムは、1以上のプロセッサ、1以上のコネクタ、1以上の通信機器、及び1以上のメモリ等を含み得る。
The
入出力部11は、照明システム20、撮像システム30及び塗装システム40との間の情報の入出力を行う。本実施形態では、入出力部11は、照明システム20、撮像システム30及び塗装システム40に通信可能に接続される。入出力部11は、1以上の入出力装置を含み、1以上の入出力インタフェースを利用する。
The input/
記憶部12は、処理部13が利用する情報を記憶するために用いられる。記憶部12は、1以上の記憶装置を含む。記憶装置は、例えば、RAM(Random Access Memory)、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory)である。
The
処理部13は、例えば、1以上のプロセッサ(マイクロプロセッサ)により実現され得る。つまり、1以上のプロセッサが1以上のメモリに記憶された1以上のプログラム(コンピュータプログラム)を実行することで、処理部13として機能する。1以上のプログラムは、1以上のメモリに予め記録されていてもよいし、インターネット等の電気通信回線を通じて、又はメモリカード等の非一時的な記録媒体に記録されて提供されてもよい。
The
処理部13は、図2に示すように、取得部F11と、検査部F12と、提示部F13と、制御部14とを有している。取得部F11と、検査部F12と、提示部F13と、制御部F14とは、実体のある構成を示しているわけではなく、処理部13によって実現される機能を示している。
The
取得部F11は、対象物100の表面に関する対象画像を取得する取得ステップS11(図1参照)を実行する。本実施形態では、対象画像は、照明システム20によって照らされている対象物100の表面を撮像システム30で撮像して得られる画像である。ここで、撮像システム30は、対象物100の表面の全体ではなく、一部を撮像する。したがって、対象物100からは、撮像した対象物100の表面の部分が異なる複数の対象画像が取得される。つまり、対象物100の表面の部分毎に検査が実行されることになる。本実施形態では、取得部F11は、撮像システム30から対象物100の表面の画像を取得する。つまり、取得部F11は、入出力部11を介して撮像システム30から画像を受け取る。取得部F11が撮像システム30から取得する画像は、撮像システム30の撮像条件によって決まる。撮像条件は、対象物100と照明システム20と撮像システム30との相対的な位置関係(つまりは、撮影対象物と照明とカメラの位置関係の情報)を含み得る。本実施形態では、対象画像の画素値は、三色の値を含み得る。三色の値は、赤色に対応するR値、緑色に対応するG値、及び、青色に対応するB値であり得る。このように、本実施形態では、画素値は、RGB表色系で表される。
Acquisition unit F11 executes acquisition step S11 (see FIG. 1) for acquiring a target image of the surface of
検査部F12は、対象物100の表面の状態の検査をする検査ステップS12(図1参照)を実行する。対象物100の表面の状態の検査のために、検査部F12は、対象画像から対象情報を生成する(S12a,S12b)。対象情報は、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む。本実施形態では、パラメータは、色に関するパラメータである。特に、パラメータとして、LCh表色系のパラメータである、明度(L)、彩度(C)、及び色相(h)が用いられる。そのため、検査部F12は、対象画像の画素値を、RGB表色系から、LCh表色系に変換する。そして、検査部F12は、画素値に基づくパラメータ(明度、彩度、色相)の度数分布を求める。よって、本実施形態では、対象情報は、複数のパラメータ(明度、彩度、色相の3つ)それぞれに関する形状情報を含む。
The inspection unit F12 executes an inspection step S12 (see FIG. 1) for inspecting the state of the surface of the
本実施形態では、形状情報は、度数分布の形状の特徴を表す特徴量を含む。例えば、図3は、明度の度数分布を表すヒストグラムH10を示す。図3では、横軸が、パラメータである明度を表し、縦軸が、度数を表す。本実施形態では、度数分布の形状は、度数分布を表すヒストグラムの形状である。そして、特徴量は、複数の評価値と、代表値を含む。 In this embodiment, the shape information includes a feature quantity representing the shape of the frequency distribution. For example, FIG. 3 shows a histogram H10 representing the frequency distribution of brightness. In FIG. 3, the horizontal axis represents the brightness, which is a parameter, and the vertical axis represents the frequency. In this embodiment, the shape of the frequency distribution is the shape of a histogram representing the frequency distribution. The feature quantity includes multiple evaluation values and a representative value.
複数の評価値は、度数分布を表すヒストグラムの形状を表す値である。本実施形態では、複数の評価値は、ベクトルとして扱われる。以下、複数の評価値を、評価ベクトルということがある。評価ベクトルは、度数分布の形状のパラメータの複数の区分それぞれの面積に基づいて算出される。例えば、検査部F12は、図3に示すように、ヒストグラムH10の形状のパラメータ(明度)の複数の区分Di(D1~D7)それぞれの面積Si(S1~S7)を求める。ここで、iは、1以上の整数である。本実施形態では、複数の区分Diは、幅(区分の上限と下限との差)が同じである。また、検査部F12は、ヒストグラムH10の形状の総面積S(=ΣSi)を求める。検査部F12は、区分の面積Siを総面積Sで割って得られる値を、当該区分の評価値とする。つまり、評価値は、ヒストグラムH10の全体に対して各区分が占める比率に対応する。ここで、区分Diの評価値を、wiとすれば、wi=Si/Sが成立する。そして、図3の例では、7つの区分D1~D7があるため、ヒストグラムH10の評価ベクトルは、(w1,w2,w3,w4,w5,w6,w7)となる。 A plurality of evaluation values are values representing the shape of a histogram representing a frequency distribution. In this embodiment, multiple evaluation values are treated as a vector. Hereinafter, a plurality of evaluation values may be referred to as an evaluation vector. The evaluation vector is calculated based on the area of each of a plurality of sections of the parameter of the shape of the frequency distribution. For example, as shown in FIG. 3, the inspection unit F12 obtains areas Si (S1 to S7) of each of a plurality of divisions Di (D1 to D7) of the parameter (brightness) of the shape of the histogram H10. Here, i is an integer of 1 or more. In this embodiment, the multiple divisions Di have the same width (the difference between the upper and lower limits of the division). The inspection unit F12 also obtains the total area S (=ΣSi) of the shape of the histogram H10. The inspection unit F12 sets the value obtained by dividing the area Si of the section by the total area S as the evaluation value of the section. In other words, the evaluation value corresponds to the ratio of each segment to the entire histogram H10. Here, if the evaluation value of the division Di is wi, wi=Si/S is established. In the example of FIG. 3, since there are seven sections D1 to D7, the evaluation vector of the histogram H10 is (w1, w2, w3, w4, w5, w6, w7).
代表値は、度数分布の代表値である。本実施形態では、代表値は、度数分布の中心となるパラメータ(図3では、明度)の値(中心値)に対応する。代表値は、度数分布の形状の全体に対する度数分布の形状のパラメータの複数の区分それぞれの比率(評価ベクトル)と、複数の区分に対応するパラメータの値とから求まる値である。例えば、図3において、の区分Di(D1~D7)に対応するパラメータの値をLi(L1~L7)とする。ここで、区分Diに対応するパラメータの値Liは、区分Diに対応するパラメータの範囲の代表値であって、平均値、最頻値、中央値、最大値、最小値のいずれかであり得る。この場合、度数分布の代表値をCとすれば、C=ΣLi*wiが成立する。 The representative value is the representative value of the frequency distribution. In this embodiment, the representative value corresponds to the value (central value) of the parameter (brightness in FIG. 3) at the center of the frequency distribution. The representative value is a value obtained from the ratio (evaluation vector) of each of the plurality of sections of the parameter of the shape of the frequency distribution to the entire shape of the frequency distribution and the values of the parameters corresponding to the plurality of sections. For example, in FIG. 3, let Li (L1 to L7) be the parameter values corresponding to the divisions Di (D1 to D7). Here, the value Li of the parameter corresponding to the division Di is a representative value of the range of the parameter corresponding to the division Di, and may be any of the average value, the mode value, the median value, the maximum value, and the minimum value. . In this case, if C is the representative value of the frequency distribution, then C=ΣLi*wi.
検査部F12は、画素値に基づくパラメータ毎に、形状情報を生成する。本実施形態では、検査部F12は、対象画像に関して、明度、彩度、及び色相それぞれの形状情報を生成する。明度、彩度、及び色相の形状情報のそれぞれにおいて、特徴量は、評価ベクトルと、代表値とを含む。例えば、図4は、明度に関し、HT1はヒストグラムを、WT1は評価ベクトルを、CT1は代表値を示している。またば、図5は、彩度に関し、HT2はヒストグラムを、WT2は評価ベクトルを、CT2は代表値を示している。また、図6は、色相に関し、HT3はヒストグラムを、WT3は評価ベクトルを、CT3は代表値を示している。このように、形状情報の特徴量は、度数分布をその形状及び位置が損なわれない程度に、簡略化して示すものであるといえる。 The inspection unit F12 generates shape information for each parameter based on pixel values. In the present embodiment, the inspection unit F12 generates shape information for each of brightness, saturation, and hue for the target image. In each of the lightness, saturation, and hue shape information, the feature amount includes an evaluation vector and a representative value. For example, in FIG. 4, HT1 indicates a histogram, WT1 indicates an evaluation vector, and CT1 indicates a representative value for lightness. Also, in FIG. 5, HT2 indicates a histogram, WT2 indicates an evaluation vector, and CT2 indicates a representative value regarding saturation. In FIG. 6, regarding hue, HT3 indicates a histogram, WT3 indicates an evaluation vector, and CT3 indicates a representative value. In this way, it can be said that the feature amount of the shape information represents the frequency distribution in a simplified manner to such an extent that the shape and position are not damaged.
検査部F12は、このようにして生成された対象情報と、基準情報との比較をする(S12c)。基準情報は、記憶部12に予め記憶され得る。基準情報は、対象物100の基準となる基準物の表面に関する基準画像から得られる形状情報を含む。基準情報は、対象情報と同様の手法で生成される。基準情報では、対象情報と同様に、LCh表色系のパラメータである、明度(L)、彩度(C)、及び色相(h)が用いられる。そのため、検査部F12は、必要に応じて、基準画像の画素値をRGB表色系からLCh表色系に変換して、画素値に基づくパラメータ(明度、彩度、色相)の度数分布を求める。よって、本実施形態では、基準情報は、対象情報と同様に、複数のパラメータ(明度、彩度、色相の3つ)それぞれに関する形状情報を含む。そして、対象情報と同様に、明度、彩度、及び色相の形状情報のそれぞれにおいて、特徴量は、評価ベクトルと、代表値とを含む。例えば、図7は、明度に関し、WR1は基準画像からの度数分布の形状に基づく評価ベクトルを、CR1は基準画像からの度数分布の代表値を示している。また、図8は、彩度に関し、WR2は基準画像からの度数分布の形状に基づく評価ベクトルを、CR2は基準画像からの度数分布の代表値を示している。図9は、色相に関し、WR3は基準画像からの度数分布の形状に基づく評価ベクトルを、CR3は基準画像からの度数分布の代表値を示している。
The inspection unit F12 compares the object information thus generated with the reference information (S12c). The reference information may be pre-stored in the
検査部F12は、対象情報と基準情報との比較では、パラメータ毎に、形状情報の特徴量の差分を求める。特徴量の差分は、評価ベクトルの差分と、代表値の差分とを含む。図7に示す例では、評価ベクトルの差分Dw1は|wT1-wR1|であり、代表値の差分Dc1は|CT1-CR1|である。下記表1は、評価ベクトルの差分Dw1の一例を示し、下記表2は、代表値の差分Dc1の一例を示す。 In the comparison between the target information and the reference information, the inspection unit F12 obtains the difference in the feature amount of the shape information for each parameter. The feature quantity difference includes the evaluation vector difference and the representative value difference. In the example shown in FIG. 7, the evaluation vector difference Dw1 is |wT1-wR1|, and the representative value difference Dc1 is |CT1-CR1|. Table 1 below shows an example of the difference Dw1 of the evaluation vectors, and Table 2 below shows an example of the difference Dc1 of the representative values.
図8に示す例では、評価ベクトルの差分Dw2は|wT2-wR2|であり、代表値の差分Dc2は|CT2-CR2|である。下記表3は、評価ベクトルの差分Dw2の一例を示し、下記表4は、代表値の差分Dc2の一例を示す。 In the example shown in FIG. 8, the evaluation vector difference Dw2 is |wT2-wR2|, and the representative value difference Dc2 is |CT2-CR2|. Table 3 below shows an example of the difference Dw2 of the evaluation vectors, and Table 4 below shows an example of the difference Dc2 of the representative values.
図9に示す例では、評価ベクトルの差分Dw3は|wT3-wR3|であり、代表値の差分Dc3は|CT3-CR3|である。下記表5は、評価ベクトルの差分Dw3の一例を示し、下記表6は、代表値の差分Dc3の一例を示す。 In the example shown in FIG. 9, the evaluation vector difference Dw3 is |wT3-wR3|, and the representative value difference Dc3 is |CT3-CR3|. Table 5 below shows an example of the difference Dw3 of the evaluation vectors, and Table 6 below shows an example of the difference Dc3 of the representative values.
そして、検査部F12は、パラメータ毎の形状情報の特徴量の差分から、評価ベクトルの判定値(第1判定値)と、代表値の判定値(第2判定値)とを求める。第1判定値をE1とすると、E1=(Dw12+Dw22+Dw32)1/2となる。第2判定値をE2とすると、E2=(Dc12+Dc22+Dc32)1/2となる。 Then, the inspection unit F12 obtains a determination value (first determination value) of the evaluation vector and a determination value (second determination value) of the representative value from the difference in the feature amount of the shape information for each parameter. Assuming that the first determination value is E1, E1=(Dw1 2 +Dw2 2 +Dw3 2 ) 1/2 . Assuming that the second determination value is E2, E2=(Dc1 2 +Dc2 2 +Dc3 2 ) 1/2 .
そして、検査部F12は、対象情報と基準情報との比較の結果に基づいて、対象物100の表面の状態が合格か不合格かを判定する(S12d)。本実施形態では、検査部F12は、第1判定値E1が第1規定値未満であり、第2判定値E2が第2規定値未満である場合に、対象物100の表面の状態が合格であるとする。一方で、検査部F12は、第1判定値E1が第1規定値以上、又は、第2判定値E2が第2規定値以上である場合に、対象物100の表面の状態が不合格であるとする。
Then, the inspection unit F12 determines whether the state of the surface of the
一例として、規定値(第1規定値及び第2規定値)は、目視評価を利用して決定してよい。目視評価を利用した規定値の決定の仕方について簡単に説明する。例えば、対象物100として塗装条件が異なる複数のサンプルd1~dnを用意する。なお、nは2以上の任意の整数である。一例として、塗装条件は、サンプルd1~dnの順番で色が淡くなるように設定されてよい。
As an example, the specified values (the first specified value and the second specified value) may be determined using visual evaluation. A brief description will be given of how to determine the specified value using visual evaluation. For example, as the
複数のサンプルd1~dnそれぞれについて、基準物と比較し、第1判定値及び第2判定値に基づいて、一致率を求める。図10は、サンプルd1~dnと一致率との関係を示す。図10では、サンプルdkにおいて一致率が最も高くなっている。そして、サンプルd1~dnの各々について複数人(一例として、30人)で目視による評価(目視評価)を行い、正解率を求める。目視評価では、サンプルd1~dnのうちの一つとサンプルdkとを比較する。正解率は、目視評価を行った人数に対する、サンプルdkを選択した人数の割合である。図11は、目視評価の結果を示す。正解率が1.0のサンプルについては明らかに不合格としてよい。正解率が0.5のサンプルについては正解率がランダムと同じであるから、合格としてよい。そして、正解率が0.5~1.0の間にあるサンプルd2~dk-2、dk+2~dn-1については、更に、どのサンプルまでを許容範囲とするかが決定される。 Each of the plurality of samples d1 to dn is compared with the reference object, and the matching rate is obtained based on the first judgment value and the second judgment value. FIG. 10 shows the relationship between samples d1 to dn and match rates. In FIG. 10, sample dk has the highest match rate. Then, each of the samples d1 to dn is visually evaluated (visual evaluation) by a plurality of persons (for example, 30 persons) to obtain the accuracy rate. Visual evaluation compares one of samples d1-dn with sample dk. The accuracy rate is the ratio of the number of people who selected sample dk to the number of people who performed visual evaluation. FIG. 11 shows the results of visual evaluation. A sample with an accuracy rate of 1.0 may be clearly rejected. A sample with an accuracy rate of 0.5 has the same accuracy rate as random, so it may be accepted as a pass. Further, for samples d2 to dk-2 and dk+2 to dn-1 whose accuracy rate is between 0.5 and 1.0, it is further determined which samples are acceptable.
例えば、図12に示すように、サンプルdk+2~dn-1については、サンプルdk+2~dn-1のうち一致率の勾配(傾き)が大きいサンプルdlと合格であるサンプルdk+2との目視評価を行う。ここで、正解率が1.0であれば、サンプルdlは不合格とする。そして、サンプルdlの次に一致率が高いサンプルdl-1とサンプルdlとの目視評価を行う。そして、正解率が1.0であれば、サンプルdl-1は不合格とする。そして、サンプルdl-1の次に一致率が高いサンプルdl-2とサンプルdl-1との目視評価を行う。正解率が0.5であれば、サンプルdl-1を許容範囲の限度のサンプルとする。このように、正解率が0.5になるまで、目視評価を繰り返し、正解率が0.5になったときのサンプルを許容範囲の限度のサンプルとする。ただし、正解率が0.5になる前にサンプルdk+2に到達すると、サンプルdk+2を許容範囲の限度のサンプルとして目視評価を終了する。 For example, as shown in FIG. 12, for samples dk+2 to dn-1, sample dl having a large concordance rate gradient (slope) among samples dk+2 to dn-1 and sample dk+2, which is a pass, are visually evaluated. Here, if the accuracy rate is 1.0, the sample dl is rejected. Then, visual evaluation is performed on the sample dl-1 and the sample dl, which have the second highest matching rate after the sample dl. Then, if the accuracy rate is 1.0, the sample dl-1 is rejected. Then, the sample dl-2 and the sample dl-1, which have the second highest coincidence rate after the sample dl-1, are visually evaluated. If the accuracy rate is 0.5, the sample dl-1 is taken as the limit sample of the acceptable range. In this way, the visual evaluation is repeated until the correct answer rate reaches 0.5, and the sample when the correct answer rate reaches 0.5 is defined as the sample at the limit of the allowable range. However, if sample dk+2 is reached before the accuracy rate reaches 0.5, sample dk+2 is regarded as the limit sample of the allowable range and the visual evaluation is terminated.
一方で、サンプルdlと合格であるサンプルdk+2との目視評価において、正解率が0.5であれば、サンプルdlは合格とする。そして、サンプルdlの次に一致率が低いサンプルdl+1とサンプルdlとの目視評価を行う。そして、正解率が0.5であれば、サンプルdl+1は合格とする。そして、サンプルdl+1の次に一致率が低いサンプルdl+2とサンプルdl+1との目視評価を行う。正解率が1.0であれば、サンプルdl+1を許容範囲の限度のサンプルとする。このように、正解率が1.0になるまで、目視評価を繰り返し、正解率が1.0になったときのサンプルを許容範囲の限度のサンプルとする。ただし、正解率が1.0になる前にサンプルdn-1に到達すると、サンプルdn-1の一つ前のサンプルdn-2を許容範囲の限度のサンプルとして目視評価を終了する。
On the other hand, in the visual evaluation of sample dl and sample dk+2, which is acceptable, if the accuracy rate is 0.5, sample dl is accepted. Then, visual evaluation is performed on the sample dl+1 and the sample dl, which have the second lowest coincidence rate after the sample dl. Then, if the accuracy rate is 0.5, the sample dl+1 is accepted. Then, visual evaluation is performed on samples dl+2 and dl+1, which have the second lowest matching rates after
そして、サンプルd2~dk-2についても同様にして、許容範囲の限度のサンプルを決定してよい。そして、サンプルd2~dk-2から選択される許容範囲の限度のサンプルの一致率と、サンプルdk+2~dn-1から選択される許容範囲の限度のサンプルの一致率とに基づいて、規定値(第1規定値及び第2規定値)を決定する。例えば、そして、サンプルd2~dk-2から選択される許容範囲の限度のサンプルの一致率と、サンプルdk+2~dn-1から選択される許容範囲に限度のサンプルの一致率とのうち大きいほう、小さいほう、又は平均値に基づいて、規定値(第1規定値及び第2規定値)を設定してよい。 Then, for the samples d2 to dk-2, samples at the limit of the allowable range may be similarly determined. Then, a prescribed value ( a first specified value and a second specified value). For example, and the greater of the percent match of an acceptable limit sample selected from samples d2 to dk-2 and the percent match of an acceptable limit sample selected from samples dk+2 to dn-1, The specified values (the first specified value and the second specified value) may be set based on the smaller one or the average value.
提示部F13は、検査部F12での検査の結果(検査ステップでの検査の結果)に基づく提示を行う提示ステップS13(図1参照)を実行する。つまり、提示部F13は、検査部F12での検査の結果に基づく提示を行う。検査の結果に基づく提示は、対象情報と基準情報との比較の結果を利用した検査部F12での判定の結果の提示も含み得る。よって、提示部F13は、検査部F12での判定の結果の提示を行ってよい。本実施形態では、提示部F13は、検査部F12での判定の結果を、入出力部11を通して外部装置に出力する。外部装置は、検査部F12での判定の結果、つまり、検査システム1での検査の結果を提示してよい。
The presentation unit F13 executes a presentation step S13 (see FIG. 1) for presentation based on the result of the inspection by the inspection unit F12 (the result of the inspection in the inspection step). In other words, the presentation unit F13 makes a presentation based on the result of the inspection by the inspection unit F12. The presentation based on the result of the inspection may also include the presentation of the result of determination by the inspection part F12 using the result of comparison between the target information and the reference information. Therefore, the presentation unit F13 may present the result of determination by the inspection unit F12. In the present embodiment, the presentation unit F13 outputs the determination result of the inspection unit F12 to an external device through the input/
制御部F14は、対象物100の表面を塗装する塗装システム40に、検査ステップS12での検査の結果に基づく制御情報を出力する制御ステップS14(図1参照)を実行する。本実施形態では、検査部F12が対象物100の表面の状態が不合格であると判断した場合に、制御部F14は、塗装システム40に制御情報を出力して対象物100の再塗装を行わせる。一例として、制御情報は、下記表7に示す形式のデータを含み得る。制御情報は、複数の項目を含む。複数の項目は、「機種」、「カメラ」、「部位」、「結果」、「E1」、「E2」、「色空間」、及び「ビン数」である。ここで、「機種」は、検査システム1を特定するための情報を示す。「カメラ」は、対象画像の生成に利用された撮像システム30のカメラの番号を示す。「部位」は、対象画像に写っている対象物100の部位を特定するための情報を示す。ここでは、「部位」は、部位に付けられた番号を示す。「結果」は、検査部F12での検査の結果を示す。ここでは、「結果」は「NG」であり、検査の結果が不合格であることを示している。「E1」は、対象画像に対応する第1判定値を示す。「E2」は、対象画像に対応する第2判定値を示す。「色空間」は、対象画像の度数分布の表色系に関する情報を示す。表7では、「色空間」がLCh表色系であることを示している。「ビン数」は、各表色系の評価ベクトルの要素数を示す。表7では、明度、彩度、及び色相それぞれの評価ベクトルの要素の数が64であることを示している。このような制御情報を与えることで、対象物100のどの部位をどのように再塗装すればよいかを、塗装システム40に伝達することができる。
The control unit F14 executes the control step S14 (see FIG. 1) for outputting control information based on the inspection result of the inspection step S12 to the
再塗装では、制御部F14は、制御情報から得られる対象情報と基準情報との比較の結果(パラメータ毎の形状情報の特徴量の差分)に基づいて、塗装システム40を制御する。つまり、制御部F14は、対象物100の表面を塗装する塗装システム40を、検査部F12での検査の結果に基づいて制御する。これによって、対象物100の表面の状態を、目的の状態に近付けることができる。なお、検査部F12が対象物100の表面の状態が合格であると判断した場合に、制御部F14は、塗装システム40に制御情報を出力して対象物100の塗装を終了させてよい。
In repainting, the control unit F14 controls the
(1.3)動作
次に、以上述べた検査システム1で実施される検査方法について、図1のフローチャートを参照して簡単に説明する。検査システム1では、取得部F11が、撮像システム30から、対象物100の表面に関する対象画像を取得する(S11)。次に、検査部F12が、対象物100の表面の状態についての検査を行う(S12)。ここで、検査部F12は、対象画像から、画素値に基づくパラメータ毎の度数分布を求める(S12a)。本実施形態では、パラメータは、明度、彩度、及び色相の3つであるから、明度の度数分布と、彩度の度数分布と、色相の度数分布とが得られる。次に、検査部F12は、度数分布に基づいて、対象情報を生成する(S12b)。対象情報は、明度、彩度、及び色相に関する形状情報を含む。形状情報は、度数分布の形状の特徴を表す特徴量を含んでおり、評価ベクトル(複数の評価値)と代表値を含む。次に、検査部F12は、対象情報と基準情報との比較を行う(S12c)。検査部F12は、対象情報と基準情報との比較では、パラメータ(ここでは、明度、彩度、色相)毎に、形状情報の特徴量の差分を求める。特徴量の差分は、評価ベクトルの差分と、代表値の差分とを含む。そして、形状情報の特徴量の差分から、評価ベクトルの判定値(第1判定値)と、代表値の判定値(第2判定値)とを求める。検査部F12は、対象情報と基準情報との比較の結果に基づいて、対象物100の表面の状態が合格か不合格かを判定する(S12d)。本実施形態では、検査部F12は、第1判定値E1が第1規定値未満であり、第2判定値E2が第2規定値未満である場合に、対象物100の表面の状態が合格であるとする。一方で、検査部F12は、第1判定値E1が第1規定値以上、又は、第2判定値E2が第2規定値以上である場合に、対象物100の表面の状態が不合格であるとする。そして、検査システム1では、提示部F13は、検査部F12での検査の結果を、入出力部11を通して外部装置に出力する(S13)。また、検査システム1では、制御部F14は、塗装システム40に、検査の結果に基づく制御情報を出力する(S14)。
(1.3) Operation Next, the inspection method performed by the
(1.4)まとめ
以上述べた検査システム1は、取得部F11と、検査部F12とを備える。取得部F11と、検査部F12とを備える。取得部F11は、対象物100の表面に関する対象画像を取得するステップである。検査部F12は、対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、対象物100の表面の状態の検査をする。この検査システム1によれば、対象物100の表面の状態の検査の精度を向上できる。
(1.4) Summary The
換言すれば、検査システム1は、下記の方法(検査方法)を実行しているといえる。検査方法は、取得ステップS11と、検査ステップS12とを含む。取得ステップS11は、対象物100の表面に関する対象画像を取得するステップである。検査ステップS12は、対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、対象物100の表面の状態の検査をする。この検査方法によれば、検査システム1と同様に、対象物100の表面の状態の検査の精度を向上できる。
In other words, it can be said that the
検査方法は、1以上のプロセッサがプログラム(コンピュータプログラム)を実行することにより実現される。このプログラムは、1以上のプロセッサに検査方法を実行させるためのプログラムである。このようなプログラムによれば、検査方法と同様に、対象物100の表面の状態の検査の精度を向上できる。そして、プログラムは、記憶媒体により提供され得る。この記憶媒体は、コンピュータで読み取り可能な非一時的な記憶媒体であって、上記のプログラムを記憶している。このような記憶媒体によれば、検査方法と同様に、対象物100の表面の状態の検査の精度を向上できる。
The inspection method is implemented by one or more processors executing a program (computer program). This program is a program for causing one or more processors to execute an inspection method. According to such a program, the accuracy of inspection of the state of the surface of the
(2)変形例
本開示の実施形態は、上記実施形態に限定されない。上記実施形態は、本開示の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。以下に、上記実施形態の変形例を列挙する。
(2) Modifications Embodiments of the present disclosure are not limited to the above embodiments. The above-described embodiment can be modified in various ways according to design and the like, as long as the object of the present disclosure can be achieved. Modifications of the above embodiment are listed below.
一変形例では、対象情報は、複数のパラメータそれぞれに対応する形状情報を含んでいるが、対象情報は、複数ではなく単一のパラメータに対応する形状情報を含んでいてよい。また、形状情報に含まれる特徴量は、複数の評価値(評価ベクトル)と、代表値との少なくとも一方を含んでいればよい。 In one variation, the target information includes shape information corresponding to each of multiple parameters, but the target information may include shape information corresponding to a single parameter instead of multiple parameters. Moreover, the feature amount included in the shape information may include at least one of a plurality of evaluation values (evaluation vectors) and a representative value.
一変形例では、対象画像の画素値は、RGB表色系に限定されない。表色系の例としては、XYZ表色系、xyY表色系、L*u*v*表色系、L*a*b*表色系、Lch表色系等のCIE表色系が挙げられる。一例として、撮像システム30は、画素値がRGB表色系で表される画像ではなく、画素値がXYZ表色系で表される画像を生成してもよい。あるいは、演算処理によって、表色系の変換を行ってもよい。例えば、画素値がRGB表色系で表される画像を、画素値がXYZ表色系で表される画像に変換してもよい。この場合の演算処理には、モデル式やルックアップテーブル等が利用可能である。これによって、対象画像の画素値を所望の表色系のパラメータに変換することが可能である。
In a modified example, the pixel values of the target image are not limited to the RGB color system. Examples of the color system include the CIE color system such as the XYZ color system, the xyY color system, the L * u * v * color system, the L * a * b * color system, and the Lch color system. be done. As an example, the
一変形例では、検査部F12は、対象画像の画素値から得られる複数のパラメータの形状情報の全てを検査に利用する必要はない。例えば、パラメータが明度、彩度、及び色相であるとする。このとき、対象物100の表面の彩度が低く、無彩色と考えられる場合には、少しの色の違いで色相が大きく変化し得る。このような場合には、検査で色相を用いると、検査の精度が低下する可能性がある。よって、対象物100の表面が無彩色である場合には、色相に関する形状情報を利用しないほうがよい。このように、ある条件では、複数のパラメータのうちの特定のパラメータが検査に有効ではない場合がある。要するに、複数のパラメータが第1パラメータと第2パラメータとを含む場合に、検査部F12は、第1パラメータが所定条件を満たす場合には、第2パラメータに関する形状情報を検査に利用しないようにしてもよい。例えば、第1パラメータは、彩度であり、第2パラメータは、色相である。そして、所定条件は、彩度が閾値以下であることである。ここで、閾値は、彩度が閾値以下であれば対象物100の表面が無彩色であると判断できるかどうかに基づいて決定され得る。なお、第1パラメータ及び第2パラメータの組み合わせは、彩度と色相とに限定されず、その他のパラメータであり得る。
In a modified example, the inspection unit F12 does not need to use all of the shape information of the plurality of parameters obtained from the pixel values of the target image for inspection. For example, suppose the parameters are lightness, saturation, and hue. At this time, when the saturation of the surface of the
一変形例では、複数のパラメータに対して個々に加重値が設定されていてもよい。つまり、検査部F12は、複数のパラメータに対して重み付けを行ってもよい。例えば、対象物100の表面の彩度が低く、無彩色と考えられる場合には、少しの色の違いで色相が大きく変化し得る。このような場合には、検査で色相を用いると、検査の精度が低下する可能性がある。この場合には、対象物100の表面が無彩色に近いほど、色相に対する加重値を小さくする(重み付けを軽くする)ことで、色相による検査結果への影響を低くすることが考えられる。例えば、図13に示すように、検査部F12は、評価ベクトルw11に加重値を設定して、検査への影響が抑えられた評価ベクトルw12を生成し、この評価ベクトルw12に基づいて、検査を行ってよい。このように、検査部F12は、対象物100の表面に応じて、複数のパラメータに対して個々に加重値を変更してよい。
In a modified example, weight values may be individually set for a plurality of parameters. That is, the inspection unit F12 may weight a plurality of parameters. For example, if the surface of the
一変形例では、複数の評価値に対して個々に加重値が設定されていてもよい。つまり、検査部F12は、各パラメータに対応する評価ベクトルの各要素に対して重み付けを行ってもよい。例えば、対象物100の表面の状態において、光輝感について着目して検査を行いたい場合がある。このとき、対象画像において、明度が高い領域の面積が小さいと、光輝感に関しては思うような検査の精度が得られない場合がある。このような場合、検査部F12は、明度が大きくなるほど大きい加重値を設定してよい。例えば、図14に示すように、検査部F12は、評価ベクトルw11の各要素に加重値を設定して、明度が大きい領域が強調された評価ベクトルw13を生成し、この評価ベクトルw13に基づいて、検査を行ってよい。このように、検査部F12は、対象物100の表面に応じて、複数の評価値に対して個々に加重値を変更してよい。また、光輝感に関しては、検査部F12での検査の結果は合格となるものの、人が目視した場合には、検査の結果を合格とならない場合がある。つまり、検査部F12での検査の結果が人の感じ方と合わない場合があり得る。このような場合には、加重値として、人の感じ方に応じた心理量を反映した心理物理量を採用することが考えられる。これによって、検査部F12での検査に、人の心理量を反映させることが可能となる。
In a modified example, weight values may be individually set for a plurality of evaluation values. That is, the inspection unit F12 may weight each element of the evaluation vector corresponding to each parameter. For example, in the state of the surface of the
一変形例では、対象情報は、対象画像から得られる偏差画像から得られてもよい。偏差画像は、対象画像の画素値から対象画像の画素値の基準値を引いた値を画素値として有する画像である。基準値は、対象画像の画素値の平均値、最頻値、中央値、及び、対象画像から求めた度数分布の代表値から選択され得る。このような偏差画像は、対象物100の表面の質感(テクスチャ)の検査に有効である。つまり、対象物100の表面の状態として、対象物100の表面の質感(テクスチャ)の検査を行う場合には、検査部F12は、対象画像から偏差画像を生成し、偏差画像に基づいて、対象情報を生成する。この場合、対象物100と比較される基準物についても同様の手法で偏差画像が生成される。このように、偏差画像を利用して対象情報を生成することで、対象物100の表面の質感の検査の精度の向上が図れる。
In one variant, the target information may be obtained from a deviation image obtained from the target image. A deviation image is an image having, as pixel values, values obtained by subtracting a reference value for the pixel values of the target image from the pixel values of the target image. The reference value can be selected from the average value, the mode value, the median value of the pixel values of the target image, and the representative value of the frequency distribution obtained from the target image. Such deviation images are effective in inspecting the texture of the surface of the
一変形例では、取得部F11は、対象物100の表面を異なる撮像条件で撮像して得られた複数の対象画像を取得してよい。つまり、取得ステップS11は、対象物100の表面を異なる撮像条件で撮像して得られた複数の対象画像を取得するステップであり得る。撮像条件の例としては、撮像範囲、撮像方向、分解能等が挙げられる。例えば、撮像条件を異ならせるために、撮像システム30は、撮像範囲及び分解能が異なる複数のカメラ31,32を利用してよい(図15参照)。カメラ31は、カメラ32より広い範囲を撮像することができるが、カメラ32のほうがカメラ31よりも分解能が高い。そして、カメラ32は、カメラ31よりも対象物100の表面の近くに配置される。図15に示すように、カメラ31は、対象物100の表面110の第1撮像範囲111の画像を対象画像P11(図16参照)として出力する。カメラ32は、対象物100の表面110の第2撮像範囲112の画像を対象画像P12(図17参照)として出力する。ここで、第2撮像範囲112は、第1撮像範囲111よりも狭い。なお、第2撮像範囲112は、第1撮像範囲111に含まれていなくてもよい。カメラ31は、カメラ32よりも対象物100の表面110の大きな視点からの検査(例えばグラデーションに関する検査)に向いているマクロ用カメラである。カメラ32は、カメラ31よりも対象物100の表面110の小さな視点からの検査(例えば粒状感に関する検査)に向いているミクロ用カメラである。例えば、図18は、対象画像P11に対応するヒストグラムH11を示し、図19は、対象画像P12に対応するヒストグラムH12を示している。このように、撮像条件が異なれば、当然ながら得られるヒストグラムも異なる。検査部F12は、対象画像P11及び対象画像P12それぞれについて、対象情報を求め、それぞれ対応する基準情報との比較を行う。これによって、対象物100の表面110の状態の検査の精度の向上が図れる。
In a modified example, the obtaining unit F11 may obtain a plurality of target images obtained by imaging the surface of the
一変形例では、検査部F12は、対象物100の表面の状態として、対象物100の表面の凹凸状態の検査を行ってよい。ここで、対象物100の表面の凹凸の特徴は、対象画像P20において、対象物100の表面の鏡面反射部分130によく表れると考えられる(図20参照)。そこで、取得部F11は、対象物100の表面を異なる撮像条件で撮像して得られた複数の対象画像を取得する。撮像条件の例としては、撮像範囲、撮像方向、分解能等が挙げられる。例えば、撮像条件を異ならせるために、撮像システム30は、撮像方向が異なる複数のカメラ33,34を利用してよい(図21参照)。図21では、対象物100の表面110は、照明システム20で照らされている。照明システム20からの光21の一部は、表面110で鏡面反射された光22となり、照明システム20からの光21の残りは、拡散反射される。カメラ33は、対象物100の表面110で拡散反射された光を受ける位置に配置される。カメラ33で生成される対象画像には、対象物100の表面110での拡散反射成分が反映される。カメラ34は、対象物100の表面110で鏡面反射された光を受ける位置に配置される。カメラ34で生成される対象画像には、対象物100の表面110での鏡面反射成分がよく反映される。そして、鏡面反射成分には、拡散反射成分よりも対象物100の表面110の凹凸等の形状がよく反映され、拡散反射成分には、鏡面反射成分よりも対象物100の表面110の色自体がよく反映される。これによって、対象物100の表面110の状態の検査を、対象物100の表面の色自体だけではなく、対象物100の表面の形状を加味して実行でできる。その結果、検査システム1によれば、対象物100の表面の状態の検査の精度を向上できる。なお、撮像方向を異ならせる場合には、同じカメラで異なる位置から対象物100の表面110を撮像してもよい。また、対象物100の表面の凹凸状態をよりよく検査するために、鏡面反射部分130を、マクロ用カメラとミクロ用カメラとで撮像して、対象画像を得てもよい。また、ハイダイナミックレンジ合成(high dynamic range imaging)を利用して得られた対象画像を用いてもよい。ハイダイナミックレンジ合成で得られた対象画像は、通常に比べてより広いダイナミックレンジに対応できるから、拡散反射成分のような光量が比較的少ない成分から、鏡面反射成分のような光量が比較的大きい成分までを一枚の画像で捉えることができる。
In a modified example, the inspection unit F12 may inspect the uneven state of the surface of the
一変形例では、複数の評価値を求める際の区分Diは、必ずしも同じ幅でなくてもよい。例えば、上記実施形態では、図3に示すように、複数の区分D1~D7は同じ幅である。これに対して、複数の区分Diは異なる幅であってもよい。区分Diの幅を狭くすればするほど、評価ベクトルの分解能が向上し、検査の精度の向上が図れる。特に、ヒストグラムのピークに近い区分Diほど幅を小さくするとよい。例えば、図22は、鏡面反射成分を多く含む対象画像から得られたヒストグラムH20を示す。ヒストグラムH20のピークは、明るい側(右側)に偏っている。図22では、ヒストグラムH20に対して複数の区分Di(D21~D30)が設定されている。ここで、複数の区分D21~D30は、この順番に、幅が狭くなっている。このように区分D21~D30の幅を設定することで、これらの区分D21~D30から得られる評価ベクトルにヒストグラムH20の形状がよりよく反映されることになる。そのため、対象物100の表面の状態の検査の精度の向上が図れる。特に、ヒストグラムH20において度数の変化が大きい範囲では、区分の幅を小さくすることで、評価ベクトルにヒストグラムH20の形状をよりよく反映させることが可能となる。逆に言えば、ヒストグラムH20において度数の変化が小さい範囲では、区分の幅を大きくしてもよく、これによって、評価ベクトルのデータ量の削減が図れる。
In a modified example, the divisions Di for obtaining a plurality of evaluation values may not necessarily have the same width. For example, in the above embodiment, as shown in FIG. 3, the multiple segments D1-D7 have the same width. In contrast, the divisions Di may be of different widths. As the width of the division Di is narrowed, the resolution of the evaluation vector is improved, and the accuracy of inspection can be improved. In particular, it is preferable to reduce the width of the section Di closer to the peak of the histogram. For example, FIG. 22 shows a histogram H20 obtained from a target image containing many specular reflection components. The peak of histogram H20 is skewed to the bright side (right side). In FIG. 22, a plurality of divisions Di (D21 to D30) are set for the histogram H20. Here, the widths of the plurality of sections D21 to D30 are narrowed in this order. By setting the widths of the sections D21 to D30 in this manner, the shape of the histogram H20 is better reflected in the evaluation vectors obtained from these sections D21 to D30. Therefore, the accuracy of inspection of the surface state of the
一変形例では、検査部F12は、対象物100の表面の状態として、対象物100の表面の写像性の検査を行ってよい。写像性は、対象物100の表面に写る物体の像(反射像)の鮮明性の指標である。写像性が悪くなると反射像が不鮮明となり、写像性が良くなると反射像が鮮明になる。写像性は、対象物100の表面の粗さ及び形状の影響を受ける。写像性の検査にあたっては、図23に示すように、検査用像200が利用される。検査用像200には、所定のテストパターンが施されたチャートが利用される。検査用像200には、照明システム20から光23を当てて、対象物100の表面110に、検査用像200の反射像210が映るようにする。そして、撮像システム30は、反射像210からの光24を受ける位置に配置される。これによって、撮像システム30は、対象物100の表面110に写る反射像210の画像を撮像して、対象画像として出力する。つまり、写像性の検査にあたっては、対象画像は、対象物100の表面110による検査用像200の反射像の画像である。検査部F12は、このような対象画像から対象情報を生成して、対象情報と対応する基準情報とを比較し、対象物100の表面110の状態(写像性)の検査を行えばよい。なお、チャートの代わりに、所定のテストパターンを表示させた自発光型のディスプレイを利用してもよい。この場合には、テストパターンを対象物100の表面に映すために照明システム20を利用しなくてもよい。
In a modified example, the inspection unit F12 may inspect the image clarity of the surface of the
一変形例では、提示部F13は、検査部F12での検査の結果に基づいて、対象情報と基準情報との差異を視覚的に示す差異情報を提示してよい。図24は、差異情報の一例を示す。図24では、差異情報として、度数分布の代表値の差異を強調して示す。より詳細には、差異情報は、図24に示すように、対象情報から得られる評価ベクトルwT1及び代表値CT1と、基準情報から得られる評価ベクトルwR1及び代表値CR1とを示すグラフである。また、差異情報は、対象情報の代表値CT1の許容範囲の上限値Th1及び下限値Th2を含む。許容範囲は、基準情報から得られる代表値CR1を中心に設定される。図24の差異情報によれば、ユーザは視覚的に、対象情報の代表値CT1が、基準情報の代表値CR1に対して許容範囲にあるかどうかを判断することが可能となる。図25は、差異情報の別の一例を示す。図25では、差異情報として、対象情報と基準情報との評価ベクトルの差異を強調して示す。より詳細には、差異情報は、図25では、対象情報から得られる評価ベクトルwT1と、基準情報から得られる評価ベクトルwR1とを示すグラフである。更に、図25では、対象情報の評価ベクトルwT1と基準情報の評価ベクトルwR1との差異となる領域R11,R12が強調して表示されている。よって、図25の差異情報によれば、ユーザは視覚的に、対象情報の評価ベクトルwT1と基準情報の評価ベクトルwR1との差異を把握することができる。そのため、ユーザは、対象情報の評価ベクトルwT1が基準情報の評価ベクトルwR1に対して許容範囲にあるかどうかを判断することが可能となる。図26は、差異情報の別の一例を示す。図26では、差異情報として、対象情報と基準情報との評価ベクトルの差分のベクトルを示す。より詳細には、図26の差異情報は、図25における対象情報の評価ベクトルwT1と基準情報の評価ベクトルwR1との差異となる領域R11,R12を表示する。よって、図26の差異情報によれば、ユーザは視覚的に、対象情報の評価ベクトルwT1と基準情報の評価ベクトルwR1との差異を把握することができる。そのため、ユーザは、対象情報の評価ベクトルwT1が基準情報の評価ベクトルwR1に対して許容範囲にあるかどうかを判断することが可能となる。 In a modified example, the presentation unit F13 may present difference information that visually indicates the difference between the target information and the reference information based on the inspection result of the inspection unit F12. FIG. 24 shows an example of difference information. FIG. 24 emphasizes the difference in the representative value of the frequency distribution as the difference information. More specifically, as shown in FIG. 24, the difference information is a graph showing the evaluation vector wT1 and representative value CT1 obtained from the target information and the evaluation vector wR1 and representative value CR1 obtained from the reference information. The difference information also includes an upper limit value Th1 and a lower limit value Th2 of the allowable range of the representative value CT1 of the target information. The allowable range is set around the representative value CR1 obtained from the reference information. According to the difference information in FIG. 24, the user can visually determine whether the representative value CT1 of the target information is within the allowable range with respect to the representative value CR1 of the reference information. FIG. 25 shows another example of difference information. FIG. 25 emphasizes the difference in evaluation vector between the target information and the reference information as the difference information. More specifically, in FIG. 25, the difference information is a graph showing the evaluation vector wT1 obtained from the target information and the evaluation vector wR1 obtained from the reference information. Furthermore, in FIG. 25, regions R11 and R12 that are the difference between the evaluation vector wT1 of the target information and the evaluation vector wR1 of the reference information are highlighted. Therefore, according to the difference information in FIG. 25, the user can visually grasp the difference between the evaluation vector wT1 of the target information and the evaluation vector wR1 of the reference information. Therefore, the user can determine whether the evaluation vector wT1 of the target information is within the allowable range with respect to the evaluation vector wR1 of the reference information. FIG. 26 shows another example of difference information. FIG. 26 shows, as the difference information, the vector of the difference between the evaluation vectors of the target information and the reference information. More specifically, the difference information in FIG. 26 displays areas R11 and R12 that are differences between the evaluation vector wT1 of the target information and the evaluation vector wR1 of the reference information in FIG. Therefore, according to the difference information in FIG. 26, the user can visually grasp the difference between the evaluation vector wT1 of the target information and the evaluation vector wR1 of the reference information. Therefore, the user can determine whether the evaluation vector wT1 of the target information is within the allowable range with respect to the evaluation vector wR1 of the reference information.
更に、提示部F13は、検査部F12での検査の結果、対象情報と基準情報との差異を、対象物100の表面に反映した対象物100の画像を提示してもよい。更に、提示部F13は、検査部F12で合格と判定された部分と不合格と判定された部分とを明確に区別する提示を行ってよい。例えば、図27に示す対象物100の画像P30では、対象物100の表面が4つの領域R31,R32,R33,R34に分類されている。4つの領域R31,R32,R33,R34は、この順に、対象情報と基準情報との代表値の差異が大きくなっていることを示している。そして、領域R34は、対象物100の表面において検査部F12で不合格と判定された部分である。このような提示部F13での提示によって、対象画像において不合格と判定された部分(異常がある部分)を分かりやすく提示することが可能である。例えば、図28に示す対象物100の画像P40では、対象物100の表面が4つの領域R41,R42,R43,R44に分類されている。4つの領域R41,R42,R43,R44は、この順に、対象情報と基準情報との評価ベクトルの差異が大きくなっていることを示している。そして、領域R44は、対象物100の表面において検査部F12で不合格と判定された部分である。このような提示部F13での提示によって、対象画像において不合格と判定された部分(異常がある部分)を分かりやすく提示することが可能である。
Further, the presentation unit F13 may present an image of the
一変形例では、入出力部11は、画像表示装置を含んでいてよい。この場合、提示部F13は、入出力部11の画像表示装置に、検査部F12での検査の結果を、表示してよい。また、入出力部11は、音声出力装置を含んでいてよい。この場合、提示部F13は、入出力部11の音声出力装置から、検査部F12での検査の結果を、出力してよい。
In a modified example, the input/
一変形例では、照明システム20が放射する光の波長が変更可能であってよい。これは、発光色の異なる光源、又はカラーフィルタを利用して実現し得る。ようするに、検査システム1においては、照明システム20が放射する光の波長と撮像システム30が検出する光の波長との少なくとも一方は変更可能であってよい。
In one variant, the wavelength of light emitted by
一変形例では、検査システム1(判定システム10)は、複数のコンピュータにより構成されていてもよい。例えば、検査システム1(判定システム10)の機能(特に、取得部F11、検査部F12、提示部F13、及び制御部F14)は、複数の装置に分散されていてもよい。更に、検査システム1(判定システム10)の機能の少なくとも一部が、例えば、クラウド(クラウドコンピューティング)によって実現されていてもよい。 In a modified example, the inspection system 1 (determination system 10) may be configured by a plurality of computers. For example, the functions of the inspection system 1 (determination system 10) (particularly, the acquisition unit F11, the inspection unit F12, the presentation unit F13, and the control unit F14) may be distributed among multiple devices. Furthermore, at least part of the functions of the inspection system 1 (determination system 10) may be realized by, for example, the cloud (cloud computing).
以上述べた検査システム1(判定システム10)の実行主体は、コンピュータシステムを含んでいる。コンピュータシステムは、ハードウェアとしてのプロセッサ及びメモリを有する。コンピュータシステムのメモリに記録されたプログラムをプロセッサが実行することによって、本開示における検査システム1(判定システム10)の実行主体としての機能が実現される。プログラムは、コンピュータシステムのメモリに予め記録されていてもよいが、電気通信回線を通じて提供されてもよい。また、プログラムは、コンピュータシステムで読み取り可能なメモリカード、光学ディスク、ハードディスクドライブ等の非一時的な記録媒体に記録されて提供されてもよい。コンピュータシステムのプロセッサは、半導体集積回路(IC)又は大規模集積回路(LSI)を含む1乃至複数の電子回路で構成される。LSIの製造後にプログラムされる、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FGPA)、ASIC(application specific integrated circuit)、又はLSI内部の接合関係の再構成又はLSI内部の回路区画のセットアップができる再構成可能な論理デバイスも同じ目的で使うことができる。複数の電子回路は、1つのチップに集約されていてもよいし、複数のチップに分散して設けられていてもよい。複数のチップは、1つの装置に集約されていてもよいし、複数の装置に分散して設けられていてもよい。 The executing subject of the inspection system 1 (determination system 10) described above includes a computer system. A computer system has a processor and memory as hardware. A processor executes a program recorded in the memory of the computer system, thereby realizing the function of the inspection system 1 (determination system 10) in the present disclosure as an execution entity. The program may be prerecorded in the memory of the computer system, or may be provided through an electric communication line. Also, the program may be provided by being recorded on a non-temporary recording medium such as a computer system-readable memory card, optical disk, hard disk drive, or the like. A processor in a computer system consists of one or more electronic circuits including semiconductor integrated circuits (ICs) or large scale integrated circuits (LSIs). A field programmable gate array (FGPA), an ASIC (application specific integrated circuit), or a reconfigurable field programmable gate array (FGPA) or ASIC (application specific integrated circuit), which can be programmed after the LSI is manufactured, or which can reconfigure junction relationships inside the LSI or set up circuit partitions inside the LSI. Logical devices can also be used for the same purpose. A plurality of electronic circuits may be integrated into one chip, or may be distributed over a plurality of chips. A plurality of chips may be integrated in one device, or may be distributed in a plurality of devices.
(3)態様
上記実施形態及び変形例から明らかなように、本開示は、下記の態様を含む。以下では、実施形態との対応関係を明示するためだけに、符号を括弧付きで付している。
(3) Aspects As is clear from the above embodiments and modifications, the present disclosure includes the following aspects. In the following, reference numerals are attached with parentheses only for the purpose of clarifying correspondence with the embodiments.
第1の態様は、検査方法であって、取得ステップ(S11)と、検査ステップ(S12)とを含む。前記取得ステップ(S11)は、対象物(100)の表面に関する対象画像を取得するステップである。前記検査ステップ(S12)は、前記対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、前記対象物(100)の表面の状態の検査をするステップである。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A first aspect is an inspection method including an acquisition step (S11) and an inspection step (S12). The acquisition step (S11) is a step of acquiring a target image of the surface of the target object (100). The inspecting step (S12) inspects the state of the surface of the object (100) based on object information including shape information representing the shape of the frequency distribution of parameters based on pixel values obtained from the object image. It is a step to According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第2の態様は、第1の態様に基づく検査方法である。第2の態様では、前記形状情報は、前記度数分布の形状の特徴を表す特徴量を含む。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A second aspect is an inspection method based on the first aspect. In a second aspect, the shape information includes a feature quantity representing a shape feature of the frequency distribution. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第3の態様は、第2の態様に基づく検査方法である。第3の態様では、前記特徴量は、前記度数分布の形状の前記パラメータの複数の区分(Di)それぞれの面積(Si)に基づく複数の評価値を含む。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A third aspect is an inspection method based on the second aspect. In a third aspect, the feature quantity includes a plurality of evaluation values based on areas (Si) of a plurality of divisions (Di) of the parameter of the shape of the frequency distribution. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第4の態様は、第3の態様に基づく検査方法である。第4の態様では、前記検査方法は、前記複数の評価値に対して個々に加重値が設定される。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A fourth aspect is an inspection method based on the third aspect. In a fourth aspect, in the inspection method, weight values are individually set for the plurality of evaluation values. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第5の態様は、第2の態様に基づく検査方法である。第5の態様では、前記特徴量は、前記度数分布の代表値を含む。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A fifth aspect is an inspection method based on the second aspect. In a fifth aspect, the feature quantity includes a representative value of the frequency distribution. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第6の態様は、第5の態様に基づく検査方法である。第6の態様では、前記代表値は、前記度数分布の形状の全体に対する前記度数分布の形状の前記パラメータの複数の区分(Di)それぞれの比率(wi)と、前記複数の区分(Di)に対応するパラメータの値(Li)から求まる値である。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A sixth aspect is an inspection method based on the fifth aspect. In the sixth aspect, the representative value is the ratio (wi) of each of the plurality of divisions (Di) of the parameter of the shape of the frequency distribution to the entire shape of the frequency distribution, and the plurality of divisions (Di) It is a value obtained from the value (Li) of the corresponding parameter. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第7の態様は、第1~第6の態様のいずれか一つに基づく検査方法である。第7の態様では、前記パラメータは、色に関するパラメータである。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態として、色の検査の精度を向上できる。 A seventh aspect is an inspection method based on any one of the first to sixth aspects. In a seventh aspect, the parameter is a color parameter. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of the color inspection as the state of the surface of the object (100).
第8の態様は、第1~第7の態様のいずれか一つに基づく検査方法である。第8の態様では、前記対象情報は、複数の前記パラメータそれぞれに関する形状情報を含む。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 An eighth aspect is an inspection method based on any one of the first to seventh aspects. In an eighth aspect, the target information includes shape information regarding each of the plurality of parameters. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第9の態様は、第8の態様に基づく検査方法である。第9の態様では、前記複数のパラメータに対して個々に加重値が設定される。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A ninth aspect is an inspection method based on the eighth aspect. In the ninth aspect, weight values are individually set for the plurality of parameters. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第10の態様は、第8又は第9の態様に基づく検査方法である。第10の態様では、前記複数のパラメータは、第1パラメータと第2パラメータとを含む。前記検査ステップ(S12)は、前記第1パラメータが所定条件を満たす場合には、前記第2パラメータに関する形状情報を検査に利用しない。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A tenth aspect is an inspection method based on the eighth or ninth aspect. In a tenth aspect, the plurality of parameters includes a first parameter and a second parameter. The inspection step (S12) does not use the shape information related to the second parameter for inspection when the first parameter satisfies a predetermined condition. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第11の態様は、第10の態様に基づく検査方法である。第11の態様では、前記第1パラメータは、彩度である。前記第2パラメータは、色相である。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 An eleventh aspect is an inspection method based on the tenth aspect. In an eleventh aspect, the first parameter is saturation. The second parameter is hue. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第12の態様は、第1~第11の態様のいずれか一つに基づく検査方法である。第12の態様では、前記検査ステップ(S12)は、前記対象情報と、前記対象物(100)の基準となる基準物の表面に関する基準画像から得られる前記形状情報を含む基準情報との比較をする。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A twelfth aspect is an inspection method based on any one of the first to eleventh aspects. In the twelfth aspect, the inspection step (S12) compares the target information with reference information including the shape information obtained from a reference image regarding the surface of a reference object serving as a reference of the target object (100). do. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第13の態様は、第1~第12の態様のいずれか一つに基づく検査方法である。第13の態様では、前記対象情報は、前記対象画像から得られる偏差画像から得られる。前記偏差画像は、前記対象画像の画素値から前記対象画像の画素値の基準値を引いた値を画素値として有する画像である。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態として、質感(テクスチャ)の検査が可能となる。 A thirteenth aspect is an inspection method based on any one of the first to twelfth aspects. In a thirteenth aspect, the target information is obtained from a deviation image obtained from the target image. The deviation image is an image having, as a pixel value, a value obtained by subtracting a reference value of the pixel value of the target image from the pixel value of the target image. According to this aspect, it is possible to inspect the texture as the condition of the surface of the object (100).
第14の態様は、第1~第13の態様のいずれか一つに基づく検査方法である。第14の態様では、前記取得ステップ(S11)は、前記対象物(100)の表面を異なる撮像条件で撮像して得られた複数の前記対象画像を取得する。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A fourteenth aspect is an inspection method based on any one of the first to thirteenth aspects. In the fourteenth aspect, the acquisition step (S11) acquires a plurality of target images obtained by imaging the surface of the target object (100) under different imaging conditions. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第15の態様は、第1~第14の態様のいずれか一つに基づく検査方法である。第15の態様では、前記対象画像は、前記対象物(100)の表面による検査用像(200)の反射像(210)の画像である。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態として、写像性の検査が可能となる。 A fifteenth aspect is an inspection method based on any one of the first to fourteenth aspects. In a fifteenth aspect, the target image is an image of a reflection image (210) of an inspection image (200) from the surface of the target object (100). According to this aspect, it is possible to inspect the image clarity as the condition of the surface of the object (100).
第16の態様は、第1~第15の態様のいずれか一つに基づく検査方法である。第16の態様では、前記検査方法は、前記検査ステップ(S12)での検査の結果に基づく提示を行う提示ステップ(S13)を更に含む。この態様によれば、対象物(100)の検査の結果を提示できる。 A sixteenth aspect is an inspection method based on any one of the first to fifteenth aspects. In the sixteenth aspect, the inspection method further includes a presentation step (S13) of performing presentation based on the inspection result of the inspection step (S12). According to this aspect, the result of inspection of the object (100) can be presented.
第17の態様は、第1~第16の態様のいずれか一つに基づく検査方法である。第17の態様では、前記検査方法は、前記対象物(100)の表面を塗装する塗装システム(40)に、前記検査ステップ(S12)での検査の結果に基づく制御情報を出力する制御ステップ(S14)を更に含む。この態様によれば、対象物(100)の表面の塗装の品質の向上が図れる。 A seventeenth aspect is an inspection method based on any one of the first to sixteenth aspects. In the seventeenth aspect, the inspection method includes a control step ( S14) is further included. According to this aspect, the quality of the coating on the surface of the object (100) can be improved.
第18の態様は、第1~第17の態様のいずれか一つに基づく検査方法である。第18の態様では、前記度数分布の形状は、ヒストグラムの形状である。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 An eighteenth aspect is an inspection method based on any one of the first to seventeenth aspects. In an eighteenth aspect, the shape of the frequency distribution is the shape of a histogram. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第19の態様は、プログラムであって、1以上のプロセッサに、第1~第18の態様のいずれか一つの検査方法を実行させるための、プログラムである。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A nineteenth aspect is a program for causing one or more processors to execute the inspection method according to any one of the first to eighteenth aspects. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
第20の態様は、検査システム(1)であって、取得部(F11)と、検査部(F12)とを備える。前記取得部(F11)は、対象物(100)の表面の対象画像を取得する。前記検査部(F12)は、前記対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、前記対象物(100)の表面の状態の検査をする。この態様によれば、対象物(100)の表面の状態の検査の精度を向上できる。 A twentieth aspect is an inspection system (1) comprising an acquisition unit (F11) and an inspection unit (F12). The acquisition unit (F11) acquires a target image of the surface of the target object (100). The inspection unit (F12) inspects the state of the surface of the object (100) based on object information including shape information representing the shape of the frequency distribution of parameters based on pixel values obtained from the object image. do. According to this aspect, it is possible to improve the accuracy of inspection of the state of the surface of the object (100).
なお、第2~第18の態様は、第19及び第20の態様にも適宜変更して適用することが可能である。 The second to eighteenth aspects can be applied to the nineteenth and twentieth aspects with appropriate modifications.
1 検査システム
F11 取得部
F12 検査部
100 対象物
200 検査用像
210 反射像
S11 取得ステップ
S12 検査ステップ
S13 提示ステップ
S14 制御ステップ
1 inspection system F11 acquisition unit
Claims (20)
前記対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、前記対象物の表面の状態の検査をする検査ステップと、
を含む、
検査方法。 an acquisition step of acquiring an image of the object of the surface of the object;
an inspection step of inspecting the state of the surface of the object based on object information including shape information representing the shape of the frequency distribution of parameters based on pixel values obtained from the object image;
including,
Inspection method.
請求項1の検査方法。 The shape information includes a feature quantity representing the shape of the frequency distribution,
The inspection method according to claim 1.
請求項2の検査方法。 The feature amount includes a plurality of evaluation values based on the area of each of the plurality of sections of the parameter of the shape of the frequency distribution,
The inspection method according to claim 2.
請求項3の検査方法。 weighting values are individually set for the plurality of evaluation values;
The inspection method according to claim 3.
請求項2の検査方法。 The feature amount includes a representative value of the frequency distribution,
The inspection method according to claim 2.
請求項5の検査方法。 The representative value is a value obtained from the ratio of each of the plurality of sections of the parameter of the shape of the frequency distribution to the entire shape of the frequency distribution and the value of the parameter corresponding to the plurality of sections.
The inspection method according to claim 5.
請求項1~6のいずれか一つの検査方法。 the parameter is a color parameter,
The inspection method according to any one of claims 1 to 6.
請求項1~7のいずれか一つの検査方法。 The target information includes shape information about each of the plurality of parameters,
The inspection method according to any one of claims 1 to 7.
請求項8の検査方法。 Weight values are individually set for the plurality of parameters,
The inspection method according to claim 8.
前記検査ステップは、前記第1パラメータが所定条件を満たす場合には、前記第2パラメータに関する形状情報を検査に利用しない、
請求項8又は9の検査方法。 The plurality of parameters includes a first parameter and a second parameter,
In the inspection step, if the first parameter satisfies a predetermined condition, the shape information regarding the second parameter is not used for inspection.
The inspection method according to claim 8 or 9.
前記第2パラメータは、色相である、
請求項10の検査方法。 the first parameter is saturation,
wherein the second parameter is hue;
The inspection method according to claim 10.
請求項1~11のいずれか一つの検査方法。 The inspection step compares the target information with reference information including the shape information obtained from a reference image regarding the surface of a reference object serving as a reference of the target.
The inspection method according to any one of claims 1 to 11.
前記偏差画像は、前記対象画像の画素値から前記対象画像の画素値の基準値を引いた値を画素値として有する画像である、
請求項1~12のいずれか一つの検査方法。 The target information is obtained from a deviation image obtained from the target image,
The deviation image is an image having, as a pixel value, a value obtained by subtracting a reference value of the pixel value of the target image from the pixel value of the target image.
The inspection method according to any one of claims 1 to 12.
請求項1~13のいずれか一つの検査方法。 The acquisition step acquires a plurality of target images obtained by imaging the surface of the target under different imaging conditions.
The inspection method according to any one of claims 1 to 13.
請求項1~14のいずれか一つの検査方法。 The target image is an image of a reflected image of an inspection image from the surface of the target,
The inspection method according to any one of claims 1 to 14.
請求項1~15のいずれか一つの検査方法。 further comprising a presentation step of presenting based on the results of the inspection in the inspection step;
The inspection method according to any one of claims 1 to 15.
請求項1~16のいずれか一つの検査方法。 Further comprising a control step of outputting control information based on the result of the inspection in the inspection step to a painting system that paints the surface of the object,
The inspection method according to any one of claims 1 to 16.
請求項1~17のいずれか一つの検査方法。 The shape of the frequency distribution is the shape of a histogram,
The inspection method according to any one of claims 1 to 17.
プログラム。 for causing one or more processors to execute the inspection method according to any one of claims 1 to 18,
program.
前記対象画像から得られる、画素値に基づくパラメータの度数分布の形状を表す形状情報を含む対象情報に基づいて、前記対象物の表面の状態の検査をする検査部と、
を備える、
検査システム。 an acquisition unit that acquires a target image of a surface of an object;
an inspection unit that inspects the state of the surface of the object based on object information including shape information representing the shape of the frequency distribution of parameters based on pixel values obtained from the object image;
comprising
inspection system.
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