JP2022502853A - エネルギー貯蔵装置用の基板を処理する方法 - Google Patents
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Abstract
Description
エネルギー貯蔵装置用の基板を処理する方法であって、
移動する基板を搬送するように構成されたドラムを提供するステップであって、該ドラムは、電磁荷電を有するステップと、
移動される基板を提供するステップと、
ドラムの円周の周りに複数の硬化(curing)ステーションを設けるステップと、を含み、
各硬化ステーションにおいては、
移動する基板の表面に前駆体を堆積させるステップと、
プラズマを生成するステップと、
移動する基板の表面にプラズマを向けて、実質的に基板の温度を上げることなく前駆体を反応させ、基板上に材料層を形成するステップと、が実行される、方法。
エネルギー貯蔵装置用の基板を処理する方法であって、
移動する基板を搬送するように構成されたドラムを提供するステップであって、該ドラムは、電磁荷電を有するステップと、
移動される基板を提供するステップと、
材料コーティングの気化した前駆体を提供するステップと、
ドラムの円周の周りに互いに間隔を置いて配置された複数の硬化ステーションを提供するステップと、を含み、
各硬化ステーションにおいては、
反応性ガスを含むプラズマを生成するステップが実行され、
プラズマは、ドラムの電磁荷電によって空間的に画定され、
各硬化ステーションにおいてはさらに、
気化した前駆体をプラズマと混合するステップが実行され、
前駆体はプラズマによって解離され、解離した前駆体を反応性ガスと反応させて、実質的に基板の温度を上昇させることなく、材料層として基板上に堆積させて材料コーティングを形成する、
方法。
各硬化ステーションは、
複数の溝のうち、少なくとも1つの溝に前駆体を堆積させるステップと、
プラズマを生成するステップと、
プラズマを少なくとも1つの溝に向けて、溝内の前駆体を反応させ、溝内に材料層を形成するステップと、を実行する。
このようにして、本処理は、基板上の溝内に多層の材料を提供するために使用することができる。
各硬化ステーションは、
反応性ガスを含むプラズマを生成するステップと、
プラズマと気化した前駆体を混合して前駆体を解離させ、解離した前駆体を反応性ガスと反応させて材料コーティングを形成するステップと、
プラズマを少なくとも1つの溝に向けて、材料コーティングを堆積させ、溝内に材料層を形成するステップと、を実行する。
このようにして、本処理は、基板上の溝内に多層の材料を提供するために使用することができる。
複数の溝であって、各溝は、第一の面および第二の面を有し、第一の面および第二の面は、それぞれ、非絶縁性材料のコーティングを有する、複数の溝と、
複数の溝の各溝内の複数の材料層であって、各材料層は、各溝に前駆体を堆積させ、該前駆体をプラズマと反応させることによって形成されている、材料層と、を含む。
このようにして、基板は、堆積された前駆体を受け取るための増大した表面積と、前駆体をプラズマと反応させるためのより大きな表面積を有する。
複数の溝であって、各溝は、第一の面および第二の面を有し、第一の面および第二の面は、それぞれ、非絶縁性材料のコーティングを有する、複数の溝と、
複数の溝の各溝内の複数の材料層であって、各材料層は、気化した前駆体を生成することによって形成される、複数の材料層と、
反応性ガスを含むプラズマを生成するステップと、
気化した前駆体をプラズマと混合して、前駆体をプラズマで解離させ、解離した前駆体を反応性ガスと反応させて材料コーティングを形成し、これを材料層として基板上の各溝に堆積させるステップと、を含む。
Claims (36)
- エネルギー貯蔵装置用の基板を処理する方法であって、
移動する基板を搬送するように構成されたドラムを提供するステップであって、前記ドラムが、電磁荷電を有し、移動される基板を提供する、ステップと、
前記ドラムの円周の周りに位置する複数の硬化ステーションを設けるステップと、を含み、
各硬化ステーションにおいては、
前記移動する基板の表面に前駆体を堆積させるステップと、
プラズマを生成するステップと、
前記移動する基板の表面にプラズマを向けて、実質的に前記基板の温度を上げることなく前記前駆体を反応させ、前記基板上に材料層を形成するステップと、が実行される、方法。 - エネルギー貯蔵デバイス用の基板を処理する方法であって、
移動する基板を搬送するように構成されたドラムを提供するステップであって、前記ドラムは、電磁荷電を有するステップと、
前記移動される基板を提供するステップと、
材料コーティングの気化した前駆体を提供するステップと、
チャンバ内で、前記ドラムの円周の周りに互いに間隔を置いて配置された複数の硬化ステーションを提供するステップと、を含み、
各硬化ステーションにおいては、
反応性ガスを含み、前記ドラムの前記電磁荷電によって空間的に画定されるプラズマを生成するステップと、
前記気化した前駆体を前記プラズマと混合するステップと、が実行され、
前記前駆体は前記プラズマによって解離され、解離した前記前駆体を前記反応性ガスと反応させて、実質的に前記基板の温度を上昇させることなく、材料層として前記基板上に堆積させて材料コーティングを形成する、
方法。 - 前記材料層が絶縁材料を含む、
請求項1または2に記載の方法。 - 前記移動される基板が、複数の溝を含み、
各溝は第一の面と第二の面を有し、前記第一の面と第二の面はそれぞれ非絶縁性材料のコーティングを有する、
請求項1〜3のいずれか1つに記載の方法。 - 前記ドラムの円周の周りに位置する複数の硬化ステーションを提供するステップを含み、
各硬化ステーションは、
前記複数の溝のうち、少なくとも1つの溝に前駆体を堆積させるステップと、
プラズマを生成するステップと、
前記プラズマを前記少なくとも1つの溝に向けて、前記溝内の前記前駆体を反応させ、前記溝内に材料層を形成するステップと、を実行する、
請求項1に従属するときの請求項4に記載の方法。 - 前記ドラムの円周の周りに位置する複数の硬化ステーションを提供するステップを含み、
各硬化ステーションは、
反応性ガスを含むプラズマを生成するステップと、
前記プラズマと前記気化した前駆体を混合して前記前駆体を解離させ、解離した前記前駆体を前記反応性ガスと反応させて材料コーティングを形成するステップと、
前記プラズマを前記少なくとも1つの溝に向けて、前記材料コーティングを堆積させ、前記溝内に材料層を形成するステップと、を実行する、
請求項2に従属するときの請求項4に記載の方法。 - 前記複数の硬化ステーションは、同じ前駆体を堆積または生成するように構成されている、
請求項1〜6のいずれか1つに記載の方法。 - 前記複数の硬化ステーションは、少なくとも2つの異なる前駆体を堆積または生成するように構成されている、
請求項1〜6のいずれか1つに記載の方法。 - 前記複数の硬化ステーションは、前記少なくとも2つの異なる前駆体が前記少なくとも1つの溝内に交互に続いて堆積されるように提供される、
請求項8に記載の方法。 - 前記非絶縁性材料は、導体材料である、
請求項4〜9のいずれか1つに記載の方法。 - 前記前駆体は、前記移動する基板の表面に堆積する前に気化する、
請求項1〜10のいずれか1つに記載の方法。 - 各材料層は、各溝の前記第一の面と第二の面の間で連続している、
請求項4〜11のいずれか1つに記載の方法。 - 前記第一の面の非絶縁性材料と前記第二の面の非絶縁性材料は、電気的に互いに分離されている、
請求項4〜12のいずれか1つに記載の方法。 - 前記ドラムは冷却剤によって冷却される、
請求項1〜13のいずれか1つに記載の方法。 - 前記前駆体は金属有機前駆体である、
請求項1〜14のいずれか1つに記載の方法。 - 前記金属有機前駆体は、チタン(IV)イソプロポキシド、チタン(IV)エトキシド、塩化チタン(IV)、タンタル(V)エトキシド、塩化タンタル(V)、ニオブ(V)エトキシド、塩化ニオブ(V)、η5-シクロペンタジエニル-テトラカルボニルニオブ、ビスディピバロイルメタン酸バリウム、およびバリウムヘキサフルオロアセチルアセトナートペンタエチレングリコールエチルブチルエーテルのうちの、1つまたは複数である、請求項15に記載の方法。
- 前記前駆体は、酸化チタン、酸化タンタル、酸化ニオブ、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、およびチタン酸カルシウム銅、のうちの1つ以上の前駆体を含む、
請求項1〜16のいずれか1つに記載の方法。 - 請求項1〜17のいずれか1つに記載の方法によって処理された、エネルギー貯蔵デバイス用基板。
- 複数の溝であって、各溝は、第一の面および第二の面を有し、前記第一の面および前記第二の面は、それぞれ、非絶縁性材料のコーティングを有する、複数の溝と、
前記複数の溝の各溝内の複数の材料層であって、各材料層は、各溝に前駆体を堆積させ、前記前駆体をプラズマと反応させることによって形成されている、複数の材料層と、を含む、
請求項18に記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 複数の溝であって、各溝は、第一の面および第二の面を有し、前記第一の面および前記第二の面は、それぞれ、非絶縁性材料のコーティングを有する、複数の溝と、
前記複数の溝の各溝内の複数の材料層と、を含み、
各材料層は、
気化した前駆体を生成するステップと、
反応性ガスを含むプラズマを生成するステップと、
前記気化した前駆体を前記プラズマと混合するステップと、によって形成され、
前記前駆体をプラズマで解離させ、解離した前記前駆体を前記反応性ガスと反応させて材料コーティングを形成し、これを材料層として基板上の各溝に堆積させる、
請求項18に記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記複数の材料層は、絶縁材料層を含む、
請求項19または20に記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記複数の材料層のそれぞれは、同じ材料を含む、
請求項19〜21のいずれか1つに記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記複数の材料層は、少なくとも2つの異なる材料の層を含む、
請求項19〜21のいずれか1つに記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記異なる材料の少なくとも2つの層において、少なくとも1つの層が絶縁材料を含み、少なくとも1つの層が導体材料を含む、
請求項23に記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記少なくとも2つの異なる材料層が交互に続いて配置されている、
請求項23または24に記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記複数の材料層のうちの少なくとも1つの材料層が、誘電率が10以上のコンデンサ材料を含む、
請求項19〜25のいずれか1つに記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記複数の材料層のうちの少なくとも1つの材料層が、ポリマ材料を含む、
請求項19〜26のいずれか1つに記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記ポリマ材料はコンジュゲートされている、
請求項27に記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記複数の材料層のうちの少なくとも1つの層が導電材料を含む、
請求項19〜28のいずれか1つに記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 前記複数の材料層のうちの少なくとも1つの材料層が放射線硬化性バインダを含む、
請求項19〜29のいずれか1つに記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 各材料層は、5nm〜300nmの厚さを有し、100nmの厚さが好ましい、
請求項18〜30のいずれか1つに記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 各溝に少なくとも2つの絶縁材料層を含む、
請求項18〜31のいずれか1つに記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 少なくとも2つの絶縁体層と、前記絶縁体層の間に配置された導電体層とを含む、
請求項32に記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板。 - 複数の溝を含み、
各溝は、第一の面および第二の面を有し、前記第一の面および前記第二の面は、それぞれ、非絶縁性材料のコーティングを有し、
各溝は、複数の材料層を有し、
各材料層は、前記材料層の前駆体を各溝内に堆積させ、前記前駆体をプラズマと反応させることによって形成される、
エネルギー貯蔵基板。 - 平面型基板であり、複数の材料層を含み、
各材料層は、前記材料層の前駆体を堆積させ、前記前駆体をプラズマと反応させることによって形成される、
エネルギー貯蔵基板。 - 請求項18〜33のいずれか1つに記載のエネルギー貯蔵デバイス用基板を含む、
請求項34または35に記載の、
エネルギー貯蔵基板。
Applications Claiming Priority (3)
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GBGB1815842.8A GB201815842D0 (en) | 2018-09-28 | 2018-09-28 | Method of processing substrate for an energy storage device |
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PCT/GB2019/052730 WO2020065334A1 (en) | 2018-09-28 | 2019-09-27 | Method of processing substrate for an energy storage device |
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Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57114663A (en) * | 1980-08-08 | 1982-07-16 | Battelle Development Corp | Cylindrical magnetron sputtering cathode and sputtering apparatus equipped therewith |
JPS6372107A (ja) * | 1983-12-19 | 1988-04-01 | スペクトラム コントロール インコーポレーテッド | コンデンサを製造するための製造装置 |
JPH02157123A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チタン酸バリウム薄膜の製造方法 |
JPH07502074A (ja) * | 1991-09-27 | 1995-03-02 | ヴァルメット ジェネラル リミテッド | 迅速プラズマ処理装置及び方法 |
JPH11116124A (ja) * | 1997-10-14 | 1999-04-27 | Minolta Co Ltd | カール押さえ装置、及びそれを備えた用紙収容装置 |
US20130058007A1 (en) * | 2006-06-29 | 2013-03-07 | Hynix Semiconductor Inc. | Method for forming a capacitor dielectric and method for manufacturing a capacitor using the capacitor dielectric |
JP2014503988A (ja) * | 2010-11-02 | 2014-02-13 | ナショナル セミコンダクター コーポレーション | 半導体キャパシタ |
US20150084157A1 (en) * | 2013-09-26 | 2015-03-26 | Infineon Technologies Ag | Electronic structure, a battery structure, and a method for manufacturing an electronic structure |
KR20150033858A (ko) * | 2013-09-25 | 2015-04-02 | (주)화인솔루션 | 가요성 피처리물 증착 장치 |
US20150371834A1 (en) * | 2013-02-01 | 2015-12-24 | Camvac Limited | Apparatus and Methods for Defining a Plasma |
WO2018069682A1 (en) * | 2016-10-11 | 2018-04-19 | Big Solar Limited | Energy storage |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100464855B1 (ko) * | 2002-07-26 | 2005-01-06 | 삼성전자주식회사 | 박막 형성 방법과, 이를 이용한 커패시터 형성 방법 및트랜지스터 형성 방법 |
JP5486249B2 (ja) * | 2009-09-11 | 2014-05-07 | 富士フイルム株式会社 | 成膜方法 |
CN102598158B (zh) * | 2009-10-30 | 2016-11-02 | 住友化学株式会社 | 层叠膜的制造方法 |
GB2567029B (en) * | 2017-09-29 | 2020-08-05 | Camvac Ltd | Apparatus and method for processing, coating or curing a substrate |
GB2562128B (en) * | 2017-09-29 | 2020-08-05 | Camvac Ltd | Apparatus and Method for Processing, Coating or Curing a Substrate |
-
2018
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Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57114663A (en) * | 1980-08-08 | 1982-07-16 | Battelle Development Corp | Cylindrical magnetron sputtering cathode and sputtering apparatus equipped therewith |
JPS6372107A (ja) * | 1983-12-19 | 1988-04-01 | スペクトラム コントロール インコーポレーテッド | コンデンサを製造するための製造装置 |
JPH02157123A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チタン酸バリウム薄膜の製造方法 |
JPH07502074A (ja) * | 1991-09-27 | 1995-03-02 | ヴァルメット ジェネラル リミテッド | 迅速プラズマ処理装置及び方法 |
JPH11116124A (ja) * | 1997-10-14 | 1999-04-27 | Minolta Co Ltd | カール押さえ装置、及びそれを備えた用紙収容装置 |
US20130058007A1 (en) * | 2006-06-29 | 2013-03-07 | Hynix Semiconductor Inc. | Method for forming a capacitor dielectric and method for manufacturing a capacitor using the capacitor dielectric |
JP2014503988A (ja) * | 2010-11-02 | 2014-02-13 | ナショナル セミコンダクター コーポレーション | 半導体キャパシタ |
US20150371834A1 (en) * | 2013-02-01 | 2015-12-24 | Camvac Limited | Apparatus and Methods for Defining a Plasma |
KR20150033858A (ko) * | 2013-09-25 | 2015-04-02 | (주)화인솔루션 | 가요성 피처리물 증착 장치 |
US20150084157A1 (en) * | 2013-09-26 | 2015-03-26 | Infineon Technologies Ag | Electronic structure, a battery structure, and a method for manufacturing an electronic structure |
WO2018069682A1 (en) * | 2016-10-11 | 2018-04-19 | Big Solar Limited | Energy storage |
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