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JP2022148864A - magnetic sensor - Google Patents

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JP2022148864A
JP2022148864A JP2021050700A JP2021050700A JP2022148864A JP 2022148864 A JP2022148864 A JP 2022148864A JP 2021050700 A JP2021050700 A JP 2021050700A JP 2021050700 A JP2021050700 A JP 2021050700A JP 2022148864 A JP2022148864 A JP 2022148864A
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JP
Japan
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magnetic sensor
magnetic
terminal portion
sensing circuit
wiring
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Pending
Application number
JP2021050700A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
功 河邊
Isao Kawabe
浩幸 冨田
Hiroyuki Tomita
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Resonac Holdings Corp
Original Assignee
Showa Denko KK
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Publication date
Application filed by Showa Denko KK filed Critical Showa Denko KK
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Priority to US17/691,504 priority patent/US11719768B2/en
Priority to DE102022106002.0A priority patent/DE102022106002A1/en
Priority to CN202210250728.4A priority patent/CN115128521A/en
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Abstract

To enhance sensitivity of a magnetic sensor having a sensing unit configured to sense magnetic fields by means of the magnetic impedance effect.SOLUTION: A magnetic sensor 10 is provided, comprising: a nonmagnetic substrate 11; a sensing circuit 12 provided on a surface of the substrate 11, the sensing circuit comprising a sensing unit 121 configured to sense magnetic fields by means of the magnetic impedance effect; a terminal 13a and a terminal 13b connected to respective ends of the sensing circuit 12, and a conductive return member having one end connected to the terminal 13a to return toward the terminal 13b.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、磁気センサに関する。 The present invention relates to magnetic sensors.

公報記載の従来技術として、非磁性体からなる基板と、該基板上に形成され、その長手方向両端に電極が設けられた薄膜磁気コアとからなる磁気インピーダンス素子において、前記薄膜磁気コアは少なくとも2個以上、並列配置されてなり、かつ、前記それぞれの薄膜磁気コアは互いに電気的に直列接続されていることを特徴とする磁気インピーダンス素子が存在する(特許文献1参照)。 As a prior art disclosed in the publication, a magneto-impedance element comprising a substrate made of a non-magnetic material and a thin-film magnetic core formed on the substrate and provided with electrodes at both ends in the longitudinal direction, the thin-film magnetic core has at least two magnetic cores. There is a magneto-impedance element characterized in that more than one magnetic core is arranged in parallel and the respective thin-film magnetic cores are electrically connected in series (see Patent Document 1).

特開2000-292506号公報JP-A-2000-292506

磁気インピーダンス効果によって磁界を感受する感受部を用いた磁気センサでは、インピーダンスの変化が検出部で検出され、磁界の強度に変換される。しかし、磁気センサと検出部とを接続する配線もインピーダンスを有するため、配線の有するインピーダンスが大きいと、磁界によるインピーダンスの変化率が小さくなり、感度を低下させてしまう。
本発明は、磁気インピーダンス効果によって磁界を感受する感受部を用いた磁気センサにおいて、感度を向上させることを目的とする。
In a magnetic sensor using a sensing portion that senses a magnetic field by the magneto-impedance effect, a change in impedance is detected by a detecting portion and converted into magnetic field strength. However, since the wiring that connects the magnetic sensor and the detection unit also has impedance, if the impedance of the wiring is high, the rate of change in impedance due to the magnetic field will be small, resulting in a decrease in sensitivity.
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to improve the sensitivity of a magnetic sensor using a sensing portion that senses a magnetic field by the magneto-impedance effect.

本発明が適用される磁気センサは、非磁性の基板と、基板の表面に設けられ、磁気インピーダンス効果により磁界を感受する感受部を含む感受回路と、感受回路の両端部にそれぞれが接続された第1の端子部と第2の端子部と、一端部が第1の端子部に接続されて第2の端子部側に向けて折り返す、導電性の折返し部材と、を備える。
このような磁気センサにおいて、折返し部材は、非磁性の金属で構成された配線であることを特徴とすることができる。
そして、第2の端子部に隣接して設けられた第3の端子部を備え、折返し部材の他端部は、第3の端子部に接続されていることを特徴とすることができる。
さらに、第2の端子部と第3の端子部との中心間の距離は、第1の端子部と第2の端子部との中心間の距離に比べて、小さいことを特徴とすることができる。
A magnetic sensor to which the present invention is applied comprises a non-magnetic substrate, a sensing circuit provided on the surface of the substrate and including a sensing portion that senses a magnetic field by the magneto-impedance effect, and both ends of the sensing circuit are connected to each other. A first terminal portion, a second terminal portion, and a conductive folded member having one end connected to the first terminal portion and folded back toward the second terminal portion.
In such a magnetic sensor, the folded member may be wiring made of non-magnetic metal.
A third terminal portion is provided adjacent to the second terminal portion, and the other end portion of the folded member is connected to the third terminal portion.
Further, the center-to-center distance between the second terminal portion and the third terminal portion may be smaller than the center-to-center distance between the first terminal portion and the second terminal portion. can.

このような磁気センサにおいて、折返し部材は、基板の表面側又は裏面側に設けられていることを特徴とすることができる。
そして、折返し部材は、第1の端子部から、第2の端子部側に向かって直線状に設けられていることを特徴とすることができる。
また、折返し部材は、感受回路の中央部において、平面視において感受回路を横切る部分を備えることを特徴とすることができる。
そしてまた、折返し部材は、M字状であって、平面視において感受回路と少なくとも一部が重なるように設けられていることを特徴とすることができる。
さらにまた、折返し部材は、感受回路に沿って設けられていることを特徴とすることができる。
In such a magnetic sensor, the folding member may be provided on the front surface side or the rear surface side of the substrate.
Further, the folded member can be characterized in that it is linearly provided from the first terminal portion toward the second terminal portion.
Further, the folded member can be characterized by having a portion crossing the sensing circuit in plan view at the central portion of the sensing circuit.
Further, the folded member is M-shaped, and can be characterized in that it is provided so as to overlap at least a part of the sensing circuit in a plan view.
Furthermore, the folded member may be provided along the sensing circuit.

また、このような磁気センサにおいて、基板の表面に設けられていることを特徴とすることができる。
そして、折返し部材は、第1の端子部から、第2の端子部側に向かって、感受回路の側面に沿って、直線状に設けられていることを特徴とすることができる。
また、折返し部材は、感受回路に沿って設けられていることを特徴とすることができる。
Further, in such a magnetic sensor, it can be characterized in that it is provided on the surface of the substrate.
Further, the folded member can be characterized in that it is linearly provided along the side surface of the sensing circuit from the first terminal portion toward the second terminal portion.
Also, the folded member may be provided along the sensing circuit.

さらに、このような磁気センサにおいて、折返し部材は、磁気インピーダンス効果により磁界を感受する他の感受部を含む他の感受回路であることを特徴とすることができる。 Further, in such a magnetic sensor, the folded member can be characterized by another sensing circuit including another sensing portion that senses a magnetic field by magnetoimpedance effect.

本発明によれば、磁気インピーダンス効果によって磁界を感受する感受部を用いた磁気センサの感度が向上する。 According to the present invention, the sensitivity of a magnetic sensor using a sensing portion that senses a magnetic field by the magneto-impedance effect is improved.

磁気センサにより磁界を測定する磁気センサシステムを説明する図である。(a)は、第1の実施の形態が適用される磁気センサを用いた磁気センサシステム、(b)は、比較のために示す、第1の実施の形態が適用されない磁気センサを用いた磁気センサシステムである。It is a figure explaining the magnetic sensor system which measures a magnetic field with a magnetic sensor. (a) is a magnetic sensor system using a magnetic sensor to which the first embodiment is applied, and (b) is a magnetic sensor system using a magnetic sensor to which the first embodiment is not applied, shown for comparison It is a sensor system. 図1(b)に示した磁気センサにおいて、磁気センサ近傍の配線が作る電流ループの面積とインダクタンスとの関係を示す図である。1B is a diagram showing the relationship between the area of a current loop formed by wiring near the magnetic sensor and the inductance in the magnetic sensor shown in FIG. 1B; FIG. 第1の実施の形態が適用される磁気センサの一例を説明する図である。(a)は、平面図、(b)は、(a)のIIIB-IIIB線での断面図である。It is a figure explaining an example of the magnetic sensor to which 1st Embodiment is applied. (a) is a plan view, and (b) is a sectional view taken along line IIIB-IIIB of (a). 磁気センサの感受部の長手方向に印加された磁界と磁気センサ10のインピーダンスとの関係を説明する図である。4 is a diagram for explaining the relationship between the magnetic field applied in the longitudinal direction of the sensing portion of the magnetic sensor and the impedance of the magnetic sensor 10. FIG. 第1の実施の形態が適用される磁気センサを立体的に説明する図である。(a)は、斜視図、(b)は、(a)の磁気センサをx方向側から見た側面図である。It is a figure which explains three-dimensionally the magnetic sensor to which 1st Embodiment is applied. (a) is a perspective view, and (b) is a side view of the magnetic sensor of (a) viewed from the x-direction side. (a)~(d)は、第1の実施の形態が適用される磁気センサのバリエーションを示す図である。(a) to (d) are diagrams showing variations of the magnetic sensor to which the first embodiment is applied. (a)~(c)は、第1の実施の形態が適用される磁気センサの他のバリエーションを示す図である。8A to 8C are diagrams showing other variations of the magnetic sensor to which the first embodiment is applied; FIG. 磁気センサにおける感度を説明する図である。(a)は、電流ループの面積と感度との関係、(b)は、磁気センサと配線との距離と感度との関係である。It is a figure explaining the sensitivity in a magnetic sensor. (a) is the relationship between the area of the current loop and the sensitivity, and (b) is the relationship between the distance between the magnetic sensor and the wiring and the sensitivity. 磁気センサのバリエーションにおける感度を示す図である。(a)は、同一構造の2個の試料で測定された感度、図9(b)は、構造の異なる2個の試料で測定された感度である。FIG. 4 is a diagram showing the sensitivity of variations of the magnetic sensor; (a) is the sensitivity measured with two samples having the same structure, and FIG. 9(b) is the sensitivity measured with two samples having different structures. 第1の実施の形態が適用される他の磁気センサを説明する図である。(a)は、斜視図、(b)は、(a)の磁気センサをx方向から見た側面図である。It is a figure explaining other magnetic sensors to which a 1st embodiment is applied. (a) is a perspective view, and (b) is a side view of the magnetic sensor of (a) viewed from the x direction. 第2の実施の形態が適用される磁気センサを説明する図である。(a)は、斜視図、(b)は、(a)の磁気センサをx方向から見た側面図である。It is a figure explaining the magnetic sensor to which 2nd Embodiment is applied. (a) is a perspective view, and (b) is a side view of the magnetic sensor of (a) viewed from the x direction. (a)~(c)は、第2の実施の形態が適用される磁気センサのバリエーションを示す図である。(a) to (c) are diagrams showing variations of the magnetic sensor to which the second embodiment is applied. は、第3の実施の形態が適用される磁気センサのバリエーションを示す図である。4A and 4B are diagrams showing variations of the magnetic sensor to which the third embodiment is applied; FIG.

以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
[第1の実施の形態]
(磁気センサシステム1)
図1は、磁気センサ10により磁界を測定する磁気センサシステム1を説明する図である。図1(a)は、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10を用いた磁気センサシステム1、図1(b)は、比較のために示す、第1の実施の形態が適用されない磁気センサ10′を用いた磁気センサシステム1′である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
[First embodiment]
(Magnetic sensor system 1)
FIG. 1 is a diagram illustrating a magnetic sensor system 1 that measures a magnetic field using a magnetic sensor 10. FIG. FIG. 1(a) shows a magnetic sensor system 1 using a magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied, and FIG. 1(b) shows for comparison, to which the first embodiment is not applied. A magnetic sensor system 1' using a magnetic sensor 10'.

図1(a)に示すように、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10を用いた磁気センサシステム1は、磁界を感受する磁気センサ10と、交流電流発生部200と、検出部300とを備える。磁気センサ10は、交流電流発生部200及び検出部300に接続端子20、30を介して接続される。磁気センサ10は、磁気インピーダンス効果に基づいて、磁界の変化によりインピーダンスが変化する感受部121(後述する図3(a)参照)を備える。 As shown in FIG. 1A, a magnetic sensor system 1 using a magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied includes a magnetic sensor 10 that senses a magnetic field, an alternating current generator 200, and a detector. 300. The magnetic sensor 10 is connected to an alternating current generator 200 and a detector 300 via connection terminals 20 and 30 . The magnetic sensor 10 includes a sensing portion 121 (see FIG. 3A described later) whose impedance changes with changes in the magnetic field based on the magneto-impedance effect.

交流電流発生部200は、高周波成分を含む電流(以下では、高周波電流と表記する。)を発生する回路を含み、高周波電流を磁気センサ10に供給する。なお、高周波とは、例えば20MHz以上である。
検出部300は、磁気センサ10のインダクタンスの変化やインピーダンスの振幅や位相の変化を検出する回路を備える。
The alternating current generator 200 includes a circuit that generates a current containing high frequency components (hereinafter referred to as high frequency current), and supplies the high frequency current to the magnetic sensor 10 . In addition, a high frequency is 20 MHz or more, for example.
The detection unit 300 includes a circuit that detects changes in the inductance of the magnetic sensor 10 and changes in the amplitude and phase of the impedance.

図1(a)には、磁気センサ10と接続端子20、30との間で構成される電流ループαと、接続端子20、30と検出部300との間で構成される電流ループβとを示している。なお、電流ループαは、磁気センサ10近傍の配線が作る電流ループであり、電流ループβは、検出部300近傍の配線が作る電流ループである。以下では、電流ループαを、磁気センサ10近傍の配線が作る電流ループαと表記し、電流ループβを、検出部300近傍の配線が作る電流ループβと表記する。そして、電流ループαと電流ループβとを加えた電流ループは、磁気センサ10と検出部300とが囲む電流ループである。電流ループは、インダクタンスとして機能する。そして、電流ループの面積が大きいほど、インダクタンスが大きくなる。 FIG. 1A shows a current loop α formed between the magnetic sensor 10 and the connection terminals 20 and 30, and a current loop β formed between the connection terminals 20 and 30 and the detection unit 300. showing. The current loop α is a current loop formed by wiring near the magnetic sensor 10 , and the current loop β is a current loop formed by wiring near the detection unit 300 . Hereinafter, the current loop α is referred to as the current loop α formed by the wiring near the magnetic sensor 10, and the current loop β is referred to as the current loop β formed by the wiring near the detection unit 300. A current loop including the current loop α and the current loop β is a current loop surrounded by the magnetic sensor 10 and the detection unit 300 . A current loop acts as an inductance. The larger the area of the current loop, the larger the inductance.

そして、磁気センサ10近傍の配線が作る電流ループαは、磁気センサ10における電流ループα1と、磁気センサ10と接続端子20、30との間における電流ループα2とから構成される。このため、図1(a)では、電流ループα1(α)、電流ループα2(α)と表記する。 A current loop α formed by wiring near the magnetic sensor 10 is composed of a current loop α1 in the magnetic sensor 10 and a current loop α2 between the magnetic sensor 10 and the connection terminals 20 and 30 . Therefore, in FIG. 1A, the current loops α1(α) and α2(α) are indicated.

図1(b)に示すように、第1の実施の形態が適用されない磁気センサ10′を用いた磁気センサシステム1′は、磁気センサ10′近傍の配線が作る電流ループα′を除いて、図1(a)に示した第1の実施の形態が適用される磁気センサ10を用いた磁気センサシステム1と同じである。よって、同様の部分には同じ符号を付して説明を省略する。磁気センサ10′近傍の配線が作る電流ループα′は、図1(a)に示した磁気センサ10近傍の配線が作る電流ループαより面積が大きい。なお、電流ループα′は、磁気センサ10′における電流ループα′1と、磁気センサ10′と接続端子20、30との間における電流ループα′2とから構成される。このため、図1(b)では、電流ループα′1(α′)、電流ループα′2(α′)と表記する。 As shown in FIG. 1(b), a magnetic sensor system 1' using a magnetic sensor 10' to which the first embodiment is not applied has, except for a current loop α' formed by wiring near the magnetic sensor 10' This is the same as the magnetic sensor system 1 using the magnetic sensor 10 to which the first embodiment shown in FIG. 1(a) is applied. Therefore, the same reference numerals are assigned to the same parts, and the description thereof is omitted. The current loop α' formed by the wiring near the magnetic sensor 10' has a larger area than the current loop α formed by the wiring near the magnetic sensor 10 shown in FIG. 1(a). The current loop α' is composed of a current loop α'1 in the magnetic sensor 10' and a current loop α'2 between the magnetic sensor 10' and the connection terminals 20 and 30. FIG. Therefore, in FIG. 1(b), current loops α'1(α') and current loops α'2(α') are indicated.

図1(b)に示す磁気センサ10′における電流ループα′1の面積は、図1(a)に示す磁気センサ10における電流ループα1と大差がない。よって、磁気センサ10′近傍の配線が作る電流ループα′の面積が、磁気センサ10近傍の配線が作る電流ループαの面積より大きいのは、磁気センサ10′と接続端子20、30との間における電流ループα′2の面積が電流ループα2より大きいためである。
なお、磁気センサ10と磁気センサ10′とを区別しない場合には、磁気センサと表記することがある。電流ループα、α′、βを区別しない場合には、電流ループと表記することがある。そして、図1(a)、(b)に示す端子部13a、13b、13cについては、後述する図3(a)において説明する。
The area of the current loop α'1 in the magnetic sensor 10' shown in FIG. 1(b) is not much different from the area of the current loop α1 in the magnetic sensor 10 shown in FIG. 1(a). Therefore, the area of the current loop α′ formed by the wiring near the magnetic sensor 10′ is larger than the area of the current loop α formed by the wiring near the magnetic sensor 10 because the magnetic sensor 10′ and the connection terminals 20, 30 This is because the area of the current loop α'2 at is larger than that of the current loop α2.
Note that when the magnetic sensor 10 and the magnetic sensor 10' are not distinguished from each other, they may be referred to as a magnetic sensor. If the current loops α, α', and β are not distinguished, they may be referred to as current loops. Terminal portions 13a, 13b, and 13c shown in FIGS. 1(a) and 1(b) will be described later with reference to FIG. 3(a).

ここで、磁気センサシステム1のインダクタンス変化に対する電流ループによるインダクタンスの影響を説明する。なお、図1(a)に示す磁気センサ10を例として説明する。
信号磁界を印加しない場合における磁気センサ10のインダクタンスをL1とし、信号磁界が印加された場合における磁気センサ10のインダクタンスの変化量をΔL1とする。そして、磁気センサ10近傍の配線が作る電流ループα、及び検出部300近傍の配線が作る電流ループβにより生じるインダクタンスをL2とする。なお、信号磁界とは、磁気センサ10の動作を説明するために、外部から磁気センサ10に印加される磁界である。磁気センサ10に信号磁界を印加すると、信号磁界を印加しない場合に対して、磁気センサ10のインピーダンスが変化する。
Here, the influence of the inductance due to the current loop on the inductance change of the magnetic sensor system 1 will be explained. Note that the magnetic sensor 10 shown in FIG. 1A will be described as an example.
Let L1 be the inductance of the magnetic sensor 10 when no signal magnetic field is applied, and let ΔL1 be the amount of change in the inductance of the magnetic sensor 10 when the signal magnetic field is applied. Let L2 be the inductance generated by the current loop α formed by the wiring near the magnetic sensor 10 and the current loop β formed by the wiring near the detection unit 300 . A signal magnetic field is a magnetic field applied to the magnetic sensor 10 from the outside in order to explain the operation of the magnetic sensor 10 . When a signal magnetic field is applied to the magnetic sensor 10, the impedance of the magnetic sensor 10 changes compared to when no signal magnetic field is applied.

信号磁界が印加されていない状態におけるインダクタンスは、L1+L2である。そして、信号磁界が印加されている状態におけるインダクタンスは、L1+ΔL1+L2となる。よって、信号磁界が印加されたことによって、検出部300が検出するインダクタンスの変化率は、(L1+ΔL1+L2)/(L1+L2)となる。したがって、インダクタンスの変化率は、インダクタンスL2が小さいほど大きくなる。言い換えれば、インダクタンスL2が小さいほど、インダクタンスの変化率が大きくなり、磁界を検出する感度が向上する。つまり、磁気センサ10近傍の配線が作る電流ループα及び検出部300近傍の配線が作る電流ループβにより生じるインダクタンスL2を小さくすれば、磁気センサ10の感度が向上する。 The inductance when no signal magnetic field is applied is L1+L2. The inductance in the state where the signal magnetic field is applied is L1+ΔL1+L2. Therefore, the rate of change of the inductance detected by the detection unit 300 is (L1+ΔL1+L2)/(L1+L2) due to the application of the signal magnetic field. Therefore, the inductance change rate increases as the inductance L2 decreases. In other words, the smaller the inductance L2, the larger the rate of change of the inductance and the higher the sensitivity of detecting the magnetic field. That is, the sensitivity of the magnetic sensor 10 is improved by reducing the inductance L2 caused by the current loop α formed by the wiring near the magnetic sensor 10 and the current loop β formed by the wiring near the detection unit 300 .

図2は、図1(b)に示した磁気センサ10′において、磁気センサ10′近傍の配線が作る電流ループα′の面積と磁気センサ10′及び電流ループα′により生じるインダクタンスとの関係を示す図である。横軸は、電流ループα′の面積(図2では、電流ループの面積(mm))、縦軸は、インダクタンス(nH)である。ここでは、後述する図3に示す磁気センサ10の端子部13aと端子部13bとをインピーダンス測定器に接続して、インダクタンスを測定した。このとき、端子部13a及び端子部13bとインピーダンス測定器とを接続する配線が囲む面積を変化させた。図2では、インダクタンスを測定する周波数を、20MHz、50MHz、100MHzとした。 FIG. 2 shows the relationship between the area of the current loop α' formed by the wiring near the magnetic sensor 10' and the inductance generated by the magnetic sensor 10' and the current loop α' in the magnetic sensor 10' shown in FIG. 1(b). FIG. 4 is a diagram showing; The horizontal axis is the area of the current loop α' (current loop area (mm 2 ) in FIG. 2), and the vertical axis is the inductance (nH). Here, the inductance was measured by connecting the terminal portion 13a and the terminal portion 13b of the magnetic sensor 10 shown in FIG. 3, which will be described later, to an impedance measuring instrument. At this time, the area surrounded by the wires connecting the terminal portions 13a and 13b and the impedance measuring device was changed. In FIG. 2, the frequencies for measuring the inductance are 20 MHz, 50 MHz and 100 MHz.

図2に示すように、磁気センサ10′及び電流ループα′により生じるインダクタンスは、電流ループα′の面積が大きくなるほど大きくなる。また、磁気センサ10′及び電流ループα′により生じるインダクタンスは、周波数が高いほど大きくなる。つまり、電流ループα′の面積を小さくすれば、インダクタンスを小さくできる。なお、図2では、電流ループα′の面積として説明しているが、磁気センサ10′近傍の配線が作る電流ループα′の面積及び検出部300近傍の配線が作る電流ループβ′の面積の和として考えてもよい。以下では、電流ループα′の面積を電流ループの面積と表記して説明する。 As shown in FIG. 2, the inductance caused by the magnetic sensor 10' and the current loop α' increases as the area of the current loop α' increases. Also, the inductance caused by the magnetic sensor 10' and the current loop α' increases as the frequency increases. In other words, the inductance can be reduced by reducing the area of the current loop α'. In FIG. 2, the area of the current loop α' is explained. You can think of it as harmony. In the following description, the area of the current loop α' is referred to as the area of the current loop.

ここでは、電流ループの面積が0mmに対応する磁気センサ10′のインダクタンス(L1に相当)は、約85nHである。図2に示すように、電流ループの面積が16mmでのインダクタンス(L1+L2に相当)は、周波数20MHz、50MHz、100MHzの場合を平均した平均値で101nHであって、磁気センサ10のインダクタンスの1.2倍である。また、電流ループの面積が47mmでのインダクタンス(L1+L2に相当)は、同様な平均値で116nHであって、磁気センサ10のインダクタンスの1.4倍である。後述する図8において説明するが、電流ループの面積は、50mm以下であることが好ましく、16mm以下であることがより好ましい。そして、インダクタンスL2はインダクタンスL1の50%以下であることが好ましく、20%以下であることがより好ましい。 Here, the inductance (corresponding to L1) of the magnetic sensor 10' corresponding to a current loop area of 0 mm 2 is approximately 85 nH. As shown in FIG. 2, the inductance (corresponding to L1+L2) when the current loop area is 16 mm 2 is 101 nH as an average value for the frequencies of 20 MHz, 50 MHz, and 100 MHz, which is 1 of the inductance of the magnetic sensor 10. .2 times. Also, the inductance (corresponding to L1+L2) when the area of the current loop is 47 mm 2 is a similar average value of 116 nH, which is 1.4 times the inductance of the magnetic sensor 10 . As will be described later with reference to FIG. 8, the area of the current loop is preferably 50 mm 2 or less, more preferably 16 mm 2 or less. The inductance L2 is preferably 50% or less of the inductance L1, more preferably 20% or less.

なお、検出部300は、上記の磁気センサ10のインダクタンスの変化を検出する代わりに、インダクタンスL、抵抗R及び容量Cを含むインピーダンスの変化を検出してもよい。例えば、検出部300は、インピーダンスの振幅や位相を検出する回路を備えてもよい。この場合、インピーダンスZは、Z=R+jωL+1/(jωC)=R+jXと表記される。そして、振幅|Z|は、|Z|=√(R+X)であり、位相θは、θ=tan-1(X/R)と表記される。ここで、ωは角周波数、Xはリアクタンスである。 Note that the detection unit 300 may detect changes in impedance including the inductance L, the resistance R, and the capacitance C instead of detecting changes in the inductance of the magnetic sensor 10 described above. For example, the detection section 300 may include a circuit that detects the amplitude and phase of impedance. In this case, the impedance Z is written as Z=R+jωL+1/(jωC)=R+jX. Then, the amplitude |Z| is |Z|=√(R 2 +X 2 ), and the phase θ is written as θ=tan −1 (X/R). where ω is the angular frequency and X is the reactance.

磁気センサ10′(後述する図3(a)参照)の面積は、交流電流発生部200及び検出部300を構成する電子部品に比べ大きくなりやすい。よって、図1(b)に示すように、磁気センサ10′近傍の配線が作る電流ループα′の面積は、検出部300近傍の配線が作る電流ループβの面積より大きくなりやすい。よって、磁気センサ10′近傍の配線が作る電流ループα′を小さくすることが好ましい。しかし、磁気センサ10′における電流ループα′1は磁気センサ10′の形状で決まるため、磁気センサ10′においては、電流ループα′1の面積を小さくしづらい。また、磁気センサ10′における電流ループα′1の面積よりも、磁気センサ10と接続端子20、30との間の電流ループα′2の面積の方が大きくなりやすい。 The area of the magnetic sensor 10 ′ (see FIG. 3A, which will be described later) tends to be larger than that of the electronic components forming the alternating current generating section 200 and the detecting section 300 . Therefore, as shown in FIG. 1B, the area of the current loop α' formed by the wiring near the magnetic sensor 10' tends to be larger than the area of the current loop β formed by the wiring near the detection unit 300. FIG. Therefore, it is preferable to reduce the current loop α' formed by the wiring near the magnetic sensor 10'. However, since the current loop α'1 in the magnetic sensor 10' is determined by the shape of the magnetic sensor 10', it is difficult to reduce the area of the current loop α'1 in the magnetic sensor 10'. Also, the area of the current loop α'2 between the magnetic sensor 10 and the connection terminals 20 and 30 tends to be larger than the area of the current loop α'1 in the magnetic sensor 10'.

よって、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10(図1(a))では、磁気センサ10近傍の配線が作る電流ループαにおいて、磁気センサ10と接続端子20、30との間の電流ループα2の面積を、磁気センサ10′(図1(b))近傍の配線が作る電流ループα′における磁気センサ10′と接続端子20、30との間の電流ループα′2の面積より小さくなるようにしている。 Therefore, in the magnetic sensor 10 (FIG. 1A) to which the first embodiment is applied, in the current loop α formed by the wiring near the magnetic sensor 10, The area of the current loop α2 is calculated from the area of the current loop α'2 between the magnetic sensor 10' and the connection terminals 20, 30 in the current loop α' formed by the wiring near the magnetic sensor 10' (FIG. 1(b)). I am trying to make it smaller.

(磁気センサ10)
ここで、磁気センサ10を説明する。
図3は、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10の一例を説明する図である。図3(a)は、平面図、図3(b)は、図3(a)のIIIB-IIIB線での断面図である。図3(a)において、紙面の右方向が+x方向、紙面の上方向が+y方向、紙面の表面方向が+z方向である。図3(b)において、紙面の右方向が+x方向、紙面の上方向が+z方向、紙面の裏面方向が+y方向である。
(Magnetic sensor 10)
Here, the magnetic sensor 10 will be described.
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of the magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied. 3(a) is a plan view, and FIG. 3(b) is a cross-sectional view taken along line IIIB-IIIB of FIG. 3(a). In FIG. 3A, the right direction on the paper surface is the +x direction, the upward direction on the paper surface is the +y direction, and the surface direction on the paper surface is the +z direction. In FIG. 3B, the right direction on the paper is the +x direction, the upward direction on the paper is the +z direction, and the back direction on the paper is the +y direction.

図3(a)の平面図により、磁気センサ10の平面構造を説明する。磁気センサ10は、一例として四角形の平面形状を有する。磁気センサ10の平面形状は、数mm角~数10mm角である。例えば、x方向の長さが3mm~20mm、y方向の長さが3mm~20mmである。なお、磁気センサ10の平面形状の大きさは、他の値であってもよい。 The planar structure of the magnetic sensor 10 will be described with reference to the plan view of FIG. 3(a). The magnetic sensor 10 has, for example, a rectangular planar shape. The planar shape of the magnetic sensor 10 is several millimeters square to several tens of millimeters square. For example, the length in the x direction is 3 mm to 20 mm, and the length in the y direction is 3 mm to 20 mm. Note that the size of the planar shape of the magnetic sensor 10 may be another value.

磁気センサ10は、基板11と基板11上に設けられた感受回路12と、端子部13a、13b、13cと、折返し配線14とを備える。感受回路12は、並列配置された複数の感受部121と、感受部121間をつづら折り(ミアンダ構造)に直列接続する接続部122とを備える。端子部13a、13bは、感受回路12の一方の端部と他方の端部とに設けられている。端子部13cは、基板11上において、端子部13bに隣接するように設けられている。そして、折返し配線14は、基板11の裏面側を裏面に沿って引き回すように設けられ、端子部13aと端子部13cとを接続する。なお、図3(a)では、基板11の裏面側に隠れる折返し配線14を破線で示している。ここで、端子部13aが第1の端子部の一例、端子部13bが第2の端子部の一例、及び端子部13cが第3の端子部の一例、折返し配線14が折返し部材の一例である。 The magnetic sensor 10 includes a substrate 11 , a sensing circuit 12 provided on the substrate 11 , terminal portions 13 a , 13 b and 13 c , and turn-back wiring 14 . The sensing circuit 12 includes a plurality of sensing portions 121 arranged in parallel, and a connecting portion 122 connecting the sensing portions 121 in series in a meandering structure. The terminal portions 13 a and 13 b are provided at one end and the other end of the sensing circuit 12 . The terminal portion 13c is provided on the substrate 11 so as to be adjacent to the terminal portion 13b. The turn-back wiring 14 is provided so as to extend along the back side of the substrate 11, and connects the terminal portion 13a and the terminal portion 13c. In addition, in FIG. 3A, the folded wiring 14 hidden behind the back surface of the substrate 11 is indicated by a broken line. Here, the terminal portion 13a is an example of a first terminal portion, the terminal portion 13b is an example of a second terminal portion, the terminal portion 13c is an example of a third terminal portion, and the folded wiring 14 is an example of a folded member. .

感受部121は、平面形状が長手方向と短手方向とを有する短冊状である。図3(a)に示す感受部121は、x方向を長手方向、y方向を短手方向とする。そして、図3(a)では、4個の感受部121がy方向に並列配置されている。感受部121が磁気インピーダンス効果を示す。よって、磁気センサ10又は感受回路12を磁気インピーダンス素子と表記することがある。そして、感受部121を、感受素子と表記することがある。 The sensing portion 121 has a strip-like planar shape having a longitudinal direction and a lateral direction. The sensing part 121 shown in FIG. 3A has a longitudinal direction in the x direction and a lateral direction in the y direction. In FIG. 3A, four sensing parts 121 are arranged in parallel in the y direction. The sensitive part 121 exhibits the magneto-impedance effect. Therefore, the magnetic sensor 10 or sensing circuit 12 may be referred to as a magneto-impedance element. And the sensing part 121 may be described as a sensing element.

各感受部121は、例えば長手方向の長さが1mm~10mm、短手方向の幅が50μm~150μmである。厚さが0.2μm~5μmである。隣接する感受部121間の間隔は、50μm~150μmである。そして、感受部121の数は、図3(a)では4個であるが、他の数であってもよい。
なお、それぞれの感受部121の大きさ(長さ、面積、厚さ等)、感受部121の数、感受部121間の間隔等は、感受、つまり検出したい磁界の大きさなどによって設定されればよい。なお、感受部121は、1個でもよい。
Each sensing part 121 has a longitudinal length of 1 mm to 10 mm and a lateral width of 50 μm to 150 μm, for example. The thickness is 0.2 μm to 5 μm. The interval between adjacent sensitive parts 121 is 50 μm to 150 μm. Although the number of sensing parts 121 is four in FIG. 3(a), it may be another number.
The size (length, area, thickness, etc.) of each sensing part 121, the number of sensing parts 121, the spacing between the sensing parts 121, etc. are set according to the magnitude of the magnetic field to be sensed, that is, to be detected. Just do it. In addition, the number of the sensing parts 121 may be one.

接続部122は、隣接する感受部121の端部間に設けられ、複数の感受部121を直列接続する。つまり、接続部122は、隣接する感受部121をつづら折りに接続されるように設けられている。図3(a)に示す4個の感受部121を備える磁気センサ10では、接続部122は3個である。接続部122の数は、感受部121の数によって異なる。例えば、感受部121が5個であれば、接続部122は4個である。また、感受部121が1個であれば、接続部122を備えない。なお、接続部122の幅は、感受回路12に流す電流などによって設定すればよい。例えば、接続部122の幅は、感受部121と同じであってもよい。 The connecting portion 122 is provided between the ends of adjacent sensing portions 121 and connects the plurality of sensing portions 121 in series. In other words, the connecting portion 122 is provided so as to connect the adjacent sensing portions 121 in a zigzag manner. The magnetic sensor 10 having four sensing portions 121 shown in FIG. 3A has three connecting portions 122 . The number of connecting portions 122 varies depending on the number of sensing portions 121 . For example, if the number of sensing parts 121 is five, the number of connection parts 122 is four. Moreover, if the number of sensing parts 121 is one, the connection part 122 is not provided. The width of the connecting portion 122 may be set according to the current flowing through the sensing circuit 12 or the like. For example, the width of the connecting portion 122 may be the same as that of the sensing portion 121 .

端子部13a、13bは、感受回路12の一端部と他端部に設けられている。図3(a)においては、紙面の上側(y方向側)に端子部13aが設けられ、紙面の下側(-y方向側)に端子部13bが設けられている。そして、端子部13bの下側(-y方向側)に端子部13cが設けられている。端子部13a、13b、13cをそれぞれ区別しないときは、端子部13と表記する。端子部13は、回路と接続しうる大きさであればよい。なお、図3(a)に示す磁気センサ10では、感受部121が4個であるため、端子部13a、13bは、紙面の右側(+x方向側)に設けられている。感受部121の数が奇数の場合には、端子部13a、13bを紙面の左右方向側(±x方向側)に分けて設けられる。なお、感受回路12を左右反転して構成してもよい。 The terminal portions 13 a and 13 b are provided at one end and the other end of the sensing circuit 12 . In FIG. 3A, the terminal portion 13a is provided on the upper side (y-direction side) of the paper, and the terminal portion 13b is provided on the lower side (-y-direction side) of the paper. A terminal portion 13c is provided below the terminal portion 13b (on the -y direction side). When the terminal portions 13a, 13b, and 13c are not distinguished from each other, they are referred to as a terminal portion 13. FIG. The terminal portion 13 may have any size as long as it can be connected to a circuit. Since the magnetic sensor 10 shown in FIG. 3A has four sensing portions 121, the terminal portions 13a and 13b are provided on the right side (+x direction side) of the paper surface. When the number of sensing portions 121 is an odd number, the terminal portions 13a and 13b are provided separately on the left and right sides (±x direction sides) of the paper surface. It should be noted that the sensing circuit 12 may be configured by horizontally reversing it.

そして、端子部13cは、端子部13bに隣接して設けられている。ここでは、端子部13cは、端子部13bの-y方向側に隣接して設けられている。そして、折返し配線14は、端子部13aと端子部13cとを接続する。つまり、折返し配線14は、端子部13aを端子部13bに隣接する位置(端子部13c)に引き出す配線である。言い換えると、折返し配線14は、導電性であって、端子部13aから端子部13b側に電流が流れる経路(電流経路)を折り返すように設けられている。折返し配線14を構成する導電性材料としては、Au、Al、Cu、Ag等の金属等が挙げられる。 Terminal portion 13c is provided adjacent to terminal portion 13b. Here, the terminal portion 13c is provided adjacent to the terminal portion 13b in the -y direction. Then, the folded wiring 14 connects the terminal portion 13a and the terminal portion 13c. In other words, the folded wiring 14 is a wiring that pulls out the terminal portion 13a to a position (terminal portion 13c) adjacent to the terminal portion 13b. In other words, the turn-back wiring 14 is conductive and provided so as to turn back a path (current path) through which current flows from the terminal portion 13a to the terminal portion 13b. Examples of the conductive material forming the turn-back wiring 14 include metals such as Au, Al, Cu, and Ag.

そして、磁気センサ10における端子部13b及び端子部13cと、交流電流発生部200及び検出部300との接続端子20、30とが接続される。つまり、端子部13bと端子部13cとから、交流電流発生部200から高周波電流が供給されるとともに、検出部300によりインダクタンスの変化、インピーダンスの振幅や位相の変化などが検出される。 The terminal portions 13b and 13c of the magnetic sensor 10 are connected to the connection terminals 20 and 30 of the alternating current generating portion 200 and the detecting portion 300, respectively. That is, a high-frequency current is supplied from the alternating current generator 200 through the terminals 13b and 13c, and the detector 300 detects changes in inductance, amplitude and phase of impedance, and the like.

ここで、図1(b)に示した磁気センサ10′は、図3(a)に示した磁気センサ10において、端子部13c及び折返し配線14を備えない。よって、図1(b)に示したように、磁気センサ10′では、端子部13a、及び端子部13aから離れた位置にある端子部13bと、交流電流発生部200及び検出部300との接続端子20、30とを接続することになる。一方、図1(a)に示した磁気センサ10は、端子部13bに隣接するように端子部13cが設けられ、折返し配線14が感受回路12の近傍を通って端子部13aと端子部13cとを接続する。そして、端子部13b、及び端子部13bに隣接した端子部13cと、交流電流発生部200及び検出部300との接続端子20、30とを接続することになる。このため、図1(b)に示した磁気センサ10′と接続端子20、30との間の電流ループα′2の面積は、図1(a)に示した磁気センサ10と接続端子20、30との間の電流ループα2の面積よりも大きくなる。つまり、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10は、端子部13c及び折返し配線14を備えることで、電流ループα2の面積を小さくしている。ここで、図3に示したD1は端子部13bと端子部13cとの中心間の距離で、D2は端子部13aと端子部13bとの中心間の距離である。なお、端子部13aと端子部13bとが、互いに磁気センサ10の対角の位置に設けられている場合(後述する図7(a)参照)でも、距離D2は、対角に位置する端子部13aと端子部13bの中心間の距離である。 Here, the magnetic sensor 10' shown in FIG. 1(b) does not include the terminal portion 13c and the folded wiring 14 in the magnetic sensor 10 shown in FIG. 3(a). Therefore, as shown in FIG. 1(b), in the magnetic sensor 10′, the connection between the terminal portion 13a and the terminal portion 13b located away from the terminal portion 13a, the AC current generating portion 200 and the detecting portion 300 is Terminals 20 and 30 are connected. On the other hand, the magnetic sensor 10 shown in FIG. 1A is provided with a terminal portion 13c adjacent to the terminal portion 13b, and the folded wiring 14 passes near the sensing circuit 12 to connect the terminal portion 13a and the terminal portion 13c. to connect. Then, the terminal portion 13b and the terminal portion 13c adjacent to the terminal portion 13b are connected to the connection terminals 20 and 30 for the AC current generating portion 200 and the detecting portion 300, respectively. Therefore, the area of the current loop α'2 between the magnetic sensor 10' and the connection terminals 20, 30 shown in FIG. 30 is larger than the area of the current loop α2. That is, the magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied reduces the area of the current loop α2 by including the terminal portion 13c and the turn-back wiring 14 . Here, D1 shown in FIG. 3 is the center-to-center distance between the terminal portions 13b and 13c, and D2 is the center-to-center distance between the terminal portions 13a and 13b. Note that even when the terminal portions 13a and 13b are provided at diagonal positions of the magnetic sensor 10 (see FIG. 7A described later), the distance D2 is It is the distance between the centers of 13a and terminal portion 13b.

図3(a)において、端子部13cは、端子部13bの下側(-y方向側)に設けられているが、端子部13cは、端子部13bに隣接して設けられればよい。つまり、端子部13bと端子部13cとの間の距離D1が端子部13aと端子部13bとの間の距離D2より短くなるように設けられればよい(D1<D2)。よって、端子部13cは、端子部13bのx方向側又は-x方向側に隣接して設けられてもよく、端子部13bの斜め上側(±x方向+y方向側)、斜め下側(±x方向-y方向側)に設けられてもよい。
折返し配線14については、後に詳述する。
In FIG. 3A, the terminal portion 13c is provided below the terminal portion 13b (on the −y direction side), but the terminal portion 13c may be provided adjacent to the terminal portion 13b. That is, the distance D1 between the terminal portion 13b and the terminal portion 13c should be set shorter than the distance D2 between the terminal portion 13a and the terminal portion 13b (D1<D2). Therefore, the terminal portion 13c may be provided adjacent to the terminal portion 13b on the x direction side or the −x direction side, and may be provided diagonally above the terminal portion 13b (±x direction +y direction side) or diagonally below (±x direction side). direction (y direction side).
The folded wiring 14 will be described in detail later.

以上説明したように、感受回路12は、感受部121が接続部122によってつづら折りに直列接続され、両端部に設けられた端子部13a、13bから高周波電流が流れるように構成されている。よって、高周波電流が流れる経路であることから、感受回路12と表記する。 As described above, the sensing circuit 12 is configured such that the sensing portions 121 are connected in series by the connecting portions 122 in a zigzag manner, and a high-frequency current flows from the terminal portions 13a and 13b provided at both ends. Therefore, since it is a path through which a high-frequency current flows, it is referred to as a sensing circuit 12 .

図3(b)の断面図により、磁気センサ10の断面構造を説明する。ここでは、折返し配線14の表記を省略し、感受回路12の構造を中心に説明する。
磁気センサ10は、前述したように、基板11と、基板11上に設けられた感受回路12とを備える。感受回路12は、一例として、基板11側から4層の軟磁性体層111a、111b、111c、111dを備える。そして、感受回路12は、軟磁性体層111aと軟磁性体層111bとの間に、軟磁性体層111aと軟磁性体層111bとに還流磁区の発生を抑制する磁区抑制層112aを備える。さらに、感受回路12は、軟磁性体層111cと軟磁性体層111dとの間に、軟磁性体層111cと軟磁性体層111dとに還流磁区の発生を抑制する磁区抑制層112bを備える。そしてまた、感受回路12は、軟磁性体層111bと軟磁性体層111cとの間に、感受回路12の抵抗(ここでは、電気抵抗をいう。)を低減させる導電体層113を備える。軟磁性体層111a、111b、111c、111dをそれぞれ区別しない場合は、軟磁性体層111と表記する。磁区抑制層112a、112bをそれぞれ区別しない場合には、磁区抑制層112と表記する。
The cross-sectional structure of the magnetic sensor 10 will be described with reference to the cross-sectional view of FIG. 3(b). Here, description of the turn-back wiring 14 is omitted, and the structure of the sensing circuit 12 will be mainly described.
The magnetic sensor 10 includes a substrate 11 and a sensing circuit 12 provided on the substrate 11, as described above. As an example, the sensing circuit 12 includes four soft magnetic layers 111a, 111b, 111c, and 111d from the substrate 11 side. The sensing circuit 12 includes a magnetic domain suppression layer 112a between the soft magnetic layers 111a and 111b, which suppresses the generation of closure domains in the soft magnetic layers 111a and 111b. Further, the sensing circuit 12 includes a magnetic domain suppression layer 112b between the soft magnetic layers 111c and 111d that suppresses the generation of closure domains in the soft magnetic layers 111c and 111d. The sensing circuit 12 also includes a conductor layer 113 between the soft magnetic layer 111b and the soft magnetic layer 111c to reduce the resistance (here, electrical resistance) of the sensing circuit 12. FIG. The soft magnetic layers 111a, 111b, 111c, and 111d are referred to as soft magnetic layers 111 when they are not distinguished from each other. When the magnetic domain suppression layers 112a and 112b are not distinguished from each other, they are referred to as a magnetic domain suppression layer 112. FIG.

基板11は、非磁性体からなる基板であって、例えばガラス、サファイアといった電気絶縁性の酸化物基板、シリコン等の半導体基板、又は、アルミニウム、ステンレススティール、ニッケルリンメッキを施した金属等の金属基板などである。なお、基板11が、シリコン等の半導体基板、又は、アルミニウム、ステンレススティール、ニッケルリンメッキを施した金属等の金属基板などであって導電性が高い場合には、感受回路12が設けられる側の基板11の表面に、基板11と感受回路12とを電気的に絶縁する絶縁体層を設けるとよい。このような絶縁体層を構成する絶縁体としては、SiO、Al、TiO等の酸化物、又は、Si、AlN等の窒化物等が挙げられる。ここでは、基板11は、ガラスであるとして説明する。このような基板11の厚さは、例えば0.3mm~2mmである。なお、基板11の厚さは他の値であってもよい。 The substrate 11 is a substrate made of a non-magnetic material, for example, an electrically insulating oxide substrate such as glass or sapphire, a semiconductor substrate such as silicon, or a metal such as aluminum, stainless steel, or nickel-phosphorus-plated metal. substrates and the like. If the substrate 11 is a semiconductor substrate such as silicon, or a metal substrate such as aluminum, stainless steel, nickel-phosphorus-plated metal, etc., and has high conductivity, the side on which the sensing circuit 12 is provided may be used. An insulator layer for electrically insulating the substrate 11 and the sensing circuit 12 may be provided on the surface of the substrate 11 . Examples of insulators forming such insulator layers include oxides such as SiO 2 , Al 2 O 3 and TiO 2 and nitrides such as Si 3 N 4 and AlN. Here, it is assumed that the substrate 11 is made of glass. The thickness of such substrate 11 is, for example, 0.3 mm to 2 mm. Note that the thickness of the substrate 11 may have another value.

軟磁性体層111は、磁気インピーダンス効果を示すアモルファス合金の軟磁性体で構成される。軟磁性体層111を構成する軟磁性体としては、Coを主成分とした合金に高融点金属Nb、Ta、W等を添加したアモルファス合金を用いるのがよい。このようなCoを主成分とした合金としては、CoNbZr、CoFeTa、CoWZr、CoFeCrMnSiB等が挙げられる。軟磁性体層111の厚さは、例えば100nm~1μmである。
ここで、軟磁性体とは、外部磁界によって容易に磁化されるが、外部磁界を取り除くと速やかに磁化がないか又は磁化が小さい状態に戻る、いわゆる保磁力の小さい材料である。
また、本明細書において、アモルファス合金、アモルファス金属とは、結晶のような原子の規則的な配列を有しない構造を有し、スパッタリング法などで形成されるものをいう。
The soft magnetic layer 111 is composed of an amorphous alloy soft magnetic material exhibiting a magneto-impedance effect. As the soft magnetic material forming the soft magnetic layer 111, it is preferable to use an amorphous alloy in which refractory metals such as Nb, Ta, and W are added to an alloy containing Co as a main component. Such Co-based alloys include CoNbZr, CoFeTa, CoWZr, CoFeCrMnSiB, and the like. The thickness of the soft magnetic layer 111 is, for example, 100 nm to 1 μm.
Here, the soft magnetic material is a material with a so-called small coercive force, which is easily magnetized by an external magnetic field, but quickly returns to a state of no magnetization or low magnetization when the external magnetic field is removed.
Further, in this specification, an amorphous alloy and an amorphous metal refer to those having a structure that does not have a regular arrangement of atoms like a crystal and formed by a sputtering method or the like.

磁区抑制層112は、磁区抑制層112を挟む上下の軟磁性体層111に還流磁区が発生するのを抑制する。
一般に、軟磁性体層111には、それぞれの磁化の向きが異なる複数の磁区が形成されやすい。この場合、磁化の向きが環状を呈する還流磁区が形成される。外部磁界が大きくなると、磁壁が移動し、外部磁界の向きと磁化の向きとが同じ磁区の面積が大きくなり、外部磁界の向きと磁化の向きとが逆の磁区の面積が小さくなる。そして、さらに外部磁界が大きくなると、磁化の向きが外部磁界の向きと異なる磁区において、磁化の向きが外部磁界の向きと同じ向きを向くように磁化回転が生じる。そして、ついには隣接する磁区同士の間に存在していた磁壁が消滅し、1つの磁区(単磁区)となる。つまり、還流磁区が形成されていると、外部磁界の変化に伴って、還流磁区を構成する磁壁が階段状に不連続に移動するバルクハウゼン効果が生じる。この磁壁の不連続な移動は、磁気センサ10におけるノイズとなり、磁気センサ10から得られる出力におけるS/Nの低下を生じるおそれがある。磁区抑制層112は、磁区抑制層112の上下に設けられた軟磁性体層111に面積の小さな複数の磁区が形成されるのを抑制する。これにより、還流磁区が形成されることが抑制され、磁壁が不連続に移動することによるノイズの発生を抑制する。なお、磁区抑制層112は、磁区抑制層112を含まない場合に比べて、形成される磁区の数が少なく、つまり磁区の大きさが大きくなる効果が得られればよい。
The domain suppression layer 112 suppresses the occurrence of closure domains in the soft magnetic layers 111 above and below the domain suppression layer 112 .
In general, the soft magnetic layer 111 tends to form a plurality of magnetic domains having different magnetization directions. In this case, a closure magnetic domain having an annular magnetization direction is formed. When the external magnetic field increases, the domain wall moves, the area of the magnetic domain whose magnetization direction is the same as the external magnetic field direction increases, and the area of the magnetic domain whose magnetization direction is opposite to the external magnetic field direction decreases. Then, when the external magnetic field is further increased, magnetization rotation occurs so that the magnetization direction is the same as that of the external magnetic field in the magnetic domain whose magnetization direction is different from that of the external magnetic field. Finally, the domain walls existing between adjacent magnetic domains disappear and become one magnetic domain (single magnetic domain). In other words, when the closure domain is formed, the Barkhausen effect occurs in which the domain walls forming the closure domain move discontinuously in a stepwise manner as the external magnetic field changes. This discontinuous movement of the domain wall causes noise in the magnetic sensor 10 and may cause a decrease in S/N in the output obtained from the magnetic sensor 10 . The magnetic domain suppression layer 112 suppresses the formation of a plurality of small magnetic domains in the soft magnetic layers 111 provided above and below the magnetic domain suppression layer 112 . This suppresses the formation of closure domains and suppresses the generation of noise due to the discontinuous movement of domain walls. Note that the magnetic domain suppressing layer 112 only needs to have the effect of reducing the number of magnetic domains formed, that is, increasing the size of the magnetic domains, compared to the case where the magnetic domain suppressing layer 112 is not included.

このような磁区抑制層112としては、Ru、SiO等の非磁性体や、CrTi、AlTi、CrB、CrTa、CoW等の非磁性アモルファス金属が挙げられる。このような磁区抑制層112の厚さは、例えば10nm~100nmである。 Examples of such magnetic domain suppression layers 112 include non-magnetic materials such as Ru and SiO 2 and non-magnetic amorphous metals such as CrTi, AlTi, CrB, CrTa and CoW. The thickness of such a magnetic domain suppression layer 112 is, for example, 10 nm to 100 nm.

導電体層113は、感受回路12の抵抗を低減する。つまり、導電体層113は、軟磁性体層111より導電性が高く、導電体層113を含まない場合に比べて、感受回路12の抵抗を小さくする。磁界は、感受回路12の2個の端子部13a、13b間に交流電流を流した際におけるインピーダンス(以下では、インピーダンスZと表記する。)の変化(ΔZと表記する。)により検出される。この際、交流電流の周波数が高いほど、外部磁界の変化(ここでは、ΔHと表記する。)に対するインピーダンスZの変化率ΔZ/ΔH(以下ではインピーダンス変化率ΔZ/ΔH)が大きくなる。しかし、導電体層113を含まない状態で交流電流の周波数を高くすると、浮遊容量により、逆にインピーダンス変化率ΔZ/ΔHが小さくなってしまう。そこで、導電体層113を設けて、感受回路12の抵抗を低減させている。 Conductive layer 113 reduces the resistance of sensitive circuit 12 . That is, the conductor layer 113 has a higher conductivity than the soft magnetic layer 111, and reduces the resistance of the sensing circuit 12 compared to the case where the conductor layer 113 is not included. A magnetic field is detected by a change in impedance (hereinafter referred to as impedance Z) (denoted as ΔZ) when alternating current is passed between the two terminals 13a and 13b of the sensing circuit 12. FIG. At this time, the higher the frequency of the alternating current, the greater the rate of change ΔZ/ΔH (impedance change rate ΔZ/ΔH hereinafter) of the impedance Z with respect to the change in the external magnetic field (here, expressed as ΔH). However, if the frequency of the alternating current is increased without the conductor layer 113, the impedance change rate ΔZ/ΔH will be reduced due to the stray capacitance. Therefore, the conductor layer 113 is provided to reduce the resistance of the sensing circuit 12 .

このような導電体層113としては、導電性が高い金属または合金を用いることが好ましく、導電性が高く且つ非磁性の金属または合金を用いることがより好ましい。このような導電体層113としては、Ag、Al、Cu等の金属が挙げられる。導電体層113の厚さは、例えば、10nm~1μmである。導電体層113は、導電体層113を含まない場合に比べて、感受回路12の抵抗が低減されるものであればよい。 As such a conductor layer 113, a highly conductive metal or alloy is preferably used, and a highly conductive and non-magnetic metal or alloy is more preferably used. Such a conductor layer 113 may be made of metal such as Ag, Al, and Cu. The thickness of the conductor layer 113 is, for example, 10 nm to 1 μm. The conductive layer 113 may reduce the resistance of the sensing circuit 12 compared to the case where the conductive layer 113 is not included.

なお、磁区抑制層112を挟む上下の軟磁性体層111、及び導電体層113を挟む上下の軟磁性体層111は、互いに反強磁性結合(AFC:Antiferromagnetically Coupled)している。上下の軟磁性体層111が反強磁性結合することで、反磁界が抑制され、磁気センサ10の感度が向上する。 The upper and lower soft magnetic layers 111 sandwiching the magnetic domain suppression layer 112 and the upper and lower soft magnetic layers 111 sandwiching the conductor layer 113 are antiferromagnetically coupled (AFC) to each other. Antiferromagnetic coupling between the upper and lower soft magnetic layers 111 suppresses the demagnetizing field and improves the sensitivity of the magnetic sensor 10 .

(磁気センサ10の動作)
続いて、磁気センサ10の動作について説明する。
図4は、磁気センサ10の感受部121の長手方向に印加された磁界Hと磁気センサ10のインピーダンスZとの関係を説明する図である。図4において、横軸が磁界H、縦軸がインピーダンスZである。なお、インピーダンスZは、図3(a)に示す感受回路12の端子部13b、13c間に交流電流を流して測定される。よって、インピーダンスZは感受回路12のインピーダンスであるが、磁気センサ10のインピーダンスZと表記する。
(Operation of magnetic sensor 10)
Next, the operation of the magnetic sensor 10 will be explained.
FIG. 4 is a diagram for explaining the relationship between the magnetic field H applied in the longitudinal direction of the sensing portion 121 of the magnetic sensor 10 and the impedance Z of the magnetic sensor 10. As shown in FIG. In FIG. 4, the horizontal axis is the magnetic field H, and the vertical axis is the impedance Z. In FIG. The impedance Z is measured by passing an alternating current between the terminals 13b and 13c of the sensing circuit 12 shown in FIG. 3(a). Therefore, although the impedance Z is the impedance of the sensing circuit 12 , it is written as the impedance Z of the magnetic sensor 10 .

図4に示すように、磁気センサ10のインピーダンスZは、感受部121の長手方向に印加される磁界Hが大きくなるにしたがい大きくなる。そして、磁気センサ10のインピーダンスZは、印加する磁界Hが異方性磁界Hkより大きくなると小さくなる。感受部121の異方性磁界Hkより小さい範囲において、磁界Hの変化量ΔHに対してインピーダンスZの変化量ΔZが急峻な部分(ΔZ/ΔHが大きい)を用いると、磁界Hの微弱な変化をインピーダンスZの変化量ΔZとして取り出すことができる。図4では、ΔZ/ΔHが大きい磁界Hの中心を磁界Hbとして示している。つまり、磁界Hbの近傍(図4で矢印で示す範囲)における磁界Hの変化量(ΔH)が高精度に測定できる。ここで、インピーダンスZの変化量ΔZが最も急峻な(ΔZ/ΔHが最も大きい)部分ほど、磁気インピーダンス効果が大きく、磁界又は磁界の変化を計測しやすい。換言すれば、磁界Hに対するインピーダンスZの変化が急峻なほど感度が高くなる。磁界Hbは、バイアス磁界と呼ばれることがある。以下では、磁界Hbをバイアス磁界Hbと表記する。なお、感受回路12に流される交流電流の周波数が高いほど、感度は高くなる。 As shown in FIG. 4, the impedance Z of the magnetic sensor 10 increases as the magnetic field H applied in the longitudinal direction of the sensing portion 121 increases. Then, the impedance Z of the magnetic sensor 10 becomes smaller when the applied magnetic field H becomes larger than the anisotropic magnetic field Hk. In a range smaller than the anisotropic magnetic field Hk of the sensing part 121, if a portion where the change amount ΔZ of the impedance Z is steep with respect to the change amount ΔH of the magnetic field H (ΔZ/ΔH is large), a weak change in the magnetic field H can be obtained. can be taken out as the change amount ΔZ of the impedance Z. In FIG. 4, the center of the magnetic field H where ΔZ/ΔH is large is shown as the magnetic field Hb. That is, the amount of change (ΔH) in the magnetic field H in the vicinity of the magnetic field Hb (the range indicated by the arrow in FIG. 4) can be measured with high accuracy. Here, the magneto-impedance effect is greater at a portion where the variation ΔZ of the impedance Z is the steepest (ΔZ/ΔH is the largest), making it easier to measure the magnetic field or the change in the magnetic field. In other words, the steeper the change in impedance Z with respect to the magnetic field H, the higher the sensitivity. The magnetic field Hb is sometimes called the bias magnetic field. The magnetic field Hb is hereinafter referred to as a bias magnetic field Hb. It should be noted that the higher the frequency of the alternating current flowing through the sensing circuit 12, the higher the sensitivity.

(磁気センサ10の製造方法)
磁気センサ10は、次のようにして製造される。
まず、基板11上に、感受回路12の平面形状を除いた部分を覆うフォトレジストのパターンを公知のフォトリソグラフィ技術により形成する。ついで、基板11上に、軟磁性体層111a、磁区抑制層112a、軟磁性体層111b、導電体層113、軟磁性体層111c、磁区抑制層112b、軟磁性体層111dを順に、例えばスパッタリング法により堆積する。そして、フォトレジスト上に堆積された軟磁性体層111a、磁区抑制層112a、軟磁性体層111b、導電体層113、軟磁性体層111c、磁区抑制層112b、軟磁性体層111dを、フォトレジストとともに除去する。すると、基板11上に、感受回路12の平面形状に加工された、軟磁性体層111a、磁区抑制層112a、軟磁性体層111b、導電体層113、軟磁性体層111c、磁区抑制層112b、軟磁性体層111dからなる積層体が残る。つまり、磁気センサ10が形成される。
(Manufacturing method of magnetic sensor 10)
The magnetic sensor 10 is manufactured as follows.
First, a photoresist pattern is formed on the substrate 11 by a known photolithographic technique to cover the area of the sensing circuit 12 excluding the planar shape thereof. Next, the soft magnetic layer 111a, the magnetic domain suppressing layer 112a, the soft magnetic layer 111b, the conductor layer 113, the soft magnetic layer 111c, the magnetic domain suppressing layer 112b, and the soft magnetic layer 111d are sequentially formed on the substrate 11, for example, by sputtering. Deposited according to the method. Then, the soft magnetic layer 111a, the magnetic domain suppression layer 112a, the soft magnetic layer 111b, the conductor layer 113, the soft magnetic layer 111c, the magnetic domain suppression layer 112b, and the soft magnetic layer 111d deposited on the photoresist are removed by photolithography. Remove with resist. Then, on the substrate 11, a soft magnetic layer 111a, a magnetic domain suppression layer 112a, a soft magnetic layer 111b, a conductor layer 113, a soft magnetic layer 111c, and a magnetic domain suppression layer 112b, which are processed into the planar shape of the sensing circuit 12, are formed. , and the soft magnetic layer 111d. That is, the magnetic sensor 10 is formed.

軟磁性体層111は、前述したように、長手方向と交差する方向、例えば短手方向(図2(a)のy方向)に一軸磁気異方性が付与されている。一軸磁気異方性は、基板11上に形成された感受回路12を、例えば3kG(0.3T)の回転磁場中における400℃での熱処理(回転磁場中熱処理)と、それに引き続く3kG(0.3T)の静磁場中における400℃での熱処理(静磁場中熱処理)とを行うことで付与できる。一軸磁気異方性の付与は、回転磁場中熱処理及び静磁場中熱処理で行う代わりに、感受回路12を構成する軟磁性体層111の堆積時にマグネトロンスパッタリング法を用いて行ってもよい。つまり、マグネトロンスパッタリング法に用いられる磁石(マグネット)が形成する磁界により、軟磁性体層111の堆積と同時に、軟磁性体層111に一軸磁気異方性が付与される。 As described above, the soft magnetic layer 111 is imparted with uniaxial magnetic anisotropy in a direction crossing the longitudinal direction, for example, in the lateral direction (the y direction in FIG. 2A). The uniaxial magnetic anisotropy is obtained by subjecting the sensing circuit 12 formed on the substrate 11 to heat treatment at 400° C. in a rotating magnetic field of 3 kG (0.3 T) (heat treatment in a rotating magnetic field), followed by 3 kG (0.3 T). 3 T) in a static magnetic field at 400° C. (heat treatment in a static magnetic field). Uniaxial magnetic anisotropy may be imparted by magnetron sputtering during deposition of the soft magnetic layer 111 constituting the sensing circuit 12 instead of the heat treatment in the rotating magnetic field and the heat treatment in the static magnetic field. That is, the magnetic field formed by the magnet used in the magnetron sputtering method imparts uniaxial magnetic anisotropy to the soft magnetic layer 111 at the same time as the soft magnetic layer 111 is deposited.

以上に説明した製造方法では、感受回路12における接続部122は、感受部121と同時に形成される。なお、感受回路12の平面形状を除いた部分を感受回路12及び端子部13の平面形状を除いた部分としてフォトレジストのパターンを形成してもよい。この場合、端子部13は、感受部121及び接続部122と同時に形成される。また、接続部122、端子部13を、導電性のAl、Cu、Ag、Au等の金属で形成してもよい。また、感受部121と同時に形成された接続部122、端子部13上に、導電性のAl、Cu、Ag、Au等の金属を積層してもよい。 In the manufacturing method described above, the connection portion 122 in the sensing circuit 12 is formed simultaneously with the sensing portion 121 . The pattern of the photoresist may be formed by excluding the plane shape of the sensing circuit 12 and the plane shape of the sensing circuit 12 and the terminal section 13 . In this case, the terminal portion 13 is formed simultaneously with the sensing portion 121 and the connecting portion 122 . Also, the connecting portion 122 and the terminal portion 13 may be made of conductive metal such as Al, Cu, Ag, and Au. Also, a conductive metal such as Al, Cu, Ag, or Au may be layered on the connection portion 122 and the terminal portion 13 formed at the same time as the sensing portion 121 .

なお、感受回路12は、磁区抑制層112及び導電体層113を備えるとしたが、磁区抑制層112及び導電体層113のいずれか一方又は両方を備えなくてもよい。 Although the sensing circuit 12 includes the magnetic domain suppressing layer 112 and the conductor layer 113, either one or both of the magnetic domain suppressing layer 112 and the conductor layer 113 may be omitted.

(第1の実施の形態が適用される磁気センサ10)
次に、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10について説明する。
前述したように、磁気センサ10近傍の配線の作る電流ループαの面積を小さくすれば、インダクタンスが小さくなり、感度が向上する。このため、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10では、端子部13cを設け、折返し配線14にて、端子部13aと端子部13cとを接続するようにしている。
(Magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied)
Next, the magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied will be described.
As described above, if the area of the current loop α formed by the wiring near the magnetic sensor 10 is reduced, the inductance is reduced and the sensitivity is improved. Therefore, in the magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied, the terminal portion 13c is provided, and the terminal portion 13a and the terminal portion 13c are connected by the folded wiring 14. FIG.

図5は、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10を立体的に説明する図である。図5(a)は、斜視図、図5(b)は、図5(a)の磁気センサ10をx方向側から見た側面図である。図5(a)では、図3(a)、(b)と同様に、x方向、y方向、及びz方向を設定する。図5(b)の側面図は、紙面の右方向が+y方向、紙面の上方向が+z方向である。 FIG. 5 is a diagram for stereoscopically explaining the magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied. 5(a) is a perspective view, and FIG. 5(b) is a side view of the magnetic sensor 10 of FIG. 5(a) viewed from the x-direction side. In FIG. 5(a), the x-direction, y-direction, and z-direction are set as in FIGS. 3(a) and 3(b). In the side view of FIG. 5B, the right direction on the paper surface is the +y direction, and the upward direction on the paper surface is the +z direction.

図5(a)、(b)に示すように、磁気センサ10は、端子部13aと端子部13cとを接続する折返し配線14が基板11の裏面側に引き回されるように設けられている。なお、基板11の裏面側に引き回された折返し配線14は、破線で示している。そして、端子部13b、13cが、交流電流発生部200及び検出部300との接続端子20、30に接続される。端子部13b、13cは、隣接して配置されている。なお、折返し配線14は、基板11の端部から基板11の裏面側に裏面に沿って引き回されているが、折返し配線14の長さが短くなるように、折返し配線14が裏面側に引き回される部分に基板11に切り込みを入れてもよい。また、基板11に貫通孔を設けて、折返し配線14を裏面側に引き回してもよい。 As shown in FIGS. 5(a) and 5(b), the magnetic sensor 10 is provided so that the turn-back wiring 14 connecting the terminal portions 13a and 13c is routed to the back side of the substrate 11. . Note that the folded wiring 14 routed to the back side of the substrate 11 is indicated by a broken line. The terminal portions 13b and 13c are connected to the connection terminals 20 and 30 for the AC current generating portion 200 and the detecting portion 300, respectively. The terminal portions 13b and 13c are arranged adjacent to each other. The folded wiring 14 is routed along the back surface of the substrate 11 from the end portion of the substrate 11, but the folded wiring 14 is drawn to the back surface side so that the length of the folded wiring 14 is shortened. A cut may be made in the substrate 11 at the portion to be turned. Alternatively, a through hole may be provided in the substrate 11 and the turn-back wiring 14 may be routed to the rear surface side.

図6(a)~(d)は、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10のバリエーションを示す図である。なお、図6(a)は、図3、図5に示した磁気センサ10である。バリエーションの磁気センサを区別するために、図6(a)~(d)の磁気センサ10を磁気センサ10a、10b、10c、10dと表記し、折返し配線14a、14b、14c、14dと表記する。磁気センサ10a、10b、10c、10dをそれぞれ区別しない場合は、磁気センサ10と表記し、折返し配線14a、14b、14c、14dをそれぞれ区別しない場合は、折返し配線14と表記する。そして、基板11の裏面側に隠れる折返し配線14を破線で示す。基板11の裏面側において、折返し配線14は、基板11の裏面に沿って設けられている。なお、磁気センサ10a、10b、10c、10dにおいて、感受回路12は同じである。 6A to 6D are diagrams showing variations of the magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied. 6A shows the magnetic sensor 10 shown in FIGS. 3 and 5. FIG. In order to distinguish the variations of the magnetic sensors, the magnetic sensors 10 in FIGS. 6A to 6D are denoted as magnetic sensors 10a, 10b, 10c, and 10d, and folded wirings 14a, 14b, 14c, and 14d. When the magnetic sensors 10a, 10b, 10c, and 10d are not distinguished from each other, they are referred to as the magnetic sensor 10, and when the return wirings 14a, 14b, 14c, and 14d are not distinguished from each other, they are referred to as a return wiring 14. A folded wiring 14 hidden behind the back surface of the substrate 11 is indicated by a dashed line. On the back surface side of the substrate 11 , the folded wiring 14 is provided along the back surface of the substrate 11 . The sensing circuit 12 is the same in the magnetic sensors 10a, 10b, 10c and 10d.

図6(a)に示す磁気センサ10aは、折返し配線14aが感受回路12のx方向の端部において、端子部13aから端子部13bに向かうように直線状に設けられ、端子部13cに接続されている。この磁気センサ10aを“端”と呼ぶことがある。なお、折返し配線14aは、平面視において、一部が感受回路12と重なって設けられてもよい。なお、平面視とは、z方向から基板11を透かして磁気センサ10を見た場合をいう。 In the magnetic sensor 10a shown in FIG. 6(a), the folded wiring 14a is linearly provided at the end of the sensing circuit 12 in the x direction from the terminal portion 13a to the terminal portion 13b, and is connected to the terminal portion 13c. ing. This magnetic sensor 10a is sometimes called an "end". In addition, the turn-back wiring 14a may be provided so as to partially overlap the sensing circuit 12 in plan view. Note that the term “planar view” refers to the case where the magnetic sensor 10 is viewed from the z direction through the substrate 11 .

図6(b)に示す磁気センサ10bは、平面視において、折返し配線14bが感受回路12のx方向における中央部を横切るように設けられている。この磁気センサ10bを“中央”と呼ぶことがある。 In the magnetic sensor 10b shown in FIG. 6B, the folded wiring 14b is provided so as to cross the central portion of the sensing circuit 12 in the x direction in plan view. This magnetic sensor 10b is sometimes called "central".

図6(c)に示す磁気センサ10cは、平面視において、折返し配線14cが感受回路12をM字状に横切るように設けられている。この磁気センサ10cを“M字”と呼ぶことがある。 In a magnetic sensor 10c shown in FIG. 6(c), a folded wiring 14c is provided so as to traverse the sensing circuit 12 in an M shape in plan view. This magnetic sensor 10c is sometimes called "M-shaped".

図6(d)に示す磁気センサ10dは、平面視において、折返し配線14dが感受回路12の感受部121及び接続部122に重なって設けられている。つまり、折返し配線14dは、感受回路12と同一形状である。この磁気センサ10dを“同一”と呼ぶことがある。
折返し配線14dに流れる高周波電流の方向は、感受回路12に流れる高周波電流が流れる方向と逆になり、電流により生成される磁界が打ち消しあう。感受回路12は、つづら折り(ミアンダ構造)に構成されていて、隣接する感受部121間で、磁界が打ち消しあう。しかし、磁気センサ10が感受部121を奇数個備える場合には、隣接する感受部121間で磁界が打ち消されない。また、接続部122から生成される磁界は、打ち消されない。よって、折返し配線14dを感受回路12に重ねて設けることで、高周波電流によって生成される磁界が打ち消されやすい。したがって、検出部300が検出する信号のS/Nが向上する。
In the magnetic sensor 10d shown in FIG. 6D, the folded wiring 14d is provided so as to overlap the sensing portion 121 and the connection portion 122 of the sensing circuit 12 in plan view. That is, the turn-back wiring 14d has the same shape as the sensing circuit 12. FIG. This magnetic sensor 10d may be called "identical".
The direction of the high-frequency current flowing through the turn-back wiring 14d is opposite to the direction of the high-frequency current flowing through the sensing circuit 12, so that the magnetic fields generated by the currents cancel each other out. The sensing circuit 12 has a zigzag structure (meandering structure), and magnetic fields cancel each other out between adjacent sensing portions 121 . However, when the magnetic sensor 10 has an odd number of sensing portions 121, the magnetic fields are not canceled between adjacent sensing portions 121. FIG. Also, the magnetic field generated from the connecting portion 122 is not canceled. Therefore, by providing the folded wiring 14d over the sensing circuit 12, the magnetic field generated by the high-frequency current can be easily canceled. Therefore, the S/N of the signal detected by the detector 300 is improved.

図7(a)~(c)は、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10の他のバリエーションを示す図である。図7(a)~(c)は、磁気センサ10e、10f、10gと表記し、折返し配線14e、14f、14gと表記する。磁気センサ10e、10f、10gをそれぞれ区別しない場合は、磁気センサ10と表記し、折返し配線14e、14f、14gをそれぞれ区別しない場合は、折返し配線14と表記する。そして、基板11の裏面側に隠れる折返し配線14を破線で示す。なお、基板11の裏面側では、折返し配線14は、基板11の裏面に沿って設けられている。 FIGS. 7A to 7C are diagrams showing other variations of the magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied. 7A to 7C, the magnetic sensors 10e, 10f and 10g are indicated, and the turn-back wirings 14e, 14f and 14g are indicated. When the magnetic sensors 10e, 10f, and 10g are not distinguished from each other, they are referred to as the magnetic sensor 10, and when the return wirings 14e, 14f, and 14g are not distinguished from each other, they are referred to as a return wiring 14. A folded wiring 14 hidden behind the back surface of the substrate 11 is indicated by a dashed line. In addition, on the back surface side of the substrate 11 , the folded wiring 14 is provided along the back surface of the substrate 11 .

図7(a)に示す磁気センサ10eは、感受回路12が5個(奇数個)の感受部121を備え、端子部13aが-x方向側のy方向側(紙面の左上隅側)に設けられ、端子部13bがx方向側の-y方向側(紙面の右下隅側)に設けられている。端子部13cは、端子部13bの-y方向側に隣接して設けられている。つまり、端子部13aと端子部13cとは、磁気センサ10eの互いに対向する対角の位置に設けられている。そして、折返し配線14eは、端子部13aから端子部13b側に向かうように、平面視において感受回路12を斜めに横切るように設けられ、端子部13cに接続されている。 In the magnetic sensor 10e shown in FIG. 7(a), the sensing circuit 12 includes five (odd number) sensing portions 121, and the terminal portion 13a is provided on the y direction side of the -x direction side (upper left corner side of the paper surface). The terminal portion 13b is provided on the -y direction side (lower right corner side of the paper surface) of the x direction side. The terminal portion 13c is provided adjacent to the terminal portion 13b in the -y direction. That is, the terminal portion 13a and the terminal portion 13c are provided at diagonal positions facing each other on the magnetic sensor 10e. The turn-back wiring 14e is provided so as to obliquely cross the sensing circuit 12 in plan view from the terminal portion 13a toward the terminal portion 13b, and is connected to the terminal portion 13c.

図7(b)に示す磁気センサ10fは、端子部13a、13bが感受回路12のx方向の中央部に設けられている。なお、端子部13cも磁気センサ10fのx方向の中央部において、端子部13bに対して-y方向側に隣接して設けられている。そして、折返し配線14fは、端子部13aから端子部13b側に向かうように、平面視において感受回路12の中央部を-y方向に横切るように設けられ、端子部13cに接続されている。 In the magnetic sensor 10f shown in FIG. 7B, terminal portions 13a and 13b are provided at the central portion of the sensing circuit 12 in the x direction. The terminal portion 13c is also provided adjacent to the terminal portion 13b in the -y direction at the center portion of the magnetic sensor 10f in the x direction. The turn-back wiring 14f is provided so as to cross the central portion of the sensing circuit 12 in the -y direction in plan view from the terminal portion 13a toward the terminal portion 13b side, and is connected to the terminal portion 13c.

図7(c)に示す磁気センサ10gは、感受回路12がx方向に長手方向を有する1個の感受部121を備え、端子部13aが-x方向側の端部に設けられ、端子部13bが+x方向側の端部に設けられている。端子部13cは、端子部13bのx方向側に隣接して設けられている。そして、折返し配線14gは、端子部13aから端子部13b側に向かうように、平面視において感受部121に重なるように設けられ、端子部13cに接続されている。
感受回路12の感受部121に流れる高周波電流が流れる方向と折返し配線14gに流れる高周波電流の方向とは逆になり、電流により生成される磁界が打ち消しあう。したがって、検出部300が検出する信号のS/Nが向上する。
In a magnetic sensor 10g shown in FIG. 7(c), the sensing circuit 12 includes one sensing portion 121 having a longitudinal direction in the x direction, a terminal portion 13a is provided at the end on the -x direction side, and a terminal portion 13b is provided at the end on the +x direction side. The terminal portion 13c is provided adjacent to the terminal portion 13b in the x direction. The folded wiring 14g is provided so as to overlap the sensing portion 121 in a plan view so as to extend from the terminal portion 13a toward the terminal portion 13b, and is connected to the terminal portion 13c.
The direction of the high-frequency current flowing through the sensing portion 121 of the sensing circuit 12 is opposite to the direction of the high-frequency current flowing through the turn-back wiring 14g, and the magnetic fields generated by the currents cancel each other. Therefore, the S/N of the signal detected by the detector 300 is improved.

図6(a)~(d)、図7(a)~(c)に示したバリエーションの磁気センサ10は、いずれも端子部13bと端子部13cとが隣接して設けられている。よって、磁気センサ10(端子部13b、13c)と接続端子20、30とを接続する配線の作る電流ループ(図1(a)に示す電流ループα2)の面積が小さくなる。よって、磁気センサ10の感度が向上する。 6(a) to (d) and FIGS. 7(a) to (c), the terminal portion 13b and the terminal portion 13c are provided adjacent to each other. Therefore, the area of the current loop (current loop α2 shown in FIG. 1A) formed by the wiring connecting the magnetic sensor 10 (terminal portions 13b, 13c) and the connection terminals 20, 30 is reduced. Therefore, the sensitivity of the magnetic sensor 10 is improved.

図8は、磁気センサ10における感度を説明する図である。図8(a)は、電流ループの面積と感度との関係、図8(b)は、磁気センサ10と配線との間隔と感度との関係である。図8(a)において、横軸が電流ループの面積(mm)、縦軸が感度(%/Oe)である。また、図8(b)において、横軸が磁気センサ10と配線との間隔(mm)、縦軸が感度(%/Oe)である。なお、感度(%/Oe)は、単位信号磁界強度に対する磁気センサ10の周波数の変化率である。 FIG. 8 is a diagram for explaining the sensitivity of the magnetic sensor 10. FIG. 8A shows the relationship between the area of the current loop and the sensitivity, and FIG. 8B shows the relationship between the distance between the magnetic sensor 10 and the wiring and the sensitivity. In FIG. 8(a), the horizontal axis is the current loop area (mm 2 ), and the vertical axis is the sensitivity (%/Oe). In FIG. 8B, the horizontal axis is the distance (mm) between the magnetic sensor 10 and the wiring, and the vertical axis is the sensitivity (%/Oe). Note that the sensitivity (%/Oe) is the change rate of the frequency of the magnetic sensor 10 with respect to the unit signal magnetic field strength.

ここで、電流ループとは、図1(a)における電流ループαと電流ループβとを加えたものであり、図1(b)における電流ループα′と電流ループβとを加えたものである。そして、図6(b)に示した磁気センサ10bと同様に、感受回路12の中央部を横切るように基板11の裏面側を回して設けた配線(磁気センサ10bでは折返し配線14b)と磁気センサ10の基板11との間の間隔を変化させて、電流ループ(図1(b)の電流ループα′に相当)の面積を変化させている。図8(b)における、磁気センサ10と配線との間の間隔“0.1mm”が、図6(b)の磁気センサ10bに相当する。この時の、磁気センサシステム1の電流ループの面積は、11mmである。なお、この電流ループの面積である11mmの内訳は、磁気センサ10b近傍の配線が作る電流ループαの面積が1mmであり、検出部300近傍の配線が作る電流ループβの面積が10mmである。つまり、磁気センサシステム1では、電流ループα(図1(a)参照)の面積は、電流ループβの面積に比べて、無視できる値であった。 Here, the current loop is a combination of the current loops α and β in FIG. 1(a), and a combination of the current loops α′ and β in FIG. 1(b). . Then, in the same manner as the magnetic sensor 10b shown in FIG. 6B, the wiring (turned wiring 14b in the magnetic sensor 10b) and the magnetic sensor By changing the distance between 10 and substrate 11, the area of the current loop (corresponding to current loop α' in FIG. 1(b)) is changed. The spacing of 0.1 mm between the magnetic sensor 10 and the wiring in FIG. 8(b) corresponds to the magnetic sensor 10b in FIG. 6(b). At this time, the area of the current loop of the magnetic sensor system 1 is 11 mm 2 . The current loop area of 11 mm 2 is broken down into the area of the current loop α formed by the wiring near the magnetic sensor 10b of 1 mm 2 and the area of the current loop β formed by the wiring near the detection unit 300 of 10 mm 2 . is. That is, in the magnetic sensor system 1, the area of the current loop α (see FIG. 1(a)) is negligible compared to the area of the current loop β.

図8(a)、(b)に示すように、磁気センサと配線との間の間隔が増加し、電流ループの面積が増大すると、感度(%/Oe)が低下する。図8(a)に示すように、電流ループの面積が56.5mm以下であると、感度は41.4%/Oe以上である。一方、電流ループの面積が72.0mm以上になると、感度は35.2%/Oe以下になる。つまり、感度を向上させるには、電流ループの面積が50mm以下であることが好ましい。また、図8(b)に示すように、磁気センサ10と配線との間隔が4.7mm以下であると、感度は41.4%/Oe以上である。一方、磁気センサ10と配線との間隔が6.2mm以上になると、感度は35.2%/Oe以下になる。つまり、感度を向上させるには、磁気センサ10と配線との間隔が5mm以下であることが好ましい。 As shown in FIGS. 8(a) and 8(b), the sensitivity (%/Oe) decreases as the distance between the magnetic sensor and the wiring increases and the area of the current loop increases. As shown in FIG. 8(a), when the area of the current loop is 56.5 mm 2 or less, the sensitivity is 41.4%/Oe or more. On the other hand, when the area of the current loop is 72.0 mm 2 or more, the sensitivity becomes 35.2%/Oe or less. In other words, in order to improve the sensitivity, it is preferable that the area of the current loop is 50 mm 2 or less. Further, as shown in FIG. 8B, when the distance between the magnetic sensor 10 and the wiring is 4.7 mm or less, the sensitivity is 41.4%/Oe or more. On the other hand, when the distance between the magnetic sensor 10 and the wiring is 6.2 mm or more, the sensitivity becomes 35.2%/Oe or less. In other words, in order to improve the sensitivity, it is preferable that the distance between the magnetic sensor 10 and the wiring is 5 mm or less.

図9は、磁気センサ10のバリエーションにおける感度を示す図である。図9(a)は、同一構造の2個の試料A1、A2で測定された感度、図9(b)は、構造の異なる構造の2個の試料B、Cで測定された感度である。図9(a)において、“300mm”は、電流ループの面積が300mmであって、図8で説明したように、磁気センサと配線との間隔を増加させて電流ループの面積を大きくした場合である。“端”は、図6(a)の磁気センサ10aであって、折返し配線14aを感受回路12の端部に直線状に設けた場合、“M字”は、図6(c)の磁気センサ10cであって、折返し配線14cを感受回路12をM字状に横切るように設けた場合、“中央”は、図6(b)の磁気センサ10bであって、折返し配線14bを感受回路12の中央部を横切るように設けた場合である。なお、“端”、“M字”、“中央”のいずれも電流ループの面積は、11mmである。縦軸は、感度であるが、相対値(任意単位)で示している。 FIG. 9 is a diagram showing the sensitivity of variations of the magnetic sensor 10. As shown in FIG. FIG. 9(a) shows the sensitivity measured with two samples A1 and A2 having the same structure, and FIG. 9(b) shows the sensitivity measured with two samples B and C having different structures. In FIG. 9A, “300 mm 2 ” means that the area of the current loop is 300 mm 2 , and the area of the current loop is increased by increasing the distance between the magnetic sensor and the wiring as described in FIG. is the case. "End" is the magnetic sensor 10a of FIG. 10c, and when the folded wiring 14c is provided across the sensing circuit 12 in an M shape, the "center" is the magnetic sensor 10b shown in FIG. This is the case where it is provided so as to traverse the central portion. In addition, the area of the current loop is 11 mm 2 for each of the "end", "M", and "center". The vertical axis represents sensitivity, which is shown in relative values (arbitrary units).

図9(b)において、“60mm”は、電流ループの面積が60mmであって、図8で説明したように、磁気センサと配線との間隔を増加させて電流ループの面積を大きくした場合である。“中央”は、図6(b)の磁気センサ10bであって、折返し配線14bを感受回路12の中央部を横切るように設けた場合、“同一”は、図6(d)の磁気センサ10dであって、折返し配線14dを感受回路12の感受部121及び接続部122に沿わせて設けた場合である。“中央”、“同一”のいずれも電流ループ(電流ループα+電流ループβに相当)の面積は、11mmである。縦軸は、感度であるが、相対値(任意単位)で示している。 In FIG. 9B, “60 mm 2 ” means that the area of the current loop is 60 mm 2 , and as described in FIG. 8, the space between the magnetic sensor and the wiring is increased to increase the area of the current loop. is the case. "Central" means the magnetic sensor 10b of FIG. 6(b), and when the turn-back wiring 14b is provided across the center of the sensing circuit 12, "same" means the magnetic sensor 10d of FIG. 6(d). In this case, the folded wiring 14d is provided along the sensing portion 121 and the connecting portion 122 of the sensing circuit 12. FIG. The area of the current loops (corresponding to current loop α+current loop β) for both “central” and “identical” is 11 mm 2 . The vertical axis represents sensitivity, which is shown in relative values (arbitrary units).

図9(a)に示すように、“端”、“M字”、“中央”のいずれであっても、感度は、電流ループが300mmの場合より向上している。同様に、図9(b)に示すように、“中央”、“同一”のいずれであっても、感度は、電流ループが60mmの場合より向上している。
以上説明したように、第1の実施の形態が適用される磁気センサ10を用いて、電流ループα面積を小さくすることにより、磁気センサ10の感度が向上する。
As shown in FIG. 9(a), the sensitivity is improved over the 300 mm 2 current loop at any of the "end", "M" and "center". Similarly, as shown in FIG. 9(b), the sensitivity is improved over the current loop of 60 mm 2 for both "middle" and "same".
As described above, the sensitivity of the magnetic sensor 10 is improved by reducing the area of the current loop α using the magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied.

なお、上記においては、折返し配線14は、基板11の裏面側に回すように設けられているとしたが、基板11の表面側に設けられてもよい。
図10は、第1の実施の形態が適用される他の磁気センサ10を説明する図である。図10(a)は、斜視図、図10(b)は、図10(a)の磁気センサ10をx方向から見た側面図である。図10(a)では、図5(a)、(b)と同様に、x方向、y方向、及びz方向を設定する。図10(b)の側面図は、紙面の右方向が+y方向、紙面の上方向が+z方向である。
In addition, in the above description, the folded wiring 14 is provided so as to be turned on the back surface side of the substrate 11 , but it may be provided on the front surface side of the substrate 11 .
FIG. 10 is a diagram illustrating another magnetic sensor 10 to which the first embodiment is applied. 10(a) is a perspective view, and FIG. 10(b) is a side view of the magnetic sensor 10 of FIG. 10(a) viewed from the x direction. In FIG. 10(a), the x-direction, y-direction, and z-direction are set as in FIGS. 5(a) and 5(b). In the side view of FIG. 10B, the right direction of the paper surface is the +y direction, and the upward direction of the paper surface is the +z direction.

図10(a)、(b)に示すように、磁気センサ10は、端子部13aと端子部13cとを接続する折返し配線14が基板11の表面側に設けられている。なお、折返し配線14は、感受回路12と重なる部分に電気絶縁性の絶縁体層115が設けられて、感受回路12と電気的に絶縁されている。そして、折返し配線14は、絶縁体層115の表面に沿って設けられている。なお、折返し配線14は、端子部13bと重ならないように、端子部13bを迂回するように設けられている。絶縁体層115を構成する絶縁体としては、SiO、Al、TiO等の酸化物、又は、Si、AlN等の窒化物等が挙げられる。 As shown in FIGS. 10A and 10B, the magnetic sensor 10 is provided on the surface side of the substrate 11 with a turn-back wiring 14 that connects the terminal portions 13a and 13c. The turn-back wiring 14 is electrically insulated from the sensing circuit 12 by providing an electrically insulating insulating layer 115 in a portion overlapping the sensing circuit 12 . The turn-back wiring 14 is provided along the surface of the insulator layer 115 . In addition, the folded wiring 14 is provided so as to bypass the terminal portion 13b so as not to overlap the terminal portion 13b. Examples of insulators forming the insulator layer 115 include oxides such as SiO 2 , Al 2 O 3 and TiO 2 and nitrides such as Si 3 N 4 and AlN.

図10(b)に示すように、折返し配線14を基板11の表面側に設けると、折返し配線14を基板11の裏面側に設ける場合に比べ、磁気センサ10における電流ループα1(図1(a)参照)において、折返し配線14と感受回路12とが作る電流ループの面積が小さくできる。これにより、磁気センサ10における電流ループα1が小さくなることにより、磁気センサ10近傍の配線が作る電流ループαが小さくなり、磁気センサ10の感度がより向上する。 As shown in FIG. 10(b), when the turn-back wiring 14 is provided on the front surface side of the substrate 11, the current loop α1 in the magnetic sensor 10 (FIG. 1(a) )), the area of the current loop formed by the turn-back wiring 14 and the sensing circuit 12 can be reduced. As a result, the current loop α1 in the magnetic sensor 10 becomes smaller, so that the current loop α formed by the wiring in the vicinity of the magnetic sensor 10 becomes smaller, and the sensitivity of the magnetic sensor 10 is further improved.

以上の説明では、磁気センサ10は、基板11の表面に端子部13cを備えるとして説明した。しかし、端子部13cは、基板11の裏面に設けられてもよい。また、端子部13cは、基板11に設けられた端子部13cを設けることなく、折返し配線14の端部であってもよい。ここでの端子部13cは、折返し配線14の端部を含むものとする。すなわち、磁気センサ10と接続端子20、30とを接続する配線の作る電流ループが小さくなるように、端子部13bと端子部13c(折返し配線14の端部を含む)とが、隣接して設けられていればよい。なお、隣接するとは、図3(a)に示したように、端子部13bと端子部13c(折返し配線14の端部を含む)との距離D1が、端子部13aと端子部13bとの距離D2より短ければよい。 In the above description, the magnetic sensor 10 has the terminal portion 13 c on the surface of the substrate 11 . However, the terminal portion 13 c may be provided on the back surface of the substrate 11 . Also, the terminal portion 13c may be the end portion of the folded wiring 14 without providing the terminal portion 13c provided on the substrate 11 . The terminal portion 13 c here includes the end portion of the folded wiring 14 . That is, the terminal portion 13b and the terminal portion 13c (including the ends of the folded wiring 14) are provided adjacent to each other so that the current loop formed by the wiring connecting the magnetic sensor 10 and the connection terminals 20 and 30 is small. It is good if it is 3A, the distance D1 between the terminal portion 13b and the terminal portion 13c (including the end portion of the folded wiring 14) is equal to the distance between the terminal portion 13a and the terminal portion 13b. It should be shorter than D2.

[第2の実施の形態]
第1の実施の形態においては、磁気センサ10の折返し配線14は、基板11の裏面側又は表面側に設けられていた。第2の実施の形態では、磁気センサ10の折返し配線14は、基板11上に設けられている。なお、第2の実施の形態では、磁気センサ10を除いて、他の構成は第1の実施の形態と同様であるので、異なる部分である磁気センサ10を説明し、他の構成の説明を省略する。なお、磁気センサ10のように、同じ機能の構成は、第1の実施の形態の磁気センサ10と同じ符号を付す。
[Second embodiment]
In the first embodiment, the turn-back wiring 14 of the magnetic sensor 10 is provided on the back side or front side of the substrate 11 . In the second embodiment, the folded wiring 14 of the magnetic sensor 10 is provided on the substrate 11 . In the second embodiment, except for the magnetic sensor 10, other configurations are the same as those of the first embodiment. Therefore, the magnetic sensor 10, which is a different part, will be described, and the other configurations will be described. omitted. Like the magnetic sensor 10, configurations having the same functions are given the same reference numerals as those of the magnetic sensor 10 of the first embodiment.

図11は、第2の実施の形態が適用される磁気センサ10を説明する図である。図11(a)は、斜視図、図11(b)は、図11(a)の磁気センサ10をx方向から見た側面図である。図11(a)では、図3(a)、(b)と同様に、x方向、y方向、及びz方向を設定する。図5(b)の側面図は、紙面の右方向が+y方向、紙面の上方向が+z方向である。 FIG. 11 is a diagram for explaining the magnetic sensor 10 to which the second embodiment is applied. 11(a) is a perspective view, and FIG. 11(b) is a side view of the magnetic sensor 10 of FIG. 11(a) viewed from the x direction. In FIG. 11(a), the x-direction, y-direction, and z-direction are set as in FIGS. 3(a) and 3(b). In the side view of FIG. 5B, the right direction on the paper surface is the +y direction, and the upward direction on the paper surface is the +z direction.

磁気センサ10では、折返し配線14は、感受回路12のx方向側の基板11上に設けられている。 In the magnetic sensor 10 , the folded wiring 14 is provided on the substrate 11 on the x-direction side of the sensing circuit 12 .

図12(a)~(c)は、第2の実施の形態が適用される磁気センサ10のバリエーションを示す図である。なお、バリエーションの磁気センサを区別するために、図12(a)~(c)は、磁気センサ10h、10i、10jと表記し、折返し配線14h、14i、14jと表記する。磁気センサ10h、10i、10jをそれぞれ区別しない場合は、磁気センサ10と表記し、折返し配線14h、14i、14jをそれぞれ区別しない場合は、折返し配線14と表記する。 12A to 12C are diagrams showing variations of the magnetic sensor 10 to which the second embodiment is applied. 12(a) to 12(c) are denoted by magnetic sensors 10h, 10i and 10j, and are denoted by return wirings 14h, 14i and 14j in order to distinguish the magnetic sensors of the variations. When the magnetic sensors 10h, 10i, and 10j are not distinguished from each other, they are referred to as the magnetic sensor 10, and when the return wirings 14h, 14i, and 14j are not distinguished from each other, they are referred to as a return wiring 14. FIG.

図12(a)に示す磁気センサ10hは、折返し配線14hが感受回路12のx方向の側面に沿って、端子部13aから端子部13b側に直線状に折り返すように設けられ、端子部13cに接続されている。 In a magnetic sensor 10h shown in FIG. 12(a), a turn-back wiring 14h is provided so as to be linearly turned back from the terminal portion 13a to the terminal portion 13b side along the side surface of the sensing circuit 12 in the x direction. It is connected.

図12(b)に示す磁気センサ10iは、折返し配線14iが感受回路12の感受部121及び接続部122に沿って設けられ、端子部13cに接続されている。
磁気センサ10iでは、感受回路12に流れる高周波電流が流れる方向と折返し配線14iに流れる高周波電流の方向とは逆になる。よって、図6(d)で説明したように、高周波電流により生成される磁界が打ち消しあう。したがって、検出部300が検出する信号のS/Nが向上する。
In the magnetic sensor 10i shown in FIG. 12(b), the folded wiring 14i is provided along the sensing portion 121 and the connecting portion 122 of the sensing circuit 12 and connected to the terminal portion 13c.
In the magnetic sensor 10i, the direction of the high-frequency current flowing through the sensing circuit 12 is opposite to the direction of the high-frequency current flowing through the turn-back wiring 14i. Therefore, as described with reference to FIG. 6(d), the magnetic fields generated by the high frequency current cancel each other out. Therefore, the S/N of the signal detected by the detector 300 is improved.

図12(c)に示す磁気センサ10jは、感受回路12がx方向に長手方向を有する1個の感受部121で構成されている。そして、折返し配線14jは、感受部121に沿って端子部13aから端子部13b側に折り返すように設けられ、端子部13cに接続されている。感受回路12の感受部121と折返し配線14jとは並列に配置されるので、感受回路12の感受部121に流れる高周波電流が流れる方向と折返し配線14jに流れる高周波電流の方向とは逆になり、電流により生成される磁界が打ち消しあう。したがって、検出部300が検出する信号のS/Nが向上する。 In the magnetic sensor 10j shown in FIG. 12(c), the sensing circuit 12 is composed of one sensing portion 121 having its longitudinal direction in the x direction. The return wiring 14j is provided so as to be folded back from the terminal portion 13a toward the terminal portion 13b along the sensing portion 121, and is connected to the terminal portion 13c. Since the sensing portion 121 of the sensing circuit 12 and the turn-back wiring 14j are arranged in parallel, the direction of the high-frequency current flowing through the sensing portion 121 of the sensing circuit 12 is opposite to the direction of the high-frequency current flowing through the turn-back wiring 14j. The magnetic fields produced by the current cancel each other out. Therefore, the S/N of the signal detected by the detector 300 is improved.

図12(a)~(c)に示したバリエーションの磁気センサ10は、いずれも端子部13bと端子部13cとが隣接して設けられている。よって、磁気センサ10(端子部13b、13c)と接続端子20、30とを接続する配線の作る電流ループ(図1(a)に示す電流ループα2)の面積が小さくなる。よって、磁気センサ10の感度が向上する。 The magnetic sensor 10 of the variation shown in FIGS. 12(a) to 12(c) is provided with the terminal portion 13b and the terminal portion 13c adjacent to each other. Therefore, the area of the current loop (current loop α2 shown in FIG. 1A) formed by the wiring connecting the magnetic sensor 10 (terminal portions 13b, 13c) and the connection terminals 20, 30 is reduced. Therefore, the sensitivity of the magnetic sensor 10 is improved.

以上の説明では、磁気センサ10は、基板11の表面に端子部13cを備えるとして説明した。しかし、端子部13cは、基板11に設けられた端子部13cを設けることなく、折返し配線14の端部であってもよい。ここでの端子部13cは、折返し配線14の端部を含むものとする。すなわち、磁気センサ10と接続端子20、30とを接続する配線の作る電流ループが小さくなるように、端子部13bと端子部13c(折返し配線14の端部を含む)とが、隣接して設けられていればよい。 In the above description, the magnetic sensor 10 has the terminal portion 13 c on the surface of the substrate 11 . However, the terminal portion 13 c may be the end portion of the folded wiring 14 without providing the terminal portion 13 c provided on the substrate 11 . The terminal portion 13 c here includes the end portion of the folded wiring 14 . That is, the terminal portion 13b and the terminal portion 13c (including the ends of the folded wiring 14) are provided adjacent to each other so that the current loop formed by the wiring connecting the magnetic sensor 10 and the connection terminals 20 and 30 is small. It is good if it is

[第3の実施の形態]
第1の実施の形態及び第2の実施の形態においては、磁気センサ10に折返し配線14を設け、磁気センサ10と接続端子20、30とを接続する配線の作る電流ループ(図1(a)に示す電流ループα2)の面積を小さくした。第3の実施の形態においては、折返し配線14の代わりに、感受回路12を折り返すように設けている。なお、第3の実施の形態では、磁気センサ10を除いて、他の構成は第1の実施の形態及び第2の実施の形態と同様であるので、異なる部分である磁気センサ10を説明し、他の構成の説明を省略する。なお、磁気センサ10のように、同じ機能の構成は、第1の実施の形態及び第2の実施の形態の磁気センサ10と同じ符号を付す。
[Third embodiment]
In the first and second embodiments, the magnetic sensor 10 is provided with the turn-back wiring 14, and the current loop formed by the wiring connecting the magnetic sensor 10 and the connection terminals 20 and 30 (FIG. 1(a)). The area of the current loop α2) shown in is made small. In the third embodiment, instead of the turn-back wiring 14, the sensing circuit 12 is turned back. In the third embodiment, except for the magnetic sensor 10, other configurations are the same as those in the first and second embodiments, so the magnetic sensor 10, which is a different part, will be described. , the description of other configurations is omitted. In addition, like the magnetic sensor 10, configurations having the same functions are given the same reference numerals as those of the magnetic sensors 10 of the first embodiment and the second embodiment.

図13は、第3の実施の形態が適用される磁気センサ10のバリエーションを示す図である。図13に示す磁気センサ10は、これまで説明した磁気センサ10と区別するため、磁気センサ10kと表記する。 FIG. 13 is a diagram showing variations of the magnetic sensor 10 to which the third embodiment is applied. The magnetic sensor 10 shown in FIG. 13 is referred to as a magnetic sensor 10k in order to distinguish it from the magnetic sensors 10 described above.

図13に示す磁気センサ10kは、感受回路12a、12bを備える。そして、感受回路12aが外側、感受回路12bが内側に設けられている。そして、感受回路12aのy方向の端部に端子部13a、感受回路12aの-y方向の端部に端子部13bが設けられている。そして、感受回路12aの端子部13aは、感受回路12bと接続されている。そして、感受回路12bの-y方向側の端部に端子部13cが設けられている。そして、端子部13bと端子部13cとは隣接して設けられている。つまり、第1の実施の形態及び第2の実施の形態における折返し配線14の代わりに、感受回路12bが設けられている。感受回路12bは、他の感受回路及び折返し部材の他の一例である。なお、感受回路12aと感受回路12bとを連続するように設ければ、端子部13aを設けることを要しない。
磁気センサ10kでは、感受回路12aに流れる高周波電流の方向と、感受回路12bに流れる高周波電流が流れる方向とは逆になる。よって、図6(d)で説明したように、高周波電流により生成される磁界が打ち消しあう。したがって、検出部300が検出する信号のS/Nが向上する。
The magnetic sensor 10k shown in FIG. 13 comprises sensing circuits 12a, 12b. A sensing circuit 12a is provided outside, and a sensing circuit 12b is provided inside. A terminal portion 13a is provided at the y-direction end of the sensing circuit 12a, and a terminal portion 13b is provided at the −y-direction end of the sensing circuit 12a. A terminal portion 13a of the sensing circuit 12a is connected to the sensing circuit 12b. A terminal portion 13c is provided at the end of the sensing circuit 12b on the -y direction side. Terminal portion 13b and terminal portion 13c are provided adjacent to each other. That is, the sensing circuit 12b is provided instead of the turn-back wiring 14 in the first and second embodiments. Sensing circuit 12b is another example of another sensing circuit and folded member. If the sensing circuit 12a and the sensing circuit 12b are provided continuously, it is not necessary to provide the terminal portion 13a.
In the magnetic sensor 10k, the direction of the high frequency current flowing through the sensing circuit 12a is opposite to the direction of the high frequency current flowing through the sensing circuit 12b. Therefore, as described with reference to FIG. 6(d), the magnetic fields generated by the high frequency current cancel each other out. Therefore, the S/N of the signal detected by the detector 300 is improved.

図13に示したバリエーションの磁気センサ10は、端子部13bと端子部13cとが、隣接して設けられている。よって、磁気センサ10(端子部13b、13c)と接続端子20、30とを接続する配線の作る電流ループ(図1(a)に示す電流ループα2)の面積が小さくなる。よって、磁気センサ10の感度が向上する。 In the magnetic sensor 10 of the variation shown in FIG. 13, the terminal portion 13b and the terminal portion 13c are provided adjacent to each other. Therefore, the area of the current loop (current loop α2 shown in FIG. 1A) formed by the wiring connecting the magnetic sensor 10 (terminal portions 13b, 13c) and the connection terminals 20, 30 is reduced. Therefore, the sensitivity of the magnetic sensor 10 is improved.

以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明は本実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨に反しない限りにおいては様々な変形や組み合わせを行っても構わない。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications and combinations may be made as long as they do not violate the gist of the present invention.

1、1′…磁気センサシステム、10、10′、10a、10b、10c、10d、10e、10f、10g、10h、10i、10j、10k…磁気センサ、11…基板、12、12a、12b…感受回路、13、13a、13b、13c…端子部、14、14a、14b、14c、14d、14e、14f、14g、14h、14i、14j…折返し配線、20、30…接続端子、111、111a、111b、111c、111d…軟磁性体層、112、112a、112b…磁区抑制層、113…導電体層、115…絶縁体層、121…感受部、122…接続部、200…交流電流発生部、300…検出部、α、α1、α2、α′、α′1、α′2、β…電流ループ、D1、D2…距離 1, 1' magnetic sensor system 10, 10', 10a, 10b, 10c, 10d, 10e, 10f, 10g, 10h, 10i, 10j, 10k magnetic sensor 11 substrate 12, 12a, 12b sensing Circuits 13, 13a, 13b, 13c Terminals 14, 14a, 14b, 14c, 14d, 14e, 14f, 14g, 14h, 14i, 14j Return wirings 20, 30 Connection terminals 111, 111a, 111b , 111c, 111d... Soft magnetic layer 112, 112a, 112b... Magnetic domain suppression layer 113... Conductor layer 115... Insulator layer 121... Sensing part 122... Connecting part 200... AC current generating part 300 ... detector, α, α1, α2, α', α'1, α'2, β ... current loop, D1, D2 ... distance

Claims (13)

非磁性の基板と、
前記基板の表面に設けられ、磁気インピーダンス効果により磁界を感受する感受部を含む感受回路と、
前記感受回路の両端部にそれぞれが接続された第1の端子部と第2の端子部と、
一端部が前記第1の端子部に接続されて前記第2の端子部側に向けて折り返す、導電性の折返し部材と、
を備える磁気センサ。
a non-magnetic substrate;
a sensing circuit provided on the surface of the substrate and including a sensing portion that senses a magnetic field by magneto-impedance effect;
a first terminal portion and a second terminal portion respectively connected to both ends of the sensing circuit;
a conductive folded member, one end of which is connected to the first terminal and folded back toward the second terminal;
A magnetic sensor comprising a
前記折返し部材は、非磁性の金属で構成された配線であることを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ。 2. The magnetic sensor according to claim 1, wherein the folded member is wiring made of non-magnetic metal. 前記第2の端子部に隣接して設けられた第3の端子部を備え、
前記折返し部材の他端部は、前記第3の端子部に接続されていることを特徴とする請求項2に記載の磁気センサ。
A third terminal portion provided adjacent to the second terminal portion,
3. The magnetic sensor according to claim 2, wherein the other end of said folded member is connected to said third terminal.
前記第2の端子部と前記第3の端子部との中心間の距離は、前記第1の端子部と当該第2の端子部との中心間の距離に比べて、小さいことを特徴とする請求項3に記載の磁気センサ。 A center-to-center distance between the second terminal portion and the third terminal portion is smaller than a center-to-center distance between the first terminal portion and the second terminal portion. The magnetic sensor according to claim 3. 前記折返し部材は、前記基板の表面側又は裏面側に設けられていることを特徴とする請求項4に記載の磁気センサ。 5. The magnetic sensor according to claim 4, wherein the folding member is provided on the surface side or the back surface side of the substrate. 前記折返し部材は、前記第1の端子部から、前記第2の端子部側に向かって直線状に設けられていることを特徴とする請求項5に記載の磁気センサ。 6. The magnetic sensor according to claim 5, wherein the folded member is provided linearly from the first terminal portion toward the second terminal portion. 前記折返し部材は、前記感受回路の中央部において、平面視において当該感受回路を横切る部分を備えることを特徴とする請求項5に記載の磁気センサ。 6. The magnetic sensor according to claim 5, wherein the folded member has a portion crossing the sensing circuit in a plan view at a central portion of the sensing circuit. 前記折返し部材は、M字状であって、平面視において前記感受回路と少なくとも一部を重ねて設けられていることを特徴とする請求項5に記載の磁気センサ。 6. The magnetic sensor according to claim 5, wherein the folded member has an M shape and is provided so as to overlap at least a portion of the sensing circuit in a plan view. 前記折返し部材は、前記感受回路に沿って設けられていることを特徴とする請求項5に記載の磁気センサ。 6. The magnetic sensor according to claim 5, wherein the folded member is provided along the sensing circuit. 前記折返し部材は、前記基板の表面に設けられていることを特徴とする請求項4に記載の磁気センサ。 5. The magnetic sensor according to claim 4, wherein the folded member is provided on the surface of the substrate. 前記折返し部材は、前記第1の端子部から、前記第2の端子部側に向かって、前記感受回路の側面に沿って、直線状に設けられていることを特徴とする請求項10に記載の磁気センサ。 11. The folding member according to claim 10, wherein the folded member is linearly provided along the side surface of the sensing circuit from the first terminal portion toward the second terminal portion. magnetic sensor. 前記折返し部材は、前記感受回路に沿って設けられていることを特徴とする請求項10に記載の磁気センサ。 11. The magnetic sensor according to claim 10, wherein said folded member is provided along said sensing circuit. 前記折返し部材は、磁気インピーダンス効果により磁界を感受する他の感受部を含む他の感受回路であることを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ。 2. The magnetic sensor according to claim 1, wherein said folded member is another sensing circuit including another sensing part that senses a magnetic field by magneto-impedance effect.
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