JP2022147493A - 光学素子、光学モジュール及び、光学素子または光学モジュールの製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
前記基材部の前記光学領域が設けられた面における、前記光学領域の周囲に設けられ、
前記光学要素が配置されない周辺領域と、
前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域に設けられ、光の透過を抑制し、あるいは光を拡散する遮光拡散部と、
を備える。
前記光学素子に光を入射する光源と、
前記光学素子と前記光源とを保持する保持部材と、
を備え、
前記保持部材は、前記光源が固定される基底部と、前記光学素子が固定される側壁部を有し、
前記側壁部には、前記光学素子の前記周辺領域を載置する載置面が設けられ、
前記周辺領域と前記載置面の間には所定の接着剤が介在する、光学モジュールである。
前記平板状の基材部と、前記光学領域と、該光学領域の周囲に配置され前記光学素子として光学的機能が使用されない周辺領域とを、一体成型で形成する成型工程と、
前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域に、光の透過が抑制され、あるいは光を拡散する遮光拡散部を形成する、遮光拡散部形成工程と、
を有する。
前記成型工程において、前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域の表面粗さが前記基材部の側面に比較して大きい粗化面が、遮光拡散部として成型されてもよい。
前記載置面に前記所定の接着剤を塗布する接着剤塗布工程と、
前記光学素子を前記所定の接着剤が塗布された前記載置面に載置して固定する固定工程と、を有する、光学モジュールの製造方法である。
受光され、信号処理回路106で適切な電気信号に変換される。そして、演算部(不図示)において、照射光源102が照射光を発光してから受光素子105で反射光が受光されるまでの時間、つまり光の飛行時間を測定することにより、測定対象Oにおける各場所までの距離を測定する。
。この場合、高強度の漏れ光が外部の人の目に直接入射してしまう所謂アイセーフ問題を生じる虞がある。
ELレーザ光源からの光がそのまま漏れることがなく、高強度のレーザ光が直接、外部に照射される危険を回避することが可能である。
図3には、本実施形態の変形例について示す。この変形例は、遮光拡散部13eをマイクロレンズアレイ13の下面のリブ13dに設けた例である。このようにすることで、光源2からの照射光がマイクロレンズアレイ13のレンズ領域13a以外の部分に入射されることを抑制でき、漏れ光を元から遮断または拡散することができる。よって、側壁部10bにおける上端部10dの高さをさらに低くすることができる。また、マイクロレンズアレイ3内における迷光に起因するフレアの発生を抑制することが可能となる。
図4(a)には、本実施形態の2番目の変形例について示す。この変形例ではマイクロレンズアレイ23に、凹部を設けず、基材部23bの下面に直接レンズ領域23aを設けた。そして、遮光拡散部23eを基材部23bの上面に設けている。すなわち、この変形例においては、レンズ領域23aと、レンズ領域23aの周囲の周辺領域としての周辺部23dとは、略同一面に配置される。このようにすることで、リブを省略できる分、マイクロレンズアレイ23及び、上端部10dの高さを低くすることができ、光学モジュール21の高さを低くすることが可能である。
光がマイクロレンズアレイ33のレンズ領域33a以外の部分に入射されることを抑制でき、漏れ光を元から遮断または拡散することができる。よって、側壁部10bにおける上端部10dの高さをさらに低くすることができる。また、マイクロレンズアレイ3内における迷光に起因するフレアの発生を抑制することが可能となる。
図5には、本実施形態の4番目の変形例について示す。この変形例では、接着剤5を利用して、遮光拡散部43eをマイクロレンズアレイ43の下面のリブ43dに設けている。すなわち、この変形例においては、マイクロレンズアレイ43のリブ43dと側壁部10bの段差部10cとの間に介在させて接着させる接着剤として、有色で光源2からの入射光の遮光性を有する接着剤5を使用している。
次に、マイクロレンズアレイ3の製造方法について説明する。図6は、製造方法のフローを記載したフローチャートである。図6(a)に示した例では、S01に示すように、マイクロレンズアレイ3は、樹脂成型工程によって基材部3b、レンズ領域3a、凹部3c、リブ3d、が同時に一体成型で形成される。S01の工程は成型工程に相当する。そして、その後、S02に示すように、遮光拡散部3eが形成される。この遮光拡散部3eを形成する工程は、例えば以下のような方法を用いて実施される。
(1)フォトリソグラフィー
一体成型されたマイクロレンズアレイ3の上面または下面に、フォトレジスト液を塗布する。そして、下面におけるリブ3d以外の部分または、上面におけるリブ3dに相当する領域以外の部分にフォトマスクを被せた上で露光する。そして、未感光部を除去することで、リブ3dまたは、上面におけるリブ3dに相当する領域に、フォトレジスト材料による遮光層を形成する。
(2)ブラスト
下面におけるリブ3d以外の部分または、上面におけるリブ3dに相当する領域以外の部分にマスクを被せた上で、研削材を含むエアーをマイクロレンズアレイ3の上面または下面に衝突させ、表面を粗化する。
(3)その他
下面におけるリブ3d以外の部分または、上面におけるリブ3dに相当する領域以外の部分にマスクを被せた上で、樹脂表面を化学的、熱的あるいは光学的手法によって変質させ、表面を粗化する。
あるいは(3)の方法によって、遮光拡散部3eを形成する部分の表面を粗化しておく。そして、マイクロレンズアレイ3の製造工程においては、樹脂成型工程によって基材部3b、レンズ領域3a、凹部3c、リブ3d、遮光拡散部3eが同時に一体成型で形成される。この例によれば、マイクロレンズアレイ3の製造工程をより簡略化することが可能である。
なお、本実施形態に係るマイクロレンズアレイ3、13、23、33、43の表面または内部には、導電性物質を含む配線を施し、当該配線の通電状態をモニターすることにより、レンズ領域3a、13a、23a、33a、43aにおける各レンズ要素の損傷を検出できるようにしてもよい。そうすることで、各レンズ要素のクラック、剥離などの損傷を簡便に検出することができるので、マイクロレンズアレイ3、13、23、33、43の損傷に起因する光学モジュール1、11、21,31,41の不具合、誤作動による被害を未然に防止することができる。例えば、各レンズ要素のクラックの発生を、導電性物質の断線により検出し、光源の発光を禁止することで、当該クラックを介して光源からの0次光が直接マイクロレンズアレイ3、13、23、33、43を透過し、外部に照射されることを回避できる。その結果、装置のアイセーフティー性能をさらに向上させることが可能である。
に施しても良い。また、レンズ領域3a、13a、23a、33a、43aが形成された方の面、反対側の面、両側の何れの面に施してもよい。導電性物質としては、導電性を有するものである限り特に限定されず、例えば、金属、金属酸化物、導電性ポリマー、導電性炭素系物質などを使用することができる。
1a、11a、21a、31a、41a・・・レンズ領域
1b、11b、21b、31b、41b・・・基材部
1c、11c、41c・・・凹部
1d、11d、21d、31d、41d・・・周辺部
1e、11e、21e、31e、41e・・・遮光拡散部
2・・・光源
5・・・接着剤
10・・・筐体
10a・・・基底部
10b・・・側壁部
10c・・・段差部
10d・・・先端部
100・・・TOF距離測定装置
101・・・光源制御部
102・・・光源
103・・・照射光学系
104・・・反射光学系
105・・・受光素子
106・・・信号処理回路
Claims (14)
- 平板状の基材部の少なくとも片面の一部に光学要素が配置された光学領域と、
前記基材部の前記光学領域が設けられた面における、前記光学領域の周囲に設けられ、前記光学要素が配置されない周辺領域と、
前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域に設けられ、光の透過を抑制し、あるいは光を拡散する遮光拡散部と、
を備える、光学素子。 - 前記基材部において、前記光学領域は、前記周辺領域に対して窪んだ面に形成される、請求項1に記載の光学素子。
- 前記光学要素はレンズ要素であり、前記光学領域は、複数の前記レンズ要素が配列されたレンズ領域である、請求項1または2に記載の光学素子。
- 前記遮光拡散部は、前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域に形成されたフォトレジスト材料の膜を有する、請求項1から3のいずれか一項に記載の光学素子。
- 前記遮光拡散部は、前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域の表面粗さが前記基材部の側面に比較して大きい粗化面を有する、請求項1から3のいずれか一項に記載の光学素子。
- 請求項1から5のいずれか一項に記載の光学素子と、
前記光学素子に光を入射する光源と、
前記光学素子と前記光源とを保持する保持部材と、
を備え、
前記保持部材は、前記光源が固定される基底部と、前記光学素子が固定される側壁部を有し、
前記側壁部には、前記光学素子の前記周辺領域を載置する載置面が設けられ、
前記周辺領域と前記載置面の間には所定の接着剤が介在する、光学モジュール。 - 前記側壁部の上端は、前記光学素子の上面と同じ高さまたは、前記光学素子の上面より低くなるように形成された、請求項6に記載の光学モジュール。
- 前記所定の接着剤は遮光性を有し、前記遮光拡散部を形成する、請求項6または7に記載の光学モジュール。
- 平板状の基材部の少なくとも片面の一部に光学要素が配置された光学領域を有する、光学素子の製造方法であって、
前記平板状の基材部と、前記光学領域と、該光学領域の周囲に配置され前記光学素子として光学的機能が使用されない周辺領域とを、一体成型で形成する成型工程と、
前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域に、光の透過が抑制され、あるいは光を拡散する遮光拡散部を形成する、遮光拡散部形成工程と、
を有する、光学素子の製造方法。 - 前記遮光拡散部形成工程は、前記成型工程と同時に行われ、
前記成型工程において、前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域の表面粗さが前記基材部の側面に比較して大きい粗化面が、遮光
拡散部として成型される、請求項9に記載の光学素子の製造方法。 - 前記遮光拡散部形成工程は、前記成型工程の後に行われるとともに、前記成型工程において成型された前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域の表面に、フォトリソグラフィーによってフォトレジスト材料の膜を形成する工程を含む、請求項9に記載の光学素子の製造方法。
- 前記遮光拡散部形成工程は、前記成型工程の後に行われるとともに、前記成型工程において成型された前記周辺領域および/または、前記基材部の反対面における該周辺領域に相当する領域の表面を粗化する粗化工程を含む、請求項9に記載の光学素子の製造方法。
- 請求項6または7に記載の光学モジュールの製造方法であって、
前記載置面に前記所定の接着剤を塗布する接着剤塗布工程と、
前記光学素子を前記所定の接着剤が塗布された前記載置面に載置して固定する固定工程と、を有する、光学モジュールの製造方法。 - 前記所定の接着剤は遮光性を有する、請求項13に記載の光学モジュールの製造方法。
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