[go: up one dir, main page]

JP2022064636A - Magnetic balance type current sensor - Google Patents

Magnetic balance type current sensor Download PDF

Info

Publication number
JP2022064636A
JP2022064636A JP2020173371A JP2020173371A JP2022064636A JP 2022064636 A JP2022064636 A JP 2022064636A JP 2020173371 A JP2020173371 A JP 2020173371A JP 2020173371 A JP2020173371 A JP 2020173371A JP 2022064636 A JP2022064636 A JP 2022064636A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit unit
unit
main
signal
comparative
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020173371A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP7415867B2 (en
Inventor
肇臣 磯貝
Tadaomi Isogai
直樹 有坂
Naoki Arisaka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2020173371A priority Critical patent/JP7415867B2/en
Publication of JP2022064636A publication Critical patent/JP2022064636A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7415867B2 publication Critical patent/JP7415867B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

To provide a magnetic balance type current sensor capable of determining an abnormality.SOLUTION: A magnetic balance type current sensor includes: a sensor unit 10 which outputs a detection signal based on an object magnetic field; an electric magnet 31 which generates a cancellation magnetic field for cancelling the object magnetic field; a main output unit 30 having a shunt resistor 32 connected in series with the electric magnet 31; a control circuit unit 20 which is connected to the main output unit 30 and feeds a feedback current I1 and I2 to the electric magnet 31 and the shunt resistor 32 for generating the cancellation magnetic field; a redundant circuit unit 40 which includes a comparison resistor unit 41 having a comparison resistor 41b arranged, to the control circuit unit 32, in parallel to the electric magnet 31 and the shunt resistor 32, and monitors potential change of the electric magnet 31 and the shunt resistor 32; and a determination unit 50 which determines occurrence of an abnormality when it is determined that a difference between a main signal Vout based on a potential difference between both ends of the shunt resistor 32 and a comparison signal Vcom based on a potential difference between both ends of the comparison resistor 41b is out of a prescribed threshold range.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、磁気平衡式電流センサに関するものである。 The present invention relates to a magnetically balanced current sensor.

従来より、バスバー等の被検出体に流れる電流を検出する磁気平衡式電流センサが提案されている(例えば、特許文献1参照)。具体的には、この磁気平衡式電流センサは、被検出体を流れる電流によって発生する対象磁界を相殺するための相殺磁界を発生させるフィードバックコイルと、対象磁界と相殺磁界との差に基づく差磁界に応じた検出信号を出力するセンサ部とを備えている。また、磁気平衡式電流センサは、センサ部から出力される検出値に応じてフィードバックコイルにフィードバック電流を流す制御回路部と、フィードバックコイルと直列に接続された抵抗体とを備えている。 Conventionally, a magnetically balanced current sensor that detects a current flowing through an object to be detected such as a bus bar has been proposed (see, for example, Patent Document 1). Specifically, this magnetically balanced current sensor has a feedback coil that generates a canceling magnetic field for canceling the target magnetic field generated by the current flowing through the object to be detected, and a differential magnetic field based on the difference between the target magnetic field and the canceling magnetic field. It is equipped with a sensor unit that outputs a detection signal according to the above. Further, the magnetically balanced current sensor includes a control circuit unit for passing a feedback current through the feedback coil according to a detection value output from the sensor unit, and a resistor connected in series with the feedback coil.

そして、このような磁気平衡式電流センサは、差磁界がゼロに近づくようにフィードバック電流が制御され、フィードバック電流によって発生する抵抗体の両端の電位差に基づいて被検出体を流れる電流が測定される。 In such a magnetically balanced current sensor, the feedback current is controlled so that the differential magnetic field approaches zero, and the current flowing through the detected object is measured based on the potential difference between both ends of the resistor generated by the feedback current. ..

特開2002-228689号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-228689

ところで、上記のような磁気平衡式電流センサでは、センシング部として機能するフィードバックコイルと直列に接続された抵抗体の抵抗値変動や、フィードバック電流が流れる部分の断線等の異常判定を行いたいという要望がある。 By the way, in the magnetic equilibrium type current sensor as described above, there is a request to determine an abnormality such as a fluctuation in the resistance value of a resistor connected in series with a feedback coil functioning as a sensing unit and a disconnection in a portion where a feedback current flows. There is.

本発明は上記点に鑑み、異常判定を行うことのできる磁気平衡式電流センサを提供することを目的とする。 In view of the above points, it is an object of the present invention to provide a magnetically balanced current sensor capable of performing abnormality determination.

上記目的を達成するための請求項1では、被検出体を流れる電流を検出する磁気平衡式電流センサであって、電流によって発生する対象磁界に基づいた検出信号を出力するセンサ部(10)と、センサ部が検出する対象磁界を相殺する相殺磁界を発生させる電磁石(31)と、電磁石と直列に接続されたシャント抵抗体(32)と、を有するメイン出力部(30)と、メイン出力部と接続され、検出信号に基づいて相殺磁界を発生させるフィードバック電流(I1、I2)を電磁石およびシャント抵抗体に流す制御回路部(20)と、制御回路部に対し、抵抗体1電磁石および抵抗体1シャント抵抗体と並列に配置された比較抵抗体(41b)を有する比較抵抗部(41)を含み、電磁石およびシャント抵抗体の電位差変動をモニタする冗長回路部(40)と、シャント抵抗体の両端の電位差に基づくメイン信号(Vout、Vdout)と、比較抵抗体の両端の電位差に基づく比較信号(Vcom、Vdcom)とを比較し、メイン信号と比較信号との差が所定の閾値範囲外であると判定した場合、異常が発生していると判定する判定部(50)と、を備える。 The first aspect of claim 1 for achieving the above object is a magnetically balanced current sensor that detects a current flowing through a subject to be detected, and has a sensor unit (10) that outputs a detection signal based on a target magnetic field generated by the current. A main output unit (30) having an electromagnet (31) that generates an canceling magnetic field that cancels the target magnetic field detected by the sensor unit, and a shunt resistor (32) connected in series with the electromagnet, and a main output unit. The control circuit unit (20) that is connected to the control circuit unit and causes a feedback current (I1, I2) that generates a canceling magnetic field based on the detection signal to flow through the electromagnet and shunt resistor, and the resistor 1 electromagnet and resistor for the control circuit unit. 1 A redundant circuit unit (40) that includes a comparative resistance unit (41) having a comparative resistor (41b) arranged in parallel with the shunt resistor, and monitors potential difference fluctuations of the electromagnet and the shunt resistor, and a shunt resistor. The main signal (Vout, Vdout) based on the potential difference between both ends is compared with the comparison signal (Vcom, Vdcom) based on the potential difference between both ends of the comparison resistor, and the difference between the main signal and the comparison signal is outside the predetermined threshold range. A determination unit (50) for determining that an abnormality has occurred when it is determined to be present is provided.

これによれば、メイン信号と比較信号との差が閾値範囲内にあるか否かを判定することにより、フィードバック電流が流れるメイン出力部の感度変動やオフセット変動(すなわち、抵抗値変動)、断線等の異常判定を容易に判定できる。また、このような構成では、冗長回路部で電磁石およびシャント抵抗体の電位差変動をモニタすることによって異常判定を行うため、被検出体に流れる電流の検出を停止することなく、異常判定を行うことができる。 According to this, by determining whether or not the difference between the main signal and the comparison signal is within the threshold range, the sensitivity fluctuation, offset fluctuation (that is, resistance value fluctuation), and disconnection of the main output section through which the feedback current flows are determined. It is possible to easily determine an abnormality such as. Further, in such a configuration, since the abnormality determination is performed by monitoring the potential difference fluctuation of the electromagnet and the shunt resistor in the redundant circuit section, the abnormality determination is performed without stopping the detection of the current flowing through the detected object. Can be done.

なお、各構成要素等に付された括弧付きの参照符号は、その構成要素等と後述する実施形態に記載の具体的な構成要素等との対応関係の一例を示すものである。 The reference numerals in parentheses attached to each component or the like indicate an example of the correspondence between the component or the like and the specific component or the like described in the embodiment described later.

第1実施形態における磁気平衡式電流センサの回路図である。It is a circuit diagram of the magnetic equilibrium type current sensor in 1st Embodiment. 第1実施形態の変形例における磁気平衡式電流センサの回路図である。It is a circuit diagram of the magnetic equilibrium type current sensor in the modification of 1st Embodiment. 第1実施形態の変形例における磁気平衡式電流センサの回路図である。It is a circuit diagram of the magnetic equilibrium type current sensor in the modification of 1st Embodiment. 第2実施形態における磁気平衡式電流センサの回路図である。It is a circuit diagram of the magnetic equilibrium type current sensor in the 2nd Embodiment. 第2実施形態の変形例における磁気平衡式電流センサの回路図である。It is a circuit diagram of the magnetic equilibrium type current sensor in the modification of 2nd Embodiment. 第3実施形態における磁気平衡式電流センサの回路図である。It is a circuit diagram of the magnetic equilibrium type current sensor in 3rd Embodiment. 第4実施形態における磁気平衡式電流センサの回路図である。It is a circuit diagram of the magnetic equilibrium type current sensor in 4th Embodiment. 時間と、メイン信号、比較信号、第1サンプルホールド回路部、第2サンプルホールド回路部、AD変換回路部の状態との関係を示すタイミングチャートである。It is a timing chart which shows the relationship between time and the state of a main signal, a comparison signal, a 1st sample hold circuit part, a 2nd sample hold circuit part, and an AD conversion circuit part.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、同一符号を付して説明を行う。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In each of the following embodiments, the parts that are the same or equal to each other will be described with the same reference numerals.

(第1実施形態)
第1実施形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、本実施形態の磁気平衡式電流センサは、例えば、電気自動車等に搭載され、電気自動車等を駆動するモータ電流等を検出するのに利用されると好適である。以下では、集磁コアを必要としないコアレス型の磁気平衡式電流センサを説明する。但し、以下の構成は、集磁コアを備える磁気平衡式電流センサにも適用可能である。
(First Embodiment)
The first embodiment will be described with reference to the drawings. The magnetically balanced current sensor of the present embodiment is preferably mounted on an electric vehicle or the like and used for detecting a motor current or the like for driving the electric vehicle or the like. In the following, a coreless magnetically balanced current sensor that does not require a magnetic collecting core will be described. However, the following configuration can also be applied to a magnetically balanced current sensor provided with a magnetic collecting core.

図1に示されるように、本実施形態の磁気平衡式電流センサは、センサ部10、制御回路部20、メイン出力部30、冗長回路部40、および判定部50等を有する構成とされている。 As shown in FIG. 1, the magnetically balanced current sensor of the present embodiment has a configuration including a sensor unit 10, a control circuit unit 20, a main output unit 30, a redundant circuit unit 40, a determination unit 50, and the like. ..

センサ部10は、本実施形態では、第1~第4磁気抵抗素子11~14がブリッジ回路を構成するようにセンサチップ等に形成されており、周囲の磁界に応じた電圧を検出信号として出力する。なお、第1~第4磁気抵抗素子11~14は、特に図示しないが、例えば、ピン磁性層、非磁性層、フリー磁性層が順に積層されたTMR(Tunnel Magneto Resistanceの略)素子やGMR(Giant Magnetic Resistanceの略)素子で構成されている。ピン磁性層は、磁化の向きが固定された強磁性金属層である。非磁性層は、フリー磁性層からピン磁性層に電流を流すための層である。フリー磁性層は、外部の磁界の影響を受けて磁化の向きが変化する強磁性金属層である。そして、センサ部10は、特に図示しないが、被検出体と対向するように配置される。 In the present embodiment, the sensor unit 10 is formed on a sensor chip or the like so that the first to fourth magnetoresistive elements 11 to 14 form a bridge circuit, and outputs a voltage corresponding to an ambient magnetic field as a detection signal. do. Although the first to fourth magnetoresistive elements 11 to 14 are not particularly shown, for example, a TMR (abbreviation of Tunnel Magneto Resistance) element or GMR (abbreviation of Tunnel Magneto Resistance) element in which a pin magnetic layer, a non-magnetic layer, and a free magnetic layer are laminated in order. Giant Magnetic Resistance (abbreviation) It is composed of elements. The pin magnetic layer is a ferromagnetic metal layer in which the direction of magnetization is fixed. The non-magnetic layer is a layer for passing a current from the free magnetic layer to the pin magnetic layer. The free magnetic layer is a ferromagnetic metal layer whose magnetization direction changes under the influence of an external magnetic field. Although not shown in particular, the sensor unit 10 is arranged so as to face the detected body.

制御回路部20は、後述するフィードバックコイル31と接続されてフィードバックコイル31が相殺磁界を形成するように、フィードバック電流I1、またはフィードバック電流I2を流すものであり、フィードバックアンプ21等で構成されている。フィードバックアンプ21は、一方の入力端子に、第1磁気抵抗素子11と第2磁気抵抗素子12との間の中点電圧V1が入力され、他方の入力端子に、第3磁気抵抗素子13と第4磁気抵抗素子14との間の中点電圧V2が入力されるように、センサ部10と接続されている。そして、フィードバックアンプ21は、中点電圧V1および中点電圧V2に基づいて、第1出力端子21aと第2出力端子21bとの間にフィードバック電流I1またはフィードバック電流I2を流す。なお、フィードバック電流I1、I2(すなわち、電流の向き)は、中点電圧V1と中点電圧V2との大きさに応じて変化する。 The control circuit unit 20 is connected to the feedback coil 31 described later to pass a feedback current I1 or a feedback current I2 so that the feedback coil 31 forms a canceling magnetic field, and is composed of a feedback amplifier 21 and the like. .. In the feedback amplifier 21, the midpoint voltage V1 between the first magnetoresistive element 11 and the second magnetoresistive element 12 is input to one input terminal, and the third magnetoresistive element 13 and the third magnetic resistance element 13 are input to the other input terminal. 4 It is connected to the sensor unit 10 so that the midpoint voltage V2 between the magnetoresistive element 14 and the magnetic resistance element 14 is input. Then, the feedback amplifier 21 causes a feedback current I1 or a feedback current I2 to flow between the first output terminal 21a and the second output terminal 21b based on the midpoint voltage V1 and the midpoint voltage V2. The feedback currents I1 and I2 (that is, the direction of the current) change according to the magnitudes of the midpoint voltage V1 and the midpoint voltage V2.

メイン出力部30は、フィードバックコイル31、シャント抵抗体32、差動アンプ33等を有する構成とされている。フィードバックコイル31およびシャント抵抗体32は、フィードバックアンプ21の第1出力端子21aと第2出力端子21bとの間において、直列に接続されている。なお、特に図示しないが、フィードバックコイル31は、本実施形態では被検出体に対向して配置されており、被検出体に流れる電流によって発生する対象磁界を相殺するための相殺磁界を発生する。このため、センサ部10は、対象磁界と相殺磁界との差である差磁界に応じて中点電圧V1および中点電圧V2を出力する。また、本実施形態では、フィードバックコイル31が電磁石に相当する。 The main output unit 30 is configured to include a feedback coil 31, a shunt resistor 32, a differential amplifier 33, and the like. The feedback coil 31 and the shunt resistor 32 are connected in series between the first output terminal 21a and the second output terminal 21b of the feedback amplifier 21. Although not particularly shown, the feedback coil 31 is arranged to face the detected body in the present embodiment, and generates a canceling magnetic field for canceling the target magnetic field generated by the current flowing through the detected body. Therefore, the sensor unit 10 outputs the midpoint voltage V1 and the midpoint voltage V2 according to the differential magnetic field which is the difference between the target magnetic field and the canceling magnetic field. Further, in the present embodiment, the feedback coil 31 corresponds to an electromagnet.

差動アンプ33は、シャント抵抗体32の両端と接続されている。そして、差動アンプ33は、シャント抵抗体32の両端の電位差を差動増幅してメインアナログ信号Voutを出力する。差動アンプ33の出力端子は、外部回路部100と接続されていると共に、後述する判定部50の差動アンプ51と接続されている。そして、外部回路部100では、メインアナログ信号Voutに基づいて所定の処理が実行される。なお、本実施形態では、メインアナログ信号Voutがメイン信号に相当している。 The differential amplifier 33 is connected to both ends of the shunt resistor 32. Then, the differential amplifier 33 differentially amplifies the potential difference between both ends of the shunt resistor 32 and outputs the main analog signal Vout. The output terminal of the differential amplifier 33 is connected to the external circuit unit 100 and is also connected to the differential amplifier 51 of the determination unit 50 described later. Then, in the external circuit unit 100, a predetermined process is executed based on the main analog signal Vout. In this embodiment, the main analog signal Vout corresponds to the main signal.

冗長回路部40は、フィードバックコイル31およびシャント抵抗体32の電位差変動をモニタするものであり、比較抵抗部41および差動アンプ42等を有する構成とされている。本実施形態では、比較抵抗部41は、第1比較抵抗体41aおよび第2比較抵抗体41bがフィードバックアンプ21の第1出力端子21aと第2出力端子21bとの間に直列に配置されて構成されている。つまり、比較抵抗部41は、制御回路部20に対してフィードバックコイル31およびシャント抵抗体32と並列に配置されている。 The redundant circuit unit 40 monitors potential difference fluctuations of the feedback coil 31 and the shunt resistor 32, and is configured to include a comparative resistance unit 41, a differential amplifier 42, and the like. In the present embodiment, the comparison resistance unit 41 is configured such that the first comparison resistance body 41a and the second comparison resistance body 41b are arranged in series between the first output terminal 21a and the second output terminal 21b of the feedback amplifier 21. Has been done. That is, the comparison resistance unit 41 is arranged in parallel with the feedback coil 31 and the shunt resistor 32 with respect to the control circuit unit 20.

差動アンプ42は、第2比較抵抗体41bの両端と接続されている。そして、差動アンプ42は、第2比較抵抗体41bの両端の電位差を差動増幅して比較アナログ信号Vcomを出力する。つまり、冗長回路部40は、フィードバックコイル31およびシャント抵抗体32の電位差変動をモニタした比較アナログ信号Vcomを出力する。このため、比較抵抗部41は、フィードバックコイル31およびシャント抵抗体32の模擬回路を構成しているといえる。差動アンプ42の出力端子は、後述する判定部50の差動アンプ51と接続されている。本実施形態では、比較アナログ信号Vcomが比較信号に相当している。 The differential amplifier 42 is connected to both ends of the second comparison resistor 41b. Then, the differential amplifier 42 differentially amplifies the potential difference between both ends of the second comparative resistor 41b and outputs a comparative analog signal Vcom. That is, the redundant circuit unit 40 outputs a comparative analog signal Vcom that monitors the potential difference fluctuation of the feedback coil 31 and the shunt resistor 32. Therefore, it can be said that the comparison resistance unit 41 constitutes a simulated circuit of the feedback coil 31 and the shunt resistor 32. The output terminal of the differential amplifier 42 is connected to the differential amplifier 51 of the determination unit 50, which will be described later. In this embodiment, the comparative analog signal Vcom corresponds to the comparative signal.

なお、比較抵抗部41は、フィードバック電流I1、I2が流れ難いように抵抗値が大きくされている。つまり、比較抵抗部41は、シャント抵抗体32に流れるフィードバック電流I1、I2に影響しないように抵抗値が大きくされている。また、本実施形態では、第1比較抵抗体41aおよび第2比較抵抗体41bは、シャント抵抗体32等にフィードバック電流I1、I2が流れた際、感度変動、オフセット変動、断線等の異常が発生していない場合には、比較アナログ信号Vcomがメインアナログ信号Voutと一致するように抵抗値、または後段の回路が調整されている。つまり、第1比較抵抗体41aおよび第2比較抵抗体41bは、フィードバックコイル31およびシャント抵抗体32と対応するように抵抗値が調整されている。 The resistance value of the comparative resistance unit 41 is increased so that the feedback currents I1 and I2 do not easily flow. That is, the resistance value of the comparative resistance unit 41 is increased so as not to affect the feedback currents I1 and I2 flowing through the shunt resistor 32. Further, in the present embodiment, when the feedback currents I1 and I2 flow through the shunt resistor 32 and the like, the first comparative resistor 41a and the second comparative resistor 41b cause abnormalities such as sensitivity fluctuation, offset fluctuation, and disconnection. If not, the resistance value or the circuit in the subsequent stage is adjusted so that the comparison analog signal Vcom matches the main analog signal Vout. That is, the resistance values of the first comparative resistor 41a and the second comparative resistor 41b are adjusted so as to correspond to the feedback coil 31 and the shunt resistor 32.

判定部50は、差動アンプ51および制御部52等を有する構成とされている。差動アンプ51は、一方の入力端子にメインアナログ信号Voutが入力され、他方の入力端子に比較アナログ信号Vcomが入力されるように差動アンプ33、42と接続されている。そして、差動アンプ51は、メインアナログ信号Voutと比較アナログ信号Vcomとを差動増幅して判定アナログ信号Vjud1を出力する。 The determination unit 50 is configured to include a differential amplifier 51, a control unit 52, and the like. The differential amplifier 51 is connected to the differential amplifiers 33 and 42 so that the main analog signal Vout is input to one input terminal and the comparison analog signal Vcom is input to the other input terminal. Then, the differential amplifier 51 differentially amplifies the main analog signal Vout and the comparison analog signal Vcom, and outputs the determination analog signal Vjud1.

制御部52は、CPUや、ROM、RAM、フラッシュメモリ、HDD等の非遷移的実体的記憶媒体で構成される記憶部等を備えたマイクロコンピュータ等で構成される。CPUは、Central Processing Unitの略であり、ROMは、Read Only Memoryの略であり、RAMは、Random Access Memoryの略であり、HDDはHard Disk Driveの略である。記憶部には、アナログ用閾値範囲が設定されている。 The control unit 52 includes a CPU, a microcomputer and the like including a storage unit composed of a non-transitional substantive storage medium such as a ROM, a RAM, a flash memory, and an HDD. CPU is an abbreviation for Central Processing Unit, ROM is an abbreviation for Read Only Memory, RAM is an abbreviation for Random Access Memory, and HDD is an abbreviation for Hard Disk Drive. An analog threshold range is set in the storage unit.

そして、制御部52は、差動アンプ51と接続されており、CPUが記憶部から各種データを読み出して所定の処理を行う。具体的には、制御部52は、判定アナログ信号Vjud1とアナログ用閾値範囲とを比較する。そして、制御部52は、判定アナログ信号Vjud1がアナログ用閾値範囲内にある場合に正常であると判定し、判定アナログ信号Vjud1がアナログ用閾値範囲外にある場合に異常が発生していると判定する。なお、アナログ用閾値範囲は、ノイズの影響や搭載される車種等に応じて適宜設定される。 Then, the control unit 52 is connected to the differential amplifier 51, and the CPU reads various data from the storage unit and performs predetermined processing. Specifically, the control unit 52 compares the determination analog signal Vjud1 with the analog threshold range. Then, the control unit 52 determines that the determination analog signal Vjud1 is normal when it is within the analog threshold range, and determines that an abnormality has occurred when the determination analog signal Vjud1 is outside the analog threshold range. do. The analog threshold range is appropriately set according to the influence of noise, the type of vehicle to be mounted, and the like.

以上説明した本実施形態によれば、磁気平衡式電流センサは、メイン出力部30に対応した構成を有する冗長回路部40を備えている。このため、メインアナログ信号Voutと比較アナログ信号Vcomとの差に基づいた判定アナログ信号Vjud1がアナログ用閾値範囲内にあるか否かを判定することにより、フィードバック電流I1、I2が流れるメイン出力部30に異常が発生しているか否かを判定することができる。 According to the present embodiment described above, the magnetically balanced current sensor includes a redundant circuit unit 40 having a configuration corresponding to the main output unit 30. Therefore, the determination based on the difference between the main analog signal Vout and the comparison analog signal Vcom By determining whether or not the analog signal Vjud1 is within the analog threshold range, the main output unit 30 through which the feedback currents I1 and I2 flow. It is possible to determine whether or not an abnormality has occurred in.

また、本実施形態では、フィードバックコイル31およびシャント抵抗体32を有する冗長回路部40の電位差変動をモニタすることによって異常判定を行うことができる。このため、被検出体に流れる電流の検出を停止することなく、異常判定を行うことができる。 Further, in the present embodiment, abnormality determination can be performed by monitoring the potential difference fluctuation of the redundant circuit unit 40 having the feedback coil 31 and the shunt resistor 32. Therefore, the abnormality can be determined without stopping the detection of the current flowing through the detected object.

(第1実施形態の変形例)
上記第1実施形態の変形例について説明する。上記第1実施形態において、冗長回路部40の比較抵抗部41を構成する比較抵抗体の数は、適宜変更可能である。例えば、図2Aに示されるように、比較抵抗部41は、第1~第3比較抵抗体41a~41cが直列に接続される構成としてもよいし、図2Bに示されるように、第2比較抵抗体41bのみで構成されるようにしてもよい。
(Variation example of the first embodiment)
A modification of the first embodiment will be described. In the first embodiment, the number of comparison resistors constituting the comparison resistance unit 41 of the redundant circuit unit 40 can be appropriately changed. For example, as shown in FIG. 2A, the comparison resistance unit 41 may be configured such that the first to third comparison resistors 41a to 41c are connected in series, or as shown in FIG. 2B, the second comparison. It may be composed of only the resistor 41b.

(第2実施形態)
第2実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、冗長回路部40の構成を変更したものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Second Embodiment)
The second embodiment will be described. This embodiment is a modification of the first embodiment in which the configuration of the redundant circuit unit 40 is changed. Others are the same as those in the first embodiment, and thus description thereof will be omitted here.

本実施形態の磁気平衡式電流センサは、図3に示されるように、冗長回路部40には、比較抵抗部41および差動アンプ42に加え、比較抵抗部41と接続され、一定電圧に維持される電源部43が配置されている。具体的には、電源部43は、調整抵抗体44を介して比較抵抗部41の第1比較抵抗体41aと直列に接続されている。このため、差動アンプ42は、フィードバックアンプ21と冗長回路部40との間で断線等が発生した際、電源部43の電圧に応じた比較アナログ信号Vcomを出力する。 As shown in FIG. 3, in the magnetically balanced current sensor of the present embodiment, the redundant circuit unit 40 is connected to the comparative resistance unit 41 in addition to the comparative resistance unit 41 and the differential amplifier 42 to maintain a constant voltage. The power supply unit 43 is arranged. Specifically, the power supply unit 43 is connected in series with the first comparison resistor 41a of the comparison resistance unit 41 via the adjustment resistor 44. Therefore, the differential amplifier 42 outputs a comparative analog signal Vcom according to the voltage of the power supply unit 43 when a disconnection or the like occurs between the feedback amplifier 21 and the redundant circuit unit 40.

なお、電源部43の電圧は、フィードバックアンプ21と冗長回路部40との間で断線等が発生した際に差動アンプ42から出力されるVcomと、断線等が発生していない正常状態で差動アンプ42から出力され得るVcomとが異なる値となるように調整されている。また、本実施形態では、電源部43が電位固定部に相当している。 The voltage of the power supply unit 43 is different from the Vcom output from the differential amplifier 42 when a disconnection or the like occurs between the feedback amplifier 21 and the redundant circuit unit 40 in a normal state where the disconnection or the like does not occur. The Vcom that can be output from the dynamic amplifier 42 is adjusted to have a different value. Further, in the present embodiment, the power supply unit 43 corresponds to the potential fixing unit.

以上説明した本実施形態によれば、磁気平衡式電流センサが冗長回路部40を備えているため、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, since the magnetically balanced current sensor includes the redundant circuit unit 40, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

(1)本実施形態では、比較抵抗部41は、電位固定部としての電源部43と接続されている。このため、例えば、フィードバックアンプ21と冗長回路部40との間で断線等が発生したとしても、差動アンプ42は、電源部43の電圧に応じた比較アナログ信号Vcomを出力する。したがって、比較アナログ信号Vcomが不安定となり、誤判定をしてしまうことを抑制できる。なお、この場合の比較アナログ信号Vcomは、シャント抵抗体32にフィードバック電流I1、I2を流す制御回路部20に基づくものではないため、判定アナログ信号Vjud1は、アナログ用閾値範囲外なる。このため、制御部52は、このような場合には異常が発生していると判定する。 (1) In the present embodiment, the comparative resistance unit 41 is connected to the power supply unit 43 as the potential fixing unit. Therefore, for example, even if a disconnection or the like occurs between the feedback amplifier 21 and the redundant circuit unit 40, the differential amplifier 42 outputs a comparative analog signal Vcom according to the voltage of the power supply unit 43. Therefore, it is possible to prevent the comparative analog signal Vcom from becoming unstable and making an erroneous determination. Since the comparative analog signal Vcom in this case is not based on the control circuit unit 20 in which the feedback currents I1 and I2 are passed through the shunt resistor 32, the determination analog signal Vjud1 is out of the analog threshold range. Therefore, the control unit 52 determines that an abnormality has occurred in such a case.

(第2実施形態の変形例)
第2実施形態の変形例について説明する。上記第2実施形態において、図4に示されるように、電位固定部は、比較抵抗部41と直列に接続されたグランド部45であってもよい。この場合、グランド部45は、調整抵抗体46を介して比較抵抗部41の第2比較抵抗体41bと直列に接続される。
(Modified example of the second embodiment)
A modified example of the second embodiment will be described. In the second embodiment, as shown in FIG. 4, the potential fixing portion may be a ground portion 45 connected in series with the comparative resistance portion 41. In this case, the ground portion 45 is connected in series with the second comparative resistor 41b of the comparative resistance section 41 via the adjusting resistor 46.

(第3実施形態)
第3実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、冗長回路部40の構成を変更したものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Third Embodiment)
A third embodiment will be described. This embodiment is a modification of the first embodiment in which the configuration of the redundant circuit unit 40 is changed. Others are the same as those in the first embodiment, and thus description thereof will be omitted here.

本実施形態の磁気平衡式電流センサは、図5に示されるように、冗長回路部40には、比較抵抗部41および差動アンプ42に加え、差動アンプ47および差動アンプ48が備えられている。 As shown in FIG. 5, in the magnetically balanced current sensor of the present embodiment, the redundant circuit unit 40 includes a differential amplifier 47 and a differential amplifier 48 in addition to the comparative resistance unit 41 and the differential amplifier 42. ing.

差動アンプ47は、フィードバックコイル31の両端と接続されている。そして、差動アンプ47は、フィードバックコイル31の両端の電位差を差動増幅し、アナログ信号であるコイル信号Vcaを出力する。なお、差動アンプ47の出力端子は、判定部50の後述する差動アンプ53と接続される。 The differential amplifier 47 is connected to both ends of the feedback coil 31. Then, the differential amplifier 47 differentially amplifies the potential difference between both ends of the feedback coil 31, and outputs the coil signal Vca, which is an analog signal. The output terminal of the differential amplifier 47 is connected to the differential amplifier 53 of the determination unit 50, which will be described later.

差動アンプ48は、第1比較抵抗体41aの両端と接続されている。そして、差動アンプ48は、第1比較抵抗体41aの両端の電位差を差動増幅し、アナログ信号であるコイル比較信号Vcbを出力する。なお、差動アンプ48の出力端子は、判定部50の後述する差動アンプ53と接続される。 The differential amplifier 48 is connected to both ends of the first comparison resistor 41a. Then, the differential amplifier 48 differentially amplifies the potential difference between both ends of the first comparison resistor 41a, and outputs a coil comparison signal Vcb which is an analog signal. The output terminal of the differential amplifier 48 is connected to the differential amplifier 53 of the determination unit 50, which will be described later.

判定部50は、差動アンプ51および制御部52に加え、差動アンプ53も備えている。差動アンプ53は、一方の入力端子にコイル信号Vcaが入力され、他方の入力端子にコイル比較信号Vcbが入力されるように差動アンプ47、48と接続されている。そして、差動アンプ53は、コイル信号Vcaとコイル比較信号Vcbとを差動増幅して判定アナログ信号Vjud2を出力する。 The determination unit 50 includes a differential amplifier 53 in addition to the differential amplifier 51 and the control unit 52. The differential amplifier 53 is connected to the differential amplifiers 47 and 48 so that the coil signal Vca is input to one input terminal and the coil comparison signal Vcb is input to the other input terminal. Then, the differential amplifier 53 differentially amplifies the coil signal Vca and the coil comparison signal Vcb, and outputs the determination analog signal Vjud2.

制御部52は、差動アンプ53とも接続されており、記憶部に、アナログ用閾値範囲に加え、コイル用閾値範囲も記憶されている。そして、制御部52は、判定アナログ信号Vjud2がコイル用閾値範囲内にある場合にフィードバックコイル31が正常であると判定し、判定アナログ信号Vjud2がコイル用閾値範囲外にある場合にフィードバックコイル31が異常であると判定する。 The control unit 52 is also connected to the differential amplifier 53, and the storage unit stores the coil threshold range in addition to the analog threshold range. Then, the control unit 52 determines that the feedback coil 31 is normal when the determination analog signal Vjud2 is within the coil threshold range, and the feedback coil 31 determines that the determination analog signal Vjud2 is outside the coil threshold range. Judge as abnormal.

以上説明した本実施形態によれば、磁気平衡式電流センサが冗長回路部40を備えているため、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, since the magnetically balanced current sensor includes the redundant circuit unit 40, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

(1)本実施形態では、冗長回路部40に、差動アンプ47および差動アンプ48も備えられている。このため、フィードバックコイル31が正常であるか否かの判定を行うこともできる。 (1) In the present embodiment, the redundant circuit unit 40 is also provided with a differential amplifier 47 and a differential amplifier 48. Therefore, it is also possible to determine whether or not the feedback coil 31 is normal.

(第4実施形態)
第4実施形態について説明する。本実施形態は、第1実施形態に対し、デジタル信号で異常判定を行うようにしたものである。その他に関しては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
(Fourth Embodiment)
A fourth embodiment will be described. In this embodiment, an abnormality is determined by a digital signal with respect to the first embodiment. Others are the same as those in the first embodiment, and thus description thereof will be omitted here.

本実施形態の磁気平衡式電流センサは、図6に示されるように、メイン出力部30にアナログ補正回路部34が配置されている。アナログ補正回路部34は、差動アンプ33の出力端子と接続されており、メインアナログ信号Voutに対して所定のアナログ補正処理を行う。本実施形態の磁気平衡式電流センサは、特に図示しないが、被検出体の温度を検出する温度センサを備えている。そして、アナログ補正回路部34は、温度センサの検出結果に基づき、メインアナログ信号Voutに対して温度補正等の補正を行う。 In the magnetically balanced current sensor of the present embodiment, as shown in FIG. 6, an analog correction circuit unit 34 is arranged in the main output unit 30. The analog correction circuit unit 34 is connected to the output terminal of the differential amplifier 33, and performs a predetermined analog correction process on the main analog signal Vout. Although not particularly shown, the magnetically balanced current sensor of the present embodiment includes a temperature sensor that detects the temperature of the object to be detected. Then, the analog correction circuit unit 34 corrects the main analog signal Vout, such as temperature correction, based on the detection result of the temperature sensor.

また、本実施形態の磁気平衡式電流センサは、メイン出力部30および冗長回路部40と判定部50との間に、事前処理部60が備えられている。事前処理部60は、第1サンプルホールド(以下では、第1S/Hともいう)回路部61、第2サンプルホールド(以下では、第2S/H)回路部62、AD変換回路部63、デジタル補正回路部64等を有している。 Further, the magnetically balanced current sensor of the present embodiment is provided with a preprocessing unit 60 between the main output unit 30, the redundant circuit unit 40, and the determination unit 50. The preprocessing unit 60 includes a first sample hold (hereinafter, also referred to as first S / H) circuit unit 61, a second sample hold (hereinafter, second S / H) circuit unit 62, an AD conversion circuit unit 63, and digital correction. It has a circuit unit 64 and the like.

第1S/H回路部61は、メイン出力部30と接続されており、所定期間毎にメインアナログ信号Voutを一定期間保持する。第2S/H回路部62は、冗長回路部40と接続されており、所定期間毎に比較アナログ信号Vcomを一定期間保持する。 The first S / H circuit unit 61 is connected to the main output unit 30 and holds the main analog signal Vout for a certain period at predetermined intervals. The second S / H circuit unit 62 is connected to the redundant circuit unit 40, and holds the comparative analog signal Vcom for a certain period at predetermined intervals.

ここで、冗長回路部40は、上記のようにフィードバックコイル31およびシャント抵抗体32に対応する比較抵抗部41を備えている。このため、メインアナログ信号Voutおよび比較アナログ信号Vcomは、位相を一致させるように特別な回路設計等をしない場合、図7に示されるように、周期が等しく、位相差が発生した状態となる。したがって、本実施形態の第1S/H回路部61および第2S/H回路部62は、第1S/H回路部61でサンプリングされるメインアナログ信号Voutの波形の箇所と、第2S/H回路部62でサンプリングされる比較アナログ信号Vcomの波形の箇所とが同じとなるように、サンプリング期間が設定されている。 Here, the redundant circuit unit 40 includes a comparison resistance unit 41 corresponding to the feedback coil 31 and the shunt resistor 32 as described above. Therefore, the main analog signal Vout and the comparative analog signal Vcom are in a state where the periods are equal and a phase difference is generated, as shown in FIG. 7, unless a special circuit design or the like is made so as to match the phases. Therefore, the first S / H circuit unit 61 and the second S / H circuit unit 62 of the present embodiment include the portion of the waveform of the main analog signal Vout sampled by the first S / H circuit unit 61 and the second S / H circuit unit. The sampling period is set so that the location of the waveform of the comparative analog signal Vcom sampled in 62 is the same.

すなわち、第1S/H回路部61は、メインアナログ信号Voutの波形における所定箇所の値を定期的に保持するように構成されている。第2S/H回路部62は、比較アナログ信号Vcomの波形において、メインアナログ信号Voutの所定箇所に対応する箇所の値を定期的に保持するように構成されている。詳しくは、第2S/H回路部62は、比較アナログ信号Vcomに対し、第1S/H回路部61がメインアナログ信号Voutをサンプリングする時点から位相差に基づく時間差だけ経過した時点の値を定期的にサンプリングするように構成されている。これにより、本実施形態では、第1S/H回路部61でサンプリングされるメインアナログ信号Voutの波形の箇所と、第2S/H回路部62でサンプリングされる比較アナログ信号Vcomの波形の箇所とは、メイン出力部30および冗長回路部40に異常が発生していない場合には同じとなる。 That is, the first S / H circuit unit 61 is configured to periodically hold the value at a predetermined position in the waveform of the main analog signal Vout. The second S / H circuit unit 62 is configured to periodically hold the value of the portion corresponding to the predetermined portion of the main analog signal Vout in the waveform of the comparative analog signal Vcom. Specifically, the second S / H circuit unit 62 periodically sets the value at the time when the time difference based on the phase difference elapses from the time when the first S / H circuit unit 61 samples the main analog signal Vout with respect to the comparative analog signal Vcom. It is configured to sample to. As a result, in the present embodiment, the portion of the waveform of the main analog signal Vout sampled by the first S / H circuit unit 61 and the portion of the waveform of the comparative analog signal Vcom sampled by the second S / H circuit unit 62 are The same applies when no abnormality has occurred in the main output unit 30 and the redundant circuit unit 40.

AD変換回路部63は、所定の変換周期で順次連続してAD変換するものであり、例えば、グランドと所定電圧との間の電圧を量子化可能に構成されている。そして、AD変換回路部63は、第1S/H回路部61に接続されており、第1S/H回路部61に保持されているメインアナログ信号VoutをAD変換してメインデジタル信号Vdoutを出力する。また、AD変換回路部63は、第2S/H回路部62に接続されており、第2S/H回路部62に保持されている比較アナログ信号VcomをAD変換して比較デジタル信号Vdcomを出力する。本実施形態では、メインデジタル信号Vdoutがメイン信号に相当し、比較デジタル信号Vdcomが比較信号に相当している。 The AD conversion circuit unit 63 sequentially and continuously performs AD conversion in a predetermined conversion cycle, and is configured to be able to quantize a voltage between ground and a predetermined voltage, for example. Then, the AD conversion circuit unit 63 is connected to the first S / H circuit unit 61, AD-converts the main analog signal Vout held in the first S / H circuit unit 61, and outputs the main digital signal Vdout. .. Further, the AD conversion circuit unit 63 is connected to the second S / H circuit unit 62, AD-converts the comparative analog signal Vcom held in the second S / H circuit unit 62, and outputs the comparative digital signal Vdcom. .. In the present embodiment, the main digital signal Vdout corresponds to the main signal, and the comparative digital signal Vdcom corresponds to the comparison signal.

この場合、AD変換回路部63は、アナログ信号をデジタル信号に変換する際に所定の処理時間を要する。このため、第1S/H回路部61および第2S/H回路部62が備えられていない場合には、AD変換回路部63でメインデジタル信号Vdoutおよび比較デジタル信号Vdcomを生成する際にタイミング誤差が発生する。すなわち、AD変換回路部63は、第1S/H回路部61および第2S/H回路部62が備えられていない場合、メインアナログ信号Voutの波形と比較アナログ信号Vcomの波形とにおいて、異なる箇所のアナログ信号をデジタル信号に変換する可能性が高くなる。このため、後述する判定精度が低下する可能性がある。 In this case, the AD conversion circuit unit 63 requires a predetermined processing time when converting an analog signal into a digital signal. Therefore, when the first S / H circuit unit 61 and the second S / H circuit unit 62 are not provided, a timing error occurs when the AD conversion circuit unit 63 generates the main digital signal Vdout and the comparative digital signal Vdcom. Occur. That is, when the first S / H circuit unit 61 and the second S / H circuit unit 62 are not provided, the AD conversion circuit unit 63 has different locations in the waveform of the main analog signal Vout and the waveform of the comparison analog signal Vcom. It is more likely that an analog signal will be converted to a digital signal. Therefore, the determination accuracy described later may decrease.

これに対し、本実施形態では、第1S/H回路部61および第2S/H回路部62を備えており、上記のようにサンプリング期間が調整されている。このため、AD変換回路部63は、図7に示されるように、メインアナログ信号Voutの波形と比較アナログ信号Vcomの波形とにおいて、同じ箇所のアナログ信号をデジタル信号に変換できる。 On the other hand, in the present embodiment, the first S / H circuit unit 61 and the second S / H circuit unit 62 are provided, and the sampling period is adjusted as described above. Therefore, as shown in FIG. 7, the AD conversion circuit unit 63 can convert the analog signal at the same position into the digital signal in the waveform of the main analog signal Vout and the waveform of the comparison analog signal Vcom.

なお、AD変換回路部63がAD変換する変換周期は、第1S/H回路部61でのメインアナログ信号Voutの保持期間、および第2S/H回路部62での比較アナログ信号Vcomの保持期間に基づいて設定される。本実施形態では、AD変換回路部63は、図7に示されるように、第1S/H回路部61および第2S/H回路部62での各保持期間に1回AD変換するように、時点T11~時点T18、時点T21~時点T28で順にAD変化する。 The conversion cycle for AD conversion by the AD conversion circuit unit 63 is the holding period of the main analog signal Vout in the first S / H circuit unit 61 and the holding period of the comparative analog signal Vcom in the second S / H circuit unit 62. Set based on. In the present embodiment, as shown in FIG. 7, the AD conversion circuit unit 63 performs AD conversion once during each holding period in the first S / H circuit unit 61 and the second S / H circuit unit 62. AD changes in order from T11 to time point T18 and time point T21 to time point T28.

デジタル補正回路部64は、AD変換回路部63と接続されており、比較デジタル信号Vdcomに対し、アナログ補正回路部34の補正に対応する補正をデジタルで行う。すなわち、本実施形態では、デジタル補正回路部64は、図示しない温度センサと接続されており、温度センサの検出結果に基づき、比較デジタル信号Vdcomに対して温度補正等の補正をデジタルで行う。 The digital correction circuit unit 64 is connected to the AD conversion circuit unit 63, and digitally corrects the comparative digital signal Vdcom corresponding to the correction of the analog correction circuit unit 34. That is, in the present embodiment, the digital correction circuit unit 64 is connected to a temperature sensor (not shown), and digitally corrects the comparative digital signal Vdcom, such as temperature correction, based on the detection result of the temperature sensor.

判定部50は、制御部52を有する構成とされ、差動アンプ51は備えられていない。制御部52は、記憶部に、アナログ用閾値範囲の代わりにデジタル用閾値範囲が記憶されている。制御部52は、メインデジタル信号Vdoutと、比較デジタル信号Vdcomとを比較する。そして、制御部52は、メインデジタル信号Vdoutと比較デジタル信号Vdcomとの差が所定のデジタル用閾値範囲内の場合に正常と判定し、所定のデジタル用閾値範囲外である場合に異常と判定する。 The determination unit 50 is configured to include a control unit 52, and is not provided with a differential amplifier 51. The control unit 52 stores a digital threshold range instead of the analog threshold range in the storage unit. The control unit 52 compares the main digital signal Vdout with the comparative digital signal Vdcom. Then, the control unit 52 determines that the difference between the main digital signal Vdout and the comparison digital signal Vdcom is within a predetermined digital threshold range, and determines that the difference is outside the predetermined digital threshold range. ..

以上説明した本実施形態によれば、磁気平衡式電流センサが冗長回路部40を備えているため、上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。 According to the present embodiment described above, since the magnetically balanced current sensor includes the redundant circuit unit 40, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

(1)本実施形態のように、メインアナログ信号Voutをメインデジタル信号Vdoutに変換し、比較アナログ信号Vcomを比較デジタル信号Vdcomに変換して異常判定を行うこともできる。 (1) As in the present embodiment, the main analog signal Vout can be converted into the main digital signal Vdout, and the comparative analog signal Vcom can be converted into the comparative digital signal Vdcom to perform abnormality determination.

(2)本実施形態では、第1S/H回路部61および第2S/H回路部62にて、メインアナログ信号Voutおよび比較アナログ信号Vcomの波形における同じ個所をサンプリングするようにしている。このため、AD変換回路部63で変換されるメインデジタル信号Vdoutおよび比較デジタル信号Vdcomを比較することにより、容易に異常判定を実行できる。 (2) In the present embodiment, the first S / H circuit unit 61 and the second S / H circuit unit 62 sample the same points in the waveforms of the main analog signal Vout and the comparative analog signal Vcom. Therefore, the abnormality determination can be easily executed by comparing the main digital signal Vdout and the comparative digital signal Vdcom converted by the AD conversion circuit unit 63.

(3)本実施形態では、外部回路部100に出力するメインアナログ信号Voutに対してアナログ補正回路部34で所定の補正を行っている。そして、異常判定に用いる比較アナログ信号Vcomに対しては、比較デジタル信号Vdcomに変換した後に、デジタル補正回路部64で所定の補正を行っている。このため、比較アナログ信号Vcomに対してアナログ的に補正を行う場合と比較して、デジタル的に補正を行う場合の方が回路構成を簡略化し易いため、回路構成が大型化することを抑制できる。 (3) In the present embodiment, the analog correction circuit unit 34 performs a predetermined correction on the main analog signal Vout output to the external circuit unit 100. Then, the comparative analog signal Vcom used for the abnormality determination is converted into the comparative digital signal Vdcom, and then a predetermined correction is performed by the digital correction circuit unit 64. Therefore, it is easier to simplify the circuit configuration in the case of digitally correcting than in the case of performing analog correction for the comparative analog signal Vcom, and it is possible to suppress the increase in size of the circuit configuration. ..

(他の実施形態)
本開示は、実施形態に準拠して記述されたが、本開示は当該実施形態や構造に限定されるものではないと理解される。本開示は、様々な変形例や均等範囲内の変形をも包含する。加えて、様々な組み合わせや形態、さらには、それらに一要素のみ、それ以上、あるいはそれ以下、を含む他の組み合わせや形態をも、本開示の範疇や思想範囲に入るものである。
(Other embodiments)
Although the present disclosure has been described in accordance with embodiments, it is understood that the present disclosure is not limited to such embodiments or structures. The present disclosure also includes various variations and variations within a uniform range. In addition, various combinations and forms, as well as other combinations and forms that include only one element, more, or less, are within the scope and scope of the present disclosure.

上記各実施形態において、センサ部10の構成は、適宜変更可能であり、例えば、磁気抵抗素子がハーフブリッジ回路を構成するように配置されていてもよい。 In each of the above embodiments, the configuration of the sensor unit 10 can be appropriately changed, and for example, the magnetoresistive element may be arranged so as to form a half-bridge circuit.

上記第1~第3実施形態では、比較抵抗部41がフィードバックコイル31およびシャント抵抗体32に対応した抵抗値とされている例について説明した。しかしながら、比較抵抗部41は、フィードバックコイル31およびシャント抵抗体32に対応した抵抗値ではなく、所定の抵抗値とされていてもよい。このような場合には、アナログ用閾値範囲を適宜変更して判定を行うようにすればよい。同様に、上記第4実施形態においても、比較抵抗部41は、フィードバックコイル31およびシャント抵抗体32に対応した抵抗値ではなく、所定の抵抗値とされていてもよい。 In the first to third embodiments described above, an example in which the comparative resistance unit 41 has a resistance value corresponding to the feedback coil 31 and the shunt resistor 32 has been described. However, the comparative resistance unit 41 may have a predetermined resistance value instead of the resistance value corresponding to the feedback coil 31 and the shunt resistor 32. In such a case, the analog threshold range may be appropriately changed to perform the determination. Similarly, also in the fourth embodiment, the comparative resistance unit 41 may have a predetermined resistance value instead of the resistance value corresponding to the feedback coil 31 and the shunt resistor 32.

上記第4実施形態において、アナログ補正回路部34およびデジタル補正回路部64は備えられていなくてもよい。また、上記第4実施形態において、第1S/H回路部61および第2S/H回路部62は備えられていなくてもよい。なお、第1S/H回路部61および第2S/H回路部62が備えられていない場合には、サンプリングするタイミング(すなわち、サンプリングされる波形の位置)に応じてデジタル用閾値範囲を設定すればよい。 In the fourth embodiment, the analog correction circuit unit 34 and the digital correction circuit unit 64 may not be provided. Further, in the fourth embodiment, the first S / H circuit unit 61 and the second S / H circuit unit 62 may not be provided. If the first S / H circuit unit 61 and the second S / H circuit unit 62 are not provided, the digital threshold range may be set according to the sampling timing (that is, the position of the sampled waveform). good.

本開示に記載の制御部及びその手法は、コンピュータプログラムにより具体化された一つ乃至は複数の機能を実行するようにプログラムされたプロセッサ及びメモリーを構成することによって提供された専用コンピュータにより、実現されてもよい。あるいは、本開示に記載の制御部及びその手法は、一つ以上の専用ハードウエア論理回路によってプロセッサを構成することによって提供された専用コンピュータにより、実現されてもよい。もしくは、本開示に記載の制御部及びその手法は、一つ乃至は複数の機能を実行するようにプログラムされたプロセッサ及びメモリーと一つ以上のハードウエア論理回路によって構成されたプロセッサとの組み合わせにより構成された一つ以上の専用コンピュータにより、実現されてもよい。また、コンピュータプログラムは、コンピュータにより実行されるインストラクションとして、コンピュータ読み取り可能な非遷移有形記録媒体に記憶されていてもよい。 The controls and methods thereof described in the present disclosure are realized by a dedicated computer provided by configuring a processor and memory programmed to perform one or more functions embodied by a computer program. May be done. Alternatively, the controls and methods thereof described in the present disclosure may be implemented by a dedicated computer provided by configuring the processor with one or more dedicated hardware logic circuits. Alternatively, the control unit and method thereof described in the present disclosure may be a combination of a processor and memory programmed to perform one or more functions and a processor composed of one or more hardware logic circuits. It may be realized by one or more dedicated computers configured. Further, the computer program may be stored in a computer-readable non-transitional tangible recording medium as an instruction executed by the computer.

10 センサ部
20 制御回路部
31 フィードバックコイル(電磁石)
32 シャント抵抗体
42 比較抵抗部
41b 比較抵抗体
50 判定部
10 Sensor unit 20 Control circuit unit 31 Feedback coil (electromagnet)
32 Shunt resistor 42 Resistance thermometer 41b Resistance thermometer 50 Judgment detector

Claims (5)

被検出体を流れる電流を検出する磁気平衡式電流センサであって、
前記電流によって発生する対象磁界に基づいた検出信号を出力するセンサ部(10)と、
前記センサ部が検出する対象磁界を相殺する相殺磁界を発生させる電磁石(31)と、前記電磁石と直列に接続されたシャント抵抗体(32)と、を有するメイン出力部(30)と、
前記メイン出力部と接続され、前記検出信号に基づいて前記相殺磁界を発生させるフィードバック電流(I1、I2)を前記電磁石および前記シャント抵抗体に流す制御回路部(20)と、
前記制御回路部に対し、前記電磁石および前記シャント抵抗体と並列に配置された比較抵抗体(41b)を有する比較抵抗部(41)を含み、前記電磁石および前記シャント抵抗体の電位差変動をモニタする冗長回路部(40)と、
前記シャント抵抗体の両端の電位差に基づくメイン信号(Vout、Vdout)と、前記比較抵抗体の両端の電位差に基づく比較信号(Vcom、Vdcom)とを比較し、前記メイン信号と前記比較信号との差が所定の閾値範囲外であると判定した場合、異常が発生していると判定する判定部(50)と、を備える磁気平衡式電流センサ。
A magnetically balanced current sensor that detects the current flowing through the object to be detected.
A sensor unit (10) that outputs a detection signal based on the target magnetic field generated by the current, and
A main output unit (30) having an electromagnet (31) that generates an canceling magnetic field that cancels the target magnetic field detected by the sensor unit, and a shunt resistor (32) connected in series with the electromagnet.
A control circuit unit (20) connected to the main output unit and causing a feedback current (I1, I2) to generate the canceling magnetic field based on the detection signal to flow through the electromagnet and the shunt resistor.
The control circuit unit includes a comparison resistance unit (41) having a comparison resistor (41b) arranged in parallel with the electromagnet and the shunt resistor, and monitors potential difference fluctuations of the electromagnet and the shunt resistor. The redundant circuit section (40) and
The main signal (Vout, Vdout) based on the potential difference between both ends of the shunt resistor is compared with the comparison signal (Vcom, Vdcom) based on the potential difference between both ends of the comparison resistor, and the main signal and the comparison signal are compared. A magnetically balanced current sensor including a determination unit (50) for determining that an abnormality has occurred when it is determined that the difference is out of a predetermined threshold range.
前記冗長回路部は、前記比較抵抗体と接続されて一定電圧に維持されている電位固定部(43、45)を有している請求項1に記載の磁気平衡式電流センサ。 The magnetically balanced current sensor according to claim 1, wherein the redundant circuit unit has a potential fixing unit (43, 45) connected to the comparison resistor and maintained at a constant voltage. 前記メイン出力部および前記冗長回路部と、前記判定部との間には、前記シャント抵抗体の両端の電位差に基づくメインアナログ信号(Vout)をメインデジタル信号(Vdout)に変換して前記メイン信号とすると共に、前記比較抵抗体の両端の電位差に基づく比較アナログ信号(Vcom)を比較デジタル信号(Vdcom)に変換して前記比較信号とするAD変換回路部(63)が備えられている請求項1または2に記載の磁気平衡式電流センサ。 The main analog signal (Vout) based on the potential difference between both ends of the shunt resistor is converted into a main digital signal (Vdout) between the main output unit, the redundant circuit unit, and the determination unit. The present invention is provided with an AD conversion circuit unit (63) that converts a comparative analog signal (Vcom) based on the potential difference between both ends of the comparative resistor into a comparative digital signal (Vdcom) to obtain the comparative signal. The magnetically balanced current sensor according to 1 or 2. 前記メイン出力部と前記AD変換回路部との間に配置され、所定期間毎に前記メインアナログ信号をサンプリングして保持する第1サンプルホールド回路部(61)と、
前記冗長回路部と前記AD変換回路部との間に配置され、前記第1サンプルホールド回路部でサンプリングする時点に対し、前記メインアナログ信号と前記比較アナログ信号の位相差に対応した時間差で、前記比較アナログ信号をサンプリングして保持する第2サンプルホールド回路部(62)と、を備え、
前記AD変換回路部は、前記第1サンプルホールド回路部で保持された前記メインアナログ信号を前記メインデジタル信号に変換して前記メイン信号とすると共に、前記第2サンプルホールド回路部で保持された前記比較アナログ信号を前記比較デジタル信号に変換して前記比較信号とする請求項3に記載の磁気平衡式電流センサ。
A first sample hold circuit unit (61) arranged between the main output unit and the AD conversion circuit unit to sample and hold the main analog signal at predetermined periods,
It is arranged between the redundant circuit unit and the AD conversion circuit unit, and has a time difference corresponding to the phase difference between the main analog signal and the comparative analog signal with respect to the time point of sampling by the first sample hold circuit unit. A second sample hold circuit unit (62) that samples and holds a comparative analog signal is provided.
The AD conversion circuit unit converts the main analog signal held by the first sample hold circuit unit into the main digital signal to obtain the main signal, and the AD conversion circuit unit converts the main analog signal into the main signal and holds the main analog signal and holds the second sample hold circuit unit. The magnetically balanced current sensor according to claim 3, wherein the comparative analog signal is converted into the comparative digital signal and used as the comparative signal.
前記メインアナログ信号に対して所定の補正を行うアナログ補正回路部(34)と、
前記AD変換回路部と前記判定部との間に配置され、前記比較デジタル信号に対し、所定の補正に対応する補正をデジタルで行うデジタル補正回路部(64)と、を備えている請求項3または4に記載の磁気平衡式電流センサ。
An analog correction circuit unit (34) that performs a predetermined correction to the main analog signal, and
3. The third aspect of the present invention is a digital correction circuit unit (64) that is arranged between the AD conversion circuit unit and the determination unit and digitally performs a correction corresponding to a predetermined correction to the comparative digital signal. Or the magnetically balanced current sensor according to 4.
JP2020173371A 2020-10-14 2020-10-14 Magnetic balanced current sensor Active JP7415867B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020173371A JP7415867B2 (en) 2020-10-14 2020-10-14 Magnetic balanced current sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020173371A JP7415867B2 (en) 2020-10-14 2020-10-14 Magnetic balanced current sensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022064636A true JP2022064636A (en) 2022-04-26
JP7415867B2 JP7415867B2 (en) 2024-01-17

Family

ID=81386020

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020173371A Active JP7415867B2 (en) 2020-10-14 2020-10-14 Magnetic balanced current sensor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7415867B2 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1051948A (en) * 1996-07-26 1998-02-20 Tokai Rika Co Ltd Detector for detecting locking state of motor
JP2000179667A (en) * 1998-12-18 2000-06-27 Hitachi Ltd Automotive hydraulic control device and control method
JP2013068452A (en) * 2011-09-21 2013-04-18 Gs Yuasa Corp Current sensor failure diagnosis equipment
WO2018047553A1 (en) * 2016-09-12 2018-03-15 ボッシュ株式会社 Control device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1051948A (en) * 1996-07-26 1998-02-20 Tokai Rika Co Ltd Detector for detecting locking state of motor
JP2000179667A (en) * 1998-12-18 2000-06-27 Hitachi Ltd Automotive hydraulic control device and control method
JP2013068452A (en) * 2011-09-21 2013-04-18 Gs Yuasa Corp Current sensor failure diagnosis equipment
WO2018047553A1 (en) * 2016-09-12 2018-03-15 ボッシュ株式会社 Control device

Also Published As

Publication number Publication date
JP7415867B2 (en) 2024-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN113433490B (en) Apparatus and method for measuring magnetic field gradients
US7923996B2 (en) Magnetic field sensor with automatic sensitivity adjustment
JP5668224B2 (en) Current sensor
US20090115412A1 (en) Magnetic sensing device and electronic compass using the same
JP5500957B2 (en) Magnetic force sensor
WO2011105209A1 (en) Current sensor
WO2018190261A1 (en) Magnetic sensor
US20090012733A1 (en) Offset correction program and electronic compass
CN104321662A (en) Magnetic element control device, magnetic element control method, and magnetic detection device
CN111562525A (en) Magnetic sensor system
CN112946358A (en) Temperature drift error compensation unit and method for measuring current
CN114814330A (en) Iron core-annular array multi-ring magnetic-sensitive current sensor and current measuring method
CN112666509A (en) Compensation system and method suitable for magnetic-sensing current sensor
JP2006105932A (en) Failure determination device for sensor having bridge circuit and failure determination method thereof
JP7415867B2 (en) Magnetic balanced current sensor
JP5891516B2 (en) Current sensor
JP2006266909A (en) Magnetic detector, and electronic azimuth meter using the same
JP5531214B2 (en) Current sensor
CN214895761U (en) A Compensation System for Magneto-Sensitive Current Sensor
JP2801124B2 (en) Correction method for zero error of torque sensor
JP2803966B2 (en) Correction method for zero error of torque sensor
JP5531216B2 (en) Current sensor
US11536748B2 (en) Current sensor
US11002804B1 (en) Magnetic field sensor compensation methods and systems
JP5636866B2 (en) Magnetic detector

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230309

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20231124

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20231205

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20231218

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7415867

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151