[go: up one dir, main page]

JP2021085808A - 光照射装置 - Google Patents

光照射装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2021085808A
JP2021085808A JP2019216213A JP2019216213A JP2021085808A JP 2021085808 A JP2021085808 A JP 2021085808A JP 2019216213 A JP2019216213 A JP 2019216213A JP 2019216213 A JP2019216213 A JP 2019216213A JP 2021085808 A JP2021085808 A JP 2021085808A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light source
guide plate
light guide
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019216213A
Other languages
English (en)
Inventor
芳樹 元家
Yoshiki Motoie
芳樹 元家
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CCS Inc
Original Assignee
CCS Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CCS Inc filed Critical CCS Inc
Priority to JP2019216213A priority Critical patent/JP2021085808A/ja
Publication of JP2021085808A publication Critical patent/JP2021085808A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Planar Illumination Modules (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

【課題】平板型全方位光照射装置における光量や均一性のさらなる向上を図る。【解決手段】光源2からの光が導光板1の側面1cからその内部に入射して、該導光板1の一方の板面1aで反射し、該導光板1の他方の板面1bから外部に射出されて、所定の対象物Wに照射されるとともに、該対象物Wを、該導光板1の一方の板面1a側から該導光板を通じて観察できるように構成されたものであって、基板3には、長手方向に延びる光源配置領域S1と、光源配置領域S1よりも長手方向外側の光源非配置領域S2とが設けられており、光源非配置領域S2の長手方向に沿った長さL2を、所定ピッチp以上にした。【選択図】図5

Description

本発明は、製品の表面検査などのために光を照射する光照射装置に関するものである。
従来、製品などの対象物(以下、ワークともいう。)に対し、その全方位から可及的に一様な光を照射して検査できるようにした光照射装置(以下、全方位光照射装置ともいう。)が知られている。このような全方位光照射装置は、ワークの検査部位に曲面や凸凹があってもそれによる影を作らず、例えばワーク表面の印字や色の違い等を浮きだたせることができるので、球体、R形状ワーク、半田部分などの検査に適している。
こうした全方位光照射装置は、ドーム型のものが広く知られているが、高さ寸法がやや大きくなるため、近時では、特許文献1に示すように、平板矩形状の導光板を用いて薄型にした平板型全方位光照射装置が開発されている。
この種の平板型全方位光照射装置は、平板矩形状の導光板と、該導光板の各側面それぞれに臨むように配置された基板と、基板上に列状に配置された複数のLEDと、これらのLED及び基板を収容するとともに導光板の周縁部を支持する枠体とを備えている。
そして、導光板の一方の板面には、多数の微細な拡散反射部が互いに隙間を空けて設けてある。これにより、光源から射出されて導光板の側面からその内部に入射した光を、導光板の対向する板面間で繰り返し全反射させて進行させつつ、その光のうち、前記拡散反射部に当たった光を反射させ、導光板の他方の板面から外部に射出する、つまり、導光板の他方の板面だけを面状に発光させるようにしてある。なお、本明細書でいう「拡散」とは、例えば球面で反射することにより光が拡がる態様も含むものである。
このように導光板の他方の板面を発光させる構成において、外部に射出される光は、導光板の他方の板面のうち、該導光板の周縁部を支持する枠体よりも内側を通過してくる光である。
このことから、枠体の内側を通過してくる光の光量や均一性を向上させようとする場合、従来の本技術分野の固定概念や技術常識においては、枠体にマスクされている導光板の周縁部の周辺構造には着目してこなかった。
特開2003−98093号公報
このような中、本願発明者は、上述した平板型全方位光照射装置における光量や均一性のさらなる向上を図るべく、平板矩形状の導光板において枠体にマスクされている四隅の角部に初めて着目し、これらの角部における周辺構造にさらなる改善の余地があることを見出した。
すなわち、本願発明にかかる光照射装置は、平板矩形状の導光板と、前記導光板の各側面それぞれに臨む基板と、前記基板に所定ピッチで配置された複数の光源と、前記光源及び前記基板を収容するとともに前記導光板の周縁部を支持する枠体とを備え、前記光源からの光が前記導光板の前記側面からその内部に入射して、該導光板の一方の板面で反射し、該導光板の他方の板面から外部に射出されて、所定の対象物に照射されるとともに、該対象物を、該導光板の一方の板面側から該導光板を通じて観察できるように構成されたものである。
そして、本発明にかかる光照射装置は、前記基板には、長手方向に延びる光源配置領域と、前記光源配置領域よりも長手方向外側の光源非配置領域とが設けられており、前記光源非配置領域の前記長手方向に沿った長さが、前記所定ピッチ以上であることを特徴とするものである。
このように構成された光照射装置によれば、光源非配置領域の長手方向に沿った長さが所定ピッチ以上であり、従来の基板に比べて長手方向に長い基板を用いているので、この基板を導光板の角部まで延ばすことができる。これにより、導光板の内部に入射して角部に到達し光が、その角部から漏れ出ることを低減することができるようになる。その結果、光の利用効率が向上し、外部に射出される光の光量や均一性をこれまでよりも改善することが可能となる。
前記光源非配置領域の反射率が、前記光源配置領域よりも高いことが好ましい。
これならば、導光板の角部から漏れ出た光を、光源非配置領域で導光板の側面に向けて反射し、再びその内部に入射させることができるので、外部に射出される光の光量や均一性のさらなる向上を図れる。
より具体的な反射率としては、前記光源非配置領域の反射率が50%以上であることが好ましい。
導光板から漏れ出た光を上述したように反射させるための具体的な態様としては、前記基板における少なくとも前記光源非配置領域に白色ソルダーレジスト層が形成されている態様を挙げることができる。
このように白色ソルダーレジスト層を用いる場合、前記基板における前記光源配置領域及び前記光源非配置領域に白色ソルダーレジスト層が形成されていることが好ましい。
これならば、例えば白色ソルダーレジスト層が形成された従来の基板を延ばすことにより、光源非配置領域が設けられた基板を簡単に製造することができ、ひいては本光照射装置を、部品点数の増大や高コスト化を招くことなく製造することが可能となる。
また、導光板の角部から漏れ出た光を反射するための別の具体的な態様としては、前記基板における前記光源非配置領域に半田レベラーが設けられている態様を挙げることができる。
前記光源非配置領域が、前記導光板の前記側面と対向するとともに、これらの間を光が遮られることなく通過することが好ましい。
これらならば、角部から漏れ出た光を導光板の側面により確実に反射させることができる。
このように構成した本願発明によれば、平板型全方位光照射装置における光量や均一性を従来よりも向上させることができる。
本実施形態における光照射装置を含む検査システムを示す斜視図である。 同実施形態における光照射装置の縦断面図である。 同実施形態における導光板の一方の板面側から見た平面図である。 同実施形態における導光板及び基板の構成を示す簡略化した平面図である。 同実施形態における光源配置領域及び光源非配置領域を示す模式図である。 同実施形態における光源非配置領域を示す斜視図である。 光源非配置領域に光源を配置した場合の現象を説明するための模式図である。 従来構成における基板の角部からの光漏れを説明するための斜視図である。 その他の実施形態における光源非配置領域を示す斜視図である。
以下に本願発明に係る光照射装置の一実施形態について図面を参照して説明する。
<装置構成>
本実施形態の光照射装置100は、図1に示すように、全体として薄い平板矩形状をなすものであり、背景技術でも述べたが、検査の対象物であるワークWに対し、そのほぼ全方位(ほぼ180°全天方向)から可及的に一様な光を照射することによって、ワークWの表面の曲面や多少の凸凹などによる影をキャンセルする機能を有している。
より具体的に説明すると、この光照射装置100は、図1及び図2に示すように、平板状をなす導光板1と、導光板1の周囲に配置された光源たる複数のLED2と、LED2が搭載されるとともに導光板1の各側面それぞれに臨む基板3と、LED2及び基板3を収容するとともに導光板1の周縁部を支持する枠体4とを備えたものである。
導光板1は、図3に示すように、例えば等厚で正方形状や長方形状をなす樹脂製(ここでは、PMMA製)の透明板である。そして、図2に示すように、互いに対向する平行な板面のうちの一方の板面1aには光を反射させる拡散反射部5が形成してあり、他方の板面1bは平滑鏡面に形成してある。
拡散反射部5は、導光板1内に入射した光を他方の板面1bに向けて拡散させるものであり、例えば一方の板面1aに形成された多数の微細な凹部である。なお、本明細書でいう「拡散」とは、例えば球面等で反射することにより光が拡がる態様も含むものである。
具体的にこれらの拡散反射部5は、例えば導光板1の一方の板面1aに穿たれた部分凹球状のものであり、この実施形態では、図3に示すように、正方格子点上に規則正しく整列させてある。なお、拡散反射部5の形状や配置はこれに限らず、種々の態様に変更して構わない。
LED2は、図2に示すように、例えば表面実装型のものであり、発光色のラインナップとしては、白色、赤色、青色など、複数色が取り揃えられているが、ここでは白色のものを用いている。
基板3は、LED2が搭載されるプリント配線基板であり、図4に示すように、導光板1の四辺それぞれに対応して設けられている。各基板3は、導光板1の側面1cに沿って延びる長尺状のものであり、ここでは複数のLED2が、1列に所定ピッチで、より具体的には等ピッチpで配置されている。なお、図4においては、基板3やLED2の理解を容易にするべく、枠体4の内部構造の一部を省略してある。
枠体4は、図1、図2に示すように、4つの辺部材41からなる矩形枠状をなすものであり、各辺部材41には、長手方向に沿って端から端まで延び、導光板1が載置されて該導光板1の周縁部を支持する段部4aが設けてある。これによって導光板1の周縁部が枠体4によりマスクされて(覆われて)いる。また、この段部4aは、前記基板3をも保持しており、この基板3に搭載されたLED2の発光面が導光板1の側面1cに臨むように構成されている。このような構成によって、LED2から射出された光が、導光板1の四辺側面1cからその内部に導入されるようにしてある。
このような構成の光照射装置100においては、LED2から射出された光は、導光板1の側面1cから入射し、該導光板1の対向する板面間で繰り返し全反射しながら内部を進行する。そして、その光の多くは、進行中に拡散反射部5に当たり、そこで拡散反射して、導光板1の他方の板面1bから外側に射出される。より具体的には、上述したように、導光板1の周縁部が枠体4により覆われていることから、導光板1の他方の板面1bにおける枠体4の内側から光が射出される。これにより、他方の板面1bが発光面となる。
なお、図2中、符号6は、導光板1の一方の板面1a上を覆う透明なカバー板6である。符号7は、配線基板3の裏面と枠体4との間に介在するとともに双方に密着して、LED2の熱を枠体4に伝導し放熱させる、粘弾性を有する熱伝導体7である。また、同図中符号8は、配線基板3の表面と導光板1の側面1cとの間に介在して、これらの間の距離を一定に保つスペーサ8である。
このスペーサ8は、本実施形態では、図2に示すように、その外側に設けられた弾性体9(コイルばねや板バネ)によって、内側(LED2の光射出方向)に向かって付勢してあり、このことによって、スペーサ8の表側当たり面が導光板1の側面1cに密接するようにしてある。
他方、基板3は、前記熱伝導体7によって、内側(LED2の光射出方向)に向かって付勢してあり、このことによって、スペーサ8の裏側当たり面に密接させてある。
この構造によって、スペーサ8が基板3の表面と導光板1の側面1cとの間に密接介在することとなり、その間の距離が一定に保たれるわけである。
次に、このような構成の光照射装置100を用いた検査システム200について簡単に説明する。この検査システム200は、図1、図2に示すとおり、光照射装置100の他に、カメラCを備えている。そして、前記導光板1の他方の板面1bがワークWを向くように配置されて、該他方の板面1bから射出される拡散光によりワークWが照明される一方、このようにして照明されたワークWを、導光板1を挟んで逆側から、すなわち導光板1の一方の板面1a側からカメラCによって撮像し、その撮像画像が検査に供されるようにしてある。
然して、本実施形態の基板3には、図5及び図6に示すように、長手方向に延びる光源配置領域S1と、光源配置領域S1よりも長手方向外側の光源非配置領域S2とが設けられており、光源非配置領域S2の長手方向に沿った長さL2を、LED2のピッチp以上にしてある。なお、ここでいうピッチpとは、長手方向に沿って互いに隣り合うLED2の対応する箇所同士の間隔であり、例えば対応する辺同士の間隔や中心同士の間隔(離間距離)である。
より詳細に説明すると、光源配置領域S1は、図6に示すように、導光板1の側面1cに対面するとともに、LED2が所定ピッチpで配置されている領域であり、言い換えれば、基板3に搭載されているLED2の全てが、光源配置領域S1に配置されていることになる。
ここでの光源配置領域S1は、図5に示すように、基板3の表面において、両端に位置するLED2の一方から他方に亘って設定されており、その長手方向に沿った長さL1は、LED2の長手方向に沿った寸法をz、互いに隣り合うLED2の長手方向に沿った間隔をd、基板3に搭載されたLED2の個数をnとした場合に、L1=z×n+d×(n−1)で表される。なお、間隔dは、ピッチpからLED2の寸法zを差し引いた長さである。
一方、光源非配置領域S2は、導光板1の側面1cに対面するとともに、光源たるLED2が配置されていない領域である。
ここでの光源非配置領域S2は、図5に示すように、光源配置領域S1よりも長手方向に沿った一方の外側及び他方の外側の双方に設定されている。これらの各光源非配置領域S2は、図5及び図6に示すように、基板3の表面において、両端に位置するLED2よりも長手方向外側の全領域であり、長手方向に沿った長さL2が、上述したピッチp以上である。本実施形態においては、各光源非配置領域S2の長手方向に沿った長さL2は、ピッチpよりもさらに長く、且つ、各光源非配置領域S2の全面が導光板1の側面1cに対面する寸法としてある。これにより、本実施形態の基板3は、導光板1の側面1cの長手方向に沿った長さと略等しい或いは若干短い長さである。
ここで、本光照射装置100から照射される光の光量を向上させるためには、一見すると、図7に示すように、光源非配置領域S2にもLED2’を配置したほうが良いようにも思われる。
しかしながら、このLED2’から導光板1までの距離にも依ろうが、光源非配置領域S2に配置されたLED2’から射出される光の一部は、同図7に示すように、導光板1の側面1cよりも外側に拡がってしまい導光板1の内部には入射しない。このことから、部品点数を増やしたにもかかわらず、光量の向上は少なく、思うような費用対効果が得られない。
一方、光源非配置領域S2にLED2を設けないのであれば、基板3が不必要に長くなるだけであり、単に材料費の増大を招来するに過ぎないとの考えに到りがちであり、この考えこそが本技術分野における固定概念といえる。
ところが、光源非配置領域S2を設けていない従来の構成であると、図8に示すように、導光板1内に入射して導光板1の角部1xに到達した光は、この角部1xから導光板1の外部に漏れてしまい、光の利用効率の低下や、導光板1の四隅が暗くなることに起因する照射光の均一性の低下を招来する。
そこで、本実施形態では、上述したように光源非配置領域S2を設けつつ、この光源非配置領域S2に、導光板1の少なくとも角部1xから漏れ出た光を、導光板1の側面1cや角部1xに向かって反射し、再び導光板1内に入射させる反射面としての機能を備えさせている。
詳述すると、光源非配置領域S2は、上述したように基板3の側面1cと対向しており、これらの間を光が遮られることなく通過するように配置されている。そして、この光源非配置領域S2は、光源配置領域S1よりも反射率が高く、具体的には反射率が50%以上であり、本実施形態では80%以上である。
ここで、本実施形態の反射率は、光源たるLED2から射出される光の波長、言い換えれば、本光照射装置100の照射光の波長に対する反射率であり、具体的には、ある領域に入射した入射光の全エネルギーに対する、同領域で反射した反射光の全エネルギーの割合である。なお、上述したように、本実施形態では光源として白色LEDを用いており、本実施形態の反射率は、白色光の波長に対する反射率である。
また、本実施形態において、光源配置領域S1の反射率や光源非配置領域S2の反射率は、それぞれ各領域全体における反射率の平均値であり、光源配置領域S1の反射率は、LED2の反射率を含めた反射率の平均値である。
本実施形態では、図5に示すように、基板3の少なくとも光源非配置領域S2に白色ソルダーレジスト層R(図中の二重斜線で示したもの)を形成してあり、ここでは光源非配置領域S2のみならず光源配置領域S1にも白色ソルダーレジスト層Rを形成してある。
この白色ソルダーレジスト層Rは、白色のレジストインキにより基板3の表面を覆う絶縁膜であり、ここでは反射率が例えば85以上90%以下のものである。具体的に白色ソルダーレジスト層Rは、例えばシリコンや酸化チタン等からなるものであり、例えば真っ白なものや、青みがかった白色や、乳白色のものなどであっても良い。
<作用効果>
このように構成された光照射装置100によれば、光源非配置領域S2の長手方向に沿った長さが、LED2のピッチp以上であり、しかも光源非配置領域S2が反射面としての機能を備えているので、導光板1の内部に入射して角部1xから漏れた光を再び導光板1の内部に入射させることができる。
これにより、導光板1の角部1xからの光漏れを低減させることができ、光の利用効率が向上し、照射光の光量や均一性をこれまでよりも改善することができる。
さらに、本実施形態の基板3は、光源非配置領域S2のみならず、光源配置領域S1にも白色ソルダーレジスト層Rが形成されているので、例えば白色ソルダーレジスト層が形成された従来の基板を光源非配置領域S2が形成される程度の長さに延ばすことで簡単に製造することができる。これにより、本光照射装置100を、部品点数の増大や高コスト化を招くことなく製造することが可能となる。
<その他の実施形態>
なお、本願発明は前記実施形態に限られるものではない。
例えば、前記実施形態では、基板3の表面に白色ソルダーレジスト層Rを形成していたが、基板3が例えば緑色ソルダーレジスト層が形成されたガラスエポキシ基板の場合に、光源非配置領域S2に半田レベラーを設けても良い。このように半田レベラーを用いた場合、光源配置領域S1の反射率は60〜70%となり、光源配置領域S1の反射率より高くなる。なお、前記実施形態のように、基板3の表面に白色ソルダーレジスト層Rを形成した構成において、光源非配置領域S2に半田レベラーを設けても良い。
また、基板3の長さ寸法は、前記実施形態では、導光板1の側面1cの長手方向に沿った長さと略等しい或いは若干短かったが、図9に示すように、導光板1の側面1cの長手方向に沿った長さよりも長くても良い。
このような構成であれば、互いに隣り合う基板3が、隙間を介さずに或いは殆ど隙間なく配置されるので、前記実施形態に比べて材料費が上がるものの、導光板1の角部1xからの光漏れをより抑制することができる。
さらに、LED2は等間隔に配置されている必要はなく、例えば中央部よりも外側の方を密に配置したり、その逆の関係で配置したりしても良い。要は、LED2は基板3の長手方向に沿って規則的に配置されていれば良い。この場合の光源非配置領域S2は、前記実施形態のように光源配置領域S1よりも長手方向外側の領域であって、LED2の配置規則に従った場合にLED2を配置可能な長さを有し、且つ、LED2が配置されていない領域である。
その他、本願発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能である。
100・・・光照射装置
1 ・・・導光板
1a ・・・一方の板面
1b ・・・他方の板面
1c ・・・側面
1x ・・・角部
2 ・・・LED
3 ・・・基板
4 ・・・枠体
S1 ・・・光源配置領域
S2 ・・・光源非配置領域

Claims (7)

  1. 平板矩形状の導光板と、前記導光板の各側面それぞれに臨む基板と、前記基板に所定ピッチで配置された複数の光源と、前記光源及び前記基板を収容するとともに前記導光板の周縁部を支持する枠体とを備え、
    前記光源からの光が前記導光板の前記側面からその内部に入射して、該導光板の一方の板面で反射し、該導光板の他方の板面から外部に射出されて、所定の対象物に照射されるとともに、該対象物を、該導光板の一方の板面側から該導光板を通じて観察できるように構成されたものであって、
    前記基板には、長手方向に延びる光源配置領域と、前記光源配置領域よりも長手方向外側の光源非配置領域とが設けられており、
    前記光源非配置領域の前記長手方向に沿った長さが、前記所定ピッチ以上であることを特徴とする光照射装置。
  2. 前記光源非配置領域の反射率が、前記光源配置領域の反射率よりも高い請求項1記載の光照射装置。
  3. 前記光源非配置領域の反射率が50%以上である請求項1又は2記載の光照射装置。
  4. 前記基板における少なくとも前記光源非配置領域に白色ソルダーレジスト層が形成されている請求項1乃至3のうち何れか一項に記載の光照射装置。
  5. 前記基板における前記光源配置領域及び前記光源非配置領域に白色ソルダーレジスト層が形成されている請求項4記載の光照射装置。
  6. 前記基板における前記光源非配置領域に半田レベラーが設けられている請求項1乃至5のうち何れか一項に記載の光照射装置。
  7. 前記光源非配置領域が、前記導光板の前記側面と対向するとともに、これらの間を光が遮られることなく通過する請求項1乃至6のうち何れか一項に記載の光照射装置。
JP2019216213A 2019-11-29 2019-11-29 光照射装置 Pending JP2021085808A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019216213A JP2021085808A (ja) 2019-11-29 2019-11-29 光照射装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019216213A JP2021085808A (ja) 2019-11-29 2019-11-29 光照射装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021085808A true JP2021085808A (ja) 2021-06-03

Family

ID=76087377

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019216213A Pending JP2021085808A (ja) 2019-11-29 2019-11-29 光照射装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2021085808A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102612265B1 (ko) * 2023-03-03 2023-12-11 주식회사 에이치비테크놀러지 광역 평면 경사조명을 이용한 대상물 분석장치

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004031064A (ja) * 2002-06-25 2004-01-29 Kawaguchiko Seimitsu Co Ltd バックライト装置
WO2008023605A1 (en) * 2006-08-23 2008-02-28 Mitsui Chemicals, Inc. Light-reflecting body and light source comprising the same
WO2012066887A1 (ja) * 2010-11-18 2012-05-24 シャープ株式会社 照明装置およびこれを備えた液晶表示装置
JP2016129181A (ja) * 2015-01-09 2016-07-14 日立化成株式会社 Led搭載用基板
WO2018079742A1 (ja) * 2016-10-31 2018-05-03 株式会社 イマック 検査装置
WO2019111821A1 (ja) * 2017-12-04 2019-06-13 株式会社 イマック 検査用照明装置
JP2019124600A (ja) * 2018-01-17 2019-07-25 オムロン株式会社 画像検査装置および照明装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004031064A (ja) * 2002-06-25 2004-01-29 Kawaguchiko Seimitsu Co Ltd バックライト装置
WO2008023605A1 (en) * 2006-08-23 2008-02-28 Mitsui Chemicals, Inc. Light-reflecting body and light source comprising the same
WO2012066887A1 (ja) * 2010-11-18 2012-05-24 シャープ株式会社 照明装置およびこれを備えた液晶表示装置
JP2016129181A (ja) * 2015-01-09 2016-07-14 日立化成株式会社 Led搭載用基板
WO2018079742A1 (ja) * 2016-10-31 2018-05-03 株式会社 イマック 検査装置
WO2019111821A1 (ja) * 2017-12-04 2019-06-13 株式会社 イマック 検査用照明装置
JP2019124600A (ja) * 2018-01-17 2019-07-25 オムロン株式会社 画像検査装置および照明装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102612265B1 (ko) * 2023-03-03 2023-12-11 주식회사 에이치비테크놀러지 광역 평면 경사조명을 이용한 대상물 분석장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI847278B (zh) 光學膜以及包括其的背光單元
RU2478872C2 (ru) Устройство освещения, устройство отображения и телевизионный приемник
JP2021085808A (ja) 光照射装置
TW201632965A (zh) 顯示裝置以及光源模組
US11761900B2 (en) Light projecting device
JP5618637B2 (ja) 原稿読取用光源装置
CN113454525B (zh) 面状照明装置
TW201837531A (zh) 配光控制元件
US20120236539A1 (en) Light guide plate, light source device, and display device
WO2012042931A1 (ja) 擬似太陽光照射装置
TWI626483B (zh) 導光裝置以及導光元件
WO2019179426A1 (zh) 光源模组和显示装置
CN114025155B (zh) 光源装置及摄像头测试系统
KR102223360B1 (ko) 조명을 이용한 검사 장치
JP6340932B2 (ja) スキャナー
KR102173116B1 (ko) 발광 모듈, 및 백라이트 유닛
JP2013243052A (ja) 光源モジュール
JP2024070555A (ja) 光照射装置及び撮像システム
JP2008053239A (ja) 面状光源装置および画像読み取り装置
JP2008066209A (ja) 平面照明装置
JP6910007B2 (ja) 照明装置
WO2024135473A1 (ja) 干渉縞検査装置
KR101181356B1 (ko) 광량 감소를 방지하는 검사용 조명 장치
JP2023085027A (ja) 検査用光照射装置、及び、検査システム
KR102297937B1 (ko) 광원 모듈 및 이를 포함하는 백라이트 유닛과 액정 표시 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211209

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20221019

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221115

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230214

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230417

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20230509